JP2000010032A - 書き込みユニット調整方法及び調整装置 - Google Patents

書き込みユニット調整方法及び調整装置

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JP2000010032A
JP2000010032A JP10176388A JP17638898A JP2000010032A JP 2000010032 A JP2000010032 A JP 2000010032A JP 10176388 A JP10176388 A JP 10176388A JP 17638898 A JP17638898 A JP 17638898A JP 2000010032 A JP2000010032 A JP 2000010032A
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scanning direction
unit
writing
main scanning
light beam
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JP10176388A
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English (en)
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Shinichi Ozaki
紳一 尾崎
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Ricoh Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 書き込みユニットの主走査方向の調整処理が
容易な書き込みユニット調整方法及び調整装置を提供す
る。 【解決手段】本発明の書き込みユニット調整装置は、走
査光学系を内蔵してレーザー光源Souからの光ビーム
により潜像担持体25の表面に静電潜像を形成するため
の書き込みユニット1と、潜像担持体25を少なくとも
内蔵する作像ユニット53と、光ビームの主走査方向の
ズレ分を調整するために書き込みユニット1と作像ユニ
ット53とを主走査方向に沿って相対的に移動させる移
動手段58、59、とを備えている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、レーザープリン
タ、複写機等の画像形成装置の評価装置に関し、更に詳
しくは、画像形成装置の書き込みユニットから感光体ド
ラム、感光体ベルト等の潜像担持体に向けて照射される
光ビームに要求される特性の評価方法及びその特性の評
価に用いる光ビーム特性評価方法及び評価装置に関する
ものである。
【0002】
【従来の技術】従来から、レーザープリンタ、複写機、
ファクシミリ装置等の画像形成装置では、作像ユニット
に設けられている潜像担持体としての感光体ドラムの表
面を、書き込みユニットからの光ビームを用いて主走査
方向に走査すると共に副走査方向に走査して感光体ドラ
ムの表面に書き込みを行うことにより静電潜像を形成
し、この静電潜像が形成された感光体ドラムの表面にト
ナーを付着させて顕像化させることによりトナー像を形
成し、このトナー像を転写紙に転写すると共に定着し
て、その転写紙に画像を形成するようにしたものが知ら
れている。
【0003】その書き込みユニットには、光ビームを走
査するための走査光学系が設けられ、感光体ドラムの表
面に対する主走査方向への走査はこの走査光学系により
行われ、感光体ドラムの表面に対する副走査方向への走
査はその感光体ドラムの回転により行われる。
【0004】ところで、これらの画像形成装置では、書
き込み対象としての感光体ドラムの表面に書き込みを行
うに際して、その書き込みユニットの光ビームに要求さ
れる特性を評価するようにしている。
【0005】例えば、複写機を例に挙げると、原稿の画
像情報を順次読み取ると共にこの画像情報を光ビームに
変換しているが、感光体ドラムの表面での光ビームの書
き込み位置が設計的に予定された基準位置からずれるよ
うなことがあると、原稿の画像情報に対応する画像をそ
の基準位置に形成することができないという不都合が生
じる。特に、書き込みユニットに光ビームを発生するレ
ーザー光源が2個設けられ、同時に2本の光ビームによ
り感光体ドラムの表面を主走査方向に走査して、通常の
2倍の速度で感光体ドラムの表面に書き込みを行う画像
形成装置では、主走査方向の途中で、一方の光ビームの
書き込み位置と他方の光ビームの書き込み位置とがずれ
るようなことがあると、原稿画像に忠実な画像を再現で
きず、一方の光ビームの書き込み位置の評価と他方の光
ビームの書き込み位置の評価とを行うことが要求され
る。
【0006】1本の光ビームにより感光体ドラムに書き
込みを行う書き込みユニットの場合、走査光学系を構成
するポリゴンミラーの各面毎に書き込み位置を求めるこ
とにより、ポリゴンミラーの各面での主走査方向の位置
ズレ(主走査方向ピッチむら)、ポリゴンミラーの各面
での副走査方向の位置ズレ(副走査方向ピッチむら)も
評価対象となる。
【0007】複数本の多重光ビームにより感光体ドラム
に書き込みを行う書き込みユニットの場合、これらの評
価に加えてビーム間ピッチも評価対象となる。
【0008】また、主走査方向に対応する原稿上の2点
を抽出し、この2点に対応する転写紙上での複写画像の
2点を抽出して、原稿上の2点間の距離と複写画像の2
点間の距離とを比較したとき、等倍で複写を行う限り等
しくなければならないが、この原稿上の2点間の距離と
複写画像上の2点間の距離とが正確に一致していなけれ
ば倍率誤差となり、転写紙上に忠実に画像を再現できな
いことになって、倍率誤差の評価を行うことが要求され
る。また、拡大、縮小する場合には、原稿上の画像に対
して転写紙上に形成された複写画像の比率が拡大縮小し
たい倍率に等しくなければならず、この比率がずれてい
る場合にも忠実な画像を再現することができず、この場
合にも倍率誤差の評価が要求される。
【0009】加えて、左側の点と右側の点とが副走査方
向にずれている場合、走査線に傾きがあることになり、
この走査線傾きも評価対象となる。
【0010】更に、主走査方向に対応させて原稿上の左
側から右側に向かって3点を抽出し、真ん中の一点から
等距離の位置に残りの二点があるとしたとき、転写紙上
の複写画像のこれらに対応する3点の主走査方向の真ん
中の点を基準にして左右の点までの距離が等しくない
と、形成される複写画像は左右のバランスを欠くことに
なり、真ん中の一点から左側の点までの距離と真ん中の
一点から右側の点までの距離とが等しいか否かを評価す
ることも要求される。
【0011】この場合に、副走査方向に沿って、左側の
点の書き込み位置と真ん中の点の書き込み位置との差が
右側の点の書き込み位置と真ん中の点の書き込み位置と
の差に等しくないと、走査線に曲がりがあることにな
り、この場合にも画像が忠実に再現されないことにな
り、走査線に曲がりがあるか否かを評価することも要求
される。
【0012】ところで、従来、光ビームの主走査方向の
特性の評価については、例えば、図1に示す構成のもの
が知られている(特開平5−284293号公報参
照)。
【0013】その図1において、1は書き込みユニット
(光学ユニット)である。この書き込みユニット1の内
部には半導体レーザー2からなるビーム光源(レーザー
光源)、ポリゴンミラー(回転多面鏡)3、fθレンズ
4が設けられている。その半導体レーザー2は光アナロ
グ変調器5により変調駆動される。光アナログ変調器5
は原稿画像に対応して半導体レーザー2から射出される
レーザー光を強弱変調する。半導体レーザー2から射出
されたレーザー光はポリゴンミラー3の回転により走査
偏向される。
【0014】作像ユニットに設けられた感光体ドラムの
表面に相当する被走査面相当面6には、主走査方向に間
隔を開けて一対の光電変換素子7a、7bが設けられて
いる。光電変換素子7a、7bの直前には受光位置精度
(書き込み位置精度)を高めるためにピンホール(丸い
小孔)を有する遮光板8a、8bが設けられている。こ
の一対のピンホール間の距離をLとする。
【0015】半導体レーザー2を一走査期間中常時点灯
させた状態で、ポリゴンミラー3を回転させて、光ビー
ムP1を主走査方向Q1に走査すると、光電変換素子7
aが光ビームP1を受光した後、光電変換素子7bが光
ビームP1を受光し、受光時間の差と距離Lとにより、
この書き込みユニット1の光ビームP1の実際の走査速
度を算出して求めることができる。この実際に測定され
た光ビームP1の走査速度が設計により予定された設計
走査速度に対して速すぎたり遅すぎたりすると書き込み
基準位置がずれることになる。
【0016】そこで、この実際に測定された光ビームの
走査速度が設計走査速度の許容誤差内にあるかを評価
し、この許容誤差を越えている場合には、書き込みユニ
ットの走査速度が許容誤差内に入るように、ポリゴンミ
ラー3の回転速度等を調節している。
【0017】この従来の光ビーム特性評価装置では、書
き込み位置そのものを直接的に求めることができず、あ
えて求めることにすると、光電変換素子7a から出力
信号が出力されてから光電変換素子7bから出力信号が
出力されるまでの時間を求め、距離Lをこの時間で除算
して実際の走査速度を求め、この走査速度を書き込み位
置に変換するための演算が必要であり、書き込み位置を
求めるための算出手順が煩雑となる。また、評価すべき
光ビームの評価特性も限られたものとなる。
【0018】次に、感光体ドラムの表面上での光ビーム
P1のビーム径が設計で予定した設計値からずれた場合
には、転写紙上に形成される画像のエッジがぼけたり、
走査線われを生じたりして、画質が低下するという不都
合がある。従って、光ビームの被走査面でのビーム径又
はビーム形状を評価することも要求される。
【0019】従来、光ビームのビーム径の評価は、ピン
ホール又はスリットを感光体ドラムの表面に相当する位
置に設け、その直後に受光素子を設けて、静止状態での
光ビームのビーム径を計測するようにしたものが知られ
ている。しかしながら、この従来のビーム径の計測方法
では、走査状態でのビーム径を計測することができな
い。
【0020】そこで、走査状態でのビーム径を計測する
ために、図2に示すように、感光体ドラムの表面に相当
する被走査面相当面6に一次元CCD9を設け、この一
次元CCD9に向かって進行する光ビームP1の光路中
に、この光ビームP1を被走査面相当面に結像させる対
物レンズ10を設け、光ビームPのビームスポットSを
主走査方向に沿って矢印Q1方向に移動させつつ、この
一次元CCD9を矢印Q2方向にn回駆動走査して、各
画素C1〜Cnの光量信号の一走査分を積算記憶する記
憶回路と、この記憶回路からの信号を演算することによ
り光ビーム径を算出する評価方法及び光ビーム径評価装
置が提案されている(特開平4−351928号公報参
照)。
【0021】ところで、この従来の評価方法では、一次
元CCD9を矢印Q2方向に一度駆動走査して、次に再
び、一次元CCD9を矢印Q2方向に駆動走査するとき
には、一次元CCD9の一走査期間t1だけ時間が経過
するため、この一走査期間t1の間に光ビームP1は主
走査方向(矢印Q1方向)に移動している。従って、こ
の評価方法は、図3に模式的に示すようにビームスポッ
トSを静止させてn個の一次元CCD9を等間隔毎に配
