JPH11261228A - Multilayered printed wiring board - Google Patents

Multilayered printed wiring board

Info

Publication number
JPH11261228A
JPH11261228A JP8253798A JP8253798A JPH11261228A JP H11261228 A JPH11261228 A JP H11261228A JP 8253798 A JP8253798 A JP 8253798A JP 8253798 A JP8253798 A JP 8253798A JP H11261228 A JPH11261228 A JP H11261228A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
wiring board
printed wiring
layer
resin
multilayer printed
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP8253798A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Motoo Asai
元雄 浅井
Hiroshi Segawa
博史 瀬川
Kota Noda
宏太 野田
Takashi Kariya
隆 苅谷
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP8253798A priority Critical patent/JPH11261228A/en
Publication of JPH11261228A publication Critical patent/JPH11261228A/en
Pending legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Production Of Multi-Layered Print Wiring Board (AREA)

Abstract

PROBLEM TO BE SOLVED: To provide a multilayered printed wiring board which has small dimensional changes in the X-Y and Z directions and less surface waviness and warping. SOLUTION: In a multilayered printed wiring board formed by alternately laminating interlayer resin insulating layers 50 and conductor layers 58 upon another on a core substrate 30, the core substrate 30 is formed by laminating six or more layers of prepreg 20 obtained by impregnating cloth, such as the glass cloth, etc., made of fibers having low thermal expansion with a bis(maleimide)triazine resin and having a thickness of <=0.15 mm upon another. The dimensional change and warping of the core substrate 30 formed of the prepreg 20, namely, the multilayered printed wiring board in the X-Y direction are prevented by increasing the number of the prepreg layers 20 by reducing the thickness of each prepreg layer 20.

Description

【発明の詳細な説明】DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION

【0001】[0001]

【発明の属する技術分野】この発明は、多層プリント配
線板に関し、特にはコア基板の表面に層間樹脂絶縁層と
導体層が交互に積層されてなる多層プリント配線板に関
するものである。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a multilayer printed wiring board, and more particularly to a multilayer printed wiring board in which interlayer resin insulating layers and conductor layers are alternately laminated on a surface of a core substrate.

【0002】[0002]

【従来の技術】近年、多層配線基板の高密度化という要
請から、いわゆるビルドアップ多層配線基板が注目され
ている。このビルドアップ多層配線基板は、例えば特公
平4−55555号公報に開示されているような方法に
より製造される。即ち、コア基板上に、感光性の無電解
めっき用接着剤からなる絶縁材を塗布し、これを乾燥し
たのち露光現像することにより、バイアホール用開口を
有する層間絶縁材層を形成する。次いで、この層間絶縁
材層の表面を酸化剤等による処理にて粗化したのち、そ
の粗化面にめっきレジストを設け、その後、レジスト非
形成部分に無電解めっきを施してバイアホールを含む導
体回路パターンを形成する。そして、このような工程を
複数回繰り返すことにより、多層化したビルドアップ配
線基板が得られる。
2. Description of the Related Art In recent years, so-called build-up multilayer wiring boards have been receiving attention due to a demand for higher density of the multilayer wiring boards. This build-up multilayer wiring board is manufactured by a method disclosed in, for example, Japanese Patent Publication No. 4-55555. That is, an insulating material made of a photosensitive adhesive for electroless plating is applied on the core substrate, dried, exposed and developed to form an interlayer insulating material layer having a via hole opening. Next, after roughening the surface of the interlayer insulating material layer by treatment with an oxidizing agent or the like, a plating resist is provided on the roughened surface, and then electroless plating is performed on a portion where no resist is formed, thereby forming a conductor including via holes. Form a circuit pattern. By repeating such a process a plurality of times, a multilayered build-up wiring board can be obtained.

【0003】[0003]

【発明が解決しようとする課題】このような多層プリン
ト配線板では、コア基板上にビルドアップ層を形成する
のであるが、しばしば、コア基板上の導体パッドとビル
ドアップ層のバイアホールの位置がずれてしまい良好な
接続が得られない、という問題が発生した。また、この
ようなビルドアップ多層配線板では、表面に半田バンプ
を形成してICチップを実装するが、しばしば反りが発
生してICチップを実装できなくなるという問題が発生
した。
In such a multilayer printed wiring board, a build-up layer is formed on a core substrate. In many cases, the positions of conductive pads on the core substrate and via holes in the build-up layer are different. There has been a problem that the connection is deviated and a good connection cannot be obtained. Further, in such a build-up multilayer wiring board, an IC chip is mounted by forming solder bumps on the surface. However, there is a problem that warpage often occurs and the IC chip cannot be mounted.

【0004】本発明は、上述した課題を解決するために
なされたものであり、その目的とするところは、X−Y
方向およびZ方向の寸法変化が小さく、表面のうねりお
よび反りの少ない多層プリント配線板を提供することに
ある。
[0004] The present invention has been made to solve the above-mentioned problems, and an object thereof is to provide an XY system.
It is an object of the present invention to provide a multilayer printed wiring board in which the dimensional change in the direction and the Z direction is small, and the surface undulation and warpage are small.

【0005】[0005]

【課題を解決するための手段】本願発明者らは鋭意研究
した結果、コア基板と相関絶縁材層のバイアホールの位
置ずれの原因が、コア基板がX−Y方向にずれることに
原因があることを知見した。また、多層プリント配線板
の反りの原因も、コア基板が反ることにあることを知見
した。さらに、コア基板の表面に形成されているビルト
アップ層の配線パターンが切れたり、ショートする。そ
の原因がコア基板のうねりにあること、また、ロールコ
ータの塗布厚にばらつきが見られる原因がZ方向の精度
不良によるものであることを知見した。従来、コア基板
は、厚さ0.2mmのプリプレグを3〜5枚重ねて厚さ
を0.6〜1mm程度にしている。しかし、厚さが0.
2mmのプリプレグでは、樹脂量が多くなり、該プリプ
レグを重ねてなる基板は、反り、うねりやX−Y方向、
Z方向の寸法変化を抑制できないことが判った。このた
め、本発明では、コア基板の少なくとも片面に層間樹脂
絶縁層と導体層が交互に積層されてなる多層プリント配
線板において、前記コア基板は、低熱膨張繊維の布に樹
脂が含浸された厚さ0.17mm以下のプリプレグを6
層以上積層して加熱プレスして形成してなることを技術
的特徴とする。また、もう一つの発明は、コア基板の少
なくとも片面に層間樹脂絶縁層と導体層が交互に積層さ
れてなる多層プリント配線板において、前記コア基板
は、低熱膨張率繊維の布に樹脂が含浸されたプリプレグ
を6層以上加熱プレスして形成されてなり、その一層当
たりの厚さが0.1mm以下であることを特徴とする多
層プリント配線板である。
Means for Solving the Problems As a result of intensive studies, the inventors of the present invention have found that the cause of the displacement of the via hole between the core substrate and the correlated insulating layer is due to the displacement of the core substrate in the X-Y direction. I found that. Further, the inventors have found that the cause of the warpage of the multilayer printed wiring board is also that the core substrate is warped. Further, the wiring pattern of the built-up layer formed on the surface of the core substrate is cut or short-circuited. It has been found that the cause is the undulation of the core substrate, and that the cause of the variation in the coating thickness of the roll coater is a poor accuracy in the Z direction. Conventionally, the core substrate has a thickness of about 0.6 to 1 mm by stacking three to five prepregs having a thickness of 0.2 mm. However, when the thickness is 0.
In the case of a 2 mm prepreg, the amount of resin is large, and the substrate formed by stacking the prepregs has warpage, undulation, XY directions,
It was found that the dimensional change in the Z direction could not be suppressed. Therefore, according to the present invention, in a multilayer printed wiring board in which an interlayer resin insulating layer and a conductor layer are alternately laminated on at least one surface of a core substrate, the core substrate has a low thermal expansion fiber cloth impregnated with a resin. 6 prepregs of 0.17mm or less
It is a technical feature that a plurality of layers are laminated and formed by heating and pressing. Further, another invention is a multilayer printed wiring board in which an interlayer resin insulating layer and a conductor layer are alternately laminated on at least one surface of a core substrate, wherein the core substrate is obtained by impregnating a resin with a low thermal expansion fiber cloth with a resin. A multi-layer printed wiring board characterized by being formed by heating and pressing six or more layers of prepreg, and having a thickness per layer of 0.1 mm or less.

【0006】本願発明では、樹脂含浸プリプレグの1枚
あたり厚みを薄くして、枚数を増やすことにより、プリ
プレグを積層してなるコア基板のX−Y方向、Z方向の
寸法変化及び反り、うねりを防止する。ここで、プリプ
レグの厚さは0.17mm(ここで、厚さとは加圧プレ
ス前のプリプレグの厚さを言う)以下がよい。これを超
えると樹脂量が増え、X−Y方向の寸法変化及び反りを
押さえ難くなるからである。なお、0.05mm以上が
よい。0.05mm未満になると多数枚を積層しても基
板としての強度が低下するためである。このようなプリ
プレグを加熱プレスすると、1層あたりの厚さが0.0
3mm〜0.1mmとなり、プレス後の1枚あたりの厚
みを薄くすることができる。また、プリプレグの枚数は
6枚以上がよい。枚数が少ない場合は、ビルドアップ層
の硬化収縮する際に、反りが大きくなるからである。な
お、15枚以下がよい。これは、枚数が多いと基板が重
くなるからである。
According to the invention of the present application, the thickness per sheet of the resin-impregnated prepreg is reduced and the number thereof is increased, so that the dimensional changes, warpage and undulation in the XY directions and Z directions of the core substrate formed by laminating the prepregs are reduced. To prevent. Here, the thickness of the prepreg is preferably 0.17 mm or less (here, the thickness refers to the thickness of the prepreg before pressing). If it exceeds this, the amount of resin increases, and it is difficult to suppress dimensional changes and warpage in the X-Y directions. In addition, 0.05 mm or more is good. If the thickness is less than 0.05 mm, the strength as a substrate is reduced even when a large number of sheets are laminated. When such a prepreg is hot pressed, the thickness per layer is 0.0
The thickness is 3 mm to 0.1 mm, and the thickness per sheet after pressing can be reduced. The number of prepregs is preferably 6 or more. This is because, when the number is small, the warpage increases when the build-up layer cures and contracts. In addition, 15 or less sheets are good. This is because the larger the number, the heavier the substrate.

