JPH11274604A - 光ビーム特性評価装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 （修正有） 【課題】基準位置出しを正確に行うことのできる光ビー
ム特性評価装置を提供する。 【解決手段】基準レーザー光源１２７と、基準レーザー
光源１２７を保持する保持部材１１９と、保持部材１１
９を回転可能に保持して基準レーザー光源１２７の回転
角度位置を決定する角度位置決定部材１１５と、設計的
に予定された光ビームの射出光線に保持部材１１９の回
転中心が一致するように角度位置決定部材１１５を位置
決めする位置決め基準ベース１１１とを有し、保持部材
１１９を前記回転中心を中心に回転させて少なくとも二
カ所の回転角度位置において基準レーザー光源１２７か
ら射出された基準光ビームをエリア型撮像素子１３０ａ
で受光することにより、エリア型撮像素子１３０ａ上で
の基準位置に相当する基準画素を特定する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、レーザープリン
タ、複写機等の画像形成装置の評価装置に関し、更に詳
しくは、画像形成装置の書き込みユニットから感光体ド
ラム、感光体ベルト等の潜像担持体に向けて照射される
光ビームに要求される特性の評価方法及びその特性の評
価に用いる光ビーム特性評価装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来から、レーザープリンタ、複写機、
ファクシミリ装置等の画像形成装置では、作像ユニット
に設けられている潜像担持体としての感光体ドラムの表
面を、書き込みユニットからの光ビームを用いて主走査
方向に走査すると共に副走査方向に走査して感光体ドラ
ムの表面に書き込みを行うことにより静電潜像を形成
し、この静電潜像が形成された感光体ドラムの表面にト
ナーを付着させて顕像化させることによりトナー像を形
成し、このトナー像を転写紙に転写すると共に定着し
て、その転写紙に画像を形成するようにしたものが知ら
れている。

【０００３】その書き込みユニットには、光ビームを走
査するための走査光学系が設けられ、感光体ドラムの表
面に対する主走査方向への走査はこの走査光学系により
行われ、感光体ドラムの表面に対する副走査方向への走
査はその感光体ドラムの回転により行われる。

【０００４】ところで、これらの画像形成装置では、書
き込み対象としての感光体ドラムの表面に書き込みを行
うに際して、その書き込みユニットの光ビームに要求さ
れる特性を評価するようにしている。

【０００５】例えば、複写機を例に挙げると、原稿の画
像情報を順次読み取ると共にこの画像情報を光ビームに
変換しているが、感光体ドラムの表面での光ビームの書
き込み位置が設計的に予定された基準位置からずれるよ
うなことがあると、原稿の画像情報に対応する画像をそ
の基準位置に形成することができないという不都合が生
じる。特に、書き込みユニットに光ビームを発生するレ
ーザー光源が２個設けられ、同時に２本の光ビームによ
り感光体ドラムの表面を主走査方向に走査して、通常の
２倍の速度で感光体ドラムの表面に書き込みを行う画像
形成装置では、主走査方向の途中で、一方の光ビームの
書き込み位置と他方の光ビームの書き込み位置とがずれ
るようなことがあると、原稿画像に忠実な画像を再現で
きず、一方の光ビームの書き込み位置の評価と他方の光
ビームの書き込み位置の評価とを行うことが要求され
る。

【０００６】１本の光ビームにより感光体ドラムに書き
込みを行う書き込みユニットの場合、走査光学系を構成
するポリゴンミラーの各面毎に書き込み位置を求めるこ
とにより、ポリゴンミラーの各面での主走査方向の位置
ズレ（主走査方向ピッチむら）、ポリゴンミラーの各面
での副走査方向の位置ズレ（副走査方向ピッチむら）も
評価対象となる。

【０００７】複数本の多重光ビームにより感光体ドラム
に書き込みを行う書き込みユニットの場合、これらの評
価に加えてビーム間ピッチも評価対象となる。

【０００８】また、主走査方向に対応する原稿上の２点
を抽出し、この２点に対応する転写紙上での複写画像の
２点を抽出して、原稿上の２点間の距離と複写画像の２
点間の距離とを比較したとき、等倍で複写を行う限り等
しくなければならないが、この原稿上の２点間の距離と
複写画像上の２点間の距離とが正確に一致していなけれ
ば倍率誤差となり、転写紙上に忠実に画像を再現できな
いことになって、倍率誤差の評価を行うことが要求され
る。また、拡大、縮小する場合には、原稿上の画像に対
して転写紙上に形成された複写画像の比率が拡大縮小し
たい倍率に等しくなければならず、この比率がずれてい
る場合にも忠実な画像を再現することができず、この場
合にも倍率誤差の評価が要求される。

【０００９】加えて、左側の点と右側の点とが副走査方
向にずれている場合、走査線に傾きがあることになり、
この走査線傾きも評価対象となる。

【００１０】更に、主走査方向に対応させて原稿上の左
側から右側に向かって３点を抽出し、真ん中の一点から
等距離の位置に残りの二点があるとしたとき、転写紙上
の複写画像のこれらに対応する３点の主走査方向の真ん
中の点を基準にして左右の点までの距離が等しくない
と、形成される複写画像は左右のバランスを欠くことに
なり、真ん中の一点から左側の点までの距離と真ん中の
一点から右側の点までの距離とが等しいか否かを評価す
ることも要求される。

【００１１】この場合に、副走査方向に沿って、左側の
点の書き込み位置と真ん中の点の書き込み位置との差が
右側の点の書き込み位置と真ん中の点の書き込み位置と
の差に等しくないと、走査線に曲がりがあることにな
り、この場合にも画像が忠実に再現されないことにな
り、走査線に曲がりがあるか否かを評価することも要求
される。

【００１２】ところで、従来、光ビームの主走査方向の
特性の評価については、例えば、図１に示す構成のもの
が知られている（特開平５−２８４２９３号公報参
照）。

【００１３】その図１において、１は書き込みユニット
（光学ユニット）である。この書き込みユニット１の内
部には半導体レーザー２からなるビーム光源（レーザー
光源）、ポリゴンミラー（回転多面鏡）３、ｆθレンズ
４が設けられている。その半導体レーザー２は光アナロ
グ変調器５により変調駆動される。光アナログ変調器５
は原稿画像に対応して半導体レーザー２から射出される
レーザー光を強弱変調する。半導体レーザー２から射出
されたレーザー光はポリゴンミラー３の回転により走査
偏向される。

【００１４】作像ユニットに設けられた感光体ドラムの
表面に相当する被走査面相当面６には、主走査方向に間
隔を開けて一対の光電変換素子７ａ、７ｂが設けられて
いる。光電変換素子７ａ、７ｂの直前には受光位置精度
（書き込み位置精度）を高めるためにピンホール（丸い
小孔）を有する遮光板８ａ、８ｂが設けられている。こ
の一対のピンホール間の距離をＬとする。

【００１５】半導体レーザー２を一走査期間中常時点灯
させた状態で、ポリゴンミラー３を回転させて、光ビー
ムＰ１を主走査方向Ｑ１に走査すると、光電変換素子７
ａが光ビームＰ１を受光した後、光電変換素子７ｂが光
ビームＰ１を受光し、受光時間の差と距離Ｌとにより、
この書き込みユニット１の光ビームＰ１の実際の走査速
度を算出して求めることができる。この実際に測定され
た光ビームＰ１の走査速度が設計により予定された設計
走査速度に対して速すぎたり遅すぎたりすると書き込み
基準位置がずれることになる。

【００１６】そこで、この実際に測定された光ビームの
走査速度が設計走査速度の許容誤差内にあるかを評価
し、この許容誤差を越えている場合には、書き込みユニ
ットの走査速度が許容誤差内に入るように、ポリゴンミ
ラー３の回転速度等を調節している。

【００１７】この従来の光ビーム特性評価装置では、書
き込み位置そのものを直接的に求めることができず、あ
えて求めることにすると、光電変換素子７ａ から出力
信号が出力されてから光電変換素子７ｂから出力信号が
出力されるまでの時間を求め、距離Ｌをこの時間で除算
して実際の走査速度を求め、この走査速度を書き込み位
置に変換するための演算が必要であり、書き込み位置を
求めるための算出手順が煩雑となる。また、評価すべき
光ビームの評価特性も限られたものとなる。

【００１８】次に、感光体ドラムの表面上での光ビーム
Ｐ１のビーム径が設計で予定した設計値からずれた場合
には、転写紙上に形成される画像のエッジがぼけたり、
走査線われを生じたりして、画質が低下するという不都
合がある。従って、光ビームの被走査面でのビーム径又
はビーム形状を評価することも要求される。

【００１９】従来、光ビームのビーム径の評価は、ピン
ホール又はスリットを感光体ドラムの表面に相当する位
置に設け、その直後に受光素子を設けて、静止状態での
光ビームのビーム径を計測するようにしたものが知られ
ている。しかしながら、この従来のビーム径の計測方法
では、走査状態でのビーム径を計測することができな
い。

【００２０】そこで、走査状態でのビーム径を計測する
ために、図２に示すように、感光体ドラムの表面に相当
する被走査面相当面６に一次元ＣＣＤ９を設け、この一
次元ＣＣＤ９に向かって進行する光ビームＰ１の光路中
に、この光ビームＰ１を被走査面相当面に結像させる対
物レンズ１０を設け、光ビームＰのビームスポットＳを
主走査方向に沿って矢印Ｑ１方向に移動させつつ、この
一次元ＣＣＤ９を矢印Ｑ２方向にｎ回駆動走査して、各
画素Ｃ１〜Ｃｎの光量信号の一走査分を積算記憶する記
憶回路と、この記憶回路からの信号を演算することによ
り光ビーム径を算出する評価方法及び光ビーム径評価装
置が提案されている（特開平４−３５１９２８号公報参
照）。

【００２１】ところで、この従来の評価方法では、一次
元ＣＣＤ９を矢印Ｑ２方向に一度駆動走査して、次に再
び、一次元ＣＣＤ９を矢印Ｑ２方向に駆動走査するとき
には、一次元ＣＣＤ９の一走査期間ｔ１だけ時間が経過
するため、この一走査期間ｔ１の間に光ビームＰ１は主
走査方向（矢印Ｑ１方向）に移動している。従って、こ
の評価方法は、図３に模式的に示すようにビームスポッ
トＳを静止させてｎ個の一次元ＣＣＤ９を等間隔毎に配
設した構成と等価である。

【００２２】この評価方法では、図３から明らかなよう
に、一次元ＣＣＤ９の一走査期間ｔ１の間に光ビームＰ
１は主走査方向に移動しており、ビームスポットＳが間
引かれた状態で一次元ＣＣＤ９に取り込まれることとな
る。更に、一次元ＣＣＤ９のある画素Ｃｉを駆動走査し
てその画素情報を読み取ってからこれに隣接する画素Ｃ
ｉ＋１を駆動走査してその画素情報を読み取るまでの駆
動走査時間△ｔの間にも、光ビームＰ１が主走査方向
（矢印Ｑ１方向）に移動するので、光ビームＰ１に対し
て一次元ＣＣＤ９を斜めに駆動走査してビームスポット
Ｓの画像を取り込むことと等価となり、ビーム径の量子
化時に誤差が発生しやすい。このビーム径の量子化時の
評価誤差は、光ビームＰ１の走査速度が大きくなればな
るほど大きくなる。

【００２３】従って、この従来の光ビーム特性評価方法
（光ビームのビーム径評価方法）では、ビーム径の評価
精度を向上させ難いという問題が残存する。

【００２４】以上説明したように、光ビームに要求され
る特性としては、感光体ドラム表面への書き込み位置特
性、主走査方向ピッチむら、副走査方向ピッチむら、ビ
ーム間ピッチ、倍率誤差、左右バランス（倍率誤差偏
差）、走査線曲がり、光ビームのビーム径、ビーム形状
等各種のものがあり、従来はこれらの各ビーム特性を専
用の評価装置を用いて行っていたので、光ビームの特性
評価が煩雑となり、かつ、同一条件のもとでの総合的評
価でないため、評価の信頼度も若干芳しくないという懸
念がある。

【００２５】更に、ビームスポット径又はビームスポッ
ト形状の評価方法については、走査状態でのビームスポ
ット径又はビームスポット形状の評価精度をより一層向
上させたいという要望がある。

【００２６】加えて、これらの評価を行うためには、基
準位置出しが要求される。

【００２７】例えば、特開平８−８６６１６号公報に
は、三次元形状の計測対象に十字スリット光を発生する
レーザーヘッドをその十字スリットの交点を中心に回転
可能でかつ上下左右方向に平行移動できるように搭載し
たレーザーヘッド架台と、その計測対象を撮像するＣＣ
Ｄカメラと、このＣＣＤカメラにより撮像された画像信
号を処理する画像処理部とレーザーヘッド作動制御部と
からなるコンピュータとを備えた三次元画像計測装置が
開示されているが、この三次元画像計測装置では、ＣＣ
Ｄカメラのレンズ中心とレーザーヘッドの先端中心部と
が三次元絶対座標系のＸ軸上に位置され、ＣＣＤカメラ
の撮像面は、Ｘ−Ｙ平面に平行になるように配設されて
いる。

【００２８】この画像計測装置では、ＣＣＤカメラのエ
リア型ＣＣＤの位置出しは、エリア型ＣＣＤの撮像位置
に合わせてエリア型ＣＣＤを特定位置に調整するのみで
あり、計測の基準位置としての基準画素を特定するもの
ではないため、基準画素とレーザー光の位置とのずれを
正確に把握できないという問題がある。

【００２９】本発明の目的は、一台で光ビームに要求さ
れる各特性を評価可能な光ビーム特性評価装置、とりわ
け、基準位置出しを正確に行うことのできる光ビーム特
性評価装置を提供することにある。

