JPH11239870A - 固体接合方法およびその装置、導体接合方法、パッケージ方法並びに接合材および接合材の製造方法 - Google Patents
固体接合方法およびその装置、導体接合方法、パッケージ方法並びに接合材および接合材の製造方法Info
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- JPH11239870A JPH11239870A JP10161210A JP16121098A JPH11239870A JP H11239870 A JPH11239870 A JP H11239870A JP 10161210 A JP10161210 A JP 10161210A JP 16121098 A JP16121098 A JP 16121098A JP H11239870 A JPH11239870 A JP H11239870A
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Abstract
16bは、フッ化処理部12においてHFガス供給部2
4からのHFガスと、水蒸気発生部26からの水蒸気と
の混合ガスに晒されて表面がフッ化されたのち、接合処
理部14のテーブル36上に重ねて配置される。その
後、チャンバ34内をArガス雰囲気にし、第1の被接
合部材16aと第2の被接合部材16bとをシリンダ4
6によって加圧するとともに、ヒータ48によって両者
の融点以下に加熱して接合する。
Description
は金属とセラミック等の固体同士を接合する固体接合方
法に係り、特に接合材などを溶融することなく固体同士
を接合する固体接合方法およびその装置、導体接合方
法、パッケージ方法並びに接合材および接合材の製造方
法に関する。
金属と金属、あるいは金属とセラミック、金属とガラス
などの固体同士を接合する場合、半田やインジウムなど
の低融点金属からなる接合材を溶融して行なうのが一般
的である。また、近年、金属同士を接合する場合、接合
する金属を真空容器中に配置し、金属の接合面にイオン
ビームを照射して酸化物を除去したのち、金属を加熱、
加圧して接合する方法が開発されている。
ジ中に水晶発振子などの電子部品を配置し、パッケージ
内部を真空にして封止したものがある。このパッケージ
作業は、真空中においてパッケージの下蓋の中に電子部
品を収め、下蓋に上蓋を被せて両者を接合している。こ
の接合は、上蓋または下蓋のいずれかの接合部に半田や
インジウムなどの低融点で軟らかい金属からなる接合材
を塗布しておき、上下の蓋の位置を制御しながら重ねた
のち、加熱して低融点金属の接合材を溶融して行なって
いる。
は、アルカリ金属およびアルカリ土類金属のハロゲン化
物およびアルカリ土類金属のフッ化物の少なくとも一種
からなるフッ化物含有溶融ハロゲン化物浴にセラミック
を浸漬して700〜1100℃に加熱し、セラミックの
表面に炭化物、ホウ化物、窒化物、ケイ化物などの非酸
化物からなる表面層を形成したのち、この非酸化物表面
層を有するセラミック同士または非酸化物表面層を有す
るセラミックと金属とを加熱して接合する方法が開示さ
れている。
は、少なくとも接合面の主成分が二酸化シリコンである
部材同士を重ね合わせ、両者の接合界面にフッ化水素酸
を含む溶液を浸透させて両者を接合する方法が開示され
ている。また、外国の文献には、クロムからなる被接合
部材を800〜900℃の高温のフッ素系ガス雰囲気中
に配置し、フッ素系ガスを熱分解して被接合部材をフッ
化処理するとともに、そのままその雰囲気で接合する技
術が提案されている。
の接合は、フラックスを使用しなければならず、接合後
に洗浄してスラッジを除去しなければならない場合もあ
る。また、半田やインジウムなどの接合材を溶融して接
合する場合、被接合部材相互の位置ずれが生じやすく、
接合時における形状制御をすることが困難で形状が不安
定となるばかりでなく、接合後の見た目も悪い。そし
て、上記の真空パッケージ方法においても、接合材を溶
融して接合するため、接合時の形状不安定性やスラッジ
の問題を生ずる。
の表面酸化物を除去して接合する方法は、接合材を用い
ないために形状制御が容易でスラッジの問題を生じない
が、真空中で行なう必要があるばかりでなく、真空中に
おいて加熱、加圧する必要があり、装置が高価で大型化
するばかりでなく、ランニングコストも高くなる欠点が
ある。
載された接合方法は、セラミックスを液体であるフッ化
物含有溶融ハロゲン化物に浸漬し、700〜1100℃
の温度で長時間加熱して非酸化物を析出させる必要があ
り、取り扱いが面倒であるとともに、多くの処理時間を
必要とする。しかも、セラミック同士またはセラミック
と金属との接合にしか適用することができない。さら
に、特開平10−36145号公報に記載の接合方法
は、二酸化シリコンを主成分とする部材をフッ化水素酸
によって溶解して接合するようになっており、極めて適
用範囲が狭いばかりでなく、接合時にフッ化水素酸溶液
を用いるために取り扱いが容易でなく、接合にも多くの
時間を必要とする。
を分解して接合する方法は、すべての操作を高温中で行
うために高価な高温炉を必要として設備費コストが高く
なるばかりでなく、クロムなどの高融点の部材にしか適
用することができず、融点の低い部材などには適用する
ことができない。
ためになされたもので、接合材を用いずに固体同士を接
合することを目的としている。
せることができるようにすることを目的としている。
おける乾式処理によってハロゲン化(フッ化)してハロ
ゲンを含む表面を有する被接合部材が得られるようにす
ることを目的としている。
たフラックスを使用せずに固体同士を接合することがで
きる接合材を提供することを目的としている。
めに、本発明に係る固体接合方法は、少なくとも一方が
ハロゲンを含む表面を有する第1の被接合部材と、この
第1の被接合部材と同種あるいは異種の第2の被接合部
材とを前記ハロゲンを含む表面において接触させ、両者
を相互に接合することを特徴としている。
(F)や塩素(Cl)などのハロゲンが種々の元素と非
常に結合しやすいため、半田やインジウムなどの接合材
を用いずに同種または異種の2つの被接合部材を溶融す
ることなく接合することができる。しかも、接合材など
を溶融せずに接合できるため、接合時の位置合せや形状
制御が容易で、形状を安定させることができ、フラック
スを用いないためにスラッジを発生することもない。
い場合、被接合部材の表面をハロゲン化処理することに
より、ハロゲンを含む表面を容易に形成することができ
る。特に、フッ素は、他の元素との結合性が強いため、
被接合部材をフッ化することが望ましい。
が、例えばF2、HF、COF2 などの反応性フッ素系
ガスと水蒸気との混合ガスを被接合部材に接触させて行
うことができる。これらの反応性フッ素系ガスは、水
(水蒸気)と反応して活性なフッ素を生ずる。ここに、
活性なフッ素とは、本発明の場合、フッ素系イオン、フ
ッ素系ラジカル、フッ素単原子などをいう。
F)である場合、本発明者の推測(仮定)によれば、次
の反応によりフッ素系イオンを生ずる。
した場合にも同様にフッ素系イオンが生成される。ま
た、水蒸気に代えてアルコールの蒸気を使用してもよ
い。
い。また、フッ素は、電気陰性度が最大であるところか
ら反応しやすく、ほとんどの元素と直接反応してフッ化
物を形成する。そして、空気中に放置された金属(例え
ば、錫)の表面は、100オングストローム(0.01
μm)程度の酸化膜に覆われているが、金属表面に活性
なフッ素が接触すると、そのフッ素が金属中に取り込ま
れ、あるものは金属酸化物(酸化錫)の中に、あるもの
はさらに深く金属中に取り込まれる。この金属中に取り
込まれるフッ素の量、深さはフッ化処理の条件による。
であるが、一部が酸素と入れ替わってフッ化金属、ある
いはフッ化酸化金属となって安定となる。例えば、金属
酸化膜が酸化錫(SnO)からなる場合、
+2H2 O の化学反応を起こすものと思われる。
放出された酸素は、一部が空間に放出されるが、ほとん
どが金属(錫)中に拡散する。そして、フッ素は、金属
結合を切って内部側に拡散して酸素の水先案内をする作
用をなし、酸素も錫の内部まで入り込み、酸素を含む層
がフッ化処理をする前よりも厚くなる。また、フッ化処
理前は酸化層であった最表面は、フッ化によっていった
ん酸素の少ない状況になるが、フッ化した表面が水など
と反応すると、金属中のフッ素と水との反応によってフ
ッ素が抜けて水の酸素が取り込まれて再酸化される。こ
のとき、フッ素が抜けた金属部は活性であるため、酸化
の度合いがフッ化処理前よりも進むことになる。
な現象を利用して常温などの低い温度において被接合部
材のフッ化をすることができるため、処理が容易である
とともに、装置の簡素化を図ることができ、フッ化処理
の程度の制御も正確に行うことができ、容易に表面にフ
ッ素を有する被接合部材を得ることができる。
圧またはその近傍の圧力下にあるフッ素系ガス(例え
ば、CF4 、SF6 など)と水蒸気との混合ガスを介
した放電により生成すると、反応性フッ素系ガスである
HF、F2 、COF2 などを安定した安全はガスを使用
して容易に生成することができる。
(例えば、HF、F2 、COF2、CF4 など)を含む
ガスを介した放電により活性なフッ素を生成し、この活
性なフッ素を被接合部材に接触させて行ってもよい。こ
のように構成すると、水(水蒸気)を使用しないために
フッ化を安定して行えるとともに、装置の腐食などを防
ぐことができる。この場合、放電は、真空中で行っても
よいし、大気圧またはその近傍の圧力下で行ってもよ
い。
材を配置して行うと、フッ化速度を向上することができ
る。また、被接合部材を放電領域外に配置し、放電領域
で生成された活性なフッ素を被接合部材まで導いてフッ
化を行えば、被接合部材が直接プラズマなどに晒される
