JPH11308092A - レベルシフト回路及びこれを備える不揮発性メモリ - Google Patents

レベルシフト回路及びこれを備える不揮発性メモリ

Info

Publication number
JPH11308092A
JPH11308092A JP11475098A JP11475098A JPH11308092A JP H11308092 A JPH11308092 A JP H11308092A JP 11475098 A JP11475098 A JP 11475098A JP 11475098 A JP11475098 A JP 11475098A JP H11308092 A JPH11308092 A JP H11308092A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
negative voltage
channel transistor
signal
level
transistor
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP11475098A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3176339B2 (ja
Inventor
Yoshitaka Soma
義孝 相馬
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Original Assignee
NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd filed Critical NEC IC Microcomputer Systems Co Ltd
Priority to JP11475098A priority Critical patent/JP3176339B2/ja
Publication of JPH11308092A publication Critical patent/JPH11308092A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3176339B2 publication Critical patent/JP3176339B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Read Only Memory (AREA)
  • Logic Circuits (AREA)
  • Dram (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】トランジスタの所要ジャンクション耐圧を低減
し高耐圧構造のトランジスタを不要とするとともに、負
電圧発生回路の活性時非活性時と無関係に入力信号とし
て任意の電圧レベルを印加可能とする。 【解決手段】負電圧制御信号Cの供給に応答して活性化
し負電圧VBB1の負電圧信号VB1を出力する負電圧
発生回路1と、負電圧信号VB1の供給時に入力信号I
Nの供給に応答して負電圧レベルVB1の出力信号LO
を出力し、負電圧発生手段の非活性化時に入力信号IN
と同一レベルの出力信号LOを出力するよう動作する電
圧変換回路10Bを備える。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明はレベルシフト回路及
び不揮発性メモリに関し、特に不揮発性メモリであるフ
ラッシュEEPROMの消去書き込み動作制御方式の1
つであるゲート負電圧方式の制御電圧のレベルシフトを
行うレベルシフト回路及びこれを備える不揮発性メモリ
に関する。
【0002】
【従来の技術】代表的な不揮発性メモリである、フラッ
シュEEPROMメモリにおいては、大記憶容量であ
り、かつ単一電源で動作可能とし、さらに書換可能回数
を多くするために、消去時にはコントロールゲートに負
電圧を印加するゲート負電圧方式がいくつか提案されて
いる。
【0003】1つのゲート負電圧方式は、コントロール
ゲート電極に−10V程度の負電圧を印加し、ソース電
極に5V程度の電圧を印加し、ドレイン電極をフローテ
ィング状態とする。この状態においては、ソース不純物
領域とコントロールゲートとの間に15V程度の高電圧
が印加されるため、一般的なフラッシュEEPROMと
同様に、トンネル絶縁膜を介してファウラ−ノルドハイ
ム型のトンネル電流によりフローティングゲートからソ
ース不純物領域へと電子が引き抜かれる。
【0004】また、他のゲート負電圧方式として、半導
体基板(Pウエル)に5Vの電源電圧を加し、コントロ
ールゲート電極に−10V程度の負電圧を印加し、ソー
ス電極及びドレイン電極はそれぞれフローティング状態
とする。この状態においては、トンネル絶縁膜(ゲート
絶縁膜)を介してファウラ−ノルドハイム型トンネル電
流によりフローティングゲートから基板へと電子が引き
抜かれる。
【0005】上述の方式のいずれにおいても、ファウラ
−ノルドハイム型トンネリング電流が利用され、ソース
に12V程度の高電圧を印加するソース消去法と比べ
て、消去に必要とされる電圧は15V程度と高くなるも
のの、ソース不純物領域には高電圧は印加されないため
高耐圧構造が不要となり、また、ホットホールの発生量
も低減される。
【0006】さらに、これらのゲート負電圧消去法で
は、ソースに高電圧を印加しないので、ソース不純物領
域で発生する基板電流が低減されるため、消去時に必要
とされる電流、すなわち、消去電流はフローティングゲ
ートに蓄積した電子を引き抜くためのファウラ−ノルド
ハイム型トンネル電流のみとなる。このため、消去電流
が低減され、コントロールゲートに印加するための所要
の負電圧はオンチップの降圧回路で対応することができ
る。この降圧回路は、一般的なフラッシュEEPROM
と同様な、書込用の高電圧発生用の昇圧回路に用いられ
