JPH11310491A - 結晶引上装置 - Google Patents

結晶引上装置

Info

Publication number
JPH11310491A
JPH11310491A JP11084014A JP8401499A JPH11310491A JP H11310491 A JPH11310491 A JP H11310491A JP 11084014 A JP11084014 A JP 11084014A JP 8401499 A JP8401499 A JP 8401499A JP H11310491 A JPH11310491 A JP H11310491A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
protective gas
crystal pulling
wall
crystal
replenishing pipe
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP11084014A
Other languages
English (en)
Inventor
Burkhard Altekrueger
アルテクリューガー ブルクハルト
Joachim Aufreiter
アウフライター ヨアヒム
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Leybold Systems GmbH
Original Assignee
Leybold Systems GmbH
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Leybold Systems GmbH filed Critical Leybold Systems GmbH
Publication of JPH11310491A publication Critical patent/JPH11310491A/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C30CRYSTAL GROWTH
    • C30BSINGLE-CRYSTAL GROWTH; UNIDIRECTIONAL SOLIDIFICATION OF EUTECTIC MATERIAL OR UNIDIRECTIONAL DEMIXING OF EUTECTOID MATERIAL; REFINING BY ZONE-MELTING OF MATERIAL; PRODUCTION OF A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; SINGLE CRYSTALS OR HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; AFTER-TREATMENT OF SINGLE CRYSTALS OR A HOMOGENEOUS POLYCRYSTALLINE MATERIAL WITH DEFINED STRUCTURE; APPARATUS THEREFOR
    • C30B15/00Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method
    • C30B15/02Single-crystal growth by pulling from a melt, e.g. Czochralski method adding crystallising materials or reactants forming it in situ to the melt

