JPH1132093A - π／４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 入力信号のシンボル識別点に対し非同期サン
プリングを行なう回路構成で、π／４ＤＱＰＳＫ変調信
号の変調精度を高精度に測定する。 【解決手段】 π／４ＤＱＰＳＫ方式で変調された被測
定信号をＡ／Ｄ変換器10により、シンボル識別点に対し
て非同期にサンプリングして測定対象のディジタル時系
列データＡiに変換し、時系列データＡiから被測定信号
のシンボル点位置を算出手段12で算出する。被測定信号
のシンボル識別点位置とサンプリングタイミングのずれ
Δtを算出手段13で算出し、時系列データＡiにΔt分の
位相変換を手段14で行ない、シンボル識別点位置に同期
したタイミングでサンプリングした時系列データＢiに
変換する。変調精度は時系列データＢiを基に演算手段1
5で算出する。以上の工程から被測定信号のシンボル識
別点位置と非同期サンプリングのずれに影響されず高精
度の測定を行なうことが可能となり、かつ回路構成を単
純にできる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、π／４ＤＱＰＳＫ
変調信号の変調を高精度に測定するためのπ／４ＤＱＰ
ＳＫ変調精度測定装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】従来、この種の変調精度測定装置として
は、図７，図８に示すようなものがあった。図７は従来
の変調精度測定装置の構成を示すブロック図、図８は従
来の他の変調精度測定装置の構成を示すブロック図であ
る。例えば類似したものに、図７の装置には特開平７−
235956号公報が、図８の装置には特開平７−297859号公
報がある。

【０００３】以下、図７および図８を参照して、従来の
変調精度測定装置の構成を説明する。まず図７におい
て、30は入力した被測定信号Ａを所定の周期でサンプリ
ングしてＡ／Ｄ変換するＡ／Ｄ変換器、31はＡ／Ｄ変換
によりディジタルデータに変換された被測定信号Ａの波
形を表すディジタル時系列データＡi(以下、時系列デー
タＡiという)を記憶する波形メモリであり、Ａ／Ｄ変換
器30と波形メモリ31で波形取り込み手段301を構成す
る。32は被測定信号Ａのシンボル識別点位置Ｂを抽出す
るシンボル識別点抽出手段、33はシンボル識別点抽出手
段32で算出したシンボル識別点位置Ｂに同期したサンプ
リングをＡ／Ｄ変換器30に対してタイミング制御するサ
ンプリングタイミング制御手段、34はシンボル識別点位
置Ｂから被測定信号Ａの時系列データＡiを処理して被
測定信号の変調精度を算出する変調精度演算手段であ
る。

【０００４】また図８は図７の構成から、サンプリング
タイミング制御手段33を省略し、変調精度の演算は時系
列データＡiから算出したシンボル識別点位置Ｂに最も
近いサンプル点Ａ0を基に算出するＡ0算出手段35を有す
るようにした構成であり、その他の構成要素は図７に示
すものと同様である。

【０００５】次に図７，図８を参照して、上記従来の変
調精度測定装置の動作を説明する。まず図７の装置で
は、被測定信号ＡをＡ／Ｄ変換器30により時系列データ
Ａiに変換して波形メモリ31に格納する。この際にシン
ボル識別点抽出手段32では被測定信号のシンボル識別点
の抽出を行ない、サンプリングタイミング制御手段33で
Ａ／Ｄ変換器30のサンプリングタイミングをシンボル識
別点に同期させる。変調精度演算手段34では、シンボル
識別点抽出手段32からシンボル識別点位置Ｂの情報を得
て、時系列データＡiから変調精度を算出し算出値Ｍを
出力する。

【０００６】図８の装置では、Ａ／Ｄ変換器30は被測定
信号Ａのシンボル識別点に非同期でサンプリングを行な
い、時系列データＡiに変換して波形メモリ31に格納す
る。Ａ0算出手段35では、時系列データＡiからシンボル
識別点位置Ｂに最も近いサンプル点Ａ0を求め、変調精
度演算手段34では、Ａ0と時系列データＡiから変調精度
を算出し算出値Ｍを出力する。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】π／４ＤＱＰＳＫ変調
信号の変調精度は、被測定信号のシンボル識別点を演算
することによって得られる。しかしながら上記図７に示
す従来の装置のような被測定信号のシンボル識別点に同
期した波形取り込み手段は、実現が技術的にかなり困
難、かつ装置の回路規模が大きくなるという問題があっ
た。