るチャージポンプ回路と同様の構成を備える。
【0007】しかしながら、このゲート負電圧方式にお
いては、コントロールゲートに対しては、データの読出
動作時及び書込動作時には正電圧を与え、消去動作時に
は負電圧を与える必要があるので、コントロールゲート
へ正又は負の電位を伝える複数のスイッチング用トラン
ジスタは、あらゆるモードにおいてオン、オフのどちら
かの状態で確定する必要がある。よって、それらのスイ
ッチング用トランジスタのゲートレベルを制御するレベ
ルシフト回路の出力は、入力に応じてHレベルまたはL
レベルのどちらかに確定する必要がある。
【0008】従来の一般的な第1のレベルシフト回路を
回路図で示す図5を参照すると、この従来の第1のレベ
ルシフト回路は、負電圧制御信号Cの供給に応答して負
電圧信号VB1を発生する負電圧発生回路1と、負電圧
信号VB1の供給を受け入力信号INの供給に応答して
所定のレベルシフトをした出力信号LOを出力する電圧
変換回路10とを備える。
【0009】電圧変換回路10は、入力信号INを反転
し反転信号INBを出力するINV1と、ソースを電源
VDDに接続しゲートに入力信号INの供給を受けるP
chトランジスタP1と、ソースを電源VDDにドレイ
ンを出力端子TOにそれぞれ接続して出力LOを出力し
ゲートに反転信号INBの供給を受けるPchトランジ
スタP2と、ドレインをトランジスタP1のドレインに
ゲートをトランジスタP2のドレインにそれぞれ接続し
ソースに負電圧発生回路1からの負電圧信号VB1の供
給を受けるNchトランジスタN1と、ドレインをトラ
ンジスタP2のドレインにゲートをトランジスタP1の
ドレインにそれぞれ接続しソースに負電圧発生回路1か
らの負電圧信号VB1の供給を受けるNchトランジス
タN2とを備える。トランジスタP1,P2,N1,N
2の各々の基板電位は各々のソースに接続する。
【0010】次に、図5を参照して、従来の第1のレベ
ルシフト回路の動作について説明すると、この第1のレ
ベルシフト回路の電圧変換回路10には、動作電源とし
て電源VDDと負電圧発生回路1の出力の負電圧信号V
B1が印加される。したがって、電源VDDを+5V、
負電圧信号VB1の電圧レベルVBB1を−10Vとす
ると、この電圧変換回路10を構成する各トランジスタ
P1,P2,N1,N2は最大VDD+|VB1|、こ
の例では5+10=15Vのジャンクション耐圧が必要
となる。
【0011】しかしながら、最近の製造プロセスの微細
化が進むにつれ、各種寸法が小さくなり、トランジスタ
の高耐圧構造を実現するには、通常の製造工程以外に多
くの追加工程を必要とし、また素子サイズも大きくなり
がちであるという問題点が生じる。
【0012】そのような状況に対応するため広く利用さ
れるようになってきた、電圧緩和型の従来の第2のレベ
ルシフト回路を図3と共通の構成要素には共通の参照文
字/数字を付して同様に回路図で示す図6を参照する
と、この従来の第2のレベルシフト回路の従来の第1の
レベルシフト回路との相違点は、電圧変換回路10の代
わりに、電圧変換回路10に電圧緩和のためのトランジ
スタN3,N4,P3,P4を追加した電圧変換回路1
0Aを備えることである。
【0013】トランジスタP3は、ソースをトランジス
タP1のドレインにゲートを接地Gにそれぞれ接続し、
トランジスタN3は、ソースをトランジスタN1のドレ
インにゲートを接地Gにそれぞれ接続し、トランジスタ
P4は、ソースをトランジスタP2のドレインにゲート
を接地Gにそれぞれ接続し、トランジスタN4は、ソー
スをトランジスタN2のドレインにゲートを接地Gにそ
れぞれ接続する。
【0014】この電圧変換回路10AのPchトランジ
スタP3,P4の最大ジャンクション間印加電圧VJP
Mは、VTPをPchトランジスタのしきい値とする
と、次式で表される。
【0015】VJPM=|VBB1|+|VTP| また、NchトランジスタN3,N4の最大ジャンクシ
ョン間印加電圧VJNMは、VTNをNchトランジス
タのしきい値とすると、次式で表される。
【0016】VJNM=VDD+VTN ここで、VDD=5V,|VBB1|=10V,|VT
P|=VTN=1Vとすると、VJPM=10+1=1
1V、VJNM=5+1=6Vとなり、トランジスタの
最大耐圧は従来より低くてよい。
【0017】しかしながらこの回路構成においては、負
電圧発生回路1が非活性時に、負電圧信号VB1の電圧
レベルは0Vとなる。そのため、NchトランジスタN
1,N2,N3,N4が全てオフ状態となり、入力端子
TIに0Vを印加したときの出力LOはハイインピーダ
ンスとなる。このため、通常、レベルシフト回路の出力
に接続される制御回路には負電圧発生回路1の非活性時
における出力LOの上記ハイインピーダンス状態に対応
するための何らかの回路的考慮が必要となる。
【0018】また、レベルシフト回路のトランジスタ耐
圧の緩和を図った特開平−68690号公報記載の従来
の第3のレベルシフト回路をブロックで示す図7を参照
すると、この従来のレベルシフト回路は、従来の第1,
第2のレベルシフト回路と同様の負電圧発生回路1に加
えて、負電圧発生回路1の出力の負電圧VBB1が伝達
する第1の電源線であるノードN1上の電圧レベルを検
出する電圧検出回路11と、電圧検出回路11の出力を
伝達する第2の電源線であるノードN2とノードN1上
の電圧を動作電源電圧として動作し入力信号INにした
がって出力信号OUTを出力する電圧変換回路12とを
備える。
【0019】電圧検出回路11は、ゲートを電源電圧V
DDにドレインを接地電位GにソースをノードN3にそ
れぞれ接続し接地電位GをノードN3へ伝達するNch
トランジスタ9と、ノードN3とノードN1との間に設
けられ抵抗接続されたPchトランジスタ10,11と
を有する。Pchトランジスタ10,11の基板は接地
