JPH11258769A - マスクパタンデータ生成方法とその装置 - Google Patents

マスクパタンデータ生成方法とその装置

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JPH11258769A
JPH11258769A JP6358598A JP6358598A JPH11258769A JP H11258769 A JPH11258769 A JP H11258769A JP 6358598 A JP6358598 A JP 6358598A JP 6358598 A JP6358598 A JP 6358598A JP H11258769 A JPH11258769 A JP H11258769A
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line
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JP6358598A
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Takashi Takenouchi
隆司 竹之内
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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  • Preparing Plates And Mask In Photomechanical Process (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 描画用マスクパタンデ−タを生成する処理を
より高速化する。 【解決手段】 入力パタンデ−タからX軸に平行でない
線分を抽出すると共に該線分につながり情報を付与し
(ステップS11)、各線分の端点をY軸方向にソ−ト
し(ステップS11)、その端点に沿って走査線を移動
させ、現在の走査線と直前の走査線との間にある線分に
ついて重なり除去処理を行うと共に新しく生成された線
分を検出して当該線分につながり情報を付与し(ステッ
プS13)、現在の走査線と直後の走査線との間にある
線分についてサイジング処理を行い(ステップS1
4)、最後の走査線である場合はサイジング処理で形成
された線分について重なり除去処理を行い(ステップS
15、S16)、描画用マスクパタンデ−タを得る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、半導体集積回路
(以下、「LSI」という。)のフォトマスク製造時
に、原マスクパタンデ−タから電子ビ−ムまたはレ−ザ
により描画を行うための描画用マスクパタンデ−タを高
速に生成することのできるマスクパタンデ−タ生成方
法、および、マスクパタンデ−タ生成装置に関する。
【0002】
【従来の技術】電子線レジストが膜材料上に塗布された
フォトマスク基板に、電子ビ−ムを照射することにより
マスクパタンを転写する際には、設計された原マスクパ
タンデ−タを描画装置用のマスクパタンデ−タに変換す
る必要がある。このマスクパタンデ−タの変換処理にお
いては、例えば多重描画防止のため設計マスクパタンデ
−タで許されているパタンの重なりを除去する処理や、
他の層のマスクパタンデ−タに基づいてパタンデ−タを
生成する層間処理などの図形演算処理が行われる。ま
た、リソグラフィプロセスのために図形幅の変更を行う
サイジング処理がある。
【0003】近年、LSIのパタンは微細かつ複雑にな
ってきており、LSIの原マスクパタンデ−タから描画
装置用のマスクパタンデ−タに変換する変換処理にかか
る時間が大きくなってきている。そのため、変換処理に
費やされる時間を短縮することが望まれる。
【0004】このような図形演算処理を行うため、種々
の方法が提案されているが、その中に平面走査法を用い
たものがある。この平面走査法について、図6〜図9を
参照して説明する。平面走査法では、図6(A)のよう
に、原マスクパタンデ−タとして複数の多角形が入力さ
れると、所定方向例えばX軸に平行な線分を切り捨て
て、それ以外の線分を抽出し、X軸に平行な走査線をL
1〜L8の順に移動させ、走査線間に存在する線分に対
して各種処理を行う。図7は、従来の描画用マスクパタ
ンデ−タの生成方法を説明する概略フロ−チャ−トであ
る。
【0005】先ず、原マスクパタンデ−タである設計デ
−タとして図8(A)に示すような、重なりを有するパ
タンが入力される。図8(A)では、点C11〜C14
