JPH1125140A - ライブラリ検証装置 - Google Patents

ライブラリ検証装置

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JPH1125140A
JPH1125140A JP9178116A JP17811697A JPH1125140A JP H1125140 A JPH1125140 A JP H1125140A JP 9178116 A JP9178116 A JP 9178116A JP 17811697 A JP17811697 A JP 17811697A JP H1125140 A JPH1125140 A JP H1125140A
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JP
Japan
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library
simulation
test pattern
logic
circuit
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JP9178116A
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Inventor
Hajime Suzuki
一 鈴木
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Oki Electric Industry Co Ltd
Original Assignee
Oki Electric Industry Co Ltd
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 半導体集積回路の設計に用いるライブラリを
検証するライブラリ検証装置において、利用可能な全て
のライブラリを、自動的に、かつ、漏れがないように、
検証することをできるようにする。 【解決手段】 ライブラリに関するライブラリ設計デー
タから抽出したデータに基づいて、論理シミュレータが
処理可能なフォーマットのテストパタンを記述するテス
トパタン記述手段14と、前記抽出したデータに基づい
て、前記論理シミュレータが処理可能なフォーマットの
ネットリストを記述するネット記述手段15と、前記テ
ストパタンおよび前記ネットリストに従い前記論理シミ
ュレータによる論理シミュレーションを行って、前記ラ
イブラリの動作を検証する論理シミュレーション実行手
段17とを備えて、ライブラリ検証装置10を構成す
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、LSI(Large Sc
ale Integration)等の半導体集積回路の設計に用いるラ
イブラリを検証するライブラリ検証装置に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】一般に、LSIの設計は、コンピュータ
による支援(CAD;Computer AidedDesign)が必須と
なっている。特に、CADによるLSI設計のうち、ス
タンダードセル手法による設計では、配置配線機能やタ
イミング/動作検証機能の他に、AND/NORなどの
基本素子、加算器、乗算器、メモリ等のモジュールに関
する情報(以下、ライブラリと称す)を用いることがが
必要である。このようなライブラリを用いてLSIの設
計を行う場合には、ライブラリが正しく動作するか否か
を検証しなければならないが、従来はそのための特別な
システムがなく、設計者が人手により必要に応じて検証
を行うようになっている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】ところで、近年では、
スタンダードセル手法だけではなくフルカスタム手法に
おいても、ライブラリを利用することが多くなってい
る。その結果、ライブラリの必要性や重要性が高まり、
またその種類も豊富になっているため、従来のように人
手によりライブラリの検証を行うのでは、多大な労力を
必要としてしまい、さらには検証漏れの発生等を招いて
しまう可能性がある。
【0004】そこで、本発明は、利用可能な全てのライ
ブラリを、自動的に、かつ、漏れがないように、検証す
ることのできるライブラリ検証装置を提供することを目
的とする。
【0005】
【課題を解決するための手段】本発明は、上記目的を達
成するために案出されたもので、請求項1記載のライブ
ラリ検証装置は、半導体集積回路の論理シミュレーショ
ンを行う論理シミュレータと接続し、その論理シミュレ
ータにより前記半導体集積回路の設計に用いるライブラ
リが正しく動作するか否かを検証するものであって、前
記ライブラリに関するライブラリ設計データから、その
ライブラリの動作の記述に関するデータと、そのライブ
ラリのシミュレーションモデルに関する情報とを抽出す
る抽出手段と、前記ライブラリの動作を検証する際のシ
ミュレーション条件に関するデータを記述する条件パラ
メータ記述手段と、前記抽出手段が抽出した前記ライブ
ラリの動作の記述に関するデータと、前記条件パラメー
タ記述手段が記述したシミュレーション条件とに基づい
