JPH11345798A - 被洗浄体処理方法およびその装置 - Google Patents

被洗浄体処理方法およびその装置

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JPH11345798A
JPH11345798A JP15180598A JP15180598A JPH11345798A JP H11345798 A JPH11345798 A JP H11345798A JP 15180598 A JP15180598 A JP 15180598A JP 15180598 A JP15180598 A JP 15180598A JP H11345798 A JPH11345798 A JP H11345798A
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JP
Japan
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cleaned
cleaning
semiconductor wafer
predetermined position
drying
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JP15180598A
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Inventor
Masao Ono
正雄 大野
Kannan Ki
冠南 喜
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Daikin Industries Ltd
Original Assignee
Daikin Industries Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 洗浄、または乾燥のための所要時間を短縮す
るとともに、洗浄むら、または乾燥むらの発生を大幅に
抑制する。 【解決手段】 上部が開放された洗浄槽1の側壁の所定
位置に内向きに突出形成された第1支承部材2と、洗浄
槽1の底壁を貫通する昇降軸3の上端部に支持された第
2支承部材4とを有している。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、洗浄槽内に被洗
浄体を収容した状態で洗浄槽内に洗浄液を供給すること
により被洗浄体を洗浄し、および/または洗浄槽内に被
洗浄体を収容した状態で洗浄槽内の洗浄液を置換するた
めの有機溶剤を供給することにより被洗浄体を乾燥する
ための方法およびこれらの装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来から、半導体ウエハを洗浄し、およ
び/または乾燥させるための装置が提供されている(特
開平2−291128号公報、特開平5−129267
号公報、特開平7−307374号公報参照)。従来の
この種の装置は、洗浄液、または洗浄液を排除するため
の有機溶剤が供給される洗浄槽内の所定位置に半導体ウ
エハを支承するために、ウエハキャリアやウエハホルダ
を採用する構成を採用している。
【0003】具体的には、特開平2−291128号公
報に示す半導体ウエハ洗浄装置は、半導体ウエハをテフ
ロンカセットに収容したままで洗浄槽内に収容し、ナイ
フ形状部品を半導体ウエハの下端面に接触させて昇降さ
せることにより、半導体ウエハを昇降させ、下降させた
状態で洗浄を行うようにしている。特開平5−1292
67号公報に示す半導体ウエハ洗浄装置は、半導体ウエ
ハをウエハガイドのウエハ支持溝(支承部材)に支承さ
せた状態で洗浄槽に投入し、この状態で洗浄を行うよう
にしている。
【0004】特開平7−307374号公報に示す半導
体ウエハ洗浄装置は、半導体ウエハを吸着アームにより
吸着した状態で洗浄槽に投入し、保持部材(支承部材)
により支承するとともに、吸着アームを対比させた状態
で洗浄を行うようにしている。なお、乾燥についても同
様である。
【0005】したがって、半導体ウエハを洗浄槽内に搬
入して支承し、この状態で洗浄液を供給することにより
半導体ウエハの洗浄を行うことができ、また、洗浄液を
排除するための有機溶剤を供給することにより半導体ウ
