JPH11295679A

JPH11295679A - 液晶表示装置及びその検査方法

Info

Publication number: JPH11295679A
Application number: JP10101029A
Authority: JP
Inventors: Masami Oda; 雅美小田; Michiya Oura; 道也大浦; Keizo Morita; 敬三森田; Masashi Itokazu; 昌史糸数
Original assignee: Fujitsu Ltd
Current assignee: Fujitsu Ltd
Priority date: 1998-04-13
Filing date: 1998-04-13
Publication date: 1999-10-29
Anticipated expiration: 2018-04-13
Also published as: JP4080057B2

Abstract

(57)【要約】【課題】本発明は、簡易な構成を追加するだけで、デ
ータドライバの出力段に設けられたアナログスイッチの
欠陥状態を容易に検出、判定することができる液晶表示
装置及びその検査方法を提供することを課題とする。【解決手段】液晶表示装置１００は、表示画面の１画
素に相当するＴＦＴ１１と、ＴＦＴ１１のスイッチ動作
により駆動される液晶素子が、マトリクス状に配列され
た表示領域（液晶パネル）１０と、所望の画像信号を１
画素分づつ出力するデータドライバ２０と、表示領域１
０の１列分のＴＦＴ１１をスイッチ制御するスキャンド
ライバ３０と、を有し、データドライバ２０の画像信号
線Ｇ１〜Ｇｎの各々には、画像信号線Ｇ１〜Ｇｎに印加
された信号電圧を観測するモニタ端子ＧＭ１〜ＧＭｎが
接続されている。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、液晶表示装置及び
その検査方法に関し、特に、点順次駆動方式を採用し、
かつ、ポリシリコンにより構成された液晶表示装置にお
ける欠陥検出に関する。

【０００２】

【従来の技術】近年、パーソナルコンピュータやテレビ
を始め、ハンディタイプのビデオセットやデジタルカメ
ラ等、液晶表示装置を搭載した製品の普及が顕著となっ
ている。このような液晶表示装置における表示駆動方式
には、大別して、線順次駆動方式及び点順次駆動方式と
がある。

【０００３】線順次駆動方式は、液晶画面の１列分の画
像データを一括して出力し、表示するものであるため、
アモルファスシリコンのようにキャリヤの移動度が低い
液晶パネルに採用しても、比較的大型の液晶パネルで十
分な画質が得られる、という特徴を有している反面、１
列分の画像データを保持するためのラッチ等が必要とな
り、液晶パネルに付設される周辺回路の専有面積が増大
する、という問題を有している。

【０００４】一方、点順次駆動方式は、液晶画面の１画
素分の画像データを順次出力し、表示するものであるた
め、画素数の多い大型の液晶表示装置パネルの駆動には
不向きである、という問題を有している反面、画像デー
タを１画素分ずつ出力するため、線順次駆動方式のよう
に、１列分の画像データを保持するラッチ等を必要とせ
ず、周辺回路を簡略化して、液晶表示装置を小型化する
ことができる、という特徴を有している。

【０００５】そのため、パソコンやテレビ等の比較的大
型の液晶表示装置には、線順次駆動方法が採用され、ビ
デオセットやデジタルカメラ等の比較的小型の液晶表示
装置には、点順次駆動方法が採用される傾向にある。と
ころで、現在、液晶表示装置を構成する液晶パネルの主
流は、アモルファスシリコンであるが、アモルファスシ
リコンに比較して、キャリヤの移動度が１〜２桁程度高
いポリシリコン（多結晶シリコン）を用いて構成された
液晶表示装置に、上述した点順次駆動方式を採用し、比
較的大型の液晶表示装置を実現するための研究開発が進
められている。

【０００６】上述したようなポリシリコンにより液晶パ
ネル（液晶表示部）及び周辺回路（駆動回路部）を構成
した液晶表示装置の概略構成について、図６を参照して
説明する。図６は、ポリシリコンからなる薄膜トランジ
スタ（以下、ＴＦＴという）を液晶素子の駆動スイッチ
として用いた液晶表示装置１００であって、液晶表示装
置１００は、表示画面の１画素に相当するＴＦＴ１１
と、ＴＦＴ１１のスイッチ動作により駆動される液晶素
子が、マトリクス状に配列された表示領域（液晶パネ
ル）１０と、所望の画像信号を１画素分づつ出力するデ
ータドライバ２０と、表示領域１０の１列分のＴＦＴ１
１をスイッチ制御するスキャンドライバ３０と、を有し
て構成されている。