設した構成と等価である。
【0022】この評価方法では、図3から明らかなよう
に、一次元CCD9の一走査期間t1の間に光ビームP
1は主走査方向に移動しており、ビームスポットSが間
引かれた状態で一次元CCD9に取り込まれることとな
る。更に、一次元CCD9のある画素Ciを駆動走査し
てその画素情報を読み取ってからこれに隣接する画素C
i+1を駆動走査してその画素情報を読み取るまでの駆
動走査時間△tの間にも、光ビームP1が主走査方向
(矢印Q1方向)に移動するので、光ビームP1に対し
て一次元CCD9を斜めに駆動走査してビームスポット
Sの画像を取り込むことと等価となり、ビーム径の量子
化時に誤差が発生しやすい。このビーム径の量子化時の
評価誤差は、光ビームP1の走査速度が大きくなればな
るほど大きくなる。
【0023】従って、この従来の光ビーム特性評価方法
(光ビームのビーム径評価方法)では、ビーム径の評価
精度を向上させ難いという問題が残存する。
【0024】以上説明したように、光ビームに要求され
る特性としては、感光体ドラム表面への書き込み位置特
性、主走査方向ピッチむら、副走査方向ピッチむら、ビ
ーム間ピッチ、倍率誤差、左右バランス(倍率誤差偏
差)、走査線曲がり、光ビームのビーム径、ビーム形状
等各種のものがあり、従来はこれらの各ビーム特性を専
用の評価装置を用いて行っていたので、光ビームの特性
評価が煩雑となり、かつ、同一条件のもとでの総合的評
価でないため、評価の信頼度も若干芳しくないという懸
念がある。
【0025】更に、ビームスポット径又はビームスポッ
ト形状の評価方法については、走査状態でのビームスポ
ット径又はビームスポット形状の評価精度をより一層向
上させたいという要望がある。
【0026】加えて、これらの評価を行うためには、基
準位置出しが要求される。
【0027】例えば、特開平8−86616号公報に
は、三次元形状の計測対象に十字スリット光を発生する
レーザーヘッドをその十字スリットの交点を中心に回転
可能でかつ上下左右方向に平行移動できるように搭載し
たレーザーヘッド架台と、その計測対象を撮像するCC
Dカメラと、このCCDカメラにより撮像された画像信
号を処理する画像処理部とレーザーヘッド作動制御部と
からなるコンピュータとを備えた三次元画像計測装置が
開示されているが、この三次元画像計測装置では、CC
Dカメラのレンズ中心とレーザーヘッドの先端中心部と
が三次元絶対座標系のX軸上に位置され、CCDカメラ
の撮像面は、X−Y平面に平行になるように配設されて
いる。
【0028】この画像計測装置では、CCDカメラのエ
リア型CCDの位置出しは、エリア型CCDの撮像位置
に合わせてエリア型CCDを特定位置に調整するのみで
あり、計測の基準位置としての基準画素を特定するもの
ではないため、基準画素とレーザー光の位置とのずれを
正確に把握できないという問題がある。
【0029】本発明の目的は、一台で光ビームに要求さ
れる各特性を評価可能な光ビーム特性評価方法及び評価
装置を用いて評価された書き込みユニットを調整するの
に好適な書き込みユニット調整方法及び調整装置を提供
することにある。
【0030】
【課題を解決するための手段】請求項1に記載の発明
は、走査光学系を内蔵してレーザー光源からの光ビーム
により潜像担持体の表面に静電潜像を形成するための書
き込みユニットを、光ビームの主走査方向のズレ分に対
応して前記潜像担持体に対して主走査方向に相対的に移
動させることにより調整することを特徴とする。
【0031】請求項2に記載の発明は、走査光学系を内
蔵してレーザー光源からの光ビームにより潜像担持体の
表面に静電潜像を形成するための書き込みユニットを、
光ビームの主走査方向のズレ分に対応して前記潜像担持
体を少なくとも内蔵する作像ユニットに対して主走査方
向に相対的に移動させることにより調整することを特徴
とする。
【0032】請求項3に記載の発明は、走査光学系を内
蔵してレーザー光源からの光ビームにより潜像担持体の
表面に静電潜像を形成するための書き込みユニットと、
前記潜像担持体を少なくとも内蔵する作像ユニットと、
光ビームの主走査方向のズレ分を調整するために前記書
き込みユニットと前記作像ユニットとを主走査方向に沿
って相対的に移動させる移動手段とを備えていることを
特徴とする。
【0033】請求項4に記載の発明は、請求項3に記載
の書き込みユニットの調整装置において、前記作像ユニ
ットに現像ユニットが設けられていることを特徴とす
る。
【0034】請求項5に記載の発明は、請求項3に記載
の書き込みユニットの調整装置において、前記移動手段
が画像形成装置の本体構成壁に形成されて主走査方向に
長く延びるガイド穴と、前記書き込みユニットと前記作
像ユニットとの一方に形成されて前記ガイド穴に嵌合す
る支持ピンとからなることを特徴とする。
【0035】請求項6に記載の発明は、請求項3に記載
の書き込みユニットの調整装置において、前記移動手段
が前記書き込みユニットと前記作像ユニットの一方を主
走査方向に移動させる調整ネジと、前記調整ネジによっ
て移動されるユニットに前記調整ネジの先端部が当接す
るように該ユニットを付勢する弾性手段とからなること
を特徴とする。
【0036】請求項7に記載の発明は、請求項3に記載
の書き込みユニットの調整装置において、前記移動手段
が前記書き込みユニットと前記作像ユニットの一方を主
走査方向に移動させる調整ネジと、前記調整ネジによっ
て移動されるユニットに設けられて前記調整ネジに螺合
されるボス部とからなることを特徴とする。
【0037】
【発明の実施の形態】図4は本発明の光ビーム特性評価
方法の評価対象としての光ビーム光源(レーザー光源)
を搭載する書き込みユニットと、この書き込みユニット
から射出された光ビームが書き込まれる潜像担持体とし
ての感光体ドラムとの位置関係の一例を示す斜視図であ
る。
【0038】この図4において、11、12はレーザー
ダイオード(半導体レーザー)、13、14はコリメー
トレンズ、15は光路合成用光学部材、16は1/4波
長板、17、18はビーム整形光学系である。これらの
各光学要素11ないし18はレーザー光源部(ビーム光
源)Souを構成している。そのレーザー光源部Sou
から射出された2本の光ビームP1は、コリメータレン
ズP1、P2により平行光束とされて、走査光学系の一
部を構成するポリゴンミラー19に導かれ、このポリゴ
ンミラー19の各面20a〜20fにより主走査方向Q
1に反射偏向される。
【0039】その反射偏向された光ビームはfθ光学系
の一部を構成する反射ミラー21、22に導かれ、反射
ミラー22により反射偏向された光ビームは、fθ光学
系23を通過して斜設反射ミラー24に導かれ、この斜
設反射ミラー24により潜像担持体としての感光体ドラ
ム25の表面26に導かれる。感光体ドラム25の表面
26はその光ビームP1により主走査方向Q1にリニア
ーに走査される。この表面26が光ビームP1による被
走査面であり、この被走査面に書き込みが行われる。
【0040】そのレーザー光源部Sou、ポリゴンミラ
ー19、反射ミラー21、22、fθレンズ23、反射
ミラー24は書き込みユニット1に搭載され、感光体ド
ラム25は作像ユニット(後述する)に搭載されてい
る。
【0041】書き込みユニット1には、反射ミラー24
の長手方向両側(光ビームの主走査方向Q1)に同期セ
ンサ27、28が設けられている。同期センサ27は書
き込み開始タイミングの決定に用いられ、同期センサ2
8は書き込み終了タイミングの決定に用いられる。
【0042】この書き込みユニット1から射出される光
ビームP1の特性が評価対象となる。この図4では、感
光体ドラム25の表面26への書き込みは、2本の走査
線を用いて行っているが、光ビームの特性の評価の原理
については、レーザーダイオードが1個の場合と2個の
場合とで本質的に差異はないので、以下、レーザーダイ
オードが1個の場合について表1を参照しつつ、本発明
に係わる光ビームの特性評価項目を表1を参照しつつ説
明する。
【0043】
【表1】 表1に示すように光ビーム特性評価項目には、a:主走
査方向の書き込み位置、b:副走査方向の書き込み位
置、c:主走査ピッチむら、d:副走査面倒れ、e:主
走査ビーム径、f:副走査ビーム径、g:倍率誤差、
h:走査線傾き、i:倍率誤差偏差、j:走査線曲が
り、k:走査時間、l:深度:m:ビーム間ピッチがあ
る(複数の光ビームを同時に照射することのできる書き
込みユニットの場合(USAP96−675722号参
照):この特許出願の発明の実施の形態では、レーザー
ダイオード11、12(LDともいう)の配列方向が副
走査方向に沿って2個であるので、ビーム間ピッチは副
走査方向である。)。
【0044】以下、各評価項目の詳細について説明す
る。
【0045】a:主走査方向の書き込み位置の評価 LDより発射された光ビームは、ポリゴンミラー19に
よって反射されて、fθレンズ光学系を通って感光体へ
と照射されるが、この感光体へ書き込みを開始する主走
査方向の位置、又はタイミングを評価する。
【0046】例えば、図19(a)に示すように、所定
の書き込み位置中心(書き込みタイミング)を「0」と
して、後述するエリア型撮像素子に書き込まれた位置を
zzとすると、書き込み位置中心0と書き込み位置zz
とが、主走査方向に△xずれていることになる。このず
れ量△xを評価する。
【0047】b:副走査方向の書き込み位置の評価 LDより発射された光ビームは、ポリゴンミラー19に
よって反射されて、fθレンズ光学系を通って感光体へ
と照射されるが、この感光体へ書き込みを開始する副走
査方向の位置、又はタイミングを評価する。
【0048】例えば、図19(b)に示すように、所定
の書き込み位置中心(書き込みタイミング)を「0」と
して、後述するエリア型撮像素子に書き込まれた位置を
zzとすると、書き込み位置中心0と書き込み位置zz
とが、副走査方向に△yずれていることになる。このず
れ量△yを評価する。
【0049】c:主走査ピッチむらの評価 光ビームの書き込みを主走査方向に沿って何回も行うこ
とにより、所望の画像が形成されるが、ポリゴンミラー
19の側面には複数のミラー面は、6個のミラー面)が
形成され、この各ミラー面によって光ビームを反射させ
て書き込みを行うために、各ミラー面の精度によって光
ビームによる書き込み位置(書き出し位置)が変化する
場合がある。
【0050】従って、ポリゴンミラー19の各面で光ビ
ームを反射させて、各面に対応したビームスポットSの
主走査方向の中心位置のバラツキを評価する。
【0051】例えば、ミラー面が6個の場合、各面20
a〜20fにより光ビームを反射させて後述するCCD
カメラに取り込む。そのCCDカメラのエリア型撮像素
子に書き込まれた位置が図19(c)に示すものであっ
たとする。
【0052】また、基準中心位置「0」に対して、各面
による書き込みの中心位置がkz1、kz2、kz3、
kz4、kz5、kz6とし、主走査方向のずれ量が△
x1、△x2、△x3であったとする。
【0053】この場合、各面の主走査方向のばらつきの
平均値△xを求めると、 △x=(2△x1+2△x2+2△x3)/6 これによって、ポリゴンミラー19の各面の精度によっ
てどの程度のピッチむらがあるかを評価できる。
【0054】ここでは、このばらつきを評価するため
に、基準中心位置「0」を用いたが、各面により反射さ
れた各ビームスポットSの中心位置のいずれかを基準位
置に用いて、主走査ピッチむらを評価しても良い。
