JPH11271199A - 全自動材料試験装置 - Google Patents
全自動材料試験装置Info
- Publication number
- JPH11271199A JPH11271199A JP7745198A JP7745198A JPH11271199A JP H11271199 A JPH11271199 A JP H11271199A JP 7745198 A JP7745198 A JP 7745198A JP 7745198 A JP7745198 A JP 7745198A JP H11271199 A JPH11271199 A JP H11271199A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test piece
- test
- pallet
- storage pallet
- push
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Landscapes
- Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】収納パレットに入った試験片を確実に試験機本
体に移載できるようにする。 【解決手段】ゴムなどの材料からなる試験片４はパレッ
ト１に収納されて試験機本体の近くまで搬送され、移載
機によって試験機本体のチャックに移載され、引張試験
などが行われる。パレット１には位置決めのためのガイ
ド２が配設されているとともに、底面には開口部３が設
けられ、その上に試験片４が並べられている。押し上げ
機１１の真上にパレット１が運ばれてくると、シリンダ
６によって押し上げ台５が下から試験片４を押し上げ、
パレット１の底面に密着している試験片４を底面から引
き剥がし、移載機が試験片４を試験機本体へ移載する際
に試験片４を取りこぼさないようにする。
体に移載できるようにする。 【解決手段】ゴムなどの材料からなる試験片４はパレッ
ト１に収納されて試験機本体の近くまで搬送され、移載
機によって試験機本体のチャックに移載され、引張試験
などが行われる。パレット１には位置決めのためのガイ
ド２が配設されているとともに、底面には開口部３が設
けられ、その上に試験片４が並べられている。押し上げ
機１１の真上にパレット１が運ばれてくると、シリンダ
６によって押し上げ台５が下から試験片４を押し上げ、
パレット１の底面に密着している試験片４を底面から引
き剥がし、移載機が試験片４を試験機本体へ移載する際
に試験片４を取りこぼさないようにする。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、収納パレットに収
納された試験片を自動的に材料試験する自動材料試験装
置に関し、特にゴムなどの材料を連続して次々に引張試
験する全自動試験装置に関する。
納された試験片を自動的に材料試験する自動材料試験装
置に関し、特にゴムなどの材料を連続して次々に引張試
験する全自動試験装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】ゴムなどの材料を次々と連続して試験す
る全自動試験装置では、従来からいくつかの試験片を収
納パレットに並べて搬送し、試験片を試験機本体に取り
付けるときにチャックや吸着装置を用いてひとつづつ収
納パレットから取り出してそれを試験機本体に供給し試
験を行うようにしている。収納パレットは例えば長方形
の薄い皿型をしており、試験片を載置する面はフラット
な面であり、アレイ形に打ち抜かれた板状の試験片が例
えば４つ並ぶようにそれぞれの試験片の位置を固定する
位置決めピンが収納パレットの底面に配設されている。
そして、収納パレット上の試験片を試験機本体のつかみ
具まで移送するために、真空吸着方式を用いた試験片の
移載装置により試験片を保持して収納パレットから試験
片を取り上げ、試験機本体のつかみ具に移載するように
している。
る全自動試験装置では、従来からいくつかの試験片を収
納パレットに並べて搬送し、試験片を試験機本体に取り
付けるときにチャックや吸着装置を用いてひとつづつ収
納パレットから取り出してそれを試験機本体に供給し試
験を行うようにしている。収納パレットは例えば長方形
の薄い皿型をしており、試験片を載置する面はフラット
な面であり、アレイ形に打ち抜かれた板状の試験片が例
えば４つ並ぶようにそれぞれの試験片の位置を固定する
位置決めピンが収納パレットの底面に配設されている。
そして、収納パレット上の試験片を試験機本体のつかみ
具まで移送するために、真空吸着方式を用いた試験片の
移載装置により試験片を保持して収納パレットから試験
片を取り上げ、試験機本体のつかみ具に移載するように
している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】板がアレイ形に打ち抜
かれた形の試験片、とくに、ゴムなどの粘着性の強い試
験片を全自動試験装置で試験する場合に、試験片が収納
パレットの載置面に密着してしまい、真空吸引方式を用
いた試験片の移載装置では試験片を収納パレットから取
り出す際に試料を取りこぼすことがあった。全自動試験
装置においては、試験片をハンドリングする際の確実性
は装置やシステム全体の稼働率や信頼性を高める重要な
ポイントであり、ハンドリング時の失敗を可能な限り少
なくすることが望まれる。
かれた形の試験片、とくに、ゴムなどの粘着性の強い試
験片を全自動試験装置で試験する場合に、試験片が収納
パレットの載置面に密着してしまい、真空吸引方式を用
いた試験片の移載装置では試験片を収納パレットから取
り出す際に試料を取りこぼすことがあった。全自動試験
