JPS6321511A - 試験用パルス発振装置 - Google Patents
試験用パルス発振装置Info
- Publication number
- JPS6321511A JPS6321511A JP16614586A JP16614586A JPS6321511A JP S6321511 A JPS6321511 A JP S6321511A JP 16614586 A JP16614586 A JP 16614586A JP 16614586 A JP16614586 A JP 16614586A JP S6321511 A JPS6321511 A JP S6321511A
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- time function
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Links
- 238000004804 winding Methods 0.000 claims description 40
- 230000010355 oscillation Effects 0.000 claims description 21
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 17
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 claims description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 14
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 8
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 2
- 230000010354 integration Effects 0.000 abstract 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000006866 deterioration Effects 0.000 description 2
- 230000003247 decreasing effect Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Length Measuring Devices With Unspecified Measuring Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は、帯状材料の巻取径計測試験で用いられる試
験用パルス発振装置に関するものである。
験用パルス発振装置に関するものである。
第2図は従来の試験用パルス発生装置の一例を示すブロ
ック図である。図において、1は試験用パルス発振装置
であシ、2は原発振パルス発生器、3a*3bはそれぞ
れ可変抵抗よ構成る入力回路、4a。
ック図である。図において、1は試験用パルス発振装置
であシ、2は原発振パルス発生器、3a*3bはそれぞ
れ可変抵抗よ構成る入力回路、4a。
4bは前記原発振パルス発生器2からの原発振パルスと
、前記入力回路3aあるいは3bよ多出力された信号が
入力され、それぞれその入力された信号の電圧に比例し
た周波数のパルス信号を出力する電圧・周波数変換器(
以下、V/F変換器という)で、前記試験用パルス発振
装置1はこれらの各回路1機器によって構成されている
。10は前記V/F変換器4a及び4bからのパルス信
号を積算して帯状材料の巻取径を計測する巻取径計測装
置である。
、前記入力回路3aあるいは3bよ多出力された信号が
入力され、それぞれその入力された信号の電圧に比例し
た周波数のパルス信号を出力する電圧・周波数変換器(
以下、V/F変換器という)で、前記試験用パルス発振
装置1はこれらの各回路1機器によって構成されている
。10は前記V/F変換器4a及び4bからのパルス信
号を積算して帯状材料の巻取径を計測する巻取径計測装
置である。
次に動作について説明する。まず、入力回路3aが手動
操作によって帯状材料の搬送速度に相当する一定電圧の
信号を出力するように調整され、出力された信号は原発
振パルス発生器2からの原発振パルスとともにVβ変換
器4aに入力される。Vβ変換器4aは前記入力回路3
aよ多入力された信号の電圧に基づいて帯状材料の搬送
速度に対応した周波数のパルス信号を巻取径計測装置1
