JPH11253446A - 断層画像処理方法及び装置 - Google Patents

断層画像処理方法及び装置

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JPH11253446A
JPH11253446A JP10063001A JP6300198A JPH11253446A JP H11253446 A JPH11253446 A JP H11253446A JP 10063001 A JP10063001 A JP 10063001A JP 6300198 A JP6300198 A JP 6300198A JP H11253446 A JPH11253446 A JP H11253446A
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澤 義 人 東
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博 福喜多
Takashi Hagiwara
原 尚 萩
Takao Suzuki
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 超音波画像の3次元表示を行う断層画像処理
装置において、超音波振動子位置の測定を行うことな
く、画像の変形を抑えて測定対象の形状把握に適した画
像を生成する優れた断層画像処理装置を提供することを
目的とする。 【解決手段】 3次元走査により生成される断層画像と
断層面間隔を求めるために記録された参照用断層画像と
の対応点を指定する対応点指定手段10と、前記対応点
指定手段10により指定された点の位置座標に基づいて
断層画像間の距離を算出する断層面間距離算出手段11
と、前記断層面間距離算出手段11により与えられる断
層面間の位置情報に基づき、3次元画像データの生成を
行う3次元画像データ生成手段3とを備える構成とし
た。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は超音波画像の3次元
表示を行う断層画像処理装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、超音波画像処理装置は特開平7−
213521号公報に記載されたものが知られている。
図7は従来の超音波画像処理装置の構成を示しており、
これは超音波の送受信を行い受信信号をディジタル信号
として出力する超音波走査手段1、受信信号を記録する
メモリ2、断層画像もしくは投影画像の表示を行う表示
手段4、画素の位置データおよび画素データを格納する
3次元画像用メモリ5、画素の位置データと画素データ
から断層画像を生成する断層画像生成手段8、画素の位
置データと画素データから投影画像を生成する投影画像
生成手段9から構成されている。
【0003】以上のように構成された従来の超音波画像
処理装置について、図7を用いてその動作を説明する。
まず、超音波走査手段1は体内に対して2次元走査によ
る超音波の送受信を行い、受信信号を検波およびA/D
変換によりディジタル信号として出力する。受信信号は
一旦、メモリ2に記録され、1断面分の受信信号が記録
されるまで超音波走査が行われる。
【0004】1断面分の走査が終わると、2次元走査に
より記録された受信信号は断層画像となる。以降同様に
して、複数回の2次元走査を位置を変えて繰り返すこと
で超音波の3次元走査を行い、複数の断層画像をメモリ
2に記録する。3次元走査終了後、メモリ2に記録され
た断層画像に基づき、3次元画像データとして断層画像
生成手段8により断層画像が作成されるか、もしくは投
影画像生成手段9により投影画像が生成され、3次元画
像用メモリ5に記録される。最後に断層画像もしくは投
影画像は表示手段4により表示される。
【0005】次に3次元走査について、図8を用いてさ
らに詳細に説明する。図8は3次元走査の様子を表す図
であり、801は電気信号と音波との変換を行う超音波
振動子、802と803は超音波の2次元走査により断
層画像として構成される断面の範囲である。
【0006】3次元走査では、2次元走査を行い超音波
断層画像を表示するために使用する超音波振動子801
を機械的に移動させるか、もしくは操作者が手で移動さ
せることが行われる。まず、超音波振動子801は超音
