JPH11330691A - Manufacture of conductor circuit - Google Patents

Manufacture of conductor circuit

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JPH11330691A
JPH11330691A JP12487798A JP12487798A JPH11330691A JP H11330691 A JPH11330691 A JP H11330691A JP 12487798 A JP12487798 A JP 12487798A JP 12487798 A JP12487798 A JP 12487798A JP H11330691 A JPH11330691 A JP H11330691A
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JP
Japan
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hole
conductive
forming
conductor
substrate
Prior art date
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Withdrawn
Application number
JP12487798A
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Japanese (ja)
Inventor
Hiroshi Yamada
浩 山田
Kozo Yoshida
耕造 吉田
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Asahi Chemical Industry Co Ltd
Original Assignee
Asahi Chemical Industry Co Ltd
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Publication date
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Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a manufacturing method of a conductor circuit which can cope with formation of a fine conductor pattern and simplify a manufacturing process. SOLUTION: On a substrate in which a conductor circuit is formed, an overcoat layer is formed except a part to be exposed, a protective film is formed on the overcoat layer and the part to be exposed, a hole for a through hole is bored and adsorption of catalyst or formation of a conductive layer on the inner wall of the through hole is performed. The protective film is eliminated, and a conductive film is formed on the through hole inner wall by a plating method. Thus, electric connection is performed.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】本発明は、昨今ますます小型
化、高速化、高密度化、低消費電力化していく導体回路
において、スルーホールを有する導体回路の製造方法に
関し、特にファインパターンを有する導体回路に関する
ものである。例えば、モーターやアクチュエーター用平
面コイル、インターポーザー(異ピッチ接続部品)等の
精密配線板の他、磁気記録装置の磁気ヘッド用平面コイ
ル等の導体回路の製造方法として極めて有用である。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a method for manufacturing a conductor circuit having through holes in a conductor circuit which is increasingly miniaturized, speeded up, increased in density and reduced in power consumption. It relates to a conductor circuit. For example, the present invention is extremely useful as a method for producing a conductor circuit such as a planar coil for a magnetic head of a magnetic recording device, in addition to a precision wiring board such as a planar coil for a motor or an actuator, and an interposer (different pitch connecting parts).

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、プリント基板等の導体回路の寸法
を小型化する上で、多層間の電気的接続を取るためのス
ルーホールおよびスルーホールランドの寸法を小径化す
ること、導体パターンを微細化することが望まれてい
た。一般に、導体パターンを有する回路基板において、
スルーホールを介して多層間の電気的接続をとる方法と
しては、スルーホールにつながった導通線がないために
以下の方法をとる。スルーホール用の穴を空ける回路基
板において、スルーホールの内壁および基板表面全面に
無電解めっき用触媒層を吸着形成する工程、次いで触媒
層を形成した部分すなわちスルーホール内壁および基板
表面全面に無電解めっきにより導体層を形成する工程、
スルーホール部を除いた導体パターン部をフォトレジス
トのフォトリソグラフを用いてマスキングする工程、ス
ルーホール内壁の電解めっき工程、当該マスキング材の
除去工程、基板表面に形成した導体層をクイックエッチ
ングする工程、更に基板表面において露出させる部位以
外にオーバーコート層を形成する工程を順次実施する方
法が一般的である。
2. Description of the Related Art In recent years, in order to reduce the size of a conductor circuit such as a printed circuit board, the dimensions of through holes and through hole lands for making electrical connections between multiple layers have been reduced, and the size of a conductive pattern has been reduced. Was desired. Generally, in a circuit board having a conductor pattern,
The following method is used to establish electrical connection between the multilayers through the through-hole because there is no conduction line connected to the through-hole. In a circuit board in which a hole for a through hole is formed, a step of adsorbing and forming a catalyst layer for electroless plating on the inner wall of the through hole and the entire surface of the substrate; Forming a conductor layer by plating,
A step of masking the conductor pattern portion excluding the through-hole portion using a photoresist photolithography, an electrolytic plating step of an inner wall of the through-hole, a step of removing the masking material, a step of quick-etching the conductor layer formed on the substrate surface, Further, a method of sequentially performing a step of forming an overcoat layer in a portion other than a portion to be exposed on the substrate surface is generally used.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、従来法
では基板全面に無電解めっきにより導体層を形成し、そ
の後スルーホール内壁のみに電解めっきし、更に基板表
面の余分な導体層をエッチングにより除去するためファ
インパターンを有する回路基板の形成方法としては不向
きである問題点があった。また、従来、スルーホール部
以外の不要導体を除去する必要があり、スルーホール部
に保護膜を形成しその後エッチングによる不要導体を除
去していたため、工程が複雑になっていた。
However, in the conventional method, a conductor layer is formed on the entire surface of the substrate by electroless plating, thereafter, only the inner wall of the through hole is electrolytically plated, and an excess conductor layer on the surface of the substrate is removed by etching. Therefore, there is a problem that it is not suitable as a method for forming a circuit board having a fine pattern. Further, conventionally, it is necessary to remove unnecessary conductors other than the through-hole portion, and a protective film is formed in the through-hole portion, and then the unnecessary conductor is removed by etching, so that the process is complicated.

【0004】そこで、本発明はスルーホール内壁にめっ
き法で導体皮膜を形成することにより電気的接続信頼性
を向上させると共に、各層の導体回路を形成する工程で
スルーホールランドにつながっためっき用導通線を形成
し、触媒或いは導電層の形成を保護層を用いてスルーホ
ール部のみに形成し、めっきは少なくともスルーホール
部及び導体パターン部のみに行うことにより、スルーホ
ールを有する導体回路の製造方法を提供するものであ
る。
Accordingly, the present invention improves the electrical connection reliability by forming a conductive film on the inner wall of the through-hole by plating, and at the same time, forms a conductive circuit for each layer, thereby forming a conductive circuit for plating connected to the through-hole land. A method of manufacturing a conductor circuit having a through hole by forming a wire, forming a catalyst or a conductive layer only on a through hole portion using a protective layer, and performing plating only on at least the through hole portion and the conductor pattern portion. Is provided.