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Crystals, And After-Treatments Of Crystals (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【解決手段】 結晶ブロックの製造のための結晶引上装
置が補充管7を備えており、この補充管を介して顆粒珪
素17が、容器1の内部に配置されていて熔融珪素3を
充たしたるつぼ2内へ達する。この補充管7は内壁18
と外壁19との間に環状室20を備えており、この環状
室は補充管7の下方の端面で開いており、かつ保護ガス
の供給のために保護ガス源13に接続されている。 【効果】 本発明によれば、補充管の環状室及びその
内部を流れるガスが補充管の内壁面の温度を従来公知の
補充管の場合に比して低め、これにより、補充材料の焼
け付きの危険が回避される。それと同時に、この環状室
にガスを通流することにより、補充管の出口の周りにガ
ス幕が形成され、このガス幕が引上室内への補充材料の
侵入を阻止する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は結晶ブロックを製造
するための結晶引上装置であって、結晶ブロックを形成
する熔融可能な材料のためのるつぼと、顆粒状の熔融可
能な材料を供給すべくるつぼ内へ案内された補充管とを
備えている形式のもの関する。
【0002】
【従来の技術】上述形式の結晶引上装置はチョクラルス
キー法により半導体材料から結晶ブロックを引上げるた
めに公知であり、かつ多くの場合、結晶ブロックの引上
げ中に顆粒状の熔融可能な材料を常時供給することで連
続的に作動する。公知技術の例としてはドイツ連邦共和
国特許第2821481号明細書が参照される。しか
し、同様な引上装置が半連続的なチョクラルスキー引上
法のためにも利用される。補充管はるつぼと同様にガラ
ス状水晶から成っている。
【0003】この種の珪素引上装置の運転時には、補充
管の閉塞がチェックされなければならない。このことの
ためには装置の停止が必要であり、これは比較的高いコ
ストの原因となる。公知結晶引上装置の別の欠点は、微
細なフラクションがるつぼ内の熔融物の液面へ衝突した
際にこのフラクションが熔融されずに液面上で“おど
り”、これにより熔融物の上方の引上室内に侵入してこ
れを汚すことにある。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】本発明の課題は、補充
管内の閉塞の危険が可能な限りわずかとなり、かつ微粒
状のフラクションが液面の上方の引上室内に侵入しない
ように、冒頭に記載した形式の結晶引上装置を形成する
ことにある。
【0005】
【課題を解決するための手段】この課題は本発明によれ
ば、請求項1に記載したように、補充管が内壁と外壁と
の間に環状室を備えており、この環状室が、補充管の下
方の端面で開いており、かつ保護ガスの供給のために保
護ガス源に接続されていることにより解決される。
【0006】この課題の本発明による解決手段は、補充
材料内の比較的細かなダスト状の粒子が補充管の壁に溶
着するという認識に立脚している。これらのダスト状の
粒子は粘着膜を形成し、その後この粘着膜に顆粒の比較
的大きなフラクションが付着して熔融する。比較的細か
なフラクションが溶着するこの危険は、冒頭に挙げたド
イツ連邦共和国特許第2821481号明細書に記載さ
れているような加熱される補充管では格別に大きい。
【0007】
【発明の効果】本発明によれば、環状室及びその内部を
流れるガスが補充管の内壁面の温度を従来公知の補充管
の場合に比して低め、これにより、補充材料の焼け付き
の危険が回避される。それと同時に、補充管のこの環状
室にガスを通流することにより、補充管の出口の周りに
ガス幕が形成され、このガス幕が引上室内への補充材料
の侵入を阻止する。
【0008】一般に、結晶引上装置はアルゴンを保護ガ
スとして作動するため、環状室がアルゴンのための保護
ガス源に接続されていると、補充管の出口にガス幕を形
成するための費用は特に低い。
【0009】環状室がヘリウムのための保護ガス源に接
続されていると、補充管が特別効果的に冷却される。
【0010】補充管の内壁が環状室の側へ向かって少な
くとも下方の領域内で外側につや消し研磨面を備えてい
ると、補充管の内壁の温度のさらなる低下が得られる。
【0011】容器の外部で補充管の上流に微細ダスト分
離器が配置されていると、補充管の閉塞の危険が効果的
に防止される。この種の微細ダスト分離器により、顆粒
が補充管内に達するのに先立って、顆粒に付着している
微細なダストを分離することができ、その結果、閉塞の
そもそもの原因が排除される。それと同時に、この微細
ダスト分離器により引上室内でのダスト発生の危険が軽
減される。
【0012】微細ダスト分離器が熔融可能な材料に対し
て不活性な保護ガスにより作動する空気力的なセパレー
タとして形成されていると、微細ダスト分離器が特別簡
単に形成される。
【0013】微細ダスト分離器は送風セパレータとして
形成されることができ、この送風セパレータ内には比較
的長い距離にわたり渦層が形成される。このことによ
り、顆粒相互の摩擦並びに顆粒と送風セパレータの壁と
の摩擦により微細ダスト分離器内にダストが形成される
危険が生じる。しかし、本発明の別の構成にもとづき、
微細ダスト分離器が、熔融可能な材料を通過させるため
のリング開口の周りに配置されていて保護ガスを供給す
るためのリングノズルと、このリングノズルの上方にこ
れと同軸的に配置されていて保護ガスを吸引するための
第2のリングノズルとを互いに上下に備えていると、こ
のような付加的なダスト形成の危険が回避される。この
ような微細ダスト分離器が有する付加的な利点は、微細
ダスト分離器が極めてコンパクトに形成され、従ってわ
ずかなスペースしか必要としないことにある。
【0014】珪素ブロックのための結晶引上装置が一般
にはアルゴンを保護ガスとして作動するため、微細ダス
ト分離器も作動のためにアルゴンのための保護ガス源に
接続されるのが有利である。その場合、るつぼを備えた
容器のための保護ガス源からわずかな量のアルゴンを分
流させることができる。
【0015】微細ダスト分離器が作動のためにヘリウム
のための保護ガス源に接続されていると、熔融物に供給
される顆粒は微細ダスト分離器を通過する際に同時に、
供給されるガスにより冷却される。
【0016】補充管の内壁により制限された搬送路が掃
気ガス流を発生させるためにその上側で同様に保護ガス
源に接続されていると、補充管内での微細なフラクショ
ンの焼け付きの危険をさらに軽減させることができる。
【0017】
【発明の実施の形態】本発明では種々の実施例が可能で
あるが、本発明の基本原理をさらに明確にするために1
実施例を図面に示して以下に説明する。
【0018】図1は閉じた容器1を示し、この容器内に
は、ガラス状水晶から成るるつぼ2が配置されている。
このるつぼ2内には熔融珪素3が存在しており、この熔
融珪素3から引上室22内で結晶ブロック4が引上装置
5により引上げられる。このことのために、結晶ブロッ
ク4は縦軸線を中心として回転させられ、結晶の成長と
同じ速度で均一に引上げられる。
【0019】容器1の外部には顆粒貯蔵器6が配置され
ており、この顆粒貯蔵器から補充管7を介して顆粒珪素
が熔融珪素3に供給される。微細ダスト分離器8が容器
1の外部で容器1と顆粒貯蔵器6との間に配置されてい
る。添加材料貯蔵器9から補充管7を介して添加材料が
熔融珪素3に供給される。
【0020】図2に示す原理図は微細ダスト分離器8及
び補充管7の構成を明確にする。微細ダスト分離器8は
リング開口10を備えており、このリング開口は直接互
いに上下に配置された2つのリングノズル11,12に
より囲まれている。リングノズル11,12はアルゴン
のための保護ガス源13に接続されており、これによ
り、この保護ガス源を介してアルゴンがリング開口10
内へ流入することができ、このアルゴンはリングノズル
11の直接上方でリングノズル12を介して吸引され
る。そのことのために、装置は前置されたダストフィル
タ15を備えたポンプ14を有している。図2にはコン
ベヤ16が略示されており、このコンベヤにより、顆粒
として形成された補充材料が微細ダスト分離器8に供給
され、そこからリング開口10内へ落下する。リング開
口10の内部では、アルゴンにより形成されたガスクッ
ションにより、顆粒珪素17に付着したダストがこの顆
粒珪素17から除去され、その結果、著しくダストの少
ない顆粒珪素17が補充管7内へ達し、この補充管を介
して熔融珪素3内へ落下する。
【0021】補充管7は二重壁状に形成されている。補
充管7は内壁18と外壁19との間に環状室20を備え
ており、この環状室は補充管7の下方の端面で開いてお
り、かつ保護ガス源13からの保護ガスの供給に役立て
られる。補充管7の環状室20が補充管7の下方の端面
で開いていることにより、ガス幕21が補充管7から流
出し、これにより、補充管7を通って落下するダスト粒
子が側方へ転移して引上室22内に侵入することが阻止
される。
【0022】図2から分かるように、補充管7の内壁1
8により制限された搬送路もまた、掃気ガス流の形成の
ためにその上側で同様に保護ガス源13に接続されるこ
とができる。さらに、図2から分かるように、補充管7
の内壁18及び外壁19は環状室20の側へ向かって少
なくとも下方の領域内で外側に、熱放射を軽減するため
につや消し研磨面23,24を備えることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明にもとづく結晶引上装置の鉛直断面図で
ある。
【図2】結晶引上装置の補充管の領域の略示詳細図であ
る。
【符号の説明】
1 容器、 2 るつぼ、 3 熔融珪素、 4 結晶
ブロック、 5 引上装置、 6 顆粒貯蔵器、 7
補充管、 8 微細ダスト分離器、 9 添加材料貯蔵
器、 10 リング開口、 11,12 リングノズ
ル、 13 アルゴンのための保護ガス源、 14 ポ
ンプ、 15 ダストフィルタ、 16コンベヤ、 1
7 顆粒珪素、 18 内壁、 19 外壁、 20
環状室、21 ガス幕、 22 引上室、 23,24
つや消し研磨面

