JPH11344451A - ガラス壜口部のびり検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【課題】 良品破棄を確実に減少させて、びりの検査精
度を向上できるガラス壜口部のびり検査装置を提供す
る。 【解決手段】ガラス壜の口部１に対する複数個の投光器
２１〜３２による照射光の照射領域Ｓを一箇所に定め、
照射光Ｌを互いに異なる方向から照射領域に集光させる
ようにする一方、スライドブロックに、口部に生じるび
りで反射した反射光Ａ、口部に形成されるモールドの合
わせ部による継ぎ目で反射した反射光Ｂおよび口部を透
過した直接光Ｃをレンズ６４を介して検知する受光セン
サー２を有する複数個の受光器５１〜５８を設け、更
に、複数個の投光器を順次繰り返し投光状態に切り換え
させる投光器制御部４６と、各反射光および直接光をデ
ータとして取り込むよう投光状態において複数個の受光
器を常時作動させる受光器制御部４７とを設けて成る。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】この発明は、ガラス壜口部の
びり検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】ガラス壜の製造に際して、その口部の肉
厚内にひび割れのような所謂びりや気泡が生じることが
ある。この内の気泡については、小さなものは製品上で
何ら問題はないこともあるが、上記のびりはガラス壜の
破損に繋がる重大な欠陥であることから、びりの存否検
査が光学的に行われている。

【０００３】ガラス壜の口部に生じるびりの種類は、単
純なねじ口、王冠口だけでも多数ある。そして、例えば
前記単純なねじ口においては縦びり、横びり等の数種類
のびりが存在するが、この縦びり、横びり等のびりの存
否を種類毎に光学的に検査するのに、従来は、以下のよ
うに行っていた。すなわち、搬送経路の途中でガラス壜
の搬送を間欠的に停止させると共に、その停止位置でガ
ラス壜を回転させるようにした状態で、この回転するガ
ラス壜の口部に向けて光を照射する投光器を搬送経路の
幅方向一側に配置する一方、ガラス壜の口部のびりで全
反射した反射光を検知する受光器を搬送経路の幅方向他
側に設け、前記受光器が反射光を受けた際の出力を基に
して例えば縦びりの存否を検査するようにしていた。

【０００４】ところで、上記のびりは方向性なく生じる
ものであることから、以下の点を考慮してびりの検査を
行う必要があった。すなわち、 びりが光るのは全反射によるものであるから、光る
限界がある。 びりによる反射光が外部に出ないことがある。

【０００５】このことから従来では、例えば縦びりの存
否を検査するに当たり検査精度を高くするために、各々
１つの投光器と受光器を一組とした上で複数組の投光器
と受光器を設けている。そして、各組毎に投光器の投光
方向と受光器の受光方向をそれぞれ異ならせて、かつ、
縦びりが検出し易いように複数組の配置を考慮して各種
の光学条件の下で縦びりの検査を行えるようにしてい
る。

【０００６】

【発明が解決しようとする課題】しかし、以下の問題が
ある。 投光器と受光器の組み合わせは非常に多くなるか
ら、１つの場所で検出しようとすると、口部を透過した
直接光を検出してしまう。 縦びり以外の全反射があってもこれを検出してしま
う。例えば、ガラス壜の口部に形成されるモールドの合
わせ部による継ぎ目で全反射した反射光も検出され、良
品のガラス壜を不良品であるとする判断が成される場合
がある。 複数個の投光器を同時点灯する場合、つまり、照射
光を多方向から同時に照射する場合は、照射光が互いに
干渉しあい検出率が落ちるとともに、口部に生じている
小さな気泡までも過剰に光り、検査精度が悪くなる。そ
の対策として、場合に応じて複数個の投光器および受光
器のうち、一部の投光器と受光器とをＯＦＦにしたり、
検出感度を落としたりすると、肝心の縦びりの検出に必
要な組み合わせが無くなる可能性がある。その結果、や
はり検出率が悪くなるというジレンマに陥る。

【０００７】ところで、本出願人は縦びりの検査に適す
るよう投光器と受光器を配置したガラス壜口部の欠陥検
査装置（特願平３−０８３０８４号）を提案したが、た
とえ上述した問題点を克服できたとしても、（Ａ）複数
組の配置によって得られる結果は、縦びりの存否だけで
あった。つまり、例えば口部の上中下の位置にこの順で
生じる上部の縦びり（上縦びり）、中間の縦びり（中縦
びり）、下部の縦びり（下縦びり）、等の縦びりの中身
まで区別して検出できなかった。更に、（Ｂ）従来で
は、受光器に取り込まれた検出信号に含まれるノイズに
よる影響を低減しなければ縦びりを選別できないので、
受光器の後段に設けた信号処理部で前記検出信号に相当
するデータの微分処理を施す必要があった。つまり、前
記データに現出する縦びり毎に縦びりの信号に相当する
傾きを持っているから、時間微分を行って前記ノイズを
削除して、縦びり信号のみを残す処理をする必要があっ
た。