【００３０】

【課題を解決するための手段】請求項１に記載の発明
は、被走査面をリニアーに走査するのに用いられるレー
ザー光源からの光ビームを被走査面相当面に設置のエリ
ア型撮像素子に結像させることにより前記光ビームに要
求される特性を評価する評価方法に用いられる光ビーム
特性評価装置であって、前記光ビームの前記被走査面上
での主走査方向及び副走査方向の設計的に予定された基
準位置の決定に用いられる基準レーザー光源と、該基準
レーザー光源を保持する保持部材と、該保持部材を回転
可能に保持して前記基準レーザー光源の回転角度位置を
決定する角度位置決定部材と、設計的に予定された光ビ
ームの射出光線に前記保持部材の回転中心が一致するよ
うに前記角度位置決定部材を位置決めする位置決め基準
ベースとを有し、前記保持部材を前記回転中心を中心に
回転させて少なくとも二カ所の回転角度位置において前
記基準レーザー光源から射出された基準光ビームを前記
エリア型撮像素子で受光することにより、該エリア型撮
像素子上での前記基準位置に相当する基準画素を特定す
ることを特徴とする。

【００３１】請求項２に記載の発明は、請求項１に記載
の光ビーム特性評価装置において、前記位置決め基準ベ
ースは前記主走査方向に延びていることを特徴とする。

【００３２】請求項３に記載の発明は、請求項１に記載
の光ビーム特性評価装置において、前記基準レーザー光
源が半導体レーザーであることを特徴とする。

【００３３】請求項４に記載の発明は、請求項１に記載
の光ビーム特性評価装置において、前記レーザー光源が
走査光学系を内蔵する書き込みユニットに設けられてい
ることを特徴とする。

【００３４】請求項５に記載の発明は、請求項１に記載
の光ビーム特性評価装置において、前記評価が前記レー
ザー光源を走査中に１ドットに相当する走査時間中点灯
させることにより行われることを特徴とする。

【００３５】請求項６に記載の発明は、作像ユニットに
設けられた潜像担持体の被走査面をリニアーに走査する
走査光学系を有する書き込みユニットに設けられたレー
ザー光源からの光ビームを、前記被走査面に相当する被
走査面相当面に設置のエリア型撮像素子に結像させるこ
とによって、前記光ビームに要求される特性を評価する
評価方法に用いられる光ビーム特性評価装置であって、
前記作像ユニットに対する前記書き込みユニットを位置
決めする位置決め部材と、前記レーザー光源から射出さ
れた光ビームの主走査方向及び副走査方向の前記被走査
面上の設計的に予定された基準位置を決定するために用
いられる基準レーザー光源と、該基準レーザー光源を保
持する保持部材と、該保持部材を回転可能に保持して前
記基準レーザー光源の回転角度位置を決定する角度位置
決定部材と、前記位置決めベースに設けられて設計的に
予定された書き込みユニットから射出される光ビームの
射出光線に前記保持部材の回転中心が位置するように前
記角度位置決定部材を位置決めする位置決め基準ベース
とを有し、前記保持部材を回転させて少なくとも二カ所
の回転角度位置において前記基準レーザー光源から射出
された基準光ビームを前記エリア型撮像素子で受光する
ことにより、該エリア型撮像素子上での前記基準位置に
相当する基準画素を特定することを特徴とする。

【００３６】請求項７に記載の発明は、請求項６に記載
の光ビーム特性評価装置において、前記回転角度位置が
１８０度対称位置であることを特徴とする。

【００３７】請求項８に記載の発明は、請求項６に記載
の光ビーム特性評価装置において、前記角度位置決定部
材が前記位置決め基準ベースに前記主走査方向に配置換
え可能に設けられていることを特徴とする。

【００３８】請求項９に記載の発明は、請求項６に記載
の光ビーム特性評価装置において、前記エリア型撮像素
子の撮像面が前記被走査面相当面に位置するように調節
する調節手段が設けられていることを特徴とする。

【００３９】請求項１０に記載の発明は、作像ユニット
の潜像担持体の被走査面をリニアーに走査する走査光学
系を有する書き込みユニットに設けられたレーザー光源
を走査中に１ドットに相当する走査時間中点灯させるこ
とによって、前記レーザー光源からの光ビームを前記被
走査面に相当する被走査面相当面の主走査方向に間隔を
開けて設けられた少なくとも２個以上のエリア型撮像素
子に結像させることによって、前記光ビームに要求され
る特性を評価する評価方法に用いられる光ビーム特性評
価装置であって、前記作像ユニットに対する前記書き込
みユニットを位置決めする位置決め部材と、前記レーザ
ー光源から射出された光ビームの主走査方向及び副走査
方向の前記被走査面上の設計的に予定された基準位置を
決定するために用いられる基準レーザー光源と、該基準
レーザー光源を保持する円筒状保持部材と、該円筒状保
持部材が回転可能に嵌合される円形嵌合孔を有して前記
基準レーザー光源の回転角度位置を決定する角度位置決
定部材と、前記位置決めベースに設けられて設計的に予
定された書き込みユニットから射出される光ビームの射
出光線に前記円筒状保持部材の回転中心が位置するよう
に前記角度位置決定部材を位置決めする位置決め基準ベ
ースとを有し、前記円筒状保持部材を回転させて少なく
とも二カ所の回転角度位置において前記基準レーザー光
源から射出された基準光ビームを前記エリア型撮像素子
で受光することにより、該エリア撮像素子上での前記基
準位置に相当する基準画素を特定することを特徴とす
る。

【００４０】請求項１１に記載の発明は、請求項１０に
記載の光ビーム特性評価装置において、前記角度位置決
定部材には係合ピンが設けられ、前記円筒状保持部材に
は前記係合ピンに係合する係合孔が設けられていること
を特徴とする。

【００４１】請求項１２に記載の発明は、請求項１１に
記載の光ビーム特性評価装置において、前記回転角度位
置が１８０度対称位置であることを特徴とする。

【００４２】請求項１３に記載の発明は、請求項１０に
記載の光ビーム特性評価装置において、前記角度位置決
定部材が前記位置決め基準ベースに前記主走査方向に配
置換え可能に設けられていることを特徴とする。

【００４３】請求項１４に記載の発明は、請求項１０に
記載の光ビーム特性評価装置において、前記角度位置決
定部材が前記各エリア型撮像素子に対応して前記主走査
方向に間隔を開けて設けられていることを特徴とする。

【００４４】請求項１５は請求項１０に記載の光ビーム
特性評価装置において、いったんあるエリア型撮像素子
を基準画素の特定を前記円筒状保持部材を回転させて行
った後は、残りのエリア型撮像素子の基準画素の特定は
前記円筒状保持部材を回転させずに行うことを特徴とす
る。

【００４５】

【発明の実施の形態】図４は本発明の光ビーム特性評価
方法の評価対象としての光ビーム光源（レーザー光源）
を搭載する書き込みユニットと、この書き込みユニット
から射出された光ビームが書き込まれる潜像担持体とし
ての感光体ドラムとの位置関係の一例を示す斜視図であ
る。

【００４６】この図４において、１１、１２はレーザー
ダイオード（半導体レーザー）、１３、１４はコリメー
トレンズ、１５は光路合成用光学部材、１６は１／４波
長板、１７、１８はビーム整形光学系である。これらの
各光学要素１１ないし１８はレーザー光源部（ビーム光
源）Ｓｏｕを構成している。そのレーザー光源部Ｓｏｕ
から射出された２本の光ビームＰ１は、コリメータレン
ズＰ１、Ｐ２により平行光束とされて、走査光学系の一
部を構成するポリゴンミラー１９に導かれ、このポリゴ
ンミラー１９の各面２０ａ〜２０ｆにより主走査方向Ｑ
１に反射偏向される。

【００４７】その反射偏向された光ビームはｆθ光学系
の一部を構成する反射ミラー２１、２２に導かれ、反射
ミラー２２により反射偏向された光ビームは、ｆθ光学
系２３を通過して斜設反射ミラー２４に導かれ、この斜
設反射ミラー２４により潜像担持体としての感光体ドラ
ム２５の表面２６に導かれる。感光体ドラム２５の表面
２６はその光ビームＰ１により主走査方向Ｑ１にリニア
ーに走査される。この表面２６が光ビームＰ１による被
走査面であり、この被走査面に書き込みが行われる。

【００４８】そのレーザー光源部Ｓｏｕ、ポリゴンミラ
ー１９、反射ミラー２１、２２、ｆθレンズ２３、反射
ミラー２４は書き込みユニット１に搭載され、感光体ド
ラム２５は作像ユニット（後述する）に搭載されてい
る。

【００４９】書き込みユニット１には、反射ミラー２４
の長手方向両側（光ビームの主走査方向Ｑ１）に同期セ
ンサ２７、２８が設けられている。同期センサ２７は書
き込み開始タイミングの決定に用いられ、同期センサ２
８は書き込み終了タイミングの決定に用いられる。

【００５０】この書き込みユニット１から射出される光
ビームＰ１の特性が評価対象となる。この図４では、感
光体ドラム２５の表面２６への書き込みは、２本の走査
線を用いて行っているが、光ビームの特性の評価の原理
については、レーザーダイオードが１個の場合と２個の
場合とで本質的に差異はないので、以下、レーザーダイ
オードが１個の場合について表１を参照しつつ、本発明
に係わる光ビームのの特性評価項目を表１を参照しつつ
説明する。

【００５１】

【表１】 表１に示すように光ビーム特性評価項目には、ａ：主走
査方向の書き込み位置、ｂ：副走査方向の書き込み位
置、ｃ：主走査ピッチむら、ｄ：副走査面倒れ、ｅ：主
走査ビーム径、ｆ：副走査ビーム径、ｇ：倍率誤差、
ｈ：走査線傾き、ｉ：倍率誤差偏差、ｊ：走査線曲が
り、ｋ：走査時間、ｌ：深度：ｍ：ビーム間ピッチがあ
る（複数の光ビームを同時に照射することのできる書き
込みユニットの場合（ＵＳＡＰ９６−６７５７２２号参
照）：この特許出願の発明の実施の形態では、レーザー
ダイオード１１、１２（ＬＤともいう）の配列方向が副
走査方向に沿って２個であるので、ビーム間ピッチは副
走査方向である。）。

【００５２】以下、各評価項目の詳細について説明す
る。

【００５３】ａ：主走査方向の書き込み位置の評価 ＬＤより発射された光ビームは、ポリゴンミラー１９に
よって反射されて、ｆθレンズ光学系を通って感光体へ
と照射されるが、この感光体へ書き込みを開始する主走
査方向の位置、又はタイミングを評価する。

【００５４】例えば、図１９（ａ）に示すように、所定
の書き込み位置中心（書き込みタイミング）を「０」と
して、後述するエリア型撮像素子に書き込まれた位置を
ｚｚとすると、書き込み位置中心０と書き込み位置ｚｚ
とが、主走査方向に△ｘずれていることになる。このず
れ量△ｘを評価する。

【００５５】ｂ：副走査方向の書き込み位置の評価 ＬＤより発射された光ビームは、ポリゴンミラー１９に
よって反射されて、ｆθレンズ光学系を通って感光体へ
と照射されるが、この感光体へ書き込みを開始する副走
査方向の位置、又はタイミングを評価する。

【００５６】例えば、図１９（ｂ）に示すように、所定
の書き込み位置中心（書き込みタイミング）を「０」と
して、後述するエリア型撮像素子に書き込まれた位置を
ｚｚとすると、書き込み位置中心０と書き込み位置ｚｚ
とが、副走査方向に△ｙずれていることになる。このず
れ量△ｙを評価する。

【００５７】ｃ：主走査ピッチむらの評価 光ビームの書き込みを主走査方向に沿って何回も行うこ
とにより、所望の画像が形成されるが、ポリゴンミラー
１９の側面には複数のミラー面は、６個のミラー面）が
形成され、この各ミラー面によって光ビームを反射させ
て書き込みを行うために、各ミラー面の精度によって光
ビームによる書き込み位置（書き出し位置）が変化する
場合がある。

【００５８】従って、ポリゴンミラー１９の各面で光ビ
ームを反射させて、各面に対応したビームスポットＳの
主走査方向の中心位置のバラツキを評価する。

【００５９】例えば、ミラー面が６個の場合、各面２０
ａ〜２０ｆにより光ビームを反射させて後述するＣＣＤ
カメラに取り込む。そのＣＣＤカメラのエリア型撮像素
子に書き込まれた位置が図１９（ｃ）に示すものであっ
たとする。

【００６０】また、基準中心位置「０」に対して、各面
による書き込みの中心位置がｋｚ１、ｋｚ２、ｋｚ３、
ｋｚ４、ｋｚ５、ｋｚ６とし、主走査方向のずれ量が△
ｘ１、△ｘ２、△ｘ３であったとする。

【００６１】この場合、各面の主走査方向のばらつきの
平均値△ｘを求めると、 △ｘ＝（２△ｘ１＋２△ｘ２＋２△ｘ３）／６ これによって、ポリゴンミラー１９の各面の精度によっ
てどの程度のピッチむらがあるかを評価できる。

【００６２】ここでは、このばらつきを評価するため
に、基準中心位置「０」を用いたが、各面により反射さ
れた各ビームスポットＳの中心位置のいずれかを基準位
置に用いて、主走査ピッチむらを評価しても良い。

【００６３】例えば、最初に取り込んだビームスポット
Ｓの中心位置を基準にしても良いし、互いのビームスポ
ットＳの中心位置の差を求め、最も誤差が少ないビーム
スポットＳの中心位置を基準位置にしても良いし、ビー
ムスポットＳの一致率の最も高いものを基準にしても良
い。

【００６４】ｄ：副走査面倒れの評価 光ビームの書き込みを主走査方向に沿って何回も行うこ
とにより、所望の画像が形成されるが、ポリゴンミラー
１９の側面には複数のミラー面は、６個のミラー面）が
形成され、この各ミラー面によって光ビームを反射させ
て書き込みを行うために、各ミラー面の精度によって光
ビームによる書き込み位置（書き出し位置）が変化する
場合がある。

【００６５】従って、ポリゴンミラー１９の各面で光ビ
ームを反射させて、各面に対応したビームスポットＳの
主走査方向の中心位置のバラツキを評価する。

【００６６】例えば、ミラー面が６個の場合、各面２０
ａ〜２０ｆにより光ビームを反射させて後述するＣＣＤ
カメラに取り込む。そのＣＣＤカメラのエリア型撮像素
子に書き込まれた位置が図１９（ｄ）に示すものであっ
たとする。