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 結晶ブロックを製造するための結晶引上
    装置であって、結晶ブロックを形成する熔融可能な材料
    のためのるつぼと、顆粒状の熔融可能な材料を供給すべ
    くるつぼ内へ案内された補充管とを備えている形式のも
    のにおいて、 補充管(7)が内壁(18)と外壁(19)との間に環
    状室(20)を備えており、この環状室が、補充管
    (7)の下方の端面で開いており、かつ保護ガスの供給
    のために保護ガス源(13)に接続されていることを特
    徴とする結晶引上装置。
  2. 【請求項2】 環状室(20)がアルゴンのための保護
    ガス源に接続されている請求項1記載の結晶引上装置。
  3. 【請求項3】 環状室(20)がヘリウムのための保護
    ガス源に接続されている請求項1記載の結晶引上装置。
  4. 【請求項4】 補充管(7)の内壁(18)及び又は外
    壁(19)が環状室(20)の側へ向かって少なくとも
    下方の領域内で外側につや消し研磨面(23,24)を
    備えている請求項1から3までのいずれか1項記載の結
    晶引上装置。
  5. 【請求項5】 容器(1)の外部で補充管(7)の上流
    に微細ダスト分離器(8)が設けられている請求項1か
    ら4までのいずれか1項記載の結晶引上装置。
  6. 【請求項6】 微細ダスト分離器(78)が、熔融可能
    な材料に対して不活性なガスにより作動する空気力式セ
    パレータとして形成されている請求項5記載の結晶引上
    装置。
  7. 【請求項7】 微細ダスト分離器(8)が、熔融可能な
    材料を通過させるためのリング開口(10)の周りに配
    置されていて保護ガスを供給するためのリングノズル
    (11)と、このリングノズルの上方にこれと同軸的に
    配置されていて保護ガスを吸引するための第2のリング
    ノズル(12)とを互いに上下に備えている請求項5又
    は6記載の結晶引上装置。
  8. 【請求項8】 微細ダスト分離器(8)が作動のために
    アルゴンのための保護ガス源(13)に接続されている
    請求項5から7までのいずれか1項記載の結晶引上装
    置。
  9. 【請求項9】 微細ダスト分離器(8)が作動のために
    ヘリウムのための保護ガス源(13)に接続されている
    請求項5から8までのいずれか1項記載の結晶引上装
    置。
  10. 【請求項10】 補充管(7)の内壁(18)により制
    限された搬送路が、掃気ガス流を発生させるためにその
    上側で同様に保護ガス源(13)に接続されている請求
    項1から9までのいずれか1項記載の装置。
JP11084014A 1998-03-26 1999-03-26 結晶引上装置 Pending JPH11310491A (ja)