ことがないため、高エネルギー粒子が被接合部材に衝突
するのを避けることができ、プラズマなどによるダメー
ジを防ぐことができる。
F2、CF4 などのフッ素系ガスに紫外線を照射して活
性なフッ素を生成し、この活性なフッ素を被接合部材に
接触させて行うことできる。このように構成すると、単
にフッ素系ガスに紫外線を照射するだけで活性なフッ素
を生成できるため、フッ化処理装置を比較的簡素にする
ことができる。また、被接合部材を反応性のフッ素系物
質からなる蒸気(例えば、HF蒸気)に接触させて行う
ことができる。この場合も、反応性のフッ素系ガスを蒸
発させるだけであるため、装置を簡素化することがで
き、またフッ化のためのランニングコストを低減でき
る。
フッ素を含む溶液に被接合部材を直接浸漬してフッ化す
るいわゆる湿式処理とことなり、いわゆる乾式処理であ
るために工程の簡略化が図れるとともに、取り扱いが容
易で、フッ化処理の程度を高精度に制御することが可能
となる。
接合する場合、第1の被接合部材と第2の被接合部材と
を重ねるとともに、接合部を両者の融点よりも低い温度
に加熱して行うことができる。両被接合部材を単に重ね
て加熱した状態で放置しておくことにより両者を接合で
きるため、接合工程が非常に簡単となる。ただし、接合
にやや時間が掛かるとともに、接合力がやや弱い。
る。従って、被接合部材を加熱できるもの、例えばヒー
タや赤外線加熱器などがあればよいため、装置や作業な
どを簡素化することができる。また、接合のための加熱
は、不活性ガス中で行うことができる。不活性ガス中で
加熱すれば、接合を妨げる酸素が接合部に入ることがな
いため、接合速度が速くなるとともに、接合強度を増大
することができ、さらに酸化しやすい部材であっても容
易に接合することができる。
を大きくして行うことが望ましい。加圧しながら接合す
ると、被接合部材間の接触面積が増大するとともに、両
者の密接度が増すためにフッ素の移動、拡散が容易に行
われ、常温においても容易に接合することができる。し
かも、加圧による接合は、接合時間の短縮が図れるとと
もに、接合強度を向上することができる。そして、加圧
は、大気圧中または不活性ガス中のいずれで行ってもよ
い。加圧を大気圧下において行なえば、ランニングコス
トを低減することができる。また、加圧を不活性ガス中
で行うと、酸素の影響を受けないため、上記したように
接合強度の向上と接合時間の短縮を図ることができる。
加圧して接合する場合にも、接合部を各被接合部材のそ
れぞれの融点より低い温度に加熱してよい。これによ
り、両被接合部材間におけるフッ素の移動、拡散がより
活発となり、接合時間の一層の短縮と接合強度の向上が
図れる。
えば、銅)とを重ね合わせて加圧、加熱した場合、本発
明者の仮説であるが、次のような現象が生じているもの
と思われる。
して銅側に拡散する。そして、フッ素が抜けた部分の金
属(錫)は活性であって、フッ素が抜けたことによって
内部から表面への酸素の拡散を生じ、活性な錫原子の一
部が酸素と結合して酸化度が上がる。しかし、活性な錫
原子の一部は、結合手がフリーな状態にあると思われ
る。そして、銅側に拡散したフッ素は、銅表面の酸素と
入れ替わり、銅表面の酸素が錫側に移動する。また、い
ったん銅側に移動したフッ素も一部が再び錫側に移る。
このように、フッ素は、金属の酸素を追い出し、金属の
結合手を切る作用をする。そして、錫と銅との未結合の
原子が相互に相手側に拡散して金属同士の結合を行う。
このような現象は、本発明者のトンネル型電子顕微鏡
(TEM)による結晶格子の観察から、両金属の界面が
Cu6Sn5となっていることからわかる。
音波振動を与えつつ行ってよい。超音波振動を与える
と、接合部の温度上昇が図れるとともに、表面に酸化膜
などが存在する場合、超音波振動によってこれを除去で
き、接合時間の短縮、接合強度の向上が図れる。さら
に、接合は、接触させた第1の被接合部材と第2の被接
合部材とに電界を作用させて行なうことができる。被接
合部材に電界を作用させると、被接合部材中でイオンと
して存在しているハロゲンが電界によって強制的に移動
させられるため、接合強度が増すとともに、加熱したり
加圧しただけでは接合が困難な部材であっても接合が可
能となる。
いずれも錫やインジウム、銅などの金属(合金を含
む)、ガラスやアルミナなどのセラミック、シリコンな
どの半導体であってよく、これらを任意に組み合わせて
接合することができる。被接合部材の少なくとも一方を
錫または錫系合金(例えば、半田、SnAg、SnZn
など)とすると、他の部材との接合を良好に行うことが
できる。
する第1の被接合部材と第2の被接合部材との少なくと
も一方の表面にフッ化物層を堆積し、このフッ化物層を
介して前記第1、第2の被接合部材を相互に接合するこ
とを特徴としている。このように構成した本発明は、表
面にフッ素を有しない被接合部材もフッ素物層を形成す
ることにより、容易、確実に接合することができる。ま
た、フッ化物層を堆積するため、被接合部材の材質をほ
とんど問題にする必要がない。
(Ar)に少量のCF4 などのフッ素系ガスを使用し、
金属ターゲットを用いスパッタリングにより、またはフ
ッ化物からなる物質、例えばフッ化錫をターゲットとし
たスパッタリングにより形成することができる。なお、
フッ化物層は、フッ化錫または錫系合金のフッ化物であ
ってよい。
においても、前記したと同様に、各被接合部材を重ねて
大気中または不活性ガス中で加熱して接合を行うことが
できる。この場合、加熱温度は、フッ化物層が溶融しな
い温度である。また、接合は、前記と同様に、大気中ま
たは不活性ガス中で加圧して行うことができる。この場
合もフッ化物層が溶融しないような温度に加熱すること
が望ましい。そして、加圧して接合する場合、被接合部
材に超音波振動を与えてよい。さらに、被接合部材に電
圧を印加して接合するようにしてもよい。
装置は、被接合部材の表面にハロゲンを添加するハロゲ
ン化処理部と、前記被接合部材の前記ハロゲン化処理部
によりハロゲンの添加された面に第2の被接合部材を接
触させて接合する接合処理部とを有することを特徴とし
ている。このように構成した本発明は、表面にハロゲン
を有しない被接合部材にハロゲンを含有させることがで
き、接合材を使用せずに被接合部材の接合を容易に行う
ことができる。
とにより、接合力が大きく、接合時間も短いより接合特
性に優れた接合を行うことができる。そして、フッ化処
理部は、フッ化処理される被接合部材を配置するフッ化
処理室と、このフッ化処理室に反応性フッ素系ガスを供
給するフッ化ガス供給手段と、フッ化処理室に水蒸気を
供給する水蒸気供給手段とを有するように構成できる。
フッ化ガス供給手段は、大気圧またはその近傍の圧力下
にあるフッ素系ガスと水蒸気との混合ガスを介した放電
により反応性フッ素系ガスを生成する放電ユニットを有
するようにしてよい。
合部材が配置されるとともに、大気圧またはその近傍の
圧力下にある少なくともフッ素系ガスを含むガスを介し
た放電により活性なフッ素を生成して被接合部材に照射
する放電ユニットを有するようにしてよい。さらに、フ
ッ化処理部は、フッ化される被接合部材が配置されるフ
ッ化処理室と、大気圧またはその近傍の圧力下にある少
なくともフッ素系ガスを含むガスを介した放電により活
性なフッ素を生成してフッ化処理室に供給する放電ユニ
ットとを有する構成とすることができる。
る被接合部材が配置されるとともに、少なくともフッ素
系ガスを含むガスを介した放電により活性なフッ素ガス
を生成して被接合部材に照射する放電チャンバと、この
放電チャンバ内を吸引して真空にする真空ポンプとを有
するようにすることができる。また、フッ化処理部は、
フッ素系ガスに紫外線を照射して活性なフッ素を生成す
る紫外線ランプなどの紫外線照射手段を設けることがで
きる。さらに、フッ化処理部は、反応性のフッ化物蒸気
を生成するフッ化蒸気供給手段と、フッ化される被接合
部材を、フッ化蒸気供給手段が生成したフッ化物蒸気内
を通過させる搬送手段とを有する構成にしてよい。
合部材の表面にフッ化物層を堆積するフッ化物層形成部
と、前記被接合部材の前記フッ化物層形成部により形成
された前記フッ化物層に第2の被接合部材を接触させて
接合する接合処理部とを有することを特徴としている。
このように構成した本発明は、フッ化に適さない被接合
部材をも容易に接合することができる。フッ化物層形成
部は、スパッタリング装置などからなるスパッタリング
部を設けることができる。
に加熱可能な加熱手段を設けることができる。また、接
合処理部は、フッ化物層を介して接触させた前記第1の
被接合部材と前記第2の被接合部材との間の接触圧力を
大きくする加圧手段を設けてもよい。さらに、接合処理
部は、接触させた被接合部材に超音波振動を与える振動
発生手段を設けることができる。そして、接合処理部
は、接触させた被接合部材に電界を作用させる電界発生
手段を設けてもよい。また、接合処理部は、各被接合部
材が配置されるとともに、不活性ガスが供給されるする
接合チャンバを有するように構成できる。
互に接合する導体の少なくとも一方の表面をハロゲン化
処理したのち、ハロゲン化処理した面において導体を相
互に接触させて接合することを特徴としている。このよ
うに構成した本発明は、半田を用いずに接合することが
でき、いわゆる鉛フリーの接合を実現することができ、
環境問題を生ずるようなことがない。また、半田などの
接合材を溶融しないため、半導体相互の位置制御の精度
を向上することができ、フラックスを使用しないために
スラッジを除去する手間を省くことができる。
化処理であることが望ましい。フッ化は、前記した固体
接合の場合と同様にして行うことができる。すなわち、
反応性フッ素系ガスと水蒸気との混合ガスを導体に接触
させて行ってよい。反応性フッ素系ガスは、大気圧また
はその近傍の圧力下にあるフッ素系ガスと水蒸気との混
合ガスを介した放電により生成できる。
