JP4431793B2 - Cryostat - Google Patents

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本発明は、20mK(milli Kelvin)前後の極低温あるいはそれ以上の様々の極低温から300Kの室温付近若しくは室温以上に至る広範囲の温度の測定環境を提供することができ、所望の温度で試料の物性を測定することができるクライオスタットに関する。 The present invention can provide a measurement environment for a wide range of temperatures from various cryogenic temperatures of about 20 mK (milli Kelvin) or higher to various temperatures ranging from about 300 K to room temperature or above, and at a desired temperature. The present invention relates to a cryostat capable of measuring physical properties.

物性物理学や物質科学、材料工学や電気・電子工学などの分野で、物質を極低温に冷却し物理的性質を調べるために、古くから寒剤として液体ヘリウムが用いられてきた。液体ヘリウムの1気圧での沸点は4.2Kであるが、真空ポンプを用いて蒸気圧を下げるだけで温度が下がり、最低到達温度1K程度が実現される。   In fields such as physical physics, material science, material engineering, and electrical / electronic engineering, liquid helium has long been used as a cryogen for cooling materials to cryogenic temperatures and investigating their physical properties. Although the boiling point of liquid helium at 1 atm is 4.2K, the temperature can be lowered just by lowering the vapor pressure using a vacuum pump, and the lowest reached temperature of about 1K is realized.

このような液体ヘリウムを用いたクライオスタットが製作され、物理的性質を調べる実験が行われてきたが、このクライオスタットは試料に熱を加えて温度を上げると、試料から液体ヘリウムに熱が多量に流れ込むため液体ヘリウムの蒸発が速くなる。しかし、クライオスタットの中に蓄えられる液体ヘリウムの量は限られているため、一度汲み込んだ液体ヘリウムが蒸発してしまう前に実験を終了することができなければ、一旦運転を停止してもう一度液体ヘリウムを追加汲み込みした後、再度実験を開始する必要があった。そのため、広範囲の温度、特に室温付近の高温まで昇温して物性を調べる実験にはあまり適さないクライオスタットであった。   A cryostat using such liquid helium has been manufactured, and experiments to investigate its physical properties have been carried out. However, when the temperature of the cryostat is increased by applying heat to the sample, a large amount of heat flows from the sample into the liquid helium. Therefore, the evaporation of liquid helium becomes faster. However, since the amount of liquid helium stored in the cryostat is limited, if the experiment cannot be completed before the liquid helium once pumped evaporates, the operation is once stopped and the liquid helium once again. After additional pumping of helium, the experiment had to start again. Therefore, it was a cryostat that was not very suitable for experiments in which the temperature was raised to a wide range of temperatures, particularly high temperatures around room temperature, and physical properties were examined.

それに加え、液体ヘリウムは高価で取り扱いが難しいため、専門的教育を受けた者でなければ扱えない。さらに、ヘリウムは、空気中に放出されると、回収不能な限られた資源でもある。   In addition, liquid helium is expensive and difficult to handle, so it can only be handled by those who have received specialized education. Furthermore, helium is also a limited resource that cannot be recovered once released into the air.

このため最近では、液体ヘリウムを用いたクライオスタットに代わって、導入コストは高いがランニングコストが安く、総合的にみて低コストのギフォード・マクマホン冷凍機(以下、GM冷凍機)や、パルスチューブ冷凍機、スターリング冷凍機などのいわゆるクライオクーラーを用いて極低温を実現する無冷媒(Cryogen Free)型クライオスタットが開発されている。GM冷凍機の詳細については後述する。パルスチューブ冷凍機は、コンプレッサー、放熱器、蓄冷器、熱交換器、パルスチュ−ブの順に接続したもので、パルスチューブとコンプレッサーとの間で冷媒を往復移動させて熱交換器で冷却するものである。また、スターリング冷凍機はディスプレーサとピストン、蓄冷器、これらを囲むシリンダ、及び高温部と低温部の熱交換器から構成される冷凍機であって、冷媒をピストンで圧縮し、その後ディスプレーサとピストンが移動することで冷媒を膨張させて冷却し、ディスプレーサが元の位置に戻ってこのサイクルを繰返すものである。   For this reason, instead of a cryostat using liquid helium, the Gifford McMahon refrigerator (hereinafter referred to as the GM refrigerator) and the pulse tube refrigerator, which have a high introduction cost but a low running cost, are generally low in cost. A cryogen-free cryostat that achieves cryogenic temperatures using so-called cryocoolers such as Stirling refrigerators has been developed. Details of the GM refrigerator will be described later. A pulse tube refrigerator is connected in the order of a compressor, radiator, regenerator, heat exchanger, and pulse tube. The pulse tube refrigerator is reciprocated between the pulse tube and the compressor and cooled by the heat exchanger. is there. A Stirling refrigerator is a refrigerator composed of a displacer and a piston, a regenerator, a cylinder surrounding them, and a heat exchanger of a high temperature part and a low temperature part. The refrigerant is compressed by the piston, and then the displacer and piston are The refrigerant expands and cools by moving, and the displacer returns to the original position and repeats this cycle.

一方、試料に磁場を印加したいという要求があり、上記した無冷媒型クライオスタットの開発とは独立して、GM冷凍機を用いて伝導冷却により超電導マグネットを冷却する無冷媒超電導マグネット(Cryogen Fee Superconducting Magnet)が開発されている。   On the other hand, there is a demand for applying a magnetic field to the sample, and independent of the development of the above-described cryogen-free cryostat, a cryogen-free superconducting magnet that cools the superconducting magnet by conduction cooling using a GM refrigerator. ) Has been developed.

無冷媒型クライオスタットは、液体ヘリウム(He)を使ったクライオスタットと比較すれば高価な装置であり、無冷媒超電導マグネットと無冷媒型クライオスタットの2つを組み合わせたクライオスタットのように、1つの装置の中にクライオクーラーを2台以上設置するのは、いわば重複した構成といえる。そこで、GM冷凍機を1台にした次のようなクライオスタットが提案された(特許文献1,2)。 A cryogen-free cryostat is an expensive device as compared with a cryostat using liquid helium ( 4 He). Like a cryostat combining two cryogen-free superconducting magnets and a cryogen-free cryostat, It can be said that installing two or more cryocoolers inside is an overlapping configuration. Then, the following cryostat which used one GM refrigerator was proposed (patent documents 1 and 2).

図9は従来のクライオスタットの構成図である。図9に示すように、特許文献1のクライオスタットは、チャンバ110内の液ポット部分に試料112が設けられ、試料112付近のヒータ114で所定温度に加熱されることにより液体ヘリウムが気化し、対流でパイプ118,124、凝縮部128、細いパイプ130を経て循環する熱サイホンを構成している。これらは周囲から熱絶縁するため外容器132内に設けられた40Kの輻射シールド148内に収容されている。   FIG. 9 is a configuration diagram of a conventional cryostat. As shown in FIG. 9, in the cryostat of Patent Document 1, a sample 112 is provided in a liquid pot portion in a chamber 110, and liquid helium is vaporized by being heated to a predetermined temperature by a heater 114 near the sample 112, thereby causing convection. Thus, a thermosiphon circulating through the pipes 118 and 124, the condensing unit 128, and the thin pipe 130 is configured. These are housed in a 40K radiation shield 148 provided in the outer container 132 for thermal insulation from the surroundings.

輻射シールド148には40Kの第1ステージ120の熱交換器、4Kの第2ステージ126の熱交換器を備えたGM冷凍機122が設けられ、管路124内を通って第2ステージ126の熱交換器と熱交換したヘリウムガスは凝縮して凝縮部128に溜まり、4Kの液体ヘリウムとしてチャンバ110内の液ポット部分に戻される。ここで図示はしないが、試料112の周囲には超電導マグネットが配設され、強磁場での物性を測定できるようになっている。ニードルバルブ134を操作することにより細いパイプ130を流れる液体ヘリウムの流量を制御する。リザーバタンク140には所定圧力のヘリウムガスが充填されている。   The radiation shield 148 is provided with a GM refrigerator 122 having a heat exchanger of the 40K first stage 120 and a heat exchanger of the 4K second stage 126, and the heat of the second stage 126 passes through the pipe 124. The helium gas exchanged with the exchanger is condensed and accumulated in the condensing unit 128, and returned to the liquid pot portion in the chamber 110 as 4K liquid helium. Although not shown here, a superconducting magnet is disposed around the sample 112 so that physical properties in a strong magnetic field can be measured. By operating the needle valve 134, the flow rate of liquid helium flowing through the thin pipe 130 is controlled. The reservoir tank 140 is filled with helium gas at a predetermined pressure.

試料112は、クライオスタット頂部に設けられたエアロック機構とゲートバルブ136を通したパイプ状の試料ロッドの先端に吊り下げられる。試料112は液体ヘリウム中に浸漬または気体ヘリウム中に配置される。従って、試料を交換するときには、そのメカニズムは明確にされてはいないが、エアロック機構の操作を行ってチャンバ110内の圧力状態を維持しつつ、試料ロッドの引き上げと再挿入を行い、試料112を液ポット中の液体ヘリウムまたは気体ヘリウム内に戻すことになる。   The sample 112 is suspended from the tip of a pipe-shaped sample rod that passes through an air lock mechanism provided at the top of the cryostat and a gate valve 136. The sample 112 is immersed in liquid helium or placed in gaseous helium. Therefore, when exchanging the sample, the mechanism is not clarified, but the sample rod is pulled up and reinserted while the pressure state in the chamber 110 is maintained by operating the air lock mechanism. Into the liquid helium or gaseous helium in the liquid pot.

ヒータ114を制御すると、特許文献1のクライオスタットは、高温での測定が可能になる理由は明確にされてはないが、1.5Kから300Kの温度範囲で試料の物性を測定することが可能になる。そして、特許文献2で開示されたクライオスタットは、実質的に特許文献1のクライオスタットと同一の構成のものである。   When the heater 114 is controlled, the cryostat disclosed in Patent Document 1 does not clarify the reason why measurement at a high temperature is possible, but it is possible to measure the physical properties of a sample in a temperature range of 1.5K to 300K. Become. The cryostat disclosed in Patent Document 2 has substantially the same configuration as the cryostat disclosed in Patent Document 1.

国際公表01/96020号公報International Publication No. 01/96020 特開2005−274113号公報JP 2005-274113 A

以上説明したように、液体ヘリウムを使ったクライオスタットは、高価な液体ヘリウムが蒸発するためランニングコストが高く、せいぜい1日か2日程度低温を維持できるだけのものあった。そして、液体ヘリウムを追加するためには、クライオスタットの運転を一時停止しなければならず、取り扱いに専門的知識が必要で利用しづらい装置であった。そして、何よりも、このクライオスタットは広範囲の温度で物理的性質を調べるのに適さないものであった。   As described above, a cryostat using liquid helium has a high running cost because expensive liquid helium evaporates, and can only maintain a low temperature for about one or two days. In order to add liquid helium, the operation of the cryostat has to be temporarily stopped, and it is a device that requires specialized knowledge for handling and is difficult to use. And above all, this cryostat was unsuitable for examining physical properties over a wide range of temperatures.

また、無冷媒超電導マグネットと無冷媒型クライオスタットの2つを組み合わせた装置は、GM冷凍機が2台装備されるという重複した構成のため、極めて高価な装置になることが避けられなかった。   In addition, an apparatus that combines two refrigerant-free superconducting magnets and two refrigerant-free cryostats is inevitably an extremely expensive apparatus due to the redundant configuration in which two GM refrigerators are installed.

この点、特許文献1,2のクライオスタットは、1台のGM冷凍機を使って試料と超電導マグネットの冷却を行うため、製造コストも安価になる上にランニングコストを低減でき、大きさも小型になり、温度も1.5Kから300Kの範囲で連続的な測定が可能になる。   In this regard, the cryostats of Patent Documents 1 and 2 use a single GM refrigerator to cool the sample and the superconducting magnet, so that the manufacturing cost is reduced and the running cost can be reduced and the size can be reduced. The temperature can be continuously measured in the range of 1.5K to 300K.

しかし、特許文献1,2のクライオスタットは、試料ロッド先端に試料を装着し、液体ヘリウム中に浸漬、あるいはヘリウムガス中に配置しなければならない。このため試料ロッドから流れ込んだ熱がヘリウムガスを介してGM冷凍機に伝わり熱負荷になるものであった。また、広範囲の温度で試料の物性を連続的に測定するためには、ヒータ114で液体ヘリウムを加熱する必要があるが、これも同様にGM冷凍機の負荷になるものであった。普通に測定すれば例えば300Kでの測定はきわめて難しい。   However, the cryostats of Patent Documents 1 and 2 must have a sample mounted on the tip of the sample rod, immersed in liquid helium, or placed in helium gas. For this reason, the heat flowing from the sample rod is transmitted to the GM refrigerator via helium gas and becomes a heat load. Moreover, in order to continuously measure the physical properties of the sample over a wide range of temperatures, it is necessary to heat the liquid helium with the heater 114, which is also a load on the GM refrigerator. If measured normally, for example, measurement at 300K is extremely difficult.

そして、特許文献1,2のクライオスタットに無冷媒超電導マグネットを設置する場合、無冷媒超電導マグネットにヘリウムガスまたは液体ヘリウムを介してヒータ114からの熱が冷却ステージ(図示しない)経由で伝熱し、クエンチ現象を起こさせる可能性があった。また、試料の比熱は真空の断熱雰囲気中で行わなければならないが、特許文献1,2のクライオスタットでは、試料に加えた熱がヘリウムガスまたは液体ヘリウムを通して逃げるため、測定が不可能である。特許文献1,2のクライオスタットでは、ヒータ114による加熱がヘリウムガスまたは液体ヘリウムの対流を介して行われるため試料位置と温度センサの位置の間で温度むらが生じ易く、正確な温度の測定ができない。   When the cryogen-free superconducting magnet is installed in the cryostats of Patent Documents 1 and 2, the heat from the heater 114 is transferred to the cryogen-free superconducting magnet via the cooling stage (not shown) via helium gas or liquid helium, and quenched. There was a possibility of causing a phenomenon. The specific heat of the sample must be performed in a vacuum adiabatic atmosphere. However, in the cryostats of Patent Documents 1 and 2, the heat applied to the sample escapes through helium gas or liquid helium, and measurement is impossible. In the cryostats of Patent Documents 1 and 2, since heating by the heater 114 is performed through convection of helium gas or liquid helium, temperature unevenness is likely to occur between the sample position and the position of the temperature sensor, and accurate temperature measurement cannot be performed. .

以上を総合すると、従来の液体ヘリウムを使ったクライオスタットは広範囲の温度での物性の測定に適さず、特許文献1,2のクライオスタットはGM冷凍機を1台にしたという利点を有してはいるものの、広範囲の温度で連続的に測定するときの冷凍機の熱負荷を減らすことは難しく、超電導マグネットのクエンチの可能性があり、比熱の測定や正確な温度の測定が不可能であった。   In summary, the conventional cryostat using liquid helium is not suitable for measuring physical properties over a wide range of temperatures, and the cryostats of Patent Documents 1 and 2 have the advantage of having only one GM refrigerator. However, it is difficult to reduce the heat load of the refrigerator when continuously measuring over a wide range of temperatures, and there is a possibility of quenching the superconducting magnet, making it impossible to measure specific heat or accurately measure temperature.

そこで本発明は、20mK前後の極低温あるいはそれ以上の様々の極低温から室温以上の温度範囲で測定することができ、連続運転可能で、製造コストと維持費が安価であり、クエンチを回避することができ、小型で、試料の装着が容易なクライオスタットを提供することを目的とする。 Therefore, the present invention can measure in the temperature range from room temperature to room temperature or higher from various cryogenic temperatures of about 20 mK or higher, and is capable of continuous operation, has low manufacturing costs and low maintenance costs, and avoids quenching. An object of the present invention is to provide a cryostat that is small and easy to mount a sample.