0へ出力する。また、入力回路3bは巻取機あるいは払
出機(以下、巻取機等という)の回転数に比例した電圧
の信号が出力されるように逐次手動操作によって調整さ
れる。この入力回路3bからの信号も前述の場合と同様
に原発振パルスとともにvβ変換器4bへ入力され、V
β変換器4bは巻取機等の回転数に比例した周波数のパ
ルス信号を逐次巻取径計測装置10へ出力する。
操作によって帯状材料の搬送速度に相当する一定電圧の
信号を出力するように調整され、出力された信号は原発
振パルス発生器2からの原発振パルスとともにVβ変換
器4aに入力される。Vβ変換器4aは前記入力回路3
aよ多入力された信号の電圧に基づいて帯状材料の搬送
速度に対応した周波数のパルス信号を巻取径計測装置1
0へ出力する。また、入力回路3bは巻取機あるいは払
出機(以下、巻取機等という)の回転数に比例した電圧
の信号が出力されるように逐次手動操作によって調整さ
れる。この入力回路3bからの信号も前述の場合と同様
に原発振パルスとともにvβ変換器4bへ入力され、V
β変換器4bは巻取機等の回転数に比例した周波数のパ
ルス信号を逐次巻取径計測装置10へ出力する。
巻取径計測装置10ではこの両パルス信号をそれぞれ積
算して、巻取機等の回転数に比例した周波数のパルス信
号の積算値がある一定値に達した時点での、帯状材料の
搬送速度に対応した周波数のパルス信号の積算値を巻取
径として記録する。
算して、巻取機等の回転数に比例した周波数のパルス信
号の積算値がある一定値に達した時点での、帯状材料の
搬送速度に対応した周波数のパルス信号の積算値を巻取
径として記録する。
従来の試験用パルス発振装置は以上のように構成されて
いるので、巻取径計測装置へ出力するノくルス信号の周
波数は全て、入力回路の手動操作によって調整され、そ
の手動)(よる操作によって巻取径計測値が直接影響を
受けるため、実プロセスと同等の巻取計測値を常に得る
ことは困難であり、従ってこの巻取計測値を使用する他
の制御に対して不正確な入力を与えることになシ、巻取
径計測試験の不完全さによる製品品質の劣化を招くなど
の問題点があった。
いるので、巻取径計測装置へ出力するノくルス信号の周
波数は全て、入力回路の手動操作によって調整され、そ
の手動)(よる操作によって巻取径計測値が直接影響を
受けるため、実プロセスと同等の巻取計測値を常に得る
ことは困難であり、従ってこの巻取計測値を使用する他
の制御に対して不正確な入力を与えることになシ、巻取
径計測試験の不完全さによる製品品質の劣化を招くなど
の問題点があった。
この発明は上記のような問題点を解消するためになされ
たもので、帯状材料の巻取径計測試験において、実プロ
セスと同等の巻取径計測値が得られる試験用パルス発振
装置を得ることを目的とする。
たもので、帯状材料の巻取径計測試験において、実プロ
セスと同等の巻取径計測値が得られる試験用パルス発振
装置を得ることを目的とする。
この発明に係る試験用パルス発振装置は、所定の時間関
数の演算を行なう時間関数演算回路を設け、この時間関
数演算回路にタイミング回路よ少時間情報を与えて巻取
機等の回転数に比例した信号を出力させ、変換回路でこ
の信号の値に対応した周波数のパルス信号に変換するも
のである。
数の演算を行なう時間関数演算回路を設け、この時間関
数演算回路にタイミング回路よ少時間情報を与えて巻取
機等の回転数に比例した信号を出力させ、変換回路でこ
の信号の値に対応した周波数のパルス信号に変換するも
のである。
この発明における時間関数演算回路は、帯状材料の巻取
機等の回転数の時間変化を表現する関数を内蔵して、タ
イミング回路からの時間情報に基づいて前記時間関数の
演算を行ない、変換回路はこの時間関数演算回路の出力
する信号をその値に対応する周波数のパルス信号に変換
し、周波数の時間変化が実プロセスにおける巻取機等の
回転数の時間変化に良く対応したパルス信号を出力する
。
機等の回転数の時間変化を表現する関数を内蔵して、タ
イミング回路からの時間情報に基づいて前記時間関数の
演算を行ない、変換回路はこの時間関数演算回路の出力
する信号をその値に対応する周波数のパルス信号に変換
し、周波数の時間変化が実プロセスにおける巻取機等の
回転数の時間変化に良く対応したパルス信号を出力する
。
以下、この発明の一実施例を図について説明する。第1
図において、1はこの発明に係る試験用パルス発振装置
であり、2は原発振パルス発生器、3aは可変抵抗よ構
成る入力回路、4a4bは入力信号をその値に対応した