装置においては、試験片をハンドリングする際の確実性
は装置やシステム全体の稼働率や信頼性を高める重要な
ポイントであり、ハンドリング時の失敗を可能な限り少
なくすることが望まれる。
【０００４】従来、試験片が収納パレットに粘着するこ
とを防ぐために、試験片を収納パレットに並べる前にパ
ウダーを試験片に対してふりかけることも行われている
が、その作業は大変手間のかかる作業であり、また粘着
を防止する確実性にかけていた。
とを防ぐために、試験片を収納パレットに並べる前にパ
ウダーを試験片に対してふりかけることも行われている
が、その作業は大変手間のかかる作業であり、また粘着
を防止する確実性にかけていた。
【０００５】本発明は、このような事情に鑑みてなされ
たものであり、収納パレットから試験片を確実に取り出
し試験機本体に移載することのできる全自動試験装置を
提供することを目的とする。
たものであり、収納パレットから試験片を確実に取り出
し試験機本体に移載することのできる全自動試験装置を
提供することを目的とする。
【０００６】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記課題を解
決するために、収納パレットに収納された試験片を試験
機本体に供給し引き続いてその試験片の材料試験を行う
全自動材料試験装置において、底部に開口部を有する収
納パレットと、この収納パレットの底面に載置された試
験片を下方から押し上げる押し上げ手段を備え、前記収
納パレットの底面に密着した試験片を前記押し上げ手段
によって前記底面から引き離すことを特徴とする。
決するために、収納パレットに収納された試験片を試験
機本体に供給し引き続いてその試験片の材料試験を行う
全自動材料試験装置において、底部に開口部を有する収
納パレットと、この収納パレットの底面に載置された試
験片を下方から押し上げる押し上げ手段を備え、前記収
納パレットの底面に密着した試験片を前記押し上げ手段
によって前記底面から引き離すことを特徴とする。
【０００７】本発明の全自動材料試験装置では、押し上
げ手段から伸びてくる押し上げ台が、収納パレットの底
部に形成されている開口部を通じて収納パレットに載置
された試験片を上方に押し上げる。こうすることによっ
てゴムのような密着性の強い材料の試験片が収納パレッ
トの底面に密着していても、押し上げ手段の力で引き剥
がされ、その状態で移載機によって収納パレットから試
験機本体のチャックに移載されるので、移載機が試験片
を取りこぼすことがない。
げ手段から伸びてくる押し上げ台が、収納パレットの底
部に形成されている開口部を通じて収納パレットに載置
された試験片を上方に押し上げる。こうすることによっ
てゴムのような密着性の強い材料の試験片が収納パレッ
トの底面に密着していても、押し上げ手段の力で引き剥
がされ、その状態で移載機によって収納パレットから試
験機本体のチャックに移載されるので、移載機が試験片
を取りこぼすことがない。
【０００８】
【発明の実施の形態】本発明の一実施の形態を、図面を
参照しながら説明する。図１は本発明の全自動材料試験
装置を示す図である。試験片は収納パレット１に入れら
れ搬送機１０によって試験機本体１３の近くまで運ばれ
てくる。パレット１が所定位置にセットされると、詳し
くは後述するように、押し上げ機１１がパレット１に載
置されている試験片をわずかに押し上げ、移載機１２が
その試験片を取り出し、試験機本体１３のチャック１４
まで運んで試験片４を取り付ける。その後試験機本体１
３は、よく知られた方法により、例えば材料を引き伸ば
しながら試験片４にかかる荷重と試験片４の伸び量を計
測し引張試験などを行う。
参照しながら説明する。図１は本発明の全自動材料試験
装置を示す図である。試験片は収納パレット１に入れら
れ搬送機１０によって試験機本体１３の近くまで運ばれ
てくる。パレット１が所定位置にセットされると、詳し
くは後述するように、押し上げ機１１がパレット１に載
置されている試験片をわずかに押し上げ、移載機１２が
その試験片を取り出し、試験機本体１３のチャック１４
まで運んで試験片４を取り付ける。その後試験機本体１
３は、よく知られた方法により、例えば材料を引き伸ば
しながら試験片４にかかる荷重と試験片４の伸び量を計
測し引張試験などを行う。
【０００９】図１では全自動材料試験装置の主要構成の
みを示しているが、この他にも一枚の板からアレイ形の
試験片を打ち抜いて作成する試験片作成装置や、板状試
験片の厚みを測定する厚み測定装置などが付属する場合
もある。また、押し上げ機１１は他と独立した装置とし
て描いてあるが、押し上げ機１１は搬送機１０の一部ま
たはその他の装置の一部として構成してもよい。
みを示しているが、この他にも一枚の板からアレイ形の
試験片を打ち抜いて作成する試験片作成装置や、板状試
験片の厚みを測定する厚み測定装置などが付属する場合
もある。また、押し上げ機１１は他と独立した装置とし
て描いてあるが、押し上げ機１１は搬送機１０の一部ま
たはその他の装置の一部として構成してもよい。
【００１０】図２に本発明の主要部である押し上げ機１
１と試験片収納パレット１に載置された試験片４の様子
を示す。図２（ａ）は収納パレット１の上に試験片４を
並べて載置した様子を上から見た図である。およそ長方
形の皿状をした収納パレット１の底面には試験片４を位
置決めするガイド２が所定の個数だけ配設され、さらに
開口部３が設けられている。その開口部３をまたぐよう
にして、試験片の載置面である収納パレット１の底面に
複数の試験片４が載置される。試験片４はゴム板を打ち
抜き機などによってアレイ形に打ち抜き加工されたもの
である。なお、図２に示されたような、ひとつの収納パ
レットに収納される試験片の形状や数、位置決めガイド