【０００７】なお、表示領域１０以外のデータドライバ
２０及びスキャンドライバ３０も、ポリシリコンにより
構成されている。データドライバ２０は、シフトレジス
タ２１と、アナログスイッチ２２と、画像信号線Ｇ１〜
Ｇｎと、データバスＤ11〜Ｄmnとを有して構成され、シ
フトレジスタ２１は、基準クロックＣＬＫに基づいてア
ナログスイッチ２２の動作を制御する制御信号Ｑ１〜Ｑ
ｍを生成、送出し、また、データドライバ２０の出力段
としてのアナログスイッチ２２は、データバスＤ11〜Ｄ
mnの各々にＭＯＳトランジスタが設けられ、シフトレジ
スタ２１からの制御信号Ｑ１〜Ｑｍに応じて、ＯＮ／Ｏ
ＦＦ動作が制御される。

【０００８】画像信号線Ｇ１〜Ｇｎに印加された画像信
号は、アナログスイッチ２２のＯＮ／ＯＦＦ状態に応じ
て、データバスＤ11〜Ｄmnを介して表示領域１０の液晶
素子１２に出力される。なお、図６に示すように、画像
信号を出力するデータバスＤ11〜Ｄmnは、ｎ本毎のブロ
ックＤ11〜Ｄ1n、Ｄ21〜Ｄ2n、・・・Ｄm1〜Ｄmnに分け
られ、点順次駆動方式を採用することにより、１ブロッ
ク分のデータバスに画像信号線Ｇ１〜Ｇｎに印加された
画像信号を同時に出力し、他のブロックについても順次
同様の動作を繰り返して、１水平期間に液晶画面の１ラ
イン（列）分の画像情報が液晶素子に書き込まれる。

【０００９】

【発明が解決しようとする課題】上述したような液晶表
示装置１００において、アナログスイッチ２２を構成す
るＭＯＳトランジスタに、欠陥が発生した場合の問題点
について図７を参照して説明する。図７に示すように、
アナログスイッチ２２を構成するＭＯＳトランジスタＴ
ｒ11、Ｔｒ12、・・・のうち、例えばＭＯＳトランジス
タＴｒ11において、ゲート−ドレイン間でショート欠陥
２３が発生した場合について説明する。

【００１０】図６に示したように、各ブロックＤ11〜Ｄ
1n、Ｄ21〜Ｄ2n、・・・Ｄm1〜Ｄmnの1番目のデータバ
スＤ11、Ｄ21、・・・Ｄm1は画像信号線Ｇ１に共通に接
続され、同様に、ｉ番目のデータバスＤ1i、Ｄ2i、・・
・Ｄmiは画像信号線Ｇｉに共通に接続されているため、
上述したようなショート欠陥２３が発生した場合、ＭＯ
Ｓトランジスタのゲート電極とドレイン電極とがショー
トすることとなり、ゲート電圧が画像信号線に回り込ん
で、画像信号の電位が所望の電位から変化して、他のブ
ロックのデータバスＤ21、・・・Ｄm1を介して出力され
る画像信号にまで影響を及ぼすという問題を有してい
た。

【００１１】このようなアナログスイッチのショート欠
陥を検出する方法は、従来顕微鏡等を用いて目視検査を
行うことが一般的であり、検査工程において、極めて煩
雑で困難な作業を行わなければならないという問題を有
していた。そこで、本発明は、上記問題点を解決し、簡
易な構成を追加するだけで、データドライバの出力段に
設けられたアナログスイッチの欠陥状態を容易に検出、
判定することができる液晶表示装置及びその検査方法を
提供することを目的としている。

