JPH11354368A - 積層セラミックコンデンサ - Google Patents
積層セラミックコンデンサInfo
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- JPH11354368A JPH11354368A JP17230198A JP17230198A JPH11354368A JP H11354368 A JPH11354368 A JP H11354368A JP 17230198 A JP17230198 A JP 17230198A JP 17230198 A JP17230198 A JP 17230198A JP H11354368 A JPH11354368 A JP H11354368A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 短絡故障を生じた際、局所的にオープンとし
て、コンデンサ機能を保持させるヒュ−ズ機能を持つ積
層セラミックコンデンサを提供する。 【解決手段】 ヒュ−ズ機能を持つ素子部５を誘電体セ
ラミックス層の、コンデンサ部の内部電極６に付与した
ことを特徴とする積層セラミックコンデンサ。
て、コンデンサ機能を保持させるヒュ−ズ機能を持つ積
層セラミックコンデンサを提供する。 【解決手段】 ヒュ−ズ機能を持つ素子部５を誘電体セ
ラミックス層の、コンデンサ部の内部電極６に付与した
ことを特徴とする積層セラミックコンデンサ。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、電子機器の受動部
品として用いられる積層セラミックコンデンサに係わ
り、特に、電子回路の保護機能としてヒューズ機能を有
する積層セラミックコンデンサに関する。
品として用いられる積層セラミックコンデンサに係わ
り、特に、電子回路の保護機能としてヒューズ機能を有
する積層セラミックコンデンサに関する。
【０００２】
【従来の技術】誘電体セラミック層と低抵抗金属からな
る内部電極層とを交互に複数回積み重さねて形成される
積層セラミックコンデンサは、その構造上、製造過程に
おける種々のストレスが誘電体セラミック層と内部電極
層の境界に集中し、歪やデラミネーションを生じさせる
ことがある。このような積層セラミックコンデンサにお
いては、その使用中に誘電体セラミック層の絶縁性の劣
化が生じると、内部電極間が狭く、歪などが残留してい
る部分から短絡故障が発生する。短絡故障が発生する
と、誘電体セラミックの一部分に電流が集中するため、
ジュール熱によってコンデンサが発熱し、コンデンサ全
体がショートモードに到り、電子回路全体を損傷させる
問題点があった。
る内部電極層とを交互に複数回積み重さねて形成される
積層セラミックコンデンサは、その構造上、製造過程に
おける種々のストレスが誘電体セラミック層と内部電極
層の境界に集中し、歪やデラミネーションを生じさせる
ことがある。このような積層セラミックコンデンサにお
いては、その使用中に誘電体セラミック層の絶縁性の劣
化が生じると、内部電極間が狭く、歪などが残留してい
る部分から短絡故障が発生する。短絡故障が発生する
と、誘電体セラミックの一部分に電流が集中するため、
ジュール熱によってコンデンサが発熱し、コンデンサ全
体がショートモードに到り、電子回路全体を損傷させる
問題点があった。
【０００３】このような欠点を解決するため、外部電極
とリード線との間にヒューズを挿入する方法や、内部電
極層の一部に狭窄部を設けたり、ヒューズとして内部電
極の金属より高抵抗の金属を設けて、ヒューズ機能を持
たせたりする方法が提案されている。
とリード線との間にヒューズを挿入する方法や、内部電
極層の一部に狭窄部を設けたり、ヒューズとして内部電
極の金属より高抵抗の金属を設けて、ヒューズ機能を持
たせたりする方法が提案されている。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、外部電
極とリード線間にヒューズを挿入する方法は実装のスペ
ース上不利であり、量産性に劣りコストが高くつくばか
りでなく、不具合の発生でヒューズが溶断すると、コン
デンサの機能も失われてしまうという欠点があった。
極とリード線間にヒューズを挿入する方法は実装のスペ
ース上不利であり、量産性に劣りコストが高くつくばか
りでなく、不具合の発生でヒューズが溶断すると、コン
デンサの機能も失われてしまうという欠点があった。
【０００５】内部電極にヒューズ機能を付与する方法
は、不具合発生した部分のみオープンモードとして、コ
ンデンサの機能を完全に殺すことはないが、ヒューズ部
分に狭窄部を設けたり、高抵抗の金属を用いるために、
インダクタンスの発生や抵抗が高くなって、電気的共振