波の2次元走査により断面を走査し、断面802の範囲
の受信信号を得る。次に、機械的もしくは操作者の手に
より超音波振動子801を移動させ、前回の走査範囲8
02とは異なる位置の断面803の2次元走査を行う。
以上の操作を複数回繰り返し、3次元空間上の受信信号
を得る。
【0007】3次元走査において、超音波振動子801
を手で移動させた場合には、超音波断層画像用の超音波
走査手段1を使用することができるという利点がある
が、3次元画像データの生成には3次元走査の際の超音
波振動子801の移動方向および移動量を知る必要があ
る。従来の実施の形態においては、装置の簡単化のため
に移動方向および移動量を測定することなく、移動方向
を2次元走査の断面と垂直方向とし、断面が平行に並ん
でいるものと仮定して3次元画像データを生成してい
た。
【0008】次に従来の超音波画像処理装置における3
次元画像データの作成について、図7および図9を用い
てさらに詳細に説明する。図9は投影画像作成の様子を
表した図であり、図9(a)は断層面と平行に近い面の
投影画像を生成する場合の模式図、図9(b)は断層面
と垂直に近い面の投影画像を生成する場合の模式図であ
る。また、図9において、901は記録された断層画
像、902は断層画像内の画素、903は投影画像、9
04は投影画像上の画素、905は投影画像の計算に用
いる画素をトレースする投影線である。
【0009】3次元走査終了後、3次元画像データを生
成する場合として、断層画像もしくは投影画像を生成す
る面と3次元走査により記録された断層画像との関係に
より下記の2つに分類する。
【0010】(1)記録された断層面を平行とみなし、
断層面と平行に近い方向の断層画像もしくは投影画像を
生成する場合。例えば記録された断層画像901と投影
画像903が図9(a)のような位置関係にある場合。
【0011】(2)記録された断層面と垂直に近い断層
画像もしくは投影画像を生成する場合。例えば記録され
た断層画像901と投影画像903が図9(b)のよう
な位置関係にある場合。
【0012】上記(1)の場合には、断層面内において
は画素の位置関係はわかっており、投影画像の画素配置
を断層画像の画素配置と同一とすれば、断層面間の位置
関係を必ずしも必要とせず、画素補間の演算や画素の位
置関係の算出は必要はない。投影画像を生成するために
は、断層画像901上の画素902の位置と投影画像9
03上の画素904の位置を一致するように設定し、投
影線905上にある断層画像901上の画素902を使
用して投影画像上の画素904の値を求めればよい。
【0013】したがって上記(1)の場合、投影画像生
成手段9は以下のような動作を行う。まず、メモリ2に
蓄積された複数の断層画像のデータを使用して、投影画
像生成手段9は断層面と垂直に投影処理を行い、投影画
像を生成する。投影画像は3次元画像用メモリ5に蓄積
される。蓄積された投影画像は表示手段4により表示さ
れる。
【0014】上記(2)の場合には、断層面の互いの位
置関係を知る必要がある。簡略的に2次元走査用の超音
波走査手段のみで3次元走査を行う場合には、断層面が
互いに平行とみなしても断層面間隔は測定しなければ未
知となる。すなわち投影画像の1画素あたりの寸法と断
層面間隔は一致しない場合が多い。その場合には、断層
面間隔を断層面内の1画素分の距離と同じ距離として画
素を配置すると、投影画像は3次元走査における断層面
の移動方向に拡大もしくは縮小した画像となる。
【0015】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記従
来の超音波画像処理装置においては、3次元走査におい
て超音波振動子の位置測定による断層画像の位置情報を
利用しない場合には、断層画像と垂直な面の断層画像も
しくは投影画像を作成すると変形した画像となり、測定
対象の形状を知ることが困難であるという問題を有して
いた。また、超音波振動子の移動速度にむらがある場
合、移動速度が小さい領域が移動方向に引き伸ばされた
断層画像もしくは投影画像が生成されてしまうという問
題を有していた。
【0016】本発明は、上記従来の問題を解決するもの
で、超音波振動子位置の測定を行うことなく、3次元走
査により記録された画像データから断層面の相対位置を
補正して断層画像および投影画像を作成することによ
