JPH11260781A - 基板処理装置 - Google Patents

基板処理装置

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JPH11260781A
JPH11260781A JP7847898A JP7847898A JPH11260781A JP H11260781 A JPH11260781 A JP H11260781A JP 7847898 A JP7847898 A JP 7847898A JP 7847898 A JP7847898 A JP 7847898A JP H11260781 A JPH11260781 A JP H11260781A
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JP
Japan
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substrate
ultrasonic vibration
processing apparatus
substrate processing
fluid
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Pending
Application number
JP7847898A
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English (en)
Inventor
Sadao Hirae
貞雄 平得
Takamasa Sakai
高正 坂井
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Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
Original Assignee
Dainippon Screen Manufacturing Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 従来の回転式基板処理装置とは異なる方式で
基板の処理を行うことのできる技術を提供する。 【解決手段】 基板処理装置は、振動面に超音波振動を
発生させる超音波振動発生部と、基板の処理に用いられ
る流体を振動面と基板との間に供給する流体供給部と、
超音波振動発生部と液体供給部との動作を制御する制御
部と、を備える。この制御部は、振動面に超音波振動の
進行波を発生させることによって、振動面と前記基板と
の間に供給された流体を移動させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、半導体ウェハ、
フォトマスク用のガラス基板、液晶表示装置用のガラス
基板、光ディスク用の基板等の基板の処理を行なうため
の基板処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】基板処理装置の一種類として、基板を回
転させつつ基板表面の処理を行う回転式基板処理装置が
ある。回転式基板処理装置では、基板を高速に回転させ
た状態で薬液などを基板表面に供給することによって、
各種の処理(薬液塗布、洗浄、乾燥等)が行われる。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年では、
半導体デバイスの高集積化に伴って半導体ウェハの大口
径化が進行しており、また、液晶パネル基板も大サイズ
化する傾向にある。しかし、従来の回転式基板処理装置
では、基板の大サイズ化に従って基板の保持が困難にな
るなどの種々の問題が発生すると予想される。そこで、
基板の大サイズ化に対処するために、従来の回転式基板
処理装置とは異なる方式で基板の処理を行うことのでき
る技術が要求されていた。
【0004】この発明は、従来技術における上述の課題
を解決するためになされたものであり、従来の回転式基
板処理装置とは異なる方式で基板の処理を行うことので
きる技術を提供することを目的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段およびその作用・効果】上
述の課題の少なくとも一部を解決するため、本発明の基
板処理装置は、基板の処理を行う基板処理装置であっ
て、前記基板の一方の面に対向してほぼ平行な状態に位
