JPH11251504A - 電子部品及びその製造方法 - Google Patents

電子部品及びその製造方法

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JPH11251504A
JPH11251504A JP4650298A JP4650298A JPH11251504A JP H11251504 A JPH11251504 A JP H11251504A JP 4650298 A JP4650298 A JP 4650298A JP 4650298 A JP4650298 A JP 4650298A JP H11251504 A JPH11251504 A JP H11251504A
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Ryuichi Fujii
隆一 藤居
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Kansai Nippon Electric Co Ltd
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  • Structures Or Materials For Encapsulating Or Coating Semiconductor Devices Or Solid State Devices (AREA)
  • Wire Bonding (AREA)
  • Encapsulation Of And Coatings For Semiconductor Or Solid State Devices (AREA)
  • Lead Frames For Integrated Circuits (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 外装樹脂から電極部材の一部が露呈するよう
に樹脂被覆すると電極部材の露呈面に薄い樹脂のばりが
形成される。 【解決手段】 中間に段差を有する電極部材2の一つの
面と電子部品本体1の電極1aとを電気的に接続し、電
極部材2の電極接続面とは異なる面に除去可能な部材3
を当接して、電極部材2及び電子部品本体1を含む領域
を外装樹脂4にて被覆し、電極部材2から除去可能な部
材3を除去して電極部材2の一部を外装樹脂4の外表面
から露呈させる。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は電子部品、特に表面
実装に好適な構造の電子部品及びその製造方法に関す
る。
【0002】
【従来の技術】可搬性の電子回路装置、例えば携帯電話
や携帯型パーソナルコンピュータは機能、性能を保った
ままでより小形化が要求されており、これに使用される
電子部品も小型化が要求されている。このような要求に
対応するものとして、究極的には電子部品本体を印刷配
線基板に直接的にマウントするチップ・サイズ・パッケ
ージと称する実装構造が採用されているが、電子部品本
体と印刷配線基板とを電気的に接続するのに熱圧着など
マウント手段が必要である場合には、半田付け接続され
る他の電子部品と同時マウントができず、むき出しの電
子部品本体を印刷配線基板上で外装する必要があり、作
業が煩雑になるため、電子部品本体を外装した電子部品
でより小形のものも求められている。このような電子部
品として例えば特開昭59−40539号公報(先行技
術1)には、開孔を有する基体に半導体ペレットを樹脂
にて埋め込み、この基体に導電パターンを積層し開孔を
有するポリイミドフィルムを重ね合わせ、半導体ペレッ
トの電極と導電パターンとを電気的に接続し導電パター
ン上に外部接続される突起電極を形成した電子部品が開
示されている。このような構造の電子部品は半導体ペレ
ットの電極と導電パターンの電気的接続が煩雑であるた
め、半導体ペレットに突起電極を形成し、この突起電極
の端面が露呈するように半導体ペレットをトランスファ
樹脂モールドした構造の電子部品も知られている。(特
開平2−49460号公報参照(先行技術2))またこ
のような構造の電子部品の持つ問題を解決したものとし
て、特開平6−342794号公報(先行技術3)に
は、一端が半導体ペレットに接続され他端が外装樹脂か
ら露呈された突起電極にこの電極よりもさらに径大の外
部接続導体部を形成した構造の電子部品も知られてい
る。これら先行技術2、3は半導体ペレットを基体の開
孔に収納する先行技術1の構造に比して半導体ペレット
に直接樹脂被覆するため、より小型化が可能である。ま
た特開平3−248540号公報(先行技術4)には可
及的に薄いリードフレームを用い、リードの一部を樹脂
モールド金型に圧接させて樹脂被覆し、樹脂外表面にリ
ードの一部を露呈させ表面実装構造としたものが知られ
ている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、先行技術
2、3に開示された電子部品では、半導体ペレットの電
極位置と突起電極又は外部接続導体部とが同軸配置され
るが、高集積化、高機能化などにより電極数を増加させ
るために、電極径を縮小し電極間隔を狭めると、突起電
極又は外部接続導体部も縮小せざるを得ず、印刷配線基
板に対する接続性が低下するという問題があった。一
方、先行技術4に開示された電子部品ではリードを金型
で挟持するため、挟持部分には樹脂が付着しないように
みえるが、ロール圧延されたリードフレームでは厚さ1
00μm程度の場合、±20μm程度の厚さのばらつき