り、画像の変形を抑えて測定対象の形状把握に適した画
像を生成する優れた断層画像処理装置を提供することを
目的とする。
【0017】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
に本発明は、3次元走査により生成される断層画像と参
照用断層画像との対応点を指定する対応点指定手段と、
前記対応点指定手段により指定された点の位置座標に基
づいて断層画像間の距離を算出する断層面間距離算出手
段と、3次元画像データの生成を行う3次元画像データ
生成手段とを備え、3次元走査により生成される断層画
像と参照用断層画像との対応点から断層面間距離を算出
および補正できるようにしたものである。
【0018】また上記問題を解決するために本発明は、
超音波断層画像間で画素値の差分平均値を算出する断層
画像変化量算出手段と、画素値の差分平均値に基づいて
断層画像間隔の小さい領域を推定する断層面位置推定手
段と、3次元画像データの生成を行う3次元画像データ
生成手段とを備え、断層画像の画素値の差分平均値から
局所的な断層面間隔の小さい領域を補正できるようにし
たものである。
【0019】以上により本発明は、超音波振動子位置の
測定を行うことなく、3次元走査により記録された画像
データから断層面の相対位置を補正して断層画像および
投影画像を作成することにより、画像の変形を抑えて測
定対象の形状把握に適した画像を生成する優れた断層画
像処理装置が得られる。
【0020】
【発明の実施の形態】本発明の請求項1に記載の発明
は、断層画像処理方法として、超音波画像の3次元表示
を行う断層画像処理において、超音波振動子位置の測定
を行うことなく、断層面の相対位置を推定および補正し
て断層画像と投影画像を作成するようにしたものであ
り、画像の変形を抑えて測定対象の形状把握に適した画
像を生成するという作用を有する。
【0021】本発明の請求項2に記載の発明は、断層画
像処理装置として、3次元走査により生成される断層画
像と断層面間隔を求めるために記録された参照用断層画
像との対応点を指定する対応点指定手段と、前記対応点
指定手段により指定された点の位置座標に基づいて断層
画像間の距離を算出する断層面間距離算出手段と、前記
断層面間距離算出手段により与えられる断層面間の位置
情報に基づき、3次元画像データの生成を行う3次元画
像データ生成手段とを備えたものであり、3次元走査に
より生成される断層画像と参照用断層画像との対応点か
ら断層面間距離を算出および補正し、画像の変形を抑え
た断層画像もしくは投影画像を生成できるという作用を
有する。
【0022】また、請求項3に記載の発明は、断層画像
処理装置として、隣接する断層画像間の画素値の差分平
均値を算出する断層画像変化量算出手段と、画素値の差
分平均値に基づいて断層画像間隔の小さい領域を推定す
る断層面位置推定手段と、前記断層面位置推定手段によ
り与えられる断層面間隔の情報に基づき、3次元画像デ
ータの生成を行う3次元画像データ生成手段とを備えた
ものであり、断層画像の画素値の差分平均値から局所的
な断層面間隔の小さい領域を補正し、画像の変形を抑え
た断層画像もしくは投影画像を生成できるという作用を
有する。
【0023】以下、本発明の実施の形態について、図1
乃至図6を用いて説明する。
【0024】(第1の実施の形態)図1は第1の実施の
形態における超音波画像処理装置の構成を示しており、
超音波の送受信を行い受信信号をディジタル信号として
出力する超音波走査手段1、受信信号を記録するメモリ
2、受信信号から3次元画像データの生成を行う3次元
画像データ生成手段3、断層画像もしくは投影画像の表
示を行う表示手段4、3次元走査により生成される断層
画像と参照用断層画像との対応点を指定する対応点指定
手段10、前記対応点指定手段10により指定された点
の位置座標に基づいて断層画像間の距離を算出する断層
面間距離算出手段11から構成されている。
【0025】また、上記3次元画像データ生成手段3は
詳細には、画素の位置データおよび画素データを格納す
る3次元画像用メモリ5、断層画像の位置データに基づ
いて画素の位置を算出する画素位置算出手段6、受信信
号の存在しない場所にある画素を補間する画素補間手段
7、画素の位置データと画素データから断層画像を生成
する断層画像生成手段8、画素の位置データと画素デー
