JPH11330199A - 真空プロセス装置 - Google Patents

真空プロセス装置

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JPH11330199A
JPH11330199A JP13562198A JP13562198A JPH11330199A JP H11330199 A JPH11330199 A JP H11330199A JP 13562198 A JP13562198 A JP 13562198A JP 13562198 A JP13562198 A JP 13562198A JP H11330199 A JPH11330199 A JP H11330199A
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arm
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load lock
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Application number
JP13562198A
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Inventor
Yukiyasu Sugano
幸保 菅野
Takeshi Aiba
武 相場
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 小型であり、しかも低価格で、多品種少量の
生産に対応可能な真空プロセス装置を提供する。 【解決手段】 プロセスチャンバ1、トランスファーチ
ャンバ2およびロードロックチャンバ3をこの順に一列
に配列して構成される。トランスファーチャンバ2は移
送機構20を備えている。移送機構20はワークWを平
面的に見て直線状に移送させるものであり、アーム支持
部21、一対の駆動モータ22A,22B、ワークWを
保持するための保持ステージ25、および駆動モータ2
2A,22Bの駆動力を保持ステージ25へ伝達するた
めの4つのアーム(第1アーム23A,23Bおよび第
2アーム24A,24B)からなるリンク機構L1 ,L
2 により構成されている。駆動モータ22A,22Bが
同じタイミングで互いに逆方向に駆動されると、リンク
機構L1 ,L2 が伸縮し、これに連動してワークWを保
持した保持ステージ25が直線状に移動する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えば半導体集積
回路やカラー液晶ディスプレイ等を製造するための真空
プロセス装置に関する。
【0002】
【従来の技術】近年、半導体集積回路やカラー液晶ディ
スプレイに用いられる基板のサイズの大型化に伴い、製
造装置の大型化が進んでいる。特にスパッタリング、C
VD(Chemical Vapor Deposition:化学的気相成長 )、
ドライエッチイングなどの製造プロセスを取り扱う真空
系の製造装置ではその傾向が著しい。
【0003】この種の真空プロセス装置としては、現
在、図11に示したように中央のトランスファーチャン
バ100の周りに、ロードロックチャンバ101a,1
01b、冷却チャンバ102、加熱チャンバ103と共
に複数のプロセスチャンバ104a〜104dを配置し
たマルチチャンバ型が主流となっている(特開平9−2
46347号公報等)。トランスファーチャンバ100
内には遠隔操作により保持アーム105aを回動させる
ことができる真空ロボット105が設置されている。こ
の真空プロセス装置では、ロードロックチャンバ101
a,101bより取り入れられた被処理体、例えばガラ
ス基板106はトランスファーチャンバ100内の真空
ロボット105により保持された後、必要に応じて冷却
チャンバ102や加熱チャンバ103に送り込まれた
後、各プロセスチャンバ104a〜104b内へ移送さ
れる。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】上述のようにマルチチ
ャンバ型の真空プロセス装置では、ガラス基板106の
各チャンバ間の移送は回転モードの真空ロボット105
により、その都度トランスファーチャンバ100を経由
して行われている。
【0005】しかしながら、このように回転モードによ
りガラス基板106の移送を行う方式の真空プロセス装
置では、移送の信頼性が十分ではなく、故障時の復帰に
要する時間が長くなり、またコストもかかるという問題
があった。
【0006】また、この方式の真空プロセス装置では、
トランスファーチャンバ100の周りに複数のプロセス