を結んだ矩形と、点C21〜C24を結んだ矩形と、点
C31〜C34を結んだ矩形のパタンデ−タが示されて
いる。点C11〜C14を結んだ矩形と、点C21〜C
24を結んだ矩形はパタンが重なっている。
【0006】次に、図8(B)に示すようにX軸に平行
な線分を切り捨てて、それ以外の線分のみのデ−タとす
る図形デ−タの線分ベクトル化の処理を行う(ステップ
S91)。このとき、元のパタンの頂点列の順番を揃え
てから線分化することで、線分の左右どちら側が図形の
内側部分であるかを判るようにしておく。図8(B)で
は、端点C12,C13間の線分と、端点C22,C2
3間の線分と、端点C32,C33間の線分と、端点C
14,C11間の線分と、端点C24,C21間の線分
と、端点C34,C31間の線分と、が切り捨てられて
いる。図8(B)では、端点C11,C12間の線分
と、端点C21,C22間の線分と、端点C31,C3
2間の線分と、端点C13,C14間の線分と、端点C
23,C24間の線分と、端点C33,C34間の線分
とが抽出されている。次に、それらの線分の端点をY軸
方向でソ−トする線分ソ−ト処理を行う(ステップS9
2)。
【0007】次に、ソ−トされた線分に基づいて、走査
線間での重なり除去処理を行う(ステップS93)。そ
の場合、ソ−トされた端点に沿って走査線を動かしてい
き、現在の走査線とその直前の走査線の間に存在する線
分に対して、重なりを形成する部分の線分を除去し、最
外郭の線分だけを残していく処理を行う。すなわち、図
8(C)に示すように、パタンの内側にさらにパタンが
存在するような関係の線分を検出し、検出された場合に
はその内部の線分を除去して最も外側の線分のみを残す
ような線分の取捨選択の処理を行う。図8(C)では、
図8(B)における端点C21,C25間の線分と、端
点C13,C15間の線分が除去されている。
【0008】そして、図9(A)に示すように、この重
なり除去処理にて得られた左右の線分対の端点と、前の
走査線間での処理で得られた左右の線分対の端点とを結
ぶX軸に平行な線分を付加することにより、図形を再構
築する処理を行う(ステップS94)。図9(A)で
は、端点C11,C12,C25,C22,C23,C
24,C15,C14を結び、端点C31,C32,C
33,C34を結ぶ。
【0009】次に再構築された図形に対して、図9
(B)に示すように、当該図形の幅を変更するサイジン
グ処理を行う(ステップS95、S96)。この重なり
除去処理と図形再構築処理を順次行っていくことにより
(ステップS79)、サイジング済みの図形が形成され
る。図9(B)では、端点C11,C12,C25,C
22,C23,C24,C15,C14を結んだ多角形
を拡大した、端点D11,D12,D25,D22,D
23,D24,D15,D14を結んだ多角形が得られ
る。また、図9(B)では、端点C31,C32,C3
3,C34を結んだ多角形を拡大した、端点D31,D
32,D33,D34を結んだ多角形が得られる。
【0010】全ての走査線についてこのような処理が終
了したら(ステップS97)、サイジング処理された図
形群について重なり除去処理を行う(ステップS9
8)。図9(B)では、端点D32,D31間の線分と
端点D24,D23間の線分が重なり除去処理により除
去される。そして、図9(C)に示すような、電子ビ−
ム描画用またはレ−ザ描画用のマスクパタンデ−タが得
られる。図9(C)では、端点D11,D12,D2
5,D22,D33,D34,D15,D14を結んだ
多角形が得られる。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】従来、サイジング処理
を行う場合には、いったん演算対象の全図形をOR(論
理和)処理し、走査線上の線分を取り除き、その結果得
られる線分をつなぎ直し、各図形を再構築する処理を行
う。この線分をつなぎ直す処理に多大な時間が費やされ
ている。このため、サイジング処理に費やされる時間を
短縮することが望まれる。
【0012】本発明の目的は、より高速に描画用のマス
クパタンデ−タを生成することができるマスクパタンデ
−タ生成方法を提供することにある。本発明の他の目的
は、より高速に描画用のマスクパタンデ−タを生成する
ことができるマスクパタンデ−タ生成装置を提供するこ
とにある。
【0013】
【課題を解決するための手段】本発明のマスクパタンデ
−タ生成方法は、前記原マスクパタンデ−タに係わる線
分で示されたパタンデ−タから、当該原マスクパタンデ
−タを構成する線分の中の所定方向の線分以外の線分を