【０００８】一方、図８に示す装置において簡単な構成
で実現できるが、被測定信号のシンボル識別点とＡ／Ｄ
変換器のサンプリングタイミングのずれが測定精度を劣
化させる。また、十分な測定精度を得るためには高いサ
ンプリングレートが必要であり、波形メモリの容量が増
大するという問題があった。

【０００９】本発明は、上記従来の問題を解決するため
になされたもので、簡単な回路構成で高精度に被測定信
号の変調精度を測定することができるπ／４ＤＱＰＳＫ
変調精度測定装置を提供することを目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】この目的を達成するため
に、本発明のπ／４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置は、波
形取り込み手段が、被測定信号をＡ／Ｄ変換器によりシ
ンボル識別点に対して非同期にサンプリングして時系列
データＡiを得る。シンボル識別点位置算出手段は、前
記時系列データＡiから被測定信号のシンボル識別点位
置を算出する。サンプリングのずれΔt算出手段は、被
測定信号のシンボル識別点とＡ／Ｄ変換器のサンプリン
グタイミングのずれΔtを算出する。位相変換手段は、
時系列データＡiをΔt分位相変換して、シンボル識別点
に同期した時系列データＢiを算出する。変調精度演算
手段は、時系列データＢiから変調精度を算出する。

【００１１】本発明によれば、被測定信号のシンボル識
別点と非同期サンプリングのずれに影響されず高精度の
測定を行なうことができる。

【００１２】

【発明の実施の形態】本発明の請求項１に記載の発明
は、π／４ＤＱＰＳＫ方式で変調された被測定信号を、
Ａ／Ｄ変換器によりサンプリングして時系列データＡi
に変換する波形取り込み手段と、前記時系列データＡi
から被測定信号のシンボル識別点位置を算出するシンボ
ル識別点位置算出手段と、被測定信号のシンボル識別点
とサンプリングタイミングのずれΔtを算出するΔt算出
手段と、前記時系列データＡiを前記Δt分だけ位相変換
した時系列データＢiを算出する位相変換手段と、得ら
れた時系列データＢiから変調精度を算出する変調精度
演算手段を備えた構成としたものである。

【００１３】これは前記波形取り込み手段が被測定信号
をＡ／Ｄ変換器により被測定信号のシンボル識別点に対
して非同期にサンプリングして時系列データＡiに変換
し、シンボル識別点位置算出手段が時系列データＡiか
ら被測定信号のシンボル識別点位置を算出し、Δt算出
手段が被測定信号のシンボル識別点とＡ／Ｄ変換器のサ
ンプリングタイミングのずれΔtを算出し、位相変換手
段が時系列データＡiをΔt分位相変換した時系列データ
Ｂiを算出し、変調精度演算手段が時系列データＢiから
変調精度を算出する。

【００１４】本発明の請求項２に記載の発明は、π／４
ＤＱＰＳＫ方式で変調された被測定信号を、Ａ／Ｄ変換
器によりサンプリングして時系列データＡiに変換する
波形取り込み手段と、前記時系列データＡiから被測定
信号のシンボル識別点に最も近いサンプル点Ａ0を算出
するＡ0算出手段と、前記サンプル点Ａ0とその近傍のＮ
点の変調精度を算出する変調精度演算手段と、前記サン
プル点Ａ0とその近傍のＮ点の変調精度の曲線近似から
被測定信号のシンボル識別点の変調精度を算出する変調
精度近似手段を備えた構成としたものである。

【００１５】これは前記波形取り込み手段が被測定信号
をＡ／Ｄ変換器により被測定信号のシンボル識別点に対
して非同期にサンプリングして時系列データＡiに変換
し、Ａ0算出手段が時系列データＡiから被測定信号のシ
ンボル識別点に最も近いサンプル点Ａ0を求め、変調精
度演算手段がサンプル点Ａ0とその近傍のＮ点の変調精
度を算出し、変調精度近似手段が、サンプル点Ａ0とそ
の近傍のＮ点の変調精度の曲線近似から被測定信号のシ
ンボル識別点の変調精度を算出する。以下、本発明の各
実施の形態について図１ないし図６を用いて説明する。