置決めされる振動面を有し、前記振動面に超音波振動を
発生させる超音波振動発生部と、前記基板の処理に用い
られる流体を、前記振動面と前記基板との間に供給する
流体供給部と、前記超音波振動発生部と前記流体供給部
との動作を制御する制御部と、を備え、前記制御部は、
前記振動面に超音波振動の進行波を発生させることによ
って、前記振動面と前記基板との間に供給された前記流
体を移動させることを特徴とする。
【0006】この基板処理装置では、超音波振動の進行
波による流体の移動という、従来とは異なる原理に基づ
く方式によって、基板の処理を行うことができる。従っ
て、例えば基板の大サイズ化に伴う種々の問題を回避で
きる可能性がある。
【0007】上記基板処理装置において、前記制御部
は、前記振動面上の略円環状の領域の周方向に沿って前
記進行波が伝播するように前記超音波振動発生部に前記
超音波振動を発生させ、前記流体供給部は、前記超音波
振動発生部のほぼ中央を貫通するように設けられた流路
を少なくとも有し、前記流路から前記振動面と前記基板
との間に前記流体を供給するようにしてもよい。
【0008】こうすれば、基板のほぼ中央付近に流体が
供給され、これが超音波振動の進行波に従って回転す
る。
【0009】上記基板処理装置において、前記超音波振
動発生部は、前記制御部から与えられる交流駆動信号を
それぞれ受ける複数の分割電極を備え、前記複数の分割
電極は全体として前記振動面上の略円環状の領域にほぼ
対応する略円環状の形状を有しており、前記制御部は、
前記進行波の進行速度に関連する比較的周波数の低い第
1の周波数成分と比較的周波数の高い第2の周波数成分
とを重畳させた周波数特性をそれぞれ有する複数の交流
駆動信号を前記複数の分割電極に供給することによっ
て、前記振動面に超音波振動の進行波を発生させるよう
にしてもよい。
【0010】このように、進行波の進行速度に関連する
周波数を有する第1の周波数成分と、これより高い周波
数を有する第2の周波数成分を重畳させれば、第2の周
波数成分による超音波振動によって、流体による基板表
面の処理を促進できる。
【0011】上記基板処理装置において、前記超音波振
動発生部は、前記振動面の上に載置されて、前記進行波
の伝播に応じて回転するロータを有し、前記流体は、前
記ロータの表面と前記基板との間に供給されるようにし
てもよい。
【0012】こうすれば、ロータの回転に応じて流体を
回転させることができる。
【0013】また、上記基板処理装置において、前記振
動面と前記基板との間の距離を可変に調整する駆動部を
備えるようにしてもよい。
【0014】こうすれば、振動面と基板との間の距離
を、処理に適した適切な値に調整することが可能であ
る。
【0015】上記基板処理装置において、前記流体供給
部は、液体を供給する液体供給部と、気体を供給する気
体供給部とを備えるようにしてもよい。
【0016】こうすれば、液体を用いた基板の処理(例
えば薬液塗布や洗浄)と、気体を用いた基板の処理(例
えば乾燥)とを行うことができる。
【0017】また、基板処理装置において、前記制御部
は、前記基板が前記振動面に対向する位置に搬送されて
きたときに、前記振動面に超音波振動を発生させ、前記
超音波振動の伝播によって前記基板を浮遊させるととも
に、前記基板が浮遊した状態において、前記流体供給部
から前記流体を供給させるようにしてもよい。
【0018】こうすれば、基板の表面をムラ無く処理で
きる可能性が高い。
【0019】また、上記基板処理装置において、前記基
板の他方の面に対向する超音波振動発生部をさらに備え
るようにしてもよい。
【0020】こうすれば、基板の両面を同時に処理する
ことが可能である。
【0021】また、上記基板処理装置において、前記超
音波振動発生部は、前記基板の上方に設けられており、
前記基板処理装置は、さらに、前記基板が載置される回
転台と、前記回転台を回転させる回転機構と、を有する
基板回転部を備えるようにしてもよい。
【0022】こうすれば、基板回転部による基板の回転
と、超音波振動発生部による流体の移動と、の2つの効
果を併用して基板の処理を行うことができる。
【0023】
【発明の他の態様】この発明は、以下のような他の態様
も含んでいる。第1の態様は、上記の基板処理装置を用
いた基板処理方法である。
【0024】
【発明の実施の形態】A.基板処理装置の基本的構成:
以下、本発明の実施の形態を実施例に基づいて説明す
