JPH11352110A - ガイド装置 - Google Patents

ガイド装置

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JPH11352110A
JPH11352110A JP11130291A JP13029199A JPH11352110A JP H11352110 A JPH11352110 A JP H11352110A JP 11130291 A JP11130291 A JP 11130291A JP 13029199 A JP13029199 A JP 13029199A JP H11352110 A JPH11352110 A JP H11352110A
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JP
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guide
damping
guide device
test
bush
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JP11130291A
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English (en)
Inventor
Peter Haeberlein
ヘーベルライン ペーター
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Institut Dr Friedrich Foerster Pruefgeraetebau GmbH and Co KG
Original Assignee
Institut Dr Friedrich Foerster Pruefgeraetebau GmbH and Co KG
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Publication date
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    • B65H57/00Guides for filamentary materials; Supports therefor
    • B65H57/12Tubes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
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    • G01N27/00Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means
    • G01N27/72Investigating or analysing materials by the use of electric, electrochemical, or magnetic means by investigating magnetic variables
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 緩やかな材料案内の場合に接触しない様式で
機能するテスト装置の測定精度を高める。 【解決手段】 渦電流技術によって非破壊的な材料テス
トを行うためのテスト装置における入口ノズル又は出口
ノズルとして使用され得るものであって、特にワイヤを
例にして説明されている伸長した対象の線形案内のため
のガイド装置(1)である。前記ガイド装置は、ガイド
・スリーブの中に組み込まれ、前記通過する対象の振動
を減衰するための減衰装置(35)として機能するよう
に成したブラシ配列を有する。従って、前記ガイド装置
によって表面保護様式で案内されるワイヤは、それがテ
スト・プローブの近傍に進入するときに横断方向の振動
を僅かしか受けないか又は全く受けないことになり、そ
の外乱レベルが削減されて、測定精度が増大され得るの
である。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は伸長した対象(特に
ワイヤ)を案内するためのガイド装置であって、前記伸
長した対象が、前記ガイド装置に対して通路軸に沿って
通路方向に運動可能であるように成したガイド装置に関
するものである。
【0002】
【従来の技術】金属ワイヤ、ロッド、バー、チューブの
ような伸長した対象は、高価値の最終製品のための開始
材料であることが可能であり、しばしば高品質の要求事
項に従うことが必要とされる。表面欠陥に関するテスト
は、そのような製品のための品質管理の1つの重要な部
分である。1つの目標は、なかんずく、好ましくは製造
プロセスのサイクル及び速度において、例えば亀裂のよ
