JP2606417B2 - 超音波診断装置 - Google Patents
超音波診断装置Info
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- JP2606417B2 JP2606417B2 JP2202110A JP20211090A JP2606417B2 JP 2606417 B2 JP2606417 B2 JP 2606417B2 JP 2202110 A JP2202110 A JP 2202110A JP 20211090 A JP20211090 A JP 20211090A JP 2606417 B2 JP2606417 B2 JP 2606417B2
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Description
【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、人体器官の断層画像を得るための、セクタ
走査方式（広義としてリニア、コンベックス方式を含
む）の超音波診断装置に関するものである。
走査方式（広義としてリニア、コンベックス方式を含
む）の超音波診断装置に関するものである。
従来の技術 セクタ走査方式の超音波診断装置は、被検体内に超音
波ビームを放射状に照射して被検体からの超音波エコー
をサンプルし、相互間が略平行に位置する複数の音響走
査線上におけるサンプルデータを走査変換することによ
り、ディスプレー上に断層画像を構成するものである。
波ビームを放射状に照射して被検体からの超音波エコー
をサンプルし、相互間が略平行に位置する複数の音響走
査線上におけるサンプルデータを走査変換することによ
り、ディスプレー上に断層画像を構成するものである。
上記セクタ走査方式の超音波診断装置によれば、小さ
な探触子によって広い視野の断層画像を得ることができ
るので、特に体腔内の診断用に多く用いられている。
な探触子によって広い視野の断層画像を得ることができ
るので、特に体腔内の診断用に多く用いられている。
一般に、超音波診断装置のディスプレーは、超音波ビ
ームの被検体に対する照射が放射状に行われるため扇型
を呈している。このため、ディスプレーの走査線と上記
音響走査線との交点以外の音響走査線上に存在するサン
プルデータの表示濃度を決定するには、このサンプルデ
ータに隣接し上記ディスプレー走査線と音響走査線との
交点に位置するサンプルデータを用いて補間を行う必要
がある。
ームの被検体に対する照射が放射状に行われるため扇型
を呈している。このため、ディスプレーの走査線と上記
音響走査線との交点以外の音響走査線上に存在するサン
プルデータの表示濃度を決定するには、このサンプルデ
ータに隣接し上記ディスプレー走査線と音響走査線との
交点に位置するサンプルデータを用いて補間を行う必要
がある。
以下、従来のこの種の超音波診断装置における補間に
ついて、第８図（ａ）に基づいて説明する。
ついて、第８図（ａ）に基づいて説明する。
例えば、第８図（ａ）に示すように充分密にサンプル
した音響走査線Ｐ上の画素点Ｄのデータを補間する場合
には、画素点Ｄと同一の音響座標線Ｐ上における、画素
点Ｄを挾むように隣接しディスプレー走査線Ｈと音響走
査線Ｐとの交点に位置する２つの交点サンプルデータ
S1、S2を取り出し、この２つの交点サンプルデータS1、
S2の間の補間を行うことにより、画素点Ｄのデータの構
成をリアルタイムで行っている。
した音響走査線Ｐ上の画素点Ｄのデータを補間する場合
には、画素点Ｄと同一の音響座標線Ｐ上における、画素
点Ｄを挾むように隣接しディスプレー走査線Ｈと音響走
査線Ｐとの交点に位置する２つの交点サンプルデータ
S1、S2を取り出し、この２つの交点サンプルデータS1、
S2の間の補間を行うことにより、画素点Ｄのデータの構
成をリアルタイムで行っている。
発明が解決しようとする課題 しかしながら、上記従来の超音波診断装置では、例え
ば第８図（ｂ）に示すように、プローブ（図示せず）、
即ちセクタの中心から離れてディスプレー走査線Ｈとの
なす角が小さい音響走査線Ｐ上に位置する画素点Ｅの補
間を行う場合にも、この画素点Ｄに近接する交点サンプ
ルデータS5、S6、S7、S8を用いず、上記交点サンプルデ
ータS5、S6、S7、S8よりも遠い、画素点Ｅと同一の音響
座標線Ｐ上の交点サンプルデータS3、S4を用いて補間を
行う。
ば第８図（ｂ）に示すように、プローブ（図示せず）、
即ちセクタの中心から離れてディスプレー走査線Ｈとの
なす角が小さい音響走査線Ｐ上に位置する画素点Ｅの補
間を行う場合にも、この画素点Ｄに近接する交点サンプ