【0055】例えば、最初に取り込んだビームスポット
Sの中心位置を基準にしても良いし、互いのビームスポ
ットSの中心位置の差を求め、最も誤差が少ないビーム
スポットSの中心位置を基準位置にしても良いし、ビー
ムスポットSの一致率の最も高いものを基準にしても良
い。
【0056】d:副走査面倒れの評価 光ビームの書き込みを主走査方向に沿って何回も行うこ
とにより、所望の画像が形成されるが、ポリゴンミラー
19の側面には複数のミラー面は、6個のミラー面)が
形成され、この各ミラー面によって光ビームを反射させ
て書き込みを行うために、各ミラー面の精度によって光
ビームによる書き込み位置(書き出し位置)が変化する
場合がある。
【0057】従って、ポリゴンミラー19の各面で光ビ
ームを反射させて、各面に対応したビームスポットSの
主走査方向の中心位置のバラツキを評価する。
【0058】例えば、ミラー面が6個の場合、各面20
a〜20fにより光ビームを反射させて後述するCCD
カメラに取り込む。そのCCDカメラのエリア型撮像素
子に書き込まれた位置が図19(d)に示すものであっ
たとする。
【0059】また、基準中心位置「0」に対して、各面
による書き込みの中心位置がkz1、kz2、kz3、
kz4、kz5、kz6とし、副走査方向のずれ量が△
y1、△y2、△y3であったとする。
【0060】この場合、各面の副走査方向のばらつきの
平均値△yを求めると、 △y=(2△y1+2△y2+2△y3)/6 これによって、ポリゴンミラー19の各面の精度によっ
てどの程度のピッチむらがあるかを評価できる。
【0061】ここでは、このばらつきを評価するため
に、基準中心位置「0」を用いたが、各面により反射さ
れた各ビームスポットSの中心位置のいずれかを基準位
置に用いて、副走査面倒れを評価しても良い。
【0062】例えば、最初に取り込んだビームスポット
Sの中心位置を基準にしても良いし、互いのビームスポ
ットSの中心位置の差を求め、最も誤差が少ないビーム
スポットSの中心位置を基準位置にしても良いし、ビー
ムスポットSの一致率の最も高いものを基準にしても良
い。
【0063】e:主走査ビーム径の評価 光ビームスポットSの主走査方向のビーム径を評価す
る。
【0064】f:副走査ビーム径の評価 光ビームスポットSの副走査方向のビーム径を評価す
る。
【0065】g:倍率誤差の評価 2点のビームスポットSの間隔が所定間隔であるか否か
を評価する。すなわち、その間隔が所定間隔よりも短い
か、長いかによって倍率を評価する。
【0066】例えば、図19(e)に示すように、主走
査方向Q1の原稿上の2点に対応する転写紙上の設計的
に予定された書き込み基準位置Z1、Z2の距離L4と
実際に測定により得られた被走査面上での書き込み位置
Z1、Z1’の距離L5との比を求めれば、倍率誤差を
評価できる。
【0067】h:走査線傾きの評価 光ビームを主走査方向に走査すると1本の走査線が得ら
れる。この走査線が主走査方向に平行であるか否かを評
価する。
【0068】例えば、図19(f)に示すように、主走
査開始側の測定により得られた書き込み位置Z1’の副
走査方向Q3についてのずれ量d0と主走査方向終了側
の測定により得られた書き込み位置Z2’の副走査方向
Q3についてのずれ量d1との差と距離L6とにより走
査線の傾き角θ、全ずれ量△dを評価する。
【0069】i:倍率誤差偏差の評価 項目gでは、2つのビームスポットSの書き込み位置を
評価することにより倍率誤差を評価したが、3つ以上の
ビームスポットSをエリア型撮像素子に取り込むことに
より、各スポット間の倍率を比較して、各間隔の偏差を
評価する。
【0070】例えば、図19(g)に示すように、測定
により得られた真ん中の書き込み位置Zm’から主走査
方向書き込み開始側の書き込み位置Z1’までの距離L
7と、真ん中の書き込み位置Zm’から主走査方向書き
込み終了側の書き込み位置Z2’までの距離L8とを求
めれば、倍率誤差偏差(左右バランス)を評価できる。
【0071】j:走査線曲がりの評価 項目hでは、2つのビームスポットSの書き込み位置に
より主走査方向に光ビームが平行に走査されているか否
かを評価したが、3つ以上のビームスポットSをエリア
型撮像素子に取り込み、各ビームスポット間同士の主走
査方向に対する傾きを評価することにより走査線曲がり
を評価する。
【0072】例えば、図19(h)に示すように、測定
により得られた書き込み開始側の書き込み位置Z1’の
副走査方向Q3のずれ量d2と、測定により得られた真
ん中の書き込み位置Zm’の副走査方向Q3のずれ量d
4と、測定により得られた書き込み終了側の書き込み位
置Z2’の副走査方向Q3のずれ量d3とを求めれば、
走査線曲がりを評価できる。
【0073】k:走査時間の評価 光ビームの走査時間を、2個のCCDカメラを用いて、
一方のCCDカメラにビームスポットが取り込まれてか
ら他方のCCDカメラにビームスポットが取り込まれる
までの時間をカウントすることにより走査時間を算出す
ることができ、また、2個のCCDカメラの間の距離を
走査時間で除算することにより走査速度を求めることが
できる。
【0074】なお、この場合、一方のCCDカメラを同
期検出のために書き込みユニット1に設けた同期センサ
(走査開始検知センサ、走査終了検知センサ)により代
用しても良い。詳細は後述する。
【0075】l:深度の評価 主走査方向に直交する方向(CCDカメラに照射する光
ビームの光軸と同方向)にCCDカメラを移動させるこ
とにより、主走査方向については光ビームを固定した状
態で、光ビームの移動方向のビーム径を測定して、設計
位置での深度を評価する。
【0076】例えば、CCDカメラを光ビームの進行方
向に逐次等間隔に可動させて停止させ、各停止位置での
ビームスポットSのビーム径Dを逐次求めると、図19
(i)に示すビーム径曲線(深度カーブ)Qmを得るこ
とができる。なお、Bwはビームウエストである。
【0077】これにより光ビームの深度の評価を行うこ
とができる。
【0078】m:ビーム間ピッチの評価 同時に照射される複数のビーム間のピッチを評価する。
【0079】例えば、図19(j)に示すように、1個
のエリア型撮像素子に受像された2つのビームスポット
Sの中心位置KK、KK’を求め、その副走査方向の間
隔△KKを算出することにより、2つのビームのピッチ
間隔△KKを評価できる。
【0080】図5に示す光ビーム特性評価装置は、評価
項目l:深度の評価以外の全ての評価項目a〜k、mを
評価可能である。
【0081】
【評価装置の実施例1】次に、評価装置の実施例を図5
を参照しつつ説明する。
【0082】その図5において、29はポリゴンミラー
駆動用のパルスモータ、30はそのパルスモータ駆動制
御用の駆動制御回路である。感光体ドラム25の表面2
6に相当する被走査面相当面31には、光ビーム検出手
段としてのCCDカメラ32〜34のエリア型撮像素子
(撮像面)32a〜34aがその光ビームP1の走査開
始側から走査終了側に向かって等間隔に設けられてい
る。
【0083】すなわち、CCDカメラ32〜34は、書
き込みユニットが搭載される画像形成装置(複写機等)
の書き込みユニットから出射された光ビームが照射され
る光ビーム照射部材(潜像担持体)の光照射開始位置
(シート最大サイズの光照射開始位置)、光照射終了位
置、中間位置に配置され、実際に使用すべき位置を評価
することができる。
【0084】レーザーダイオード11又は12は1ドッ
ト点灯制御回路35により点灯制御される。その1ドッ
ト点灯制御回路35は時刻計時用のクロックパルスを発
振するクロックパルス発振器36とクロックパルスをカ
ウントするカウント回路37とを備えている。1ドット
点灯制御回路37には同期センサ27の同期パルスが入
力される。
【0085】その1ドット点灯制御回路35と駆動制御
回路30とはパーソナルコンピュータからなる制御回路
38により制御される。その制御回路38には画像処理
用の入力ボード39が設けられている。ここでは、この
入力ボード39には入力系統が3個のもの、例えば、
R、G、Bの入力系統を有する画像処理ボードが用いら
れている。
【0086】エリア型撮像素子32aは主走査方向開始
側に設けられ、エリア型撮像素子34aは主走査方向終
了側に設けられ、エリア型撮像素子33aは主走査方向
中央位置に設けられ、各エリア型撮像素子32a〜34
aの画像出力は入力ボード39を通じて制御回路38に
取り込まれる。その制御回路38は算出手段としての算
出回路40と評価処理回路41とを有する。
【0087】各エリア型撮像素子32a〜34aの各画
素のうちから演算処理の座標原点としての基準画素Kを
図6に示すように設定する。この基準画素Kは、設計的
に予定された基準書き込み位置に相当する。この基準画
素Kの設定については後述することにし、ここでは、基
準画素Kから基準画素Kまでの距離L1が設定されてい
るものとする。また、被走査面上で描かれるべき設計的
に予定された理想的画像(ビームスポットS)が図7に
示すものであるとする。符号R1は理想的なビームスポ
ットSのビーム径である。
【0088】制御回路38はこの基準画素Kが原点位置
となるように「0」較正されている。算出回路40は、
距離L1と設計的に予定された走査速度とにより、図8
に示すように、エリア型撮像素子間の走査時間Tを算出
し、この走査時間Tと設計的に予定されたビームスポッ
トSの走査方向の径R1とから、1ドットに相当する走
査時間tを計算する。走査時間T、tを意味する信号は
1ドット点灯制御回路35のカウント回路37に入力さ
れる。
【0089】この走査時間T、1ドット走査時間tはク
ロック発振器36から出力されるクロックパルスの個数
によって定義され、1ドット点灯制御回路35は、レー
ザーダイオード11又は12の消灯時点からカウント回
路37が走査時間Tに相当するクロック数をカウントす
ると消灯状態にあるレーザーダイオード11又は12を
点灯するように制御し、カウント回路37がレーザーダ
イオード11又は12の点灯時点から走査時間tに相当
するクロック数をカウントすると、レーザーダイオード
11又は12を消灯するように制御する。 この意味
で、走査時間Tは、レーザーダイオード11又は12の
消灯時間(書き込みタイミング時間)を規定している。
【0090】レーザーダイオード11又は12は1ドッ
ト点灯制御回路35により同期センサ27からの同期パ
ルスが入力されるまでの間、連続的に点灯するように制
御され、同期センサ27からの同期パルスが入力される
と、1ドット点灯制御回路35によりいったん消灯さ
れ、走査時間Tが経過すると1ドット制御回路35によ
り1ドットに相当する走査時間tだけ点灯された後、再
び走査時間Tが経過するまで消灯され、走査時間Tが経
過すると再度1ドットに相当する走査時間tだけ点灯さ
れた後消灯される。そして、1ドット点灯制御回路35
は、同期センサ28の同期パルスが入力されると、走査
開始側への戻り時間(約2T)が経過した後、再度点灯
される。
【0091】その図8において、黒丸印は1ドットに相
当するビームスポットSの形成状態(レーザーダイオー
ド11又は12の点灯状態)を示し、白丸印は1ドット
に相当するビームスポットSの非形成状態(レーザーダ
イオード11又は12の消灯状態)を示している。
【0092】このように、1ドット点灯制御回路35に
より走査中に1ドットに相当する走査時間中レーザーダ
イオード11又は12を点灯させると、図9に示すよう
