JPH11345854A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JPH11345854A
JPH11345854A JP15290798A JP15290798A JPH11345854A JP H11345854 A JPH11345854 A JP H11345854A JP 15290798 A JP15290798 A JP 15290798A JP 15290798 A JP15290798 A JP 15290798A JP H11345854 A JPH11345854 A JP H11345854A
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units
processing apparatus
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Tsutomu Kamiyama
勉 上山
Tsuyoshi Kageyama
剛志 蔭山
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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  • Container, Conveyance, Adherence, Positioning, Of Wafer (AREA)
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 フットプリントを最小限に抑えるとともに、
各処理部間を搬送する際の制御機構を簡単にし、かつ、
外部装置と直接インライン化できること。 【解決手段】 X軸に沿って処理部30,40,50が
隣接して設けられるとともに、処理部30のX方向側に
隣接して基板載置部20が設けられる。処理部30,4
0,50では、この順で基板Wに対する処理を行う順次
に行う。基板載置部20から処理部30への搬送と、処
理部30から処理部40への搬送と、処理部40から処
理部50への搬送とは、X方向に移動可能なシャトル搬
送ロボット60によって同時に行われる。また、処理部
30,40,50の配列方向と平行に搬送ロボット10
が移動する搬送路15が設けられ、搬送路15に沿って
基板収納部7が設けられる。この構成により、フットプ
リントを最小限にすることができ、また、基板載置部2
0を介して外部装置を直接接続することができる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体ウエハ、
液晶表示装置用ガラス基板等の薄板状基板(以下、単に
「基板」という)に所定の処理を行う基板処理装置に関
する。
【0002】
【従来の技術】基板の処理過程において、基板表面の多
層構造化に伴う凹凸を取り除くために、化学研磨剤やパ
ッド等を使用して基板表面を機械的に削ることにより平
坦化を行うCMP(Chemical Mechanical Polishing)
と呼ばれる処理が行われている。
【0003】CMP処理が施された基板の表面には研磨
によって生じた研磨屑等が付着しているため、CMP処
理後の基板に対する処理として基板を洗浄して研磨屑等
を除去する処理が行われる。
【0004】このようなCMP処理後の基板洗浄を行う
従来の基板処理装置410を図15に示す。この従来の
基板処理装置410は、ローダ310とアンローダ39
0と複数の処理部330,350,370と複数の搬送
ロボット320,340,360,380とを備えてい
る。
【0005】処理部330では、基板表面を洗浄する表
面ブラシと基板裏面を洗浄する裏面ブラシとを使用して
基板の両面をブラッシングすることによってCMPによ
って基板に付着した研磨屑等のパーティクルを取り除く
処理を行う。処理部350では、さらにパーティクル除
去能力の高いブラシを使用して基板表面に付着している
微細なパーティクルを取り除く処理を行う。これらの処
理部330,350では、ブラシによる洗浄効果を高め
るために、基板の表面又は裏面に対して所定の処理液を
吐出することも行われる。また、処理部370では、純
水等のリンス液を使用して基板の最終リンスを行った
後、基板の高速スピンドライ乾燥を行う。
【0006】ローダ310では、CMP処理後の基板が
複数枚収納されたカセットを水中に浸漬させておき、基
板を処理部330に搬送する際に水中からカセットを引
き上げて、搬送ロボット320が基板を取り出すことが
できるように構成されている。なお、ローダ310にお
いて基板を収納したカセットを水中に浸しておくのは、
CMP処理後の基板に対する洗浄効果を高めるために、
洗浄処理が終了するまで基板を乾燥させないことが必要
だからである。
【0007】搬送ロボット320は、ローダ310から
基板を取り出して処理部330に搬送を行う。搬送ロボ
ット340は、処理部330での両面洗浄処理が終了し
た基板を取り出して、処理部350へ搬送する。搬送ロ
ボット360は、処理部350での表面洗浄処理が終了
した基板を取り出して、処理部370へ搬送する。さら
に、搬送ロボット380は、処理部370での最終リン
スが行われて乾燥された基板を取り出して、アンローダ
390に設けられているカセット内に収納する。
【0008】
【発明が解決しようとする課題】上記のような従来の基
板処理装置410では、各処理部間に基板を搬送する専
用の搬送ロボットが設けられるため、基板に対する処理
部が3台であるにもかかわらず、搬送ロボットが4台設
けられている。従って、装置全体のフットプリントが大
きくなるという問題がある。この問題は、上記の基板処
理装置410をCMP装置とインライン化した場合に、
より顕著に現れる。
【0009】図16は、従来の基板処理装置410を実
際のCMP装置とインライン化した場合の構成を示す概
略図である。従来の基板処理装置410は、CMP装置
200と直接基板の受け渡しをできないため、コンベア
420が設けられている。また、従来の基板処理装置4
10にはCMP処理後の洗浄処理のためのローダのみを
備えるため、CMP装置に対して被処理基板を払い出す
ためのインデクサ430がさらに設けられ、コンベア4
20に連結されることとなる。そして、インデクサ43
0から払い出される基板は、コンベア420によってC
MP装置200に搬送されるとともに、CMP処理が終
了した基板は再びコンベア420によって基板処理装置
410のローダ310に搬送されるように構成される。
【0010】このように、従来の基板処理装置410を
CMP装置とインライン化した場合にはコンベア420
を介した接続形態となるため、フットプリントが大きく
なる。
【0011】また、従来の基板処理装置410では、搬
送ロボットが4台設けられているため、各搬送ロボット
を個別に制御することが必要となり制御機構が複雑とな
るとともに、装置コストが上昇するという問題もある。
【0012】この発明は、上記課題に鑑みてなされたも
のであって、フットプリントを最小限に抑えるととも
に、各処理部間を搬送する際の制御機構を簡単にし、か
つ、CMP装置等の外部装置と直接インライン化を図る
ことができる基板処理装置を提供することを目的とす
る。
【0013】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、請求項1に記載の発明は、基板に所定の処理を行う