ルデータS5、S6、S7、S8を用いず、上記交点サンプルデ
ータS5、S6、S7、S8よりも遠い、画素点Ｅと同一の音響
座標線Ｐ上の交点サンプルデータS3、S4を用いて補間を
行う。
このため、補間により得られる画素点Ｅのデータの精
度が上がらず、ディスプレー上で横に流れたような表示
となってしまうという問題があった。
度が上がらず、ディスプレー上で横に流れたような表示
となってしまうという問題があった。
また、ディスプレー走査線Ｈとのなす角がほぼ０度と
なるような音響走査線Ｐ上に位置する画素点Ｆの場合
は、第８図（ｃ）に示すように画素点Ｆの図中左方向の
同一音響走査線Ｐ上に交点サンプルデータが存在しない
ので補間が行えず、このため全てのセクタ領域に関する
画素点に関する補間を行ってディスプレーに表示するこ
とができないという問題があった。
なるような音響走査線Ｐ上に位置する画素点Ｆの場合
は、第８図（ｃ）に示すように画素点Ｆの図中左方向の
同一音響走査線Ｐ上に交点サンプルデータが存在しない
ので補間が行えず、このため全てのセクタ領域に関する
画素点に関する補間を行ってディスプレーに表示するこ
とができないという問題があった。
本発明は上記問題点を解決するものであり、全てのセ
クタ領域に亘って質のよい断層画像を構成して表示させ
ることができる超音波診断装置を提供することを目的と
する。
クタ領域に亘って質のよい断層画像を構成して表示させ
ることができる超音波診断装置を提供することを目的と
する。
課題を解決するための手段 本発明は上記目的を達成するために、断層画像の表示
領域に対応して設定される複数の画素点の直交座標値を
発生する画素座標値発生手段と、複数の画素点中に均等
に存在するように設定される代表画素点の半径座標値を
記憶する半径座標値記憶手段と、上記画素座標値発生手
段から出力される各画素点の直交座標値と上記半径座標
値記憶手段に記憶された上記代表画素点の半径座標値に
基づいて各画素点の半径座標値を線形補間する半径座標
値補間手段と、上記代表画素点の角度座標値を記憶する
角度座標値記憶手段と、上記画素座標値発生手段から出
力される各画素点の直交座標値と上記角度座標値記憶手
段に記憶された上記代表画素点の角度座標値に基づいて
各画素点の角度座標値を線形補間する角度座標値補間手
段と、被検体からのエコー信号により得られる複数のサ
ンプルデータをプローブの走査方向を示す角度座標値と
プローブからの距離を示す半径座標値に対応させて記憶
するサンプルデータ記憶手段と、上記半径座標値補間手
段及び上記角度座標値補間手段の補間結果に基づいて各
画素点の近傍のサンプルデータを選出して線形補間し各
画素点の表示濃度を算出する画素データ補間手段とを備
えたものである。
領域に対応して設定される複数の画素点の直交座標値を
発生する画素座標値発生手段と、複数の画素点中に均等
に存在するように設定される代表画素点の半径座標値を
記憶する半径座標値記憶手段と、上記画素座標値発生手
段から出力される各画素点の直交座標値と上記半径座標
値記憶手段に記憶された上記代表画素点の半径座標値に
基づいて各画素点の半径座標値を線形補間する半径座標
値補間手段と、上記代表画素点の角度座標値を記憶する
角度座標値記憶手段と、上記画素座標値発生手段から出
力される各画素点の直交座標値と上記角度座標値記憶手
段に記憶された上記代表画素点の角度座標値に基づいて
各画素点の角度座標値を線形補間する角度座標値補間手
段と、被検体からのエコー信号により得られる複数のサ
ンプルデータをプローブの走査方向を示す角度座標値と
プローブからの距離を示す半径座標値に対応させて記憶
するサンプルデータ記憶手段と、上記半径座標値補間手
段及び上記角度座標値補間手段の補間結果に基づいて各
画素点の近傍のサンプルデータを選出して線形補間し各
画素点の表示濃度を算出する画素データ補間手段とを備
えたものである。
作用 本発明は上記構成により、セクタの中心から離れた音
響走査線上に位置する画素点の補間を、この画素点に近
接するサンプルデータを用いて行うので、全てのセクタ
領域に亘って質のよい断層画像を構成して表示させるこ
とができる。
響走査線上に位置する画素点の補間を、この画素点に近
接するサンプルデータを用いて行うので、全てのセクタ
領域に亘って質のよい断層画像を構成して表示させるこ
とができる。
実施例 以下、本発明の実施例を図面に基づいて説明する。第
１図は、本発明の一実施例による超音波診断装置の概略
構成を示すブロック図である。
１図は、本発明の一実施例による超音波診断装置の概略
構成を示すブロック図である。
