JPH11345413A - 磁気記録媒体 - Google Patents

磁気記録媒体

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JPH11345413A
JPH11345413A JP11143992A JP14399299A JPH11345413A JP H11345413 A JPH11345413 A JP H11345413A JP 11143992 A JP11143992 A JP 11143992A JP 14399299 A JP14399299 A JP 14399299A JP H11345413 A JPH11345413 A JP H11345413A
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JP
Japan
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magnetic
underlayer
layer
recording medium
coercive force
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Application number
JP11143992A
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English (en)
Inventor
Keiji Moroishi
圭二 諸石
Junichi Horikawa
順一 堀川
Masato Kobayashi
正人 小林
Jun Nozawa
順 野沢
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hoya Corp
Original Assignee
Hoya Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【目的】 磁気記録媒体において保磁力及び残留磁化膜
厚積を高くするとともに経時変化を少なくしてしかも記
録再生時における媒体ノイズを少なくする。 【構成】 ガラス基板(非磁性基板)1上にCr及びM
oを含む下地層2を形成し、この下地層上にCo及びP
tを含む磁性層3を形成する。磁性層3にはさらにMo
を添加するようにしてもよく、さらに、必要に応じて下
地層及び磁性層には他の添加要素が添加される。また、
必要に応じて磁性層上には順次保護層4及び潤滑層5が
形成される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【産業上の利用分野】本発明は磁気記録媒体に関し、特
に、磁気ディスク、フレキシブルディスク、スチルカメ
ラ、又はビデオ等の磁気記録用金属薄膜媒体に関する。
【0002】
【従来の技術】一般に、磁気記録媒体用合金として保磁
力(Hc)及び残留磁化膜厚積(Mr・δ)の高いCo
Pt系合金が用いられている。このCoPt系合金を用
いて磁気記録媒体を構成する際、その磁気特性を向上さ
せるため、一般に基板と磁性層との間に下地層を形成す
ることが行なわれている。例えば、特公平4−1684
8号公報(以下「文献1」と呼ぶ)には、下地層にCr
V又はCrFeを含み、磁性層にCoPtを含む磁気記
録媒体が示されており、この磁気記録媒体では保磁力及
び磁化曲線の角型比を向上できる旨記載されている。
【0003】さらに、磁気記録媒体においては、その保
磁力及び残留磁化膜厚積を高めるため、CoPt磁性膜
に第3成分を添加することが行われており、このような
磁気記録媒体として、例えば、テレビジョン学会誌第4
0巻第6番第475頁乃至第480頁(1986年)
(以下「文献2」と呼ぶ)に記載された磁気記録媒体が
知られている。この磁気記録媒体では、CoPtに第3
成分としてMoが添加された磁性層を直接ガラス基板上
に形成している。そして、この磁気記録媒体ではその保
磁力が500エルステッド(Oe)以上であって、しか
も広範囲に保磁力を制御することができるばかりでなく
高密度記録を行うことができる旨記載されている。
【0004】また、この種の磁気記録媒体が、ジャーナ
ル オブ アプライド フィジックス(J.Appl.