チャンバ104a〜104dを備えており、各チャンバ
への移送を確保するために、装置本体が例えば8m×8
mにも及ぶ占有面積を必要とするほど大型化していると
いう問題がある。このため装置価格そのものが高額化す
ることによるコストアップだけでなく、クリーンルーム
の占有面積も大きくなり、所要エネルギーも増えるとい
うこともコストアップの要因になっている。また、交換
部品の大型化によるメンテナンス作業の工数および費用
の増加も招いている。
【0007】更に、このような方式の真空プロセス装置
は少品種大量のプロセスには向いているものの、多品種
少量の生産に対しては融通性がないという問題があっ
た。
【0008】本発明はかかる問題点に鑑みてなされたも
ので、その目的は、小型であり、しかも低価格で、多品
種少量の生産に対応可能な真空プロセス装置を提供する
ことにある。
【0009】
【課題を解決するための手段】本発明による真空プロセ
ス装置は、被処理体の真空処理を行うプロセスチャンバ
と、このプロセスチャンバに対応して設けられ、被処理
体の外部からの取り入れおよび外部への取り出しを行う
ロードロックチャンバと、このロードロックチャンバと
プロセスチャンバとの間に設けられると共に、ロードロ
ックチャンバとプロセスチャンバとの間で、被処理体を
平面的に見て直線状に移送させるための移送機構を含む
トランスファーチャンバとを備えている。
【0010】また、本発明による他の真空プロセス装置
は、被処理体の真空処理を行うプロセスチャンバと、こ
のプロセスチャンバに対応して設けられ、被処理体の外
部からの取り入れおよび外部への取り出しを行う機能を
有すると共に、外部とプロセスチャンバとの間で、被処
理体を平面的に見て直線状に移送させるための移送機構
を含むトランスファーチャンバとを備えている。
【0011】本発明による真空プロセス装置では、ロー
ドロックチャンバを介して取り入れられたガラス基板等
の被処理体は、ロードロックチャンバとプロセスチャン
バとの間で、トランスファーチャンバ内に設置された移
送機構によって、回転動作を伴うことなく直線状に移送
される。
【0012】本発明による他の真空プロセス装置では、
被処理体はロードロックチャンバを兼ねたトランスファ
ーチャンバを介して取り入れられた後、このトランスフ
ァーチャンバとプロセスチャンバとの間で、移送機構に
よって、回転動作を伴うことなく直線状に移送される。
【0013】
【発明の実施の形態】以下、図面を参照して本発明の実
施の形態を詳細に説明する。
【0014】〔第1の実施の形態〕図1は本発明の第1
の実施の形態の係る真空プロセス装置の外観図であり、
図2はこの真空プロセス装置の内部の平面構成、図3は
同じく内部の側面から見た構成をそれぞれ表している。
この真空プロセス装置は、各々1基のプロセスチャンバ
1、トランスファーチャンバ2およびロードロックチャ
ンバ3をこの順に一列に配列して構成したものである。
これらプロセスチャンバ1とトランスファーチャンバ2
とロードロックチャンバ3との間にはそれぞれ開閉用の
ゲートバルブ4a〜4cが設けられている。ゲートバル
ブ4a〜4cはそれぞれ、駆動部のオン・オフによりバ
ルブ本体の開口部が開閉するものである。これらプロセ
スチャンバ1,トランスファーチャンバ2およびロード
ロックチャンバ3はそれぞれ図示しない排気ポンプに連
通しており、処理状況に応じたゲートバルブ4a〜4c
の開閉動作に連動して適宜真空状態に保持されるように
なっている。なお、これらプロセスチャンバ1、トラン
スファーチャンバ2およびロードロックチャンバ3はそ
れぞれ例えばアルミニウム合金やステンレス等の材質に
より形成されている。
【0015】プロセスチャンバ1は、ガラス基板などの
被処理体(以下、ワークWという)の真空処理(例えば
スパッタリング)を行うための部屋であり、その底面に
は移送されてきたワークWを載置して保持するための保
持機構11を備えている。本実施の形態では、この保持
機構11は例えば3個の保持ピン11a〜11cにより
構成されている。プロセスチャンバ1の天井面には例え
ばスパッタ用のカソード12が配設されている。
【0016】プロセスチャンバ1に隣接したトランスフ
ァーチャンバ2はロードロックチャンバ3から取り入れ
られたワークWをプロセスチャンバ1へ直線的に移送す
ると共に、プロセスチャンバ1で処理が終了した後のワ
ークWをロードロックチャンバ3へ直線的に移送させる
ための部屋である。このトランスファーチャンバ2には
そのために移送機構(移送ロボット)20を備えてい
る。
【0017】移送機構20は、ロードロックチャンバ3
とプロセスチャンバ1との間において、ワークWを平面