うな僅かな欠陥に関しても高い分解能を備えるように成
して、前記表面の連続した完全なテスト即ち検査を行う
ことである。現在、そのようなテストは、しばしば、連
続的なベースで実行されるものであり、特に渦電流技術
である磁気的な方法を使用して行われるものであり、テ
スト即ち検査を受ける前記対象は、例えば渦電流プロー
ブを備えた回転式のテスト・ヘッドを装備されるテスト
装置の軸方向テスト区域を通して高速で案内され、前記
プローブは、好ましくは接触しない様式で前記対象の表
面をテストするのである。
【0003】前記テスト・プローブの領域の上流におけ
る通路方向において、そのようなテスト装置は、標準的
に、いわゆる入口ノズルとその後における出口ノズルと
を有する。保護ノズルとしても周知であるこれらのガイ
ド装置は、二重の機能を遂行する。それらは、特には前
記テスト材料の進入及び排出の間に、前記テスト・ヘッ
ドが破損しないように保護する。それらは、前記テスト
区域内における前記運動するテスト材料の最大偏心率を
狭い限定的な量に限定するものでもあり、その範囲内に
おいて、前記テスト装置の間隔補正は、前記テスト対象
の表面と前記テスト・プローブの間における前記間隔に
強く依存して、その感度変動を相殺することが可能なの
である。
【0004】DE40 07 471公報から公知である
ガイド・ノズルは、前記通過する対象の振動の減衰のた
めに、前記対象の表面に対して接するように向いた3つ
のガイド要素を備えた減衰装置を有するものであり、前
記ガイド要素は、前記テスト製品と摺動接触すべく耐摩
耗性の表面を備えた摺動体をそれぞれに有し、ゴム状の
材料によって形成される減衰部材によって担持される。
【0005】そのようなテスト装置は、概ね、完全に申
し分のない様式で機能する。しかしながら、高い移動速
度即ち通過速度であって、例えばほぼ1mm又は数mm
という直径を備えた医療分野のための特に高度に研磨さ
れたワイヤのように非常に細い通過テスト・ピースの場
合に、その測定精度を損なう非常に高い外乱レベルが観
察されることになった。更には、その金属性の摺動体
が、敏感な表面に損傷を与える可能性もあるのである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、特に
は緩やかな材料案内の場合に接触しない様式で機能する
テスト装置の測定精度を高めることを可能にするように
したガイド装置を提案することである。
【0007】
【課題を解決するための手段】本発明に拠れば、この課
題は、請求項1に記載のガイド装置によって解決され
る。
【0008】
【発明の実施の形態】本発明に拠るガイド装置は、伸長
した対象の好ましくは磁気的である非破壊的なテストを
連続的なプロセスで行うためのテスト装置において、有
益に使用されることが可能である。それは、振動、特に
通過する対象の横断方向の振動を減衰するための減衰装
置を有する。前記減衰装置は、前記通過する対象と好ま
しくは摺動的に直接に接触して、振動エネルギーを吸収
し得るように成した、多数の弾力的な減衰部材を有す
る。
【0009】前記テスト製品に直接に接して作用するも
のであり、それについて、10個、50個、100個又
は1000個が存在することも可能であるそのような減
衰部材は、特には最大の横断方向の振れの範囲内におい
て、即ち振動波腹の領域内において、数多くのポイント
における振動エネルギーを吸収するものであり、前記対
象の振れに対して減衰打消し効果を有する。多数の減衰
部材は、前記テスト製品に接して作用する各々の個別的
な減衰部材が前記テスト製品の表面に対して限定的な圧
力のみを掛けるという結果を導くことが可能であり、前
記テスト製品は、緩やかな様式で案内され得ることにな
る。前記減衰部材の好適な統計的配分は、広範且つ連続
的な振動周波数スペクトルにおいて減衰を支援する。特
には高い移動速度においてテストを受ける細いワイヤの
場合に、ワイヤの振動は、前記テスト・プローブの近傍
で発生し得ることになり、それが、前記テスト信号に関
して高い外乱レベルをもたらし、結果として、特には小
さな欠陥の検出に関してその測定精度を損なうというこ
とが判明することになった。表面保護様式において案内
する前記新規な減衰装置を備えたガイド装置は、そのよ
うな振動を打ち消すことが可能であり、限定的な横断方
向の振動だけで或いは横断方向の振動が全くないように
して前記テスト・プローブの近傍におけるテスト材料の
特に静穏な走行を保証することも可能である。
【0010】1つの好適な実施例において、前記減衰装
置は、ブラシ配列を有するものであり、特にはブラシに
よって形成される。ブラシ配列の毛即ち繊維は、通過す
る対象に接して緩やかに摺動する様式で係合して、前記
減衰部材を形成することが可能である。前記対象の振動
は、特には繊維の曲がりである振れ及び/又は多様な程