周波数のパルス信号に変換する変換回路で、本笑施例に
おいては従来の場合と同様/CV/F変換器が用いられ
ている。6は前記原発振パルス発生器2からの原発振パ
ルスを分周してクロックパルスを生成するクロックパル
ス発生器、7はそのクロックパルスを積算して時1.1
管理を行なうタイミング回路、8は所定の時間関数を内
蔵し、前記タイミング回路7の出力する時間情報に基づ
いて前記時間関数の演算を行ない、その演算結果に対応
した電圧の信号を出力する時間関数演算回路である。こ
こで、この時間関数演算回路8の出力する信号はvi変
換器4bKまた前記入力回路3aの出力する信号はV/
F変換器4aに、それぞれ原発振パルス発生器2からの
原発振パルスとともに入力される。前記試験用パルス発
振装置1はこれらの各回路1機器によって構成されてい
る。また10は第2図に示す従来のものと同等の巻取径
計測装置である。
図において、1はこの発明に係る試験用パルス発振装置
であり、2は原発振パルス発生器、3aは可変抵抗よ構
成る入力回路、4a4bは入力信号をその値に対応した
周波数のパルス信号に変換する変換回路で、本笑施例に
おいては従来の場合と同様/CV/F変換器が用いられ
ている。6は前記原発振パルス発生器2からの原発振パ
ルスを分周してクロックパルスを生成するクロックパル
ス発生器、7はそのクロックパルスを積算して時1.1
管理を行なうタイミング回路、8は所定の時間関数を内
蔵し、前記タイミング回路7の出力する時間情報に基づ
いて前記時間関数の演算を行ない、その演算結果に対応
した電圧の信号を出力する時間関数演算回路である。こ
こで、この時間関数演算回路8の出力する信号はvi変
換器4bKまた前記入力回路3aの出力する信号はV/
F変換器4aに、それぞれ原発振パルス発生器2からの
原発振パルスとともに入力される。前記試験用パルス発
振装置1はこれらの各回路1機器によって構成されてい
る。また10は第2図に示す従来のものと同等の巻取径
計測装置である。
前記時間関数演算回路8に内蔵されている時間関数とし
ては、 N−K1/ (t +に2 ) ・・・0
式である。ここで、■は帯状材料の搬送速度、Dは巻取
径、Nは巻取機等の回転数、Doは巻取径の初期値、d
は帯状材料の厚さ、tは時間である。まのものを示して
いる。従って、■式は双曲線を示しており、巻取処理で
は羊調減少関数、払出処理では単調増加関数となってい
る。
ては、 N−K1/ (t +に2 ) ・・・0
式である。ここで、■は帯状材料の搬送速度、Dは巻取
径、Nは巻取機等の回転数、Doは巻取径の初期値、d
は帯状材料の厚さ、tは時間である。まのものを示して
いる。従って、■式は双曲線を示しており、巻取処理で
は羊調減少関数、払出処理では単調増加関数となってい
る。
次に動作について説明する。まず帯状材料の搬送速度に
相当する一定周波数のパルス信号をVβ変換機4aよシ
発生させるため、手動操作によって入力回路3aを調整
しておく。次に、計測が開始されると、タイミング回路
7はクロックパルス発生回路6からのクロックパルスを
積算して、計測開始からの時間を示す時間情報を逐次生
成し、時間関数演算回路8へ送出する。時間関数演算回
路8は送られて来る前記時間情報に基づいて、前記■式
で示される時間関数の演算を逐次実行し、巻取機等の回
転数の時間変化に対応して電圧が変化する信号を出力す
る。この信号を原発振パルス発生器2よシの原発振パル
スとともに受けた■4変換器4bは、巻取機等の回転数
の時間変化に対応して周波数が変化するパルス信号を巻
取径計測装置10へ送出する。巻取径計測装置10では
、このVβ変換器4bからの巻取機等の回転数に比例し
た周波数のパルス信号と、前記入力回路3aの調整によ
ってV/1’変換器4aより送出されている帯状材料の
搬送速度に対応した周波数のパルス信号を、それぞれ計
測開始時点よシ積算して、Vβ変換器4bからのパルス
信号の積算値がある一定値に達した時点におけるvi変
換器4aからのパルス信号の積算値を巻取径として記録
するなお、上記実施例ではタイミング回路7及び時間関
数演算回路8を試験用パルス発振装置1に内蔵したもの
を示したが、巻取径計測装置10が制御用計算機に接続
されている場合、その制御用計算機内部にて時間関数演
算を行わせ、その計算結果をディジタル・アナログ変換
後、試験用パルス発振器に入力してもよく、上記実施例
と同様の効果を奏する。
相当する一定周波数のパルス信号をVβ変換機4aよシ
発生させるため、手動操作によって入力回路3aを調整