【0005】すなわち本発明は、基板全面に導体層を形
成する工程を必要としないので、スルーホール部のめっ
き後に不要な導体層を除去する工程が不要であり、不要
導体を除去するためのフォトリソグラフによる保護膜形
成工程を省略できるため製造工程を簡略化できる。
That is, since the present invention does not require a step of forming a conductor layer on the entire surface of the substrate, a step of removing an unnecessary conductor layer after plating the through-hole portion is unnecessary, and a photo for removing the unnecessary conductor is eliminated. Since the step of forming a protective film by lithography can be omitted, the manufacturing process can be simplified.

【0006】[0006]

【課題を解決するための手段】本発明者らは鋭意検討を
重ねた結果、導体回路において、各層の導体回路を形成
する工程でスルーホールランドに繋がっためっき用導通
線を形成し、触媒或いは導電層の形成を保護膜を用いて
スルーホール部のみに形成し、めっきは少なくともスル
ーホール部及び導体パターン部のみに行うことにより、
ファインパターンを有する導体回路を作成できることを
見いだし本発明を完成するに至った。
Means for Solving the Problems As a result of intensive studies, the present inventors have formed a conductive line for plating connected to a through-hole land in a step of forming a conductive circuit of each layer, and formed a catalyst or a catalyst. By forming the conductive layer only on the through-hole portion using the protective film, and performing plating only on at least the through-hole portion and the conductor pattern portion,
It has been found that a conductor circuit having a fine pattern can be formed, and the present invention has been completed.

【0007】即ち、第1発明は、導体回路が形成された
基板上に、露出させる部位以外にオーバーコート層を形
成し、該オーバーコート層及び前記露出させる部位の上
に保護膜を形成し、次いでスルーホール用の穴をあけ、
該スルーホールの内壁に触媒の吸着或いは導電層の形成
を行った後、前記保護膜を除去し、めっき法により該ス
ルーホール内壁に導電皮膜を形成して電気的接続を行う
ことを特徴とする導体回路の製造方法である。
That is, in the first invention, an overcoat layer is formed on a substrate on which a conductive circuit is formed, except for an exposed portion, and a protective film is formed on the overcoat layer and the exposed portion. Then drill holes for through holes,
After adsorbing a catalyst or forming a conductive layer on the inner wall of the through hole, the protective film is removed, and a conductive film is formed on the inner wall of the through hole by a plating method to perform electrical connection. This is a method for manufacturing a conductor circuit.

【0008】このような構成により、ファインパターン
を有する導体回路を簡易に製造でき、工程も簡略化でき
るものである。第2発明は、導体回路が形成された基板
の全面に保護膜を形成し、スルーホール用の穴をあけ、
該スルーホールの内壁に触媒の吸着或いは導電層の形成
を行った後、前記保護膜を除去し、次いで露出させる部
位以外にオーバーコート層を形成し、その後めっき法に
より該スルーホール内壁に導電皮膜を形成して電気的接
続を行うことを特徴とする導体回路の製造方法である。
With such a configuration, a conductor circuit having a fine pattern can be easily manufactured, and the process can be simplified. According to a second invention, a protective film is formed on the entire surface of the substrate on which the conductor circuit is formed, and a hole for a through hole is formed.
After adsorbing a catalyst or forming a conductive layer on the inner wall of the through hole, the protective film is removed, and then an overcoat layer is formed on a portion other than a portion to be exposed, and then a conductive film is formed on the inner wall of the through hole by a plating method. And a method of manufacturing a conductor circuit, wherein electrical connection is made by forming a conductive circuit.

【0009】このような構成により、ファインパターン
を有する導体回路を簡易に製造でき、工程も簡略化でき
るものである。また第3発明は、導体回路が形成された
基板の全面に保護膜を形成し、スルーホール用の穴をあ
け、該スルーホールの内壁に触媒の吸着或いは導電層の
形成を行った後、前記保護膜を除去し、次いでめっき法
により該スルーホール内壁に導電皮膜を形成して電気的
接続を行った後、前記基板表面を研磨することによりス
ルーホール内壁以外の不要な導電皮膜を除去し、その後
露出させる部位以外にオーバーコート層を形成すること
を特徴とする導体回路の製造方法である。
With this configuration, a conductor circuit having a fine pattern can be easily manufactured, and the process can be simplified. According to a third aspect of the present invention, a protective film is formed on the entire surface of the substrate on which the conductive circuit is formed, a hole for a through hole is formed, and after the catalyst is adsorbed or a conductive layer is formed on the inner wall of the through hole, After removing the protective film, a conductive film is formed on the inner wall of the through-hole by a plating method to perform electrical connection, and then the unnecessary conductive film other than the inner wall of the through-hole is removed by polishing the substrate surface. A method of manufacturing a conductor circuit, comprising forming an overcoat layer on a portion other than a portion to be exposed thereafter.

【0010】このような構成により、ファインパターン
を有する導体回路を簡易に製造でき、工程も簡略化でき
るものである。
With this configuration, a conductor circuit having a fine pattern can be easily manufactured, and the process can be simplified.

【0011】[0011]

【発明の実施の形態】以下、図面により本発明の導体回
路の製造方法について説明する。図1はその工程を概略
断面図を示し、簡単のためにスルーホール部を示してい
る。図2は導体回路の平面パターンの一例を示してい
る。この例に限定するものではない。図3は本発明の第
三発明の導体回路の製造方法を示す。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A method for manufacturing a conductor circuit according to the present invention will be described below with reference to the drawings. FIG. 1 is a schematic sectional view showing the process, and shows a through-hole portion for simplification. FIG. 2 shows an example of a plane pattern of a conductor circuit. It is not limited to this example. FIG. 3 shows a method for manufacturing a conductor circuit according to the third invention of the present invention.

