JPH1138537A - シャッタ検査装置 - Google Patents
シャッタ検査装置Info
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- JPH1138537A JPH1138537A JP9212632A JP21263297A JPH1138537A JP H1138537 A JPH1138537 A JP H1138537A JP 9212632 A JP9212632 A JP 9212632A JP 21263297 A JP21263297 A JP 21263297A JP H1138537 A JPH1138537 A JP H1138537A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 シャッタ部組（部分組立て）の状態でもその
シャッタムラの判定を短時間に、簡単かつ確実に、しか
も数値的に判定する。 【解決手段】 一様な輝度分布を有する光束を被検査シ
ャッタ（１）に照射する光源装置（２）と、被検査シャ
ッタ（１）に対して光源装置（２）の反対側に配置さ
れ、被検査シャッタ（１）からの透過光を受光する２次
元的な受光領域を有する受光手段（３）と、受光手段
（３）の受光信号に基づいて被検査シャッタ（１）のシ
ャッタ速度ムラを検出するムラ検出手段（８）とを備え
たことを特徴とする。
シャッタムラの判定を短時間に、簡単かつ確実に、しか
も数値的に判定する。 【解決手段】 一様な輝度分布を有する光束を被検査シ
ャッタ（１）に照射する光源装置（２）と、被検査シャ
ッタ（１）に対して光源装置（２）の反対側に配置さ
れ、被検査シャッタ（１）からの透過光を受光する２次
元的な受光領域を有する受光手段（３）と、受光手段
（３）の受光信号に基づいて被検査シャッタ（１）のシ
ャッタ速度ムラを検出するムラ検出手段（８）とを備え
たことを特徴とする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、カメラのシャッタ
の露出ムラ検査用の検査装置に関するものである。
の露出ムラ検査用の検査装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】カメラのフオーカルプレーンシャッタに
おいては、先幕と後幕が等速に走行してスリットが等幅
であれば、同―画面内の露出ムラは生じないはずであ
る。しかしながら、高速秒時（１／８０００秒程度）の
露出になるとスリット幅が非常に狭くなり、シャッタ幕
のガタやアームの曲がり等のわずかな変化が露出ムラ
（アパチャー内の位置による濃度差）を引き起こす。こ
の露出ムラのことをシャッタムラと呼んでいる。
おいては、先幕と後幕が等速に走行してスリットが等幅
であれば、同―画面内の露出ムラは生じないはずであ
る。しかしながら、高速秒時（１／８０００秒程度）の
露出になるとスリット幅が非常に狭くなり、シャッタ幕
のガタやアームの曲がり等のわずかな変化が露出ムラ
（アパチャー内の位置による濃度差）を引き起こす。こ
の露出ムラのことをシャッタムラと呼んでいる。
【０００３】シャッタ幕の走行や露出秒時を測定する装
置として、従来よりシャッタ試験機がある。従来のシャ
ッタ試験機は、単数または複数のＳＰＤまたはＣＣＤラ
インセンサを受光素子として用いている。そのため、受
光素子の在る固定位置におけるシャッタ駆動時の透過光
量から求めた数値を、所定の数値と比較することによっ
て、巻速、秒時、およびシャッタムラの調整や判定を行
っている。
置として、従来よりシャッタ試験機がある。従来のシャ
ッタ試験機は、単数または複数のＳＰＤまたはＣＣＤラ
インセンサを受光素子として用いている。そのため、受
光素子の在る固定位置におけるシャッタ駆動時の透過光
量から求めた数値を、所定の数値と比較することによっ
て、巻速、秒時、およびシャッタムラの調整や判定を行
っている。
【０００４】このような測定方法のため、巻速、秒時、
およびシャッタムラを調整しても、高速走行により生じ
るバウンドムラや、シャッタ幕エッジの微妙な凹凸によ
り円弧状に発生する円弧状ムラ等のシャッタムラを検出
することができなかった。このため、従来は、シャッタ
試験機での調整後に実写テストを行い、現像されたフィ
ルムを検査員が目視で判定を行っていた。
およびシャッタムラを調整しても、高速走行により生じ
るバウンドムラや、シャッタ幕エッジの微妙な凹凸によ
り円弧状に発生する円弧状ムラ等のシャッタムラを検出
することができなかった。このため、従来は、シャッタ
試験機での調整後に実写テストを行い、現像されたフィ
ルムを検査員が目視で判定を行っていた。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】従来のシャッタ試験機
では高速シャッタのシャッタムラが検査できないので実
写テストに頼っていたが、実写テストでは以下のような
欠点がある。
では高速シャッタのシャッタムラが検査できないので実
写テストに頼っていたが、実写テストでは以下のような
欠点がある。
【０００６】まず第１に、実写による判定のため、フィ
ルムを現像した後でないと判定ができず、検査に時間が
かかってしまう欠点がある。第２に、フィルムを撮影で
きるところまで組み立てないと検査ができないので、検
査後に調整が必要な場合は、再度の分解および組み立て
が必要となり、無駄な手間がかかる欠点がある。第３
に、判定を目視で行うため、検査員の個人差により判定
結果が変わるおそれがあり、さらに検査員の熟練を要す
る欠点がある。
ルムを現像した後でないと判定ができず、検査に時間が
かかってしまう欠点がある。第２に、フィルムを撮影で