度で振れた隣接するもう1つの繊維に対する擦れを導く
ことになる。実質的に弾力的な繊維の曲がり及び繊維の
相互的な擦れの両者は、エネルギーを必要とするもので
あり、前記エネルギーは、前記対象の振動から差し引か
れて、その振動が減衰されるのである。前記案内される
対象に接して緩やかに係合する柔軟な毛は、前記ガイド
装置の中に即ちそれを通して案内されることになる前記
対象の導入及び移動を容易にするものでもあり、非常に
限定的な摩擦損失だけしか生じないことになる。
【0011】その減衰作用に加えて、ブラシ配列は、通
過する対象を清掃するために使用されることも可能であ
り、及び/又は、それは、ブラシ・シールの様式で密封
装置として機能して、汚損の持込みに対して前記減衰装
置の通過方向において後に続く軸方向の領域を密封する
ことも可能である。
【0012】前記毛繊維の柔軟性の結果として、所定寸
法の単一のブラシ配列は、適切な直径の範囲からの様々
な直径のテスト対象のために使用されることが可能にな
る。前記通過する対象の前記太さに応じて、前記毛繊維
がより大きいか又はより小さい程度に振れ即ち曲がるよ
うに成した、前記減衰装置の自動的な直径の適応が存在
する。従って、例えば、各々のガイド装置が特には2m
mと5mmの間の範囲の幅である例えば1mmと10m
mの間の所定の直径範囲をカバーすることが可能である
ブラシ配列を備えるように成して、例えば1mmと約1
30mmから140mmの間の称呼寸法即ち内径を備え
た複数のガイド装置を形成することが可能である。結果
として、様々な直径のために適したテスト装置は、従来
的な複数のガイド装置を有するものよりも遥かに少数の
この種のガイド装置だけしか必要としないのである。
【0013】その用途の関数として、前記繊維は、硬質
又は軟質であり、太いか又は細いものであり、柔軟性が
高いか又は低いものであり、曲げ耐性、座屈耐性、及び
/又は摩擦耐性であることが可能である。従って、前記
繊維は、ワイヤ、合成繊維又は天然繊維であることも可
能である。敏感な表面を有する医療分野又はその他の対
象のための特に超仕上げされた細いワイヤの案内に関し
ては、金属の上において有効な摺動作用を有する柔軟な
天然繊維又は合成繊維が、特に申し分のないものである
と判明することになった。ブラシ配列は、数個の異なっ
た繊維又は繊維形式から成る一様であるか又は統計的な
混合物を有することも可能である。
【0014】ブラシ配列は、例えば、少なくとも1つの
円形ブラシを有して、例えば実質的に半径方向内側に向
いた毛を備えるものであることも可能である。1つの好
適な実施例は、前記ブラシ配列が、前記ガイド装置の表
面の廻りに配分され、詳細にはその廻りに対称的な様式
で配分されるように成した、少なくとも1つであり好ま
しくは数個である軸方向に向いたストリップ・ブラシを
有するように成したことで特徴付けられる。例えば、各
々の場合に、周方向において120度だけ相互に変位さ
れ、それらの毛が、通過する対象のための例えば三角形
の通路をそれらの自由端部によって画成するように成し
た、3つのストリップ・ブラシを設けることも可能であ
る。前記テスト対象に対して半径方向と一部接線方向と
に方向付けされるそれらの自由端部を備えるように成し
た、振動減衰繊維の周方向の対称配列が、振動減衰目的
のために特に有利であると判明することになった。更に
は、従来的なガイド・ノズルと比べて、前記通過する対
象の向上した心出しが、観察されることにもなったので
ある。
【0015】フォーマット即ち直径の変更は、1つの好
適な実施例では、前記減衰部材又は前記ブラシ配列の少
なくとも1つのブラシが、好ましくは工具なしで、好ま
しくはスリーブ状のブラシ・サポートに対して取外し可
能な様式で取り付けられるように成して、特に容易に為
される。繊維即ち毛を担持するブラシ体を標準的に有す
るブラシは、特には前記ブラシ・サポートの中に挿入さ
れることが可能であり、これが、フォーマット即ち寸法
の変更を特に簡単にすることになるのである。
【0016】前記減衰装置が、前記通過する対象に接触
させられることが可能であり、且つ前記通過する対象の
直径の好ましくは10倍から100倍であり特にはほぼ
30倍を提示するように成した、有効な軸方向長さを有
するならば、特に有効な振動減衰が、達成され得ること
になる。過度に短いものではない適当な長さの前記減衰
装置は、振動スペクトルの様々な周波数を減衰するため
に特に適している。
【0017】軸方向では、減衰装置は、それに関連する
ガイド装置の上流及び/又は下流に位置決めされること
が可能である。1つの好適な実施例において、前記減衰
装置は、前記ガイド装置のケーシングの内部に保護的な
様式で完全に配置され、或いはその中に組み込まれる。
前記ガイド装置は、前記減衰装置の上流において前部ガ