て、前記論理シミュレータが処理可能なフォーマットの
テストパタンを記述するテストパタン記述手段と、前記
抽出手段が抽出した前記ライブラリのシミュレーション
モデルに関する情報に基づいて、前記論理シミュレータ
が処理可能なフォーマットのネットリストを記述するネ
ット記述手段と、前記テストパタンおよび前記ネットリ
ストに従い前記論理シミュレータによる論理シミュレー
ションを行って、前記ライブラリの動作を検証する論理
シミュレーション実行手段と、前記論理シミュレーショ
ン実行手段による論理シミュレーションの結果を予め定
められている内容と照合し、その照合結果を出力する期
待値照合手段とを備えてなるものである。
【0006】請求項1記載の発明に係わるライブラリ検
証装置の構成によれば、テストパタン記述手段は、抽出
手段が抽出したライブラリの動作の記述に関するデータ
と、条件パラメータ記述手段が記述したシミュレーショ
ン条件とに基づいて、論理シミュレータが処理可能なフ
ォーマットのテストパタンを記述する。一方、ネット記
述手段は、抽出手段が抽出したライブラリのシミュレー
ションモデルに関する情報に基づいて、論理シミュレー
タが処理可能なフォーマットのネットリストを記述す
る。そして、テストパタン記述手段がテストパタンを記
述し、かつ、ネット記述手段がネットリストを記述する
と、論理シミュレーション実行手段は、これらに従って
論理シミュレータによる論理シミュレーションを行い、
ライブラリの動作を検証する。したがって、このライブ
ラリ検証装置では、ライブラリ設計データからデータを
抽出することで、全てのライブラリのシミュレーション
モデルを漏れなく、自動的に検証するためのテストパタ
ンとネットリストを出力することが可能になり、しか
も、これらのテストパタンとネットリストを用いて、全
ライブラリを自動的に検証することが可能となる。
【0007】また、請求項2記載のライブラリ検証装置
は、半導体集積回路の回路シミュレーションを行う回路
シミュレータと接続し、その回路シミュレータにより前
記半導体集積回路の設計に用いるライブラリが正しく動
作するか否かを検証するものであって、前記ライブラリ
に関するライブラリ設計データから、そのライブラリの
動作の記述に関するデータと、そのライブラリのレイア
ウトに関するデータとを抽出する第1の抽出手段と、前
記第1の抽出手段が抽出した前記ライブラリのレイアウ
トに関するデータからレイアウトパラメータを抽出する
第2の抽出手段と、前記ライブラリの動作を検証する際
のシミュレーション条件に関するデータを記述する条件
パラメータ記述手段と、前記第1の抽出手段が抽出した
前記ライブラリの動作の記述に関するデータと、前記条
件パラメータ記述手段が記述したシミュレーション条件
とに基づいて、前記回路シミュレータが処理可能なフォ
ーマットのテストパタンを記述するテストパタン記述手
段と、前記第2の抽出手段が抽出したレイアウトパラメ
ータに基づいて、前記回路シミュレータが処理可能なフ
ォーマットのネットリストを記述するネット記述手段
と、前記テストパタンおよび前記ネットリストに従い前
記回路シミュレータによる回路シミュレーションを行っ
て、前記ライブラリの動作を検証する回路シミュレーシ
ョン実行手段と、前記回路シミュレーション実行手段に
よる回路シミュレーションの結果を予め定められている
内容と照合し、その照合結果を出力する期待値照合手段
とを備えてなるものである。
【0008】請求項2記載の発明に係わるライブラリ検
証装置の構成によれば、テストパタン記述手段は、第1
の抽出手段が抽出したライブラリの動作の記述に関する
データと、条件パラメータ記述手段が記述したシミュレ
ーション条件とに基づいて、回路シミュレータが処理可
能なフォーマットのテストパタンを記述する。一方、ネ
ット記述手段は、第2の抽出手段が抽出したレイアウト
パラメータに基づいて、回路シミュレータが処理可能な
フォーマットのネットリストを記述する。そして、テス
トパタン記述手段がテストパタンを記述し、かつ、ネッ
ト記述手段がネットリストを記述すると、回路シミュレ
ーション実行手段は、これらに従って回路シミュレータ
による回路シミュレーションを行い、ライブラリの動作
を検証する。 したがって、このライブラリ検証装置で
は、ライブラリ設計データからデータを抽出すること
で、全てのライブラリのレイアウトデータを漏れなく、
自動的に検証するためのテストパタンとネットリストを
出力することが可能になり、しかも、これらのテストパ
タンとネットリストを用いて、全ライブラリを自動的に
検証することが可能となる。
【0009】また、請求項3記載のライブラリ検証装置
は、半導体集積回路の論理シミュレーションを行う論理
シミュレータおよび回路シミュレーションを行う回路シ
ミュレータと接続し、これらにより前記半導体集積回路
の設計に用いるライブラリが正しく動作するか否かを検
証するものであって、前記ライブラリに関するライブラ
リ設計データから、そのライブラリのレイアウトに関す
るデータと、そのライブラリのシミュレーションモデル
に関する情報とを抽出する第1の抽出手段と、前記第1
の抽出手段が抽出した前記ライブラリのレイアウトに関
するデータからレイアウトパラメータを抽出する第2の
抽出手段と、前記第2の抽出手段が抽出したレイアウト