抽出し、前記抽出された各線分に、該線分の両端の線分
のつながり方に対応するつながり情報を付与し、前記抽
出された各線分からなるパタンデ−タを、当該線分の端
点を通過する前記所定方向に平行な複数の線で分割し、
前記平行な線で挟まれた前記分割された領域ごとに、当
該領域に存在する線分に対して、パタンの重なりを形成
する部分の線分を除去し、当該除去により生成された新
たな線分を検出して該線分に対し該線分の両端の線分の
つながり方に対応するつながり情報を付与し、前の前記
分割領域の線分を当該線分の前記つながり情報に応じて
サイジング処理して当該処理により生成された線分から
なるパタンデ−タを生成し、前記線分の除去から前記パ
タンデ−タの生成までの処理を順次繰り返して行い、前
記生成されたパタンデ−タに基づいて描画用マスクパタ
ンデ−タを生成する。
【0014】本発明のマスクパタンデ−タ生成装置は、
入力された原マスクパタンデ−タに係わる線分で示され
たパタンデ−タから、所定方向の線分以外の線分を抽出
する線分抽出手段と、前記抽出された各線分に、該線分
の両端の線分のつながり方に対応するつながり情報を付
与するつながり検出手段と、前記抽出された各線分から
なるパタンデ−タを、当該線分の端点を通過する前記所
定方向に平行な線分で分割する線分分割手段と、前記平
行な線分で挟まれた前記分割領域ごとに、当該領域に存
在する線分に対して、パタンの重なりを形成する部分の
線分を除去する重なり除去手段と、当該除去により生成
された新たな線分を検出して該線分に対し該線分の両端
の線分のつながり方に対応するつながり情報を付与する
手段と、前の前記分割領域の線分を当該線分の前記つな
がり情報に応じてサイジング処理して当該処理により生
成された線分からなるパタンデ−タを生成するサイジン
グ処理手段とを有する。
【0015】本発明では、マスクパタンデ−タを構成す
る線分の中から抽出された線分につながり情報を付与す
る。パタンの重なりを除去する処理により、線分の一部
が切り取られて新たに生成された線分には、つながり情
報を付与する。
【0016】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を、添付
図面を参照して説明する。図1は、本実施形態のマスク
パタンデ−タ生成方法を示す概略フロ−チャ−トであ
る。なお、実際のパタンデ−タの生成の処理は、例えば
汎用の計算機装置などに、図1に示すようなマスクパタ
ンデ−タ生成の処理手続が設定されて構成された、本発
明に係わるマスクパタンデ−タ生成装置により実施され
る。
【0017】先ず、図1を参照して、本実施形態のマス
クパタンデ−タ生成方法の各ステップについて説明す
る。回路設計の結果得られる、図2(A)に示すような
たとえば重なりを許すような形式の原マスクパタンデ−
タが入力される。図2(A)では、端点C11〜C14
を結んだ矩形と、端点C21〜C24を結んだ矩形と、
端点C31〜C34を結んだ矩形のパタンデ−タが示さ
れている。
【0018】次に、そのパタンデ−タの線分ベクトル化
処理を行う(ステップS11)。具体的には、入力され
たパタンデ−タからX軸(不図示)に平行な線分を切り
捨てて、それ以外の線分のみのデ−タとする。このと
き、元のパタンの端点列の順番をそろえてから線分化す
ることにより、線分の左右どちら側が図形の内側部分で
あるかを判るようにしておく。図2(B)では、端点C
12,C13間の線分と、端点C22,C23間の線分
と、端点C32,C33間の線分と、端点C14,C1
1間の線分と、端点C24,C21間の線分と、端点C
34,C31間の線分と、が切り捨てられている。
【0019】次に図2(B)に示すように、各線分に対
し、該線分の両端の切り捨てた線分のつながり方に対応
するつながり情報を付与する(ステップS11)。この
とき、図形の頂点列はソ−トされているので、容易に線
分のつながり方を検出することができる。図4に、つな
がり情報の分類を例示する。つながり情報の付与につい
ては、各線分に対して一定の容量のメモリを割り当て
て、当該メモリにつながり情報を書き込む構成としても
よい。
【0020】図2(B)では、端点C11,C12間の
線分と、端点C21,C22間の線分と、端点C31,
C32間の線分と、端点C13,C14間の線分と、端
点C23,C24間の線分と、端点C33,C34間の
線分と、が抽出されている。そして、端点C11,C1
2間の線分と、端点C21,C22間の線分と、端点C
31,C32間の線分とには、つながり情報04が各々
付与されており、端点C13,C14間の線分と、端点
C23,C24間の線分と、端点C33,C34間の線