イド・ブッシュを有して、好ましくは断面が円形である
軸方向通路開口をも設けられることが可能であり、前記
軸方向通路開口は、その入口側において好ましくは漏斗
形状の様式で拡張される。案内されるべき前記対象は、
この通路開口の中央を通されて前記減衰装置の内部に至
ることが可能である。設けられることが望ましい後部ガ
イド・ブッシュは、前記減衰装置の後に続くことが可能
であり、特には前記前部ガイド・ブッシュと連絡して、
前記ガイド装置の中における前記通過する対象の傾動を
防止することが可能になる。それらのガイド・ブッシュ
は、引抜きダイスの様式で成形されることが可能であ
り、及び/又は好ましくは耐摩耗性の硬質金属によって
形成される。前記通過する材料に対する表面の損傷を防
止するために、好ましくはガイド・ブッシュの前記通路
開口の内側表面は、少なくとも前記対象が通過する領域
内において高度に研磨される。前部及び後部のガイド・
ブッシュが全く同じ構造を有するならば、特に廉価であ
るガイド装置の簡単な構造が獲得される。
【0018】1つの好適な実施例に拠れば、第1のガイ
ド・ブッシュ及び/又は第2のガイド・ブッシュは、前
記ガイド装置の好ましくはスリーブ状のケーシングに対
して取外し可能に取り付けられる。例えばネジによって
固定され得る取外し可能な締付け具は、テスト装置の中
に任意選択的に嵌め込まれる前記ケーシングを取り替え
る必要なしで、様々な断面を有する対象に適応するため
の様々な通路開口直径を備えたガイド・スリーブの交換
を容易にする。そのために準備されなければならないネ
ジなどのような別個の締付け手段なしで、前記減衰装置
は、軸方向において間隙を免れた様式で保持されること
が可能であり、任意選択的には前記前部ガイド・ブッシ
ュと前記後部ガイド・ブッシュの間において軸方向に取
り付けられることも可能である。
【0019】本発明は、伸長した対象特にはワイヤの好
ましくは磁気的である非破壊的なテストを連続的なプロ
セスで行うための高度な測定精度で機能するテスト装置
を提供することを可能にする。少なくとも1つのテスト
・プローブは、前記テスト装置の軸方向テスト区域の中
において機能することが可能である。本発明に拠るテス
ト装置は、前記軸方向テスト区域の上流及び/又は下流
の通路方向において、上述のような形式の少なくとも1
つのガイド装置を設けられるように成したことで特徴付
けられる。好ましくは、前記ガイド装置は、接触しない
様式で機能する渦電流プローブであり、回転式プローブ
又はフィードスルー・コイルとして構築されるように成
した、テスト・プローブと共に使用される。例えば漂遊
磁束方式であるその他の磁気的なテスト方法と共に使用
することもまた好適である。静穏に振動を免れた中心の
様式で走行するテスト対象は、テスト・プローブを前記
テスト対象に接触させるテスト方法においても好適であ
る。
【0020】前記テスト・プローブとテスト装置の間に
おける軸方向間隙が短いものであり、前記軸方向間隙が
好ましくは10mm以下であり、特には0.5mmから
2mmの間にあることが、特に好適であると判明するこ
とになった。前記テスト・プローブの上流及び/又は下
流の振動減衰保護ガイド装置のそのような接近した配列
は、その測定値を損ない得る振動が前記ガイド装置と前
記テスト・プローブ区域の間で再び生じることがないと
いうことを保証する。
【0021】これらの特徴及び更なる特徴は、各請求
項、発明の詳細な説明及び図面から収集され得るもので
あり、それらの個別的な特徴は、本発明の1つの実施例
において更にはその他の分野においても、単独で更には
副次的な組合せ(つまり組合せの一部)の形態でも実現
されることが可能であり、有益な構造を提示し得るので
ある。
【0022】本発明の1つの実施例は、以下のように添
付図面に関連して更に詳細に説明される。
【0023】
【実施例】図1の部分断面側面図は、例えばほぼ2mm
の直径を備えたワイヤ(これは伸長した対象の典型例)
が、通路軸3に沿った通路方向2において前記ガイド装
置を貫通し得るようにして構築されるように成した、本
発明に拠るガイド装置1の好適な実施例を示している。
ガイド装置1は、従来の入口又は出口のノズルの代わり
に、それ自体は公知であり特には磁気的なテスト装置で
ある例えば渦電流回転式ヘッドを備えたテスト装置の上
において使用されることが可能であり、前記ヘッドは、
例えば差込み式留め金によって交換可能に取り付けられ
ることになる。
【0024】ガイド・スリーブとして構築されるガイド
装置1は、スリーブ状の金属性ケーシング4を有するも
のであり、入口側5においてほぼ円筒形である前記ケー
シングは、前記入口側と出口側6の間において、前記ガ
イド・スリーブを前記テスト装置に対して取り付けるた
めのフランジ状カラー7を有するものであり、前記カラ
ーを越える前記出口側では、台形状の端部8の中におい