【0007】上記低熱膨張繊維の布としては、石英、ガ
ラス、アルミナ、セラミックファイバー、酸化チタン、
アラミド繊維などがあるが、熱膨張係数が10ppm/
℃の繊維であるガラス布が最適である。
As the cloth of the low thermal expansion fiber, quartz, glass, alumina, ceramic fiber, titanium oxide,
Although there are aramid fibers, etc., the thermal expansion coefficient is 10 ppm /
A glass cloth which is a fiber of ° C. is optimal.

【0008】上記樹脂層は、フッ素樹脂、エポキシ樹
脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂、ポリイミド樹脂、
ポリエーテルスルフォン(PES)、ポリスルフォン
(PSF)、ポリフェニレンスルフォン(PPS)、ポ
リフェニレンサルファイド(PPES)、ポリフェニル
エーテル(PPE)、ポリエーテルイミド(PI)、ポ
リフェニレンオキシド(PPO)から選ばれる少なくと
も1種以上であることが望ましい。これらは、耐熱性に
優れているからである。
The resin layer is made of a fluororesin, an epoxy resin, a bismaleimide triazine resin, a polyimide resin,
At least one selected from polyethersulfone (PES), polysulfone (PSF), polyphenylene sulfone (PPS), polyphenylene sulfide (PPES), polyphenylether (PPE), polyetherimide (PI), and polyphenylene oxide (PPO) It is desirable that this is the case. This is because these are excellent in heat resistance.

【0009】本発明では、ビルドアップ層を構成する絶
縁層もしくは層間絶縁層として無電解めっき用接着剤を
用いることが望ましい。また、この無電解めっき用接着
剤は、硬化処理された酸あるいは酸化剤に可溶性の耐熱
性樹脂粒子が、酸あるいは酸化剤に難溶性の未硬化の耐
熱性樹脂中に分散されてなるものが最適である。これ
は、酸、酸化剤で処理することにより、耐熱性樹脂粒子
が溶解除去されて、表面に蛸つぼ状のアンカーからなる
粗化面を形成でき、上層との密着性を高め得るからであ
る。
In the present invention, it is desirable to use an adhesive for electroless plating as an insulating layer or an interlayer insulating layer constituting the build-up layer. In addition, the adhesive for electroless plating is obtained by dispersing heat-resistant resin particles soluble in a cured acid or oxidizing agent in an uncured heat-resistant resin hardly soluble in an acid or an oxidizing agent. Optimal. This is because, by treating with an acid and an oxidizing agent, the heat-resistant resin particles are dissolved and removed, and a roughened surface composed of an octopus pot-shaped anchor can be formed on the surface, and the adhesion with the upper layer can be increased. .

【0010】上記無電解めっき用接着剤において、特に
硬化処理された上記耐熱性樹脂粒子としては、平均粒
径が10μm以下の耐熱性樹脂粉末、平均粒径が2μ
m以下の耐熱性樹脂粉末を凝集させた凝集粒子、平均
粒径が2〜10μmの耐熱性樹脂粉末と平均粒径が2μ
m以下の耐熱性樹脂粉末との混合物、平均粒径が2〜
10μmの耐熱性樹脂粉末の表面に平均粒径が2μm以
下の耐熱性樹脂粉末または無機粉末のいずれか少なくと
も1種を付着させてなる疑似粒子、平均粒径が0.1
〜0.8μmの耐熱性樹脂粉末と平均粒径が0.8μm
を超え、2μm未満の耐熱性樹脂粉末との混合物、平
均粒径が0.1〜1.0μmの耐熱性樹脂粉末を用いる
ことが望ましい。これらは、より複雑なアンカーを形成
でき、密着性を高め得るからである。
In the above-mentioned adhesive for electroless plating, the heat-resistant resin particles particularly subjected to the curing treatment include a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 10 μm or less, and an average particle diameter of 2 μm.
agglomerated particles obtained by aggregating a heat-resistant resin powder having a particle size of 2 m or less, a heat-resistant resin powder having an average particle size of 2 to 10 μm and an average particle size of 2
m and a mixture with a heat-resistant resin powder having a mean particle size of 2 or less.
Pseudo particles obtained by adhering at least one of a heat-resistant resin powder or an inorganic powder having an average particle diameter of 2 μm or less to the surface of a 10 μm heat-resistant resin powder, and an average particle diameter of 0.1 μm.
~ 0.8μm heat resistant resin powder and average particle size 0.8μm
It is desirable to use a mixture with a heat-resistant resin powder having a particle size exceeding 2 μm and a heat-resistant resin powder having an average particle diameter of 0.1 to 1.0 μm. This is because these can form a more complicated anchor and can enhance the adhesion.

【0011】なお、粗化面の深さは、Rmax=0.0
1〜20μmがよい。これは、密着性を確保するためで
ある。特にセミアディティブ法では、0.1〜5μmが
よい。密着性を確保しつつ、無電解めっき膜を除去でき
るからである。
The depth of the roughened surface is Rmax = 0.0
1-20 μm is preferred. This is to ensure adhesion. In particular, in the semi-additive method, 0.1 to 5 μm is preferable. This is because the electroless plating film can be removed while ensuring adhesion.

【0012】[0012]

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態に係るプ
リント配線板を製造する工程について説明する。 (1)コア基板を作製する。 未硬化の熱硬化性樹脂(エポキシ樹脂)を有機溶剤に
溶解させた含浸液、又は熱可塑性樹脂を有機溶剤に溶解
させた含浸液に低熱膨張率繊維の布を浸漬した後、布の
表面をゴムローラや樹脂製のブレードなどでしごいき、
乾燥させて、厚み0.17mm以下のBステージ状態の
プリプレグとする。
DETAILED DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS A process for manufacturing a printed wiring board according to an embodiment of the present invention will be described below. (1) Produce a core substrate. After immersing the cloth of low thermal expansion fiber in an impregnating liquid in which uncured thermosetting resin (epoxy resin) is dissolved in an organic solvent, or an impregnating liquid in which a thermoplastic resin is dissolved in an organic solvent, the surface of the cloth is Squeeze with rubber rollers or resin blades,
The prepreg is dried to form a B-stage prepreg having a thickness of 0.17 mm or less.

【0013】この厚さ0.17mm以下のBステージ
のプリプレグを6〜15枚積層し、その両面に厚さ10
〜20μmの銅箔を積層して加熱プレスして銅張積層板
とする。加熱温度は樹脂により異なるが、100〜30
0℃である。加熱プレスして後のプリプレグの1層あた
り厚さは0.1mm以下である。この銅張積層板をエッ
チングして表面に導体回路を形成する。さらに、上記配
線基板の下層導体回路表面に銅−ニッケル−リンからな
る粗化層を形成する。粗化層は、無電解めっきにより形
成する。めっき液組成としては、銅イオン濃度、ニッケ
ルイオン濃度、次亜リン酸イオン濃度は、それぞれ2.
2×10-2〜4.1×10-2mol/l、2.2×10
-3〜4.1×10-3mol/l、0.20〜0.25m
ol/lであることが望ましい。これは、該範囲で析出
する被膜の結晶構造は針伏構造になるため、アンカー効
果に優れるからである。無電解めっき液には、上記化合
物に加えて錯化剤や添加剤を加えてもよい。
[0013] Six to fifteen B-stage prepregs having a thickness of 0.17 mm or less are laminated, and a
A copper foil of up to 20 μm is laminated and hot pressed to form a copper-clad laminate. The heating temperature depends on the resin,
0 ° C. The thickness per layer of the prepreg after the hot pressing is 0.1 mm or less. The copper clad laminate is etched to form a conductor circuit on the surface. Further, a roughened layer made of copper-nickel-phosphorus is formed on the lower conductive circuit surface of the wiring board. The roughened layer is formed by electroless plating. As the plating solution composition, the copper ion concentration, the nickel ion concentration, and the hypophosphite ion concentration were each 2.
2 × 10 -2 to 4.1 × 10 -2 mol / l, 2.2 × 10
−3 to 4.1 × 10 −3 mol / l, 0.20 to 0.25 m
ol / l is desirable. This is because the crystal structure of the film deposited in this range has a needle-like structure, and thus has an excellent anchor effect. A complexing agent or an additive may be added to the electroless plating solution in addition to the above compounds.

【0014】粗化層の形成方法としては、この他に前述
した酸化−還元処理、銅表面を粒界に沿ってエッチング
して粗化面を形成する方法などがある。なお、コア基板
には、表面と裏面の配線層を電気的に接続するためのス
ルーホールを形成する。このスルーホールおよびコア基
板の導体回路間に、樹脂を充填し基板の平滑性を高める
ことも可能である。
Other methods of forming the roughened layer include the above-described oxidation-reduction treatment and a method of forming a roughened surface by etching the copper surface along grain boundaries. Note that a through hole for electrically connecting the wiring layer on the front surface and the back surface is formed in the core substrate. A resin may be filled between the through hole and the conductor circuit of the core substrate to improve the smoothness of the substrate.

【0015】(2)次に、上記(1)で作製した配線基
板の上に、層間樹脂絶縁層を形成する。特に本発明で
は、層間樹脂絶縁材として前述した無電解めっき用接着
剤を用いることが望ましい。
(2) Next, an interlayer resin insulating layer is formed on the wiring board manufactured in the above (1). In particular, in the present invention, it is desirable to use the above-mentioned adhesive for electroless plating as an interlayer resin insulating material.

【0016】(3)形成した無電解めっき用接着剤層を
乾燥した後、必要に応じてバイアホール形成用開口を設
ける。感光性樹脂の場合は、露光、現像してから熱硬化
することにより、また、熱硬化性樹脂の場合は、熱硬化
したのちレーザ加工することにより、上記接着剤層にバ
イアホール形成用の開口部を設ける。
(3) After the formed adhesive layer for electroless plating is dried, openings for forming via holes are provided if necessary. In the case of a photosensitive resin, an opening for forming a via hole is formed in the adhesive layer by exposing and developing and then thermosetting, and in the case of a thermosetting resin, by thermosetting and then laser processing. Section is provided.