パラメータに基づいて、前記回路シミュレータが処理可
能なフォーマットの第1ネットリストを記述する第1の
ネット記述手段と、前記回路シミュレータが処理可能な
フォーマットの第1テストパタンを記述して入力するた
めの第1のテストパタン記述手段と、前記第1ネットリ
ストおよび前記第1テストパタンに従い前記回路シミュ
レータによる回路シミュレーションを行って、前記ライ
ブラリの動作を検証する回路シミュレーション実行手段
と、前記回路シミュレーション実行手段による回路シミ
ュレーションの結果を予め定められている内容と照合
し、その内容に合致するシミュレーション結果を出力す
る選別手段と、前記第1の抽出手段が抽出した前記ライ
ブラリのシミュレーションモデルに関する情報に基づい
て、前記論理シミュレータが処理可能なフォーマットの
第2ネットリストを記述する第2のネット記述手段と、
前記ライブラリの動作を検証する際のシミュレーション
条件に関するデータを記述する条件パラメータ記述手段
と、前記条件パラメータ記述手段によるシミュレーショ
ン条件を参照して、前記選別手段が出力したシミュレー
ション結果から前記論理シミュレータが処理可能なフォ
ーマットの第2テストパタンを生成する第2のテストパ
タン記述手段と、前記第2ネットリストおよび前記第2
テストパタンに従い前記論理シミュレータによる論理シ
ミュレーションを行って、前記ライブラリの動作を検証
する論理シミュレーション実行手段と、前記論理シミュ
レーション実行手段による論理シミュレーションの結果
を予め定められている内容と照合し、その照合結果を出
力する期待値照合手段とを備えてなるものである。
【0010】請求項3記載の発明に係わるライブラリ検
証装置の構成によれば、第1のテストパタン記述手段に
は、回路シミュレータが処理可能なフォーマットの第1
テストパタンが入力される。また、第1のネット記述手
段は、第2の抽出手段が抽出したレイアウトパラメータ
に基づいて、回路シミュレータが処理可能なフォーマッ
トの第1ネットリストを記述する。そして、回路シミュ
レーション実行手段は、第1テストパタンおよび第1ネ
ットリストに従って回路シミュレータによる回路シミュ
レーションを行い、ライブラリの動作を検証する。一
方、第2のテストパタン記述手段は、回路シミュレーシ
ョン実行手段による回路シミュレーションの結果のうち
選別手段が選別したものから、条件パラメータ記述手段
によるシミュレーション条件を参照して、論理シミュレ
ータが処理可能なフォーマットの第2テストパタンを生
成する。また、第2のネット記述手段は、第1の抽出手
段が抽出したライブラリのシミュレーションモデルに関
する情報に基づいて、論理シミュレータが処理可能なフ
ォーマットの第2ネットリストを記述する。そして、論
理シミュレーション実行手段は、第2テストパタンおよ
び第2ネットリストに従って論理シミュレータによる論
理シミュレーションを行い、ライブラリの動作を検証す
る。したがって、このライブラリ検証装置では、ライブ
ラリ設計データからデータを抽出することで、全てのラ
イブラリのシミュレーションモデルを漏れなく、自動的
に検証するためのテストパタンとネットリストを出力す
ることが可能になり、しかも、これらのテストパタンと
ネットリストを用いて、全ライブラリを自動的に検証す
ることが可能となる。さらには、ライブラリのレイアウ
トデータの動作を検証した結果を用いてシミュレーショ
ンモデルを検証するようになっているので、ライブラリ
設計データにライブラリの動作の記述に関するデータが
含まれていなくても、シミュレーションモデルとレイア
ウトデータとが同じ動作をするか否かを検証できる。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、図面に基づき本発明に係わ
るライブラリ検証装置について説明する。
【0012】〔第1の実施の形態〕ここでは、請求項1
記載の発明に係わるライブラリ検証装置について説明す
る。図1は、本実施の形態のライブラリ検証装置10の
機能構成を示すブロック図である。なお、ライブラリ検
証装置は、例えばCPU(Central Processing Unit
)、メモリ、CRT(Cathode Ray Tube)やキーボー
ドといった入出力装置など有したコンピュータシステム
上で実現されるものである。
【0013】本実施の形態のライブラリ検証装置10
は、図1に示すように、ライブラリ設計データ入力手段
11と、第1の抽出手段12と、条件パラメータ記述手
段13と、テストパタン記述手段14と、ネット記述手
段15と、シミュレーションデータ入力手段16と、論
理シミュレーション手段17とを備えてなるものであ
る。
【0014】ライブラリ設計データ入力手段11は、ラ
イブラリに関するデータをライブラリ設計データとして
入力するためのものである。第1の抽出手段12は、ラ
イブラリ設計データ入力手段11で入力されたライブラ
リ設計データから、例えば真理表などライブラリの動作
の記述に関するデータと、論理モデル、端子あるいは素
子遅延などライブラリのシミュレーションモデルに関す
る情報と、ライブラリのレイアウトに関するデータと、
を抽出するものである。
【0015】条件パラメータ記述手段13は、例えばシ
ミュレーションサイクルや期待値照合時刻など、ライブ