エハの乾燥を行うことができる。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】上記の構成の装置を採
用した場合には、洗浄液、または有機溶剤を洗浄槽に供
給している間、半導体ウエハが支承部材により支承され
続けているとともに、半導体ウエハの支承位置が一定で
あるから、半導体ウエハが支承部材により支承されてい
る部分、およびその近傍箇所において洗浄液、有機溶
剤、または不活性ガスが流れにくくなり(洗浄液、有機
溶剤または不活性ガスが流れない部分もある)、洗浄、
または乾燥の工程中の液体の置換に時間がかかり、上記
の部分における洗浄、または乾燥のための所要時間が長
くなるだけでなく、洗浄むら、または乾燥むらが発生
し、しかも、洗浄液、または有機溶剤の消費量が多くな
ってしまう。
【0007】特に、同時処理可能な半導体ウエハの枚数
を多くし、支承される半導体ウエハどうしの間隔を小さ
くする場合には、上記の不都合が顕著になってしまう。
【0008】
【発明の目的】この発明は上記の問題点に鑑みてなされ
たものであり、洗浄、または乾燥のための所要時間を短
縮できるとともに、洗浄むら、または乾燥むらの発生を
大幅に抑制することができる被洗浄体処理方法およびそ
の装置を提供することを目的としている。
【0009】
【課題を解決するための手段】請求項1の被洗浄体処理
方法は、被洗浄体の第1の所定位置を支承した状態で被
洗浄体を洗浄した後、被洗浄体の第1の所定位置と異な
る第2の所定位置を支承した状態で被洗浄体を洗浄する
方法である。請求項2の被洗浄体処理方法は、被洗浄体
の第1の所定位置を支承した状態で被洗浄体を乾燥した
後、被洗浄体の第1の所定位置と異なる第2の所定位置
を支承した状態で被洗浄体を乾燥する方法である。
【0010】請求項3の被洗浄体処理装置は、被洗浄体
の第1の所定位置を支承した状態で被洗浄体を洗浄させ
るための第1支承手段と、被洗浄体の第1の所定位置と
異なる第2の所定位置を支承した状態で被洗浄体を洗浄
させるための第2支承手段とを含むものである。請求項
4の被洗浄体処理装置は、被洗浄体の第1の所定位置を
支承した状態で被洗浄体を乾燥させるための第1支承手
段と、被洗浄体の第1の所定位置と異なる第2の所定位
置を支承した状態で被洗浄体を乾燥させるための第2支
承手段とを含むものである。
【0011】請求項5の被洗浄体処理装置は、前記第1
支承手段として、洗浄槽内の所定の固定位置に設けられ
たものを採用し、前記第2支承手段として、洗浄槽内に
移動可能に設けられ、かつ被処理体の出し入れを行うも
のを採用するものである。
【0012】
【作用】請求項1の被洗浄体処理方法であれば、洗浄槽
内に被洗浄体を収容した状態で洗浄槽内に洗浄液を供給
することにより被洗浄体を洗浄するに当って、被洗浄体
の第1の所定位置を支承した状態で被洗浄体を洗浄した
後、被洗浄体の第1の所定位置と異なる第2の所定位置
を支承した状態で被洗浄体を洗浄するのであるから、第
1の所定位置を支承している間に第2の所定位置の洗浄
がスムーズに行われ、第2の所定位置を支承している間
に第1の所定位置の洗浄がスムーズに行われる。この結
果、被洗浄体の全範囲を短時間で洗浄することができ、
洗浄むらの発生を大幅に抑制することができ、しかも洗
浄液の消費量を少なくすることができる。
【0013】請求項2の被洗浄体処理方法であれば、洗
浄槽内に被洗浄体を収容した状態で洗浄槽内に洗浄液を
置換するための有機溶剤を供給することにより被洗浄体
を乾燥させるに当って、被洗浄体の第1の所定位置を支
承した状態で被洗浄体を乾燥中に、被洗浄体の第1の所
定位置と異なる第2の所定位置を支承した状態で被洗浄
体を乾燥するのであるから、第1の所定位置を支承して
いる間に第2の所定位置の乾燥がスムーズに行われ、第
2の所定位置を支承している間に第1の所定位置の乾燥
がスムーズに行われる。この結果、被洗浄体の全範囲を
短時間で乾燥することができ、乾燥むらの発生を大幅に
抑制することができ、しかも有機溶剤や被洗浄体表面上
に凝縮している有機溶剤を蒸発させるための不活性ガス
の消費量を少なくすることができる。
【0014】請求項3の被洗浄体処理装置であれば、洗
浄槽内に被洗浄体を収容した状態で洗浄槽内に洗浄液を