ガスを介した放電により活性なフッ素を生成し、この活
性なフッ素を導体に接触させて行うようにしてもよい。
この場合、放電は、真空中または大気圧またはその近傍
の圧力下で行うことができる。さらに、フッ化は、放電
領域中に導体を配置して行ってもよいし、導体を放電領
域外に配置し、放電領域で生成された活性なフッ素を導
体に導いて行ってもよい。また、フッ化は、フッ素系ガ
スに紫外線を照射して活性なフッ素を生成し、活性なフ
ッ素を導体に接触させて行うこともでき、導体を反応性
のフッ素系物質からなる蒸気に接触させて行うこともで
きる。
前記の固体接合と同様にでき、接合する各導体を重ねる
とともに、接合部を両者の融点よりも低い温度に加熱し
て接合することができる。接合部の加熱は、大気中であ
っても不活性ガス中であってもよい。さらに、接合は、
加圧して各導体間の接触圧を大きくして行ってよい。加
圧は、大気圧中でも不活性ガス中でもよい。そして、加
圧した状態で接合部を各導体のそれぞれの融点より低い
温度に加熱することが望ましい。また、接合は、接触さ
せた導体に超音波振動を与えつつ行うことができる。さ
らに、接合は、接触させた各導体に電界を作用させて行
ってよい。
する導体の少なくとも一方の表面にフッ化物層を堆積
し、このフッ化物層を介して各導体を相互に接合するこ
とを特徴としている。この場合においても鉛フリーの導
体接合を実現することができる。そして、フッ化物層
は、固体接合の場合と同様にスパッタリングなどによっ
て形成することができる。フッ化物層は、フッ化錫また
は錫系合金のフッ化物であることが望ましい。また、フ
ッ化物層を介して導体を接合する場合、各導体を重ねる
とともに、接合部をフッ化物層の融点よりも低い温度に
加熱して行うことができる。接合部の加熱は、大気中で
も不活性ガス中でもよい。
体接合と同様に加圧して前記各導体間の接触圧を大きく
して行うことがより望ましい。この加圧は、大気圧中ま
たは不活性ガス中で行ってよい。また、接合部をフッ化
物層の融点より低い温度に加熱するとよい。さらに、接
合は、接触させた各導体に超音波振動を与えつつ行うこ
とができる。そして、接合は、接触させた各導体に電界
を作用させて行ってもよい。
電子部品の真空パッケージ等に用いるパッケージ方法で
あって、パッケージを構成する上蓋または下蓋の少なく
とも一方の接合部をハロゲン化処理したのち、両者を接
触させて接合することを特徴としている。このように構
成した本発明は、半田やインジウムなどの接合材を溶融
して接合する場合と異なり、上下の蓋の位置制御を正確
に行うことができ、接合時の形状不安定を避けることが
できるとともに、スラッジを除去するような工程を必要
としない。
い。そして、フッ化は、前記した固体接合の場合と同様
に行ってよい。すなわち、フッ化は、反応性フッ素系ガ
スと水蒸気との混合ガスを前記接合部に接触させて行う
ことができる。反応性フッ素系ガスは、大気圧またはそ
の近傍の圧力下にあるフッ素系ガスと水蒸気との混合ガ
スを介した放電により生成できる。
を含むガスを介した放電により生成した活性なフッ素を
生成し、この活性なフッ素を接合部に接触させて行うこ
とが可能である。放電は、真空中でも大気圧またはその
近傍の圧力下でもよい。そして、フッ化は、放電領域中
に上蓋または下蓋もしくは両者を配置して行ってもよい
し、上蓋または下蓋もしくは両者を放電領域外に配置
し、放電領域で生成された活性なフッ素を接合部まで導
いて行ってもよい。さらに、フッ化は、フッ素ガスに紫
外線を照射して活性なフッ素を生成し、この活性なフッ
素を接合部に接触させて行うことができる。また、フッ
化は、接合部を反応性のフッ素系物質からなる蒸気に接
触させて行うことができる。
同様に行ってよい。すなわち、接合は、前記上蓋と前記
下蓋とを重ねるとともに、接合部を両者の融点よりも低
い温度に加熱して行うことができる。接合は、加圧して
上蓋と下蓋との間の接触圧を大きくして行ってもよい。
この場合、接合部を前記上蓋と前記下蓋とのそれぞれの
融点より低い温度に加熱することができる。さらに、接
合は、接触させた上蓋と下蓋とに超音波振動を与えつつ
行うことも可能である。そして、接合は、接触させた上
蓋と下蓋とに電界を作用させて行ってもよい。真空パッ
ケージの場合、接合は、真空中で行う。
電子部品の真空パッケージ等に用いるパッケージ方法で
あって、パッケージを構成する上蓋または下蓋の少なく
とも一方の接合部にフッ化物層を堆積し、このフッ化物
層を介して前記上蓋と前記下蓋とを相互に接合すること
特徴としている。この場合にも前記と同様の効果を奏す
ることができる。
て形成できる。フッ化物層は、フッ化錫または錫系合金
フッ化物であってよい。このフッ化物層を設けたときの
接合は、前記した固体接合の場合と同様にでき、両者を
重ねるとともに、接合部をフッ化物層の融点よりも低い
温度に加熱して行える。さらに、接合は、加圧して接合
部の接触圧を大きくして行ってもよい。この場合、接合
部をフッ化物層の融点より低い温度に加熱してもよい。
また、接合は、接触させた上蓋と下蓋とに超音波振動を
与えつつ行ってよい。そして、接合は、接触させた前記
上蓋と前記下蓋とに電界を作用させて行うことができ
る。
体間に介装して両者を接合する接合材であって、接合材
の表面がフッ化されていることを特徴としている。この
ように構成した本発明は、接合材の表面に存在するフッ
素が大きな反応性を有していてほとんどの元素と容易に
結合するため、一対の被接合部材の間にサンドイッチ状
に挟み込むことにより、接合材を溶融することなく一対
の被接合材を接合して一体化することができる。従っ
て、接合材を溶融したりフラックスを使用する必要がな
いため、各被接合部材の位置合わせを正確に行うことが
できるとともに、スラッジを洗浄、除去するような工程
を省くことができる。
ができる。錫系合金としては、半田や錫−亜鉛(Sn−
Zn)合金、錫−銀(Sn−Ag)合金などであってよ
い。特に、Sn−Zn合金やSn−Ag合金を使用する
ことにより、環境問題を生ずる鉛を使用しない、いわゆ
る鉛フリーの接合材を実現することができる。
法は、一対の固体間に介装して両者を接合する接合材の
製造方法であって、反応性フッ素系ガスと水蒸気との混
合ガスを接合材に接触させて接合材をフッ化することを
特徴としている。反応性フッ素系ガスは、前記した固体
接合の場合と同様に、大気圧またはその近傍の圧力下に
あるフッ素系ガスと水蒸気との混合ガスを介した放電に
より生成することができる。
は、一対の固体間に介装して両者を接合する接合材の製
造方法であって、少なくともフッ素系ガスを含むガスを
介した放電により活性なフッ素を生成し、この活性なフ
ッ素を接合材に接触させて接合材をフッ化することを特
徴としている。この製造方法における放電も固体接合の
場合と同様に真空中で行ってもよく、大気圧またはその
近傍の圧力下で行ってもよい。そして、フッ化について
も同様であって、放電領域中に接合材を配置して行うこ
ともでき、接合材を放電領域外に配置し、放電領域で生
成された活性なフッ素を接合材まで導いて行うこともで
きる。
一対の固体間に介装して両者を接合する接合材の製造方
法であって、フッ素ガスに紫外線を照射して活性なフッ
素を生成し、この活性なフッ素を前記接合材に接触させ
て接合材をフッ化することを特徴としている。
対の固体間に介装して両者を接合する接合材の製造方法
であって、接合材を反応性のフッ素系物質からなる蒸気
に接触させてフッ化することを特徴としている。
材は、錫または錫系合金であることが望ましい。
接合装置、導体接合方法およびパッケージ方法並びに接
合材および接合材の製造方法の好ましい実施の形態を、
添付図面に従って詳細に説明する。
接合装置の説明図である。図1において、接合装置10
は、ハロゲン化処理部であるフッ化処理部12と接合処
理部14とを有している。フッ化処理部12は、金属や
ガラス、セラミック等の被接合部材16の表面にフッ素
(F)を添加するためのもので、被接合部材16の上面
に反応性フッ素系ガスであるフッ化水素(HF)ガスを
供給する反応室18を有している。そして、反応室18
には、配管20、22を介してフッ化ガス供給手段とな
るHFガス供給部24と蒸気発生部(水蒸気供給手段)
26とが接続してあり、HFガスと水蒸気との混合ガス
が供給されるようになっている。また、被接合部材16
は、コンベヤなどの搬送機28によって矢印30のよう
に搬送され、反応室18の下部を通過し、HFガスと水
蒸気との混合ガスにより接合面となる上面がフッ化され
る。
蒸気との混合ガスにさらされると、HFとH2 Oとが被
接合部材16の表面において、
材16と反応し、被接合部材16の表面をフッ化する。
そして、被接合部材16が金属である場合、一般に空気
中に置かれた金属は、表面が自然酸化膜によって覆われ
ており、この酸化膜の酸素とHF2 -のFとの置換反応
が生じて表面がフッ化され、またはフッ素と酸素の混合
した組成を有する表面が形成される。
物である場合、被接合部材16の表面において上記と同
様の反応が生じてフッ化される。また、ガラス中に含ま
れるケイ素(Si)などのように、フッ素と反応して蒸
気になるものに対しては、例えばSiF4となって蒸気
になる場合、SiF2 などのようにFが4個ついてい
ないフッ化物の形で被接合材16の表面に残り、フッ化
される。
う場合、搬送機28を停止させるとともに、反応室18
の下部を図示しないシャッタによって閉じ、混合ガスが
外部に漏れないようにすることができる。
ていて、フッ化された被接合部材16を接合処理部14
に搬入できるようにしてある。接合処理部14は、チャ
ンバ(接合チャンバ)34を備えていて、チャンバ34
内に第1の被接合部材16aと第2の被接合部材16b
とを重ねて配置するテーブル36が設けてある。また、
テーブル36の上方には、押え板38が配設してあっ
