JPH11241964A - 半導体圧力センサ用台座のメタライズ層の形成方法 - Google Patents

半導体圧力センサ用台座のメタライズ層の形成方法

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JPH11241964A
JPH11241964A JP4532198A JP4532198A JPH11241964A JP H11241964 A JPH11241964 A JP H11241964A JP 4532198 A JP4532198 A JP 4532198A JP 4532198 A JP4532198 A JP 4532198A JP H11241964 A JPH11241964 A JP H11241964A
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JP
Japan
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metallized layer
pressure sensor
semiconductor pressure
sensor chip
hole
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JP4532198A
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English (en)
Inventor
Hiroshi Saito
宏 齊藤
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 台座の貫通孔の内壁にメタライズ層が形成さ
れず、工程が増加することもなく、接合信頼性のよい半
導体圧力センサ用台座のメタライズ層の形成方法を提供
する。 【解決手段】 ダイアフラム11を有する半導体圧力セ
ンサチップ1と、ダイアフラム11に圧力を導入するた
めの貫通孔21が形成され、半導体圧力センサチップ1
に接合される台座2とを有してなる半導体圧力センサに
おける台座2の半導体圧力センサチップ1と接合しない
側の面にメタライズ層8を形成する方法であって、端部
につば部41が形成され、少なくともつば部41が電磁
石30に吸引され得る材質で構成されたピン40を、つ
ば部41を電磁石30で吸着しながらメタライズ層8を
形成する面側から貫通孔21に挿入し、ピン40を挿入
した状態で、電磁石30を取り除いた上で、メタライズ
層8を形成する面側からスパッタリングあるいは蒸着に
よりメタライズ層8を形成するようにした。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、ダイアフラムの形
成された半導体圧力センサチップと台座とを接合してな
る半導体圧力センサ用台座のメタライズ層の形成方法に
関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体圧力センサは微圧領域の
圧力の測定を行うものであり、図3に示すように、凹部
を形成することにより薄肉状に形成されたダイアフラム
11を有する半導体圧力センサチップ1がガラス台座2
に陽極接合等により接合され、中心にコバール製又は4
2アロイ等の金属パイプ4が配置されたPPSやPBT
等のプラスチックパッケージ3内に設置される。半導体
圧力センサチップ1表面のアルミパッドとリード5とは
金又はアルミ製のワイヤ6で接続されている。なお、7
はプラスチックパッケージ3の蓋であり、12は半導体
圧力センサチップ1に形成された歪みゲージ抵抗であ
り、13は半導体圧力センサチップ1の表面を保護する
オーバーコートである。ガラス台座2の材料としては、
例えばパイレックスガラス(コーニング社製、品番♯7
740等)が用いられる。
【0003】ガラス台座2の中心部には、半導体圧力セ
ンサチップ1のダイアフラム11に圧力を印加するため
の貫通孔21が形成され、ガラス台座2はこの貫通孔2
1と金属パイプ4の貫通孔41とが対向するような配置
で、金属パイプ4に接合される。ガラス台座2と金属パ
イプ4とを接合するために、ガラス台座2の半導体圧力