本発明のクライオスタットは、内部を真空雰囲気に保持することができる真空容器と、真空容器に設けられた低熱源と、真空容器内に装着され真空雰囲気中で試料を低熱源と熱交換させて低温としその物性を測定することができる試料装着装置を備え、低熱源と熱的に接続された伝熱部材に対して試料装着装置が真空雰囲気中で外部から着脱自在に装着され、試料装着装置に設けられたヒータによって試料の温度を局部的に上昇させるクライオスタットであって、試料装着装置が、試料を係止して伝熱部材に着脱自在に装着されこれらの間を熱的に接続する試料ホルダと、該試料ホルダに分離可能に装着される操作部とを備え、試料ホルダには、伝熱部材に着脱するための第1の着脱部と、操作部に着脱するための第2の着脱部とが設けられ、伝熱部材と試料ホルダとの間の熱的接続には、伝熱部材と第1の着脱部間だけで熱伝導が行われる第1の伝熱レベルと、伝熱部材と第1の着脱部及び試料ホルダを通して熱伝導が行われる第2の伝熱レベルと、伝熱部材と試料ホルダが分離され熱伝導が行われない第3の伝熱レベルが設けられて、この3つの伝熱レベルで伝熱部材と試料ホルダが熱的接続されることを主要な特徴とする。 The cryostat of the present invention includes a vacuum vessel capable of maintaining the inside in a vacuum atmosphere, a low heat source provided in the vacuum vessel, and a low temperature by exchanging a sample with a low heat source in the vacuum vessel. A sample mounting device that can measure the physical properties of the sample mounting device, and the sample mounting device is detachably mounted from outside in a vacuum atmosphere to a heat transfer member that is thermally connected to a low heat source. A cryostat that locally raises the temperature of a sample by a provided heater, in which a sample mounting device locks the sample and is detachably mounted on a heat transfer member, and thermally connects between them. And an operation part detachably attached to the sample holder, the sample holder having a first attachment / detachment part for attaching / detaching to / from the heat transfer member and a second attachment / detachment part for attaching / detaching to the operation part And is provided The thermal connection between the heat transfer member and the sample holder includes a first heat transfer level at which heat conduction is performed only between the heat transfer member and the first attachment / detachment portion, and the heat transfer member and the first attachment / detachment portion. And a second heat transfer level at which heat conduction is performed through the sample holder and a third heat transfer level at which heat transfer is not performed due to separation of the heat transfer member and the sample holder. The main feature is that the heat transfer member and the sample holder are thermally connected .

本発明のクライオスタットによれば、20mK前後の極低温あるいはそれ以上の様々の極低温から室温以上の温度範囲で試料の物性を測定することができ、連続運転可能で、製造コストと維持費が安価であり、超電導マグネットのクエンチを回避することができ、高精度の温度測定が行え、小型で、試料の装着を容易に行うことができる。 According to the cryostat of the present invention, the physical properties of a sample can be measured in a temperature range from a very low temperature of about 20 mK or more to a temperature range from room temperature to a room temperature or higher, continuous operation is possible, and manufacturing costs and maintenance costs are low. Therefore, quenching of the superconducting magnet can be avoided, high-precision temperature measurement can be performed, and the sample can be easily mounted with a small size.

本発明の第1の形態は、内部を真空雰囲気に保持することができる真空容器と、真空容器に設けられた低熱源と、真空容器内に装着され真空雰囲気中で試料を低熱源と熱交換させて低温としその物性を測定することができる試料装着装置を備え、低熱源と熱的に接続された伝熱部材に対して試料装着装置が真空雰囲気中で外部から着脱自在に装着され、試料装着装置に設けられたヒータによって試料の温度を局部的に上昇させるクライオスタットであって、試料装着装置が、試料を係止して伝熱部材に着脱自在に装着されこれらの間を熱的に接続する試料ホルダと、該試料ホルダに分離可能に装着される操作部とを備え、試料ホルダには、伝熱部材に着脱するための第1の着脱部と、操作部に着脱するための第2の着脱部とが設けられ、伝熱部材と試料ホルダとの間の熱的接続には、伝熱部材と第1の着脱部間だけで熱伝導が行われる第1の伝熱レベルと、伝熱部材と第1の着脱部及び試料ホルダを通して熱伝導が行われる第2の伝熱レベルと、伝熱部材と試料ホルダが分離され熱伝導が行われない第3の伝熱レベルが設けられて、この3つの伝熱レベルで伝熱部材と試料ホルダが熱的接続されることを特徴とするクライオスタットであり、ヒータが低熱源と独立して設けられているので、20mK前後の極低温あるいはそれ以上の様々の極低温から室温若しくはそれ以上の温度範囲で試料の物性を測定することができ、連続運転可能で、製造コストと維持費が安価であり、高精度の温度測定が行え、小型で、試料の装着を容易に行うことができる。また、真空容器中に試料ホルダを装着してこれを真空容器中に残留させることができる。伝熱部材と試料ホルダの間が、試料ホルダの本体が直接に熱的接続される第の伝熱レベルの場合は、試料ホルダの温度を伝熱部材の温度近傍にすることができ、第1の着脱部のみを介して行われる第の伝熱レベルで熱的に接続された場合は、熱的結合が緩やかであるため試料ホルダの温度をショックレスで伝熱部材よりやや高目の温度にすることができる。さらに、伝熱部材と試料ホルダが分離された第3の伝熱レベルの場合は、熱伝導が行われないので加熱により広範囲に温度を変化させることができる。第の伝熱レベルでは低熱源の温度とほぼ同一の極低温から低熱源に影響しない範囲の極低温、第の伝熱レベルでは第1の伝熱レベルの極低温よりは若干高い極低温、第3の伝熱レベルでは第の伝熱レベルの温度以上で室温若しくはそれ以上の温度を実現することができ、連続運転可能で、維持費が安価であり、低熱源と独立して温度制御できるので高精度の温度測定が行える。 The first aspect of the present invention is a vacuum vessel capable of maintaining the inside in a vacuum atmosphere, a low heat source provided in the vacuum vessel, and heat exchange of a sample with a low heat source in the vacuum vessel. The sample mounting device is equipped with a sample mounting device that can measure the physical properties at a low temperature. The sample mounting device is detachably mounted from outside in a vacuum atmosphere to a heat transfer member that is thermally connected to a low heat source. A cryostat that locally raises the temperature of a sample by a heater provided on the mounting device, and the sample mounting device is detachably mounted on a heat transfer member by locking the sample and thermally connected between them. A sample holder that is attached to the sample holder in a separable manner, a first attachment / detachment portion that is attached to and detached from the heat transfer member, and a second attachment / detachment portion that is attached to and detached from the operation portion. The detachable part is provided and heat transfer The thermal connection between the material and the sample holder includes a first heat transfer level in which heat conduction is performed only between the heat transfer member and the first attachment / detachment portion, and the heat transfer member, the first attachment / detachment portion, and the sample. A second heat transfer level in which heat conduction is performed through the holder and a third heat transfer level in which the heat transfer member and the sample holder are separated and heat conduction is not performed are provided. The cryostat is characterized in that the member and the sample holder are thermally connected, and since the heater is provided independently of the low heat source, the cryogenic temperature is around 20 mK or various cryogenic temperatures of about 20 mK or higher, or room temperature or higher. The physical properties of the sample can be measured in the above temperature range, continuous operation is possible, manufacturing costs and maintenance costs are low, high-accuracy temperature measurement is possible, small size, and easy sample mounting it can. Further, the sample holder can be mounted in the vacuum container and can be left in the vacuum container. In the case of the second heat transfer level between the heat transfer member and the sample holder where the main body of the sample holder is directly thermally connected, the temperature of the sample holder can be close to the temperature of the heat transfer member, In the case of being thermally connected at the first heat transfer level performed only through the first attaching / detaching portion, the temperature of the sample holder is slightly higher than that of the heat transfer member without shock because the thermal coupling is gentle. Can be temperature. Furthermore, in the case of the third heat transfer level in which the heat transfer member and the sample holder are separated, since heat conduction is not performed, the temperature can be changed over a wide range by heating. In the second heat transfer level substantially the same cryogenic without affecting the low heat source cryogenic and low heat source temperature, the first heat transfer level cryogenic higher than cryogenic first heat transfer level slightly In the third heat transfer level, the temperature of the room temperature or higher can be realized above the temperature of the first heat transfer level, the continuous operation is possible, the maintenance cost is low, and the temperature is independent of the low heat source. Highly accurate temperature measurement is possible because it can be controlled.

本発明の第の形態は、第の形態に従属する形態であって、第1の着脱部が試料ホルダより高熱抵抗の部材によって構成されたことを特徴とするクライオスタットであり、第の形態の作用効果に加えて、伝熱部材への熱伝導を抑制することができる。 Second embodiment of the present invention is a form that depends on the first aspect, a cryostat, wherein the first detachable portion is constituted by a member of the high thermal resistance from the sample holder, the first In addition to the operational effects of the form, heat conduction to the heat transfer member can be suppressed.

本発明の第の形態は、第1又は第2の形態に従属する形態であって、第1の着脱部が第1の右ネジ部を備えて伝熱部材にはこれと螺合する第1の被螺合右ネジ部が設けられると共に、第2の着脱部が第2の左ネジ部を備えて操作部にはこれと螺合する第2の被螺合左ネジ部が設けられたことを特徴とするクライオスタットである。この構成により、真空容器中に試料ホルダだけを装着して連続運転し、右ネジと左ネジという簡単な構成を設けるだけで、20mK前後の極低温あるいはそれ以上の様々の極低温から室温若しくはそれ以上の温度範囲で試料を測定することができ、連続運転可能で、製造コストと維持費が安価であり、高精度の温度測定が行え、小型で、試料の装着を容易に行うことができる。 A third form of the present invention is a form subordinate to the first or second form, wherein the first attachment / detachment portion includes a first right-hand thread portion and is screwed into the heat transfer member. 1 screwed right-hand thread portion is provided, and the second attaching / detaching portion is provided with a second left-hand thread portion, and the operation portion is provided with a second screwed left-hand screw portion to be screwed thereto. It is a cryostat characterized by this. With this configuration, only a sample holder is mounted in a vacuum vessel and continuously operated, and a simple configuration of right and left screws is provided. The sample can be measured in the above temperature range, continuous operation is possible, the manufacturing cost and the maintenance cost are low, the temperature can be measured with high accuracy, the size is small, and the sample can be easily mounted.

本発明の第の形態は、第1又は第2の形態に従属する形態であって、第1の着脱部が第1の左ネジ部を備えて伝熱部材にはこれと螺合する第1の被螺合左ネジ部が設けられると共に、第2の着脱部が第2の右ネジ部を備えて操作部にはこれと螺合する第2の被螺合右ネジ部が設けられたことを特徴とする試料装着装置である。この構成により、真空容器中に試料ホルダだけを装着して連続運転し、右ネジと左ネジという簡単な構成を設けるだけで、20mK前後の極低温あるいはそれ以上の様々の極低温から室温若しくはそれ以上の温度範囲で試料の物性を測定することができ、連続運転可能で、製造コストと維持費が安価であり、高精度の温度測定が行え、小型で、試料の装着を容易に行うことができる。 The 4th form of this invention is a form subordinate to the 1st or 2nd form, Comprising: The 1st attachment / detachment part is provided with the 1st left-hand-thread part, and the heat-transfer member is screwed together with this. 1 screwed left-hand thread portion is provided, and the second attaching / detaching portion is provided with a second right-hand screw portion, and the operation portion is provided with a second screwed right-hand screw portion to be screwed with the second screw portion. This is a sample mounting device. With this configuration, only a sample holder is mounted in a vacuum vessel and continuously operated, and a simple configuration of right and left screws is provided. The physical properties of the sample can be measured in the above temperature range, continuous operation is possible, manufacturing costs and maintenance costs are low, high-accuracy temperature measurement is possible, small size, and easy sample mounting it can.

本発明の第の形態は、第1〜第3のいずれかの形態に従属する形態であって、ヒータが、試料周辺の局部的な温度を伝熱部材によって冷却された温度から上昇させることを特徴とするクライオスタットであり、ヒータが冷凍機と独立して設けられているので、20mK前後の極低温から室温若しくはそれ以上の温度範囲で試料の物性を測定することができ、試料の温度測定が高精度に行える。 Fifth aspect of the present invention is in a form dependent on the first to third in any form, the heater raises the local temperature around the sample from a temperature cooled by the heat transfer member the a cryostat, wherein, since a heater is provided independently of the refrigerator, it is possible to measure the physical properties of the sample at room temperature or a higher temperature range of 20mK around cryogenic temperature measurement of the sample Can be performed with high accuracy.

本発明の第6の形態は、第1の形態に従属する形態であって、伝熱部材と試料ホルダが第または第3の伝熱レベルで熱的接続されるときには、第の伝熱レベルにより第1の着脱部を介して徐々に熱的接続されてから第または第3の伝熱レベルで熱的接続されることを特徴とするクライオスタットであり、試料ホルダを装着するとき外部の熱が低熱源に伝熱されると、急激な温度変化で低熱源に損傷を与える可能性が高いが、着脱部を介して徐々に温度低下させることができ、ショックレスに運転することができる。 The sixth aspect of the present invention is a form subordinate to the first form, and when the heat transfer member and the sample holder are thermally connected at the second or third heat transfer level, the first heat transfer is performed. The cryostat is characterized in that it is thermally connected at the second or third heat transfer level after being gradually thermally connected via the first attaching / detaching portion depending on the level, and is externally attached when the sample holder is mounted. When heat is transferred to a low heat source, there is a high possibility that the low heat source will be damaged by a rapid temperature change, but the temperature can be gradually lowered through the attaching / detaching portion, and a shockless operation can be performed.

(実施例1)
以下、本発明の実施例1におけるクライオスタット、とくに無冷媒超電導マグネットを備えた無冷媒クライオスタット、及びクライオスタットへ試料を装着する試料装着装置、試料ホルダの温度を制御する温度制御方法について説明をする。実施例1のクライオスタットは、GM冷凍機を備えた無冷媒型のクライオスタットであって、GM冷凍機のほかにカスケードに第2の冷凍機のHe冷凍機を設けて低熱源とするものである。なお、以下の説明はGM冷凍機について行うがパルスチューブ冷凍機、スターリング冷凍機でも同様である。また、He冷凍機はHeガスを等エンタルピー条件下で膨張することにより液化し、その液体Heを真空ポンプで減圧することで0.7K程度の低温を得る冷凍機である。
Example 1
Hereinafter, a cryostat according to the first embodiment of the present invention, particularly a refrigerant-free cryostat provided with a refrigerant-free superconducting magnet, a sample mounting device for mounting a sample on the cryostat, and a temperature control method for controlling the temperature of the sample holder will be described. The cryostat of Example 1 is a cryogenless type cryostat equipped with a GM refrigerator, and in addition to the GM refrigerator, a 3 He refrigerator of the second refrigerator is provided in the cascade as a low heat source. . In addition, although the following description is performed about GM refrigerator, it is the same also with a pulse tube refrigerator and a Stirling refrigerator. The 3 He refrigerator is a refrigerator that liquefies 3 He gas by expanding under an enthalpy condition and obtains a low temperature of about 0.7 K by reducing the pressure of the liquid 3 He with a vacuum pump.

図1は本発明の実施例1におけるクライオスタットの説明図、図2は本発明の実施例1におけるクライオスタットの試料装着装置の説明図、図3は図2の試料装着装置の主要部分破砕図、図4(a)〜(e)は本発明の実施例1におけるクライオスタットの試料装着装置を低温ステージに固定するときの説明図、図5(a)〜(e)は本発明の実施例1におけるクライオスタットの試料装着装置を低温ステージから分離するときの説明図である。   1 is an explanatory view of a cryostat in Embodiment 1 of the present invention, FIG. 2 is an explanatory view of a sample mounting device of the cryostat in Embodiment 1 of the present invention, FIG. 3 is a fragmentary fragmentary view of the main part of the sample mounting device in FIG. 4 (a) to (e) are explanatory diagrams when the sample mounting device of the cryostat according to the first embodiment of the present invention is fixed to a low temperature stage, and FIGS. 5 (a) to (e) are cryostats according to the first embodiment of the present invention. It is explanatory drawing when isolate | separating this sample mounting apparatus from a low-temperature stage.

図1において、1は無冷媒超電導マグネットを備えたクライオスタットの真空容器である。真空容器1は内部でガスを介しての外部との熱伝達をなくすため真空ポンプによって減圧される。2は熱輻射シールドであり、外部からの熱輻射を断って熱輻射シールド2内を熱絶縁する。3はGM冷凍機であって、実施例1の場合は40Kのステージと4Kのステージからなる2つのステージを有する。更にステージ数を増すこともできる。   In FIG. 1, reference numeral 1 denotes a cryostat vacuum vessel provided with a refrigerant-free superconducting magnet. The vacuum vessel 1 is depressurized by a vacuum pump to eliminate heat transfer with the outside through gas. Reference numeral 2 denotes a heat radiation shield, which cuts off heat radiation from the outside and thermally insulates the heat radiation shield 2. Reference numeral 3 denotes a GM refrigerator. In the case of the first embodiment, the GM refrigerator has two stages including a 40K stage and a 4K stage. Furthermore, the number of stages can be increased.