ラリの動作を検証する際のシミュレーション条件に関す
るデータを、条件パラメータとして記述するものであ
る。
【0016】テストパタン記述手段14は、第1の抽出
手段12が抽出したライブラリの動作の記述に関するデ
ータと、条件パラメータ記述手段13が記述した条件パ
ラメータとに基づいて、テストパタンを記述し出力する
ものである。なお、このテストパタンは、後述する論理
シミュレータに入力可能なフォーマットで記述される。
【0017】ネット記述手段15は、第1の抽出手段1
2が抽出したライブラリのシミュレーションモデルに関
する情報に基づいて、ネットリストを記述し出力するも
のである。なお、このネットリストは、テストパタンと
同様に、論理シミュレータに入力可能なフォーマットで
記述される。
【0018】シミュレーションデータ入力手段16は、
テストパタン記述手段14から出力されたテストパタ
ン、および、ネット記述手段15から出力されたネット
リストとを、論理シミュレーション手段17へ入力する
ためのものである。
【0019】論理シミュレーション手段17は、周知技
術を利用した論理シミュレータ(ただし不図示)を用
い、シミュレーションデータ入力手段16によって入力
されたテストパタンおよびネットリストとに従って、論
理シミュレーションを行うものであり、論理シミュレー
ション実行手段として機能するものである。また、論理
シミュレーション手段17は、論理シミュレーションの
結果を予め定められている内容と照合し、論理シミュレ
ーションの結果が期待通りであるか否かを判断して、そ
の照合結果を出力するものであり、期待値照合手段とし
て機能するものである。つまり、論理シミュレーション
手段17は、ライブラリに対する論理シミュレーション
を行って、そのライブラリが正しく動作するか否かを検
証するものである。
【0020】ここで、以上のように構成されたライブラ
リ検証装置10における処理動作例について説明する。
図2は、このライブラリ検証装置10によって処理され
るライブラリ設計データを模式化した図であり、図3
は、このライブラリ検証装置10における処理データの
具体例を示す図である。
【0021】このライブラリ検証装置10では、ライブ
ラリ設計データ入力手段11で図2に示すような構成の
ライブラリ設計データA1が入力されると、第1の抽出
手段12が、そのライブラリ設計データA1中のデータ
シートB1から、ライブラリの動作の記述に関する情報
を抽出する。ライブラリの動作の記述に関する情報とし
ては、例えば図3(a),(b)に示すように、ライブ
ラリの基本動作のパターンを示す基本動作パターンデー
タT1や、ライブラリの端子に関するデータである端子
データT2などがある。
【0022】さらに、第1の抽出手段12は、図2に示
すライブラリ設計データA1中のシミュレーションモデ
ルC1から、ライブラリのシミュレーションモデルに関
する情報を抽出する。ライブラリのシミュレーションモ
デルに関する情報としては、例えば図3(c),(d)
に示すように、ライブラリの動作モデルに関するデータ
である動作モデルデータT3や、ライブラリの遅延時間
に関するデータであるび遅延データT4などがある。
【0023】また、条件パラメータ記述手段13では、
ライブラリの動作を検証する際のシミュレーション条件
に関するデータを、例えば図3(e)に示す条件パラメ
ータT5として記述する。
【0024】そして、第1の抽出手段12が基本動作パ
ターンデータT1および端子データT2を抽出し、さら
に条件パラメータ記述手段13が条件パラメータT5を
記述すると、テストパタン記述手段14は、これらを基
に、論理シミュレータに入力可能なフォーマットでテス
トパタンを記述し出力する。また、第1の抽出手段12
が動作モデルデータT3および遅延データT4を抽出す
ると、ネット記述手段15は、これらを基に、論理シミ
ュレータに入力可能なフォーマットでネットリストを記
述し出力する。
【0025】これらのテストパタンおよびネットリスト
は、シミュレーションデータ入力手段16によって、論
理シミュレーション手段17へ入力される。論理シミュ
レーション手段17では、テストパタンおよびネットリ
ストが入力されると、これらテストパタンおよびネット
リストに従って、論理シミュレータを用いた論理シミュ
レーションを行い、例えば図4(a)に示すような論理
シミュレーション結果T6を得る。さらに、論理シミュ
レーション手段17では、論理シミュレーション結果T
6が期待通りであるか否かを判断するために、その論理
シミュレーション結果T6を予め定められている内容と
照合し、期待通りでない動作であった場合にエラーメッ
セージを、またそうでなければ合格メッセージを出力す
る。
【0026】以上のように、本実施の形態のライブラリ
検証装置10は、ライブラリのシミュレーションモデル
において、ライブラリ設計データからデータを抽出する
ことで、全てのライブラリのシミュレーションモデルを
漏れなく、自動的に検証するためのテストパタンとネッ
トリストを出力することができるとともに、テストパタ
ンとネットリストの作成に要する時間を短縮することが
できる。さらに、ライブラリのデータシートの記述から
テストパタンを作成することにより、テストパタンの信