第１図において、１は、第２図に示すようにセクタ領
域内のXY直交座標上における複数の画素点Ｌ、Ｌ、…に
関する座標値を順次発生させる、例えばカウンタ回路等
による画素座標値発生手段である。
域内のXY直交座標上における複数の画素点Ｌ、Ｌ、…に
関する座標値を順次発生させる、例えばカウンタ回路等
による画素座標値発生手段である。
２は、例えばランダムアクセスメモリ（以下RAMと記
す）あるいはリードオンリメモリ（以下ROMと記す）か
らなる半径座標値記憶手段であり、第３図に示すように
上記複数の画素点Ｌ、Ｌ、…のうち、後述する補間計算
を行う際の誤差が無視できる程度の均等間隔で設定され
る代表画素点（本実施例ではＸ方向32個、Ｙ方向32個）
Ｔ、Ｔ、…に関する、例えばプローブからの半径方向の
距離等により示される半径座標値Ｒを記憶している。
す）あるいはリードオンリメモリ（以下ROMと記す）か
らなる半径座標値記憶手段であり、第３図に示すように
上記複数の画素点Ｌ、Ｌ、…のうち、後述する補間計算
を行う際の誤差が無視できる程度の均等間隔で設定され
る代表画素点（本実施例ではＸ方向32個、Ｙ方向32個）
Ｔ、Ｔ、…に関する、例えばプローブからの半径方向の
距離等により示される半径座標値Ｒを記憶している。
尚、本実施例の半径座標値記憶手段２では、上記画素
点Ｌ、Ｌ、…の対称性に鑑みて、第１象限内の代表画素
点Ｔ、Ｔ、…に関する半径座標値Ｒのみを記憶してい
る。
点Ｌ、Ｌ、…の対称性に鑑みて、第１象限内の代表画素
点Ｔ、Ｔ、…に関する半径座標値Ｒのみを記憶してい
る。
３は、上記画素座標値発生手段１から入力される各画
素点Ｌ、Ｌ、…のXY直交座標上の座標値に基づいて、半
径座標値記憶手段２に記憶された所望の代表画素点Ｔ、
Ｔ、…の半径座標値Ｒを取り出し、この半径座標値Ｒに
基づいて各画素点Ｌ、Ｌ、…の半径座標値ｒを補間計算
する半径座標値補間手段である。
素点Ｌ、Ｌ、…のXY直交座標上の座標値に基づいて、半
径座標値記憶手段２に記憶された所望の代表画素点Ｔ、
Ｔ、…の半径座標値Ｒを取り出し、この半径座標値Ｒに
基づいて各画素点Ｌ、Ｌ、…の半径座標値ｒを補間計算
する半径座標値補間手段である。
４は、例えばランダムアクスセメモリ（以下RAMと記
す）あるいはリードオンリメモリ（以下ROMと記す）か
らなる角度座標値記憶手段であり、半径座標値記憶手段
２により半径座標値Ｒが記憶されている代表画素点Ｔ、
Ｔ、…の、例えばプローブとこの代表画素点Ｔ、Ｔ、…
とを結ぶ線のＸ座標軸に対する仰角あるいは俯角により
示される角度座標値θＴを記憶している。
す）あるいはリードオンリメモリ（以下ROMと記す）か
らなる角度座標値記憶手段であり、半径座標値記憶手段
２により半径座標値Ｒが記憶されている代表画素点Ｔ、
Ｔ、…の、例えばプローブとこの代表画素点Ｔ、Ｔ、…
とを結ぶ線のＸ座標軸に対する仰角あるいは俯角により
示される角度座標値θＴを記憶している。
尚、本実施例の角度座標値記憶手段４では半径座標値
記憶手段２と同様に、上記画素点Ｌ、Ｌ、…の対称性に
鑑みて、第１象限内の代表画素点Ｔ、Ｔ、…に関する角
度座標値θＴのみを記憶している。
記憶手段２と同様に、上記画素点Ｌ、Ｌ、…の対称性に
鑑みて、第１象限内の代表画素点Ｔ、Ｔ、…に関する角
度座標値θＴのみを記憶している。
５は、上記画素座標値発生手段１から入力される各画
素点Ｌ、Ｌ、…のXY直交座標上の座標値に基づいて、角
度座標値記憶手段４に記憶された所望の代表画素点Ｔ、
Ｔ、…の角度座標値を取り出し、この角度座標値θＴに
基づいて各画素点Ｌ、Ｌ、…の角度座標値θを補間計算
する角度座標値補間手段である。
素点Ｌ、Ｌ、…のXY直交座標上の座標値に基づいて、角
度座標値記憶手段４に記憶された所望の代表画素点Ｔ、
Ｔ、…の角度座標値を取り出し、この角度座標値θＴに
基づいて各画素点Ｌ、Ｌ、…の角度座標値θを補間計算
する角度座標値補間手段である。
６は、上記半径座標値補間手段３からの半径座標値ｒ
と、角度座標値補間手段５からの角度座標値θとに基づ
いて、各画素点Ｌ、Ｌ、…の表示濃度データを補間計算
により算出する画素データ補間手段である。
と、角度座標値補間手段５からの角度座標値θとに基づ
いて、各画素点Ｌ、Ｌ、…の表示濃度データを補間計算
により算出する画素データ補間手段である。
７は超音波エコー受信手段であり、この超音波エコー
受信手段７には、プローブが全てのセクタ領域に亘って
扇形走査する際に、各セクト毎に被検体に照射される超
音波ビームのエコー信号が受信され、プローブからの距
離に対応したタイミングで順次エコー信号を出力する。
第３図に超音波ビームの送受信状態を示している。第３