【００６７】また、基準中心位置「０」に対して、各面
による書き込みの中心位置がｋｚ１、ｋｚ２、ｋｚ３、
ｋｚ４、ｋｚ５、ｋｚ６とし、副走査方向のずれ量が△
ｙ１、△ｙ２、△ｙ３であったとする。

【００６８】この場合、各面の副走査方向のばらつきの
平均値△ｙを求めると、 △ｙ＝（２△ｙ１＋２△ｙ２＋２△ｙ３）／６ これによって、ポリゴンミラー１９の各面の精度によっ
てどの程度のピッチむらがあるかを評価できる。

【００６９】ここでは、このばらつきを評価するため
に、基準中心位置「０」を用いたが、各面により反射さ
れた各ビームスポットＳの中心位置のいずれかを基準位
置に用いて、副走査面倒れを評価しても良い。

【００７０】例えば、最初に取り込んだビームスポット
Ｓの中心位置を基準にしても良いし、互いのビームスポ
ットＳの中心位置の差を求め、最も誤差が少ないビーム
スポットＳの中心位置を基準位置にしても良いし、ビー
ムスポットＳの一致率の最も高いものを基準にしても良
い。

【００７１】ｅ：主走査ビーム径の評価 光ビームスポットＳの主走査方向のビーム径を評価す
る。

【００７２】ｆ：副走査ビーム径の評価 光ビームスポットＳの副走査方向のビーム径を評価す
る。

【００７３】ｇ：倍率誤差の評価 ２点のビームスポットＳの間隔が所定間隔であるか否か
を評価する。すなわち、その間隔が所定間隔よりも短い
か、長いかによって倍率を評価する。

【００７４】例えば、図１９（ｅ）に示すように、主走
査方向Ｑ１の原稿上の２点に対応する転写紙上の設計的
に予定された書き込み基準位置Ｚ１、Ｚ２の距離Ｌ４と
実際に測定により得られた被走査面上での書き込み位置
Ｚ１、Ｚ１’の距離Ｌ５との比を求めれば、倍率誤差を
評価できる。

【００７５】ｈ：走査線傾きの評価 光ビームを主走査方向に走査すると１本の走査線が得ら
れる。この走査線が主走査方向に平行であるか否かを評
価する。

【００７６】例えば、図１９（ｆ）に示すように、主走
査開始側の測定により得られた書き込み位置Ｚ１’の副
走査方向Ｑ３についてのずれ量ｄ０と主走査方向終了側
の測定により得られた書き込み位置Ｚ２’の副走査方向
Ｑ３についてのずれ量ｄ１との差と距離Ｌ６とにより走
査線の傾き角θ、全ずれ量△ｄを評価する。

【００７７】ｉ：倍率誤差偏差の評価 項目ｇでは、２つのビームスポットＳの書き込み位置を
評価することにより倍率誤差を評価したが、３つ以上の
ビームスポットＳをエリア型撮像素子に取り込むことに
より、各スポット間の倍率を比較して、各間隔の偏差を
評価する。

【００７８】例えば、図１９（ｇ）に示すように、測定
により得られた真ん中の書き込み位置Ｚｍ’から主走査
方向書き込み開始側の書き込み位置Ｚ１’までの距離Ｌ
７と、真ん中の書き込み位置Ｚｍ’から主走査方向書き
込み終了側の書き込み位置Ｚ２’までの距離Ｌ８とを求
めれば、倍率誤差偏差（左右バランス）を評価できる。

【００７９】ｊ：走査線曲がりの評価 項目ｈでは、２つのビームスポットＳの書き込み位置に
より主走査方向に光ビームが平行に走査されているか否
かを評価したが、３つ以上のビームスポットＳをエリア
型撮像素子に取り込み、各ビームスポット間同士の主走
査方向に対する傾きを評価することにより走査線曲がり
を評価する。

【００８０】例えば、図１９（ｈ）に示すように、測定
により得られた書き込み開始側の書き込み位置Ｚ１’の
副走査方向Ｑ３のずれ量ｄ２と、測定により得られた真
ん中の書き込み位置Ｚｍ’の副走査方向Ｑ３のずれ量ｄ
４と、測定により得られた書き込み終了側の書き込み位
置Ｚ２’の副走査方向Ｑ３のずれ量ｄ３とを求めれば、
走査線曲がりを評価できる。

【００８１】ｋ：走査時間の評価 光ビームの走査時間を、２個のＣＣＤカメラを用いて、
一方のＣＣＤカメラにビームスポットが取り込まれてか
ら他方のＣＣＤカメラにビームスポットが取り込まれる
までの時間をカウントすることにより走査時間を算出す
ることができ、また、２個のＣＣＤカメラの間の距離を
走査時間で除算することにより走査速度を求めることが
できる。

【００８２】なお、この場合、一方のＣＣＤカメラを同
期検出のために書き込みユニット１に設けた同期センサ
（走査開始検知センサ、走査終了検知センサ）により代
用しても良い。詳細は後述する。

【００８３】ｌ：深度の評価 主走査方向に直交する方向（ＣＣＤカメラに照射する光
ビームの光軸と同方向）にＣＣＤカメラを移動させるこ
とにより、主走査方向については光ビームを固定した状
態で、光ビームの移動方向のビーム径を測定して、設計
位置での深度を評価する。

【００８４】例えば、ＣＣＤカメラを光ビームの進行方
向に逐次等間隔に可動させて停止させ、各停止位置での
ビームスポットＳのビーム径Ｄを逐次求めると、図１９
（ｉ）に示すビーム径曲線（深度カーブ）Ｑｍを得るこ
とができる。なお、Ｂｗはビームウエストである。

【００８５】これにより光ビームの深度の評価を行うこ
とができる。

【００８６】ｍ：ビーム間ピッチの評価 同時に照射される複数のビーム間のピッチを評価する。

【００８７】例えば、図１９（ｊ）に示すように、１個
のエリア型撮像素子に受像された２つのビームスポット
Ｓの中心位置ＫＫ、ＫＫ’を求め、その副走査方向の間
隔△ＫＫを算出することにより、２つのビームのピッチ
間隔△ＫＫを評価できる。

【００８８】図５に示す光ビーム特性評価装置は、評価
項目ｌ：深度の評価以外の全ての評価項目ａ〜ｋ、ｍを
評価可能である。

【００８９】

【評価装置の実施例１】次に、評価装置の実施例を図５
を参照しつつ説明する。

【００９０】その図５において、２９はポリゴンミラー
駆動用のパルスモータ、３０はそのパルスモータ駆動制
御用の駆動制御回路である。感光体ドラム２５の表面２
６に相当する被走査面相当面３１には、光ビーム検出手
段としてのＣＣＤカメラ３２〜３４のエリア型撮像素子
（撮像面）３２ａ〜３４ａがその光ビームＰ１の走査開
始側から走査終了側に向かって等間隔に設けられてい
る。

【００９１】すなわち、ＣＣＤカメラ３２〜３４は、書
き込みユニットが搭載される画像形成装置（複写機等）
の書き込みユニットから出射された光ビームが照射され
る光ビーム照射部材（潜像担持体）の光照射開始位置
（シート最大サイズの光照射開始位置）、光照射終了位
置、中間位置に配置され、実際に使用すべき位置を評価
することができる。

【００９２】レーザーダイオード１１又は１２は１ドッ
ト点灯制御回路３５により点灯制御される。その１ドッ
ト点灯制御回路３５は時刻計時用のクロックパルスを発
振するクロックパルス発振器３６とクロックパルスをカ
ウントするカウント回路３７とを備えている。１ドット
点灯制御回路３７には同期センサ２７の同期パルスが入
力される。

【００９３】その１ドット点灯制御回路３５と駆動制御
回路３０とはパーソナルコンピュータからなる制御回路
３８により制御される。その制御回路３８には画像処理
用の入力ボード３９が設けられている。ここでは、この
入力ボード３９には入力系統が３個のもの、例えば、
Ｒ、Ｇ、Ｂの入力系統を有する画像処理ボードが用いら
れている。

【００９４】エリア型撮像素子３２ａは主走査方向開始
側に設けられ、エリア型撮像素子３４ａは主走査方向終
了側に設けられ、エリア型撮像素子３３ａは主走査方向
中央位置に設けられ、各エリア型撮像素子３２ａ〜３４
ａの画像出力は入力ボード３９を通じて制御回路３８に
取り込まれる。その制御回路３８は算出手段としての算
出回路４０と評価処理回路４１とを有する。

【００９５】各エリア型撮像素子３２ａ〜３４ａの各画
素のうちから演算処理の座標原点としての基準画素Ｋを
図６に示すように設定する。この基準画素Ｋは、設計的
に予定された基準書き込み位置に相当する。この基準画
素Ｋの設定については後述することにし、ここでは、基
準画素Ｋから基準画素Ｋまでの距離Ｌ１が設定されてい
るものとする。また、被走査面上で描かれるべき設計的
に予定された理想的画像（ビームスポットＳ）が図７に
示すものであるとする。符号Ｒ１は理想的なビームスポ
ットＳのビーム径である。

【００９６】制御回路３８はこの基準画素Ｋが原点位置
となるように「０」較正されている。算出回路４０は、
距離Ｌ１と設計的に予定された走査速度とにより、図８
に示すように、エリア型撮像素子間の走査時間Ｔを算出
し、この走査時間Ｔと設計的に予定されたビームスポッ
トＳの走査方向の径Ｒ１とから、１ドットに相当する走
査時間ｔを計算する。走査時間Ｔ、ｔを意味する信号は
１ドット点灯制御回路３５のカウント回路３７に入力さ
れる。

【００９７】この走査時間Ｔ、１ドット走査時間ｔはク
ロック発振器３６から出力されるクロックパルスの個数
によって定義され、１ドット点灯制御回路３５は、レー
ザーダイオード１１又は１２の消灯時点からカウント回
路３７が走査時間Ｔに相当するクロック数をカウントす
ると消灯状態にあるレーザーダイオード１１又は１２を
点灯するように制御し、カウント回路３７がレーザーダ
イオード１１又は１２の点灯時点から走査時間ｔに相当
するクロック数をカウントすると、レーザーダイオード
１１又は１２を消灯するように制御する。 この意味
で、走査時間Ｔは、レーザーダイオード１１又は１２の
消灯時間（書き込みタイミング時間）を規定している。

【００９８】レーザーダイオード１１又は１２は１ドッ
ト点灯制御回路３５により同期センサ２７からの同期パ
ルスが入力されるまでの間、連続的に点灯するように制
御され、同期センサ２７からの同期パルスが入力される
と、１ドット点灯制御回路３５によりいったん消灯さ
れ、走査時間Ｔが経過すると１ドット制御回路３５によ
り１ドットに相当する走査時間ｔだけ点灯された後、再
び走査時間Ｔが経過するまで消灯され、走査時間Ｔが経
過すると再度１ドットに相当する走査時間ｔだけ点灯さ
れた後消灯される。そして、１ドット点灯制御回路３５
は、同期センサ２８の同期パルスが入力されると、走査
開始側への戻り時間（約２Ｔ）が経過した後、再度点灯
される。

【００９９】その図８において、黒丸印は１ドットに相
当するビームスポットＳの形成状態（レーザーダイオー
ド１１又は１２の点灯状態）を示し、白丸印は１ドット
に相当するビームスポットＳの非形成状態（レーザーダ
イオード１１又は１２の消灯状態）を示している。

【０１００】このように、１ドット点灯制御回路３５に
より走査中に１ドットに相当する走査時間中レーザーダ
イオード１１又は１２を点灯させると、図９に示すよう
に、各エリア型撮像素子３２ａ〜３４ａにビームスポッ
トＳが形成される。

【０１０１】評価処理回路４１を用いて主走査方向Ｑ１
のビームスポットＳの中心位置Ｏ１、Ｏ２、Ｏ３を求め
れば、基準画素Ｋに対する主走査方向のずれ量ｄを求め
ることができる。その図９には、一例として、書き込み
開始側の基準位置では右側にｄ＝Ｘ１だけずれ、書き込
み終了側の基準位置では左側にｄ＝Ｘ３だけずれ、中央
位置ではそのずれ量ｄ＝Ｘ２＝０であることが示されて
いる。

【０１０２】また、評価処理回路４１を用いて副走査方
向Ｑ３のビームスポットＳの中心位置Ｏ１’、Ｏ２’、
Ｏ３’を求めれば、基準画素Ｋに対する副走査方向Ｑ３
のずれ量ｄを求めることができる。その図９では、副走
査方向のずれ量ｄ’はｄ’＝０である。

【０１０３】この図８では、主走査開始側のエリア型撮
像素子３２ａから中央位置のエリア型撮像素子３３ａま
での距離Ｌ１と走査終了側のエリア型撮像素子３４ａか
ら中央位置のエリア型撮像素子３３ａまでの距離Ｌ１と
が等しいものとして説明したがこれに限られるものでは
ない。

【０１０４】

【評価装置の実施例２】図１０はこの評価装置の実施例
２を示すもので、ここでは、入力ボード３９として単一
画像処理ボードを用い、かつ、設計的に予定された二個
の書き込み基準書位置に対するずれを評価することにし
たものである。この評価装置では、入力ボード切り替え
スイッチ４３が設けられ、１ドット点灯制御回路３５は
エリア型撮像素子３２ａからの画像の取り込みと同時に
エリア型撮像素子３４ａから画像が取り込まれるように
入力ボード切り替えスイッチ４３を切り替える。その他
の構成は図８に示す評価装置と同じであるので、同一符
号を付してその詳細な説明は省略することにする。図１
１はその１ドット点灯制御回路３５による制御タイミン
グを示し、走査時間（消灯時間）Ｔは距離Ｌ２を設計的
に予定された走査速度で除算することにより求められ
る。