に、各エリア型撮像素子32a〜34aにビームスポッ
トSが形成される。
【0093】評価処理回路41を用いて主走査方向Q1
のビームスポットSの中心位置O1、O2、O3を求め
れば、基準画素Kに対する主走査方向のずれ量dを求め
ることができる。その図9には、一例として、書き込み
開始側の基準位置では右側にd=X1だけずれ、書き込
み終了側の基準位置では左側にd=X3だけずれ、中央
位置ではそのずれ量d=X2=0であることが示されて
いる。
【0094】また、評価処理回路41を用いて副走査方
向Q3のビームスポットSの中心位置O1’、O2’、
O3’を求めれば、基準画素Kに対する副走査方向Q3
のずれ量dを求めることができる。その図9では、副走
査方向のずれ量d’はd’=0である。
【0095】この図8では、主走査開始側のエリア型撮
像素子32aから中央位置のエリア型撮像素子33aま
での距離L1と走査終了側のエリア型撮像素子34aか
ら中央位置のエリア型撮像素子33aまでの距離L1と
が等しいものとして説明したがこれに限られるものでは
ない。
【0096】
【評価装置の実施例2】図10はこの評価装置の実施例
2を示すもので、ここでは、入力ボード39として単一
画像処理ボードを用い、かつ、設計的に予定された二個
の書き込み基準書位置に対するずれを評価することにし
たものである。この評価装置では、入力ボード切り替え
スイッチ43が設けられ、1ドット点灯制御回路35は
エリア型撮像素子32aからの画像の取り込みと同時に
エリア型撮像素子34aから画像が取り込まれるように
入力ボード切り替えスイッチ43を切り替える。その他
の構成は図8に示す評価装置と同じであるので、同一符
号を付してその詳細な説明は省略することにする。図1
1はその1ドット点灯制御回路35による制御タイミン
グを示し、走査時間(消灯時間)Tは距離L2を設計的
に予定された走査速度で除算することにより求められ
る。
【0097】この光ビーム特性評価装置では、CCDカ
メラが主走査方向に2個間隔を開けて設けられているの
で、評価項目aないしh、評価項目k、mの評価が可能
である。もちろん、図5に示す発明の実施の形態と同様
にCCDカメラの個数を3個とすれば、評価項目a〜
k、mの評価が可能である。
【0098】
【評価装置の実施例3】図12はこの評価装置の実施例
3を示すもので、ここでは、入力ボード39として単一
画像処理ボードを用い、かつ、設計的に予定された一個
の書き込み基準書位置に対するずれを評価することにし
たものである。
【0099】ここでは、CCDカメラ43は1個とさ
れ、このCCDカメラ43は主走査方向に長く延びるガ
イド軸44に設置の可動体45に搭載されている。可動
体45は制御回路38によりガイド軸44に沿って往復
動するように制御され、CCDカメラ43は所望の書き
込み基準位置にセットされる。
【0100】すなわち、CCDカメラ43を主走査方向
に移動させることによって、所望の位置で、評価項目a
〜f、k、mの評価が可能である。また、そのCCDカ
メラ43の移動位置を図5、図10に示す評価装置と同
じ位置に設定することにより、項目a〜k、mの評価を
同様に行うことができる。
【0101】同期センサ27からCCDカメラ43のセ
ット位置までの距離をL3とし、設計的に予定された書
き込み速度で距離L3を除算すれば同期センサ27から
CCDカメラ43のエリア撮像素子43aの基準画素K
までに要する走査時間T(図13参照)を求めることが
できる。
【0102】従って、同期センサ27により同期パルス
が検出されてから走査時間Tまでの間、レーザー光源部
Souを消灯し、走査時間Tの経過と同時に1ドット点
灯制御回路35によりレーザー光源部Souを走査時間
tの間点灯させることにすれば、走査中に1ドットに相
当するレーザースポットSをCCDカメラ43のエリア
型撮像素子43aに図14に示すように結像させること
ができる。
【0103】上記の各評価装置のビームスポットSの中
心位置は以下のようにして求めている。
【0104】エリア型撮像素子43aの各画素はZij
によって定義される。Z1j、Z2j、…、Zij、
…、Znjは主走査方向Q1に配列された画素を意味
し、Zi1、Zi2、…、Zij、…、Zimは副走査
方向Q3に配列された画素を意味し、符号i(1からn
までの整数)は左側から数えてi番目を意味し、符号j
(1からmまでの整数)は下から数えてj番目であるこ
とを意味している。
【0105】そこで、主走査方向Q1に配列されている
各画素Z1j、Z2j、…、Zij、…、Znjから出
力された出力信号の総和Wj(Wj=Z1j+Z2j+
…+Zij+…+Znj)を副走査方向Q3についてj
=1からj=mまで順次求めると、図15に示すように
副走査方向Q3の光ビーム強度分布曲線B1を求めるこ
とができる。また、副走査方向Q3に配列されている各
画素Zi1、Zi2、…、Zij、…、Zimから出力
された出力信号の総和Wi(Wi=Zi1+Zi2+…
+Zij+…+Zim)を主走査方向Q1についてi=
1からi=nまで順次求めると、図15に示すように主
走査方向Q1の光ビーム強度分布曲線B2を求めること
ができる。
【0106】図16はこのようにして求められた光ビー
ム強度分布曲線の一例であり、主走査方向Q1のビーム
強度分布曲線B2を示している。
【0107】評価処理回路41はこのビーム強度分布曲
線B2に対して閾値P1hを設定し、この閾値P1hを
横切る強度に対応する主走査方向Q1の画素の番地X
1、X2を特定し、この番地X1とX2との和の平均値
に相当する画素の番地Ximを求める。これにより、光
ビームP1の主走査方向Q1の中心位置O1が求められ
る。この中心位置O1と基準画素Kとの差により主走査
方向Q1のずれ量dが求まる。同様の処理をビーム強度
分布曲線B1について行うことにより副走査方向Q3の
中心位置O1’が求められ、この中心位置O1’と基準
画素Kとの差によりずれ量d’も求められる。
【0108】また、番地X1とX2との差Dを求めるこ
とにより、主走査方向Q1のビーム径Dが求められ、同
様の処理をビーム強度分布曲線B1について行うことに
より、副走査方向Q3のビーム径D’も求められる。
【0109】なお、閾値P1hは、ここでは、ピークP
maxからe(自然対数)の自乗分の1のところに設定
する。
【0110】ここでは、主走査方向Q1に配列された画
素Z1j、Z2j、…、Zij、…、Znjから出力さ
れた出力信号の総和Wj、副走査方向Q3に配列された
画素Zi1、Zi2、…、Zij、…、Zimから出力
された出力信号の総和Wiに基づいて、光ビームP1の
中心位置O1、O1’を求めることにしたが、ピークP
max近傍の数画素からビーム強度分布曲線B1、B2
を描き、このビーム強度分布曲線B1、B2のピークを
光ビームP1の中心として求め、このピークに対応する
画素を光ビームP1の中心画素としても良い。
【0111】また、各画素毎の出力は量子化されている
ので、この各画素毎の量子化された出力分布を三次元的
に表現し、その重心位置に相当する画素を主走査方向Q
1、副走査方向Q3の光ビームP1の中心位置O1、O
1’としても良い。
【0112】なお、CCDカメラ43を設計的に予定さ
れた基準書き込み位置(fθ光学系23の光軸を意味す
る像高0の位置)に配置したとしても、ビーム径がその
基準書き込み位置から微妙にずれた位置で測定される
と、正確なビーム形状を得ることができないので、ずれ
量dに基づいて、図13に示す走査時間Tを補正し、像
高0の位置でレーザー光源部Souを点灯させるように
することもできる。
【0113】
【評価装置の実施例4】図17はこの評価装置の実施例
4を示し、主走査方向Q1と直交する深度方向(光軸方
向)Q4にガイド軸46を設け、可動体45をガイド軸
44に沿って主走査方向Q1に往復動可能とすると共
に、ガイド軸46に沿って深度方向Q4に往復動可能と
したものであり、この構成によれば1個のCCDカメラ
43を用いて設計的に予定された所望の書き込み基準位
置における光ビーム特性を評価できる。
【0114】この実施例4では、評価項目a〜k、mの
評価を行うことができる他、CCDカメラ43を深度方
向に可動させているので、評価項目lの評価も可能であ
る。
【0115】なお、CCDカメラ43の深度方向への移
動手段を図5、図10、図12に示す評価装置にも搭載
可能であり、この移動手段を図5、図10、図12に示
す評価装置に搭載すれば、図5、図10、図12に示す
評価装置を用いても評価項目lの深度を評価することが
できる。
【0116】光ビームの進行方向(深度方向)Q4につ
いて評価は以下のようにして行う。
【0117】すなわち、図31(a)に示すようにCC
Dカメラ43が可動体45に取り付けられ、可動体45
は深度方向Q4に延びるガイド軸44に搭載されてい
る。可動体45を光ビームP1の深度方向Q4に逐次等
間隔毎に移動させて、その移動停止位置での光ビームP
1のビームスポットSのビーム径D(図14、図16を
参照)を逐次求めると、深度方向Q4に対するビーム径
曲線(深度カーブ)Qmを図31(b)に示すように求
めることができる。
【0118】なお、ここでは、主走査方向Q1について
ビーム径曲線Qmを求めることとしたが、副走査方向Q
3についてビーム径曲線を求めても良い。
【0119】このビーム径曲線Qmからビームウエスト
Bwの位置を評価し、設計的に予定された深度方向Q4
の基準書き込み位置とビームウエストBwの位置とから
ビームウエスト補正適正量△Wを決定する。
【0120】図18は図17に示す評価装置の制御の一
例を示すフローチャートを示し、制御回路38はまず初
期状態にセットされ(S.1)、次に、パルスモータ2
9の回転を開始させる(S.2)。次に、制御回路38
はパルスモータ29が定常回転数に達したとみなされる
時間が経過した時点で、1ドット点灯制御回路35に向
けて、レーザーダイオード11又は12(レーザー光源
部Sou)を点灯させるように信号を出力する(S.
3)。一方、1ドット点灯制御回路35は同期センサ2
7から同期パルスが入力されたか否かを検出し、所定時
間が経過しても同期パルスが検出されないときはエラー
発生信号を制御回路38に向けて出力する(S.4、
S.5)。制御回路38は、エラー発生信号が入力され
ると、レーザーダイオード11又は12(レーザー光源
部Sou)を消灯させる信号を1ドット点灯制御回路3
5に向けて出力すると共に(S.6)、そのエラー発生
信号に基づいてパルスモータ29の回転を停止させ
(S.7)、測定終了か否かを判断する(S.8)。
【0121】1ドット点灯制御回路35は同期パルスが
所定時間内に検出されたときには、同期パルス検出と同
時にレーザーダイオード11又は12(レーザー光源部
Sou)を消灯し、カウント回路37が走査時間Tに基
づくクロック数をカウントした時点でレーザーダイオー
ド11又は12(レーザー光源部Sou)を1ドット点
灯させる点灯信号を出力する(S.9)。制御回路38
はこの1ドット点灯によりビームスポットSの画像を取
得する(S.10)。評価処理回路41はその実際に得
られたビームスポットSの画像に基づき演算を行って、
光ビームP1に要求される各特性を評価する(S.1
1)。そして、その評価結果をモニター(図示を略す)
又は記録手段(図示を略す)に出力する(S.12)。
その後、制御回路38はレーザーダイオード11又は1
2(レーザー光源部Sou)を消灯させるための信号を
1ドット制御回路35に向けて出力すると共に(S.