Phys.67(12),15 June 1990
pp7507−7509)(以下「文献3」と呼ぶ)に
記載されており、この磁気記録媒体では、下地層として
Crに少量のMoが添加された金属を用い、この下地層
上にCoNiCrからなる磁性層を形成している。
【0005】
【発明が解決しようとする課題】ところで、文献1に記
載された磁気記録媒体ではある程度高い保磁力を得るこ
とが可能であるが、保磁力は最高でも1600Oe程度
あり、高密度記録を行うためには満足できる値ではな
い。
【0006】また、文献2に記載された磁気記録媒体で
は、前述のように、下地層を介することなくガラス基板
上に直接磁性層を形成しており、CoPtからなる磁性
層の保磁力が1000Oe以上あるにもかかわらず、C
oPtMoからなる磁性層ではその保磁力がMo濃度を
増加させると減少してしまうという傾向がある。例え
ば、Mo濃度が約14at%の場合、保磁力が約350
Oeとなってしまう。
【0007】加えて、文献2に記載された磁気記録媒体
では、Mo濃度の増加につれて飽和磁束密度(Bs)も
減少してしまい、飽和磁束密度(Bs)の減少によって
残留磁化膜厚積(Mr・δ)も減少することになってし
まう。
【0008】このように、文献2においては、CoPt
にMoを添加した磁性層を用いると、保磁力及び残留磁
化膜厚積ともに減少してしまうことがわかる。
【0009】一方、文献3に示された磁気記録媒体で
は、その保磁力は1120Oeであって、Cr単独で形
成された下地層を用いた磁気記録媒体の保磁力(128
0Oe)よりも保磁力が減少してしまう。
【0010】文献2及び3の記載から理解できるよう
に、CrにMoが添加された下地層及びCoPtにMo
が添加された磁性層を有する磁気記録媒体では保磁力及
び残留磁化膜厚積が低下してしまう。
【0011】本発明の目的は十分な保磁力及び残留磁化
膜厚積が得られしかも経時変化の少ない磁気記録媒体を
提供することにある。
【0012】
【課題を解決するための手段】本発明によれば、非磁性
基板と、該非磁性基板上に形成された下地層と、該下地
層上に形成された磁性層とを有する磁気記録媒体であっ
て、前記下地層にはCrが含まれるとともに組成比で1
乃至90at%のMoを含み、前記磁性層にはCoが含
まれるとともに組成比で5乃至30%のPtを含んでお
り、かつ、前記下地層の(110)面における格子間隔
と前記磁性層の(002)面における格子間隔とは保磁
力が1750Oe以上となるまでに接近していることを
特徴とする磁気記録媒体が得られる。
【0013】さらに、本発明では、磁性層にさらにモリ
ブデン(Mo)を含有するようにしてもよい。また、磁
性層にはさらにTa、B、Cr、O、N、Nb、Mn、
Zn、W、Pb、Re、V、及びZrのうち少なくとも
一種を含有するようにしてもよい。
【0014】加えて、本発明では、下地層にさらにW、
B、V、Nb、Ta、Fe、Ni、Re、Cu、Zr、
Zn、P、Si、Ga、Ge、Hf、Al、Tiのうち
少なくとも一種を含有するようにしてもよい。
【0015】下地層を形成する際には非磁性基板から磁
性層に向かう方向にMo濃度が増加するようにしてもよ
い。
【0016】また、磁性層上に保護層を形成する際に
は、保護層にCr及びMoを含有させることが望まし
い。
【0017】
【作用】本発明ではCr及びMoが含有された下地層に
おいて、MoがCrと固溶体を形成する。そして、Mo
の添加量に応じて格子が膨脹してクロムの(110)面
における格子間隔がCo及びPtを含有する磁性層の格
子(002)面に接近する。この結果、磁性層の配向が
変化して磁性層の保磁力を向上させることができる。
【0018】磁性層にさらにMoを添加することによっ
て、磁壁のピン止め効果により保磁力が増加するばかり
でなく磁性粒の磁気的孤立化が促進されて保磁力が増加
する。また、磁性粒子の微細化によって保磁力が増加す
る。この保磁力に増加によって再生波におけるピーク幅
が小さくなって媒体ノイズが低下する。さらに、磁性層
へMoを添加することによってピン止め数が増加してジ
グザク壁の幅が減少することによっても媒体ノイズが低
減する。
【0019】加えて、下地層と磁性層とに同一成分を含