【0012】先ず導電性基板上に、感光性樹脂組成物を
塗布し、水銀ランプ等のエネルギー線によりフォトマス
ク等を介して露光し、次いで、感光性樹脂組成物の未露
光部分を現像液で溶解もしくは分散除去して導電性基板
上に所望の樹脂パターンを形成した後、電解めっき法に
より導体を形成する。次いで電解めっき後に、導体パタ
ーンの導電性基板と反対側の面に絶縁材料3を接着し、
または、絶縁材料を介して複数の導体パターンを積層し
た形態とした後、導電性基板を除去する。
First, a photosensitive resin composition is applied on a conductive substrate, and is exposed to energy rays such as a mercury lamp through a photomask or the like. Then, an unexposed portion of the photosensitive resin composition is developed with a developer. After dissolving or dispersing to form a desired resin pattern on the conductive substrate, a conductor is formed by electrolytic plating. Next, after the electroplating, the insulating material 3 is adhered to the surface of the conductor pattern opposite to the conductive substrate,
Alternatively, the conductive substrate is removed after a plurality of conductor patterns are stacked with an insulating material interposed therebetween.

【0013】導電性基板を除去する方法としては、例え
ば酸、アルカリ、塩の水溶液等でエッチングする方法、
研磨して削り取る方法、機械的に剥離する方法、あるい
はこれらの組み合わせ等の方法をとることが出来る。必
要に応じて導体パターンを絶縁基板に転写する前に、ま
たは転写して導電性基板を除去した後に樹脂画像部分を
除去しても良い。
As a method of removing the conductive substrate, for example, a method of etching with an aqueous solution of an acid, an alkali, or a salt;
A method such as a method of polishing and shaving, a method of mechanical peeling, or a combination thereof can be used. If necessary, the resin image portion may be removed before transferring the conductive pattern to the insulating substrate or after transferring and removing the conductive substrate.

【0014】転写において用いる絶縁材料3について特
に限定しないが、エポキシ系接着樹脂、アクリル系接着
樹脂、ポリイミド系接着樹脂、マレイミド系接着樹脂、
スチレン系接着樹脂、ポリエステル系接着樹脂など通常
の接着樹脂を使用することができる。形成した絶縁材料
層は、多層回路基板を形成する各層間の電気的絶縁層と
して働く。また、転写する前に樹脂画像部分を除去した
場合には当該絶縁材料が同層内の導体パターン間の電気
的絶縁樹脂としての役割も果たす。回路基板の補強のた
め絶縁材料3の層にポリイミドフィルム、アラミドフィ
ルムなどのフィルムあるいはガラスクロスなどを入れる
こともできる。
Although there is no particular limitation on the insulating material 3 used in the transfer, epoxy-based adhesive resin, acrylic-based adhesive resin, polyimide-based adhesive resin, maleimide-based adhesive resin,
Usual adhesive resins such as styrene adhesive resin and polyester adhesive resin can be used. The formed insulating material layer functions as an electrical insulating layer between the layers forming the multilayer circuit board. When the resin image portion is removed before the transfer, the insulating material also functions as an electrical insulating resin between the conductor patterns in the same layer. In order to reinforce the circuit board, a film such as a polyimide film or an aramid film, a glass cloth, or the like may be included in the layer of the insulating material 3.

【0015】次に図1(a)〜(c)に示すように、導
電性基板を除去し、第一層の回路4と第二層の回路5を
絶縁材料3を介して接着した導体回路にオーバーコート
層8を形成し、その上に保護層7を形成する。次いでス
ルーホールランド内部1にレーザにより穴をあけ、スル
ーホールの内壁に触媒を吸着させるか、或いは導電層を
形成した後、電解メッキにより導電性皮膜6を形成す
る。
Next, as shown in FIGS. 1 (a) to 1 (c), the conductive circuit is obtained by removing the conductive substrate and bonding the first layer circuit 4 and the second layer circuit 5 via the insulating material 3. An overcoat layer 8 is formed thereon, and a protective layer 7 is formed thereon. Next, a hole is formed in the through hole land 1 by a laser to adsorb a catalyst on the inner wall of the through hole, or after forming a conductive layer, a conductive film 6 is formed by electrolytic plating.

【0016】スルーホールランド内部1に樹脂パターン
を形成した場合、レーザー光などの高エネルギー線照
射、ドリル法、パンチ法により当該樹脂パターンを除去
することができる。また、スルーホールランド内部1に
樹脂パターンがない場合にも通常のドリル法、パンチ法
によりスルーホールを形成することができる。スルーホ
ールの内径は10〜250μmが好ましい。当該スルー
ホールの内径が10μmより小さい場合、多層間のスル
ーホールによる接続信頼性の確保が困難であり、また2
50μmを越えた大きさの場合、導体回路の寸法が大き
くなってしまう問題がある。
When a resin pattern is formed inside the through hole land 1, the resin pattern can be removed by irradiating a high energy beam such as a laser beam, a drill method, or a punch method. Further, even when there is no resin pattern inside the through hole land 1, a through hole can be formed by a normal drilling method or a punching method. The inner diameter of the through hole is preferably from 10 to 250 μm. When the inner diameter of the through hole is smaller than 10 μm, it is difficult to secure connection reliability by the through hole between the multilayers.
When the size exceeds 50 μm, there is a problem that the size of the conductor circuit becomes large.

【0017】オーバーコート層としては特に限定しない
が、通常のソルダーレジスト、耐熱、耐薬品性の高いプ
ラスチックフィルム、フォトレジストを用いることがで
きる。保護膜としては特に限定しないが、後で剥離でき
る保護膜、例えば接着剤付きのプラスチックフィルム、
フォトレジストを用いることができる。プラスチックフ
ィルムとしては、限定するものではないが、ポリエチレ
ン、ポリプロピレン、ポリエステル、芳香族ポリエーテ
ル、芳香族ポリエステル、芳香族ポリイミドなど用いる
ことができる。フォトレジストとしては、液状感光性樹
脂、ドライフィルムレジストなど、後で除去可能な通常
の感光性樹脂を用いることが出来る。
Although there is no particular limitation on the overcoat layer, ordinary solder resists, plastic films having high heat and chemical resistance, and photoresists can be used. The protective film is not particularly limited, but a protective film that can be peeled off later, for example, a plastic film with an adhesive,
A photoresist can be used. Examples of the plastic film include, but are not limited to, polyethylene, polypropylene, polyester, aromatic polyether, aromatic polyester, and aromatic polyimide. As the photoresist, a normal photosensitive resin that can be removed later, such as a liquid photosensitive resin or a dry film resist, can be used.