て、押え板38によてって被接合部材を押圧することに
より、両被接合部材16a、16bをより密着(密接)
させることができるようになっている。そして、第1の
被接合部材16aと第2の被接合部材16bとは、相互
に密着している接合面の少なくとも一方がフッ化処理部
12によてフッ化してある。
押え板38とは、ガラスなどの誘電体によって形成して
あり、テーブル36の下部と押え板38の上部とに電極
40、42が設けてある。これらの電極40、42は、
電界発生手段である直流電源44に接続してあって、必
要に応じてテーブル36、押え板38を介して被接合部
材16a、16bに電界を作用させることができるよう
にしてある。なお、被接合部材16a、16bのいずれ
か一方または両方がガラスやセラミックなどの絶縁体で
ある場合、テーブル36、押え板38それ自体を電極と
してもよい。
手段であるシリンダ46が配設してあって、このシリン
ダ46を作動させることにより、接合面の接触圧力を高
めることができるようにしてある。また、チャンバ34
の下部には、加熱手段としてのヒータ48が設けてあっ
て、被接合部材の接合部を各被接合部材16a、16b
の溶融温度以下の所定温度に加熱制御できるようにして
ある。さらに、チャンバ34は、配管50を介してアル
ゴン(Ar)ガス供給部(不活性ガス供給手段)52が
接続してあり、チャンバ34内をアルゴンガス雰囲気に
することができるようにしてある。
は、次のとおりである。
って制御されており、搬送機28に配置された被接合部
材16は、搬送機18によってフッ化処理部12の反応
室18に搬送される。反応室18には、HFガス供給部
24からのHFガスと、蒸気発生部26からの水蒸気と
の混合ガスが供給されており、この混合ガスが被接合部
材16に接触して被接合部材16の表面をフッ化する。
8にり反応室18から搬出され、移載ロボット32によ
って接合処理部14のチャンバ34内に搬入されてテー
ブル36の上に配置される。そして、テーブル36の上
に第1の被接合部材16aと第2の被接合部材16bと
が重ねて配置される。重ねて配置された被接合部材16
a、16bは、相互に接触している接合面の少なくとも
一方がフッ化処理されていてフッ素を含んでいる。
52からArガスが供給され、ほぼ1気圧のArガス雰
囲気にされる。また、シリンダ46が作動して押え板3
8を下降させて被接合部材16a、16bを加圧し、被
接合部材16a、16bがヒータ48によって融点以下
の所定の温度(例えば、150℃)に加熱される。被接
合部材16a、16bが所定の温度になると、加熱、加
圧状態を一定時間保持して第1の被接合部材16aと第
2の被接合部材16bとを接合する。
られる。被接合部材のフッ素と結合している表面部の原
子は、他の被接合部材と接触することによりフッ素との
結合が切れ、他の被接合部材の原子と結合することによ
り接合が行なわれる。そして、結合が切れたフッ素は、
フッ素を取り込みやすい被結合部材の内部に拡散して行
くものと思われる。
て、すなわち被接合部材がフッ素の移動しにくい物質で
ある場合、電極40、42間に電圧を印加して被接合部
材16a、16bに電界を作用させ、イオンとなってい
るフッ素を電界によって強制的に移動させることにより
接合させたり、接合強度の向上を図ってもよい。
被接合部材をフッ化して表面にフッ素を添加し、このフ
ッ素を含んだ面において2つの被接合部材を接触させて
接合することにより、従来必要としていた半田やインジ
ウムなどの接合材を用いることなく接合することができ
る。しかも、溶融せずに固体状態のまま接合するため、
接合時の位置合せ、形状制御が容易で、形状を安定させ
ることができるとともに、接合後の見た目の仕上りを良
好にでき、フラックスを使用しないためにスラッジの問
題も生じない。また、被接合部材16のフッ化処理をい
わゆる乾式によって行っているため、装置を簡素にでき
るとともに、取り扱いが容易であり、フッ化処理を短時
間で精度よく行うことができる。
接合部材16aと第2の被接合部材16bとを加圧して
両者の接触圧を高めているため、より接触面積が増大し
て密着性が良好となって接合強度を上げることができ
る。また、被接合部材16a、16bを加熱しているた
め、接合の際の反応が速やかに行なわれ、接合強度が増
すとともに接合時間を短縮することができる。さらに、
チャンバ34内をArガス雰囲気にして接合しているた
め、接合の障害となる酸素が存在しないために容易、確
実に接合することができる。
加熱して接合する場合について説明したが、両被接合部
材を重ねた状態にし、適度の温度、例えば150℃に加
熱してそのまま放置しておいても接合することができ
る。また、前記実施の形態においては、大気圧において
接合する場合について説明したが、真空中で接合しても
よい。さらに、前記実施の形態においては、反応性フッ
素系ガスがHFガスである場合について説明したが、反
応性フッ素系ガスはF2やCOF2などであってもよい。
そして、前記実施形態においては、HFと水(水蒸気)
とを反応させてフッ化する場合について説明したが、水
蒸気の代わりにメチルアルコールやエチルアルコールな
どのアルコール蒸気を用いてもよい。
性ガスとしてArガスを用いた場合について説明した
が、不活性ガスはヘリウムやネオンなどの希ガスまたは
窒素ガスであってもよい。さらに、前記実施の形態にお
いては、ハロゲンがフッ素である場合について説明した
が、ハロゲンは、接合する相手の相性や表面状態によ
り、塩素やヨウ素、臭素などであってもよい。特に、ア
ルミニウムなどは、フッ素より塩素の方が望ましいと思
われる。被接合部材の塩化は、被接合部材をHClガス
に晒すことなどにより容易に行なうことができる。そし
て、被接合部材に最初からフッ素などのハロゲンが含ま
れている場合には、ハロゲン化処理を必要としない。ま
た、前記実施の形態においては、加圧手段がシリンダで
ある場合について説明したが、加圧手段はカム機構やモ
ータなどであってもよい。
バッチ式のフッ化処理方法の一例を示したものである。
図2において、フッ化処理部12は、被接合部材16を
配置するフッ化処理室53を有している。このフッ化処
理室53には、配管20を介してHFガス供給部24が
接続してあり、フッ化処理室53にHFガスを供給でき
るようにしてある。また、配管20には、水蒸気供給手
段を構成している水バブリングユニット54に一端を接
続した蒸気配管56が接続してあり、配管20を流れる
HFガスに水蒸気を添加できるようにしてある。そし
て、水バブリングユニット54には、希釈空気供給部5
8からの希釈空気を水バブリングユニット54に導入す
る空気導入管60が接続してある。
空気供給部58からの希釈空気を空気導入管60によっ
て水バブリングユニット54の水中に導入し、希釈空気
に水蒸気を含ませる。希釈空気に含まれた水蒸気は、蒸
気配管56を介して配管20を流れるHFガスに添加さ
れ、HFガスと空気と水蒸気との混合ガスとなってフッ
化処理室53に供給される。このフッ化処理室53に供
給される混合ガスは、例えばHFガスの濃度が1%であ
り、相対湿度が20%である。フッ化処理室53に供給
されるHFガスは、水蒸気が添加されたことにより、前
記したようにHF2 -を生じ、被接合部材16をフッ化
する。なお、HFガスに代えてF2 、COF2 を用いて
もよい。
て、反応性フッ素系ガスの生成方法の一例を示したもの
である。図3において、反応性フッ素系ガスを生成する
フッ化用ガス生成部62は、原料ガス供給部64と水バ
ブリングユニット66と放電ユニット68とを有してい
る。原料ガス供給部64からのCF4 やSF6 などの安
定なフッ素系ガスは、原料配管70を介して水バブリン
グユニット66に流入する。そして、水バブリングユニ
ット66と放電ユニット68とは、供給配管72によっ
て接続しあり、水バブリングユニット66において水蒸
気を含ませたCF4 を放電ユニット68に供給できるよ
うにしてある。
に一対の放電電極76、78を備えていて、電極76、
78間を大気圧状態のCF4 と水蒸気との混合ガスが通
過するようになっている。そして、放電ユニット68
は、一方の放電電極76に高周波電源80が接続してあ
り、他方の放電電極78が接地してあって、電極76、
78間に高周波電圧を印加することにより、混合ガスを
介した気体放電を発生することができるようにしてあ
る。
ては、原料ガス供給部64からの原料ガスであるCF4
に水バブリングユニット66において水蒸気が添加さ
れ、大気圧状態で放電ユニット68に導入される。放電
ユニット68は、高周波電源80によって放電電極7
6、78間に例えば13.56MHzの高周波電圧が印
加されており、CF4 と水蒸気(H2 O)との混合ガ
スを介して放電し、CF4と水蒸気とを反応させてHF
やF2 、COF2 などの反応性フッ素系ガスを生成す
る。この生成された反応性フッ素系ガスは、反応しなか
ったCF4 とともにフッ化処理室53に送られ、被接
合部材16と接触してこれをフッ化する。
て、フッ化処理部の他の実施形態を示したものである。
この実施形態に係るフッ化処理部82は、放電ユニット
84を有している。放電ユニット84は、高周波電源8
0に接続した高周波電極86と、接地した接地電極88
とを備えていて、接地電極88にフッ化すべき被接合部
材16を配置するようになっている。また、高周波電極
86と接地電極88との間には、少なくともフッ素系ガ
スを含んだ放電ガス90が大気圧状態で供給されるよう
になっている。放電ガス90としては、例えばアルゴン
(Ar)に数%〜十数%のCF4 を添加したものや、
これに酸素を添加したもの、さらには前記した反応性フ
ッ素系ガスなどであってよい。
は、高周波電極86と接地電極88との間に放電ガス9
0を導入するとともに、高周波電源80によって高周波
電極86と接地電極88との間に高周波電圧を印加し、