基板処理装置であって、(a) 所定の方向に配置され、基
板に所定の処理を行うための複数の処理部と、(b) 複数
の処理部のうち一端側に配置された処理部に隣接し、か
つ、一端側に配置された第1処理部に基板を搬送する際
に、一旦基板を載置させる基板載置部と、(c) 複数の処
理部が配置されている方向と平行に配置され、かつ、基
板を収納する収納器を配置するための基板収納部と、
(d) 複数の処理部および基板載置部と、基板収納部との
間に配置され、基板を搬送するための搬送路と、(e) 搬
送路に沿って移動可能であり、基板収納部に配置された
収納器と、基板載置部と、複数の処理部のうち一端側と
は異なる他端側に配置された第2処理部との間で基板の
搬送を行う第1搬送機構と、(f) 複数の処理部のうち隣
接する処理部間で基板を搬送するための複数の基板保持
部を有し、複数の基板保持部の動作を各々同期させて隣
接する処理部間での基板の搬送を行う第2搬送機構とを
備えている。
【0014】請求項2に記載の発明は、請求項1に記載
の基板処理装置において、基板載置部は、第1搬送機構
からの基板を外部装置へ搬送する際に一旦基板を載置さ
せ、かつ、外部装置からの基板を前記第1処理部に搬送
する際に、一旦基板を載置させることを特徴としてい
る。
【0015】請求項3に記載の発明は、請求項2に記載
の基板処理装置において、基板載置部は、(b-1) 外部装
置へ基板を搬送する際に、一旦基板を載置させる第1基
板載置部と、(b-2) 外部装置から第1処理部へ基板を搬
送する際に、一旦基板を載置させる第2基板載置部とを
備えている。
【0016】請求項4に記載の発明は、請求項3に記載
の基板処理装置において、第1基板載置部を下側に配置
させ、第2基板載置部を上側に配置させたことを特徴と
している。
【0017】請求項5に記載の発明は、請求項3又は請
求項4に記載の基板処理装置において、第2基板載置部
は、外部装置から搬送された基板をウエット状態に保つ
ことを特徴としている。
【0018】請求項6に記載の発明は、請求項1ないし
請求項5のいずれかに記載の基板処理装置において、第
2搬送機構は、(f-1) 複数の基板保持部の基板を保持す
る動作を同期して行うように各基板保持部に対して設け
られた基板保持部駆動手段と、(f-2) 複数の基板保持部
と基板保持部駆動手段とを一体として所定の方向に沿っ
て移動させ、隣接する処理部間で基板の搬送を行う処理
部間搬送手段とを備えている。
【0019】請求項7に記載の発明は、請求項6に記載
の基板処理装置において、第2搬送機構は、さらに、(f
-3) 所定の方向と平行に設けられ、複数の基板保持部が
接続された回転軸と、(f-4) 回転軸を回転させることに
より、複数の基板保持部を回転軸を中心として回転駆動
する回転駆動手段とを備えている。
【0020】請求項8に記載の発明は、請求項6又は請
求項7に記載の基板処理装置において、複数の基板保持
部のそれぞれは、基板を保持する第1アーム及び第2ア
ームを有する一対のアームを備え、基板保持部駆動手段
は、(f-1-1) 複数の基板保持部についての複数の第1ア
ームを同時に所定方向に沿って移動させる第1アーム駆
動手段と、(f-1-2) 複数の基板保持部についての複数の
第2アームを同時に所定方向に沿って移動させる第2ア
ーム駆動手段とを備えることを特徴としている。
【0021】請求項9に記載の発明は、請求項1ないし
請求項8のいずれかに記載の基板処理装置において、第
1搬送機構は、(e-1) 基板収納部に配置された収納器と
基板載置部との間で基板の搬送を行う第1搬送手段と、
(e-2) 上下移動可能であって、第2処理部から基板を取
り出し第1搬送手段に基板の搬送を行う第2搬送手段と
を備えている。
【0022】請求項10に記載の発明は、請求項1ない
し請求項9のいずれかに記載の基板処理装置において、
さらに、(g) 上下移動可能であって、複数の処理部にお
いて所定の処理が行われる際に下降して複数の処理部を
覆うカバーを備えている。
【0023】請求項11に記載の発明は、請求項10に
記載の基板処理装置において、カバーは、(g-1) 複数の
基板保持部を洗浄する複数の洗浄液吐出ノズルを備えて
いる。
【0024】
【発明の実施の形態】<a.第1の実施の形態> a−1) 基板処理装置100の全体構成 この発明の第1の実施の形態について説明する。図1
は、第1の実施の形態における基板処理装置100を示
す平面図である。また、図2は、第1の実施の形態にお
ける基板処理装置100のYZ平面における概略断面図
である。さらに、図3は、第1の実施の形態における基
板処理装置100のZX平面における概略断面図であ
る。
【0025】この実施の形態の基板処理装置100で
は、複数枚の基板を収納するポッド(POD)9が収納
器として使用され、CMP処理の対象となる複数の基板
がポッド9内に密閉された状態で基板収納部7に配置さ
れる。なお、基板収納部7には、複数のポッド9がX方
向に配置される。
【0026】また、基板収納部7との間にX軸に沿って
設けられた搬送路15を挟んで、複数の処理部30,4
0,50が設けられている。これらの処理部30,4
0,50もX軸に沿って配置されており、基板Wに対す
る処理順序に応じて隣設されている。
【0027】複数の処理部のうち一端側に配置された処
理部30は、図3に示すように、CMP処理が終了した
直後の基板を支持部材33が支持した状態で、基板表面
を洗浄する表面ブラシ31と基板裏面を洗浄する裏面ブ
ラシ32とを使用して基板の両面をブラッシングするこ
とによってCMP処理によって基板に付着した研磨屑等
のパーティクルを取り除く処理を行う処理部である。こ
の処理部30では、表面ブラシ31及び裏面ブラシ32
による洗浄効果を高めるために、図示しないノズルより
アルカリ液などの所定の処理液を基板の表面や裏面に供
給することが行われる。
【0028】また、処理部40は、さらにパーティクル
除去能力の高いブラシ41を使用して基板表面に付着し
ている微細なパーティクルを取り除く処理部である。処
理部40では、ブラシ41による洗浄効果を高めるため
に、ノズル43より基板Wの表面に対して所定の処理液
を吐出することができるとともに、回転部42が基板W
を保持しながら回転させることも可能であるように構成
されている。
【0029】さらに、複数の処理部のうち他端側に配置
された処理部50は、回転部52によって基板Wが回転
可能な状態に載置され、基板Wを回転させながらノズル
53より純水等のリンス液を基板Wの表面に向けて吐出
することにより、基板Wに対する最終リンスを行った
後、リンス液の吐出を停止させて基板Wの高速スピンド
ライ乾燥を行う処理部である。
【0030】なお、搬送路15と処理部30,40,5
0等との上方には、基板処理装置100の内部の雰囲気
を清浄に保つために、フィルタファンユニットFFUが
設けられている。そして、フィルタファンユニットFF
Uからは搬送路15や処理部30,40,50等に向け
てクリーンエアのダウンフローが形成されている。
【0031】そして、この基板処理装置100では、図
1に示すように、処理部30のX方向側の隣接する部分
を、外部装置であるCMP装置200とのインタフェー
ス部分として構成しており、この部分に基板載置部20
が設けられている。基板載置部20では、CMP装置2
00に設けられた搬送部210との間で基板の受け渡し
を行うことができる位置として、図3に示すように、上