きるところまで組み立てないと検査ができないので、検
査後に調整が必要な場合は、再度の分解および組み立て
が必要となり、無駄な手間がかかる欠点がある。第３
に、判定を目視で行うため、検査員の個人差により判定
結果が変わるおそれがあり、さらに検査員の熟練を要す
る欠点がある。
【０００７】本発明は、シャッタの高速化を背景に、上
記のような欠点を解決するためになされたもので、シャ
ッタ部組（部分組立て）の状態でもそのシャッタムラの
判定を短時間に、簡単かつ確実に、しかも数値的に判定
することを目的とする。
記のような欠点を解決するためになされたもので、シャ
ッタ部組（部分組立て）の状態でもそのシャッタムラの
判定を短時間に、簡単かつ確実に、しかも数値的に判定
することを目的とする。
【０００８】
【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、第１発明は、一様な輝度分布を有する光束を被検査
シャッタ（１）に照射する光源装置（２）と、被検査シ
ャッタ（１）に対して光源装置（２）の反対側に配置さ
れ、被検査シャッタ（１）からの透過光を受光する２次
元的な受光領域を有する受光手段（３）と、受光手段
（３）の受光信号に基づいて被検査シャッタ（１）のシ
ャッタ速度ムラを検出するムラ検出手段（８）とを備え
たことを特徴とする。
に、第１発明は、一様な輝度分布を有する光束を被検査
シャッタ（１）に照射する光源装置（２）と、被検査シ
ャッタ（１）に対して光源装置（２）の反対側に配置さ
れ、被検査シャッタ（１）からの透過光を受光する２次
元的な受光領域を有する受光手段（３）と、受光手段
（３）の受光信号に基づいて被検査シャッタ（１）のシ
ャッタ速度ムラを検出するムラ検出手段（８）とを備え
たことを特徴とする。
【０００９】第２発明は、請求項１において、被検査シ
ャッタ（１）を駆動する駆動手段（６）と、受光手段
（３）の受光動作中に被検査シャッタ（１）の走行動作
が完了するように受光手段（３）と駆動手段（６）とを
制御する制御手段（８）とを更に備えることを特徴とす
る。
ャッタ（１）を駆動する駆動手段（６）と、受光手段
（３）の受光動作中に被検査シャッタ（１）の走行動作
が完了するように受光手段（３）と駆動手段（６）とを
制御する制御手段（８）とを更に備えることを特徴とす
る。
【００１０】第３発明は、請求項１又は請求項２におい
て、ムラ検出手段（８）は、受光手段（３）内の第１受
光領域における受光信号と、第１受光領域とは異なる第
２受光領域における受光信号とを比較することによりシ
ャッタ速度ムラを検出することを特徴とする。
て、ムラ検出手段（８）は、受光手段（３）内の第１受
光領域における受光信号と、第１受光領域とは異なる第
２受光領域における受光信号とを比較することによりシ
ャッタ速度ムラを検出することを特徴とする。
【００１１】第４発明は、請求項１乃至請求項３におい
て、ムラ検出手段（８）は、受光手段（３）内の第１受
光領域における受光信号と、第１受光素子とは異なる第
２受光領域における受光信号との比が所定範囲内に有る
か否かに基づいて、シャッタ速度ムラを検出することを
特徴とする。
て、ムラ検出手段（８）は、受光手段（３）内の第１受
光領域における受光信号と、第１受光素子とは異なる第
２受光領域における受光信号との比が所定範囲内に有る
か否かに基づいて、シャッタ速度ムラを検出することを
特徴とする。
【００１２】第５発明は、請求項３又は請求項４におい
て、被検査シャッタ（１）が円弧運動を行うフォーカル
プレーンシャッタであり、制御手段（８）は、受光領域
内の円弧運動の回転半径に対応する複数の位置における
受光手段の出力に基づいて、シャッタ速度ムラの有無を
判定することを特徴とする。
て、被検査シャッタ（１）が円弧運動を行うフォーカル
プレーンシャッタであり、制御手段（８）は、受光領域
内の円弧運動の回転半径に対応する複数の位置における
受光手段の出力に基づいて、シャッタ速度ムラの有無を
判定することを特徴とする。
【００１３】第６発明は、請求項５において、被検査シ
ャッタ（１）が円弧運動を行うフォーカルプレーンシャ
ッタであり、制御手段（８）は、受光領域内の円弧運動
の回転半径に対応する複数の位置における受光手段の出
力を受光領域内の異なる位置同士で比較することにより
シャッタ速度ムラの有無を判定することを特徴とする。
ャッタ（１）が円弧運動を行うフォーカルプレーンシャ
ッタであり、制御手段（８）は、受光領域内の円弧運動
の回転半径に対応する複数の位置における受光手段の出
力を受光領域内の異なる位置同士で比較することにより
シャッタ速度ムラの有無を判定することを特徴とする。
【００１４】第７発明は、請求項３又は請求項４におい
て、被検査シャッタ（１）がフォーカルプレーンシャッ
タであり、制御手段（８）が、受光信号から、被検査シ
ャッタ（１）の開口画面端部に明部または暗部が有るか
否かにより、シャッタ速度ムラの有無を判定することを
特徴とする。
て、被検査シャッタ（１）がフォーカルプレーンシャッ
タであり、制御手段（８）が、受光信号から、被検査シ
ャッタ（１）の開口画面端部に明部または暗部が有るか
否かにより、シャッタ速度ムラの有無を判定することを
特徴とする。
【００１５】第８発明は、請求項１又は請求項２におい
て、受光手段（３）による受光信号を記憶する記憶手段
を更に備えることを特徴とする。
て、受光手段（３）による受光信号を記憶する記憶手段
を更に備えることを特徴とする。
【００１６】第９発明は、請求項１又は請求項２におい
て、受光手段（３）による受光信号に基づいて光源装置
（２）から被検査シャッタ（１）を透過した光束による