周波数が低くなり、かつ、等価直列抵抗（以下、ＥＳＲ
と呼ぶ）の増大を来たし、高周波帯での使用が困難にな
るという問題点があった。
は、不具合発生した部分のみオープンモードとして、コ
ンデンサの機能を完全に殺すことはないが、ヒューズ部
分に狭窄部を設けたり、高抵抗の金属を用いるために、
インダクタンスの発生や抵抗が高くなって、電気的共振
周波数が低くなり、かつ、等価直列抵抗（以下、ＥＳＲ
と呼ぶ）の増大を来たし、高周波帯での使用が困難にな
るという問題点があった。
【０００６】本発明は、上記のような課題を解決すべく
提案されたものであり、その目的は、積層コンデンサが
短絡故障を生じた際に、その短絡部分を局所的にオープ
ンとし、ＥＳＲの増加をおさえ、コンデンサ全体の機能
を失うことなく、量産性に優れた高信頼性を有する積層
セラミックコンデンサを提供することである。
提案されたものであり、その目的は、積層コンデンサが
短絡故障を生じた際に、その短絡部分を局所的にオープ
ンとし、ＥＳＲの増加をおさえ、コンデンサ全体の機能
を失うことなく、量産性に優れた高信頼性を有する積層
セラミックコンデンサを提供することである。
【０００７】
【課題を解決するための手段】本発明に係わる積層セラ
ミックコンデンサは、誘電体セラミック層と低抵抗金属
からなる内部電極層とを交互に複数回積み重ねて積層体
側面に金属からなるぺ−ストを塗布し、焼き付けること
によって、外部電極を設けてなる積層セラミックコンデ
ンサにおいて、容量の異なった複数の積層コンデンサ部
を積層すると共に、内部電極にヒューズ機能を持つ素子
部を付与することによって得られる。
ミックコンデンサは、誘電体セラミック層と低抵抗金属
からなる内部電極層とを交互に複数回積み重ねて積層体
側面に金属からなるぺ−ストを塗布し、焼き付けること
によって、外部電極を設けてなる積層セラミックコンデ
ンサにおいて、容量の異なった複数の積層コンデンサ部
を積層すると共に、内部電極にヒューズ機能を持つ素子
部を付与することによって得られる。
【０００８】本発明にかかわる積層セラミックコンデン
サにおいて、ヒューズ機能を持つ素子部が、各内部電極
層或いは、数層間隔に付与されていることによって得ら
れる。
サにおいて、ヒューズ機能を持つ素子部が、各内部電極
層或いは、数層間隔に付与されていることによって得ら
れる。
【０００９】さらに、外部電極において、外部電極ペー
スト内のガラスフリット量を低抵抗金属粉末に対して５
〜８０重量％に変化させることで、外部電極の抵抗値を
変化させることによって得られる。
スト内のガラスフリット量を低抵抗金属粉末に対して５
〜８０重量％に変化させることで、外部電極の抵抗値を
変化させることによって得られる。
【００１０】即ち、本発明は、誘電体セラミック層と低
抵抗金属からなる内部電極層とを交互に複数回積み重ね
て形成する積層体に外部電極を設けてなる積層セラミッ
クコンデンサにおいて、容量の異なった複数の積層コン
デンサ部を積層すると共に、内部電極にヒューズ機能を
持つ素子部を付与した積層セラミックコンデンサであ
る。
抵抗金属からなる内部電極層とを交互に複数回積み重ね
て形成する積層体に外部電極を設けてなる積層セラミッ
クコンデンサにおいて、容量の異なった複数の積層コン
デンサ部を積層すると共に、内部電極にヒューズ機能を
持つ素子部を付与した積層セラミックコンデンサであ
る。
【００１１】また、本発明は、前記に記載の、積層セラ
ミックコンデンサであって、ヒューズ機能を持つ素子部
が各内部電極層に付与されている積層セラミックコンデ
ンサである。
ミックコンデンサであって、ヒューズ機能を持つ素子部
が各内部電極層に付与されている積層セラミックコンデ
ンサである。
【００１２】また、本発明は、前記記載の積層セラミッ
クコンデンサにおいて、ヒューズ機能を持つ素子部が数
層間隔に内部電極層に付与されている積層セラミックコ
ンデンサである。
クコンデンサにおいて、ヒューズ機能を持つ素子部が数
層間隔に内部電極層に付与されている積層セラミックコ
ンデンサである。
【００１３】また、本発明は、前記記載の積層セラミッ
クコンデンサにおいて、外部電極ペースト内のガラスフ
リット量を低抵抗金属粉末に対して５〜８０％変化させ
ることによって、外部電極の抵抗値を変化させた積層セ
ラミックコンデンサである。
クコンデンサにおいて、外部電極ペースト内のガラスフ
リット量を低抵抗金属粉末に対して５〜８０％変化させ
ることによって、外部電極の抵抗値を変化させた積層セ
ラミックコンデンサである。
【００１４】以上のように構成した積層セラミックコン
デンサによれば、何らかの原因で使用中に故障して短絡
となった場合、ヒューズ機能が働き、部分的にオープン
