JPH11337631A - Strong magnetic field low-temperature device for measuring physical property - Google Patents

Strong magnetic field low-temperature device for measuring physical property

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JPH11337631A
JPH11337631A JP10156825A JP15682598A JPH11337631A JP H11337631 A JPH11337631 A JP H11337631A JP 10156825 A JP10156825 A JP 10156825A JP 15682598 A JP15682598 A JP 15682598A JP H11337631 A JPH11337631 A JP H11337631A
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magnetic field
sample chamber
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temperature
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Tsuginori Hasebe
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a strong magnetic field low-temperature device for measuring physical properties, which is simple and easy in operation and is capable of reducing initial costs or running costs for cooling a sample, without the need for the filling and replenishment of a refrigerant such as liquid nitrogen or liquid helium. SOLUTION: Attention is focused on cooling a sample as well by a refrigerator 7 for cooling a superconducting coil 9. A strong magnetic field having the superconducting coil 9 cooled by the refrigerator 7 as a magnetic field source is made a space 3 which utilizes magnetic field. A strong magnetic field low- temperature device for measuring physical properties is for measuring the physical properties of a sample in the space 3 utilizing a magnetic field. A vacuum sample chamber 41 different from and independent of the vacuum vessel 6 of the superconducting coil 9 is formed in the space 3 which uses magnetic field by the superconducting coil 9. A sample holder 43, which is provided in the sample chamber 41 and to which the sample is installed is thermally connected to the cooling stage 7B of the refrigerator 7.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は強磁場低温物性測定
装置にかかるもので、とくに磁場源として超電導マグネ
ット装置を用いて、この磁場内における各種物質(試
料)の物性を測定するための強磁場低温物性測定装置に
関するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to an apparatus for measuring low-temperature physical properties of a strong magnetic field, and more particularly to a strong magnetic field for measuring the properties of various substances (samples) in a magnetic field using a superconducting magnet apparatus as a magnetic field source. The present invention relates to a low-temperature physical property measuring device.

【0002】[0002]

【従来の技術】従来から、強磁場下において、各種物質
の、電気伝導度、ホール効果、あるいは超電導特性など
の諸物性を測定することが行われている。こうした物性
測定装置の磁場源として、液体ヘリウムを用いずに冷凍
機(たとえばGM冷凍機など)により超電導コイルを冷
却する、いわゆるヘリウムフリー超電導マグネット装置
があるが、このヘリウムフリー超電導マグネット装置を
用いれば、そのアクセスが容易な常温の磁場利用空間を
得ることができる特長があり、さまざまな磁場応用に利
用されている。たとえば、強磁場下における固体の物性
(電気伝導度、ホール効果、超電導特性)の評価装置と
して、ヘリウムフリー超電導マグネット装置は広く適用
されている。ただしこれらの測定実験では、試験片(試
料)を極低温に冷却する必要があることが多く、従来の
低温物性測定装置では、この試料を冷却するための機構
に各種の問題があった。
2. Description of the Related Art Conventionally, various physical properties such as electric conductivity, Hall effect, and superconductivity of various substances have been measured under a strong magnetic field. As a magnetic field source of such a physical property measuring device, there is a so-called helium-free superconducting magnet device in which a superconducting coil is cooled by a refrigerator (for example, a GM refrigerator) without using liquid helium. There is a feature that a room for using a magnetic field at room temperature that can be easily accessed is obtained, and is used for various magnetic field applications. For example, a helium-free superconducting magnet device is widely applied as a device for evaluating physical properties (electrical conductivity, Hall effect, superconductivity) of a solid under a strong magnetic field. However, in these measurement experiments, it is often necessary to cool the test piece (sample) to a very low temperature, and the conventional low-temperature physical property measuring apparatus has various problems in the mechanism for cooling the sample.

【0003】たとえば図3は、液体窒素を用いて冷却す
る、強磁場低温物性測定装置1を示す断面図であって、
強磁場低温物性測定装置1は、超電導マグネット装置2
による強磁場とした磁場利用空間3と、液体窒素容器4
と、試料取付け部兼測定部5と、を有する。
[0003] For example, FIG. 3 is a cross-sectional view showing a high-field low-temperature property measuring apparatus 1 cooled by using liquid nitrogen.
The high-field low-temperature physical property measuring device 1 is composed of a superconducting magnet device 2
Magnetic field utilization space 3 which is a strong magnetic field by
And a sample mounting unit / measuring unit 5.

【0004】超電導マグネット装置2は、真空容器6
と、GM冷凍機7と、熱シールド板8と、超電導コイル
9と、電流リード10と、を有し、超電導コイル9の中
心ボア部を上記磁場利用空間3としてある。
The superconducting magnet device 2 includes a vacuum vessel 6
, A GM refrigerator 7, a heat shield plate 8, a superconducting coil 9, and a current lead 10, and the central bore of the superconducting coil 9 is the magnetic field utilization space 3.

【0005】真空容器6は、GM冷凍機7の第一段冷却
ステージ7A(たとえば温度60Kレベルの高温側冷却
冷却ステージ)および第二段冷却ステージ7B(たとえ
ば温度4Kレベルの低温側冷却ステージ)、熱シールド
板8、超電導コイル9ならびに電流リード10を真空断
熱状態に保持する。
The vacuum vessel 6 includes a first cooling stage 7A (for example, a high-temperature cooling stage having a temperature of 60K) and a second cooling stage 7B (for example, a low-temperature cooling stage having a temperature of 4K) of the GM refrigerator 7; The heat shield plate 8, the superconducting coil 9, and the current lead 10 are kept in a vacuum insulated state.

【0006】GM冷凍機7は、その第一段冷却ステージ
7Aを熱シールド板8に、その第二段冷却ステージ7B
を超電導コイル9にそれぞれ熱的に接続し、液体ヘリウ
ムを用いることなく、超電導コイル9を極低温に冷却可
能であってこれを超電導状態とすることができる。
The GM refrigerator 7 includes a first cooling stage 7A as a heat shield plate 8 and a second cooling stage 7B.
Are thermally connected to the superconducting coil 9, respectively, and the superconducting coil 9 can be cooled to a very low temperature without using liquid helium, and can be brought into a superconducting state.

【0007】熱シールド板8は、第二段冷却ステージ7
Bおよび超電導コイル9などを収容し、外部からの熱輻
射による熱侵入を防止する。
The heat shield plate 8 includes a second cooling stage 7
B and the superconducting coil 9 are accommodated to prevent heat intrusion due to external heat radiation.