有させることによって(つまり、Moを含有させること
によって)、下地層と磁性層との界面でMoの拡散が容
易となり、その結果、磁性粒の磁気的な孤立化がより促
進されるとともに下地層と磁性層との付着強度を高める
ことができる。
【0020】また、Cr及びMoを含む下地層に上述の
Zr、Zn、及びCu等を添加すると、これら添加元素
は下地層中のCr又はMoに固溶しにくく、その結果、
添加元素が下地層中の結晶粒子の粒界に偏析する等して
結晶粒子の微細化及び粒子間の分離が促進される。これ
によって、下地層の膜構造を反映して磁性層中の結晶粒
子の微細化及び粒子間の分離(磁気的孤立化)が促進さ
れて、保磁力が増大するとともに媒体ノイズを低減させ
ることができる。
【0021】
【実施例】以下本発明について実施例によって説明す
る。
【0022】(実施例1)図1を参照して、直径65m
m厚さ0.9mmのガラス基板1を準備して、このガラ
ス基板1をRFマグネトロンスパッタ装置(図示せず)
のチャンバー内に装着する。そして、チャンバー内を5
×10-7Torr以下の圧力まで減圧する。その後、ア
ルゴンガスをスパッタガスとしてガス圧10mTorr
でスパッタ装置に供給し、基板温度を室温として投入電
力密度を2.5W/cm2 、Cr80Mo20(at%)を
ターゲットとしてガラス基板1上に膜厚1000オング
ストロームの下地層2を形成した(一般式Cr100-x
x (x=0〜100)においてx=20の場合)。続
いて、同様にしてアルゴンガスをスパッタガスとして用
いてCo82Pt18(at%)をターゲットとして、Co
82Pt18の組成を有する膜厚400オングストロームの
磁性層3を下地層2上に形成した。そして、アルゴンガ
スをスパッタガスとして用いて磁性層3上に膜厚50オ
ングストロームのCr80Mo20層4a及び膜厚400オ
ングストロームのカーボン層4bを形成し、これらCr
80Mo20層4a及びカーボン層4bを保護層5とした。
この保護層4上にパーフルオロポリエーテルからなる潤
滑層5を20オングストロームの厚さ塗布して磁気ディ
スク(磁気記録媒体)6を得、この磁気ディスク6をデ
ィスクAとした。
【0023】さらに、一般式Cr100-x Mox (x=0
〜100)におけるxをそれぞれ0,10,30,4
0,50,60,70,80,90として、つまり、C
r、Cr90Mo10、Cr70Mo30、Cr60Mo40、Cr
50Mo50、Cr40Mo60、Cr30Mo70、Cr20
80、Cr10Mo90(at%)をそれぞれ下地層として
有する磁気ディスクを作成した。この際、ガラス基板、
磁性層、保護層、及び潤滑層は上記のディスクAと同様
とし、さらに膜厚等他の条件もディスクAと同様とし
た。
【0024】これらディスクからそれぞれ直径8mmの
試料を切り出して、振動試料型磁力計を用いて、各試料
について保磁力(Hc)および残留磁化膜厚積(Mr・
δ)を測定した。この際、膜面方向に最大外部印加磁場
を12kOeとして磁場を印加した。この結果を図2に
示す。なお、図2において、◎が各試料の保磁力を示
す。
【0025】図2から明らかなように、CoPtからな
る磁性層を用いるとともにCrMoからなる下地層を用
いることによって、高い保磁力を有する磁気記録媒体が
得られることがわかる。特に、一般式Cr100-x Mox
(x=0〜100)において、x=10〜80の下地層
を用いることによって保磁力がより高くなることがわか
る。
【0026】次に、Co74Pt18Mo8 の磁性層を有す
るとともに一般式Cr100-x Mox(x=0〜100)
で示される組成の下地層を有する磁気ディスクを上述の
ようにして、xを0乃至90の範囲で変化させて作成し
た。この際、ガラス基板、保護層、及び潤滑層は上記の
ディスクAと同様とし、さらに膜厚等他の条件もディス
クAと同様とした。これらディスクからそれぞれ直径8
mmの試料を切り出して、振動試料型磁力計を用いて、
各試料について保磁力(Hc)および残留磁化膜厚積
(Mr・δ)を測定した。この結果を図2に示す。な
お、図2において、○が各試料の保磁力を示す。
【0027】図2から明らかなように、CoPtMoか