電位Gに接続する。Pchトランジスタ10,11の抵
抗値は比較的大きく設定する。
【0020】電圧検出回路11は、さらに、接地電位G
をゲートに受けてノードN4へ電源電圧VDDを伝達す
るPchトランジスタ12と、接地電位Gをゲートに受
けノードN4とノードN3とを選択的に電気的に接続す
るためのNchトランジスタ13と、ノードN4上の電
位を増幅する2段の縦続接続されたインバータ14,1
5とを備える。
【0021】出力ステージとしての電圧変換回路12
は、ゲートに接地電位Gを受け入力信号INを通過させ
るPchトランジスタ16と、ノードN2とノードN1
との間に相補接続されるPchトランジスタ17及びN
chトランジスタ18と、ノードN2とノードN1との
間に相補接続されるPchトランジスタ19及びNch
トランジスタ20とを備える。
【0022】トランジスタ17,18,19及び20は
インバータラッチ回路を構成する。
【0023】トランジスタ19とトランジスタ20との
接続点から出力信号OUTを出力する。
【0024】負電圧発生回路1は、不活性時には接地電
位Gレベルの信号を出力し、活性化されたときに所定の
−10V程度の負電圧を発生する。
【0025】次に、図7及び動作波形をタイムチャート
で示す図7を参照して、従来の第3のレベルシフト回路
の動作について説明すると、まず、電源電圧VDDは5
Vであるとする。時刻T0以前においては、負電圧発生
回路1は不活性状態にあり、0Vの電圧をノードN1へ
与えている。トランジスタ9はゲートに電源電圧VDD
を受けておりオン状態であり、ノードN3へ0Vを伝達
している。この状態ではトランジスタ10,11はオフ
状態にある。トランジスタ12,13で構成されるイン
バータ回路へは0Vが入力されるため、ノードN4はト
ランジスタ12により充電され、5Vの電源電圧VDD
レベルである。このノードN4上の電圧はインバータ回
路14,15を介してノードN2へ伝達される。したが
って、ノードN2の電位はこの状態においては5Vの電
源電圧VDDレベルである。
【0026】入力信号INが0Vのとき、トランジスタ
19がオン状態、トランジスタ20がオフ状態となり、
出力信号OUTはノードN2上の電圧、すなわち5Vの
電源電圧VDDレベルのHレベルとなる。
【0027】入力信号INが5Vのとき、トランジスタ
19がオフ状態、トランジスタ20がオン状態となる。
この状態では、出力信号OUTはノードN1上の電圧す
なわち0VのLレベルとなる。
【0028】ここで、入力信号INが0Vのとき、トラ
ンジスタ16はそのスレッショルド電圧の絶対値|VT
P|だけ高い電圧を伝達する。しかしながら、これらは
トランジスタ17,18,19及び20のラッチ状態が
十分に反転する電圧レベルであり、特に問題は生じな
い。この負電圧発生回路1の不活性化時においては、入
力信号INが0Vのときには5Vの出力信号OUTが出
力され、入力信号INが5Vのときには0Vの出力信号
OUTが出力される。
【0029】時刻T0において、負電圧発生回路1が活
性化される。ノードN1はこの負電圧発生回路1から伝
達される負電圧に応じて徐々に低下し、最終的には−1
0Vの負電圧レベルに到達する。入力信号INはラッチ
状態に維持される。
【0030】このノードN1の電位が低下し初めてから
所定の時間が経過した時刻T1においてノードN1の電
圧レベルがたとえば−5Vの所定電圧レベルに到達す
る。トランジスタ10及び11はともにオン状態となっ
ており、ノードN3の電位を低下させる。このとき、ト
ランジスタ10及び11の抵抗値は十分大きく、一方ト
ランジスタ12の電流供給能力は小さくされている。ノ
ードN3の電位がトランジスタ10及び11のオン状態
により低下すると、トランジスタ13がオン状態とな
る。トランジスタ13はそのゲートに接地電位Gを受け
ている。トランジスタ9はまたその電流供給能力は小さ
くかつ抵抗値も比較的大きくされている。したがって、
ノードN3の電位はノードN1の電位低下に伴なって低
下する。ノードN3の電位が0V−VTN(トランジス
タ13のスレッショルド電圧)となる。
【0031】トランジスタ9及びトランジスタ12のサ
イズはトランジスタ13よりも十分小さくされている
(電流供給能力を小さくするため)。ノードN4の電位
はしたがって、トランジスタ13の放電により低下し、
インバータ14及び15により、ノードN2の電位は0
Vとなる。すなわち、ノードN4の電位がインバータ1
4の入力スレッショルド電圧よりも低くなる時刻T1に
おいて、ノードN2の電位は0Vに設定される。
【0032】ここで、トランジスタ10及び11は基板
が接地電位Gに結合されており、ノードN1の電位が負
電圧となるにつれてソース−基板間が逆バイアス状態と
なりバックバイアス効果が現われ、その抵抗値が大きく
なる。それにより、ノードN1へ電源電圧VDDからト
ランジスタ12,13,10及び11を介して大電流を
流れこむことが防止される。
【0033】また、トランジスタ9が負荷抵抗として作
用し、接地電位Gからトランジスタ9、10及び11を
介してノードN1へ電流が流れ込むのを防止する。ノー
ドN1は負電圧発生回路1により確実に最終的に−10
Vの負電圧に設定される。
【0034】ノードN1の電位が−5Vになった時刻T
1においては、ノードN1とノードN2に十分な電位差
が存在するため、電圧変換回路12は最初にラッチした
情報を保持している。
【0035】ここで、時刻T1においてノードN1の電
位が−5V程度にまで低下したときに初めてノードN2
の電位が0Vとなるようにトランジスタ10,11のス
レッショルド電圧VTN、トランジスタ12,13及び
9のサイズならびにインバータ14の入力スレッショル
ド電圧などが選択される。
【0036】この状態において、入力信号INが0Vの
ときには、出力信号OUTはノードN2の電位0Vとな