分とには、つながり情報05が各々付与されている。
【0021】次に、処理対象とする線分を、平面走査法
による図形演算処理に適した順序に並べるために、線分
ソ−ト処理を行う(ステップS12)。すなわち、各線
分の端点をY軸方向でソ−トする。
【0022】次に、ソ−トされた線分に対してその端点
に沿って走査線を動かしていきながら、現在の走査線と
その直前の走査線の間に存在する線分に対して所定の処
理を行う(ステップS13〜S15)。まず、多重露光
を防止するために、重なっているパタンデ−タを除去す
る重なり除去処理を行う。具体的には、現在の走査線と
その直前の走査線の間に存在する線分に対して、図2
(C)に示すように、パタンの内部にさらにパタンが存
在するような関係の線分を検出し、検出された場合には
その内部の線分を除去して最も外側の線分のみを残すよ
うな線分の取捨選択の処理を行う(ステップS13)。
図2(C)では、図2(B)において端点C21,C2
5間の線分と、端点C13,C15間の線分とが除去さ
れている。
【0023】さらに、現在の走査線とその直前の走査線
の間、即ち今回の走査線間に存在する線分と、前(前
回)の走査線間に存在する線分とを比較し、重なり除去
処理によって新しく生成された線分に対し、つながり情
報を付与する(ステップS13)。図2(C)では、新
しく生成された線分に対して、つながり情報を付与して
おり、変更されたつながり情報を丸印で囲んで示してい
る。図2(C)では、端点C25,C22間の線分と端
点C15,C14間の線分が新しく生成されており、端
点C25,C22間の線分にはつながり情報02が付与
され、端点C15,C14間の線分にはつながり情報0
6が付与されている。
【0024】そして、前回の走査線間に存在する線分群
に対し、つながり情報に応じてサイジング処理を行い、
線分の位置を変更し、または線分の位置および長さを変
更することで(ステップS14)、図3(A)に示すよ
うな、サイジング処理で形成された線分を得ることがで
きる。最後の走査線間に存在する線分群に対しても、つ
ながり情報に応じてサイジング処理を行い、線分の位置
を変更し、または線分の位置および長さを変更する。
【0025】図3(A)では、端点C11,C12間の
線分をサイジング処理した線分は、端点D11,D12
間の線分である。図3(A)では、端点C25,C22
間の線分をサイジング処理した線分は、端点D25,D
22間の線分である。図3(A)では、端点C23,C
24間の線分をサイジング処理した線分は、端点D2
3,D24間の線分である。図3(A)では、端点C3
1,C32間の線分をサイジング処理した線分は、端点
D31,D32間の線分である。図3(A)では、端点
C33,C34間の線分をサイジング処理した線分は、
端点D33,D34間の線分である。
【0026】これらの一連の処理を最後の走査線まで行
った後に(ステップS15)、サイジング処理後の線分
群について重なり除去処理を行い、また線分の端点同志
をX軸に平行な線分で結び(ステップS16)、図3
(B)に示すような、多角形のパタンデ−タからなる描
画用マスクパタンデ−タを得る。なお、線分の端点同志
をX軸に平行な線分で結ぶ処理は、現在の走査線上にお
いて行うこととしてもよい。図3(A)では、端点D3
1,D32間の線分と端点D23,D24間の線分は、
重なり除去処理により除去される。図3(A)では、端
点D22,D33間と、端点D12,D25間と、端点
D15,D34間と、端点D11,D14間とがX軸に
平行な線分で結ばれて、図3(B)のパタンデ−タが得
られる。
【0027】以上説明したように、線分で示されたパタ
ンデ−タから、図2(A)に示すマスクパタンデ−タを
構成する線分の中の所定方向の線分以外の線分を抽出
し、前記抽出された各線分に、該線分の両端の線分のつ
ながり方に対応するつながり情報を図2(B)に示すよ
うに付与する。次に、前記抽出された各線分からなるパ
タンデ−タを、当該線分の端点を通過する前記所定方向
に平行な複数の線で分割し、前記平行な線で挟まれた前
記分割された領域ごとに、当該領域に存在する線分に対
して、パタンの重なりを形成する部分の線分を除去し、
当該除去により生成された新たな線分に、該線分の両端
の線分のつながり方に対応するつながり情報を図2
(C)に示すように付与する。次に、前の前記分割領域
の線分を当該線分の前記つながり情報に応じてサイジン
グ処理して当該処理により生成された線分からなるパタ
ンデ−タを図3(A)に示すように生成し、前記パタン
の重なりを形成する部分の線分の除去から前記パタンデ