らなる磁性層を用いるとともにCrMoからなる下地層
を用いることによって、高い保磁力を有する磁気記録媒
体が得られることがわかる。特に、一般式Cr100-x
x (x=0〜100)において、x=10〜80の下
地層を用いることによって保磁力がより高くなることが
わかる。
【0028】さらに、ディスクAを作製した際と同様の
方法を用いて、一般式Cr100-x-yMoy Zrx (at
%)の組成を有する下地層及びCo74Pt18Mo8 (a
t%)の組成を有する磁性層をガラス基板上に順次形成
して磁気ディスクを得た。この際、下地層中のMo濃度
を9at%として(つまり、y=9として)、Zr濃度
を0乃至50at%の範囲で変化させて(つまり、x=
0〜50として)、複数の磁気ディスクを得た。同様に
して、下地層中のMo濃度を18at%として(つま
り、y=18として)、Zr濃度を0乃至50at%の
範囲で変化させて(つまり、x=0〜50として)、複
数の磁気ディスクを得た。そして、これら磁気ディスク
の保磁力をディスクAと同様にして測定した。この測定
結果を図3に示す(図3において、◇がMo濃度が9a
t%の場合を表し、◆がMo濃度が18at%の場合を
表す)。
【0029】図3から明らかなように、CrMoからな
る下地層にZrを添加することによって、磁気ディスク
の保磁力を高くすることができることがわかる。そし
て、下地層におけるZrの添加量が0.1〜30at%
の範囲において、保磁力が高くなり、特に、0.1〜4
at%の範囲で、CrMoのみからなる下地層を用いた
磁気ディスクよりも保磁力が高くなることがわかる。
【0030】次に、Cr80Mo20(at%)の下地層及
びCo74Pt18Mo8 (at%)の磁性層を有する磁気
ディスク(以下この磁気ディスクを「ディスクB」と呼
ぶ、なお、ディスクBの他の構成要素及び膜厚はディス
クAと同様である)及びCr80Mo18Zr2 (at%)
の下地層及びCo74Pt18Mo8 (at%)の磁性層を
有する磁気ディスク(以下の磁気ディスクを「ディスク
C」と呼ぶ、なお、ディスクCの他の構成要素及び膜厚
はディスクAと同様である)を用いて記録再生出力を測
定した。ここでは、磁気ヘッド浮上量が0.055μm
の薄膜ヘッドを用いて、この薄膜ヘッドとディスクBの
相対速度を6m/sとし、線記録密度80kfci(1
インチ当たり80,000ビットの線記録密度)におけ
る記録再生出力を測定した。この結果を表1に示す(表
1には、記録再生出力の他に保磁力及び残留磁化膜厚積
も示し、比較例として下地層にCrのみを用いた磁気デ
ィスクの測定結果も示す。なお、表1ではディスクB及
びCをそれぞれ実施例2及び3とした)。なお、上述の
測定で用いた薄膜ヘッドはコイルターン数50、トラッ
ク幅6μm、磁気ヘッドギャップ長0.25μmであ
る。
【0031】
【表1】
【0032】表1から明らかなように、ディスクBでは
下地層としてCrMoを用いているからCrのみの下地
層を用いた比較例に比べて磁気記録再生特性が著しく高
くなることがわかる。同様に、ディスクCにおいても下
地層としてCrMoZrを用いているからCrのみの下
地層を用いた比較例に比べて磁気記録再生特性が著しく
高くなることがわかる。
【0033】さらに、ディスクA及びBを温度80℃、
湿度80%の恒温恒湿槽中に1000時間放置して耐蝕
性試験を行った。そして、ディスクA及びBについて耐
蝕性試験直前から1000時間経過後までの飽和磁化
(Ms)を測定した。この測定結果を図4に示す。
【0034】図4において、横軸は時間を表し、縦軸は
各時間における飽和磁化を耐蝕性試験開始直前の飽和磁
化(Ms0 )で規格化した値を表す。図4から明らかな
ように、CoPt(ディスクA)及びCoPtMo(デ
ィスクB)の磁性層は耐蝕性に優れており、特に、Co
PtにMoを添加することによって、耐蝕性が著しく向
上することがわかる。
【0035】次に、キャリア周波数を9.4MHz、測
定帯域を15MHzとしてスペクトルアナライザーによ
ってディスクA、B、及びCについて信号記録再生時に
おけるノイズスペクトラムを測定した(媒体ノイズNm
で表す)。この結果、ディスクAでは媒体ノイズが7.