気体放電92を発生させる。これにより、放電ガス90
は活性化され、フッ素系イオンやフッ素系ラジカル、単
体のフッ素原子などの活性なフッ素が生成される。これ
らの活性なフッ素は、放電領域内の接地電極88の上面
に配置してある被接合部材16に衝突してこれをフッ化
する。
さらに他のフッ化処理方法を示したものである。この実
施形態に係るフッ化処理部94は、放電ユニット96の
高周波電極98が高周波電源80に接続してある。そし
て、高周波電極98には、絶縁体100を介して接地電
極102が取り付けてある。接地電極102は、高周波
電極98の両側または高周波電極98を囲むように設け
てあり、下端が高周波電極98の下端より下方に位置し
ている。
まれて照射口104を形成している。また、接地電極1
02の上部には、導入口106が設けてあって、接地電
極102の内部に放電ガス90を導入できるようにして
ある。そして、接地電極102下端部と高周波電極98
の下端部との間が気体放電を生ずる放電領域108とな
っていて、放電領域108において生成された活性なフ
ッ素110を照射口104から下方に吹き出すことがで
きるようにしてある。また、放射口104の下方には、
被接合部材16を配置するテーブル112が配設してあ
る。
は、高周波電源80によって高周波電極98と接地電極
102との間に高周波電圧を印加し、導入口106から
接地電極102の内部に放電ガス90を導入すると、放
電領域108において放電ガス90を介した気体放電が
発生する。そして、放電ガス90に含まれているフッ素
系ガスは、気体放電により活性なフッ素となり、照射口
104から下方の被接合部材16に照射され、被接合部
材16をフッ化する。
16を放電領域108の内部に配置していないため、高
エネルギーの電子やイオンが衝突するのを避けることが
でき、放電によるダメージを防ぐことができる。なお、
被接合部材16を放電ユニット96に隣接して設けたフ
ッ化処理室に配置し、放電領域108において生成され
た活性なフッ素110をキャリアガスなどによってフッ
化処理室に導いてフッ化処理をしてもよい。
の実施の形態に係るフッ化処理部112は、フッ素系の
ガスを紫外線によって分解してフッ化を行うもので、被
接合部材16を配置するフッ化処理室114を有してお
り、フッ化処理室114の上部に紫外線照射手段である
紫外線ランプ116が設けてある。この紫外線ランプ1
16は、フッ化処理室112に導入されたHF、F2 、
COF2 、CF4 などのフッ素系ガスに紫外線118を
照射し、フッ素系ガスを活性なフッ素に分解して被接合
部材16をフッ化する。この実施の形態においては、紫
外線ランプ116によってフッ素系ガスを分解するよう
にしているため、装置を簡素に形成することができ、取
り扱いも容易となる。しかも、被接合部材16に紫外線
が照射されるため、反応を促進するための加熱効果があ
る。
この第7実施形態は、真空放電により活性なフッ素を生
成してフッ化処理をする例を示したものである。図7に
おいて、フッ化処理部120は、真空チャンバ122の
内部に被接合部材16を配置するテーブル124が設け
てある。そして、真空チャンバ122の内部には、テー
ブル124の上方に電源126に接続した放電電極12
8が配設してあり、接地したテーブル124と放電電極
128との間に気体放電を発生させ、真空プラズマ12
9を生成できるようになっている。また、真空チャンバ
122には、真空ポンプ130が接続してあって、内部
を所定の圧力、例えば10Pa〜0.1Paに減圧でき
るようになっている。さらに、真空チャンバ122に
は、原料ガス供給部132が接続してあって、少なくと
もCF4 などのフッ素系ガスを含んだ放電ガスを真空チ
ャンバ122内に導入できるようになっている。
130によって真空チャンバ122の内部を吸引し、1
0Pa〜0.1Pa程度に減圧、維持する。そして、原
料ガス供給部132からフッ素系ガスを含む放電ガスを
導入して真空プラズマ129を発生させる。真空プラズ
マ129により生じた活性なフッ素は、テーブル124
上の被接合部材16に衝突し、これをフッ化する。
ラズマ129の領域)の外部に配置し、真空プラズマ1
29によって生成した活性なフッ素を被接合部材16が
配置された場所に導いてフッ化処理を行ってもよい。こ
のようにすると、高エネルギー粒子が被接合部材16に
衝突するのを避けることができ、プラズマによる被接合
部材のダメージを防止することができる。
る。この実施形態に係るフッ化処理部132は、処理液
槽134の内部に、例えばHF水などのフッ素を含む処
理液136が貯溜してあって、反応性に富んだフッ素系
の物質からなる蒸気138を発生させることができるよ
うにしてある。また、処理液槽134の上部には、搬送
装置140が配設してある。そして、被接合部材16
は、搬送装置140に吊り下げられた状態で、または図
8に示したように、接合面を下にした状態で搬送装置に
装着され、矢印142のように搬送装置140によって
搬送されて蒸気138内を通過してフッ化される。な
お、処理槽134の上部には、被接合部材16を通過さ
せる切り欠きが設けてある。この実施形態においては、
反応性の蒸気138を発生させて被接合部材16に接触
させるだけであるため、装置の簡素化が図れる。
スパッタリングによりフッ化物層を形成する実施形態の
説明図である。図9において、スパッタリング部である
スパッタ装置144は、いわゆる高周波スパッタ装置で
あって、真空チャンバ146に真空ポンプ130が接続
してあって、真空チャンバ146内を高真空にできるよ
うにしてある。そして、真空チャンバ146の内部に
は、錫などの金属ターゲット148を配置するターゲッ
ト電極150が設けてある。このターゲット電極150
は、コンデンサ152を介して高周波電源154に接続
してある。また、ターゲット電極150の上方には、接
地した被接合部材16を配置できるようにしてある。さ
らに、真空チャンバ146には、ターゲット148に衝
突させるイオンを生成するとともに、被接合部材16の
表面にフッ化物層156を形成するためのArにわずか
のCF4 を添加した混合ガスを導入できるようにしてあ
る。
ては、真空チャンバ146の内部に金属ターゲット14
8と被接合部材16とを配置し、真空チャンバ146内
を高真空にする。そして、真空チャンバ146の内部に
ArとCF4 との混合ガスを導入してターゲット電極1
50に高周波電圧を印加すると、Arが電離してプラズ
マが発生し、Arイオンが金属ターゲット148に衝突
して金属原子をはじきだす。この原子は、上方の被接合
部材16の面に付着する。この際、CF4 は、Arの電
離などにより生じた電子の衝突により分解され、CF4
から分離したフッ素が被接合部材16に付着した金属中
に取り込まれ、フッ化物層156を形成する。
れた被接合部材16は、表面をフッ化処理された前記の
被接合部材16と同様な方法によって、フッ化処理され
た他の接合部材16やフッ化物層156を有する他の接
合部材16、または何の処理もされていない被接合部材
と接合することができる。
ットが錫などの金属ターゲット148である場合につい
て説明したが、フッ化錫などのフッ化物をターゲットと
してもよい。この場合は、Arにフッ素系のガスを添加
する必要がない。また、ターゲットとして錫−亜鉛合
金、錫−銀合金などの合金を用いてもよい。そして、前
記実施の形態においては、高周波スパッタリングによっ
てフッ化物層156を形成する場合について説明した
が、高速低温スパッタリングなどの他のスパッタリング
法によってフッ化物層を形成してもよい。
る接合材の断面を模式的に示したものである。この接合
材160は、基体162が任意の形状に形成された板状
または箔状の錫からなっていて、表面全体にフッ化層1
64が形成されている。このフッ化層164は、前記し
たフッ化処理によって形成される。
体の接合は、図10(2)に示したように、一対の被接
合部材16c、16dの間に接合部材160をサンドイ
ッチ状に配置する。これらの被接合部材16c、16d
は、金属、セラミックまたは半導体などから任意に選択
することができる。そして、前記と同様にして重ねた被
接合部材16c、16dを加圧したり、被接合部材及び
接合材160の融点以下に加熱することにより、各被接
合部材16c、16dを接合材160を介して接合して
一体化する。従って、接合材160を溶融せずに、また
フラックスを使用せずに接合することができるところか
ら、被接合部材16c、16dの位置合わせ、形状制御
を正確に行うことができ、スラッジの除去作業などを省
略することができる。また、鉛を含んでいないところか
ら、環境問題を生ずるようなことがない。
合部材16c、16dをシリンダ46によって加圧して
接合する場合、被接合部材16c、16dを重ねて配置
するベース166に振動発生手段である超音波振動子1
68を設け、被接合部材16c、16dに超音波振動を
与えるようにしてもよい。超音波振動を与えながら接合
すると、接合部の温度が上昇して接合時間の短縮が図れ
るばかりでなく、被接合部材16c、16dに形成され
ている酸化膜が振動による摩擦によって剥離され、容
易、確実に接合できるとともに、接合強度を向上するこ
とができる。そして、この超音波振動を与えつつ接合す
る方法は、前記した被接合部材をフッ化処理した場合に
も適用することができる。
62が錫である場合について説明したが、基体162は
半田や錫−亜鉛合金、錫−銀合金などの錫系合金であっ
てもよい。そして、基体として錫−亜鉛合金、錫−銀合
金などの鉛を含まない合金を使用することにより、いわ
ゆる鉛フリーの接合材を提供することができる。
4半田(錫60%、鉛40%)と幅5mm、長さ20m
m、厚さ0.2mmの銅板を用い、図2に示したフッ化
処理部12を用いて半田の表面をフッ化処理した。半田
のフッ化処理は、半田を室温のフッ化処理室53に配置