下方向に2箇所の受け渡し位置La,Lbが設定されて
いる。
【0032】受け渡し位置Lbは、基板WをCMP装置
200側に渡す際に、その基板が一旦載置される位置で
ある。そして、CMP装置200の搬送部210が基板
載置部20の受け渡し位置Lbに対してアクセスし、基
板WをCMP装置200側に搬送して所定の研磨処理を
施す。
【0033】また、受け渡し位置Laは、CMP処理が
終了した基板をCMP装置200の搬送部210が基板
処理装置100に渡す際に、その基板を一旦載置する位
置である。CMP装置200の搬送部210が基板載置
部20の受け渡し位置LaにアクセスしてCMP処理が
終了した基板Wを載置するように構成されている。
【0034】そして、処理部30,40,50および基
板載置部20と、基板収納部7との間に設けられた搬送
路15には、X軸方向に沿って移動可能な搬送ロボット
10が設けられている。この搬送ロボット10は、上下
方向に2つのアーム11を備えており、アーム11が基
板Wを保持した状態で搬送を行う。そして、図2に示す
ように、基台部分14にX軸方向に設けられたボールネ
ジ13が螺嵌されており、ボールネジ13が回転するこ
とによって搬送ロボット10がX軸に沿って移動可能と
なっている。また、搬送ロボット10は、昇降部分12
が伸縮昇降することによって基板をZ軸方向にも搬送す
ることができるとともに、θ軸を中心とする回転動作も
行うことが可能となっている。従って、搬送ロボット1
0は、基板収納部7に配置された複数のポッド9と、基
板載置部20と、処理部50とにアクセスすることがで
き、これらの間で基板の搬送を行うことができるように
構成されている。この搬送ロボット10のように、複数
のポッド9と、基板載置部20と、処理部50とにアク
セスし、これらの間で基板の搬送を行うことができる搬
送機構を第1搬送機構という。
【0035】ここで、搬送ロボット10のアーム11が
ポッド9にアクセスする際には、密閉状態のポッド9を
開放してアーム11がアクセス可能な状態にする必要が
ある。そこで、基板処理装置100には、ポッド9が載
置されるそれぞれの位置にポッドオープナ8が設けられ
ている。図2に示す状態1aのように、基板収納部7に
ポッド9が配置されると、ポッドオープナ8はアームを
伸ばしてポッド9の蓋のロックを解除する。そして、状
態1bのように、アームがポッド9の蓋を保持した状態
でY方向に移動し、ポッド9を密閉状態から開放する。
状態1bのままでは、搬送ロボット10のアーム11が
ポッド9内にアクセスすることができないので、状態1
cのように、ポッドオープナ8は蓋を保持しているアー
ムを下降させる。このような動作により、ポッド9の密
閉状態が開放され、搬送ロボット10のアーム11は、
ポッド9内の基板にアクセスすることが可能となる。な
お、ポッドは、基板を外気とは隔離した清浄な雰囲気内
に保つことで基板を汚染しないように密閉されるもので
あるが、基板処理装置100の内部はポッド9内部と同
様に清浄な雰囲気を維持するように構成されており、ポ
ッド9の開放動作は、基板処理装置100の内部で蓋を
開放するため、基板Wを汚染する問題はない。
【0036】そして、搬送ロボット10は、アーム11
をポッド9の内部に向けて伸ばし、ポッド9の内部から
基板Wを1枚取り出す。そして、搬送ロボット10は、
X方向の移動やZ軸方向の移動を行うとともに、θ軸に
ついての回転動作を行い、ポッド9から取り出した基板
Wを基板載置部20の受け渡し位置Lbに載置する。ま
た、搬送ロボット10は、処理部50に対してアクセス
し、全ての処理が完了した基板Wを取り出す。そして、
搬送ロボット10は、X方向の移動やZ軸方向の移動を
行うとともに、θ軸についての回転動作を行い、ポッド
9の所定位置にアクセスして、CMP処理後の洗浄処理
が終了した基板Wを収納する。
【0037】また、この基板処理装置100には、基板
載置部20に載置されたCMP処理後の基板Wを処理部
30に搬送し、処理部30での処理が終了した基板を処
理部40に搬送し、処理部40での処理が終了した基板
を処理部50に搬送するためにシャトル搬送ロボット6
0が設けられている。シャトル搬送ロボット60は、後
述するように、X軸に沿って移動可能に構成されてお
り、基板載置部20の受け渡し位置Laに載置されてい
る基板Wを処理部30に、また、処理部30での処理が
終了した基板Wを処理部40に、さらに、処理部40で
の処理が終了した基板Wを処理部50に搬送するが、そ
れぞれの処理部間の搬送動作を一括して同時に行うよう
に構成されている。なお、シャトル搬送ロボット60
は、第2搬送機構として機能する。
【0038】このように、この実施の形態の基板処理装
置100においては、搬送ロボット10がポッド9から
基板載置部20への搬送動作を行い、シャトル搬送ロボ
ット60が基板載置部20から処理部30,40,50
への搬送動作を行う。そして、処理部50からポッド9
への搬送は、再び搬送ロボット10が担当するように構
成されている。
【0039】また、この実施の形態の基板処理装置10
0には、各処理部30,40,50における処理の際に
使用される処理液等が処理部外部へ飛散しないように、
昇降可能なカバー80が設けられている。カバー80
は、シャトル搬送ロボット60によって各処理部間の基
板の搬送が行われる際には、図示しないシリンダ等の昇
降駆動手段によって上昇し、シャトル搬送ロボット60
のX軸に沿った移動と緩衝しないように構成されてお
り、シャトル搬送ロボット60による処理部間搬送が終
了して各処理部における洗浄処理を行う際には、昇降駆
動手段によってカバー80が下降し、各処理部30,4
0,50の側面等を覆うように構成されている。従っ
て、各処理部において基板に対する処理を行っている際
に、他の処理部からの処理液やパーティクルが付着する
ことがなく、正常な処理を行うことができる。
【0040】この実施の形態の基板処理装置100の全
体的構成は上記の如くであり、基板に対して処理を行う
ための複数の処理部30,40,50をX軸に沿って隣
接するように配置していおり、各処理部間の基板の搬送
を1台のシャトル搬送ロボット60で一括して行うこと
ができるように構成されているため、この基板処理装置
100のフットプリントを縮小することができる。ま
た、基板載置部20によって直接外部装置であるCMP
装置200とインライン化することができるため、基板
処理装置100とCMP装置200とをインライン化し
たときのフットプリントも縮小することが可能となって
いる。
【0041】a−2) 基板載置部20 ここで、基板載置部20の詳細な構成について説明す
る。図4は、基板載置部20の構成を示す図である。な
お、図4(a)は、基板載置部20の斜視図であり、図
4(b)は、そのYZ平面における断面図である。
【0042】図4に示すように、基板載置部20は、基
板Wを載置する部分が上下2段構成となっている。下段
側の第1基板載置部20Bは、CMP装置200へCM
P処理対象の基板Wを搬送する際に、一旦基板Wを載置
させる載置部であり、上段側の第2基板載置部20A
は、CMP装置200において研磨処理が終了した基板
Wを一旦載置する載置部である。このように基板載置部
20を2段構成とすることにより、CMP装置200等
の外部装置による処理前後の基板Wの載置位置を異なる
ように設けることができ、処理の前後それぞれに応じた
基板の取り扱いを行うことが可能となる。また、基板処