このGM冷凍機3の基本構成を説明すると、本発明の特徴とは直接的な関係がないため詳細な構成は図示しないが、ガスを充満できるシリンダと、このシリンダ内を上部空間と下部空間の2つに区画するディスプレーサを備え、ディスプレーサが駆動機構によって往復動される。実施例1のGM冷凍機3はこのような基本構成が直列2段に設けられ、第1のステージで40Kまで冷却を行い、第2のステージで4Kにまで冷却する。各ステージの周囲は熱交換部となっており、外部から接触した部材(後述の40Kプレート13、フレキシブル熱伝導体14a)をそれぞれ恒常的に40K、4Kに冷却することが可能になっている。   The basic structure of the GM refrigerator 3 will be described. Since there is no direct relationship with the feature of the present invention, a detailed structure is not shown, but a cylinder that can be filled with gas, and an upper space and a lower space in the cylinder are provided. A displacer divided into two is provided, and the displacer is reciprocated by a drive mechanism. The GM refrigerator 3 of Example 1 is provided with such a basic configuration in two stages in series, and cools to 40K in the first stage and cools to 4K in the second stage. Around each stage is a heat exchanging portion, and members (40K plate 13 and flexible heat conductor 14a, which will be described later) in contact with the outside can be constantly cooled to 40K and 4K, respectively.

続いて、図1の説明を行う。4はHe冷凍機の冷媒Heガスが充填されたHeタンク、5は実施例1における試料を装着する試料装着装置、5aは試料装着装置5を支える上側支持筒部、5bは試料装着装置5を支える下側支持筒部である。この試料装着装置5の詳細は後述する。6は超電導コイルからなり磁場中での試料の測定を行うための無冷媒超電導マグネット、7aは液体のHeを減圧して気化させるHe冷凍機の真空ポンプ、7bは真空ポンプ7aによって気化したHeガスを加圧するHe冷凍機のコンプレッサー、8は凝縮したHeが溜まるHe冷凍機の液ポット、9は液ポット8の上面を覆って試料装着装置5の先端と熱的、物理的に接触して熱交換をするための低温ステージ(本発明の伝熱部材)である。 Subsequently, the description of FIG. 1 will be given. 3 He tank coolant 3 He gas 3 He refrigerator is filled 4, 5 sample mounting device for mounting a sample in Example 1, 5a upper support cylindrical portion for supporting a sample mounting device 5, 5b is a sample mounting It is a lower support cylinder portion that supports the device 5. Details of the sample mounting device 5 will be described later. 6 was vaporized by no refrigerant superconducting magnet, 3 He refrigerator vacuum pump 7a is vaporizing in vacuo the 3 He in liquid, 7b vacuum pump 7a for performing measurement of a sample in a magnetic field consist of superconducting coil A compressor of a 3 He refrigerator that pressurizes 3 He gas, 8 is a liquid pot of the 3 He refrigerator in which condensed 3 He accumulates, and 9 is a thermal and physical cover that covers the top surface of the liquid pot 8 and the tip of the sample mounting device 5. This is a low-temperature stage (heat transfer member of the present invention) for heat exchange in contact with the heat.

なお、実施例1の無冷媒超電導マグネット6は物性測定のためのものであるが、He冷凍機に代えて、磁気冷凍機の無冷媒超電導マグネットにすることもできる。これについては実施例3で詳述する。また、実施例1における低温ステージはHe冷凍機と熱的に接続されているが、その他の冷凍機、例えばGM冷凍機、パルスチューブ冷凍機、希釈冷凍機、磁気冷凍機、スターリング冷凍機や、液体ヘリウムや液体窒素などの寒剤冷却機の冷却ステージであってもよい。希釈冷凍機を使ったクライオスタットは実施例2において、磁気冷凍機を使ったクライオスタットは実施例3において、GM冷凍機を使ったクライオスタットは実施例4において、また、寒剤冷却機を使ったクライオスタットについては実施例5において説明する。 In addition, although the refrigerant-free superconducting magnet 6 of Example 1 is for measuring physical properties, it can be replaced with a 3 He refrigerator and a refrigerant-free superconducting magnet of a magnetic refrigerator. This will be described in detail in Example 3. The low temperature stage in Example 1 is thermally connected to a 3 He refrigerator, but other refrigerators such as a GM refrigerator, a pulse tube refrigerator, a dilution refrigerator, a magnetic refrigerator, a Stirling refrigerator, It may be a cooling stage of a cryogen cooler such as liquid helium or liquid nitrogen. A cryostat using a dilution refrigerator is in Example 2, a cryostat using a magnetic refrigerator is in Example 3, a cryostat using a GM refrigerator is in Example 4, and a cryostat using a cryocooler is This will be described in Example 5.

さて、以下、クライオスタットの詳細な構造について説明する。10はフランジで真空容器1のカバーとなり、GM冷凍機3と試料装着装置5を支持する。11はGM冷凍機3の40Kとなる第1ステージ、12はGM冷凍機3の4Kの温度になる第2ステージである。13は熱輻射シールド2を覆いGM冷凍機3の第1ステージと熱交換して40K近辺の温度になる銅製の40Kプレートであり、14はGM冷凍機3の第2ステージと熱交換して4Kに近い温度になる銅製の4Kプレート、14aはGM冷凍機3の振動を吸収すると共に40Kプレート14の熱を第2ステージに伝えるフレキシブル熱伝導体である。   Now, the detailed structure of the cryostat will be described below. A flange 10 serves as a cover for the vacuum container 1 and supports the GM refrigerator 3 and the sample mounting device 5. Reference numeral 11 denotes a first stage at 40K of the GM refrigerator 3 and reference numeral 12 denotes a second stage at a temperature of 4K of the GM refrigerator 3. Reference numeral 13 denotes a copper 40K plate that covers the heat radiation shield 2 and exchanges heat with the first stage of the GM refrigerator 3 to reach a temperature around 40K. Reference numeral 14 denotes 4K that exchanges heat with the second stage of the GM refrigerator 3. The copper 4K plate 14a having a temperature close to is a flexible heat conductor that absorbs the vibration of the GM refrigerator 3 and transfers the heat of the 40K plate 14 to the second stage.

次に、15は液ポット8から気化した冷媒のHeガスを導く排気パイプであり、真空ポンプ7aに連通されている。16a,16bは真空ポンプ7aを通ってコンプレッサー7bで加圧されたHeガスを液ポット8に導くための流路であって、一方の流路16aは冷却運転の初期にだけHeを流す流路で、他方の流路16bはそれ以外の場合(通常運転時)にHeを流すための流路である。 Next, 15 is an exhaust pipe that guides the 3 He gas of the vaporized refrigerant from the liquid pot 8 and communicates with the vacuum pump 7a. Reference numerals 16a and 16b are flow paths for guiding the 3 He gas pressurized by the compressor 7b through the vacuum pump 7a to the liquid pot 8, and the first flow path 16a allows 3 He to flow only at the initial stage of the cooling operation. The other flow path 16b is a flow path for flowing 3 He in other cases (during normal operation).

He冷凍機はジュールトムソン(Joule-Thomson)効果を利用してHeを液化するが、このとき流量を絞る必要がある。このため流路16bだけで冷却する場合、流量が絞られ極低温に到達するまで長時間を要することになる。そこで、運転初期にだけ流路16aを使って短時間で液ポット8の温度を4Kにし、その後は流路16bによって極低温を実現する。17a,17b,17c,17dはバルブである。バルブ17a,17bは流路16a,16bの切り換えを行うためのバルブであり、バルブ17cはHe冷凍機のHeガスの循環量を設定するためのバルブ、バルブ17dはHeガスを補充するためのバルブである。 The 3 He refrigerator uses the Joule-Thomson effect to liquefy 3 He. At this time, it is necessary to reduce the flow rate. For this reason, when cooling only by the flow path 16b, it takes a long time until the flow rate is reduced and the temperature reaches a very low temperature. Therefore, the temperature of the liquid pot 8 is set to 4K in a short time using the flow path 16a only at the initial stage of operation, and thereafter, the cryogenic temperature is realized by the flow path 16b. Reference numerals 17a, 17b, 17c and 17d are valves. The valves 17a and 17b are valves for switching the flow paths 16a and 16b, the valve 17c is a valve for setting the circulation amount of 3 He gas of the 3 He refrigerator, and the valve 17d is replenished with 3 He gas. It is a valve for.

そして、18a,18bは40Kプレート13に熱的に接触させて設けられ、コンプレッサー7bによって加圧されたHeガスを40Kプレート13とほぼ同温にする熱交換器である。また、19a,19bは4Kプレート14に熱的に接触されて設けられ、それぞれ熱交換器18a、熱交換器18b及び吸着フィルタ20(後述)を通って送られてきたHeガスを4Kプレート14とほぼ同一温度にする熱交換器である。吸着フィルタ20はHe中の異物を除去するためのものであり、21は排気パイプ15内でコイル状に巻かれ熱交換器19bで冷却されたHeと排気パイプ15を上昇する冷たいHeガスとで熱交換するJT(Joule-Thomson)熱交換器、22はJT(Joule-Thomson)弁である。 Reference numerals 18a and 18b are heat exchangers which are provided in thermal contact with the 40K plate 13 and make the 3 He gas pressurized by the compressor 7b substantially the same temperature as the 40K plate 13. Further, 19a, 19b are provided to be in thermal contact to 4K plate 14, respectively the heat exchanger 18a, the heat exchanger 18b and the suction filter 20 to 3 He gas sent through the (later) 4K plate 14 It is a heat exchanger that makes the temperature almost the same. Adsorption filter 20 is for removing foreign matters in the 3 He, 21 is 3 cold increases the exhaust pipe 15 and 3 He cooled by a coiled heat exchanger 19b in the exhaust pipe 15 inside He A JT (Joule-Thomson) heat exchanger for exchanging heat with gas, 22 is a JT (Joule-Thomson) valve.

このJT弁22は、冷媒の流量を絞って膨張させ、このときの圧力降下により温度降下させ冷却する。従って、コンプレッサー7bで高圧にされたHeガスは、運転初期以外、冷却路16bの熱交換器18b,19bで冷却され、その後JT熱交換器21によって冷却された後、JT弁22によって膨張冷却され、凝縮して液ポット8に溜まり、気化することで0.7K前後が実現できる。 The JT valve 22 is expanded by restricting the flow rate of the refrigerant, and is cooled by lowering the temperature by the pressure drop at this time. Accordingly, the 3 He gas that has been brought to a high pressure by the compressor 7b is cooled by the heat exchangers 18b and 19b in the cooling path 16b, and then cooled by the JT heat exchanger 21 and then expanded and cooled by the JT valve 22 except for the initial stage of operation. Then, it condenses, accumulates in the liquid pot 8, and is vaporized to achieve about 0.7K.

さて、以上説明した実施例1のクライオスタットは、GM冷凍機3によって第1ステージで40Kプレート13を40K程度にまで冷却し、熱伝導によって熱交換器18a,18bを40K付近にまで冷却する。同様に、GM冷凍機3は第2ステージでフレキシブル熱伝導体14aを介して4Kプレート14を4K程度に冷却し、これに熱接触した無冷媒超電導マグネット6、熱交換器19a,19bを4K付近にまで冷却する。   The cryostat of the first embodiment described above cools the 40K plate 13 to about 40K on the first stage by the GM refrigerator 3, and cools the heat exchangers 18a and 18b to around 40K by heat conduction. Similarly, the GM refrigerator 3 cools the 4K plate 14 to about 4K through the flexible heat conductor 14a in the second stage, and the refrigerant-free superconducting magnet 6 and the heat exchangers 19a and 19b in thermal contact with the 4K plate 14 are in the vicinity of 4K. Cool down to.

この4K程度に冷却されたHeガスは、JT熱交換器21による熱交換、またJT弁22によって凝縮し液体となる。この結果、液ポット8内に溜まった液体のHeは0.7K程度の極低温となり、この極低温のHeにより液ポット8のカバーである低温ステージ9も熱伝導により0.7K程度となる。なお、実施例1の真空容器1内の40Kプレート13、4Kプレート14、液ポット8、低温ステージ9は良好な熱伝導をさせる必要があるので、何れも最も熱伝導率の高い銅で作られている。これにより、実施例1の低温ステージ9に熱的に接続された試料装着装置5の先端も0.7K前後の極低温を実現できる。 The 3 He gas cooled to about 4K is condensed by the heat exchange by the JT heat exchanger 21 and the JT valve 22 to become a liquid. As a result, 3 He in liquid accumulated in the liquid pot 8 becomes cryogenic about 0.7 K, and about 0.7 K cold stage 9 also by thermal conduction is a cover of liquid-pot 8 by 3 He in this cryogenic Become. Since the 40K plate 13, 4K plate 14, liquid pot 8, and low temperature stage 9 in the vacuum container 1 of Example 1 need to have good heat conduction, all are made of copper having the highest thermal conductivity. ing. As a result, the tip of the sample mounting device 5 that is thermally connected to the low-temperature stage 9 of Example 1 can also achieve a cryogenic temperature of around 0.7K.

続いて、実施例1の試料装着装置5の詳細な構造、及びこれを低温ステージ9に装着するための構造について説明する。図1、図2、図3において、23は銅製の液ポット8、低温ステージ9から立設された試料装着ガイドである。試料装着ガイド23は、真空容器1のカバーであるフランジ10及び40Kプレート13を通して試料装着装置5が差し込まれたとき、これを低温ステージ9の所定の位置に固定するため案内する。このため円筒状のガイド23には、試料装着装置5を誘導する円錐状に拡開された縁部分が設けられている。   Next, a detailed structure of the sample mounting device 5 according to the first embodiment and a structure for mounting the sample mounting device 5 on the low temperature stage 9 will be described. 1, 2, and 3, reference numeral 23 denotes a sample mounting guide that is erected from a copper liquid pot 8 and a low-temperature stage 9. When the sample mounting device 5 is inserted through the flange 10 which is a cover of the vacuum vessel 1 and the 40K plate 13, the sample mounting guide 23 guides the sample mounting guide 23 to fix it at a predetermined position of the low temperature stage 9. Therefore, the cylindrical guide 23 is provided with a conical widened edge portion for guiding the sample mounting device 5.

次に、図1、図2、図3に基づいて試料装着装置5の先端部分の説明をすると、30は銅製の試料ホルダ、31は試料ホルダ30に係止される物性測定用の試料(サンプル)である。32は試料31の温度を上昇させるマンガニン線を巻回したヒータ、33は試料31の温度を検出する熱電対、ゲルマニウム抵抗体、カーボングラス、サーミスタ等の温度センサである。この温度センサ33は試料ホルダ30に形成された窪みに埋め込まれる。試料ホルダ30にはDカット状の窪みと小径部が近接して形成され、このDカット状の平坦部上に試料31が真空雰囲気(真空空間)に露出された状態で取り付けられ、小径部にヒータ32が巻回される。ヒータ32による加熱は、試料ホルダ30が小さいため発熱量が小さくても試料31を感度よく温度上昇させることができ、また低温ステージ9と螺合する右ネジ部35(後述する)を緩めて調節、分離すれば低温ステージ9への熱の流入を抑えることができる。リード線37やパイプ34(後述する)は熱伝導度と断面積がいずれも小さく、これにより外部からの熱の流入が抑えられる。ヒータ32は試料ホルダを通して温度センサ32と試料31を局部的に熱伝導により加熱する。このとき、試料ホルダ30、温度センサ32、試料31は小さいため、他の部品に与える熱輻射の影響はきわめて小さい。   Next, the tip portion of the sample mounting device 5 will be described with reference to FIGS. 1, 2, and 3. Reference numeral 30 denotes a copper sample holder, and reference numeral 31 denotes a physical property measurement sample (sample) that is locked to the sample holder 30. ). 32 is a heater wound with a manganin wire that raises the temperature of the sample 31, and 33 is a temperature sensor such as a thermocouple, a germanium resistor, carbon glass, or a thermistor that detects the temperature of the sample 31. This temperature sensor 33 is embedded in a recess formed in the sample holder 30. The sample holder 30 is formed with a D-cut recess and a small-diameter portion close to each other, and the sample 31 is mounted on the D-cut flat portion while being exposed to a vacuum atmosphere (vacuum space). The heater 32 is wound. Heating by the heater 32 can be adjusted with a small sample holder 30 so that the temperature of the sample 31 can be raised with high sensitivity even if the calorific value is small, and a right-hand thread portion 35 (described later) screwed with the low-temperature stage 9 is loosened. If separated, the inflow of heat to the low temperature stage 9 can be suppressed. The lead wire 37 and the pipe 34 (which will be described later) have both a small thermal conductivity and a small cross-sectional area, thereby suppressing the inflow of heat from the outside. The heater 32 locally heats the temperature sensor 32 and the sample 31 through the sample holder by heat conduction. At this time, since the sample holder 30, the temperature sensor 32, and the sample 31 are small, the influence of heat radiation on other components is extremely small.