したのち、処理室53の内部をHFの濃度が1%、相対
湿度20%の雰囲気にし、半田をこの雰囲気に1分間晒
した。その後、フッ化処理した半田を1時間ほど空気中
に保管したのち、フッ化処理した半田と未処理の銅板と
を重ね、加熱と加圧とが接合強度に及ぼす影響を測定し
た。図11は、その結果を示したものである。
kgf)であり、右下がりの軸は接合圧力(単位:kg
f/mm2 )を示し、右上がりの軸は接合温度(接合部
温度)、すなわち被接合部材を加熱した温度(単位:
℃)を示している。いずれの場合も接合時間は5分間で
ある。剪断強度は、接合した被接合部材の接合面に沿っ
て被接合部材に力を作用させ、両者が分離される力を測
定している。
きくするほど、また接合温度を高くするほど接合力が大
きくなり、接合部の剪断強度が増大する。なお、図11
に示した接合圧力0.05kgf/mm2 は、半田と銅
板とを単に重ねて放置した状態であって、接合圧力が自
重によるものであることを示している。
処理した6−4半田と、なにも処理をしていない上記と
同様の銅板とを重ねて大気中に配置し、接合温度と接合
時間とに対する接合強度の関係を調べた。図12は、そ
の結果を示したものである。図12の横軸は接合時間
(単位:min)を示し、縦軸は接合部の剪断強度(単
位:kgf)を示している。そして、図12中に示した
温度と圧力は、接合温度と接合圧力を示している。
合時間が長いほど接合強度(剪断強度)は向上する。な
お、フッ化処理した半田と処理していない銅板とを重
ね、25℃の大気中において2.00kgf/mm2 の
接合圧力を加えて90分間保持して接合処理をしたが、
接合強度、すなわち剪断強度は0であって、接合するこ
とができなかった。
度に与える影響を調べたもので、第1実施例と同様のフ
ッ化処理した半田と処理をしていない銅板とを用い、両
者を150℃に加熱して保持し、重ね合わせて空気中と
不活性ガスである窒素雰囲気中とにおける接合処理をし
たものである。いずれも接合時間は5分間である。
m2 の場合、空気中での接合は接合強度を示す剪断強度
が1kgf程度であるが、窒素雰囲気中で接合すると剪
断強度が2kgf程度と、空気中における接合より接合
強度が倍になる。ただし、接合圧力を1kgf/mm2
にした場合、空気中における接合の方が窒素雰囲気中に
おける接合よりもやや大きな剪断強度を示した。
m、長さ20mm、厚さ0.2mmの銅板に8−2半田
(錫80%、鉛20%)をメッキしたものと、幅26m
m、長さ76mm、厚さ1.2mmのソーダガラスを用
い、これらをHFガス濃度1%、湿度20%の雰囲気に
1分間さらしてフッ化処理した。次に、図1に示した接
合処理部14と同様の装置のソーダガラスからなるテー
ブル36と、ソーダガラスからなる押え板38の間に被
接合部材(この実施例においては、基板という場合があ
る)である銅板とソーダガラスとを配置し、基板に30
kgf/cm2以下の圧力(必ずしもこの圧力に限らな
い)をかけるとともに、チャンバ34内を大気圧のAr
ガスで満たした。その後、ヒータ48に通電して室温の
25℃から徐々に昇温し、15分間で基板を150℃に
加熱した。そして、この加熱、加圧状態をさらに45分
間維持し、60分間で接合処理を終了した。
接合され、強制的に剥がすと、ガラス面に半田の跡が残
った。なお、基板を150℃に昇温後、加熱、加圧状態
を5分間維持した場合にも、充分な接合強度を得ること
ができた。また、銅板またはソーダガラスのみをフッ化
処理して同様の条件で接合した場合にも、両者を強固に
接合することができた。この場合、フッ素が錫に取り込
まれやすいところから、ソーダガラスの方をフッ化処理
することが望ましいと考えられる。
田とソーダガラス、半田と半田とを上記のように接合処
理をしたところ、良好に接合することができた。特に、
半田は、軟質であるため、加圧することにより密着性が
高まり、強固に接合することができる。そして、錫が6
0%の半田を用いた場合にも同様に接合することができ
た。また、半導体集積回路用のシリコン基板と半田との
両方をフッ化処理し、上記と同様にして接合したとこ
ろ、良好に接合することができた。さらに、シリコン基
板と半田とのいずれか一方をフッ化処理した場合も同様
であった。
に接合した場合、半田を溶かして接合したときよりも接
合抵抗が低下した。これは、実施例の接合は、半田によ
る接合に比較して金属間化合物の層が薄いことによる。
部に設けられた接合材(半田またはインジウム)をフッ
化処理したのち、下蓋に電子部品を配置して真空容器内
に搬入し、下蓋に上蓋を被せて両者を加熱、加圧したと
ころ、上蓋と下蓋とが接合され、電子部品を真空パッケ
ージすることができた。なお、真空パッケージを必要と
しない場合には、大気中や不活性ガス中で行なってもよ
い。また、加熱または加圧だけで上下の蓋を接合しても
よい。
外の各種の被接合部材(物質)をフッ化処理し、フッ化
処理していない各種の物質と接合できるかを調べた。図
14は、その結果を示したものである。フッ化処理の条
件は第1実施例と同様であり、接合条件は被接合部材を
150℃に加熱し、2kgf/mm2 の接合圧力を与え
て5分間保持した。図14中の「○」印は接合されたこ
とを示し、「―」は接合試験を行っていないことを示し
ている。
び半導体から任意に選択した一対の被接合部材のいずれ
か一方をフッ化処理することにより、接合材を用いず
に、また両者を溶融することなく相互に接合できること
がわかる。
ば、表面にハロゲンを含んだ被接合部材を接触させるこ
とにより、接合材を用いることなく同種または異種の2
つの接合部材を溶融させずに接合させることができ、接
合時の位置合せや形状制御が容易で、形状を安定させる
ことができ、フラックスを使用しないためにスラッジが
発生することもない。
んだフッ素を表面に有しているため、溶融することな
く、またフラックスを用いずに被接合部材を接合するこ
とができる。
図である。
チ式のフッ化処理方法の一例を示す図でる。
性フッ素系ガスの生成方法の一例を示す図である。
化処理部の他の実施形態を示す図である。
に他のフッ化処理方法を示す図である。
フッ化処理部を示す図である。
放電によるフッ化処理の説明図である。
によるフッ化処理の説明図である。
施形態の説明図である。
断面図の模式図であり、(2)はその接合材による接合
方法の説明図である。
係を示す図である。
係を示す図である。
中における接合の剪断強度とを比較する図である。
各種部材との接合の可否を示す図である。
ト) 58 希釈空気供給部 62 フッ化用ガス生成部 64 原料ガス供給部 66 水バブリングユニット 68 放電ユニット 82 フッ化処理部 84 放電ユニット 90 放電ガス 92 気体放電 94 フッ化処理部 96 放電ユニット 108 放電領域 110 活性なフッ素 112 フッ化処理部 114 フッ化処理室 116 紫外線照射手段(紫外線ランプ) 120 フッ化処理部 122 真空チャンバ 129 真空プラズマ領域 132 フッ化処理部 134 処理液槽 136 処理液 138 蒸気 140 搬送手段(搬送装置) 144 スパッタリング部(スパッタ装置) 148 金属ターゲット 156 フッ化物層 160 接合材 162 基体 164 フッ化層 166 振動発生手段(超音波振動子)
Claims (123)
- 【請求項1】 少なくとも一方がハロゲンを含む表面を
有する第1の被接合部材と、この第1の被接合部材と同
種あるいは異種の第2の被接合部材とを前記ハロゲンを
含む表面において接触させ、両者を相互に接合すること
を特徴とする固体接合方法。 - 【請求項2】 前記ハロゲンを含む表面は、前記被接合
部材をハロゲン化して形成することを特徴とする請求項
1に記載の固体接合方法。 - 【請求項3】 前記ハロゲン化はフッ化であることを特
徴とする請求項2に記載の固体接合方法。 - 【請求項4】 前記フッ化は、反応性フッ素系ガスと水
蒸気との混合ガスを前記被接合部材に接触させて行うこ
とを特徴とする請求項3に記載の固体接合方法。 - 【請求項5】 前記反応性フッ素系ガスは、大気圧また
はその近傍の圧力下にあるフッ素系ガスと水蒸気との混
合ガスを介した放電により生成することを特徴とする請
求項4に記載の固体接合方法。 - 【請求項6】 前記フッ化は、少なくともフッ素系ガス
を含むガスを介した放電により活性なフッ素を生成し、
この活性なフッ素を前記被接合部材に接触させて行うこ
とを特徴とする請求項3に記載の固体接合方法。 - 【請求項7】 前記放電は、真空中で行うことを特徴と
する請求項6に記載の固体接合方法。 - 【請求項8】 前記放電は、大気圧またはその近傍の圧
力下で行うことを特徴とする請求項6に記載の固体接合
方法。 - 【請求項9】 前記フッ化は、放電領域中に前記被接合
部材を配置して行うことを特徴とする請求項6ないし8
のいずれかに記載の固体接合方法。 - 【請求項10】 前記フッ化は、前記被接合部材を放電
領域外に配置し、放電領域で生成された前記活性なフッ
素を前記被接合部材に導いて行うことを特徴とする請求
項6ないし8のいずれかに記載の固体接合方法。 - 【請求項11】 前記フッ化は、フッ素系ガスに紫外線
を照射して活性なフッ素を生成し、この活性なフッ素を
前記被接合部材に接触させて行うことを特徴とする請求
項3に記載の固体接合方法。 - 【請求項12】 前記フッ化は、前記被接合部材を反応
性のフッ素系物質からなる蒸気に接触させて行うことを
特徴とする請求項3に記載の固体接合方法。 - 【請求項13】 前記接合は、前記第1の被接合部材と
第2の被接合部材とを重ねるとともに、接合部を両者の
融点よりも低い温度に加熱して行うことを特徴とする請
求項1ないし12のいずれかに記載の固体接合方法。 - 【請求項14】 前記接合部の加熱は、大気中で行うこ
とを特徴とする請求項13に記載の固体接合方法。 - 【請求項15】 前記接合部の加熱は、不活性ガス中で