−タの生成までの処理を、順次繰り返して行い、サイジ
ング処理で形成された各線分の重なり除去処理を行い、
残された線分の端点間にX軸方向に平行な線分を付加し
て多角形を示すパタンデ−タからなる描画用マスクパタ
ンデ−タを図3(B)に示すように生成する。
【0028】このように、本実施形態では元の図形の線
分をベクトル化して抽出した際に、線分のつながり情報
を付与しておき、重なり除去処理による変更があった線
分のみつながり情報を検知して変更していけばよい。し
たがって、従来では重なり除去処理後の全ての線分に対
して分割領域毎に線分の端点での他の線分とのつながり
を検出して再構築していたが、それに比べて本実施形態
では描画用マスクパタンデ−タを生成する時間を短縮で
きる。
【0029】図4は、つながり情報を示す説明図であ
る。実線の矢印は抽出された線分を示し、点線は切り捨
てられた線分を示す。ベクトル化処理により、抽出され
た線分は方向が付与されている。
【0030】図4のつながり情報は、01〜08からな
る。つながり情報が01の場合は、線分の矢印は上向き
であり、線分の始点の左側と終点の左側に、前記切り捨
てた線分があったことを示す。つながり情報が02の場
合は、線分の矢印は上向きであり、線分の始点の左側と
終点の右側に、前記切り捨てた線分があったことを示
す。つながり情報が03の場合は、線分の矢印は上向き
であり、線分の始点の右側と終点の左側に、前記切り捨
てた線分があったことを示す。つながり情報が04の場
合は、線分の矢印は上向きであり、線分の始点の右側と
終点の右側に、前記切り捨てた線分があったことを示
す。
【0031】つながり情報が05の場合は、線分の矢印
は下向きであり、線分の始点の左側と終点の左側に、前
記切り捨てた線分があったことを示す。つながり情報が
06の場合は、線分の矢印は下向きであり、線分の始点
の左側と終点の右側に、前記切り捨てた線分があったこ
とを示す。つながり情報が07の場合は、線分の矢印は
下向きであり、線分の始点の右側と終点の左側に、前記
切り捨てた線分があったことを示す。つながり情報が0
8の場合は、線分の矢印は下向きであり、線分の始点の
右側と終点の右側に、前記切り捨てた線分があったこと
を示す。なお、上向きの方向はY軸の正方向に対応し、
下向きの方向はY軸の負方向に対応し、右側はX軸の正
方向に対応し、左側はX軸の負方向に対応している。
【0032】原マスクパタンデ−タにおいて、X軸方向
に平行な線分と該線分の両端の線分とは直角をなし、す
なわち原マスクパタンデ−タの図形が矩形からなること
で、つながり情報は上記した8タイプで表すことができ
る。つながり情報は、X軸方向に平行な線分と該線分の
両端の線分との角度に対応している。
【0033】図5は、図4のつながり情報と、サイジン
グ処理で形成される線分との関係を示す説明図である。
点線の矢印に対して、サイジング処理された線分を実線
の矢印で表す。ここでは、元のパタンに対して図形幅を
広げてオ−バ−サイズを行う場合を示している。点線の
矢印で示される線分に対し、サイジング処理された実線
の矢印で示される線分の関係、たとえば線分の位置また
は位置と長さなどのパラメ−タは、演算部で設定可能と
してもよく、拡大縮小の倍率により設定可能としてもよ
い。
【0034】図10は、本発明の一実施形態に係るマス
クパタンデ−タ生成装置のブロック図である。このマス
クパタンデ−タ生成装置は、記憶手段11,16と、線
分抽出手段17と、線分分割手段13と、重なり除去手
段14と、線分追加手段15と、記憶手段16と、つな
がり検出手段12,19と、サイジング処理手段18と
を備える。
【0035】記憶手段11は、原マスクパタンデ−タを
入力して記憶し、その記憶デ−タを線分抽出手段17と
つながり検出手段12に供給する。線分抽出手段17
は、線分で示されたマスクパタンデ−タから、当該マス
クパタンデ−タを構成する線分の中の所定方向の線分以
外の線分を抽出し、抽出した線分のデ−タをつながり検
出手段12に供給する。線分抽出手段17では、パタン
デ−タの頂点列の順番をそろえてから線分ベクトル化処
理を行い、線分を抽出してもよい。
【0036】つながり検出手段12は、記憶手段11の
記憶デ−タと前記抽出された各線分に基づいて、該線分
の両端の線分のつながり方に対応するつながり情報を付
与し、つながり情報とつながり情報が付与された線分の
デ−タを線分分割手段13に供給する。つながり検出手
段12には、その内部メモリに図4に示されるつながり
情報のデ−タが記憶されている。
【0037】線分分割手段13は、 前記抽出された各