【０００８】この発明は、上述の事柄に留意してなされ
たもので、その目的は、良品破棄を確実に減少させて、
びりの検査精度を向上できるガラス壜口部のびり検査装
置を提供することである。

【０００９】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、この発明は、ガラス壜の搬送経路途中に、順次搬送
されて来るガラス壜を定位置で且つ壜中心まわりで回転
させる壜回転手段と、前記搬送経路の幅方向ならびに上
下方向に位置変更自在なスライドブロックを設け、この
スライドブロックに、前記定位置で回転するガラス壜の
口部に向けて光を照射する複数個の投光器を取り付ける
と共に、ガラス壜の口部に対する当該複数個の投光器に
よる照射光の照射領域を一箇所に定め、当該照射光を互
いに異なる方向から前記照射領域に集光させるようにす
る一方、前記スライドブロックに、前記口部に生じるび
りで反射した反射光、前記口部に形成されるモールドの
合わせ部による継ぎ目で反射した反射光および前記口部
を透過した直接光をレンズを介して検知する受光センサ
ーを有する複数個の受光器を設け、更に、前記複数個の
投光器を順次繰り返し投光状態に切り換えさせる投光器
制御部と、前記各反射光および直接光をデータとして取
り込むよう前記投光状態において前記複数個の受光器を
常時作動させる受光器制御部とを設けて成り、しかも、
前記各受光センサーを、前記口部の上下位置に対応する
ように予め分割された複数個の受光エレメントからなる
ダイオードアレイで構成するとともに、前記継ぎ目で反
射した反射光として取り込まれたデータおよび前記口部
を透過した直接光として取り込まれたデータをそれぞれ
削除するよう構成されていることを特徴とする。

【００１０】上記の特徴的構成によれば、ガラス壜の口
部における例えば縦びりを検査する場合に、複数個の投
光器が順次投光状態に切り換えられて、ガラス壜の口部
に向けて互いに異なる複数方向から、照射光が、検査部
位である前記一箇所の照射領域に照射されることで、前
記縦びりの存否が一挙に多点検査される。

【００１１】つまり、この発明では、図１、図３に示す
ように、定位置でＲ方向に回転するガラス壜３の口部１
に対して複数個（例えば１２個）の投光器２１〜３２に
よる照射光Ｌの照射領域Ｓを一箇所に定め、当該照射光
Ｌを互いに異なる方向から照射領域Ｓに集光させるよう
にしている訳であるが、例えば、前記びり検査部Ｄ（図
４参照）においてガラス壜３が壜中心Ｐまわりで連続的
に一回転される間に、例えば図７に示すような順次点灯
タイミングで投光器２１〜３２が、順次１個ずつ瞬時的
に投光状態に切り換えられることが、３６０度にわたっ
て繰り返し行われる。

【００１２】そして、その都度、前記照射領域Ｓに向け
て互いに異なる複数方向から１２個の照射光が照射領域
Ｓに重なる口部１の位置に順次照射される。この場合、
照射領域Ｓを例えば矩形状に設定し、かつ照射領域Ｓの
横幅（照射幅）Ｘを５ｍｍに設定すると、周長１ｍｍ分
のピッチ毎で点灯タイミングを切り換える。すなわち、
ガラス壜３の回転移動する周長よりも照射幅Ｘを大きく
したから、照射領域Ｓを通過するガラス壜３の口部１に
非照射部分がないようにガラス壜３の口部１に対して照
射光Ｌを照射できる。なお、図１、図３において、Ｙは
矩形状の照射領域Ｓの縦の長さである。

【００１３】そして、例えば、図７に示す点灯タイミン
グクロックａ₁ 〜ａ₁₂によって第１回目の縦びりの検査
が行われ、この検査エリアからのデータ採取処理を行
う。続いて、口部１における次の検査エリアが照射領域
Ｓに重なったとき点灯タイミングクロックｂ₁ 〜ｂ₁₂に
よって第２回目の縦びりの検査が行われ、この検査エリ
アからのデータ採取処理を行う。以下同様にして、ガラ
ス壜３の口部１の一周分にわたってデータ採取処理を行
う。

【００１４】この発明では、上記のように、投光器によ
る照射光の点灯タイミングとして同時投光方式ではなく
順次投光方式を採用しているので、照射光が互いに干渉
しあって検出率が落ちたり、口部に生じている小さな気
泡までも過剰に光って検査精度が悪くなるといった事態
を回避できる。なお、図３において、５１〜５８は複数
個の受光器（カメラ）である。