図において“O"はプローブの中心位置である。“θ”は
均等に配置された各セクタにおける超音波ビームの放射
方向を示す角度座標値で、“R"はプローブ中心Ｏからの
等距離を示す半径座標値であり、角度座標値θと半径座
標値Ｒとの交点におけるエコー信号がサンプルデータと
して超音波エコー受信手段７より各セクタ毎に順次出力
される。
受信手段７には、プローブが全てのセクタ領域に亘って
扇形走査する際に、各セクト毎に被検体に照射される超
音波ビームのエコー信号が受信され、プローブからの距
離に対応したタイミングで順次エコー信号を出力する。
第３図に超音波ビームの送受信状態を示している。第３
図において“O"はプローブの中心位置である。“θ”は
均等に配置された各セクタにおける超音波ビームの放射
方向を示す角度座標値で、“R"はプローブ中心Ｏからの
等距離を示す半径座標値であり、角度座標値θと半径座
標値Ｒとの交点におけるエコー信号がサンプルデータと
して超音波エコー受信手段７より各セクタ毎に順次出力
される。
８は、この超音波エコー受信手段７からのエコー信号
を検波する検波手段、９は、検波手段８で検波されたエ
コー信号をアナログ／ディジタル（以下A/Dと記す）変
換してサンプルデータS11、S12、S13、S14、…を生成す
るA/D変換器である。
を検波する検波手段、９は、検波手段８で検波されたエ
コー信号をアナログ／ディジタル（以下A/Dと記す）変
換してサンプルデータS11、S12、S13、S14、…を生成す
るA/D変換器である。
10は、A/D変換器９から出力されるサンプルデータ
を、角度座標値θ及び半径座標値Ｒの順番に記憶するア
ドレスを指定するアドレス発生手段、11は、アドレス発
生手段10の出力に基づいてサンプルデータを記憶するサ
ンプルデータ記憶手段である。
を、角度座標値θ及び半径座標値Ｒの順番に記憶するア
ドレスを指定するアドレス発生手段、11は、アドレス発
生手段10の出力に基づいてサンプルデータを記憶するサ
ンプルデータ記憶手段である。
このサンプルデータ記憶手段11には上記画素データ補
間手段６から、補間による表示濃度の算出がなされた画
素点Ｌ、Ｌ、…に近接するサンプルデータの出力指示信
号が送られ、この指示信号に基づいてサンプルデータ記
憶手段11は、該当するサンプルデータを画素データ補間
手段６に出力する。
間手段６から、補間による表示濃度の算出がなされた画
素点Ｌ、Ｌ、…に近接するサンプルデータの出力指示信
号が送られ、この指示信号に基づいてサンプルデータ記
憶手段11は、該当するサンプルデータを画素データ補間
手段６に出力する。
12は、データ補間手段６からの表示濃度データをディ
ジタル／アナログ（以下D/Aと記す）変換するD/A変換
器、13は、D/A変換された表示濃度データに基づいて、
超音波断層画像を表示する表示手段である。
ジタル／アナログ（以下D/Aと記す）変換するD/A変換
器、13は、D/A変換された表示濃度データに基づいて、
超音波断層画像を表示する表示手段である。
次に、上記構成による本実施例の動作について説明す
る。
る。
被検体から得られたエコー信号に基づいて画素座標値
発生手段１は、セクタ領域内のXY直交座標上における複
数の画素点Ｌ、Ｌ、…に関する座標値を、プローブ（図
示せず）の走査方向の順番に発生させ、座標値が設定さ
れた各画素点Ｌ、Ｌ、…は、それぞれ半径座標値補間手
段３及び角度座標値補間手段５により、半径座標値ｒお
よび角度座標値θに関する補間計算が行われる。
発生手段１は、セクタ領域内のXY直交座標上における複
数の画素点Ｌ、Ｌ、…に関する座標値を、プローブ（図
示せず）の走査方向の順番に発生させ、座標値が設定さ
れた各画素点Ｌ、Ｌ、…は、それぞれ半径座標値補間手
段３及び角度座標値補間手段５により、半径座標値ｒお
よび角度座標値θに関する補間計算が行われる。
ここで、上記半径座標値ｒに関する補間計算について
詳説する。
詳説する。
まず、半径座標値ｒの補間計算の第１の例について第
４図を参照して説明すると、補間を行う画素点L1の周囲
に存在する４つの代表画素点T1、T2、T3、T4によって囲
まれる領域を、XY直交座標軸に平行な２本の線にて４等
分し、ａ、ｂ、ｃ、ｄの４つの部分領域に分ける。
４図を参照して説明すると、補間を行う画素点L1の周囲
に存在する４つの代表画素点T1、T2、T3、T4によって囲
まれる領域を、XY直交座標軸に平行な２本の線にて４等
分し、ａ、ｂ、ｃ、ｄの４つの部分領域に分ける。
そして、補間を行う画素点L1が部分領域ａにある場合
は、半径座標値補間手段３によって代表画素点T1、T2、
T3を選出し、また、画素点L1が部分領域ｂにあれば代表