る。図1は、本発明による基板処理装置の基本的構成の
一例を示す説明図である。図1(B)に示すように、こ
の基板処理装置は、超音波振動発生部20と、基板Wを
保持するための基板保持部50と、制御部60とを有し
ている。超音波振動発生部20の中央には、超音波振動
発生部20を貫通するように管路40が設けられてい
る。この管路40を介して、洗浄液や乾燥用気体などの
流体が、基板Wと超音波振動発生部20との間に供給さ
れる。
【0025】図2は、超音波振動発生部20の分解斜視
図である。超音波振動発生部20は、圧電素子部22
と、振動伝達材24とを有している。圧電素子部22
は、リング状(円環状)に形成された圧電素子30と、
圧電素子30の下面のほぼ全面にわたって設けられた接
地電極32と、圧電素子30の上面に設けられた複数の
分割電極34と、を有している。複数の分割電極34
は、互いにほぼ等しい幅を有しており、隣接する分割電
極同士は絶縁されている。また、複数の分割電極34
は、全体として円環状の形状を有している。図2の例で
は、12個の分割電極34が圧電素子30の上面に形成
されている。振動伝達材24の表面付近には、分割電極
34と同じピッチでスリット24aが形成されている。
振動伝達材24と圧電素子部22とは例えば接着剤で接
着される。なお、振動伝達材24の内側には、略円形の
板状体26がはめ込まれている。この板状体26は、液
体が下に漏れて、分割電極34と接地電極32とを短絡
させないようにするためのものである。
【0026】制御部60から複数の分割電極34に交流
駆動信号Sdr(図1(B))を印加すると、振動伝達材
24の表面(振動面)に超音波振動(たわみ波)の進行
波が発生する。図3は、分割電極34に供給する交流駆
動信号の波形の一例を示す説明図である。図3(A)で
は、12個の分割電極34が、4種類(34a,34
b,34c,34d)に区別されている。各分割電極3
4a,34b,34c,34dに描かれた模様は、図示
の便宜のためである。図3(B)には、4種類の分割電
極34a,34b,34c,34dに供給される交流駆
動信号の波形が示されている。すなわち、4種類の分割
電極34a,34b,34c,34dには、90°ずつ
順次位相が異なる正弦波である4種類の交流駆動信号が
供給される。圧電素子30の各分割電極の直下の部分
は、各分割電極に与えられた駆動信号に応じて伸縮し、
この伸縮に応じて振動伝達材24の表面を周状に伝播す
る進行波が発生する。
【0027】基板処理用の流体(例えば洗浄液)は、図
1(B)に示すように超音波振動発生部20の上方にお
いて基板Wが基板保持部50に保持された状態で、管路
40を介して基板Wと超音波振動発生部20の間隙に供
給される。なお、基板Wと超音波振動発生部20の間隙
は、洗浄液でほぼ満たされる程度に十分に狭く(例えば
約1cm以下に)設定される。この状態において、図3
(B)に示すような交流駆動信号を分割電極34に供給
すると、振動伝達材24の表面に進行波が発生する。洗
浄液は、この進行波に駆動され、図1(A)に矢印で示
すように周方向に回転しつつ基板Wの外側に排出され
る。すなわち、進行波によって洗浄液が回転すると、遠
心力が外側に働くので渦流が発生し、最終的に基板Wの
端部から外側に洗浄液が排出される。従って、基板Wを
回転することなく、洗浄液の渦流で洗浄することができ
る。同様に、管路40から薬液を供給すれば薬液による
処理を行うことができ、また、乾燥用気体(例えば窒
素)を供給すれば乾燥処理を行うことができる。
【0028】なお、流体に渦流を発生させている際に、
基板保持部50による基板の保持を解除すると、基板W
を渦流よりも遅い速度で回転させることができる。ま
た、基板Wを水平方向に保持する期間と解放する期間と
を調整することも可能である。
【0029】このように、図1に示す基板処理装置で
は、基板回転装置を用いて基板Wを回転させることな
く、基板表面付近で流体を移動させることによって基板
の処理を行うことができる。
【0030】図4は、分割電極34に供給する交流駆動
信号の波形の他の例を示す説明図である。この例では、
4種類の分割電極34a,34b,34c,34dに対
する交流駆動信号が、比較的周波数の低い第1の周波数
成分ω1と比較的周波数の高い第2の周波数成分ω2と
を重畳させた周波数特性をそれぞれ有している。第1の
周波数ω1は、進行波を発生させる役割(すなわち流体