6)、パルスモータ29の駆動を停止させる。測定を繰
り返すときには、S.1からS.12までの処理が再実
行される。
【0122】その光ビームの特性評価は、光ビームP1
の中心位置O1、O1’、ビーム径D1、D1’、ずれ
量d、d’を処理することにより行われる。
【0123】ビーム径D1、D1’の比を求めることに
より、光ビームP1の形状が主走査方向Q1に長い楕円
であるのか、円に近い楕円であるのか、副走査方向Q3
に長い楕円であるのかを評価できる。
【0124】
【評価装置1〜4の具体的構造】以下に示す評価装置は
現在実施している。
【0125】特許請求の範囲は、この評価装置を保護範
囲として請求したものである。
【0126】図35、図36は画像形成装置への書き込
みユニット1の取り付け状態を示し、100は画像形成
装置の基台である。この基台100には図35、図36
に示すように書き込みユニット位置決め部材101が固
定されている。
【0127】書き込みユニット1は図37に示す外観形
状を有し、この書き込みユニット1の一方の側壁には、
位置決め用突起102、102が設けられ、書き込みユ
ニット1の他側壁には位置決め用穴103、103が設
けられている。この書き込みユニット1には主走査方向
に延びる細長いスリット穴104が形成され、この細長
いスリット穴104’からレーザービームP1が図示を
略す感光体ドラムに向けて照射される。
【0128】書き込みユニット位置決め部材101は、
図36、図38、図39に示すように起立壁部104、
105を有する。起立壁部104には挿通穴106が形
成され、起立壁部105には位置決めピン107が固着
されている。その起立壁部105の外壁108は書き込
みユニット1を主走査方向に位置決めするための位置決
め面となっている。書き込みユニット位置決め部材10
1の先端部は図39に示すように基準ベース取り付け部
109となっている。この基準ベース取り付け部109
には基準ベース取り付けピン110が突設されている。
【0129】この基準ベース取り付け部110には図4
0(a)ないし図40(d)に示す位置決め基準ベース
111が取り付けられる。この位置決め基準ベース11
1は主走査方向に長く延びている。位置決め基準ベース
111の上面には位置決めピン112、位置決めブロッ
ク取り付け穴113が形成されている。位置決め基準ベ
ース111の下部には基準ベース取り付けピン110に
嵌合される嵌合穴114が形成されている。
【0130】その位置決め基準ベース111の上面は傾
斜しており、この上面には基準位置決定用起立板部11
3aがその長手方向に間隔を開けて形成されている。こ
の上面に図41に示す角度位置決め決定部材としての位
置決めブロック部材115が取り付けられる。ここで
は、この位置決めブロック部材115は図42(a)な
いし図42(d)に示すように起立板部116、11
7、平板部118を有する。起立板部116には円筒状
保持部材としてのLDホルダー板119が取り付けられ
る。その起立板部116には円形嵌合穴120が形成さ
れると共に係合ピン121が固着されている。起立板部
117にはCCDカメラの当てつけ部121が形成され
ている。当てつけ部121には貫通穴122が形成され
ている。円形嵌合穴120は精密に真円形状に仕上げら
れている。
【0131】LDホルダー板119には図43(a)に
示すように円筒状ボス部123が形成されている。この
円筒状ボス部123の外形も精密に仕上げられる。その
円筒状ボス部123は円形嵌合穴120に嵌合される。
LDホルダー板119の円盤部119aには図43
(b)に示すようにレーザーダイオード位置決め用穴1
24とレーザーダイオード取り付け用ネジ穴125と角
度位置決定用係合穴126とが形成されている。ここで
は、角度位置決定用係合穴126は円筒状ボス部123
の周囲に90度毎に設けられている。
【0132】そのLDホルダー板119には、図41に
示すように設計的に予定された基準位置決定用基準レー
ザー光源としての基準レーザーダイオード(半導体レー
ザー)127が取り付けられる。基台100には取り付
けベース128が固定され、取り付けベース128には
支持ベース129が固定され、支持ベース129にはス
ライドベース131がスライド可能に設けられている。
このスライドベース131にはCCDカメラユニット1
30が設けられている。CCDカメラユニット130は
取り付けベース131’とCCDカメラ132とから構
成されている。取り付けベース131’には当て付け板
131’aが起立形成されている。スライドベース13
1にはマイクロメータ133が取り付けられている。マ
イクロメータ133はエリア型撮像素子の撮像面130
aが被走査面に相当する被走査相当面に位置するように
調節する調節手段として機能する。CCDカメラユニッ
ト130の先端部は当て付け部121に当て付けられ
る。
【0133】スライドベース131には図35に示すよ
うに屈曲板部134が形成され、屈曲板部134にはス
ライド方向に延びる長穴135が形成され、CCDカメ
ラユニット130はそのエリア型撮像素子130aの撮
像面が感光体ドラムの表面(被走査面)に相当する被走
査相当面31に位置するようにマイクロメータ133に
よりスライド方向に調整され、屈曲板部134を固定ネ
ジ136で締め付けることにより、支持ベース129に
固定される。
【0134】ここでは、CCDカメラユニット130は
位置決め基準ベース111の長手方向に等間隔に3個設
けられ、図44に示すようにその間隔はL10である。
その図44において、左側のCCDカメラユニット13
0は書き込み開始側位置に設けられ、真ん中のCCDカ
メラユニット130は書き込み中央位置に設けられ、右
側のCCDカメラユニット130は書き込み終了側位置
に設けられている。
【0135】書き込みユニット1の内部には発明の実施
の形態1で述べたようにレーザー光源部Souが設けら
れると共に走査光学系が設けられ、感光体ドラムの被走
査面はこのレーザー光源によってリニアに走査され、書
き込みが行われる。
【0136】円形嵌合穴120の中心は、図41に示す
ように設計的に予定されたレーザービームP1の主走査
方向及び副走査方向の射出軌跡(射出光線)Qnに一致
されているが、基準レーザーダイオード127から射出
された基準レーザー光が必ずしもこの射出軌跡Qnに沿
って射出されるとは限らず、単に基準レーザー光を射出
させるのみでは、射出軌跡Qnの延長線上に存在するエ
リア型撮像素子130aの基準位置としての基準画素K
を基準レーザー光を用いて特定することはできない。
【0137】そこで、まず書き込み開始側のCCDカメ
ラユニット130に基準レーザーダイオード127を対
向させる。図45(a)に示すように、LDホルダー板
119を円形嵌合穴120に嵌合させ、LDホルダー板
119の角度位置決定用係合穴126の一つに係合ピン
121を嵌合させ、LDホルダー板119を円形嵌合穴
120の中心を回転中心として回転させて、係合ピン1
21にLDホルダー板119の角度位置決定用係合穴1
26の周壁126aを回転方向から当接させて、基準レ
ーザーダイオード127の角度位置決めを行う。
【0138】そして、基準レーザーダイオード127を
図示を略す点灯制御回路(書き込みユニット1の点灯制
御回路を用いても良い)を用いて点灯させる。このとき
のレーザービームの射出方向が図44に示すようにQm
方向であったと仮定する。また、その射出方向Qmのレ
ーザービームを受光したエリア型撮像素子130aの受
光画素Gの座標がG(x1、y1)であったとする。次
に、図45(b)に示すように係合ピン121と角度位
置決定用係合穴126との嵌合を解除し、LDホルダー
板119を180度回転させて係合ピン121と角度位
置決定用係合穴126’とを嵌合させ、係合ピン121
にLDホルダー板119の角度位置決定用係合穴12
6’の周壁126’aを回転方向から当接させて、基準
レーザーダイオード127の角度位置決めを行う。
【0139】そして、基準レーザーダイオード127を
図示を略す点灯制御回路(書き込みユニット1の点灯制
御回路を用いても良い)を用いて点灯させる。このとき
のレーザービームの射出方向が図43に示すようにQ
m’方向であったと仮定する。また、その射出方向Q
m’の光ビームを受光したエリア型撮像素子130aの
受光画素Gの座標がG(x2、y2)であったとする。
【0140】すると、書き込み開始側の射出軌跡Qnの
延長線上に存在する基準画素Kの座標K(X10、Y1
0)は、 X10={(x1−x2)/2}+x2 Y10={(y1−y2)/2}+y2 によって求められる。
【0141】従って、基準レーザーダイオード127と
して、その射出光軸が厳密に調整されたレーザーを用い
なくとも、基準画素Kの位置を高精度に求めることがで
きる。
【0142】次に、位置決めブロック部材115を書き
込み中央位置のCCDカメラユニット130に対向させ
て位置させ、設計的に予定された書き込み中央位置の射
出軌跡Qn’の延長上に存在する基準画素Kの座標K
(X12、Y12)を求める場合について説明する。
【0143】まず、中央位置のCCDカメラユニット1
30に基準レーザーダイオード127を対向させて、基
準レーザーダイオード127を点灯させる。
【0144】このときのレーザービームの射出方向がQ
m’’であったと仮定する。また、その射出方向Qm’
の光ビームを受光した撮像素子130aの受光画素Gの
座標がG(x3、y3)であったとする。
【0145】書き込み中央位置の射出軌跡Qn’の延長
上に存在する基準画素Kの座標K(X12、Y12)と
書き込み開始側の基準画素の延長上に存在する基準画素
Kの座標K(X10、Y10)との差は、射出方向Q
m’の光ビームを受光した受光画素Gの座標G(x3、
y3)と射出方向Qm’の光ビームを受光した撮像素子
130aの受光画素Gの座標G(x2、y2)との差に
等しい。
【0146】従って、 X12−X10=x3−x2 Y12−Y10=y3−y2 よって、 X12=X10+x3−x2={(x1−x2)/2}
+x3 Y12=Y10+y3−y2={(y1−y2)/2}
+y3 書き込み終了側の位置に設けられたCCDカメラ132
の撮像素子130aの基準画素Kの座標K(X14、Y
14)は、同様に受光画素Gの座標をG(x5、y5)
とすると、 X14={(x1−x2)/2}+x5 Y14={(y1−y2)/2}+y5 として求まる。
【0147】よって、いったんあるCCDカメラ132
についての基準画素Kの座標をLDホルダー板119を
回転させて特定した後は、残りのCCDカメラ132に
ついての基準画素Kの特定は、LDホルダー板119を
回転させなくとも行うことができる。
【0148】なお、図39は角度位置決定部材としての
位置決めブロック115が中央位置に設けられている状
態が示されている。
【0149】マイクロメータ133によりスライドベー
ス131をその長手方向に移動させることにより深度方
向でのビーム径を測定することが可能である。
【0150】この具体的構造では、1個の位置決めブロ
ック115を配置換え可能にして各位置で基準画素Kを
求める構成としたが、1個の位置決めブロック115を
位置決め基準ベース111にスライド可能に設ける構成
としても良いし、書き込み開始側の位置、中央位置、書
き込み終了側の各位置に位置決めブロック115をそれ
ぞれ設ける構成としても良い。
【0151】
【変形例】図46ないし図51は上記具体的構造の変形
例を示す図であって、図46ないし図48は画像形成装
置への書き込みユニット1の取り付け状態を示し、基台
100には支柱140が立設され、支柱140の上端に
書き込みユニット位置決め部材101が固定されてい
る。ここでは、書き込みユニット位置決め部材101は
平板である。
【0152】書き込みユニット位置決め部材101には
その中央に開口部141が形成されている。書き込みユ
ニット位置決め部材101には3個のクランプ装置14
2が設けられ、143はクランプレバーである。書き込
みユニット1はこのクランプ装置142により書き込み
ユニット位置決め部材101に固定される。基台100
には取り付けベース128が固定され、取り付けベース
128には支持ベース129が固定され、支持ベース1
29にはスライドベース131がスライド可能に設けら
れている。
【0153】このスライドベース131にはCCDカメ
ラユニット130が設けられている。CCDカメラユニ
ット130はCCDカメラ132と取り付けベース13
1’とから構成されている。取り付けベース131’に
は当て付けいた131’aが起立形成されている。スラ
イドベース131にはマイクロメータ133が取り付け
られ、マイクロメータ133はエリア型撮像素子の撮像