り、入力信号INが5Vの場合には、出力信号OUTは
ノードN1上の電位−10Vとなる。したがって、この
電圧変換回路12から出力される信号OUTとしては入
力信号INの電圧レベルをトランジスタ17,18,1
9及び20によりラッチしておけば0Vまたは−10V
のいずれかのレベルの信号が得られる。
【0037】しかしながら、この従来の第3のレベルシ
フト回路においては、入力信号INとしてVDDが与え
られた場合、トランジスタ17がオン状態となるため、
ノードN2へ貫通電流が流れ込む。この抑圧のため、時
刻T1以降においては、入力信号INは0Vに設定する
必要がある。このとき、ラッチ状態が反転しないよう
に、入力信号INは、0Vのフローティング状態に設定
しておく必要がある。
【0038】
【発明が解決しようとする課題】上述した従来の第1の
レベルシフト回路は、動作電源として電源の正電圧と負
電圧発生回路の出力の負電圧が印加されるため、レベル
シフト回路を構成する各トランジスタは最大上記正電圧
と負電圧との和の電圧のジャンクション耐圧が必要とな
るが、最近の製造プロセスの微細化に伴う各部寸法の縮
小に対応してトランジスタの高耐圧構造を実現するた
め、通常の製造工程以外に多くの追加工程を必要とする
と共に、素子サイズも大きくなるという欠点があった。
【0039】また、トランジスタの耐圧の緩和を図った
電圧緩和型の従来の第2のレベルシフト回路は、負電圧
発生回路の非活性時に出力負電圧が0Vとなることによ
り、Nchトランジスタが全てオフ状態となり、出力端
子がハイインピーダンス状態となるため、この出力端子
に接続される制御回路には上記ハイインピーダンス状態
に対応するための回路的考慮を必要とするという欠点が
あった。
【0040】さらに、トランジスタの耐圧の緩和を図っ
た従来の第3のレベルシフト回路は、入力信号として電
源電圧レベルが与えられた場合、電圧変回路の初段のP
chトランジスタがオン状態となるため、貫通電流が発
生するので、こPの抑圧のため正入力信号の供給後所定
時間経過以降は、この入力信号をラッチ状態が反転しな
いように0Vのフローティング状態に設定しておく必要
があり、制御が複雑となるという欠点があった。
【0041】本発明の目的は、トランジスタの所要ジャ
ンクション耐圧を低減し高耐圧構造のトランジスタを不
要とするとともに、負電圧発生回路の活性時非活性時と
無関係に入力信号として任意の電圧レベルを印加しても
貫通電流や出力反転を抑圧したレベルシフト回路を提供
することにある。
【0042】
【課題を解決するための手段】第1の発明のレベルシフ
ト回路は、相補型MOSトランジスタ論理回路(CMO
S)の論理レベルの入力信号の供給に応答して予め定め
た負電圧レベルの出力信号を出力するレベルシフト回路
において、負電圧制御信号の供給に応答して活性化し所
定の負電圧の負電圧信号を出力する負電圧発生手段と、
前記負電圧信号の供給時に前記入力信号の供給に応答し
て前記負電圧レベルの出力信号を出力し、前記負電圧発
生手段の非活性化時に前記入力信号と同一レベルの前記
出力信号を出力するよう動作する電圧変換手段とを備え
て構成されている。
【0043】第2の発明のレベルシフト回路は、相補型
MOSトランジスタ論理回路(CMOS)の論理レベル
の入力信号の供給に応答して予め定めた負電圧レベルの
出力信号を出力するレベルシフト回路において、負電圧
制御信号の供給に応答して活性化し第1及び第2の負電
圧の負電圧信号をそれぞれ出力する第1及び第2の負電
圧発生手段と、前記第1及び第2の負電圧信号の供給時
に前記入力信号の供給に応答して前記負電圧レベルの出
力信号を出力し、前記負電圧発生手段の非活性化時に前
記入力信号と同一レベルの前記出力信号を出力するよう
動作する電圧変換手段とを備えて構成されている。
【0044】第3の発明の不揮発性メモリは、第1又は
第2の発明のレベルシフト回路を備えて構成されてい
る。
【0045】
【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を図6
と共通の構成要素には共通の参照文字/数字を付して同
様に回路図で示す図1を参照すると、この図に示す本実
施の形態のレベルシフト回路は、従来の第2のレベルシ
フト回路と共通の負電圧制御信号Cの供給に応答して制
御され活性時に負電圧の電圧レベルVBB1を出力し非
活性時にGNDレベルを負電圧信号VB1として出力す
る負電圧発生回路1に加えて、負電圧制御信号Cを反転
して反転制御信号CBを出力するインバータINV2
と、電圧変換回路10Aの代わりに、電圧変換回路10
Aの電圧緩和用トランジスタN3,N4のゲートに反転
制御信号CBを供給するよう接続した電圧変換回路10
Bを備えることである。
【0046】電圧変換回路10Bは、従来の電圧変換回
路10Aと共通の入力信号INを反転し反転信号INB
を出力するINV1と、ソースを電源VDDに接続しゲ
ートに入力信号INの供給を受けるPchトランジスタ
P1と、ソースを電源VDDにドレインを出力端子TO
にそれぞれ接続して出力LOを出力しゲートに反転信号
INBの供給を受けるPchトランジスタP2と、ソー
スをトランジスタP1のドレイン(ノードA)にゲート
を接地Gにそれぞれ接続したトランジスタP3と、ドレ
インをトランジスタP3のドレイン(ノードE)に接続
しゲートに反転制御信号CBの供給を受けるNchトラ
ンジスタN3と、ソースをトランジスタP2のドレイン
(ノードB)にゲートを接地Gと出力端子TOにそれぞ
れ接続したPchトランジスタP4と、ドレインをトラ
ンジスタN3のソース(ノードC)にゲートをトランジ
スタP4のドレインにそれぞれ接続しソースに負電圧発
生回路2からの負電圧信号VB1の供給を受けるNch
トランジスタN1と、ドレインをトランジスタP4のド
レインに接続しゲートに反転制御信号CBの供給を受け
