JPH11337629A - 電流零点予想計算処理方法および合成試験用電流零点検出システム - Google Patents
電流零点予想計算処理方法および合成試験用電流零点検出システムInfo
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- JPH11337629A JPH11337629A JP14363898A JP14363898A JPH11337629A JP H11337629 A JPH11337629 A JP H11337629A JP 14363898 A JP14363898 A JP 14363898A JP 14363898 A JP14363898 A JP 14363898A JP H11337629 A JPH11337629 A JP H11337629A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 電流零点の予想を電流に直流分が入っていて
も誤差なく行う。 【解決手段】 従来は電流零点を電流の２点のデータを
用いて直線近似により予想しているが、電流に直流分が
入っている場合零点付近の電流変化が直線状とならない
ので、誤差が大きくなる。この発明では電流の零点を電
流の３点のデータＩa，Ｉa-1，Ｉa-2を用いて３点近似
数１により予想するので、零点付近の電流変化が曲線状
でも予想可能となる。 【数１】 の連立方程式から係数Ａ，Ｂ，Ｃを求め、Ａｔ2＋Ｂｔ
＋Ｃ＝Ｉの式により電流零点までの時間ｔを求める。
も誤差なく行う。 【解決手段】 従来は電流零点を電流の２点のデータを
用いて直線近似により予想しているが、電流に直流分が
入っている場合零点付近の電流変化が直線状とならない
ので、誤差が大きくなる。この発明では電流の零点を電
流の３点のデータＩa，Ｉa-1，Ｉa-2を用いて３点近似
数１により予想するので、零点付近の電流変化が曲線状
でも予想可能となる。 【数１】 の連立方程式から係数Ａ，Ｂ，Ｃを求め、Ａｔ2＋Ｂｔ
＋Ｃ＝Ｉの式により電流零点までの時間ｔを求める。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】この発明は、電流予想計算処
理方法および遮断器の合成試験用電流零点検出システム
に関するものである。
理方法および遮断器の合成試験用電流零点検出システム
に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】遮断器の合成試験（ワイル試験）回路は
図１に示すように、供試遮断器ＣＢTに対して、電流源
Ａｇから短絡電流Ｉを供給する回路と、高圧電圧源ＤＣ
Ｓにより充電されたコンデンサＣｓから放電ギャップＧ
SおよびリアクトルＬｓを介して重畳用電流Ｉｓを供給
する回路で構成されている。
図１に示すように、供試遮断器ＣＢTに対して、電流源
Ａｇから短絡電流Ｉを供給する回路と、高圧電圧源ＤＣ
Ｓにより充電されたコンデンサＣｓから放電ギャップＧ
SおよびリアクトルＬｓを介して重畳用電流Ｉｓを供給
する回路で構成されている。
【０００３】一般に５０Ｈｚの電流ＩにＣｓ，Ｌｓの共
振で生ずる６００Ｈｚや５００Ｈｚの電流Ｉｓ（＝Ｉ×
０．１）重畳し、電流零点のｄｔ／ｄｔを５０Ｈｚに合
わせて試験をしている。この時、重畳する電流Ｉｓはコ
ンデンサＣｓに充電された電荷をギャップＧｓを飛ばし
て５０Ｈｚの電流Ｉに重畳する。このギャップを飛ばす
タイミングは合成試験電流零点検出システム１で行って
いる。
振で生ずる６００Ｈｚや５００Ｈｚの電流Ｉｓ（＝Ｉ×
０．１）重畳し、電流零点のｄｔ／ｄｔを５０Ｈｚに合
わせて試験をしている。この時、重畳する電流Ｉｓはコ
ンデンサＣｓに充電された電荷をギャップＧｓを飛ばし
て５０Ｈｚの電流Ｉに重畳する。このギャップを飛ばす
タイミングは合成試験電流零点検出システム１で行って
いる。
【０００４】この電流零点検出システム１は図２に示す
ように入力インタフェイス部２，演算処理部３，パーソ
ナルコンピュータ４等で構成されており、供試遮断器Ｃ