に渦流を発生させる役割)を有している。一方、第2の
周波数ω2は、流体に微小な振動を生じさせることによ
って洗浄効果をさらに向上させる役割を有している。こ
のような駆動信号を使用すれば、基板処理の効果をさら
に向上させることが可能である。
【0031】図5は、本発明による超音波振動発生部の
他の構成を示す説明図である。この超音波振動発生部1
20は、同心円環状の3つの超音波振動発生ユニット1
21〜123を有している。各ユニットは、それぞれ図
2に示した構成(振動伝達材24、圧電素子30および
分割電極34)と同様の構成を有している。このような
超音波振動発生部120を用いれば、基板Wの表面全体
に渡って流体の渦流をより発生させ易いという利点があ
る。
【0032】図6は、本発明による基板処理装置の基本
的構成の他の例を示す説明図である。この基板処理装置
の特徴は、振動伝達材24の上に回転板(ロータ)27
を載置した点にある。この回転板27は、圧電素子部2
2と振動伝達材24とともに収納部28内に収納されて
おり、また、収納部28の上端の周囲に設けられた弾性
部材(板バネ)29によって振動伝達材24側に下方向
に押しつけられている。振動伝達材24の表面(振動
面)に進行波が発生すると、回転板27がこれに応じて
回転する。洗浄液や乾燥用気体などの流体は、この回転
板27と基板Wとの間に供給されるので、回転板27の
回転に応じて流体に渦流が発生する。なお、回転板27
の表面に凹凸を設けて、流体に渦流を発生させやすくす
るようにしてもよい。
【0033】上記の種々の構成では、超音波振動の進行
波が円環状の振動伝達材の周囲に沿って回転するように
していたが、進行波を回転させる必要はなく、特定の方
向に進行波を伝播させるようにしてもよい。例えば、基
板Wの中央付近から外周に向かう方向に進むように進行
波を発生させてもよい。
【0034】なお、上記の超音波振動発生部20では圧
電素子30を用いていたが、この代わりに、磁歪素子の
ように、他の原理で超音波振動を発生する超音波振動発
生素子を用いることも可能である。
【0035】B.基板処理装置の実施例:図7は、本発
明による基板処理装置の第1実施例を示す説明図であ
る。この基板処理装置は、上述した超音波振動発生部2
0と基板保持部50と制御部60の他に、基板Wの上方
に位置決めされる上部蓋70と、一部の構成要素20,
50,70を移動させるための駆動部80と、洗浄液お
よび乾燥用気体を供給する流体供給部100とを備えて
いる。なお、超音波振動発生部20と上部蓋70につい
ては、それぞれの中央付近の断面を示している。
【0036】超音波振動発生部20の中央には、超音波
振動発生部20を鉛直方向に貫通する二重管構造の管路
40’が設けられている。すなわち、管路40’は、大
径の気体用管路42と、これと同軸状に設けられた小径
の液体用管路44とで構成されている。液体用管路44
の吐出口は、超音波振動発生部20の表面上に突出して
おり、その先端部の外側には傘状の遮蔽部46が形成さ
れている。遮蔽部46は、気体用管路42の開口を覆っ
ており、これによって、洗浄液が基板Wの下面中央付近
から落下したときに気体用管路42の中に流れ込むこと
を防止している。なお、気体が基板Wの中央付近に確実
に吹き付けられるようにするために、遮蔽部46の一部
に小径の貫通孔を設けておいてもよい。
【0037】上部蓋70の中央にも、大径の気体用管路
74と小径の液体用管路76との二重管構造を有する管
路72が設けられている。但し、液体用管路76の吐出
口には傘状の遮蔽部は設けられていない。
【0038】駆動部80は、超音波振動発生部20を鉛
直方向に移動させる第1のアクチュエータ82と、基板
保持部50を水平方向に(または水平および垂直方向
に)移動させる第2のアクチュエータ84と、上部蓋7
0を鉛直方向に移動させる第3のアクチュエータ86と
を有している。アクチュエータ82,84,86として
は、モータやエアシリンダ等を使用することができる。
各アクチュエータ82,84,86の動作は制御部60
によって制御される。
【0039】流体供給部100は、洗浄液供給源102
から超音波振動発生部20の液体用管路44と上部蓋7
0の液体用管路76とに洗浄液をそれぞれ供給し、ま
た、気体供給源110から超音波振動発生部20の気体
用管路42と上部蓋70の気体用管路74とに乾燥用気