【００１５】また、この発明では、投光状態で受光器５
１〜５８の全てを常にＯＮにしていることにより起こる
不都合を解決できる。例えば縦びりで反射した反射光は
勿論のこと、ガラス壜の回転に伴って前記継ぎ目が前記
照射領域Ｓに達した際に、この継ぎ目で反射した反射光
および前記口部を透過した直接光までもが、受光器５１
〜５８によってキャッチされてしまうことによって、良
品のガラス壜を不良品であるとする判断が成される不都
合を回避できる。

【００１６】つまり、この発明は、前記継ぎ目で反射し
た反射光として取り込まれたデータおよび前記口部を透
過した直接光として取り込まれたデータをそれぞれ削除
するよう構成しているので、上記の不都合が確実に解消
され、これによって縦びり検査が正確に行われる。

【００１７】しかも、受光器５１〜５８が持っている各
受光センサー２を、前記口部の上下位置に対応するよう
に予め分割された複数個の受光エレメント１１〜１８か
らなるダイオードアレイで構成したので、びりの中身ま
で区別して検出できる。

【００１８】すなわち、図１において、照射領域Ｓに重
なる口部１の上中下の位置に、この順で上縦びりａ、中
縦びりｂ、下縦びりｃが生じている場合、従来では、縦
びりが存在していると判断されるだけで上縦びりａ、中
縦びりｂ、下縦びりｃの選別ができなかったが、この発
明では、図１、図２において、例えば受光器５３の受光
センサー２における複数個の受光エレメント１１〜１８
のうち、上縦びりａで全反射した反射光Ａが例えば受光
エレメント１８で受光され、中縦びりｂで全反射した反
射光Ｂが受光エレメント１４で受光され、下縦びりｃで
全反射した反射光Ｃが受光エレメント１１で受光され
る。よって、上縦びりａ、中縦びりｂ、下縦びりｃを区
別して検出できる。

【００１９】このため、この発明で用いる例えば１２個
の投光器２１〜３２は、それぞれ、図２に示す例えば投
光器３１のように、複数の半導体発光素子（ＬＥＤ：Li
ghtEmitting Diode）６０と、コンデンサレンズを含む
集光用レンズ系６１と、レンズ系６１に介装されたスリ
ット６２とが、分割可能な一対の筒状の筐体６３，６３
内に設置されて構成される。また、この発明の受光器５
１〜５８としてダイオードアレイカメラが用いられる。
このダイオードアレイカメラ５１〜５８は、それぞれ、
複数個の受光エレメント１１〜１８からなるダイオード
アレイで構成された受光センサー２と、反射光Ａ，Ｂ，
Ｃの通過孔６５を有する筒状の筐体６６と、集光用レン
ズ系６４とで構成される。この集光用レンズ系６４は、
反射光Ａ，Ｂ，Ｃを受けて反射光Ａが受光エレメント１
８で受光するよう、また、反射光Ｂが受光エレメント１
４で受光するよう、更には、反射光Ｃが受光エレメント
１１で受光可能なように前記筐体６６内に設置される。
そして、予め分割された複数個の受光エレメント１１〜
１８は前記口部１の上下位置に対応するように設置さ
れ、しかもダイオードアレイカメラ５１〜５８の信号出
力は、パラレルのために高速応答が得られる。この場
合、前記ガラス壜口部の欠陥存在位置をより正確に検出
するために、前記受光エレメント１１〜１８を８分割し
て、データ処理を８ビットで行えるように構成するのが
より好ましい。

【００２０】更に、この発明では、各受光センサー２の
受光面が、分割された受光エレメント１１〜１８で構成
されているから、ノイズの領域を小さくできる。よっ
て、従来施されていたような受光器に取り込まれた検出
信号に相当するデータの微分処理は不要である。

【００２１】

【発明の実施の形態】以下、この発明の一実施形態につ
いて説明する。図１および図２は、例えば上縦びりａ、
中縦びりｂ、下縦びりｃ等の縦びりの存否の検査を行う
ために用いられる光学的原理の説明図で、図３〜図６
は、びり検査装置の詳細を示す。

【００２２】図１〜図６において、図示しないインフィ
ードホイールによってコンベアから順次取り出されたガ
ラス壜３は、メインのスターホイール３３によって、間
欠移送されて順次びり検査部Ｄに搬送される。そして、
検査後のガラス壜３は、前記スターホイール３３によっ
て、テイクアウトホイールを介してコンベア１に戻され
る。前記スターホイール３３は、周部に壜導入部が形成
された二枚のホイール板３４を適宜間隔を置いて回転軸
に設けて成る。