【０１０５】この光ビーム特性評価装置では、ＣＣＤカ
メラが主走査方向に２個間隔を開けて設けられているの
で、評価項目ａないしｈ、評価項目ｋ、ｍの評価が可能
である。もちろん、図５に示す発明の実施の形態と同様
にＣＣＤカメラの個数を３個とすれば、評価項目ａ〜
ｋ、ｍの評価が可能である。

【０１０６】

【評価装置の実施例３】図１２はこの評価装置の実施例
３を示すもので、ここでは、入力ボード３９として単一
画像処理ボードを用い、かつ、設計的に予定された一個
の書き込み基準書位置に対するずれを評価することにし
たものである。

【０１０７】ここでは、ＣＣＤカメラ４３は１個とさ
れ、このＣＣＤカメラ４３は主走査方向に長く延びるガ
イド軸４４に設置の可動体４５に搭載されている。可動
体４５は制御回路３８によりガイド軸４４に沿って往復
動するように制御され、ＣＣＤカメラ４３は所望の書き
込み基準位置にセットされる。

【０１０８】すなわち、ＣＣＤカメラ４３を主走査方向
に移動させることによって、所望の位置で、評価項目ａ
〜ｆ、ｋ、ｍの評価が可能である。また、そのＣＣＤカ
メラ４３の移動位置を図５、図１０に示す評価装置と同
じ位置に設定することにより、項目ａ〜ｋ、ｍの評価を
同様に行うことができる。

【０１０９】同期センサ２７からＣＣＤカメラ４３のセ
ット位置までの距離をＬ３とし、設計的に予定された書
き込み速度で距離Ｌ３を除算すれば同期センサ２７から
ＣＣＤカメラ４３のエリア撮像素子４３ａの基準画素Ｋ
までに要する走査時間Ｔ（図１３参照）を求めることが
できる。

【０１１０】従って、同期センサ２７により同期パルス
が検出されてから走査時間Ｔまでの間、レーザー光源部
Ｓｏｕを消灯し、走査時間Ｔの経過と同時に１ドット点
灯制御回路３５によりレーザー光源部Ｓｏｕを走査時間
ｔの間点灯させることにすれば、走査中に１ドットに相
当するレーザースポットＳをＣＣＤカメラ４３のエリア
型撮像素子４３ａに図１４に示すように結像させること
ができる。

【０１１１】上記の各評価装置のビームスポットＳの中
心位置は以下のようにして求めている。

【０１１２】エリア型撮像素子４３ａの各画素はＺｉｊ
によって定義される。Ｚ１ｊ、Ｚ２ｊ、…、Ｚｉｊ、
…、Ｚｎｊは主走査方向Ｑ１に配列された画素を意味
し、Ｚｉ１、Ｚｉ２、…、Ｚｉｊ、…、Ｚｉｍは副走査
方向Ｑ３に配列された画素を意味し、符号ｉ（１からｎ
までの整数）は左側から数えてｉ番目を意味し、符号ｊ
（１からｍまでの整数）は下から数えてｊ番目であるこ
とを意味している。

【０１１３】そこで、主走査方向Ｑ１に配列されている
各画素Ｚ１ｊ、Ｚ２ｊ、…、Ｚｉｊ、…、Ｚｎｊから出
力された出力信号の総和Ｗｊ（Ｗｊ＝Ｚ１ｊ＋Ｚ２ｊ＋
…＋Ｚｉｊ＋…＋Ｚｎｊ）を副走査方向Ｑ３についてｊ
＝１からｊ＝ｍまで順次求めると、図１５に示すように
副走査方向Ｑ３の光ビーム強度分布曲線Ｂ１を求めるこ
とができる。また、副走査方向Ｑ３に配列されている各
画素Ｚｉ１、Ｚｉ２、…、Ｚｉｊ、…、Ｚｉｍから出力
された出力信号の総和Ｗｉ（Ｗｉ＝Ｚｉ１＋Ｚｉ２＋…
＋Ｚｉｊ＋…＋Ｚｉｍ）を主走査方向Ｑ１についてｉ＝
１からｉ＝ｎまで順次求めると、図１５に示すように主
走査方向Ｑ１の光ビーム強度分布曲線Ｂ２を求めること
ができる。

【０１１４】図１６はこのようにして求められた光ビー
ム強度分布曲線の一例であり、主走査方向Ｑ１のビーム
強度分布曲線Ｂ２を示している。

【０１１５】評価処理回路４１はこのビーム強度分布曲
線Ｂ２に対して閾値Ｐ１ｈを設定し、この閾値Ｐ１ｈを
横切る強度に対応する主走査方向Ｑ１の画素の番地Ｘ
１、Ｘ２を特定し、この番地Ｘ１とＸ２との和の平均値
に相当する画素の番地Ｘｉｍを求める。これにより、光
ビームＰ１の主走査方向Ｑ１の中心位置Ｏ１が求められ
る。この中心位置Ｏ１と基準画素Ｋとの差により主走査
方向Ｑ１のずれ量ｄが求まる。同様の処理をビーム強度
分布曲線Ｂ１について行うことにより副走査方向Ｑ３の
中心位置Ｏ１’が求められ、この中心位置Ｏ１’と基準
画素Ｋとの差によりずれ量ｄ’も求められる。

【０１１６】また、番地Ｘ１とＸ２との差Ｄを求めるこ
とにより、主走査方向Ｑ１のビーム径Ｄが求められ、同
様の処理をビーム強度分布曲線Ｂ１について行うことに
より、副走査方向Ｑ３のビーム径Ｄ’も求められる。

【０１１７】なお、閾値Ｐ１ｈは、ここでは、ピークＰ
ｍａｘからｅ（自然対数）の自乗分の１のところに設定
する。

【０１１８】ここでは、主走査方向Ｑ１に配列された画
素Ｚ１ｊ、Ｚ２ｊ、…、Ｚｉｊ、…、Ｚｎｊから出力さ
れた出力信号の総和Ｗｊ、副走査方向Ｑ３に配列された
画素Ｚｉ１、Ｚｉ２、…、Ｚｉｊ、…、Ｚｉｍから出力
された出力信号の総和Ｗｉに基づいて、光ビームＰ１の
中心位置Ｏ１、Ｏ１’を求めることにしたが、ピークＰ
ｍａｘ近傍の数画素からビーム強度分布曲線Ｂ１、Ｂ２
を描き、このビーム強度分布曲線Ｂ１、Ｂ２のピークを
光ビームＰ１の中心として求め、このピークに対応する
画素を光ビームＰ１の中心画素としても良い。

【０１１９】また、各画素毎の出力は量子化されている
ので、この各画素毎の量子化された出力分布を三次元的
に表現し、その重心位置に相当する画素を主走査方向Ｑ
１、副走査方向Ｑ３の光ビームＰ１の中心位置Ｏ１、Ｏ
１’としても良い。

【０１２０】なお、ＣＣＤカメラ４３を設計的に予定さ
れた基準書き込み位置（ｆθ光学系２３の光軸を意味す
る像高０の位置）に配置したとしても、ビーム径がその
基準書き込み位置から微妙にずれた位置で測定される
と、正確なビーム形状を得ることができないので、ずれ
量ｄに基づいて、図１３に示す走査時間Ｔを補正し、像
高０の位置でレーザー光源部Ｓｏｕを点灯させるように
することもできる。

【０１２１】

【評価装置の実施例４】図１７はこの評価装置の実施例
４を示し、主走査方向Ｑ１と直交する深度方向（光軸方
向）Ｑ４にガイド軸４６を設け、可動体４５をガイド軸
４４に沿って主走査方向Ｑ１に往復動可能とすると共
に、ガイド軸４６に沿って深度方向Ｑ４に往復動可能と
したものであり、この構成によれば１個のＣＣＤカメラ
４３を用いて設計的に予定された所望の書き込み基準位
置における光ビーム特性を評価できる。

【０１２２】この実施例４では、評価項目ａ〜ｋ、ｍの
評価を行うことができる他、ＣＣＤカメラ４３を深度方
向に可動させているので、評価項目ｌの評価も可能であ
る。

【０１２３】なお、ＣＣＤカメラ４３の深度方向への移
動手段を図５、図１０、図１２に示す評価装置にも搭載
可能であり、この移動手段を図５、図１０、図１２に示
す評価装置に搭載すれば、図５、図１０、図１２に示す
評価装置を用いても評価項目ｌの深度を評価することが
できる。

【０１２４】光ビームの進行方向（深度方向）Ｑ４につ
いて評価は以下のようにして行う。

【０１２５】すなわち、図３１（ａ）に示すようにＣＣ
Ｄカメラ４３が可動体４５に取り付けられ、可動体４５
は深度方向Ｑ４に延びるガイド軸４４に搭載されてい
る。可動体４５を光ビームＰ１の深度方向Ｑ４に逐次等
間隔毎に移動させて、その移動停止位置での光ビームＰ
１のビームスポットＳのビーム径Ｄ（図１４、図１６を
参照）を逐次求めると、深度方向Ｑ４に対するビーム径
曲線（深度カーブ）Ｑｍを図３１（ｂ）に示すように求
めることができる。

【０１２６】なお、ここでは、主走査方向Ｑ１について
ビーム径曲線Ｑｍを求めることとしたが、副走査方向Ｑ
３についてビーム径曲線を求めても良い。

【０１２７】このビーム径曲線Ｑｍからビームウエスト
Ｂｗの位置を評価し、設計的に予定された深度方向Ｑ４
の基準書き込み位置とビームウエストＢｗの位置とから
ビームウエスト補正適正量△Ｗを決定する。

【０１２８】図１８は図１７に示す評価装置の制御の一
例を示すフローチャートを示し、制御回路３８はまず初
期状態にセットされ（Ｓ．１）、次に、パルスモータ２
９の回転を開始させる（Ｓ．２）。次に、制御回路３８
はパルスモータ２９が定常回転数に達したとみなされる
時間が経過した時点で、１ドット点灯制御回路３５に向
けて、レーザーダイオード１１又は１２（レーザー光源
部Ｓｏｕ）を点灯させるように信号を出力する（Ｓ．
３）。一方、１ドット点灯制御回路３５は同期センサ２
７から同期パルスが入力されたか否かを検出し、所定時
間が経過しても同期パルスが検出されないときはエラー
発生信号を制御回路３８に向けて出力する（Ｓ．４、
Ｓ．５）。制御回路３８は、エラー発生信号が入力され
ると、レーザーダイオード１１又は１２（レーザー光源
部Ｓｏｕ）を消灯させる信号を１ドット点灯制御回路３
５に向けて出力すると共に（Ｓ．６）、そのエラー発生
信号に基づいてパルスモータ２９の回転を停止させ
（Ｓ．７）、測定終了か否かを判断する（Ｓ．８）。

【０１２９】１ドット点灯制御回路３５は同期パルスが
所定時間内に検出されたときには、同期パルス検出と同
時にレーザーダイオード１１又は１２（レーザー光源部
Ｓｏｕ）を消灯し、カウント回路３７が走査時間Ｔに基
づくクロック数をカウントした時点でレーザーダイオー
ド１１又は１２（レーザー光源部Ｓｏｕ）を１ドット点
灯させる点灯信号を出力する（Ｓ．９）。制御回路３８
はこの１ドット点灯によりビームスポットＳの画像を取
得する（Ｓ．１０）。評価処理回路４１はその実際に得
られたビームスポットＳの画像に基づき演算を行って、
光ビームＰ１に要求される各特性を評価する（Ｓ．１
１）。そして、その評価結果をモニター（図示を略す）
又は記録手段（図示を略す）に出力する（Ｓ．１２）。
その後、制御回路３８はレーザーダイオード１１又は１
２（レーザー光源部Ｓｏｕ）を消灯させるための信号を
１ドット制御回路３５に向けて出力すると共に（Ｓ．
６）、パルスモータ２９の駆動を停止させる。測定を繰
り返すときには、Ｓ．１からＳ．１２までの処理が再実
行される。

【０１３０】その光ビームの特性評価は、光ビームＰ１
の中心位置Ｏ１、Ｏ１’、ビーム径Ｄ１、Ｄ１’、ずれ
量ｄ、ｄ’を処理することにより行われる。

【０１３１】ビーム径Ｄ１、Ｄ１’の比を求めることに
より、光ビームＰ１の形状が主走査方向Ｑ１に長い楕円
であるのか、円に近い楕円であるのか、副走査方向Ｑ３
に長い楕円であるのかを評価できる。

【０１３２】

【評価装置１〜４の具体的構造】以下に示す評価装置は
現在実施している。

【０１３３】特許請求の範囲は、この評価装置を保護範
囲として請求したものである。

【０１３４】図３５、図３６は画像形成装置への書き込
みユニット１の取り付け状態を示し、１００は画像形成
装置の基台である。この基台１００には図３５、図３６
に示すように書き込みユニット位置決め部材１０１が固
定されている。

【０１３５】書き込みユニット１は図３７に示す外観形
状を有し、この書き込みユニット１の一方の側壁には、
位置決め用突起１０２、１０２が設けられ、書き込みユ
ニット１の他側壁には位置決め用穴１０３、１０３が設
けられている。この書き込みユニット１には主走査方向
に延びる細長いスリット穴１０４が形成され、この細長
いスリット穴１０４’からレーザービームＰ１が図示を
略す感光体ドラムに向けて照射される。

【０１３６】書き込みユニット位置決め部材１０１は、
図３６、図３８、図３９に示すように起立壁部１０４、
１０５を有する。起立壁部１０４には挿通穴１０６が形
成され、起立壁部１０５には位置決めピン１０７が固着
されている。その起立壁部１０５の外壁１０８は書き込
みユニット１を主走査方向に位置決めするための位置決
め面となっている。書き込みユニット位置決め部材１０
１の先端部は図３９に示すように基準ベース取り付け部
１０９となっている。この基準ベース取り付け部１０９
には基準ベース取り付けピン１１０が突設されている。