画素点T1、T2、T4を、画素点L1が部分領域ｃにあれば代
表画素点T1、T3、T4を、画素点L1が部分領域ｄにあれば
代表画素点T2、T3、T4をそれぞれ選出し、選出された代
表画素点T1、T2、T3、T4の半径座標値R1、R2、R3、R4を
半径座標値記憶手段２から読み出す。
は、半径座標値補間手段３によって代表画素点T1、T2、
T3を選出し、また、画素点L1が部分領域ｂにあれば代表
画素点T1、T2、T4を、画素点L1が部分領域ｃにあれば代
表画素点T1、T3、T4を、画素点L1が部分領域ｄにあれば
代表画素点T2、T3、T4をそれぞれ選出し、選出された代
表画素点T1、T2、T3、T4の半径座標値R1、R2、R3、R4を
半径座標値記憶手段２から読み出す。
以下、補間を行う画素点L1が部分領域ａにある場合に
ついて説明する。第５図に示すように画素点L1が、最も
近い代表画素点T1からＸ座標軸方向にｓ、Ｙ座標軸方向
にｔの距離にあるものとし、この代表画素点T1から隣接
する代表画素点T2までのＸ座標軸方向の距離単位と、代
表画素点T1から隣接する代表画素点T3のＹ座標軸方向の
距離単位とをそれぞれ１とする。
ついて説明する。第５図に示すように画素点L1が、最も
近い代表画素点T1からＸ座標軸方向にｓ、Ｙ座標軸方向
にｔの距離にあるものとし、この代表画素点T1から隣接
する代表画素点T2までのＸ座標軸方向の距離単位と、代
表画素点T1から隣接する代表画素点T3のＹ座標軸方向の
距離単位とをそれぞれ１とする。
さらに、画素点L1及び代表画素点T1、T2、T3が同の２
次元平面上にあるものとすると共に、画素点L1の半径座
標値をr1とする。
次元平面上にあるものとすると共に、画素点L1の半径座
標値をr1とする。
このとき、画素点L1の半径座標値r1と、代表画素点
T1、T2、T3の半径座標値R1、R2、R3とが、共にＺ軸の座
標であるものとすると、 r1＝sR2＋tR3＋（１−ｓ−ｔ）R1 と算出することができる。また、画素点L1が部分領域
ｂ、ｃ、ｄにある場合においても、全く同様にして半径
座標値r1を補間計算する。
T1、T2、T3の半径座標値R1、R2、R3とが、共にＺ軸の座
標であるものとすると、 r1＝sR2＋tR3＋（１−ｓ−ｔ）R1 と算出することができる。また、画素点L1が部分領域
ｂ、ｃ、ｄにある場合においても、全く同様にして半径
座標値r1を補間計算する。
一方、半径座標値r1の補間計算の第２の例について説
明すると、本計算例では補間を行う画素点L1の周囲に存
在する４つの代表画素点T1、T2、T3、T4を選出し、半径
座標値記憶手段２からこの４つの代表画素点T1、T2、
T3、T4の半径座標値R1、R2、R3、R4を読み出す。
明すると、本計算例では補間を行う画素点L1の周囲に存
在する４つの代表画素点T1、T2、T3、T4を選出し、半径
座標値記憶手段２からこの４つの代表画素点T1、T2、
T3、T4の半径座標値R1、R2、R3、R4を読み出す。
そして、第６図に示すように画素点L1が、最も近い代
表画素点T1からＸ座標軸方向にｓ、Ｙ座標軸方向にｔの
距離にあるものとし、隣接する代表画素点のＸ座標軸方
向の距離単位とＹ座標軸方向の距離単位とをそれぞれ１
とすると、単純な線形補間により画素点L1の半径座標値
r1は、 r1＝（１−ｔ）｛sR2＋（１−ｓ）R1） ＋ｔ（sR4＋（１−ｓ）R3｝ または、 r1＝（１−ｓ）｛tR3＋（１−ｔ）R1） ＋ｓ｛tR4＋（１−ｔ）R2｝ として算出することができる。
表画素点T1からＸ座標軸方向にｓ、Ｙ座標軸方向にｔの
距離にあるものとし、隣接する代表画素点のＸ座標軸方
向の距離単位とＹ座標軸方向の距離単位とをそれぞれ１
とすると、単純な線形補間により画素点L1の半径座標値
r1は、 r1＝（１−ｔ）｛sR2＋（１−ｓ）R1） ＋ｔ（sR4＋（１−ｓ）R3｝ または、 r1＝（１−ｓ）｛tR3＋（１−ｔ）R1） ＋ｓ｛tR4＋（１−ｔ）R2｝ として算出することができる。
以上２つの例によって示した画素点L1の半径座標値r1
の補間計算は、乗算器あるいはビットシフタと、加算器
とを用いることによって容易に実現することができる。
また、補間の計算方法は必ずしも上記２種類の計算方法
に限定されるものではない。
の補間計算は、乗算器あるいはビットシフタと、加算器
とを用いることによって容易に実現することができる。
また、補間の計算方法は必ずしも上記２種類の計算方法
に限定されるものではない。
このようにして半径座標値r1に関する補間計算か行わ
れると、次に画素点L1の角度座標値θ１に関する補間計