の形状などは一例であって、本発明がこれに限定される
ものではない。
１と試験片収納パレット１に載置された試験片４の様子
を示す。図２（ａ）は収納パレット１の上に試験片４を
並べて載置した様子を上から見た図である。およそ長方
形の皿状をした収納パレット１の底面には試験片４を位
置決めするガイド２が所定の個数だけ配設され、さらに
開口部３が設けられている。その開口部３をまたぐよう
にして、試験片の載置面である収納パレット１の底面に
複数の試験片４が載置される。試験片４はゴム板を打ち
抜き機などによってアレイ形に打ち抜き加工されたもの
である。なお、図２に示されたような、ひとつの収納パ
レットに収納される試験片の形状や数、位置決めガイド
の形状などは一例であって、本発明がこれに限定される
ものではない。
【００１１】試験片４の収納されているパレット１が搬
送機１０によって押し上げ機１１の上に搬送されてきた
状態を、図２（ａ）のＡ−Ａ断面として図２（ｂ）に示
す。このとき収納パレット１の下方には押し上げ機１１
が位置している。押し上げ機１１はたとえばエアシリン
ダからなる押し上げシリンダ６と試験片４をわずかに押
し上げる押し上げ台５で構成される。
送機１０によって押し上げ機１１の上に搬送されてきた
状態を、図２（ａ）のＡ−Ａ断面として図２（ｂ）に示
す。このとき収納パレット１の下方には押し上げ機１１
が位置している。押し上げ機１１はたとえばエアシリン
ダからなる押し上げシリンダ６と試験片４をわずかに押
し上げる押し上げ台５で構成される。
【００１２】押し上げ台５は収納パレット１の底部にあ
けられた開口部３を通じて試験片４を収納パレットの底
面から上方に押し上げる動作を行う。図２（ｃ）に押し
上げ台５が試験片４を押し上げた様子を示すように、シ
リンダ６のピストンを伸長させると、その先に取り付け
られた押し上げ台が試験片４を下からその中央部を持ち
上げ、収納パレット１の底面に密着した試験片４を底面
から引き剥がす作用をする。
けられた開口部３を通じて試験片４を収納パレットの底
面から上方に押し上げる動作を行う。図２（ｃ）に押し
上げ台５が試験片４を押し上げた様子を示すように、シ
リンダ６のピストンを伸長させると、その先に取り付け
られた押し上げ台が試験片４を下からその中央部を持ち
上げ、収納パレット１の底面に密着した試験片４を底面
から引き剥がす作用をする。
【００１３】収納パレット１の底面から引き剥がされた
試験片４は、その後移載機１２の吸着器などを備えた移
載ハンドによって試験機本体１３のチャック１４に移載
され、試験機本体１３によって引張り試験などが行われ
る。
試験片４は、その後移載機１２の吸着器などを備えた移
載ハンドによって試験機本体１３のチャック１４に移載
され、試験機本体１３によって引張り試験などが行われ
る。
【００１４】
【発明の効果】本発明の全自動試験装置では試験される
べき試験片を収納するパレット底部に開口部を設け、そ
の開口部から押し上げ台によって試験片を押し上げ、パ
レットから試験片を引き剥がすようにしているので、ゴ
ム板のような密着しやすい材料であっても試験片をパレ
ットから容易に取り上げることができる。したがって、
移載機などによって試験片をパレットから試験機本体の
チャックに移載するときに試験片を取りこぼすことがな
く確実な移載が可能であり、全自動試験装置の確実性や
信頼性を向上することが可能となった。
べき試験片を収納するパレット底部に開口部を設け、そ
の開口部から押し上げ台によって試験片を押し上げ、パ
レットから試験片を引き剥がすようにしているので、ゴ
ム板のような密着しやすい材料であっても試験片をパレ
ットから容易に取り上げることができる。したがって、
移載機などによって試験片をパレットから試験機本体の
チャックに移載するときに試験片を取りこぼすことがな
く確実な移載が可能であり、全自動試験装置の確実性や
信頼性を向上することが可能となった。
【図１】本発明の全自動試験装置の主要構成を示す図で
ある。
ある。
【図２】本発明の主要部である収納パレットと押し上げ
機を示す図である。
機を示す図である。
１…収納パレット ２…ガイド ３…開口部 ４…試験片 ５…押し上げ台 ６…シリンダ １０…搬送機 １１…押し上げ機 １２…移載機 １３…試験機本体 １４…チャック
Claims (1)
- 【請求項１】 収納パレットに収納された試験片を試験
機本体に供給し引き続いてその試験片の材料試験を行う
全自動材料試験装置において、底部に開口部を有する収
納パレットと、この収納パレットの底面に載置された試
験片を下方から押し上げる押し上げ手段を備え、前記収
納パレットの底面に密着した試験片を前記押し上げ手段
によって前記底面から引き離すことを特徴とする全自動
材料試験装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7745198A JPH11271199A (ja) | 1998-03-25 | 1998-03-25 | 全自動材料試験装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7745198A JPH11271199A (ja) | 1998-03-25 | 1998-03-25 | 全自動材料試験装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11271199A true JPH11271199A (ja) | 1999-10-05 |
Family
ID=13634392