像を表示する表示手段を更に備えることを特徴とする。
て、受光手段（３）による受光信号に基づいて光源装置
（２）から被検査シャッタ（１）を透過した光束による
像を表示する表示手段を更に備えることを特徴とする。
【００１７】第１０発明は、請求項３又は請求項４にお
いて、被検査シャッタ（１）はフォーカルプレーンシャ
ッタであり、第１受光領域及び第２受光領域は、フォー
カルプレーンシャッタの走行方向に沿った領域であるこ
とを特徴とする。
いて、被検査シャッタ（１）はフォーカルプレーンシャ
ッタであり、第１受光領域及び第２受光領域は、フォー
カルプレーンシャッタの走行方向に沿った領域であるこ
とを特徴とする。
【００１８】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
に基づいて説明する。
に基づいて説明する。
【００１９】図１は、本発明によるシャッタ検査装置の
一実施例を示すブロック結線図である。
一実施例を示すブロック結線図である。
【００２０】図１において、被検査シャッタ１の左側に
均―輝度を持つ光源２を配置する。被検査シャッタ１の
右側にＣＣＤカメラ３を配置し、ＣＣＤカメラ３の焦点
を被検査シャッタ１の幕面に合わせる。
均―輝度を持つ光源２を配置する。被検査シャッタ１の
右側にＣＣＤカメラ３を配置し、ＣＣＤカメラ３の焦点
を被検査シャッタ１の幕面に合わせる。
【００２１】被検査シャッタ１は、シャッタ駆動手段６
によって駆動され、シャッタ駆動手段６はタイミング調
整手段７を介してパソコン８によって制御（図３参照）
される。ＣＣＤカメラ３は、フレーム蓄積モードおよび
インターレス走査方式に設定する。ＣＣＤカメラ３の１
フレームの間に被検査シャッタ１が動作するようタイミ
ング調整手段７を用いてタイミングを合わせる（図
２）。
によって駆動され、シャッタ駆動手段６はタイミング調
整手段７を介してパソコン８によって制御（図３参照）
される。ＣＣＤカメラ３は、フレーム蓄積モードおよび
インターレス走査方式に設定する。ＣＣＤカメラ３の１
フレームの間に被検査シャッタ１が動作するようタイミ
ング調整手段７を用いてタイミングを合わせる（図
２）。
【００２２】タイミングを合わせた状態で被検査シャッ
タ１を動作させ、その時の画像をパソコン８内の画像記
憶手段１０（画像メモリー）の記憶に格納する。これに
より、被検査シャッタ１が動作したときにフィルムに対
して露出される画像データを取り込むことができる。画
像記憶手段１０に記憶された画像データは、画像処理手
段９によって画像処理（後述）が行われる。画像処理さ
れた結果は、検査員の確認のためにモニターＣＲＴ（画
像表示手段）１１に表示される。なお、画像記憶手段１
０が磁気記録装置等の場合には、記憶した画像データを
後日に再現して、シャッタムラの有無の判定を行うこと
もできる。
タ１を動作させ、その時の画像をパソコン８内の画像記
憶手段１０（画像メモリー）の記憶に格納する。これに
より、被検査シャッタ１が動作したときにフィルムに対
して露出される画像データを取り込むことができる。画
像記憶手段１０に記憶された画像データは、画像処理手
段９によって画像処理（後述）が行われる。画像処理さ
れた結果は、検査員の確認のためにモニターＣＲＴ（画
像表示手段）１１に表示される。なお、画像記憶手段１
０が磁気記録装置等の場合には、記憶した画像データを
後日に再現して、シャッタムラの有無の判定を行うこと
もできる。
【００２３】画像記憶手段１０に取り込まれた画像デー
タは、有効ピクセルを例えば５１２×５１２画素とし、
その中で被検査シャッタの画角のある位置の座標を図３
（ａ）のように（ＳＸ、ＳＹ）〜（ＥＸ、ＥＹ）とす
る。
タは、有効ピクセルを例えば５１２×５１２画素とし、
その中で被検査シャッタの画角のある位置の座標を図３
（ａ）のように（ＳＸ、ＳＹ）〜（ＥＸ、ＥＹ）とす
る。
【００２４】次に、パソコン８による制御の例を図４の
フローチャートにより説明する。プログラムがスタート
すると、まず被検査シャッタ全開状態に設定する（ステ
ップＳ１）。次いで、画像データ取り込みと記憶を行
い、基準データとする（ステップＳ２）。ステップＳ１
〜Ｓ２で、基準データと被検査シャッタ１を駆動した時
の透過光像の画像データとで、各画素毎にデータの差分
をとる事により、均一輝度面（光源２）の輝度不均一さ
の補正を行う事ができる。これを行うとＣＣＤカメラ３
のエリアセンサの感度ムラの補正も同時に行う事ができ
る。
フローチャートにより説明する。プログラムがスタート
すると、まず被検査シャッタ全開状態に設定する（ステ
ップＳ１）。次いで、画像データ取り込みと記憶を行
い、基準データとする（ステップＳ２）。ステップＳ１
〜Ｓ２で、基準データと被検査シャッタ１を駆動した時
の透過光像の画像データとで、各画素毎にデータの差分
をとる事により、均一輝度面（光源２）の輝度不均一さ
の補正を行う事ができる。これを行うとＣＣＤカメラ３
のエリアセンサの感度ムラの補正も同時に行う事ができ
る。
【００２５】ステップＳ３では、被検査シャッタ１を所
定の高速秒時で駆動する。ステップＳ４では、画像デー
タの取り込み、記憶、基準データとの差分の計算を行
う。その結果は記億しておいて、以降の演算の為の画像
データとする。ステップＳ５では、各種演算、例えば図
５（ａ）のムラ検出、図５（ｂ）の円弧状ムラ検出、図
５（ｃ）のバウンド検出が行われる。なお、これらのム
ラ検出、円弧状ムラ検出、バウンド検出については後述
する。ステップＳ６では、演算結果による良否の判定を
行い、プログラムを終了する。
定の高速秒時で駆動する。ステップＳ４では、画像デー
タの取り込み、記憶、基準データとの差分の計算を行