タから投影画像を生成する投影画像生成手段9から構成
されている。
【0026】以上のように構成された超音波画像処理装
置について、図1を用いてその動作を説明する。まず、
超音波走査手段1は体内に対して2次元走査による超音
波の送受信を行い、受信信号を検波およびA/D変換に
よりディジタル信号として出力する。受信信号は一旦、
メモリ2に記録され、1断面分の受信信号が記録される
まで超音波走査が行われる。
【0027】1断面分の走査が終わると、2次元走査に
より記録された受信信号は断層画像となる。以降同様に
して、複数回の2次元走査を位置を変えて繰り返すこと
で超音波の3次元走査を行い、複数の断層画像を記録す
る。3次元走査終了後、先の3次元走査範囲内にあり、
かつ記録された断面と垂直に近い断面において超音波の
2次元走査を行い、参照用断層画像をメモリ2に記録す
る。対応点指定手段10は、3次元走査により記録され
た断層画像と参照用断層画像において対応する点の入力
を受ける。
【0028】断層面間距離算出手段11は指定された点
の位置情報から断層面間隔を算出する。3次元画像デー
タ生成手段3は記録された断層画像のみ、もしくは断層
画像と断層面間距離算出手段11により与えられる断層
面間の位置関係に関する情報に基づき、3次元画像デー
タとして断層画像もしくは投影画像を生成する。
【0029】3次元画像データ生成手段3においては、
まず画素位置算出手段6により、断層画像もしくは投影
画像の生成に必要な画素の位置座標が、画素が位置して
いた断層画像における2次元座標、画素が位置していた
断層画像の記録された順番および断層面間距離算出手段
11により求められた断層面間隔から求められる。
【0030】その後、画素値が位置座標に基づいて3次
元画像用メモリ5に配置される。一方、画素補間手段7
は、3次元走査により記録された断層画像のみでは、断
層画像もしくは投影画像を形成するために必要な画素を
満たすことができない場合、画素値を補間して3次元画
像用メモリ5に配置する。断層画像もしくは投影画像の
生成に必要な画素値が揃うと、断層画像生成手段8によ
る断層画像の生成、もしくは投影画像生成手段9による
投影画像の生成が行われ、3次元画像用メモリ5に記録
される。投影画像の生成は、例えばM. Levoy,"Display
of Surfaces from Volume Data", IEEE Computer Graph
ics & Application, Vol.8, pp. 29-37,(1988) に記載
された方法を使用する。最後に断層画像もしくは投影画
像は表示手段4により表示される。
【0031】次に対応点の指定について、図2を用いて
さらに詳細に説明する。図2は対応点の指定の様子を表
した図であり、201は3次元走査により記録された断
層画像、202は断層画像201上の画素、203は断
層画像201に垂直な面に画素202を配置した断層画
像、204は断層面間隔を求めるために記録された参照
用断層画像、205は断層面間隔が補正された画像、2
06および207は断層面間隔を算出するために断層画
像203上に指定された点、208および209は指定
点206および207が位置する断層画像、210およ
び211は指定点206および207に対応する点とし
て参照用断層画像204上に指定された点である。
【0032】まず対応点指定手段10は、対応点を指定
するために記録された参照用断層画像204を表示す
る。3次元走査により記録された断層画像に基づき、断
層画像201に垂直かつ断層面間隔を1画素と仮定して
画素データを配置した断層画像203を生成する。断層
画像203の位置は、断層画像204に最も近い画像が
得られるように指定される。次に断層画像203におい
て2つの点206および207が操作者により指定され
る。2つの指定点206と207の位置関係の条件とし
て、断層面の移動方向すなわち断層画像の水平方向に少
なくとも1画素分以上はなれていることが求められる。
さらに、断層画像204においても指定点206および
207に対応する点210および211が指定される。
【0033】次に断層面間距離算出手段11は指定点2
06、207、210、211の位置情報を受け、指定
点206と207、210と211の2点間の距離を算
出する。指定点206と207については断層面201