Applications Claiming Priority (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
DE19813453A DE19813453A1 (de) 1998-03-26 1998-03-26 Kristall-Ziehanlage
DE19813453.3 1998-03-26

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11310491A true JPH11310491A (ja) 1999-11-09

Family

ID=7862482

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11084014A Pending JPH11310491A (ja) 1998-03-26 1999-03-26 結晶引上装置

Country Status (5)

Country Link
US (1) US6277192B1 (ja)
EP (1) EP0945528A1 (ja)
JP (1) JPH11310491A (ja)
KR (1) KR19990076564A (ja)
DE (1) DE19813453A1 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013184858A (ja) * 2012-03-08 2013-09-19 Shin Etsu Handotai Co Ltd リチャージ管及びリチャージ方法

Families Citing this family (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4345624B2 (ja) * 2004-09-21 2009-10-14 株式会社Sumco チョクラルスキー法による原料供給装置および原料供給方法
US20070056504A1 (en) * 2005-09-12 2007-03-15 Rexor Corporation Method and apparatus to produce single crystal ingot of uniform axial resistivity
KR20150106204A (ko) 2014-03-11 2015-09-21 (주)기술과가치 잉곳 제조 장치
KR20150107540A (ko) 2014-03-14 2015-09-23 (주)기술과가치 잉곳 제조 장치
CN114318501A (zh) * 2021-12-30 2022-04-12 江苏协鑫硅材料科技发展有限公司 用于多次加料直拉单晶工艺的加料装置、方法