ＢTに流れる電流をＣＴで検出し、演算処理部３で図８
に示すようにＡ−Ｄ変換した電流データを取り込んで電
流零点予想計算処理を行うが、この計算処理では５０Ｈ
ｚの電流Ｉの零点を、データを取り込んだ時点で毎回予
想している。
ように入力インタフェイス部２，演算処理部３，パーソ
ナルコンピュータ４等で構成されており、供試遮断器Ｃ
ＢTに流れる電流をＣＴで検出し、演算処理部３で図８
に示すようにＡ−Ｄ変換した電流データを取り込んで電
流零点予想計算処理を行うが、この計算処理では５０Ｈ
ｚの電流Ｉの零点を、データを取り込んだ時点で毎回予
想している。
【０００５】従来、電流零点検出システム１は、上記電
流零点予想計算処理を直線近似法で行っている。この方
法は図９に示すように現在の電流値Ｉａと１つ前の電流
値Ｉa-1（サンプリング間隔１００μｓ）を直線で結ぶ
直線近似式数３で電流Ｉの零点となる時刻を予想してい
る。
流零点予想計算処理を直線近似法で行っている。この方
法は図９に示すように現在の電流値Ｉａと１つ前の電流
値Ｉa-1（サンプリング間隔１００μｓ）を直線で結ぶ
直線近似式数３で電流Ｉの零点となる時刻を予想してい
る。
【０００６】
【数３】
【０００７】そしてこのシステムをスタートさせる前に
設定した初期値（重畳時間）で電流零点予想時刻と初期
値が一致した時点でギャップＧｓを飛ばしている。
設定した初期値（重畳時間）で電流零点予想時刻と初期
値が一致した時点でギャップＧｓを飛ばしている。
【０００８】（平成９年電気学会全国大会−１６３３，
特許第１２５２５３８号）
特許第１２５２５３８号）
【０００９】
【発明が解決しようとする課題】上記従来の合成試験用
電流零点検出システムは、電流零点予想を直流近似で行
っている。ところで、直流分がない交流電流の零点付近
の電流変化はほぼ直線と考えることができるが、直流分
が入った交流電流では電流零点付近は直線に乗らない。
極端な例であるが、図１０に示すように、かなり直流分
が入った電流では、Ｓｉｎカーブの最大値付近では、実
際の電流の零点と直線近似による予想電流零点ではかな
りの誤差が生ずる。
電流零点検出システムは、電流零点予想を直流近似で行
っている。ところで、直流分がない交流電流の零点付近
の電流変化はほぼ直線と考えることができるが、直流分
が入った交流電流では電流零点付近は直線に乗らない。
極端な例であるが、図１０に示すように、かなり直流分
が入った電流では、Ｓｉｎカーブの最大値付近では、実
際の電流の零点と直線近似による予想電流零点ではかな
りの誤差が生ずる。
【００１０】この発明は、このような課題に鑑みてなさ
れたものであり、その目的とするところは、供試遮断器
に流れる短絡電流にかなりの直流分が入っていても誤差
なく電流の零点を予想して、重畳電流を流したり、電流
零点の遮断状況などを正確に観測または測定することが
できる電流零点予想計算処理方法および合成試験用電流
検出システムを提供することにある。
れたものであり、その目的とするところは、供試遮断器
に流れる短絡電流にかなりの直流分が入っていても誤差
なく電流の零点を予想して、重畳電流を流したり、電流
零点の遮断状況などを正確に観測または測定することが
できる電流零点予想計算処理方法および合成試験用電流
検出システムを提供することにある。
【００１１】
【課題を解決するための手段】この発明の電流零点予想
計算処理方法は、電流を所定のサンプリング周期でＡ−
Ｄ変換した電流が零点に近づく電流データの最新のデー
タを含む時刻ｔa，ｔa-1，ｔa-2の３点の電流データ
Ｉa，Ｉa-1，Ｉa-2を取り込んで数４の連立方程式から
その係数Ａ，Ｂ，Ｃを求めるステップと、
計算処理方法は、電流を所定のサンプリング周期でＡ−
Ｄ変換した電流が零点に近づく電流データの最新のデー
タを含む時刻ｔa，ｔa-1，ｔa-2の３点の電流データ
Ｉa，Ｉa-1，Ｉa-2を取り込んで数４の連立方程式から
その係数Ａ，Ｂ，Ｃを求めるステップと、
【００１２】
【数４】
【００１３】
【数５】