センサチップ1と接合しない側の面にはメタライズ層8
が形成される。
【0004】ガラス台座2へのメタライズ層8の形成
は、まず、図4(a)に示すように、メタライズ層8を
形成すべき面の表面粗化を行い、次に、図4(b)に示
すように、ガラス台座2を平面プレート10上に密着し
て設置し、スパッタリングや蒸着により表面粗化した面
にメタライズ層8を形成する。メタライズ層8の例とし
ては、Cr(最下層)/Ni/Au(最上層)、Ti
(最下層)/Ni/Au(最上層)、Ti(最下層)/
Pt/Au(最上層)等が挙げられる。その後、図4
(c)に示すように、ガラス台座2を平面プレート10
から取り外す。
【0005】そして、金属パイプ4とガラス台座2とが
メタライズ層8を介して半田(錫、錫−アンチモン合
金、鉛、錫−鉛合金、金−シリコン合金、錫−銀合金
等)9により接合される。メタライズ層8の最上層のA
uの表面には半田9が塗れるのである。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述の
ようなガラス台座2へのメタライズ層8の形成方法によ
れば、ガラス台座2の平面プレート10に接している方
の面はメタライズされることはないが、貫通孔21の内
壁にはメタル粒子が付着し、メタライズ層8が形成され
てしまう。
【0007】貫通孔21の内壁にメタライズ層8が形成
されてしまうと、図5に示すように、ガラス台座2と半
導体圧力センサチップ1とを陽極接合する場合、高温
(約300℃から400℃)中で、高バイアス(約50
0Vから800V)が印加されるため、半導体圧力セン
サチップ1のガラス台座2との接合面の貫通孔21に近
い個所と、貫通孔21の内壁の上端部に形成されたメタ
ライズ層8との間で放電が生じ、半導体圧力センサチッ
プ1が破壊してしまうという問題があった。
【0008】このような問題を改善するために、メタラ
イズ層8の形成に際して、図6に示すように、ガラス台
座2の貫通孔21内にワックス20を充填する方法があ
る。つまり、図6(a)に示すように、メタライズ層8
を形成すべき面の表面粗化を行い、図6(b)に示すよ
うに、ガラス台座2を平面プレート10上に密着して設
置した段階で、貫通孔21内にワックス20を充填す
る。ワックス20は約100℃から150℃程度の熱で
溶けるものを使用するが、メタライズ層8の形成時に加
わる温度によってはワックス20の種類は適宜変更すれ
ば良い。ワックス20の貫通孔21内への充填方法は、
例えば、ディスペンサ等を用いて針先からワックスを吐
出することにより行う。その後、図6(c)に示すよう
に、スパッタリングや蒸着により表面粗化した面にメタ
ライズ層8を形成する。メタライズ層8の形成完了後、
図6(d)に示すように、ガラス台座2を平面プレート
10から取り外し、ガラス台座2をを加熱することによ
り、貫通孔21内に充填されたワックス20を溶融して
除去する。このようにすることにより、貫通孔21内に
メタライズ層8が形成されてしまうことを防止してい
た。
【0009】しかしながら、この場合には、貫通孔21
内へのワックス20の充填という工程が余分に増え、コ
ストアップになる。また、ワックスが貫通孔21内以外
の周囲のガラス台座2面上に飛び散った場合、ワックス
上にメタライズ層8を形成してしまうことになり、メタ
ライズ層8のガラス台座2表面との接着力が低下する。
さらに、メタライズ層8の形成後、貫通孔21内に充填
されたワックス20を溶融して除去するが、このワック
ス20の残さがガラス台座2の半導体圧力センサチップ
1と接合する面上に回り込むと、ガラス台座2と半導体
圧力センサチップ1との接合品質に著しい影響を及ぼす
ことになる。つまり、接合されず空隙(ボイド)が発生
したりして接合強度が低下する。ワックス20の残さを
除去するために溶融有機溶剤(アセトン、イソプロピル
アルコール等)で洗浄することも考えられるが、洗浄工
程が増えるし、洗浄後の残さレベルの確認等、品質管理
が難しい。特に、ワックス20が不透明な場合には、目
視検査ができず、洗浄性の評価ができないという問題が
あった。
【0010】本発明は、上記の点に鑑みてなしたもので