う。その結果は記億しておいて、以降の演算の為の画像
データとする。ステップＳ５では、各種演算、例えば図
５（ａ）のムラ検出、図５（ｂ）の円弧状ムラ検出、図
５（ｃ）のバウンド検出が行われる。なお、これらのム
ラ検出、円弧状ムラ検出、バウンド検出については後述
する。ステップＳ６では、演算結果による良否の判定を
行い、プログラムを終了する。
【００２６】図５（ａ）のムラ検出を行うときの、パソ
コン８の動作を図６のフローチャートで説明する。ムラ
検出は、図３（ｂ）のように、画像データは座標によっ
て４つの領域に区切って演算してムラの有り無しを検出
している。
コン８の動作を図６のフローチャートで説明する。ムラ
検出は、図３（ｂ）のように、画像データは座標によっ
て４つの領域に区切って演算してムラの有り無しを検出
している。
【００２７】ステップＳ１１では、縦合計［５０］を計
算する。即ち、（ＳＸ＋５Ｏ、ＳＹ）から（ＳＸ＋５
Ｏ、ＥＹ）までのＹ方向の各画素データの総和を計算す
る。ステップＳ１２では、縦合計［８０］を計算する。
即ち、（ＳＸ＋８Ｏ、ＳＹ）から（ＳＸ＋８Ｏ、ＥＹ）
までのＹ方向の各画素データの総和を計算する。ステッ
プＳ１３では、縦合計［２５０］を計算する。即ち、
（ＳＸ＋２５Ｏ、ＳＹ）から（ＳＸ＋２５Ｏ、ＥＹ）ま
でのＹ方向の各画素データの総和を計算する。ステップ
Ｓ１４では、縦合計［２８０］を計算する。即ち、（Ｓ
Ｘ＋２８Ｏ、ＳＹ）から（ＳＸ＋２８Ｏ、ＥＹ）までの
Ｙ方向の各画素データの総和を計算する。なお、ここで
使用したＸ座標５０、８０、２５０、２８０は実験に基
づくものであり、これらの値に限定されるものではな
い。
算する。即ち、（ＳＸ＋５Ｏ、ＳＹ）から（ＳＸ＋５
Ｏ、ＥＹ）までのＹ方向の各画素データの総和を計算す
る。ステップＳ１２では、縦合計［８０］を計算する。
即ち、（ＳＸ＋８Ｏ、ＳＹ）から（ＳＸ＋８Ｏ、ＥＹ）
までのＹ方向の各画素データの総和を計算する。ステッ
プＳ１３では、縦合計［２５０］を計算する。即ち、
（ＳＸ＋２５Ｏ、ＳＹ）から（ＳＸ＋２５Ｏ、ＥＹ）ま
でのＹ方向の各画素データの総和を計算する。ステップ
Ｓ１４では、縦合計［２８０］を計算する。即ち、（Ｓ
Ｘ＋２８Ｏ、ＳＹ）から（ＳＸ＋２８Ｏ、ＥＹ）までの
Ｙ方向の各画素データの総和を計算する。なお、ここで
使用したＸ座標５０、８０、２５０、２８０は実験に基
づくものであり、これらの値に限定されるものではな
い。
【００２８】ステップＳ１５では、次のデータ１、デー
タ２、データ３、およびデータ４を計算する。 データ１＝縦合計［５０］／縦合計［２５０］ データ２＝縦合計［２５０］／縦合計［５０］ データ３＝縦合計［８０］／継合計［２８０］ データ４＝縦合計［２８０］／縦合計［８０］
タ２、データ３、およびデータ４を計算する。 データ１＝縦合計［５０］／縦合計［２５０］ データ２＝縦合計［２５０］／縦合計［５０］ データ３＝縦合計［８０］／継合計［２８０］ データ４＝縦合計［２８０］／縦合計［８０］
【００２９】ステップＳ１６では、データ１、データ
２、データ３、およびデータ４が各々規格値よりも小さ
かったら不良とする。規格値（例えば、Ｏ．９ ）は、
実際に写真に撮ってそのネガより判断した良品限界サン
プル（被検査シャッタ１）を本検査装置にかけて求め
る。
２、データ３、およびデータ４が各々規格値よりも小さ
かったら不良とする。規格値（例えば、Ｏ．９ ）は、
実際に写真に撮ってそのネガより判断した良品限界サン
プル（被検査シャッタ１）を本検査装置にかけて求め
る。
【００３０】次に、図５（ｂ）の円弧状ムラを検出する
例について、図７〜図９に従って説明する。
例について、図７〜図９に従って説明する。
【００３１】被検査シャッタ１は、その機種に特定の円
弧運動をするので、擬似的に発生させた円弧状ムラの軌
跡の座標から被検査シャッタ１の羽根の軌跡の半径を求
める。この半径によりＹ座標に対するＸ方向シフト量を
求め、円弧状の画像濃度の総和を求める。この計算をＳ
ＸからＥＸまで行い、円弧状のヒストグラムデータを作
成する。このヒストグラムデータに非連続点があれば円
弧状ムラが発生していると判定する。まず、円弧状軌跡
の半径の求め方について図７により説明する。
弧運動をするので、擬似的に発生させた円弧状ムラの軌
跡の座標から被検査シャッタ１の羽根の軌跡の半径を求
める。この半径によりＹ座標に対するＸ方向シフト量を
求め、円弧状の画像濃度の総和を求める。この計算をＳ
ＸからＥＸまで行い、円弧状のヒストグラムデータを作
成する。このヒストグラムデータに非連続点があれば円
弧状ムラが発生していると判定する。まず、円弧状軌跡
の半径の求め方について図７により説明する。
【００３２】円弧状ムラは、シャッタ羽根幕端にキズあ
るいはバリなどが付いていたときに、シャッタ羽根が円
弧状に運動する軌跡によって生じるムラである。その円
弧の回転半径は同一機種であれば個体差は非常に小さ
く、回転半径を固定値として扱って良いことが経験上分
かっている。機種毎に１台のデータを取れば、データを
そのまま使えるため、毎回円弧半径のデータ取りを行う
必要はない。このため、予め求めた回転半径の円弧状の
ムラがＸ軸上のどこに現れるかを検査すればよい。
るいはバリなどが付いていたときに、シャッタ羽根が円
弧状に運動する軌跡によって生じるムラである。その円
弧の回転半径は同一機種であれば個体差は非常に小さ
く、回転半径を固定値として扱って良いことが経験上分
かっている。機種毎に１台のデータを取れば、データを
そのまま使えるため、毎回円弧半径のデータ取りを行う
必要はない。このため、予め求めた回転半径の円弧状の
ムラがＸ軸上のどこに現れるかを検査すればよい。
【００３３】シャッタ羽根の軌跡の回転半径を求めるに