供給することにより被洗浄体を洗浄するに当って、第1
支承手段によって被洗浄体の第1の所定位置を支承した
状態で被洗浄体を洗浄させ、第2支承手段によって被洗
浄体の第1の所定位置と異なる第2の所定位置を支承し
た状態で被洗浄体を洗浄させることができる。
【0015】したがって、第1の所定位置を支承してい
る間に第2の所定位置の洗浄がスムーズに行われ、第2
の所定位置を支承している間に第1の所定位置の洗浄が
スムーズに行われる。この結果、被洗浄体の全範囲を短
時間で洗浄することができ、洗浄むらの発生を大幅に抑
制することができ、しかも洗浄液の消費量を少なくする
ことができる。
【0016】請求項4の被洗浄体処理装置であれば、洗
浄槽内に被洗浄体を収容した状態で洗浄槽内に洗浄液を
置換するための有機溶剤を供給することにより被洗浄体
を乾燥するに当って、第1支承手段によって被洗浄体の
第1の所定位置を支承した状態で被洗浄体を乾燥中に、
第2支承手段によって被洗浄体の第1の所定位置と異な
る第2の所定位置を支承した状態で被洗浄体を乾燥させ
ることができる。
【0017】したがって、第1の所定位置を支承してい
る間に第2の所定位置の乾燥がスムーズに行われ、第2
の所定位置を支承している間に第1の所定位置の乾燥が
スムーズに行われる。この結果、被洗浄体の全範囲を短
時間で乾燥することができ、乾燥むらの発生を大幅に抑
制することができ、しかも有機溶剤や被洗浄体表面上に
凝縮している有機溶剤を蒸発させるための不活性ガスの
消費量を少なくすることができる。
【0018】請求項5の被洗浄体処理装置であれば、前
記第1支承手段として、洗浄槽内の所定の固定位置に設
けられたものを採用し、前記第2支承手段として、洗浄
槽内に移動可能に設けられ、かつ被処理体の出し入れを
行うものを採用しているのであるから、被洗浄体を出し
入れするための装置を特別に設けることなく、請求項3
または請求項4と同様の作用を達成することができる。
【0019】
【発明の実施の形態】以下、添付図面を参照して、この
発明の被洗浄体処理方法およびその装置の実施の態様を
詳細に説明する。図1はこの発明の被洗浄体処理装置の
一実施態様を示す概略図である。この被洗浄体処理装置
は、上部が開放された洗浄槽1の側壁の所定位置に内向
きに突出形成された第1支承部材2と、洗浄槽1の底壁
を貫通する昇降軸3の上端部に支持された第2支承部材
4とを有している。なお、洗浄槽1の上部からオーバー
フローした洗浄液を回収するためのオーバーフロー槽5
を有しているとともに、洗浄槽1に洗浄液を供給するた
めの配管(図示せず)、供給液を整流するための整流板
(図示せず)、オーバーフローした洗浄液を回収するた
めの配管(図示せず)などを有している。
【0020】図2はこの発明の被洗浄体処理装置の他の
実施態様を示す概略図である。この被洗浄体処理装置が
図1の被洗浄体処理装置と異なる点は、第1支承部材2
として、洗浄槽1の底壁の所定位置に上向きに突出形成
されたものを採用した点、および第2支承部材4とし
て、洗浄槽1の上部開口を通して挿入させられた昇降軸
3の下端部に支持されたものを採用した点のみである。
【0021】図3はこの発明の被洗浄体処理装置のさら
に他の実施態様を示す概略図である。この被洗浄体処理
装置が図2の被洗浄体処理装置と異なる点は、1対の第
1支承部材2どうしの間隔よりも、1対の第2支承部材
4どうしの間隔を大きく設定した点のみである。
【0022】図4はこの発明の被洗浄体処理装置のさら
に他の実施態様を示す概略図である。この被洗浄体処理
装置が図2および図3の被洗浄体処理装置と異なる点
は、洗浄槽1の高さ方向の中央部に段部を形成して、上
部を大径に、下部を小径にそれぞれ形成するとともに、
前記段部を第1支承部材2としている点のみである。
【0023】次いで、図1の被洗浄体処理装置を例にと
って被洗浄体処理方法の一実施態様を説明する。図5は
被洗浄体処理方法の一実施態様を説明するフローチャー
トである。ステップSP1において、第2支承部材4に
より被洗浄体としての半導体ウエハ6を支承した状態で
昇降軸3を下降させることにより、半導体ウエハ6を洗
浄槽1内に投入し、ステップSP2において、洗浄槽1
内に第1の洗浄液を供給して半導体ウエハ6を洗浄し、