しておく。次に、計測が開始されると、タイミング回路
7はクロックパルス発生回路6からのクロックパルスを
積算して、計測開始からの時間を示す時間情報を逐次生
成し、時間関数演算回路8へ送出する。時間関数演算回
路8は送られて来る前記時間情報に基づいて、前記■式
で示される時間関数の演算を逐次実行し、巻取機等の回
転数の時間変化に対応して電圧が変化する信号を出力す
る。この信号を原発振パルス発生器2よシの原発振パル
スとともに受けた■4変換器4bは、巻取機等の回転数
の時間変化に対応して周波数が変化するパルス信号を巻
取径計測装置10へ送出する。巻取径計測装置10では
、このVβ変換器4bからの巻取機等の回転数に比例し
た周波数のパルス信号と、前記入力回路3aの調整によ
ってV/1’変換器4aより送出されている帯状材料の
搬送速度に対応した周波数のパルス信号を、それぞれ計
測開始時点よシ積算して、Vβ変換器4bからのパルス
信号の積算値がある一定値に達した時点におけるvi変
換器4aからのパルス信号の積算値を巻取径として記録
するなお、上記実施例ではタイミング回路7及び時間関
数演算回路8を試験用パルス発振装置1に内蔵したもの
を示したが、巻取径計測装置10が制御用計算機に接続
されている場合、その制御用計算機内部にて時間関数演
算を行わせ、その計算結果をディジタル・アナログ変換
後、試験用パルス発振器に入力してもよく、上記実施例
と同様の効果を奏する。
以上のように、この発明によれば試験用パルス発振装置
の巻取機等の回転数に比例したパルス信号を、巻取機等
の回転数の時間変化を表現する時間関数を内蔵した時間
関数演算回路と、この時間関数演算回路に時間情報を与
えるタイミング回路によって生成するように構成したの
で、実プロセスにおける帯状材料の巻取処理あるいは払
出処理における巻取機等の回転数の時間変化に良く対応
したパルス信号が得られ、実プロセスと同等の巻取径計
測値を得ることが容易となり、この巻取計測値を使用す
る他の制御に対して正確な情報を入力することが可能と
なって、巻取径計測試験の不完全さによる製品品質の劣
化を招くようなことがなくなるなどの効果がある。
の巻取機等の回転数に比例したパルス信号を、巻取機等
の回転数の時間変化を表現する時間関数を内蔵した時間
関数演算回路と、この時間関数演算回路に時間情報を与
えるタイミング回路によって生成するように構成したの
で、実プロセスにおける帯状材料の巻取処理あるいは払
出処理における巻取機等の回転数の時間変化に良く対応
したパルス信号が得られ、実プロセスと同等の巻取径計
測値を得ることが容易となり、この巻取計測値を使用す
る他の制御に対して正確な情報を入力することが可能と
なって、巻取径計測試験の不完全さによる製品品質の劣
化を招くようなことがなくなるなどの効果がある。
第1図はこの発明の一実施例による試験用パルス発振装
置を示すブロック図、第2図は従来の試験用パルス発振
装置を示すブロック図である。 1は試験用パルス発振装置、2は原発振パルス発生器、
3a*3bは入力回路、−4a r 4 bはv7p変
換器、6はクロックパルス発生器、7はタイミング回路
、8は時間関数演算回路、10は巻取径計測装置。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 特許出願人 三菱電機株式会社 、・−−〜。 代理人 弁理士 1) 澤 博 昭す゛(外2名
)−
置を示すブロック図、第2図は従来の試験用パルス発振
装置を示すブロック図である。 1は試験用パルス発振装置、2は原発振パルス発生器、
3a*3bは入力回路、−4a r 4 bはv7p変
換器、6はクロックパルス発生器、7はタイミング回路
、8は時間関数演算回路、10は巻取径計測装置。 なお、図中、同一符号は同一、又は相当部分を示す。 特許出願人 三菱電機株式会社 、・−−〜。 代理人 弁理士 1) 澤 博 昭す゛(外2名
)−
Claims (1)
- 帯状材料の搬送速度に対応した周波数のパルス信号と
、巻取機あるいは払出機の回転数に比例した周波数のパ
ルス信号とを巻取径計測装置に与える試験用パルス発振
装置において、前記巻取機あるいは払出機の回転数に比
例した周波数のパルス信号を、所定のクロックパルスを
積算して時間管理を行なうタイミング回路と、このタイ
ミング回路からの時間情報に基づいて所定の時間関数の
演算を行ない、前記巻取機あるいは払出機の回転数に比
例した値の信号を出力する時間関数演算回路と、この時
間関数演算回路から出力される信号をその値に対応した