次に、図2、図3を参照して試料装着装置5の全体構造を説明すると、34はステンレス製のパイプ、35は試料ホルダ30と一体または別体に形成され先端に雄ネジとして突出する右ネジ部(本発明の第1の右ネジ部)である。右ネジ部35は、試料ホルダ30と一体の場合は試料ホルダ30と同様に銅製であるが、実施例1のように熱伝導を低下させる場合は別体で銅より低い熱伝導率を有するプラスチックで作製する。この別体に作製されたプラスチック製の右ネジ部35が本発明の実施例1における熱抵抗部材である。36は試料ホルダ30と一体に設けられた雄ネジとして設けられた左ネジ部(本発明の第2の左ネジ部)である。   Next, the overall structure of the sample mounting device 5 will be described with reference to FIG. 2 and FIG. 3. 34 is a stainless steel pipe, 35 is formed integrally with or separate from the sample holder 30, and protrudes as a male screw at the tip. It is a right thread part (the 1st right thread part of the present invention). The right-hand thread portion 35 is made of copper in the same manner as the sample holder 30 when integrated with the sample holder 30, but when the heat conduction is lowered as in the first embodiment, it is a separate plastic having a lower thermal conductivity than copper. To make. The plastic right-hand thread portion 35 produced separately is the heat resistance member in the first embodiment of the present invention. Reference numeral 36 denotes a left screw portion (second left screw portion of the present invention) provided as a male screw provided integrally with the sample holder 30.

実施例1においては、右ネジ部35を試料ホルダ30と比較して低熱伝導率の材料で作製することにより、試料ホルダ30と低温ステージ9間の熱的な接続の状態を3つのレベルに分けて実現することができる。すなわち、右ネジ部35の物理的な締め付け具合を調節することで試料ホルダ30と低温ステージ9間の熱伝導の径路を変え、高熱伝導径路、熱抵抗部材を介しての熱伝導径路、熱伝導のない場合、の3つの径路によって、3つの伝熱レベルを実現することができる。   In the first embodiment, the state of the thermal connection between the sample holder 30 and the low temperature stage 9 is divided into three levels by making the right screw portion 35 with a material having a lower thermal conductivity than the sample holder 30. Can be realized. That is, by adjusting the physical tightening degree of the right screw portion 35, the heat conduction path between the sample holder 30 and the low temperature stage 9 is changed, and the heat conduction path, the heat conduction path through the heat resistance member, and the heat conduction are changed. In the absence, three heat transfer levels can be achieved by three paths.

すなわち、右ネジ部35を低温ステージ9に強く締め付けた場合は、試料ホルダ30の下面(試料ホルダ本体)を低温ステージ9と直接接触し、両者とも高熱伝導率の材料で作られているので最も熱伝導の良好な状態となり、低熱源の温度とほぼ同一の極低温からヒータ32による加熱が低熱源に影響しない温度範囲(本発明の第2の伝熱レベル)の0.7K〜1.5Kを実現できる。次に、この状態から右ネジ部35を緩めた場合は、試料ホルダ30と低温ステージ9の直接的な接触が断たれ、熱抵抗部材である右ネジ部35を介しての間接的な熱接続となり、直接接触した場合より熱抵抗があるため熱伝導が低下する。この締め付けの強弱を調節すれば右ネジ部35と低温ステージ9間の熱の伝わる面積を変えることができ、低温ステージ9に流れ込む熱量を減少させて第2ステージの温度4Kまでの温度範囲(本発明の第1の伝熱レベル)1.5K〜4Kを実現できる。さらに、右ネジ部35を低温ステージ9から完全に分離すると、低温ステージ9にヒータ32の熱が流れ込むことはなく、4Kから徐々に加熱すれば4Kから室温若しくはそれ以上の温度(本発明の第3の伝熱レベル)にすることが可能になる。これによってGM冷凍機3を過熱から守ることができる。 That is, when the right screw portion 35 is strongly tightened to the low temperature stage 9, the lower surface (sample holder main body) of the sample holder 30 is in direct contact with the low temperature stage 9, and both are made of a material having high thermal conductivity. 0.7K to 1.5K in a temperature range ( second heat transfer level of the present invention) in which the heat conduction is good and the heating by the heater 32 does not affect the low heat source from a cryogenic temperature almost the same as the temperature of the low heat source. Can be realized. Next, when the right screw portion 35 is loosened from this state, the direct contact between the sample holder 30 and the low temperature stage 9 is cut off, and indirect thermal connection via the right screw portion 35 that is a heat resistance member. Therefore, since there is more thermal resistance than in the case of direct contact, heat conduction is reduced. By adjusting the tightening strength, the heat transfer area between the right screw portion 35 and the low temperature stage 9 can be changed, the amount of heat flowing into the low temperature stage 9 can be reduced, and the temperature range up to 4K of the second stage (this The first heat transfer level ) of 1.5K to 4K can be realized. Further, when the right screw portion 35 is completely separated from the low temperature stage 9, the heat of the heater 32 does not flow into the low temperature stage 9, and if it is gradually heated from 4K, the temperature from 4K to room temperature or higher (the first of the present invention) . 3 heat transfer level ). Thereby, the GM refrigerator 3 can be protected from overheating.

図2、図3において、37はパイプ34内を挿通されてヒータ32へ電力供給したり温度センサ32の出力を取り出したりするための複数本のリード線、38はパイプ34をシールして挿通するスライディングシール機構、39は試料装着装置5を持ち上げたとき下側支持筒部5bの位置で遮断するゲートバルブ、39aはゲートバルブ39の弁体である。また、40は試料装着装置5のリード線37を接続するためのコネクタ、41は上側支持筒部5a,下側支持筒部5bを着脱できる着脱クランプ、42はスライディングシール機構38のOリング、43はリーク弁、44は上側支持筒部5a,下側支持筒部5bを介して真空容器1内を真空にする真空ポンプである。なお、図2で示した真空ポンプ44、リーク弁43は図1においては図示していない。これは図1、図6〜図8においても同様である。   2 and 3, reference numeral 37 denotes a plurality of lead wires that are inserted through the pipe 34 to supply power to the heater 32 and take out the output of the temperature sensor 32. Reference numeral 38 denotes a pipe 34 that is sealed and inserted. A sliding seal mechanism 39 is a gate valve that shuts off at the position of the lower support cylinder portion 5 b when the sample mounting device 5 is lifted, and 39 a is a valve body of the gate valve 39. Reference numeral 40 denotes a connector for connecting the lead wire 37 of the sample mounting device 5, reference numeral 41 denotes a detachable clamp that can attach and detach the upper support cylinder part 5a and the lower support cylinder part 5b, 42 denotes an O-ring of the sliding seal mechanism 38, 43 Is a leak valve, and 44 is a vacuum pump that evacuates the vacuum vessel 1 via the upper support cylinder part 5a and the lower support cylinder part 5b. The vacuum pump 44 and the leak valve 43 shown in FIG. 2 are not shown in FIG. The same applies to FIGS. 1 and 6 to 8.

さらに、図3の主要部分破砕図で示したように、45はパイプ34の先端に設けられた円筒状の連結部であり、パイプ34と反対側に左ネジ部36と螺合する雌ネジの第2螺合部46(後述する)が設けられている。パイプ34と連結部45が本発明の実施例1の操作部を構成する。連結部45の中心には上記した第2螺合部46の底(左ネジ部36から突出した雄ネジの先端側)から連結部45の天面側にかけて挿通孔が形成されている。従って、パイプ34の孔とこの挿通孔は連通して設けられる。左ネジ部36と連結部45は螺合されることで着脱自在となり、本発明の実施例1における第2の着脱部を構成する。46は連結部45に設けられた雌ネジである第2螺合部(本発明の第2の被螺合左ネジ部)、47は試料ホルダ30の左ネジ部36からパイプ34側に突出されて前記挿通孔に挿入されこの挿通孔内をスライドできるガイドパイプ、47aはガイドパイプ47の先端に設けられたガイドストッパである。   Further, as shown in the fragmentary fragmentary view of FIG. 3, 45 is a cylindrical connecting portion provided at the tip of the pipe 34, and is a female screw threadedly engaged with the left screw portion 36 on the opposite side of the pipe 34. A second screwing portion 46 (described later) is provided. The pipe 34 and the connecting portion 45 constitute an operation portion according to the first embodiment of the present invention. An insertion hole is formed in the center of the connecting portion 45 from the bottom of the second screwing portion 46 (the front end side of the male screw protruding from the left screw portion 36) to the top surface side of the connecting portion 45. Therefore, the hole of the pipe 34 and this insertion hole are provided in communication. The left screw portion 36 and the connecting portion 45 are detachable by being screwed together, and constitute a second detachable portion in Embodiment 1 of the present invention. 46 is a second threaded portion (second threaded left-hand threaded portion of the present invention) that is a female screw provided in the connecting portion 45, and 47 is projected from the left-hand threaded portion 36 of the sample holder 30 to the pipe 34 side. A guide pipe 47 a inserted into the insertion hole and slidable in the insertion hole 47 a is provided at the tip of the guide pipe 47.

ガイドパイプ47の孔は左ネジ部36の中心に設けられた貫通孔を通して試料ホルダ30のDカット状の窪み部内に開口され、試料31と温度センサ33に接続されたリード線37はこの窪み部から貫通孔の中を挿通され、ガイドパイプ47、パイプ34を通ってコネクタ40に接続される。従って、試料31からの出力、温度センサ33からの出力はいずれもリード線37を介してコネクタ40に出力される。   The hole of the guide pipe 47 is opened into a D-cut recess of the sample holder 30 through a through hole provided at the center of the left screw 36, and the lead wire 37 connected to the sample 31 and the temperature sensor 33 is the recess. Is inserted through the through hole and connected to the connector 40 through the guide pipe 47 and the pipe 34. Therefore, both the output from the sample 31 and the output from the temperature sensor 33 are output to the connector 40 via the lead wire 37.

次に、48は右ネジ部35が螺合される低温ステージ9に形成された雌ネジの第1螺合部(本発明の第1の被螺合右ネジ部)である。右ネジ部35と第1螺合部48は螺合されることで着脱自在となり、本発明の実施例1における第1の着脱部を構成する。右ネジ部35、左ネジ部36は左右が逆でも、雄ネジと雌ネジは相補的関係にあるものであるから、第2螺合部46及び第1螺合部48と雄ネジと雌ネジの関係が逆になっても同様である。第2螺合部46と第1螺合部48を雄ネジにする場合、雄ネジ部分は低温ステージ9と連結部45側に設けられる。なお、右ネジ部35、左ネジ部36はパイプ34と同軸上に配置される。   Next, reference numeral 48 denotes a first threaded portion (a first threaded right-hand thread portion of the present invention) of a female screw formed on the low temperature stage 9 to which the right thread portion 35 is threaded. The right screw portion 35 and the first screwing portion 48 are detachable by being screwed together, and constitute the first detachable portion in Embodiment 1 of the present invention. Even though the right and left screw portions 35 and 36 are opposite to each other, the male screw and the female screw are in a complementary relationship. Therefore, the second screwing portion 46 and the first screwing portion 48, and the male screw and the female screw are used. This is the same even if the relationship is reversed. When the second screwing portion 46 and the first screwing portion 48 are male screws, the male screw portion is provided on the low temperature stage 9 and the connecting portion 45 side. The right thread portion 35 and the left thread portion 36 are arranged coaxially with the pipe 34.

次いで、図4(a)(b)(c)(d)に従って試料ホルダ30の低温ステージ9への装着について説明する。先ず、試料31を試料ホルダ30に装着し、パイプ34の先端に設けられた連結部45に試料ホルダ30の左ネジ部36を螺合し、試料装着装置5と上側支持筒部5aを一緒に下側支持筒部5bのゲートバルブ39より高い位置に差し込み、ゲートバルブ39を締め切った状態で着脱クランプ41を使って上側支持筒部5a,下側支持筒部5bを連結し、密閉空間を形成する。この状態で真空ポンプ44を運転し、上側支持筒部5a等内の空気を排出し、真空容器1内と同一の真空度にまで減圧する。この状態でゲートバルブ39を開くと、上側支持筒部5a,下側支持筒部5b,真空容器1内はすべて真空で、この中に試料ホルダ30が差し込まれた状態となる。そこで、試料装着装置5のパイプ34を更に押し込んで行くと、試料装着装置5の先端の試料ホルダ30が試料装着ガイド23に挿入され、そのまま案内されて図4(a)に示す状態となる。   Next, the mounting of the sample holder 30 on the low temperature stage 9 will be described with reference to FIGS. 4 (a), (b), (c), and (d). First, the sample 31 is mounted on the sample holder 30, the left-hand thread portion 36 of the sample holder 30 is screwed into a connecting portion 45 provided at the tip of the pipe 34, and the sample mounting device 5 and the upper support cylinder portion 5 a are joined together. Inserted into a position higher than the gate valve 39 of the lower support cylinder part 5b, and the upper support cylinder part 5a and the lower support cylinder part 5b are connected using the detachable clamp 41 with the gate valve 39 closed to form a sealed space. To do. In this state, the vacuum pump 44 is operated, the air in the upper support cylinder 5a and the like is discharged, and the pressure is reduced to the same degree of vacuum as in the vacuum vessel 1. When the gate valve 39 is opened in this state, the upper support cylinder 5a, the lower support cylinder 5b, and the vacuum vessel 1 are all in a vacuum state, and the sample holder 30 is inserted therein. Therefore, when the pipe 34 of the sample mounting device 5 is further pushed in, the sample holder 30 at the tip of the sample mounting device 5 is inserted into the sample mounting guide 23 and guided as it is, and the state shown in FIG.

次に、連結部45に左ネジ部36を螺合して試料ホルダ30と連結部45が一体になった状態で低温ステージ9の第1螺合部48に差し込み、図4(b)のように螺合を開始する。このとき、右ネジ部35が第1螺合部48と螺合を開始しても、試料ホルダ30と左ネジ部36の締め付けトルクが大きいため、螺合が終了するまで試料装着装置5は右ネジ部35が第1螺合部48にねじ込まれる。この締め付けトルクが試料ホルダ30と左ネジ部36の締め付けトルクより勝ったとき、図4(c)に示すように試料ホルダ30と左ネジ部36は螺合状態を解除し始め、両者の分離が開始する。試料ホルダ30と左ネジ部36が完全に分離されると、パイプ34の引き上げが可能になり、試料ホルダ30だけが低温ステージ9に残留された図4(d)の状態となる。   Next, the left screw portion 36 is screwed into the connecting portion 45 and inserted into the first screwing portion 48 of the low temperature stage 9 in a state where the sample holder 30 and the connecting portion 45 are integrated, as shown in FIG. The screwing is started. At this time, even if the right screw part 35 starts screwing with the first screwing part 48, the tightening torque of the sample holder 30 and the left screw part 36 is large. The screw part 35 is screwed into the first screwing part 48. When this tightening torque is greater than the tightening torque of the sample holder 30 and the left screw portion 36, as shown in FIG. 4C, the sample holder 30 and the left screw portion 36 begin to release the screwed state, and the separation between the two becomes difficult. Start. When the sample holder 30 and the left screw portion 36 are completely separated, the pipe 34 can be pulled up, and only the sample holder 30 remains in the low temperature stage 9 as shown in FIG.

このように試料装着装置5には、試料ホルダ30に左ネジ部36と右ネジ部35が形成されており、図4(b)に示すように左ネジ部36が螺合した状態で右ネジ部35を螺合するから、試料装着装置5の回転操作を続けて行うだけで、図4(c)のように右ネジ部35が低温ステージ9に固定されたとき、引き続いて左ネジ部36の解除が可能になり、図4(d)に示すように、試料ホルダ30を低温ステージ9に残留させることができる。   Thus, in the sample mounting device 5, the left and right screw portions 36 and 35 are formed in the sample holder 30, and the right screw is in a state where the left screw portion 36 is screwed as shown in FIG. Since the portion 35 is screwed together, the rotation of the sample mounting device 5 is continued, and when the right screw portion 35 is fixed to the low temperature stage 9 as shown in FIG. Can be released, and the sample holder 30 can remain on the low temperature stage 9 as shown in FIG.