58μVrmsであったのに対してディスクBでは媒体
ノイズが5.08μVrmsであり、磁性層としてCo
PtMoを用いることによってより媒体ノイズが低減で
きた。また、ディスクCでは媒体ノイズは4.85μV
rmsであり、磁性層としてCoPtMoを用い、下地
層としてCrMoZrを用いることによって媒体ノイズ
をさらに低減することができる。
【0036】(実施例4〜10)実施例1と同様にして
ターゲットとしてCr80Mo20(at%)を用いて、直
径65mm厚さ0.9mmのガラス基板上に膜厚150
0オングストロームの下地層(Cr80Mo20層)を形成
した。続いて、Co70Pt18Mo12(at%)をターゲ
ットとして、Co70Pt18Mo12の組成を有する膜厚4
00オングストロームの磁性層を下地層上に形成した。
磁性層上に保護層としてSiO2 を膜厚50オングスト
ロームで形成して磁気ディスクとした(実施例4)。そ
して、この磁気ディスクの保磁力及び残留磁化膜厚積を
実施例1と同様にして測定した。この結果を表2に示
す。
【0037】
【表2】
【0038】さらに、下地層、磁性層、及び保護層の組
成を表2に示す組成として、磁気ディスクを作成した
(実施例5乃至実施例10)。そして、これら磁気ディ
スクについて実施例4と同様にして保磁力及び残留磁化
膜厚積を測定した。
【0039】表2から明らかなように、下地層としてC
rMoを用い、磁性層としてCoPtに30at%まで
のMoが添加された磁性層を用いることよって保磁力及
び残留磁化膜厚積を高くできることがわかる。
【0040】(実施例11〜15)直径65mm厚さ
0.9mmのガラス基板を準備して、このガラス基板を
DCマグネトロンスパッタ装置(図示せず)のチャンバ
ー内に装着する。そして、チャンバー内を8×10-7
orr以下の圧力まで減圧する。その後、アルゴンガス
をスパッタガスとしてガス圧15mTorrでスパッタ
装置に供給し、投入電力密度を18W/cm2 、基板温
度をそれぞれ100℃(実施例11)、200℃(実施
例12)、250℃(実施例13)、300℃(実施例
14)、及び400℃(実施例15)としてCr70Mo
30(at%)をターゲットとしてガラス基板上に膜厚2
000オングストロームの下地層(Cr70Mo30層)を
形成した。続いて、アルゴンガスをスパッタガスとして
Co68Pt17Mo15(at%)をターゲットとして、C
68Pt17Mo15の組成を有する膜厚350オングスト
ロームの磁性層を下地層上に形成した。そして、アルゴ
ンガスをスパッタガスとしてCr70Mo30(at%)を
ターゲットして用いて磁性層上に膜厚80オングストロ
ームの保護膜を形成し、さらにこの保護膜上に膜厚15
0オングストロームのSiO2 からなる保護層を形成し
て磁気ディスクを作製した。
【0041】これら実施例11乃至15の磁気ディスク
について実施例1と同様にして保磁力及び残留磁化膜厚
積を測定した。この測定結果を表3に示す。
【0042】
【表3】
【0043】表3から明らかなように、基板温度を40
0℃まで上げて磁気ディスクを作成しても磁気特性が劣
化することなく、良好な磁気特性が得られることがわか
る。
【0044】(実施例16〜35)実施例1と同様の方
法を用いて、表4に示す組成の下地層、磁性層、及び保
護層を有する磁気ディスク(実施例16乃至35)を作
製して、これら実施例16乃至35の磁気ディスクにつ
いて実施例1と同様にして保磁力及び残留磁化膜厚積を
測定した。
【0045】
【表4】
【0046】表4から明らかなようにCrMoにZr以
外の他の追加成分が添加された下地層を用いても保磁力
及び残留磁化膜厚積を高くできることがわかる。
【0047】(実施例36〜61)実施例4と同様の方
法を用いて、表5に示す組成の下地層(膜厚2000オ
ングストローム)、磁性層(膜厚450オングストロー
ム)、及び保護層(膜厚150オングストローム)を有
する磁気ディスク(実施例36乃至61)を作製して、
これら実施例36乃至61の磁気ディスクについて実施
例4と同様にして保磁力及び残留磁化膜厚積を測定し
た。
【0048】
【表5】
【0049】表5から明らかなように、CoPtMoに
他の追加成分が添加された磁性層を用いても保磁力及び
残留磁化膜厚積を高くできることがわかる。
【0050】(実施例62)続いて、直径65mm厚さ