の3次元走査における移動方向の距離、すなわち断層画
像203上における水平距離が求められる。例えば、指
定点206がn1番目に記録された断層画像208に、
指定点207がn2番目に記録された断層画像209に
位置し、n1<n2とすると、2点間距離に含まれる枚
数L1として(n2−n1)が求められる。指定点21
0および211についても2点間水平距離L2がまた求
められる。L1は記録された断層画像の枚数、L2は断
層画像201の1画素の寸法を単位とした距離として表
現される。L1とL2より断層面間の平均距離dLが下
記の式(1)より求められる。
【0034】dL= L2/L1 … (1) 上記式(1)により求められた断層面間隔dLに基づ
き、3次元画像データ生成手段3は画素の配置および補
間を行い、断層画像もしくは投影画像を生成する。以上
の処理により断層面間隔が補正された画像205を得
る。
【0035】以上のように本発明の実施の形態によれ
ば、3次元画像データの生成を行う3次元画像データ生
成手段と、3次元走査により生成される断層画像と参照
用断層画像との対応点を指定する対応点指定手段と、前
記対応点指定手段により指定された点の位置座標に基づ
いて断層画像間の距離を補正する断層面間距離算出手段
とを設けることにより、断層面間距離を等間隔として補
正した断層画像もしくは投影画像を作成し、画像の変形
を抑えて測定対象の形状把握に適した画像を生成するこ
とができる。
【0036】なお、この実施の形態においては3次元画
像データを格納する3次元画像用メモリ5を受信信号を
記録するメモリ2と別の構成としたが、3次元画像用メ
モリ5の機能をメモリ2が兼ねてもよい。また、記録さ
れた断層画像は互いに平行に位置して1断面間隔あたり
の距離を求めるものとして、断層画像203および20
4においてそれぞれ2点ずつを指定するものとしたが、
4点以上を指定して1断面間隔あたりの傾きを算出する
こともできる。また、記録された断層画像は一定間隔で
位置するものとして、断層画像203および204にお
いてそれぞれ2点ずつを指定するものとしたが、3点以
上を指定することにより場所により断層面間隔が変化す
る場合でも、その変化に応じて1断面間隔を求めること
ができる。
【0037】(第2の実施の形態)図3は第2の実施の
形態における超音波画像処理装置の構成を示しており、
これは3次元走査により記録された画像データに対して
しきい値処理を行うしきい値処理手段12、隣接する断
層画像間を用いて画素値の差分平均値を算出する断層画
像変化量算出手段13、画素値の差分平均値および対応
点の情報から断層面間隔の小さい領域を推定する断層面
位置推定手段14から構成されている。その他の構成要
素は第1の実施の形態と同じものである。
【0038】以上のように構成された超音波画像処理装
置について、図3を用いてその動作を説明する。まず、
第1の実施の形態と同様にして超音波走査手段1により
3次元走査が行われ、複数の断層画像がメモリ2に記録
される。3次元走査後、しきい値処理手段12により断
層画像間の画素値の差分平均値を算出するのに適した画
素データのみが選択されて断層画像変化量算出手段13
へ転送される。断層画像変化量算出手段13において
は、選択された画素データに基づいて隣接断層画像間の
画素値の差分平均値を算出する。
【0039】一方、対応点指定手段10においては、第
1の実施の形態と同様にして3次元走査における断層面
間の位置関係に関する情報として対応点が指定される。
隣接画像間の画素データの差分平均値と対応点の位置情
報は、断層面位置推定手段14により断層面間隔の情報
に変換される。3次元画像データ生成手段3において
は、断層面位置推定手段14により求められた断層面間
隔の情報、およびメモリ2に記録された断層画像に基づ
き、第1の実施の形態と同様にして断層画像もしくは投
影画像が生成される。生成された断層画像もしくは投影
画像は表示手段4に送られて表示される。
【0040】次に第2の実施の形態における断層面間隔
の算出の方法について、図4、図5、図6を用いてさら
に詳細に説明する。図4は断層画像間の画素差分平均値
算出の模式図、図5は断層画像の画素値ヒストグラム、
図6(a)は画素差分平均値の変化を表す図、図6
(b)はノイズの影響を抑えた場合の画素差分平均値の