は、画面上に擬似的に発生させた円弧状ムラの軌跡の座
標を次のように取る（図７（ａ）参照）。円弧状ムラの
軌跡は、シャッタ幕端面に小さなキズを付けることによ
り疑似発生させられる。 円弧状ムラ左頂点Ｘ座標 ＣＥＮＴＥＲ＿Ｘ 円弧状ムラ左頂点Ｙ座標 ＣＥＮＴＥＲ＿Ｙ 円弧状ムラ上側Ｘ座標 ＵＰ＿Ｘ 円弧状ムラ上側Ｙ座標 ＵＰ＿Ｙ
は、画面上に擬似的に発生させた円弧状ムラの軌跡の座
標を次のように取る（図７（ａ）参照）。円弧状ムラの
軌跡は、シャッタ幕端面に小さなキズを付けることによ
り疑似発生させられる。 円弧状ムラ左頂点Ｘ座標 ＣＥＮＴＥＲ＿Ｘ 円弧状ムラ左頂点Ｙ座標 ＣＥＮＴＥＲ＿Ｙ 円弧状ムラ上側Ｘ座標 ＵＰ＿Ｘ 円弧状ムラ上側Ｙ座標 ＵＰ＿Ｙ
【００３４】これを図７（ｂ）のように考える。まず、
Ａ点（任意）の座標を確認する。次に、Ａ点とｘ座標が
等しくなるＢ点の座標を確認する。ｙ座標がＡｙ＋（Ｂ
ｙ−Ａｙ）／２となるＣ点の座標を確認する。Ａ点、Ｂ
点、およびＣ点の座標確認は、画像処理メニューの中で
カーソル位置の座標を読み込むことによって実現され
る。
Ａ点（任意）の座標を確認する。次に、Ａ点とｘ座標が
等しくなるＢ点の座標を確認する。ｙ座標がＡｙ＋（Ｂ
ｙ−Ａｙ）／２となるＣ点の座標を確認する。Ａ点、Ｂ
点、およびＣ点の座標確認は、画像処理メニューの中で
カーソル位置の座標を読み込むことによって実現され
る。
【００３５】次に、ｘとｙを、次式により求める。 ｘ＝Ａｘ−Ｃｘ ｙ＝Ｃｙ−Ａｙ
【００３６】次に、角度ａ、ｂ、およびｃを次式により
求める（図７（ｂ）参照）。 ａ＝ｔａｎ-1（ｙ／ｘ） ｂ＝１８０−９０−ａ ｃ＝ａ−ｂ＝２ｔａｎ-1（ｙ／ｘ）
求める（図７（ｂ）参照）。 ａ＝ｔａｎ-1（ｙ／ｘ） ｂ＝１８０−９０−ａ ｃ＝ａ−ｂ＝２ｔａｎ-1（ｙ／ｘ）
【００３７】次に、ｌとｒ（円弧の半径）を次式により
求める。即ち、円弧の半径ｒが求まる。 ｌ＝ｙ×ｔａｎ（ｃ） ｒ＝ｌ＋ｘ
求める。即ち、円弧の半径ｒが求まる。 ｌ＝ｙ×ｔａｎ（ｃ） ｒ＝ｌ＋ｘ
【００３８】次に、ｙ座標に対するｘ座標のシフト量に
ついて図８により説明する。
ついて図８により説明する。
【００３９】シャッタ羽根は半径ｒの円弧運動をするの
で、補正量ｘは、 ｌ＝（ｒ2−ｙ2）1/2 ｘ＝ｒ−ｌ＝ｒ−（ｒ2−ｙ2）1/2
で、補正量ｘは、 ｌ＝（ｒ2−ｙ2）1/2 ｘ＝ｒ−ｌ＝ｒ−（ｒ2−ｙ2）1/2
【００４０】この補正量を有効画面のｙ軸上すべてに当
てはめると、 Ｓｙ ｒ−（ｒ2−（Ｃｙ−Ｓｙ）2）1/2 ＝ａ［０］ Ｓｙ+1 ｒ−（ｒ2−（Ｃｙ−Ｓｙ+1）2）1/2 ＝ａ［１］ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ Ｃｙ ０ Ｃｙ+1 ｒ−（ｒ2−（Ｃｙ+1−Ｃｙ）2）1/2 ＝ａ［？］ Ｃｙ+2 ｒ−（ｒ2−（Ｃｙ+2−Ｃｙ）2）1/2 ＝ａ［？］ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ Ｅｙ ｒ−（ｒ2−（Ｅ−Ｃｙ）2）1/2 ＝ａ［ｎ］ により、ａ［０］〜ａ［ｎ］が求まる。
てはめると、 Ｓｙ ｒ−（ｒ2−（Ｃｙ−Ｓｙ）2）1/2 ＝ａ［０］ Ｓｙ+1 ｒ−（ｒ2−（Ｃｙ−Ｓｙ+1）2）1/2 ＝ａ［１］ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ Ｃｙ ０ Ｃｙ+1 ｒ−（ｒ2−（Ｃｙ+1−Ｃｙ）2）1/2 ＝ａ［？］ Ｃｙ+2 ｒ−（ｒ2−（Ｃｙ+2−Ｃｙ）2）1/2 ＝ａ［？］ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ Ｅｙ ｒ−（ｒ2−（Ｅ−Ｃｙ）2）1/2 ＝ａ［ｎ］ により、ａ［０］〜ａ［ｎ］が求まる。
【００４１】上記より求めたｘ座標をシフト量で補正し
ながら、ｘ座標それぞれの点に置いて縦方向に画素のデ
ータ（濃度値）を次式により合計することにより、円弧
に浴って濃度値のヒストグラムを作成する。なお次式の
左辺において、最初の項はｙ軸１番目の座標、２番目の
項はｙ軸２番目の座標、３番目の項はｙ軸ｎ番目の座標
である。 （Ｓｘ＋ａ［０］，Ｓｙ）＋（Ｓｘ＋ａ［１］，Ｓｙ+1）＋・・・・・・＋（Ｓ ｘ＋ａ［ｎ］，Ｅｙ）＝ｄａｔａ［０］ （Ｓｘ＋１＋ａ［０］，Ｓｙ）＋（Ｓｘ＋１＋ａ［１］，Ｓｙ＋１）＋・・・・ ・・・＋（Ｓｘ＋１＋ａ［ｎ］，Ｅｙ）＝ｄａｔａ［１］ （Ｓｘ＋２＋ａ［０］，Ｓｙ）＋（Ｓｘ＋２＋ａ［１］，Ｓｙ＋１）＋・・・・ ・・・＋（Ｓｘ＋２＋ａ［ｎ］，Ｅｙ）＝ｄａｔａ［２］ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ （Ｓｘ＋ｎ＋ａ［０］，Ｓｙ）＋（Ｓｘ＋ｎ＋ａ［１］，Ｓｙ＋１）＋・・・・ ・・・＋（Ｓｘ＋ｎ＋ａ［ｎ］，Ｅｙ）＝ｄａｔａ［ｎ］
ながら、ｘ座標それぞれの点に置いて縦方向に画素のデ
ータ（濃度値）を次式により合計することにより、円弧
に浴って濃度値のヒストグラムを作成する。なお次式の
左辺において、最初の項はｙ軸１番目の座標、２番目の
項はｙ軸２番目の座標、３番目の項はｙ軸ｎ番目の座標
である。 （Ｓｘ＋ａ［０］，Ｓｙ）＋（Ｓｘ＋ａ［１］，Ｓｙ+1）＋・・・・・・＋（Ｓ ｘ＋ａ［ｎ］，Ｅｙ）＝ｄａｔａ［０］ （Ｓｘ＋１＋ａ［０］，Ｓｙ）＋（Ｓｘ＋１＋ａ［１］，Ｓｙ＋１）＋・・・・ ・・・＋（Ｓｘ＋１＋ａ［ｎ］，Ｅｙ）＝ｄａｔａ［１］ （Ｓｘ＋２＋ａ［０］，Ｓｙ）＋（Ｓｘ＋２＋ａ［１］，Ｓｙ＋１）＋・・・・ ・・・＋（Ｓｘ＋２＋ａ［ｎ］，Ｅｙ）＝ｄａｔａ［２］ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ （Ｓｘ＋ｎ＋ａ［０］，Ｓｙ）＋（Ｓｘ＋ｎ＋ａ［１］，Ｓｙ＋１）＋・・・・ ・・・＋（Ｓｘ＋ｎ＋ａ［ｎ］，Ｅｙ）＝ｄａｔａ［ｎ］