【００２３】３５はターンテーブル３６とモータ３７か
ら成る壜回転手段で、びり検査部Ｄに設けられている。

【００２４】尚、前記スターホイール３３は、それの壜
導入部がターンテーブル３６に対応位置する度に間欠的
に駆動が停止されるように構成されていて、当該スター
ホイール３３の間欠駆動停止の間に、定位置で前記ガラ
ス壜２を壜中心Ｐまわりで回転させるように構成されて
いる。

【００２５】３８はびり検査部Ｄに配置されたガラス壜
３の口部１のびり検査装置で、上下方向に位置変更固定
自在な昇降部材３９を備えたポスト４０を、前記スター
ホイール３３による壜搬送経路の外側に立設すると共
に、前記壜搬送経路を横断させる状態で前記昇降部材３
９に水平ガイド４１を延設し、かつ、この水平ガイド４
１に沿って位置変更固定自在にスライドブロック４２を
設けると共に、当該スライドブロック４２にそれぞれ、
上述した構成の複数個の投光器２１〜３２と、上述した
ように、ダイオードアレイカメラとして機能する受光器
５１〜５８を設けて成る。この実施形態では、縦びり
ａ，ｂ，ｃが検出し易いように投光器２１〜３２と受光
器５１〜５８を対向配置している。また、この実施形態
では、検査対象の口部１として、図８に示すようなピル
ファープルーフキャツプ用の最も一般的な単純なねじ口
形状のものを採用している。

【００２６】詳しくは、前記スライドブロック４２に対
して壜搬送経路の幅方向一側に、投光器用ブラケット４
３を、それぞれ所定角度を隔てて設けると共に、前記定
位置で回転するガラス壜３の口部１の外面に向けて、斜
め上方から、斜め下方から、更に水平方向から、それぞ
れ照射光Ｌを照射させるように、投光器２１〜３２を各
ブラケット４３に取り付け、かつ、当該複数個の投光器
２１〜３２による照射光Ｌを、前記口部１と重なる照射
領域Ｓに集光させるようにしてある。

【００２７】より具体的には、図３および図５におい
て、例えば１２個の投光器２１〜３２のうち、２個の投
光器２８，３２の投光方向を斜め上方に向け、２個の投
光器２６，３１の投光方向をほゞ水平に向け、残りの投
光器の投光方向を斜め下方に向けてある。

【００２８】一方、スライドブロック４２に対して壜搬
送経路の幅方向他側に、例えば８個の受光器５１〜５８
を設けている。この場合、受光器用ブラケット４４を、
それぞれ所定角度を隔てて設けると共に、口部１で反射
した反射光を検知させるように、受光器５１〜５８を各
ブラケット４４に設けてある。なお、受光器５１〜５８
は、受光器５１〜５８のうち例えば１個単独のものや２
個を一組としたものが各ブラケット４４に取り付けられ
ている。

【００２９】４５は口部１のびり存否検出手段で、受光
器５１〜５８がキャッチした光量を基にして口部１にお
ける上縦びりａ、中縦びりｂ、下縦びりｃの存否を検出
する。４６は投光器２１〜３２を順次１個ずつ繰り返し
投光状態に切り換えさせる投光器制御部である。

【００３０】４７は受光器制御部であって、口部１に前
記各縦びりａ，ｂ，ｃが生じている場合には縦びりａ，
ｂ，ｃで反射した反射光Ａ，Ｂ，ＣをデータＤ₁ として
取り込むように前記投光状態において全ての受光器５１
〜５８を常時作動させる。このため、口部１に形成され
るモールドの合わせ部による継ぎ目で反射した反射光お
よび口部１を透過した直接光もそれぞれデータＤ₂ ，Ｄ
₃ として取り込まれることになる。

【００３１】そして、この発明では、受光器５１〜５８
の全てを光検知状態にしているので、継ぎ目で反射した
反射光および口部１を透過した直接光までもが、受光器
５１〜５８によってキャッチされてしまって、前記継ぎ
目はびりではないにもかかわらず、前記びり存否検出手
段４５が良品であるはずのガラス壜３を不良品であると
する判断が成されてしまうという不都合を未然に防止す
るために、検出モニター画面からのマスキング操作が行
えるようになっている。

【００３２】例えば、前記２種類のデータＤ₂ ，Ｄ₃ を
それぞれ削除するためのマスクデータＭが予め作成され
ている。そして、前記継ぎ目からの反射光で不良ガラス
壜として処理しないために、びり検査装置３８の運転中
において、検出モニターの１画面に現われた、投光器２
１〜３２、受光器５１〜５８の組み合わせによる取り込
みデータＤ₁ ，Ｄ₂ ，Ｄ₃ にマスクデータＭを重ねるこ
とによって、マスキング操作を行う。