体をそれぞれ供給する。洗浄液の供給路としては、洗浄
液供給源102から超音波振動発生部20の液体用管路
44まで洗浄液を搬送する第1の液体供給路103と、
洗浄液供給源102から上部蓋70の液体用管路76ま
で洗浄液を搬送する第2の液体供給路105と、が設け
られている。第1と第2の液体供給路103,105に
は、バルブ104,106がそれぞれ設けられている。
同様に、乾燥用気体の供給路としては、気体供給源11
0から超音波振動発生部20の気体用管路42まで乾燥
用気体を搬送する第1の気体供給路111と、気体供給
源110から上部蓋70の気体用管路74まで乾燥用気
体を搬送する第2の気体供給路113と、が設けられて
いる。第1と第2の気体供給路111,113には、バ
ルブ112,114がそれぞれ設けられている。なお、
各バルブ104,106,112,114の動作は制御
部60によって制御される。
【0040】図8ないし図10は、この基板処理装置に
よる洗浄と乾燥の手順を示す説明図である。図8は、図
示しない基板搬送ロボットによって基板Wが基板処理装
置内に搬送されてきた状態を示している。この状態で
は、上部蓋70は上方に待避しており、超音波振動発生
部20は下方に待避している。また、超音波振動発生部
20の動作は停止しており、洗浄液や乾燥用気体の供給
は停止されている。基板搬送ロボットのアーム200が
基板Wを基板保持部50の上に載置すると、基板保持部
50が基板Wの中央に向かって水平方向に移動し、基板
Wを水平方向に固定する。この後、上部蓋70が下降
し、超音波振動発生部20は上昇して、それぞれ基板W
と所定の距離(例えば約1cm)の位置に位置決めされ
る。なお、超音波振動発生部20と基板Wとの間の距離
は、任意の適切な値に調整可能である。
【0041】図9は、洗浄液によって基板Wの両面を洗
浄している状態を示している。洗浄液は、上方と下方の
液体用管路76,44からそれぞれ基板Wの表面に供給
される。このとき、超音波振動発生部20が振動伝達材
24の表面に進行波を発生させると洗浄液に渦流が発生
し、基板Wの下側の洗浄液が回転しながら基板Wの外側
に排出される。また、超音波振動は基板Wを通過して上
方に伝播するので、基板Wの上側の洗浄液にも多少の渦
流が発生する。この結果、基板Wの両面を同時に洗浄す
ることができる。
【0042】図10は、乾燥用気体(例えば窒素ガス)
によって基板Wの両面を乾燥させている状態を示してい
る。乾燥用気体は、上方と下方の気体用管路74,42
からそれぞれ基板Wの表面に供給され、基板Wの表面を
乾燥させる。このとき、超音波振動発生部20が振動伝
達材24の表面に進行波を発生させると、さらに乾燥を
促進することができる。但し、乾燥時に超音波振動発生
部20に供給される駆動信号の周波数は、洗浄時とは異
なる適切な周波数に設定される。また、基板Wと超音波
振動発生部20との間の距離、および、基板Wと上部蓋
70との間の距離も、洗浄時とは異なる適切な値に調整
される。
【0043】このように、第1実施例の基板処理装置で
は、基板Wを回転することなく基板Wの洗浄と乾燥とを
行うことが可能である。特に、基板Wの両面を同時に洗
浄し、乾燥することができるので、洗浄・乾燥時間を短
縮することができる。
【0044】なお、基板Wが基板処理装置の内部に搬送
されるときに、超音波によって基板Wを浮遊させるよう
にすることも可能である。この場合には、基板Wが搬送
されてくる前に超音波振動発生部20と上部蓋70とを
図9の位置に予め配置しておき、基板Wが搬送されてき
た直後に(またはその直前から)超音波振動発生部20
を駆動して超音波振動を発生させる。この結果、基板W
は空気中を伝播する超音波によって保持されて、空中に
浮遊する。このとき、上部蓋70は、超音波を反射する
反射板として機能している。また、浮遊中の基板Wの位
置は、振動伝達材24の表面と上部蓋70との間に発生
する超音波の定在波の節(ふし)の位置となる。なお、
浮遊中の基板Wが水平方向にすべって外部に落下しない
ように、基板保持部50を基板Wのやや外側の位置に待
機させるようにすることが好ましい。
【0045】こうして基板Wを浮遊させた状態で洗浄液
を供給すれば、基板Wが基板保持部50に接触していな
い状態で洗浄を行うことが可能である。同様に、乾燥時
にも、基板Wを浮遊させた状態で乾燥させることが可能
である。さらに、洗浄と乾燥が完了した後も超音波の発