モードとなるが、コンデンサ全体としては、その機能を
失うことはない。しかも、オープンモードの部分はごく
一部分であり、ＥＳＲの増加は小さく、電子回路全体の
最低限の機能を保持することができる。
デンサによれば、何らかの原因で使用中に故障して短絡
となった場合、ヒューズ機能が働き、部分的にオープン
モードとなるが、コンデンサ全体としては、その機能を
失うことはない。しかも、オープンモードの部分はごく
一部分であり、ＥＳＲの増加は小さく、電子回路全体の
最低限の機能を保持することができる。
【００１５】
【発明の実施の形態】以下に、本発明による積層セラミ
ックコンデンサの実施の形態を図面を参照して説明す
る。
ックコンデンサの実施の形態を図面を参照して説明す
る。
【００１６】図１は、本発明に係わる積層セラミックコ
ンデンサの１実施の形態を示す断面図である。この積層
セラミックコンデンサは、３つの積層コンデンサ部１と
２と、３と、その外側に設けた２つの保護層４と、外部
電極７から構成されている。また、前記の積層コンデン
サ部は、積層セラミック層と、内部電極６により構成さ
れている。
ンデンサの１実施の形態を示す断面図である。この積層
セラミックコンデンサは、３つの積層コンデンサ部１と
２と、３と、その外側に設けた２つの保護層４と、外部
電極７から構成されている。また、前記の積層コンデン
サ部は、積層セラミック層と、内部電極６により構成さ
れている。
【００１７】ここで、積層コンデンサ部の容量は、１＞
２＞３の順であり、誘電体層の厚みが薄い程、また多層
構造であるほど、高容量を有している。
２＞３の順であり、誘電体層の厚みが薄い程、また多層
構造であるほど、高容量を有している。
【００１８】図１の例では、各内部電極６の中の、外部
電極７に近い端部に、ヒューズ機能を持つ素子部５が、
全部の内部電極６にわったって、設けられている。
電極７に近い端部に、ヒューズ機能を持つ素子部５が、
全部の内部電極６にわったって、設けられている。
【００１９】図２は、本発明に係わる積層セラミックコ
ンデンサの他の実施の形態を示す断面図である。本例で
は、内部電極６の数層間隔にて、ヒューズ機能を持つ素
子部５が設けられた構成となっている。
ンデンサの他の実施の形態を示す断面図である。本例で
は、内部電極６の数層間隔にて、ヒューズ機能を持つ素
子部５が設けられた構成となっている。
【００２０】一般に、短絡現象は、歪が存在したり、誘
電体層が薄い部分に集中して発生することが多い。従っ
て、ヒューズ機能を持つ素子部５は、前述の理由で、相
対的に短絡現象の生じやすい誘電体セラミック層の薄い
部分、言い換えれば、容量の大きい積層コンデンサ部、
もしくは積層セラミックコンデンサの内部電極６と外部
電極７間に形成する。
電体層が薄い部分に集中して発生することが多い。従っ
て、ヒューズ機能を持つ素子部５は、前述の理由で、相
対的に短絡現象の生じやすい誘電体セラミック層の薄い
部分、言い換えれば、容量の大きい積層コンデンサ部、
もしくは積層セラミックコンデンサの内部電極６と外部
電極７間に形成する。
【００２１】図３は、本発明による実施の形態による、
積層セラミックコンデンサについて一部切り欠いて、ヒ
ューズ機能を持つ素子部５の近傍を示す斜視図である。
積層セラミックコンデンサについて一部切り欠いて、ヒ
ューズ機能を持つ素子部５の近傍を示す斜視図である。
【００２２】図３（ａ）は、ヒューズ機能を持つ素子部
５が内部電極６よりも電気抵抗の高い錫、銅及びが、金
等のペーストが用いられ、焼成によって一体化されて形
成されている。あるいは、ヒューズ機能を持つ素子部５
にカーボンペーストを用い焼成によって生じた空孔に、
鉛等の低融点金属を注入形成する方法もある。
５が内部電極６よりも電気抵抗の高い錫、銅及びが、金
等のペーストが用いられ、焼成によって一体化されて形
成されている。あるいは、ヒューズ機能を持つ素子部５
にカーボンペーストを用い焼成によって生じた空孔に、
鉛等の低融点金属を注入形成する方法もある。
【００２３】さらに、図３(ｂ)は、内部電極６に狭窄部
を設けてヒューズ機能を持たせた例である。このよう
に、種々の方法が考えられが、ヒューズの材料及びパタ
ーンは、短絡時に内部電極間に流れる最大許容電流でヒ
ューズが溶断するように設計されている必要がある。
を設けてヒューズ機能を持たせた例である。このよう
に、種々の方法が考えられが、ヒューズの材料及びパタ
ーンは、短絡時に内部電極間に流れる最大許容電流でヒ
ューズが溶断するように設計されている必要がある。
【００２４】次に、外部電極７について、その抵抗値調
整の効果について説明する。外部電極７は、Ａｇ、Ｃ
u、Ｎi等の低抵抗金属ぺ−ストにガラスフリットの混合
量を５〜８０重量％変化させ、外部電極７自体に抵抗値