周波数のパルス信号に変換する変換回路とを用いて生成
することを特徴とする試験用パルス発振装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16614586A JPS6321511A (ja) | 1986-07-15 | 1986-07-15 | 試験用パルス発振装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP16614586A JPS6321511A (ja) | 1986-07-15 | 1986-07-15 | 試験用パルス発振装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6321511A true JPS6321511A (ja) | 1988-01-29 |
Family
ID=15825883
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP16614586A Pending JPS6321511A (ja) | 1986-07-15 | 1986-07-15 | 試験用パルス発振装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6321511A (ja) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1995030463A1 (fr) | 1994-05-10 | 1995-11-16 | Kabushiki Kaisha Ace Denken | Equipement permettant de jouer au flipper a distance |
WO1996030095A1 (fr) | 1995-03-29 | 1996-10-03 | Kabushiki Kaisha Ace Denken | Billard electrique comportant une fonction de jeu de cartes |
US8100612B2 (en) | 2005-03-11 | 2012-01-24 | Kabushiki Kaisha Miyanaga | Core drill |
KR20190098133A (ko) * | 2016-12-21 | 2019-08-21 | 엔지케이 인슐레이터 엘티디 | 투명 AlN 소결체 및 그 제법 |
KR20190098134A (ko) * | 2016-12-21 | 2019-08-21 | 엔지케이 인슐레이터 엘티디 | 배향 AlN 소결체 및 그 제법 |
-
1986
- 1986-07-15 JP JP16614586A patent/JPS6321511A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1995030463A1 (fr) | 1994-05-10 | 1995-11-16 | Kabushiki Kaisha Ace Denken | Equipement permettant de jouer au flipper a distance |
US5797795A (en) * | 1994-05-10 | 1998-08-25 | Kabushiki Kaisha Ace Denken | Gaming facilities for player to play game by remote operation |
WO1996030095A1 (fr) | 1995-03-29 | 1996-10-03 | Kabushiki Kaisha Ace Denken | Billard electrique comportant une fonction de jeu de cartes |
US8100612B2 (en) | 2005-03-11 | 2012-01-24 | Kabushiki Kaisha Miyanaga | Core drill |
KR20190098133A (ko) * | 2016-12-21 | 2019-08-21 | 엔지케이 인슐레이터 엘티디 | 투명 AlN 소결체 및 그 제법 |
KR20190098134A (ko) * | 2016-12-21 | 2019-08-21 | 엔지케이 인슐레이터 엘티디 | 배향 AlN 소결체 및 그 제법 |
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