頼性が向上し、かつ、テストパタン作成の手間を省くこ
とができる。
【0027】また、本実施の形態のライブラリ検証装置
10では、抽出したデータから作成したテストパタンと
ネットリストを用いて、全ライブラリを自動的に検証す
ることが可能となるので、その検証にかかる時間を短縮
することができる。さらに、例えば従来のようにデータ
シートとシミュレーションモデルとを別々に検証してい
た場合に比べて、これらを同時に検証することができる
ようになり、より一層の検証時間の短縮を実現できる。
【0028】したがって、本実施の形態のライブラリ検
証装置10を使用してライブラリの検証を行えば、利用
可能な全てのライブラリを、自動的に、かつ、漏れがな
いように検証することのでき、しかもそのために多大な
労力を必要としてしまうこともない。
【0029】〔第2の実施の形態〕次に、請求項2記載
の発明に係わるライブラリ検証装置について説明する。
図5は、本実施の形態のライブラリ検証装置10aの機
能構成を示すブロック図である。ただし、ここでは、上
述した第1の実施の形態と同一の構成要素については、
同一の符号を与えてその説明を省略する。
【0030】本実施の形態のライブラリ検証装置10a
は、図5に示すように、ライブラリ設計データ入力手段
11と、第1の抽出手段12と、条件パラメータ記述手
段13と、テストパタン記述手段18と、第2の抽出手
段19と、ネット記述手段20と、シミュレーションデ
ータ入力手段16と、回路シミュレーション手段21と
を備えてなるものである。
【0031】テストパタン記述手段18は、第1の抽出
手段12が抽出したライブラリの動作の記述に関するデ
ータと、条件パラメータ記述手段13が記述した条件パ
ラメータとに基づいて、テストパタンを記述し出力する
ものである。なお、このテストパタンは、後述する回路
シミュレータ(アナログシミュレータ)に入力可能なフ
ォーマットで記述される。
【0032】第2の抽出手段19は、第1の抽出手段1
2が抽出したライブラリのレイアウトに関するデータか
ら、例えばトランジスタ、容量、ダイオード、抵抗など
のレイアウトパラメータを抽出するものである。
【0033】ネット記述手段20は、第2の抽出手段1
9が抽出したレイアウトパラメータに基づいて、ネット
リストを記述し出力するものである。なお、このネット
リストは、テストパタンと同様に、回路シミュレータに
入力可能なフォーマットで記述される。
【0034】回路シミュレーション手段21は、周知技
術を利用した回路シミュレータ(ただし不図示)を用
い、シミュレーションデータ入力手段16によって入力
されたテストパタンおよびネットリストとに従って、回
路シミュレーションを行うものであり、回路シミュレー
ション実行手段として機能するものである。また、回路
シミュレーション手段21は、回路シミュレーションの
結果を予め定められている内容と照合し、回路シミュレ
ーションの結果が期待通りであるか否かを判断して、そ
の照合結果を出力するものであり、期待値照合手段とし
て機能するものである。つまり、回路シミュレーション
手段21は、ライブラリに対する回路シミュレーション
を行って、そのライブラリが正しく動作するか否かを検
証するものである。
【0035】ここで、以上のように構成されたライブラ
リ検証装置10aにおける処理動作例について説明す
る。ただし、ここでは、上述した第1の実施の形態の場
合との相違点についてのみ説明する。
【0036】このライブラリ検証装置10aでは、ライ
ブラリ設計データ入力手段11で図2に示すような構成
のライブラリ設計データA1が入力されると、第1の抽
出手段12が、そのライブラリ設計データA1中のデー
タシートB1から、ライブラリの動作の記述に関する情
報(例えば基本動作パターンデータT1や端子データT
2)を抽出し、さらにはそのライブラリ設計データA1
中のレイアウトデータD1からレイアウトデータを抽出
する。
【0037】そして、テストパタン記述手段18では、
第1の抽出手段12が抽出したデータT1,T2と、条
件パラメータ記述手段13が記述した条件パラメータT
5とから、回路シミュレータに入力可能なフォーマット
でテストパタンを記述し出力する。
【0038】このとき、第2の抽出手段19では、第1
の抽出手段12が抽出したライブラリのレイアウトに関
するデータから、レイアウトパラメータを抽出してい
る。そして、このレイアウトパラメータに基づいて、ネ
ット記述手段20は、回路シミュレータに入力可能なフ
ォーマットでネットリストを記述し出力する。
【0039】これらのテストパタンおよびネットリスト
が入力されると、回路シミュレーション手段21では、
これらに従って回路シミュレータを用いた回路シミュレ
ーションを行い、例えば図4(b)に示すような回路シ
ミュレーション結果T7を得る。さらに、回路シミュレ
ーション手段21では、回路シミュレーション結果T7
が期待通りであるか否かを判断するために、その回路シ
ミュレーション結果T7を予め定められている内容と照
合し、期待通りでない動作であった場合にエラーメッセ
ージを、またそうでなければ合格メッセージを出力す
る。
【0040】以上のように、本実施の形態のライブラリ
検証装置10aは、ライブラリのレイアウトデータにお
いて、ライブラリ設計データからデータを抽出すること