生を持続させるようにすれば、基板Wを浮遊させたまま
に保つことができる。そして、基板Wを浮遊させた状態
で、搬送ロボットのアーム200(図8)を用いて基板
Wを取り出すことが可能である。
【0046】なお、図7に示す第1実施例の構成から上
部蓋70を省略することも可能である。この場合には、
超音波振動発生部20による洗浄や乾燥は、基板Wの下
面についてのみ行われる。このとき、基板Wの上方に洗
浄用ノズルと乾燥用ノズルとを設けておき、これらのノ
ズルを用いて基板の上面の洗浄と乾燥とを行うようにす
ることも可能である。
【0047】図11は、本発明による基板処理装置の第
2実施例を示す説明図である。第2実施例の基板処理装
置は、図7に示す第1実施例の上部蓋70を超音波振動
発生部20’に置き換えた構成を有している。この超音
波振動発生部20’は、下方側の超音波振動発生部20
と基本的に同じ構成を有しているが、液体用管路44の
出口に傘状の遮蔽部46が設けられていない点が異な
る。なお、制御部やアクチュエータは図示が省略されて
いる。
【0048】第2実施例の基板処理装置の動作も、上述
した第1実施例の装置とほぼ同様である。但し、第2実
施例では、上下に超音波振動発生部20,20’が設け
られているので、基板Wを両面を、よりきれいに洗浄で
き、また、乾燥することができるという利点がある。
【0049】図12は、本発明による基板処理装置の第
3実施例を示す説明図である。第3実施例の基板処理装
置は、図11に示す第2実施例の下方の超音波振動発生
部20を基板回転部90に置き換えた構成を有してい
る。
【0050】基板回転部90は、基板Wを載置した状態
で回転する回転台92と、回転台92を回転させる回転
機構としてのモータ94とを備えている。また、回転台
92の上面の外周近傍の複数箇所には、基板Wを保持す
るための保持部材(保持ピン)50’が設けられてい
る。さらに、回転台92の中央には、二重管構造の流体
管路40’が設けられている。
【0051】第3実施例の基板処理装置で洗浄を行う場
合には、基板回転部90で基板Wを比較的低速で回転さ
せながら、基板Wの上方と下方からそれぞれ洗浄液を供
給する。このとき、超音波振動発生部20’において超
音波振動の進行波を発生させることによって、洗浄液に
渦流を発生させることができる。この基板処理装置で
は、超音波振動発生部20’による洗浄効果を期待でき
るので、比較的低速で基板Wの回転させた状態で洗浄処
理を行うことが可能である。乾燥処理の場合も同様であ
る。
【0052】このように、第3実施例の基板処理装置で
は、超音波振動発生部20’を用いない従来の回転式基
板処理装置に比べて、基板回転部90による回転速度を
低く設定することができる。従って、特に大サイズの基
板を高速回転するときに発生しやすい問題(基板保持の
困難性や基板の反り等)を軽減することが可能である。
【0053】なお、この発明は上記の実施例や実施形態
に限られるものではなく、その要旨を逸脱しない範囲に
おいて種々の態様において実施することが可能である。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明による基板処理装置の基本的構成の一例
を示す説明図である。
【図2】超音波振動発生部20の分解斜視図である。
【図3】分割電極34に供給する交流駆動信号の波形の
一例を示す説明図。
【図4】分割電極34に供給する交流駆動信号の波形の
一例を示す説明図。
【図5】本発明による超音波振動発生部の他の構成を示
す説明図。
【図6】本発明による基板処理装置の基本的構成の他の
例を示す説明図。
【図7】本発明による基板処理装置の第1実施例を示す
説明図。
【図8】第1実施例の基板処理装置による洗浄と乾燥の
手順を示す説明図。
【図9】第1実施例の基板処理装置による洗浄と乾燥の
手順を示す説明図。
【図10】第1実施例の基板処理装置による洗浄と乾燥
の手順を示す説明図。
【図11】本発明による基板処理装置の第2実施例を示
す説明図。
【図12】本発明による基板処理装置の第3実施例を示
す説明図。
