JPH11344448A - 検査領域作成方法 - Google Patents
検査領域作成方法Info
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- JPH11344448A JPH11344448A JP15031398A JP15031398A JPH11344448A JP H11344448 A JPH11344448 A JP H11344448A JP 15031398 A JP15031398 A JP 15031398A JP 15031398 A JP15031398 A JP 15031398A JP H11344448 A JPH11344448 A JP H11344448A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 複雑な画像処理を行うことなく簡易な方法
で、迅速かつ高精度に検査領域を作成する。 【解決手段】 検査対象物に対して所定の処理が施され
た特定領域のみを検査領域として抽出する検査領域作成
方法であって、処理前の検査対象物を撮像するステップ
Ｓ１と、撮像された画像から特定輝度の検査候補領域を
抽出するステップＳ２と、処理後の検査対象物を撮像す
るステップＳ３と、撮像された画像から検査候補領域の
輝度を測定するステップＳ４と、処理の前後における検
査候補領域の輝度を比較するステップＳ５と、検査候補
領域のうち、処理の前後において輝度が異なる領域を検
査領域として抽出するステップＳ６とを具備する。
で、迅速かつ高精度に検査領域を作成する。 【解決手段】 検査対象物に対して所定の処理が施され
た特定領域のみを検査領域として抽出する検査領域作成
方法であって、処理前の検査対象物を撮像するステップ
Ｓ１と、撮像された画像から特定輝度の検査候補領域を
抽出するステップＳ２と、処理後の検査対象物を撮像す
るステップＳ３と、撮像された画像から検査候補領域の
輝度を測定するステップＳ４と、処理の前後における検
査候補領域の輝度を比較するステップＳ５と、検査候補
領域のうち、処理の前後において輝度が異なる領域を検
査領域として抽出するステップＳ６とを具備する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、検査対象物、特
にプリント基板の検査領域を自動的に作成する検査領域
作成方法に関する。
にプリント基板の検査領域を自動的に作成する検査領域
作成方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】プリント基板のような検査対象物の検査
を自動的に行う方法については、多くの試みがなされて
いる。一般に、プリント基板のような検査対象物を検査
するには、プリント基板中の検査すべき領域を特定して
行われる。検査領域を特定せずにプリント基板全体を検
査することは非現実的でありかつ検査精度を低下させる
ことになるからである。
を自動的に行う方法については、多くの試みがなされて
いる。一般に、プリント基板のような検査対象物を検査
するには、プリント基板中の検査すべき領域を特定して
行われる。検査領域を特定せずにプリント基板全体を検
査することは非現実的でありかつ検査精度を低下させる
ことになるからである。
【０００３】したがって、一般的な検査装置では、カメ
ラによって撮像した画像を作業者がディスプレイで確認
しながら、逐一、検査領域を設定していく作業を行うこ
ととしている。この場合には、作業者は、ディスプレイ
上で、検査領域にすべきであると考えられる領域につい
て、検査用のウインドウを設定していく。また、カメラ
の撮像している区画の境界部分に検査すべき領域が存在
する場合には、作業者がその区画の位置を手動により変
更して、検査すべき領域が完全に画像内に含まれるよう
にする操作などを行うことにより、全ての検査領域を設
定していくことになる。
ラによって撮像した画像を作業者がディスプレイで確認
しながら、逐一、検査領域を設定していく作業を行うこ
ととしている。この場合には、作業者は、ディスプレイ
上で、検査領域にすべきであると考えられる領域につい
て、検査用のウインドウを設定していく。また、カメラ
の撮像している区画の境界部分に検査すべき領域が存在
する場合には、作業者がその区画の位置を手動により変
更して、検査すべき領域が完全に画像内に含まれるよう
にする操作などを行うことにより、全ての検査領域を設
定していくことになる。
【０００４】しかしながら、近年のプリント基板の実装
技術の進展により、電子部品のプリント基板への実装密
度が高くなり、かつ、電子部品が小型化していることに
伴って、電子部品のはんだ付け箇所の数も増大してい
る。このため、作業者の視覚による検査領域の設定作業
は、極めて膨大な作業量となり、作業には多大な時間が
必要となるとともに、検査領域の設定もれも生ずる可能
性がある。そこで、検査領域を自動的に作成することが
できれば、便利である。
技術の進展により、電子部品のプリント基板への実装密
度が高くなり、かつ、電子部品が小型化していることに
伴って、電子部品のはんだ付け箇所の数も増大してい
る。このため、作業者の視覚による検査領域の設定作業
は、極めて膨大な作業量となり、作業には多大な時間が
必要となるとともに、検査領域の設定もれも生ずる可能