るNchトランジスタN4と、ドレインをトランジスタ
N4のソース(ノードD)にゲートをトランジスタN3
のドレインにそれぞれ接続しソースに負電圧発生回路2
からの負電圧信号VB1の供給を受けるNchトランジ
スタN2とを備える。トランジスタP1,P2,P3,
P4,N1,N2,N3,N4の各々の基板電位は各々
のソースに接続する。
【0047】次に、図1及び本実施の形態の動作波形を
タイムチャートで示す図2を参照して本実施の形態の動
作について説明すると、まず、負電圧制御信号CがLレ
ベルのとき、負電圧発生回路1はGNDレベルを出力す
る。またトランジスタN3,N4のゲートは反転負電圧
制御信号CBのレベルすなわち電源VDDレベルとな
る。以下図2の4つの状態1〜4の動作について説明す
る。
【0048】状態1は、入力信号INがHレベルで負電
圧制御信号CがLレベルすなわち負電圧信号VB1がG
ND(0)レベルの状態であり、トランジスタP2,P
4はゲートソース間電圧|VGS|が電源VDDレベル
となるのでターンオンし、出力端子TOに電源VDDレ
ベルの出力信号LOが出力される。また、トランジスタ
P1はゲートソース間電圧|VGS|が0Vとなるので
ターンオフする。ノードDのレベルがVDD−VTN
(Nchトランジスタのしきい値電圧)になりトランジ
スタN4はカットオフする。トランジスタN1はゲート
ソース間電圧VGSがVDD−VTNとなるのでターン
オンし、ノードCのレベルがGNDレベルとなる。トラ
ンジスタN3はゲートソース間電圧VGSがVDDとな
るのでターンオンし、ノードEのレベルはGNDレベル
となる。トランジスタN2は、ゲートソース間電圧VG
Sが0Vとなるのでターンオフする。トランジスタP3
は、ノードAのレベルが−VTP(Pchトランジスタ
のしきい値電圧)となりカットオフする。
【0049】状態2は、負電圧信号VB1がGNDレベ
ルの状態で入力信号INがLレベルに遷移した状態であ
り、トランジスタP1、P3はゲートソース間電圧|V
GS|がVDDとなるのでターンオンし、ノードEのレ
ベルは、VDDとなる。トランジスタP2はゲートソー
ス間電圧|VGS|が0Vととなるのでターンオフす
る。ノードCのレベルがVDD−VTNになりトランジ
スタN3はカットオフする。トランジスタN2はゲート
ソース間電圧VGSがVDD−VTNとなるのでターン
オンし、ノードDのレベルがGNDレベルとなる。トラ
ンジスタN4はゲートソース間電圧VGSがVDDとな
るのでターンオンし、出力端子TOにGNDレベルの出
力信号LOが出力される。トランジスタN1は、ゲート
ソース間電圧VGSが0Vとなるのでターンオフする。
PchトランジスタP4は、ノードBのレベルが−VT
Pとなりカットオフする。次に負電圧制御信号CがHレ
ベルのとき、負電圧発生回路1は負電圧信号VB1とし
て電圧レベルVBB1(例−10V)を出力する。また
トランジスタN3,N4のゲートは反転制御信号CBの
レベル遷移に応答してGNDレベルとなる。
【0050】状態3は、入力信号INがLレベル状態で
負電圧制御信号CがHレベルに活性化すなわち負電圧信
号VB1がVBB1レベルの状態であり、トランジスタ
P1,P3はゲートソース間電圧|VGS|がVDDと
なるのでターンオンし、ノードEのレベルはVDDとな
る。トランジスタP2はゲートソース間電圧|VGS|
が0Vとなるのでターンオフする。トランジスタN3は
ノードCのレベルが−VTNになりカットオフする。ト
ランジスタN2はゲートソース間電圧VGSが−VTN
−VBB1となるのでターンオンし、ノードDのレベル
がVBB1レベルとなる。トランジスタN4はゲートソ
ース間電圧VGSが−VBB1となるのでターンオン
し、出力端子にVBB1レベルが出力される。トランジ
スタN1は、ゲートソース間電圧VGSが0Vとなるの
でターンオフする。トランジスタP4は、ノードBのレ
ベルが−VTPとなりカットオフする。
【0051】状態4は、負電圧信号VB1がVBB1レ
ベルの状態で入力信号INがHレベルに遷移した状態で
あり、トランジスタP2,P4はゲートソース間電圧|
VGS|がVDDとなるのでターンオンし、出力端子に
VDDレベルの出力信号LOが出力される。トランジス
タP1はゲートソース間電圧|VGS|が0Vとなるの
でターンオフする。トランジスタN4はノードDのレベ
ルが−VTNになりカットオフする。トランジスタN1
はゲートソース間電圧VGSが−VTN−VBB1とな
るのでターンオンし、ノードCのレベルがVBB1レベ
ルとなる。トランジスタN3はゲートソース間電圧VG
Sが−VBB1となるのでターンオンし、ノードEのレ
ベルはVBB1レベルとなる。トランジスタN2は、ゲ
ートソース間電圧VGSが0Vとなるのでターンオフす
る。トランジスタP3は、ノードAのレベルが−VTP
となりカットオフする。
【0052】本実施の形態の構成によれば、電圧変換回
路10Bを構成する各トランジスタP1〜P4,N1〜
N4のジャンクション間の最大電圧VJMは、それぞれ
下式で表される。
【0053】 トランジスタP1,P2:VJM=VDD−|VTP| トランジスタP3,P4:VJM=|VBB1|+|V
TP| トランジスタN1,N2:VJM=|VBB1|−VT
N トランジスタN3,N4:VJM=VDD+VTN VDD=5V、VBB1=−10V、VTN=1V、V
TP=−1Vとすると、トランジスタP1,P2のジャ
ンクション間最大電圧VJMは4V、トランジスタP
3,P4のジャンクション間最大電圧VJMは11V、
トランジスタN1,N2のジャンクション間最大電圧V
JMは9V、トランジスタN3,N4のジャンクション
間最大電圧VJMは6Vとなる。
【0054】これらのジャンクション間最大電圧VJM
は、上述したした従来の第1のレベルシフト回路のPc
hトランジスタP1,P2とNchトランジスタN1,