算が行われる。この補間計算では、まず、角度座標値記
憶手段４に記憶された各画素点Ｌ、Ｌ、…の角度座標値
θの中から画素点L1の周囲の３乃至４つの代表画素点
T1、T2、T3、T4を選出し、選出した代表画素点T1、T2、
T3、T4の角度座標値θT1、θT2、θT3、θT4を角度座標
値補間手段５に出力する。
れると、次に画素点L1の角度座標値θ１に関する補間計
算が行われる。この補間計算では、まず、角度座標値記
憶手段４に記憶された各画素点Ｌ、Ｌ、…の角度座標値
θの中から画素点L1の周囲の３乃至４つの代表画素点
T1、T2、T3、T4を選出し、選出した代表画素点T1、T2、
T3、T4の角度座標値θT1、θT2、θT3、θT4を角度座標
値補間手段５に出力する。
角度座標値補間手段５では、角度座標値記憶手段４の
代表画素点T1、T2、T3、T4の角度座標値θT1、θT2、θ
T3、θT4に基づいて、画素点L1の角度座標値θ１の補間
計算を行う。
代表画素点T1、T2、T3、T4の角度座標値θT1、θT2、θ
T3、θT4に基づいて、画素点L1の角度座標値θ１の補間
計算を行う。
こうして得られた半径座標値r1と角度座標値θ１は画
素データ補間手段６に送られ、この画素データ補間手段
６は第７図に示すように、画素点Ｔの近傍に位置してこ
れを囲む４つのサンプリング点を選出し、これら選出し
た４つのサンプリング点におけるサンプルデータS1,S2,
S3,S4をサンプルデータ記憶手段11から読み出す。そし
て画素データ補間手段６は、前記半径座標値補間手段３
や角度座標値補間手段５と同様の補間計算により、画素
点Ｔの表示濃度データを算出する。
素データ補間手段６に送られ、この画素データ補間手段
６は第７図に示すように、画素点Ｔの近傍に位置してこ
れを囲む４つのサンプリング点を選出し、これら選出し
た４つのサンプリング点におけるサンプルデータS1,S2,
S3,S4をサンプルデータ記憶手段11から読み出す。そし
て画素データ補間手段６は、前記半径座標値補間手段３
や角度座標値補間手段５と同様の補間計算により、画素
点Ｔの表示濃度データを算出する。
すなわち、第７図に示すように、サンプルデータS2,S
4と画素点Ｔとの半径方向の距離をｕ、サンプルデータS
1,S2と画素点Ｔとの角度方向の距離をｖとし、隣接する
各サンプルデータの半径方向及び角度方向の距離単位を
それぞれ１とすると、単純な線形補間により画素点Ｔで
の表示濃度データを示す画素値ｍは、 ｍ＝（１−ｖ）｛uS1＋（１−ｕ）S2｝ ＋ｖ（uS3＋（１−ｕ）S4｝ として算出することができる。
4と画素点Ｔとの半径方向の距離をｕ、サンプルデータS
1,S2と画素点Ｔとの角度方向の距離をｖとし、隣接する
各サンプルデータの半径方向及び角度方向の距離単位を
それぞれ１とすると、単純な線形補間により画素点Ｔで
の表示濃度データを示す画素値ｍは、 ｍ＝（１−ｖ）｛uS1＋（１−ｕ）S2｝ ＋ｖ（uS3＋（１−ｕ）S4｝ として算出することができる。
上記画素点Ｔの表示濃度データは、D/A変換器12によ
りD/A変換され、D/A変換された表示濃度データに基づい
て、表示手段13に目的の超音波断層画像が表示される。
りD/A変換され、D/A変換された表示濃度データに基づい
て、表示手段13に目的の超音波断層画像が表示される。
このように本実施例の超音波診断装置によれば、各画
素点の座標値を半径座標値補間手段３と角度座標値補間
手段５とにより小さな誤差で迅速に算出することがで
き、この座標値に基づいてサンプルデータを補間するの
で、正確な断層画像を構成することができる。
素点の座標値を半径座標値補間手段３と角度座標値補間
手段５とにより小さな誤差で迅速に算出することがで
き、この座標値に基づいてサンプルデータを補間するの
で、正確な断層画像を構成することができる。
また、本実施例の超音波診断装置では、半径座標値補
間手段３と、角度座標値補間手段５及び画素データ補間
手段６とを、同様の回路構成にて実現することができる
ので、装置のコストを低減させることができる。
間手段３と、角度座標値補間手段５及び画素データ補間
手段６とを、同様の回路構成にて実現することができる
ので、装置のコストを低減させることができる。
さらに、本実施例における半径座標値記憶手段２と角
度座標値記憶手段５とに記憶される座標値を、種々の超
音波走査に対応した音響走査座標上における値に書き直
すことにより、同一の回路のままでリニア走査、コンベ
クス走査等あらゆる走査法の断層画像の構成に対応する
ことができる。
度座標値記憶手段５とに記憶される座標値を、種々の超
音波走査に対応した音響走査座標上における値に書き直