0.9mmのガラス基板をRFマグネトロンスパッタ装
置(図示せず)のチャンバー内に装着して、チャンバー
内を5×10-7Torr以下の圧力まで減圧する。その
後、アルゴンガスをスパッタガスとしてガス圧10mT
orrでスパッタ装置に供給し、基板温度を室温とし
て、Crターゲット及びMoターゲットを同時に放電さ
せた。この際、Crターゲットに対する投入電力密度を
2.5W/cm2 とし、Moターゲットに対する投入電
力密度を0.1W/cm2 から1.2W/cm2 まで変
化させ、ガラス基板上に膜厚1500オングストローム
の下地層を形成した。この結果、下地層において下方か
ら上方に向かって順次Mo濃度が増加した。
【0051】同様にして、アルゴンガスをスパッタガス
として用いてCr74Pt18Mo8 (at%)をターゲッ
トとして、Cr74Pt18Mo8 の組成を有する膜厚40
0オングストロームの磁性層を下地層上に形成した。そ
して、アルゴンガスをスパッタガスとして用いて磁性層
上に膜厚50オングストロームのCr層及び膜厚300
オングストロームのSiO2 を形成し、これらCr層及
びSiO2 層を保護層とした。その後、この保護層上に
パーフルオロポリエーテルからなる潤滑層を20オング
ストロームの厚さ塗布して磁気ディスク(磁気記録媒
体)を得た。
【0052】この磁気ディスクについて振動試料型磁力
計を用いて、その保磁力(Hc)を測定した。この際、
膜面方向に最大外部印加磁場を12kOeとして磁場を
印加した。この結果、保磁力は2500Oeであった。
【0053】さらに、上記の磁気ディスクについて記録
再生出力を測定した。ここでは、磁気ヘッド浮上量が
0.055μmの薄膜ヘッドを用いて、この薄膜ヘッド
とディスクBの相対速度を6m/sとし、線記録密度8
0kfciにおける記録再生出力を測定した。この結
果、記録再生出力は225μVであった。
【0054】また、キャリア周波数を9.4MHz、測
定帯域を15MHzとしてスペクトルアナライザーによ
って上記の磁気ディスクについて信号記録再生時におけ
るノイズスペクトラムを測定した(媒体ノイズNmで表
す)。この結果、媒体ノイズは5.15μVrmsであ
った。
【0055】なお、上述の測定で用いた薄膜ヘッドはコ
イルターン数50、トラック幅6μm、磁気ヘッドギャ
ップ長0.25μmである。
【0056】このようにして、下地層におけるMo濃度
を上方に向かって(基板から磁性層に向う方向)増加さ
せるように変化させると、良好な磁気特性が得られる。
【0057】(実施例63)投入電力密度を2.5W/
cm2 とし、他の条件は実施例62と同様にしてRFマ
グネトロン装置を用い、Crターゲット、Cr95Mo5
ターゲット、Cr90Mo10ターゲット、Cr85Mo15
ーゲット、及びCr80Mo20ターゲットを同時に放電さ
せて、基板上にCr、Cr95Mo5 、Cr90Mo10、C
85Mo15、及びCr80Mo20の順に膜が形成されるよ
うに基板をRFマグネトロン装置内で順次搬送する。こ
れによって、基板上に膜厚1500オングストロームの
下地層を形成した。このようにして、Mo濃度が異なる
ターゲットに対して基板を順次搬送することによって、
下地層では上方に向かって順次Mo濃度が増加すること
になる。その後、実施例62と同様に下地層上に順次磁
性層、保護層、及び潤滑層を形成して磁気ディスクを得
た。そして、実施例62と同様にして保磁力、記録再生
出力、及び媒体ノイズを測定した。その結果、保磁力、
記録再生出力、及び媒体ノイズはそれぞれ2550O
e、225μV、及び5.10μVrmsであった。
【0058】このように、順次Mo濃度が増加する複数
の膜を用いて下地層を形成するようにしても良好な磁気
特性が得られる。
【0059】(実施例64)Crターゲット、Moター
ゲット、及びZrターゲットを用いて、これらターゲッ
トを同時に放電させた。この際、Crターゲットに対す
る投入電力密度を2.5W/cm2 とし、Zrターゲッ
トに対する投入電力密度を0.1W/cm2に固定し、
Moターゲットに対する投入電力密度を0.1W/cm
2 から1.2W/cm2 まで連続的に変化させ、他の条
件は実施例62と同様にして、基板上に膜厚1500オ
ングストロームの下地層を形成した。この結果、下地層
において下方から上方に向かって順次Mo濃度が増加し