があり、リードと金型の間隔は厚いリード部分で規制さ
れてこれより薄いリード部分ではすき間ができ、外部接
続される電極形成予定部に薄い樹脂のばりが形成され
る。この樹脂ばりはリードに対する密着性が高いため、
サンドブラスト法やウオータジェット法による除去作業
が必要で、作業が煩雑であるという問題があった。また
このようなばり除去作業によってリード表面が物理的に
削られて防錆めっきが剥がれることがあり、めっきが剥
がれたリードは樹脂外表面より内側に位置するため外部
接続が困難となるだけでなく、酸化すると半田付け性が
劣化するため再めっき作業が必要であった。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明は上記課題の解決
を目的として提案されたもので、一つの基準面に沿って
延在し中間に段差を有する電極部材の前記基準面に沿う
一つの面と電子部品本体の電極とを電気的に接続し、電
極部材の電極接続面とは異なる面に除去可能部を形成
し、電極部材及び電子部品本体を含む領域を外装樹脂に
て被覆し、電極部材から除去可能部を除去して電極部材
の一部を外装樹脂の外表面から露呈させたことを特徴と
する電子部品を提供する。また本発明は、連結条から延
びて遊端部が所定の間隔に配列された多数本のリードを
有し、各リードの遊端部が電子部品本体の電極に電気的
に接続されたリードフレームの少なくともリードの電極
接続部近傍に除去可能な部材を密接させる工程と、リー
ドフレームと電子部品本体を含む領域を外装樹脂にて被
覆する工程と、リードフレーム及び外装樹脂から除去可
能な部材を除去して外装樹脂からリードの一部を露呈さ
せる工程と、リードフレームの連結条とリードとの間を
切断して分離する工程とを具えたことを特徴とする電子
部品の製造方法をも提供する。
【0005】
【発明の実施の形態】本発明による電子部品は、電極部
材を除去可能な部材に当接して外装樹脂で被覆したもの
であるが、除去可能な部材として粘着シートを用いるこ
とにより、電極部材の一部を粘着層に埋め込むことがで
き、電極の一部を外装樹脂から突出させた電子部品を実
現できる。また、除去可能な部材として紫外線硬化型粘
着シートを用いることにより、電極部材の露呈面に粘着
材を残留させることなく粘着シートを除去することがで
きる。電極部材の露呈部を電子部品本体の電極より外方
で放射状に配置することにより、電極間隔を拡げること
ができ、電極間の短絡がなく実装性を良好にできる。電
極部材の一部を外装樹脂から露呈させるために電極部材
に形成する段差はその中間部を折り曲げて形成すること
ができるし、電極部材の厚みを異ならせても形成でき
る。また、電子部品本体の電極と電極部材の電気的接続
は、ワイヤを介して接続することの他に、直接的に接続
することもできる。また本発明による電子部品の製造方
法では、リードフレームの少なくともリードの電極接続
部近傍に除去可能な部材を密接させて、リードフレーム
と電子部品本体を含む領域を外装樹脂にて被覆し、樹脂
が硬化した後、除去可能な部材を除去して外装樹脂から
リードの一部を露呈させるようにしたが、除去可能な部
材として、紫外線により硬化する粘着層を光透過性基材
シートに積層した紫外線硬化型粘着シートを用いること
ができる。また、除去可能な部材の外装樹脂が接触する
部分に予め離型材層を形成することにより、外装樹脂か
ら除去可能な部材の除去を良好にできる。
【0006】
【実施例】以下に本発明の実施例を図1から説明する。
図において1は下面の周縁に多数の電極1aを形成した
電子部品本体、2は電極部材で、一端が電極1aに熱圧
着や半田付けなどの手段により接続されて、電子部品本
体1に沿って外方に延びる肉薄のリードで、この肉薄部
2aの中間部で電極接続面とは反対側に肉厚部2bを形
成している。3は製造過程で電極部材2の肉厚部2bの
端面に貼り付けられた除去可能部(剥離可能な部材)、
4は剥離可能な部材3上で、電極部材2の肉厚部2bの
端面を除く部分と電子部品本体1とを被覆した外装樹脂
で、この外装樹脂4を形成後、剥離可能な部材3は除去
される。この電子部品の製造方法を図2乃至図8から説
明する。図において、図1と同一物には同一符号を付し
重複する説明を省略する。図2において、5はリードフ
レームで、矩形状のフレーム5aの一部をなす連結条5
bからフレーム5a内に多数本の肉薄なリード(電極部
材)5cを延在させている。このリード5cは連結条5
bから導出される部分は平行で中間部が屈曲し遊端が電
子部品本体1上の電極位置と重合するように配列されて
いる。またこのリード5cの遊端近傍の中間部下面には
図3に示すように肉厚部5dが形成され、この肉厚部5
dは平面的に見て直線上に配列され、必要に応じて複数
本の直線上で千鳥状に配列される。このリードフレーム
5は厚さ200μm程度の金属帯板にプレス加工により
肉薄部を形成しフレームやリードをプレス加工またはエ
ッチングにより形成してリード上に肉厚部5dを形成す
ることことができる。次に図4に示すようにこのリード
フレーム5のリード5cに電子部品本体1を熱圧着や半
田付けにより接続する。そして図5に示すようにリード
フレーム5の肉厚部5d形成面に剥離可能な部材(シー
ト)3を貼り付ける。この部材3は基材シート3aに粘
着層3bを形成したもので、粘着層3bに肉厚部5dの
一部が埋まりかつ粘着層3bがリード5cの肉薄部に付
着しないようにその厚みが規制されている。次に図5の
状態のリードフレーム5を図6に示す樹脂モールド金型
6、7に供給する。即ち、図示例では下金型6はリード