線分からなるパタンデ−タを、当該線分の端点を通過す
る前記所定方向に平行な複数の線で分割し、各分割領域
に存在する線分のデ−タを重なり除去手段14と、つな
がり検出手段18とに供給する。
【0038】重なり除去手段14では、前記平行な線で
挟まれた前記分割された領域ごとに、当該領域に存在す
る線分に対して、パタンの重なりを形成する部分の線分
を除去する処理を行い、当該処理後の線分のデ−タをつ
ながり検出手段18に供給する。
【0039】つながり検出手段18では、重なり除去手
段14からの重なり除去後の線分のデ−タと線分分割手
段13からのデ−タに基づいて当該除去により生成され
た新たな線分を検出し、該線分のデ−タに、該線分の両
端の線分のつながり方に対応するつながり情報を付与
し、該つながり情報が付与された線分のデ−タをサイジ
ング処理手段19に供給する。
【0040】サイジング処理手段19では、つながり検
出手段18からの線分のデ−タに基づいて、該線分のサ
イジング処理を行い、該線分の位置または位置と長さを
変更した線分のデ−タを生成し、該デ−タを重なり除去
手段20に供給する。サイジング処理手段19には、そ
の内部メモリに、図5のつながり情報とサイジング処理
で形成される線分との関係を示すデ−タが記憶されてい
る。重なり除去手段20では,サイジング処理手段19
からの線分のデ−タに基づいて、該線分に対してパタン
の重なりが生じないようにした重なり除去された線分対
のデ−タを線分付加手段15に供給する。なお、重なり
除去手段14と重なり除去手段20とを併用してもよ
い。
【0041】線分付加手段15は、隣接する分割領域の
線分対のデ−タに基づいて、線分対の端点に対し、前記
所定方向に平行な線分を付加して、描画用のマスクパタ
ンデ−タを生成し、記憶手段16に供給する。つながり
検出手段12,18と、線分分割手段13と、重なり除
去手段14,20と、線分付加手段15と、線分抽出手
段17と、サイジング処理手段19は、例えばマイクロ
コンピュ−タを用いて構成する。記憶手段16のマスク
パタンデ−タは、電子ビ−ム描画装置またはレ−ザ描画
装置に供給され、マスクパタンデ−タに基づいて描画装
置は描画を行う。
【0042】なお、上記実施形態は本発明の一例であ
り、本発明は上記実施形態に限定されない。上記実施形
態では、X軸に平行に走査線を設けたが、これに代えて
Y軸に平行に走査線を設けてもよい。本発明のマスクパ
タンデ−タ生成装置は、汎用の計算機装置などにより構
成してもよく、専用の装置により構成してもよい。
【0043】
【発明の効果】本発明によれば、元のパタンデ−タから
線分を抽出する際に、線分のつながり情報を付与し、重
なり除去処理による変更があった線分を検出して当該線
分のつながり情報を変更していくので、平面走査法を用
いたサイジング処理にかかる時間を短縮でき、描画用の
マスクパタンデ−タの作成時間を短縮することができ
る。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態のマスクパタンデ−タ生成
方法を説明するための概略フロ−チャ−トである。
【図2】図1に示したマスクパタンデ−タ生成方法の一
例を説明する説明図であり、(A)は入力パタンデ−タ
の例を示す図であり、(B)は線分ベクトル化およびつ
ながり情報付与の結果を示す図であり、(C)は重なり
除去処理および新しく生成された線分へのつながり情報
付与の結果を示す図である。
【図3】図1に示したマスクパタンデ−タ生成方法の一
例を説明する説明図であり、(A)はサイジング処理の
結果を示す図であり、(E)は生成された描画用マスク
パタンデ−タを示す図である。
【図4】つながり情報を説明する説明図である。
【図5】つながり情報とサイジング処理で形成される線
分との関係を示す説明図である。
【図6】平面走査法を説明するための図であり、(A)
は入力パタンデ−タの例を示す図であり、(B)は線分
ベクトル化の処理結果を示す図である。
【図7】従来の描画用マスクパタンデ−タを生成方法を
説明するための概略フロ−チャ−トである。
【図8】図7に示した描画用マスクパタンデ−タの生成
方法の一例を説明する説明図であり、(A)は入力パタ
ンデ−タの例を示す図であり、(B)は線分ベクトル化
の処理結果を示す図であり、(C)は重なり除去処理の
結果を示す図である。
【図9】図7に示した描画用マスクパタンデ−タの生成
方法の一例を説明する説明図であり、(A)は図形の再
構成の処理結果を示す図であり、(B)はサイジング処
理の結果を示す図であり、(C)は生成された描画用マ
スクパタンデ−タを示す図である。