理過程においては、CMP処理後の基板Wに対してパー
ティクル等が付着する可能性を低下させるために、基板
Wは処理前の基板よりも上側に配置されるように構成す
るのが一般的であり、この基板処理装置100の基板載
置部20でもそのような構成となっている。
【0043】第1基板載置部20Bには、基板処理装置
100の搬送路15側と、CMP装置200側とに開口
部が設けられている。そして、搬送路15側からは搬送
ロボット10のアーム11が基板Wを保持した状態で第
1基板載置部20Bの内部に進入し、基板Wをピン23
上に載置する。また、CMP装置200側からはCMP
装置200の搬送部210が進入し、ピン23に載置さ
れている基板Wを取り出して、CMP装置200の内部
に搬送を行う。
【0044】第2基板載置部20Aには、CMP装置2
00の搬送部210とシャトル搬送ロボット60とがア
クセスできるような開口部が設けられている。CMP装
置200側からは研磨処理等が終了した基板を保持した
状態で搬送部210が進入してピン23上に基板を載置
した後、第2基板載置部20Aの内部から退避する。
【0045】また、第2基板載置部20Aには、水分供
給手段としてのノズル21が設けられており、CMP処
理後の基板Wをウェット状態に保つためにノズル21よ
り純水等の処理液が基板Wに向けて吐出されるように構
成されている。従って、この基板処理装置100には、
従来の水中に基板を浸漬させておくようなローダは必要
ない。
【0046】そして、ノズル21より基板Wに吐出され
る純水等の処理液が、第1基板載置部20Bに流下しな
いように、第2基板載置部20Aにはカップ22が設け
られており、基板Wから流れ落ちる純水などを回収・排
液するような構成となっている。このような構成によ
り、CMP処理後の基板Wを常にウェットな状態に保つ
ことが可能となり、その後に処理部30,40,50で
行われる洗浄処理の洗浄効果を高めることが可能とな
る。
【0047】a−3) シャトル搬送ロボット60 次に、シャトル搬送ロボット60の詳細な構成について
説明する。図5は、シャトル搬送ロボット60の斜視図
である。
【0048】シャトル搬送ロボット60には、基板の処
理部間搬送を行う際に基板を保持する複数(図では3
個)の基板保持部61が設けられており、それぞれの基
板保持部61は、第1アーム61aと第2アーム61b
とを備えている。そして、第1アーム61aと第2アー
ム61bには、基板Wを周縁部で保持するための保持部
材62が設けられている。
【0049】第1アーム61aと第2アーム61bとの
基端部には、支持部材68によって支持されている回転
軸66が嵌挿されている。第1アーム61aと第2アー
ム61bとは、回転軸66の回転に伴って、YZ平面内
での回転動作を行うように構成されている。
【0050】また、各基板保持部61についてのそれぞ
れの第1アーム61aは、基端部において接続部材を介
して第1ロッド71aに連結されている。従って、第1
ロッド71aがX方向に移動すると、各基板保持部61
についての複数の第1アーム61aが同期してX方向に
移動する。また、第1ロッド71aと、基台63に固設
されているシリンダ64aのシリンダロッドとが、連結
部材72aによって連結されている。シリンダ64a
は、X軸に沿ってシリンダロッドを伸縮させるように配
置されているため、シリンダ64aを駆動することによ
って、第1ロッド71aをX軸に沿って移動させること
となり、その結果、複数の基板保持部61におけるそれ
ぞれの第1アーム61aが+X方向又は−X方向に同期
して動作することが可能な構成となっている。すなわ
ち、シリンダ64aは、第1アーム駆動手段として機能
する。
【0051】他方、各基板保持部61についてのそれぞ
れの第2アーム61bも同様に、基端部において接続部
材を介して第2ロッド71bに連結されている。従っ
て、第2ロッド71bがX方向に移動すると、各基板保
持部61についての複数の第2アーム61bが同期して
X方向に移動する。また、第2ロッド71bと、基台6
3に固設されているシリンダ64bのシリンダロッドと
が、連結部材72bによって連結されている。シリンダ
64bは、X軸に沿ってシリンダロッドを伸縮させるよ
うに配置されているため、シリンダ64bを駆動するこ
とによって、第2ロッド71bをX軸に沿って移動させ
ることとなり、その結果、複数の基板保持部61におけ
るそれぞれの第2アーム61bが−X方向又は+X方向
に同期して動作することが可能な構成となっている。す
なわち、シリンダ64bは、第2アーム駆動手段として
機能する。
【0052】なお、上記第1アーム駆動手段と第2アー
ム駆動手段とは、複数の基板保持部61の基板Wを保持
する動作を同期して動作させるために各基板保持部61
に対して共通に設けられた基板保持部駆動手段として機
能することとなる。
【0053】そして、図示しない基板処理装置100の
コントローラが、各シリンダ64a,64bに対してシ
リンダロッドを所定量だけ収縮するように駆動命令を送
ると、各第1アーム61aは−X方向に移動する一方、
各第2アーム61bは+X方向に移動する。この動作に
より、シャトル搬送ロボット60による基板を保持する
動作(すなわち、チャッキング動作)が行われる。この
チャッキング動作は、第1アーム61aと第2アーム6
1bとの2本のアームによって基板を挟み込む動作であ
るため、基板の下面を支持するだけのものに比べると、
各処理部に対して搬送する基板の位置アライメントを行
うことができる。
【0054】また逆に、コントローラが、各シリンダ6
4a,64bに対してシリンダロッドを所定量だけ伸ば
すように駆動命令を送ると、各第1アーム61aは+X
方向に移動する一方、各第2アーム61bは−X方向に
移動する。この動作により、シャトル搬送ロボット60
の基板の保持状態を開放する動作が行われる。
【0055】また、基台63にはモータ65が固設され
ており、モータ65の回転軸にはベルト67が装着され
ている。このベルト67は、回転軸66に設けられたベ
ルト装着部材69にも装着されている。従って、モータ
65を回転駆動することによって、ベルト67を介して
回転軸66を回転させることが可能となり、モータ65
の駆動によって複数の基板保持部61も回転する。複数
の基板保持部61が基板を保持した状態でモータ65を
駆動することにより、基板もYZ平面での回転動作を行
う。
【0056】ここで、モータ65の駆動によって回転軸
66にα方向の微少量の回転を与えると、基板保持状態
の基板保持部61は、その状態でα方向に微少量の回転
を行う。従って、基板載置部20の第2基板載置部20
Aのピン23に載置されていた基板Wは、基板保持部6
1に保持されてα方向に回転することにより、ピン23
から離脱することとなる。同様に、各処理部30,40
で保持されていた基板についても、基板保持部61に保
持されてα方向に回転することによって各処理部30,
40における保持状態から開放されることとなる。
【0057】そして、基台63の下部に移動台75が連
結されており、移動台75に螺嵌されているボールネジ
74がモータ73の駆動によって回転することにより、
移動台75はX軸に沿って移動する。従って、モータ7
3を駆動することにより、基台63もX軸に沿って移動
することとなり、同時に複数の基板保持部61もX軸に
沿って移動する。すなわち、モータ73は基板を各処理
部間で搬送を行うための処理部間搬送手段となる。