を持たせる状態のものを使用した。
整の効果について説明する。外部電極７は、Ａｇ、Ｃ
u、Ｎi等の低抵抗金属ぺ−ストにガラスフリットの混合
量を５〜８０重量％変化させ、外部電極７自体に抵抗値
を持たせる状態のものを使用した。
【００２５】図４は、外部電極のＡｇ金属成分に対する
ガラスフリット量を４０重量％にして、外部電極の抵抗
値を５００ｍΩにした時の１実施例とした積層セラミッ
クコンデンサの周波数−インピ−ダンス特性を示す図で
ある。
ガラスフリット量を４０重量％にして、外部電極の抵抗
値を５００ｍΩにした時の１実施例とした積層セラミッ
クコンデンサの周波数−インピ−ダンス特性を示す図で
ある。
【００２６】ここで、個々の積層コンデンサ部の等価回
路定数は、 コンデンサ部１：Ｃ1=６μＦ,Ｌ1=１.３ｎＨ,Ｒ1=１０
ｍΩ、 コンデンサ部２：Ｃ2=１μＦ,Ｌ2=１.２ｎＨ, Ｒ2=１
５ｍΩ、 コンデンサ部３：Ｃ3=０.２２μＦ,Ｌ3=１.２ｎＨ,Ｒ2=
３０ｍΩ。
路定数は、 コンデンサ部１：Ｃ1=６μＦ,Ｌ1=１.３ｎＨ,Ｒ1=１０
ｍΩ、 コンデンサ部２：Ｃ2=１μＦ,Ｌ2=１.２ｎＨ, Ｒ2=１
５ｍΩ、 コンデンサ部３：Ｃ3=０.２２μＦ,Ｌ3=１.２ｎＨ,Ｒ2=
３０ｍΩ。
【００２７】この結果より、外部電極７に抵抗値を持た
せた本発明は、通常の低抵抗の外部電極の場合の特性と
比較して、高周波帯域においてコンデンサ成分が広くな
っており、良好な周波数特性が得られている。
せた本発明は、通常の低抵抗の外部電極の場合の特性と
比較して、高周波帯域においてコンデンサ成分が広くな
っており、良好な周波数特性が得られている。
【００２８】以上、説明したように、本発明において
は、容量の異なった複数のコンデンサ部を積層し、誘電
体セラミック層の厚みの最も薄い積層コンデンサ部に、
言い換えれば、容量の大きい積層コンデンサの短絡現象
が起こりやすい内部電極にヒューズ機能を持つ素子部を
設けることによって、何らかの原因で短絡し、ヒューズ
が溶断しても、局所的なオープンにとどめられるので、
インピーダンスの変化は小さく、電子回路の機能を大き
く損なうことのない複合機能を有する積層セラミックコ
ンデンサを提供することができる。
は、容量の異なった複数のコンデンサ部を積層し、誘電
体セラミック層の厚みの最も薄い積層コンデンサ部に、
言い換えれば、容量の大きい積層コンデンサの短絡現象
が起こりやすい内部電極にヒューズ機能を持つ素子部を
設けることによって、何らかの原因で短絡し、ヒューズ
が溶断しても、局所的なオープンにとどめられるので、
インピーダンスの変化は小さく、電子回路の機能を大き
く損なうことのない複合機能を有する積層セラミックコ
ンデンサを提供することができる。
【００２９】
【発明の効果】以上、本発明によれば、積層セラミック
コンデンサが短絡故障を生じた際に、その短絡部分を局
所的にオープンとして、等価直列抵抗の増加をおさえ、
コンデンサ全体の機能を失うことなく、量産性に優れた
高信頼性を有する積層セラミックコンデンサを提供でき
る。
コンデンサが短絡故障を生じた際に、その短絡部分を局
所的にオープンとして、等価直列抵抗の増加をおさえ、
コンデンサ全体の機能を失うことなく、量産性に優れた
高信頼性を有する積層セラミックコンデンサを提供でき
る。
【図１】本発明の積層セラミックコンデンサの実施の形
態の一例を示す断面図。
態の一例を示す断面図。
【図２】本発明の積層セラミックコンデンサの他の実施
を示す断面図。
を示す断面図。
【図３】本発明の実施の形態の積層セラミックコンデン
サについて、一部を切り欠いて示す斜視図。図３（ａ）
は、ヒューズ機能を持つ素子部が電気抵抗の高い材料に
よって形成された例を示す図、図３（ｂ）は、ヒューズ
機能を持つ素子部が、狭窄部によって形成された例を示
す図。
サについて、一部を切り欠いて示す斜視図。図３（ａ）
は、ヒューズ機能を持つ素子部が電気抵抗の高い材料に
よって形成された例を示す図、図３（ｂ）は、ヒューズ
機能を持つ素子部が、狭窄部によって形成された例を示
す図。
【図４】本発明の実施の形態における積層セラミックコ
ンデンサの周波数特性を示す図。
ンデンサの周波数特性を示す図。
１，２，３ 誘電体セラミックス層の積層コンデンサ
部 ４ 保護層 ５ ヒューズ機能を持つ素子部 ６ 内部電極 ７ 外部電極
部 ４ 保護層 ５ ヒューズ機能を持つ素子部 ６ 内部電極 ７ 外部電極
Claims (4)
- 【請求項１】 誘電体セラミック層と低抵抗金属からな
る内部電極層とを交互に複数回積み重ねて形成する積層
体に外部電極を設けてなる積層セラミックコンデンサに
おいて、容量の異なった複数の積層コンデンサ部を積層
すると共に、内部電極にヒューズ機能を持つ素子部を付