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5933552B2 (ja) * 1982-07-08 1984-08-16 株式会社東芝 結晶成長装置
DE3737051A1 (de) * 1987-10-31 1989-05-11 Leybold Ag Vorrichtung fuer die kontinuierliche zufuhr von schmelzgut
US4968380A (en) * 1989-05-24 1990-11-06 Mobil Solar Energy Corporation System for continuously replenishing melt
JPH038791A (ja) * 1989-06-02 1991-01-16 Nkk Corp シリコン単結晶の製造方法及び製造装置
AU632886B2 (en) * 1990-01-25 1993-01-14 Ebara Corporation Melt replenishment system for dendritic web growth
DE4106589C2 (de) 1991-03-01 1997-04-24 Wacker Siltronic Halbleitermat Kontinuierliches Nachchargierverfahren mit flüssigem Silicium beim Tiegelziehen nach Czochralski
JP3085567B2 (ja) * 1993-10-22 2000-09-11 コマツ電子金属株式会社 多結晶のリチャージ装置およびリチャージ方法
US5580171A (en) * 1995-07-24 1996-12-03 Lim; John C. Solids mixing, storing and conveying system for use with a furnace for single crystal silicon production
US5762491A (en) * 1995-10-31 1998-06-09 Memc Electronic Materials, Inc. Solid material delivery system for a furnace
JP3484870B2 (ja) * 1996-03-27 2004-01-06 信越半導体株式会社 連続チャージ法によるシリコン単結晶の製造方法およびドーパント供給装置

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2013184858A (ja) * 2012-03-08 2013-09-19 Shin Etsu Handotai Co Ltd リチャージ管及びリチャージ方法

Also Published As

Publication number Publication date
US6277192B1 (en) 2001-08-21
DE19813453A1 (de) 1999-09-30
EP0945528A1 (de) 1999-09-29
KR19990076564A (ko) 1999-10-15

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2872807B2 (ja) 溶融物の連続補充システム
JP5398074B2 (ja) 石英ガラスルツボの製造方法および製造装置
US5098229A (en) Source material delivery system
JP3115335B2 (ja) 融液補給装置
US9435053B2 (en) Apparatus for manufacturing ingot
JPS5919913B2 (ja) 連続式半導体結晶成長装置
JPH0825768B2 (ja) オプチカル ファイバ プリフォ−ム管から反応生成物を排出する方法および装置
JPH11310491A (ja) 結晶引上装置
JP7440104B2 (ja) 金属粉末を生成するためのアセンブリ及び方法
JPH11322484A (ja) 結晶引上装置
JP4092722B2 (ja) 石英ルツボ製造用加熱炉
US5383946A (en) Optical fiber production method and production apparatus thereof
JP3135565B2 (ja) 原材料の供給装置
JP4302399B2 (ja) 球状のデバイスのためのジェットシステム
US5419462A (en) Apparatus for recharging a heated receptacle with particulate matter at a controlled velocity
JPH01148780A (ja) 粉粒体供給装置
CN116161858A (zh) 一种玻璃微球的成球装置及方法
JPH0771880A (ja) 金属溶湯保持炉
CA2015524A1 (en) Clean window for processing enclosure
JP2016108650A (ja) ガスアトマイズ装置および金属粉末の製造方法
JP2001039798A (ja) シリコン単結晶引上げ装置の熱遮蔽部材
JP4366852B2 (ja) ガラス溶融炉の原料供給装置
JPH0579615A (ja) 流動層式焼却炉
IE64958B1 (en) Device for transferring objects against the current of a gas stream
KR200143462Y1 (ko) 용해로용 용융물 이송로