行うことを特徴とする請求項13に記載の固体接合方
法。 - 【請求項16】 前記接合は、加圧して前記各被接合部
材間の接触圧を大きくして行うことを特徴とする請求項
1ないし12のいずれかに記載の固体接合方法。 - 【請求項17】 前記加圧は、大気圧中で行うことを特
徴とする請求項16に記載の固体接合方法。 - 【請求項18】 前記加圧は、不活性ガス中で行うこと
を特徴とする請求項16に記載の固体接合方法。 - 【請求項19】 前記接合は、接合部を前記各被接合部
材のそれぞれの融点より低い温度に加熱して行うことを
特徴とする請求項16ないし18のいずれかに記載の固
体接合方法。 - 【請求項20】 前記接合は、接触させた前記各接合部
材に超音波振動を与えつつ行うことを特徴とする請求項
16ないし19のいずれかに記載の固体接合方法。 - 【請求項21】 前記接合は、接触させた前記第1の被
接合部材と前記第2の被接合部材とに電界を作用させて
行なうことを特徴とする請求項1ないし20のいずれか
に記載の固体接合方法。 - 【請求項22】 前記第1の被接合部材は金属、半導体
またはセラミックのいずれかであり、前記第2の被接合
部材は金属、半導体またはセラミックのいずれかである
ことを特徴とする請求項1ないし21のいずれかに記載
の固体接合方法。 - 【請求項23】 前記被接合部材は、少なくとも一方が
錫または錫系合金であることを特徴とする請求項22に
記載の固体接合方法。 - 【請求項24】 接合する第1の被接合部材と第2の被
接合部材との少なくとも一方の表面にフッ化物層を堆積
し、このフッ化物層を介して前記第1、第2の被接合部
材を相互に接合することを特徴とする固体接合方法。 - 【請求項25】 前記フッ化物層は、スパッタリングに
より形成することを特徴とする請求項24に記載の固体
接合方法。 - 【請求項26】 前記フッ化物層は、フッ化錫または錫
系合金フッ化物であることを特徴とする請求項24また
は25に記載の固体接合方法。 - 【請求項27】 前記接合は、両者を重ねるとともに、
接合部を前記フッ化物層の融点よりも低い温度に加熱し
て行うことを特徴とする請求項24ないし26のいずれ
かに記載の固体接合方法。 - 【請求項28】 前記接合部の加熱は、大気中で行うこ
とを特徴とする請求項27に記載の固体接合方法。 - 【請求項29】 前記接合部の加熱は、不活性ガス中で
行うことを特徴とする請求項27に記載の固体接合方
法。 - 【請求項30】 前記接合は、加圧して接合部の接触圧
を大きくして行うことを特徴とする請求項24に記載の
固体接合方法。 - 【請求項31】 前記加圧は、大気圧中で行うことを特
徴とする請求項30に記載の固体接合方法。 - 【請求項32】 前記加圧は、不活性ガス中で行うこと
を特徴とする請求項30に記載の固体接合方法。 - 【請求項33】 前記接合は、接合部を前記フッ化物層
の融点より低い温度に加熱して行うことを特徴とする請
求項30ないし32のいずれかに記載の固体接合方法。 - 【請求項34】 前記接合は、接触させた前記各被接合
部材に超音波振動を与えつつ行うことを特徴とする請求
項30ないし33のいずれかに記載の固体接合方法。 - 【請求項35】 前記接合は、接触させた前記第1の被
接合部材と前記第2の被接合部材とに電界を作用させて
行なうことを特徴とする請求項24ないし34のいずれ
かに記載の固体接合方法。 - 【請求項36】 前記第1の被接合部材は金属、半導体
またはセラミックのいずれかであり、前記第2の被接合
部材は金属、半導体またはセラミックのいずれかである
ことを特徴とする請求項24ないし35のいずれかに記
載の固体接合方法。 - 【請求項37】 被接合部材の表面にハロゲンを添加す
るハロゲン化処理部と、前記被接合部材の前記ハロゲン
化処理部によりハロゲンの添加された面に第2の被接合
部材を接触させて接合する接合処理部とを有することを
特徴とする固体接合装置。 - 【請求項38】 前記ハロゲン化処理部は、前記被接合
部材をフッ化するフッ化処理部であることを特徴とする
請求項37に記載の固体接合装置。 - 【請求項39】 前記フッ化処理部は、フッ化処理され
る前記被接合部材を配置するフッ化処理室と、このフッ
化処理室に反応性フッ素系ガスを供給するフッ化ガス供
給手段と、前記フッ化処理室に水蒸気を供給する水蒸気
供給手段とを有することを特徴とする請求項38に記載
の固体接合装置。 - 【請求項40】 前記フッ化ガス供給手段は、大気圧ま
たはその近傍の圧力下にあるフッ素系ガスと水蒸気との
混合ガスを介した放電により前記反応性フッ素系ガスを
生成する放電ユニットを有することを特徴とする請求項
39に記載の固体接合装置。 - 【請求項41】 前記フッ化処理部は、フッ化される前
記被接合部材が配置されるとともに、大気圧またはその
近傍の圧力下にある少なくともフッ素系ガスを含むガス
を介した放電により活性なフッ素を生成して前記被接合
部材に照射する放電ユニットを有していることを特徴と
する請求項38に記載の固体接合装置。 - 【請求項42】 前記フッ化処理部は、フッ化される前
記被接合部材が配置されるフッ化処理室と、大気圧また
はその近傍の圧力下にある少なくともフッ素系ガスを含
むガスを介した放電により活性なフッ素を生成して前記
フッ化処理室に供給する放電ユニットとを有することを
特徴とする請求項38に記載の固体接合装置。 - 【請求項43】 前記フッ化処理部は、フッ化処理され
る前記被接合部材が配置されるとともに、少なくともフ
ッ素系ガスを含むガスを介した放電により活性なフッ素
を生成して前記被接合部材に照射する放電チャンバと、
この放電チャンバ内を吸引して真空にする真空ポンプと
を有することを特徴とする請求項38に記載の固体接合
装置。 - 【請求項44】 前記フッ化処理部は、フッ素系ガスに
紫外線を照射して活性なフッ素を生成する紫外線照射手
段を有していることを特徴とする請求項38に記載の固
体接合装置。 - 【請求項45】 前記フッ化処理部は、反応性のフッ化
物蒸気を生成するフッ化蒸気供給手段と、フッ化される
前記被接合部材を、前記フッ化蒸気供給手段が生成した
フッ化物蒸気内を通過させる搬送手段とを有することを
特徴と請求項38に記載の固体接合装置。 - 【請求項46】 前記接合処理部は、接触させた前記第
1の被接合部材と前記第2の被接合部材との接合部を、
両者の溶融温度以下に加熱可能な加熱手段を有している
ことを特徴とする請求項37ないし45のいずれかに記
載の固体接合装置。 - 【請求項47】 被接合部材の表面にフッ化物層を堆積
するフッ化物層形成部と、前記被接合部材の前記フッ化
物層形成部により形成された前記フッ化物層に第2の被
接合部材を接触させて接合する接合処理部とを有するこ
とを特徴とする固体接合装置。 - 【請求項48】 前記フッ化物層形成部は、スパッタリ
ング部を有していることを特徴とする請求項46に記載
の固体接合装置。 - 【請求項49】 前記接合処理部は、接触させた前記第
1の被接合部材と前記第2の被接合部材との接合部を、
前記フッ化物層の溶融温度以下に加熱可能な加熱手段を
有していることを特徴とする請求項47または48に記
載の固体接合装置。 - 【請求項50】 前記接合処理部は、接触させた前記第
1の被接合部材と前記第2の被接合部材との間の接触圧
力を大きくする加圧手段を有していることを特徴とする
請求項37ないし49のいずれかに記載の固体接合装
置。 - 【請求項51】 前記接合処理部は、接触させた前記被
接合部材に超音波振動を与える振動発生手段を有してい
ることを特徴とする請求項50に記載の固体接合装置。 - 【請求項52】 前記接合処理部は、接触させた前記各
被接合部材に電界を作用させる電界発生手段を有してい
ることを特徴とする請求項37ないし51のいずれかに
記載の固体接合装置。 - 【請求項53】 前記接合処理部は、前記各被接合部材
が配置されるとともに、不活性ガスが供給されるする接
合チャンバを有していることを特徴とする請求項37な
いし52のいずれかに記載の固体接合装置。 - 【請求項54】 相互に接合する導体の少なくとも一方
の表面をハロゲン化処理したのち、ハロゲン化処理した
面において導体を相互に接触させて接合することを特徴
とする導体接合方法。 - 【請求項55】 前記ハロゲン化処理は、フッ化処理で
あることを特徴とする請求項54に記載の導体接合方
法。 - 【請求項56】 前記フッ化は、反応性フッ素系ガスと
水蒸気との混合ガスを前記導体に接触させて行うことを
特徴とする請求項55に記載の導体接合方法。 - 【請求項57】 前記反応性フッ素系ガスは、大気圧ま
たはその近傍の圧力下にあるフッ素系ガスと水蒸気との
混合ガスを介した放電により生成することを特徴とする
請求項56に記載の導体接合方法。 - 【請求項58】 前記フッ化は、少なくともフッ素系ガ
スを含むガスを介した放電により活性なフッ素を生成
し、この活性なフッ素を前記導体に接触させて行うこと
を特徴とする請求項55に記載の導体接合方法。 - 【請求項59】 前記放電は、真空中で行うことを特徴
とする請求項58に記載の導体接合方法。 - 【請求項60】 前記放電は、大気圧またはその近傍の
圧力下で行うことを特徴とする請求項58に記載の導体
接合方法。 - 【請求項61】 前記フッ化は、放電領域中に前記導体
を配置して行うことを特徴とする請求項58ないし60
のいずれかに記載の導体接合方法。 - 【請求項62】 前記フッ化は、前記導体を放電領域外
に配置し、放電領域で生成された前記活性なフッ素を前
記導体に導いて行うことを特徴とする請求項58ないし
60のいずれかに記載の導体接合方法。 - 【請求項63】 前記フッ化は、フッ素系ガスに紫外線
を照射して活性なフッ素を生成し、活性なフッ素を前記
導体に接触させて行うことを特徴とする請求項55に記