性がある。そこで、検査領域を自動的に作成することが
できれば、便利である。
【０００５】
【発明が解決しようとする課題】考え得る方法として
は、例えば、プリント基板をエリアセンサのようなカメ
ラで撮像して得られた画像に対し、パターン認識のよう
な処理を施すことによって検査領域を特定する方法が挙
げられる。しかしながら、このような方法においては、
パターン認識処理が、極めて複雑かつ精度の低いもので
あるために、検査領域を完全に自動化することが困難で
ある。さらに、プリント基板をエリアセンサのようなカ
メラで撮像する場合には、同一のプリント基板を複数の
領域に区画して、各区画ごとに画像を撮像していかなけ
ればならない。このため、区画の境界部分において画像
どうしをつなぎ合わせる処理が困難であり、この境界部
分に検査すべき領域が存在する場合には、この領域を検
査領域として特定することが困難である。
は、例えば、プリント基板をエリアセンサのようなカメ
ラで撮像して得られた画像に対し、パターン認識のよう
な処理を施すことによって検査領域を特定する方法が挙
げられる。しかしながら、このような方法においては、
パターン認識処理が、極めて複雑かつ精度の低いもので
あるために、検査領域を完全に自動化することが困難で
ある。さらに、プリント基板をエリアセンサのようなカ
メラで撮像する場合には、同一のプリント基板を複数の
領域に区画して、各区画ごとに画像を撮像していかなけ
ればならない。このため、区画の境界部分において画像
どうしをつなぎ合わせる処理が困難であり、この境界部
分に検査すべき領域が存在する場合には、この領域を検
査領域として特定することが困難である。
【０００６】一方、プリント基板の検査技術において
は、エリアセンサカメラに代えて、ラインセンサカメラ
を用いることも考えられている。ラインセンサカメラに
よれば、基板全体の二次元的な画像を得ることができる
ので、このようにして得られた画像を用いて、検査領域
を自動的に特定していくことを考えることができる。
は、エリアセンサカメラに代えて、ラインセンサカメラ
を用いることも考えられている。ラインセンサカメラに
よれば、基板全体の二次元的な画像を得ることができる
ので、このようにして得られた画像を用いて、検査領域
を自動的に特定していくことを考えることができる。
【０００７】この発明は上述した事情に鑑みてなされた
ものであって、パターン認識のような複雑な画像処理を
行うことなく、プリント基板のような検査対象物の検査
領域を自動的に作成することを可能とする検査領域作成
方法を提供することを目的としている。
ものであって、パターン認識のような複雑な画像処理を
行うことなく、プリント基板のような検査対象物の検査
領域を自動的に作成することを可能とする検査領域作成
方法を提供することを目的としている。
【０００８】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明は、検査対象物に対して所定の処理が施され
た特定領域のみを検査領域として抽出する検査領域作成
方法であって、処理前の検査対象物を撮像するステップ
と、撮像された画像から特定輝度の検査候補領域を抽出
するステップと、処理後の検査対象物を撮像するステッ
プと、撮像された画像から前記検査候補領域の輝度を測
定するステップと、処理の前後における前記検査候補領
域の輝度を比較するステップと、前記検査候補領域のう
ち、処理の前後において輝度が異なる領域を検査領域と
して抽出するステップとを具備する検査領域作成方法を
提案している。
に、本発明は、検査対象物に対して所定の処理が施され
た特定領域のみを検査領域として抽出する検査領域作成
方法であって、処理前の検査対象物を撮像するステップ
と、撮像された画像から特定輝度の検査候補領域を抽出
するステップと、処理後の検査対象物を撮像するステッ
プと、撮像された画像から前記検査候補領域の輝度を測
定するステップと、処理の前後における前記検査候補領
域の輝度を比較するステップと、前記検査候補領域のう
ち、処理の前後において輝度が異なる領域を検査領域と
して抽出するステップとを具備する検査領域作成方法を
提案している。
【０００９】上記検査領域作成方法において、特定輝度
の検査候補領域を抽出するステップが、特定輝度範囲内
の輝度を有する画素群に対応するウインドウを生成する
ステップと、これらのウインドウの位置と大きさとを対
応付けて記憶するステップとを具備することとしてもよ
く、この場合には、輝度を測定するステップが、ウイン
ドウの輝度に対する画素数のヒストグラムを計算し、画
素数の最も多い輝度を検査候補領域の輝度とすることと
すれば効果的である。
の検査候補領域を抽出するステップが、特定輝度範囲内
の輝度を有する画素群に対応するウインドウを生成する
ステップと、これらのウインドウの位置と大きさとを対
応付けて記憶するステップとを具備することとしてもよ
く、この場合には、輝度を測定するステップが、ウイン
ドウの輝度に対する画素数のヒストグラムを計算し、画
素数の最も多い輝度を検査候補領域の輝度とすることと
すれば効果的である。
【００１０】また、本発明は、検査対象物に対して所定
の処理が施された特定領域のみを検査領域として抽出す
る検査領域作成方法であって、処理前の検査対象物を撮
像するステップと、処理後の検査対象物を撮像するステ