【0008】前記液体窒素容器4には液体窒素注入口1
1から液体窒素12を充填し、試料取付け部兼測定部5
の先端部に取り付けた試料13を所定の低温に冷却す
る。
The liquid nitrogen container 4 has a liquid nitrogen inlet 1
The sample 1 is filled with liquid nitrogen 12, and the sample mounting part and the measuring part 5
Is cooled to a predetermined low temperature.

【0009】こうした構成の強磁場低温物性測定装置1
においては、低温を生成および維持するために液体窒素
12を用いるので、温度調節が困難であること、液体窒
素12を補充する必要があることなどの問題点がある。
A high-field low-temperature physical property measuring apparatus 1 having such a configuration
However, since the liquid nitrogen 12 is used to generate and maintain a low temperature, there are problems such as difficulty in adjusting the temperature and the need to replenish the liquid nitrogen 12.

【0010】図4は、液体ヘリウムを利用して冷却す
る、強磁場低温物性測定装置20の断面図であって、強
磁場低温物性測定装置20は、上述の超電導マグネット
装置2による磁場利用空間3内に、液体ヘリウム循環用
容器21を配置し、液体ヘリウム容器22からヘリウム
循環配管23を介して液体ヘリウム24を試料13に熱
的に接触させ、試料13を所定の低温に冷却可能とす
る。
FIG. 4 is a cross-sectional view of a high-field low-temperature physical property measuring apparatus 20 for cooling using liquid helium. A liquid helium circulation container 21 is disposed therein, and the liquid helium 24 is brought into thermal contact with the sample 13 from the liquid helium container 22 via the helium circulation pipe 23 so that the sample 13 can be cooled to a predetermined low temperature.

【0011】こうした構成の強磁場低温物性測定装置2
0においては、ヘリウム循環配管23内を液体ヘリウム
24を循環させて試料13を冷却するが、高価な液体ヘ
リウム24を使用しなければならないという問題があ
る。
A high-field low-temperature physical property measuring apparatus 2 having such a configuration
In the case of 0, the sample 13 is cooled by circulating the liquid helium 24 in the helium circulation pipe 23, but there is a problem that the expensive liquid helium 24 must be used.

【0012】図5は、液体ヘリウムを利用して冷却す
る、他のタイプの強磁場低温物性測定装置25の断面図
であって、強磁場低温物性測定装置25においては、液
体ヘリウム容器26に液体ヘリウム24をヘリウム供給
管27から供給し、蒸発ガスを循環させて、試料13を
冷却するものである。
FIG. 5 is a cross-sectional view of another type of high-temperature low-temperature physical property measuring apparatus 25 for cooling using liquid helium. Helium 24 is supplied from a helium supply pipe 27, and the sample 13 is cooled by circulating the evaporative gas.

【0013】こうした構成の強磁場低温物性測定装置2
5においては、液体ヘリウム24の補充が必要であると
ともに、高価な液体ヘリウム24を使用しなければなら
ないという問題がある。
A high-field low-temperature physical property measuring apparatus 2 having such a configuration
In No. 5, there is a problem that liquid helium 24 needs to be replenished and expensive liquid helium 24 must be used.

【0014】図6は、他のタイプの強磁場低温物性測定
装置30の断面図であって、強磁場低温物性測定装置3
0においては、超電導マグネット装置2の磁場利用空間
3の上方に、もうひとつの他の冷凍機(第2のGM冷凍
機31)と、この第2のGM冷凍機31を超電導マグネ
ット装置2の磁場利用空間3に向かって移動可能に保持
する保持移動機構32と、を設けてある。
FIG. 6 is a cross-sectional view of another type of high-temperature low-temperature physical property measuring apparatus 30.
0, another refrigerator (the second GM refrigerator 31) and the second GM refrigerator 31 are placed above the magnetic field utilization space 3 of the superconducting magnet device 2 with the magnetic field of the superconducting magnet device 2. And a holding and moving mechanism 32 for movably holding the space toward the use space 3.

【0015】第2のGM冷凍機31は、真空容器33内
に位置させたその第一段冷却ステージ31Aに熱シール
ド板34を熱的に接続し、その第二段冷却ステージ31
Bにサンプルホルダー35を熱的に接続してある。サン
プルホルダー35の先端部には、試料13(測温抵抗
体)および抵抗加熱ヒーター36を取り付け、抵抗加熱
ヒーター36を制御することによって、サンプルホルダ
ー35および試料13の温度を任意に設定および変更可
能としてある。
The second GM refrigerator 31 has a heat shield plate 34 thermally connected to the first cooling stage 31A located in the vacuum vessel 33, and the second cooling stage 31
Sample holder 35 is thermally connected to B. The sample 13 (temperature measuring resistor) and the resistance heater 36 are attached to the tip of the sample holder 35, and the temperature of the sample holder 35 and the sample 13 can be arbitrarily set and changed by controlling the resistance heater 36. There is.

【0016】こうした構成の強磁場低温物性測定装置3
0においては、保持移動機構32を操作することにより
第2のGM冷凍機31全体を超電導マグネット装置2の
磁場利用空間3に向かって上下させ、磁場利用空間3に
試料13を位置させて低温物性測定を行うものであり、
強磁場低温物性測定装置1(図3)、強磁場低温物性測
定装置20(図4)あるいは強磁場低温物性測定装置2
5(図5)のような冷媒の補充その他の諸問題は解消さ
れるが、第2のGM冷凍機31の初期コストおよびその
ランニングコストの増加が大きな問題である。また、超
電導マグネット装置2の磁場利用空間3内に、さらに別
の真空容器33を収容する必要があるため、磁場利用空
間3に占めるサンプルホルダー35の空間が小さくなっ
てしまうという問題がある。
A high-temperature low-temperature physical property measuring apparatus 3 having such a configuration
At 0, the entire second GM refrigerator 31 is moved up and down toward the magnetic field utilization space 3 of the superconducting magnet device 2 by operating the holding / moving mechanism 32, and the sample 13 is positioned in the magnetic field utilization space 3 to obtain the low-temperature physical properties. Measurement.
High magnetic field low temperature physical property measuring apparatus 1 (FIG. 3), high magnetic field low temperature physical property measuring apparatus 20 (FIG. 4) or high magnetic field low temperature physical property measuring apparatus 2
Although the replenishment of the refrigerant and other problems as shown in FIG. 5 (FIG. 5) are solved, an increase in the initial cost and the running cost of the second GM refrigerator 31 is a major problem. Further, since it is necessary to further house another vacuum vessel 33 in the magnetic field utilizing space 3 of the superconducting magnet device 2, there is a problem that the space of the sample holder 35 occupying the magnetic field utilizing space 3 becomes small.