て終端する。ケーシング4の内部は、入口側の円筒部分
9と、それに対して接続され、半径方向の内側ステップ
10の形成を伴うように成した小径の円筒部分11と、
それに対して接続され、半径方向の内側ステップ12の
形成を伴うように成した円筒端部13とを有する。
【0025】硬質金属によって形成される出口側の後部
ガイド・ブッシュ15は、それらの端面の間において中
央に配置され、半径方向外側に突出するように成したカ
ラー16を備えて、末端において実質的に円筒形の形状
を有するものであり、その外径は、円筒部分11の内径
と実質的に対応する。ガイド・スリーブ15は、前記出
口側において、それが円筒部分によって前記ケーシング
の円筒部分13から突出するようにして、端部8の中に
挿入される。取付け状態において、ガイド・ブッシュ1
5は、通路軸3と心合わせされる軸方向貫通開口17を
有するものであり、前記開口は、前記出口側では、例え
ば2mmの直径を備えて実質的に円筒形であり、前記入
口側では、緩やかに湾曲した内側半径によってトランペ
ット状に拡大する挿入漏斗の形成を伴って拡大される。
通路開口17の内側は、高度に研磨され、縁又は角を免
れるものであり、接触して通過する対象は、前記ガイド
・ブッシュによって損傷を受けることがなく、例えば引
っ掻かれることもない。標準的な運転において、前記通
路開口の内側表面と前記テスト対象の間には、例えば1
/100mmという半径方向幅の空気間隙が存在する。
【0026】入口側5に向かって、後部ガイド・ブッシ
ュ15に対しては、ブッシュ即ちスリーブ状のブラシ・
サポート20が接続され、前記ガイド・ブッシュの円筒
形の外周は、その出口側の端面が後部ガイド・ブッシュ
15のカラー16に係合して、それを軸方向に固定する
までは、間隙を免れた様式で前記ケーシングの円筒開口
9の中へ軸方向に挿入され得るように成したものであ
る。図2において理解され得るように、金属性のブラシ
・サポート20は、各々の場合に120度だけ周方向に
相互に変位され、図1で示されたようにスリーブ20の
前方端部に達するまでは延在しないように成した、半径
方向に貫通する3本の長手方向スロット21,22,2
3を有する。
【0027】前記長手方向スロットの各々の中には、軸
方向に向いたストリップ・ブラシ24,25,26が、
それらの毛又は繊維が実質的に半径方向に且つ幾分かは
通路軸3に対してほぼ接線方向に伸ばされるようにし
て、半径方向に挿入される。図3において理解され得る
ように、それらのストリップ・ブラシの各々の繊維の自
由端部は、巨視的には実質的に平坦なブラシ表面25を
形成するものであり、その中には、前記ブラシの柔軟な
天然繊維の自由端部が配置される。前記繊維の長さは、
ケーシング9に対して半径方向外側に係合するまで前記
長手方向スロットの中に挿入されるストリップ・ブラシ
の場合には、メルセデス星形のような様式で配置された
前記ストリップ・ブラシの自由端部が、ほぼ三角形の通
路断面27を画成するように成したものである。断面が
三角形の移動経路27は、貫通して通される前記ワイヤ
の直径よりも小さい内径を有するので、前記ワイヤが貫
通して通されるとき、減衰部材及びガイド要素として機
能する毛の少なくとも一部は、通路方向において及び/
又はそれに対する横断方向において僅かに湾曲され、前
記繊維の張力によって予定された限定的な圧力を前記貫
通して通される対象に対して掛けることになる。
【0028】後部ガイド・ブッシュ15の挿入、及びそ
れに関連する長手方向スロットの中への交換可能なスト
リップ・ブラシの挿入に続いて、スリーブ状のブラシ・
サポート20は、それがガイド・ブッシュ15に衝突す
るまで、ケーシング9の中へ軸方向に導入される。その
後、後部ガイド・ブッシュ15と全く同じものである前
部ガイド・ブッシュ30は、カラー31がスリーブ20
に係合するまで、スリーブ20の前部円筒開口の中に挿
入される。その配列の全体は、ケーシング9の前記挿入
側端部に対して取り付けられ、前記ガイド装置の周囲の
廻りに配分された数本の締付けネジ33によって前記ケ
ーシングに対して前方にネジ止めされるように成した、
ディスク状の端部プレート32によって軸方向に固定さ
れる。
【0029】適切に整合する部分の中へ簡単に嵌め込む
ことによって前記ガイド装置を上述のように組み立てる
ことは、単に端部プレート32のネジを外すだけで、前
記挿入された部分をケーシング9の内部から引き出し、
大小の通路直径を備えたその他の部分を上述の順番でス
リーブ9の中へ挿入し、プレート32をネジ留めして固
定するように成して、それらのガイド・ブッシュ及び/
又はブラシ配列の容易な交換を許容することになる。ブ
ラシ配列の直径範囲によってカバーされる例えば5mm
から10mmという直径範囲の中における直径の変更の