面130aが被走査相当面に位置するように調整する役
割を果たす。
【0154】支持ベース129には挟持枠144が図4
9に示すように固定され、145は案内穴である。この
案内穴145はスライドベース131のスライド方向に
延びている。スライドベース131は固定ネジ136を
締め付けることにより支持ベース129に固定される。
【0155】書き込みユニット位置決め部材101に
は、図50に示すように位置決め基準ベース111が取
り付けられる。この位置決め基準ベース111はクラン
プ装置142により書き込みユニット位置決め部材10
1に固定される。この位置決め基準ベース111の下部
には当て付け部147が形成されている。この位置決め
基準ベース111の上部には図51に示す位置決めブロ
ック部材115が取り付けられる。
【0156】角度位置決めブロック部材115には円形
嵌合穴120が形成されると共に、係合ピン121が形
成されている。この角度位置決め部材115にLDホル
ダー板119が取り付けられる。このLDホルダー板1
19には基準レーザーダイオード127が取り付けられ
る。円形嵌合穴120の中心は設計的に予定された射出
軌跡Qnと同じ方向に向けられている。
【0157】この変形例では、基準レーザーダイオード
127を用いて基準画素Kの特定を行うときには、書き
込みユニット位置決め部材101から書き込みユニット
1を取り除いて基準レーザーダイオード127を書き込
みユニット位置決め部材101にセットし、書き込みユ
ニット1のレーザー光源の評価を行うときには基準レー
ザーダイオード127、位置決め基準ベース111を取
り除き、書き込みユニット1を書き込みユニット位置決
め部材101にセットして行う。
【0158】
【評価結果に基づいた調整装置】以下に、これらの評価
装置1〜4の評価結果に基づいた調整装置を説明する。
【0159】図20は評価項目aの評価に基づく調整装
置に関するものである。
【0160】
【同期センサ移動による主走査方向書き込み位置調整構
造】図20に示すように書き込み開始側の基準画素K
(基準書き込み位置Z1)に対してビームスポットSの
ビーム中心O1が主走査方向に△Xだけずれていたとき
の、書き込み開始位置の調整手段の構成に関するもので
ある。
【0161】書き込み開始側の基準位置Z1に対して、
ビーム中心O1が主走査方向Q1に△Xだけずれていた
場合には、同期センサ27をビーム進行方向と直交する
主走査方向Q1に移動させて調整する。
【0162】この同期センサ27は図21に示すように
可動体47に取り付けられ、可動体47は主走査方向Q
1に延びるガイド軸48に移動可能に設けられている。
そのガイド軸48は書き込みユニット1の一部を構成す
る構成壁49、49’に掛け渡され、構成壁49には調
整ネジ50が設けられ、調整ネジ50は構成壁49に形
成されたネジ部51に螺合されている。
【0163】可動体47と構成壁49との間には、付勢
手段としての引っ張りスプリング52が掛け渡され、可
動体47は構成壁49に向けて付勢されている。可動体
47の壁部には調整ネジ50の先端部50aが当接され
ている。
【0164】この調整ネジ50を正逆回転させることに
より可動体47が主走査方向Q1に微動され、図22に
示すように、同期センサ27から書き込み基準画素K
(基準位置Z1)までの距離L6が調整され、これによ
り主走査方向について設計的に予定された書き込み基準
位置Z1にビーム中心O1を一致させることができ、書
き込み開始位置の書き込みタイミング補正が可能とな
る。
【0165】
【書き込みユニット或いは作像ユニットの移動による主
走査方向書き込み位置調整構造1】上記の例では、同期
センサ27を主走査方向に移動させて書き込み開始位置
の書き込みタイミング補正を行うこととしたが、この変
形例1では、書き込みユニット1と作像ユニット53と
を相対的に主走査方向Q1に移動させることにより書き
込みタイミングの調整を図ることにしたものである。
【0166】図23は書き込みユニット1と作像ユニッ
ト53との位置関係を示し、ここでは、少なくとも作像
ユニット53には感光体ドラム25の回転域に、現像ロ
ーラユニット54、転写ユニット55、帯電ユニット5
6が設けられている。なお、転写ユニット55と帯電ユ
ニット56とは一体構成であっても良い。また、潜像担
持体のクリーニング手段、除電手段(図示を略す)を作
像ユニット53に一体に設けても良い。なお、副走査方
向Q3は感光体ドラム25に照射される光ビームの光軸
に対して直交している。
【0167】画像形成装置の本体構成壁57には、図2
4に示すように、主走査方向Q1に長く延びるガイド穴
58が形成され、作像ユニット53を構成する作像ユニ
ット構成壁53aには支持ピン53bが突設されると共
にボス部53cが突設されている。ボス部53cにはネ
ジ部53dが形成され、支持ピン53bはガイド穴58
に嵌合されている。
【0168】本体構成壁57には調整ネジ59が設けら
れ、この調整ネジ59はボス部53cのネジ部53dに
螺合されている。調整ネジ59を調整すると、作像ユニ
ット53が書き込みユニット1に対して相対的に主走査
方向Q1に移動され、これにより、光ビームP1の作像
ユニット(感光体ドラム25)53に対する主走査方向
Q1の位置調整が行われ、これにより、主走査方向につ
いて設計的に予定された書き込み開始位置の書き込みタ
イミング補正が行われる。
【0169】
【書き込みユニット或いは作像ユニットの移動による主
走査方向書き込み位置調整構造2】調整構造1では、調
整ネジ59とボス部53cのネジ部53dとの螺合によ
り作像ユニット53を主走査方向Q1に移動させて、光
ビームP1の作像ユニット53に対する主走査方向Q1
の位置調整を行うことにしたが、この変形例2では、図
25に示すように、作像ユニット53は主走査方向Q1
に延びるガイドレール60に載置されて移動可能とされ
ている。その作像ユニット53は本体構成壁57に向け
て弾性部材としてのスプリング61により引っ張られて
いる。本体構成壁57にはネジ部62が形成され、調整
ネジ59はそのネジ部62に螺合され、調整ネジ59の
先端部59aは作像ユニット構成壁53aに当接されて
いる。
【0170】調整ネジ59の先端部59aの作像ユニッ
ト構成壁53aへの押し付けが弱くなる方向に調整ネジ
59を回転させると、作像ユニット53はスプリング6
1の付勢力により矢印方向a1に移動され、調整ネジ5
9の先端部59aの作像ユニット構成壁53aへの押し
付けが強くなる方向に調整ネジ59を回転させると、作
像ユニット53はその調整ネジ59の押し付けによりス
プリング61の付勢力に抗して矢印方向a2に移動さ
れ、これにより、光ビームP1の作像ユニット53に対
する主走査方向Q1の位置調整が行われる。
【0171】
【書き込みユニット或いは作像ユニットの移動による主
走査方向書き込み位置調整構造3】この調整構造3で
は、図26に示すように、作像ユニット53を主走査方
向Q1に延びるガイドレール60に載せて移動可能な構
成とすると共に、作像ユニット53にラック部63を形
成し、一方、本体構成壁57には操作つまみ部付きの調
整軸64を設け、調整軸64の軸部にはラック部63と
噛み合うピニオン65を設け、ピニオン65とラック部
63との噛み合いにより、作像ユニット53を主走査方
向Q1に移動可能に構成したものである。
【0172】
【書き込みユニット或いは作像ユニットの移動による主
走査方向書き込み位置調整構造4】調整構造1ないし調
整構造3では、作像ユニット53を主走査方向Q1に移
動させて、光ビームP1の作像ユニット53に対する位
置調整を行うこととしたが、この変形例4では、図27
に示すように、作像ユニット53を固定のままとし、書
き込みユニット1を主走査方向Q1に移動させて、光ビ
ームP1の主走査方向Q1に対する位置調整を行うこと
としたものであり、本体構成壁57には、主走査方向Q
1に長く延びるガイド穴66が書き込みユニット1に対
応する箇所に形成され、書き込みユニット構成壁1bに
は支持ピン67が突設されると共にボス部68が突設さ
れている。ボス部68にはネジ部69が形成され、支持
ピン67はガイド穴66に嵌合されている。
【0173】本体構成壁57には調整ネジ70が設けら
れ、調整ネジ70は書き込みユニット構成壁1bに設け
られ、この調整ネジ70はボス部68のネジ部69に螺
合されている。調整ネジ70を調整すると、書き込みユ
ニット1が作像ユニット53に対して相対的に主走査方
向Q1に移動され、これにより、光ビームP1の作像ユ
ニット53に対する主走査方向Q1の位置調整が行われ
る。
【0174】
【書き込みユニット或いは作像ユニットの移動による主
走査方向書き込み位置調整構造5】調整構造1〜調整構
造4では、作像ユニット53を下に設け、書き込みユニ
ット1を上に設けて、光ビームP1の作像ユニット53
に対する光ビームP1の主走査方向Q1の位置調整を行
うこととしたが、この変形例5では書き込みユニット1
を下に設け、作像ユニット53を上に設けて、光ビーム
P1の作像ユニット53に対する主走査方向Q1の位置
調整を行うこととしたものである。
【0175】この変形例5では、図28に示すように、
作像ユニット53は固定であり、書き込みユニット1は
主走査方向Q1に延びるガイドレール71に載せて移動
可能とされている。その書き込みユニット1は本体構成
壁57に向けてスプリング72により引っ張られてい
る。本体構成壁57にはネジ穴73が形成され、調整ネ
ジ74はそのネジ穴73に螺合され、調整ネジ74の先
端部74aは書き込みユニット構成壁1bに当接されて
いる。
【0176】調整ネジ74の先端部74aの書き込みユ
ニット構成壁1bへの押し付けが弱くなる方向に調整ネ
ジ74を回転させると、書き込みユニット1はスプリン
グ72の付勢力により矢印方向a3に移動され、調整ネ
ジ74の先端部74aの書き込みユニット構成壁1bへ
の押し付けが強くなる方向に調整ネジ74を回転させる
と、書き込みユニット1はその調整ネジ74の押し付け
によりスプリング72の付勢力に抗して矢印方向a4に
移動され、これにより、光ビームP1の作像ユニット5
3に対する主走査方向Q1の位置調整が行われる。
【0177】
【シート積載位置の移動による主走査方向書き込み位置
調整構造】図52はシート積載位置を主走査方向Q1に
ずらして書き込み位置調整を行う構造を示している。
【0178】この実施例では、図52(a)に示すよう
に、感光体ドラム25の表面26に臨ませて、サイドレ
ース用のLED1〜LEDnが設けられている。このL
ED1〜LEDnは図52(b)に示すように主走査方
向Q1に対応する方向に配列されている。
【0179】このLED1〜LEDnはシートサイズに
対応して点灯制御される。このLED1〜LEDnはシ
ートサイズに合わせて感光体ドラム25のサイドレース
(搬送方向(副走査方向Q3))に現像トナーが付着し
ないようにするために用いられる。つまり、LED1〜
LEDnは感光体ドラム25の両端部露光に用いられ
る。
【0180】作像ユニット53にはシート積載トレイ1
00、101が設けられている。ここでは、シート積載
トレイ100にサイドガイド固定板取り付け部102が
設けられている。このサイドガイド固定板取り付け部1
02にサイドガイド固定板103が設けられ、このサイ
ドガイド固定板103にサイドガイド104がシートサ
イズに対応させてスライド可能に取り付けられている。
そのサイドガイド104のスライド方向は主走査方向Q
1(シート搬送方向と直交する方向)に対応している。
【0181】サイドガイド固定板103はサイドガイド
固定板取り付け部102に対してサイドガイド104と
同方向にスライド調整可能であり、評価装置1〜評価装
置4の評価結果に基づく書き込み位置補正量に基づいて
書き込み位置を主走査方向Q1に調整可能とするため
に、長穴105が設けられ、この長穴105内には書き
込み位置補正量に対応するメモリが設けられている。サ
イドガイド固定板103はこの調整後、固定ネジ等によ
りサイドガイド固定板取り付け部102に固定される。
【0182】例えば、A3横長をサイドレースする場
合、CPUによってLED1、LED2及びLEDn−
1、LEDnを点灯するが、仮にLED一個分だけ書き
込み位置を主走査方向Q1(図52(b)において上方
に書き込み位置がずれている場合)に補正しなければな
らない場合には、各サイズのLED点灯制御をその分ず
らして実施することになり、A3横長のシートの場合に
は、LED1、LEDn−2、LEDn−1、LEDn
を点灯制御することになる。
【0183】要は書き込み位置を主走査方向Q1にずら
して調整すればシート搬送位置をずらせば良い。更に、