【００３３】例えば、口部１にビリが存在せず且つ前記
継ぎ目に気泡が存在するところの、製品として問題にな
らない程度の良品のガラス壜をびり検査装置３８にセッ
トし、かつ、当該ガラス壜の最も条件の悪い検査箇所に
順次照射光を照射させて、その際に反射光を受けた受光
器と投光器の組み合わせを見渡し、どの組み合わせの受
光器が前記継ぎ目に反応しているのかを確認する。一
方、どの組み合わせの受光器が前記直接光に反応してい
るのかも確認してマスクデータＭを作成する。これによ
り、検出モニター画面からのマスキング操作で前記２種
類のデータＤ₂ ，Ｄ₃ を削除できる。

【００３４】更に、この発明では、受光器５１〜５８の
各受光センサー２の受光エレメント１１〜１８を８分割
して、データ処理を８ビットで行えるように構成してあ
るので、ダイオードアレイカメラ５１〜５８の信号出力
は、パラレルのために高速応答が得られる。つまり、こ
の発明は、投光器２１〜３２の点灯タイミング（図７参
照）とダイオードアレイカメラとして機能する受光器５
１〜５８の個々の組み合わせによる信号解析により、例
えば上縦びりａ、中縦びりｂ、下縦びりｃの存否の検査
を行う訳であるが、前記信号出力をデータ処理部へ８つ
のデータバスで送出できるので、従来例で用いた受光セ
ンサーのみならず、受光センサーとして例えば１ビット
でデータ処理を行うＣＣＤに比して、データの転送時間
をより短縮できる利点を有する。

【００３５】上記の構成によれば、前記びり検査部Ｄに
おいてガラス壜３が壜中心Ｐまわりで連続的に一回転さ
れる間に、例えば周長１ｍｍ分のピッチ毎で複数個の投
光器２１〜３２が順次１個ずつ瞬時的に投光状態に切り
換えられること、つまり、ガラス壜３の口部１に対して
空白がないように投光することが、３６０度にわたって
繰り返し行われ、その都度、口部１に向けて互いに異な
る複数方向から照射光が照射される。すなわち、びり検
査を行うにあたり、投光器２１〜３２からの照射光Ｌの
投光方向を口部外面に向けて、互いに異なる複数方向か
らその照射光Ｌを一箇所Ｓに集中させており、前記一箇
所Ｓを通過する周長１ｍｍ分のピッチに相当する口部１
に対して投光器２１から順次１個ずつ投光器３２まで照
射光Ｌを連続的に照射し、投光の空白がないよう、続く
周長１ｍｍ分のピッチに相当する口部１にも同様に前記
一箇所Ｓを通過する間にその口部１に対して投光器２１
から順次１個ずつ投光器３２まで照射光Ｌを連続的に照
射することを３６０度にわたって繰り返し行う。

【００３６】そして、口部１に上縦びりａ、中縦びり
ｂ、下縦びりｃが存在すると、当該縦びりａ，ｂ，ｃか
らの反射光Ａ，Ｂ，Ｃが受光器５１〜５８で受光され、
これを基にしてびり存否検出手段４５から縦びりａ，
ｂ，ｃが存在しているという情報が出力されるのであ
り、この口部１の縦びり検査は、ガラス壜３の回転に伴
って連続的に且つ多点にわたって行われる。つまり、ガ
ラス壜３の口部１における縦びりａ，ｂ，ｃの存否が一
箇所Ｓで一挙に多点検査される。

【００３７】なお、投光器２１〜３２からの照射光Ｌの
投光方向を口部外面に向けて、その照射光Ｌを一箇所Ｓ
に集中させているが、照射光Ｌの投光方向を口部内面近
傍の一箇所に向ける構成にして実施可能である。また、
びりの種類に対応させて投光器、受光器の配置を適宜に
設定できる。また、上記実施形態では縦びりについて検
査したが、この発明では、設定パターンを変更すること
で縦びり以外の他の種類のびりも任意に検査できる。

【００３８】また、検査対象の口部も、図９〜図１３に
示す形状の口部に適用できる。図９は王冠口を、図１０
はリップ口を、図１１はピルファープルーフキャツプ用
のディープ口を、図１２はストップ口を、図１３はコル
ク口を、それぞれ示す。また、図８〜図１３において、
Ｓは、上述したように、矩形状の照射領域を示す。

【００３９】以下、前述したびり存否検出手段４５およ
び受光器制御部４７を含むデータ採取処理機構と、前述
した投光器制御部４６を含む投光機構について図１４〜
１６を用いて簡単に説明する。