【０１３７】この基準ベース取り付け部１１０には図４
０（ａ）ないし図４０（ｄ）に示す位置決め基準ベース
１１１が取り付けられる。この位置決め基準ベース１１
１は主走査方向に長く延びている。位置決め基準ベース
１１１の上面には位置決めピン１１２、位置決めブロッ
ク取り付け穴１１３が形成されている。位置決め基準ベ
ース１１１の下部には基準ベース取り付けピン１１０に
嵌合される嵌合穴１１４が形成されている。

【０１３８】その位置決め基準ベース１１１の上面は傾
斜しており、この上面には基準位置決定用起立板部１１
３ａがその長手方向に間隔を開けて形成されている。こ
の上面に図４１に示す角度位置決め決定部材としての位
置決めブロック部材１１５が取り付けられる。ここで
は、この位置決めブロック部材１１５は図４２（ａ）な
いし図４２（ｄ）に示すように起立板部１１６、１１
７、平板部１１８を有する。起立板部１１６には円筒状
保持部材としてのＬＤホルダー板１１９が取り付けられ
る。その起立板部１１６には円形嵌合穴１２０が形成さ
れると共に係合ピン１２１が固着されている。起立板部
１１７にはＣＣＤカメラの当てつけ部１２１が形成され
ている。当てつけ部１２１には貫通穴１２２が形成され
ている。円形嵌合穴１２０は精密に真円形状に仕上げら
れている。

【０１３９】ＬＤホルダー板１１９には図４３（ａ）に
示すように円筒状ボス部１２３が形成されている。この
円筒状ボス部１２３の外形も精密に仕上げられる。その
円筒状ボス部１２３は円形嵌合穴１２０に嵌合される。
ＬＤホルダー板１１９の円盤部１１９ａには図４３
（ｂ）に示すようにレーザーダイオード位置決め用穴１
２４とレーザーダイオード取り付け用ネジ穴１２５と角
度位置決定用係合穴１２６とが形成されている。ここで
は、角度位置決定用係合穴１２６は円筒状ボス部１２３
の周囲に９０度毎に設けられている。

【０１４０】そのＬＤホルダー板１１９には、図４１に
示すように設計的に予定された基準位置決定用基準レー
ザー光源としての基準レーザーダイオード（半導体レー
ザー）１２７が取り付けられる。基台１００には取り付
けベース１２８が固定され、取り付けベース１２８には
支持ベース１２９が固定され、支持ベース１２９にはス
ライドベース１３１がスライド可能に設けられている。
このスライドベース１３１にはＣＣＤカメラユニット１
３０が設けられている。ＣＣＤカメラユニット１３０は
取り付けベース１３１’とＣＣＤカメラ１３２とから構
成されている。取り付けベース１３１’には当て付け板
１３１’ａが起立形成されている。スライドベース１３
１にはマイクロメータ１３３が取り付けられている。マ
イクロメータ１３３はエリア型撮像素子の撮像面１３０
ａが被走査面に相当する被走査相当面に位置するように
調節する調節手段として機能する。ＣＣＤカメラユニッ
ト１３０の先端部は当て付け部１２１に当て付けられ
る。

【０１４１】スライドベース１３１には図３５に示すよ
うに屈曲板部１３４が形成され、屈曲板部１３４にはス
ライド方向に延びる長穴１３５が形成され、ＣＣＤカメ
ラユニット１３０はそのエリア型撮像素子１３０ａの撮
像面が感光体ドラムの表面（被走査面）に相当する被走
査相当面３１に位置するようにマイクロメータ１３３に
よりスライド方向に調整され、屈曲板部１３４を固定ネ
ジ１３６で締め付けることにより、支持ベース１２９に
固定される。

【０１４２】ここでは、ＣＣＤカメラユニット１３０は
位置決め基準ベース１１１の長手方向に等間隔に３個設
けられ、図４４に示すようにその間隔はＬ１０である。
その図４４において、左側のＣＣＤカメラユニット１３
０は書き込み開始側位置に設けられ、真ん中のＣＣＤカ
メラユニット１３０は書き込み中央位置に設けられ、右
側のＣＣＤカメラユニット１３０は書き込み終了側位置
に設けられている。

【０１４３】書き込みユニット１の内部には発明の実施
の形態１で述べたようにレーザー光源部Ｓｏｕが設けら
れると共に走査光学系が設けられ、感光体ドラムの被走
査面はこのレーザー光源によってリニアに走査され、書
き込みが行われる。

【０１４４】円形嵌合穴１２０の中心は、図４１に示す
ように設計的に予定されたレーザービームＰ１の主走査
方向及び副走査方向の射出軌跡（射出光線）Ｑｎに一致
されているが、基準レーザーダイオード１２７から射出
された基準レーザー光が必ずしもこの射出軌跡Ｑｎに沿
って射出されるとは限らず、単に基準レーザー光を射出
させるのみでは、射出軌跡Ｑｎの延長線上に存在するエ
リア型撮像素子１３０ａの基準位置としての基準画素Ｋ
を基準レーザー光を用いて特定することはできない。

【０１４５】そこで、まず書き込み開始側のＣＣＤカメ
ラユニット１３０に基準レーザーダイオード１２７を対
向させる。図４５（ａ）に示すように、ＬＤホルダー板
１１９を円形嵌合穴１２０に嵌合させ、ＬＤホルダー板
１１９の角度位置決定用係合穴１２６の一つに係合ピン
１２１を嵌合させ、ＬＤホルダー板１１９を円形嵌合穴
１２０の中心を回転中心として回転させて、係合ピン１
２１にＬＤホルダー板１１９の角度位置決定用係合穴１
２６の周壁１２６ａを回転方向から当接させて、基準レ
ーザーダイオード１２７の角度位置決めを行う。

【０１４６】そして、基準レーザーダイオード１２７を
図示を略す点灯制御回路（書き込みユニット１の点灯制
御回路を用いても良い）を用いて点灯させる。このとき
のレーザービームの射出方向が図４４に示すようにＱｍ
方向であったと仮定する。また、その射出方向Ｑｍのレ
ーザービームを受光したエリア型撮像素子１３０ａの受
光画素Ｇの座標がＧ（ｘ１、ｙ１）であったとする。次
に、図４５（ｂ）に示すように係合ピン１２１と角度位
置決定用係合穴１２６との嵌合を解除し、ＬＤホルダー
板１１９を１８０度回転させて係合ピン１２１と角度位
置決定用係合穴１２６’とを嵌合させ、係合ピン１２１
にＬＤホルダー板１１９の角度位置決定用係合穴１２
６’の周壁１２６’ａを回転方向から当接させて、基準
レーザーダイオード１２７の角度位置決めを行う。

【０１４７】そして、基準レーザーダイオード１２７を
図示を略す点灯制御回路（書き込みユニット１の点灯制
御回路を用いても良い）を用いて点灯させる。このとき
のレーザービームの射出方向が図４３に示すようにＱ
ｍ’方向であったと仮定する。また、その射出方向Ｑ
ｍ’の光ビームを受光したエリア型撮像素子１３０ａの
受光画素Ｇの座標がＧ（ｘ２、ｙ２）であったとする。

【０１４８】すると、書き込み開始側の射出軌跡Ｑｎの
延長線上に存在する基準画素Ｋの座標Ｋ（Ｘ１０、Ｙ１
０）は、 Ｘ１０＝｛（ｘ１−ｘ２）／２｝＋ｘ２ Ｙ１０＝｛（ｙ１−ｙ２）／２｝＋ｙ２ によって求められる。

【０１４９】従って、基準レーザーダイオード１２７と
して、その射出光軸が厳密に調整されたレーザーを用い
なくとも、基準画素Ｋの位置を高精度に求めることがで
きる。

【０１５０】次に、位置決めブロック部材１１５を書き
込み中央位置のＣＣＤカメラユニット１３０に対向させ
て位置させ、設計的に予定された書き込み中央位置の射
出軌跡Ｑｎ’の延長上に存在する基準画素Ｋの座標Ｋ
（Ｘ１２、Ｙ１２）を求める場合について説明する。

【０１５１】まず、中央位置のＣＣＤカメラユニット１
３０に基準レーザーダイオード１２７を対向させて、基
準レーザーダイオード１２７を点灯させる。

【０１５２】このときのレーザービームの射出方向がＱ
ｍ’’であったと仮定する。また、その射出方向Ｑｍ’
の光ビームを受光した撮像素子１３０ａの受光画素Ｇの
座標がＧ（ｘ３、ｙ３）であったとする。

【０１５３】書き込み中央位置の射出軌跡Ｑｎ’の延長
上に存在する基準画素Ｋの座標Ｋ（Ｘ１２、Ｙ１２）と
書き込み開始側の基準画素の延長上に存在する基準画素
Ｋの座標Ｋ（Ｘ１０、Ｙ１０）との差は、射出方向Ｑ
ｍ’の光ビームを受光した受光画素Ｇの座標Ｇ（ｘ３、
ｙ３）と射出方向Ｑｍ’の光ビームを受光した撮像素子
１３０ａの受光画素Ｇの座標Ｇ（ｘ２、ｙ２）との差に
等しい。

【０１５４】従って、 Ｘ１２−Ｘ１０＝ｘ３−ｘ２ Ｙ１２−Ｙ１０＝ｙ３−ｙ２ よって、 Ｘ１２＝Ｘ１０＋ｘ３−ｘ２＝｛（ｘ１−ｘ２）／２｝
＋ｘ３ Ｙ１２＝Ｙ１０＋ｙ３−ｙ２＝｛（ｙ１−ｙ２）／２｝
＋ｙ３ 書き込み終了側の位置に設けられたＣＣＤカメラ１３２
の撮像素子１３０ａの基準画素Ｋの座標Ｋ（Ｘ１４、Ｙ
１４）は、同様に受光画素Ｇの座標をＧ（ｘ５、ｙ５）
とすると、 Ｘ１４＝｛（ｘ１−ｘ２）／２｝＋ｘ５ Ｙ１４＝｛（ｙ１−ｙ２）／２｝＋ｙ５ として求まる。

【０１５５】よって、いったんあるＣＣＤカメラ１３２
についての基準画素Ｋの座標をＬＤホルダー板１１９を
回転させて特定した後は、残りのＣＣＤカメラ１３２に
ついての基準画素Ｋの特定は、ＬＤホルダー板１１９を
回転させなくとも行うことができる。

【０１５６】なお、図３９は角度位置決定部材としての
位置決めブロック１１５が中央位置に設けられている状
態が示されている。

【０１５７】マイクロメータ１３３によりスライドベー
ス１３１をその長手方向に移動させることにより深度方
向でのビーム径を測定することが可能である。

【０１５８】この具体的構造では、１個の位置決めブロ
ック１１５を配置換え可能にして各位置で基準画素Ｋを
求める構成としたが、１個の位置決めブロック１１５を
位置決め基準ベース１１１にスライド可能に設ける構成
としても良いし、書き込み開始側の位置、中央位置、書
き込み終了側の各位置に位置決めブロック１１５をそれ
ぞれ設ける構成としても良い。

【０１５９】

【変形例】図４６ないし図５１は上記具体的構造の変形
例を示す図であって、図４６ないし図４８は画像形成装
置への書き込みユニット１の取り付け状態を示し、基台
１００には支柱１４０が立設され、支柱１４０の上端に
書き込みユニット位置決め部材１０１が固定されてい
る。ここでは、書き込みユニット位置決め部材１０１は
平板である。

【０１６０】書き込みユニット位置決め部材１０１には
その中央に開口部１４１が形成されている。書き込みユ
ニット位置決め部材１０１には３個のクランプ装置１４
２が設けられ、１４３はクランプレバーである。書き込
みユニット１はこのクランプ装置１４２により書き込み
ユニット位置決め部材１０１に固定される。基台１００
には取り付けベース１２８が固定され、取り付けベース
１２８には支持ベース１２９が固定され、支持ベース１
２９にはスライドベース１３１がスライド可能に設けら
れている。

【０１６１】このスライドベース１３１にはＣＣＤカメ
ラユニット１３０が設けられている。ＣＣＤカメラユニ
ット１３０はＣＣＤカメラ１３２と取り付けベース１３
１’とから構成されている。取り付けベース１３１’に
は当て付けいた１３１’ａが起立形成されている。スラ
イドベース１３１にはマイクロメータ１３３が取り付け
られ、マイクロメータ１３３はエリア型撮像素子の撮像
面１３０ａが被走査相当面に位置するように調整する役
割を果たす。

【０１６２】支持ベース１２９には挟持枠１４４が図４
９に示すように固定され、１４５は案内穴である。この
案内穴１４５はスライドベース１３１のスライド方向に
延びている。スライドベース１３１は固定ネジ１３６を
締め付けることにより支持ベース１２９に固定される。

【０１６３】書き込みユニット位置決め部材１０１に
は、図５０に示すように位置決め基準ベース１１１が取
り付けられる。この位置決め基準ベース１１１はクラン
プ装置１４２により書き込みユニット位置決め部材１０
１に固定される。この位置決め基準ベース１１１の下部
には当て付け部１４７が形成されている。この位置決め
基準ベース１１１の上部には図５１に示す位置決めブロ
ック部材１１５が取り付けられる。

【０１６４】角度位置決めブロック部材１１５には円形
嵌合穴１２０が形成されると共に、係合ピン１２１が形
成されている。この角度位置決め部材１１５にＬＤホル
ダー板１１９が取り付けられる。このＬＤホルダー板１
１９には基準レーザーダイオード１２７が取り付けられ
る。円形嵌合穴１２０の中心は設計的に予定された射出
軌跡Ｑｎと同じ方向に向けられている。

【０１６５】この変形例では、基準レーザーダイオード
１２７を用いて基準画素Ｋの特定を行うときには、書き
込みユニット位置決め部材１０１から書き込みユニット
１を取り除いて基準レーザーダイオード１２７を書き込
みユニット位置決め部材１０１にセットし、書き込みユ
ニット１のレーザー光源の評価を行うときには基準レー
ザーダイオード１２７、位置決め基準ベース１１１を取
り除き、書き込みユニット１を書き込みユニット位置決
め部材１０１にセットして行う。