的に見て直線状に移送させるものである。この移送機構
20は、アーム支持部21、駆動手段としての一対の駆
動モータ(例えばサーボモータ)22A,22B、ワー
クWを保持するための保持ステージ25、および駆動モ
ータ22A,22Bの駆動力を保持ステージ25へ伝達
するための4つのアーム(第1アーム23A,23Bお
よび第2アーム24A,24B)からなるリンク機構L
1 ,L2 により構成されている。以上の構成要素は例え
ばステンレス等の材質により形成されている。
【0018】アーム支持部21は、トランスファーチャ
ンバ2の底部中央位置において、外部からチャンバ内に
突出するように設けられている。駆動モータ22A,2
2Bはこのアーム支持部21に内蔵されている。これら
駆動モータ22A,22Bは図示しない制御部からの指
示により同じタイミングで互いに逆方向に回転するもの
で、ワークWの移送方向に対して直交する方向(チャン
バの幅方向)に並列に配設されている。これら駆動モー
タ22A,22Bの各回転軸22a,22bにはそれぞ
れ第1アーム23A,23Bの基端部が連結されてお
り、第1アーム23A,23Bがそれぞれアーム支持部
21上において回動可能に支持されている。
【0019】第1アーム23A,23Bの各先端部には
それぞれ第2アーム24A,24Bの基端側がそれぞれ
軸部23aにおいて回動可能に支持されている。なお、
これら第1アーム23A,23Bおよび第2アーム24
A,24Bは互いに同じ長さを有しており、第1アーム
23Aと第2アーム24Aとからなるリンク機構L
1と、第1アーム23Bと第2アーム24Bとからなる
リンク機構L2 とが左右対称な形状となっている。第2
アーム24A,24Bの各先端側は軸支部24aにより
保持ステージ25に対して回動可能に軸支されており、
これにより保持ステージ25がリンク機構L1 ,L2
より支持されている。第2アーム24A,24Bの各軸
支部24a,24bは、本実施の形態では、それぞれ保
持ステージ25の移送方向の中央位置に設けられてい
る。これにより保持ステージ25はロードロックチャン
バ3およびプロセスチャンバ1のいずれの側においても
同じ奥行きまで移動できるようになっている。
【0020】この移送機構20では、駆動モータ22
A,22Bが同じタイミングで互いに逆方向に駆動され
ると、第1アーム23A,23Bが互いに逆方向に回動
し、それに連動して第2アーム24A,24Bが変位す
る(すなわち、リンク機構L1,L2 が左右対称に伸縮
する)。これに連動して保持ステージ25が図3に矢印
で示したように直線状に移動し、これによって保持ステ
ージ25に保持(載置)されたワークWがロードロック
チャンバ3とプロセスチャンバ1との間を移送されるよ
うになっている。
【0021】また、この移送機構20のアーム支持部2
1には、例えばモータ駆動による歯車機構などを利用し
た上下駆動機構26が連結されており、これにより移送
機構20自体が上昇または下降ができるようになってい
る。
【0022】トランスファーチャンバ3に隣接して配設
されたロードロックチャンバ3は、ワークWの外部から
のプロセスチャンバ1への取り入れ、および外部へのワ
ークWの取り出しを行うための部屋である。なお、ロー
ドロックチャンバ3へのワークWの取り入れ等は図示し
ない公知の搬送機構により行われるようになっている。
【0023】ロードロックチャンバ3の高さ方向の中央
位置には仕切部30が設けられており、これにより加熱
チャンバ3Aおよび冷却チャンバ3Bが上下に積層され
た2段構成のチャンバとなっている。加熱チャンバ3A
の天井面には加熱手段、例えば加熱ヒータ32が設置さ
れており、この加熱ヒータ32により取り入れられたワ
ークWを所定の温度で加熱するようになっている。な
お、加熱手段としては加熱ヒータに限らず、ランプ加熱
など他の方法でもよい。加熱チャンバ3Aおよび冷却チ
ャンバ3Bそれぞれの底面部には、移送されてきたワー
クWを載置して保持するための保持機構31を備えてい
る。本実施の形態では、この保持機構31は例えば3個
の保持ピン31a〜31cにより構成されている。ま
た、ロードロックチャンバ3の両側に配設されたゲート
バルブ4b,4cは2分割された加熱チャンバ3Aおよ
び冷却チャンバ3Bにそれぞれ対応して、ゲートバルブ
4b1,4b2 、ゲートバルブ4c1 ,4c2 に2分割
されている。
【0024】次に、図2,図3および図4(A),
(B)ないし図5(A),(B)を参照してこの真空プ
ロセス装置の作用について説明する。
【0025】まず、ロードロックチャンバ3の加熱チャ
ンバ3Aまたは冷却チャンバ3B、例えば冷却チャンバ