変化を表す図、図6(c)は断層面間隔の変化を表す
図、である。
【0041】図4において、401は3次元走査により
記録された断層画像、402および403は記録された
断層画像401のうちそれぞれn1番目とn2番目に記
録された断層画像、404は断層画像401に垂直な断
層画像、405および406はそれぞれ断層画像402
と403上の画素列、407は断層面間隔を求めるため
に記録された参照用断層画像、408および409は断
層面間隔を算出するために断層画像404上で指定され
た点、410および411は指定点408および409
に対応する点として断層画像407上に指定された点、
412は断層面間隔が小さい部分、413は補正された
断層画像である。
【0042】断層画像間の画素値の差分平均値算出にお
いては、まず記録された断層画像全体にわたり最も多く
存在し、局所的な超音波反射出力の平均値が場所により
変化することが小さい反射領域の画素を、画素データの
しきい値処理により選別する。この処理により、局所的
に存在する低反射領域や高反射領域の画素データが除か
れる。低反射領域とは例えば血液や羊水などに、高反射
領域とは例えば組織境界等が当てはまる。
【0043】しきい値の設定は、画素データのヒストグ
ラムを作成し、最も出現頻度の多い画素データを一定数
の割合で含むように設定する。この割合は、測定条件に
より最適なしきい値は異なり、経験的に決められる。例
えば、図5のように最も出現頻度の高い画素データの値
を中心として、高い画素値および低い画素値を持つ画素
数がそれぞれ全画素数の25%、計50%となるように
しきい値を決定する。もしくは操作者が試行錯誤的に最
適となるようにしきい値が設定される。
【0044】断層画像変化量算出手段13では、しきい
値処理手段12により選択された画素データを用い、断
層画像の各画素と隣接断層画像の対応する画素との差の
絶対値が計算される。次に画素列ごとに差の絶対値の平
均値が計算され、断層画像ごとの画素差分平均値f
(n)が求められる。例えば断層画像402の計算を行
う場合、まず画素列405とn1+1番目に記録された
断層画像上にある画素列との間で、各画素の差の絶対値
を計算する。対応する画素がしきい値処理により除かれ
ている場合には、その位置の画素について計算を行わな
い。
【0045】各画素について差分が求まったらその平均
値を計算し、f(n1)を求める。以上のような計算を
各断層画像で行うと、図6(a)のような断層画像によ
る画素差分平均値f(n)の変化を求めることができ
る。この画素差分平均値の変化は、しきい値処理により
測定対象の形状の影響が抑えられているために、3次元
走査時の断層画像記録位置の変化および測定系のノイズ
に起因するものとする。
【0046】ノイズの影響は次のように抑制する。前も
って位置を変化させずに複数の断層画像を記録し、その
断層画像間の画素差分平均値の変化f0(n)を求め
る。f0(n)の平均値をf0とすると、f0を求めて
おくことでノイズレベル、すなわち移動量0のオフセッ
ト値を求めることができる。このf0を画素差分平均値
の変化量f(n)から差し引くことによりノイズの影響
を抑制する。この処理により、例えば図6(a)の画素
差分平均値の変化は図6(b)のように変換される。こ
のようにして求められた画素差分平均値の変化量f
(n)−f0は3次元走査時の断層画像記録位置の変化
を表すものとする。すなわち、画素差分平均値の変化量
f(n)−f0が小さいほど断層画像の記録位置の変化
が小さいものとする。
【0047】一方、対応点指定手段10においては第1
の実施の形態と同様にして、3次元走査において断層画
像と垂直かつ、断層面間距離を1画素と仮定して作られ
る断層画像404と、3次元走査とは別に記録した参照
用断層画像407の2枚の断層画像でそれぞれ対応する
点408、409と410、411が指定される。
【0048】断層面位置推定手段14においては、指定
点410と411間の水平距離L2を、指定点408と
409の間で画素差分平均値の変化量f(n)−f0を
積算した値sで除算し、画素差分平均値の変化量1あた
りの断層面間隔L2/sを求める。さらに、断層面間隔
n番目の断層画像とn+1番目の断層画像の間の間隔d
L(n)を下記の式(2)により求める。