【0017】(4)次に、硬化した上記接着剤層の表面
に存在するエポキシ樹脂粒子を酸あるいは酸化剤によっ
て溶解除去し、接着剤層表面を粗化処理する。ここで、
酸としては、リン酸、塩酸、硫酸、あるいは蟻酸や酢酸
などの有機酸を用いることも可能であるが、特に有機酸
を用いることが望ましい。これは、粗化処理した場合
に、バイアホールから露出する金属導体層を腐食させに
くいからである。一方、上記酸化剤としては、クロム
酸、過マンガン酸塩(過マンガン酸カリウムなど)を用
いることが望ましい。
(4) Next, the epoxy resin particles present on the surface of the cured adhesive layer are dissolved and removed with an acid or an oxidizing agent to roughen the surface of the adhesive layer. here,
As the acid, it is possible to use phosphoric acid, hydrochloric acid, sulfuric acid, or an organic acid such as formic acid or acetic acid, but it is particularly preferable to use an organic acid. This is because, when the roughening treatment is performed, the metal conductor layer exposed from the via hole is hardly corroded. On the other hand, it is desirable to use chromic acid and permanganate (such as potassium permanganate) as the oxidizing agent.

【0018】(5)次に、接着剤層表面を粗化した配線
基板に触媒核を付与する。触媒核の付与には、貴金属イ
オンや貴金属コロイドなどを用いることが望ましく、一
般的には、塩化パラジウムやパラジウムコロイドを使用
する。なお、触媒核を固定するために加熱処理を行うこ
とが好適である。このような触媒核としてはパラジウム
がよい。
(5) Next, a catalyst nucleus is applied to the wiring board whose surface of the adhesive layer is roughened. It is desirable to use a noble metal ion or a noble metal colloid for providing the catalyst nucleus, and generally, palladium chloride or a palladium colloid is used. Note that heat treatment is preferably performed to fix the catalyst core. Palladium is preferred as such a catalyst core.

【0019】(6)次に、無電解めっき用接着剤表面に
無電解めっきを施し、粗化面全面に無電解めっき膜を形
成する。無電解めっき膜の厚みは1〜5μm、より望ま
しくは2〜3μmである。つぎに、無電解めっき膜上に
めっきレジストを形成する。めっきレジスト組成物とし
ては、特にクレゾールノボラックやフェノールノボラッ
ク型エポキシ樹脂のアクリレートとイミダゾール硬化剤
からなる組成物を用いることが望ましいが、他に市販品
のドライフィルムを使用することも可能である。
(6) Next, electroless plating is applied to the surface of the adhesive for electroless plating to form an electroless plating film on the entire roughened surface. The thickness of the electroless plating film is 1 to 5 μm, and more preferably 2 to 3 μm. Next, a plating resist is formed on the electroless plating film. As the plating resist composition, it is particularly desirable to use a composition comprising an acrylate of a cresol novolak or a phenol novolak type epoxy resin and an imidazole curing agent, but it is also possible to use a commercially available dry film.

【0020】(7)次に、めっきレジスト非形成部に電
解めっきを施し、導体回路、ならびにバイアホールを形
成する。無電解めっきとしては、銅めっきを用いること
が望ましい。
(7) Next, electrolytic plating is applied to the portion where the plating resist is not formed to form a conductor circuit and a via hole. It is desirable to use copper plating as the electroless plating.

【0021】(8)さらに、めっきレジストを除去した
後、硫酸と過酸化水素の混合液や過硫酸ナトリウム、過
硫酸アンモニウムなどのエッチング液で無電解めっき膜
を溶解除去して、上記電解めっき膜を独立した導体回路
とする。
(8) After removing the plating resist, the electroless plating film is dissolved and removed with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide or an etching solution such as sodium persulfate and ammonium persulfate. Independent conductor circuits.

【0022】(9)次に導体回路の表面に粗化層を形成
する。粗化層の形成方法としては、エッチング処理、研
磨処理、酸化還元処理、めっき処理がある。酸化還元処
理は、NaOH(10g/l)、NaClO2 (40g
/l)、Na3 PO4 (6g/l)を酸化浴(黒化
浴)、NaOH(10g/l)、NaBH4 (5g/
l)を還元浴とする。
(9) Next, a roughened layer is formed on the surface of the conductor circuit. Examples of the method of forming the roughened layer include an etching process, a polishing process, an oxidation-reduction process, and a plating process. The oxidation-reduction treatment is performed by using NaOH (10 g / l), NaClO 2 (40 g / l).
/ L), Na 3 PO 4 (6 g / l) in an oxidation bath (blackening bath), NaOH (10 g / l), NaBH 4 (5 g / l).
l) is used as a reducing bath.

【0023】また、銅−ニッケル−リン合金層による粗
化層を形成する場合には、無電解めっきにより析出させ
る。この合金の無電解めっき液としては、硫酸銅1〜4
0g/l、硫酸ニッケル0.1〜6.0g/l、クエン
酸10〜20g/l、次亜リン酸塩10〜100g/
l、ホウ酸10〜40g/l、界面活性剤0.01〜1
0g/lからなる液組成のめっき浴を用いることが望ま
しい。
When forming a roughened layer of a copper-nickel-phosphorus alloy layer, it is deposited by electroless plating. As an electroless plating solution for this alloy, copper sulfate 1-4
0 g / l, nickel sulfate 0.1-6.0 g / l, citric acid 10-20 g / l, hypophosphite 10-100 g / l
1, boric acid 10 to 40 g / l, surfactant 0.01 to 1
It is desirable to use a plating bath having a liquid composition of 0 g / l.

【0024】(10)次に、この基板上に層間樹脂絶縁
層として、無電解めっき用接着剤層を形成する。 (11)さらに、(3)〜(8)の工程を繰り返してさ
らに上層の導体回路を設け、半田パッドとして機能する
平板状導体パッドとバイアホールを形成する。 (12)ついで導体パッドとバイアホール表面に粗化層
を設ける。粗化層の形成方法としては、(9)で説明し
たものと同様である。
(10) Next, an adhesive layer for electroless plating is formed on the substrate as an interlayer resin insulating layer. (11) Further, the steps (3) to (8) are repeated to provide a further upper layer conductive circuit, and a flat conductive pad functioning as a solder pad and a via hole are formed. (12) Next, a roughening layer is provided on the surface of the conductive pad and the via hole. The method of forming the roughened layer is the same as that described in (9).

【0025】(13)次に、上記(12)の処理を終え
たプリント配線板の両面に、ソルダーレジスト組成物を
塗布する。プリント配線板の両面にソルダーレジスト層
を塗布する際に、上記プリント配線板を垂直に立てた状
態でロールコータの一対の塗布用ロールのロール間に挟
み、下側から上側へ搬送させて基板の両面にソルダーレ
ジスト組成物を同時に塗布することが望ましい。この理
由は、現在のプリント配線板の基本仕様は両面であり、
カーテンコート法(樹脂を滝のように上から下へ流し、
この樹脂の<カーテン>に基板をくぐらせて塗布する方
法)では、片面しか塗布できないからである。前述した
ソルダーレジスト組成物は、両面同時に塗布する上記方
法のために使用できる。即ち、前述したソルダーレジス
ト組成物は、粘度が25℃で1〜10Pa・sであるた
め、基板を垂直に立てて塗布しても流れず、また転写も
良好である。
(13) Next, a solder resist composition is applied to both sides of the printed wiring board after the treatment of the above (12). When applying a solder resist layer to both sides of the printed wiring board, sandwich the printed wiring board between a pair of application rolls of a roll coater in a state where the printed wiring board is set upright, and transport the printed wiring board from the lower side to the upper side to remove the printed circuit board. It is desirable to apply the solder resist composition on both sides simultaneously. The reason for this is that the current basic specifications of printed wiring boards are both sides,
Curtain coat method (flow resin from top to bottom like a waterfall,
This is because the method of applying the substrate by passing it through the resin <curtain>) can only be applied on one side. The above-mentioned solder resist composition can be used for the above-mentioned method of applying simultaneously on both sides. That is, since the above-mentioned solder resist composition has a viscosity of 1 to 10 Pa · s at 25 ° C., it does not flow even when the substrate is set upright and the transfer is good.

【0026】(14)次に、ソルダーレジスト組成物の
塗膜を60〜80℃で5〜60分間乾燥し、この塗膜
に、開口部を描画したフォトマスクフィルムを載置して
露光、現像処理することにより、導体回路のうちパッド
部分を露出させた開口部を形成する。このようにして開
口部を形成した塗膜を、さらに80℃〜150℃で1〜
10時間の熱処理により硬化させる。これにより、開口
部を有するソルダーレジスト層は導体回路の表面に設け
た粗化層と密着する。
(14) Next, the coating film of the solder resist composition is dried at 60 to 80 ° C. for 5 to 60 minutes, and a photomask film having an opening formed thereon is placed on the coating film to expose and develop. The processing forms an opening exposing the pad portion of the conductor circuit. The coating film having an opening formed in this way is further treated at 80 ° C to 150 ° C for 1 to 1 hour.
It is cured by heat treatment for 10 hours. Thereby, the solder resist layer having the opening is in close contact with the roughened layer provided on the surface of the conductor circuit.

【0027】ここで、上記開口部の開口径は、パッドの
径よりも大きくすることができ、パッドを完全に露出さ
せてもよい。この場合、フォトマスクがずれてもパッド
がソルダーレジストで被覆されることはなく、またソル
ダーレジストがはんだ体に接触せず、はんだ体にくびれ
が生じないため、クラックが発生しにくくなる。逆に、
上記開口部の開口径は、パッドの径よりも小さくするこ
とができ、この場合、パッド表面の粗化層とソルダーレ
ジストが密着する。また、いわゆるセミアディティブ法
を採用する場合は、無電解めっき用接着剤の粗化層の深
さが浅くなり(1〜3μm)、まためっきレジストがな
いのでパッドが剥離しやすいが、ソルダーレジストの開
口部の開口径を、パッドの径よりも小さくして、パッド
の一部をソルダーレジスト層で被覆することにより、パ
ッド剥離を抑制することができる。
Here, the diameter of the opening may be larger than the diameter of the pad, and the pad may be completely exposed. In this case, even if the photomask is displaced, the pad is not covered with the solder resist, the solder resist does not contact the solder body, and the solder body does not become constricted, so that cracks hardly occur. vice versa,
The diameter of the opening can be smaller than the diameter of the pad. In this case, the roughened layer on the pad surface and the solder resist are in close contact with each other. Further, when the so-called semi-additive method is adopted, the depth of the roughened layer of the adhesive for electroless plating is reduced (1 to 3 μm), and the pad is easily peeled off because there is no plating resist. By making the opening diameter of the opening smaller than the pad diameter and covering a part of the pad with a solder resist layer, pad peeling can be suppressed.