【0058】このように、このシャトル搬送ロボット6
0は、各処理部間の基板搬送の際に、シリンダ64a,
64bを駆動することによって基板を保持するととも
に、モータ65による回転駆動によって各処理部におけ
る載置面から基板をα方向に回転させることによって上
昇させて持ち上げ、各処理部との緩衝が起こらない状態
とした後に、モータ73を駆動して基台63を−X方向
に移動させ、各基板を次の処理部に搬送する。そして、
モータ65を駆動して基板を−α方向に回転させ、シリ
ンダ64a,64bを駆動することにより基板保持状態
を開放することで搬送した基板を各処理部に載置する。
【0059】図5に示すシャトル搬送ロボット60に
は、3個の基板保持部61が設けられているが、このう
ち最も+X方向側に設けられている基板保持部61は基
板載置部20から処理部30への基板搬送を担当し、中
央に設けられている基板保持部61は処理部30から処
理部40への基板搬送を担当し、最も−X方向側に設け
られている基板保持部61は処理部40から処理部50
への基板搬送を担当する。この基板搬送の様子を図6,
図7により説明する。なお、図6,図7は、処理部間の
基板搬送を示す図である。
【0060】まず、図6に示すように、シャトル搬送ロ
ボット60は、基板載置部20と処理部30,40に対
応する側に位置する。処理部30,40における基板W
の処理中は、3個の基板保持部61は図中一点鎖線で示
す位置にある。そして、処理部30,40における基板
処理が終了すると、上述のシリンダ64a,64bを駆
動することにより、各基板保持部61はそれぞれ図中実
線で示す位置に移動し、基板載置部20,処理部30,
処理部40にある基板Wの保持を行う。そして、上述の
モータ65の回転動作により各基板Wを上昇させた後、
モータ73を駆動することによってシャトル搬送ロボッ
ト60を−X方向に移動させ、図7に示す位置に移動さ
せる。
【0061】そして、各処理部30,40,50に搬送
した基板Wを下降させた後、図中実線で示す基板保持部
61を一点鎖線で示す位置に退避させることによって、
各処理部への基板Wの搬送動作を完了する。なお、基板
保持部61が退避する際には、各処理部間等に設けられ
た退避位置91に退避する。
【0062】このように、この実施の形態のシャトル搬
送ロボット60は、隣接する処理部間での基板Wの搬送
を同時に行うように構成されているため、効率的な基板
Wの処理部間搬送を実現しているとともに、基板載置部
20から処理部30への基板搬送と、処理部30から処
理部40への基板搬送と、処理部40から処理部50へ
の基板搬送とについて個別に搬送ロボットを設ける必要
がなく、基板処理装置100のフットプリントを減少さ
せることが可能となる。
【0063】なお、処理部50からの基板Wの取り出し
は、上述のように搬送ロボット10が行うように構成さ
れている。
【0064】a−4) カバー80 次に、上述のカバー80について説明する。図8は、カ
バー80の斜視図である。図8に示すように、カバー8
0は、処理部30,40,50における基板処理の際に
処理液等が飛散しないように各処理部を覆うように構成
されている。また、カバー80は、下降した際に、退避
位置91に退避しているシャトル搬送ロボット60の基
板保持部61に緩衝しないように各退避位置91に対応
する位置に凹部88が設けられている。従って、シャト
ル搬送ロボット60の基板保持部61が図7の一点鎖線
で示す位置に退避した場合に、カバー80を下降させれ
ば、カバー80は基板保持部61に接触することなく各
処理部30,40,50を良好に覆うことができる。
【0065】従って、シャトル搬送ロボット60の基板
保持部61が退避位置91に退避した直後にカバー80
を下降させれば、各処理部30,40,50における上
述の基板処理を開始することができる。
【0066】また、カバー80には、洗浄液吐出ノズル
82が設けられており、図7に一点鎖線で示す退避位置
91にある基板保持部61を洗浄することができるよう
に構成されている。すなわち、退避位置91にある基板
保持部61に対して洗浄液吐出ノズル82より純水等の
リンス液を吐出することにより、各処理部間の搬送の際
に基板保持部61(特に、保持部材62)に付着した汚
れ等を洗浄することが可能となる。
【0067】a−5) カバーと処理部間搬送との関係 ここで、カバー80とシャトル搬送ロボット60との関
係について説明する。図9は、シャトル搬送ロボット6
0によって基板Wの処理部間搬送を行う際のカバー80
と基板保持部61との関係を示す概略側面図である。図
9に示すように、シャトル搬送ロボット60の回転軸6
6がα方向に微少量回転し、基板保持部61が基板Wを
持ち上げた状態で処理部間搬送を行う。このとき、カバ
ー80は、シャトル搬送ロボット60の搬送動作の際に
緩衝しないように図示しない昇降手段によって上昇した
状態となっている。
【0068】ところで、基板Wの処理部間搬送が終了
し、カバー80が下降して各処理部における基板処理が
開始された際に、処理部30,40,50に対応する位
置にあるシャトル搬送ロボット60を次の処理部間搬送
に備えて、基板載置部20,処理部30,40に対応す
る位置に予め移動させておくことが必要に応じて行われ
る。
【0069】しかし、各処理部は基板の処理中であり、
カバー80は閉じた状態であるため、基板保持部61が
退避位置91にある状態で、シャトル搬送ロボット60
を+X方向に移動させると、カバー80に衝突する。
【0070】そこで、この実施の形態のシャトル搬送ロ
ボット60では、図10に示すように、シャトル搬送ロ
ボット60の回転軸66を90度程度回転させることに
よって基板保持部61を起立状態にし、側面視でカバー
80と基板保持部61とが重ならないような状態にす
る。こうすることによって、シャトル搬送ロボット60
がX方向に移動しても基板保持部61がカバー80とは
緩衝しないようになり、各処理部における基板処理中に
シャトル搬送ロボット60を基板載置部20,処理部3
0,40に対応する位置に予め移動させておくことが可
能となる。なお、基板保持部61を起立させる際には上
述のモータ65が駆動源となり、シャトル搬送ロボット
60をX方向に移動させる際には上述のモータ73が駆
動源となる。
【0071】そして、シャトル搬送ロボット60がX方
向に移動して、基板載置部20,処理部30,40に対
応する位置に到達すると、モータ65を逆方向に駆動
し、起立状態の基板保持部61を再び略水平状態に戻
す。
【0072】このような動作によって、図7の一点鎖線
で示す基板保持部61が各処理部における基板の処理中
に図6の一点鎖線で示す基板保持部61の位置に移動す
ることができることとなり、各処理部における基板処理
が終了するまでその位置で待機しておくことにより、次
の基板Wの処理部間搬送を効率良く行うことができる。
【0073】なお、基板の処理中に図6の一点鎖線で示
す基板保持部61の位置で待機しているときに基板保持
部61の洗浄を行う場合は、基板載置部20の近辺に基
板載置部20内の基板Wをチャッキングする基板保持部
61に対してリンス液を吐出するノズル(図示せず)を
設ければ良い。そして、基板載置部20の近辺に設けら
れたノズルとカバー80に設けられた洗浄液吐出ノズル
82とからリンス液を吐出することにより、基板保持部
61を洗浄することが可能となる。
【0074】以上、説明したように、この実施の形態の