【0018】当該保護膜は、スルーホールランドに穴あ
けする前に形成することが好ましい。フォトレジストを
用いた場合、スルーホール用の穴あけ工程後にスルーホ
ール部以外を被覆したレジストパターンを形成すること
が可能であるが、フォトリソグラフを用いてパターン化
するため製造工程が増えてしまう。また、スルーホール
が小径化した場合、露光マスクと回路基板とをずれなく
位置合わせすることが必要となり、高い位置合わせ精度
が要求される。
It is preferable that the protective film is formed before drilling the through-hole land. When a photoresist is used, it is possible to form a resist pattern covering portions other than the through-holes after the through-hole drilling step, but the number of manufacturing steps increases because patterning is performed using photolithography. In addition, when the diameter of the through hole is reduced, it is necessary to align the exposure mask and the circuit board without displacement, and high alignment accuracy is required.

【0019】また、本発明において、スルーホールの電
気的導通をとった後にさらに外側に絶縁材料を介して1
つ以上の層を接着し、同様の方法でスルーホールを形成
し、多層の導体回路を作製することができる。本発明の
スルーホールの電気的接続方法としては、めっきにより
スルーホール内壁に導体皮膜を形成する方法である。ス
ルーホール内の内壁に導電性化合物を付与して電解めっ
きを行う方法、表面に吸着により触媒層を形成し、厚さ
の薄い無電解めっき皮膜を形成した後電解めっきする方
法などのめっきにより導体皮膜を形成する方法を用い
る。また、スルーホールが小径化した場合、無電解めっ
き法では発生する水素が抜けにくくなるため、無電解め
っきによる方法よりもスルーホール内の内壁に導電性化
合物を付与して電解めっきを行う方法が好ましい。
Further, in the present invention, after electrical conduction of the through-holes is established, the electrical connection between the through-holes is further increased through an insulating material.
By bonding two or more layers and forming a through hole in a similar manner, a multilayer conductor circuit can be manufactured. The method for electrically connecting a through hole according to the present invention is a method of forming a conductive film on the inner wall of the through hole by plating. Conducting by electroplating by applying a conductive compound to the inner wall in the through hole, electroplating, forming a catalyst layer on the surface by adsorption, forming a thin electroless plating film, and then electroplating A method for forming a film is used. In addition, when the diameter of the through hole is reduced, hydrogen generated by the electroless plating method is difficult to escape, so that a method in which a conductive compound is applied to the inner wall in the through hole and the electrolytic plating is performed than the method using the electroless plating is not used. preferable.

【0020】図2に示すように、本発明においてスルー
ホールの内壁にめっき法により導体皮膜を形成した後、
電解めっき用導通線12を切り離しライン14で切断す
ることによりコイル状導体回路11を電気的に製造基板
から分離させることができる。導通線の切断方法は特に
限定しないが、ドリル、金型、カッター等の刃物を用い
ることができる。導通線の幅は特に限定するものではな
いが、20〜200μmの範囲が好ましい。めっき用導
通線12を切断することにより導体回路を基板から切り
離さずに電気検査を実施できるので検査に要する時間を
大幅に短縮できる。なお、導体回路を製造基板から分離
する方法としては、特に限定しないが金型で打ち抜く方
法、レーザー等の高エネルギー線照射により回路周囲の
樹脂パターンを線状に除去する方法を用いることが出来
る。
As shown in FIG. 2, in the present invention, after a conductor film is formed on the inner wall of the through hole by plating,
By cutting the electroplating conductive line 12 by the cutting line 14, the coil-shaped conductor circuit 11 can be electrically separated from the production substrate. The method of cutting the conductive wire is not particularly limited, but a cutting tool such as a drill, a mold, and a cutter can be used. The width of the conductive line is not particularly limited, but is preferably in the range of 20 to 200 μm. By cutting the conductive wire 12 for plating, the electrical inspection can be performed without separating the conductor circuit from the substrate, so that the time required for the inspection can be greatly reduced. The method of separating the conductor circuit from the production substrate is not particularly limited, but a method of punching out with a die or a method of linearly removing the resin pattern around the circuit by irradiating a high energy beam such as a laser can be used.

【0021】また図3(a)〜(e)に示したように、
絶縁材料3の両面に導体パターン2を有する第一回路4
および第二回路5が形成された基板上に保護膜7を形成
した後、スルーホールランド内部1に穴あける。その
後、スルーホール部のみに触媒或いは導電層を形成し、
当該保護膜7を除去した後、めっきによりスルーホール
内壁および基板表面に導体皮膜6を形成し、その後、オ
ーバーコート層8を形成する。
As shown in FIGS. 3A to 3E,
First circuit 4 having conductor pattern 2 on both sides of insulating material 3
After forming the protective film 7 on the substrate on which the second circuit 5 is formed, a hole is formed in the through hole land 1. After that, a catalyst or conductive layer is formed only in the through hole part,
After removing the protective film 7, the conductor film 6 is formed on the inner wall of the through hole and the surface of the substrate by plating, and then the overcoat layer 8 is formed.

【0022】導体パターン上に導体皮膜が形成されてい
るので、表面を研磨することにより不要な導体を除去す
る。研磨方法としては特に限定しないが、バフ、ゴム、
セラミックスを材料とする研磨板あるいはロール状研磨
材を用いる方法、サンドブラスター法のように、基板表
面に微細な砂、金属、セラミックス等の粒子を衝突させ
る方法を用いることができる。
Since the conductor film is formed on the conductor pattern, unnecessary conductors are removed by polishing the surface. There is no particular limitation on the polishing method, but buffing, rubber,
A method using a polishing plate or a roll-shaped abrasive made of a ceramic material, or a method such as a sandblaster method in which fine particles of sand, metal, ceramics, or the like collide with the substrate surface can be used.

【0023】以下に本発明を実施例により詳細に説明す
る。なお、本発明は実施例により制限されるものではな
い。
Hereinafter, the present invention will be described in detail with reference to examples. The present invention is not limited by the embodiments.