3Bには、図3に示したように開口されたゲートバルブ
4c2 を介して図示しない搬送手段によってワークWが
搬入され、保持ピン31a〜31c上に載置される。こ
のときロードロックチャンバ3とトランスファーチャン
バ2との間のゲートバルブ4b1 ,4b2 は閉成されて
いる。
【0026】次に、ゲートバルブ4c2 が閉成され、こ
の状態で、ロードロックチャンバ3内は図示しない排気
ポンプによって真空排気される。ロードロックチャンバ
3内が所定の真空度になると、ゲートバルブ4b2 が開
口される。その後、トランスファーチャンバ2内の移送
機構20が上下動機構26によって冷却チャンバ3Bに
対向する位置に位置決めされる。この状態で、駆動モー
タ22A,22Bが駆動され、リンク機構L1 およびリ
ンク機構L2 がそれぞれ直線状になる(図2および図3
参照)。この状態において、保持ステージ25は保持ピ
ン31a,31b間を通過してワークWの下に位置す
る。次いで、上下駆動機構26が作動し、移送機構20
がわずかに上昇する。これによりワークWは保持ステー
ジ25により持ち上げられ、保持ステージ25によって
保持された状態となる。
【0027】その後、図4(A)に示したように、第1
アーム23A,23Bが互いに逆方向に回動駆動され
る。これにより2つのリンク機構L1 ,L2 が縮み、そ
れに伴って保持ステージ25がロードロックチャンバ3
からトランスファーチャンバ2側へ直線状に移送され
る。図4(B)は第1アーム23A,23Bおよび第2
アーム24A,24Bがそれぞれ重なった状態、すなわ
ち、保持ステージ25と共にワークWがトランスファー
チャンバ2の中央位置に移送されたときの状態を示して
いる。
【0028】ワークWがトランスファーチャンバ2内に
移動すると、ロードロックチャンバ3とトランスファー
チャンバ2との間のゲートバルブ4b2 は閉成され、一
方トランスファーチャンバ2とプロセスチャンバ1との
間のゲートバルブ4aが開口される。その後、更に、図
5(A)に示したように、第1アーム23A,23Bが
互いに逆方向に回動駆動される。これにより2つのリン
ク機構L1 ,L2 が伸び、それに伴って保持ステージ2
5がプロセスチャンバ1内へ直線状に送り込まれる。図
5(B)は2つのリンク機構L1 ,L2 が平行になった
状態を示しており、この状態で上下駆動機構26が作動
し、移送機構20をわずかに下降させる。これにより保
持ステージ25が下降し、ワークWが保持機構11の保
持ピン11a〜11c上に保持された状態となる。続い
て、2つのリンク機構L1 ,L2が縮み、保持ステージ
25はトランスファーチャンバ2内へ戻される。
【0029】その後、プロセスチャンバ1とトランスフ
ァーチャンバ2との間のゲートバルブ4aが閉成され、
プロセスチャンバ1内が所定の真空度に排気される。こ
の状態で、プロセスチャンバ1内には図示しない導入口
から所定のガスが導入され、このガス雰囲気中でスパッ
タカソード12等によるスパッタプロセスが実行され
る。スパッタプロセスが終了した後は、上記と同様に移
送機構20が作動し、ワークWがプロセスチャンバ1か
らトランスファーチャンバ2を経由してロードロックチ
ャンバ3へ戻される。更に、ワークWはロードロックチ
ャンバ3から図示しない搬送手段により外部へ取り出さ
れて、次のプロセスへ移送される。
【0030】本実施の形態の真空プロセス装置では、プ
ロセスチャンバ1が1基(シングルプロセスチャンバ構
成)であり、このプロセスチャンバ1に対してトランス
ファーチャンバ2並びに2基のチャンバ(加熱チャンバ
3Aおよび冷却チャンバ3B)を含むロードロックチャ
ンバ3が直線状に配設された構成を有している。このた
め、装置寸法は従来のマルチチャンバ方式に比べて約4
分の1程度に小型化され、これにより装置も安価になる
と共にクリーンルームの占有面積も小さくなり、所要エ
ネルギーも少なくなる。また、交換部品も小さくなり、
メンテナンス作業が容易になる。その結果、メンテナン
ス作業の工数、費用も抑えることができる、などの効果
を得ることができる。
【0031】また、本実施の形態では、移送機構20が
ワークWをロードロックチャンバ3からプロセスチャン
バ1まで直線的に移送させることができるので、移送機
構には回転動作モードが含まれていない。従って、ワー
クWの移送動作の信頼性が大幅に向上する。このため故
障が少なく、また故障しても復帰に要する時間、コスト
を節減することができる。更に、シングルプロセスチャ
ンバ構成であり、単一のプロセスだけを実行するため、
本実施の形態のプロセス装置を、異なる種類のプロセス
を順番に実行する作業(フローショップ的作業)に対応