ステップSP3において、洗浄槽1内への第1の洗浄液
の供給を行いつつ、昇降軸3をさらに下降させて半導体
ウエハ6を第1支承部材2により支承させ、ステップS
P4において、洗浄槽1内にリンス液を供給して第1の
洗浄液を排出することにより半導体ウエハ6のリンスを
行い、ステップSP5において、洗浄槽1内へのリンス
液の供給を行いつつ、昇降軸3を上昇させて半導体ウエ
ハ6を第2支承部材4により支承させ、ステップSP6
において、洗浄槽1内に第2の洗浄液を供給してリンス
液を排出することにより半導体ウエハ6を洗浄し、ステ
ップSP7において、洗浄槽1内への第2の洗浄液の供
給を行いつつ、昇降軸3を下降させて半導体ウエハ6を
第1支承部材2により支承させ、ステップSP8におい
て、洗浄槽1内にリンス液を供給して第2の洗浄液を排
出することにより半導体ウエハ6のリンスを行い、ステ
ップSP9において、洗浄槽1内へのリンス液の供給を
行いつつ、昇降軸3を上昇させて半導体ウエハ6を第2
支承部材4により支承させ、ステップSP10におい
て、洗浄槽1からリンス液を排出して有機溶剤を供給す
ることにより半導体ウエハ6上のリンス液と有機溶剤と
の置換を行い、不活性ガスで有機溶剤を蒸発させ、ステ
ップSP11において、洗浄槽1内への不活性ガスの供
給を行いつつ、昇降軸3を下降させて半導体ウエハ6を
第1支承部材2により支承させ、最後に、ステップSP
12において、昇降軸3を十分に上昇させて半導体ウエ
ハ6を洗浄槽1から取出し、そのまま一連の処理を終了
する。
【0024】図5のフローチャートから明らかなよう
に、第1の洗浄液を供給して半導体ウエハ6を洗浄して
いる間、および第2の洗浄液を供給して半導体ウエハ6
を洗浄している間に、第1支承部材2による半導体ウエ
ハ6の支承および第2支承部材4による半導体ウエハ6
の支承を選択的に行うのであるから、支承部材による半
導体ウエハ6の支承位置が変化し、この結果、半導体ウ
エハ6の全範囲を短時間で確実に洗浄することができ、
洗浄むらの発生を大幅に抑制することができる。そし
て、各洗浄液の消費量を大幅に減少させることができ
る。
【0025】また、有機溶剤を供給し、リンス液と置換
した後に不活性ガスを供給して半導体ウエハ6を乾燥し
ている間にも、第1支承部材2による半導体ウエハ6の
支承および第2支承部材4による半導体ウエハ6の支承
を選択的に行うのであるから、支承部材による半導体ウ
エハ6の支承位置が変化し、この結果、半導体ウエハ6
の全範囲を短時間で確実に乾燥することができ、乾燥む
らの発生を大幅に抑制することができる。そして、不活
性ガスの消費量を大幅に減少させることができる。
【0026】なお、図5のフローチャートにおいて、第
1支承部材2による半導体ウエハ6の支承および第2支
承部材4による半導体ウエハ6の支承の順序を逆転させ
ても同様の作用を達成することができる。また、図2か
ら図4の何れかの被洗浄体処理装置にも適用することが
できる。また、図5のフローチャートは、半導体ウエハ
6の洗浄および乾燥を順次行う場合の処理を説明してい
るが、乾燥行程を省略することにより、半導体ウエハ6
の洗浄のみを行わせることができ、洗浄行程を省略する
ことにより、半導体ウエハ6の乾燥のみを行わせること
ができる。さらに、半導体ウエハ6の洗浄のみを行う場
合であっても、何れか一方の洗浄液のみを採用すること
が可能である。
【0027】図6は被洗浄体処理方法の他の実施態様を
説明するフローチャートである。ステップSP1におい
て、第2支承部材4により被洗浄体としての半導体ウエ
ハ6を支承した状態で昇降軸3を下降させることによ
り、半導体ウエハ6を洗浄槽1内に投入し、ステップS
P2において、洗浄槽1内にリンス液を供給して半導体
ウエハ6をリンスし、ステップSP3において、洗浄槽
1内にリンス液を供給しつつ、昇降軸3をさらに下降さ
せて半導体ウエハ6を第1支承部材2により支承させ、
ステップSP4において、洗浄槽1内への乾燥用の有機
溶剤蒸気の供給を開始し、ステップSP5において、洗
浄槽1からのリンス液の排出を開始し、リンス液面に対
する半導体ウエハ6の相対位置を上側に移動させること
により半導体ウエハ6上のリンス液と有機溶剤の置換を
行い、ステップSP6において不活性ガスを洗浄槽1内
に供給し、ウエハ6上の有機溶剤を蒸発乾燥させ、ステ