【０１６６】

【評価結果に基づいた調整装置】以下に、これらの評価
装置１〜４の評価結果に基づいた調整装置を説明する。

【０１６７】図２０は評価項目ａの評価に基づく調整装
置に関するものである。

【０１６８】

【同期センサ移動による主走査方向書き込み位置調整構
造】図２０に示すように書き込み開始側の基準画素Ｋ
（基準書き込み位置Ｚ１）に対してビームスポットＳの
ビーム中心Ｏ１が主走査方向に△Ｘだけずれていたとき
の、書き込み開始位置の調整手段の構成に関するもので
ある。

【０１６９】書き込み開始側の基準位置Ｚ１に対して、
ビーム中心Ｏ１が主走査方向Ｑ１に△Ｘだけずれていた
場合には、同期センサ２７をビーム進行方向と直交する
主走査方向Ｑ１に移動させて調整する。

【０１７０】この同期センサ２７は図２１に示すように
可動体４７に取り付けられ、可動体４７は主走査方向Ｑ
１に延びるガイド軸４８に移動可能に設けられている。
そのガイド軸４８は書き込みユニット１の一部を構成す
る構成壁４９、４９’に掛け渡され、構成壁４９には調
整ネジ５０が設けられ、調整ネジ５０は構成壁４９に形
成されたネジ部５１に螺合されている。

【０１７１】可動体４７と構成壁４９との間には、付勢
手段としての引っ張りスプリング５２が掛け渡され、可
動体４７は構成壁４９に向けて付勢されている。可動体
４７の壁部には調整ネジ５０の先端部５０ａが当接され
ている。

【０１７２】この調整ネジ５０を正逆回転させることに
より可動体４７が主走査方向Ｑ１に微動され、図２２に
示すように、同期センサ２７から書き込み基準画素Ｋ
（基準位置Ｚ１）までの距離Ｌ６が調整され、これによ
り主走査方向について設計的に予定された書き込み基準
位置Ｚ１にビーム中心Ｏ１を一致させることができ、書
き込み開始位置の書き込みタイミング補正が可能とな
る。

【０１７３】

【書き込みユニット或いは作像ユニットの移動による主
走査方向書き込み位置調整構造１】上記の例では、同期
センサ２７を主走査方向に移動させて書き込み開始位置
の書き込みタイミング補正を行うこととしたが、この変
形例１では、書き込みユニット１と作像ユニット５３と
を相対的に主走査方向Ｑ１に移動させることにより書き
込みタイミングの調整を図ることにしたものである。

【０１７４】図２３は書き込みユニット１と作像ユニッ
ト５３との位置関係を示し、ここでは、少なくとも作像
ユニット５３には感光体ドラム２５の回転域に、現像ロ
ーラユニット５４、転写ユニット５５、帯電ユニット５
６が設けられている。なお、転写ユニット５５と帯電ユ
ニット５６とは一体構成であっても良い。また、潜像担
持体のクリーニング手段、除電手段（図示を略す）を作
像ユニット５３に一体に設けても良い。なお、副走査方
向Ｑ３は感光体ドラム２５に照射される光ビームの光軸
に対して直交している。

【０１７５】画像形成装置の本体構成壁５７には、図２
４に示すように、主走査方向Ｑ１に長く延びるガイド穴
５８が形成され、作像ユニット５３を構成する作像ユニ
ット構成壁５３ａには支持ピン５３ｂが突設されると共
にボス部５３ｃが突設されている。ボス部５３ｃにはネ
ジ部５３ｄが形成され、支持ピン５３ｂはガイド穴５８
に嵌合されている。

【０１７６】本体構成壁５７には調整ネジ５９が設けら
れ、この調整ネジ５９はボス部５３ｃのネジ部５３ｄに
螺合されている。調整ネジ５９を調整すると、作像ユニ
ット５３が書き込みユニット１に対して相対的に主走査
方向Ｑ１に移動され、これにより、光ビームＰ１の作像
ユニット（感光体ドラム２５）５３に対する主走査方向
Ｑ１の位置調整が行われ、これにより、主走査方向につ
いて設計的に予定された書き込み開始位置の書き込みタ
イミング補正が行われる。

【０１７７】

【書き込みユニット或いは作像ユニットの移動による主
走査方向書き込み位置調整構造２】調整構造１では、調
整ネジ５９とボス部５３ｃのネジ部５３ｄとの螺合によ
り作像ユニット５３を主走査方向Ｑ１に移動させて、光
ビームＰ１の作像ユニット５３に対する主走査方向Ｑ１
の位置調整を行うことにしたが、この変形例２では、図
２５に示すように、作像ユニット５３は主走査方向Ｑ１
に延びるガイドレール６０に載置されて移動可能とされ
ている。その作像ユニット５３は本体構成壁５７に向け
て弾性部材としてのスプリング６１により引っ張られて
いる。本体構成壁５７にはネジ部６２が形成され、調整
ネジ５９はそのネジ部６２に螺合され、調整ネジ５９の
先端部５９ａは作像ユニット構成壁５３ａに当接されて
いる。

【０１７８】調整ネジ５９の先端部５９ａの作像ユニッ
ト構成壁５３ａへの押し付けが弱くなる方向に調整ネジ
５９を回転させると、作像ユニット５３はスプリング６
１の付勢力により矢印方向ａ１に移動され、調整ネジ５
９の先端部５９ａの作像ユニット構成壁５３ａへの押し
付けが強くなる方向に調整ネジ５９を回転させると、作
像ユニット５３はその調整ネジ５９の押し付けによりス
プリング６１の付勢力に抗して矢印方向ａ２に移動さ
れ、これにより、光ビームＰ１の作像ユニット５３に対
する主走査方向Ｑ１の位置調整が行われる。

【０１７９】

【書き込みユニット或いは作像ユニットの移動による主
走査方向書き込み位置調整構造３】この調整構造３で
は、図２６に示すように、作像ユニット５３を主走査方
向Ｑ１に延びるガイドレール６０に載せて移動可能な構
成とすると共に、作像ユニット５３にラック部６３を形
成し、一方、本体構成壁５７には操作つまみ部付きの調
整軸６４を設け、調整軸６４の軸部にはラック部６３と
噛み合うピニオン６５を設け、ピニオン６５とラック部
６３との噛み合いにより、作像ユニット５３を主走査方
向Ｑ１に移動可能に構成したものである。

【０１８０】

【書き込みユニット或いは作像ユニットの移動による主
走査方向書き込み位置調整構造４】調整構造１ないし調
整構造３では、作像ユニット５３を主走査方向Ｑ１に移
動させて、光ビームＰ１の作像ユニット５３に対する位
置調整を行うこととしたが、この変形例４では、図２７
に示すように、作像ユニット５３を固定のままとし、書
き込みユニット１を主走査方向Ｑ１に移動させて、光ビ
ームＰ１の主走査方向Ｑ１に対する位置調整を行うこと
としたものであり、本体構成壁５７には、主走査方向Ｑ
１に長く延びるガイド穴６６が書き込みユニット１に対
応する箇所に形成され、書き込みユニット構成壁１ｂに
は支持ピン６７が突設されると共にボス部６８が突設さ
れている。ボス部６８にはネジ部６９が形成され、支持
ピン６７はガイド穴６６に嵌合されている。

【０１８１】本体構成壁５７には調整ネジ７０が設けら
れ、調整ネジ７０は書き込みユニット構成壁１ｂに設け
られ、この調整ネジ７０はボス部６８のネジ部６９に螺
合されている。調整ネジ７０を調整すると、書き込みユ
ニット１が作像ユニット５３に対して相対的に主走査方
向Ｑ１に移動され、これにより、光ビームＰ１の作像ユ
ニット５３に対する主走査方向Ｑ１の位置調整が行われ
る。

【０１８２】

【書き込みユニット或いは作像ユニットの移動による主
走査方向書き込み位置調整構造５】調整構造１〜調整構
造４では、作像ユニット５３を下に設け、書き込みユニ
ット１を上に設けて、光ビームＰ１の作像ユニット５３
に対する光ビームＰ１の主走査方向Ｑ１の位置調整を行
うこととしたが、この変形例５では書き込みユニット１
を下に設け、作像ユニット５３を上に設けて、光ビーム
Ｐ１の作像ユニット５３に対する主走査方向Ｑ１の位置
調整を行うこととしたものである。

【０１８３】この変形例５では、図２８に示すように、
作像ユニット５３は固定であり、書き込みユニット１は
主走査方向Ｑ１に延びるガイドレール７１に載せて移動
可能とされている。その書き込みユニット１は本体構成
壁５７に向けてスプリング７２により引っ張られてい
る。本体構成壁５７にはネジ穴７３が形成され、調整ネ
ジ７４はそのネジ穴７３に螺合され、調整ネジ７４の先
端部７４ａは書き込みユニット構成壁１ｂに当接されて
いる。

【０１８４】調整ネジ７４の先端部７４ａの書き込みユ
ニット構成壁１ｂへの押し付けが弱くなる方向に調整ネ
ジ７４を回転させると、書き込みユニット１はスプリン
グ７２の付勢力により矢印方向ａ３に移動され、調整ネ
ジ７４の先端部７４ａの書き込みユニット構成壁１ｂへ
の押し付けが強くなる方向に調整ネジ７４を回転させる
と、書き込みユニット１はその調整ネジ７４の押し付け
によりスプリング７２の付勢力に抗して矢印方向ａ４に
移動され、これにより、光ビームＰ１の作像ユニット５
３に対する主走査方向Ｑ１の位置調整が行われる。

【０１８５】

【シート積載位置の移動による主走査方向書き込み位置
調整構造】図５２はシート積載位置を主走査方向Ｑ１に
ずらして書き込み位置調整を行う構造を示している。

【０１８６】この実施例では、図５２（ａ）に示すよう
に、感光体ドラム２５の表面２６に臨ませて、サイドレ
ース用のＬＥＤ１〜ＬＥＤｎが設けられている。このＬ
ＥＤ１〜ＬＥＤｎは図５２（ｂ）に示すように主走査方
向Ｑ１に対応する方向に配列されている。

【０１８７】このＬＥＤ１〜ＬＥＤｎはシートサイズに
対応して点灯制御される。このＬＥＤ１〜ＬＥＤｎはシ
ートサイズに合わせて感光体ドラム２５のサイドレース
（搬送方向（副走査方向Ｑ３））に現像トナーが付着し
ないようにするために用いられる。つまり、ＬＥＤ１〜
ＬＥＤｎは感光体ドラム２５の両端部露光に用いられ
る。

【０１８８】作像ユニット５３にはシート積載トレイ１
００、１０１が設けられている。ここでは、シート積載
トレイ１００にサイドガイド固定板取り付け部１０２が
設けられている。このサイドガイド固定板取り付け部１
０２にサイドガイド固定板１０３が設けられ、このサイ
ドガイド固定板１０３にサイドガイド１０４がシートサ
イズに対応させてスライド可能に取り付けられている。
そのサイドガイド１０４のスライド方向は主走査方向Ｑ
１（シート搬送方向と直交する方向）に対応している。

【０１８９】サイドガイド固定板１０３はサイドガイド
固定板取り付け部１０２に対してサイドガイド１０４と
同方向にスライド調整可能であり、評価装置１〜評価装
置４の評価結果に基づく書き込み位置補正量に基づいて
書き込み位置を主走査方向Ｑ１に調整可能とするため
に、長穴１０５が設けられ、この長穴１０５内には書き
込み位置補正量に対応するメモリが設けられている。サ
イドガイド固定板１０３はこの調整後、固定ネジ等によ
りサイドガイド固定板取り付け部１０２に固定される。

【０１９０】例えば、Ａ３横長をサイドレースする場
合、ＣＰＵによってＬＥＤ１、ＬＥＤ２及びＬＥＤｎ−
１、ＬＥＤｎを点灯するが、仮にＬＥＤ一個分だけ書き
込み位置を主走査方向Ｑ１（図５２（ｂ）において上方
に書き込み位置がずれている場合）に補正しなければな
らない場合には、各サイズのＬＥＤ点灯制御をその分ず
らして実施することになり、Ａ３横長のシートの場合に
は、ＬＥＤ１、ＬＥＤｎ−２、ＬＥＤｎ−１、ＬＥＤｎ
を点灯制御することになる。

【０１９１】要は書き込み位置を主走査方向Ｑ１にずら
して調整すればシート搬送位置をずらせば良い。更に、
シートの感光体ドラム２５への搬送途中で、シートを搬
送しながら主走査方向Ｑ１にスライドさせる構成として
も良い。

【０１９２】

【書き込みユニット或いは作像ユニットの移動による副
走査方向書き込み位置調整構造】この調整構造は、評価
装置１−４により得られた図２９に示す副走査書き込み
位置の評価（評価項目ｂ）の結果に基づいて、書き込み
ユニット１から出射されて感光体ドラムに照射される光
ビームの進行方向及び主走査方向Ｑ１に直交する副走査
方向Ｑ３に沿って調整することとしたものである。

【０１９３】すなわち、この位置調整構造では、書き込
みユニット１と作像ユニット５３とを相対的に副走査方
向Ｑ３に移動させることにより書き込みタイミングの調
整を図ることにしたものであり、図２９に示すように、
ビームスポットＳのビーム中心Ｏ１’が副走査方向Ｑ３
に△Ｙだけずれているときの書き込み開始位置の調整手
段に関する。

【０１９４】本体構成壁５７には、図３０に示すよう
に、移動手段の一部を構成する調整ネジ７５が設けられ
ると共に、副走査方向Ｑ３に延びるガイド穴７６が形成
されている。書き込みユニット１には支持ピン７７が設
けられると共に、ボス部７８が形成されている。ボス部
７８にはネジ部７９が形成され、調整ネジ７５はボス部
７８のネジ部７９に螺合されている。調整ネジ７５を調
整すると、書き込みユニット１が作像ユニット５３に対
して相対的に副走査方向Ｑ３に移動され、これにより、
光ビームＰ１の作像ユニット５３に対する副走査方向Ｑ
３の位置調整が行われる。