【００１６】（実施の形態１）図１は本発明の実施の形
態１におけるπ／４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置の構成
を示すブロック図である。図１に示すπ／４ＤＱＰＳＫ
変調精度測定装置において、10は入力した被測定信号Ａ
を所定の周期でサンプリングしてディジタル時系列デー
タＡiに変換するＡ／Ｄ変換器、11はＡ／Ｄ変換器10に
よりディジタル時系列データ(以下、時系列データＡiと
いう)に変換された被測定信号の波形を記憶する波形メ
モリであり、Ａ／Ｄ変換器10と波形メモリ11で波形取り
込み手段101を構成する。12は前記時系列データＡiから
シンボル識別点位置Ｂを算出するシンボル識別点位置算
出手段、13は被測定信号のシンボル識別点位置とサンプ
リングタイミングとのずれΔtを算出するΔt算出手段、
14は時系列データＡiを算出したΔt分だけ位相変換を行
ない、シンボル識別点に同期サンプリングしたディジタ
ル時系列データＢi(以下、時系列データＢiという)に変
換する位相変換手段、15は時系列データＢiとシンボル
識別点位置Ｂから変調精度を算出する変調精度演算手段
である。

【００１７】次に上記実施の形態１の動作について図２
及び図３を参照して説明する。図２は波形取り込み手段
101によって被測定信号Ａをサンプリングしたときの時
系列データＡiを示す図であり、図３は位相変換手段14
で位相変換した時系列データＢiを示す図である。

【００１８】まず、Ａ／Ｄ変換器10は被測定信号Ａを時
系列データＡiに変換して波形メモリ11に格納する。こ
のとき、Ａ／Ｄ変換器10のサンプリングタイミングは被
測定信号のシンボル識別点に対して非同期であり、図２
に示すように被測定信号Ａのシンボル識別点(黒丸印部
分)とＡ／Ｄ変換器10のサンプリングタイミング(矢印方
向の破線部分)にはΔtのずれがある。

【００１９】次に、シンボル識別点位置算出手段12によ
って時系列データＡi(白丸印部分)から被測定信号のシ
ンボル識別点位置Ｂを算出し、Δt演算手段13によって
被測定信号のシンボル識別点とサンプリングタイミング
とのずれΔtを求める。

【００２０】さらに、位相変換手段14によって時系列デ
ータＡiを算出したΔt分だけ位相変換を行ない、時系列
データＢiを生成する。ここで、時系列データＢiは、図
３に示すように被測定信号Ａのシンボル識別点(黒丸印
部分)に同期したタイミングでサンプリングしたものと
なる。最後に、変調精度演算手段15で時系列データＢi
(四角形印部分)から変調精度を算出する。

【００２１】このような本実施の形態１は、波形取り込
み手段が被測定信号のシンボル識別点に非同期にサンプ
リングする構成でも、シンボル識別点とサンプリングタ
イミングのずれに影響されずに簡単な構成で、高精度に
変調精度を測定することができる。

【００２２】（実施の形態２）図４は本発明の実施の形
態２におけるπ／４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置の構成
を示すブロック図である。図４に示すπ／４ＤＱＰＳＫ
変調精度測定装置において、20は入力した被測定信号Ａ
を所定の周期でサンプリングして時系列データＡiに変
換するＡ／Ｄ変換器、21はＡ／Ｄ変換器20により時系列
データＡiに変換された被測定信号の波形を記憶する波
形メモリであり、Ａ／Ｄ変換器20と波形メモリ21で波形
取り込み手段201を構成する。22は時系列データＡiから
被測定信号のシンボル識別点位置に最も近いサンプル点
Ａ0を算出するＡ0算出手段、23はサンプル点Ａ0とその
近傍のＮ点の変調精度を算出する変調精度演算手段、24
はサンプル点Ａ0とその近傍のＮ点の変調精度の曲線近
似から被測定信号のシンボル識別点の変調精度を算出す
る変調精度近似手段である。

【００２３】次に上記実施の形態２の動作について図５
及び図６を参照して説明する。図５は波形取り込み手段
201によって被測定信号Ａをサンプリングしたときの時
系列データＡiの被測定信号のシンボル識別点位置Ｂに
最も近いサンプル点Ａ0とその近傍のＮ点のデータをＩ
／Ｑ座標に表した図であり、図６はシンボル識別点位置
Ｂに最も近いサンプル点Ａ0とその近傍のＮ点の変調精
度算出値を示す図である。

【００２４】まず、Ａ／Ｄ変換器20は被測定信号Ａを時
系列データＡiに変換して波形メモリ21に格納する。こ
のとき、Ａ／Ｄ変換器のサンプルタイミングは被測定信
号のシンボル識別点位置Ｂに対して非同期であり、時系
列データＡiを復調したものは、図５に示すように被測
定信号のシンボル識別点位置Ｂを復調したものからずれ
が生じる。