シートの感光体ドラム25への搬送途中で、シートを搬
送しながら主走査方向Q1にスライドさせる構成として
も良い。
【0184】
【書き込みユニット或いは作像ユニットの移動による副
走査方向書き込み位置調整構造】この調整構造は、評価
装置1−4により得られた図29に示す副走査書き込み
位置の評価(評価項目b)の結果に基づいて、書き込み
ユニット1から出射されて感光体ドラムに照射される光
ビームの進行方向及び主走査方向Q1に直交する副走査
方向Q3に沿って調整することとしたものである。
【0185】すなわち、この位置調整構造では、書き込
みユニット1と作像ユニット53とを相対的に副走査方
向Q3に移動させることにより書き込みタイミングの調
整を図ることにしたものであり、図29に示すように、
ビームスポットSのビーム中心O1’が副走査方向Q3
に△Yだけずれているときの書き込み開始位置の調整手
段に関する。
【0186】本体構成壁57には、図30に示すよう
に、移動手段の一部を構成する調整ネジ75が設けられ
ると共に、副走査方向Q3に延びるガイド穴76が形成
されている。書き込みユニット1には支持ピン77が設
けられると共に、ボス部78が形成されている。ボス部
78にはネジ部79が形成され、調整ネジ75はボス部
78のネジ部79に螺合されている。調整ネジ75を調
整すると、書き込みユニット1が作像ユニット53に対
して相対的に副走査方向Q3に移動され、これにより、
光ビームP1の作像ユニット53に対する副走査方向Q
3の位置調整が行われる。
【0187】この調整構造では、書き込みユニット1を
副走査方向Q3に移動させて、光ビームP1の作像ユニ
ット53に対する副走査方向Q3の位置調整を行うこと
としたが、作像ユニット53に移動手段の一部を構成す
る支持ピン76とボス部78とを形成し、作像ユニット
53を副走査方向Q3に移動させて、光ビームP1の作
像ユニット53に対する位置調整を行うように構成する
こともできる。
【0188】また、移動手段を操作つまみ部付きの調整
軸によって回転するピニオンとこのピニオンに噛み合う
ラックとにより構成しても良い。
【0189】
【レーザーダイオード(LD)ユニットによる深度調整
構造】ここでは、深度評価で求めたビームウエスト補正
適正量△Wに基づいて、コリメートレンズ13、14を
光ビームP1の光路に沿って可動させることにより、光
路長を調整することとしたものであり、以下光路長調整
手段を図32を参照しつつ説明する。
【0190】書き込みユニット構成壁1bにはレーザー
ダイオード11(12)の取り付けベース81がネジ8
2によって固定され、この取り付けベース81にはレー
ザーダイオード11(12)の取り付け穴83とコリメ
ートレンズ13(14)の取り付け穴84とが設けられ
ている。取り付け穴83にはレーザーダイオード11
(12)が嵌合されて固定されている。コリメートレン
ズ13(14)は鏡筒85に保持され、鏡筒85の外周
部には雄ネジ部86が形成されている。取り付け穴84
には雌ネジ部87が形成され、鏡筒85は雄ネジ部86
が雌ネジ部97に螺合されて取り付けベース81に軸方
向に移動可能に保持される。
【0191】ビームウエストBwの位置調整は、鏡筒8
5を回転させることにより、レーザーダイオード11、
12に対してコリメートレンズ13(14)の光軸方向
Q5にこのコリメートレンズ13(14)を移動させる
ことによって行われる。このビームウエストBwの調整
後、鏡筒85は取り付けベース81に例えば接着剤によ
り固定される。
【0192】
【書き込みユニット或いは作像ユニットによる深度調整
構造1】上記の例では、コリメートレンズ13、14を
その光軸方向に移動させて、ビームウエストの調整を行
うこととしたが、この変形例では、図33に示すよう
に、本体構成壁57に高さ方向に延びるガイド穴88a
とネジ取り付け部88bとを設け、書き込みユニット構
成壁1bには、ガイド穴58に嵌合されるガイドピン8
9を設け、引っ張りスプリング90の付勢力により書き
込みユニット1を上方に付勢する一方、ネジ取り付け部
88bに調整ネジ91と螺合するネジ部92を設け、調
整ネジ91の先端部91aをガイドピン89に当接さ
せ、調整ネジ91を回転させることにより書き込みユニ
ット1と作像ユニット53との間隔を調節し、これによ
り、光路長を変化させて、感光体ドラム25の表面26
に対するビームウエストの位置調整を行うこととしたも
のである。
【0193】
【書き込みユニット或いは作像ユニットによる深度調整
構造2】調整構造1では、書き込みユニット1と作像ユ
ニット53との間隔を調整ネジ91を設けて行うことに
したが、この調整構造2では、図34に示すように、本
体構成壁57に調節つまみ94を設け、調節つまみの軸
部95に偏心カム96を設け、書き込みユニット1には
偏心カム96のカム面96aに当接する当接部97を設
け、係止ピン93とガイドピン89との間に掛け渡され
た引っ張りスプリング90により当接部97がカム面9
6aに摺接する構成とし、調節つまみ94を回転させる
ことにより書き込みユニット1と作像ユニット53との
間の光路長を変化させて、感光体ドラム25の表面26
に対するビームウエストの位置調整を行うこととしたも
のである。
【0194】なお、光路長調整手段を、調整ネジによっ
て回転するピニオンとこのピニオンに噛み合うラックと
により構成しても良い。
【0195】ここでは、書き込みユニット1を副走査方
向に移動させる構成としたが、作像ユニット53を移動
させる構成としても良い。
【0196】
【その他の評価項目に関する評価結果に基づく調整】
(a)評価項目c、dによる評価が許容範囲外のときに
は、ポリゴンミラー19の不良であることが考えられる
ので、書き込みユニット1に搭載したポリゴンミラー1
9の交換を行うことが望ましい。
【0197】(b)評価項目e、fによる評価が許容範
囲外のときには、レーザーダイオードLDとポリゴンミ
ラー19との間の光路中に設けられているアパーチャー
部材(図示を略す)の開口径を調整する。このアパーチ
ャー部材は通常コリメータレンズの光進行方向直後に配
置されている。このアパーチャー部材の開口径の調整
は、アパーチャー部材の開口径を機械的調整手段によっ
て調整しても良いし、現に光路に配置されているアパー
チャー部材を光路から取り外して、別の開口径を有する
アパーチャー部材と交換することにより行っても良い。
【0198】(c)評価項目g、iの倍率誤差、倍率誤
差偏差の評価に基づく調整は、fθレンズの交換、反射
ミラーの交換により行うことが望ましい。
【0199】これは、ポリゴンミラー19から反射され
た光ビームを感光体ドラム25に導く光学系を構成する
fθレンズ23、反射ミラー24等の光学要素の光学的
欠陥によって、光軸O10に対して左右方向の光路長に
影響が出た結果、発生している可能性が高いからであ
る。
【0200】なお、評価項目gの倍率誤差のみの場合に
は、図53(a)に示すように、反射ミラー24又はf
θレンズ23をその光軸O10の回りに所定角度調整す
ることができる。
【0201】(d)評価項目h、jの走査線傾き、走査
線曲がりの評価に基づく調整についても、fθレンズ2
3の交換、反射ミラー24の交換により行うことが望ま
しい。
【0202】これは、ポリゴンミラー19から反射され
た光ビームを感光体ドラム25に導く光学系を構成する
fθレンズ23、反射ミラー24等の光学要素の光学的
欠陥によって、光軸に対して左右方向の光路長に影響が
出た結果、発生している可能性が高いからである。
【0203】なお、評価項目hの走査線傾きのみの場合
には、図53(b)に示すように、fθレンズ23をそ
の光軸O10の回りに所定角度調整すると共に、反射ミ
ラー24の傾き角を矢印O11方向に調整することによ
り行うことができる。
【0204】(e)評価項目mのピッチ間隔の評価に基
づく調整は、複数のLDを取り付けたユニットを光軸周
りに所定角度調整することにより行う。
【0205】(f)評価項目kの走査時間の評価に基づ
く調整は、ポリゴンミラー19の回転速度を調整するこ
とにより行う。なお、図53(a)に示すと同様に、反
射ミラー24又はfθレンズ23をその光軸O10回り
に沿って所定角度調整することにより、走査時間を調整
することもできる。
【0206】(g)評価項目lの深度評価に基づく調整
は、既に図32〜図34を用いて説明した通りである。
【0207】
【発明の効果】本発明によれば、以上説明したように構
成したので、書き込みユニットの主走査方向の調整処理
が容易であるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】 光ビーム走査特性評価装置の従来例を示す説
明図である。
【図2】 光ビーム走査特性評価装置の従来例を示す図
であって、光ビームの走査中のビーム径測定を一次元ラ
インCCDを用いて測定する状態を示す説明図である。
【図3】 図2に示す走査中の光ビームを静止させたと
みなして、走査中の光ビームのビーム径を図2に示す一
次元ラインCCDを用いて測定すると考えたときの説明
図である。
【図4】 本発明に係わる書き込みユニットの内部構成
の概略を示す斜視図である。
【図5】 本発明に係わる光ビーム特性評価装置の実施
例1の原理を説明するための図であって、3個のCCD
カメラを主走査方向に間隔を開けて設けた場合を示す図
である。
【図6】 図5に示すCCDカメラのエリア型撮像素子
を概念的に示す図である。
【図7】 図4に示す書き込みユニットにより被走査面
に描かれるべき設計的に予定された理想的画像(ビーム
スポット)を説明するための図である。
【図8】 図5に示す光ビームの1ドット制御のタイミ
ングを説明するための説明図である。
【図9】 図5に示す各CCDカメラのエリア型撮像素
子に形成されたビームスポットを示す図である。
【図10】 評価装置の実施例2を説明するための図で
あって、2個のCCDカメラを主走査方向に間隔を開け
て設けた場合を示す図である。
【図11】 図10に示す光ビームの1ドット制御のタ
イミングを説明するための説明図である。
【図12】 評価装置の実施例3を説明するための図で
あって、1個のCCDカメラを主走査方向の中央に設け
た場合を示す図である。
【図13】 図12に示す光ビームの1ドット制御のタ
イミングを説明するための説明図である。
【図14】 図12に示すエリア型撮像素子に形成され
たビームスポット(レーザースポット)の説明図であ
る。
【図15】 図14に示すビームスポットに基づいて光
ビーム強度分布曲線を求めるための説明に用いた説明図
である。
【図16】 図15に示す光ビーム強度分布曲線に基づ
いて光ビームの中心位置を評価処理回路により求めるた
めの説明に用いた光ビーム強度分布曲線図である。
【図17】 評価装置の実施例4を説明するための図で
あって、1個のCCDカメラを主走査方向と深度方向と
に可動させる構成を示す説明図である。
【図18】 図17に示す光ビーム特性評価装置の処理
の一例を示すフローチャートである。
【図19】 本発明に係わる光ビーム特性評価装置によ
る評価特性の一例を説明するための説明図であって、
(a)は主走査方向の書き込み位置のずれを示す図、
(b)は副走査方向の書き込み位置のずれを示す図、
(c)はポリゴンミラーの各面についての主走査方向の
ピッチむらの説明図、(d)はポリゴンミラーの各面に
ついての副走査方向のピッチむらの説明図、(e)倍率
誤差の説明図、(f)は走査線の傾きの説明図、(g)
は倍率誤差偏差の説明図、(h)は走査線曲がりの説明
図、(i)は深度カーブの説明図、(j)はビーム間ピ
ッチの説明図である。
【図20】 主走査方向書き込み位置調整構造の説明に
用いた図であって、書き込み開始側の基準位置に対して
ビーム中心が主走査方向にずれている状態を示す説明図
である。
【図21】 図20に示す書き込み開始側の基準位置に
対するビーム中心の主走査方向のずれを調整するための
書き込み位置調整手段の一例を示す図であって、同期セ
ンサの位置調整構造を概念的に示す部分断面図である。
【図22】 同期センサによる書き込み調整タイミング
を説明するための図である。
【図23】 書き込みユニット或いは作像ユニットの移
動による主走査方向書き込み位置調整構造1の説明図で
あって、書き込みユニットと作像ユニットとの相対的位
置関係を示す図である。
【図24】 図23に示す書き込みユニットに対して作
像ユニットを相対的に主走査方向に移動させることによ
り書き込み開始タイミングを調整する調整構造を概念的
に示す部分断面図である。
【図25】 書き込みユニット或いは作像ユニットの移
動による主走査方向書き込み位置調整構造2の説明図で
あって、図23に示す書き込みユニットに対して作像ユ