【０１９５】この調整構造では、書き込みユニット１を
副走査方向Ｑ３に移動させて、光ビームＰ１の作像ユニ
ット５３に対する副走査方向Ｑ３の位置調整を行うこと
としたが、作像ユニット５３に移動手段の一部を構成す
る支持ピン７６とボス部７８とを形成し、作像ユニット
５３を副走査方向Ｑ３に移動させて、光ビームＰ１の作
像ユニット５３に対する位置調整を行うように構成する
こともできる。

【０１９６】また、移動手段を操作つまみ部付きの調整
軸によって回転するピニオンとこのピニオンに噛み合う
ラックとにより構成しても良い。

【０１９７】

【レーザーダイオード（ＬＤ）ユニットによる深度調整
構造】ここでは、深度評価で求めたビームウエスト補正
適正量△Ｗに基づいて、コリメートレンズ１３、１４を
光ビームＰ１の光路に沿って可動させることにより、光
路長を調整することとしたものであり、以下光路長調整
手段を図３２を参照しつつ説明する。

【０１９８】書き込みユニット構成壁１ｂにはレーザー
ダイオード１１（１２）の取り付けベース８１がネジ８
２によって固定され、この取り付けベース８１にはレー
ザーダイオード１１（１２）の取り付け穴８３とコリメ
ートレンズ１３（１４）の取り付け穴８４とが設けられ
ている。取り付け穴８３にはレーザーダイオード１１
（１２）が嵌合されて固定されている。コリメートレン
ズ１３（１４）は鏡筒８５に保持され、鏡筒８５の外周
部には雄ネジ部８６が形成されている。取り付け穴８４
には雌ネジ部８７が形成され、鏡筒８５は雄ネジ部８６
が雌ネジ部９７に螺合されて取り付けベース８１に軸方
向に移動可能に保持される。

【０１９９】ビームウエストＢｗの位置調整は、鏡筒８
５を回転させることにより、レーザーダイオード１１、
１２に対してコリメートレンズ１３（１４）の光軸方向
Ｑ５にこのコリメートレンズ１３（１４）を移動させる
ことによって行われる。このビームウエストＢｗの調整
後、鏡筒８５は取り付けベース８１に例えば接着剤によ
り固定される。

【０２００】

【書き込みユニット或いは作像ユニットによる深度調整
構造１】上記の例では、コリメートレンズ１３、１４を
その光軸方向に移動させて、ビームウエストの調整を行
うこととしたが、この変形例では、図３３に示すよう
に、本体構成壁５７に高さ方向に延びるガイド穴８８ａ
とネジ取り付け部８８ｂとを設け、書き込みユニット構
成壁１ｂには、ガイド穴５８に嵌合されるガイドピン８
９を設け、引っ張りスプリング９０の付勢力により書き
込みユニット１を上方に付勢する一方、ネジ取り付け部
８８ｂに調整ネジ９１と螺合するネジ部９２を設け、調
整ネジ９１の先端部９１ａをガイドピン８９に当接さ
せ、調整ネジ９１を回転させることにより書き込みユニ
ット１と作像ユニット５３との間隔を調節し、これによ
り、光路長を変化させて、感光体ドラム２５の表面２６
に対するビームウエストの位置調整を行うこととしたも
のである。

【０２０１】

【書き込みユニット或いは作像ユニットによる深度調整
構造２】調整構造１では、書き込みユニット１と作像ユ
ニット５３との間隔を調整ネジ９１を設けて行うことに
したが、この調整構造２では、図３４に示すように、本
体構成壁５７に調節つまみ９４を設け、調節つまみの軸
部９５に偏心カム９６を設け、書き込みユニット１には
偏心カム９６のカム面９６ａに当接する当接部９７を設
け、係止ピン９３とガイドピン８９との間に掛け渡され
た引っ張りスプリング９０により当接部９７がカム面９
６ａに摺接する構成とし、調節つまみ９４を回転させる
ことにより書き込みユニット１と作像ユニット５３との
間の光路長を変化させて、感光体ドラム２５の表面２６
に対するビームウエストの位置調整を行うこととしたも
のである。

【０２０２】なお、光路長調整手段を、調整ネジによっ
て回転するピニオンとこのピニオンに噛み合うラックと
により構成しても良い。

【０２０３】ここでは、書き込みユニット１を副走査方
向に移動させる構成としたが、作像ユニット５３を移動
させる構成としても良い。

【０２０４】

【その他の評価項目に関する評価結果に基づく調整】
（ａ）評価項目ｃ、ｄによる評価が許容範囲外のときに
は、ポリゴンミラー１９の不良であることが考えられる
ので、書き込みユニット１に搭載したポリゴンミラー１
９の交換を行うことが望ましい。

【０２０５】（ｂ）評価項目ｅ、ｆによる評価が許容範
囲外のときには、レーザーダイオードＬＤとポリゴンミ
ラー１９との間の光路中に設けられているアパーチャー
部材（図示を略す）の開口径を調整する。このアパーチ
ャー部材は通常コリメータレンズの光進行方向直後に配
置されている。このアパーチャー部材の開口径の調整
は、アパーチャー部材の開口径を機械的調整手段によっ
て調整しても良いし、現に光路に配置されているアパー
チャー部材を光路から取り外して、別の開口径を有する
アパーチャー部材と交換することにより行っても良い。

【０２０６】（ｃ）評価項目ｇ、ｉの倍率誤差、倍率誤
差偏差の評価に基づく調整は、ｆθレンズの交換、反射
ミラーの交換により行うことが望ましい。

【０２０７】これは、ポリゴンミラー１９から反射され
た光ビームを感光体ドラム２５に導く光学系を構成する
ｆθレンズ２３、反射ミラー２４等の光学要素の光学的
欠陥によって、光軸Ｏ１０に対して左右方向の光路長に
影響が出た結果、発生している可能性が高いからであ
る。

【０２０８】なお、評価項目ｇの倍率誤差のみの場合に
は、図５３（ａ）に示すように、反射ミラー２４又はｆ
θレンズ２３をその光軸Ｏ１０の回りに所定角度調整す
ることができる。

【０２０９】（ｄ）評価項目ｈ、ｊの走査線傾き、走査
線曲がりの評価に基づく調整についても、ｆθレンズ２
３の交換、反射ミラー２４の交換により行うことが望ま
しい。

【０２１０】これは、ポリゴンミラー１９から反射され
た光ビームを感光体ドラム２５に導く光学系を構成する
ｆθレンズ２３、反射ミラー２４等の光学要素の光学的
欠陥によって、光軸に対して左右方向の光路長に影響が
出た結果、発生している可能性が高いからである。

【０２１１】なお、評価項目ｈの走査線傾きのみの場合
には、図５３（ｂ）に示すように、ｆθレンズ２３をそ
の光軸Ｏ１０の回りに所定角度調整すると共に、反射ミ
ラー２４の傾き角を矢印Ｏ１１方向に調整することによ
り行うことができる。

【０２１２】（ｅ）評価項目ｍのピッチ間隔の評価に基
づく調整は、複数のＬＤを取り付けたユニットを光軸周
りに所定角度調整することにより行う。

【０２１３】（ｆ）評価項目ｋの走査時間の評価に基づ
く調整は、ポリゴンミラー１９の回転速度を調整するこ
とにより行う。なお、図５３（ａ）に示すと同様に、反
射ミラー２４又はｆθレンズ２３をその光軸Ｏ１０回り
に沿って所定角度調整することにより、走査時間を調整
することもできる。

【０２１４】（ｇ）評価項目ｌの深度評価に基づく調整
は、既に図３２〜図３４を用いて説明した通りである。

【０２１５】

【発明の効果】本発明によれば、一台で光ビームに要求
される各特性を評価可能な光ビーム特性評価装置、とり
わけ、基準位置出しを正確に行うことができるという効
果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】 光ビーム走査特性評価装置の従来例を示す説
明図である。

【図２】 光ビーム走査特性評価装置の従来例を示す図
であって、光ビームの走査中のビーム径測定を一次元ラ
インＣＣＤを用いて測定する状態を示す説明図である。

【図３】 図２に示す走査中の光ビームを静止させたと
みなして、走査中の光ビームのビーム径を図２に示す一
次元ラインＣＣＤを用いて測定すると考えたときの説明
図である。

【図４】 本発明に係わる書き込みユニットの内部構成
の概略を示す斜視図である。

【図５】 本発明に係わる光ビーム特性評価装置の実施
例１の原理を説明するための図であって、３個のＣＣＤ
カメラを主走査方向に間隔を開けて設けた場合を示す図
である。

【図６】 図５に示すＣＣＤカメラのエリア型撮像素子
を概念的に示す図である。

【図７】 図４に示す書き込みユニットにより被走査面
に描かれるべき設計的に予定された理想的画像（ビーム
スポット）を説明するための図である。

【図８】 図５に示す光ビームの１ドット制御のタイミ
ングを説明するための説明図である。

【図９】 図５に示す各ＣＣＤカメラのエリア型撮像素
子に形成されたビームスポットを示す図である。

【図１０】 評価装置の実施例２を説明するための図で
あって、２個のＣＣＤカメラを主走査方向に間隔を開け
て設けた場合を示す図である。

【図１１】 図１０に示す光ビームの１ドット制御のタ
イミングを説明するための説明図である。

【図１２】 評価装置の実施例３を説明するための図で
あって、１個のＣＣＤカメラを主走査方向の中央に設け
た場合を示す図である。

【図１３】 図１２に示す光ビームの１ドット制御のタ
イミングを説明するための説明図である。

【図１４】 図１２に示すエリア型撮像素子に形成され
たビームスポット（レーザースポット）の説明図であ
る。

【図１５】 図１４に示すビームスポットに基づいて光
ビーム強度分布曲線を求めるための説明に用いた説明図
である。

【図１６】 図１５に示す光ビーム強度分布曲線に基づ
いて光ビームの中心位置を評価処理回路により求めるた
めの説明に用いた光ビーム強度分布曲線図である。

【図１７】 評価装置の実施例４を説明するための図で
あって、１個のＣＣＤカメラを主走査方向と深度方向と
に可動させる構成を示す説明図である。

【図１８】 図１７に示す光ビーム特性評価装置の処理
の一例を示すフローチャートである。

【図１９】 本発明に係わる光ビーム特性評価装置によ
る評価特性の一例を説明するための説明図であって、
（ａ）は主走査方向の書き込み位置のずれを示す図、
（ｂ）は副走査方向の書き込み位置のずれを示す図、
（ｃ）はポリゴンミラーの各面についての主走査方向の
ピッチむらの説明図、（ｄ）はポリゴンミラーの各面に
ついての副走査方向のピッチむらの説明図、（ｅ）倍率
誤差の説明図、（ｆ）は走査線の傾きの説明図、（ｇ）
は倍率誤差偏差の説明図、（ｈ）は走査線曲がりの説明
図、（ｉ）は深度カーブの説明図、（ｊ）はビーム間ピ
ッチの説明図である。

【図２０】 主走査方向書き込み位置調整構造の説明に
用いた図であって、書き込み開始側の基準位置に対して
ビーム中心が主走査方向にずれている状態を示す説明図
である。

【図２１】 図２０に示す書き込み開始側の基準位置に
対するビーム中心の主走査方向のずれを調整するための
書き込み位置調整手段の一例を示す図であって、同期セ
ンサの位置調整構造を概念的に示す部分断面図である。

【図２２】 同期センサによる書き込み調整タイミング
を説明するための図である。

【図２３】 書き込みユニット或いは作像ユニットの移
動による主走査方向書き込み位置調整構造１の説明図で
あって、書き込みユニットと作像ユニットとの相対的位
置関係を示す図である。

【図２４】 図２３に示す書き込みユニットに対して作
像ユニットを相対的に主走査方向に移動させることによ
り書き込み開始タイミングを調整する調整構造を概念的
に示す部分断面図である。

【図２５】 書き込みユニット或いは作像ユニットの移
動による主走査方向書き込み位置調整構造２の説明図で
あって、図２３に示す書き込みユニットに対して作像ユ
ニットを相対的に主走査方向に移動させることにより書
き込み開始タイミングを調整する調整構造を概念的に示
す部分断面図である。

【図２６】 書き込みユニット或いは作像ユニットの移
動による主走査方向書き込み位置調整構造３の説明図で
あって、図２３に示す書き込みユニットに対して作像ユ
ニットを相対的に主走査方向に移動させることにより書
き込み開始タイミングを調整する調整構造を概念的に示
す部分断面図である。

【図２７】 書き込みユニット或いは作像ユニットの移
動による主走査方向書き込み位置調整構造４の説明図で
あって、図２３に示す書き込みユニットを作像ユニット
に対して主走査方向に移動させることにより書き込み開
始タイミングを調整する調整構造を概念的に示す部分断
面図である。

【図２８】 書き込みユニット或いは作像ユニットの移
動による主走査方向書き込み位置調整構造５の説明図で
あって、図２３に示す書き込みユニットを作像ユニット
に対して主走査方向に移動させることにより書き込み開
始タイミングを調整する調整構造を概念的に示す部分断
面図である。

【図２９】 書き込みユニット或いは作像ユニットの移
動による副走査方向書き込み位置調整構造に用いる図で
あって、書き込み開始側の基準位置に対してビーム中心
が副走査方向にずれている状態を示す説明図である。

【図３０】 書き込みユニット或いは作像ユニットの移
動による副走査方向書き込み位置調整構造の説明図であ
って、図２３に示す書き込みユニットに対して作像ユニ
ットを相対的に副走査方向に移動させることにより書き
込み開始タイミングを調整する調整構造を概念的に示す
部分断面図である。

【図３１】 光ビーム特性評価装置の実施例４に使用す
る説明図であって、（ａ）はＣＣＤカメラを主走査方向
及び副走査方向に可動させて光ビームの深度カーブを評
価する光ビーム特性評価装置の説明図であり、（ｂ）は
（ａ）に示す光ビーム特性評価装置により得られた深度
カーブの一例を示す図である。

【図３２】 レーザーダイオードユニットによる深度調
整構造の説明図であって、実施例４に示す光ビーム特性
評価装置により得られた深度カーブに基づきコリメート
レンズの位置を光軸方向に調整して光路長を調整する光
路長調整構造を示す部分断面図である。