【0028】(15)さらに、補強層を形成する。補強
層は、例えばエポキシ樹脂のアクリレート、ポリエーテ
ルスルフォン(PES)、エポキシ樹脂粒子、イミダゾ
ール硬化剤からなる樹脂組成物を印刷し、紫外線露光処
理、さらに80℃〜150℃で1〜10時間の熱処理に
より硬化させて、厚さ5〜50μmの補強層を形成す
る。
(15) Further, a reinforcing layer is formed. The reinforcing layer is formed by printing a resin composition composed of, for example, an acrylate of an epoxy resin, polyethersulfone (PES), epoxy resin particles, and an imidazole curing agent, performing an ultraviolet exposure treatment, and further performing a heat treatment at 80 ° C. to 150 ° C. for 1 to 10 hours. To form a reinforcing layer having a thickness of 5 to 50 μm.

【0029】(16)次に、上記開口部から露出した上
記半田パッド部上に「ニッケル−金」の金属層を形成す
る。 (17)次に、上記開口部から露出した上記半田パッド
部上にはんだ体を供給する。はんだ体の供給方法として
は、はんだ転写法や印刷法を用いることができる。ここ
で、はんだ転写法は、プリプレグにはんだ箔を貼合わせ
し、このはんだ箔を開口部分に相当する箇所のみを残し
てエッチングすることによりはんだパターンを形成して
はんだキャリアフィルムとし、このはんだキャリアフィ
ルムを、基板のソルダーレジスト開口部分にフラックス
を塗布した後、はんだパターンがパッドに接触するよう
に積層し、これを加熱して転写する方法である。一方、
印刷法は、バッドに相当する箇所に貫通孔を設けたメタ
ルマスクを基板に載置し、はんだペーストを印刷して加
熱処理する方法である。
(16) Next, a "nickel-gold" metal layer is formed on the solder pad exposed from the opening. (17) Next, a solder body is supplied onto the solder pad portion exposed from the opening. As a method of supplying the solder body, a solder transfer method or a printing method can be used. Here, in the solder transfer method, a solder foil is attached to a prepreg, and the solder foil is etched leaving only a portion corresponding to an opening portion to form a solder pattern to form a solder carrier film. Is applied to a solder resist opening portion of a substrate, and then laminated such that a solder pattern is in contact with a pad, which is heated and transferred. on the other hand,
The printing method is a method in which a metal mask having a through-hole provided at a position corresponding to a pad is placed on a substrate, and a solder paste is printed and heated.

【0030】[0030]

【実施例】引き続き、本発明の実施例に係る多層プリン
ト配線板の製造方法について説明する。ここでは先ず、
多層プリント配線板の製造に用いる無電解めっき用接着
剤組成物、下層の層間樹脂絶縁剤、樹脂充填剤の調製、
ソルダーレジスト層の補強層組成物について説明する。 A.無電解めっき用接着剤組成物の調製 クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製:
分子量2500)の25%アクリル化物を35重量部、
感光性モノマー(東亜合成製:商品名アロニックスM3
15)3.15重量部、消泡剤(サンノプコ製 S−6
5)0.5重量部、NMPを3.6重量部を撹拌混合し
た。
Next, a method of manufacturing a multilayer printed wiring board according to an embodiment of the present invention will be described. Here, first,
Preparation of adhesive composition for electroless plating used for production of multilayer printed wiring board, lower interlayer resin insulation agent, resin filler,
The reinforcing layer composition of the solder resist layer will be described. A. Preparation of adhesive composition for electroless plating Cresol novolak type epoxy resin (Nippon Kayaku:
35% by weight of a 25% acrylate having a molecular weight of 2500)
Photosensitive monomer (Toagosei Co., Ltd .: trade name Aronix M3)
15) 3.15 parts by weight of an antifoaming agent (S-6 manufactured by San Nopco)
5) 0.5 parts by weight and 3.6 parts by weight of NMP were mixed with stirring.

【0031】ポリエーテルスルフォン(PES)12
重量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成製 商品名 ポリ
マーポール)の平均粒径1.0μmを7.2重量部、平
均粒径0.5μmのものを3.09重量部を混合した
後、さらにNMP30重量部を添加し、ビーズミルで撹
拌混合した。
Polyether sulfone (PES) 12
After mixing 7.2 parts by weight of an average particle diameter of 1.0 μm and 3.09 parts by weight of an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Kasei Co., Ltd., polymer pole) of 3.09 parts by weight, NMP30 Parts by weight were added and mixed by stirring with a bead mill.

【0032】イミダゾール硬化剤(四国化成製:商品
名2E4MZ−CN)2重量部、光開始剤(チバガイギ
ー製 イルガキュア I−907)2重量部、光増感剤
(日本化薬製:DETX−S)0.2重量部、NMP
1.5重量部を撹拌混合した。 これらを混合して無電解めっき用接着剤組成物を得た。
2 parts by weight of an imidazole curing agent (trade name: 2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), 2 parts by weight of a photoinitiator (Irgacure I-907, manufactured by Ciba Geigy), and a photosensitizer (DETX-S, manufactured by Nippon Kayaku) 0.2 parts by weight, NMP
1.5 parts by weight were stirred and mixed. These were mixed to obtain an adhesive composition for electroless plating.

【0033】B.下層の層間樹脂絶縁剤の調製 クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製:
分子量2500)の25%アクリル化物を35重量部、
感光性モノマー(東亜合成製:商品名アロニックスM3
15)4重量部、消泡剤(サンノプコ製 S−65)
0.5重量部、NMPを3.6重量部を撹拌混合した。
B. Preparation of lower interlayer resin insulation agent Cresol novolak type epoxy resin (Nippon Kayaku:
35% by weight of a 25% acrylate having a molecular weight of 2500)
Photosensitive monomer (Toagosei Co., Ltd .: trade name Aronix M3)
15) 4 parts by weight, antifoaming agent (S-65, manufactured by San Nopco)
0.5 parts by weight and 3.6 parts by weight of NMP were stirred and mixed.

【0034】ポリエーテルスルフォン(PES)12
重量部、エポキシ樹脂粒子(三洋化成製 商品名 ポリ
マーポール)の平均粒径0.5μmのものを14.49
重量部、を混合した後、さらにNMP30重量部を添加
し、ビーズミルで撹拌混合した。
Polyether sulfone (PES) 12
14.49 parts by weight of an epoxy resin particle (manufactured by Sanyo Chemical Industries, trade name: Polymer Pole) having an average particle size of 0.5 μm.
Parts by weight, 30 parts by weight of NMP were further added, and the mixture was stirred and mixed by a bead mill.

【0035】イミダゾール硬化剤(四国化成製:商品
名2E4MZ−CN)2重量部、光開始剤(チバガイギ
ー製 イルガキュアI−907)2重量部、光増感剤
(日本化薬製:DETX−S)0.2重量部、NMP
1.5重量部を撹拌混合した。 これらを混合して下層の樹脂絶縁剤組成物を得た。
2 parts by weight of an imidazole curing agent (trade name: 2E4MZ-CN, manufactured by Shikoku Chemicals), 2 parts by weight of a photoinitiator (Irgacure I-907, manufactured by Ciba Geigy), and a photosensitizer (DETX-S, manufactured by Nippon Kayaku) 0.2 parts by weight, NMP
1.5 parts by weight were stirred and mixed. These were mixed to obtain a lower layer resin insulating composition.

【0036】C.樹脂充填剤の調整 ビスフェノールF型エポキシモノマー(油化シェル
製、分子量310、商品名:YL983U)100重量
部と平均粒径1.6μmで表面にシランカップリング剤
がコーティングされたSiO2 球状粒子(アドマテック
製、CRS1101−CE、ここで、最大粒子の大きさ
は後述する内層銅パターンの厚み(12μm)以下とす
る)170重量部、レベリング剤(サンノプコ製、商品
名ペレノールS4)1.5重量部を3本ロールにて混練
した。これにより、その混合物の粘度を23±1℃で4
5,000〜49,000cpsに調整した。 イミダゾール硬化剤(四国化成製、商品名:2E4M
Z−CN)6.5重量部。 これらを混合して樹脂充填剤の調整をした。
C. Preparation of Resin Filler 100 parts by weight of bisphenol F type epoxy monomer (manufactured by Yuka Shell, molecular weight: 310, trade name: YL983U) and SiO 2 spherical particles having an average particle diameter of 1.6 μm and coated with a silane coupling agent on the surface ( CRS1101-CE, manufactured by Admatech, where the maximum particle size is 170 parts by weight of the thickness of the inner layer copper pattern to be described later (12 μm or less), and 1.5 parts by weight of a leveling agent (manufactured by San Nopco, trade name Perenol S4) Was kneaded with three rolls. This gives the mixture a viscosity of 4 at 23 ± 1 ° C.
It was adjusted to 5,000 to 49,000 cps. Imidazole curing agent (Shikoku Chemicals, trade name: 2E4M
Z-CN) 6.5 parts by weight. These were mixed to adjust the resin filler.