フレーム5の周縁を位置決めするガイドピン(図示せ
ず)が植立され、その内方に剥離可能な部材3を収容す
る下キャビティ6aが形成されている。上金型7は連結
条5bと肉厚部5dの中間から電子部品本体1を含む領
域を収容する上キャビティ7aが形成されている。また
各キャビティ7aの隣接部はリード5cとの間に間隙が
形成されている。このキャビティ6a、7aには流動化
した樹脂が供給されリードフレーム5上の要部が樹脂被
覆される。このようにして樹脂成形後、金型6、7を開
いてリードフレーム5を取り出すと図7に示すように樹
脂外装された電子部品の中間構体が得られる。この中間
構体から剥離可能な部材3を除去すると電極部材である
リード5の肉厚部5dの端面が外装樹脂4から突出して
露呈する。次にこの中間構体の外装樹脂4から露呈した
リードフレーム5の不要部分を切断除去し、さらに樹脂
4の肉薄部の、樹脂内部で連結条5bの両側に位置する
部分(図示点線8a、8b部分)を切断して個々に分離
し図1に示す電子部品を得る。リードフレーム5の切断
には一般的な切断金型を用いることができ、外装樹脂4
の切断には、レーザ光切断装置やウオータージェットを
用いた切断装置、回転ブレードを用いた切断装置などを
用いることができる。この電子部品は上記製造方法によ
り、樹脂外装時に電極部材2と剥離可能な部材3とが密
着しているため、電極部材2の外装樹脂4から露呈する
面に樹脂の薄いばりが形成されることなく、薄ばり除去
のための作業が不要で、薄ばり除去にともなうめっきの
剥がれもない。また、電極部材2の露呈面を外装樹脂4
表面から突出させることができる。そのため実装性が良
好な電子部品を実現できる。また、電極部材2の外装樹
脂4から露呈し外部接続される部分は肉厚部2bの形成
位置で決定され、電子部品本体1の電極1aとリードフ
レーム5の連結条5bの間で電極の配列間隔を考慮して
任意に設定することができるため、印刷配線基板に対す
る接続性も良好に保つことができる。また、リード5c
は電子部品本体1からみて放射状に配置できるため、電
極部材2の露呈部も放射状に配列される。そのため、こ
の電子部品を印刷配線基板にリフロー半田付けする場
合、溶融した半田の表面張力により電子部品がマウント
予定部の中心に移動しやすく、電子部品を正確にマウン
トできる。本発明は上記実施例にのみ限定されるもので
はなく、例えば、この電子部品の製造に用いられる除去
可能部(剥離可能な部材)3は電極部材2の露呈部に粘
着材が残留しにくいものが好ましく、紫外線により硬化
する粘着層を光透過性基材シートに積層した紫外線硬化
型粘着シートの場合、樹脂外装までは粘着強度を高く維
持して、樹脂外装後、基材シートを通して粘着層に紫外
線を照射し、粘着力を格段に低下させ剥離を良好にでき
る。また、上記実施例では、電極部材2の肉厚部を外装
樹脂4から露呈させたが、図8に示すように、リードフ
レームとして電子部品本体1をマウントするアイランド
5eを有し、アイランド5e近傍に多数本のリード5f
を配置して、このリード5fの遊端部に段差を形成した
ものを用い、電子部品本体1の電極とリード5fとをワ
イヤ9で、そのループ高さが段差を超えないように接続
し、リードの段差分だけ離隔した面の一部(図示5g部
分)を樹脂から露呈させるようにしてもよい。この構造
では、電子部品本体1がアイランド5eに支持されるた
め放熱性が向上し、アイランド5eの上面の樹脂は可及
的に薄くできるから外径寸法、特に高さの増加を押さえ
ることができる。また本発明による電子部品の製造に用
いられる、剥離可能な部材は、全面に粘着層を形成した
ものだけでなく、粘着層をストライプ状に形成し必要最
小限にすることができる。また、除去可能部3はリード
フレームのリードに形成した極めて薄い層または電極と
なる金属ブロックを貼り付けた金属箔で構成でき、この
薄層部分を外装樹脂から露呈させ、露呈面をエッチング
や切削により除去して電極を外装樹脂から露呈させるこ
ともできる。また、除去可能部3の樹脂と接触する部分
で粘着が不要な部分には、予め合成ワックスなどの離型
剤を塗布することにより樹脂成形後に樹脂からの剥離を
良好にできる。さらに本発明は、外装樹脂4内に電子部
品本体1を一つだけ配置した電子部品だけでなく、複数
個収容し内部接続した電子部品にも適用できる。
【0007】
【発明の効果】以上のように本発明によれば、樹脂外装
しながら外径寸法を可及的に小さくでき、他の電子部品
と同時に半田付け接続可能で、電極間隔を広くとれ、チ
ップ・サイズ・パッケージの電子部品に比較して格段に
取扱が容易な電子部品を実現できる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の実施例を示す電子部品の側断面図
【図2】 図1電子部品の製造に用いられるリードフレ
ームの要部平面図
【図3】 図2リードフレームの要部側断面図
【図4】 図1電子部品の製造作業を説明する側断面図
【図5】 図1電子部品の製造作業を説明する側断面図
【図6】 図1電子部品の製造作業を説明する側断面図
【図7】 図1電子部品の製造作業を説明するリードフ
レームの要部斜視図
【図8】 本発明の他の実施例を示す電子部品の側断面
【符号の説明】
2 電極部材 1 電子部品本体 1a 電極 3 除去可能部(剥離可能な部材)

Claims (14)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】一つの基準面に沿って延在し中間に段差を