【0017】[0017]

【発明が解決しようとする課題】本発明は以上のような
諸問題にかんがみなされたもので、測定用の試料の温度
を任意の低温に設定可能な強磁場低温物性測定装置を提
供することを課題とする。
SUMMARY OF THE INVENTION The present invention has been made in view of the above-mentioned problems, and an object of the present invention is to provide a strong magnetic field low-temperature property measuring apparatus capable of setting the temperature of a sample for measurement to an arbitrary low temperature. Make it an issue.

【0018】また本発明は、液体窒素あるいは液体ヘリ
ウムなどの冷媒の充填および補充を必要とせず、操作が
簡単かつ容易な強磁場低温物性測定装置を提供すること
を課題とする。
It is another object of the present invention to provide a high-temperature low-temperature physical property measuring apparatus which does not require filling and replenishment of a refrigerant such as liquid nitrogen or liquid helium, and is easy and easy to operate.

【0019】また本発明は、試料を冷却するための初期
コストあるいはランニングコストを低減することができ
る強磁場低温物性測定装置を提供することを課題とす
る。
Another object of the present invention is to provide an apparatus for measuring high-temperature low-temperature physical properties which can reduce the initial cost or running cost for cooling a sample.

【0020】また本発明は、試料を載置するための磁場
利用空間をより大きく取ることができる強磁場低温物性
測定装置を提供することを課題とする。
Another object of the present invention is to provide a high-field low-temperature physical property measuring apparatus which can take a larger space for utilizing a magnetic field for mounting a sample.

【0021】[0021]

【課題を解決するための手段】すなわち本発明は、超電
導コイルを冷却するための冷凍機により試料をも冷却す
るようにすることに着目したもので、真空容器内に設け
るとともに冷凍機により冷却する超電導コイルを磁場源
とする強磁場を磁場利用空間とし、この磁場利用空間に
おける試料の物性を測定するための強磁場低温物性測定
装置であって、上記超電導コイルによる上記磁場利用空
間内に上記超電導コイルの上記真空容器とは別に独立し
た真空の試料室を形成し、この試料室内に設けるととも
に上記試料を取り付ける試料ホルダーを、上記冷凍機の
冷却ステージに熱的に接続したことを特徴とする強磁場
低温物性測定装置である。
That is, the present invention focuses on cooling a sample by a refrigerator for cooling a superconducting coil. The sample is provided in a vacuum vessel and cooled by a refrigerator. A strong magnetic field low-temperature physical property measuring device for measuring a physical property of a sample in a magnetic field utilizing space using a strong magnetic field using a superconducting coil as a magnetic field source, wherein the superconducting coil is provided in the magnetic field utilizing space by the superconducting coil. A vacuum sample chamber is formed independently of the vacuum vessel of the coil, and a sample holder provided in the sample chamber and for mounting the sample is thermally connected to a cooling stage of the refrigerator. It is a magnetic field low temperature physical property measuring device.

【0022】上記試料室をその外蓋側の試料室前室と試
料室本体とのふたつに分割するとともに、この試料室本
体とこの試料室前室との間に外部から操作可能なゲート
弁を設け、上記試料室本体を真空状態に維持したまま、
上記試料室前室を大気にさらすことができるようにする
ことができる。
The sample chamber is divided into a sample chamber front chamber on the outer lid side and a sample chamber main body, and a gate valve operable from outside is provided between the sample chamber main body and the sample chamber front chamber. While maintaining the sample chamber body in a vacuum state,
The sample chamber front chamber can be exposed to the atmosphere.

【0023】上記試料室内の上記試料を上記試料ホルダ
ーに取り付ける操作を外部から行うための試料用マニュ
ピュレーターを備え、上記試料室の外蓋に、この取付け
操作を行うためののぞき窓を備えることができる。
A sample manipulator for externally performing an operation of mounting the sample in the sample chamber to the sample holder; and a viewing window for performing the mounting operation on an outer lid of the sample chamber. Can be.

【0024】上記試料ホルダーを熱スイッチを介して上
記冷凍機の冷却ステージに熱的に接触させることができ
る。
The sample holder can be brought into thermal contact with the cooling stage of the refrigerator through a thermal switch.

【0025】上記熱スイッチは、銅などの良熱伝導性の
相対する第1の伝熱部材および第2の伝熱部材、ならび
にこの第1および第2の伝熱部材の間を連結するステン
レス製あるいはGFRP製などの低熱伝導性の筒部材、
により形成した気密容器と、この気密容器に接続してそ
の内部にヘリウムガスを充填可能とするとともに、好ま
しくは内部の圧力を調整するためにその外部と連通する
ヘリウムガス配管と、を有することができる。
The above-mentioned heat switch is composed of a first heat transfer member and a second heat transfer member having good heat conductivity, such as copper, and a stainless steel member for connecting the first and second heat transfer members. Or a low thermal conductive tubular member such as GFRP,
And a helium gas pipe connected to the hermetic container so as to be capable of being filled with helium gas therein and preferably communicating with the outside in order to adjust the internal pressure. it can.

【0026】上記試料に接続する測定用電線は、上記試
料室の外蓋に設けた真空気密導入端子を介してこれを外
部の測定機器に接続することができる。
The measuring electric wire connected to the sample can be connected to an external measuring instrument via a vacuum-tight introduction terminal provided on the outer lid of the sample chamber.

【0027】上記試料室内の上記試料に接続した測定用
電線と、上記超電導コイルを有する超電導マグネット装
置内にあらかじめ配線するとともに外部の測定機器と接
続した電線と、を接続するためのコネクターを、上記試
料室内の上記試料ホルダーの部分に設置することができ
る。
The connector for connecting the measuring wire connected to the sample in the sample chamber and the wire previously wired in the superconducting magnet device having the superconducting coil and connected to an external measuring instrument is connected with the connector described above. It can be installed on the sample holder in the sample chamber.

【0028】上記コネクターの接続操作を外部から行う
ためのマニュピュレーターを上記試料室の外蓋に設ける
ことができる。
A manipulator for externally connecting the connector can be provided on the outer lid of the sample chamber.

【0029】本発明による強磁場低温物性測定装置にお
いては、超電導マグネット装置のGM冷凍機などの冷凍
機により超電導コイルと同時に試料もこれを冷却するよ
うにしたので、操作が簡単かつ容易であるとともに、液
体窒素あるいは液来ヘリウムなど特別の専用の寒剤を使
用することなく、コスト低く測定可能である。
In the apparatus for measuring low-temperature physical properties of a strong magnetic field according to the present invention, since the sample is cooled simultaneously with the superconducting coil by a refrigerator such as a GM refrigerator of a superconducting magnet device, the operation is simple and easy. The measurement can be performed at low cost without using a special cryogen such as liquid nitrogen or liquid helium.

【0030】さらに、超電導マグネット装置の磁場利用
空間をそのまま試料の収容セット部とすることができる
ので、磁場利用空間を縮小する必要がなく、任意の大き
さの試料の低温物性測定が可能である。また、試料と冷
却ステージとの間に熱スイッチを介在させることによ
り、試料を任意の温度に冷却可能であるとともに、試料
の交換時などにおいても超電導コイルの超電導状態を解
除しなくてすむもので、再度の冷却運転の効率を良好な
ものとすることができる。また、試料室を試料室前室と
試料室本体とに分割するとともにその間にゲート弁を設
ければ、試料室の真空状態を維持するとともに試料室前
室のみを真空解除ないし大気開放可能として、試料の交
換時の熱侵入を極力低減するとともに、真空排気操作を
効率よく行うことができる。
Further, since the space using the magnetic field of the superconducting magnet device can be used as a sample accommodating set portion, there is no need to reduce the space using the magnetic field, and low-temperature physical properties of a sample of an arbitrary size can be measured. . In addition, by interposing a thermal switch between the sample and the cooling stage, the sample can be cooled to any temperature and the superconducting coil does not need to be released even when the sample is replaced. In addition, the efficiency of the re-cooling operation can be improved. Further, if the sample chamber is divided into a sample chamber front chamber and a sample chamber main body and a gate valve is provided therebetween, the vacuum state of the sample chamber is maintained and only the sample chamber front chamber can be released from vacuum or open to the atmosphere. In addition to minimizing heat intrusion at the time of sample exchange, the evacuation operation can be performed efficiently.

【0031】[0031]

【発明の実施の形態】つぎに、本発明の実施の形態によ
る強磁場低温物性測定装置40を図1および図2にもと
づき説明する。ただし、図3ないし図6と同様の部分に
は同一符号を付し、その詳述はこれを省略する。図1
は、強磁場低温物性測定装置40の断面図であって、強
磁場低温物性測定装置40は、前記超電導マグネット装
置2により強磁場とした磁場利用空間3から構成した試
料室41と、熱スイッチ42と、試料ホルダー43と、
真空シールゲート弁その他のゲート弁44およびその弁
操作用マニュピュレーター45と、試料用マニュピュレ
ーター46と、外蓋47と、真空気密導入端子48と、
開閉弁49と、を有する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, a high-field low-temperature physical property measuring apparatus 40 according to an embodiment of the present invention will be described with reference to FIGS. However, the same parts as those in FIGS. 3 to 6 are denoted by the same reference numerals, and detailed description thereof will be omitted. FIG.
FIG. 2 is a cross-sectional view of the high-field low-temperature property measuring apparatus 40. The high-field low-temperature property measuring apparatus 40 includes a sample chamber 41 formed of a magnetic field utilization space 3 in which a strong magnetic field is generated by the superconducting magnet device 2, and a heat switch 42. And the sample holder 43,
A vacuum seal gate valve and other gate valves 44 and a manipulator 45 for operating the valve, a sample manipulator 46, an outer lid 47, a vacuum airtight introduction terminal 48,
An on-off valve 49.

【0032】試料室41は、超電導マグネット装置2に
おける前記真空容器6および外蓋47によりこれを真空
断熱状態に保持するとともに、隔壁50によって、内側
の試料室本体51と、外蓋47側の試料室前室52との
二室に分割形成してある。試料室本体51の内部に熱ス
イッチ42および試料ホルダー43を収容し、試料室前
室52の内部にゲート弁44および弁操作用マニュピュ
レーター45を収容する。なお試料室41は、GM冷凍
機7の真空容器6とは分離独立した真空断熱槽とされて
いる。すなわち、真空容器6の真空容器内筒53を試料
室41の外壁としており、その材質としては、熱伝導度
が低いとともに磁性のない、たとえばステンレス(SU
S304)やGFRP(ガラス強化繊維樹脂)などを用
いる。
The sample chamber 41 is held in a vacuum-insulated state by the vacuum vessel 6 and the outer lid 47 in the superconducting magnet device 2, and the partition 50 is used to hold the inner sample chamber main body 51 and the sample on the outer lid 47 side. It is divided and formed into two chambers including a front chamber 52. The heat switch 42 and the sample holder 43 are housed inside the sample chamber main body 51, and the gate valve 44 and the valve manipulator 45 are housed inside the sample chamber front chamber 52. The sample chamber 41 is a vacuum adiabatic tank that is separate and independent from the vacuum container 6 of the GM refrigerator 7. That is, the vacuum vessel inner tube 53 of the vacuum vessel 6 is used as the outer wall of the sample chamber 41, and is made of a material having low thermal conductivity and no magnetism, such as stainless steel (SU).
S304) or GFRP (glass reinforced fiber resin) is used.

【0033】熱スイッチ42は、被冷却物(試料13)
とGM冷凍機7の第二段冷却ステージ7Bとの間の熱接
触を接続したり、切り離したりするものである。熱スイ
ッチ42は、たとえば銅などにより構成した伝熱部材を
機械的に移動させて熱接触を調節する機械的熱スイッチ
や、ガス式熱スイッチなどがある。
The heat switch 42 is connected to the object to be cooled (sample 13).
It connects and disconnects thermal contact between the GM refrigerator 7 and the second cooling stage 7B of the GM refrigerator 7. Examples of the heat switch 42 include a mechanical heat switch that mechanically moves a heat transfer member made of copper or the like to adjust thermal contact, a gas heat switch, and the like.

【0034】たとえば図2は、本発明において、より好
ましいガス式の熱スイッチ42を示す概略断面図で、熱
スイッチ42は、気密容器54と、ヘリウムガス配管5
5と、を有する。
For example, FIG. 2 is a schematic sectional view showing a gas-type heat switch 42 which is more preferable in the present invention. The heat switch 42 includes an airtight container 54 and a helium gas pipe 5.
And 5.

【0035】気密容器54は、ステンレス製あるいはG
FRP製などの低熱伝導性の筒部材56と、銅などによ
る良熱伝導性の相対する第1の伝熱部材57および第2
の伝熱部材58と、からこれを構成する。すなわち筒部
材56は、第1の伝熱部材57および第2の伝熱部材5
8の間に閉鎖空間59を形成するとともに、第1の伝熱
部材57および第2の伝熱部材58からそれぞれ複数本
の銅などの良熱伝導性のフィン60(板材)を閉鎖空間
59に臨ませて、ガス充填時の熱交換の効率を良好にし
ている。
The airtight container 54 is made of stainless steel or G
The first heat transfer member 57 and the second heat transfer member 57 made of FRP or the like, which have low heat conductivity,
And the heat transfer member 58. That is, the first heat transfer member 57 and the second heat transfer member 5
8 and a plurality of high heat conductive fins 60 (plates) such as copper are respectively provided in the closed space 59 from the first heat transfer member 57 and the second heat transfer member 58. The heat exchange efficiency at the time of gas filling is improved.

【0036】外部のヘリウムガス供給源(図示せず)か
らヘリウムガス配管55および開閉弁61を介して閉鎖
空間59にヘリウムガスを供給可能とし、ヘリウムガス
の量により、内部の圧力つまり熱交換の効率を制御可能
としている。すなわち熱スイッチ42において、第二段
冷却ステージ7Bと試料ホルダー43との間にごく微弱
な熱接触が必要なときには、数十Pa程度のガス圧力に
すればよいし、より強固な熱接触が必要なときには、よ
り圧力を上げればよい。
Helium gas can be supplied from an external helium gas supply source (not shown) to the closed space 59 via a helium gas pipe 55 and an on-off valve 61, and the internal pressure, that is, heat exchange, is determined by the amount of helium gas. The efficiency can be controlled. That is, when very weak thermal contact is required between the second cooling stage 7B and the sample holder 43 in the thermal switch 42, a gas pressure of about several tens Pa may be used, and a stronger thermal contact is required. In such a case, the pressure may be increased.

【0037】試料ホルダー43は、とくに図2に示すよ
うに、ここに試料13および任意の物性測定用センサー
62をセットするもので、熱スイッチ42を介してGM
冷凍機7の第二段冷却ステージ7Bに熱接触している。
試料ホルダー43には、温度センサー63や抵抗加熱ヒ
ーター64を設置し、外部の温度表示器および温度調節
器(図示せず)に接続されている。なお、ゲート弁44
を真空容器6(真空容器内筒53)に取り付ける部分、
あるいはゲート弁44にも同様に、温度センサーや抵抗
加熱ヒーター(ともに図示せず)を取り付けることによ
り、外部からの温度計測および温度制御を可能としてい
る。
As shown in FIG. 2, the sample holder 43 sets the sample 13 and an arbitrary physical property measuring sensor 62 here.
It is in thermal contact with the second cooling stage 7B of the refrigerator 7.
The sample holder 43 is provided with a temperature sensor 63 and a resistance heater 64, and is connected to an external temperature indicator and a temperature controller (not shown). The gate valve 44
For attaching to a vacuum vessel 6 (vacuum vessel inner cylinder 53),
Alternatively, a temperature sensor and a resistance heater (both not shown) are similarly attached to the gate valve 44 to enable external temperature measurement and temperature control.

【0038】この試料ホルダー43内の物性測定用セン
サー62からの測定用電線65は、隔壁50を経て、真
空気密導入端子48から外部の測定制御機器(図示せ
ず)にこれを接続する。本発明におけるこの測定用電線
65の接続構造としては、この他に、外部の測定制御機
器と超電導マグネット装置2との間にあらかじめ配線さ
れている電線と、この電線の先端部が接続されているコ
ネクター(ともに図示せず)と、を採用することができ
る。このコネクターを試料ホルダー43に設置してお
き、コネクターに測定用電線65を接続する。ただし、
この接続構造の場合には、外部から試料用マニュピュレ
ーター46により試料13に取り付けた測定用電線65
を試料ホルダー43の当該コネクターに接続する必要が
ある。
The measuring wire 65 from the physical property measuring sensor 62 in the sample holder 43 is connected to an external measurement control device (not shown) from the vacuum airtight introduction terminal 48 through the partition wall 50. As a connection structure of the measuring wire 65 in the present invention, in addition to the above, a wire previously wired between an external measurement control device and the superconducting magnet device 2 and a distal end of the wire are connected. And a connector (both not shown). This connector is placed on the sample holder 43, and the measuring wire 65 is connected to the connector. However,
In the case of this connection structure, the measuring electric wire 65 attached to the sample 13 from the outside by the sample manipulator 46 is used.
Must be connected to the connector of the sample holder 43.

【0039】ゲート弁44は、隔壁50に形成した貫通
窓66を開閉するもので、外部から操作可能な弁操作用
マニュピュレーター45によりこれを操作することによ
り試料室41を試料室本体51および試料室前室52に
二分割可能、あるいは試料室本体51および試料室前室
52を連通可能としている。
The gate valve 44 opens and closes a through-hole 66 formed in the partition wall 50. The gate valve 44 is operated by an externally operable valve operating manipulator 45 to move the sample chamber 41 and the sample chamber body 51 and The sample chamber front chamber 52 can be divided into two parts, or the sample chamber main body 51 and the sample chamber front chamber 52 can communicate with each other.

【0040】試料用マニュピュレーター46は、外蓋4
7に形成したのぞき窓67から操作して試料ホルダー4
3に試料13をセットするためのものである。
The sample manipulator 46 includes the outer lid 4.
7 through the viewing window 67 formed in the sample holder 4.
3 is for setting the sample 13.

【0041】外蓋47には、のぞき窓67以外に真空排
気口68を形成し、開閉弁49を介して、真空排気装置
(図示せず)により試料室41(試料室本体51、試料
室前室52)内を真空排気するとともに、試料室前室5
2を大気開放可能とする。
A vacuum exhaust port 68 is formed in the outer lid 47 in addition to the viewing window 67, and the sample chamber 41 (the sample chamber body 51, the front of the sample chamber) is opened via an open / close valve 49 by a vacuum exhaust device (not shown). The chamber 52) is evacuated and the sample chamber front chamber 5 is evacuated.
2 can be opened to the atmosphere.

【0042】こうした構成の強磁場低温物性測定装置4
0において、まず、試料13が試料室41(試料室本体
51)に設置された状態で、試料室41は外蓋47によ
り真空シールされ、ゲート弁44は開いており、外蓋4
7上の真空排気口68から真空排気することにより試料
室41(試料室本体51および試料室前室52)全体が
真空排気されている。熱スイッチ42内にはヘリウムガ
スが充填されており、試料ホルダー43はGM冷凍機7
の第二段冷却ステージ7Bによって温度4Kレベルに冷
却されている。
A high-field low-temperature physical property measuring apparatus 4 having such a configuration
0, first, in a state where the sample 13 is set in the sample chamber 41 (the sample chamber main body 51), the sample chamber 41 is vacuum-sealed by the outer lid 47, the gate valve 44 is opened, and the outer lid 4 is opened.
The whole of the sample chamber 41 (the sample chamber main body 51 and the sample chamber front chamber 52) is evacuated by evacuating the vacuum from the evacuation port 68 on the upper side. The heat switch 42 is filled with helium gas, and the sample holder 43 is mounted on the GM refrigerator 7.
Is cooled to a temperature of 4K by the second cooling stage 7B.

【0043】この状態で試料13の任意の物性を測定す
るものであるが、この測定状態で第二段冷却ステージ7
Bへの侵入熱のうち、磁場利用空間3が空芯状態である
従来の超電導マグネット装置2(図3)と比較して増加
しているのは、超電導マグネット装置2の真空容器6と
試料室41とを隔てている隔壁50の熱伝導による侵入
熱、および試料ホルダー43から熱スイッチ42を通し
ての侵入熱である。これらの侵入熱は微量であり、GM
冷凍機7を冷却機能を上げて運転することにより、対処
可能である。
In this state, any physical property of the sample 13 is measured.
Among the heat penetrating into B, the increase in the magnetic field utilization space 3 as compared with the conventional superconducting magnet device 2 (FIG. 3) in which the space 3 is in the air core state is due to the vacuum vessel 6 and the sample chamber of the superconducting magnet device 2 The heat invaded by the heat conduction of the partition wall 50 that separates the sample holder 41 from the sample holder 43, and the heat entered from the sample holder 43 through the thermal switch 42. These penetrating heats are very small and GM
This can be dealt with by operating the refrigerator 7 with an increased cooling function.

【0044】試料13を交換する手順と、そのときの各
部の状態および作用を以下に説明する。まず熱スイッチ
42内のヘリウムガスを排気し、熱スイッチ42をオフ
状態にする。このオフ状態により、試料13の交換時に
発生する超電導コイル9への熱侵入を低減し、再冷却時
間の短縮を図る。
The procedure for replacing the sample 13 and the state and operation of each part at that time will be described below. First, the helium gas in the heat switch 42 is exhausted, and the heat switch 42 is turned off. This off state reduces heat intrusion into superconducting coil 9 generated when sample 13 is replaced, and shortens the recooling time.

【0045】外蓋47を通して試料用マニュピュレータ
ー46を操作することにより試料13を試料ホルダー4
3から取り外し、ゲート弁44より外方の試料室前室5
2に引き出したのち、ゲート弁44を閉じる。また、ゲ
ート弁44に取り付けてある温度調節器および抵抗加熱
ヒーターによりゲート弁44の温度を常温まで加熱する
ことにより、ゲート弁44の氷結ないし汚染を防止す
る。この際、第二段冷却ステージ7Bへの侵入熱が増加
し、超電導コイル9の温度が上昇するが、試料13交換
中は、超電導コイル9による強磁場発生の必要はないの
で、特別な問題はない。
By manipulating the sample manipulator 46 through the outer lid 47, the sample 13 is placed in the sample holder 4
3 and the sample chamber front chamber 5 outside the gate valve 44.
After being pulled out to 2, the gate valve 44 is closed. Further, the temperature of the gate valve 44 is heated to a normal temperature by a temperature controller and a resistance heater attached to the gate valve 44, thereby preventing the gate valve 44 from icing or contaminating. At this time, heat entering the second cooling stage 7B increases, and the temperature of the superconducting coil 9 rises. However, since there is no need to generate a strong magnetic field by the superconducting coil 9 during the exchange of the sample 13, there is a special problem. Absent.

【0046】上述のように試料13を試料室前室52ま
で引き出してゲート弁44を閉じ、ゲート弁44の温度
が上昇したならば、外蓋47の真空排気口68から大気
あるいは窒素ガスなどの乾燥ガスを試料室前室52に導
入し、外蓋47を開ける。
As described above, the sample 13 is drawn out to the sample chamber front chamber 52 and the gate valve 44 is closed. When the temperature of the gate valve 44 rises, the atmosphere or nitrogen gas or the like is discharged from the vacuum exhaust port 68 of the outer lid 47. The drying gas is introduced into the sample chamber front chamber 52, and the outer lid 47 is opened.

【0047】新しい試料13の設置手順は、上述の取外
し手順とは逆手順で、試料用マニュピュレーター46に
取り付けた試料13を試料室前室52に入れ、外蓋47
を閉じる。外蓋47の真空排気口68から真空排気を行
い、所定の真空度(試料室本体51と同等)になった時
点で、ゲート弁44の温度調節を停止し、ゲート弁44
を開く。試料用マニュピュレーター46により試料13
を試料ホルダー43に設置し、試料用マニュピュレータ
ー46を試料13から切り離す。ついで、熱スイッチ4
2内にヘリウムガスを充填してオン状態とし、第二段冷
却ステージ7Bにより試料13を冷却する。
The procedure for installing a new sample 13 is the reverse of the above-described removal procedure. The sample 13 attached to the sample manipulator 46 is put into the sample chamber front chamber 52 and the outer lid 47 is placed.
Close. Evacuation is performed from the evacuation port 68 of the outer lid 47, and when a predetermined degree of vacuum (equivalent to that of the sample chamber main body 51) is reached, the temperature control of the gate valve 44 is stopped, and the gate valve 44
open. The sample 13 is controlled by the sample manipulator 46.
Is set on the sample holder 43, and the sample manipulator 46 is separated from the sample 13. Then heat switch 4
2 is filled with helium gas to turn it on, and the sample 13 is cooled by the second cooling stage 7B.

【0048】なお本発明による強磁場低温物性測定装置
40においては、従来の強磁場低温物性測定装置30
(図6)において、超電導コイル9と試料室41との間
に存在することになる第2のGM冷凍機31の真空容器
33および熱シールド板34を省略可能であり、結果と
して、同じ内径の超電導マグネット装置2に対して試料
ホルダー43を大きくすることができる。
It should be noted that in the high-field low-temperature physical property measuring apparatus 40 according to the present invention,
In FIG. 6, the vacuum container 33 and the heat shield plate 34 of the second GM refrigerator 31 that are present between the superconducting coil 9 and the sample chamber 41 can be omitted, and as a result, the same inner diameter The sample holder 43 can be made larger than the superconducting magnet device 2.

【0049】[0049]

【発明の効果】以上のように本発明によれば、超電導マ
グネット装置における冷凍機の冷却ステージにより試料
を所定の低温に冷却するようにしたので、構造および操
作が簡単で、導入時および運転時におけるコストの低減
を図ることができる。
As described above, according to the present invention, the sample is cooled to a predetermined low temperature by the cooling stage of the refrigerator in the superconducting magnet device. Cost can be reduced.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の実施の形態による強磁場低温物性測定
装置40の断面図である。
FIG. 1 is a cross-sectional view of a high-field low-temperature property measuring apparatus 40 according to an embodiment of the present invention.

【図2】同、ガス式の熱スイッチ42を示す概略断面図
である。
FIG. 2 is a schematic cross-sectional view showing the gas type thermal switch 42;

【図3】液体窒素を用いて冷却する、従来の強磁場低温
物性測定装置1を示す断面図である。
FIG. 3 is a cross-sectional view showing a conventional high-field low-temperature physical property measuring apparatus 1 cooled using liquid nitrogen.

【図4】液体ヘリウムを利用して冷却する、従来の強磁
場低温物性測定装置20の断面図である。
FIG. 4 is a cross-sectional view of a conventional high-field low-temperature physical property measuring apparatus 20 for cooling using liquid helium.

【図5】液体ヘリウムを利用して冷却する、従来の強磁
場低温物性測定装置25の断面図である。
FIG. 5 is a cross-sectional view of a conventional high-field low-temperature property measuring apparatus 25 that cools using liquid helium.

【図6】他の冷凍機(第2のGM冷凍機31)を利用し
て冷却する、従来の強磁場低温物性測定装置30の断面
図である。
FIG. 6 is a cross-sectional view of a conventional high-field low-temperature physical property measuring apparatus 30 that cools using another refrigerator (second GM refrigerator 31).

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 液体窒素を用いて冷却する、強磁場低温物性測定装
置(図3) 2 超電導マグネット装置 3 強磁場とした磁場利用空間 4 液体窒素容器 5 試料取付け部兼測定部 6 真空容器 7 GM冷凍機(ギフォード・マクマホン冷凍機) 7A GM冷凍機7の第一段冷却ステージ 7B GM冷凍機7の第二段冷却ステージ 8 熱シールド板 9 超電導コイル 10 電流リード 11 液体窒素注入口 12 液体窒素(図3) 13 試料 20 液体ヘリウムを利用して冷却する、強磁場低温物
性測定装置(図4) 21 液体ヘリウム循環用容器 22 液体ヘリウム容器 23 ヘリウム循環配管 24 液体ヘリウム(図4、図5) 25 液体ヘリウムを利用して冷却する、強磁場低温物
性測定装置(図6) 26 液体ヘリウム容器 27 ヘリウム供給管 30 他の冷凍機(第2のGM冷凍機31)を利用して
冷却する、強磁場低温物性測定装置(図6) 31 第2のGM冷凍機 31A 第2のGM冷凍機31の第一段冷却ステージ 31B 第2のGM冷凍機31の第二段冷却ステージ 32 保持移動機構 33 真空容器 34 熱シールド板 35 サンプルホルダー 36 抵抗加熱ヒーター 40 強磁場低温物性測定装置(実施の形態、図1) 41 試料室 42 ガス式の熱スイッチ(図1、図2) 43 試料ホルダー 44 ゲート弁(真空シールゲート弁) 45 弁操作用マニュピュレーター 46 試料用マニュピュレーター 47 外蓋 48 真空気密導入端子 49 開閉弁 50 隔壁 51 試料室本体 52 試料室前室 53 真空容器6の真空容器内筒 54 気密容器 55 ヘリウムガス配管 56 ステンレス製あるいはGFRP製などによる低熱
伝導性の筒部材 57 銅などによる第1の伝熱部材 58 銅などによる第2の伝熱部材 59 閉鎖空間 60 フィン 61 開閉弁 62 物性測定用センサー 63 温度センサー 64 抵抗加熱ヒーター 65 測定用電線 66 貫通窓 67 のぞき窓 68 真空排気口
Reference Signs List 1 Strong magnetic field low-temperature physical property measurement device cooled with liquid nitrogen (Fig. 3) 2 Superconducting magnet device 3 Magnetic field utilization space with strong magnetic field 4 Liquid nitrogen container 5 Sample mounting and measuring unit 6 Vacuum container 7 GM refrigerator ( Gifford McMahon refrigerator 7A First cooling stage of GM refrigerator 7B Second cooling stage of GM refrigerator 7 8 Heat shield plate 9 Superconducting coil 10 Current lead 11 Liquid nitrogen inlet 12 Liquid nitrogen (FIG. 3) Reference Signs List 13 Sample 20 High-temperature low-temperature physical property measuring device for cooling using liquid helium (FIG. 4) 21 Container for liquid helium circulation 22 Liquid helium container 23 Helium circulation pipe 24 Liquid helium (FIGS. 4 and 5) 25 Liquid helium High-field low-temperature physical property measurement device that cools by utilizing (Fig. 6) 26 Liquid helium container 27 Helium supply pipe 30 Other refrigeration (2nd GM refrigerator 31) Cooling using strong magnetic field low-temperature physical property measurement device (FIG. 6) 31 Second GM refrigerator 31A First cooling stage 31B of second GM refrigerator 31 Second cooling stage 32 of GM refrigerator 31 of the above 32 Holding and moving mechanism 33 Vacuum container 34 Heat shield plate 35 Sample holder 36 Resistance heater 40 Strong magnetic field low temperature physical property measuring device (embodiment, FIG. 1) 41 Sample chamber 42 Gas type Heat switch (FIGS. 1 and 2) 43 Sample holder 44 Gate valve (vacuum seal gate valve) 45 Manipulator for valve operation 46 Manipulator for sample 47 Outer lid 48 Vacuum airtight introduction terminal 49 On-off valve 50 Partition wall 51 Sample Room main body 52 Sample chamber front chamber 53 Vacuum vessel inner cylinder of vacuum vessel 6 Airtight vessel 55 Helium gas pipe 56 Stainless steel or GF Low heat conductive cylindrical member made of P or the like 57 First heat transfer member made of copper or the like 58 Second heat transfer member made of copper or the like 59 Closed space 60 Fin 61 Open / close valve 62 Physical property measurement sensor 63 Temperature sensor 64 Resistance heater 65 Measurement wire 66 Through window 67 Viewing window 68 Vacuum exhaust port

Claims (8)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 真空容器内に設けるとともに冷凍機に
より冷却する超電導コイルを磁場源とする強磁場を磁場
利用空間とし、この磁場利用空間における試料の物性を
測定するための強磁場低温物性測定装置であって、 前記超電導コイルによる前記磁場利用空間内に前記超電
導コイルの前記真空容器とは別に独立した真空の試料室
を形成し、 この試料室内に設けるとともに前記試料を取り付ける試
料ホルダーを、前記冷凍機の冷却ステージに熱的に接続
したことを特徴とする強磁場低温物性測定装置。
A strong magnetic field low-temperature physical property measuring apparatus for measuring a physical property of a sample in a magnetic field utilizing space, wherein a strong magnetic field using a superconducting coil provided in a vacuum vessel and cooled by a refrigerator is used as a magnetic field source. In the magnetic field utilization space by the superconducting coil, a vacuum sample chamber is formed separately from the vacuum container of the superconducting coil, and a sample holder provided in the sample chamber and for mounting the sample is provided by the freezing. A strong magnetic field low-temperature physical property measuring device, which is thermally connected to a cooling stage of the machine.
【請求項2】 前記試料室をその外蓋側の試料室前室
と試料室本体とのふたつに分割するとともに、 この試料室本体とこの試料室前室との間に外部から操作
可能なゲート弁を設け、 前記試料室本体を真空状態に維持したまま、前記試料室
前室を大気にさらすことができるようにしたことを特徴
とする請求項1記載の強磁場低温物性測定装置。
2. A gate operable from the outside between the sample chamber main body and the sample chamber front chamber while dividing the sample chamber into two parts, a sample chamber front chamber on the outer lid side and a sample chamber main body. 2. The apparatus for measuring low-temperature physical properties of a strong magnetic field according to claim 1, wherein a valve is provided so that the sample chamber front chamber can be exposed to the atmosphere while the sample chamber main body is maintained in a vacuum state.
【請求項3】 前記試料室内の前記試料を前記試料ホ
ルダーに取り付ける操作を外部から行うための試料用マ
ニュピュレーターを備え、 前記試料室の外蓋に、この取付け操作を行うためののぞ
き窓を備えたことを特徴とする請求項1記載の強磁場低
温物性測定装置。
3. A sample manipulator for externally performing an operation for mounting the sample in the sample chamber to the sample holder, and a view window for performing the mounting operation on an outer lid of the sample chamber. The high-temperature low-temperature physical property measuring apparatus according to claim 1, further comprising:
【請求項4】 前記試料ホルダーを熱スイッチを介し
て前記冷凍機の冷却ステージに熱的に接触させることを
特徴とする請求項1記載の強磁場低温物性測定装置。
4. The apparatus according to claim 1, wherein the sample holder is brought into thermal contact with a cooling stage of the refrigerator via a thermal switch.
【請求項5】 前記熱スイッチは、 良熱伝導性の相対する第1の伝熱部材および第2の伝熱
部材、ならびにこの第1および第2の伝熱部材の間を連
結する低熱伝導性の筒部材、により形成した気密容器
と、 この気密容器に接続してその内部にヘリウムガスを充填
可能とするとともに、その外部と連通するヘリウムガス
配管と、を有することを特徴とする請求項4記載の強磁
場低温物性測定装置。
5. The heat switch comprises: a first heat transfer member and a second heat transfer member having good heat conductivity, and a low heat conductivity connecting between the first and second heat transfer members. 5. An airtight container formed by said cylindrical member, and a helium gas pipe connected to said airtight container so that the inside thereof can be filled with helium gas and communicated with the outside thereof. A high-temperature low-temperature physical property measuring apparatus as described in the above.
【請求項6】 前記試料に接続する測定用電線は、前
記試料室の外蓋に設けた真空気密導入端子を介してこれ
を外部の測定機器に接続することを特徴とする請求項1
記載の強磁場低温物性測定装置。
6. The measuring wire connected to the sample is connected to an external measuring instrument via a vacuum airtight introduction terminal provided on an outer lid of the sample chamber.
A high-temperature low-temperature physical property measuring apparatus as described in the above.
【請求項7】 前記試料室内の前記試料に接続した測
定用電線と、 前記超電導コイルを有する超電導マグネット装置内にあ
らかじめ配線するとともに外部の測定機器と接続した電
線と、を接続するためのコネクターを、 前記試料室内の前記試料ホルダーの部分に設置すること
を特徴とする請求項1記載の強磁場低温物性測定装置。
7. A connector for connecting a measuring wire connected to the sample in the sample chamber and a wire previously wired in a superconducting magnet device having the superconducting coil and connected to an external measuring instrument. 2. The apparatus for measuring low-temperature physical properties at high magnetic field according to claim 1, wherein the apparatus is installed at a portion of the sample holder in the sample chamber.
【請求項8】 前記コネクターと前記測定用電線との
接続操作を外部から行うためのマニュピュレーターを前
記試料室の外蓋に設けることを特徴とする請求項7記載
の強磁場低温物性測定装置。
8. An apparatus for measuring low-temperature physical properties at high magnetic field according to claim 7, wherein a manipulator for externally performing a connection operation between said connector and said electric wire for measurement is provided on an outer lid of said sample chamber. .
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