【図３３】 書き込みユニット或いは作像ユニットによ
る深度調整構造１の説明図であって、実施例４に示す光
ビーム特性評価装置により得られた深度カーブに基づき
書き込みユニットと作像ユニットとの間隔を調整して光
路長を調整する光路長調整構造を示す部分断面図であ
る。

【図３４】 書き込みユニット或いは作像ユニットによ
る深度調整構造２の説明図であって、実施例４に示す光
ビーム特性評価装置により得られた深度カーブに基づき
書き込みユニットと作像ユニットとの間隔を調整して光
路長を調整する光路長調整構造を示す部分断面図であ
る。

【図３５】 評価装置１〜４の具体的構造を示し、画像
形成装置への書き込みユニットの取り付け状態を示す側
面図である。

【図３６】 画像形成装置への書き込みユニットの取り
付け状態を示す平面図である。

【図３７】 図３５、図３６に示す書き込みユニットの
外観形状を示す図である。

【図３８】 画像形成装置への書き込みユニットの取り
付け状態を示す正面図である。

【図３９】 基準ベース取り付け部に取り付けられた位
置決め基準ベースとＣＣＤカメラとの配置関係を示す部
分拡大平面図である。

【図４０】 図３９に示す位置決め基準ベースの説明図
であって、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）を矢視ｃ１
方向から見た図、（ｃ）は（ｂ）を矢視ｃ２方向から見
た図、（ｄ）は（ｂ）を矢視ｃ３方向から見た図であ
る。

【図４１】 基準ベース取り付け部に取り付けられた位
置決め基準ベースとＣＣＤカメラとの配置関係を示す部
分拡大側面図である。

【図４２】 図３９、図４１に示す位置決めブロック部
材の説明図であって、（ａ）は平面図、（ｂ）は（ａ）
を矢視ｃ４方向から見た図、（ｃ）は（ａ）を矢視ｃ５
方向から見た図、（ｄ）は（ｃ）を矢視ｃ６方向から見
た図である。

【図４３】 図４１に示すＬＤホルダー板の説明図であ
って、（ａ）は側面図、（ｂ）は（ａ）を矢視ｃ７方向
から見た図である。

【図４４】 基準レーザー光源を用いてエリア型ＣＣＤ
の基準画素の特定を説明するための図である。

【図４５】 ＬＤホルダー板と位置決めブロック部材と
の部分拡大図であって、（ａ）はＬＤホルダー板の１８
０度回転前の状態を示す図、（ｂ）はＬＤホルダー板の
１８０度回転後の状態を示す図である。

【図４６】 画像形成装置への書き込みユニットの取り
付け状態を示す平面図である。

【図４７】 画像形成装置への書き込みユニットの取り
付け状態を示す側面図であって、書き込みユニットをク
ランプする前の状態を示している。

【図４８】 書き込みユニットの取り付け状態を示す正
面図であって、書き込みユニットをクランプする前の状
態を示している。

【図４９】 図４７に示す支持ベースに取り付けられた
ＣＣＤカメラユニットと基準レーザーダイオードとの位
置関係を示す平面図である。

【図５０】 書き込みユニットに取り付けられた位置決
め基準ベースと位置決めブロックとを示す平面図であ
る。

【図５１】 図４９に示す位置決めブロックの拡大側面
図である。

【図５２】 シート積載位置の移動による主走査方向書
き込み位置調整構造の説明図であって、（ａ）は作像ユ
ニットの内部構造の概略図であり、（ｂ）は（ａ）に示
すＬＥＤの配列状態を示し、（ｃ）はシート積載トレー
に取り付けられたサイドガイドを示す。

【図５３】 倍率誤差、走査線傾き不良の場合の調整の
一例を示し、（ａ）は倍率誤差の評価による調整例を示
し、（ｂ）は走査線傾きの評価に基づく調整例を示す。

【符号の説明】

１１１…位置決め基準ベース １１５…位置決めブロック部材（角度位置決定部材） １１９…ＬＤホルダー板（保持部材） １２７…基準レーザーダイオード（基準レーザー光源） １３０ａ…エリア型撮像素子

─────────────────────────────────────────────────────

【手続補正書】

【提出日】平成１０年８月２０日

【手続補正１】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】００７４

【補正方法】変更

【補正内容】

【００７４】例えば、図１９（ｅ）に示すように、主走
査方向Ｑ１の原稿上の２点に対応する転写紙上の設計的
に予定された書き込み基準位置Ｚ１、Ｚ２の距離Ｌ４と
実際に測定により得られた被走査面上での書き込み位置
Ｚ１’、Ｚ２’の距離Ｌ５との比を求めれば、倍率誤差
を評価できる。

【手続補正２】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】０１４７

【補正方法】変更

【補正内容】

【０１４７】そして、基準レーザーダイオード１２７を
図示を略す点灯制御回路（書き込みユニット１の点灯制
御回路を用いても良い）を用いて点灯させる。このとき
のレーザービームの射出方向が図４４に示すようにＱ’
ｍ方向であったと仮定する。また、その射出方向Ｑ’ｍ
の光ビームを受光したエリア型撮像素子１３０ａの受光
画素Ｇの座標がＧ（ｘ２、ｙ２）であったとする。

【手続補正３】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】０１５０

【補正方法】変更

【補正内容】

【０１５０】次に、位置決めブロック部材１１５を書き
込み中央位置のＣＣＤカメラユニット１３０に対向させ
て位置させ、設計的に予定された書き込み中央位置の射
出軌跡Ｑ’ｎの延長上に存在する基準画素Ｋの座標Ｋ
（Ｘ１２、Ｙ１２）を求める場合について説明する。

【手続補正４】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】０１５２

【補正方法】変更

【補正内容】

【０１５２】このときのレーザービームの射出方向が
Ｑ’’ｍであったと仮定する。また、その射出方向Ｑ’
ｍの光ビームを受光した撮像素子１３０ａの受光画素Ｇ
の座標がＧ（ｘ３、ｙ３）であったとする。

【手続補正５】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】０１５３

【補正方法】変更

【補正内容】

【０１５３】書き込み中央位置の射出軌跡Ｑ’ｎの延長
上に存在する基準画素Ｋの座標Ｋ（Ｘ１２、Ｙ１２）と
書き込み開始側の基準画素の延長上に存在する基準画素
Ｋの座標Ｋ（Ｘ１０、Ｙ１０）との差は、射出方向Ｑ’
ｍの光ビームを受光した受光画素Ｇの座標Ｇ（ｘ３、ｙ
３）と射出方向Ｑ’ｍの光ビームを受光した撮像素子１
３０ａの受光画素Ｇの座標Ｇ（ｘ２、ｙ２）との差に等
しい。

【手続補正６】

【補正対象書類名】明細書

【補正対象項目名】０１６５

【補正方法】変更

【補正内容】

【０１６５】この変形例では、基準レーザーダイオード
１２７を用いて基準画素Ｋの特定を行うときには、書き
込みユニット位置決め部材１０１から書き込みユニット
１を取り除いて基準レーザーダイオード１２７、位置決
め基準ベース１１１を書き込みユニット位置決め部材１
０１にセットし、書き込みユニット１のレーザー光源の
評価を行うときには基準レーザーダイオード１２７、位
置決め基準ベース１１１を取り除き、書き込みユニット
１を書き込みユニット位置決め部材１０１にセットして
行う。

Claims (15)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】被走査面をリニアーに走査するのに用いら
   れるレーザー光源からの光ビームを被走査面相当面に設
   置のエリア型撮像素子に結像させることにより前記光ビ
   ームに要求される特性を評価する評価方法に用いられる
   光ビーム特性評価装置であって、 前記光ビームの前記被走査面上での主走査方向及び副走
   査方向の設計的に予定された基準位置の決定に用いられ
   る基準レーザー光源と、該基準レーザー光源を保持する
   保持部材と、該保持部材を回転可能に保持して前記基準
   レーザー光源の回転角度位置を決定する角度位置決定部
   材と、設計的に予定された光ビームの射出光線に前記保
   持部材の回転中心が一致するように前記角度位置決定部
   材を位置決めする位置決め基準ベースとを有し、前記保
   持部材を前記回転中心を中心に回転させて少なくとも二
   カ所の回転角度位置において前記基準レーザー光源から
   射出された基準光ビームを前記エリア型撮像素子で受光
   することにより、該エリア型撮像素子上での前記基準位
   置に相当する基準画素を特定する光ビーム特性評価装
   置。
2. 【請求項２】請求項１に記載の光ビーム特性評価装置に
   おいて、前記位置決め基準ベースは前記主走査方向に延
   びていることを特徴とする。
3. 【請求項３】請求項１に記載の光ビーム特性評価装置に
   おいて、前記基準レーザー光源が半導体レーザーである
   ことを特徴とする。
4. 【請求項４】請求項１に記載の光ビーム特性評価装置に
   おいて、前記レーザー光源が走査光学系を内蔵する書き
   込みユニットに設けられていることを特徴とする。
5. 【請求項５】請求項１に記載の光ビーム特性評価装置に
   おいて、前記評価が前記レーザー光源を走査中に１ドッ
   トに相当する走査時間中点灯させることにより行われる
   ことを特徴とする。
6. 【請求項６】作像ユニットに設けられた潜像担持体の被
   走査面をリニアーに走査する走査光学系を有する書き込
   みユニットに設けられたレーザー光源からの光ビーム
   を、前記被走査面に相当する被走査面相当面に設置のエ
   リア型撮像素子に結像させることによって、前記光ビー
   ムに要求される特性を評価する評価方法に用いられる光
   ビーム特性評価装置であって、 前記作像ユニットに対する前記書き込みユニットを位置
   決めする位置決め部材と、前記レーザー光源から射出さ
   れた光ビームの主走査方向及び副走査方向の前記被走査
   面上の設計的に予定された基準位置を決定するために用
   いられる基準レーザー光源と、該基準レーザー光源を保
   持する保持部材と、該保持部材を回転可能に保持して前
   記基準レーザー光源の回転角度位置を決定する角度位置
   決定部材と、前記位置決めベースに設けられて設計的に
   予定された書き込みユニットから射出される光ビームの
   射出光線に前記保持部材の回転中心が位置するように前
   記角度位置決定部材を位置決めする位置決め基準ベース
   とを有し、前記保持部材を回転させて少なくとも二カ所
   の回転角度位置において前記基準レーザー光源から射出
   された基準光ビームを前記エリア型撮像素子で受光する
   ことにより、該エリア型撮像素子上での前記基準位置に
   相当する基準画素を特定する光ビーム特性評価装置。
7. 【請求項７】請求項６に記載の光ビーム特性評価装置に
   おいて、前記回転角度位置が１８０度対称位置であるこ
   とを特徴とする。
8. 【請求項８】請求項６に記載の光ビーム特性評価装置に
   おいて、前記角度位置決定部材が前記位置決め基準ベー
   スに前記主走査方向に配置換え可能に設けられているこ
   とを特徴とする。
9. 【請求項９】請求項６に記載の光ビーム特性評価装置に
   おいて、前記エリア型撮像素子の撮像面が前記被走査面
   相当面に位置するように調節する調節手段が設けられて
   いることを特徴とする。
10. 【請求項１０】作像ユニットの潜像担持体の被走査面を
    リニアーに走査する走査光学系を有する書き込みユニッ
    トに設けられたレーザー光源を走査中に１ドットに相当
    する走査時間中点灯させることによって、前記レーザー
    光源からの光ビームを前記被走査面に相当する被走査面
    相当面の主走査方向に間隔を開けて設けられた少なくと
    も２個以上のエリア型撮像素子に結像させることによっ
    て、前記光ビームに要求される特性を評価する評価方法
    に用いられる光ビーム特性評価装置であって、 前記作像ユニットに対する前記書き込みユニットを位置
    決めする位置決め部材と、 前記レーザー光源から射出
    された光ビームの主走査方向及び副走査方向の前記被走
    査面上の設計的に予定された基準位置を決定するために
    用いられる基準レーザー光源と、該基準レーザー光源を
    保持する円筒状保持部材と、該円筒状保持部材が回転可
    能に嵌合される円形嵌合孔を有して前記基準レーザー光
    源の回転角度位置を決定する角度位置決定部材と、前記
    位置決めベースに設けられて設計的に予定された書き込
    みユニットから射出される光ビームの射出光線に前記円
    筒状保持部材の回転中心が位置するように前記角度位置
    決定部材を位置決めする位置決め基準ベースとを有し、
    前記円筒状保持部材を回転させて少なくとも二カ所の回
    転角度位置において前記基準レーザー光源から射出され
    た基準光ビームを前記エリア型撮像素子で受光すること
    により、該エリア撮像素子上での前記基準位置に相当す
    る基準画素を特定する光ビーム特性評価装置。
11. 【請求項１１】請求項１０に記載の光ビーム特性評価装
    置において、前記角度位置決定部材には係合ピンが設け
    られ、前記円筒状保持部材には前記係合ピンに係合する
    係合孔が設けられていることを特徴とする。
12. 【請求項１２】請求項１１に記載の光ビーム特性評価装
    置において、前記回転角度位置が１８０度対称位置であ
    ることを特徴とする。
13. 【請求項１３】請求項１０に記載の光ビーム特性評価装
    置において、前記角度位置決定部材が前記位置決め基準
    ベースに前記主走査方向に配置換え可能に設けられてい
    ることを特徴とする。
14. 【請求項１４】請求項１０に記載の光ビーム特性評価装
    置において、前記角度位置決定部材が前記各エリア型撮
    像素子に対応して前記主走査方向に間隔を開けて設けら
    れていることを特徴とする。
15. 【請求項１５】請求項１０に記載の光ビーム特性評価装
    置において、いったんあるエリア型撮像素子を基準画素
    の特定を前記円筒状保持部材を回転させて行った後は、
    残りのエリア型撮像素子の基準画素の特定は前記円筒状
    保持部材を回転させずに行うことを特徴とする。