ップSP7において(図示せず)、半導体ウエハ6の相
対的移動を行わせつつ、昇降軸3を上昇させて半導体ウ
エハ6を第2支承部材4により支承させ、半導体ウエハ
6の乾燥が終了した後に、ステップSP8において、昇
降軸3を十分に上昇させて半導体ウエハ6を洗浄槽1か
ら取出し、そのまま一連の処理を終了する。
【0028】この実施態様の場合にも、リンス中、乾燥
中において、第1支承部材2による半導体ウエハ6の支
承および第2支承部材4による半導体ウエハ6の支承を
選択的に行うのであるから、支承部材による半導体ウエ
ハ6の支承位置が変化し、この結果、半導体ウエハ6の
全範囲を短時間で確実にリンスし、乾燥することがで
き、乾燥むらの発生を大幅に抑制することができる。そ
して、リンス液、有機溶剤の消費量を大幅に減少させる
ことができる。もちろん、第1支承部材2による半導体
ウエハ6の支承および第2支承部材4による半導体ウエ
ハ6の支承の順序を逆転させても同様の作用を達成する
ことができる。また、リンス工程を省略することもでき
る。
【0029】図7はこの発明の被洗浄体処理装置のさら
に他の実施態様を示す概略図である。この被洗浄体処理
装置が図2の被洗浄体処理装置と異なる点は、洗浄槽1
に代えて乾燥槽7を採用した点、乾燥槽7の底部に有機
溶剤(イソプロピルアルコールなど)8を収容した点、
乾燥槽7の底面に有機溶剤を蒸発させるためのヒータ9
を設けた点、乾燥槽7の上部内壁面に有機溶剤蒸気を冷
却して液化する冷却管10を設けた点、および第1支承
部材2により支承される半導体ウエハ6よりも下方の所
定位置に水滴受け皿11(排出管は省略)を設けた点の
みである。
【0030】したがって、ヒータ9により有機溶剤を加
熱して有機溶剤蒸気を発生させれば、有機溶剤蒸気が半
導体ウエハ6の表面に付着して半導体ウエハ6表面の水
を排除し、半導体ウエハ6を迅速に乾燥させることがで
きる。そして、排除された水は水滴受け皿11に収容さ
れる。また、有機溶剤蒸気は、冷却管10により冷却さ
れることにより液化され、乾燥槽7の底面に流下する。
【0031】図8は図7の被洗浄体処理装置における半
導体ウエハ6の乾燥処理を概略的に説明するフローチャ
ートである。ステップSP1において、第2支承部材4
により被洗浄体としての半導体ウエハ6を支承した状態
で昇降軸3を下降させることにより、半導体ウエハ6を
乾燥槽7内に投入し、ステップSP2において、乾燥槽
7内に乾燥用の有機溶剤蒸気を供給して半導体ウエハ6
を乾燥し(ベーパ乾燥を行い)、ステップSP3におい
て、洗浄槽1内に乾燥用の有機溶剤蒸気を供給しつつ、
昇降軸3をさらに下降させて半導体ウエハ6を第1支承
部材2により支承させ、半導体ウエハ6の乾燥が終了し
た後に、ステップSP4において、昇降軸3を十分に上
昇させて半導体ウエハ6を洗浄槽1から取出し、そのま
ま一連の処理を終了する。
【0032】この実施態様の場合にも、乾燥中におい
て、第1支承部材2による半導体ウエハ6の支承および
第2支承部材4による半導体ウエハ6の支承を選択的に
行うのであるから、支承部材による半導体ウエハ6の支
承位置が変化し、この結果、半導体ウエハ6の全範囲を
短時間で確実に乾燥することができ、乾燥むらの発生を
大幅に抑制することができる。そして、有機溶剤の消費
量を大幅に減少させることができる。もちろん、第1支
承部材2による半導体ウエハ6の支承および第2支承部
材4による半導体ウエハ6の支承の順序を逆転させても
同様の作用を達成することができる。さらに、上記の何
れかの実施態様において、同時処理可能な半導体ウエハ
の枚数を多くし、支承される半導体ウエハどうしの間隔
を小さくした場合であっても、上記と同様の作用を達成
することができる。
【0033】
【発明の効果】請求項1の発明は、被洗浄体の全範囲を
短時間で洗浄することができ、洗浄むらの発生を大幅に
抑制することができ、しかも洗浄液の消費量を少なくす
ることができるという特有の効果を奏する。請求項2の
発明は、被洗浄体の全範囲を短時間で乾燥することがで
き、乾燥むらの発生を大幅に抑制することができ、しか
も有機溶剤及び不活性ガスの消費量を少なくすることが
できるという特有の効果を奏する。
【0034】請求項3の発明は、被洗浄体の全範囲を短
時間で洗浄することができ、洗浄むらの発生を大幅に抑