【００１４】前記係数Ａ，Ｂ，Ｃを用いた数５の２次式
から電流零点の時刻ｔを求めるステップとにより電流の
零点を予想するものである。
から電流零点の時刻ｔを求めるステップとにより電流の
零点を予想するものである。
【００１５】また、この発明の合成試験用電流零点検出
システムは、合成試験回路の供試遮断器に流れる短絡電
流の零点付近に重畳する電流の通電開始時刻を設定する
初期設定部と、電流検出器で検出した前記短絡電流を所
定のサンプリング周期で電流データに変換するＡ−Ｄ変
換部と、この電流データの最新のデータを含む短絡電流
の３点の電流データを取り込んで３点近似法により電流
零点を予想する電流零点予想計算手段と、この予想した
電流零点までの時間と前記初期設定時刻との差が所定の
時間以下になった時、この時刻差が零となるまでダウン
カウンタをダウンカウントして重畳電流通電指令を出力
するダウンカウント手段とからなるものである。
システムは、合成試験回路の供試遮断器に流れる短絡電
流の零点付近に重畳する電流の通電開始時刻を設定する
初期設定部と、電流検出器で検出した前記短絡電流を所
定のサンプリング周期で電流データに変換するＡ−Ｄ変
換部と、この電流データの最新のデータを含む短絡電流
の３点の電流データを取り込んで３点近似法により電流
零点を予想する電流零点予想計算手段と、この予想した
電流零点までの時間と前記初期設定時刻との差が所定の
時間以下になった時、この時刻差が零となるまでダウン
カウンタをダウンカウントして重畳電流通電指令を出力
するダウンカウント手段とからなるものである。
【００１６】また、供試遮断器の電流零点付近の遮断状
態を高速ビデオカメラなどで録画する場合、上記電流零
点検出システムを利用し、その初期設定を録画開始時刻
に設定することで、電流零点付近の遮断状態を効率よく
高速録画するための録画命令を得ることができる。
態を高速ビデオカメラなどで録画する場合、上記電流零
点検出システムを利用し、その初期設定を録画開始時刻
に設定することで、電流零点付近の遮断状態を効率よく
高速録画するための録画命令を得ることができる。
【００１７】また、供試遮断器の電流零点付近の電流を
シンクロスコープなどで測定する場合、上記電流零点検
出システムを利用し、その初期設定をシンクロスコープ
などのトリガ指令時刻として設定することで、電流零点
付近の現象を正確に測定することができるトリガ指令を
得ることができる。
シンクロスコープなどで測定する場合、上記電流零点検
出システムを利用し、その初期設定をシンクロスコープ
などのトリガ指令時刻として設定することで、電流零点
付近の現象を正確に測定することができるトリガ指令を
得ることができる。
【００１８】
【発明の実施の形態】実施の形態１ 図１にワイル試験回路（従来の技術参照）を、図２にそ
の電流零点検出システムのブロック構成を、図３にその
電流零点検出システムフローを、図４に電流零点予想計
算方法を示す。
の電流零点検出システムのブロック構成を、図３にその
電流零点検出システムフローを、図４に電流零点予想計
算方法を示す。
【００１９】図２について、電流零点検出システム１は
ＣＴで検出した供試遮断器ＣＢＴに流れる電流（信号）
Ｉが入力する入力インタフェース部２と電流ＩをＡ／Ｄ
変換し、そのデータに基づいて電流零点検出演算を行う
演算処理部３および演算処理の起動・停止・設定などを
行うパーソナルコンピュータ４で構成されている。
ＣＴで検出した供試遮断器ＣＢＴに流れる電流（信号）
Ｉが入力する入力インタフェース部２と電流ＩをＡ／Ｄ
変換し、そのデータに基づいて電流零点検出演算を行う
演算処理部３および演算処理の起動・停止・設定などを
行うパーソナルコンピュータ４で構成されている。
【００２０】図３について、パーソナルコンピュータに
より初期設定として電流Ｉが流れ初めて何波目の電流零
点の何μｓ前（ｔs）に電流Ｉｓを重畳するかの重畳率
（重畳時間）を設定し、演算起動指令により計算処理を
スタートさせる。演算処理部はＡ／Ｄ変換されたデータ
を取り込み、電流零点予想計算を行う。