残留された試料ホルダ30に対しては、リード線37による熱伝導径路、パイプ34とガイドストッパ47a間の点接触による熱伝導径路が真空容器1の外部の熱を伝える実質的に唯一の熱伝導径路であり、試料ホルダ30に対する熱伝導は低温ステージ9以外ほぼ完全に遮断される。従って、液ポット8が例えば0.7Kであれば、低温ステージ9、試料ホルダ30、試料31、温度センサ32もほぼ0.7Kに保持される。なお、実施例1においては、ガイドパイプ47の先端にガイドストッパ47aが設けられており、テレスコピックに連結部45の挿通孔の上部と当接することによって、図4(c)に示すようにパイプ34と試料ホルダ30が物理的にバラバラにされるのを防いでいる。従って、パイプ34と試料ホルダ30は熱的には接続がほぼ断たれるが、物理的には従属して繋がっている。そして、このガイドパイプ47内でのリード線37の伸張やねじれを許容するため、リード線37には図2に示すような伸縮自在のコイル状の弛み部分が設けられている。   For the remaining sample holder 30, the heat conduction path by the lead wire 37 and the heat conduction path by the point contact between the pipe 34 and the guide stopper 47 a are substantially the only heat conductions that conduct heat outside the vacuum vessel 1. The heat conduction to the sample holder 30 is almost completely cut off except for the low temperature stage 9. Therefore, if the liquid pot 8 is, for example, 0.7K, the low temperature stage 9, the sample holder 30, the sample 31, and the temperature sensor 32 are also maintained at approximately 0.7K. In the first embodiment, a guide stopper 47a is provided at the tip of the guide pipe 47, and the pipe 34 is brought into contact with the upper portion of the insertion hole of the connecting portion 45 telescopically, as shown in FIG. The sample holder 30 is prevented from being physically separated. Therefore, the pipe 34 and the sample holder 30 are thermally disconnected from each other, but are physically connected to each other. In order to allow the lead wire 37 to be stretched and twisted in the guide pipe 47, the lead wire 37 is provided with a retractable coil-like slack portion as shown in FIG.

実施例1の試料装着装置5は、従来技術のように液ポット8内の液体ヘリウム中に試料ホルダ30を配置するのではなく、液ポット8と試料ホルダ30を分離して真空雰囲気中に配置するから、右ネジ部35と第1螺合部48のネジを緩めればヒータ32で加熱したときも、右ネジ部35からの一時的な熱伝導は小さく、試料31と温度センサ33を局部的に昇温させるだけですみ、液ポット8内と排気パイプ15内のHeの温度はあまり上昇しない。また、無冷媒超電導マグネット6への熱輻射は試料装着ガイド23によって遮られるし、試料ホルダ30も小さいので、熱輻射によって無冷媒超電導マグネット6がクエンチを起こすようなことはない。そして、温度センサ32を真空中で試料31のすぐ傍の高熱伝導率の試料ホルダ30上に配置することができるので、正確な温度を測定することができる。 In the sample mounting device 5 of the first embodiment, the sample holder 30 is not disposed in the liquid helium in the liquid pot 8 as in the prior art, but the liquid pot 8 and the sample holder 30 are separated and disposed in a vacuum atmosphere. Therefore, if the screws of the right screw portion 35 and the first screwing portion 48 are loosened, even when heated by the heater 32, the temporary heat conduction from the right screw portion 35 is small, and the sample 31 and the temperature sensor 33 are localized. Therefore, the temperature of 3 He in the liquid pot 8 and the exhaust pipe 15 does not rise so much. Further, the heat radiation to the refrigerant-free superconducting magnet 6 is blocked by the sample mounting guide 23, and the sample holder 30 is small, so that the refrigerant-free superconducting magnet 6 is not quenched by the heat radiation. And since the temperature sensor 32 can be arrange | positioned on the sample holder 30 of the high thermal conductivity right next to the sample 31 in a vacuum, exact temperature can be measured.

また、液ポット8及びその内部の液体、低温ステージ9の熱容量と比較して試料ホルダ30の熱容量をきわめて小さくすることができるため、ヒータ32によって試料31を加熱することにより、試料31と温度センサ32は鋭敏に応答して、短時間で試料31の温度を0.7K前後の極低温から300Kの室温付近の目的温度まで迅速に制御することができる。   Further, since the heat capacity of the sample holder 30 can be made extremely small compared to the heat capacity of the liquid pot 8 and the liquid inside the liquid pot 8 and the low temperature stage 9, the sample 31 and the temperature sensor are heated by heating the sample 31 with the heater 32. 32 responds sharply, and can quickly control the temperature of the sample 31 from an extremely low temperature of about 0.7 K to a target temperature of about 300 K at a room temperature in a short time.

同様に、図5(a)(b)(c)(d)に従って試料ホルダ30の低温ステージ9からの分離について説明する。先ず、図5(a)に示すようにパイプ34を降下させ、図5(b)のようにパイプ34の先端の連結部45と試料ホルダ30の左ネジ部36を螺合し、連結部45と試料ホルダ30を一体化する。図5(c)のように試料ホルダ30と左ネジ部36が螺合により大きな締め付けトルクが必要になると、右ネジ部35は第1螺合部48との螺合を解除し始め、両者の分離が開始される。試料ホルダ30と右ネジ部35が完全に分離されると、図5(d)に示すように試料ホルダ30とパイプ34を一体として引き上げることが可能になる。   Similarly, separation of the sample holder 30 from the low temperature stage 9 will be described with reference to FIGS. 5 (a), 5 (b), 5 (c) and 5 (d). First, the pipe 34 is lowered as shown in FIG. 5A, and the connecting portion 45 at the tip of the pipe 34 and the left screw portion 36 of the sample holder 30 are screwed together as shown in FIG. And the sample holder 30 are integrated. When a large tightening torque is required by screwing the sample holder 30 and the left screw part 36 as shown in FIG. 5C, the right screw part 35 starts releasing the screwing with the first screwing part 48, Separation begins. When the sample holder 30 and the right-hand thread portion 35 are completely separated, the sample holder 30 and the pipe 34 can be pulled up as a unit as shown in FIG.

実施例1の試料装着装置5は、図5の手順で試料装着装置5を真空容器1から引き上げ、図2において試料ホルダ30の位置をゲートバルブ39より高い位置まで引き出し、この時点でゲートバルブ39を閉めると、真空容器1内の真空状態を保ったまま試料装着装置5の取り出しが可能になる。その後、リーク弁43を開き、着脱クランプ41を解除して、上側支持筒部5a,下側支持筒部5bを分離する。下側支持筒部5bから試料装着装置5と上側支持筒部5aを一緒に引き抜けば、試料ホルダ30を外気中に露出させることができ、試料31を取り出せる。   The sample mounting device 5 of the first embodiment pulls up the sample mounting device 5 from the vacuum vessel 1 according to the procedure of FIG. 5 and pulls out the position of the sample holder 30 to a position higher than the gate valve 39 in FIG. When is closed, the sample mounting device 5 can be taken out while maintaining the vacuum state in the vacuum container 1. Thereafter, the leak valve 43 is opened, the detachable clamp 41 is released, and the upper support cylinder part 5a and the lower support cylinder part 5b are separated. By pulling out the sample mounting device 5 and the upper support cylinder part 5a together from the lower support cylinder part 5b, the sample holder 30 can be exposed to the outside air, and the sample 31 can be taken out.

これらのことから実施例1の試料装着装置5は、試料ホルダ30の低温ステージ9への固定を行ってから試料ホルダ30の連結部45との分離を行うシーケンス、及び、試料ホルダ30の連結部45との連結を行って試料ホルダ30を低温ステージ9から分離するシーケンスが行える手段であれば、雄ネジの右ネジ、左ネジに限られない。雌ネジであっても、右ネジ、左ネジが交換的に設けられてもよい。また、例えば、試料ホルダ30に第1の着脱部と第2の着脱部を設け、第1の着脱部が固定されたらこの固定がトリガとなって第2の着脱部を解除可能にし、第1の着脱部が解除可能にされたらこれがトリガとなって第2の着脱部を固定できる機械的機構または電気的制御手段であってもよい。   Accordingly, the sample mounting device 5 of the first embodiment includes a sequence for separating the sample holder 30 from the connecting portion 45 after fixing the sample holder 30 to the low temperature stage 9, and a connecting portion of the sample holder 30. If it is a means which can perform the sequence which connects with 45 and isolate | separates the sample holder 30 from the low temperature stage 9, it will not be restricted to the right-hand thread and the left-hand thread of a male thread. Even if it is a female screw, a right screw and a left screw may be provided interchangeably. Further, for example, the sample holder 30 is provided with a first attachment / detachment portion and a second attachment / detachment portion, and when the first attachment / detachment portion is fixed, this fixing becomes a trigger to release the second attachment / detachment portion, This may be a mechanical mechanism or electrical control means that can be used as a trigger to fix the second attaching / detaching portion.

そして、実施例1の試料装着装置5は、真空容器1に設けたゲートバルブ39により試料ホルダ30の操作前後に開閉を行うことで、真空容器1内の真空雰囲気を基本的に保持することができる。すなわち、試料ホルダ30をクライオスタット内に挿入するときは挿入部分の内部を予め真空にしてゲートバルブ39を開けてパイプ34を下ろしていく。逆に試料ホルダ30をクライオスタットから引き抜くときは、パイプ34を引き上げた後ゲートバルブ39を締め切ることで内部の真空度を保つことができ、クライオスタット全体の真空を破る必要がない。このように試料装着装置5の真空容器1への装着、脱着が、真空容器1内を真空に保ったまま行えるので、クライオスタットの連続運転を行いながら試料31の交換や点検、部品交換が可能になる。   The sample mounting device 5 of Example 1 can basically maintain the vacuum atmosphere in the vacuum vessel 1 by opening and closing the sample holder 30 before and after the operation of the sample holder 30 by the gate valve 39 provided in the vacuum vessel 1. it can. That is, when the sample holder 30 is inserted into the cryostat, the inside of the insertion portion is previously evacuated, the gate valve 39 is opened, and the pipe 34 is lowered. Conversely, when pulling out the sample holder 30 from the cryostat, the internal vacuum degree can be maintained by closing the gate valve 39 after pulling up the pipe 34, and it is not necessary to break the vacuum of the entire cryostat. As described above, since the sample mounting device 5 can be attached to and detached from the vacuum vessel 1 while the inside of the vacuum vessel 1 is kept in vacuum, the sample 31 can be replaced, inspected, and replaced while the cryostat is continuously operated. Become.

さらに試料ホルダ30をGM冷凍機3の第2ステージ12につながる全ての低温部から切り離して昇温できるため、試料ホルダ30から第2ステージ12に熱が流れ込まないので、無冷媒超電導マグネット6のクエンチを避けることが容易に行える。   Further, since the temperature of the sample holder 30 can be separated from all the low-temperature parts connected to the second stage 12 of the GM refrigerator 3, heat does not flow from the sample holder 30 to the second stage 12, so that the refrigerant-free superconducting magnet 6 is quenched. Can be easily avoided.

そして、実施例1のクライオスタットは、GM冷凍機とカスケードにHe冷凍機を設けたものを低熱源とするから、0.7K前後の極低温まで冷却することができる。試料装着装置5を設けたことから、製造コストとランニングコストを低廉にでき、クエンチを回避することができ、小型で、試料の装着・交換が短時間で容易に行えるクライオスタットを提供することが可能になる。 The cryostat of Example 1, those having a 3 He refrigerator GM refrigerator and cascading from the low heat source, can be cooled to a cryogenic temperature of about 0.7 K. Since the sample mounting device 5 is provided, it is possible to provide a cryostat that can reduce manufacturing costs and running costs, avoid quenching, is small, and can be loaded and replaced easily in a short time. become.

さらに、試料装着装置5に設けられたヒータ32によって試料31周辺の温度を局部的に上昇させることができるので、また、ヒータ32がGM冷凍機やHe冷凍機と独立して試料装着装置5に設けられているので、連続運転可能で、0.7K前後の極低温から室温以上の温度範囲で試料の物性を測定することができる。 Furthermore, since the temperature around the sample 31 can be locally increased by the heater 32 provided in the sample mounting device 5, the heater 32 is independent of the GM refrigerator or the 3 He refrigerator and the sample mounting device 5. Therefore, continuous operation is possible, and the physical properties of the sample can be measured in a temperature range from an extremely low temperature of about 0.7 K to a room temperature or higher.

(実施例2)
本発明の実施例2におけるクライオスタット、とくに無冷媒超電導マグネットを備えた希釈冷凍機付クライオスタット、及びクライオスタットへ試料を装着する試料装着装置、試料ホルダの温度を制御する温度制御方法について説明をする。実施例2の希釈冷凍機付クライオスタットは、GM冷凍機を備えた無冷媒型のクライオスタットであって、実施例1と同様に、GM冷凍機とカスケードに第2の冷凍機の希釈冷凍機を設けて低熱源とするものであり、試料装着装置5は実施例1と同一構成を有している。なお、説明はGM冷凍機について行うがパルスチューブ冷凍機、スターリング冷凍機、液体ヘリウムを用いた冷媒冷却器でも同様である。これらの説明は上述したとおりであり、省略する。希釈冷凍機は以下説明するように希釈冷凍(dilution)効果を使って極低温を実現するものである。
(Example 2)
A cryostat in Embodiment 2 of the present invention, particularly a cryostat with a dilution refrigerator equipped with a refrigerant-free superconducting magnet, a sample mounting device for mounting a sample on the cryostat, and a temperature control method for controlling the temperature of the sample holder will be described. The cryostat with a dilution refrigerator of the second embodiment is a refrigerant-free cryostat equipped with a GM refrigerator, and the dilution refrigerator of the second refrigerator is provided in a cascade with the GM refrigerator as in the first embodiment. The sample mounting device 5 has the same configuration as that of the first embodiment. The description will be given for the GM refrigerator, but the same applies to a pulse tube refrigerator, a Stirling refrigerator, and a refrigerant cooler using liquid helium. These descriptions are as described above, and will be omitted. As described below, the dilution refrigerator achieves extremely low temperatures by using a dilution effect.

図6は本発明の実施例2におけるクライオスタットの説明図である。実施例2のクライオスタット,試料装着装置は、実施例1のクライオスタット,試料装着装置と基本的な構成が同一であるため、同一符号は共通の構成を意味する。従って、同一符号の説明、とくに試料装着装置5の詳細は実施例1に譲って省略する。   FIG. 6 is an explanatory diagram of a cryostat according to the second embodiment of the present invention. Since the cryostat and sample mounting device of the second embodiment have the same basic configuration as the cryostat and sample mounting device of the first embodiment, the same reference numerals denote a common configuration. Therefore, the description of the same reference numerals, in particular, details of the sample mounting device 5 are omitted from the first embodiment.

さて、実施例2の希釈冷凍機付クライオスタットは実施例1のクライオスタットより更に低温にすることが可能なクライオスタットである。すなわち、実施例2の冷媒はHeとHeであり、Heがポンプで循環され、Heが液体Heと混合される。そして、この混合液の温度が0.6K以下になったとき、混合液は2相に分離し、下にはHeの濃度が低く比重の大きなHe希薄相液、上にはHeの濃度が高く比重の小さなHe濃厚相液が位置する。希釈冷凍機はHe希薄相液の濃度が所定の濃度以下(温度依存性があり、絶対零度(0K)のとき6.4%、0Kより高くなるとこれより徐々に大きな濃度を示す)の場合、He濃厚相液からHe希薄相液内にHeが溶解(拡散)し、2つの相間のエントロピー差に基づく熱吸収(希釈冷凍効果)が生じることによって極低温を実現するものであり、実施例1より低温の20mK前後が得られる。 Now, the cryostat with dilution refrigerator of the second embodiment is a cryostat capable of lowering the temperature than the cryostat of the first embodiment. That is, the refrigerant of Example 2 is 3 He and 4 He, 3 He is circulated with a pump, and 3 He is mixed with liquid 4 He. And when the temperature of this liquid mixture becomes 0.6K or less, the liquid mixture is separated into two phases, 3 He dilute phase liquid having a low 3 He concentration and high specific gravity below, and 3 He above it. A 3 He concentrated phase liquid having a high concentration and a small specific gravity is located. In the case of a dilution refrigerator, the concentration of the 3 He dilute phase liquid is less than the predetermined concentration (temperature dependence, 6.4% at absolute zero (0K), and gradually increases above 0K). 3 He is dissolved (diffused) from the 3 He concentrated phase liquid into the 3 He dilute phase liquid, and heat absorption (dilution refrigeration effect) based on the entropy difference between the two phases is generated, thereby realizing extremely low temperature. Thus, a temperature of about 20 mK, which is lower than that of Example 1, is obtained.