【００４２】縦合計ｄａｔａ［ｉ］の前後の比較を行
う。この差が規格値ＬＩＭＩＴ以上あり、ＵＰ＿ＤＮ範
囲以内に発生した場合には、円弧状ムラ有りと判断す
る。なお、ＬＩＭＩＴ＝２５、ＵＰ＿ＤＮ＝３０であっ
てよい。ＵＰ＿ＤＮはｘ方向の幅を規定するもので、も
しｘ方向の幅が非常に広い円弧状ムラが有っても、写真
上では円弧状ムラの弊害となる可能性か低く、むしろム
ラとしての影響の方が大きい。
う。この差が規格値ＬＩＭＩＴ以上あり、ＵＰ＿ＤＮ範
囲以内に発生した場合には、円弧状ムラ有りと判断す
る。なお、ＬＩＭＩＴ＝２５、ＵＰ＿ＤＮ＝３０であっ
てよい。ＵＰ＿ＤＮはｘ方向の幅を規定するもので、も
しｘ方向の幅が非常に広い円弧状ムラが有っても、写真
上では円弧状ムラの弊害となる可能性か低く、むしろム
ラとしての影響の方が大きい。
【００４３】円弧状ムラ検出をパソコン８の動作として
まとめると図９に示すフローチャートとなる。図９にお
いて、ステップＳ２１で変数ｉを０に初期化する。ステ
ップＳ２２でＸ座標ＳＸ＋ｉを定める。ステップＳ２３
で予め求めておいた円弧の曲率に沿って縦合計を求め
る。ステップＳ２４で変数ｉをインクリメントする。ス
テップＳでは、ｉ＞ＥＸであるか否かを判断する。ステ
ップＳ２６では、ｄａｔａ［ｉ］と前後のデータｄａｔ
ａ［ｉ−ｎ］およびｄａｔａ［ｉ＋ｎ］で差分を計算す
る。ｎは１から予め決めた範囲（現状は３０）まで計算
する。ステップＳ２７では、上記差分が規格値以上なら
ば不良と判断してプログラムを終了する。規格値は、実
際に写真に撮ってそのネガより判断した良品限界サンプ
ル（シヤッター）を本検査装置にかけて求める（現状は
２５としている）。
まとめると図９に示すフローチャートとなる。図９にお
いて、ステップＳ２１で変数ｉを０に初期化する。ステ
ップＳ２２でＸ座標ＳＸ＋ｉを定める。ステップＳ２３
で予め求めておいた円弧の曲率に沿って縦合計を求め
る。ステップＳ２４で変数ｉをインクリメントする。ス
テップＳでは、ｉ＞ＥＸであるか否かを判断する。ステ
ップＳ２６では、ｄａｔａ［ｉ］と前後のデータｄａｔ
ａ［ｉ−ｎ］およびｄａｔａ［ｉ＋ｎ］で差分を計算す
る。ｎは１から予め決めた範囲（現状は３０）まで計算
する。ステップＳ２７では、上記差分が規格値以上なら
ば不良と判断してプログラムを終了する。規格値は、実
際に写真に撮ってそのネガより判断した良品限界サンプ
ル（シヤッター）を本検査装置にかけて求める（現状は
２５としている）。
【００４４】次に、バウンド検出（図５（ｃ））を行う
場合のパソコン８の動作を図１０および図１１に示すフ
ローチャートで説明する。図１０はバウンド検出の第１
の方法を、図１１はバウンド検出の第２の方法を説明し
ている。
場合のパソコン８の動作を図１０および図１１に示すフ
ローチャートで説明する。図１０はバウンド検出の第１
の方法を、図１１はバウンド検出の第２の方法を説明し
ている。
【００４５】図１０（第１の方法）では、画面下に明部
有りか無しかの検出をしている。まずステップＳ３１で
Ｘ座標がＳＸ＋３０、Ｙ座標がＳＹ＋ｎで、ｎを１から
ＥＹまで変化させて、縦方向の隣接画素データを比較す
る。ステップＳ３２で、ｎ番目の画素データをｄａｔａ
［ｎ］とすると、ｄａｔａ［ｎ］＞ｄａｔａ［ｎ−１］
＋Ｓ（Ｓは、規格値）であれば不良と判断する。規格値
は実際に写真に撮ってそのネガより判断した良品限界サ
ンプル（シャッタ）を本検査装置にかけて求める（現状
は２０としている）。
有りか無しかの検出をしている。まずステップＳ３１で
Ｘ座標がＳＸ＋３０、Ｙ座標がＳＹ＋ｎで、ｎを１から
ＥＹまで変化させて、縦方向の隣接画素データを比較す
る。ステップＳ３２で、ｎ番目の画素データをｄａｔａ
［ｎ］とすると、ｄａｔａ［ｎ］＞ｄａｔａ［ｎ−１］
＋Ｓ（Ｓは、規格値）であれば不良と判断する。規格値
は実際に写真に撮ってそのネガより判断した良品限界サ
ンプル（シャッタ）を本検査装置にかけて求める（現状
は２０としている）。
【００４６】ステップＳ３３で、Ｘ座標がＥＸ−３０、
Ｙ座標がＳＹ＋ｎで、ｎを１からＥＹまで変化させて、
縦方向の隣接画素データを比較する。ステップＳ３４で
は、ｎ番目の画素データをｄａｔａ［ｎ］とすると、ｄ
ａｔａ［ｎ］＞ｄａｔａ［ｎ−１］＋Ｓ（Ｓは、規格
値）であれば不良と判断してプログラムを終了する。規
格値は実際に写真に撮ってそのネガより判断した良品限
界サンプル（シャッタ）を本検査装置にかけて求める
（現状は２０としている）。
Ｙ座標がＳＹ＋ｎで、ｎを１からＥＹまで変化させて、
縦方向の隣接画素データを比較する。ステップＳ３４で
は、ｎ番目の画素データをｄａｔａ［ｎ］とすると、ｄ
ａｔａ［ｎ］＞ｄａｔａ［ｎ−１］＋Ｓ（Ｓは、規格
値）であれば不良と判断してプログラムを終了する。規
格値は実際に写真に撮ってそのネガより判断した良品限
界サンプル（シャッタ）を本検査装置にかけて求める
（現状は２０としている）。
【００４７】図１１（第２の方法）では、画面下に暗部
有りか無しかの検出をしている。まずステップＳ４１で
座標（ＳＸ，ＳＹ）、（ＥＸ，ＳＹ）、（ＳＸ，Ｅ
Ｙ）、（ＥＸ，ＥＹ）で囲まれた範囲の全画素データの
最大値Ｍを求める。ステップＳ４２では、上記最大値Ｍ
により補正をかけるｄａｔａ＝ｄａｔａ×１５０／Ｍと
する。補正をかける対象は、Ｘ＝ＳＸ＋３０及びＥＸ−
３０の各々で、Ｙ＝ＥＹ一ｎ（ｎはＯがら４０まで）と
する。ステップＳ４３では、Ｘ座標がＳＸ＋３０、Ｙ座
標がＥＹ−ｎ（ｎは、０から４０まで）の縦方向の隣接