【0037】D.ソルダーレジスト層の補強層組成物の
調整 クレゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製:
分子量2500)の25%アクリル化物を35重量部、
感光性モノマー(東亜合成製:商品名アロニックスM3
15)4重量部、消泡剤(サンノプコ製 S−65)
0.5重量部、NMPを3.6重量部を撹拌混合した。 ポリエーテルスルフォン(PES)12重量部、エポ
キシ樹脂粒子(三洋化成製 商品名 ポリマーポール)
の平均粒径0.5μmのものを14.49重量部、を混
合した後、さらにNMP30重量部を添加し、ビーズミ
ルで撹拌混合した。 イミダゾール硬化剤(四国化成製:商品名2E4MZ
−CN)2重量部、光開始剤(チバガイギー製 イルガ
キュアI−907)2重量部、光増感剤(日本化薬製:
DETX−S)0.2重量部、NMP1.5重量部を撹
拌混合した。 これらを混合して補強層用の樹脂組成物を得た。
D. Preparation of reinforcing layer composition of solder resist layer Cresol novolak type epoxy resin (Nippon Kayaku:
35% by weight of a 25% acrylate having a molecular weight of 2500)
Photosensitive monomer (Toagosei Co., Ltd .: trade name Aronix M3)
15) 4 parts by weight, antifoaming agent (S-65, manufactured by San Nopco)
0.5 parts by weight and 3.6 parts by weight of NMP were stirred and mixed. 12 parts by weight of polyether sulfone (PES), epoxy resin particles (Sanyo Kasei's product name Polymer Pole)
Was mixed with 14.49 parts by weight of a powder having an average particle size of 0.5 μm, and then 30 parts by weight of NMP was further added, followed by stirring and mixing with a bead mill. Imidazole curing agent (Shikoku Chemicals: trade name 2E4MZ
-CN) 2 parts by weight, photoinitiator (Irgacure I-907 manufactured by Ciba Geigy) 2 parts by weight, photosensitizer (Nippon Kayaku:
0.2 parts by weight of DETX-S) and 1.5 parts by weight of NMP were stirred and mixed. These were mixed to obtain a resin composition for a reinforcing layer.

【0038】引き続き、多層プリント配線板の製造工程
について図を参照して説明する。 (1)ガラス布10にビスマレイミドトリアジン樹脂の
前駆体溶液を浸漬し、これをゴムローラでしごいて、厚
みを0.12mmに調整し、テフロンシートで挟みこん
で、80℃で3時間乾燥させて、Bステージ状態のプリ
プレグ20とし、その厚みを0.1mmとした(図1参
照)。
Next, the manufacturing process of the multilayer printed wiring board will be described with reference to the drawings. (1) A precursor solution of a bismaleimide triazine resin is immersed in a glass cloth 10, squeezed with a rubber roller, adjusted to a thickness of 0.12 mm, sandwiched between Teflon sheets, and dried at 80 ° C. for 3 hours. Thus, the prepreg 20 in the B-stage state was set to have a thickness of 0.1 mm (see FIG. 1).

【0039】図2に示すようにこのプリプレグ20を1
3枚積層し(便宜上8枚のみ図示する)、さらにその両
面に厚さ12μmの銅箔32を積層する。これらを20
kg/cm2 の圧力、温度150℃で3時間加熱して、
図3に示すように厚さ約0.8mmの銅張ビスマレイミ
ドトリアジン樹脂基板30Aを得る。ここで、各プリプ
レグ20の厚みは、平均0.06mmである。この銅張
板30Aをドリル削孔し、めっきレジストを形成した
後、図4に示すように無電解めっき処理してスルーホー
ル36を形成し、さらに、銅箔を常法に従いパターン状
にエッチングすることにより、基板の両面に内層銅パタ
ーン34を形成して、コア基板とした。
As shown in FIG. 2, this prepreg 20 is
Three sheets are laminated (only eight sheets are shown for convenience), and a copper foil 32 having a thickness of 12 μm is further laminated on both surfaces thereof. These are 20
Heat at a pressure of kg / cm 2 at a temperature of 150 ° C. for 3 hours,
As shown in FIG. 3, a copper-clad bismaleimide triazine resin substrate 30A having a thickness of about 0.8 mm is obtained. Here, the thickness of each prepreg 20 is 0.06 mm on average. After drilling holes in the copper clad plate 30A to form a plating resist, as shown in FIG. 4, electroless plating is performed to form through holes 36, and the copper foil is etched in a pattern according to a conventional method. Thereby, the inner layer copper pattern 34 was formed on both surfaces of the substrate to obtain a core substrate.

【0040】(2)内層銅パターン34を形成したコア
基板30を水洗いし、乾燥した後、NaOH(10g/
l)、NaClO2 (40g/l)、Na3 PO4 (6
g/l)を酸化浴(黒化浴)とし、図5に示すように導
体回路34、スルーホール36全表面に粗化層38を設
けた。 (3)上述した製造方法よりなる樹脂充填剤40を、図
6に示すように基板30の両面にロールコータを用いて
塗布することにより、導体回路間34あるいはスルーホ
ール36内に充填し、次いで100℃で1時間、120
℃で3時間、150℃で1時間、180℃で7時間の加
熱処理を行って硬化した。即ち、この工程により、樹脂
充填剤40が内層銅パターン34の間あるいはスルーホ
ール36内に充填される。
(2) The core substrate 30 on which the inner layer copper pattern 34 is formed is washed with water and dried, and then NaOH (10 g /
l), NaClO 2 (40 g / l), Na 3 PO 4 (6
g / l) was used as an oxidation bath (blackening bath), and a roughened layer 38 was provided on the entire surface of the conductor circuit 34 and the through hole 36 as shown in FIG. (3) The resin filler 40 formed by the above-described manufacturing method is applied to both surfaces of the substrate 30 using a roll coater as shown in FIG. 1 hour at 100 ° C, 120
The composition was cured by performing a heat treatment at 300C for 3 hours, 150C for 1 hour, and 180C for 7 hours. That is, in this step, the resin filler 40 is filled between the inner layer copper patterns 34 or in the through holes 36.

【0041】(4)上記(3)の処理を終えた基板30
の片面を、♯600のベルト研磨紙(三共理化学製)を
用いたベルトサンダー研磨により、図7に示すように内
層銅パターン34の表面やスルーホール36のランド表
面に樹脂充填剤40が残らないように研磨する。次い
で、上記ベルトサンダー研磨による傷を取り除くための
バフ研磨を行った。このような一連の研磨を基板40の
他方の面についても同様に行った。そして、図8に示す
ようにスルーホール36等に充填された樹脂充填剤40
および導体回路34上面の粗化層38を除去して、基板
両面を樹脂充填剤40にて平滑化し、樹脂充填剤40と
導体回路34の側面とが粗化層38を介して密着し、ま
たスルーホール36の内壁と樹脂充填剤40とが粗化層
38を介して密着したコア基板30を得た。即ち、この
工程により、樹脂充填剤40の表面と内層銅パターン3
4の表面が同一平面となる。ここで、硬化樹脂のTg点
は155.6℃、線熱膨張係数は44.5×10-6/℃
であった。
(4) The substrate 30 after the processing of the above (3)
As shown in FIG. 7, the resin filler 40 does not remain on the surface of the inner layer copper pattern 34 or the land surface of the through hole 36 by belt sanding using # 600 belt abrasive paper (manufactured by Sankyo Rikagaku). So that it is polished. Next, buffing was performed to remove scratches caused by the belt sander polishing. Such a series of polishing was similarly performed on the other surface of the substrate 40. Then, as shown in FIG. 8, the resin filler 40 filled in the through holes 36 and the like is formed.
Also, the roughened layer 38 on the upper surface of the conductor circuit 34 is removed, and both surfaces of the substrate are smoothed with the resin filler 40, and the resin filler 40 and the side surface of the conductor circuit 34 adhere to each other via the roughened layer 38, The core substrate 30 in which the inner wall of the through hole 36 and the resin filler 40 were in close contact with each other via the roughened layer 38 was obtained. That is, by this step, the surface of the resin filler 40 and the inner layer copper pattern 3
4 are coplanar. Here, the Tg point of the cured resin is 155.6 ° C., and the coefficient of linear thermal expansion is 44.5 × 10 −6 / ° C.
Met.

【0042】(5)さらに、図9に示すように露出した
導体回路34およびスルーホール36のランドの上面に
Cu−Ni−P合金の厚さ2.5μmの粗化層(凹凸
層)42および該粗化層の表面に0.3μmの厚さのS
n層(図示せず)を設けた。
(5) Further, as shown in FIG. 9, a 2.5 μm-thick roughened layer (irregular layer) 42 of a Cu—Ni—P alloy is formed on the exposed top surface of the conductor circuit 34 and the land of the through hole 36. 0.3 μm-thick S is formed on the surface of the roughened layer.
An n-layer (not shown) was provided.

【0043】この粗化層(凹凸層)42の形成方法は次
のようである。基板30を酸性脱脂してソフトエッチン
グし、次いで、塩化パラジウムと有機酸からなる触媒溶
液で処理して、Pd触媒を付与し、この触媒を活性化し
た後、硫酸銅8g/l、硫酸ニッケル0.6g/l、ク
エン酸15g/l、次亜リン酸ナトリウム29g/l、
ホウ酸31g/l、界面活性剤0.1g/l、pH=9
からなる無電解めっき浴にてめっきを施し、銅製の導体
回路34およびスルーホール(内壁を含む)36の全表
面にCu−Ni−P合金の粗化層を設けた。ついで、ホ
ウフッ化スズ0.1mol/l、チオ尿素1.0mol
/l、温度50℃、pH=1.2の条件でCu−Sn置
換反応させ、粗化層42の表面に0.3μmの厚さのS
n層を設けた(Sn層については図示しない)。
The method of forming the roughened layer (irregular layer) 42 is as follows. The substrate 30 was acid-degreased and soft-etched, and then treated with a catalyst solution comprising palladium chloride and an organic acid to provide a Pd catalyst. After activating this catalyst, copper sulfate 8 g / l and nickel sulfate 0 0.6 g / l, citric acid 15 g / l, sodium hypophosphite 29 g / l,
Boric acid 31 g / l, surfactant 0.1 g / l, pH = 9
, And a roughened layer of a Cu-Ni-P alloy was provided on the entire surface of the copper conductor circuit 34 and the through holes (including the inner wall) 36. Then, tin borofluoride 0.1 mol / l, thiourea 1.0 mol
/ L, a temperature of 50 ° C., and a pH = 1.2, and a Cu—Sn substitution reaction is performed, and a 0.3 μm-thick S
An n layer was provided (the Sn layer is not shown).