このため実施例2では更なる断熱の必要性が生じ、二重の熱輻射シールドが設けられている。図6において、2aは熱輻射シールド2の内側に配置され、二重に外部の熱を断熱する第2の熱輻射シールドである。図6に示す1は真空容器、2は熱輻射シールド、3はGM冷凍機、4はHeタンク、5は試料装着装置、5aは上側支持筒部、5bは下側支持筒部である。6は無冷媒超電導マグネット、7aは真空ポンプ、7bはコンプレッサー、9は低温ステージである。これらは実施例1のクライオスタットと同様であり、説明は省略する。 For this reason, in Example 2, the necessity of the further heat insulation arises and the double thermal radiation shield is provided. In FIG. 6, 2a is a 2nd heat radiation shield which is arrange | positioned inside the heat radiation shield 2 and insulates external heat twice. In FIG. 6, 1 is a vacuum vessel, 2 is a heat radiation shield, 3 is a GM refrigerator, 4 is a 3 He tank, 5 is a sample mounting device, 5a is an upper support cylinder, and 5b is a lower support cylinder. 6 is a refrigerant-free superconducting magnet, 7a is a vacuum pump, 7b is a compressor, and 9 is a low-temperature stage. These are the same as those of the cryostat of the first embodiment, and a description thereof will be omitted.

また、実施例1と同様、10は試料装着装置5を取り付けるフランジ、11はGM冷凍機3の40Kとなる第1ステージ、12はGM冷凍機3の4Kの温度になる第2ステージ、13は40Kプレート、14は4Kプレート、14aはフレキシブル熱伝導体である。また、15は排気パイプであり、16a,16bは流路、17a,17b,17cはバルブである。18a,18b,19a,19bは熱交換器である。20は吸着フィルタ、21はJT熱交換器、22はJT弁である。説明は省略する。   Similarly to Example 1, 10 is a flange for mounting the sample mounting device 5, 11 is a first stage at 40K of the GM refrigerator 3, 12 is a second stage at 4K of the GM refrigerator 3, and 13 is A 40K plate, 14 is a 4K plate, and 14a is a flexible heat conductor. Reference numeral 15 denotes an exhaust pipe, reference numerals 16a and 16b denote flow paths, and reference numerals 17a, 17b and 17c denote valves. Reference numerals 18a, 18b, 19a and 19b denote heat exchangers. 20 is an adsorption filter, 21 is a JT heat exchanger, and 22 is a JT valve. Description is omitted.

次に、希釈冷凍機付クライオスタットの希釈冷凍機について詳細に説明する。図6において、図に示す51は、HeガスがJT弁22で凝縮され、Heの高濃度凝縮液として戻ってきたとき、Heと混合させる混合器である。また、52はスティルであり、後述するチューブインチューブ型熱交換器55とステップ熱交換器56を介して混合器51につながっている。スティル52には排気パイプ15が接続されており、気化したHeガスが排気パイプ15内を導かれて真空ポンプ7aに導かれる。スティル52は、Heと比較して飽和蒸気圧が大きく気化が速いHeを0.7Kで気化させることにより、混合器51中の希薄相液中のHeを抽出し、連続的な冷凍サイクルを実現する。 Next, the dilution refrigerator of the cryostat with dilution refrigerator will be described in detail. In FIG. 6, 51 shown in the figure is a mixer that is mixed with 4 He when 3 He gas is condensed by the JT valve 22 and returned as a high concentration condensate of 3 He. Reference numeral 52 denotes a still, which is connected to the mixer 51 via a tube-in-tube heat exchanger 55 and a step heat exchanger 56 described later. The exhaust pipe 15 is connected to the still 52, and the vaporized 3 He gas is guided through the exhaust pipe 15 and then to the vacuum pump 7a. Still 52, by vaporizing at 0.7K of 3 He saturated vapor pressure is large vaporized faster compared to 4 the He, extracts the 3 He in the dilute phase fluid in the mixer 51, a continuous refrigeration Realize the cycle.

53はJT熱交換器21、JT弁によって1K程度に冷却されたHeガスから凝縮熱を吸収しHeを0.7K前後程度に冷却する熱交換器、54は熱交換器53で熱交換した凝縮熱をスティル52内のHe希薄相液に伝えるHe気化ステージのプレートである。55はチューブインチューブ型熱交換器、56はステップ熱交換器である。チューブインチューブ型熱交換器55は薄肉で大径のパイプ中に小径のパイプを挿入してコイル状にしたもので、混合器51に戻っていくHe濃厚相液とスティル52に移動するHeを含む希薄相液とを対向して流し、両者間で熱交換するものである。また、ステップ熱交換器56は希釈冷凍機の最低温度を更に低下させるためのもので、銀粉が焼結された金属隔壁を挟んで2室が接触し、その2室を前記濃厚相液と希薄相液が対向して流れる。その際、焼結体が多孔質であるために非常に大きな熱交換面積(数m2〜数十m2)を確保できるものである。 53 is a JT heat exchanger 21, a heat exchanger that absorbs heat of condensation from 3 He gas cooled to about 1K by a JT valve, and cools 3 He to about 0.7K, and 54 is a heat exchanger 53 for heat exchange. It is a plate of the 3 He vaporization stage that transmits the condensed heat to the 3 He diluted phase liquid in the still 52. 55 is a tube-in-tube heat exchanger, and 56 is a step heat exchanger. Tube-in-tube heat exchanger 55 is obtained by the coiled insert the small-diameter pipe in the large diameter pipe a thin, moves gradually to the 3 He dense phase fluid and still 52 back to the mixer 51 3 A dilute phase liquid containing He is flowed oppositely, and heat exchange is performed between the two. The step heat exchanger 56 is for further lowering the minimum temperature of the dilution refrigerator, and the two chambers are in contact with each other with a metal partition sintered with silver powder, and the two chambers are diluted with the concentrated phase liquid and the dilute solution. The phase liquid flows oppositely. At that time, since the sintered body is porous, a very large heat exchange area (several m2 to several tens m2) can be secured.

さて、実施例2の希釈冷凍機付クライオスタットは、実施例1で説明したように、GM冷凍機3の第1ステージ11で40Kプレート13を40Kに冷却し、第2ステージ12で4Kプレート14を4Kに冷却する。これによって、Heガスは流路16bの熱交換器18bで40K程度に冷却され、熱交換器19bで4K程度に冷却され、JT熱交換器21でさらに冷却され、JT弁22によって液化される。 As described in the first embodiment, the cryostat with dilution refrigerator of the second embodiment cools the 40K plate 13 to 40K in the first stage 11 of the GM refrigerator 3, and the 4K plate 14 in the second stage 12. Cool to 4K. As a result, the 3 He gas is cooled to about 40K by the heat exchanger 18b in the flow path 16b, cooled to about 4K by the heat exchanger 19b, further cooled by the JT heat exchanger 21, and liquefied by the JT valve 22. .

その後、熱交換器53で0.7K前後に冷却されたHeは、チューブインチューブ型熱交換器55の中を通って、スティル52に移動するHe希薄相液と対向して流れることで熱交換し、ステップ熱交換器56で温度を更に低下させられる。混合器51に入った液体Heは混合器51の上部に位置するHe濃厚相液となり、下部に位置するHe希薄相液にHeが溶け込むときの溶解熱吸収によって、20mKの温度を実現することができる。 Thereafter, the 3 He cooled to about 0.7 K in the heat exchanger 53 flows through the tube-in-tube heat exchanger 55 and flows in opposition to the 3 He dilute phase liquid moving to the still 52. The heat is exchanged, and the temperature is further lowered by the step heat exchanger 56. The liquid 3 He entering the mixer 51 becomes a 3 He concentrated phase liquid located in the upper part of the mixer 51, and the temperature of 20 mK is increased by absorption of heat when 3 He dissolves in the 3 He diluted phase liquid located in the lower part. Can be realized.

このときスティル52においては、図示されていないヒータからの熱で0.7K程度に加熱され、真空ポンプ7aによる負圧でHeより飽和蒸気圧が大きいHeが気化する。これによりスティル52内のHeと混合器51内のHe希薄相液のHeとの間に濃度勾配が生じ、スティル52内のHeの不足分を補うために混合器51内のHe希薄相液のHeが移動する。更にこのHe希薄相液のHeの濃度を補充するため、He濃厚相液からHeが拡散する。スティル52から気化したHeガスは、排気パイプ15を通って温度上昇すると共に真空ポンプ7aで吸引され、更にコンプレッサー7bで加圧される。その後、Heガスは第1ステージの熱交換器18bに送られ、以上説明した冷凍サイクルを繰返すことになる。 At this time, the still 52 is heated to about 0.7K by heat from a heater (not shown), and 3 He having a saturated vapor pressure higher than 4 He is vaporized by the negative pressure by the vacuum pump 7a. Thus the concentration gradient is generated between the 3 He in 3 He dilute phase fluid in the 3 He and the mixer 51 in the Still 52, 3 in the mixer 51 to compensate for the shortage of the 3 He in Still 52 3 He of the dilute He phase moves. To further supplement the concentration of 3 He in this 3 He dilute phase liquid, 3 He diffuses from 3 He dense phase fluid. The 3 He gas evaporated from the still 52 rises in temperature through the exhaust pipe 15 and is sucked by the vacuum pump 7a and further pressurized by the compressor 7b. Thereafter, the 3 He gas is sent to the first stage heat exchanger 18b, and the refrigeration cycle described above is repeated.

実施例2の試料装着装置5の構造は、実施例1で説明した図2,図3と同様の構成をしており、その装着方法は図4,図5で説明した方法と同様である。従って、詳細な説明は繰返しになるので実施例1に譲って省略する。実施例2においても、図2,図3に示すように、試料ホルダ30に低温ステージ9に着脱するための第1の着脱部(右ネジ部35と連結部48)と、第1の着脱部が低温ステージ9に装着されたときに連結部45を分離し、第1の着脱部を低温ステージ9から分離するときには連結部45を装着できる第2の着脱部(左ネジ部36と第1螺合部45)とが設けられておればよい。   The structure of the sample mounting device 5 of the second embodiment has the same configuration as that shown in FIGS. 2 and 3 described in the first embodiment, and the mounting method is the same as the method described in FIGS. Therefore, detailed description will be repeated and will be omitted from the first embodiment. Also in the second embodiment, as shown in FIGS. 2 and 3, the first attaching / detaching portion (the right screw portion 35 and the connecting portion 48) for attaching / detaching the sample holder 30 to / from the low temperature stage 9, and the first attaching / detaching portion. Is attached to the low temperature stage 9, and the second attaching / detaching portion (the left screw portion 36 and the first screw) can be attached to the connecting portion 45 when the first attaching / detaching portion is separated from the low temperature stage 9. And a joint portion 45) may be provided.

そして、試料ホルダ30の低温ステージ9への固定を行って連結部45との分離を行うシーケンス、また、試料ホルダ30の連結部45との連結を行って、低温ステージ9から分離するシーケンスが、可逆に行える手段であれば、雄ネジの右ネジ、左ネジに限らず、雌ネジでも、右ネジ、左ネジが交換的に設けられても、またその他の機械的または電気的な如何なる手段でも採用できる。   A sequence in which the sample holder 30 is fixed to the low temperature stage 9 to be separated from the connecting portion 45, and a sequence in which the sample holder 30 is connected to the connecting portion 45 to be separated from the low temperature stage 9 is As long as it is a reversible means, not only the right and left threads of the male thread, but also the female thread, the right and left threads can be provided interchangeably, or any other mechanical or electrical means Can be adopted.

このように実施例2の試料装着装置5は、実施例1と同様、真空容器1への装着、脱着が、真空容器1内を真空に保ったまま行えるので、クライオスタットを連続運転しながら試料31の交換や点検、部品交換が可能になる。また、試料ホルダ30をGM冷凍機3の第2ステージ12につながる全ての低温部から切り離して昇温できるため、試料ホルダ30から熱が第2ステージ12に流れ込まないので、無冷媒超電導マグネット6のクエンチを避けることができる。   As described above, in the sample mounting device 5 of the second embodiment, as in the first embodiment, the mounting and the detachment with respect to the vacuum vessel 1 can be performed while keeping the inside of the vacuum vessel 1 in vacuum, so that the sample 31 is operated while the cryostat is continuously operated. Replacement, inspection, and parts replacement are possible. In addition, since the temperature of the sample holder 30 can be separated from all the low temperature parts connected to the second stage 12 of the GM refrigerator 3, heat does not flow from the sample holder 30 to the second stage 12, so that the refrigerant-free superconducting magnet 6 Quenching can be avoided.

そして、実施例2の希釈冷凍機付クライオスタットは、GM冷凍機と第2の冷凍機として希釈冷凍機を設けたため、20mK程度あるいは例えば20mKから加熱することで少なくとも数十mK前後の極低温にしたり、試料装着装置5の熱接続を使用したりすることによってそれ以上の様々の極低温に冷却することができる。試料装着装置5を設けたことから、製造コストとランニングコストを低廉にでき、クエンチを回避することができ、小型で、試料の装着・交換が短時間で容易に行えるクライオスタットを提供することが可能になる。   The cryostat with dilution refrigerator of Example 2 is provided with a dilution refrigerator as the GM refrigerator and the second refrigerator, so that the cryostat is heated to about 20 mK or, for example, from 20 mK to at least a few tens of mK or so. Further, it can be cooled to various cryogenic temperatures by using the thermal connection of the sample mounting device 5. Since the sample mounting device 5 is provided, it is possible to provide a cryostat that can reduce manufacturing costs and running costs, avoid quenching, is small, and can be loaded and replaced easily in a short time. become.

(実施例3)
本発明の実施例3におけるクライオスタット、とくに磁気冷凍機付クライオスタット、及びその試料装着装置、試料ホルダの温度を制御する温度制御方法について説明する。実施例3の磁気冷凍機付クライオスタットは、GM冷凍機とカスケードに第2の冷凍機の磁気冷凍機を設けてクライオスタットの低熱源とするものであり、試料装着装置5は実施例1と同一構成を有している。
(Example 3)
A cryostat, particularly a cryostat with a magnetic refrigerator, a sample mounting device, and a temperature control method for controlling the temperature of the sample holder in Example 3 of the present invention will be described. The cryostat with a magnetic refrigerator of Example 3 is a cryostat with a low temperature heat source by providing a magnetic refrigerator of the second refrigerator in cascade with the GM refrigerator, and the sample mounting device 5 has the same configuration as that of Example 1. have.

図7は本発明の実施例3におけるクライオスタットの説明図である。実施例3のクライオスタット、試料装着装置は、実施例1のクライオスタット、試料装着装置と基本的な構成が同一であるため、同一符号は共通の構成を意味する。従って、同一符号の説明、とくに試料装着装置5の詳細は実施例1に譲って省略する。   FIG. 7 is an explanatory diagram of a cryostat in Example 3 of the present invention. Since the cryostat and sample mounting device of the third embodiment have the same basic configuration as the cryostat and sample mounting device of the first embodiment, the same reference numerals denote a common configuration. Therefore, the description of the same reference numerals, in particular, details of the sample mounting device 5 are omitted from the first embodiment.

図7において、6aは断熱消磁することによって後述する磁気作業物質60を冷却するための超電導マグネットであり、反対巻の補償コイルを直列に組み込んで磁場をキャンセルし試料31の部分にかかる磁場の大きさがほとんどゼロになるように設計してある。60は多数の細い銅線の間にクロムカリミョウバンの磁性体粉末を油と一緒に練りこんで封入した磁気作業物質である。6bは試料に磁場を印加するための超電導マグネットである。65は試料31の位置での磁場の大きさを測定するための磁場センサである。4Kプレート14はGM冷凍機3の4Kの第2ステージ12とフレキシブル熱伝導体14aを介して熱的に接続されている。また、磁気作業物質60の上部には低温ステージ9が接続されており、低温ステージ9には右ネジ部35と螺合する第1螺合部48(図3参照)が設けられている。磁気作業物質60の下部と4Kプレート14の間にはガスギャップ熱スイッチ61が挿設されていて、磁気作業物質60を熱的に4Kプレート14に接続して4Kの温度にしたり、切り離して断熱したりすることができる。   In FIG. 7, 6a is a superconducting magnet for cooling a magnetic working material 60 to be described later by adiabatic demagnetization. A reverse-coiled compensation coil is incorporated in series to cancel the magnetic field and the magnitude of the magnetic field applied to the sample 31 portion. It is designed to be almost zero. Reference numeral 60 denotes a magnetic working substance in which a magnetic powder of chrome potassium alum is kneaded together with oil between a large number of thin copper wires. 6b is a superconducting magnet for applying a magnetic field to the sample. Reference numeral 65 denotes a magnetic field sensor for measuring the magnitude of the magnetic field at the position of the sample 31. The 4K plate 14 is thermally connected to the 4K second stage 12 of the GM refrigerator 3 via the flexible heat conductor 14a. The low temperature stage 9 is connected to the upper part of the magnetic working material 60, and the low temperature stage 9 is provided with a first screwing portion 48 (see FIG. 3) that is screwed with the right screw portion 35. A gas gap thermal switch 61 is inserted between the lower part of the magnetic working material 60 and the 4K plate 14 so that the magnetic working material 60 is thermally connected to the 4K plate 14 to reach a temperature of 4K or separated to be insulated. You can do it.