場合には、単に前記ガイド・ブッシュを交換することだ
けが必要である。
【0030】ブラシ配列20,24,25,26の形態
において減衰装置35を設けられる前記ガイド装置は、
以下のように機能する。初めに、好ましくは前記ガイド
装置の分解状態において、直径適応ガイド・スリーブと
対応するブラシ配列とを対応して取り付けることによっ
て、前記対象の直径は、テスト即ち検査を受ける準備が
整う。前記ガイド装置は、その後、カラー7を使用し
て、テスト装置に対する入口ノズルとして取り付けられ
る。前記出口側には、好ましくは、同じ方向付けを備え
た全く同じガイド・スリーブが取り付けられる。テスト
を受けるべき前記対象は、通路軸3に沿ってガイド・ス
リーブ1を貫通して通され、機能する前記テスト装置も
また、後者を貫通して通される。前記挿入及び移動は、
前記挿入された対象の表面に接して緩やかに隣接し、ワ
イヤの曲がりが起こり得ないように成した、前記繊維の
柔軟性の結果として非常に簡単である。軸3に対して同
軸的に配置される三角形の移動経路27の近傍を貫通さ
れる前記対象は、前記ブラシ配列の繊維の一部を曲げ
て、前記通路方向及び/又はそれに対する横断方向にお
ける限定的な範囲までそれに対して摺動接触させるの
で、前記ブラシ配列の全体は、前記テスト対象の廻りに
配置され、後者を軸3の近傍において中央に保持して案
内することになる。前記繊維は、前記貫通する対象に対
して半径方向又は接線方向に係合して、前記対象の横断
方向の振動の場合に多かれ少なかれ或る程度曲がるよう
に成した、弾力的な減衰部材の多かれ少なかれ固定的な
分布を形成するのである。
【0031】前記ブラシ繊維の振動誘発される曲がり
が、標準的には、隣接する繊維に関して異なるので、そ
れらは、互いに対して摺動的に運動して、互いに擦れ
る。前記繊維の摩擦は、前記繊維の実質的に弾力的な曲
がりと共に、前記振動エネルギーを吸収することにな
り、結果として、起こり得る横断方向の振動を減衰する
ことにもなる。後者は、各々の横断方向の振動がエネル
ギーを吸収する曲がり及び/又は互いに対する繊維の擦
れを産み出さなければならないようにして、防止され或
いは実質的に削減される。前記ブラシ配列によって前記
対象に対して掛けられる前記振動を減衰する半径方向の
力の全体は、相当なものであり得るが、前記対象と接触
する各々の個別的な繊維は、前記通過する対象の外側に
限定的な力だけを掛けることになる。特に、例えば天然
繊維である柔軟な繊維を使用するときには、前記減衰作
用は、任意選択的に非常に敏感な表面のいかなる表面の
損傷も存在することなしに、達成され得ることになる。
【0032】前記減衰式ガイド・スリーブ1の様式にお
ける減衰式ガイド装置の場合には、寸法的な精度を補う
減衰装置が形成されるだけでなく、同時に前記テスト・
プローブの近傍に進入する前記テスト製品のための機械
的な清掃装置が形成されることにもなる。結果として、
前記測定の外乱レベルが削減され得ることになり、従っ
て、その測定精度もまた高められるのである。前記測定
精度は、前記新規なガイド装置が、前記硬質金属のガイ
ド・ブッシュの間隙領域の中を貫通して通される前記対
象を特に有効に心出しするものであり、前記ガイド・ブ
ッシュとの接触による何らかの表面の損傷が、削減され
或いは回避されることが可能になるという理由で、更に
改良されるものでもある。
【0033】新規に構築されたガイド・スリーブをテス
ト装置のための入口ノズル及び/又は出口ノズルとして
使用することは、特には接触しない様式で機能するテス
ト・プローブを有するものである連続的なプロセスで機
能する実質的にすべての従来的なテスト装置において、
非常に廉価で単純であるが、測定精度を効果的に高める
可能性を提示するのである。
【図面の簡単な説明】
【図1】伸長した対象の通路方向に対する垂直な方向か
ら本発明のガイド装置の実施例を示す部分断面側面図で
ある。
【図2】図1における線II−IIに沿った、前記通路の軸
に対して垂直な方向の断面図である。
【図3】前記ガイド装置の中に挿入され得る減衰装置ス
トリップ・ブラシを示しており、(a)はその側面図で
あり、(b)はその軸方向正面図である。
【符号の説明】
1 ガイド装置 2 通路方向 3 通路軸 5 入口側 6 出口側 7 フランジ状カラー 8 端部 9 円筒部分 10 内側ステップ 11 円筒部分 12 内側ステップ 13 円筒端部 15 後部ガイド・ブッシュ 20 ブラシ・サポート 21,22,23 長手方向スロット 24,25,26 ストリップ・ブラシ 27 移動経路 30 前部ガイド・ブッシュ 31 カラー 32 端部プレート 33 締付けネジ 35 減衰装置

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 伸長した対象、特にワイヤを案内するた