N2の各々の最大ジャンクション間印加電圧VDD+|
VBB1|(約15V)より低くなり、高耐圧構造のト
ランジスタを使用する必要がない。
【0055】さらに、本構成によれば、負電圧発生回路
1が非活性時であるときも、入力信号INのレベルに対
し、同相、同レベルの出力信号が出力端子に出力され
る。すなわち、負電圧発生回路1の活性時非活性時に関
係なく、入力信号INとして電源VDDまたは0Vの任
意のレベルを印加したままでも電圧変換回路に貫通電流
が流れたり、出力が反転するという問題は生じない。
【0056】次に、本発明の第2の実施の形態を図1と
共通の構成要素には共通の参照文字/数字を付して同様
にブロックで示す図3を参照すると、この図に示す本実
施の形態の前述の第1の実施の形態との相違点は、負電
圧制御信号Cの供給に応答して制御され活性時に負電圧
VBB2を出力し非活性時にGNDレベルを負電圧信号
VB2として出力する負電圧発生回路2をさらに備え、
電圧変換回路10Bの代わりに、PchトランジスタP
3,P4のゲートに負電圧信号VB2の供給を受ける電
圧変換回路10Cを備えることである。
【0057】次に、図3を参照して本実施の形態の動作
について説明すると、まず、負電圧発生回路1,2は、
第1の実施の形態と同様に、非活性時には出力の負電圧
信号VB1,VB2の電圧レベルは共に0Vである。こ
の場合の動作は第1の実施の形態と同様であるので、説
明を省略する。
【0058】次に、負電圧発生回路1,2の活性時に
は、負電圧信号VB1,VB2の電圧レベルはそれぞ
れ、VBB1,VBB2となる。
【0059】まず、入力信号がLレベルのとき、トラン
ジスタP1,P3はゲートソース間電圧|VGS|がそ
れぞれVDD,VDD−VBB2となるのでターンオン
し、ノードEのレベルはVDDとなる。トランジスタP
2は、ゲートソース間電圧|VGS|が0Vとなるので
ターンオフする。トランジスタN3はノードCのレベル
が−VTNになりカットオフする。トランジスタN2は
ゲートソース間電圧VGSが−VTN−VBB1となる
のでターンオンし、ノードDのレベルがVBB1レベル
となる。トランジスタN4はゲートソース間電圧VGS
が−VBB1となるのでターンオンし、出力端子にVB
B1レベルが出力される。トランジスタN1は、ゲート
ソース間電圧VGSが0Vとなるのでターンオフする。
トランジスタP4は、ノードBのレベルがVBB2−V
TPとなりカットオフする。
【0060】次に、入力信号がHレベルのとき、トラン
ジスタP2,P4はゲートソース間電圧|VGS|がそ
れぞれVDD,VDD−VBB2となるのでターンオン
し、出力端子にVDDレベルが出力される。トランジス
タP1はゲートソース間電圧|VGS|が0Vとなるの
でターンオフする。トランジスタN4はノードDのレベ
ルが−VTNになりカットオフする。トランジスタN1
はゲートソース間電圧VGSが−VTN−VBB1とな
るのでターンオンし、ノードCのレベルがVBB1レベ
ルとなる。トランジスタN3はゲートソース間電圧VG
Sが−VBB1となるのでターンオンし、ノードEのレ
ベルはVBB1レベルとなる。トランジスタN2は、ゲ
ートソース間電圧VGSが0Vとなるのでターンオフす
る。トランジスタP3は、ノードAのレベルがVBB2
−VTPとなりカットオフする。
【0061】次に、本発明の第3の実施の形態を図2と
共通の構成要素には共通の参照文字/数字を付して同様
に回路図で示す図4を参照すると、この図に示す本実施
の形態の前述の第2の実施の形態との相違点は、第2の
実施の形態では負電圧発生回路1に加えてこれと独立し
た負電圧発生回路2を用いる構成となっていたが、本実
施の形態では負電圧発生回路1の負電圧信号VB1とG
ND間に直列接続した高抵抗の複数の抵抗R1,R2か
らなる分圧回路3を備え、この抵抗R1,R2の接続点
から負電圧信号VB2の電圧レベルVBB2を出力する
ことである。
【0062】本実施の形態では、負電圧発生回路1の出
力の負電圧信号VB1の電圧レベルVBB1から負電圧
信号VB2の電圧レベルVBB2を生成することにより
負電圧発生回路2を省略できる。
【0063】
【発明の効果】以上説明したように、本発明のレベルシ
フト回路は、負電圧発生手段と、負電圧信号の供給時に
入力信号の供給に応答して負電圧レベルの出力信号を出
力し、負電圧発生手段の非活性化時に入力信号と同一レ
ベルの出力信号を出力するよう動作する電圧変換手段と
を備えているので、電圧変換回路の各トランジスタのジ
ャンクション間最大電圧を従来より低減できるので、高
耐圧構造のトランジスタを使用する必要がないという効
果がある。
【0064】また、負電圧発生回路が非活性時であると
きも、入力信号のレベルに対し、同相、同レベルの出力
信号が出力端子に出力されるので、負電圧発生回路の活
性時非活性時に関係なく、入力信号として電源または接
地の任意のレベルを印加したままでも電圧変換回路の貫
通電流や出力反転等の不具合を抑制できるという効果が
ある。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明のレベルシフト回路の第1の実施の形態
を示す回路図である。
【図2】本実施の形態のレベルシフト回路における動作
の一例を示すタイムチャートである。
【図3】本発明のレベルシフト回路の第2の実施の形態
を示す回路図である。
【図4】本発明のレベルシフト回路の第3の実施の形態
を示す回路図である。
【図5】従来の第1のレベルシフト回路の一例を示す回
路図である。
【図6】従来の第2のレベルシフト回路の一例を示す回
路図である。
【図7】従来の第3のレベルシフト回路の一例を示す回
路図である。
【符号の説明】
1,2 負電圧発生回路 3 分圧回路 10,10A,10B,10C,12 電圧変換回路 11 電圧検出回路 N1〜N4,P1〜P4 トランジスタ R1,R2 抵抗