より初期設定として電流Ｉが流れ初めて何波目の電流零
点の何μｓ前（ｔs）に電流Ｉｓを重畳するかの重畳率
（重畳時間）を設定し、演算起動指令により計算処理を
スタートさせる。演算処理部はＡ／Ｄ変換されたデータ
を取り込み、電流零点予想計算を行う。
【００２１】この電流零点予想計算は図４に示すよう
に、電流Ｉの３点のデータＩa，Ｉa-1，Ｉa-2を用いて
次のように行う（３点近似法）。
に、電流Ｉの３点のデータＩa，Ｉa-1，Ｉa-2を用いて
次のように行う（３点近似法）。
【００２２】
【数６】
【００２３】
【数７】
【００２４】数６の連立方程式からその係数Ａ，Ｂ，Ｃ
を求め数７式を解いて電流零点（Ｉ＝０）となるまでの
時間ｔiを求める。この計算はこの時間ｔiと初期設定で
設定した時間ｔsとの差（ｔi−ｔs）＜１００μｓとな
るまで電流データを取り込んだ時点で毎回零点を予想
し、（ｔi−ｉs）＜１００μｓとなった時点からダウン
カウンタを（ｔi−ｔs）から１μｓごとにダウンカウン
トし０までダウンカウントした予想電流零点より初期設
定時間ｔs前の時点にギャップＧｓ（図１）を放電さ
せ、電流Ｉに電流Ｉｓを重畳させる。
を求め数７式を解いて電流零点（Ｉ＝０）となるまでの
時間ｔiを求める。この計算はこの時間ｔiと初期設定で
設定した時間ｔsとの差（ｔi−ｔs）＜１００μｓとな
るまで電流データを取り込んだ時点で毎回零点を予想
し、（ｔi−ｉs）＜１００μｓとなった時点からダウン
カウンタを（ｔi−ｔs）から１μｓごとにダウンカウン
トし０までダウンカウントした予想電流零点より初期設
定時間ｔs前の時点にギャップＧｓ（図１）を放電さ
せ、電流Ｉに電流Ｉｓを重畳させる。
【００２５】この発明は上記のように３点近似法で電流
零点を予想しているので、電流Ｉに直流分がかなり入っ
ていても従来直線近似法による予想（図１０）より誤差
はかなり少なくなる（図４）。
零点を予想しているので、電流Ｉに直流分がかなり入っ
ていても従来直線近似法による予想（図１０）より誤差
はかなり少なくなる（図４）。
【００２６】表１に電流ＩにＤＣ分（直流分）４０％と
６０％を含んでいる時の電流零点５００μｓ前からの誤
差時間を示す。
６０％を含んでいる時の電流零点５００μｓ前からの誤
差時間を示す。
【００２７】
【表１】
【００２８】表１では、実際の電流零点時間ｔ0に対し
て、電流零点前の各時間で予想した電流零点時間ｔｉと
の差ｔｙ＝ｔi′−ｔ0を示している。＋は実際の電流零
点時間より遅く予想したもの、−は実際の電流より早く
予想したものを示す。
て、電流零点前の各時間で予想した電流零点時間ｔｉと
の差ｔｙ＝ｔi′−ｔ0を示している。＋は実際の電流零
点時間より遅く予想したもの、−は実際の電流より早く
予想したものを示す。
【００２９】ＤＣ分４０％の場合、直線近似ではかなり
予想にバラツキがあるが、３点近似では零点予想に近づ
く傾向を示している。ＤＣ分６０％の場合も同様の傾向
を示している。
予想にバラツキがあるが、３点近似では零点予想に近づ
く傾向を示している。ＤＣ分６０％の場合も同様の傾向
を示している。
【００３０】また、ＤＣ分６０％の４００μｓ前では、
直線近似で電流零点を誤差なく計算している。しかしこ
れは図１１のような関係から求められたもので、それ以
外では誤差を生じやすい傾向となる。
直線近似で電流零点を誤差なく計算している。しかしこ
れは図１１のような関係から求められたもので、それ以
外では誤差を生じやすい傾向となる。
【００３１】以上から直線分の入ったＤｕｔｙ５号相当
の試験時において、従来直線近似式を用いた電流零点予
想より３点近似（曲線近似）式を用いた方が電流零点予
想の誤差時間が少なくなる。
の試験時において、従来直線近似式を用いた電流零点予
想より３点近似（曲線近似）式を用いた方が電流零点予
想の誤差時間が少なくなる。
【００３２】ワイル試験回路（図１）は電流Ｉの零点を
予想し零点の直前の適当な時点ｔｓにおいてギャップＧ
ｓを放電させて電流ＩにＩｓを重畳するが、電流零点予
想を３点近似法により予想しギャップＧｓ放電のタイミ