【００２５】次に、Ａ0算出手段22によって時系列デー
タＡiから被測定信号のシンボル識別点位置Ｂに最も近
いサンプル点Ａ0を算出し、変調精度演算手段23によっ
てサンプル点Ａ0とその近傍のＮ点の変調精度値…Ｍ(-
1)，Ｍ0，Ｍ(1)，…を算出する。算出した変調精度値…
Ｍ(-1)，Ｍ0，Ｍ(1)，…は、図６に示すように被測定信
号のシンボル識別点から離れるに連れて算出した変調精
度値は大きくなる。最後に、変調精度近似手段24によっ
て、算出した変調精度値…Ｍ(-1)，Ｍ0，Ｍ(1)，…を曲
線近似し局性の最小値を求め、被測定信号のシンボル識
別点の変調精度値Ｍとする。

【００２６】このような本実施の形態２は、被測定信号
のシンボル識別点位置における変調精度値はシンボル識
別点位置近傍点の変調精度値の最小点を示すことを利用
し、時系列データＡiから推定したシンボル識別点に最
も近い点Ａ0とその近傍Ｎ点の変調精度算出結果の曲線
近似から被測定信号のシンボル識別点位置の変調精度値
Ｍを近似算出することによって、非同期サンプリングの
サンプリングのずれを補償した測定値を算出することが
可能となり、実施の形態１と同様の効果が得られる。

【００２７】なお、本各実施の形態におけるπ／４ＤＱ
ＰＳＫ変調精度測定装置はハードウェアまたはソフトウ
ェアのいずれでも実現することが可能である。

【００２８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によるπ／
４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置は、特に非同期サンプリ
ングにおける被測定信号のシンボル識別点位置とサンプ
リングタイミングとのずれΔtを補償する手段を備えた
ことによって、非同期サンプリングのサンプリングのず
れに影響されず高精度の測定を行なうことが可能とな
り、かつ回路構成を単純にできる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の実施の形態１におけるπ／４ＤＱＰＳ
Ｋ変調精度測定装置の構成を示すブロック図である。

【図２】図１におけるディジタル時系列データＡiを示
す図である。

【図３】図１におけるディジタル時系列データＢiを示
す図である。

【図４】本発明の実施の形態２におけるπ／４ＤＱＰＳ
Ｋ変調精度測定装置の構成を示すブロック図である。

【図５】図４におけるディジタル時系列データＡiのＩ
／Ｑ座標表現を示す図である。

【図６】図４におけるシンボル識別点に最も近い点Ａ0
とその近傍Ｎ点の変調精度算出値を示す図である。

【図７】従来例における変調精度測定装置の構成を示す
ブロック図である。

【図８】従来例における変調精度測定装置の構成を示す
ブロック図である。

【符号の説明】

10，20…Ａ／Ｄ変換器、 11，21…波形メモリ、 12…
シンボル識別点位置算出手段、 13…Δt算出手段、 1
4…位相変換手段、 15，23…変調精度演算手段、 22
…ＡO算出手段、 24…変調精度近似手段、 101，201
…波形取り込み手段。

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 π／４ＤＱＰＳＫ方式で変調された被測
   定信号を、Ａ／Ｄ変換器により被測定信号のシンボル識
   別点に対して非同期にサンプリングしてディジタル時系
   列データＡiに変換する波形取り込み手段と、前記ディ
   ジタル時系列データＡiから被測定信号のシンボル識別
   点位置を算出するシンボル識別点位置算出手段と、被測
   定信号のシンボル識別点とサンプリングタイミングのず
   れΔtを算出するΔt算出手段と、前記ディジタル時系列
   データＡiを前記Δt分だけ位相変換した時系列データＢ
   iを算出する位相変換手段と、得られた時系列データＢi
   から変調精度を算出する変調精度演算手段を備えたこと
   を特徴とするπ／４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装置。
2. 【請求項２】 π／４ＤＱＰＳＫ方式で変調された被測
   定信号を、Ａ／Ｄ変換器により被測定信号のシンボル識
   別点に対して非同期にサンプリングしてディジタル時系
   列データＡiに変換する波形取り込み手段と、前記ディ
   ジタル時系列データＡiから被測定信号のシンボル識別
   点に最も近いサンプル点Ａ0を算出するＡ0算出手段と、
   前記サンプル点Ａ0とその近傍のＮ点の変調精度を算出
   する変調精度演算手段と、前記サンプル点Ａ0とその近
   傍のＮ点の変調精度の曲線近似から被測定信号のシンボ
   ル識別点の変調精度を算出する変調精度近似手段を備え
   たことを特徴とするπ／４ＤＱＰＳＫ変調精度測定装
   置。