【0024】[0024]

【実施例1】コイル部の大きさが直径2mmで、ピッチ
30μmのコイル状パターンを有するフォトマスク上
に、厚さ10μmのPETフィルムを介してアルカリ現
像型液状感光性樹脂を硬化後の厚みが60μmになるよ
うに塗布し、その上にアルミニウム基板をラミネートし
た。水銀ショートアークランプの平行光を用いて露光
し、1%ホウ酸ナトリウム水溶液で現像した。
Example 1 An alkali-developing liquid photosensitive resin was cured on a photomask having a coil-shaped pattern with a coil size of 2 mm in diameter and a pitch of 30 μm through a PET film of 10 μm in thickness. It was applied so as to have a thickness of 60 μm, and an aluminum substrate was laminated thereon. Exposure was performed using parallel light from a mercury short arc lamp, and development was performed with a 1% aqueous sodium borate solution.

【0025】次に、上村工業(株)製ピロリン酸銅めっ
き液を用いて3A/dm2 の電流密度で6分間のストラ
イクメッキを施し、その上に硫酸銅メッキして厚みが6
0μmの導体パターンを形成した。外径が160μmの
導体パターンとその中心部の外形100μmの樹脂パタ
ーンとからなるスルーホールランド部、および幅50μ
mのスルーホールの電解めっき用導通線は、コイル状パ
ターン形成工程で同時に作製した。
Next, strike plating is performed at a current density of 3 A / dm 2 for 6 minutes using a copper pyrophosphate plating solution manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd.
A conductive pattern of 0 μm was formed. A through-hole land portion composed of a conductor pattern having an outer diameter of 160 μm and a resin pattern having an outer shape of 100 μm at the center thereof, and a width of 50 μm
The conductive wire for electrolytic plating of the through hole of m was simultaneously produced in the coil-shaped pattern forming step.

【0026】以上のように作製した導体・樹脂パターン
からなる2層の回路をDuPont社製WA変成アクリル接着
剤を用いて厚み25μmのポリイミドフィルムを介して
積層し、アルミニウム基板を塩酸でエッチング除去し
た。その後、表面に露出した端子部以外の回路パターン
部にソルダーレジストパターンを形成し、さらにその
後、基板の裏表両面に保護膜として厚さ30μmのドラ
イフィルムレジストをラミネートし水銀ショートアーク
ランプの光で露光した。コイル中央部に位置するスルー
ホールランド中央の直径100μm樹脂パターンを炭酸
ガスレーザー光を照射することにより除去、貫通させる
ことによりスルーホールを形成した。炭酸ガスレーザー
による樹脂パターンの除去は外側に配置した導体パター
ンが遮光マスクとして働き、レーザービームの径、出力
の厳密な調整なしに容易に行われた。
The two-layer circuit composed of the conductor and the resin pattern prepared as described above was laminated via a 25 μm-thick polyimide film using a WA-modified acrylic adhesive manufactured by DuPont, and the aluminum substrate was removed by etching with hydrochloric acid. . After that, a solder resist pattern is formed on the circuit pattern portion other than the terminal portion exposed on the surface, and then a 30 μm thick dry film resist is laminated as a protective film on both front and back surfaces of the substrate, and is exposed to light from a mercury short arc lamp. did. A 100 μm diameter resin pattern at the center of the through hole land located at the center of the coil was removed by irradiating a carbon dioxide gas laser beam, and a through hole was formed by penetrating. The removal of the resin pattern by the carbon dioxide gas laser was easily performed without strict adjustment of the diameter and output of the laser beam, with the conductor pattern disposed outside serving as a light-shielding mask.

【0027】レーザー穴あけ加工は、三菱電機社製ML50
5GT型炭酸ガスレーザー加工機を用いて実施した。レー
ザー光の出力は300W、パルス幅は50μs、ビーム
径は60μmであった。外径は100μm、アスペクト
比が2であるスルーホールが作製できた。さらにスルー
ホールの内壁を奥野製薬工業(株)製ダイレクトめっき
処理液で処理した後、表面の保護膜を除去し、硫酸銅め
っきで厚み20μmの銅皮膜を形成することにより2層
間を電気的に接続した小型の平面コイルを作製した。電
解めっきに用いた導通線はドリルで穴あけすることによ
り除去し、平面コイルを基板から電気的に分離した。さ
らに平面コイルの周囲の樹脂パターンを炭酸ガスレーザ
ー光を照射し幅50μmで線状に除去することにより基
板より切り離した。スルーホールの抵抗値は0.2Ω未
満であり、230℃・3分間の加熱テストにおいて抵抗
値の変化は見られなかった。
Laser drilling is performed by Mitsubishi Electric ML50
The test was performed using a 5GT carbon dioxide laser processing machine. The output of the laser beam was 300 W, the pulse width was 50 μs, and the beam diameter was 60 μm. A through hole having an outer diameter of 100 μm and an aspect ratio of 2 was produced. Further, after treating the inner wall of the through hole with a direct plating solution manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd., the protective film on the surface is removed, and a copper film having a thickness of 20 μm is formed by copper sulfate plating to electrically connect the two layers. A connected small planar coil was fabricated. The conductive wire used for electrolytic plating was removed by drilling, and the planar coil was electrically separated from the substrate. Furthermore, the resin pattern around the planar coil was cut off from the substrate by irradiating a carbon dioxide laser beam and removing the resin pattern linearly with a width of 50 μm. The resistance value of the through hole was less than 0.2Ω, and no change was observed in the resistance value in the heating test at 230 ° C. for 3 minutes.

【0028】[0028]

【実施例2】スルーホールの電気的な接続方法以外、実
施例1と同じ方法で導体・樹脂パターンを作製した。導
体・樹脂パターンからなる2層の回路をDuPont社製WA
変成アクリル接着剤を用いて厚み25μmのアラミドフ
ィルムを介して積層し、アルミニウム基板を塩酸でエッ
チング除去した。その後、表面に露出した端子部(露出
させる部位)以外の回路パターン部にソルダーレジスト
パターンを形成し、さらにその後基板の裏表両面に保護
膜として厚さ30μmのドライフィルムレジストをラミ
ネートし水銀ショートアークランプの光で露光した。コ
イル中央部に位置するスルーホールランド中央に直径1
00μmのスルーホールをドリルを用いて形成した。
Example 2 A conductor / resin pattern was prepared in the same manner as in Example 1 except for the method of electrically connecting through holes. DuPont WA made of two layers consisting of conductor and resin pattern
The laminate was laminated via a 25 μm-thick aramid film using a modified acrylic adhesive, and the aluminum substrate was removed by etching with hydrochloric acid. Thereafter, a solder resist pattern is formed on a circuit pattern portion other than the terminal portion (exposed portion) exposed on the surface, and then a 30 μm-thick dry film resist is laminated as a protective film on both front and back surfaces of the substrate, and a mercury short arc lamp is formed. Exposure. The diameter is 1 at the center of the through hole land located at the center of the coil.
A 00 μm through hole was formed using a drill.