【0044】(6)基板30の両面に、上述した(B)
の製造方法による層間樹脂絶縁剤(粘度1.5Pa・
s)44をロールコータで図10に示すように塗布し、
水平状態で20分間放置してから、60℃で30分の乾
燥を行い、ついで、(A)の製造方法による無電解めっ
き用接着剤46をロールコータを用いて塗布し、水平状
態で20分間放置してから、60℃で30分の乾燥を行
い、厚さ35μmの接着剤層50を形成した。
(6) The above-mentioned (B) is formed on both sides of the substrate 30.
Resin insulation agent (viscosity 1.5Pa.
s) 44 is applied by a roll coater as shown in FIG.
After being left in a horizontal state for 20 minutes, drying is performed at 60 ° C. for 30 minutes. Then, an adhesive 46 for electroless plating according to the manufacturing method of (A) is applied using a roll coater, and is then left in a horizontal state for 20 minutes. After standing, drying was performed at 60 ° C. for 30 minutes to form an adhesive layer 50 having a thickness of 35 μm.

【0045】(7)上記(6)で接着剤層50を形成し
た基板の両面に、85μmφの黒円が印刷されたフォト
マスクフィルム(図示せず)を密着させ、超高圧水銀灯
により500mJ/cm2 で露光した。これをDMDG
溶液でスプレー現像することにより、図11に示すよう
に接着剤層50に85μmφのバイアホールとなる開口
48を形成した。さらに、当該基板を超高圧水銀灯によ
り3000mJ/cm2で露光し、100℃で1時間、
その後150℃で5時間の加熱処理をすることにより、
フォトマスクフィルムに相当する寸法精度に優れた開口
(バイアホール形成用開口)48を有する厚さ35μm
の層間絶縁材層(接着剤層)50を形成した。なお、バ
イアホールとなる開口48には、図示しないスズめっき
層を部分的に露出させた。
(7) A photomask film (not shown) on which a black circle of 85 μmφ is printed is brought into close contact with both surfaces of the substrate on which the adhesive layer 50 is formed in the above (6), and is 500 mJ / cm by an ultra-high pressure mercury lamp. Exposure at 2 . This is DMDG
By performing spray development with a solution, an opening 48 serving as a 85 μmφ via hole was formed in the adhesive layer 50 as shown in FIG. Further, the substrate was exposed at 3000 mJ / cm 2 by an ultra-high pressure mercury lamp, and was exposed at 100 ° C. for 1 hour.
After that, by performing a heat treatment at 150 ° C. for 5 hours,
35 μm thick with openings (openings for forming via holes) 48 with excellent dimensional accuracy equivalent to a photomask film
An interlayer insulating material layer (adhesive layer) 50 was formed. Note that a tin plating layer (not shown) was partially exposed in the opening 48 serving as a via hole.

【0046】(8)上記(7)の処理を施した基板を、
800g/lのクロム酸に70℃で19分間浸漬して、
樹脂粒子を溶解除去して表面を粗化し、図12に示すよ
うに深さ3μmの粗化面51を得た。その後、中和溶液
(シプレイ杜製)に浸漬してから水洗いした。さらに、
粗面化処理した該基板30の表面に、パラジウム触媒
(アトテック製)を付与することにより、層間絶縁材層
50の表面およびバイアホール用開口48の内壁面に触
媒核を付けた。
(8) The substrate subjected to the process (7) is
Immersed in 800 g / l chromic acid at 70 ° C. for 19 minutes,
The surface was roughened by dissolving and removing the resin particles to obtain a roughened surface 51 having a depth of 3 μm as shown in FIG. Then, it was immersed in a neutralization solution (manufactured by Shipley Mori) and washed with water. further,
By applying a palladium catalyst (manufactured by Atotech) to the surface of the roughened substrate 30, a catalyst nucleus was attached to the surface of the interlayer insulating material layer 50 and the inner wall surface of the via hole opening 48.

【0047】(9)以下の組成の無電解銅めっき浴中に
基板を浸漬して、図13に示すように粗面全体に厚さ
1.6μmの無電解銅めっき膜52を形成した。 無電解めっき液 EDTA 150 g/l 硫酸銅 20 g/l HCHO 30ml/l NaOH 40 g/l α、α’−ビピリジル 80mg/l PEG 0.1g/l 無電解めっき条件 70℃の液温度で30分
(9) The substrate was immersed in an electroless copper plating bath having the following composition to form an electroless copper plating film 52 having a thickness of 1.6 μm on the entire rough surface as shown in FIG. Electroless plating solution EDTA 150 g / l Copper sulfate 20 g / l HCHO 30 ml / l NaOH 40 g / l α, α'-bipyridyl 80 mg / l PEG 0.1 g / l Electroless plating conditions 30 at a liquid temperature of 70 ° C. Minute

【0048】(10)市販の感光性ドライフィルムを無
電解銅めっき膜に張り付け、マスクを載置して、100
mJ/cm2 で露光、0.8%炭酸ナトリウムで現像処
理し、図14に示すように厚さ15μmのめっきレジス
ト54を設けた。
(10) A commercially available photosensitive dry film is adhered to the electroless copper plating film, and a mask is placed on the film.
Exposure at mJ / cm 2 and development processing with 0.8% sodium carbonate provided a plating resist 54 having a thickness of 15 μm as shown in FIG.

【0049】(11)ついで、以下の条件で電解銅めっ
きを施し、図15に示すように厚さ15μmの電解銅め
っき膜56を形成した。 電解めっき液 硫酸 180 g/l 硫酸銅 80 g/l 添加剤(アトテックジャパン製 商品名カパラシドGL) 1ml/l 電解めっき条件 電流密度 1A/dm2 時間 30分 温度 室温
(11) Next, electrolytic copper plating was performed under the following conditions to form an electrolytic copper plating film 56 having a thickness of 15 μm as shown in FIG. Electrolytic plating solution Sulfuric acid 180 g / l Copper sulfate 80 g / l Additive (trade name: Capparaside GL, manufactured by Atotech Japan) 1 ml / l Electroplating conditions Current density 1 A / dm 2 hours 30 minutes Temperature Room temperature

【0050】(12)めっきレジスト54を5%KOH
で剥離除去した後、硫酸と過酸化水素混合液でエッチン
グを行い、図16に示すようにめっきレジスト54下の
無電解めっき膜52を溶解除去し、無電解銅めっき膜5
2と電解銅めっき膜56からなる厚さ18μmの導体回
路58及びバイアホール60を形成した。さらに、70
℃で800g/lのクロム酸に3分間浸漬して、導体回
路58、バイアホール60間の無電解めっき用接着剤層
表面を1μmエッチング処理し、表面のパラジウム触媒
を除去した。
(12) The plating resist 54 is made of 5% KOH
Then, etching is performed with a mixed solution of sulfuric acid and hydrogen peroxide to dissolve and remove the electroless plating film 52 under the plating resist 54 as shown in FIG.
2 and an electrolytic copper plating film 56, a conductor circuit 58 having a thickness of 18 μm and a via hole 60 were formed. In addition, 70
The surface of the adhesive layer for electroless plating between the conductor circuit 58 and the via hole 60 was subjected to an etching treatment of 1 μm at a temperature of 800 ° C. for 3 minutes in 800 g / l chromic acid to remove the palladium catalyst on the surface.

【0051】(13)導体回路58を形成した基板30
を、硫酸銅8g/l、硫酸ニッケル0.6g/l、クエ
ン酸15g/l、次亜リン酸ナトリウム29g/l、ホ
ウ酸31g/l、界面活性剤0.1g/lからなるpH
=9の無電解めっき液に浸漬し、図17に示すように該
導体回路58及びバイアホール60の表面に厚さ3μm
の銅−ニッケル−リンからなる粗化層62を形成した。
粗化層62をEPMA(蛍光X線分析装置)で分析した
ところ、Cu98mol%、Ni1.5mol%、P
0.5mol%の組成比を示した。ついで、ホウフッ化
スズ0.1mol/l、チオ尿素1.0mol/l、温
度50℃、pH=1.2の条件でCu−Sn置換反応さ
せ、粗化層62の表面に0.3μmの厚さのSn層を設
けた(Sn層については図示しない)。
(13) Substrate 30 on which conductor circuit 58 is formed
Was prepared by adding 8 g / l of copper sulfate, 0.6 g / l of nickel sulfate, 15 g / l of citric acid, 29 g / l of sodium hypophosphite, 31 g / l of boric acid, and 0.1 g / l of a surfactant.
= 9, and a thickness of 3 μm was applied to the surface of the conductor circuit 58 and the via hole 60 as shown in FIG.
A roughened layer 62 made of copper-nickel-phosphorus was formed.
When the roughened layer 62 was analyzed by EPMA (X-ray fluorescence spectrometer), Cu 98 mol%, Ni 1.5 mol%, P
The composition ratio was 0.5 mol%. Then, a Cu—Sn substitution reaction was performed under the conditions of tin borofluoride 0.1 mol / l, thiourea 1.0 mol / l, temperature 50 ° C., and pH = 1.2, and a 0.3 μm thick layer was formed on the surface of the roughened layer 62. (The Sn layer is not shown).

【0052】(14)(2)〜(10)の工程を繰り返
すことにより、さらに上層の導体回路を形成する。即
ち、基板30の両面に、層間樹脂絶縁剤(下層用)をロ
ールコ一夕で塗布し、絶縁剤層144を形成する。ま
た、この絶縁剤層144の上に無電解めっき用接着剤
(上層用)をロールコ一タを用いて塗布し、接着剤層1
46を形成する(図18参照)。絶縁剤層144および
接着剤層146を形成した基板30の両面に、フォトマ
スクフィルムを密着させ、露光・現像し、開口(バイア
ホール形成用開口)148を有する層間樹脂絶縁層15
0を形成した後、該層間樹脂絶縁層150の表面を粗面
とする(図19参照)。その後、該粗面化処理した該基
板30の表面に、無電解銅めっき膜152を形成する
(図20参照)。引き続き、無電解銅めっき膜152上
にめっきレジスト154を設けた後、レジスト非形成部
分に電解銅めっき膜156を形成する(図21参照)。
そして、めっきレジスト154をKOHで剥離除去した
後、そのめっきレジスト154下の無電解めっき膜15
2を溶解除去し導体回路158及びバイアホール160
を形成する(図22参照)。さらに、該導体回路158
及びバイアホール160の表面に粗化層162を形成
し、多層プリント配線板を完成する(図23参照)。な
お、この上層の導体回路を形成する工程においては、S
n置換は行わない。
(14) By repeating the steps (2) to (10), a conductor circuit in a further upper layer is formed. That is, an interlayer resin insulating agent (for the lower layer) is applied to both surfaces of the substrate 30 with a roller to form an insulating agent layer 144. Also, an adhesive for electroless plating (for upper layer) is applied on the insulating layer 144 using a roll coater, and the adhesive layer 1 is formed.
46 are formed (see FIG. 18). A photomask film is brought into close contact with both sides of the substrate 30 on which the insulating layer 144 and the adhesive layer 146 are formed, exposed and developed, and the interlayer resin insulating layer 15 having an opening (opening for forming a via hole) 148 is formed.
After forming 0, the surface of the interlayer resin insulating layer 150 is roughened (see FIG. 19). Thereafter, an electroless copper plating film 152 is formed on the surface of the substrate 30 subjected to the surface roughening treatment (see FIG. 20). Subsequently, after a plating resist 154 is provided on the electroless copper plating film 152, an electrolytic copper plating film 156 is formed on a portion where no resist is formed (see FIG. 21).
Then, after the plating resist 154 is peeled off with KOH, the electroless plating film 15 under the plating resist 154 is removed.
2 and the conductor circuit 158 and the via hole 160
Is formed (see FIG. 22). Further, the conductor circuit 158
Then, a roughened layer 162 is formed on the surface of the via hole 160 to complete a multilayer printed wiring board (see FIG. 23). In the process of forming the upper conductive circuit, S
No n-substitution is performed.

