JPH1137946A - 鍵・シリンダ検査方法 - Google Patents

鍵・シリンダ検査方法

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JPH1137946A
JPH1137946A JP19808697A JP19808697A JPH1137946A JP H1137946 A JPH1137946 A JP H1137946A JP 19808697 A JP19808697 A JP 19808697A JP 19808697 A JP19808697 A JP 19808697A JP H1137946 A JPH1137946 A JP H1137946A
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JP
Japan
Prior art keywords
key
cylinder
camera
inspection
reference point
Prior art date
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Pending
Application number
JP19808697A
Other languages
English (en)
Inventor
Tsuneyoshi Takahashi
常悦 高橋
Satoru Nomura
悟 野村
Kiyohide Abe
清秀 阿部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Meidensha Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Meidensha Corp
Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd
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Publication date
Application filed by Meidensha Corp, Meidensha Electric Manufacturing Co Ltd filed Critical Meidensha Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 鍵・シリンダの検査品質を向上させ自動検査
を行なうようにした鍵・シリンダ検査方法を提供する。 【解決手段】 鍵やシリンダを透過照明4b,5b及び
反射照明4c,5cにてカメラ4d,4e,5d,5e
で撮影し、この撮影画像から基準点を割り出し、この基
準点より計測ラインW1−W19を生成し、切り欠きパ
タ−ンの座標と生産デ−タとを比較し、また教示結果を
比較する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、鍵・シリンダ検査
方法に関する。
【0002】
【従来の技術あと発明が解決しようとする課題】多種・
多様で多数の鍵やシリンダ(鍵を挿入してロックする
側)が存在する今日、生産後の検査は、面倒な作業であ
る。従来の検査は、生産後パレットに並べられ、パレッ
トに付された伝票の内容とパレット内の鍵やシリンダが
一致するか否か、すなわち、鍵文字、切欠きパターン、
シリンダ形状が伝票と一致するか否かは、人が目視によ
り確認している。
【0003】図8は鍵とシリンダとの一例を示している
が、この鍵とシリンダの検査に当っては、図9に示すよ
うに鍵に表示された刻印番号、切欠きパターンの一致不
一致を検査し、またシリンダにあってはシリンダ径、後
端部形状の検査を行なっている。
【0004】しかしながら、上述の検査では、人による
ミスがどうしても発生し、また検査速度もさほど速くで
きず、品質の低下や生産量の限界も否めない。
【0005】本発明は、上述の問題に鑑み、検査品質を
向上させ生産量も増大させるようにした鍵・シリンダ検
査方法の提供を目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上述の目的を達成する本
発明は、次の発明特定事項を有する。 (1) 位置決め治具上に置かれた鍵に対してこの鍵を
撮影するカメラを設置し、このカメラに対して上記鍵の
透過照明及び反射照明を設置した鍵検査ステーションに
て得られる上記カメラの撮影画像を処理するに当り、上
記鍵の生産データを取込む一方、上記透過照明による撮
影画像から基準点を割り出し、この基準点により計測ラ
インを生成し、この計測ラインにて切欠パターンの座標
を計測し、この座標値と上記生産データとを比較する、
ようにしたことを特徴とする。 (2) 上記(1)において、上記反射照明による撮影
画像からパターンマッチングにて文字の判別を行なうよ