【００１２】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、請求項１記載の液晶表示装置は、液晶表示パネルの
各画素にデータ信号線を介して画像データ信号を出力す
るデータドライバと、前記データドライバの出力段とな
る前記データ信号線に設けられたアナログスイッチと、
前記アナログスイッチをクロック信号に基づいて動作制
御するシフトレジスタと、前記データ信号線に接続さ
れ、前記データ信号線に印加される信号電圧を観測する
モニタ端子と、前記データ信号線に前記画像データ信号
とは異なる所定の電圧を印加する電圧印加部と、を有す
ることを特徴としている。

【００１３】また、請求項２記載の発明は、請求項１記
載の液晶表示装置において、前記アナログスイッチは、
複数のトランジスタが並列に接続されていることを特徴
としている。また、請求項３記載の発明は、請求項１記
載の液晶表示装置において、前記アナログスイッチは、
複数のトランジスタがマトリクス状に接続されているこ
とを特徴としている。

【００１４】さらに、請求項４記載の発明は、請求項
１、２又は３記載の液晶表示装置において、前記データ
信号線に印加される前記所定の電圧は、一定の直流電圧
であることを特徴としている。そして、請求項５記載の
液晶表示装置の検査方法は、液晶表示パネルの各画素に
画像データ信号を出力するデータドライバ内のデータ信
号線に、前記画像データ信号とは異なる所定の電圧を印
加する処理と、前記データドライバの出力段となる前記
データ信号線に設けられたアナログスイッチを動作させ
る処理と、前記データ信号線に設けられたモニタ端子に
より、前記データ信号線に印加されている電圧を観測す
る処理と、前記観測された電圧に基づいて、前記アナロ
グスイッチの欠陥を判定する処理と、を含むことを特徴
としている。

【００１５】また、請求項６記載の発明は、請求項５記
載の液晶表示装置の検査方法において、前記アナログス
イッチは、複数のトランジスタから構成され、前記観測
された電圧に基づいて、前記複数のトランジスタの欠陥
を判定し、欠陥と判定された前記トランジスタを電気的
に切り離す処理を含むことを特徴としている。さらに、
請求項７記載の発明は、請求項５又は６記載の液晶表示
装置の検査方法において、前記データ信号線に印加され
る前記所定の電圧は、一定の直流電圧であることを特徴
としている。

【００１６】すなわち、本発明は、画像信号線の全てに
モニタ端子を接続し、アナログスイッチの欠陥に伴う信
号電圧の変化を観測し、欠陥判定を行うことを特徴とし
ている。特に、検査電圧として、画像信号線に一定の直
流電圧を印加するとともに、シフトレジスタによりアナ
ログスイッチを構成するＭＯＳトランジスタの駆動タイ
ミングをずらすことによって、ゲート−ドレイン間のシ
ョート欠陥が存在するＭＯＳトランジスタを介してゲー
ト電圧が画像信号線に回り込み、前記直流電圧を変化さ
せる状態をモニタ端子により観測することができるた
め、いずれのＭＯＳトランジスタ（アナログスイッチ）
に欠陥が発生しているかを特定することができる。

【００１７】また、１本のデータバスに設けられるアナ
ログスイッチを複数のＭＯＳトランジスタの並列、ある
いはマトリクス接続とすることにより、欠陥が検出され
たＭＯＳトランジスタを電気的に切り離して、正常なト
ランジスタのみで出力段としての機能動作をさせること
ができるため、液晶表示装置の歩留まりを向上させるこ
とができる。

【００１８】

【実施例】次に、本発明に係る液晶表示装置の第１の実
施例について、図１を参照して説明する。なお、従来の
技術において説明したものと同等の構成については、同
一の符号を付して、その説明を省略する。図１に示すよ
うに、本実施例の液晶表示装置１００は、表示領域１０
と、データドライバ２０と、スキャンドライバ３０とを
有して構成されている。

【００１９】そして、データドライバ２０は、上述した
ように、表示領域１０の各画素（ＴＦＴ及び液晶素子）
にデータバスＤ11〜Ｄmnを介して所望の画像信号を出力
するものであって、画像信号が印加される画像信号線Ｇ
１〜Ｇｎの各々には、画像信号線Ｇ１〜Ｇｎに印加され
た信号電圧を観測するモニタ端子ＧＭ１〜ＧＭｎが接続
されている。