【0049】 dL(n)=(L2/s)×f(n) … (2) 式(2)式により局所的な断層画像の間隔dLが求めら
れ、図6(c)のような断層面間隔の変化を得ることが
できる。以上の処理を断層画像401内の他の画素列に
ついても同様な処理を行なうことで、領域412のよう
な各断層画像の間隔がほとんど変化していない領域を推
定できる。
【0050】3次元画像データ生成手段3は断層面間隔
dL(n)に基づき、メモリ2に記録された画像データ
から断層画像の生成に必要な画素を使用し、画素の配置
と補間により断層画像を生成する。もしくは、メモリ2
に記録された画像データから投影画像の投影処理に必要
な画素を使用し、第1の実施の形態と同様な方法で投影
画像を生成する。以上の処理によれば、領域412のよ
うな断層画像の記録位置がほとんど変化せず、冗長な情
報を含む領域の断層面間隔を投影画像もしくは断層画像
作成の際に圧縮し、画像413のような補正した画像を
生成することができる。
【0051】以上のように本発明の上記実施の形態によ
れば、3次元画像データの生成を行う3次元画像データ
生成手段と、3次元走査により記録された画像データに
対してしきい値処理を行うしきい値処理手段と、隣接す
る断層画像間の画素値の差分平均値を算出する断層画像
変化量算出手段と、画素値の差分平均値および対応点の
情報から断層画像間隔の小さい領域を推定する断層面位
置推定手段とを設けることにより、断層画像の画素値の
差分平均値から局所的な断層面間隔の小さい領域を補正
し、画像の変形を抑えて測定対象の形状把握に適した画
像を生成することができる。
【0052】なお、以上の説明では、画素値の差分平均
値から断層面位置を補正するために、画像上で参照用断
層画像を使用したが、これを用いずに画像変化量を距離
に変換するための数値、すなわち1画素値あたりの断層
画像間距離の数値L2/sを直接指定してもよい。また
以上の説明では、画像の変化量を算出するために、1列
分の画素しか使用していないが、断層画像全体の画素を
使用して画像全体の平均的な間隔を求めてもよい。
【0053】
【発明の効果】以上のように本発明は、断層画像と参照
用断層画像との対応点を指定する対応点指定手段と、断
層画像間の距離を算出する断層面間距離算出手段と、3
次元画像データの生成を行う3次元画像データ生成手段
とを備えることにより、3次元走査により生成される断
層画像と参照用断層画像との対応点から断層面間距離を
算出および補正し、画像の変形を抑えた断層画像もしく
は投影画像を生成できるという効果が得られる。
【0054】また、以上のように本発明は、断層画像間
で画素値の差分平均値を算出する断層画像変化量算出手
段と、画素値の差分平均値に基づいて断層画像間隔の小
さい領域を推定する断層面位置推定手段と、3次元画像
データの生成を行う3次元画像データ生成手段とを備え
ることにより、3次元画像データの生成を行う3次元画
像データ生成手段とを備えたものであり、断層画像の画
素値の差分平均値から局所的な断層面間隔の小さい領域
を補正し、画像の変形を抑えた断層画像もしくは投影画
像を生成できるという効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の第1の実施の形態における超音波画像
処理装置の構成図
【図2】対応点の指定の様子を表した図
【図3】本発明の第2の実施の形態における超音波画像
処理装置の構成図
【図4】断層画像間の画素差分平均値算出の模式図
【図5】断層画像の画素値ヒストグラム
【図6】(a)は、画素差分平均値の変化を表す図 (b)は、ノイズの影響を抑えた場合の画素差分平均値
の変化を表す図 (c)は、断層面間隔の変化を表す図
【図7】従来の超音波画像処理装置の構成図
【図8】3次元走査の様子を表す図
【図9】(a)は、断層面と平行に近い面の投影画像を
生成する場合の模式図 (b)は、断層面と垂直に近い面の投影画像を生成する
場合の模式図
【符号の説明】
1 超音波走査手段 2 メモリ 3 3次元画像データ生成手段 4 表示手段 5 3次元画像用メモリ 6 画素位置算出手段 7 画素補間手段 8 断層画像生成手段 9 投影画像生成手段 10 対応点指定手段 11 断層面間距離算出手段 12 しきい値処理手段 13 断層画像変化量算出手段 14 断層面位置推定手段 201 3次元走査により記録された断層画像 202 断層画像201上の画素 203 断層画像201に垂直な断層画像 204 参照用断層画像 205 断層面間隔が補正された画像 206,207 断層画像203上に指定された点 208 指定点206が位置する断層画像 209 指定点207が位置する断層画像 210 指定点206に対応する点として断層画像20