で、全てのライブラリのレイアウトデータを漏れなく、
自動的に検証するためのテストパタンとネットリストを
出力することができるとともに、テストパタンとネット
リストの作成に要する時間を短縮することができる。さ
らに、ライブラリのデータシートの記述からテストパタ
ンを作成することにより、テストパタンの信頼性が向上
し、かつ、テストパタン作成の手間を省くことができ
る。
【0041】また、本実施の形態のライブラリ検証装置
10aでは、抽出したデータから作成したテストパタン
とネットリストを用いて、全ライブラリを自動的に検証
することが可能となるので、その検証にかかる時間を短
縮することができる。さらに、例えば従来のようにデー
タシートとシミュレーションモデルとを別々に検証して
いた場合に比べて、これらを同時に検証することができ
るようになり、より一層の検証時間の短縮を実現でき
る。
【0042】したがって、本実施の形態のライブラリ検
証装置10aを使用してライブラリの検証を行えば、利
用可能な全てのライブラリを、自動的に、かつ、漏れが
ないように検証することのでき、しかもそのために多大
な労力を必要としてしまうこともない。
【0043】〔第3の実施の形態〕次に、請求項3記載
の発明に係わるライブラリ検証装置について説明する。
図6は、本実施の形態のライブラリ検証装置10bの機
能構成を示すブロック図である。ただし、ここでは、上
述した第1または第2の実施の形態と同一の構成要素に
ついては、同一の符号を与えてその説明を省略する。
【0044】本実施の形態のライブラリ検証装置10b
は、図6に示すように、第1の実施の形態で説明したラ
イブラリ検証装置10が有する機能構成と、第2の実施
の形態で説明したライブラリ検証装置10aが有する機
能構成とを備えるとともに、これらに加えて、第1のテ
ストパタン記述手段22と、選別手段23と、条件パラ
メータ記述手段13と、第2のテストパタン記述手段2
4とを備えるものである。
【0045】第1のテストパタン記述手段22は、ライ
ブラリ検証装置10bのユーザが、人手により、回路シ
ミュレータ(アナログシミュレータ)に入力可能なフォ
ーマットでテストパタンを作成するためのものである。
【0046】選別手段23は、ライブラリ検証装置10
aの回路シミュレーション手段21による回路シミュレ
ーションの結果を予め定められている内容と照合し、そ
の内容に合致するシミュレーション結果、すなわち期待
通りであるシミュレーション結果を、第2のテストパタ
ン記述手段24へ出力するものである。
【0047】第2のテストパタン記述手段24は、選別
手段23から出力されたシミュレーション結果を、論理
シミュレータが処理可能なフォーマットに変換したり、
または、条件パラメータ記述手段13によるシミュレー
ション条件を参照して、不要部分の削除やシミュレーシ
ョン時刻等の調整などを行うものである。つまり、第2
のテストパタン記述手段24は、選別手段23から出力
されたシミュレーション結果から、論理シミュレータが
処理可能なフォーマットのテストパタンを生成するもの
である。
【0048】ここで、以上のように構成されたライブラ
リ検証装置10bにおける処理動作例について説明す
る。ただし、ここでは、上述した第1および第2の実施
の形態の場合との相違点についてのみ説明する。
【0049】このライブラリ検証装置10bでは、ライ
ブラリ設計データA1にデータシートB1が含まれてい
ない場合に、第1のテストパタン記述手段22におい
て、回路シミュレータに入力可能なフォーマットのテス
トパタン(以下、第1テストパタンと称す)が作成され
る。この第1テストパタンは、ライブラリ検証装置10
bのユーザによって、人手により行われる。
【0050】第1テストパタンが作成されると、ライブ
ラリ検証装置10bでは、その第1テストパタンを、ラ
イブラリ検証装置10b内のライブラリ検証装置10a
に入力する。そして、ライブラリ検証装置10a内のネ
ット記述手段20が記述したネットリスト(以下、第1
ネットリストと称す)と、第1テストパタンとを基に、
そのライブラリ検証装置10a内の回路シミュレーショ
ン手段21に回路シミュレーションを行わせる。
【0051】選別手段23は、その回路シミュレーショ
ンの結果が期待通りであるか否かを判断し、期待通りの
シミュレーション結果を選別する。
【0052】選別手段23がシミュレーション結果を選
別すると、第2のテストパタン記述手段24は、条件パ
ラメータ記述手段13によるシミュレーション条件を参
照して、選別手段23で選別されたシミュレーション結
果を、論理シミュレータに入力可能なテストパタン(以
下、第2テストパタンと称す)として記述する。つま
り、第2のテストパタン記述手段24は、選別手段23
からのシミュレーション結果を、論理シミュレータに入
力可能なフォーマットに変換し、あるいは、条件パラメ
ータ記述手段13によるシミュレーション条件を参照し
て、不要部分の削除やシミュレーション時刻等の調整な
どを行う。
【0053】第2のテストパタン記述手段24が第2テ
ストパタンを生成すると、続いてライブラリ検証装置1
0bでは、その第2テストパタンを、ライブラリ検証装
置10b内のライブラリ検証装置10に入力する。そし
て、ライブラリ検証装置10内のネット記述手段15が