【0053】(15)そして、上述した多層プリント配
線板にはんだバンプを形成する。先ず、はんだバンプ用
のソルダーレジスト組成物の調整について説明する。ク
レゾールノボラック型エポキシ樹脂(日本化薬製)のエ
ポキシ基50%をアクリル化した感光性付与のオリゴマ
ー(分子量4000)を46.67重量部、ビスフェノ
ールA型エポキシ樹脂(油化シェル製、エビコート10
01)14.121重量部、イミダゾール硬化剤(四国
化成製、商品名:2E4MZ−CN)1.6重量部、感
光性モノマーである多価アクリルモノマー(日本化薬
製、商品名:R604)1.5重量部、同じく多価アク
リルモノマー(共栄社化学製、商品名:DPE6A)
3.0重量部、アクリル酸エステル重合物からなるレベ
リング剤(共栄社製、商品名:ポリフローNo.75:
0.36重量部を混合し、さらにこの混合物に対して光
開始剤としてのイルガキュアI907(チバガイギー
製)2.0重量部、光増感剤としてのDETX−S(日
本化薬製)0.2重量部加えて、DGDG(ジメチレン
グリコールジメチルエーテル)1.0重量部加え、粘度
を25℃で1.4±0.3Pa・sに調整したソルダー
レジスト組成物を得た。なお、粘度測定は、B型粘度計
(東京計器、DVL−B型)で60rpmの場合はロー
ターNo.4、6rpmの場合はローターNo.3によ
った。
(15) Then, solder bumps are formed on the above-mentioned multilayer printed wiring board. First, adjustment of the solder resist composition for a solder bump will be described. A cresol novolak type epoxy resin (manufactured by Nippon Kayaku Co., Ltd.) is provided with 46.67 parts by weight of a photosensitizing oligomer (molecular weight 4000) in which 50% of epoxy groups are acrylated, and a bisphenol A type epoxy resin (manufactured by Yuka Shell, shrimp coat 10).
01) 14.121 parts by weight, 1.6 parts by weight of an imidazole curing agent (manufactured by Shikoku Chemicals, trade name: 2E4MZ-CN), and a polyvalent acrylic monomer as a photosensitive monomer (manufactured by Nippon Kayaku, trade name: R604) 1 0.5 parts by weight, similarly polyvalent acrylic monomer (manufactured by Kyoeisha Chemical, trade name: DPE6A)
3.0 parts by weight of a leveling agent composed of an acrylate polymer (manufactured by Kyoeisha, trade name: Polyflow No. 75:
0.36 parts by weight, and 2.0 parts by weight of Irgacure I907 (manufactured by Ciba-Geigy) as a photoinitiator, and 0.2 parts by weight of DETX-S (manufactured by Nippon Kayaku) as a photosensitizer. 1.0 part by weight of DGDG (dimethylene glycol dimethyl ether) was added to obtain a solder resist composition having a viscosity adjusted to 1.4 ± 0.3 Pa · s at 25 ° C. The viscosity was measured using a B-type viscometer (Tokyo Keiki, DVL-B type) at 60 rpm with a rotor No. In the case of 4, 6 rpm, the rotor No. According to 3.

【0054】(16)基板にソルダーレジスト組成物を
20μmの厚さで塗布した。次いで、70℃で20分
間、70℃で30分間の乾燥処理を行った後、1000
mJ/cm2 の紫外線で露光し、DMTG現像処理し
た。さらに、80℃で1時間、100℃で1時間、12
0℃で1時間、150℃で3時間の条件で加熱処理し、
図24に示すようにパッド部分に対応する開口部71を
設けた(開口径200μm)ソルダーレジスト層(厚み
20μm)70を形成した。
(16) The solder resist composition was applied to the substrate to a thickness of 20 μm. Next, after performing a drying process at 70 ° C. for 20 minutes and at 70 ° C. for 30 minutes,
It was exposed to ultraviolet rays of mJ / cm 2 and subjected to DMTG development processing. Further, at 80 ° C. for 1 hour, at 100 ° C. for 1 hour, 12
Heat treatment at 0 ° C. for 1 hour and 150 ° C. for 3 hours,
As shown in FIG. 24, a solder resist layer (thickness: 20 μm) 70 having an opening 71 corresponding to the pad portion (opening diameter: 200 μm) was formed.

【0055】(17)上記(D)のソルダーレジスト層
を補強するための補強層用樹脂組成物をソルダーレジス
トの開口群の周囲に塗布し、1000mJ/cm2 で露
光し、さらに80℃で1時間、100℃で1時間、12
0℃で1時間、150℃で3時間の条件で加熱処理し、
図25に示すように厚さ40μmの補強層78を形成し
た。
(17) The resin composition for reinforcing layer for reinforcing the solder resist layer of (D) is applied around the openings of the solder resist, exposed to 1000 mJ / cm 2 , and further exposed at 80 ° C. for 1 hour. Time, 1 hour at 100 ° C, 12
Heat treatment at 0 ° C. for 1 hour and 150 ° C. for 3 hours,
As shown in FIG. 25, a reinforcing layer 78 having a thickness of 40 μm was formed.

【0056】(18)次に、ソルダーレジスト層70及
び補強層78を形成した基板30を、塩化ニッケル30
g/l、次亜リン酸ナトリウム10g/l、クエン酸ナ
トリウム10g/lからなるpH=5の無電解ニッケル
めっき液に20分間浸漬して、図26に示すように開口
部71に厚さ5μmのニッケルめっき層72を形成し
た。さらに、その基板30を、シアン化金カリウム2g
/l、塩化アンモニウム75g/l、クエン酸ナトリウ
ム50g/l、次亜リン酸ナトリウム10g/lからな
る無電解金めっき液に93℃の条件で23秒間浸漬し
て、ニッケルめっき層上に厚さ0.03μmの金めっき
層74を形成した。 (19)そして、ソルダーレジスト層70の開口部71
に、はんだペーストを印刷して、200℃でリフローす
ることによりはんだバンプ76を形成する。この基板
は、多数個取り用に形成されているため、完成した基板
を裁断することにより数枚のはんだパンプを有するプリ
ント配線板を製造した。
(18) Next, the substrate 30 on which the solder resist layer 70 and the reinforcing layer 78 are formed is replaced with a nickel chloride 30
g / l, 10 g / l of sodium hypophosphite, and 10 g / l of sodium citrate, were immersed in an electroless nickel plating solution having a pH of 5 for 20 minutes. As shown in FIG. Was formed. Further, the substrate 30 is made of 2 g of potassium potassium cyanide.
/ L, 75 g / l of ammonium chloride, 50 g / l of sodium citrate, and 10 g / l of sodium hypophosphite at 93 ° C for 23 seconds under an electroless gold plating solution. A 0.03 μm gold plating layer 74 was formed. (19) The opening 71 of the solder resist layer 70
Then, a solder paste is printed and reflowed at 200 ° C. to form a solder bump 76. Since this substrate was formed for multi-piece production, a printed wiring board having several solder pumps was manufactured by cutting the completed substrate.

【0057】(比較例)比較例の多層プリント配線板
は、実施例の多層プリント配線板と同様にして配線層を
ビルトアップしてあるが、コア基板のみが異なる。即
ち、コア基板として、0.2mmの厚さのプリプレグを
4枚重ねた厚さを0.8mmのものを用いた。なお、実
施例及び比較例の多層プリント配線板は、共に縦340
mm、横250mmの大きさである。
(Comparative Example) The multilayer printed wiring board of the comparative example has the wiring layers built up in the same manner as the multilayer printed wiring board of the embodiment, but differs only in the core substrate. That is, a core substrate having a thickness of 0.8 mm obtained by stacking four prepregs having a thickness of 0.2 mm was used. Note that the multilayer printed wiring boards of the example and the comparative example both have a vertical length of 340.
mm and a width of 250 mm.

【0058】A.コア基板の内層パッドとバイアホール
の位置ずれ。 実施例では位置ずれは知見されないが、比較例では、バ
イアホールと内層パッドに位置ずれが確認された。 B.反り量 実施例の多層プリント配線板の反り量は最大で70μm
であったが、比較例では150μmであった。このよう
に、実施例の多層プリント配線板では、X−Y方向の寸
法変化及び反り量を抑制できることが判明した。 C.厚み精度 実施例では、コア基板の厚さは0.8±0.05mmで
あり、コア基板の厚さのばらつきに起因する不良は発生
しなかった。
A. Misalignment between inner layer pad of core substrate and via hole. In the example, no displacement was found, but in the comparative example, displacement between the via hole and the inner layer pad was confirmed. B. The amount of warpage The amount of warpage of the multilayer printed wiring board of the example is 70 μm at the maximum.
It was 150 μm in the comparative example. Thus, it has been found that the multilayer printed wiring board of the example can suppress the dimensional change and the amount of warpage in the XY directions. C. Thickness Accuracy In the example, the thickness of the core substrate was 0.8 ± 0.05 mm, and no defect due to the variation in the thickness of the core substrate occurred.