【００４０】図１４において、７０はカメラ本体で、８
個の受光器５１〜５８で検出された前記データＤ₁ ，Ｄ
₂ ，Ｄ₃ を基にして、検出データＤを作成する。９０は
データ処理部で、前記検出データＤがまとまった段階で
検出データＤの全ての仕分けを行う。そして、検査中は
カメラ本体７０のみが作動する。また、検査終了後は、
全ての検出データＤはデータ処理部９０に吸い上げら
れ、記憶される。検出データＤは、８ビットのデータと
してカメラ本体７０から検出データラインＬ₁ を介して
データ処理部９０へ出力される。そして、このデータ処
理部９０でガラス壜口部１の良・不良の判定を行い、そ
の結果をパソコン９１の検出モニター画面に表示する。

【００４１】このパソコン９１には、予め、びりが種類
別にファイルされている。例えば、ガラス壜口部１の上
中下の位置にこの順で生じる上縦びりａ、中縦びりｂ、
下縦びりｃの有無の欄が、縦びりのファイルを呼び出す
ことで検出モニター画面に表示される。

【００４２】また、パソコン９１からコントローラ９０
ａへ送り込まれた検出データＤと、検査対象のガラス壜
３の種類に応じて予め作成されているマスクデータＭと
の照合も検出モニター画面からのマスキング操作で行わ
れる。

【００４３】また、図１５はカメラ本体７０の全体構成
を示す。そして、図１６には、カメラ本体７０の構成要
素の１つであるダイオードアレイカメラとしての８個の
受光器５１〜５８（カメラ１〜カメラ８）のうち、例え
ば受光器５３に設けた受光センサー２でキャッチしたデ
ータの送出経路が示されている。

【００４４】図１６において、６９は受光エレメント１
１の信号ラインである。この受光エレメント１１は、受
光器５３の受光センサー２を構成する８つの受光エレメ
ント１１〜１８のうちの１つである。

【００４５】この信号ライン６９には、プリアンプ（８
チャンネル）７１およびアナログ系の信号処理機構〔例
えばハイパスフィルタ（８チャンネル）７２、ローパス
フィルタ（８チャンネル）７３、コンパレータ７４，７
５，７６〕が設けられている。そして、口部１に前記各
縦びりａ，ｂ，ｃが生じている場合には縦びりａ，ｂ，
ｃで反射した反射光Ａ，Ｂ，Ｃに比例した電流出力（デ
ータ信号）Ｄ₁ が信号ライン６９に出力される。この場
合、投光状態において全ての受光器５１〜５８を常時作
動させているため、口部１に形成されるモールドの合わ
せ部による継ぎ目で反射した反射光に比例した電流出力
（データ信号）Ｄ₂ および口部１を透過した直接光に比
例した電流出力（データ信号）Ｄ₃ も信号ライン６９に
出力される。

【００４６】前記プリアンプ７１によって適当に増幅お
よび波形整形された後、ハイパスフィルタ７２、ローパ
スフィルタ７３を通ったデータ信号Ｄ₁ ，Ｄ₂ ，Ｄ
₃ （以下、単に検査データという）は、これら１組でそ
れぞれ３つのコンパレータ７４，７５，７６に送出され
る。

【００４７】そして、コンパレータ７４からは、不良で
はない良信号（青信号）Ｘ₁ （検査データに対応する）
がプリメモリ部７７で一時記憶された後まとまった段階
でメインメモリ部７８に送出される。また、コンパレー
タ７５からは、不良信号（黄信号）Ｙ₁ （検査データに
対応する）がプリメモリ部７９で一時記憶された後まと
まった段階でメインメモリ部８０に送出される。更に、
コンパレータ７６からは、前記不良信号Ｙ₁ よりも強い
光量の反射光を受けた不良信号（赤信号）Ｚ₁（検査デ
ータに対応する）がプリメモリ部８１で一時記憶された
後まとまった段階でメインメモリ部８２に送出される。

【００４８】前記プリメモリ部７７，７９，８１は、図
１５に示す投光器２１〜３２からのタイミングクロック
ｂ₁ 〜ｂ₁₂の点灯によって第２回目の検査が行われるま
でに、同じく投光器２１〜３２からのタイミングクロッ
クａ₁ 〜ａ₁₂の点灯による第１回目の検査データを一時
記憶しておくためのものである。以後も照射領域Ｓを通
過するガラス壜３の口部１に非照射部分がないようにガ
ラス壜３の口部１に対して照射光Ｌを照射して行き、投
光器２１〜３２による第３回目の検査データ、第４回目
の検査データ…を順次プリメモリ部７７，７９，８１に
一時記憶させて行く。そして、ガラス壜３の口部１の少
なくとも一周分にわたって検査データを取る。なお、図
１５において、１０１はロジック回路である。