うにしたことを特徴とする。 (3) 位置決め治具上に置かれたシリンダに対してこ
のシリンダを撮影するカメラを設置し、このカメラに対
して上記シリンダの透過照明及び反射照明を設置したシ
リンダ検査ステーションにて得られる上記カメラの撮影
画像を処理するに当り、上記シリンダの生産データを取
込む一方、上記透過照明による撮影画像から基準点を割
り出し、この基準点により計測ラインを生成すると共に
教示し、教示結果を比較するようにしたことを特徴とす
る。
【0007】鍵・シリンダの検査を自動的に行なうこと
ができ、しかもパターンマッチングによる画像処理を用
い座標値の認識にて正確な形状パターンを得ることがで
きると共にシリンダ形状を正確に求めることができる。
【0008】
【発明の実施の形態】ここで、図1〜図7を参照して本
発明の実施の形態の一例を説明する。図1は、鍵・シリ
ンダ検査装置の全体を示す簡略図であり、図1におい
て、筺体内には制御部1、操作盤2及びモニタ3、鍵検
査ステーション4、シリンダ検査ステーション5が配置
され、このうち、鍵検査ステーション4では被検査対象
物である鍵の位置決め治具4a、透過照明4b、反射照
明4c、カメラ4d、4e等が備えられており、またシ
リンダ検査ステーション5でも、被検査対象物であるシ
リンダの位置決め治具5a、透過照明5b、反射照明5
c、カメラ5d、5e等が備えられている。
【0009】また、操作盤2は、鍵検査ステーション
4、及びシリンダ検査ステーション5での各駆動部分の
操作、カメラによるモニタ制御、制御部1への入出力制
御を行なうものであり、、制御部1で座標計算、画像処
理、判定を行なうものである。
【0010】このうち、鍵検査ステーション4は、図2
(a)(b)に示すように構成され、その底部には、鍵
の位置決め治具4aが備えられており、この位置決め治
具4aはプーリやベルトを介してもモータ4fによって
例えば正転・逆転での三箇所の位置にて止まるよう回転
され、位置決めが行なわれる。位置決め治具4aの脇に
は透過照明である蛍光管4bが、散光用のアクリル板に
て覆われた状態で位置する。鍵検査ステーション4の位
置決め治具4a上方には、2本のガイド4gが水平に備
えられ、このガイド4gに沿ってテーブル4hがシリン
ダ4iの駆動にて移動され得る構成となっている。テー
ブル4hには、その一側にカメラ4dが透過照明である
蛍光管4b及び位置決め治具4aに向って備えられてお
り、また他側にカメラ4eがテーブル4hの移動にて位
置決め治具4aを撮影できるよう備えられている。ま
た、カメラ4eの下方にて位置決め治具4aよりも上方
のテーブル4hには、反射照明であるリングライト4c
が備えられる。また、テーブル4hの移動によりカメラ
4dが透過照明の蛍光管4b上に位置するとき、反射照
明のリングライト4cは固定遮光板4j上に位置してリ
ングライト4cの光をさえぎる。また、テーブル4hの
移動にてカメラ4eが位置決め治具4b上に位置すると
き、テーブル4hにて備えつけられた遮光板4kによっ
て透過照明である蛍光管4bが覆われ、位置決め治具4
bがリングライト4cのみにて照明されることになる。
【0011】検査に当っては、オペレータにより鍵が位
置決め治具4a上にセットされ、操作盤2によるスイッ
チ操作により、テーブル4hが移動して位置決め治具4
a上の鍵を下方から蛍光管4bにて照らし、この透過光
をカメラ4dにて撮影し、またテーブル4hの移動にて
リングライト4jにて位置決め治具4a上の鍵を上方か
ら照らし反射光をカメラ4eにて撮影する。
【0012】この場合、透過光によるカメラ4dでの撮
影によって得られる鍵の切欠きパターンは、背景が明る
く鍵が暗く(黒く)影となって撮影される。鍵の切欠き
パターンは、NC加工機により加工されるので、この加
工データをフロッピーディスクからロードすることによ
り設定値が得られる。ここで、白黒画像にあって図3に
示す計測ラインW1により白黒の変化座標を求め、計測
ラインW2,W3を生成し基準点座標(XC,YC)を
計測する。この時の白黒変化の座標値から位置決め治具
4a上の鍵(ワーク)のXY座標や曲がり角θにてずれ
量を計算する。そして、上記ずれ量を補正して、計測ラ
インW4〜W19を生成し、切欠きパターンの座標値を
計測する。この場合、計測ラインW4〜W19は基準点
(XC,YC)に基づく鍵の中心線上から計測されるこ
とは図示のとおりである。この結果、切欠きパターンの
計測結果にて切欠き深さが判明し、設定値の深さに対し
て許容値であれば「合」そうでなければ「否」の判定を
する。以上の計測や判定は、図1に示す制御部1にて行
なわれる。
【0013】上述の切欠きパターンの計測は図1に示す
透過照明4b及びカメラ4dによる撮影画像に基づくも
のであるが、反射照明4c及びカメラ4eにて鍵の表面
状態、例えば刻印の撮像を行ない、得られた画像でのパ