【図10】本発明の一実施形態に係るマスクパタンデ−
タ生成装置のブロック図である。
【符号の説明】
01,02,03,04,05,06,07,08…つ
ながり情報、11,16…記憶手段、12,18…つな
がり検出手段、13…線分分割手段、14,20…重な
り除去手段、15…線分付加手段、17…線分抽出手
段、19…サイジング処理手段、L1〜L8…走査線。

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】描画用マスクパタンデ−タの生成に係わる
    所定の処理を順次行い、原マスクパタンデ−タから描画
    用マスクパタンデ−タを生成する方法であって、 前記原マスクパタンデ−タに係わる線分で示されたパタ
    ンデ−タから、当該原マスクパタンデ−タを構成する線
    分の中の所定方向の線分以外の線分を抽出し、前記抽出
    された各線分に、該線分の両端の線分のつながり方に対
    応するつながり情報を付与し、 前記抽出された各線分からなるパタンデ−タを、当該線
    分の端点を通過する前記所定方向に平行な複数の線で分
    割し、 前記平行な線で挟まれた前記分割された領域ごとに、当
    該領域に存在する線分に対して、パタンの重なりを形成
    する部分の線分を除去し、 当該除去により生成された新たな線分を検出して該線分
    に対し該線分の両端の線分のつながり方に対応するつな
    がり情報を付与し、 前の前記分割領域の線分を当該線分の前記つながり情報
    に応じてサイジング処理して当該処理により生成された
    線分からなるパタンデ−タを生成し、 前記線分の除去から前記パタンデ−タの生成までの処理
    を順次繰り返して行い、 前記生成されたパタンデ−タに基づいて描画用マスクパ
    タンデ−タを生成するマスクパタンデ−タ生成方法。
  2. 【請求項2】前記つながり情報は、前記所定方向の線分
    以外の線分と該線分の両端の他の線分との角度に対応す
    る情報からなる請求項1記載のマスクパタンデ−タ生成
    方法。
  3. 【請求項3】前記原マスクパタンデ−タにおいて前記所
    定方向の線分以外の線分と該線分の両端の他の線分とは
    直角をなす請求項1記載のマスクパタンデ−タ生成方
    法。
  4. 【請求項4】サイジング処理により生成された線分に対
    して重なり除去処理を行い、パタンの重なりが除去され
    たパタンデ−タを生成する請求項1記載のマスクパタン
    デ−タ生成方法。
  5. 【請求項5】入力された原マスクパタンデ−タに対して
    所定の処理を順次行い、描画用マスクパタンデ−タを生
    成するマスクパタンデ−タ生成装置であって、 入力された原マスクパタンデ−タに係わる線分で示され
    たパタンデ−タから、所定方向の線分以外の線分を抽出
    する線分抽出手段と、 前記抽出された各線分に、該線分の両端の線分のつなが
    り方に対応するつながり情報を付与するつながり検出手
    段と、 前記抽出された各線分からなるパタンデ−タを、当該線
    分の端点を通過する前記所定方向に平行な線分で分割す
    る線分分割手段と、 前記平行な線分で挟まれた前記分割領域ごとに、当該領
    域に存在する線分に対して、パタンの重なりを形成する
    部分の線分を除去する重なり除去手段と、 当該除去により生成された新たな線分を検出して該線分
    に対し該線分の両端の線分のつながり方に対応するつな
    がり情報を付与する手段と、 前の前記分割領域の線分を当該線分の前記つながり情報
    に応じてサイジング処理して当該処理により生成された
    線分からなるパタンデ−タを生成するサイジング処理手
    段とを有するマスクパタンデ−タ生成装置。
  6. 【請求項6】前記つながり情報は、前記所定方向に平行
    な線分と該線分の両端の他の線分との角度に対応する情
    報からなる請求項5記載のマスクパタンデ−タ生成装
    置。
  7. 【請求項7】前記原マスクパタンデ−タにおいて前記所
    定方向の線分以外の線分と該線分の両端の他の線分とは
    直角をなす請求項5記載のマスクパタンデ−タ生成装
    置。
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CN104423139A (zh) * 2013-08-19 2015-03-18 苹果公司 自适应光掩模及其使用方法

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