【００４９】上述したように８個の受光器５１〜５８全
てを常時作動させているため、例えば、第２回目の検査
において、８個の受光器５１〜５８に例えば投光器２１
からのタイミングクロックｂ₁ が来ると、受光器５１〜
５８の側では、８（受光器の数）×８（受光エレメント
の数）×３（コンパレータの数）の検査データ（Ｘ₁，
Ｙ₁ ，Ｚ₁ 、Ｘ₂ ，Ｙ₂ ，Ｚ₂ 、〜、Ｘ₆₄，Ｙ₆₄，
Ｚ₆₄）がプリメモリ部７７，７９，８１に一時記憶さ
れ、その後、前記検査データがまとまってメインメモリ
部７８，８０，８２に記憶される。続いて、投光器２２
からのタイミングクロックｂ₂ が来ると、プリメモリ部
７７，７９，８１のアドレスの異なる場所に、８×８×
３個のデータがまとまって一時記憶されるという構成を
とっている。この動作を１２個目の投光器３２まで行っ
て、点灯タイミングクロックｂ₁ 〜ｂ₁₂による第２回目
の検査が全て完了する。

【００５０】この第２回目の検査によって得られた、６
４×１２（投光器の数）×３（コンパレータの数）個の
検査データが、メインメモリ部７８，８０，８２におい
て、タイミングクロックａ₁ 〜ａ₁₂の点灯による第１回
目の検査データと照合され、かつ、両検査データの和を
とることで記憶される。要するに、メインメモリ部７
８，８０，８２はＯＲ回路で構成されている。以後、同
様にして、第３回目の検査データも、メインメモリ部７
８，８０，８２において、第１回目および第２回目の検
査データと照合される。そして、第１回目および第２回
目の検査データとの和をとることで第３回目の検査デー
タもメインメモリ部７８，８０，８２に記憶される。以
後同様の動作でガラス壜３の口部１の一周分にわたって
データ採取処理が行われる。

【００５１】なお、図１６において、９３はコントロー
ル信号バスで、メインロジック回路９４とメインメモリ
部７８，８０，８２間に設けられている。このコントロ
ール信号バス９３では、メインメモリ部７８，８０，８
２への読取・書込のコントロールデータの要求が行われ
る。そして、メインロジック回路９４とマイクロコンピ
ュータ（図１４参照）９２間にはロジックコントロール
信号ラインＬ₂ が設けられている。９５はデータバス、
９６はアドレスバス、９９はＤＡコンバータ、９８は、
駆動手段９７によって駆動される投光器ドライバで、メ
インロジック回路９４で点灯タイミングクロックａ₁ 〜
ａ₁₂、ｂ₁ 〜ｂ₁₂…と投光器２１〜３２のパワーがコン
トロールされる。なお、図１４、図１５において、符号
Ｌ₃ は基準クロックライン、符号Ｌ₄ は設定データライ
ン、符号Ｌ₅ はゲート、符号Ｌ₆は、検査時のガラス壜
の有無を確認するラインである。

【００５２】上記構成では、検査結果が、青、黄、赤の
色表示で検出モニター画面に表示されるが、仮に、明ら
かにガラス壜口部１にびりがある不良品のガラス壜をサ
ンプル品として検査した結果、検出モニター画面には黄
または赤が色表示されるはずであるにもかかわらず、検
出モニター画面の色表示が実際、青であるデータが得ら
れた場合、感度を変更すべきか否かの検討を行える。勿
論、サンプル品が良品の場合に不良と判断される場合に
も感度調整の有無が問われることになり、メンテナンス
を向上できる。

【００５３】

【発明の効果】以上説明したようにこの発明では、ガラ
ス壜の口部に生じるびりの種類に応じて複数個の投光器
および複数個の受光器を配置するものであるが、受光器
の各受光センサーを、複数個の投光器による照射光を一
箇所の照射領域に集中させるとともに、前記口部の上下
位置に対応するように予め分割された複数個の受光エレ
メントからなるダイオードアレイで構成することから、
一箇所において、びりの中身まで区別して一挙に多点検
査できる。

【００５４】また、この発明では、投光器による照射光
の点灯タイミングとして同時投光方式ではなく順次投光
方式を採用し、前記口部に形成されるモールドの合わせ
部による継ぎ目で反射した前記反射光として取り込まれ
たデータおよび前記口部を透過した前記直接光として取
り込まれたデータをそれぞれ削除するよう構成し、受光
センサーの受光面が、分割された受光エレメントで構成
してあるので、ノイズの領域を小さくしながら検出率・
不良品破棄率ともに向上できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】この発明の一実施形態の光学的原理を説明する
ための斜視図である。