【0029】スルーホール部の電気的な接続方法は以下
のように実施した。スルーホール内壁を塩化第一スズの
塩酸溶液、塩化パラジウムの塩酸溶液の順に処理するこ
とにより触媒であるパラジウム層を形成した。次に基板
表面に形成した保護膜を剥離除去した。その後、上村工
業(株)製無電解銅めっき液に55℃で30分間揺動し
ながら浸漬することにより厚さ数μmの銅皮膜を形成し
た。さらに硫酸銅めっきすることによりスルーホール内
の内壁に厚さ20μmの銅膜を形成した。導通線の切断
および平面コイルの基板からの切り離しは、実施例1と
同じ方法で行った。スルーホールの抵抗値は0.2Ω未
満であり、230℃・3分間の加熱テストにおいて抵抗
値の変化は見られなかった。
The method of electrically connecting the through holes was carried out as follows. A palladium layer as a catalyst was formed by treating the inner wall of the through hole with a hydrochloric acid solution of stannous chloride and a hydrochloric acid solution of palladium chloride in this order. Next, the protective film formed on the substrate surface was peeled off. Thereafter, the film was immersed in an electroless copper plating solution manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd. while shaking at 55 ° C. for 30 minutes to form a copper film having a thickness of several μm. Further, a copper film having a thickness of 20 μm was formed on the inner wall in the through hole by plating with copper sulfate. The cutting of the conductive wire and the separation of the planar coil from the substrate were performed in the same manner as in Example 1. The resistance value of the through hole was less than 0.2Ω, and no change was observed in the resistance value in the heating test at 230 ° C. for 3 minutes.

【0030】[0030]

【実施例3】コイル部の大きさが直径2mmで、ピッチ
30μmのコイル状パターンを有するフォトマスク上
に、厚さ10μmのPETフィルムを介してアルカリ現
像型液状感光性樹脂を硬化後の厚みが60μmになるよ
うに塗布し、その上にアルミニウム基板をラミネートし
た。水銀ショートアークランプの平行光を用いて露光
し、1%ホウ酸ナトリウム水溶液で現像した。
Example 3 An alkali-developing liquid photosensitive resin was cured on a photomask having a coil pattern having a coil size of 2 mm in diameter and a pitch of 30 μm via a PET film having a thickness of 10 μm. It was applied so as to have a thickness of 60 μm, and an aluminum substrate was laminated thereon. Exposure was performed using parallel light from a mercury short arc lamp, and development was performed with a 1% aqueous sodium borate solution.

【0031】次に、上村工業(株)製ピロリン酸銅めっ
き液を用いて3A/dm2 の電流密度で6分間のストラ
イクめっきを施し、その上に硫酸銅めっきして厚みが6
0μmの導体パターンを形成した。外径が160μmの
導体パターンとその中心部の外形100μmの樹脂パタ
ーンとからなるスルーホールランド部、および幅50μ
mのスルーホールの電解めっき用導通線は、コイル状パ
ターン形成工程で同時に作製した。
Next, strike plating is performed at a current density of 3 A / dm 2 for 6 minutes using a copper pyrophosphate plating solution manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd.
A conductive pattern of 0 μm was formed. A through-hole land portion composed of a conductor pattern having an outer diameter of 160 μm and a resin pattern having an outer shape of 100 μm at the center thereof, and a width of 50 μm
The conductive wire for electrolytic plating of the through hole of m was simultaneously produced in the coil-shaped pattern forming step.

【0032】以上のように作製した導体・樹脂パターン
からなる2層の回路をDuPont社製WA変成アクリル接着
剤を用いて厚み25μmのポリイミドフィルムを介して
積層し、アルミニウム基板を塩酸でエッチング除去し
た。その後、基板の裏表両面に保護膜として厚さ30μ
mのドライフィルムレジストをラミネートし水銀ショー
トアークランプの光で露光した。コイル中央部に位置す
るスルーホールランド中央の直径100μm樹脂パター
ンを炭酸ガスレーザー光を照射することにより除去貫通
させることによりスルーホールを形成した。炭酸ガスレ
ーザーによる樹脂パターンの除去は外側に配置した導体
パターンが遮光マスクとして働き、レーザービームの
径、出力の厳密な調整なしに容易に行われた。レーザー
穴あけ加工は、三菱電機社製ML505GT型炭酸ガスレーザ
ー加工機を用いて実施した。レーザー光の出力は300
W、パルス幅は50μs、ビーム径は60μmであっ
た。外径は100μm、アスペクト比が2であるスルー
ホールが作製できた。
The two-layer circuit composed of the conductor and resin pattern prepared as described above was laminated via a 25 μm-thick polyimide film using a WA-modified acrylic adhesive manufactured by DuPont, and the aluminum substrate was removed by etching with hydrochloric acid. . Then, a 30 μm thick protective film is applied on both sides of the substrate.
m of dry film resist was laminated and exposed to light from a mercury short arc lamp. A 100-μm-diameter resin pattern at the center of the through-hole land located at the center of the coil was removed by irradiating a carbon dioxide laser beam to form a through-hole. The removal of the resin pattern by the carbon dioxide gas laser was easily performed without strict adjustment of the diameter and output of the laser beam, with the conductor pattern disposed outside serving as a light-shielding mask. Laser drilling was performed using a Mitsubishi Electric ML505GT carbon dioxide laser processing machine. Laser light output is 300
W, the pulse width was 50 μs, and the beam diameter was 60 μm. A through hole having an outer diameter of 100 μm and an aspect ratio of 2 was produced.