【００２０】なお、図示を省略したが、画像信号線Ｇ１
〜Ｇｎには、検査電圧、例えば所定の直流電圧を印加す
るための検査電圧印加部が接続されている。次に、本実
施例に適用される液晶表示装置の検査方法について、図
２及び図３を参照して説明する。なお、以下の説明にお
いては、１ブロックで１６本のデータバスに書き込みを
行う場合を例について説明する。そのため、画像信号が
入力される画像信号線Ｇ１〜Ｇ１６にモニタ端子ＧＭ１
〜ＧＭ１６が設けられているものとする。

【００２１】まず、画像信号線Ｇ１〜Ｇ１６に所定の検
査信号、例えば、ＤＣ８Ｖを印加する（Ｓ１）。次い
で、データドライバ２０の出力端のアナログスイッチ２
２を制御するシフトレジスタ２１にクロック信号ＣＬＫ
を入力し、０〜１６Ｖの電圧範囲を有し、出力タイミン
グを相互に１パルスずつずらしたシフトパルスを生成
し、制御信号Ｑ１〜Ｑｍとして出力する（Ｓ２）。

【００２２】次いで、シフトレジスタ２１から出力され
る制御信号Ｑ１〜Ｑｍをアナログスイッチ（ＭＯＳトラ
ンジスタのゲート）２２に印加し、ＯＮ／ＯＦＦ動作を
制御して、その際にモニタ端子ＧＭ１〜ＧＭ１６に現れ
る信号電圧を観測する（Ｓ３）。次いで、モニタ端子Ｇ
Ｍ１〜ＧＭ１６を介して観測された信号電圧の変化に基
づいて、アナログスイッチの欠陥の有無が判定され、欠
陥が存在するアナログスイッチ２２が特定される（Ｓ
４）。なお、詳細は後述する。

【００２３】次いで、上記欠陥の判定結果に基づいて、
特定されたＭＯＳトランジスタをレーザー等により電気
的に切り離し、正常なＭＯＳトランジスタのみでアナロ
グスイッチ２２を構成する（Ｓ５）。なお、具体的な構
成は、第２及び第３の実施例において説明する。次に、
上述した検査方法における、シフトレジスタ２１及びア
ナログスイッチ２２の動作、モニタ端子ＧＭ１〜ＧＭ１
６により観測される信号電圧について、図３を参照して
説明する。

【００２４】図３に示すように、上述した処理Ｓ２にお
いて、シフトレジスタ２１は入力された所定のクロック
信号ＣＬＫに基づいて、アナログスイッチ２２を駆動制
御する制御信号Ｑ１〜Ｑｍを出力する。制御信号Ｑ１〜
Ｑｍは、１パルスづつずれたシフトパルスであって、こ
の制御信号Ｑ１〜Ｑｍによりアナログスイッチ２２を構
成するＭＯＳトランジスタがＯＮ／ＯＦＦ動作すること
により、画像信号線Ｇ１〜Ｇ１６に現れる信号電圧の変
化をそれぞれモニタ端子ＧＭ１〜ＧＭ１６により観測す
る。

【００２５】例えば、３番目のブロックの４番目のデー
タバスＤ34に接続されているアナログスイッチ２２のＭ
ＯＳトランジスタにゲート−ドレイン間のショート欠陥
が存在する場合、モニタ端子ＧＭ４の信号電圧は、制御
信号Ｑ３がＯＦＦの期間は、検査電圧として印加された
ＤＣ８Ｖに対して、４Ｖに変化し、制御信号Ｑ３がONに
なるタイミングの期間だけ、１２Ｖに変化することにな
る。

【００２６】すなわち、ＭＯＳトランジスタのゲート電
極に印加される制御信号Ｑ３がＯＦＦ（Ｑ３＝０Ｖ）の
場合には、モニタ端子ＧＭ３が接続された画像信号線Ｇ
３には、ショート欠陥により制御信号線Ｑ３の０Ｖがゲ
ート電極からドレイン電極、画像信号線Ｇ３に回り込ん
で、モニタ端子ＧＭ３により観測される信号電圧は、検
査電圧の８Ｖと制御信号の０Ｖとの平均値である４Ｖ
［＝（８＋０）／２］となる。