4上に指定された点 211 指定点207に対応する点として断層画像20
4上に指定された点 401 3次元走査により記録された断層画像 402 n1番目に記録された断層画像 403 n2番目に記録された断層画像 404 断層画像401に垂直な断層画像 405 断層画像402上の画素列 406 断層画像403上の画素列 407 参照用断層画像 408, 409 断層画像404上で指定された点 410 指定点408に対応する点として断層画像40
7上に指定された点 411 指定点409に対応する点として断層画像40
7上に指定された点 412 断層面間隔が小さい領域 413 補正された断層画像 801 超音波振動子 802, 803 超音波の2次元走査により断層画像と
して構成される断面の範囲 901 記録された断層画像 902 断層画像内の画素 903 投影画像 904 投影画像上の画素 905 投影画像の計算に用いる画素をトレースする投
影線
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 鈴 木 隆 夫 神奈川県横浜市港北区綱島東四丁目3番1 号 松下通信工業株式会社内

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 超音波画像の3次元表示を行う断層画像
    処理において、超音波振動子位置の測定を行うことな
    く、断層面の相対位置を推定および補正して断層画像と
    投影画像を作成することを特徴とする断層画像処理方
    法。
  2. 【請求項2】 3次元走査により生成される断層画像と
    断層面間隔を求めるために記録された参照用断層画像と
    の対応点を指定する対応点指定手段と、 前記対応点指定手段により指定された点の位置座標に基
    づいて断層画像間の距離を算出する断層面間距離算出手
    段と、 前記断層面間距離算出手段により与えられる断層面間の
    位置情報に基づき、3次元画像データの生成を行う3次
    元画像データ生成手段とを備えることを特徴とする断層
    画像処理装置。
  3. 【請求項3】 隣接する断層画像間の画素値の差分平均
    値を算出する断層画像変化量算出手段と、 画素値の差分平均値に基づいて断層画像間隔の小さい領
    域を推定する断層面位置推定手段と、 前記断層面位置推定手段により与えられる断層面間隔の
    情報に基づき、3次元画像データの生成を行う3次元画
    像データ生成手段とを備えることを特徴とする断層画像
    処理装置。
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Cited By (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2009034262A (ja) * 2007-07-31 2009-02-19 Hitachi Medical Corp 超音波診断装置
WO2013099140A1 (en) * 2011-12-27 2013-07-04 Canon Kabushiki Kaisha Image processing device, image processing method, and program
JP2016016159A (ja) * 2014-07-09 2016-02-01 キヤノン株式会社 被検体情報取得装置および被検体情報取得装置の制御方法

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WO2013099140A1 (en) * 2011-12-27 2013-07-04 Canon Kabushiki Kaisha Image processing device, image processing method, and program
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