ニットを相対的に主走査方向に移動させることにより書
き込み開始タイミングを調整する調整構造を概念的に示
す部分断面図である。
【図26】 書き込みユニット或いは作像ユニットの移
動による主走査方向書き込み位置調整構造3の説明図で
あって、図23に示す書き込みユニットに対して作像ユ
ニットを相対的に主走査方向に移動させることにより書
き込み開始タイミングを調整する調整構造を概念的に示
す部分断面図である。
【図27】 書き込みユニット或いは作像ユニットの移
動による主走査方向書き込み位置調整構造4の説明図で
あって、図23に示す書き込みユニットを作像ユニット
に対して主走査方向に移動させることにより書き込み開
始タイミングを調整する調整構造を概念的に示す部分断
面図である。
【図28】 書き込みユニット或いは作像ユニットの移
動による主走査方向書き込み位置調整構造5の説明図で
あって、図23に示す書き込みユニットを作像ユニット
に対して主走査方向に移動させることにより書き込み開
始タイミングを調整する調整構造を概念的に示す部分断
面図である。
【図29】 書き込みユニット或いは作像ユニットの移
動による副走査方向書き込み位置調整構造に用いる図で
あって、書き込み開始側の基準位置に対してビーム中心
が副走査方向にずれている状態を示す説明図である。
【図30】 書き込みユニット或いは作像ユニットの移
動による副走査方向書き込み位置調整構造の説明図であ
って、図23に示す書き込みユニットに対して作像ユニ
ットを相対的に副走査方向に移動させることにより書き
込み開始タイミングを調整する調整構造を概念的に示す
部分断面図である。
【図31】 光ビーム特性評価装置の実施例4に使用す
る説明図であって、(a)はCCDカメラを主走査方向
及び副走査方向に可動させて光ビームの深度カーブを評
価する光ビーム特性評価装置の説明図であり、(b)は
(a)に示す光ビーム特性評価装置により得られた深度
カーブの一例を示す図である。
【図32】 レーザーダイオードユニットによる深度調
整構造の説明図であって、実施例4に示す光ビーム特性
評価装置により得られた深度カーブに基づきコリメート
レンズの位置を光軸方向に調整して光路長を調整する光
路長調整構造を示す部分断面図である。
【図33】 書き込みユニット或いは作像ユニットによ
る深度調整構造1の説明図であって、実施例4に示す光
ビーム特性評価装置により得られた深度カーブに基づき
書き込みユニットと作像ユニットとの間隔を調整して光
路長を調整する光路長調整構造を示す部分断面図であ
る。
【図34】 書き込みユニット或いは作像ユニットによ
る深度調整構造2の説明図であって、実施例4に示す光
ビーム特性評価装置により得られた深度カーブに基づき
書き込みユニットと作像ユニットとの間隔を調整して光
路長を調整する光路長調整構造を示す部分断面図であ
る。
【図35】 評価装置1〜4の具体的構造を示し、画像
形成装置への書き込みユニットの取り付け状態を示す側
面図である。
【図36】 画像形成装置への書き込みユニットの取り
付け状態を示す平面図である。
【図37】 図35、図36に示す書き込みユニットの
外観形状を示す図である。
【図38】 画像形成装置への書き込みユニットの取り
付け状態を示す正面図である。
【図39】 基準ベース取り付け部に取り付けられた位
置決め基準ベースとCCDカメラとの配置関係を示す部
分拡大平面図である。
【図40】 図39に示す位置決め基準ベースの説明図
であって、(a)は平面図、(b)は(a)を矢視c1
方向から見た図、(c)は(b)を矢視c2方向から見
た図、(d)は(b)を矢視c3方向から見た図であ
る。
【図41】 基準ベース取り付け部に取り付けられた位
置決め基準ベースとCCDカメラとの配置関係を示す部
分拡大側面図である。
【図42】 図39、図41に示す位置決めブロック部
材の説明図であって、(a)は平面図、(b)は(a)
を矢視c4方向から見た図、(c)は(a)を矢視c5
方向から見た図、(d)は(c)を矢視c6方向から見
た図である。
【図43】 図41に示すLDホルダー板の説明図であ
って、(a)は側面図、(b)は(a)を矢視c7方向
から見た図である。
【図44】 基準レーザー光源を用いてエリア型CCD
の基準画素の特定を説明するための図である。
【図45】 LDホルダー板と位置決めブロック部材と
の部分拡大図であって、(a)はLDホルダー板の18
0度回転前の状態を示す図、(b)はLDホルダー板の
180度回転後の状態を示す図である。
【図46】 画像形成装置への書き込みユニットの取り
付け状態を示す平面図である。
【図47】 画像形成装置への書き込みユニットの取り
付け状態を示す側面図であって、書き込みユニットをク
ランプする前の状態を示している。
【図48】 書き込みユニットの取り付け状態を示す正
面図であって、書き込みユニットをクランプする前の状
態を示している。
【図49】 図47に示す支持ベースに取り付けられた
CCDカメラユニットと基準レーザーダイオードとの位
置関係を示す平面図である。
【図50】 書き込みユニットに取り付けられた位置決
め基準ベースと位置決めブロックとを示す平面図であ
る。
【図51】 図49に示す位置決めブロックの拡大側面
図である。
【図52】 シート積載位置の移動による主走査方向書
き込み位置調整構造の説明図であって、(a)は作像ユ
ニットの内部構造の概略図であり、(b)は(a)に示
すLEDの配列状態を示し、(c)はシート積載トレー
に取り付けられたサイドガイドを示す。
【図53】 倍率誤差、走査線傾き不良の場合の調整の
一例を示し、(a)は倍率誤差の評価による調整例を示
し、(b)は走査線傾きの評価に基づく調整例を示す。
【符号の説明】
1…書き込みユニット 25…感光体ドラム(潜像担持体) 53…作像ユニット 58、59…移動手段
─────────────────────────────────────────────────────
【手続補正書】
【提出日】平成10年8月20日(1998.8.2
0)
【手続補正1】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0066
【補正方法】変更
【補正内容】
【0066】例えば、図19(e)に示すように、主走
査方向Q1の原稿上の2点に対応する転写紙上の設計的
に予定された書き込み基準位置Z1、Z2の距離L4と
実際に測定により得られた被走査面上での書き込み位置
Z1’、Z2’の距離L5との比を求めれば、倍率誤差
を評価できる。
【手続補正2】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0139
【補正方法】変更
【補正内容】
【0139】そして、基準レーザーダイオード127を
図示を略す点灯制御回路(書き込みユニット1の点灯制
御回路を用いても良い)を用いて点灯させる。このとき
のレーザービームの射出方向が図44に示すようにQ’
方向であったと仮定する。また、その射出方向Q’m
の光ビームを受光したエリア型撮像素子130aの受光
画素Gの座標がG(x2、y2)であったとする。
【手続補正3】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0142
【補正方法】変更
【補正内容】
【0142】次に、位置決めブロック部材115を書き
込み中央位置のCCDカメラユニット130に対向させ
て位置させ、設計的に予定された書き込み中央位置の射
出軌跡Q’nの延長上に存在する基準画素Kの座標K
(X12、Y12)を求める場合について説明する。
【手続補正4】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0144
【補正方法】変更
【補正内容】
【0144】このときのレーザービームの射出方向が
Q’’mであったと仮定する。また、その射出方向Q’
の光ビームを受光した撮像素子130aの受光画素G
の座標がG(x3、y3)であったとする。
【手続補正5】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0145
【補正方法】変更
【補正内容】
【0145】書き込み中央位置の射出軌跡Q’nの延長
上に存在する基準画素Kの座標K(X12、Y12)と
書き込み開始側の基準画素の延長上に存在する基準画素
Kの座標K(X10、Y10)との差は、射出方向Q’
の光ビームを受光した受光画素Gの座標G(x3、y
3)と射出方向Q’mの光ビームを受光した撮像素子1
30aの受光画素Gの座標G(x2、y2)との差に等
しい。
【手続補正6】
【補正対象書類名】明細書
【補正対象項目名】0157
【補正方法】変更
【補正内容】
【0157】この変形例では、基準レーザーダイオード
127を用いて基準画素Kの特定を行うときには、書き
込みユニット位置決め部材101から書き込みユニット
1を取り除いて基準レーザーダイオード127、位置決
め基準ベース111を書き込みユニット位置決め部材1
01にセットし、書き込みユニット1のレーザー光源の
評価を行うときには基準レーザーダイオード127、位
置決め基準ベース111を取り除き、書き込みユニット
1を書き込みユニット位置決め部材101にセットして
行う。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き Fターム(参考) 2C362 AA47 BA90 CB80 DA02 DA04 2H045 AA01 BA22 BA32 CA01 CA31 CA61 CA81 CB53 DA02 DA04 DA31 DA46 2H071 AA33 BA14 BA16 BA19 BA29 BA36 DA02 DA08 DA15 EA06 2H076 AB07 AB11 AB18 EA24 5C072 AA03 BA02 BA20 EA05 HA02 HA13 HB08 JA07 MB04 XA01 XA05

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】走査光学系を内蔵してレーザー光源からの
    光ビームにより潜像担持体の表面に静電潜像を形成する
    ための書き込みユニットを、光ビームの主走査方向のズ
    レ分に対応して前記潜像担持体に対して主走査方向に相
    対的に移動させることにより調整することを特徴とする
    書き込みユニットの調整方法。
  2. 【請求項2】走査光学系を内蔵してレーザー光源からの
    光ビームにより潜像担持体の表面に静電潜像を形成する
    ための書き込みユニットを、光ビームの主走査方向のズ
    レ分に対応して前記潜像担持体を少なくとも内蔵する作
    像ユニットに対して主走査方向に相対的に移動させるこ
    とにより調整することを特徴とする書き込みユニットの
    調整方法。
  3. 【請求項3】走査光学系を内蔵してレーザー光源からの
    光ビームにより潜像担持体の表面に静電潜像を形成する
    ための書き込みユニットと、前記潜像担持体を少なくと
    も内蔵する作像ユニットと、光ビームの主走査方向のズ
    レ分を調整するために前記書き込みユニットと前記作像
    ユニットとを主走査方向に沿って相対的に移動させる移
    動手段とを備えている書き込みユニットの調整装置。
  4. 【請求項4】請求項3に記載の書き込みユニットの調整
    装置において、前記作像ユニットに現像ユニットが設け
    られていることを特徴とする。
  5. 【請求項5】請求項3に記載の書き込みユニットの調整
    装置において、前記移動手段が画像形成装置の本体構成
    壁に形成されて主走査方向に長く延びるガイド穴と、前
    記書き込みユニットと前記作像ユニットとの一方に形成
    されて前記ガイド穴に嵌合する支持ピンとからなること
    を特徴とする。
  6. 【請求項6】請求項3に記載の書き込みユニットの調整
    装置において、前記移動手段が前記書き込みユニットと
    前記作像ユニットの一方を主走査方向に移動させる調整
    ネジと、前記調整ネジによって移動されるユニットに前
    記調整ネジの先端部が当接するように該ユニットを付勢
    する弾性手段とからなることを特徴とする。
  7. 【請求項7】請求項3に記載の書き込みユニットの調整
    装置において、前記移動手段が前記書き込みユニットと
    前記作像ユニットの一方を主走査方向に移動させる調整
    ネジと、前記調整ネジによって移動されるユニットに設
    けられて前記調整ネジに螺合されるボス部とからなるこ
    とを特徴とする。
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