【００２７】一方、トランジスタのゲート電極に印加さ
れる制御信号Ｑ３がＯＮ（Ｑ３＝１６Ｖ）の場合には、
モニタ端子ＧＭ３が接続された画像信号線Ｇ３には、シ
ョート欠陥により制御信号線Ｑ３の１６Ｖがゲート電極
からドレイン電極、画像信号線Ｇ３に回り込んで、モニ
タ端子ＧＭ３により観測される信号電圧は、検査電圧の
８Ｖと制御信号の１６Ｖとの平均値である１２Ｖ［＝
（１６＋８）／２］となる。

【００２８】このように、モニタ端子により観測される
信号電圧と、その信号電圧が変化するタイミングにより
欠陥が存在するアナログスイッチを特定することができ
る。この場合、アナログスイッチ２２のＯＮ／ＯＦＦ動
作がシフトレジスタ２１からのシフトパルスにより制御
されているため、複数の箇所に欠陥が存在する場合であ
っても、容易に欠陥個所の特定を行うことができる。

【００２９】一方、欠陥が存在しない正常なトランジス
タの場合（上記ＧＭ４が接続されるＭＯＳトランジスタ
以外）には、ゲート電極に印加される制御信号Ｑ３がＯ
Ｎ（Ｑ３＝１６Ｖ）の場合であっても、ＯＦＦ（Ｑ３＝
０Ｖ）の場合であっても、モニタ端子ＧＭ３が接続され
た画像信号線Ｇ３には、検査電圧の８Ｖのみが印加され
るため、モニタ端子ＧＭ３により観測される信号電圧
は、８Ｖとなる。

【００３０】なお、上述した実施例においては、画像信
号線Ｇ１〜Ｇ１６に印加する検査電圧を８Ｖ、シフトレ
ジスタから出力される制御信号（シフトパルス）の電圧
変化を０〜１６Ｖとした例を示したが、本発明はこれに
限定されるものではなく、表示領域１０のＴＦＴの特性
や駆動条件等によって適宜設定することができることは
いうまでもない。

【００３１】次に、本発明に係る液晶表示装置の第２の
実施例について、図４を参照して説明する。なお、図４
にはデータドライバの出力段部分の要部構成のみを示
し、他の構成については図示を省略した。図４に示すよ
うに、データドライバ２０の出力段を構成するアナログ
スイッチＳＷ１は、画像信号線Ｇ１に対して、例えば３
個のＭＯＳトランジスタＴｒ11、Ｔｒ12、Ｔｒ13が並列
に接続されている。

【００３２】具体的には、３個のＭＯＳトランジスタＴ
ｒ11、Ｔｒ12、Ｔｒ13が、画像信号線Ｇ１とデータバス
Ｄ11間に並列に配置され、各々のＭＯＳトランジスタＴ
ｒ11、Ｔｒ12、Ｔｒ13のドレイン電極に画像信号線Ｇ１
が共通に接続され、各々のソース電極にデータバスＤ１
１が共通に接続されている。また、各々のゲート電極は
シフトレジスタに共通に接続され、シフトレジスタから
の制御信号Ｑ１により、ＭＯＳトランジスタＴｒ11、Ｔ
ｒ12、Ｔｒ13が同時にＯＮ／ＯＦＦ動作する。ここで、
ＭＯＳトランジスタＴｒ11、Ｔｒ12、Ｔｒ13は、ポリシ
リコン層２４を用いて形成されている。

【００３３】このようなアナログスイッチＳＷ１におい
て、ＭＯＳトランジスタＴｒ11のゲート−ドレイン電極
間にショート欠陥２３が存在する場合、上述した第１の
実施例において説明した検査方法と同様に、画像信号線
Ｇ１に検査電圧を印加するとともに、シフトレジスタ２
１からシフトパルスとして出力される制御信号Ｑ１によ
り各ＭＯＳトランジスタＴｒ11、Ｔｒ12、Ｔｒ13を同時
にＯＮ／ＯＦＦ動作させ、モニタ端子ＧＭ１に現れる信
号電圧を観測することにより、アナログスイッチＳＷ１
の欠陥を判定する。