    有する電極部材の前記基準面に沿う一つの面と電子部品
    本体の電極とを電気的に接続し、電極部材の電極接続面
    とは異なる面に除去可能部を形成し、電極部材及び電子
    部品本体を含む領域を外装樹脂にて被覆し、電極部材か
    ら除去可能部を除去して電極部材の一部を外装樹脂の外
    表面から露呈させたことを特徴とする電子部品。
  2. 【請求項2】除去可能部が粘着シートであることを特徴
    とする請求項1に記載の電子部品。
  3. 【請求項3】除去可能部が紫外線硬化型粘着シートであ
    ることを特徴とする請求項2に記載の電子部品。
  4. 【請求項4】除去可能部が電極部材と一体形成されかつ
    外装樹脂から露呈するように形成された薄層であること
    を特徴とする請求項1に記載の電子部品。
  5. 【請求項5】電極部材の露呈部を放射状に配置したこと
    を特徴とする請求項1に記載の電子部品。
  6. 【請求項6】電極部材の露呈部を電子部品本体の電極位
    置より外方に配置したことを特徴とする請求項5に記載
    の電子部品。
  7. 【請求項7】電極部材の中間部を折り曲げて段差を形成
    したことを特徴とする請求項1に記載の電子部品。
  8. 【請求項8】電極部材の厚みを異ならせて段差を形成し
    たことを特徴とする請求項1に記載の電子部品。
  9. 【請求項9】電極部材と電子部品本体とをワイヤを介し
    て電気的に接続したことを特徴とする請求項1に記載の
    電子部品。
  10. 【請求項10】電極部材と電子部品本体の電極とを直接
    的に接続したことを特徴とする請求項1に記載の電子部
    品。
  11. 【請求項11】連結条から延びて遊端部が所定の間隔に
    配列された多数本のリードを有し、各リードの遊端部が
    電子部品本体の電極に電気的に接続されたリードフレー
    ムの少なくともリードの電極接続部近傍に除去可能な部
    材を密接させる工程と、リードフレームと電子部品本体
    を含む領域を外装樹脂にて被覆する工程と、リードフレ
    ーム及び外装樹脂から除去可能な部材を除去して外装樹
    脂からリードの一部を露呈させる工程と、リードフレー
    ムの連結条とリードとの間を切断して分離する工程とを
    具えたことを特徴とする電子部品の製造方法。
  12. 【請求項12】除去可能な部材が、紫外線により硬化す
    る粘着層を光透過性基材シートに積層した紫外線硬化型
    粘着シートであることを特徴とする請求項11に記載の
    電子部品の製造方法。
  13. 【請求項13】除去可能な部材の、外装樹脂が接触する
    部分に離型材層を形成したことを特徴とする請求項11
    に記載の電子部品の製造方法。
  14. 【請求項14】除去可能な部材が、電極接続部と一体形
    成されかつ外装樹脂から露呈するように形成された薄層
    であり、樹脂外装後、前記薄層をエッチングまたは切削
    により除去することを特徴とする請求項11に記載の電
    子部品の製造方法。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2001069678A1 (fr) 2000-03-13 2001-09-20 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Dispositif semi-conducteur sous enveloppe de resine, element de circuit destine a ce dispositif et procede de fabrication de cet element de circuit
JP2001313362A (ja) * 2000-04-28 2001-11-09 Mitsui High Tec Inc 半導体装置
JP2001326295A (ja) * 2000-05-15 2001-11-22 Rohm Co Ltd 半導体装置および半導体装置製造用フレーム
JP2004207275A (ja) * 2002-12-20 2004-07-22 Sanyo Electric Co Ltd 回路装置およびその製造方法
US7057266B2 (en) 1999-11-10 2006-06-06 Hitachi Chemical Co., Ltd. Adhesive film for semiconductor, lead frame and semiconductor device using the same, and method of producing semiconductor device
JP2007273884A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置、半導体モジュールおよび半導体モジュールの製造方法
JP2009283948A (ja) * 2000-03-13 2009-12-03 Dainippon Printing Co Ltd 回路部材および回路部材の製造方法
US8853865B2 (en) 2009-09-29 2014-10-07 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device with overlapped lead terminals