ターンマッチングにより刻印文字の識別と判定をも行な
っている。
【0014】図4は、図1に示すシリンダ検査ステーシ
ョン5を拡大した図であり、シリンダが載置される位置
決め治具5aは底部にあってロータリアクチュエータ5
fにより駆動されるものである。この位置決め治具5a
に対してその上方に平面検査用のカメラ5e及び反射照
明5cを有して、シリンダの平面形状の撮影を行ない、
また、散光板を有する透過照明5b及びカメラ5dを位
置決め治具5aの両側に水平におきシリンダの側面を撮
影するように配置される。
【0015】かかる図4に示すシリンダ検査ステーショ
ン5にあって、透過照明によりシリンダ透過パターンを
蛍光管5b及びカメラ5dにより得る場合、図5に示す
計測が行なわれる。すなわち、前述の鍵切欠きパターン
と同様計測ラインW1W2W3から基準点(XC,Y
C)を計測し、この基準点によりW4を計測ラインとす
る。この場合、シリンダの検査は鍵切欠きパターンのよ
うに多種類はないので、計測ラインW4等は教示できる
ようになっている。したがって、図6に示す如く他のシ
リンダとの違いを教示すれば、その時計測した結果が教
示したものと同じ場合には「合」違う場合には「否」が
判定され得る。
【0016】図7は、鍵・シリンダ検査処理フローを示
すものである。すなわち、図1に示す鍵・シリンダ検査
装置を起動し、図7に示す装置を立上げる(S1)。つ
いで、NC加工機による生産データ、例えば刻印文字、
鍵切欠パターン、シリンダ形状、鍵の個数等がフロッピ
ーディスクから読込まれる(S2)。つぎに、検査対象
となる鍵・シリンダのバーコードが入力されて、そのバ
ーコードによって得られる鍵情報が読込まれる(S
3)。ついで、鍵検査ステーション4及びシリンダ検査
ステーション5にて検査する鍵・シリンダがオペレータ
によりセットされる(S4)。そして、前述した切欠き
パターンや刻印文字を判定する鍵検査(S5)、及びシ
リンダ形状を判定するシリンダ検査(S6)が行なわ
れ、その結果が出力されるものである(S7)。
【0017】
【発明の効果】以上説明したように本発明によれば、切
欠きパターン、刻印番号、シリンダ形状の正確な自動検
査が可能となり、検査品質が向上し検査速度の向上によ
り生産量の増大が可能となる。
【図面の簡単な説明】
【図1】鍵・シリンダ検査装置の全体図。
【図2】鍵検査ステーションの拡大構成図。
【図3】鍵検査方法の説明図。
【図4】シリンダ検査ステーションの拡大構成図。
【図5】シリンダ検査方法の説明図。
【図6】シリンダ形状の違いを表わす図。
【図7】検査処理フローチャート。
【図8】鍵とシリンダを例示する斜視図。
【図9】鍵とシリンダとの検査対象を示す図。
【符号の説明】
4 鍵検査ステーション 5 シリンダ検査ステーション 4a,5a 位置決め治具 4d,4e,5d,5e カメラ 4b,5b 透過照明 4c,5c 反射照明 W1〜W19 計測ライン S1〜S7 処理ステップ

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 位置決め治具上に置かれた鍵に対してこ
    の鍵を撮影するカメラを設置し、このカメラに対して上
    記鍵の透過照明及び反射照明を設置した鍵検査ステーシ
    ョンにて得られる上記カメラの撮影画像を処理するに当
    り、 上記鍵の生産データを取込む一方、 上記透過照明による撮影画像から基準点を割り出し、こ
    の基準点により計測ラインを生成し、この計測ラインに
    て切欠パターンの座標を計測し、 この座標値と上記生産データとを比較する、ようにした
    鍵検査方法。
  2. 【請求項2】 上記請求項1記載の鍵検査方法におい
    て、上記反射照明による撮影画像からパターンマッチン
    グにて文字の判別を行なうようにした鍵検査方法。
  3. 【請求項3】 位置決め治具上に置かれたシリンダに対
    してこのシリンダを撮影するカメラを設置し、このカメ
    ラに対して上記シリンダの透過照明及び反射照明を設置
    したシリンダ検査ステーションにて得られる上記カメラ
    の撮影画像を処理するに当り、 上記シリンダの生産データを取込む一方、 上記透過照明による撮影画像から基準点を割り出し、こ
    の基準点により計測ラインを生成すると共に教示し、教
    示結果を比較するようにしたシリンダ検査方法。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008039767A (ja) * 2006-08-01 2008-02-21 Mitsubishi Electric Research Laboratories Inc 反射性物体の表面の形状を検知する方法及びシステム
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