すことにより、同一の回路のままでリニア走査、コンベ
クス走査等あらゆる走査法の断層画像の構成に対応する
ことができる。
発明の効果 上述の如く本発明によれば、断層画像の表示領域に対
応して設定される複数の画素点の座標値を発生する画素
座標値発生手段と、複数の画素点中に均等に存在するよ
うに設定される代表画素点の半径座標値を記憶する半径
座標値記憶手段と、代表画素点の半径座標値に基づいて
各画素点の半径座標値を補間する半径座標値補間手段
と、複数の画素点中に均等に存在するように設定される
代表画素点の角度座標値を記憶する角度座標値記憶手段
と、代表画素点の角度座標値に基づいて各画素点の角度
座標値を補間する角度座標値補間手段と、被検体からの
エコー信号により得られる複数のサンプルデータにアド
レスを付与して記憶するサンプルデータ記憶手段と、半
径値補間手段及び角度値補間手段の補間結果に基づいて
各画素点の近傍のサンプルデータを選出して補間し各画
素点の表示濃度を算出する画素データ補間手段とを備え
る構成とした。
応して設定される複数の画素点の座標値を発生する画素
座標値発生手段と、複数の画素点中に均等に存在するよ
うに設定される代表画素点の半径座標値を記憶する半径
座標値記憶手段と、代表画素点の半径座標値に基づいて
各画素点の半径座標値を補間する半径座標値補間手段
と、複数の画素点中に均等に存在するように設定される
代表画素点の角度座標値を記憶する角度座標値記憶手段
と、代表画素点の角度座標値に基づいて各画素点の角度
座標値を補間する角度座標値補間手段と、被検体からの
エコー信号により得られる複数のサンプルデータにアド
レスを付与して記憶するサンプルデータ記憶手段と、半
径値補間手段及び角度値補間手段の補間結果に基づいて
各画素点の近傍のサンプルデータを選出して補間し各画
素点の表示濃度を算出する画素データ補間手段とを備え
る構成とした。
このため、セクタの中心から離れた音響走査線上に位
置する画素点の補間を、この画素点に近接するサンプル
データを用いて行うので、全てのセクタ領域に亘って質
のよい断層画像を構成して表示させることができる。さ
らに、少数の代表画素点を設けて演算が簡単な線形補間
により各画素の表示濃度データを算出することができる
ため、記憶容量の少ない記憶手段で簡単な回路構成によ
って高速動作で座標変換が可能となる効果を有する。
置する画素点の補間を、この画素点に近接するサンプル
データを用いて行うので、全てのセクタ領域に亘って質
のよい断層画像を構成して表示させることができる。さ
らに、少数の代表画素点を設けて演算が簡単な線形補間
により各画素の表示濃度データを算出することができる
ため、記憶容量の少ない記憶手段で簡単な回路構成によ
って高速動作で座標変換が可能となる効果を有する。
第１図は、本発明の一実施例による超音波診断装置の概
略構成を示すブロック図、第２図は、第１図における画
素座標値発生手段により発生する画素点を示す説明図、
第３図は第２図の画素点中に設定される代表画素点を示
す説明図、第４図乃至第６図は、半径座標値補間手段に
よる半径座標値の補間計算方法を示す説明図、第７図
は、画素データ補間手段による補間方法を示す説明図、
第８図は、従来の超音波診断装置による画素点の補間方
法を示す説明図である。 １……画素座標値発生手段、２……半径座標値検出手
段、３……半径座標値補間手段、４……角度座標値記憶
手段、５……角度座標値補間手段、６……画素データ補
間手段、７……サンプルデータ記憶手段、Ｌ、L1……画
素点、ｒ、r1、Ｒ、R1、R2、R3、R4……半径座標値、S
11、S12、S13、S14……サンプルデータ、Ｔ、T1、T2、T
3、T4……代表画素点、θ、θ１、θＴ、θT1、θT2、
θT3、θT4……角度座標値。
略構成を示すブロック図、第２図は、第１図における画
素座標値発生手段により発生する画素点を示す説明図、
第３図は第２図の画素点中に設定される代表画素点を示
す説明図、第４図乃至第６図は、半径座標値補間手段に
よる半径座標値の補間計算方法を示す説明図、第７図
は、画素データ補間手段による補間方法を示す説明図、
第８図は、従来の超音波診断装置による画素点の補間方
法を示す説明図である。 １……画素座標値発生手段、２……半径座標値検出手
段、３……半径座標値補間手段、４……角度座標値記憶
手段、５……角度座標値補間手段、６……画素データ補
間手段、７……サンプルデータ記憶手段、Ｌ、L1……画
素点、ｒ、r1、Ｒ、R1、R2、R3、R4……半径座標値、S
11、S12、S13、S14……サンプルデータ、Ｔ、T1、T2、T
3、T4……代表画素点、θ、θ１、θＴ、θT1、θT2、