【図２】上記実施形態における光学的原理を説明するた
めの構成図である。

【図３】上記実施形態におけるガラス壜の口部に対する
投受光の説明用斜視図である。

【図４】上記実施形態のガラス壜口部のびり検査装置の
形態図である。

【図５】上記実施形態におけるガラス壜の口部に対する
投受光の説明用平面図である。

【図６】上記実施形態のガラス壜口部のびり検査装置の
平面図である。

【図７】上記実施形態における投光器の投光タイミング
を示す図である。

【図８】上記実施形態で用いたガラス壜口部を示す構成
図である。

【図９】この発明で検査可能なガラス壜口部の第１変形
例を示す構成図である。

【図１０】この発明で検査可能なガラス壜口部の第２変
形例を示す構成図である。

【図１１】この発明で検査可能なガラス壜口部の第３変
形例を示す構成図である。

【図１２】この発明で検査可能なガラス壜口部の第４変
形例を示す構成図である。

【図１３】この発明で検査可能なガラス壜口部の第５変
形例を示す構成図である。

【図１４】この発明におけるカメラ本体とデータ処理部
を示す構成図である。

【図１５】この発明におけるカメラ本体を示す構成図で
ある。

【図１６】この発明におけるカメラ本体の要部を示す構
成図である。

【符号の説明】

１…口部、２…受光センサー、３…ガラス壜、１１〜１
８…受光エレメント、２１〜３２…投光器、４６…投光
器制御部、４７…受光器制御部、５１〜５８…受光器、
６４…集光用レンズ系、Ａ…口部に生じるびりで反射し
た反射光、Ｂ…口部に形成されるモールドの合わせ部に
よる継ぎ目で反射した反射光、Ｃ…口部を透過した直接
光、Ｐ…壜中心。

Claims (6)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ガラス壜の搬送経路途中に、順次搬送さ
   れて来るガラス壜を定位置で且つ壜中心まわりで回転さ
   せる壜回転手段と、前記搬送経路の幅方向ならびに上下
   方向に位置変更自在なスライドブロックを設け、このス
   ライドブロックに、前記定位置で回転するガラス壜の口
   部に向けて光を照射する複数個の投光器を取り付けると
   共に、ガラス壜の口部に対する当該複数個の投光器によ
   る照射光の照射領域を一箇所に定め、当該照射光を互い
   に異なる方向から前記照射領域に集光させるようにする
   一方、前記スライドブロックに、前記口部に生じるびり
   で反射した反射光、前記口部に形成されるモールドの合
   わせ部による継ぎ目で反射した反射光および前記口部を
   透過した直接光をレンズを介して検知する受光センサー
   を有する複数個の受光器を設け、更に、前記複数個の投
   光器を順次繰り返し投光状態に切り換えさせる投光器制
   御部と、前記各反射光および直接光をデータとして取り
   込むよう前記投光状態において前記複数個の受光器を常
   時作動させる受光器制御部とを設けて成り、しかも、前
   記各受光センサーを、前記口部の上下位置に対応するよ
   うに予め分割された複数個の受光エレメントからなるダ
   イオードアレイで構成するとともに、前記継ぎ目で反射
   した前記反射光として取り込まれたデータおよび前記口
   部を透過した前記直接光として取り込まれたデータをそ
   れぞれ削除するよう構成されていることを特徴とするガ
   ラス壜口部のびり検査装置。
2. 【請求項２】 前記照射光が互いに異なる複数方向から
   前記照射領域に照射されることをガラス壜が一回転する
   まで繰り返し行う請求項１に記載のガラス壜口部のびり
   検査装置
3. 【請求項３】 前記投光器制御部は、前記複数個の投光
   器を順次１個ずつ繰り返し投光状態に切り換えさせる請
   求項１または請求項２に記載のガラス壜口部のびり検査
   装置
4. 【請求項４】 前記継ぎ目で反射した反射光として取り
   込まれたデータおよび前記口部を透過した直接光として
   取り込まれたデータをそれぞれ削除するためのマスクデ
   ータが予め作成されており、検出モニター画面からのマ
   スキング操作が可能なように構成してある請求項１ない
   し請求項３のいずれかに記載のガラス壜口部のびり検査
   装置。
5. 【請求項５】 投光器による照射光の周期を全ての投光
   器について同一に設定する一方、受光器へ取り込まれた
   前記データの選別が可能なように、照射光の位相を全て
   の投光器について異ならせてある請求項１ないし請求項
   ４のいずれかに記載のガラス壜口部のびり検査装置。
6. 【請求項６】 前記ガラス壜口部の欠陥存在位置をより
   正確に検出するため、前記受光エレメントを８分割し
   て、データ処理を８ビットで行えるように構成してある
   請求項１ないし請求項５のいずれかに記載のガラス壜口
   部のびり検査装置。