【００３４】ここで、上述した検査方法に示したように
画像信号線に検査電圧８Ｖを印加し、シフトレジスタか
ら出力される制御信号Ｑ１を０〜１６Ｖとした場合、図
３に示したように、モニタ端子ＧＭ１において信号電圧
の変化が観測される。次いで、欠陥と判定されたアナロ
グスイッチＳＷ１、すなわちＭＯＳトランジスタＴｒ1
1、Ｔｒ12、Ｔｒ13について、顕微鏡等による再検査を
行い、欠陥が存在（発生）しているＭＯＳトランジスタ
Ｔｒ11を特定する。

【００３５】そして、特定されたＭＯＳトランジスタＴ
ｒ11について、アナログスイッチＳＷ１の構成から電気
的に切り離すため、ゲート電極線ＧＬ及びドレイン電極
線ＤＬをレーザ等により切断する（図中ＬＣは切断箇所
を示す）。このように、アナログスイッチを複数のＭＯ
Ｓトランジスタの並列接続により構成することにより、
出力段の駆動能力を複数のＭＯＳトランジスタにより分
担することができるため、上述したように、仮に複数の
ＭＯＳＦＥＴトランジスタのうちいずれかに欠陥が発生
したとしても、他の正常なＭＯＳトランジスタにより動
作に支障が生じない程度にアナログスイッチの駆動能力
を保持することができるため、液晶表示装置の歩留まり
の向上を図ることができる。

【００３６】次に、本発明に係る液晶表示装置の第３の
実施例について、図５を参照して説明する。なお、図５
にはデータドライバの出力段部分の要部構成のみを示
し、他の構成については図示を省略した。図５に示すよ
うに、データドライバ２０の出力段を構成するアナログ
スイッチＳＷは、図４に示したものと同等のＭＯＳトラ
ンジスタ１１が、例えば、５４個、６×９のマトリクス
状に配置、接続されている。

【００３７】具体的には、図面左右方向に９個のＭＯＳ
トランジスタ群が同一のポリシリコン層を利用して構成
され、このようなＭＯＳトランジスタ群が、図面上下方
向に６列配置されている。そして、各々のＭＯＳトラン
ジスタは、シフトレジスタに接続され、制御信号Ｑが印
加される共通のゲート電極線ＧＬと、画像信号線Ｇに接
続された共通のドレイン電極線ＤＬと、データバスＤに
接続された共通のソース電極線ＳＬとを有して構成され
ている。ここで、ゲート電極線ＧＬは、格子状に配線さ
れ、各格子点が相互に接続されている。

【００３８】また、各々のＭＯＳトランジスタは、シフ
トレジスタ２０からゲート電極線ＧＬに共通に印加され
る制御信号Ｑにより、全てのＭＯＳトランジスタが同時
にＯＮ／ＯＦＦ動作する。このようなアナログスイッチ
ＳＷを用いた場合の液晶表示装置の検査方法は、上述し
たものと同等であるが、複数のＭＯＳトランジスタがマ
トリクス状に集積されているため、より多くのＭＯＳト
ランジスタによりアナログスイッチの駆動能力を分担さ
せることができる。

【００３９】したがって、上記検査方法によりアナログ
スイッチＳＷが欠陥と判定され、さらに、顕微鏡等によ
る再検査によって、欠陥が存在するＭＯＳトランジスタ
１１ａを特定し、レーザー切断によりゲート電極線ＧＬ
の所定の箇所（図中ＬＣ１、ＬＣ２）を電気的に切り離
したとしても、制御信号Ｑの印加により、他の各ＭＯＳ
は独立かつ同時にＯＮ／ＯＦＦ動作する。

【００４０】このとき、各ＭＯＳトランジスタが分担す
る駆動能力は小さく設定されているため、アナログスイ
ッチＳＷ全体としての駆動能力に与える影響を極力小さ
くすることができ、液晶表示装置の歩留まりを向上させ
ることができる。ここで、本実施例においては、アナロ
グスイッチを６×９個のＭＯＳトランジスタによるマト
リクス構成として示したが、適用するＭＯＳトランジス
タの個数は、信号供給源の特定やアナログスイッチの専
有面積等により適宜設定されることはいうまでもない。