θT3、θT4……角度座標値。
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 赤石 智 神奈川県横浜市港北区綱島東４丁目３番 １号 松下通信工業株式会社内 (56)参考文献 特開 昭57−108681（ＪＰ，Ａ) 特開 昭60−232137（ＪＰ，Ａ) 特開 昭62−79040（ＪＰ，Ａ) 特開 昭64−76839（ＪＰ，Ａ)
Claims (1)
- 【請求項１】断層画像の表示領域に対応して設定される
複数の画素点の直交座標値を発生する画素座標値発生手
段と、複数の画素点中に均等に存在するように設定され
る代表画素点の半径座標値を記憶する半径座標値記憶手
段と、上記画素座標値発生手段から出力される各画素点
の直交座標値と上記半径座標値記憶手段に記憶された上
記代表画素点の半径座標値に基づいて各画素点の半径座
標値を線形補間する半径座標値補間手段と、上記代表画
素点の角度座標値を記憶する角度座標値記憶手段と、上
記画素座標値発生手段から出力される各画素点の直交座
標値と上記角度座標値記憶手段に記憶された上記代表画
素点の角度座標値に基づいて各画素点の角度座標値を線
形補間する角度座標値補間手段と、被検体からのエコー
信号により得られる複数のサンプルデータをプローブの
走査方向を示す角度座標値とプローブからの距離を示す
半径座標値に対応させて記憶するサンプルデータ記憶手
段と、上記半径座標値補間手段及び上記角度座標値補間
手段の補間結果に基づいて各画素点の近傍のサンプルデ
ータを選出して線形補間し各画素点の表示濃度を算出す
る画素データ補間手段とを備えた超音波診断装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2202110A JP2606417B2 (ja) | 1990-07-30 | 1990-07-30 | 超音波診断装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2202110A JP2606417B2 (ja) | 1990-07-30 | 1990-07-30 | 超音波診断装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0484958A JPH0484958A (ja) | 1992-03-18 |
| JP2606417B2 true JP2606417B2 (ja) | 1997-05-07 |
Family
ID=16452130
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2202110A Expired - Lifetime JP2606417B2 (ja) | 1990-07-30 | 1990-07-30 | 超音波診断装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JP2606417B2 (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP4857241B2 (ja) * | 2006-10-31 | 2012-01-18 | 有限会社メーコー精機 | 機械装置及びその駆動体保持機構 |
Family Cites Families (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| DE3153416C2 (ja) * | 1980-11-03 | 1989-07-06 | Hewlett-Packard Co., Palo Alto, Calif., Us | |
| US4581636A (en) * | 1984-04-02 | 1986-04-08 | Advanced Technology Laboratories, Inc. | Scan conversion apparatus and method |
| JPS6279040A (ja) * | 1985-09-30 | 1987-04-11 | 株式会社東芝 | 超音波画像診断装置 |
-
1990
- 1990-07-30 JP JP2202110A patent/JP2606417B2/ja not_active Expired - Lifetime
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0484958A (ja) | 1992-03-18 |
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