た。その後、実施例62と同様に下地層上に順次磁性
層、保護層、及び潤滑層を形成して磁気ディスクを得
た。そして、実施例62と同様にして保磁力、記録再生
出力、及び媒体ノイズを測定した。その結果、保磁力、
記録再生出力、及び媒体ノイズはそれぞれ2600O
e、230μV、及び4.90μVrmsであった。
【0060】このようにして、下地層におけるMo濃度
を上方に向って順次増加するようにしても同様に良好な
磁気特性を得ることができる。
【0061】(実施例65)投入電力密度を2.5W/
cm2 とし、他の条件は実施例62と同様にしてRFマ
グネトロン装置を用い、Crターゲット、Cr95Mo3
Zr2 ターゲット、Cr90Mo8 Zr2 ターゲット、C
85Mo13Zr2 ターゲット、及びCr80Mo18Zr2
ターゲットを同時に放電させて、基板上にCr、Cr95
Mo3 Zr2、Cr90Mo8 Zr2 、Cr85Mo13Zr
2 、及びCr80Mo18Zr2 の順に膜が形成されるよう
に基板をRFマグネトロン装置内で順次搬送する。これ
によって、基板上に膜厚1500オングストロームの下
地層を形成した。このようにして、Mo濃度が異なるタ
ーゲットに対して基板を順次搬送することによって、下
地層では上方に向かって順次Mo濃度が増加することに
なる。その後、実施例62と同様に下地層上に順次磁性
層、保護層、及び潤滑層を形成して磁気ディスクを得
た。そして、実施例62と同様にして保磁力、記録再生
出力、及び媒体ノイズを測定した。その結果、保磁力、
記録再生出力、及び媒体ノイズはそれぞれ2630O
e、225μV、及び4.88μVrmsであった。
【0062】このように、順次Mo濃度が増加する複数
の膜を用いて下地層を形成するようにしても良好な磁気
特性が得られる。
【0063】なお、上述の実施例では下地層において基
板から磁性層に向う方向にMo濃度を増加させるように
したが、Moに限らず、Cr又はZr濃度を変化させる
ようにしてもよい。
【0064】以上の実施例から明らかなように、下地層
としては少なくともCr及びMoが含まれることが必要
であり、例えば、下地層がCrと及びMoで構成させる
場合、十分な保磁力を得るためには、その割合はCr
100-x Mox (1≦x≦90)であることが望ましく、
特に、10≦x≦80であることが好ましい。
【0065】また、磁性層としては少なくともCo及び
Ptが含まれることが必要であり、例えば、磁性層がC
o及びPtで構成される場合、十分な保磁力を得るため
には、その割合はCo100-y Pty (5≦y≦30)で
あることが望ましい。
【0066】さらに、磁性層にCo及びPtの他にMo
を添加すると、残留磁化(Mr)が低下する傾向にある
けれども、媒体ノイズが低減されてS/N比が高くな
る。残留磁化の低減による出力の低下を必要最小限に抑
えるためには、Co、Pt、及びMoの割合は、Co
100-y-z Pty Moz (at%)(5≦y≦30、0<
z≦30)であることが望ましく、特に、5≦y≦3
0、5≦z≦20であることが好ましい。
【0067】加えて、上述の実施例から明らかなよう
に、下地層にはさらに他の成分を添加してもよい。例え
ば、W、B、V、Nb、Ta、Fe、Ni、Re、C
u、Zr、Zn、P、Si、Ga、Ge、Hf、Al、
及びTiのうち少なくとも一種をさらに含有するように
してもよい。そして、十分な保磁力を得るためには、こ
れら添加成分の添加量は30at%以下とすることが望
ましい。Cu、Zr、B、Zn、Ta、及びNbを添加
することによって媒体ノイズが低減できる(つまり、S
/N比を高くすることができる)。特に、Zrを添加す
ることによって、媒体ノイズ低減上の効果が大きい。
【0068】また、磁性層には、例えば、Ta、B、C
r、O、N、Nb、Mn、Zn、W、Pb、Re、V、
及びZrのうち少なくとも一種を添加するようにしても
よい。そして、十分な保磁力を得るためには、これら添
加成分の添加量は30at%以下とすることが望まし
い。
【0069】上述の実施例では非磁性基板としてガラス
基板を用いたが、非磁性であれば特に限定する必要はな
く、例えば、結晶化ガラス基板及びアルミニウム基板も
用いることができる。
【0070】保護層を形成する場合には保護層の種類は
特に限定されず、単層又は複層からなる保護層を設けて
もよい。この保護層としては、例えば、酸化ケイ素(S