【0059】比較例ではコア基板の厚さは0.8±0.
10mmであり、ロールコータの塗布厚さにばらつきが
発生して、バイアホール用の開口が形成されなかった
り、過剰現像により、剥離が発生した。
In the comparative example, the thickness of the core substrate is 0.8 ± 0.2.
The thickness was 10 mm, and the coating thickness of the roll coater fluctuated, so that openings for via holes were not formed or peeling occurred due to excessive development.

【0060】D.表面うねり 実施例では、コア基板の表面のうねりが0.010mm
であり、パターンが切れたり、ショートしたりするとい
う不良は発生しなかった。
D. Surface undulation In the example, the undulation of the surface of the core substrate is 0.010 mm.
In this case, there was no defect that the pattern was cut or short-circuited.

【0061】比較例では、コア基板の表面のうねりが
0.030mmであり、めっきレジストが追従せずに、
露光現像の不良により、パターンが切れたり、パターン
間のめっきレジスト下にめっき液が浸入してパターン間
を導通させたりしてショートが発生した。
In the comparative example, the undulation of the surface of the core substrate was 0.030 mm, and the plating resist did not follow,
Due to poor exposure and development, the pattern was cut, or a plating solution penetrated under the plating resist between the patterns to make the patterns conductive, thereby causing a short circuit.

【0062】[0062]

【発明の効果】以上のように、本発明のプリント配線板
によれば、X−Y方向及びZ方向の寸法変化を抑制でき
る。このため、コア基板の内層パッド(スルーホール)
と層間樹脂絶縁層のバイアホールとを適切に接続するこ
とが可能となる。また、表面のうねり及び反り量を抑制
できるので、ICチップを確実に実装することができ
る。
As described above, according to the printed wiring board of the present invention, dimensional changes in the X-Y and Z directions can be suppressed. Therefore, the inner layer pad (through hole) of the core substrate
And via holes in the interlayer resin insulation layer can be appropriately connected. In addition, since the amount of undulation and warpage of the surface can be suppressed, the IC chip can be reliably mounted.

【図面の簡単な説明】[Brief description of the drawings]

【図1】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 1 is a diagram illustrating a manufacturing process of a multilayer printed wiring board according to a first embodiment of the present invention.

【図2】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 2 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図3】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 3 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図4】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 4 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図5】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 5 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図6】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 6 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図7】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 7 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図8】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 8 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図9】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配線
板の製造工程を示す図である。
FIG. 9 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図10】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 10 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図11】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 11 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図12】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 12 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図13】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 13 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図14】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 14 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図15】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 15 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図16】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 16 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図17】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 17 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図18】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 18 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図19】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 19 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図20】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 20 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図21】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 21 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図22】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 22 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図23】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 23 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図24】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 24 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図25】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 25 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【図26】本発明の第1実施形態に係る多層プリント配
線板の製造工程を示す図である。
FIG. 26 is a diagram illustrating a manufacturing process of the multilayer printed wiring board according to the first embodiment of the present invention.

【符号の説明】[Explanation of symbols]

10 ガラス布 20 プリプレグ 30 銅張ビスマイミドトリアジン樹脂基板 32 銅箔 48 バイアホール用開口 50 層間樹脂絶縁層 52 無電解めっき 56 電解めっき 60 バイアホール Reference Signs List 10 glass cloth 20 prepreg 30 copper-clad bismimide triazine resin substrate 32 copper foil 48 opening for via hole 50 interlayer resin insulation layer 52 electroless plating 56 electrolytic plating 60 via hole

───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 苅谷 隆 岐阜県揖斐郡揖斐川町北方1−1 イビデ ン株式会社大垣北工場内 ──────────────────────────────────────────────────続 き Continuing on the front page (72) Takashi Kariya, Inventor 1-1, northern Ibigawa-cho, Ibi-gun, Gifu Prefecture Inside the Ogaki-Kita Plant of Ibiden Co., Ltd.

Claims (4)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】 コア基板の少なくとも片面に層間樹脂絶
縁層と導体層が交互に積層されてなる多層プリント配線
板において、 前記コア基板は、低熱膨張率繊維の布に樹脂が含浸され
た厚さ0.17mm以下のプリプレグを6層以上積層し
て形成してなることを特徴とする多層プリント配線板。
1. A multilayer printed wiring board in which an interlayer resin insulating layer and a conductor layer are alternately laminated on at least one surface of a core substrate, wherein the core substrate has a low thermal expansion fiber cloth impregnated with resin. A multilayer printed wiring board formed by laminating six or more prepregs each having a thickness of 0.17 mm or less.
【請求項2】コア基板の少なくとも片面に層間樹脂絶縁
層と導体層が交互に積層されてなる多層プリント配線板
において、 前記コア基板は、低熱膨張率繊維の布に樹脂が含浸され
たプリプレグを6層以上加熱プレスして形成されてな
り、その一層当たりの厚さが0.1mm以下であること
を特徴とする多層プリント配線板。
2. A multilayer printed wiring board in which an interlayer resin insulating layer and a conductor layer are alternately laminated on at least one surface of a core substrate, wherein the core substrate comprises a prepreg obtained by impregnating a resin into a low thermal expansion fiber cloth. A multilayer printed wiring board formed by heat-pressing at least six layers and having a thickness of 0.1 mm or less per layer.
【請求項3】 低熱膨張率繊維の布は、ガラス布である
請求項1または2に記載の多層プリント配線板。
3. The multilayer printed wiring board according to claim 1, wherein the low thermal expansion fiber cloth is a glass cloth.
【請求項4】 前記樹脂層は、フッ素樹脂、エポキシ樹
脂、ビスマレイミドトリアジン樹脂、ポリイミド樹脂、
ポリエーテルスルフォン(PES)、ポリスルフォン
(PSF)、ポリフェニレンスルフォン(PPS)、ポ
リフェニレンサルファイド(PPES)、ポリフェニル
エーテル(PPE)、ポリエーテルイミド(PI)、ポ
リフェニレンオキシド(PPO)から選ばれる少なくと
も1種以上である請求項1〜請求項3のいずれか1つに
記載の多層プリント配線板。
4. The resin layer is made of a fluorine resin, an epoxy resin, a bismaleimide triazine resin, a polyimide resin,
At least one selected from polyethersulfone (PES), polysulfone (PSF), polyphenylene sulfone (PPS), polyphenylene sulfide (PPES), polyphenylether (PPE), polyetherimide (PI), and polyphenylene oxide (PPO) The multilayer printed wiring board according to any one of claims 1 to 3, which is as described above.
JP8253798A 1998-03-13 1998-03-13 Multilayered printed wiring board Pending JPH11261228A (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8253798A JPH11261228A (en) 1998-03-13 1998-03-13 Multilayered printed wiring board

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP8253798A JPH11261228A (en) 1998-03-13 1998-03-13 Multilayered printed wiring board

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH11261228A true JPH11261228A (en) 1999-09-24

Family

ID=13777268

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP8253798A Pending JPH11261228A (en) 1998-03-13 1998-03-13 Multilayered printed wiring board

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH11261228A (en)

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002261432A (en) * 2000-12-26 2002-09-13 Ibiden Co Ltd Method of manufacturing multilayer printed wiring board
US8410375B2 (en) 2007-10-05 2013-04-02 Shinko Electric Industries Co., Ltd. Wiring board and method of manufacturing the same
JP2013140907A (en) * 2012-01-06 2013-07-18 Ibiden Co Ltd Printed wiring board and manufacturing method of the same
JP2014027284A (en) * 2012-07-30 2014-02-06 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd Printed circuit board and manufacturing method of the same
KR20150094625A (en) 2012-12-11 2015-08-19 미쓰이금속광업주식회사 Multilayer printed circuit board and manufacturing method thereof

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002261432A (en) * 2000-12-26 2002-09-13 Ibiden Co Ltd Method of manufacturing multilayer printed wiring board
JP4707273B2 (en) * 2000-12-26 2011-06-22 イビデン株式会社 Manufacturing method of multilayer printed wiring board
US8410375B2 (en) 2007-10-05 2013-04-02 Shinko Electric Industries Co., Ltd. Wiring board and method of manufacturing the same
JP2013140907A (en) * 2012-01-06 2013-07-18 Ibiden Co Ltd Printed wiring board and manufacturing method of the same
JP2014027284A (en) * 2012-07-30 2014-02-06 Samsung Electro-Mechanics Co Ltd Printed circuit board and manufacturing method of the same
KR20150094625A (en) 2012-12-11 2015-08-19 미쓰이금속광업주식회사 Multilayer printed circuit board and manufacturing method thereof

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6376052B1 (en) Multilayer printed wiring board and its production process, resin composition for filling through-hole
WO1999034655A1 (en) Multilayer printed wiring board
US6248428B1 (en) Adhesive for electroless plating, raw material composition for preparing adhesive for electroless plating and printed wiring board
WO2000018202A1 (en) Multilayer build-up wiring board
JP2000165046A (en) Multilayer built-up wiring board
JP3311977B2 (en) Adhesive for electroless plating and multilayer printed wiring board
JP4722904B2 (en) Multilayer printed circuit board manufacturing method
JP2000068650A (en) Multi-layered printed wiring board
JP4442832B2 (en) Multilayer printed wiring board
JP2000114727A (en) Multilayer printed wiring board
JPH10256724A (en) Multilayer printed circuit board
JPH11214846A (en) Multilayer printed wiring board
JPH11261228A (en) Multilayered printed wiring board
JP4159136B2 (en) Multilayer printed wiring board
JP3152633B2 (en) Multilayer printed wiring board and method of manufacturing the same
JPH10126040A (en) Manufacture of printed wiring board
JP4117951B2 (en) Multilayer printed wiring board manufacturing method and multilayer printed wiring board
JP3261314B2 (en) Method of manufacturing multilayer printed wiring board and multilayer printed wiring board
JP2000077851A (en) Manufacture of multilayer printed wiring board
JPH10284835A (en) Manufacture of printed wiring board
JPH10190224A (en) Multilayer printed wiring board and its manufacture
JP3300653B2 (en) Adhesive for electroless plating and multilayer printed wiring board
JPH11199738A (en) Fluororesin composition and multilayer printed wiring board
JP2000138456A (en) Multilayered printed wiring board and its manufacture
JPH10242639A (en) Multilyer printed wiring board and its manufacturing method