画素データを比較する。ステップＳ４４では、ｎ番目の
画素データをｄａｔａ［ｎ］とすると、ｄａｔａ［ｎ＋
１］＞ｄａｔａ［ｎ］＋Ｓ（Ｓは、規格値）が連続Ｗ画
素以上あれば不良と判断する。規格値は実際に写真に撮
ってそのネガより判断した良品限界サンプル（シャッ
タ）を本検査装置にかけて求める。現状は、Ｗを６、Ｓ
を３〜１３としている。
有りか無しかの検出をしている。まずステップＳ４１で
座標（ＳＸ，ＳＹ）、（ＥＸ，ＳＹ）、（ＳＸ，Ｅ
Ｙ）、（ＥＸ，ＥＹ）で囲まれた範囲の全画素データの
最大値Ｍを求める。ステップＳ４２では、上記最大値Ｍ
により補正をかけるｄａｔａ＝ｄａｔａ×１５０／Ｍと
する。補正をかける対象は、Ｘ＝ＳＸ＋３０及びＥＸ−
３０の各々で、Ｙ＝ＥＹ一ｎ（ｎはＯがら４０まで）と
する。ステップＳ４３では、Ｘ座標がＳＸ＋３０、Ｙ座
標がＥＹ−ｎ（ｎは、０から４０まで）の縦方向の隣接
画素データを比較する。ステップＳ４４では、ｎ番目の
画素データをｄａｔａ［ｎ］とすると、ｄａｔａ［ｎ＋
１］＞ｄａｔａ［ｎ］＋Ｓ（Ｓは、規格値）が連続Ｗ画
素以上あれば不良と判断する。規格値は実際に写真に撮
ってそのネガより判断した良品限界サンプル（シャッ
タ）を本検査装置にかけて求める。現状は、Ｗを６、Ｓ
を３〜１３としている。
【００４８】ステップＳ４５では、Ｘ座標がＳＸ−３
Ｏ、Ｙ座標がＥＹ−ｎ（ｎは、０から４０まで）の縦方
向の隣接画素データを比較する。ステップＳ４６では、
ｎ番目の画素データをｄａｔａ［ｎ］とすると、ｄａｔ
ａ［ｎ＋１］＞ｄａｔａ［ｎ］＋Ｓ（Ｓは、規格値）が
連続Ｗ画素以上あれば不良と判断する。規格値は実際に
写真に撮ってそのネガより判断した良品限界サンプル
（シャッタ）を本検査装置にかけて求める。現状は、Ｗ
を６、Ｓを３〜１３としている。
Ｏ、Ｙ座標がＥＹ−ｎ（ｎは、０から４０まで）の縦方
向の隣接画素データを比較する。ステップＳ４６では、
ｎ番目の画素データをｄａｔａ［ｎ］とすると、ｄａｔ
ａ［ｎ＋１］＞ｄａｔａ［ｎ］＋Ｓ（Ｓは、規格値）が
連続Ｗ画素以上あれば不良と判断する。規格値は実際に
写真に撮ってそのネガより判断した良品限界サンプル
（シャッタ）を本検査装置にかけて求める。現状は、Ｗ
を６、Ｓを３〜１３としている。
【００４９】
【発明の効果】以上のように、本発明のシャッタ検査装
置によれば、従来の実写テストによる検査ではできなか
ったシャッタの部組状態での検査が可能となる。また、
従来のシャッタ試験機では検出できなかった高速シャッ
タのシャッタムラを画像としてとらえることが可能とな
る。
置によれば、従来の実写テストによる検査ではできなか
ったシャッタの部組状態での検査が可能となる。また、
従来のシャッタ試験機では検出できなかった高速シャッ
タのシャッタムラを画像としてとらえることが可能とな
る。
【００５０】また、従来の実写テストによる検査では官
能検査であり検査員の熟練を要したのに対し、画像を演
算し数値による判定を行うため検査員の熟練が不要とな
り判定の再現性も向上させることが可能となる。また、
画像を記憶しておくことにより後日再び画像を再現して
みることが可能となる。また、検査装置の均―輝度面光
源の輝度不均―さを補正することができ、より正確なシ
ャッタムラの検査を行うことが可能となる。
能検査であり検査員の熟練を要したのに対し、画像を演
算し数値による判定を行うため検査員の熟練が不要とな
り判定の再現性も向上させることが可能となる。また、
画像を記憶しておくことにより後日再び画像を再現して
みることが可能となる。また、検査装置の均―輝度面光
源の輝度不均―さを補正することができ、より正確なシ
ャッタムラの検査を行うことが可能となる。
【図１】本発明によるシャッタ検査装置の一実施例を示
すブロック結線図である。
すブロック結線図である。
【図２】本発明によるシャッタ検査装置の一実施例を示
すタイミングチャートである。
すタイミングチャートである。
【図３】本発明によるシャッタ検査装置の一実施例を示
す概念図である。
す概念図である。
【図４】本発明によるシャッタ検査装置の一実施例を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図５】本発明によるシャッタ検査装置の一実施例を示
す概念図である。
す概念図である。
【図６】本発明によるシャッタ検査装置の一実施例を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図７】本発明によるシャッタ検査装置の一実施例を示
す概念図である。
す概念図である。
【図８】本発明によるシャッタ検査装置の一実施例を示
す概念図である。
す概念図である。
【図９】本発明によるシャッタ検査装置の一実施例を示
すフローチャートである。
すフローチャートである。
【図１０】本発明によるシャッタ検査装置の一実施例を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
【図１１】本発明によるシャッタ検査装置の一実施例を
示すフローチャートである。
示すフローチャートである。
１ 被検査シャッタ ２ 光源（均―輝度面を持つもの） ３ ＣＣＤカメラ ４ レンズ ５ 基台 ６ シャッタ駆動手段 ７ タイミング調整手段 ８ パソコン ９ 画像処理手段 １０ 画像記憶手段 １１ モニターＣＲＴ（画像表示手段） １２ 外光遮光用覆
Claims (10)
- 【請求項１】一様な輝度分布を有する光束を被検査シャ
ッタに照射する光源装置と、 前記被検査シャッタに対して前記光源装置の反対側に配
置され、前記被検査シャッタからの透過光を受光する２
次元的な受光領域を有する受光手段と、 前記受光手段の受光信号に基づいて前記被検査シャッタ