Cited By (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7057266B2 (en) 1999-11-10 2006-06-06 Hitachi Chemical Co., Ltd. Adhesive film for semiconductor, lead frame and semiconductor device using the same, and method of producing semiconductor device
US7479412B2 (en) 1999-11-10 2009-01-20 Hitachi Chemical Company, Ltd. Adhesive film for semiconductor, lead frame and semiconductor device using the same, and method of producing semiconductor device
US7378722B2 (en) 1999-11-10 2008-05-27 Hitachi Chemical Co., Ltd. Adhesive film for semiconductor, lead frame and semiconductor device using the same, and method of producing semiconductor device
US7045906B2 (en) 2000-03-13 2006-05-16 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Resin-encapsulated package, lead member for the same and method of fabricating the lead member
WO2001069678A1 (fr) 2000-03-13 2001-09-20 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Dispositif semi-conducteur sous enveloppe de resine, element de circuit destine a ce dispositif et procede de fabrication de cet element de circuit
US6828688B2 (en) 2000-03-13 2004-12-07 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Resin-sealed semiconductor device, circuit member used for the device, and method of manufacturing the circuit member
JP2009283948A (ja) * 2000-03-13 2009-12-03 Dainippon Printing Co Ltd 回路部材および回路部材の製造方法
JP2001332675A (ja) * 2000-03-13 2001-11-30 Dainippon Printing Co Ltd 樹脂封止型半導体装置とそれに用いられる回路部材、および回路部材の製造方法
JP4549491B2 (ja) * 2000-03-13 2010-09-22 大日本印刷株式会社 樹脂封止型半導体装置
US7307347B2 (en) 2000-03-13 2007-12-11 Dai Nippon Printing Co., Ltd. Resin-encapsulated package, lead member for the same and method of fabricating the lead member
KR100811338B1 (ko) * 2000-03-13 2008-03-07 다이니폰 인사츠 가부시키가이샤 수지밀봉형 반도체장치, 이 장치에 이용되는 회로부재 및회로부재의 제조방법
JP2001313362A (ja) * 2000-04-28 2001-11-09 Mitsui High Tec Inc 半導体装置
JP2001326295A (ja) * 2000-05-15 2001-11-22 Rohm Co Ltd 半導体装置および半導体装置製造用フレーム
JP2004207275A (ja) * 2002-12-20 2004-07-22 Sanyo Electric Co Ltd 回路装置およびその製造方法
JP2007273884A (ja) * 2006-03-31 2007-10-18 Mitsubishi Electric Corp 半導体装置、半導体モジュールおよび半導体モジュールの製造方法
JP4680816B2 (ja) * 2006-03-31 2011-05-11 三菱電機株式会社 半導体装置
US8853865B2 (en) 2009-09-29 2014-10-07 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device with overlapped lead terminals
US10134659B2 (en) 2009-09-29 2018-11-20 Renesas Electronics Corporation Semiconductor device with overlapped lead terminals

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