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7745198A Pending JPH11271199A (ja) | 1998-03-25 | 1998-03-25 | 全自動材料試験装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11271199A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2784476A1 (de) * | 2013-03-27 | 2014-10-01 | UL International TTC GmbH | Vorrichtung und Verfahren zur Lagerung von Probenkörpern |
| JP2022043625A (ja) * | 2020-09-04 | 2022-03-16 | 株式会社島津製作所 | 測厚装置 |
-
1998
- 1998-03-25 JP JP7745198A patent/JPH11271199A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2784476A1 (de) * | 2013-03-27 | 2014-10-01 | UL International TTC GmbH | Vorrichtung und Verfahren zur Lagerung von Probenkörpern |
| WO2014154308A1 (en) * | 2013-03-27 | 2014-10-02 | Ul Llc | Device and method for storing sample bodies |
| CN105190285A (zh) * | 2013-03-27 | 2015-12-23 | Ul有限责任公司 | 用于储存样品本体的装置和方法 |
| JP2022043625A (ja) * | 2020-09-04 | 2022-03-16 | 株式会社島津製作所 | 測厚装置 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| EP1620889B1 (en) | Method and apparatus for the multiplexed acquisition of a bare die from a wafer | |
| US7644747B2 (en) | Rectangular substrate dividing apparatus | |
| US6515470B2 (en) | Method and apparatus for testing IC device | |
| US6461942B2 (en) | Semiconductor chip removing and conveying method and device | |
| EP3115795A1 (en) | Component handling assembly and method of handling components | |
| JP2003234392A (ja) | 半導体ウエハ搬送方法およびこれを用いた半導体ウエハ搬送装置 | |
| JPH10291645A (ja) | Ｉｃ用トレイ取出装置及びｉｃ用トレイ収納装置 | |
| KR101266150B1 (ko) | 칩 적층 디바이스 검사방법, 칩 적층 디바이스 재배열 유닛 및 칩 적층 디바이스용 검사장치 | |
| TWI689460B (zh) | 電子元件移料裝置及其應用之作業設備 | |
| JPH0964148A (ja) | ウェーハリングの供給・返送装置 | |
| TWI264781B (en) | Method for sticking adhesive tape for die bonding and method for mounting electronic component | |
| US6248201B1 (en) | Apparatus and method for chip processing | |
| US6521853B1 (en) | Method and apparatus for sorting semiconductor devices | |
| JPH11271199A (ja) | 全自動材料試験装置 | |
| US6123800A (en) | Method and apparatus for handling element on an adhesive film | |
| TW202147975A (zh) | 置料裝置及其應用之作業設備 | |
| CA2329356A1 (en) | Device and method for handling substrates | |
| JPS62210635A (ja) | 物体の分離方法及び装置 | |
| US20030201549A1 (en) | Pickup apparatus, pickup method and method for manufacturing semiconductor device | |
| JPS62106642A (ja) | ウェハリングの供給・返送方法 | |
| JPH08293538A (ja) | ピックアップ方法および装置 | |
| JP7478214B2 (ja) | フィルム結合モジュール、並びにそれを含む半導体ストリップ切断及び分類装備 | |
| JPH11258134A (ja) | 全自動材料試験装置 | |
| KR100380961B1 (ko) | 핸들러용 트레이 분리장치 | |
| JPH02210274A (ja) | 集積回路装置テスタ用ハンドラ及びそのハンドリング方法 |