【符号の説明】 20…超音波振動発生部 22…圧電素子部 24…振動伝達材 24a…スリット 26…板状体 27…回転板 28…収納部 30…圧電素子 32…接地電極 34,34a,34b,34c,34d…分割電極 40…流体管路 42…気体用管路 44…液体用管路 46…遮蔽部 50…基板保持部 60…制御部 70…上部蓋 72…流体管路 74…気体用管路 76…液体用管路 80…駆動部 82,84,86…アクチュエータ 90…基板回転部 92…回転台 94…モータ 100…流体供給部 102…洗浄液供給源 103,105…液体供給路 104,106,112,114…バルブ 110…気体供給源 111,113…気体供給路 120…超音波振動発生部 121〜123…超音波振動発生ユニット 200…アーム

Claims (9)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 基板の処理を行う基板処理装置であっ
    て、 前記基板の一方の面に対向してほぼ平行な状態に位置決
    めされる振動面を有し、前記振動面に超音波振動を発生
    させる超音波振動発生部と、 前記基板の処理に用いられる流体を、前記振動面と前記
    基板との間に供給する流体供給部と、 前記超音波振動発生部と前記流体供給部との動作を制御
    する制御部と、を備え、 前記制御部は、前記振動面に超音波振動の進行波を発生
    させることによって、前記振動面と前記基板との間に供
    給された前記流体を移動させることを特徴とする基板処
    理装置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の基板処理装置であって、 前記制御部は、前記振動面上の略円環状の領域の周方向
    に沿って前記進行波が伝播するように前記超音波振動発
    生部に前記超音波振動を発生させ、 前記流体供給部は、前記超音波振動発生部のほぼ中央を
    貫通するように設けられた流路を少なくとも有し、前記
    流路から前記振動面と前記基板との間に前記流体を供給
    する、基板処理装置。
  3. 【請求項3】 請求項2記載の基板処理装置であって、 前記超音波振動発生部は、前記制御部から与えられる交
    流駆動信号をそれぞれ受ける複数の分割電極を備え、前
    記複数の分割電極は全体として前記振動面上の略円環状
    の領域にほぼ対応する略円環状の形状を有しており、 前記制御部は、前記進行波の進行速度に関連する比較的
    周波数の低い第1の周波数成分と比較的周波数の高い第
    2の周波数成分とを重畳させた周波数特性をそれぞれ有
    する複数の交流駆動信号を前記複数の分割電極に供給す
    ることによって、前記振動面に超音波振動の進行波を発
    生させる、基板処理装置。
  4. 【請求項4】 請求項2または3記載の基板処理装置で
    あって、 前記超音波振動発生部は、 前記振動面の上に載置されて、前記進行波の伝播に応じ
    て回転するロータを有し、 前記流体は、前記ロータの表面と前記基板との間に供給
    される、基板処理装置。
  5. 【請求項5】 請求項1ないし4のいずれかに記載の基
    板処理装置であって、 前記振動面と前記基板との間の距離を可変に調整する駆
    動部を備える、基板処理装置。
  6. 【請求項6】 請求項1ないし5のいずれかに記載の基
    板処理装置であって、 前記流体供給部は、液体を供給する液体供給部と、気体
    を供給する気体供給部とを備える、基板処理装置。
  7. 【請求項7】 請求項1ないし6のいずれか記載の基板
    処理装置であって、 前記制御部は、 前記基板が前記振動面に対向する位置に搬送されてきた
    ときに、前記振動面に超音波振動を発生させ、前記超音
    波振動の伝播によって前記基板を浮遊させるとともに、
    前記基板が浮遊した状態において、前記流体供給部から
    前記流体を供給させる、基板処理装置。
  8. 【請求項8】 請求項1ないし6のいずれかに記載の基
    板処理装置であって、 前記基板の他方の面に対向する超音波振動発生部をさら
    に備える、基板処理装置。
  9. 【請求項9】 請求項1ないし6のいずれかに記載の基
    板処理装置であって、 前記超音波振動発生部は、前記基板の上方に設けられて
    おり、 前記基板処理装置は、さらに、 前記基板が載置される回転台と、前記回転台を回転させ
    る回転機構と、を有する基板回転部を備える、基板処理
    装置。
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