Claims (6)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 相補型MOSトランジスタ論理回路(C
    MOS)の論理レベルの入力信号の供給に応答して予め
    定めた負電圧レベルの出力信号を出力するレベルシフト
    回路において、 負電圧制御信号の供給に応答して活性化し所定の負電圧
    の負電圧信号を出力する負電圧発生手段と、 前記負電圧信号の供給時に前記入力信号の供給に応答し
    て前記負電圧レベルの出力信号を出力し、前記負電圧発
    生手段の非活性化時に前記入力信号と同一レベルの前記
    出力信号を出力するよう動作する電圧変換手段とを備え
    ること特徴とするレベルシフト回路。
  2. 【請求項2】 負電圧制御信号を反転して反転制御信号
    を出力する第1のインバータを備え、 電圧変換手段が、入力信号を反転し反転信号を出力する
    第2のインバータと、 ソースを第1の電源に接続しゲートに前記入力信号の供
    給を受ける第1のPチャネル型トランジスタと、 ソースを第1の電源にドレインを出力端子にそれぞれ接
    続して出力信号を出力しゲートに前記反転信号の供給を
    受ける第2のPチャネル型トランジスタと、 ソースを前記第1のPチャネル型トランジスタのドレイ
    ンにゲートを第2の電源にそれぞれ接続した第3のPチ
    ャネル型トランジスタと、 ドレインを前記第3のPチャネル型トランジスタのドレ
    インに接続しゲートに前記反転制御信号の供給を受ける
    第3のNチャネル型トランジスタと、 ソースを前記第2のPチャネル型トランジスタのドレイ
    ンにゲートを第2の電源と前記出力端子にそれぞれ接続
    した第4のPチャネル型トランジスタと、 ドレインを前記第3のNチャネル型トランジスタのソー
    スにゲートを前記第4のPチャネル型トランジスタのド
    レインにそれぞれ接続しソースに前記負電圧信号の供給
    を受ける第1のNチャネル型トランジスタと、 ドレインを前記第4のPチャネル型トランジスタのドレ
    インに接続しゲートに前記反転制御信号の供給を受ける
    第4のNチャネル型トランジスタと、 ドレインを前記第4のNチャネル型トランジスタのソー
    スにゲートを前記第3のNチャネル型トランジスタのド
    レインにそれぞれ接続しソースに前記負電圧信号の供給
    を受ける第2のNチャネル型トランジスタとを備えるこ
    とを特徴とする請求項1記載のレベルシフト回路。
  3. 【請求項3】 相補型MOSトランジスタ論理回路(C
    MOS)の論理レベルの入力信号の供給に応答して予め
    定めた負電圧レベルの出力信号を出力するレベルシフト
    回路において、 負電圧制御信号の供給に応答して活性化し第1及び第2
    の負電圧の負電圧信号をそれぞれ出力する第1及び第2
    の負電圧発生手段と、 前記第1及び第2の負電圧信号の供給時に前記入力信号
    の供給に応答して前記負電圧レベルの出力信号を出力
    し、前記負電圧発生手段の非活性化時に前記入力信号と
    同一レベルの前記出力信号を出力するよう動作する電圧
    変換手段とを備えること特徴とするレベルシフト回路。
  4. 【請求項4】 負電圧制御信号を反転して反転制御信号
    を出力する第1のインバータを備え、 電圧変換手段が、入力信号を反転し反転信号を出力する
    第2のインバータと、 ソースを第1の電源に接続しゲートに前記入力信号の供
    給を受ける第1のPチャネル型トランジスタと、 ソースを第1の電源にドレインを出力端子にそれぞれ接
    続して出力信号を出力しゲートに前記反転信号の供給を
    受ける第2のPチャネル型トランジスタと、 ソースを前記第1のPチャネル型トランジスタのドレイ
    ンに接続しゲートに前記第2の負電圧信号の供給を受け
    る第3のPチャネル型トランジスタと、 ドレインを前記第3のPチャネル型トランジスタのドレ
    インに接続しゲートに前記反転制御信号の供給を受ける
    第3のNチャネル型トランジスタと、 ソースを前記第2のPチャネル型トランジスタのドレイ
    ンと前記出力端子にそれぞれに接続しゲートに前記第2
    の負電圧信号の供給を受ける第4のPチャネル型トラン
    ジスタと、 ドレインを前記第3のNチャネル型トランジスタのソー
    スにゲートを前記第4のPチャネル型トランジスタのド
    レインにそれぞれ接続しソースに前記第1の負電圧信号
    の供給を受ける第1のNチャネル型トランジスタと、 ドレインを前記第4のPチャネル型トランジスタのドレ
    インに接続しゲートに前記反転制御信号の供給を受ける
    第4のNチャネル型トランジスタと、 ドレインを前記第4のNチャネル型トランジスタのソー
    スにゲートを前記第3のNチャネル型トランジスタのド
    レインにそれぞれ接続しソースに前記第1の負電圧信号
    の供給を受ける第2のNチャネル型トランジスタとを備
    えることを特徴とする請求項3記載のレベルシフト回
    路。
  5. 【請求項5】 前記第2の負電圧発生手段が、一端に前
    記第1の負電圧信号の供給を受ける第1の抵抗と、一端
    を前記第1の抵抗の他端に他端を第2の電源に接続した
    第2の抵抗から成り第1及び第2の抵抗の共通接続点か
    ら前記第2の負電圧信号を出力する分圧回路を備えるこ
    とを特徴とする請求項3記載のレベルシフト回路。
  6. 【請求項6】 請求項1又は3記載のレベルシフト回路
    を備えることを特徴とする不揮発性メモリ。
JP11475098A 1998-04-24 1998-04-24 レベルシフト回路及びこれを備える不揮発性メモリ Expired - Fee Related JP3176339B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11475098A JP3176339B2 (ja) 1998-04-24 1998-04-24 レベルシフト回路及びこれを備える不揮発性メモリ