【0033】さらにスルーホールの内壁を奥野製薬工業
(株)製ダイレクトめっき処理液で処理した後、表面の
保護膜を除去し、表面に露出した端子部以外の回路パタ
ーン部にソルダーレジストパターンを形成し、さらにそ
の後硫酸銅めっきで厚み20μmの銅皮膜を形成するこ
とにより2層間を電気的に接続した小型の平面コイルを
作製した。電解めっきに用いた導通線はドリルで穴あけ
することにより除去し、平面コイルを基板から電気的に
分離した。さらに平面コイルの周囲の樹脂パターンを炭
酸ガスレーザー光を照射し幅50μmで線状に除去する
ことにより基板より切り離した。スルーホールの抵抗値
は0.2Ω未満であり、230℃・3分間の加熱テスト
において抵抗値の変化は見られなかった。
Further, after treating the inner wall of the through hole with a direct plating solution manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd., the protective film on the surface is removed and a solder resist pattern is formed on the circuit pattern portion other than the terminal portion exposed on the surface. Thereafter, a copper film having a thickness of 20 μm was formed by copper sulfate plating to produce a small-sized planar coil electrically connected between the two layers. The conductive wire used for electrolytic plating was removed by drilling, and the planar coil was electrically separated from the substrate. Furthermore, the resin pattern around the planar coil was cut off from the substrate by irradiating a carbon dioxide laser beam and removing the resin pattern linearly with a width of 50 μm. The resistance value of the through hole was less than 0.2Ω, and no change was observed in the resistance value in the heating test at 230 ° C. for 3 minutes.

【0034】[0034]

【実施例4】コイル部の大きさが直径2mmで、ピッチ
30μmのコイル状パターンを有するフォトマスク上
に、厚さ10μmのPETフィルムを介してアルカリ現
像型液状感光性樹脂を硬化後の厚みが60μmになるよ
うに塗布し、その上にアルミニウム基板をラミネートし
た。水銀ショートアークランプの平行光を用いて露光
し、1%ホウ酸ナトリウム水溶液で現像した。
Example 4 An alkali-developing liquid photosensitive resin was cured on a photomask having a coil-shaped pattern having a coil size of 2 mm in diameter and a pitch of 30 μm via a PET film having a thickness of 10 μm. It was applied so as to have a thickness of 60 μm, and an aluminum substrate was laminated thereon. Exposure was performed using parallel light from a mercury short arc lamp, and development was performed with a 1% aqueous sodium borate solution.

【0035】次に、上村工業(株)製ピロリン酸銅メッ
キ液を用いて3A/dm2 の電流密度で6分間のストラ
イクメッキを施し、その上に硫酸銅めっきして厚みが6
0μmの導体パターンを形成した。外径が160μmの
導体パターンとその中心部の外形100μmの樹脂パタ
ーンとからなるスルーホールランド部、および幅50μ
mのスルーホールの電解めっき用導通線は、コイル状パ
ターン形成工程で同時に作製した。
Next, strike plating is performed for 6 minutes at a current density of 3 A / dm 2 using a copper pyrophosphate plating solution manufactured by Uemura Kogyo Co., Ltd.
A conductive pattern of 0 μm was formed. A through-hole land portion composed of a conductor pattern having an outer diameter of 160 μm and a resin pattern having an outer shape of 100 μm at the center thereof, and a width of 50 μm
The conductive wire for electrolytic plating of the through hole of m was simultaneously produced in the coil-shaped pattern forming step.

【0036】以上のように作製した導体・樹脂パターン
からなる2層の回路をDuPont社製WA変成アクリル接着
剤を用いて厚み25μmのポリイミドフィルムを介して
積層し、アルミニウム基板を塩酸でエッチング除去し
た。コイル中央部に位置するスルーホールランド中央の
直径100μm樹脂パターンを炭酸ガスレーザー光を照
射することにより除去、貫通させることによりスルーホ
ールを形成した。炭酸ガスレーザーによる樹脂パターン
の除去は外側に配置した導体パターンが遮光マスクとし
て働き、レーザービームの径、出力の厳密な調整なしに
容易に行われた。レーザー穴あけ加工は、三菱電機社製
ML505GT型炭酸ガスレーザー加工機を用いて実施した。
レーザー光の出力は300W、パルス幅は50μs、ビ
ーム径は60μmであった。外径は100μm、アスペ
クト比が2であるスルーホールが作製できた。
The two-layer circuit composed of the conductor and resin pattern prepared as described above was laminated via a 25 μm-thick polyimide film using a WA-modified acrylic adhesive manufactured by DuPont, and the aluminum substrate was removed by etching with hydrochloric acid. . A 100 μm diameter resin pattern at the center of the through hole land located at the center of the coil was removed by irradiating a carbon dioxide gas laser beam, and a through hole was formed by penetrating. The removal of the resin pattern by the carbon dioxide gas laser was easily performed without strict adjustment of the diameter and output of the laser beam, with the conductor pattern disposed outside serving as a light-shielding mask. Laser drilling made by Mitsubishi Electric
The test was performed using a ML505GT carbon dioxide laser processing machine.
The output of the laser beam was 300 W, the pulse width was 50 μs, and the beam diameter was 60 μm. A through hole having an outer diameter of 100 μm and an aspect ratio of 2 was produced.