基板処理装置100は、基板に対して処理を行う複数の
処理部30,40,50を基板の処理順序に応じてX軸
に沿った状態で配置され、複数の基板保持部61を有す
る1台のシャトル搬送ロボット60が隣接する各処理部
間での基板の搬送を一括して行うように構成されている
ため、各処理部間のそれぞれに独立した搬送ロボットを
設ける必要がなく、フットプリントを最小限に抑えるこ
とができる。
【0075】また、シャトル搬送ロボット60は、複数
の基板保持部61を動作させる際に、シリンダ64a,
64bやモータ65等のような共通の駆動源を使用して
いるため、各処理部間の基板搬送において各々の基板保
持部61を同期して動作させることができるとともに、
基板載置部20から処理部30への搬送と処理部30か
ら処理部40への搬送と処理部40から処理部50への
搬送を同時に行うことができるにもかかわらず、搬送の
際の制御機構を簡単に構成することができる。
【0076】さらに、処理部30に隣接する位置にCM
P装置等の外部装置とのインタフェースとなる基板載置
部20を設けているため、CMP装置等の外部装置と直
接インライン化を図ることができる。図11は、この実
施の形態の基板処理装置100をCMP装置200とイ
ンライン化した構成を示す図である。図11に示すよう
に、基板処理装置100とCMP装置200とをインラ
イン化する際に、従来のようにコンベアを設ける必要が
ないため、フットプリントを極めて小さく抑えることが
可能となる。
【0077】また、基板載置部20において、CMP処
理後の基板が載置される第2基板載置部20Aには基板
をウエット状態に保つためにノズル21より純水等が基
板Wに向けて吐出されるように構成されており、各処理
部で行われる洗浄処理の洗浄効果を高められる。
【0078】<b.第2の実施の形態>上述した第1の
実施の形態の基板処理装置100の構成では、各処理部
30,40,50の下部スペースには処理液を供給した
り、排液するための配管が収容される。
【0079】従って、処理液の気液分離やその他の処理
のための、又は、処理液の貯留等のための薬液キャビネ
ットについては基板処理装置100の内部に設置するこ
とができず、第1の実施の形態の基板処理装置100と
は、異なる場所に別置しなければならない。このため、
薬液キャビネットは、基板処理装置100とは別にある
程度のフットプリントを有することとなる。
【0080】また、第1の実施の形態の基板処理装置1
00における各処理部30,40,50の下部スペース
に薬液キャビネットを収容すると、各処理部の高さ位置
が高くなる。ところが、図2に示す搬送ロボット10
は、ポッド9に収納された基板や処理部50の基板にア
クセスする以上のZ方向のストロークを有さないため、
処理部50の高さ位置が高くなると搬送ロボット10は
処理部50の基板にアクセスすることができなくなる。
【0081】そこで、この第2の実施の形態の基板処理
装置100は、搬送ロボット10のZ方向のストローク
を長くすることなく、薬液キャビネットを各処理部の下
部スペースに収容する構成として実現されている。
【0082】以下、この発明の第2の実施の形態につい
て説明する。図12は、第2の実施の形態における基板
処理装置100を示す平面図である。また、図13は、
第2の実施の形態における基板処理装置100のYZ平
面における概略断面図である。さらに、図14は、第2
の実施の形態における基板処理装置100のZX平面に
おける概略断面図である。なお、図12ないし図14に
おいて、第1の実施の形態で既に説明したものと同様の
機能を有するものには同一符号を付している。
【0083】この実施の形態の基板処理装置100で
も、ポッド9が収納器として使用され、CMP処理の対
象となる複数の基板Wがポッド9内に密閉された状態で
基板収納部7に配置される。また、基板収納部7との間
にX軸に沿って設けられた搬送路15を挟んで、第1の
実施の形態と同様の複数の処理部30,40,50が設
けられている。
【0084】そして、この基板処理装置100でも、処
理部30のX方向側の隣接する部分を、外部装置である
CMP装置200とのインタフェース部分として構成し
ており、この部分に基板載置部20が設けられている。
この実施の形態の基板載置部20では、図14に示すよ
うに、第1基板載置部20Bと第2基板載置部20Aと
が分離した状態で設けられている。
【0085】搬送ロボット10が基板Wをポッド9内か
ら取り出してCMP装置200側に渡す際の基板の受け
渡し位置となる第1基板載置部20Bは、搬送ロボット
10がアクセスすることができる高さ位置に設けられる
必要がある。そこで、この実施の形態の基板処理装置1
00において、第1基板載置部20Bの受け渡し位置L
bは、第1の実施の形態と同様の高さ位置となるように
設定されている。
【0086】一方、基板処理装置100の各処理部30
の下部には各処理部等に処理液を供給したり、排液した
りするための配管94と薬液キャビネット95とが設け
られており、第1の実施の形態の基板処理装置100と
比べて各処理部30,40,50の高さ位置が高くなっ
ている。また、上述のシャトル搬送ロボット60によっ
て基板の各処理部間搬送を行う場合には、基板Wを載置
する第2基板載置部20Aが各処理部30,40,50
と同様の高さ位置にあることが望まれる。従って、この
実施の形態の基板処理装置100では、第2基板載置部
20Aにおける受け渡し位置Laの位置を、シャトル搬
送ロボット60がアクセスすることができる位置に設定
されている。
【0087】故に、この実施の形態の基板処理装置10
0では、第1基板載置部20Bと第2基板載置部20A
とが分離した状態で状態で設けられており、薬液キャビ
ネット95を各処理部の下部スペースに設ける場合であ
っても、搬送ロボット10による基板載置部20への基
板の搬送動作と、シャトル搬送ロボット60による処理
部間搬送動作とを良好に行うことが可能となる。
【0088】そして、CMP装置200側の搬送部21
0は、第1基板載置部20Bの受け渡し位置Lbに載置
された基板Wを取り出してCMP装置200の内部に搬
送するとともに、CMP処理が終了した基板Wを第2基
板載置部20Aの受け渡し位置Laに載置する。
【0089】ここで、第1基板載置部20Bと第2基板
載置部20Aとのそれぞれの内部構造は、図4(b)に
示す第1基板載置部20Bと第2基板載置部20Aとの
内部構造と同様の構成である。故に、この実施の形態に
おける第2基板載置部20Aでも、内部に載置されたC
MP処理後の基板のウェット状態を保つことができるよ
うな構成となっている。
【0090】そして、第1の実施の形態で説明したシャ
トル搬送ロボット60が、第2基板載置部20Aから処
理部30への基板搬送と、処理部30から処理部40へ
の基板搬送と、処理部40から処理部50への基板搬送
とを同時に行うことによって基板の処理部間搬送を行
う。このシャトル搬送ロボット60の処理部間搬送によ
り、処理部30,40,50においてCMP処理が終了
した基板Wの洗浄処理を順次に行うことができる。
【0091】ところで、搬送ロボット10は、処理部5
0において最終リンス処理の終了した基板を直接取り出
すことはできないため、この実施の形態の基板処理装置
100においては、Z軸に沿った基板の上下搬送を行う
ことができる上下搬送ロボット16が設けられており、
処理部50の内部にある基板を取り出して搬送路15に