ップと、撮像された処理の前後の検査対象物の画像どう
しを減算して作成した差画像に基づいて検査領域を生成
するステップとを具備する検査領域作成方法を提案して
いる。
の処理が施された特定領域のみを検査領域として抽出す
る検査領域作成方法であって、処理前の検査対象物を撮
像するステップと、処理後の検査対象物を撮像するステ
ップと、撮像された処理の前後の検査対象物の画像どう
しを減算して作成した差画像に基づいて検査領域を生成
するステップとを具備する検査領域作成方法を提案して
いる。
【００１１】この検査領域作成方法においては、検査領
域を生成するステップが、差画像に現れた画素群に対応
するウインドウを生成するステップと、処理後の検査対
象物の画像のうち、ウインドウに対応する領域の画素の
輝度を測定するステップと、測定された輝度が処理後の
特定領域の輝度に該当しない場合にこれらのウインドウ
を除外し、残りのウインドウに対応する領域を検査領域
として抽出するステップとを具備することとしてもよ
い。また、これらの検査領域作成方法において、検査対
象物がプリント基板であり、前記処理がクリームはんだ
印刷処理であることとしてもよい。
域を生成するステップが、差画像に現れた画素群に対応
するウインドウを生成するステップと、処理後の検査対
象物の画像のうち、ウインドウに対応する領域の画素の
輝度を測定するステップと、測定された輝度が処理後の
特定領域の輝度に該当しない場合にこれらのウインドウ
を除外し、残りのウインドウに対応する領域を検査領域
として抽出するステップとを具備することとしてもよ
い。また、これらの検査領域作成方法において、検査対
象物がプリント基板であり、前記処理がクリームはんだ
印刷処理であることとしてもよい。
【００１２】
【作用】本発明に係る検査領域作成方法によれば、撮像
された処理前の検査対象物から特定輝度の検査候補領域
を抽出し、撮像された処理後の検査対象物から検査候補
領域の輝度を測定し、処理の前後における検査候補領域
の輝度を比較して、輝度が変化している部分のみを検査
領域として抽出することにより、極めて簡易かつ正確
に、検査領域を特定することが可能となる。
された処理前の検査対象物から特定輝度の検査候補領域
を抽出し、撮像された処理後の検査対象物から検査候補
領域の輝度を測定し、処理の前後における検査候補領域
の輝度を比較して、輝度が変化している部分のみを検査
領域として抽出することにより、極めて簡易かつ正確
に、検査領域を特定することが可能となる。
【００１３】また、特定輝度の検査候補領域を抽出する
作業を、特定輝度範囲内の輝度を有する画素群に対応す
るウインドウを作成し、これらのウインドウの位置と大
きさとを対応付けて記憶することにすれば、検査領域を
特定するために調査すべき領域を絞り込むことができる
とともに、これらのウインドウのうちの輝度が変化して
いるとして抽出されたウインドウのみを検査領域として
特定することが可能となる。
作業を、特定輝度範囲内の輝度を有する画素群に対応す
るウインドウを作成し、これらのウインドウの位置と大
きさとを対応付けて記憶することにすれば、検査領域を
特定するために調査すべき領域を絞り込むことができる
とともに、これらのウインドウのうちの輝度が変化して
いるとして抽出されたウインドウのみを検査領域として
特定することが可能となる。
【００１４】また、輝度を比較する作業を、ウインドウ
の輝度に対する画素数のヒストグラムを計算し、画素数
の最も多い輝度と特定輝度とを比較することにすれば、
ヒストグラムのうちの画素数の最も多い輝度と特定輝度
とが異なっているか否かを判定するだけで、検査領域で
あるか否かを判断することが可能となる。
の輝度に対する画素数のヒストグラムを計算し、画素数
の最も多い輝度と特定輝度とを比較することにすれば、
ヒストグラムのうちの画素数の最も多い輝度と特定輝度
とが異なっているか否かを判定するだけで、検査領域で
あるか否かを判断することが可能となる。
【００１５】さらに、処理前の検査対象物を撮像し、処
理後の検査対象物を撮像し、撮像された処理の前後の検
査対象物の画像どうしを減算して作成した差画像に基づ
いて検査領域を生成することによっても、極めて簡易か
つ正確に、検査領域を特定することが可能である。
理後の検査対象物を撮像し、撮像された処理の前後の検
査対象物の画像どうしを減算して作成した差画像に基づ
いて検査領域を生成することによっても、極めて簡易か
つ正確に、検査領域を特定することが可能である。
【００１６】この場合に、検査領域を生成する作業を、
差画像に現れた画素群に対応するウインドウを作成すれ
ば、理論的には、処理の施された領域のみを検査領域と
することができるが、撮像時の誤差等によって、処理の
前後の検査対象物の画像がずれている場合も考えられ、
その場合には、処理の施されていない部分も検査領域と
なってしまう不都合が考えられる。そこで、処理後の検
査対象物の画像のうち、ウインドウに対応する領域の画
素の輝度を測定し、測定された輝度が処理後の前記特定
領域の輝度に該当しない場合にこれらのウインドウを除
外し、残りのウインドウに対応する領域を検査領域とし
て抽出することにより、処理された領域のみを検査領域
として特定することが可能となる。
差画像に現れた画素群に対応するウインドウを作成すれ
ば、理論的には、処理の施された領域のみを検査領域と