しやすく、また、多品種少量の生産作業にも対応できる
という利点がある。
【0032】加えて、本実施の形態では次のような効果
がある。すなわち、ワークWが基板の場合、例えばスパ
ッタリング,CVDなどのプロセスにおいては100〜
400℃の温度で基板を加熱する必要がある。しかし、
通常、基板温度を上昇させるためには30秒〜2分の時
間を要するので、昇温をプロセスチャンバ1内で行うと
すると、所要時間がそれだけ長くなってスループットを
低下させる原因となる。これに対して、本実施の形態で
は、ロードロックチャンバ3を、加熱チャンバ3Aと冷
却チャンバ3Bとを上下に積層した構成とすると共に、
トランスファーチャンバ2内の移送機構20を上下動可
能な構成としている。従って、加熱チャンバ3Aで予備
加熱を行い、昇温に要する時間を短縮することができる
と共に、冷却チャンバ3において冷却処理が可能とな
る。このため、ワークWの取り入れおよび予備加熱と、
他のワークWの冷却および取り出しとを同時に並行して
行うことができ、よって高いスループットを得ることが
できる。
【0033】〔第2の実施の形態〕図6は本発明の第2
の実施の形態に係る真空プロセス装置の側面構成を表す
ものである。本実施の形態では、第1の実施の形態と異
なり、ロードロックチャンバ3を単層構成とし、かつ、
プロセスチャンバ1の保持ピン11a〜11cを一体化
し、それに上下駆動機構12を連結すると共に、ロード
ロックチャンバ3においても同様に保持ピン31a〜3
1cを一体化し、それに上下駆動機構33を連結し、ワ
ークWを保持機構11,31によって上下動可能とした
ものである。一方、移送機構20は、本実施の形態で
は、トランスファーチャンバ2の底部に固定されてい
る。その他の構成および作用は、第1の実施の形態と実
質的に同じであるので、同一構成要素に同一符号を付し
てその説明は省略する。
【0034】本実施の形態では、移送機構20の保持ス
テージ25と、保持機構11,31それぞれとの間での
ワークWの移し変えは、上下駆動機構12,33による
保持機構11,31の上下動により行われる。
【0035】本実施の形態では、ロードロックチャンバ
3が単層構成であるため、第1の実施の形態のようにワ
ークWの予備加熱と冷却を並行して行うことはできない
が、その分だけ第1の実施の形態よりもトランスファー
チャンバ2およびロードロックチャンバ3の高さを低く
することができ、高さ方向においても装置の小型化を図
ることができる。
【0036】〔第3の実施の形態〕図7(A),(B)
および図8(A),(B)は本発明の第3の実施の形態
に係る真空プロセス装置の要部構成を表すものである。
第1の実施の形態では、移送機構20の保持ステージ2
5は移送方向の中央位置において、第2アーム24A,
24Bに対して取り付けられていたが、本実施の形態で
は、保持ステージ25が第2アーム24A,24Bに対
して前後に相対的にスライド可能な構成を有し、上記実
施の形態に比較してよりアームを短くし、移送機構20
の小型化を図ることができるものである。
【0037】ところで、移送機構20のアームを短く
し、上記実施の形態と同等の奥行きまで保持ステージ2
5を移動させるとなると、第2アーム24A,24Bの
軸支部を保持ステージ25の中心位置ではなく、より手
前側に設ける必要がある。しかし、このような構成とす
ると、例えば保持ステージ25がロードロックチャンバ
3側からプロセスチャンバ1側へ移行した場合には、保
持ステージ25が直線移動するため、保持ステージ25
はプロセスチャンバ1の奥までは届かない状態となる。
これに対して、本実施の形態では、保持ステージ25に
は2本の長溝26A,26Bが平行に形成されており、
これら長溝26A,26Bにそって第2アーム24A,
24Bの各軸支部(スライド支点27A,27B)が相
対的にスライド可能となっている。更に、移送機構20
のリンク機構L1 ,L2 がわずかに伸びたときの保持ス
テージ25の移動方向の前方、すなわちロードロックチ
ャンバ3内には、スライド支点27A,27Bのスライ
ド時に保持ステージ25の前方への変位を阻止するため
の変位阻止部材28が配設されている。変位阻止部材2
8には上下駆動機構29が連結されており、上下動が可
能となっている。この変位阻止部材28は常時は図7
(B)に二点鎖線で示したように下方に退避している
が、スライド支点27A,27Bのスライド時に実線で
示したように上昇して、その先端部が保持ステージ25
の先端面に当接するようになっている。なお、図示しな
いが、プロセスチャンバ1側においても、ワークWの回
収時において同様のスライド動作が実行されるような構
成となっている。その他の構成は、実質的に第1の実施