【0037】さらにスルーホールの内壁を奥野製薬工業
(株)製ダイレクトめっき処理液で処理した後、硫酸銅
めっきで厚み20μmの銅皮膜を形成することにより2
層間を電気的に接続した小型の平面コイルを作製した。
基板表面には導体層が全面覆っていたため不要な導体部
分を研磨により除去した。研磨には石井表記(株)社製
セラミックロールを用いて行った。表面に露出した端子
部(露出させる部位)以外の回路パターン部にアサヒ化
学研究所社製のソルダーレジストパターンを形成した。
電解めっきに用いた幅100μmの導通線はドリルで穴
あけすることにより除去し、平面コイルを基板から電気
的に分離した。さらに平面コイルの周囲の樹脂パターン
を炭酸ガスレーザー光を照射し幅50μmで線状に除去
することにより基板より切り離した。スルーホールの抵
抗値は0.2Ω未満であり、230℃・3分間の加熱テ
ストにおいて抵抗値の変化は見られなかった。
Further, after treating the inner wall of the through hole with a direct plating solution manufactured by Okuno Pharmaceutical Co., Ltd., a copper film having a thickness of 20 μm is formed by copper sulfate plating.
A small planar coil in which the layers were electrically connected was manufactured.
Since the conductor layer was entirely covered on the substrate surface, unnecessary conductor portions were removed by polishing. Polishing was performed using a ceramic roll manufactured by Ishii Notation Co., Ltd. A solder resist pattern manufactured by Asahi Chemical Laboratory Co., Ltd. was formed on the circuit pattern portion other than the terminal portion (site to be exposed) exposed on the surface.
The conductive wire having a width of 100 μm used for electrolytic plating was removed by drilling, and the planar coil was electrically separated from the substrate. Furthermore, the resin pattern around the planar coil was cut off from the substrate by irradiating a carbon dioxide laser beam and removing the resin pattern linearly with a width of 50 μm. The resistance value of the through hole was less than 0.2Ω, and no change was observed in the resistance value in the heating test at 230 ° C. for 3 minutes.

【0038】[0038]

【発明の効果】本発明によれば、スルーホールランドに
繋がる導通線を導体回路パターンを形成する工程で作成
できるため、基板全面均一に導体層を無電解めっきで形
成する必要が無く、その後の不要導体除去などの工程を
簡略化できると共に、不要導体除去工程でのエッチング
処理が無いので、ファイン導体パターンを有する導体回
路の形成に対応できるものである。
According to the present invention, a conductive line connected to a through-hole land can be formed in a step of forming a conductive circuit pattern. Therefore, it is not necessary to uniformly form a conductive layer on the entire substrate by electroless plating. The process for removing unnecessary conductors can be simplified, and since there is no etching process in the unnecessary conductor removing process, it is possible to cope with the formation of a conductor circuit having a fine conductor pattern.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第一発明による製造工程の説明図であ
る。
FIG. 1 is an explanatory view of a manufacturing process according to a first invention of the present invention.

【図2】本発明による導体回路の平面図である。FIG. 2 is a plan view of a conductor circuit according to the present invention.

【図3】本発明の第三発明による製造工程の説明図であ
る。
FIG. 3 is an explanatory view of a manufacturing process according to a third invention of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

1 スルーホールランド内部 2 導体パターン 3 絶縁材料 4 第一層の回路 5 第二層の回路 6 スルーホール内壁の導電性皮膜 7 保護膜 8 オーバーコート層 10 スルーホール 11 コイル状導体回路 12 めっき用導通線 13 樹脂パターン 14 切り離しライン DESCRIPTION OF SYMBOLS 1 Inside of a through hole land 2 Conductor pattern 3 Insulating material 4 First layer circuit 5 Second layer circuit 6 Conductive film on inner wall of through hole 7 Protective film 8 Overcoat layer 10 Through hole 11 Coiled conductor circuit 12 Conduction for plating Line 13 Resin pattern 14 Separation line

Claims (3)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 導体回路が形成された基板上に、露出さ
せる部位以外にオーバーコート層を形成し、該オーバー
コート層及び前記露出させる部位の上に保護膜を形成
し、次いでスルーホール用の穴をあけ、該スルーホール
の内壁に触媒の吸着或いは導電層の形成を行った後、前
記保護膜を除去し、めっき法により該スルーホール内壁
に導電皮膜を形成して電気的接続を行うことを特徴とす
る導体回路の製造方法。
An overcoat layer is formed on a substrate on which a conductive circuit is formed, except for an exposed portion, a protective film is formed on the overcoat layer and the exposed portion, and then a through-hole is formed. After forming a hole, adsorbing a catalyst or forming a conductive layer on the inner wall of the through hole, removing the protective film, forming a conductive film on the inner wall of the through hole by a plating method, and performing electrical connection. A method for manufacturing a conductor circuit, comprising:
【請求項2】 導体回路が形成された基板の全面に保護
膜を形成し、スルーホール用の穴をあけ、該スルーホー
ルの内壁に触媒の吸着或いは導電層の形成を行った後、
前記保護膜を除去し、次いで露出させる部位以外にオー
バーコート層を形成し、その後めっき法により該スルー
ホール内壁に導電皮膜を形成して電気的接続を行うこと
を特徴とする導体回路の製造方法。
2. After forming a protective film on the entire surface of the substrate on which the conductive circuit is formed, making a hole for a through hole, and adsorbing a catalyst or forming a conductive layer on the inner wall of the through hole.
A method for manufacturing a conductive circuit, comprising: removing the protective film, forming an overcoat layer other than a portion to be exposed, and then forming a conductive film on the inner wall of the through hole by a plating method to perform electrical connection. .
【請求項3】 導体回路が形成された基板の全面に保護
膜を形成し、スルーホール用の穴をあけ、該スルーホー
ルの内壁に触媒の吸着或いは導電層の形成を行った後、
前記保護膜を除去し、次いでめっき法により該スルーホ
ール内壁に導電皮膜を形成して電気的接続を行った後、
前記基板表面を研磨することによりスルーホール内壁以
外の不要な導電皮膜を除去し、その後露出させる部位以
外にオーバーコート層を形成することを特徴とする導体
回路の製造方法。
3. A protective film is formed on the entire surface of the substrate on which the conductive circuit is formed, a hole for a through hole is formed, a catalyst is adsorbed on the inner wall of the through hole, or a conductive layer is formed.
After removing the protective film, and then forming a conductive film on the inner wall of the through hole by a plating method to make an electrical connection,
A method for manufacturing a conductive circuit, comprising: removing unnecessary conductive films other than the inner walls of through holes by polishing the surface of the substrate; and forming an overcoat layer on a portion other than a portion to be exposed thereafter.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102711394A (en) * 2012-06-25 2012-10-03 广州美维电子有限公司 Electroplating interconnecting processing technology for circuit board
CN106535480A (en) * 2016-11-18 2017-03-22 江门崇达电路技术有限公司 Multilayer PCB positive back etching process

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102711394A (en) * 2012-06-25 2012-10-03 广州美维电子有限公司 Electroplating interconnecting processing technology for circuit board
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