ガスギャップ熱スイッチ61の形状は円柱であり、銅でできた両底面から内側に延びる複数の銅製のフィン62が狭い間隔を保って対向配置され、高熱抵抗材によって構成された側面が気密を保つと同時に構造材としての役目もしている。その円柱の側面からは、4Kプレート14に緩く熱結合された活性炭63が細いチューブによってつながっている。活性炭63にはヒータが装着されていて、加熱できるようになっている。活性炭63と4Kプレート14の間の熱結合の程度は、ヒータをONしても4Kプレートの温度がわずかにしか上がらない程度に小さく設定されている。   The shape of the gas gap heat switch 61 is a cylinder, and a plurality of copper fins 62 extending inward from both bottom surfaces made of copper are arranged facing each other with a narrow space therebetween, and the side surface constituted by the high heat resistance material is kept airtight. At the same time, it also serves as a structural material. From the side surface of the cylinder, activated carbon 63 loosely thermally coupled to the 4K plate 14 is connected by a thin tube. The activated carbon 63 is equipped with a heater so that it can be heated. The degree of thermal coupling between the activated carbon 63 and the 4K plate 14 is set so small that the temperature of the 4K plate only slightly increases even when the heater is turned on.

ガスギャップ熱スイッチ61をONにするには、ヒータ64で活性炭63を加熱し吸着されているヘリウムガスを放出させ、フィン62間のギャップをヘリウムガスで満たす。そのヘリウムガスがフィン62間を熱交換することで熱が移動する。ガスギャップ熱スイッチ61をOFFにするには、ヒータ64による活性炭63の加熱をストップし、熱伝導により活性炭63を4K近くまで冷却する。冷却された活性炭はヘリウムガスを吸着することでフィン62間のギャップを真空にするため、熱が移動しない。   In order to turn on the gas gap heat switch 61, the activated carbon 63 is heated by the heater 64 to release the adsorbed helium gas, and the gap between the fins 62 is filled with helium gas. The helium gas exchanges heat between the fins 62 to transfer heat. In order to turn off the gas gap heat switch 61, heating of the activated carbon 63 by the heater 64 is stopped, and the activated carbon 63 is cooled to near 4K by heat conduction. The cooled activated carbon adsorbs helium gas to make the gap between the fins 62 vacuum, so that heat does not move.

実施例3の磁気冷凍機付クライオスタットは、4Kプレート14を第2ステージ12によって4Kに冷却し、ガスギャップ熱スイッチ61をONの状態で、無冷媒超電導マグネット6aにより数テスラ(T)以上の強磁場を印加し等温磁化する。このとき、磁化熱はガスギャップ熱スイッチ61、4Kプレート14、フレキシブル熱伝導体14a、GM冷凍機3の第2ステージ12を経て排熱される。その後、ガスギャップ熱スイッチ61をOFFにして断熱し、磁場を消磁して少なくとも数十mK前後の極低温に冷却すると磁気作業物質60の上部に熱接触した低温ステージ9も数十mK前後の極低温になる。実施例3の試料装着装置5は、実施例1と同一構成を有しており、上述したとおりである。なお、この試料装着装置5は、試料ホルダ30の低温ステージ9への固定を行って連結部45との分離を行うシーケンス、また、試料ホルダ30の連結部45との連結を行って低温ステージ9から分離するシーケンスが、可逆に行える手段であれば、如何なる手段でも採用できる。ネジの形態にもよらない。   In the cryostat with a magnetic refrigerator of the third embodiment, the 4K plate 14 is cooled to 4K by the second stage 12, the gas gap heat switch 61 is turned on, and a strong force of several tesla (T) or more by the refrigerant-free superconducting magnet 6a. Isothermal magnetization is performed by applying a magnetic field. At this time, the magnetization heat is exhausted through the gas gap heat switch 61, the 4K plate 14, the flexible heat conductor 14 a, and the second stage 12 of the GM refrigerator 3. Thereafter, the gas gap heat switch 61 is turned off to insulate, and when the magnetic field is demagnetized and cooled to a cryogenic temperature of at least about several tens of mK, the low temperature stage 9 that is in thermal contact with the upper part of the magnetic working material 60 is It becomes low temperature. The sample mounting device 5 of Example 3 has the same configuration as that of Example 1, and is as described above. The sample mounting device 5 includes a sequence in which the sample holder 30 is fixed to the low temperature stage 9 and separated from the connecting portion 45, and the sample holder 30 is connected to the connecting portion 45 in the low temperature stage 9. Any means can be adopted as long as the sequence to be separated from can be reversible. It does not depend on the shape of the screw.

試料への磁場の印加は、無冷媒超電導マグネット6bに通電することで行われるが、そのままでは無冷媒超電導マグネット6bからの漏れ磁場が磁気作業物質60にも印加され試料の温度が変化する。これを防ぐために、温度センサ33で試料の温度をモニターしながら無冷媒超電導マグネット6aに流す電流を制御することで無冷媒超電導マグネット6bからの影響をキャンセルし、試料の温度変化がなくなるようにしている。この制御は手動でも電気的フィードバックによる自動制御でも可能である。   Application of the magnetic field to the sample is performed by energizing the refrigerant-free superconducting magnet 6b. However, the leakage magnetic field from the refrigerant-free superconducting magnet 6b is also applied to the magnetic working material 60 as it is, and the temperature of the sample changes. In order to prevent this, the temperature sensor 33 monitors the temperature of the sample while controlling the current flowing through the refrigerant-free superconducting magnet 6a so as to cancel the influence of the refrigerant-free superconducting magnet 6b and eliminate the temperature change of the sample. Yes. This control can be performed manually or automatically by electrical feedback.

磁気作業物質60に磁場を印加する無冷媒超電導マグネット6aには前述の補償コイルがあるため試料部分への磁場の影響はほとんどないが、補償しきれずに残ったわずかな磁場は磁場センサ65によって検出し無冷媒超電導マグネット6bに流す電流を制御してキャンセルしている。この制御も手動でも電気的フィードバックによる自動制御でも可能である。   The refrigerant-free superconducting magnet 6a that applies a magnetic field to the magnetic working material 60 has the above-described compensation coil, so there is almost no influence of the magnetic field on the sample portion, but the slight magnetic field remaining without being compensated is detected by the magnetic field sensor 65. The current flowing through the refrigerant-free superconducting magnet 6b is controlled and canceled. This control can be performed manually or automatically by electrical feedback.

実施例3では、右ネジ部35を低温ステージ9に強く締め付けた場合は、試料ホルダ30の下面が断熱消磁で冷却された低温ステージ9と直接接触し、磁気作業物質60と同等の極低温を実現でき、さらにヒータによってこれより幾分高い温度まで制御できる。次に、この状態から右ネジ部35を緩めた状態では、試料ホルダ30と低温ステージ9の直接的な接触が断たれ、直接接触した場合より熱伝導が低下する。この締め付けの強弱を調節することで前記極低温より若干高温の状態を実現できる。さらに、右ネジ部35を磁気作業物質60から完全に分離すると、磁気作業物質60にヒータ32の熱が流れ込むことはなく、この温度から室温若しくはそれ以上の温度にすることが可能になる。   In Example 3, when the right screw part 35 is strongly tightened to the low temperature stage 9, the lower surface of the sample holder 30 is in direct contact with the low temperature stage 9 cooled by adiabatic demagnetization, and a cryogenic temperature equivalent to that of the magnetic working material 60 is obtained. It can be realized and can be controlled to a temperature somewhat higher than this by the heater. Next, in the state where the right screw portion 35 is loosened from this state, the direct contact between the sample holder 30 and the low-temperature stage 9 is cut off, and the heat conduction is lower than that in the case of direct contact. By adjusting the tightening strength, a state slightly higher than the extremely low temperature can be realized. Further, when the right screw portion 35 is completely separated from the magnetic working material 60, the heat of the heater 32 does not flow into the magnetic working material 60, and the temperature can be raised from this temperature to room temperature or higher.

このように実施例3の磁気冷凍機付クライオスタットは、GM冷凍機とカスケードに磁気冷凍機を設けて低熱源とするから、温度制御が容易で、極低温から室温、若しくはそれ以上の温度範囲で試料を測定することができ、液体ヘリウム等の冷媒を使わないため取り扱いが容易になる。また、実施例3の試料装着装置5は真空容器1への装着、脱着が、真空容器1内を真空に保ったまま行えるので、試料31の交換や点検、部品交換が容易に行える。   As described above, the cryostat with a magnetic refrigerator of Example 3 is provided with a magnetic refrigerator in a cascade with the GM refrigerator so as to be a low heat source. Therefore, temperature control is easy, and the temperature range is from extremely low temperature to room temperature or higher. The sample can be measured, and handling is easy because no refrigerant such as liquid helium is used. In addition, since the sample mounting device 5 of Example 3 can be mounted and removed from the vacuum vessel 1 while keeping the inside of the vacuum vessel 1 in vacuum, the sample 31 can be easily replaced, inspected, and replaced.

(実施例4)
本発明の実施例4におけるクライオスタット、とくにGM冷凍機付クライオスタット、及びその試料装着装置、試料ホルダの温度を制御する温度制御方法について説明する。実施例4のGM冷凍機付クライオスタットは、GM冷凍機を低熱源とするものであり、試料装着装置5は実施例1と同一構成を有している。
Example 4
A cryostat, particularly a cryostat with a GM refrigerator, its sample mounting device, and a temperature control method for controlling the temperature of the sample holder in Example 4 of the present invention will be described. The cryostat with a GM refrigerator of Example 4 uses the GM refrigerator as a low heat source, and the sample mounting device 5 has the same configuration as that of Example 1.

図8は本発明の実施例4におけるクライオスタットの説明図である。実施例4のクライオスタット、試料装着装置は、実施例1のクライオスタット、試料装着装置と基本的な構成が同一であるため、同一符号は共通の構成を意味する。従って、同一符号の説明、とくに試料装着装置5の詳細は実施例1に譲って省略する。   FIG. 8 is an explanatory diagram of a cryostat in Example 4 of the present invention. Since the basic configuration of the cryostat and the sample mounting device of the fourth embodiment is the same as that of the cryostat and the sample mounting device of the first embodiment, the same reference numerals denote a common configuration. Therefore, the description of the same reference numerals, in particular, details of the sample mounting device 5 are omitted from the first embodiment.

図8において、6aは試料に磁場を印加するための超電導マグネットであり、14はフレキシブル熱伝導体14aを介してGM冷凍機3の4Kの第2ステージ12と熱的に接続される4Kプレート、9は4Kプレート14の上に接続された低温ステージである。低温ステージ9には右ネジ部35と螺合する第1螺合部48が設けられている。   In FIG. 8, 6a is a superconducting magnet for applying a magnetic field to the sample, and 14 is a 4K plate thermally connected to the 4K second stage 12 of the GM refrigerator 3 through a flexible thermal conductor 14a. Reference numeral 9 denotes a low temperature stage connected on the 4K plate 14. The low temperature stage 9 is provided with a first threaded portion 48 that is threadedly engaged with the right thread portion 35.

実施例4のGM冷凍機付クライオスタットは、4Kプレート14とその上の低温ステージ9を第2ステージ12によって4Kに冷却する。試料装着装置5は、実施例1と同一構成を有している。なお、試料装着装置5は、試料ホルダ30の低温ステージ9への固定を行って連結部45との分離を行うシーケンス、また、試料ホルダ30の連結部45との連結を行って低温ステージ9から分離するシーケンスが、可逆に行える手段であれば、如何なる手段でも採用できる。ネジの形態にもよらない。   The cryostat with a GM refrigerator of Example 4 cools the 4K plate 14 and the low temperature stage 9 thereon to 4K by the second stage 12. The sample mounting device 5 has the same configuration as that of the first embodiment. The sample mounting device 5 is a sequence for fixing the sample holder 30 to the low temperature stage 9 to separate it from the connecting portion 45, and connecting the connecting portion 45 of the sample holder 30 to the low temperature stage 9. Any means can be adopted as long as the separation sequence is a reversible means. It does not depend on the shape of the screw.

実施例4では、右ネジ部35を低温ステージ9に強く締め付けた場合は、試料ホルダ30の下面が断熱消磁で冷却された低温ステージ9と直接接触し、低温ステージ9と同等の極低温を実現できる。次に、この状態から右ネジ部35を緩めた状態では、試料ホルダ30と低温ステージ9の直接的な接触が断たれ、直接接触した場合より熱伝導が低下する。この締め付けの強弱を調節することで前記極低温より若干高温の状態を実現できる。さらに、右ネジ部35を低温ステージ9から完全に分離すると、低温ステージ9にヒータ32の熱が流れ込むことはなく、この温度から室温若しくはそれ以上の温度にすることが可能になる。   In the fourth embodiment, when the right screw portion 35 is strongly tightened to the low temperature stage 9, the lower surface of the sample holder 30 is in direct contact with the low temperature stage 9 cooled by adiabatic demagnetization, and an extremely low temperature equivalent to that of the low temperature stage 9 is realized. it can. Next, in the state where the right screw portion 35 is loosened from this state, the direct contact between the sample holder 30 and the low-temperature stage 9 is cut off, and the heat conduction is lower than that in the case of direct contact. By adjusting the tightening strength, a state slightly higher than the extremely low temperature can be realized. Further, when the right screw portion 35 is completely separated from the low temperature stage 9, the heat of the heater 32 does not flow into the low temperature stage 9, and the temperature can be raised from this temperature to room temperature or higher.

このように実施例4のGM冷凍機付クライオスタットは、GM冷凍機を低熱源とするから、温度制御が容易で、極低温から室温、若しくはそれ以上の温度範囲で試料を測定することができ、液体ヘリウム等の冷媒を使わないため取り扱いが容易になる。また、実施例3の試料装着装置5は真空容器1への装着、脱着が、真空容器1内を真空に保ったまま行えるので、試料31の交換や点検、部品交換が容易に行える。   Thus, since the cryostat with a GM refrigerator of Example 4 uses the GM refrigerator as a low heat source, temperature control is easy, and a sample can be measured in a temperature range from extremely low temperature to room temperature or higher, Handling is easy because no refrigerant such as liquid helium is used. In addition, since the sample mounting device 5 of Example 3 can be mounted and removed from the vacuum vessel 1 while keeping the inside of the vacuum vessel 1 in vacuum, the sample 31 can be easily replaced, inspected, and replaced.

(実施例5)
本発明の実施例4におけるクライオスタット、とくに冷却機付クライオスタット、及びその試料装着装置、試料ホルダの温度を制御する温度制御方法について説明をする。実施例5の冷却機付クライオスタットは、液体ヘリウムや液体窒素などの寒剤を低熱源とするものであり、試料装着装置5は実施例1と同一構成を有している。従って、同一符号は同一構成を意味し、その説明は実施例1に譲って省略する。図9は本発明の実施例4におけるクライオスタットの説明図である。
(Example 5)
A cryostat, particularly a cryostat with a cooler, a sample mounting device, and a temperature control method for controlling the temperature of the sample holder in Example 4 of the present invention will be described. The cryostat with a cooler according to the fifth embodiment uses a cryogen such as liquid helium or liquid nitrogen as a low heat source, and the sample mounting device 5 has the same configuration as that of the first embodiment. Accordingly, the same reference numerals mean the same configuration, and the description thereof will be omitted to the first embodiment. FIG. 9 is an explanatory diagram of a cryostat in Example 4 of the present invention.

図9において、9aは後述する寒剤74を使って冷却を行う寒剤冷却機の冷却ステージであり、15aは試料装着装置5を内部に収容し真空雰囲気中で物性を測定するための測定用真空容器、17eは真空を形成するためのバルブ、17fは蒸発した寒剤ガスを逃がすためのバルブである。冷却ステージ9aは測定用真空容器15aの最下位置に設置され、測定用の真空容器15aの底面を通して寒剤と熱接触し、寒剤と同じ温度になっている。また、71は実施例4の寒剤冷却機におけるデュワー、73は寒剤74を収容するデュワー内部容器、72はデュワー内部容器73の外側に巻きつけて外部からの熱輻射を遮り寒剤の蒸発を抑えるスーパーインシュレーション、74はデュワー内部容器73に収容される液体Heや液体He、液体窒素などの寒剤である。 In FIG. 9, 9a is a cooling stage of a cryogen cooler that cools using a cryogen 74, which will be described later, and 15a is a measurement vacuum vessel for accommodating the sample mounting device 5 and measuring physical properties in a vacuum atmosphere. , 17e are valves for forming a vacuum, and 17f is a valve for releasing evaporated cryogen gas. The cooling stage 9a is installed at the lowest position of the measurement vacuum vessel 15a, and is in thermal contact with the cryogen through the bottom surface of the measurement vacuum vessel 15a, and is at the same temperature as the cryogen. In addition, 71 is a dewar in the cryogen cooler of Example 4, 73 is a dewar inner container that contains the cryogen 74, 72 is a supermarket that is wound around the outside of the dewar inner container 73 to block heat radiation from the outside and suppress the evaporation of the cryogen. Insulation 74 is a cryogen such as liquid 3 He, liquid 4 He, or liquid nitrogen stored in the dewar inner container 73.