制することができ、しかも洗浄液の消費量を少なくする
ことができるという特有の効果を奏する。請求項4の発
明は、被洗浄体の全範囲を短時間で乾燥することがで
き、乾燥むらの発生を大幅に抑制することができ、しか
も有機溶剤及び不活性ガスの消費量を少なくすることが
できるという特有の効果を奏する。
【0035】請求項5の発明は、被洗浄体を出し入れす
るための装置を特別に設けることなく、請求項3または
請求項4と同様の効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明の被洗浄体処理装置の一実施態様を示
す概略図である。
【図2】この発明の被洗浄体処理装置の他の実施態様を
示す概略図である。
【図3】この発明の被洗浄体処理装置のさらに他の実施
態様を示す概略図である。
【図4】この発明の被洗浄体処理装置のさらに他の実施
態様を示す概略図である。
【図5】被洗浄体処理方法の一実施態様を説明するフロ
ーチャートである。
【図6】被洗浄体処理方法の他の実施態様を説明するフ
ローチャートである。
【図7】この発明の被洗浄体処理装置のさらに他の実施
態様を示す概略図である。
【図8】図7の被洗浄体処理装置における半導体ウエハ
の乾燥処理を概略的に説明するフローチャートである。
【符号の説明】
1 洗浄槽 2 第1支承部材 4 第2支承部材 6 半導体ウエハ 7 乾燥槽

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 洗浄槽(1)内に被洗浄体(6)を収容
    した状態で洗浄槽(1)内に洗浄液を供給することによ
    り被洗浄体(6)を洗浄する方法であって、 被洗浄体(6)の第1の所定位置を支承した状態で被洗
    浄体(6)を洗浄した後、被洗浄体(6)の第1の所定
    位置と異なる第2の所定位置を支承した状態で被洗浄体
    を洗浄することを特徴とする被洗浄体処理方法。
  2. 【請求項2】 洗浄槽(1)(7)内に被洗浄体(6)
    を収容した状態で洗浄槽(1)(7)内に洗浄液を置換
    するための有機溶剤を供給することにより被洗浄体
    (6)を乾燥する方法であって、 被洗浄体(6)の第1の所定位置を支承した状態で被洗
    浄体(6)を乾燥した後、被洗浄体(6)の第1の所定
    位置と異なる第2の所定位置を支承した状態で被洗浄体
    を乾燥することを特徴とする被洗浄体処理方法。
  3. 【請求項3】 洗浄槽(1)内に被洗浄体(6)を収容
    した状態で洗浄槽(1)内に洗浄液を供給することによ
    り被洗浄体(6)を洗浄する装置であって、 被洗浄体(6)の第1の所定位置を支承した状態で被洗
    浄体(6)を洗浄させるための第1支承手段(2)と、
    被洗浄体(6)の第1の所定位置と異なる第2の所定位
    置を支承した状態で被洗浄体(6)を洗浄させるための
    第2支承手段(4)とを含むことを特徴とする被洗浄体
    処理装置。
  4. 【請求項4】 洗浄槽(1)(7)内に被洗浄体(6)
    を収容した状態で洗浄槽(1)(7)内に洗浄液を置換
    するための有機溶剤を供給することにより被洗浄体
    (6)を乾燥する装置であって、 被洗浄体(6)の第1の所定位置を支承した状態で被洗
    浄体(6)を乾燥させるための第1支承手段(2)と、
    被洗浄体(6)の第1の所定位置と異なる第2の所定位
    置を支承した状態で被洗浄体(6)を乾燥させるための
    第2支承手段(4)とを含むことを特徴とする被洗浄体
    処理装置。
  5. 【請求項5】 前記第1支承手段(2)は、洗浄槽
    (1)(7)内の所定の固定位置に設けられたものであ
    り、前記第2支承手段(4)は、洗浄槽(1)(7)内
    に移動可能に設けられ、かつ被処理体(6)の出し入れ
    を行うものである請求項3または請求項4に記載の被洗
    浄体処理装置。
JP15180598A 1998-06-01 1998-06-01 被洗浄体処理方法およびその装置 Pending JPH11345798A (ja)

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