の形態と同様であるので、同一構成要素に同一符号を付
してその説明は省略する。
【0038】本実施の形態では、移送機構20の保持ス
テージ25は、ロードロックチャンバ3内において、図
7(A),(B)に示したようにリンク機構L1 ,L2
を縮めた状態で静止する。ここで、上下駆動機構29が
作動して変位阻止部材28が上昇し、その先端部が保持
ステージ25の先端面に当接する。この状態で、リンク
機構L1 ,L2 が更に伸びるが、このとき保持ステージ
25には変位阻止部材28が当接しているため、保持ス
テージ25の前方への移動は阻止される。これにより、
図8(A),(B)に矢印で示したように、スライド支
点27A,27Bが長溝26A,26Bの図において右
端側へ移動し、保持ステージ25はスライド支点27
A,27Bを軸として左方向に相対的にスライドするこ
ととなる。その後、この状態で、保持ステージ25にワ
ークWを保持させた後、第1アーム23A,23Bがそ
れぞれ図に矢印(破線)で示したように回動し、リンク
機構L1 ,L2 が縮み、更にプロセスチャンバ1側に伸
びることにより保持ステージ25はワークWをプロセス
チャンバ1内に移送させる。ここで、スライド支点27
A,27Bは長溝26A,26Bの図において右端側に
位置しているため、保持ステージ25はプロセスチャン
バ1内の奥まで届くこととなる。
【0039】プロセスチャンバ1内においてプロセスが
終了した後、ワークWの回収時においても、ロードロッ
クチャンバ3側と同様に保持ステージ25のスライド動
作が実行される。このときにはスライド支点27A,2
7Bは長溝26A,26Bの左端側に位置する状態とな
り、この状態でロードロックチャンバ3側へ移行し、図
7(A),(B)に示した状態に戻る。以下、上記と同
様の動作を繰り返す。
【0040】第1および第2の実施の形態の真空プロセ
ス装置では、前述したように移送機構20の保持ステー
ジ25が一直線上を移動してロードロックチャンバ3と
プロセスチャンバ1との間でワークWを移送させるた
め、リンク機構L1 ,L2 および保持ステージ25は共
に移送方向から見て、その左右に対称的な形状を必要と
する。しかし、その場合、リンク機構L1 ,L2 がチャ
ンバの中央部まで入り込むので、保持機構を構成する保
持ピンにぶつからないように配置することが難しい。こ
れに対して本実施の形態では、保持ステージ25が前後
に相対的にスライド可能であり、アームを短くすること
ができるため、リンク機構が保持ピンにぶつかることが
なくなる。
【0041】〔第4の実施の形態〕図9は本発明の第4
の実施の形態に係る真空プロセス装置の要部構成を表す
ものである。第1ないし第3の実施の形態では、移送機
構20が左右対称の2つのリンク機構L1 ,L2 を含む
構成としたが、このような構成ではリンク機構L1,L
2 が縮んだ場合にトランスファーチャンバ2の内壁にぶ
つからないよう、チャンバの幅を広する必要がある。こ
れに対して、本実施の形態の移送機構20は、片側のリ
ンク機構L2 のみを備えた構成(スカラアーム)となっ
ている。駆動手段としては、前述の駆動モータ22Bの
他、他の2つの回動支点22c,22dをそれぞれ独立
に駆動するモータが含まれている。ここで、アーム支持
部21の中心部(駆動モータ22Bの回転軸22b)は
トランスファーチャンバ2の幅方向の中央部ではなく、
トランスファーチャンバ2の中心線から距離Dだけ偏心
した位置に設けられている。また、リンク機構L2 を構
成する第2アーム24Bの長さは第1アーム23Bに比
べて偏心距離Dの分だけ短くなっている。
【0042】このような構成により、本実施の形態で
は、トランスファーチャンバ2の幅が狭くても、リンク
機構L2 のアームが内壁に接触することなしに動作可能
であり、第1の実施の形態に比べてより装置の小型化を
図ることができる。
【0043】〔第5の実施の形態〕図10は本発明の第
5の実施の形態に係る真空プロセス装置の構成を表すも
のである。第2の実施の形態では、プロセスチャンバ
1、トランスファーチャンバ2およびロードロックチャ
ンバ3をそれぞれ1基備えた構成としたが、本実施の形
態ではプロセスチャンバ1と、ロードロックチャンバ兼
トランスファーチャンバ2Aとの2基の構成としたもの
である。ロードロックチャンバ兼トランスファーチャン
バ2A内に第2の実施の形態と同様の移送機構20が設
置されている。その他の構成は第2の実施の形態と実質
的に同じである。
【0044】この真空プロセス装置では、ゲートバルブ
4bが開口されロードロックチャンバ兼トランスファー
チャンバ2Aが大気に開放された状態で、移送機構20