あり、その目的とするところは、台座の貫通孔の内壁に
メタライズ層が形成されず、工程が増加することもな
く、接合信頼性のよい半導体圧力センサ用台座のメタラ
イズ層の形成方法を提供することにある。
【0011】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
凹部を形成することにより薄肉状に形成されたダイアフ
ラムを有する半導体圧力センサチップと、前記ダイアフ
ラムに圧力を導入するための貫通孔が形成され、前記半
導体圧力センサチップに接合される台座とを有してなる
半導体圧力センサにおける前記台座の前記半導体圧力セ
ンサチップと接合しない側の面にメタライズ層を形成す
る方法であって、端部につば部が形成され、少なくとも
該つば部が電磁石に吸引され得る材質で構成されたピン
を、前記つば部を電磁石で吸着しながらメタライズ層を
形成する面側から前記貫通孔に挿入し、該ピンを挿入し
た状態で、前記電磁石を取り除いた上で、メタライズ層
を形成する面側からスパッタリングあるいは蒸着により
メタライズ層を形成するようにしたことを特徴とするも
のである。
【0012】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態の一例
を図面に基づき説明する。図1は本発明の実施の形態の
一例に係る半導体圧力センサ用台座のメタライズ層の形
成方法を示す工程図である。まず、図1(a)に示すよ
うに、円盤状のガラス台座2(直径約100mmから1
50mm、厚み約0.5mmから3mm)には、超音波
加工法等により貫通孔21が形成されている。貫通孔2
1の大きさは直径約0.6mmから1.5mmである。
このガラス台座2の一方の面は表面粗化が行われる。つ
まり、ガラス台座2の一方の面に対して、目の粗い砥石
で研磨し、又は、サンドブラスト法により吐粒を吹きか
け、粗面化し、後述のメタライズ層の形成時に金属が付
着しやすいようにしておく。次に、図1(b)に示すよ
うに、平板状の電磁石30に、ガラス台座2の貫通孔2
1の位置に対応した位置にピン40を吸着させる。ここ
で、ピン40は、端部につば部41が設けられており、
少なくともこのつば部41は鉄系又はニッケル系等の電
磁石30に吸引され得る材質で構成される。また、ピン
40の外形は貫通孔21に挿入可能な形状であれば良
く、長さは貫通孔21の深さ以下であれば良い。ピン4
0のつば部41を電磁石30に吸着させた状態で、プレ
ート10上に設置されたガラス台座2の方向に、つば部
41が貫通孔21の端部に当接するまで垂直に降下させ
ることにより、ピン40を貫通孔21に挿入する。次
に、電磁石30の電磁力を解除することにより、ピン4
0を貫通孔21内に残して電磁石30だけを取り去る。
この状態で、図1(c)に示すように、ガラス台座2の
粗面化した面側にスパッタリングや蒸着によりメタライ
ズ層8を形成する。スパッタリングの場合には、ターゲ
ット(メタライズ層8の材料となる板)のまわりを、圧
力を10-2Torr〜10-4Torrにして基板や真空
容器(接地)とターゲットとの間に数百V〜数KVの電
圧を印加してプラズマを発生させる。このプラズマ中の
イオンがターゲット表面の原子を跳ね飛ばし、基板(ガ
ラス)の上に付着することにより膜を形成するのであ
る。この方法でターゲットを変えることにより複数の金
属層を積層し、メタライズ層8が形成される。メタライ
ズ層8の例としては、Cr(最下層)/Ni/Au(最
上層)、Ti(最下層)/Ni/Au(最上層)、Ti
(最下層)/Pt/Au(最上層)等が挙げられる。な
お、スパッタリングはメタライズ層を形成する面(表面
粗化の行われた面)の方向から行う。その後、図1
(d)に示すように、電磁石30を用いてピン40を貫
通孔21から取り出す。
【0013】以上のようにして、メタライズ層8の形成
されたガラス台座2は、図3に示すように、メタライズ
層8の形成面側が半田9を介して金属パイプ4に接合さ
れ、反対側の面が半導体圧力センサチップ1に陽極接合
により接合される。陽極接合の条件としては、真空雰囲
気中で約400℃に加熱し、約500V〜800Vの直
流電圧を半導体圧力センサチップ1側が正極になるよう