記述したネットリスト(以下、第2ネットリストと称
す)と、第2テストパタンとを基に、そのライブラリ検
証装置10内の論理シミュレーション手段17に論理シ
ミュレーションを行わせる。そして、論理シミュレーシ
ョン手段17では、その論理シミュレーションの結果が
期待値通りであるか否かを判断し、期待通りでない動作
であった場合にエラーメッセージを、またそうでなけれ
ば合格メッセージを出力する。
【0054】以上のように、本実施の形態のライブラリ
検証装置10aでは、上述した第1および第2の実施の
形態の場合と同様に、利用可能な全てのライブラリを、
自動的に、かつ、漏れがないように検証することので
き、しかもそのために多大な労力を必要としてしまうこ
ともない。しかも、本実施の形態のライブラリ検証装置
10aでは、ライブラリ設計データにデータシートが含
まれていない場合、ライブラリのレイアウトデータの動
作を検証した結果を用いてシミュレーションモデルを検
証するようになっているので、データシートがなくて
も、シミュレーションモデルとレイアウトデータとが同
じ動作をするか否かを検証することができるようにな
る。
【0055】なお、上述した第1〜第3の実施の形態で
は、既に存在しているライブラリ設計データに対しての
検証を行う場合を例に挙げて説明したが、例えばライブ
ラリの設計途中においても適用することは可能である。
つまり、設計途中において、第1の抽出手段12で抽出
される基本動作パターンデータ、シミュレーションモデ
ル、レイアウトデータ、あるいはテストパタン記述手段
14,18で記述されるテストパタンが、人手によって
記述される場合であっても、本発明は適用可能である。
【0056】また、コンパイラと呼ばれるライブラリ自
動作成プログラムで、ライブラリ設計データを生成する
ことも可能である。したがって、本発明は、コンパイラ
の検証装置としても適用可能である。
【0057】
【発明の効果】以上に説明したように、本発明のライブ
ラリ検証装置は、抽出したデータから作成したテストパ
タンとネットリストを用いて、全ライブラリを自動的に
検証することが可能となるので、利用可能な全てのライ
ブラリを、自動的に、かつ、漏れがないように検証する
ことのでき、しかもそのために多大な労力を必要として
しまうこともないという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係わるライブラリ検証装置の第1の実
施の形態の機能構成を示すブロック図である。
【図2】ライブラリ検証装置によって処理されるライブ
ラリ設計データを模式化した説明図である。
【図3】ライブラリ検証装置によって抽出されるデータ
の具体例を示す説明図であり、(a)は基本動作パター
ンデータを示す図、(b)は端子データを示す図、
(c)は動作モデルデータを示す図、(d)は遅延デー
タを示す図、(e)は条件パラメータを示す図である。
【図4】ライブラリ検証装置によって行われるシミュレ
ーション結果の具体例を示す説明図であり、(a)は論
理シミュレーション結果を示す図、(b)は回路シミュ
レーション結果を示す図である。
【図5】本発明に係わるライブラリ検証装置の第2の実
施の形態の機能構成を示すブロック図である。
【図6】本発明に係わるライブラリ検証装置の第3の実
施の形態の機能構成を示すブロック図である。
【符号の説明】
10,10a,10b ライブラリ検証装置 12 第1の抽出手段 13 条件パラメータ記述手段 14,18 テストパタン記述手段 15,20 ネット記述手段 17 論理シミュレーション手段 19 第2の抽出手段 20 第2のネット記述手段 21 回路シミュレーション手段 22 第1のテストパタン記述手段 23 選別手段 24 第2のテストパタン記述手段

Claims (3)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 半導体集積回路の論理シミュレーション
    を行う論理シミュレータと接続し、該論理シミュレータ
    により前記半導体集積回路の設計に用いるライブラリが
    正しく動作するか否かを検証するライブラリ検証装置で
    あって、 前記ライブラリに関するライブラリ設計データから、該
    ライブラリの動作の記述に関するデータと、該ライブラ
    リのシミュレーションモデルに関する情報とを抽出する
    抽出手段と、 前記ライブラリの動作を検証する際のシミュレーション
    条件に関するデータを記述する条件パラメータ記述手段
    と、 前記抽出手段が抽出した前記ライブラリの動作の記述に
    関するデータと、前記条件パラメータ記述手段が記述し
    たシミュレーション条件とに基づいて、前記論理シミュ
    レータが処理可能なフォーマットのテストパタンを記述
    するテストパタン記述手段と、 前記抽出手段が抽出した前記ライブラリのシミュレーシ
    ョンモデルに関する情報に基づいて、前記論理シミュレ
    ータが処理可能なフォーマットのネットリストを記述す
    るネット記述手段と、 前記テストパタンおよび前記ネットリストに従い前記論
    理シミュレータによる論理シミュレーションを行って、
    前記ライブラリの動作を検証する論理シミュレーション