    めのガイド装置であって、前記伸長した対象が、ガイド
    装置に対して通路軸に沿って通路方向に運動可能である
    ように成し、とくに非破壊的な材料テストを連続的なプ
    ロセスで行うためのテスト装置におけるガイド・スリー
    ブとして使用されるものであり、前記ガイド装置には、
    前記通過する対象の振動を減衰するための減衰装置が設
    けられており、前記減衰装置(35)が、通過する対象
    に接触する複数の弾力的な減衰部材を有するように構成
    したガイド装置。
  2. 【請求項2】 前記減衰装置(35)は、ブラシ配列
    (20,24,25,26)を有し、それらのブラシ繊
    維が、前記減衰部材を形成するように構成した、請求項
    1に記載のガイド装置。
  3. 【請求項3】 前記減衰部材は、非金属材料によって実
    質的に形成されるように構成した、請求項1〜2のいず
    れか1項に記載のガイド装置。
  4. 【請求項4】 前記ブラシ配列は、前記ガイド装置の周
    囲の廻りに配分されて、軸方向に向いた数個のストリッ
    プ・ブラシ(24,25,26)であるように構成し
    た、請求項2又は3に記載のガイド装置。
  5. 【請求項5】 前記減衰部材は、サポート(20)に対
    して工具なしで取外し可能に取り付けられるように構成
    した、請求項1〜4のいずれか1項に記載のガイド装
    置。
  6. 【請求項6】 それは、前記減衰装置(35)の上流に
    おいて、軸方向通路開口を備えた前部ガイド・ブッシュ
    (30)を有し、前記軸方向通路開口が、その入口側に
    おいて漏斗形状の様式で拡張されるように成し、更に、
    それは、前記減衰装置(35)の後に続き且つ軸方向通
    路開口(17)を有するように成した後部ガイド・ブッ
    シュ(15)を有し、前記軸方向通路開口が、その入口
    側において漏斗状の様式で拡張されるように成し、前記
    前部ガイド・ブッシュ及び前記後部ガイド・ブッシュ
    は、硬質合金によって本質的に形成されるように成し、
    前部ガイド・ブッシュ(30)及び後部ガイド・ブッシ
    ュ(15)の通路開口(17)の内側表面は、少なくと
    も前記対象が通過する領域内において高度に研磨される
    よう構成した、請求項1〜5のいずれか1項に記載のガ
    イド装置。
  7. 【請求項7】 前記減衰装置(35)は、前部ガイド・
    ブッシュと後部ガイド・ブッシュの間において締付け様
    式で取り付けられるように構成した、請求項1〜6のい
    ずれか1項に記載のガイド装置。
JP11130291A 1998-05-25 1999-05-11 ガイド装置 Pending JPH11352110A (ja)

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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
DE102005037626B4 (de) 2005-08-09 2012-10-11 Asm Automation Sensorik Messtechnik Gmbh Seilabstreifer und Montageverfahren für Seilabstreifer
DE102008038174A1 (de) 2008-08-18 2010-02-25 Prüftechnik Dieter Busch AG Vorrichtung und Verfahren zur zerstörungs- und berührungsfreien Erfassung von Fehlern in einem Prüfling
DE102008053778B4 (de) * 2008-10-23 2020-08-06 Institut Dr. Foerster Gmbh & Co. Kg Prüfverfahren und Prüfvorrichtung zur Prüfung von langgestreckten Gegenständen mittels Durchlaufspule
EP2287603B1 (de) 2009-08-19 2016-05-04 PRÜFTECHNIK Dieter Busch AG Vorrichtung und verfahren zur zerstörungs- und berührungsfreien erfassung von fehlern in einem prüfling
US10137793B2 (en) * 2015-09-23 2018-11-27 ScienBiziP Consulting(Shenzhen) Co., Ltd. Wiper ring and charging pile using same