に印加すると、静電引力により原子的に接合されるので
ある。
【0014】本実施形態によれば、ガラス台座2の貫通
孔21の内壁22は、メタライズ層8の形成工程時に
は、貫通孔21がピン40のつば部41によって塞がっ
ているので、メタライズ層が形成されることはなくな
り、金属パイプ4との接合面にのみメタライズ層8が形
成される。従って、ガラス台座2と半導体圧力センサチ
ップ1とを陽極接合する場合に、放電により半導体圧力
センサチップ1が破壊することがなく、また、ワックス
を充填する等の余分な工程が増加することもなく、さら
には、ガラス台座2と半導体圧力センサチップ1や金属
パイプ4との接合信頼性も向上するのである。
【0015】
【発明の効果】以上のように、請求項1記載の発明によ
れば、凹部を形成することにより薄肉状に形成されたダ
イアフラムを有する半導体圧力センサチップと、前記ダ
イアフラムに圧力を導入するための貫通孔が形成され、
前記半導体圧力センサチップに接合される台座とを有し
てなる半導体圧力センサにおける前記台座の前記半導体
圧力センサチップと接合しない側の面にメタライズ層を
形成する方法であって、端部につば部が形成され、少な
くとも該つば部が電磁石に吸引され得る材質で構成され
たピンを、前記つば部を電磁石で吸着しながらメタライ
ズ層を形成する面側から前記貫通孔に挿入し、該ピンを
挿入した状態で、前記電磁石を取り除いた上で、メタラ
イズ層を形成する面側からスパッタリングあるいは蒸着
によりメタライズ層を形成するようにしたので、台座の
貫通孔の内壁にメタライズ層が形成されず、工程が増加
することもなく、接合信頼性のよい半導体圧力センサ用
台座のメタライズ層の形成方法が提供できた。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の一実施形態に係る半導体圧力センサ用
台座のメタライズ層の形成方法を示す工程図である。
【図2】同上に係る台座を半導体圧力センサチップ及び
金属パイプに接合した状態を示す模式図である。
【図3】半導体圧力センサの概略構成図である。
【図4】従来例に係る半導体圧力センサ用台座のメタラ
イズ層の形成方法を示す工程図である。
【図5】同上に係る台座を半導体圧力センサチップ及び
金属パイプに接合した状態を示す模式図である。
【図6】他の従来例に係る半導体圧力センサ用台座のメ
タライズ層の形成方法を示す工程図である。
【符号の説明】
1 半導体圧力センサチップ 2 ガラス台座 3 プラスチックパッケージ 4 金属パイプ 5 リード 6 ワイヤ 7 蓋 8 メタライズ層 9 半田 10 平面プレート 11 ダイアフラム 12 歪みゲージ抵抗 13 オーバーコート 20 ワックス 21 貫通孔 22 内壁 30 電磁石 40 ピン 41 つば部

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 凹部を形成することにより薄肉状に形成
    されたダイアフラムを有する半導体圧力センサチップ
    と、前記ダイアフラムに圧力を導入するための貫通孔が
    形成され、前記半導体圧力センサチップに接合される台
    座とを有してなる半導体圧力センサにおける前記台座の
    前記半導体圧力センサチップと接合しない側の面にメタ
    ライズ層を形成する方法であって、端部につば部が形成
    され、少なくとも該つば部が電磁石に吸引され得る材質
    で構成されたピンを、前記つば部を電磁石で吸着しなが
    らメタライズ層を形成する面側から前記貫通孔に挿入
    し、該ピンを挿入した状態で、前記電磁石を取り除いた
    上で、メタライズ層を形成する面側からスパッタリング
    あるいは蒸着によりメタライズ層を形成するようにした
    ことを特徴とする半導体圧力センサ用台座のメタライズ
    層の形成方法。
JP4532198A 1998-02-26 1998-02-26 半導体圧力センサ用台座のメタライズ層の形成方法 Pending JPH11241964A (ja)

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