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP11475098A JP3176339B2 (ja) 1998-04-24 1998-04-24 レベルシフト回路及びこれを備える不揮発性メモリ

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11308092A true JPH11308092A (ja) 1999-11-05
JP3176339B2 JP3176339B2 (ja) 2001-06-18

Family

ID=14645749

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP11475098A Expired - Fee Related JP3176339B2 (ja) 1998-04-24 1998-04-24 レベルシフト回路及びこれを備える不揮発性メモリ

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3176339B2 (ja)

Cited By (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002015572A (ja) * 2000-06-30 2002-01-18 Fujitsu Ltd 半導体集積回路および起動制御方法
US7579870B2 (en) 2007-02-09 2009-08-25 Panasonic Corporation Level shifter
JP2014007761A (ja) * 2013-09-09 2014-01-16 Toshiba Corp 半導体スイッチ
JP2015142210A (ja) * 2014-01-28 2015-08-03 ラピスセミコンダクタ株式会社 レベルシフト回路及び半導体装置
US9136832B2 (en) 2012-01-30 2015-09-15 Renesas Electronics Corporation Level shift circuit
JP2017103736A (ja) * 2015-12-04 2017-06-08 凸版印刷株式会社 半導体集積回路
US10153771B2 (en) 2014-10-10 2018-12-11 Samsung Electronics Co., Ltd. Negative-level shifting circuit and a source driver and a display device using the circuit
US10615782B2 (en) 2018-02-21 2020-04-07 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device
CN115225078A (zh) * 2022-09-19 2022-10-21 苏州锴威特半导体股份有限公司 电平检测电路和电平转换电路

Cited By (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002015572A (ja) * 2000-06-30 2002-01-18 Fujitsu Ltd 半導体集積回路および起動制御方法
US7579870B2 (en) 2007-02-09 2009-08-25 Panasonic Corporation Level shifter
US7812637B2 (en) 2007-02-09 2010-10-12 Panasonic Cororation Level shifter
US9136832B2 (en) 2012-01-30 2015-09-15 Renesas Electronics Corporation Level shift circuit
JP2014007761A (ja) * 2013-09-09 2014-01-16 Toshiba Corp 半導体スイッチ
JP2015142210A (ja) * 2014-01-28 2015-08-03 ラピスセミコンダクタ株式会社 レベルシフト回路及び半導体装置
US10153771B2 (en) 2014-10-10 2018-12-11 Samsung Electronics Co., Ltd. Negative-level shifting circuit and a source driver and a display device using the circuit
JP2017103736A (ja) * 2015-12-04 2017-06-08 凸版印刷株式会社 半導体集積回路
US10615782B2 (en) 2018-02-21 2020-04-07 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device
CN115225078A (zh) * 2022-09-19 2022-10-21 苏州锴威特半导体股份有限公司 电平检测电路和电平转换电路
CN115225078B (zh) * 2022-09-19 2022-12-02 苏州锴威特半导体股份有限公司 电平检测电路和电平转换电路

Also Published As

Publication number Publication date
JP3176339B2 (ja) 2001-06-18

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP2993462B2 (ja) 出力バッファ回路
US7369446B2 (en) Method and apparatus to prevent high voltage supply degradation for high-voltage latches of a non-volatile memory
JP4768300B2 (ja) 電圧レベル変換回路及び半導体集積回路装置
JP3662326B2 (ja) レベル変換回路
KR100363142B1 (ko) 3상태논리게이트회로를갖는반도체집적회로
JPH1188147A (ja) レベルシフト回路
JP3389856B2 (ja) 半導体装置
JPH11340812A (ja) 半導体装置
US6677798B2 (en) High speed voltage level shifter
KR100548558B1 (ko) 반도체 장치용 내부전압 발생기
JP3176339B2 (ja) レベルシフト回路及びこれを備える不揮発性メモリ
JPH06311732A (ja) 昇圧回路
JP3227946B2 (ja) レベル変換回路
JP2002507852A (ja) リーク電流を低減する回路装置
US6590420B1 (en) Level shifting circuit and method
JP4149968B2 (ja) 電圧レベル変換回路
JP3237644B2 (ja) レベル変換回路
KR0159324B1 (ko) 데이터 출력회로
KR19990031073A (ko) 레벨 쉬프트 회로를 갖는 반도체 메모리 장치
JPH09204798A (ja) 信号発生回路
JP2990178B1 (ja) 負電圧レベルシフト回路
JP2788890B2 (ja) レベルシフト回路
US6650152B2 (en) Intermediate voltage control circuit having reduced power consumption
US6353560B1 (en) Semiconductor memory device
JP3224712B2 (ja) 論理&レベル変換回路及び半導体装置

Legal Events

Date Code Title Description
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20010306

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees