JPH11306360A - 疑似楕円体選別方法 - Google Patents
疑似楕円体選別方法Info
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- JPH11306360A JPH11306360A JP10129528A JP12952898A JPH11306360A JP H11306360 A JPH11306360 A JP H11306360A JP 10129528 A JP10129528 A JP 10129528A JP 12952898 A JP12952898 A JP 12952898A JP H11306360 A JPH11306360 A JP H11306360A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】疑似楕円体平面画像計測による疑似楕円体選別
方法を提供すること。 【解決手段】疑似楕円体形状の一様な密度ｄの被測定体
１をカメラ２で撮影し，画像処理器３により平面写像１
ａに変換計測し，面積Ｓ及び回転対照軸端点Ａ，Ｂ座標
を計測し，予め長さＬ＝ＡＢ，及びＳを変数とし，回転
断面最大直径太さＷに対応して定めた応答関数Ｗ＝Ｗ
（Ｌ，Ｓ）を用いて，計測したＬとＳの２個の測定値を
代入し，対応するＷを算出し，長短率ｋ＝Ｗ／Ｌを算出
し，該被測定体の体積Ｖとする重量Ｍ＝ｄ・Ｖより，予
め定めた既知の複数のｋi の重量応答関数Ｍi ＝Ｍ
i （ｋi ，Ｓ）を前もって確保しておき，Ｍi 間の補間
算出方法を用いて，測定値Ｓ，算出値ｋに対応するＭを
算出し，算出重量Ｍ，長短率ｋにより，該被測定体を選
別する疑似楕円体選別方法を確保する。
方法を提供すること。 【解決手段】疑似楕円体形状の一様な密度ｄの被測定体
１をカメラ２で撮影し，画像処理器３により平面写像１
ａに変換計測し，面積Ｓ及び回転対照軸端点Ａ，Ｂ座標
を計測し，予め長さＬ＝ＡＢ，及びＳを変数とし，回転
断面最大直径太さＷに対応して定めた応答関数Ｗ＝Ｗ
（Ｌ，Ｓ）を用いて，計測したＬとＳの２個の測定値を
代入し，対応するＷを算出し，長短率ｋ＝Ｗ／Ｌを算出
し，該被測定体の体積Ｖとする重量Ｍ＝ｄ・Ｖより，予
め定めた既知の複数のｋi の重量応答関数Ｍi ＝Ｍ
i （ｋi ，Ｓ）を前もって確保しておき，Ｍi 間の補間
算出方法を用いて，測定値Ｓ，算出値ｋに対応するＭを
算出し，算出重量Ｍ，長短率ｋにより，該被測定体を選
別する疑似楕円体選別方法を確保する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は，コンベア等で搬送
するフットボール形回転対照体である疑似楕円体形状の
物品，例えば甘薯，胡瓜，人参等の被測定体の形状，寸
法をカメラ等の画像センサーで検出し，その画像を画像
処理器で処理し，寸法，重さ等の階級，等級区分等を行
う計測，検査選別方法に関する。
するフットボール形回転対照体である疑似楕円体形状の
物品，例えば甘薯，胡瓜，人参等の被測定体の形状，寸
法をカメラ等の画像センサーで検出し，その画像を画像
処理器で処理し，寸法，重さ等の階級，等級区分等を行
う計測，検査選別方法に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来技術の疑似楕円体選別方法におけ
る，被測定体の長さ，太さの計測手法は，長さにおい
て，平面写像の回転対照軸上の両端面接点間の直線距離
を長さＬとして計測し，太さにおいて，高価格高機能の
画像処理器では，両端から水平方向に等間隔で垂直に数
カ所スライスし，スライスした短冊部分の中心点を結
び，その結曲線から垂線を引き，その太さの最大部分を
太さＷとして計測しており，一方，低価格低機能の画像
チェッカーとも呼ぶ画像処理器では，画像計測領域内
で，上下方向，及び左右方向でエッジ検出して計測して
いた。
る，被測定体の長さ，太さの計測手法は，長さにおい
て，平面写像の回転対照軸上の両端面接点間の直線距離
を長さＬとして計測し，太さにおいて，高価格高機能の
画像処理器では，両端から水平方向に等間隔で垂直に数
カ所スライスし，スライスした短冊部分の中心点を結
び，その結曲線から垂線を引き，その太さの最大部分を
太さＷとして計測しており，一方，低価格低機能の画像
チェッカーとも呼ぶ画像処理器では，画像計測領域内
で，上下方向，及び左右方向でエッジ検出して計測して
いた。
【０００３】従来技術の疑似楕円体選別方法における，
一様な密度を有する被測定体の平面写像の面積Ｓに対応
する重量Ｍの選別方法は，予め重量Ｍを面積Ｓの一次関
数として定めておき，該一次関数の応答関数Ｍ＝ｍ0 ＋
ｃＳ（ｍ0 ，ｃは定数値）を用いて，測定面積に対応す
る重量を算出していた。
一様な密度を有する被測定体の平面写像の面積Ｓに対応
する重量Ｍの選別方法は，予め重量Ｍを面積Ｓの一次関
数として定めておき，該一次関数の応答関数Ｍ＝ｍ0 ＋
ｃＳ（ｍ0 ，ｃは定数値）を用いて，測定面積に対応す
る重量を算出していた。
【０００４】
【発明が解決しようとする課題】従来技術の疑似楕円体
選別方法における，高価格高機能の画像処理器での太さ
の計測手法は，画像処理器が高価格で計算が複雑で，多
量のデ─タ収集と計算を必要とする問題点を有してい
た。
選別方法における，高価格高機能の画像処理器での太さ
の計測手法は，画像処理器が高価格で計算が複雑で，多
量のデ─タ収集と計算を必要とする問題点を有してい
た。
【０００５】従来技術の疑似楕円体選別方法における，
低価格低機能の画像チェッカーとも呼ぶ画像処理器での
太さの計測手法は，画像計測領域に対し，被測定体が斜
めになると，上下方向エッジを検出し，このエッジ間の
距離を太さとして計測するので，太さＷ端部が先端部を
形成しない為に測定誤差が増大し，太さを正確に計測で
きない問題点を有していた。
低価格低機能の画像チェッカーとも呼ぶ画像処理器での
太さの計測手法は，画像計測領域に対し，被測定体が斜
めになると，上下方向エッジを検出し，このエッジ間の
距離を太さとして計測するので，太さＷ端部が先端部を
形成しない為に測定誤差が増大し，太さを正確に計測で
きない問題点を有していた。
【０００６】従来技術の疑似楕円体選別方法における，
一様な密度を有する被測定体の平面写像の面積に対応す
る重量の選別方法は，予め平面写像の面積と重量との一
次関数を定めておくので適応領域が狭くなり，面積と重
量とは一次関数で表す事が出来ない問題点を有してい
た。
一様な密度を有する被測定体の平面写像の面積に対応す
る重量の選別方法は，予め平面写像の面積と重量との一
次関数を定めておくので適応領域が狭くなり，面積と重
量とは一次関数で表す事が出来ない問題点を有してい
た。
【０００７】
【課題を解決するための手段】上記の問題点を解決する
ために，本発明の疑似楕円体選別方法において，平面写
像の長さＬ及び面積Ｓを変数とし，太さＷに対応する，
予め定めた応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）を用いて，長さＬ
と面積Ｓの２個の測定値のみを代入し，対応する太さＷ
を算出する事を特徴とする。
ために，本発明の疑似楕円体選別方法において，平面写
像の長さＬ及び面積Ｓを変数とし，太さＷに対応する，
予め定めた応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）を用いて，長さＬ
と面積Ｓの２個の測定値のみを代入し，対応する太さＷ
を算出する事を特徴とする。
【０００８】本発明の疑似楕円体選別方法において，計
測値である平面写像の長さＬ及び面積Ｓを変数とし，太
さＷを求め，長短率ｋ＝Ｗ／Ｌを定め，予め定めた既知
の複数の長短率ｋi に対応する，それぞれの重量応答関
数Ｍi ＝Ｍ（ｋi ，Ｓ）を確保し，それらの重量応答関
数Ｍi 間の補間算出方法を用いて，面積測定値Ｓに対す
る測定値ｋの重量Ｍを算出し，算出された重量Ｍ及び長
短率ｋにより，該被測定体を選別する事を特徴とする。
測値である平面写像の長さＬ及び面積Ｓを変数とし，太
さＷを求め，長短率ｋ＝Ｗ／Ｌを定め，予め定めた既知
の複数の長短率ｋi に対応する，それぞれの重量応答関
数Ｍi ＝Ｍ（ｋi ，Ｓ）を確保し，それらの重量応答関
数Ｍi 間の補間算出方法を用いて，面積測定値Ｓに対す
る測定値ｋの重量Ｍを算出し，算出された重量Ｍ及び長
短率ｋにより，該被測定体を選別する事を特徴とする。
【０００９】
【発明の実施の形態】本発明の疑似楕円体選別方法は，
疑似楕円形状のフットボール形回転対照体である疑似楕
円体の多数の被測定体を一個ずつカメラ等の画像センサ
ーにより撮影し，該被測定体の平面写像に画像処理器で
変換計測し，該画像処理器の表示画面を構成するドット
を単位として，該平面写像の面積，及び疑似楕円体の回
転軸である回転対照軸端点Ａ，Ｂの座標を計測し，予め
平面写像の長さＬ＝ＡＢ間の距離，及び面積Ｓを変数と
し，回転断面最大直径としての太さＷに対応し定めた応
答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）を用いて，長さＬと画像ドット
の総和としての面積Ｓの２個の測定値を代入し，対応す
る太さＷを算出し，該太さＷ及び長さＬにより，該被測
定体を選別する方法であって，予め定める該応答関数Ｗ
＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）は応答変数Ｗ1 ＝Ｓ／Ｌとし，既知のＷ
との差を補正応答変数Ｗ2 ＝Ｗ−Ｗ1 とし，該対応実測
関数Ｗ2 ＝Ｗ2 （Ｗ1 ）を確保する事を特徴とする。
疑似楕円形状のフットボール形回転対照体である疑似楕
円体の多数の被測定体を一個ずつカメラ等の画像センサ
ーにより撮影し，該被測定体の平面写像に画像処理器で
変換計測し，該画像処理器の表示画面を構成するドット
を単位として，該平面写像の面積，及び疑似楕円体の回
転軸である回転対照軸端点Ａ，Ｂの座標を計測し，予め
平面写像の長さＬ＝ＡＢ間の距離，及び面積Ｓを変数と
し，回転断面最大直径としての太さＷに対応し定めた応
答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）を用いて，長さＬと画像ドット
の総和としての面積Ｓの２個の測定値を代入し，対応す
る太さＷを算出し，該太さＷ及び長さＬにより，該被測
定体を選別する方法であって，予め定める該応答関数Ｗ
＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）は応答変数Ｗ1 ＝Ｓ／Ｌとし，既知のＷ
との差を補正応答変数Ｗ2 ＝Ｗ−Ｗ1 とし，該対応実測
関数Ｗ2 ＝Ｗ2 （Ｗ1 ）を確保する事を特徴とする。
【００１０】本発明の疑似楕円体選別方法において，予
め定める該応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）はＷ1 ＝Ｓ／Ｌと
し，該平面写像が表示座標軸Ｘ−Ｙから傾斜しないよう
に求めた，縦軸Ｙと平行な回転断面最大直径に対応する
最大直径端点Ｃ，Ｄの座標を計測し，Ｗ＝ＣＤ間の距離
との差をＷ2 ＝Ｗ−Ｗ1 とし，Ｗ1 ─Ｗ2 との対応実測
関数Ｗ2 ＝Ｗ2 （Ｗ1 ）を確保する事も出来る。
め定める該応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）はＷ1 ＝Ｓ／Ｌと
し，該平面写像が表示座標軸Ｘ−Ｙから傾斜しないよう
に求めた，縦軸Ｙと平行な回転断面最大直径に対応する
最大直径端点Ｃ，Ｄの座標を計測し，Ｗ＝ＣＤ間の距離
との差をＷ2 ＝Ｗ−Ｗ1 とし，Ｗ1 ─Ｗ2 との対応実測
関数Ｗ2 ＝Ｗ2 （Ｗ1 ）を確保する事も出来る。
【００１１】本発明の疑似楕円体選別方法は，疑似楕円
体の多数の一様な密度を有する被測定体を一個ずつ平面
写像に変換計測し，該平面写像の面積，及び疑似楕円体
の回転軸である回転対照軸端点Ａ，Ｂの座標を計測し，
長さＬ及び面積Ｓを変数とし，回転断面最大直径として
の太さＷに対応する，予め定めた応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，
Ｓ）を用いて，計測した長さＬと面積Ｓを代入し，対応
する太さＷを算出し，長短率ｋ＝Ｗ／Ｌを定め，該被測
定体の体積Ｖ及び一様な密度ｄとすれば，重量Ｍ＝ｄ・
Ｖとなり，予め定めた既知の複数の長短率ｋi に対応す
る，それぞれの重量応答関数Ｍi ＝Ｍ（ｋi ，Ｓ）を確
保しておき，それら重量応答関数Ｍi 間の補間算出方法
を用いて，面積測定値Ｓに対する測定値ｋの重量Ｍを算
出し，算出された重量Ｍ及び長短率ｋにより，該被測定
体を選別する事を特徴とする。
体の多数の一様な密度を有する被測定体を一個ずつ平面
写像に変換計測し，該平面写像の面積，及び疑似楕円体
の回転軸である回転対照軸端点Ａ，Ｂの座標を計測し，
長さＬ及び面積Ｓを変数とし，回転断面最大直径として
の太さＷに対応する，予め定めた応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，
Ｓ）を用いて，計測した長さＬと面積Ｓを代入し，対応
する太さＷを算出し，長短率ｋ＝Ｗ／Ｌを定め，該被測
定体の体積Ｖ及び一様な密度ｄとすれば，重量Ｍ＝ｄ・
Ｖとなり，予め定めた既知の複数の長短率ｋi に対応す
る，それぞれの重量応答関数Ｍi ＝Ｍ（ｋi ，Ｓ）を確
保しておき，それら重量応答関数Ｍi 間の補間算出方法
を用いて，面積測定値Ｓに対する測定値ｋの重量Ｍを算
出し，算出された重量Ｍ及び長短率ｋにより，該被測定
体を選別する事を特徴とする。
【００１２】本発明の疑似楕円体選別方法において，面
積測定値Ｓに対する測定値ｋの重量Ｍを求める，線型補
間算出方法として，ある２点の長短率，ｋ1 ，ｋ2 値に
対する２個の既知の応答関数Ｍ1 ，Ｍ2 を用いて，下記
の式： （Ｍ−Ｍ1 ）／（ｋ−ｋ1 ）＝（Ｍ2 −Ｍ）／（ｋ2 −
ｋ） が成立するので， Ｍ＝〔（ｋ2 −ｋ）Ｍ1 ＋（ｋ−ｋ1 ）Ｍ2 〕／（ｋ2
−ｋ1 ） により，測定値ｋに対応する重量Ｍを求める事も出来
る。
積測定値Ｓに対する測定値ｋの重量Ｍを求める，線型補
間算出方法として，ある２点の長短率，ｋ1 ，ｋ2 値に
対する２個の既知の応答関数Ｍ1 ，Ｍ2 を用いて，下記
の式： （Ｍ−Ｍ1 ）／（ｋ−ｋ1 ）＝（Ｍ2 −Ｍ）／（ｋ2 −
ｋ） が成立するので， Ｍ＝〔（ｋ2 −ｋ）Ｍ1 ＋（ｋ−ｋ1 ）Ｍ2 〕／（ｋ2
−ｋ1 ） により，測定値ｋに対応する重量Ｍを求める事も出来
る。
【００１３】本発明の疑似楕円体選別方法において，疑
似楕円体の被測定体の重量応答関数Ｍ＝Ｍ（ｋ，Ｓ）を
求める場合，長短率ｋ＝Ｗ／Ｌの分布：ｋ1 ≦ｋ≦ｋ2
の両端のしきい値ｋ1 ，ｋ2 値に対し，面積Ｓを変数と
して重量応答関数Ｍ＝Ｍ（ｋ，Ｓ）を実測し，またｋ2
の応答関数Ｍ2 （ｋ2 ，Ｓ）及びｋ1 の応答関数Ｍ
1（ｋ1 ，Ｓ）を予め確保し，面積測定値Ｓに対する測
定値ｋの重量Ｍは，応答関数Ｍ1 ，Ｍ2 間の補間算出方
法を用いて確保する事も出来る。
似楕円体の被測定体の重量応答関数Ｍ＝Ｍ（ｋ，Ｓ）を
求める場合，長短率ｋ＝Ｗ／Ｌの分布：ｋ1 ≦ｋ≦ｋ2
の両端のしきい値ｋ1 ，ｋ2 値に対し，面積Ｓを変数と
して重量応答関数Ｍ＝Ｍ（ｋ，Ｓ）を実測し，またｋ2
の応答関数Ｍ2 （ｋ2 ，Ｓ）及びｋ1 の応答関数Ｍ
1（ｋ1 ，Ｓ）を予め確保し，面積測定値Ｓに対する測
定値ｋの重量Ｍは，応答関数Ｍ1 ，Ｍ2 間の補間算出方
法を用いて確保する事も出来る。
【００１４】本発明の疑似楕円体選別方法において，疑
似楕円形状のフットボール形回転対照体である疑似楕円
体の被測定体は，楕円体からずれた，ほぼ滑らかな曲面
を持つ回転対照体で，太さＷの最大直径回転断面に対し
てほぼ対称な形状で，ほぼ一様な密度を持つ該被測定体
に適用でき，例えば甘薯，胡瓜，人参等の青果物にも適
用する事が出来る。
似楕円形状のフットボール形回転対照体である疑似楕円
体の被測定体は，楕円体からずれた，ほぼ滑らかな曲面
を持つ回転対照体で，太さＷの最大直径回転断面に対し
てほぼ対称な形状で，ほぼ一様な密度を持つ該被測定体
に適用でき，例えば甘薯，胡瓜，人参等の青果物にも適
用する事が出来る。
【００１５】本発明の疑似楕円体選別方法において，疑
似楕円体の被測定体を平面写像に変換計測し，該平面写
像の面積，及び疑似楕円体の回転軸である回転対照軸端
点Ａ，Ｂの座標を計測し，該平面写像の長さＬ＝ＡＢ間
の距離及び面積Ｓを算出するので，多少該平面写像が傾
斜しても，Ａ，Ｂ点近傍は先端形状を形成するので両端
のエッジ検出方法で正確に検出でき，また同様に面積Ｓ
も表示画面を構成するドットの総和として計測するので
正確に計測でき，複雑な計算式を必要とせず，画像セン
サーとしての画像処理器は，一般的に使用されている低
機能で安価な画像チェッカーを用いる事が出来る。
似楕円体の被測定体を平面写像に変換計測し，該平面写
像の面積，及び疑似楕円体の回転軸である回転対照軸端
点Ａ，Ｂの座標を計測し，該平面写像の長さＬ＝ＡＢ間
の距離及び面積Ｓを算出するので，多少該平面写像が傾
斜しても，Ａ，Ｂ点近傍は先端形状を形成するので両端
のエッジ検出方法で正確に検出でき，また同様に面積Ｓ
も表示画面を構成するドットの総和として計測するので
正確に計測でき，複雑な計算式を必要とせず，画像セン
サーとしての画像処理器は，一般的に使用されている低
機能で安価な画像チェッカーを用いる事が出来る。
【００１６】本発明の疑似楕円体選別方法において，図
４に示す段階近似を用いて，応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）
＝Ｗ1 ＋Ｗ2 ，Ｗ1 ＝Ｓ／ＬにおけるＷ2 ＝Ｗ
2 （Ｗ1 ）の関数を求める。ａを回転軸端点Ｘ座標，ｂ
を最大直径端点Ｙ座標とし，平面写像を点線で示す段階
近似形状で近似する。ここにβは，長方形の各隅からの
切取率＜１とし，ａ，ｂに対し，同じ割合で切り取るの
で，画像の４分の１部分の面積ａｂに対し，βａ・βｂ
だけ切り取る事になる。従って，面積Ｓ＝４ａｂ（１−
β2 ）となる。Ｌ＝２ａ，Ｗ＝２ｂを代入すると，Ｓ＝
ＬＷ（１−β2 ）を得る。故に，（Ｓ／Ｌ）＝Ｗ（１−
β2 ）＝Ｗ1 より，Ｗ＝Ｗ1 ／（１−β2 ）となり， Ｗ2 ＝Ｗ−Ｗ1 ＝〔Ｗ1 ／（１−β2 ）〕─Ｗ1 〕 ＝Ｗ1 β2 ／（１−β2 ） と表す事ができ，Ｗ2 とＷ1 は比例関係を形成する。α
＝Ｗ2 ／Ｗ1 とすれば，α＝β2 ／（１−β2 ）が得ら
れる。従って，応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）を，Ｗ＝Ｗ1
＋Ｗ2 ，Ｗ1 ＝Ｓ／ＬにおけるＷ2 ＝Ｗ2 （Ｗ1 ）の関
数とする事の妥当性が証明された。
４に示す段階近似を用いて，応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）
＝Ｗ1 ＋Ｗ2 ，Ｗ1 ＝Ｓ／ＬにおけるＷ2 ＝Ｗ
2 （Ｗ1 ）の関数を求める。ａを回転軸端点Ｘ座標，ｂ
を最大直径端点Ｙ座標とし，平面写像を点線で示す段階
近似形状で近似する。ここにβは，長方形の各隅からの
切取率＜１とし，ａ，ｂに対し，同じ割合で切り取るの
で，画像の４分の１部分の面積ａｂに対し，βａ・βｂ
だけ切り取る事になる。従って，面積Ｓ＝４ａｂ（１−
β2 ）となる。Ｌ＝２ａ，Ｗ＝２ｂを代入すると，Ｓ＝
ＬＷ（１−β2 ）を得る。故に，（Ｓ／Ｌ）＝Ｗ（１−
β2 ）＝Ｗ1 より，Ｗ＝Ｗ1 ／（１−β2 ）となり， Ｗ2 ＝Ｗ−Ｗ1 ＝〔Ｗ1 ／（１−β2 ）〕─Ｗ1 〕 ＝Ｗ1 β2 ／（１−β2 ） と表す事ができ，Ｗ2 とＷ1 は比例関係を形成する。α
＝Ｗ2 ／Ｗ1 とすれば，α＝β2 ／（１−β2 ）が得ら
れる。従って，応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）を，Ｗ＝Ｗ1
＋Ｗ2 ，Ｗ1 ＝Ｓ／ＬにおけるＷ2 ＝Ｗ2 （Ｗ1 ）の関
数とする事の妥当性が証明された。
【００１７】本発明の疑似楕円体選別方法において，図
４に示す段階近似を用いて，重量応答関数Ｍ（ｋ，Ｓ）
を求める。被測定体（１）の密度をｄとすればひ該被測
定体の体積Ｖを用いて，Ｍ＝ｄ・Ｖであるので，Ｖ＝Ｖ
（ｋ，Ｓ）の関数を先ず求める。長方形の各隅からの切
取率β＜１とし，ａ，ｂに対し，同じ割合で切り取り，
Ｘ軸に対し回転した体積Ｖを求めると，次式となる。 Ｖ／２＝πｂ2 ａ（１−β）＋πｂ2 （１−β）2 βａ 従って， Ｖ＝２πａｂ2 （１−２β2 ＋β3 ）． ここに２πａｂ2 は切り取るまえの，回転円柱の体積を
示す。面積Ｓ＝４ａｂ（１−β2 ），長短率ｋ＝Ｗ／
Ｌ，Ｌ＝２ａ，Ｗ＝２ｂを用いて変形すれば， Ｖ＝（π／４）ｋ1/2 Ｓ3/2 〔１−Ｆ（β）〕 となり，Ｆ（β）は形状によらず定数となり，β＝０の
時，Ｆ（０）＝０となり，Ｖ＝２πａｂ2 は切り取るま
えの，回転円柱の体積となる。故に，Ｍ＝ｄ・Ｖである
ので Ｍ（ｋ，Ｓ）＝ｄ・（π／４）ｋ1/2 Ｓ3/2 〔１−Ｆ
（β）〕 が得られる。従って，Ｍ（ｋ，Ｓ）は面積Ｓ及び長短率
ｋの増加関数であり，応答関数Ｍ＝Ｍ（ｋ，Ｓ）とする
妥当性を証明する事が出来る。
４に示す段階近似を用いて，重量応答関数Ｍ（ｋ，Ｓ）
を求める。被測定体（１）の密度をｄとすればひ該被測
定体の体積Ｖを用いて，Ｍ＝ｄ・Ｖであるので，Ｖ＝Ｖ
（ｋ，Ｓ）の関数を先ず求める。長方形の各隅からの切
取率β＜１とし，ａ，ｂに対し，同じ割合で切り取り，
Ｘ軸に対し回転した体積Ｖを求めると，次式となる。 Ｖ／２＝πｂ2 ａ（１−β）＋πｂ2 （１−β）2 βａ 従って， Ｖ＝２πａｂ2 （１−２β2 ＋β3 ）． ここに２πａｂ2 は切り取るまえの，回転円柱の体積を
示す。面積Ｓ＝４ａｂ（１−β2 ），長短率ｋ＝Ｗ／
Ｌ，Ｌ＝２ａ，Ｗ＝２ｂを用いて変形すれば， Ｖ＝（π／４）ｋ1/2 Ｓ3/2 〔１−Ｆ（β）〕 となり，Ｆ（β）は形状によらず定数となり，β＝０の
時，Ｆ（０）＝０となり，Ｖ＝２πａｂ2 は切り取るま
えの，回転円柱の体積となる。故に，Ｍ＝ｄ・Ｖである
ので Ｍ（ｋ，Ｓ）＝ｄ・（π／４）ｋ1/2 Ｓ3/2 〔１−Ｆ
（β）〕 が得られる。従って，Ｍ（ｋ，Ｓ）は面積Ｓ及び長短率
ｋの増加関数であり，応答関数Ｍ＝Ｍ（ｋ，Ｓ）とする
妥当性を証明する事が出来る。
【００１８】本発明の疑似楕円体選別方法において，図
４に示す平面写像が完全な楕円形状である場合，該平面
写像軌跡は（Ｘ／ａ）2 ＋（Ｙ／ｂ）2 ＝１として，面
積Ｓ＝πａｂ，体積Ｖ＝（４π／３）ａｂ2 となるの
で， Ｗ2 ＝２ｂ−πｂ／２＝（４−π）Ｗ1 ／π＝αＷ1 となり， α＝（４−π）／π＝０．２７３＝一定 なので，従って，応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）を，Ｗ＝Ｗ
1 ＋Ｗ2 ，Ｗ1 ＝Ｓ／ＬにおけるＷ2 ＝Ｗ2 （Ｗ1 ）の
関数とする事の妥当性が証明された。また， Ｖ＝（４／３）（π）-1/2ｋ1/2 Ｓ3/2 なので，重量Ｍ＝ｄ・Ｖより， Ｍ＝ｄ・（４／３）（π）-1/2ｋ1/2 Ｓ3/2 従って，Ｍ（ｋ，Ｓ）は面積Ｓ及び長短率ｋの増加関数
であり，応答関数Ｍ＝Ｍ（ｋ，Ｓ）とする妥当性を証明
する事が出来る。
４に示す平面写像が完全な楕円形状である場合，該平面
写像軌跡は（Ｘ／ａ）2 ＋（Ｙ／ｂ）2 ＝１として，面
積Ｓ＝πａｂ，体積Ｖ＝（４π／３）ａｂ2 となるの
で， Ｗ2 ＝２ｂ−πｂ／２＝（４−π）Ｗ1 ／π＝αＷ1 となり， α＝（４−π）／π＝０．２７３＝一定 なので，従って，応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）を，Ｗ＝Ｗ
1 ＋Ｗ2 ，Ｗ1 ＝Ｓ／ＬにおけるＷ2 ＝Ｗ2 （Ｗ1 ）の
関数とする事の妥当性が証明された。また， Ｖ＝（４／３）（π）-1/2ｋ1/2 Ｓ3/2 なので，重量Ｍ＝ｄ・Ｖより， Ｍ＝ｄ・（４／３）（π）-1/2ｋ1/2 Ｓ3/2 従って，Ｍ（ｋ，Ｓ）は面積Ｓ及び長短率ｋの増加関数
であり，応答関数Ｍ＝Ｍ（ｋ，Ｓ）とする妥当性を証明
する事が出来る。
【００１９】
【実施例】この発明の実施例を示す図面において，図１
は疑似楕円体選別方法の構成図，図２は実施例１を示
す，疑似楕円体選別方法に用いる太さ応答変数，Ｗ1 及
びＷ2 の実測値，図３は実施例２を示す，疑似楕円体選
別方法に用いる面積Ｓ−重量Ｍ応答実測曲線，図４は段
階近似による応答関数の説明図，そして図５は実施例３
を示す，疑似楕円体選別方法のフローチャートである。
は疑似楕円体選別方法の構成図，図２は実施例１を示
す，疑似楕円体選別方法に用いる太さ応答変数，Ｗ1 及
びＷ2 の実測値，図３は実施例２を示す，疑似楕円体選
別方法に用いる面積Ｓ−重量Ｍ応答実測曲線，図４は段
階近似による応答関数の説明図，そして図５は実施例３
を示す，疑似楕円体選別方法のフローチャートである。
【００２０】この発明の実施例を図面を参照して以下説
明すると，図１に示すように，疑似楕円体選別方法の構
成は，疑似楕円形状の回転対照体である疑似楕円体の多
数の被測定体（１）として甘薯を採用し，各該被測定体
を一個ずつバッケト（１ｂ）上に乗せ，カメラ（２）に
より該被測定体の平面写像（１ａ）を撮影し，該バッケ
トは撮影毎に自動的に移動し，各該平面写像は画像処理
器（３）へ送信し表示され，該平面写像の面積，及び疑
似楕円体の回転軸である回転対照軸端点Ａ，Ｂ，回転断
面最大直径に対応する最大直径端点Ｃ，Ｄの座標を出力
し，パーソナル・コンピュータ等によりデータ処理を行
い，該被測定体の長さＬ＝ＡＢ間の距離，太さＷ＝ＣＤ
間の距離，及び面積Ｓを算出する事ができる事を特徴と
する。
明すると，図１に示すように，疑似楕円体選別方法の構
成は，疑似楕円形状の回転対照体である疑似楕円体の多
数の被測定体（１）として甘薯を採用し，各該被測定体
を一個ずつバッケト（１ｂ）上に乗せ，カメラ（２）に
より該被測定体の平面写像（１ａ）を撮影し，該バッケ
トは撮影毎に自動的に移動し，各該平面写像は画像処理
器（３）へ送信し表示され，該平面写像の面積，及び疑
似楕円体の回転軸である回転対照軸端点Ａ，Ｂ，回転断
面最大直径に対応する最大直径端点Ｃ，Ｄの座標を出力
し，パーソナル・コンピュータ等によりデータ処理を行
い，該被測定体の長さＬ＝ＡＢ間の距離，太さＷ＝ＣＤ
間の距離，及び面積Ｓを算出する事ができる事を特徴と
する。
【００２１】本発明の疑似楕円体選別方法に用いる画像
処理器（３）において，表示画面の横幅及び縦幅をドッ
ト単位で表示し，１ドット当たり０．７ｍｍとし，１ド
ット当たりの単位面積は０．７ｘ０．７ｍｍ2 に相当
し，平面写像（１ａ）の長さＬ及び太さＷはドット単位
（１ドット＝０．７ｍｍ）で，そして面積Ｓはドット単
位（１ドット＝０．７ｘ０．７ｍｍ2 ）で算出する。
処理器（３）において，表示画面の横幅及び縦幅をドッ
ト単位で表示し，１ドット当たり０．７ｍｍとし，１ド
ット当たりの単位面積は０．７ｘ０．７ｍｍ2 に相当
し，平面写像（１ａ）の長さＬ及び太さＷはドット単位
（１ドット＝０．７ｍｍ）で，そして面積Ｓはドット単
位（１ドット＝０．７ｘ０．７ｍｍ2 ）で算出する。
【００２２】本発明の疑似楕円体選別方法において，疑
似楕円体の回転断面最大直径に対応する太さＷ＝ＣＤ間
の距離の測定は，平面写像（１ａ）が表示座標軸Ｘ−Ｙ
から傾斜した場合，Ｃ，Ｄ点近傍が滑らかな形状を形成
するので上下エッジの検出方法では不正確になり測定誤
差が増加し，通常Ｌ＞ＷなのでＷの相対誤差も増加し，
また簡単な計算で算出する事が困難なので，多少該平面
写像が傾斜しても，Ａ，Ｂ点近傍は先端形状を形成する
ので左右エッジの検出方法で正確に測定でき，また同様
に画面ドットの総和としての面積Ｓも正確に測定でき，
被測定体の長さＬ＝ＡＢ間の距離と面積Ｓの２個の測定
値で太さＷを算出する，応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）を予
め求めておく。
似楕円体の回転断面最大直径に対応する太さＷ＝ＣＤ間
の距離の測定は，平面写像（１ａ）が表示座標軸Ｘ−Ｙ
から傾斜した場合，Ｃ，Ｄ点近傍が滑らかな形状を形成
するので上下エッジの検出方法では不正確になり測定誤
差が増加し，通常Ｌ＞ＷなのでＷの相対誤差も増加し，
また簡単な計算で算出する事が困難なので，多少該平面
写像が傾斜しても，Ａ，Ｂ点近傍は先端形状を形成する
ので左右エッジの検出方法で正確に測定でき，また同様
に画面ドットの総和としての面積Ｓも正確に測定でき，
被測定体の長さＬ＝ＡＢ間の距離と面積Ｓの２個の測定
値で太さＷを算出する，応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）を予
め求めておく。
【００２３】本発明の疑似楕円体選別方法において，応
答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）を求めるために，応答変数Ｗ1
＝Ｓ／Ｌとし，平面写像（１ａ）が表示座標軸Ｘ−Ｙか
ら傾斜しないように求めたＷ＝ＣＤ間の距離との差を補
正応答変数Ｗ2 ＝Ｗ−Ｗ1 とし，Ｗ1 ─Ｗ2 との対応関
係を実測し図２の関係を得た。図２に示すように，応答
変数Ｗ2 は Ｗ2 ＝０．３６ｘＷ1 ＋ ０．４ として，Ｗ1 の一次の関数として表すことができ，ほぼ
非常に良い比例関係を形成し，Ｗ2 ≒αＷ1 となり，α
は形状によらない定数α＝０．３６を得た。
答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）を求めるために，応答変数Ｗ1
＝Ｓ／Ｌとし，平面写像（１ａ）が表示座標軸Ｘ−Ｙか
ら傾斜しないように求めたＷ＝ＣＤ間の距離との差を補
正応答変数Ｗ2 ＝Ｗ−Ｗ1 とし，Ｗ1 ─Ｗ2 との対応関
係を実測し図２の関係を得た。図２に示すように，応答
変数Ｗ2 は Ｗ2 ＝０．３６ｘＷ1 ＋ ０．４ として，Ｗ1 の一次の関数として表すことができ，ほぼ
非常に良い比例関係を形成し，Ｗ2 ≒αＷ1 となり，α
は形状によらない定数α＝０．３６を得た。
【００２４】本発明の疑似楕円体選別方法において，応
答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）はＷ＝Ｗ1＋Ｗ2 ，Ｗ1 ＝Ｓ／
Ｌ及びＷ2 ＝Ｗ2 （Ｗ1 ）と表す事が出でき，予め実測
で確保したＷ1 ─Ｗ2 との対応実測値Ｗ2 ＝Ｗ
2 （Ｗ1 ）を用いて，長さＬと面積Ｓの２個の測定値で
太さＷを算出する事が出来る。
答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）はＷ＝Ｗ1＋Ｗ2 ，Ｗ1 ＝Ｓ／
Ｌ及びＷ2 ＝Ｗ2 （Ｗ1 ）と表す事が出でき，予め実測
で確保したＷ1 ─Ｗ2 との対応実測値Ｗ2 ＝Ｗ
2 （Ｗ1 ）を用いて，長さＬと面積Ｓの２個の測定値で
太さＷを算出する事が出来る。
【００２５】本発明の疑似楕円体選別方法において，応
答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）＝Ｗ1 ＋Ｗ2 ，Ｗ1 ＝Ｓ／Ｌ
と，Ｗ1 ─Ｗ2 との対応実測値Ｗ2 ＝Ｗ2 （Ｗ1 ）を用
いた，３８個の疑似楕円体の被測定体（１）の算出Ｗ値
と，実測Ｗ値との平均誤差は３．４％を確保した。
答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）＝Ｗ1 ＋Ｗ2 ，Ｗ1 ＝Ｓ／Ｌ
と，Ｗ1 ─Ｗ2 との対応実測値Ｗ2 ＝Ｗ2 （Ｗ1 ）を用
いた，３８個の疑似楕円体の被測定体（１）の算出Ｗ値
と，実測Ｗ値との平均誤差は３．４％を確保した。
【００２６】本発明の疑似楕円体選別方法において，疑
似楕円体の被測定体（１）の重量Ｍを，平面写像（１
ａ）の長さＬ＝ＡＢ間の距離と面積Ｓの２個の測定値で
算出するために，先ず長さＬと面積ＳとからＷ値を算出
し，Ｗ／Ｌを長短率として定め，該被測定体の密度をｄ
とすれば該被測定体の体積Ｖを用いて，Ｍ＝ｄ・Ｖであ
るので，Ｖ＝Ｖ（ｋ，Ｓ）の関数として表す事が出来れ
ば，重量応答関数Ｍ＝Ｍ（ｋ，Ｓ）を予め実測しておけ
ば，長さＬと面積Ｓの２個の測定値で算出する事が出来
る。
似楕円体の被測定体（１）の重量Ｍを，平面写像（１
ａ）の長さＬ＝ＡＢ間の距離と面積Ｓの２個の測定値で
算出するために，先ず長さＬと面積ＳとからＷ値を算出
し，Ｗ／Ｌを長短率として定め，該被測定体の密度をｄ
とすれば該被測定体の体積Ｖを用いて，Ｍ＝ｄ・Ｖであ
るので，Ｖ＝Ｖ（ｋ，Ｓ）の関数として表す事が出来れ
ば，重量応答関数Ｍ＝Ｍ（ｋ，Ｓ）を予め実測しておけ
ば，長さＬと面積Ｓの２個の測定値で算出する事が出来
る。
【００２７】本発明の疑似楕円体選別方法において，疑
似楕円体の被測定体（１）の重量Ｍを，或る一定の長短
率ｋ＝Ｗ／Ｌの，ｋ1 ，ｋ2 値に対し，面積Ｓを変数と
して実測した，面積Ｓ−重量Ｍの応答実測曲線を図３に
示す。該被測定体と甘薯は，長短率ｋの範囲が主に両端
のしきい値，０．４から０．６程度に分布するので，ｋ
2 ＝０．６の応答関数Ｍ2 （ｋ2 ，Ｓ）は０．６以上の
ｋの該被測定体にたいして実測し，ｋ1 ＝０．４の応答
関数Ｍ1 （ｋ1 ，Ｓ）は０．４以下のｋの該被測定体に
たいして実測して確保した。実測による応答関数Ｍ
（ｋ，Ｓ）は，明らかに長短率ｋと面積Ｓで求める事が
でき，或る一定のＳに対し，応答関数Ｍは長短率ｋの増
加関数である事を示し，少なくとも２点の長短率，
ｋ1 ，ｋ2 値に対する２個の応答関数Ｍ1 ，Ｍ2 を予め
確保すれば，ある一定の面積測定値Ｓに対する測定値ｋ
の重量は，応答関数Ｍ1 ，Ｍ2 間の補間算出方法を用い
て，平均誤差５％以内で確保する事が出来た。
似楕円体の被測定体（１）の重量Ｍを，或る一定の長短
率ｋ＝Ｗ／Ｌの，ｋ1 ，ｋ2 値に対し，面積Ｓを変数と
して実測した，面積Ｓ−重量Ｍの応答実測曲線を図３に
示す。該被測定体と甘薯は，長短率ｋの範囲が主に両端
のしきい値，０．４から０．６程度に分布するので，ｋ
2 ＝０．６の応答関数Ｍ2 （ｋ2 ，Ｓ）は０．６以上の
ｋの該被測定体にたいして実測し，ｋ1 ＝０．４の応答
関数Ｍ1 （ｋ1 ，Ｓ）は０．４以下のｋの該被測定体に
たいして実測して確保した。実測による応答関数Ｍ
（ｋ，Ｓ）は，明らかに長短率ｋと面積Ｓで求める事が
でき，或る一定のＳに対し，応答関数Ｍは長短率ｋの増
加関数である事を示し，少なくとも２点の長短率，
ｋ1 ，ｋ2 値に対する２個の応答関数Ｍ1 ，Ｍ2 を予め
確保すれば，ある一定の面積測定値Ｓに対する測定値ｋ
の重量は，応答関数Ｍ1 ，Ｍ2 間の補間算出方法を用い
て，平均誤差５％以内で確保する事が出来た。
【００２８】本発明の疑似楕円体選別方法において，図
４に示す段階近似を用いて，応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）
＝Ｗ1 ＋Ｗ2 ，Ｗ1 ＝Ｓ／ＬにおけるＷ2 ＝Ｗ
2 （Ｗ1 ）の関数を求めると， Ｗ2 ＝Ｗ1 β2 ／（１−β2 ） と表す事ができ，Ｗ2 とＷ1 は比例関係を形成する。α
＝Ｗ2 ／Ｗ1 とすれば，α＝β2 ／（１−β2 ）が得ら
れる。図２のに示すように，応答変数Ｗ1 ，Ｗ2 は非常
に良い比例関係を形成し，Ｗ2 ＝αＷ1 となり，αは形
状によらない定数α＝０．３６を得たので，これによ
り，βを求めると，β＝０．５２となり，長方形の各隅
から約半分程度切り取った近似を示している。
４に示す段階近似を用いて，応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）
＝Ｗ1 ＋Ｗ2 ，Ｗ1 ＝Ｓ／ＬにおけるＷ2 ＝Ｗ
2 （Ｗ1 ）の関数を求めると， Ｗ2 ＝Ｗ1 β2 ／（１−β2 ） と表す事ができ，Ｗ2 とＷ1 は比例関係を形成する。α
＝Ｗ2 ／Ｗ1 とすれば，α＝β2 ／（１−β2 ）が得ら
れる。図２のに示すように，応答変数Ｗ1 ，Ｗ2 は非常
に良い比例関係を形成し，Ｗ2 ＝αＷ1 となり，αは形
状によらない定数α＝０．３６を得たので，これによ
り，βを求めると，β＝０．５２となり，長方形の各隅
から約半分程度切り取った近似を示している。
【００２９】本発明の疑似楕円体選別方法において，図
４に示す段階近似を用いて，重量応答関数Ｍ（ｋ，Ｓ）
を求めと Ｍ（ｋ，Ｓ）∽ｋ1/2 Ｓ3/2 が得られ，従って，Ｍ（ｋ，Ｓ）は面積Ｓ及び長短率ｋ
の増加関数であり，図３に示す面積Ｓ−重量Ｍの応答実
測曲線Ｍ（ｋ，Ｓ）の妥当性を説明する事が出来る。
４に示す段階近似を用いて，重量応答関数Ｍ（ｋ，Ｓ）
を求めと Ｍ（ｋ，Ｓ）∽ｋ1/2 Ｓ3/2 が得られ，従って，Ｍ（ｋ，Ｓ）は面積Ｓ及び長短率ｋ
の増加関数であり，図３に示す面積Ｓ−重量Ｍの応答実
測曲線Ｍ（ｋ，Ｓ）の妥当性を説明する事が出来る。
【００３０】本発明の疑似楕円体選別方法において，図
５に該選別方法を示しており，段階Ｓ０から選別を開始
し，段階Ｓ１において，被測定体（１）として甘薯を採
用し，各該被測定体を一個ずつバッケト（１ｂ）上に乗
せ，カメラ（２）により該被測定体の平面写像（１ａ）
を撮影し，平面写像データ計測を行い，面積Ｓ，回
転対照軸の両端点座標，Ａ（Ｘａ，Ｙａ），Ｂ（Ｘｂ，
Ｙｂ）を計測し，段階Ｓ２において，パーソナル・コン
ピュータ等によりデータ処理を行い，長さＬの決定
を，式：Ｌ＝ＡＢ＝〔（Xa-Xb)2+（Ya-Yb)2 〕1/2 より
算出し，太さＷの決定は，面積Ｓと長さＬを用い，Ｗ
1 ＝Ｓ／Ｌを算出し，図２に示すＷ1 ─Ｗ2 との対応実
測値Ｗ2 ＝Ｗ2 （Ｗ1 ）より，Ｗ2 を求め，Ｗ＝Ｗ1 ＋
Ｗ2 を定め，長短率ｋ＝Ｗ／Ｌの決定は，算出した
Ｗ，Ｌより，ｋ＝Ｗ／Ｌを定め，重量Ｍの決定は，図
３に示す２点の長短率，ｋ1 ，ｋ2 値に対する２個の応
答関数Ｍ1 ，Ｍ2 を用い，面積測定値Ｓに対する測定値
ｋを，応答関数Ｍ1 ，Ｍ2 間の線型補間算出方法で，
式： Ｍ＝〔（ｋ2 −ｋ）Ｍ1 ＋（ｋ−ｋ1 ）Ｍ2 〕／（ｋ2
−ｋ1 ） に代入し，測定値ｋに対応する重量Ｍを求め，段階Ｓ３
において，算出した長短率ｋ及び重量Ｍに対応して，予
め定めた階級先指定判別を行い，段階Ｓ４において，機
械的操作に階級先指定を命令し，排出選別処理を行う繰
り返し操作を，該バッケトの自動搬送により，各該被測
定体に対して連続して行う。
５に該選別方法を示しており，段階Ｓ０から選別を開始
し，段階Ｓ１において，被測定体（１）として甘薯を採
用し，各該被測定体を一個ずつバッケト（１ｂ）上に乗
せ，カメラ（２）により該被測定体の平面写像（１ａ）
を撮影し，平面写像データ計測を行い，面積Ｓ，回
転対照軸の両端点座標，Ａ（Ｘａ，Ｙａ），Ｂ（Ｘｂ，
Ｙｂ）を計測し，段階Ｓ２において，パーソナル・コン
ピュータ等によりデータ処理を行い，長さＬの決定
を，式：Ｌ＝ＡＢ＝〔（Xa-Xb)2+（Ya-Yb)2 〕1/2 より
算出し，太さＷの決定は，面積Ｓと長さＬを用い，Ｗ
1 ＝Ｓ／Ｌを算出し，図２に示すＷ1 ─Ｗ2 との対応実
測値Ｗ2 ＝Ｗ2 （Ｗ1 ）より，Ｗ2 を求め，Ｗ＝Ｗ1 ＋
Ｗ2 を定め，長短率ｋ＝Ｗ／Ｌの決定は，算出した
Ｗ，Ｌより，ｋ＝Ｗ／Ｌを定め，重量Ｍの決定は，図
３に示す２点の長短率，ｋ1 ，ｋ2 値に対する２個の応
答関数Ｍ1 ，Ｍ2 を用い，面積測定値Ｓに対する測定値
ｋを，応答関数Ｍ1 ，Ｍ2 間の線型補間算出方法で，
式： Ｍ＝〔（ｋ2 −ｋ）Ｍ1 ＋（ｋ−ｋ1 ）Ｍ2 〕／（ｋ2
−ｋ1 ） に代入し，測定値ｋに対応する重量Ｍを求め，段階Ｓ３
において，算出した長短率ｋ及び重量Ｍに対応して，予
め定めた階級先指定判別を行い，段階Ｓ４において，機
械的操作に階級先指定を命令し，排出選別処理を行う繰
り返し操作を，該バッケトの自動搬送により，各該被測
定体に対して連続して行う。
【００３１】
【発明の効果】本発明は，以上説明した様な形態で実施
され，以下に記載される様な効果を有する。
され，以下に記載される様な効果を有する。
【００３２】本発明の疑似楕円体選別方法を用いて，平
面写像の長さＬ及び面積Ｓを計測し，太さＷに対応す
る，予め定めた応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）を用いて，長
さＬと面積Ｓの２個の測定値のみをを代入し，対応する
太さＷを算出できるので，画像計測領域に対し，被測定
体が斜めになっても，上下方向エッジ検出方法を用いず
に太さＷを測定誤差数％以下で正確に算出でき，低価格
低機能の画像チェッカーとも呼ぶ画像処理器を用いる事
ができ，選別施設のコスト低減化を計る事が出来る。
面写像の長さＬ及び面積Ｓを計測し，太さＷに対応す
る，予め定めた応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）を用いて，長
さＬと面積Ｓの２個の測定値のみをを代入し，対応する
太さＷを算出できるので，画像計測領域に対し，被測定
体が斜めになっても，上下方向エッジ検出方法を用いず
に太さＷを測定誤差数％以下で正確に算出でき，低価格
低機能の画像チェッカーとも呼ぶ画像処理器を用いる事
ができ，選別施設のコスト低減化を計る事が出来る。
【００３３】本発明の疑似楕円体選別方法を用いて，計
測値である平面写像の長さＬ及び面積Ｓから，太さＷを
求め，長短率ｋ＝Ｗ／Ｌを定め，予め定めた既知の複数
の長短率ｋi に対応する，それぞれの重量応答関数Ｍi
＝Ｍ（ｋi ，Ｓ）を確保し，それらの重量応答関数Ｍi
間の補間算出方法を用いて，面積測定値Ｓに対する測定
値ｋの重量Ｍを算出し，算出された重量Ｍ及び長短率ｋ
により，該被測定体を選別するので，重量応答関数Ｍは
ｋ，Ｓの増加関数として，正確に表せるので，測定誤差
数％以下で重量Ｍを正確に算出し，広いｋ，Ｓ領域に適
応できる効果を有し，且つ低価格低機能の画像チェッカ
ーとしての画像処理器を用いる事ができ，選別施設のコ
スト低減化を計る事が出来る。
測値である平面写像の長さＬ及び面積Ｓから，太さＷを
求め，長短率ｋ＝Ｗ／Ｌを定め，予め定めた既知の複数
の長短率ｋi に対応する，それぞれの重量応答関数Ｍi
＝Ｍ（ｋi ，Ｓ）を確保し，それらの重量応答関数Ｍi
間の補間算出方法を用いて，面積測定値Ｓに対する測定
値ｋの重量Ｍを算出し，算出された重量Ｍ及び長短率ｋ
により，該被測定体を選別するので，重量応答関数Ｍは
ｋ，Ｓの増加関数として，正確に表せるので，測定誤差
数％以下で重量Ｍを正確に算出し，広いｋ，Ｓ領域に適
応できる効果を有し，且つ低価格低機能の画像チェッカ
ーとしての画像処理器を用いる事ができ，選別施設のコ
スト低減化を計る事が出来る。
【図１】この発明の実施例を示す，疑似楕円体選別方法
の構成図。
の構成図。
【図２】この発明の実施例１を示す，疑似楕円体選別方
法に用いる太さ応答変数Ｗ1 及び補正応答変数Ｗ2 の対
応実測関数Ｗ2 ＝Ｗ2 （Ｗ1 ）。
法に用いる太さ応答変数Ｗ1 及び補正応答変数Ｗ2 の対
応実測関数Ｗ2 ＝Ｗ2 （Ｗ1 ）。
【図３】この発明の実施例２を示す，疑似楕円体選別方
法に用いる面積Ｓ−重量Ｍ応答実測曲線。
法に用いる面積Ｓ−重量Ｍ応答実測曲線。
【図４】この発明の実施例に用いる，段階近似による応
答関数の説明図。
答関数の説明図。
【図５】この発明の実施例３を示す，疑似楕円体選別方
法のフローチャート。
法のフローチャート。
１ 被測定体 １ａ 平面写像 １ｂ バケット ２ カメラ ３ 画像処理器 Ａ，Ｂ 回転軸端点 Ｃ，Ｄ 最大直径端点 Ｌ 長さ Ｓ 面積 Ｖ 体積 Ｍ 重量＝ｄ・Ｖ Ｘ 横軸 Ｙ 縦軸 Ｗ 太さ Ｗ1 ＝Ｓ／Ｌで定める応答変数 Ｗ2 補正応答変数 ａ 回転軸端点Ｘ座標 ｂ 最大直径端点Ｙ座標 ｄ 密度 ｋ ＝Ｗ／Ｌで定める長短率 α ＝Ｗ2 ／Ｗ1 β 段階近似における切取率＜１
Claims (2)
- 【請求項１】疑似楕円形状体の多数の被測定体（１）を
一個ずつカメラ（２）等の画像センサーにより撮影し，
画像処理器（３）により該被測定体の平面写像（１ａ）
に変換計測し，表示画面を構成するドットを単位とし
て，該平面写像の面積，及び疑似楕円体の回転軸である
回転対照軸端点Ａ，Ｂの座標を計測し，予め長さＬ＝Ａ
Ｂ間の距離，及び面積Ｓを変数とし，回転断面最大直径
としての太さＷに対応して定めた応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，
Ｓ）を用いて，計測した長さＬと画像ドットの総和とし
ての面積Ｓの２個の測定値を代入し，対応する太さＷを
算出し，該太さＷ及び長さＬにより，該被測定体を選別
する方法であって，予め定める該応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，
Ｓ）は応答変数Ｗ1 ＝Ｓ／Ｌとし，既知のＷとの差を補
正応答変数Ｗ2 ＝Ｗ−Ｗ1 とし，該対応実測関数Ｗ2 ＝
Ｗ2 （Ｗ1 ）を前もって確保する事を特徴とする疑似楕
円体選別方法。 - 【請求項２】疑似楕円形状体の多数の一様な密度を有す
る被測定体（１）を一個ずつカメラ（２）等の画像セン
サーにより撮影し，画像処理器（３）により該被測定体
の平面写像（１ａ）に変換計測し，表示画面を構成する
ドットを単位として，該平面写像の面積，及び疑似楕円
体の回転軸である回転対照軸端点Ａ，Ｂの座標を計測
し，予め長さＬ＝ＡＢ間の距離，及び面積Ｓを変数と
し，回転断面最大直径としての太さＷに対応して定めた
応答関数Ｗ＝Ｗ（Ｌ，Ｓ）を用いて，計測した長さＬと
画像ドットの総和としての面積Ｓの２個の測定値を代入
し，対応する太さＷを算出し，長短率ｋ＝Ｗ／Ｌを算出
し，該被測定体の体積Ｖ及び一様な密度ｄとする，重量
Ｍ＝ｄ・Ｖより，予め定めた既知の複数の長短率ｋiに
対応する，それぞれの重量応答関数Ｍi ＝Ｍ（ｋi ，
Ｓ）を前もって確保しておき，それら重量応答関数Ｍi
間の補間算出方法を用いて，面積測定値Ｓ及び算出値ｋ
に対応する重量Ｍを算出し，算出された重量Ｍ及び長短
率ｋにより，該被測定体を選別する事を特徴とする疑似
楕円体選別方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10129528A JP2917142B1 (ja) | 1998-04-22 | 1998-04-22 | 疑似楕円体選別方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10129528A JP2917142B1 (ja) | 1998-04-22 | 1998-04-22 | 疑似楕円体選別方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JP2917142B1 JP2917142B1 (ja) | 1999-07-12 |
| JPH11306360A true JPH11306360A (ja) | 1999-11-05 |
Family
ID=15011750
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10129528A Expired - Fee Related JP2917142B1 (ja) | 1998-04-22 | 1998-04-22 | 疑似楕円体選別方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2917142B1 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008512672A (ja) * | 2004-09-07 | 2008-04-24 | ペトロモデル・イーエイチエフ | 鉱物および岩石小片のサイズ、形状、アンギュラリティの解析のため、および組成解析のための装置および方法 |
-
1998
- 1998-04-22 JP JP10129528A patent/JP2917142B1/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008512672A (ja) * | 2004-09-07 | 2008-04-24 | ペトロモデル・イーエイチエフ | 鉱物および岩石小片のサイズ、形状、アンギュラリティの解析のため、および組成解析のための装置および方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JP2917142B1 (ja) | 1999-07-12 |
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