ングを決めているので、電流Ｉにかなりの直流分が入っ
ていても精度よく電流Ｉｓを重畳することが可能であ
る。
予想し零点の直前の適当な時点ｔｓにおいてギャップＧ
ｓを放電させて電流ＩにＩｓを重畳するが、電流零点予
想を３点近似法により予想しギャップＧｓ放電のタイミ
ングを決めているので、電流Ｉにかなりの直流分が入っ
ていても精度よく電流Ｉｓを重畳することが可能であ
る。
【００３３】実施の形態２ 図５に遮断器合成試験装置のアーク延長回路を示す。こ
のアーク延長回路の電流零点検出システム１は上記実施
の形態１のもの（図２，図３）と同じく構成してある。
のアーク延長回路の電流零点検出システム１は上記実施
の形態１のもの（図２，図３）と同じく構成してある。
【００３４】アーク延長回路（図５）は電流Ｉの零点を
予想し、零点の直前の適当な時点においてギャップＧｓ
を放電させてコンデンサＣｓを共振させることなく放電
させていき電流零点付近の電流Ｉの傾きを急峻にして短
時間に電流零点を通過させる。これにより供試遮断器Ｃ
ＢTは電流零点で遮断できず次の電流半波で遮断する
が、電流零点検出システム１（図２，図３）は電流Ｉの
零点を３点近似法を用いて予想した上でギャップ放電の
タイミングを決めているので、電流Ｉにかなりの直流分
が入っていても精度よくアーク延長することが可能であ
る。
予想し、零点の直前の適当な時点においてギャップＧｓ
を放電させてコンデンサＣｓを共振させることなく放電
させていき電流零点付近の電流Ｉの傾きを急峻にして短
時間に電流零点を通過させる。これにより供試遮断器Ｃ
ＢTは電流零点で遮断できず次の電流半波で遮断する
が、電流零点検出システム１（図２，図３）は電流Ｉの
零点を３点近似法を用いて予想した上でギャップ放電の
タイミングを決めているので、電流Ｉにかなりの直流分
が入っていても精度よくアーク延長することが可能であ
る。
【００３５】実施の形態３ 図６に遮断器合成試験装置における供試遮断器ＣＢTの
電流Ｉの零点付近の遮断状態を高速ビデオカメラで録画
する観測用システムを示す。図中、６は電流零点検出シ
ステムにより制御される高速度ビデオカメラで、電流零
点検出システム１は上記実施の形態１のもの（図２，図
３）と同様に構成されている。ただし、初期設定ｔsは
録画指令時刻設定となり、出力は高速度ビデオカメラへ
の録画指令となる。
電流Ｉの零点付近の遮断状態を高速ビデオカメラで録画
する観測用システムを示す。図中、６は電流零点検出シ
ステムにより制御される高速度ビデオカメラで、電流零
点検出システム１は上記実施の形態１のもの（図２，図
３）と同様に構成されている。ただし、初期設定ｔsは
録画指令時刻設定となり、出力は高速度ビデオカメラへ
の録画指令となる。
【００３６】電流零点検出システム１は電流Ｉの零点を
３点近似法で予想し、零点の直前の適当な時点ｔｓに録
画命令を出力し、高速ビデオカメラ６を始動させて電流
Ｉの零点付近の遮断を高速録画する。
３点近似法で予想し、零点の直前の適当な時点ｔｓに録
画命令を出力し、高速ビデオカメラ６を始動させて電流
Ｉの零点付近の遮断を高速録画する。
【００３７】高速ビデオカメラなどは、分解能を高くす
るほど（例１／１０００秒）メモリの関係から長い時間
録画できないが、電流Ｉの零点を３点近似法を用いて予
想し録画命令のタイミングを決めているので、電流Ｉに
かなりの直流分が入っていても電流Ｉの零点付近の遮断
状況を効率よく録画することができる。
るほど（例１／１０００秒）メモリの関係から長い時間
録画できないが、電流Ｉの零点を３点近似法を用いて予
想し録画命令のタイミングを決めているので、電流Ｉに
かなりの直流分が入っていても電流Ｉの零点付近の遮断
状況を効率よく録画することができる。
【００３８】実施の形態４ 図７に遮断器合成試験装置における供試遮断器ＣＢＴの
電流Ｉの零点付近の電流波形を測定する測定用システム
を示す。図中、ＳＨは供試遮断器ＣＢＴと直列に設けた
分流器、７は電流零点検出システム１により制御され分