iO2 )、カーボン(C)、酸化ジルコニウム(ZrO
2 )、窒化ケイ素(Si3 4 )、窒化ホウ素(B
N)、クロム(Cr)、及びクロムモリブデン合金(C
rMo)が用いられるが、特に、下地層と同一の組成を
有する保護層、例えば、Cr及びMoを含む金属を用い
ることが拡散効果を磁性層の上下から発生させる点にお
いて望ましい。
【0071】潤滑層を形成する際には潤滑層の種類は特
に限定されず、例えば、パーフルオロポリエーテル、脂
肪酸、脂肪酸アミド、脂肪酸エステル、及びフルオロカ
ーボンを単品又は混合物として用いてもよい。
【0072】
【発明の効果】以上説明したように、本発明による磁気
記録媒体では保磁力及び残留磁化膜厚積を高くすること
ができるばかりでなく耐腐食性を高くすることができる
という効果がある。特に、磁性層にCo、Pt、及びM
oを含むことによって、高線記録密度において高記録再
生出力が得られるばかりでなく媒体ノイズを低減させる
ことができる。この結果、高線記録密度において記録再
生時のS/N比を向上させることができるという効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による磁気記録媒体の一実施例を示す断
面図である。
【図2】本発明による磁気記録媒体において磁性層とし
てCo82Pt18(◎)及びCo74Pt18Mo8 (○)
(at%)を用い下地層(CrMo)におけるMo含有
量を変化させた際の保磁力の変化を示す図である。
【図3】本発明における磁気記録媒体において磁性層と
してCo74Pt18Mo8 (at%)を用い下地層(Cr
MoZr)を用いMoを9at%(◇)及び18at%
(◆)として下地層におけるMo含有量を変化させた際
の保磁力の変化を示す図である。
【図4】耐蝕性試験における試験時間と飽和磁化との関
係を示す図である。
【符号の説明】
1 ガラス基板 2 下地層 3 磁性層 4 保護層 5 潤滑層 6 磁気記録媒体
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 野沢 順 東京都新宿区中落合2丁目7番5号 ホー ヤ株式会社内

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 非磁性基板と、該非磁性基板上に形成さ
    れた下地層と、該下地層上に形成された磁性層とを有す
    る磁気記録媒体であって、前記下地層にはCrが含まれ
    るとともに組成比で1乃至90at%のMoを含み、前
    記磁性層にはCoが含まれるとともに組成比で5乃至3
    0%のPtを含んでおり、かつ、前記下地層の(11
    0)面における格子間隔と前記磁性層の(002)面に
    おける格子間隔とは保磁力が1750Oe以上となるま
    でに接近していることを特徴とする磁気記録媒体。
  2. 【請求項2】 請求項1に記載された磁気記録媒体にお
    いて、前記磁性層にはさらにMoが含まれていることを
    特徴とする磁気記録媒体。
  3. 【請求項3】 請求項2に記載された磁気記録媒体にお
    いて、前記磁性層にはさらにTa,B,Cr,O,N,
    Nb,Mn,Zn,W,Pb,Re,V,及びZrのう
    ち少なくとも一種が含まれていることを特徴とする磁気
    記録媒体。
  4. 【請求項4】 請求項1乃至3のいずれかに記載された
    磁気記録媒体において、前記下地層にはさらにW,B,
    V,Nb,Ta,Fe,Ni,Re,Cu,Zr,Z
    n,P,Si,Ga,Ge,Hf,Al,及びTiのう
    ち少なくとも一種が含まれていることを特徴とする磁気
    記録媒体。
  5. 【請求項5】 請求項1乃至4のいずれかに記載された
    磁気記録媒体において、前記下地層では前記非磁性基板
    から前記磁性層に向かう方向にMo濃度が増加するよう
    にしたことを特徴とする磁気記録媒体。
  6. 【請求項6】 請求項1乃至5のいずれかに記載された
    磁気記録媒体において、前記磁性層上にはさらに保護層
    が形成されており、該保護層にはCr及びMoが含まれ
    ていることを特徴とする磁気記録媒体。
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