することができるが、撮像時の誤差等によって、処理の
前後の検査対象物の画像がずれている場合も考えられ、
その場合には、処理の施されていない部分も検査領域と
なってしまう不都合が考えられる。そこで、処理後の検
査対象物の画像のうち、ウインドウに対応する領域の画
素の輝度を測定し、測定された輝度が処理後の前記特定
領域の輝度に該当しない場合にこれらのウインドウを除
外し、残りのウインドウに対応する領域を検査領域とし
て抽出することにより、処理された領域のみを検査領域
として特定することが可能となる。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、本発明に係る検査領域作成
方法の一実施形態について、図面を参照しながら説明す
る。本実施形態に係る検査領域作成方法は、プリント基
板の銅箔部分のうち、クリームはんだを印刷する銅箔部
分のみを検査領域として特定する方法であって、図１に
示されるように、クリームはんだを印刷する前のプリン
ト基板（ベアボード）を撮像する第１の撮像ステップＳ
１と、撮像された画像から銅箔を表す特定輝度の領域を
検査候補領域として抽出する第１の抽出ステップＳ２
と、クリームはんだを印刷した後のプリント基板を撮像
する第２の撮像ステップＳ３と、撮像された画像から前
記検査候補領域の輝度を測定する測定ステップＳ４と、
クリームはんだの印刷前後における前記検査候補領域の
輝度を比較する比較ステップＳ５と、前記検査候補領域
のうち、クリームはんだの印刷前後において輝度が異な
る領域を検査領域として抽出する第２の抽出ステップＳ
６とを具備している。
方法の一実施形態について、図面を参照しながら説明す
る。本実施形態に係る検査領域作成方法は、プリント基
板の銅箔部分のうち、クリームはんだを印刷する銅箔部
分のみを検査領域として特定する方法であって、図１に
示されるように、クリームはんだを印刷する前のプリン
ト基板（ベアボード）を撮像する第１の撮像ステップＳ
１と、撮像された画像から銅箔を表す特定輝度の領域を
検査候補領域として抽出する第１の抽出ステップＳ２
と、クリームはんだを印刷した後のプリント基板を撮像
する第２の撮像ステップＳ３と、撮像された画像から前
記検査候補領域の輝度を測定する測定ステップＳ４と、
クリームはんだの印刷前後における前記検査候補領域の
輝度を比較する比較ステップＳ５と、前記検査候補領域
のうち、クリームはんだの印刷前後において輝度が異な
る領域を検査領域として抽出する第２の抽出ステップＳ
６とを具備している。
【００１８】本実施形態に係る検査領域作成方法は、検
査領域となるべき領域が、例えば、プリント基板の銅箔
部分であることを前提としている。すなわち、プリント
基板の銅箔部分が、一定の照明から照射される一定の光
によって、一定の範囲の輝度（特定輝度）を有する領域
として撮像されることに着目し、このような領域のみを
第１に抽出することにしている。
査領域となるべき領域が、例えば、プリント基板の銅箔
部分であることを前提としている。すなわち、プリント
基板の銅箔部分が、一定の照明から照射される一定の光
によって、一定の範囲の輝度（特定輝度）を有する領域
として撮像されることに着目し、このような領域のみを
第１に抽出することにしている。
【００１９】なお、検査領域となるべき領域は、本実施
形態では銅箔部分であるが、これに限られるものではな
く、一定の条件下において一定の輝度を有する領域とし
て撮像され得る領域であれば、どのような領域でもよ
い。
形態では銅箔部分であるが、これに限られるものではな
く、一定の条件下において一定の輝度を有する領域とし
て撮像され得る領域であれば、どのような領域でもよ
い。
【００２０】前記第１の撮像ステップＳ１は、例えば、
ラインセンサカメラを用いてプリント基板の全体にわた
る画像を撮像する。前記検査候補領域を抽出する第１の
抽出ステップＳ２は、第１の撮像ステップＳ１において
撮像された画像に基づいて行われる。まず、撮像された
画像のうち、特定輝度を有する画素を探し、次いで、画
像を走査することにより、隣接する画素が特定輝度の範
囲に配される間の領域を一塊の画素群として識別して、
特定輝度領域Ａを認識する。これにより、プリント基板
の画像全体の中から、複数箇所の特定輝度領域Ａが散在
する島のような形態で抽出されることになる。
ラインセンサカメラを用いてプリント基板の全体にわた
る画像を撮像する。前記検査候補領域を抽出する第１の
抽出ステップＳ２は、第１の撮像ステップＳ１において
撮像された画像に基づいて行われる。まず、撮像された
画像のうち、特定輝度を有する画素を探し、次いで、画
像を走査することにより、隣接する画素が特定輝度の範
囲に配される間の領域を一塊の画素群として識別して、
特定輝度領域Ａを認識する。これにより、プリント基板
の画像全体の中から、複数箇所の特定輝度領域Ａが散在
する島のような形態で抽出されることになる。
【００２１】次いで、この抽出ステップＳ２では、各特
定輝度領域Ａを検査用のウインドウＷとして記憶するた
めの処理を行う。すなわち、上記により抽出された状態
の各特定輝度領域Ａは、一般に複雑な形状をしているも
のと考えられるため、このような複雑な形状を正確に記
憶することは、多くの記憶容量を必要とするうえに無意
味である。そこで、簡易な形状のウインドウＷとして記
憶するために、例えば、図２に示すように、特定輝度領
域Ａに外接する長方形を描くことによりウインドウＷを
作成し、その位置を、例えば、長方形の左上の角部の座
標（ｘ，ｙ）と、２辺の長さ（ａ，ｂ）として記憶す
る。このウインドウＷ内の領域を検査候補領域Ｂとす
る。
定輝度領域Ａを検査用のウインドウＷとして記憶するた
めの処理を行う。すなわち、上記により抽出された状態
の各特定輝度領域Ａは、一般に複雑な形状をしているも
のと考えられるため、このような複雑な形状を正確に記
憶することは、多くの記憶容量を必要とするうえに無意
味である。そこで、簡易な形状のウインドウＷとして記
憶するために、例えば、図２に示すように、特定輝度領
域Ａに外接する長方形を描くことによりウインドウＷを
作成し、その位置を、例えば、長方形の左上の角部の座
標（ｘ，ｙ）と、２辺の長さ（ａ，ｂ）として記憶す
る。このウインドウＷ内の領域を検査候補領域Ｂとす
る。
【００２２】次に、第２の撮像ステップＳ３は、クリー
ムはんだを印刷した後のプリント基板の全体にわたる画
像を、これも例えば、ラインセンサカメラを用いて撮像
する。ただし、処理すべき画像情報は前記第１の抽出ス
テップにおいて検査候補領域Ｂとして抽出したウインド
ウＷ内の画像だけで足りるので、このウインドウＷ内の
画像のみを撮像後の画像として記憶することにしてもよ
い。
ムはんだを印刷した後のプリント基板の全体にわたる画
像を、これも例えば、ラインセンサカメラを用いて撮像
する。ただし、処理すべき画像情報は前記第１の抽出ス
テップにおいて検査候補領域Ｂとして抽出したウインド
ウＷ内の画像だけで足りるので、このウインドウＷ内の
画像のみを撮像後の画像として記憶することにしてもよ
い。
【００２３】前記測定ステップＳ４は、上記第２の撮像
ステップＳ３において撮像された画像のうち、それぞれ
の検査候補領域Ｂ内の画像の輝度を測定する。ここで、
ウインドウＷは、上述したように特定輝度領域Ａに外接
する長方形領域であるために、特定輝度領域Ａのみを含
むものではなく、その周りの領域をも含むものである。
このため、検査候補領域Ｂ内の輝度は、特定輝度領域Ａ
の輝度には完全には一致しない。しかしながら、そのウ
インドウＷの大部分に特定輝度領域Ａを含んでいる。そ
こで、この検査候補領域Ｂ内の全ての画素に基づいて輝
度のヒストグラムを計算し、最も多くの画素が示す輝度
を検査候補領域Ｂの輝度として記憶する。
ステップＳ３において撮像された画像のうち、それぞれ
の検査候補領域Ｂ内の画像の輝度を測定する。ここで、
ウインドウＷは、上述したように特定輝度領域Ａに外接
する長方形領域であるために、特定輝度領域Ａのみを含
むものではなく、その周りの領域をも含むものである。
このため、検査候補領域Ｂ内の輝度は、特定輝度領域Ａ
の輝度には完全には一致しない。しかしながら、そのウ
インドウＷの大部分に特定輝度領域Ａを含んでいる。そ
こで、この検査候補領域Ｂ内の全ての画素に基づいて輝
度のヒストグラムを計算し、最も多くの画素が示す輝度
を検査候補領域Ｂの輝度として記憶する。
【００２４】前記比較ステップＳ５は、上記特定輝度
と、上記第１の抽出ステップＳ２に上記測定ステップＳ
４によって測定された検査候補領域Ｂの輝度とを比較す
る。その結果、測定ステップＳ４において測定された検
査候補領域Ｂの輝度が特定輝度と同等の値を示している
場合には、検査候補領域Ｂにはクリームはんだを印刷す
る処理が施されなかったものと判断することができる一
方、測定ステップＳ４において測定された検査候補領域
Ｂの輝度が特定輝度とはかけ離れた値を示している場合
には、検査候補領域Ｂにはクリームはんだを印刷する処
理が施されたものと判断することができる。
と、上記第１の抽出ステップＳ２に上記測定ステップＳ
４によって測定された検査候補領域Ｂの輝度とを比較す
る。その結果、測定ステップＳ４において測定された検
査候補領域Ｂの輝度が特定輝度と同等の値を示している
場合には、検査候補領域Ｂにはクリームはんだを印刷す
る処理が施されなかったものと判断することができる一
方、測定ステップＳ４において測定された検査候補領域
Ｂの輝度が特定輝度とはかけ離れた値を示している場合
には、検査候補領域Ｂにはクリームはんだを印刷する処
理が施されたものと判断することができる。
【００２５】なお、本実施形態では、クリームはんだの
印刷前の検査候補領域Ｂの輝度として、特定輝度を採用
することにしたが、クリームはんだの印刷後の検査候補
領域Ｂの輝度と同様に、ヒストグラムを計算して、最も
画素数の多い輝度を比較対象として選択することにして
もよい。
印刷前の検査候補領域Ｂの輝度として、特定輝度を採用
することにしたが、クリームはんだの印刷後の検査候補
領域Ｂの輝度と同様に、ヒストグラムを計算して、最も
画素数の多い輝度を比較対象として選択することにして
もよい。
【００２６】前記第２の抽出ステップＳ６は、前記比較
ステップＳ５における比較の結果、検査候補領域Ｂの輝
度が特定輝度とは異なる輝度を示している場合に、その
領域を検査領域として抽出する。具体的には、上記第１
の抽出ステップＳ２において抽出され、その位置および
大きさのデータとして記憶された検査候補領域Ｂのウイ
ンドウＷのうち、クリームはんだの印刷処理の前後にお
ける輝度に変化のないウインドウＷを除外する。これに
より、検査すべき領域のみのデータが抽出されることに
なる。
ステップＳ５における比較の結果、検査候補領域Ｂの輝
度が特定輝度とは異なる輝度を示している場合に、その
領域を検査領域として抽出する。具体的には、上記第１
の抽出ステップＳ２において抽出され、その位置および
大きさのデータとして記憶された検査候補領域Ｂのウイ
ンドウＷのうち、クリームはんだの印刷処理の前後にお
ける輝度に変化のないウインドウＷを除外する。これに
より、検査すべき領域のみのデータが抽出されることに
なる。
【００２７】このように、本実施形態に係る検査領域作
成方法によれば、パターン認識のような複雑な画像処理
を行うことなく単に輝度を比較するだけの極めて簡易な
処理により、迅速かつ高精度に検査領域を自動生成する
ことができるという効果を有する。
成方法によれば、パターン認識のような複雑な画像処理
を行うことなく単に輝度を比較するだけの極めて簡易な
処理により、迅速かつ高精度に検査領域を自動生成する
ことができるという効果を有する。
【００２８】次に、本発明に係る検査領域作成方法の第
２の実施形態について、図面を参照して以下に説明す
る。本実施形態に係る検査領域作成方法も、プリント基
板の銅箔部分のうち、クリームはんだを印刷する銅箔部
分のみを検査領域として特定する方法であって、図３に
示されるように、処理前の検査対象物を撮像する第１の
撮像ステップＳ１１と、処理後の検査対象物を撮像する
第２の撮像ステップＳ１２と、撮像された処理の前後の
検査対象物の画像どうしを減算して作成した差画像に基
づいて検査領域を生成する生成ステップＳ１３とを具備
している。
２の実施形態について、図面を参照して以下に説明す
る。本実施形態に係る検査領域作成方法も、プリント基
板の銅箔部分のうち、クリームはんだを印刷する銅箔部
分のみを検査領域として特定する方法であって、図３に
示されるように、処理前の検査対象物を撮像する第１の
撮像ステップＳ１１と、処理後の検査対象物を撮像する
第２の撮像ステップＳ１２と、撮像された処理の前後の
検査対象物の画像どうしを減算して作成した差画像に基
づいて検査領域を生成する生成ステップＳ１３とを具備
している。
【００２９】前記第１の撮像ステップＳ１１および第２
の撮像ステップＳ１２は、上記第１の実施形態における
第１の撮像ステップＳ１と同様に、同一のプリント基板
に対してクリームはんだ印刷処理を施す前後において、
同一撮像条件下において、例えば、ラインセンサカメラ
によりプリント基板全体にわたる画像を撮像するもので
ある。撮像された画像は、メモリ内に格納しておく。
の撮像ステップＳ１２は、上記第１の実施形態における
第１の撮像ステップＳ１と同様に、同一のプリント基板
に対してクリームはんだ印刷処理を施す前後において、
同一撮像条件下において、例えば、ラインセンサカメラ
によりプリント基板全体にわたる画像を撮像するもので
ある。撮像された画像は、メモリ内に格納しておく。
【００３０】前記生成ステップＳ１３は、まず、上述し
た第１および第２の撮像ステップＳ１１，Ｓ１２におい
て得られた画像どうしを減算する（ステップＳ１１１：
図４）。すなわち、同一条件下で撮像された第１および
第２の撮像ステップＳ１１，１２における画像は、クリ
ームはんだを印刷した領域を除き、各画素の示す値（例
えば、輝度）は、理論的には同一値である。したがっ
て、クリームはんだ印刷処理の前後における画像どうし
を減算することにより、クリームはんだを印刷した領域
のみを抽出することが可能となる。
た第１および第２の撮像ステップＳ１１，Ｓ１２におい
て得られた画像どうしを減算する（ステップＳ１１１：
図４）。すなわち、同一条件下で撮像された第１および
第２の撮像ステップＳ１１，１２における画像は、クリ
ームはんだを印刷した領域を除き、各画素の示す値（例
えば、輝度）は、理論的には同一値である。したがっ
て、クリームはんだ印刷処理の前後における画像どうし
を減算することにより、クリームはんだを印刷した領域
のみを抽出することが可能となる。
【００３１】しかしながら、実際には、位置決め精度範
囲内のプリント基板のずれなどによって、完全に同一の
撮像条件を達成することは困難である場合も多く、得ら
れる差画像に、これらのずれに基づくノイズが生じる場
合も十分に考えられる。
囲内のプリント基板のずれなどによって、完全に同一の
撮像条件を達成することは困難である場合も多く、得ら
れる差画像に、これらのずれに基づくノイズが生じる場
合も十分に考えられる。
【００３２】そこで、本実施形態では、まず、上記生成
ステップＳ１３において、差画像を２値化する。次い
で、この２値化した差画像に散在する島状に現れた画素
群のそれぞれに外接する長方形状のウインドウを、第１
の実施形態におけるウインドウの生成ステップと同様に
して生成する（Ｓ１１２）。そして、生成された各ウイ
ンドウに対応する領域について、上記第２の撮像ステッ
プで得られた画像内の画素の輝度値を測定する（Ｓ１１
３）。
ステップＳ１３において、差画像を２値化する。次い
で、この２値化した差画像に散在する島状に現れた画素
群のそれぞれに外接する長方形状のウインドウを、第１
の実施形態におけるウインドウの生成ステップと同様に
して生成する（Ｓ１１２）。そして、生成された各ウイ
ンドウに対応する領域について、上記第２の撮像ステッ
プで得られた画像内の画素の輝度値を測定する（Ｓ１１
３）。
【００３３】その後、測定された輝度が、クリームはん
だ印刷処理後の輝度に該当するか否かを判断する。クリ
ームはんだ印刷処理後の輝度は、予め記憶しておく。そ
の結果、測定された輝度が記憶されている輝度とは異な
る値を示しているときは、そのウインドウに対応する差
画像はノイズであると判断することができるので、この
ウインドウを除外し、残りのウインドウに対応する領域
を検査領域として抽出する（Ｓ１１４）。
だ印刷処理後の輝度に該当するか否かを判断する。クリ
ームはんだ印刷処理後の輝度は、予め記憶しておく。そ
の結果、測定された輝度が記憶されている輝度とは異な
る値を示しているときは、そのウインドウに対応する差
画像はノイズであると判断することができるので、この
ウインドウを除外し、残りのウインドウに対応する領域
を検査領域として抽出する（Ｓ１１４）。
【００３４】これにより、第１実施形態に係る検査領域
作成方法と同様に、簡易な方法で、迅速かつ高精度に検
査すべき領域を自動的に生成することができるという効
果を奏する。
作成方法と同様に、簡易な方法で、迅速かつ高精度に検
査すべき領域を自動的に生成することができるという効
果を奏する。
【００３５】なお、上記実施形態においては、検査対象
物としてプリント基板を例に挙げて説明してきたが、本
発明はこれらの実施形態に限定されるものではなく、同
様の他の任意の検査対象物に対しても適用し得るもので
ある。また、検査領域を特定するために一定の輝度を有
する画素群に外接する長方形からなるウインドウを作成
することとしたが、これに限定されることなく、例え
ば、該画素群に内接するウインドウ、長方形以外の任意
の多角形および円形等のウインドウを採用することにし
てもよい。さらに、位置決め精度等の向上により、処理
前後の撮像条件を完全に一致させることが可能である場
合には、差画像から形成したウインドウを即座に検査領
域を示すウインドウとして特定することにしてもよい。
物としてプリント基板を例に挙げて説明してきたが、本
発明はこれらの実施形態に限定されるものではなく、同
様の他の任意の検査対象物に対しても適用し得るもので
ある。また、検査領域を特定するために一定の輝度を有
する画素群に外接する長方形からなるウインドウを作成
することとしたが、これに限定されることなく、例え
ば、該画素群に内接するウインドウ、長方形以外の任意
の多角形および円形等のウインドウを採用することにし
てもよい。さらに、位置決め精度等の向上により、処理
前後の撮像条件を完全に一致させることが可能である場
合には、差画像から形成したウインドウを即座に検査領
域を示すウインドウとして特定することにしてもよい。
【００３６】
【発明の効果】以上、詳述したように、本発明に係る検
査領域作成方法によれば、パターン認識のような複雑か
つ精度の低い処理を行うことなく、撮像した画像の比較
のみによる簡易な処理を提供することができるので、検
査領域の作成に要する時間を大幅に短縮することができ
るとともに、検査領域の作成精度を飛躍的に向上するこ
とができる。その結果、検査領域の作成を自動的に行う
ことが可能となるという優れた効果を奏する。
査領域作成方法によれば、パターン認識のような複雑か
つ精度の低い処理を行うことなく、撮像した画像の比較
のみによる簡易な処理を提供することができるので、検
査領域の作成に要する時間を大幅に短縮することができ
るとともに、検査領域の作成精度を飛躍的に向上するこ
とができる。その結果、検査領域の作成を自動的に行う
ことが可能となるという優れた効果を奏する。
【図１】 本発明に係る検査領域作成方法の第１の実施
形態を示すフローチャートである。
形態を示すフローチャートである。
【図２】 図１の検査領域作成方法におけるウインドウ
の作成例を示す模式図である。
の作成例を示す模式図である。
【図３】 本発明に係る検査領域作成方法の第２の実施
形態を示すフローチャートである。
形態を示すフローチャートである。
【図４】 図３の検査領域作成方法の差画像に基づく検
査領域生成ステップを詳細に説明するためのフローチャ
ートである。
査領域生成ステップを詳細に説明するためのフローチャ
ートである。
Ｓ１，Ｓ３，Ｓ１１，Ｓ１２ 撮像ステップ Ｓ２，Ｓ６，Ｓ１１４ 抽出ステップ Ｓ４，Ｓ１１３ 測定ステップ Ｓ５ 比較ステップ Ｓ１３ 検査領域生成ステップ Ｓ１１２ ウインドウ生成ステップ Ａ 特定輝度領域 Ｂ 検査候補領域 Ｗ ウインドウ
Claims (6)
- 【請求項１】 検査対象物に対して所定の処理が施され
た特定領域のみを検査領域として抽出する検査領域作成
方法であって、 処理前の検査対象物を撮像するステップと、 撮像された画像から特定輝度の検査候補領域を抽出する
ステップと、 処理後の検査対象物を撮像するステップと、 撮像された画像から前記検査候補領域の輝度を測定する
ステップと、 処理の前後における前記検査候補領域の輝度を比較する
ステップと、 前記検査候補領域のうち、処理の前後において輝度が異
なる領域を検査領域として抽出するステップとを具備す
ることを特徴とする検査領域作成方法。 - 【請求項２】 前記特定輝度の検査候補領域を抽出する
ステップが、特定輝度範囲内の輝度を有する画素群に対
応するウインドウを生成するステップと、これらのウイ
ンドウの位置と大きさとを対応付けて記憶するステップ
とを具備することを特徴とする請求項１記載の検査領域
作成方法。 - 【請求項３】 前記輝度を測定するステップが、前記ウ
インドウの輝度に対する画素数のヒストグラムを計算
し、画素数の最も多い輝度を検査候補領域の輝度とする
ことを特徴とする請求項２記載の検査領域作成方法。 - 【請求項４】 検査対象物に対して所定の処理が施され
た特定領域のみを検査領域として抽出する検査領域作成
方法であって、 処理前の検査対象物を撮像するステップと、 処理後の検査対象物を撮像するステップと、 撮像された処理の前後の検査対象物の画像どうしを減算
して作成した差画像に基づいて検査領域を生成するステ
ップとを具備することを特徴とする検査領域作成方法。 - 【請求項５】 前記検査領域を生成するステップが、前
記差画像に現れた画素群に対応するウインドウを生成す
るステップと、前記処理後の検査対象物の画像のうち、
前記ウインドウに対応する領域の画素の輝度を測定する
ステップと、測定された輝度が処理後の前記特定領域の
輝度に該当しない場合にこれらのウインドウを除外し、
残りのウインドウに対応する領域を検査領域として抽出
するステップとを具備することを特徴とする請求項４記
載の検査領域作成方法。 - 【請求項６】 前記検査対象物がプリント基板であり、
前記処理がクリームはんだ印刷処理であることを特徴と
する請求項１から請求項５のいずれかに記載の検査領域
作成方法。
Priority Applications (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15031398A JPH11344448A (ja) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | 検査領域作成方法 |
| KR1019990001753A KR19990087848A (ko) | 1998-05-29 | 1999-01-21 | 검사영역작성방법및외관검사방법 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP15031398A JPH11344448A (ja) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | 検査領域作成方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11344448A true JPH11344448A (ja) | 1999-12-14 |
Family
ID=15494299
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP15031398A Pending JPH11344448A (ja) | 1998-05-29 | 1998-05-29 | 検査領域作成方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11344448A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7869644B2 (en) | 2004-07-21 | 2011-01-11 | Omron Corporation | Methods of and apparatus for inspecting substrate |
-
1998
- 1998-05-29 JP JP15031398A patent/JPH11344448A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US7869644B2 (en) | 2004-07-21 | 2011-01-11 | Omron Corporation | Methods of and apparatus for inspecting substrate |
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Legal Events
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|---|---|---|---|
| A521 | Written amendment |
Effective date: 20040422 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 |
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|
| A977 | Report on retrieval |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A971007 Effective date: 20070625 |
|
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Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20070703 |
|
| A02 | Decision of refusal |
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