流器ＳＨに流れる電流Ｉを測定するシンクロスコープ
で、電流零点検出システム１は上記実施の形態１のもの
（図２，図３）と同様に構成されている。ただし、電流
Ｉの検出は分流器ＳＨで検出し、初期設定ｔsは測定用
トリガが命令時刻となっており、まだ、出力はシンクロ
スコープへのトリガ命令となっている。
電流Ｉの零点付近の電流波形を測定する測定用システム
を示す。図中、ＳＨは供試遮断器ＣＢＴと直列に設けた
分流器、７は電流零点検出システム１により制御され分
流器ＳＨに流れる電流Ｉを測定するシンクロスコープ
で、電流零点検出システム１は上記実施の形態１のもの
（図２，図３）と同様に構成されている。ただし、電流
Ｉの検出は分流器ＳＨで検出し、初期設定ｔsは測定用
トリガが命令時刻となっており、まだ、出力はシンクロ
スコープへのトリガ命令となっている。
【００３９】電流Ｉの零点後、特に数十μｓ〜数μｓ間
の現象では残留電流の測定やＳＬＦ試験のＴＲＶなどが
ある。このような電流Ｉの零点近停の現象をかなり短い
間隔を多くのサンプル数で測定するが、電流Ｉの零点を
３点近似法を用いて予想し、シンクロスコープへのトリ
ガ命令のタイミングを決めているので、電流Ｉにかなり
の直流分が入っていても電流Ｉの零点近傍の現象を正確
に測定することができる。
の現象では残留電流の測定やＳＬＦ試験のＴＲＶなどが
ある。このような電流Ｉの零点近停の現象をかなり短い
間隔を多くのサンプル数で測定するが、電流Ｉの零点を
３点近似法を用いて予想し、シンクロスコープへのトリ
ガ命令のタイミングを決めているので、電流Ｉにかなり
の直流分が入っていても電流Ｉの零点近傍の現象を正確
に測定することができる。
【００４０】
【発明の効果】この発明の電流零点検出システムは供試
遮断器に流れる電流の零点を３点近似により予想してい
るので、下記の効果を奏する。
遮断器に流れる電流の零点を３点近似により予想してい
るので、下記の効果を奏する。
【００４１】（１）電流に直流分が入っていても直流分
の違いによる電流零点の予想にバラツキが生じない。そ
のため、ワイル試験時に行われている直流分を含めたＤ
ｕｔｙ５号相当を含めた試験において各回ごとにほぼ同
一の重畳率で試験ができる。
の違いによる電流零点の予想にバラツキが生じない。そ
のため、ワイル試験時に行われている直流分を含めたＤ
ｕｔｙ５号相当を含めた試験において各回ごとにほぼ同
一の重畳率で試験ができる。
【００４２】（２）アーク延長法試験時のワイル試験と
同様にＤｕｔｙ５号相当の直流分が入った試験でも電流
零点の予想にバラツキが生じないので、正確にコンデン
サの充電電荷を電流の零点近傍で放電することができ
る。
同様にＤｕｔｙ５号相当の直流分が入った試験でも電流
零点の予想にバラツキが生じないので、正確にコンデン
サの充電電荷を電流の零点近傍で放電することができ
る。
【００４３】（３）供試遮断器の遮断現象を高速ビデオ
カメラなどで観測する場合、この電流零点検出システム
を用いて録画命令を出せば、正確な撮影ができる。
カメラなどで観測する場合、この電流零点検出システム
を用いて録画命令を出せば、正確な撮影ができる。
【００４４】（４）供試遮断器の残留電流やＳＬＦ回路
のＴＲＶ等をシンクロスコープで高速測定する場合、こ
の電流零点検出システムを用いてシンクロスコープへト
リガ指令を出せば電流零点近傍の電流をより正確に測定
することができる。
のＴＲＶ等をシンクロスコープで高速測定する場合、こ
の電流零点検出システムを用いてシンクロスコープへト
リガ指令を出せば電流零点近傍の電流をより正確に測定
することができる。
【図１】実施の形態１にかかるワイル試験回路図。
【図２】電流零点検出システムのブロック構成図。
【図３】電流零点検出システムフロー図。
【図４】３点近似による電流零点予想方法の説明図。
【図５】実施の形態２にかかるアーク延長回路図。
【図６】実施の形態３にかかる観測用システム構成説明
図。
図。
【図７】実施の形態４にかかる測定用システム構成説明
図。
図。
【図８】従来例にかかる電流零点検出システムフロー
図。
図。
【図９】直線近似による電流零点予想法説明図。
【図１０】電流に直流分が入っている場合の直線近似に
よる電流零点予想誤差説明図。
よる電流零点予想誤差説明図。
【図１１】電流に直流分が入っても直線近似による電流
零点予想誤差を生じない場合の説明図。
零点予想誤差を生じない場合の説明図。
１…電流零点を３点近似で予想する電流零点検出システ
ム １′…電流零点を直線近似で予想する電流零点検出シス
テム ２…入力インタフェース部 ３…演算処理部 ４…パーソナルコンピュータ ６…高速度ビデオカメラ ７…シンクロスコープ Ａｇ…電流源，短絡発電機 ＣＢT…供試遮断器 ＤＣＳ…高圧直流電圧源 Ｇｓ…放電用ギャップ ＳＨ…分流器
ム １′…電流零点を直線近似で予想する電流零点検出シス
テム ２…入力インタフェース部 ３…演算処理部 ４…パーソナルコンピュータ ６…高速度ビデオカメラ ７…シンクロスコープ Ａｇ…電流源，短絡発電機 ＣＢT…供試遮断器 ＤＣＳ…高圧直流電圧源 Ｇｓ…放電用ギャップ ＳＨ…分流器
Claims (6)
- 【請求項１】 電流を所定のサンプリング周期でＡ−Ｄ
変換した電流零点に近づく電流データの最新のデータを
含む時刻ｔa，ｔa-1，ｔa-2の３点の電流データＩa，Ｉ
a-1，Ｉa-2を取り込んで、数１の連立方程式からその係
数Ａ，Ｂ，Ｃを求めるステップと、 【数１】 前記係数Ａ，Ｂ，Ｃを用いた数２の２次式から電流零点
の時刻ｔを求めるステップと、 【数２】 からなる３点近似法により電流零点となる時刻を予想す
ることを特徴とする電流零点予想計算方法。 - 【請求項２】 合成試験回路の供試遮断器に流れる短絡
電流の零点付近に重畳する電流の通電開始時刻を設定す
る初期設定部と、 電流検出器で検出した前記短絡電流を所定のサンプリン
グ周期で電流データに変換するＡ−Ｄ変換部と、 この電流データの最新のデータを含む短絡電流の３点の
電流データを取り込んで３点近似法により電流零点を予
想する電流零点予想計算手段と、 この予想した電流零点までの時間と前記初期設定時刻と
の差が所定の時間以下になった時、この時刻差が零とな
るまでダウンカウンタをダウンカウントして重畳電流通
電指令を出力するダウンカウント手段と、 を有してなる合成試験用電流零点検出システム。 - 【請求項３】 請求項２において、 合成試験回路がワイル試験回路であることを特徴とする
合成試験用電流零点検出システム。 - 【請求項４】 請求項３において、 合成試験回路がアーク延長回路であることを特徴とする
合成試験用電流零点検出システム。 - 【請求項５】 合成試験回路の供試遮断器に流れる電流
の零点付近に供試遮断器の電流零点付近の遮断状況を高
速録する装置の録画指令時刻を設定する初期設定部と、 電流検出器で検出した供試遮断器の電流を所定のサンプ
リング周期で電流データに変換するＡ−Ｄ変換部と、 この電流データの最新のデータを含む電流の３点の電流
データを取り込んで３点近似法により電流零点を予想す
る電流零点予想計算手段と、 この予想した電流零点までの時間と前記初期設定時刻の
差が所定の時間以下になった時、この時刻の差が零とな
るまでダウンカウンタをダウンカウントして前記遮断状
況を録画する装置の録画指令を出力するダウンカウント
手段と、 を有してなることを特徴とする合成試験用電流零点検出
システム。 - 【請求項６】 合成試験回路の供試遮断器に流れる電流
の零点付近に供試遮断器の電流零点付近の電流を測定す
る測定用トリガ指令時刻を設定する初期設定部と、 電流検出器で検出した供試遮断器の電流を所定のサンプ
リング周期で電流データに変換するＡ−Ｄ変換部と、 この電流データの最新のデータを含む電流の３点の電流
データを取り込んで３点近似法により電流零点を予想す
る電流零点予想計算手段と、 この予想した電流零点までの時間と前記初期設定時刻の
差が所定の時間以下になった時、この時刻の差が零とな
るまでダウンカウンタをダウンカウントして前記測定装
置に測定用トリガ指令を出力するダウンカウント手段
と、 を有してなることを特徴とする合成試験用電流零点検出
システム。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14363898A JPH11337629A (ja) | 1998-05-26 | 1998-05-26 | 電流零点予想計算処理方法および合成試験用電流零点検出システム |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14363898A JPH11337629A (ja) | 1998-05-26 | 1998-05-26 | 電流零点予想計算処理方法および合成試験用電流零点検出システム |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11337629A true JPH11337629A (ja) | 1999-12-10 |
Family
ID=15343433
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14363898A Pending JPH11337629A (ja) | 1998-05-26 | 1998-05-26 | 電流零点予想計算処理方法および合成試験用電流零点検出システム |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11337629A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1645885A1 (de) * | 2004-10-08 | 2006-04-12 | Abb Research Ltd. | Verfahren zur Bestimmung des Stromnulldurchgangs in einem Umrichter |
| JP2007036594A (ja) * | 2005-07-26 | 2007-02-08 | Fujitsu Ltd | 携帯通信端末の通信信号レベル調整装置 |
| CN103197128A (zh) * | 2013-03-19 | 2013-07-10 | 中国西电电气股份有限公司 | 一种计算合成试验电流过零点斜率的方法 |
| CN103543318A (zh) * | 2013-10-15 | 2014-01-29 | 华南理工大学 | 一种周期性负荷电缆导体温度峰值时刻的确定方法 |
-
1998
- 1998-05-26 JP JP14363898A patent/JPH11337629A/ja active Pending
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP1645885A1 (de) * | 2004-10-08 | 2006-04-12 | Abb Research Ltd. | Verfahren zur Bestimmung des Stromnulldurchgangs in einem Umrichter |
| WO2006037243A1 (de) * | 2004-10-08 | 2006-04-13 | Abb Research Ltd | Verfahren zur bestimmung des stromnulldurchgangs in einem umrichter |
| JP2007036594A (ja) * | 2005-07-26 | 2007-02-08 | Fujitsu Ltd | 携帯通信端末の通信信号レベル調整装置 |
| CN103197128A (zh) * | 2013-03-19 | 2013-07-10 | 中国西电电气股份有限公司 | 一种计算合成试验电流过零点斜率的方法 |
| CN103543318A (zh) * | 2013-10-15 | 2014-01-29 | 华南理工大学 | 一种周期性负荷电缆导体温度峰值时刻的确定方法 |
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