    実行手段と、 前記論理シミュレーション実行手段による論理シミュレ
    ーションの結果を予め定められている内容と照合し、そ
    の照合結果を出力する期待値照合手段とを備えてなるこ
    とを特徴とするライブラリ検証装置。
  2. 【請求項2】 半導体集積回路の回路シミュレーション
    を行う回路シミュレータと接続し、該回路シミュレータ
    により前記半導体集積回路の設計に用いるライブラリが
    正しく動作するか否かを検証するライブラリ検証装置で
    あって、 前記ライブラリに関するライブラリ設計データから、該
    ライブラリの動作の記述に関するデータと、該ライブラ
    リのレイアウトに関するデータとを抽出する第1の抽出
    手段と、 前記第1の抽出手段が抽出した前記ライブラリのレイア
    ウトに関するデータからレイアウトパラメータを抽出す
    る第2の抽出手段と、 前記ライブラリの動作を検証する際のシミュレーション
    条件に関するデータを記述する条件パラメータ記述手段
    と、 前記第1の抽出手段が抽出した前記ライブラリの動作の
    記述に関するデータと、前記条件パラメータ記述手段が
    記述したシミュレーション条件とに基づいて、前記回路
    シミュレータが処理可能なフォーマットのテストパタン
    を記述するテストパタン記述手段と、 前記第2の抽出手段が抽出したレイアウトパラメータに
    基づいて、前記回路シミュレータが処理可能なフォーマ
    ットのネットリストを記述するネット記述手段と、 前記テストパタンおよび前記ネットリストに従い前記回
    路シミュレータによる回路シミュレーションを行って、
    前記ライブラリの動作を検証する回路シミュレーション
    実行手段と、 前記回路シミュレーション実行手段による回路シミュレ
    ーションの結果を予め定められている内容と照合し、そ
    の照合結果を出力する期待値照合手段とを備えてなるこ
    とを特徴とするライブラリ検証装置。
  3. 【請求項3】 半導体集積回路の論理シミュレーション
    を行う論理シミュレータおよび回路シミュレーションを
    行う回路シミュレータと接続し、これらにより前記半導
    体集積回路の設計に用いるライブラリが正しく動作する
    か否かを検証するライブラリ検証装置であって、 前記ライブラリに関するライブラリ設計データから、該
    ライブラリのレイアウトに関するデータと、該ライブラ
    リのシミュレーションモデルに関する情報とを抽出する
    第1の抽出手段と、 前記第1の抽出手段が抽出した前記ライブラリのレイア
    ウトに関するデータからレイアウトパラメータを抽出す
    る第2の抽出手段と、 前記第2の抽出手段が抽出したレイアウトパラメータに
    基づいて、前記回路シミュレータが処理可能なフォーマ
    ットの第1ネットリストを記述する第1のネット記述手
    段と、 前記回路シミュレータが処理可能なフォーマットの第1
    テストパタンを記述して入力するための第1のテストパ
    タン記述手段と、 前記第1ネットリストおよび前記第1テストパタンに従
    い前記回路シミュレータによる回路シミュレーションを
    行って、前記ライブラリの動作を検証する回路シミュレ
    ーション実行手段と、 前記回路シミュレーション実行手段による回路シミュレ
    ーションの結果を予め定められている内容と照合し、該
    内容に合致するシミュレーション結果を出力する選別手
    段と、 前記第1の抽出手段が抽出した前記ライブラリのシミュ
    レーションモデルに関する情報に基づいて、前記論理シ
    ミュレータが処理可能なフォーマットの第2ネットリス
    トを記述する第2のネット記述手段と、 前記ライブラリの動作を検証する際のシミュレーション
    条件に関するデータを記述する条件パラメータ記述手段
    と、 前記条件パラメータ記述手段によるシミュレーション条
    件を参照して、前記選別手段が出力したシミュレーショ
    ン結果から前記論理シミュレータが処理可能なフォーマ
    ットの第2テストパタンを生成する第2のテストパタン
    記述手段と、 前記第2ネットリストおよび前記第2テストパタンに従
    い前記論理シミュレータによる論理シミュレーションを
    行って、前記ライブラリの動作を検証する論理シミュレ
    ーション実行手段と、 前記論理シミュレーション実行手段による論理シミュレ
    ーションの結果を予め定められている内容と照合し、そ
    の照合結果を出力する期待値照合手段とを備えてなるこ
    とを特徴とするライブラリ検証装置。
JP9178116A 1997-07-03 1997-07-03 ライブラリ検証装置 Withdrawn JPH1125140A (ja)

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JP9178116A JPH1125140A (ja) 1997-07-03 1997-07-03 ライブラリ検証装置

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