が作動しワークWがロードロックチャンバ兼トランスフ
ァーチャンバ2A内に取り込まれる。次いで、ゲートバ
ルブ4bが閉成された後、ロードロックチャンバ兼トラ
ンスファーチャンバ2A内が所定の真空度まで排気され
る。その後、ゲートバルブ4aが開口され、第2の実施
の形態と同様に、ワークWは移送機構20によりプロセ
スチャンバ1内へ移送される。プロセスチャンバ1内で
のプロセスが終了した後、ワークWは再び移送機構20
によりロードロックチャンバ兼トランスファーチャンバ
2Aへ戻され、その後、大気中に取り出される。
【0045】本実施の形態では、第2の実施の形態に比
べて、チャンバの数を1つ減らすことができるので、よ
り低価格で、小型の装置を実現することができる。
【0046】以上実施の形態を挙げて本発明を説明した
が、本発明は上記実施の形態に限定するものではなく、
種々変形可能である。例えば、上記実施の形態ではワー
クWとしてガラス基板を用い、プロセスチャンバ1にお
ける処理をスパッタ処理として説明したが、ワークWを
半導体ウェハとし、プロセスチャンバ1における処理を
CVD処理等としてもよい。また、移送機構20は上記
実施の形態のものに限らず、ワークWを直線状に移送で
きるものであれば、他の機構であってもよい。更に、上
記実施の形態では、2つのリンク機構L1 ,L2 を駆動
するために2つの駆動モータ22A,22Bを備える構
成としたが、1の駆動モータで2つのリンク機構L1
2 を駆動させるようにしてもよい。
【0047】
【発明の効果】以上説明したように請求項1ないし9の
いずれか1に記載の真空プロセス装置によれば、一基の
プロセスチャンバに隣接してトランスファーチャンバお
よびロードロックチャンバを直線的に設置し、トランス
ファーチャンバ内に被処理体を直線状に移送させるため
の移送機構を含むように構成したので、全体として小型
化を図ることができ、安価になりと共にクリーンルーム
の占有面積も小さくなり、所要エネルギーも少なくなる
などの効果を得ることができる。また、移送機構には回
転動作モードが含まれないので、移送動作の信頼性が大
幅に向上し、故障が少なく、また故障しても復帰に要す
る時間、コストを節減することができる。
【0048】特に、請求項3ないし5のいずれか1に記
載の真空プロセス装置では、ロードロックチャンバを複
数のチャンバを積層して構成するようにしたので、上記
効果に加え、異なる種類の処理を並行して同時に行うこ
とができ、高いスループットを得ることができるという
効果を奏する。
【0049】また、請求項10記載の真空プロセス装置
によれば、トランスファーチャンバがロードロックチャ
ンバを兼ねるように構成したので、より小型化および低
価格化を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態に係る真空プロセス
装置の外観を表す斜視図である。
【図2】図1の真空プロセス装置の内部構成を表す平面
図である。
【図3】図1の真空プロセス装置の内部構成を表す側面
図である。
【図4】図1の真空プロセス装置の作用を説明するため
の要部の平面図である。
【図5】図4に続く作用を説明するための平面図であ
る。
【図6】本発明の第2の実施の形態に係る真空プロセス
装置の側面図である。
【図7】本発明の第3の実施の形態に係る真空プロセス
装置の要部構成および作用を説明するための図であり、
同図(A)は平面図、同図(B)は側面図である。
【図8】図7に続く作用を説明するための平面図および
側面図である。
【図9】本発明の第4の実施の形態に係る真空プロセス
装置の構成を説明するための平面図である。
【図10】本発明の第5の実施の形態に係る真空プロセ
ス装置の構成を説明するための図であり、同図(A)は
平面図、同図(B)は側面図である。
【図11】従来の真空プロセス装置の構成を表す平面図
である。
【符号の説明】
1…プロセスチャンバ、2…トランスファーチャンバ、
2A…ロードロックチャンバ兼トランスファーチャン
バ、3…ロードロックチャンバ、11,31…保持機
構、20…移送機構、21…アーム支持部、22A,2
2B…駆動モータ、23A,23B…第1アーム、24
A,24B…第2アーム、L1 ,L2 …リンク機構

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被処理体の真空処理を行うプロセスチャ
    ンバと、 このプロセスチャンバに対応して設けられ、被処理体の
    外部からの取り入れおよび外部への取り出しを行うロー
    ドロックチャンバと、 このロードロックチャンバと前記プロセスチャンバとの
    間に設けられると共に、前記ロードロックチャンバと前