設けられている搬送ロボット10に渡すように構成され
ている。
【0092】上下搬送ロボット16は、図13に示すよ
うに、基板を保持するアーム17を処理部50側と搬送
路15側とに向けることができるとともに、Z軸と平行
に設けられたボールネジ18がモータ19によって回転
することによって上下移動可能な構成となっている。そ
して、上下搬送ロボット16は、処理部50側にアーム
17を伸ばし、処理部50において最終リンス処理の終
了した基板を取り出した後、アーム17を搬送路15側
に伸ばす。そして、モータ19が駆動することによって
上下搬送ロボット16が下降し、処理部50に対向する
位置に待機している搬送ロボット10のアーム11に処
理部50から取り出した基板Wを渡すことができる。
【0093】この上下搬送ロボット16は、処理部50
から基板Wを取り出し、基板Wを搬送ロボット10に対
して搬送するものであるため、上記の第1搬送機構の一
部の機能を有することとなる。
【0094】従って、薬液キャビネット95が各処理部
30,40,50の下部スペースに設けられる場合であ
ってもZ方向のストロークの長い搬送ロボット10を設
ける必要がない。
【0095】なお、この実施の形態においてカバー80
についても、第1の実施の形態と同様であり、シャトル
搬送ロボット60による処理部間搬送が行われる際には
上昇し、各処理部における基板処理の際には下降するよ
うに構成されている。
【0096】以上のように、この実施の形態の基板処理
装置100では、処理部50から搬送ロボット10に対
して基板を搬送する上下搬送ロボット16を備えるた
め、搬送ロボット10のZ方向のストロークに関係な
く、各処理部30,40,50の高さ位置を高く設定す
ることができる。従って、各処理部30,40,50の
下部スペースを大きくすることができ、各処理部30,
40,50の高さ位置が低い場合に別置する必要のあっ
た薬液キャビネット95を基板処理装置100の内部に
設置することが可能となる。その結果、薬液キャビネッ
トを別置していたときに薬液キャビネット自体が有して
いたフットプリントを消滅させることが可能となる。
【0097】すなわち、この実施の形態の基板処理装置
100によれば、第1の実施の形態で示した効果に加え
て、さらにフットプリントの減少を行うことができる。
【0098】<c.変形例>上記各実施の形態において
は、外部装置がCMP装置である場合について説明した
が、CMP装置以外の装置であっても良い。また、各処
理部30,40,50についても、CMP処理後の洗浄
を行う処理部に限定するものではない。
【0099】また、カバー80には洗浄液吐出ノズル8
2が設けられることについて説明したが、図7に一点鎖
線で示す退避位置91にある基板保持部61を洗浄する
ことという観点からすれば、洗浄液吐出ノズル82をカ
バー80と分離し、基板保持部61の動作に緩衝しない
ように退避位置91に直接設けるようにしても良い。
【0100】
【発明の効果】以上説明したように、請求項1に記載の
発明によれば、複数の処理部が所定の方向に配置され、
第1搬送機構が移動する搬送路を挟んで複数の処理部が
配置されている方向と平行に配置された基板収納部が設
けられているため、基板処理装置のフットプリントを小
さくすることができる。また、複数の処理部のうち隣接
する処理部間で基板を搬送するための複数の基板保持部
を有し、複数の基板保持部の動作を各々同期させて隣接
する処理部間で基板の搬送を行う第2搬送機構を備える
ため、所定の方向に配置された複数の処理部のそれぞれ
に対して基板を正確に搬送することが可能となる。
【0101】請求項2に記載の発明によれば、基板載置
部は、第1搬送機構からの基板を外部装置へ搬送する際
に一旦基板を載置させ、かつ、外部装置からの基板を第
1の処理部に搬送する際に一旦基板を載置させるように
構成されているため、基板載置部が外部装置とのインタ
フェース部として機能することとなり、基板処理装置に
外部装置を直接インラインすることが可能となる。
【0102】請求項3に記載の発明によれば、基板載置
部は、外部装置へ基板を搬送する際に、一旦基板を載置
させる第1基板載置部と、外部装置から第1処理部へ基
板を搬送する際に、一旦基板を載置させる第2基板載置
部とを備えるため、外部装置による処理前後の基板の載
置位置を異なるように設けることができ、外部装置によ
る処理の前後それぞれに応じた基板の取り扱いを行うこ
とが可能となる。
【0103】請求項4に記載の発明によれば、第1基板
載置部を下側に配置させ、第2基板載置部を上側に配置
させているため、外部装置による処理後の基板に対して
パーティクル等が付着する可能性が低下する。
【0104】請求項5に記載の発明によれば、第2基板
載置部は、外部装置から搬送された基板をウエット状態
に保つため、複数の処理部で行われる所定の処理の効果
を高めることができる。
【0105】請求項6に記載の発明によれば、第2搬送
機構は、複数の基板保持部の基板を保持する動作を同期
して行う各基板保持部に対して設けられた基板保持部駆
動手段と、複数の基板保持部と基板保持部駆動手段とを
一体として所定の方向に沿って移動させ、隣接する処理
部間で基板の搬送を行う処理部間搬送手段とを備えるた
め、各処理部間のそれぞれに独立した搬送機構を設ける
必要がなく、フットプリントを最小限に抑えることがで
きるとともに、処理部間で基板の搬送を行う際の制御機
構を簡単に構成することができる。
【0106】請求項7に記載の発明によれば、第2搬送
機構は、さらに、所定の方向と平行に設けられ、複数の
基板保持部が接続された回転軸と、回転軸を回転させる
ことにより、複数の基板保持部を回転軸を中心として回
転駆動する回転駆動手段とを備えるため、複数の基板保
持部が基板を保持した状態で各処理部から上昇させるこ
とができ、処理部間での基板搬送の際に他の構成部分と
の緩衝を避けることができる。
【0107】請求項8に記載の発明によれば、複数の基
板保持部のそれぞれは、基板を保持する第1アーム及び
第2アームを有する一対のアームを備え、基板保持部駆
動手段は、複数の基板保持部についての複数の第1アー
ムを同時に所定方向に沿って移動させる第1アーム駆動
手段と、複数の基板保持部についての複数の第2アーム
を同時に所定方向に沿って移動させる第2アーム駆動手
段とを備えるため、複数の処理部にある基板を挾持する
動作を各々同期して行うことが可能となるとともに、複
数の基板保持部を制御する機構も簡単にすることができ
る。また、搬送の際の基板位置のアライメントも行うこ
とが可能である。
【0108】請求項9に記載の発明によれば、第1搬送
機構は、基板収納部に配置された収納器と基板載置部と
の間で基板の搬送を行う第1搬送手段と、上下移動可能
であって、第2処理部から基板を取り出し基板搬送部に
基板の搬送を行う第2搬送手段とを備えるため、各処理
部の高さ位置を高く設定することができる。従って、各
処理部の下部スペースに薬液キャビネット等のような他
の部材を収容することが可能となり、さらにフットプリ
ントを減少させることができる。
【0109】請求項10に記載の発明によれば、上下移
動可能であって、複数の処理部において所定の処理が行
われる際に下降して複数の処理部を覆うカバーを備える
ため、各処理部において正常に基板処理を行うことがで
きる。また、第2搬送機構による基板の処理部間搬送が
行われる際には、搬送の障害とならないように上昇する