与したことを特徴とする積層セラミックコンデンサ。 - 【請求項２】 前記のヒューズ機能を持つ素子部が各内
部電極層に付与されていることを特徴とする請求項１記
載の積層セラミックコンデンサ。 - 【請求項３】 前記のヒューズ機能を持つ素子部が数層
間隔に内部電極層に付与されていることを特徴とする請
求項１記載の積層セラミックコンデンサ。 - 【請求項４】 前記の積層セラミックコンデンサにおい
て、外部電極ペースト内のガラスフリット量を低抵抗金
属粉末に対して５〜８０重量％変化させることによっ
て、外部電極の抵抗値を変化させたことを特徴とする請
求項１または２，３記載の積層セラミックコンデンサ。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17230198A JPH11354368A (ja) | 1998-06-03 | 1998-06-03 | 積層セラミックコンデンサ |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP17230198A JPH11354368A (ja) | 1998-06-03 | 1998-06-03 | 積層セラミックコンデンサ |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11354368A true JPH11354368A (ja) | 1999-12-24 |
Family
ID=15939395
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP17230198A Pending JPH11354368A (ja) | 1998-06-03 | 1998-06-03 | 積層セラミックコンデンサ |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11354368A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103460315A (zh) * | 2011-03-28 | 2013-12-18 | 株式会社村田制作所 | 电子部件 |
| US20140293501A1 (en) * | 2013-04-02 | 2014-10-02 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer ceramic capacitor and method of manufacturing the same |
| JP2016187036A (ja) * | 2016-06-02 | 2016-10-27 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
| US11217390B2 (en) * | 2019-12-24 | 2022-01-04 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Composite electronic component |
-
1998
- 1998-06-03 JP JP17230198A patent/JPH11354368A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN103460315A (zh) * | 2011-03-28 | 2013-12-18 | 株式会社村田制作所 | 电子部件 |
| US9558886B2 (en) | 2011-03-28 | 2017-01-31 | Murata Manufacturing Co., Ltd. | Electronic component |
| US20140293501A1 (en) * | 2013-04-02 | 2014-10-02 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Multilayer ceramic capacitor and method of manufacturing the same |
| JP2016187036A (ja) * | 2016-06-02 | 2016-10-27 | 太陽誘電株式会社 | 積層セラミックコンデンサ |
| US11217390B2 (en) * | 2019-12-24 | 2022-01-04 | Samsung Electro-Mechanics Co., Ltd. | Composite electronic component |
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