    記プロセスチャンバとの間で、被処理体を平面的に見て
    直線状に移送させるための移送機構を含むトランスファ
    ーチャンバとを備えたことを特徴とする真空プロセス装
    置。
  2. 【請求項2】 各々1基のプロセスチャンバ、トランス
    ファーチャンバおよびロードロックチャンバがこの順に
    一直線上に配置されていることを特徴とする請求項1記
    載の真空プロセス装置。
  3. 【請求項3】 前記ロードロックチャンバは、上下に積
    層された複数のチャンバにより構成されたことを特徴と
    する請求項1記載の真空プロセス装置。
  4. 【請求項4】 前記ロードロックチャンバは、上下に積
    層された2つのチャンバにより構成され、一方のチャン
    バで被処理体の加熱、他方のチャンバで被処理体の冷却
    を行うことを特徴とする請求項1記載の真空プロセス装
    置。
  5. 【請求項5】 前記トランスファーチャンバ内の移送機
    構はロードロックチャンバの各チャンバに対応するよう
    に上下に移動可能であることを特徴とする請求項4記載
    の真空プロセス装置。
  6. 【請求項6】 前記トランスファーチャンバ内の移送機
    構は、チャンバの底部からチャンバ内に突出されたアー
    ム支持部と、各基端側が前記アーム支持部上に回動可能
    に支持された一対の第1アームと、前記アーム支持部に
    内蔵され、第1アームを回動駆動する駆動手段と、各基
    端側が前記第1アームの先端側にそれぞれ回動可能に支
    持された一対の第2アームと、これら第2アームの先端
    側に前記第2アームがそれぞれ回動可能なように軸支さ
    れると共に前記第1アームの回動運動に連動して直線的
    に移動する保持ステージとを含むことを特徴とする請求
    項1記載の真空プロセス装置。
  7. 【請求項7】 2つの第2アームの前記保持ステージに
    対する各軸支部がそれぞれ前記保持ステージの移動方向
    の中央位置にあることを特徴とする請求項6記載の真空
    プロセス装置。
  8. 【請求項8】 前記保持ステージに移動方向に沿って所
    定の長さの一対の長溝が平行に形成されると共に、2つ
    の第2アームの前記保持ステージに対する各軸支部が前
    記保持ステージの長溝に沿って相対的にスライド可能で
    あり、かつ前記軸支部のスライド時に前記保持ステージ
    の変位を阻止する変位阻止部材を含むことを特徴とする
    請求項6記載の真空プロセス装置。
  9. 【請求項9】 前記トランスファーチャンバ内の移送機
    構は、チャンバの底部からチャンバ内に突出されたアー
    ム支持部と、基端側が前記アーム支持部上に回動可能に
    支持された第1アームと、前記アーム支持部に内蔵さ
    れ、第1アームを回動駆動する駆動手段と、基端側が前
    記第1のアームの先端側に回動可能に支持された第2ア
    ームと、この第2アームの先端側に前記第2のアームが
    回動可能なように軸支されると共に前記第1アームの回
    動運動に連動して直線的に移動する保持ステージとを含
    み、前記アーム支持部の第1アームの支持位置が前記保
    持ステージの移動方向の中心線からずれていることを特
    徴とする請求項1記載の真空プロセス装置。
  10. 【請求項10】 被処理体の真空処理を行うプロセスチ
    ャンバと、 このプロセスチャンバに対応して設けられ、被処理体の
    外部からの取り入れおよび外部への取り出しを行う機能
    を有すると共に、外部と前記プロセスチャンバとの間
    で、被処理体を平面的に見て直線状に移送させるための
    移送機構を含むトランスファーチャンバとを備えたこと
    を特徴とする真空プロセス装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2015515742A (ja) * 2012-02-29 2015-05-28 アプライド マテリアルズ インコーポレイテッドApplied Materials,Incorporated ロードロック構成内の除害・剥離処理チャンバ
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WO2023178949A1 (zh) * 2022-03-25 2023-09-28 厦门韫茂科技有限公司 一种连续式ald镀膜设备的腔体结构

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