のシャッタ速度ムラを検出するムラ検出手段とを備えた
ことを特徴とするシャッタ検査装置。 - 【請求項２】前記被検査シャッタを駆動する駆動手段
と、 前記受光手段の受光動作中に前記被検査シャッタの走行
動作が完了するように前記受光手段と前記駆動手段とを
制御する制御手段とを更に備えることを特徴とする請求
項１に記載のシャッタ検査装置。 - 【請求項３】前記ムラ検出手段は、前記受光手段内の第
１受光領域における前記受光信号と、該第１受光領域と
は異なる第２受光領域における前記受光信号とを比較す
ることにより前記シャッタ速度ムラを検出することを特
徴とする請求項１又は請求項２に記載のシャッタ検査装
置。 - 【請求項４】前記ムラ検出手段は、前記受光手段内の第
１受光領域における前記受光信号と、該第１受光素子と
は異なる第２受光領域における前記受光信号との比が所
定範囲内に有るか否かに基づいて、前記シャッタ速度ム
ラを検出することを特徴とする請求項１乃至請求項３に
記載のシャッタ検査装置。 - 【請求項５】前記被検査シャッタが円弧運動を行うフォ
ーカルプレーンシャッタであり、 前記制御手段は、前記受光領域内の前記円弧運動の回転
半径に対応する複数の位置における前記受光手段の出力
に基づいて、前記シャッタ速度ムラの有無を判定するこ
とを特徴とする請求項３又は請求項４に記載のシャッタ
検査装置。 - 【請求項６】前記被検査シャッタが円弧運動を行うフォ
ーカルプレーンシャッタであり、 前記制御手段は、前記受光領域内の前記円弧運動の回転
半径に対応する複数の位置における前記受光手段の出力
を前記受光領域内の異なる位置同士で比較することによ
り前記シャッタ速度ムラの有無を判定することを特徴と
する請求項５に記載のシャッタ検査装置。 - 【請求項７】前記被検査シャッタがフォーカルプレーン
シャッタであり、 前記制御手段が、前記受光信号から、前記被検査シャッ
タの開口画面端部に明部または暗部が有るか否かによ
り、シャッタ速度ムラの有無を判定することを特徴とす
る請求項３又は請求項４に記載のシャッタ検査装置。 - 【請求項８】前記受光手段による前記受光信号を記憶す
る記憶手段を更に備えることを特徴とする請求項１又は
請求項２に記載のシャッタ検査装置。 - 【請求項９】前記受光手段による受光信号に基づいて前
記光源装置から前記被検査シャッタを透過した光束によ
る像を表示する表示手段を更に備えることを特徴とする
請求項１又は請求項２に記載のシャッタ検査装置。 - 【請求項１０】前記被検査シャッタはフォーカルプレー
ンシャッタであり、 前記第１受光領域及び第２受光領域は、前記フォーカル
プレーンシャッタの走行方向に沿った領域であることを
特徴とする請求項３又は請求項４に記載のシャッタ検査
装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9212632A JPH1138537A (ja) | 1997-07-23 | 1997-07-23 | シャッタ検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9212632A JPH1138537A (ja) | 1997-07-23 | 1997-07-23 | シャッタ検査装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH1138537A true JPH1138537A (ja) | 1999-02-12 |
Family
ID=16625883
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9212632A Pending JPH1138537A (ja) | 1997-07-23 | 1997-07-23 | シャッタ検査装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH1138537A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102508407A (zh) * | 2011-11-04 | 2012-06-20 | 北京航空航天大学 | 一种全帧转移型ccd机械快门的时间特性检测装置 |
| CN103676453A (zh) * | 2012-09-11 | 2014-03-26 | 北京航天计量测试技术研究所 | 一种相机快门延时时间测量方法及其装置 |
| CN103744161A (zh) * | 2014-01-07 | 2014-04-23 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种高精度自动调整像面装置及其调整方法 |
-
1997
- 1997-07-23 JP JP9212632A patent/JPH1138537A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN102508407A (zh) * | 2011-11-04 | 2012-06-20 | 北京航空航天大学 | 一种全帧转移型ccd机械快门的时间特性检测装置 |
| CN103676453A (zh) * | 2012-09-11 | 2014-03-26 | 北京航天计量测试技术研究所 | 一种相机快门延时时间测量方法及其装置 |
| CN103744161A (zh) * | 2014-01-07 | 2014-04-23 | 中国科学院西安光学精密机械研究所 | 一种高精度自动调整像面装置及其调整方法 |
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