【００４１】なお、上述した第１から第３の実施例にお
いては、アナログスイッチを構成するＭＯＳトランジス
タとして、ｎチャネル型ＭＯＳトランジスタを用いた場
合を示して説明をしたが、ｐチャネル型ＭＯＳトランジ
ス、あるいはｎ＋ｐ（トランスファ）構造のトランジス
タを適用してもよい。要するに、上述したようなゲート
−ドレイン間のショート欠陥が発生したときに、ゲート
電極に印加された制御信号の信号電圧が欠陥部、ドレイ
ンを介して画像信号線において観測される信号電圧に変
化を与えるものであれば、上述した構成に限定されるも
のではない。

【００４２】また、本発明に係る液晶表示装置の検査方
法においては、画像信号線に印加する検査電圧（直流電
圧）は、液晶表示装置パネルの液晶素子に表示電圧を与
えるものではないため、少なくとも製造プロセス上のデ
ータドライバの回路構成が完成した段階、例えば液晶を
封入する前のＴＦＴ基板の段階等において、検査を実行
するができる。

【００４３】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の液晶表示
装置及びその検査法法によれば、データドライバの出力
端に設けられるアナログスイッチに存在する欠陥を、画
像信号線に設けられたモニタ端子の電圧変化により、容
易に検出、特定することができ、その特定された箇所を
電気的に切り離すことにより、液晶表示装置を回路機能
を正常化して歩留まりの向上を図ることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明に係る液晶表示装置の第１の実施例を示
す概略構成図である。

【図２】本発明に係る液晶表示装置の検査方法を示すフ
ローチャートである。

【図３】モニタ端子において観測された信号波形を示す
図である。

【図４】本発明に係る液晶表示装置の第２の実施例の要
部構成図である。

【図５】本発明に係る液晶表示装置の第３の実施例の要
部構成図である。

【図６】従来技術における液晶表示装置を示す概略構成
図である。

【図７】従来技術における問題点を説明する図である。１０表示領域１１ＴＦＴ１２液晶素子２０データドライバ２１シフトレジスタ２２アナログスイッチ２３ショート欠陥２４ポリシリコン層３０スキャンドライバ１００液晶表示装置

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者森田敬三神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番１号富士通株式会社内 (72)発明者糸数昌史神奈川県川崎市中原区上小田中４丁目１番１号富士通株式会社内

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】液晶表示パネルの各画素にデータ信号線を
介して画像データ信号を出力するデータドライバと、前記データドライバの出力段となる前記データ信号線に
設けられたアナログスイッチと、前記アナログスイッチをクロック信号に基づいて動作制
御するシフトレジスタと、前記データ信号線に接続され、前記データ信号線に印加
される信号電圧を観測するモニタ端子と、前記データ信号線に前記画像データ信号とは異なる所定
の電圧を印加する電圧印加部と、を有することを特徴とする液晶表示装置。
【請求項２】前記アナログスイッチは、複数のトランジ
スタが並列に接続されていることを特徴とする請求項１
記載の液晶表示装置。
【請求項３】前記アナログスイッチは、複数のトランジ
スタがマトリクス状に接続されていることを特徴とする
請求項１記載の液晶表示装置。
【請求項４】前記データ信号線に印加される前記所定の
電圧は、一定の直流電圧であることを特徴とする請求項
１、２又は３記載の液晶表示装置。
【請求項５】液晶表示パネルの各画素に画像データ信号
を出力するデータドライバ内のデータ信号線に、前記画
像データ信号とは異なる所定の電圧を印加する処理と、前記データドライバの出力段となる前記データ信号線に
設けられたアナログスイッチを動作させる処理と、前記データ信号線に設けられたモニタ端子により、前記
データ信号線に印加されている電圧を観測する処理と、前記観測された電圧に基づいて、前記アナログスイッチ
の欠陥を判定する処理と、を含むことを特徴とする液晶表示装置の検査方法。
【請求項６】前記アナログスイッチは、複数のトランジ
スタから構成され、前記観測された電圧に基づいて、前記複数のトランジス
タの欠陥を判定し、欠陥と判定された前記トランジスタ
を電気的に切り離す処理を含むことを特徴とする請求項
５記載の液晶表示装置の検査方法。
【請求項７】前記データ信号線に印加される前記所定の
電圧は、一定の直流電圧であることを特徴とする請求項
５又は６記載の液晶表示装置の検査方法。