デュワー内部容器73とデュワー71との間は真空にされ、スーパーインシュレーション72が配置される。このように実施例4のクライオスタットは、デュワー内部容器73内に寒剤74を低熱源として収容すると共に、さら寒剤74内に測定用真空容器15aを収容するもので、デュワー71が本発明の実施例1における真空容器に相当する。なお、実施例4のデュワー内部容器73内には、物性を測定するための超電導マグネット6cが設置されているが、これを実施例3と同様、磁気冷凍機の超電導マグネットにしてさらに低温を実現することもできる。   A vacuum is applied between the dewar inner container 73 and the dewar 71, and a super insulation 72 is disposed. As described above, the cryostat of the fourth embodiment accommodates the cryogen 74 as a low heat source in the dewar inner container 73 and the measurement vacuum container 15a in the cryogen 74, and the dewar 71 is an embodiment of the present invention. 1 corresponds to the vacuum container in 1. In addition, although the superconducting magnet 6c for measuring the physical properties is installed in the dewar inner container 73 of the fourth embodiment, this is made into a superconducting magnet of a magnetic refrigerator as in the third embodiment to realize further low temperature. You can also

実施例5の冷媒冷却機付クライオスタットを運転するため、まず、冷媒が汲み込まれる前に、ゲートバルブ39が閉じた状態で、図示しない真空ポンプによってバルブ17eから測定用真空容器15a内の空気を排出する。冷媒を汲み込み、試料装着装置5を下部支持筒部5bにセットし着脱クランプ41を取り付ける。図示しない真空ポンプ44によってゲートバルブ39より上の空間を排気し、ゲートバルブ39を開けて試料装着装置5を差し込み、試料ホルダ30を冷却ステージ9aに装着する。試料装着装置5の着脱の方法は実施例1で説明したとおりである。なお、試料装着装置5は、試料ホルダ30の冷却ステージ9aへの固定を行って連結部45との分離を行うシーケンス、また、試料ホルダ30の連結部45との連結を行って冷却ステージ9aから分離するシーケンスが、可逆に行える手段であれば、如何なる手段でも採用できる。ネジの形態にもよらない。   In order to operate the cryostat with a refrigerant cooler of the fifth embodiment, first, before the refrigerant is pumped in, the gate valve 39 is closed, and the air in the measurement vacuum vessel 15a is discharged from the valve 17e by a vacuum pump (not shown). Discharge. The refrigerant is pumped in, the sample mounting device 5 is set on the lower support cylinder portion 5b, and the detachable clamp 41 is attached. The space above the gate valve 39 is evacuated by a vacuum pump 44 (not shown), the gate valve 39 is opened, the sample mounting device 5 is inserted, and the sample holder 30 is mounted on the cooling stage 9a. The method for attaching and detaching the sample mounting device 5 is as described in the first embodiment. Note that the sample mounting device 5 has a sequence for fixing the sample holder 30 to the cooling stage 9a to separate it from the connecting portion 45, and connecting the connecting portion 45 to the connecting portion 45 of the sample holder 30 to start from the cooling stage 9a. Any means can be adopted as long as the separation sequence is a reversible means. It does not depend on the shape of the screw.

右ネジ部35を冷却ステージ9aに強く締め付けた場合は、試料ホルダ30の下面が冷却ステージ9aと直接接触し、寒剤74と同等の極低温を実現することができる。このとき、寒剤74が液体He,液体He,液体窒素等で実現できる温度が異なり、液体Heであれば0.7K程度、液体Heの場合1K程度、液体窒素の場合は77K程度の温度になる。次に、この状態から右ネジ部35を緩めると、試料ホルダ30と冷却ステージ9aの直接的な接触が断たれ、直接接触した場合より熱伝導が低下する。この締め付けの強弱を調節することで、冷却ステージ9aに流れ込む熱量を減少させて前記温度より若干高温の状態を実現できる。さらに、右ネジ部35を冷却ステージ9aから完全に分離すると、冷却ステージ9aにヒータ32の熱が流れ込むことはなく、この温度から室温若しくはそれ以上の温度にすることが可能になる。 When the right screw portion 35 is strongly tightened to the cooling stage 9a, the lower surface of the sample holder 30 is in direct contact with the cooling stage 9a, and a cryogenic temperature equivalent to that of the cryogen 74 can be realized. At this time, the temperature that can be achieved by the cryogen 74 is liquid 3 He, liquid 4 He, liquid nitrogen, and the like. The liquid 3 He is about 0.7 K, the liquid 4 He is about 1 K, and the liquid nitrogen is about 77 K. Temperature. Next, when the right screw part 35 is loosened from this state, the direct contact between the sample holder 30 and the cooling stage 9a is cut off, and the heat conduction is lowered as compared with the case of direct contact. By adjusting the tightening strength, it is possible to reduce the amount of heat flowing into the cooling stage 9a and realize a state slightly higher than the above temperature. Further, when the right screw portion 35 is completely separated from the cooling stage 9a, the heat of the heater 32 does not flow into the cooling stage 9a, and the temperature can be raised from this temperature to room temperature or higher.

このように実施例5の冷却機付クライオスタットは寒剤を低熱源とするから、装置の構成が簡単で製造コストが安価になり、様々の極低温から室温若しくはそれ以上の温度範囲で試料を測定することができる。また、実施例5の試料装着装置5はデュワー71への装着、脱着が、測定用真空容器15aの真空を破らずに、また冷却ステージ9aの温度を低温に保ったまま行えるので、試料31の交換や点検、試料装着装置5の部品交換が容易に行える。   Thus, since the cryostat with a cooler of Example 5 uses a cryogen as a low heat source, the configuration of the apparatus is simple and the manufacturing cost is low, and the sample is measured in a temperature range from various cryogenic temperatures to room temperature or higher. be able to. In addition, since the sample mounting device 5 of Example 5 can be mounted on and removed from the dewar 71 without breaking the vacuum of the measurement vacuum vessel 15a and the temperature of the cooling stage 9a is kept low, Replacement and inspection and parts replacement of the sample mounting device 5 can be easily performed.

本発明は、20mK前後の極低温あるいはそれ以上の様々の極低温から室温付近の広範囲の測定環境を提供して所望の温度での試料の物性を測定することが可能なクライオスタットに適用できる。 The present invention can be applied to a cryostat capable of measuring a physical property of a sample at a desired temperature by providing a wide range of measurement environment around room temperature from various cryogenic temperatures of about 20 mK or higher.

本発明の実施例1におけるクライオスタットの説明図Explanatory drawing of the cryostat in Example 1 of the present invention 本発明の実施例1におけるクライオスタットの試料装着装置の説明図Explanatory drawing of the sample mounting apparatus of the cryostat in Example 1 of this invention 図2の試料装着装置の主要部分破砕図Figure 2 shows a fragmentary view of the main part of the sample mounting device (a)〜(e)本発明の実施例1におけるクライオスタットの試料装着装置を低温ステージに固定するときの説明図(A)-(e) Explanatory drawing when fixing the sample mounting apparatus of the cryostat in Example 1 of this invention to a low temperature stage (a)〜(e)本発明の実施例1におけるクライオスタットの試料装着装置を低温ステージから分離するときの説明図(A)-(e) Explanatory drawing when isolate | separating the sample mounting apparatus of the cryostat in Example 1 of this invention from a low-temperature stage. 本発明の実施例2におけるクライオスタットの説明図Explanatory drawing of the cryostat in Example 2 of the present invention 本発明の実施例3におけるクライオスタットの説明図Explanatory drawing of the cryostat in Example 3 of the present invention 本発明の実施例4におけるクライオスタットの説明図Explanatory drawing of the cryostat in Example 4 of the present invention 本発明の実施例5におけるクライオスタットの説明図Explanatory drawing of the cryostat in Example 5 of the present invention 従来のクライオスタットの構成図Configuration diagram of conventional cryostat

符号の説明Explanation of symbols

1 真空容器
2 熱輻射シールド
2a 第2の熱輻射シールド
3 GM冷凍機
Heタンク
5 試料装着装置
5a 上側支持筒部
5b 下側支持筒部
6,6a,6b 無冷媒超電導マグネット
6c 超電導マグネット
7a 真空ポンプ
7b コンプレッサー
8 液ポット
9 低温ステージ
9a 冷却ステージ
10 フランジ
11 第1ステージ
12 第2ステージ
13 40Kプレート
14 4Kプレート
14a フレキシブル熱伝導体
15 排気パイプ
15a 測定用真空容器
16a,16b 流路
17a,17b,17c,17e,17f バルブ
18a,18b,19a,19b 熱交換器
20 吸着フィルタ
21 JT熱交換器
22 JT弁
23 試料装着ガイド
30 試料ホルダ
31 試料
32 ヒータ
33 温度センサ
34 パイプ
35 右ネジ部
36 左ネジ部
37 リード線
38 スライディングシール機構
39 ゲートバルブ
39a 弁体
40 コネクタ
41 着脱クランプ
42 Oリング
43 リーク弁
44 真空ポンプ
45 連結部
46 第2螺合部
47 ガイドパイプ
47a ガイドストッパ
48 第1螺合部
51 混合器
52 スティル
53 熱交換器
54 プレート
55 チューブインチューブ型熱交換器
56 ステップ熱交換器
60 磁気作業物質
61 ガスギャップ熱スイッチ
62 フィン
63 活性炭
64 ヒータ
65 磁場センサ
71 デュワー
72 スーパーインシュレーション、
73 デュワー内部容器
74 寒剤
DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Vacuum container 2 Thermal radiation shield 2a 2nd thermal radiation shield 3 GM refrigerator 4 3 He tank 5 Sample mounting apparatus 5a Upper support cylinder part 5b Lower support cylinder part 6, 6a, 6b Refrigerant-free superconducting magnet 6c Superconducting magnet 7a Vacuum pump 7b Compressor 8 Liquid pot 9 Low temperature stage 9a Cooling stage 10 Flange 11 First stage 12 Second stage 13 40K plate 14 4K plate 14a Flexible heat conductor 15 Exhaust pipe 15a Vacuum container for measurement 16a, 16b Channels 17a, 17b , 17c, 17e, 17f Valves 18a, 18b, 19a, 19b Heat exchanger 20 Adsorption filter 21 JT heat exchanger 22 JT valve 23 Sample mounting guide 30 Sample holder 31 Sample 32 Heater 33 Temperature sensor 34 Pipe 35 Right thread 36 Left screw part 37 Lead wire 38 Sliding seal mechanism 39 Gate valve 39a Valve body 40 Connector 41 Detachable clamp 42 O-ring 43 Leak valve 44 Vacuum pump 45 Connection part 46 Second screw part 47 Guide pipe 47a Guide stopper 48 First screw thread Part 51 Mixer 52 Still 53 Heat exchanger 54 Plate 55 Tube-in-tube heat exchanger 56 Step heat exchanger 60 Magnetic working material 61 Gas gap heat switch 62 Fin 63 Activated carbon 64 Heater 65 Magnetic field sensor 71 Dewar 72 Super insulation
73 Dewar inner container 74 Cryogen

Claims (6)

内部を真空雰囲気に保持することができる真空容器と、前記真空容器に設けられた低熱源と、前記真空容器内に装着され真空雰囲気中で試料を前記低熱源と熱交換させて低温としその物性を測定することができる試料装着装置を備え、前記低熱源と熱的に接続された伝熱部材に対して前記試料装着装置が真空雰囲気中で外部から着脱自在に装着され、前記試料装着装置に設けられたヒータによって前記試料の温度を局部的に上昇させるクライオスタットであって、
前記試料装着装置が、前記試料を係止して前記伝熱部材に着脱自在に装着されこれらの間を熱的に接続する試料ホルダと、該試料ホルダに分離可能に装着される操作部とを備え、
前記試料ホルダには、前記伝熱部材に着脱するための第1の着脱部と、前記操作部に着脱するための第2の着脱部とが設けられ、
前記伝熱部材と前記試料ホルダとの間の熱的接続には、前記伝熱部材と前記第1の着脱部間だけで熱伝導が行われる第1の伝熱レベルと、前記伝熱部材と前記第1の着脱部及び前記試料ホルダを通して熱伝導が行われる第2の伝熱レベルと、前記伝熱部材と前記試料ホルダが分離され熱伝導が行われない第3の伝熱レベルが設けられて、この3つの伝熱レベルで前記伝熱部材と前記試料ホルダが熱的接続されることを特徴とするクライオスタット。
A vacuum container capable of maintaining the inside in a vacuum atmosphere, a low heat source provided in the vacuum container, and a physical property of the sample that is mounted in the vacuum container to exchange heat with the low heat source in a vacuum atmosphere to a low temperature A sample mounting device capable of measuring the sample mounting device, wherein the sample mounting device is detachably mounted from outside in a vacuum atmosphere to a heat transfer member thermally connected to the low heat source. A cryostat that locally raises the temperature of the sample by a provided heater,
The sample mounting device includes a sample holder that detachably mounts on the heat transfer member by locking the sample and thermally connects the sample holder, and an operation unit that is detachably mounted on the sample holder. Prepared,
The sample holder is provided with a first attachment / detachment portion for attaching / detaching to the heat transfer member and a second attachment / detachment portion for attaching / detaching to the operation portion,
The thermal connection between the heat transfer member and the sample holder includes a first heat transfer level at which heat conduction is performed only between the heat transfer member and the first attachment / detachment portion, and the heat transfer member. A second heat transfer level at which heat conduction is performed through the first attaching / detaching portion and the sample holder, and a third heat transfer level at which the heat transfer member and the sample holder are separated and heat conduction is not performed are provided. A cryostat, wherein the heat transfer member and the sample holder are thermally connected at these three heat transfer levels.
前記第1の着脱部が前記試料ホルダより高熱抵抗の部材によって構成されたことを特徴とする請求項1記載のクライオスタット。 The cryostat according to claim 1, wherein the first attaching / detaching portion is configured by a member having a higher thermal resistance than the sample holder. 前記第1の着脱部が第1の右ネジ部を備えて前記伝熱部材にはこれと螺合する第1の被螺合右ネジ部が設けられると共に、前記第2の着脱部が第2の左ネジ部を備えて前記操作部にはこれと螺合する第2の被螺合左ネジ部が設けられたことを特徴とする請求項1又は2に記載されたクライオスタット。 The first attaching / detaching portion includes a first right-hand thread portion, and the heat transfer member is provided with a first screwed right-hand thread portion to be screwed with the first attaching / detaching portion, and the second attaching / detaching portion is second. The cryostat according to claim 1, wherein a second threaded left-hand threaded portion that is screwed with the operation portion is provided on the operation portion. 前記第1の着脱部が第1の左ネジ部を備えて前記伝熱部材にはこれと螺合する第1の被螺合左ネジ部が設けられると共に、前記第2の着脱部が第2の右ネジ部を備えて前記操作部にはこれと螺合する第2の被螺合右ネジ部が設けられたことを特徴とする請求項1又は2に記載されたクライオスタット。 The first attaching / detaching portion includes a first left-hand thread portion, and the heat transfer member is provided with a first screwed left-hand thread portion to be screwed thereto, and the second attaching / detaching portion is second. The cryostat according to claim 1, wherein a second screwed right screw portion that is screwed with the operation portion is provided on the operation portion. 前記ヒータが、前記試料周辺の局部的な温度を前記伝熱部材によって冷却された温度から上昇させることを特徴とする請求項1〜3のいずれかに記載のクライオスタット。 The cryostat according to any one of claims 1 to 3, wherein the heater raises a local temperature around the sample from a temperature cooled by the heat transfer member. 前記伝熱部材と前記試料ホルダが前記第または前記第3の伝熱レベルで熱的接続されるときには、前記第の伝熱レベルにより前記第1の着脱部を介して徐々に熱的接続されてから前記第または前記第3の伝熱レベルで熱的接続されることを特徴とする請求項1記載のクライオスタット。 When the sample holder and the heat transfer member is thermally connected with the second or the third heat transfer level is gradually thermally connected via the first removable portion by said first heat transfer level The cryostat according to claim 1, wherein the cryostat is thermally connected at the second or third heat transfer level.
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