ことができる。
【0110】請求項11に記載の発明によれば、カバー
は、複数の基板保持部を洗浄する複数の洗浄液吐出ノズ
ルを備えるため、複数の基板保持部を正常な状態に保つ
ことができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】第1の実施の形態における基板処理装置を示す
平面図である。
【図2】第1の実施の形態における基板処理装置のYZ
平面における概略断面図である。
【図3】第1の実施の形態における基板処理装置のZX
平面における概略断面図である。
【図4】基板載置部の構成を示す図である。
【図5】シャトル搬送ロボットの斜視図である。
【図6】処理部間搬送の様子を示す説明図である。
【図7】処理部間搬送の様子を示す説明図である。
【図8】カバーの斜視図である。
【図9】カバーと基板保持部との動作関係を示す概略側
面図である。
【図10】カバーと基板保持部との動作関係を示す概略
側面図である。
【図11】この実施の形態の基板処理装置をCMP装置
とインライン化した構成を示す図である。
【図12】第2の実施の形態における基板処理装置を示
す平面図である。
【図13】第2の実施の形態における基板処理装置のY
Z平面における概略断面図である。
【図14】第2の実施の形態における基板処理装置のZ
X平面における概略断面図である。
【図15】従来の基板処理装置を示す平面図である。
【図16】従来の基板処理装置をCMP装置とインライ
ン化した構成を示す概略図である。
【符号の説明】
7 基板収納部 9 ポッド(収納器) 10 搬送ロボット 15 搬送路 16 上下搬送ロボット 20 基板載置部 20A 第2基板載置部 20B 第1基板載置部 30,40,50 処理部 60 シャトル搬送ロボット(第2搬送機構) 61 基板保持部 80 カバー 100 基板処理装置 200 CMP装置 W 基板

Claims (11)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板に所定の処理を行う基板処理装置で
    あって、 (a) 所定の方向に配置され、基板に所定の処理を行うた
    めの複数の処理部と、 (b) 前記複数の処理部のうち一端側に配置された処理部
    に隣接し、かつ、一端側に配置された第1処理部に基板
    を搬送する際に、一旦基板を載置させる基板載置部と、 (c) 前記複数の処理部が配置されている方向と平行に配
    置され、かつ、基板を収納する収納器を配置するための
    基板収納部と、 (d) 前記複数の処理部および前記基板載置部と、前記基
    板収納部との間に配置され、基板を搬送するための搬送
    路と、 (e) 前記搬送路に沿って移動可能であり、前記基板収納
    部に配置された収納器と、前記基板載置部と、前記複数
    の処理部のうち前記一端側とは異なる他端側に配置され
    た第2処理部との間で基板の搬送を行う第1搬送機構
    と、 (f) 前記複数の処理部のうち隣接する処理部間で基板を
    搬送するための複数の基板保持部を有し、前記複数の基
    板保持部の動作を各々同期させて隣接する処理部間での
    基板の搬送を行う第2搬送機構と、を備えることを特徴
    とする基板処理装置。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載の基板処理装置におい
    て、 前記基板載置部は、 前記第1搬送機構からの基板を外部装置へ搬送する際に
    一旦基板を載置させ、かつ、前記外部装置からの基板を
    前記第1処理部に搬送する際に、一旦基板を載置させる
    ことを特徴とする基板処理装置。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載の基板処理装置におい
    て、 前記基板載置部は、 (b-1) 前記外部装置へ基板を搬送する際に、一旦基板を
    載置させる第1基板載置部と、 (b-2) 前記外部装置から前記第1処理部へ基板を搬送す
    る際に、一旦基板を載置させる第2基板載置部と、を備
    えることを特徴とする基板処理装置。
  4. 【請求項4】 請求項3に記載の基板処理装置におい
    て、 前記第1基板載置部を下側に配置させ、前記第2基板載
    置部を上側に配置させたことを特徴とする基板処理装
    置。
  5. 【請求項5】 請求項3又は請求項4に記載の基板処理
    装置において、 前記第2基板載置部は、前記外部装置から搬送された基
    板をウエット状態に保つことを特徴とする基板処理装
    置。
  6. 【請求項6】 請求項1ないし請求項5のいずれかに記
    載の基板処理装置において、 前記第2搬送機構は、 (f-1) 前記複数の基板保持部の基板を保持する動作を同
    期して行うように各基板保持部に対して設けられた基板
    保持部駆動手段と、 (f-2) 前記複数の基板保持部と前記基板保持部駆動手段
    とを一体として前記所定の方向に沿って移動させ、隣接
    する処理部間で基板の搬送を行う処理部間搬送手段と、
    を備えることを特徴とする基板処理装置。
  7. 【請求項7】 請求項6に記載の基板処理装置におい
    て、 前記第2搬送機構は、さらに、 (f-3) 前記所定の方向と平行に設けられ、前記複数の基
    板保持部が接続された回転軸と、 (f-4) 前記回転軸を回転させることにより、前記複数の
    基板保持部を前記回転軸を中心として回転駆動する回転
    駆動手段と、を備えることを特徴とする基板処理装置。
  8. 【請求項8】 請求項6又は請求項7に記載の基板処理
    装置において、 前記複数の基板保持部のそれぞれは、基板を保持する第
    1アーム及び第2アームを有する一対のアームを備え、 前記基板保持部駆動手段は、 (f-1-1) 前記複数の基板保持部についての複数の前記第
    1アームを同時に前記所定方向に沿って移動させる第1
    アーム駆動手段と、 (f-1-2) 前記複数の基板保持部についての複数の前記第
    2アームを同時に前記所定方向に沿って移動させる第2
    アーム駆動手段と、を備えることを特徴とする基板処理
    装置。
  9. 【請求項9】 請求項1ないし請求項8のいずれかに記
    載の基板処理装置において、 前記第1搬送機構は、 (e-1) 前記基板収納部に配置された収納器と前記基板載
    置部との間で基板の搬送を行う第1搬送手段と、 (e-2) 上下移動可能であって、前記第2処理部から基板
    を取り出し前記第1搬送手段に基板の搬送を行う第2搬
    送手段と、を備えることを特徴とする基板処理装置。
  10. 【請求項10】 請求項1ないし請求項9のいずれかに
    記載の基板処理装置において、さらに、 (g) 上下移動可能であって、前記複数の処理部において
    所定の処理が行われる際に下降して前記複数の処理部を
    覆うカバー、を備えることを特徴とする基板処理装置。
  11. 【請求項11】 請求項10に記載の基板処理装置にお
    いて、 前記カバーは、 (g-1) 前記複数の基板保持部を洗浄する複数の洗浄液吐
    出ノズルを備えることを特徴とする基板処理装置。
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