CN113879904A (zh) * 2021-09-25 2022-01-04 青岛丰一顺海事工程技术有限公司 一种海船用缆绳专用回收装置
CN114878740B (zh) * 2022-05-10 2023-10-20 安徽广优特电缆科技有限公司 一种阻燃耐火电缆的加工设备

Family Cites Families (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US2674459A (en) * 1952-01-18 1954-04-06 Wilcox Gay Corp Code disk for radio sonde
US3640123A (en) * 1969-03-21 1972-02-08 Herbert Vogt Apparatus for nondestructive materials testing of continuously advanced workpieces
DK127755B (da) * 1972-07-18 1973-12-31 Atomenergikommissionen Føring til understøtning af et stangformet legeme med nominelt cirkulært tværsnit.
FR2400399A1 (fr) * 1977-08-19 1979-03-16 Herry Paul Guide reglable
US4629991A (en) * 1984-04-11 1986-12-16 Pa Incorporated Methods and apparatus for detecting tubular defects having a plurality of expandable arcuate segments
DE4007471A1 (de) * 1990-03-09 1991-09-19 Foerster Inst Dr Friedrich Fuehrungsduese zum fuehren von langgestrecktem werkmaterial
FR2674459B1 (fr) * 1991-03-28 1995-07-07 Ascometal Sa Dispositif de controle des anomalies d'un fil metallique sur un train de laminage a chaud.
EP0561251B1 (en) * 1992-03-20 1995-07-19 CEDA S.p.A. COSTRUZIONI ELETTROMECCANICHE E DISPOSITIVI D'AUTOMAZIONE Device to detect surface faults in a metallic bar or wire rod in movement
DE4311566A1 (de) * 1993-04-08 1994-10-13 Peddinghaus Rolf Richtmaschine für Draht
US5520347A (en) * 1994-06-10 1996-05-28 At&T Corp. One-piece Reelex payout tube
US5744955A (en) * 1995-08-02 1998-04-28 Booker; James R. Apparatus and method of detecting loss of cross-sectional area of magnetic metallic strength members used in conductors such as aluminum conductor steel reinforced (ACSR) conductors
FR2743148B1 (fr) * 1995-12-29 1998-02-27 Framatome Sa Dispositif et procede de controle de tubes par courants de foucault
JPH1137977A (ja) * 1997-07-23 1999-02-12 Japan Nuclear Fuel Co Ltd<Jnf> 回転プローブ型渦流探傷装置

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FR2778903A1 (fr) 1999-11-26
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FR2778903B1 (fr) 2001-06-29

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