載の固体接合方法。 - 【請求項64】 前記フッ化は、前記導体を反応性のフ
ッ素系物質からなる蒸気に接触させて行うことを特徴と
する請求項55に記載の導体接合方法。 - 【請求項65】 前記接合は、接合する前記各導体を重
ねるとともに、接合部を両者の融点よりも低い温度に加
熱して行うことを特徴とする請求項54ないし64のい
ずれかに記載の導体接合方法。 - 【請求項66】 前記接合部の加熱は、大気中で行うこ
とを特徴とする請求項65に記載の導体接合方法。 - 【請求項67】 前記接合部の加熱は、不活性ガス中で
行うことを特徴とする請求項65に記載の導体接合方
法。 - 【請求項68】 前記接合は、加圧して前記各導体間の
接触圧を大きくして行うことを特徴とする請求項54な
いし64のいずれかに記載の導体接合方法。 - 【請求項69】 前記加圧は、大気圧中で行うことを特
徴とする請求項68に記載の導体接合方法。 - 【請求項70】 前記加圧は、不活性ガス中で行うこと
を特徴とする請求項68に記載の導体接合方法。 - 【請求項71】 前記接合は、接合部を前記各導体のそ
れぞれの融点より低い温度に加熱して行うことを特徴と
する請求項68ないし70のいずれかに記載の導体接合
方法。 - 【請求項72】 前記接合は、接触させた前記導体に超
音波振動を与えつつ行うことを特徴とする請求項68な
いし71のいずれかに記載の導体接合方法。 - 【請求項73】 前記接合は、接触させた前記各導体に
電界を作用させて行なうことを特徴とする請求項54な
いし72のいずれかに記載の導体接合方法。 - 【請求項74】 接合する導体の少なくとも一方の表面
にフッ化物層を堆積し、このフッ化物層を介して導体を
相互に接合することを特徴とする導体接合方法。 - 【請求項75】 前記フッ化物層は、スパッタリングに
より形成することを特徴とする請求項74に記載の導体
接合方法。 - 【請求項76】 前記フッ化物層は、フッ化錫または錫
系合金フッ化物であることを特徴とする請求項74また
は75に記載の導体接合方法。 - 【請求項77】 前記接合は、前記各導体を重ねるとと
もに、接合部を前記フッ化物層の融点よりも低い温度に
加熱して行うことを特徴とする請求項74ないし76の
いずれかに記載の導体接合方法。 - 【請求項78】 前記接合部の加熱は、大気中で行うこ
とを特徴とする請求項77に記載の導体接合方法。 - 【請求項79】 前記接合部の加熱は、不活性ガス中で
行うことを特徴とする請求項77に記載の導体接合方
法。 - 【請求項80】 前記接合は、加圧して前記各導体間の
接触圧を大きくして行うことを特徴とする請求項74な
いし76のいずれかに記載の導体接合方法。 - 【請求項81】 前記加圧は、大気圧中で行うことを特
徴とする請求項80に記載の導体接合方法。 - 【請求項82】 前記加圧は、不活性ガス中で行うこと
を特徴とする請求項80に記載の導体接合方法。 - 【請求項83】 前記接合は、接合部を前記フッ化物層
の融点より低い温度に加熱して行うことを特徴とする請
求項80ないし82のいずれかに記載の導体接合方法。 - 【請求項84】 前記接合は、接触させた前記各導体に
超音波振動を与えつつ行うことを特徴とする請求項80
ないし83のいずれかに記載の導体接合方法。 - 【請求項85】 前記接合は、接触させた前記各導体に
電界を作用させて行なうことを特徴とする請求項74な
いし84のいずれかに記載の導体接合方法。 - 【請求項86】 電子部品の真空パッケージ等に用いる
パッケージ方法であって、パッケージを構成する上蓋ま
たは下蓋の少なくとも一方の接合部をハロゲン化処理し
たのち、両者を接触させて接合することを特徴とするパ
ッケージ方法。 - 【請求項87】 前記ハロゲン化はフッ化であることを
特徴とする請求項86に記載のパッケージ方法。 - 【請求項88】 前記フッ化は、反応性フッ素系ガスと
水蒸気との混合ガスを前記接合部に接触させて行うこと
を特徴とする請求項87に記載のパッケージ方法。 - 【請求項89】 前記反応性フッ素系ガスは、大気圧ま
たはその近傍の圧力下にあるフッ素系ガスと水蒸気との
混合ガスを介した放電により生成することを特徴とする
請求項88に記載のパッケージ方法。 - 【請求項90】 前記フッ化は、少なくともフッ素系ガ
スを含むガスを介した放電により活性なフッ素を生成
し、この活性なフッ素を前記接合部に接触させて行うこ
とを特徴とする請求項87に記載のパッケージ方法。 - 【請求項91】 前記放電は、真空中で行うことを特徴
とする請求項90に記載のパッケージ方法。 - 【請求項92】 前記放電は、大気圧またはその近傍の
圧力下で行うことを特徴とする請求項90に記載のパッ
ケージ方法。 - 【請求項93】 前記フッ化は、放電領域中に前記上蓋
または前記下蓋の少なくとも一方を配置して行うことを
特徴とする請求項90ないし92のいずれかに記載のパ
ッケージ方法。 - 【請求項94】 前記フッ化は、前記上蓋または前記下
蓋の少なくとも一方を放電領域外に配置し、放電領域で
生成された前記活性なフッ素を前記接合部に導いて行う
ことを特徴とする請求項90ないし92のいずれかに記
載のパッケージ方法。 - 【請求項95】 前記フッ化は、フッ素系ガスに紫外線
を照射して活性なフッ素を生成し、この活性なフッ素を
前記接合部に接触させて行うことを特徴とする請求項8
7に記載のパッケージ方法。 - 【請求項96】 前記フッ化は、前記接合部を反応性の
フッ素系物質からなる蒸気に接触させて行うことを特徴
とする請求項87に記載のパッケージ方法。 - 【請求項97】 前記接合は、前記上蓋と前記下蓋とを
重ねるとともに、接合部を両者の融点よりも低い温度に
加熱して行うことを特徴とする請求項86ないし96の
いずれかに記載のパッケージ方法。 - 【請求項98】 前記接合は、加圧して前記上蓋と前記
下蓋との間の接触圧を大きくして行うことを特徴とする
請求項86ないし96のいずれかに記載のパッケージ方
法。 - 【請求項99】 前記接合は、接合部を前記上蓋と前記
下蓋とのそれぞれの融点より低い温度に加熱して行うこ
とを特徴とする請求項98に記載のパッケージ方法。 - 【請求項100】 前記接合は、接触させた前記上蓋と
前記下蓋とに超音波振動を与えつつ行うことを特徴とす
る請求項98または99に記載のパッケージ方法。 - 【請求項101】 前記接合は、接触させた前記上蓋と
前記下蓋とに電界を作用させて行なうことを特徴とする
請求項86ないし100のいずれかに記載のパッケージ
方法。 - 【請求項102】 前記接合は、真空中で行うことを特
徴とする請求項86ないし101のいずれかに記載のパ
ッケージ方法。 - 【請求項103】 電子部品の真空パッケージ等に用い
るパッケージ方法であって、パッケージを構成する上蓋
または下蓋の少なくとも一方の接合部にフッ化物層を堆
積し、このフッ化物層を介して前記上蓋と前記下蓋とを
相互に接合すること特徴とするパッケージ方法。 - 【請求項104】 前記フッ化物層は、スパッタリング
により形成することを特徴とする請求項103に記載の
パッケージ方法。 - 【請求項105】 前記フッ化物層は、フッ化錫または
錫系合金フッ化物であることを特徴とする請求項103
または104に記載のパッケージ方法。 - 【請求項106】 前記接合は、両者を重ねるととも
に、接合部を前記フッ化物層の融点よりも低い温度に加
熱して行うことを特徴とする請求項103ないし105
のいずれかに記載のパッケージ方法。 - 【請求項107】 前記接合は、加圧して接合部の接触
圧を大きくして行うことを特徴とする請求項103ない
し105のいずれかに記載のパッケージ方法。 - 【請求項108】 前記接合部を前記フッ化物層の融点
より低い温度に加熱して行うことを特徴とする請求項1
07に記載のパッケージ方法。 - 【請求項109】 前記接合は、接触させた前記上蓋と
前記下蓋とに超音波振動を与えつつ行うことを特徴とす
る請求項107または108に記載のパッケージ方法。 - 【請求項110】 前記接合は、接触させた前記上蓋と
前記下蓋とに電界を作用させて行なうことを特徴とする
請求項103ないし109のいずれかに記載のパッケー
ジ方法。 - 【請求項111】 前記接合は、真空中で行うことを特
徴とする請求項103ないし110のいずれかに記載の
パッケージ方法。 - 【請求項112】 一対の固体間に介装して両者を接合
する接合材であって、接合材の表面がフッ化されている
ことを特徴とする接合材。 - 【請求項113】 前記接合材は、錫または錫系合金で
あることを特徴とする請求項112に記載の接合材。 - 【請求項114】 一対の固体間に介装して両者を結合
する接合材の製造方法であって、反応性フッ素系ガスと
水蒸気との混合ガスを接合材に接触させて接合材をフッ
化することを特徴とする接合材の製造方法。 - 【請求項115】 前記反応性フッ素系ガスは、大気圧
またはその近傍の圧力下にあるフッ素系ガスと水蒸気と
の混合ガスを介した放電により生成することを特徴とす
る請求項114に記載の接合材の製造方法。 - 【請求項116】 一対の固体間に介装して両者を接合
する接合材の製造方法であって、少なくともフッ素系ガ
スを含むガスを介した放電により活性なフッ素を生成
し、この活性なフッ素を接合材に接触させて接合材をフ
ッ化することを特徴とする接合材の製造方法。 - 【請求項117】 前記放電は、真空中で行うことを特
徴とする請求項116に記載の接合材の製造方法。 - 【請求項118】 前記放電は、大気圧またはその近傍
の圧力下で行うことを特徴とする請求項116に記載の
接合材の製造方法。 - 【請求項119】 前記フッ化は、放電領域中に前記接
合材を配置して行うことを特徴とする請求項116ない
し118のいずれかに記載の接合材の製造方法。 - 【請求項120】 前記フッ化は、前記接合材を放電領
域外に配置し、放電領域で生成された前記活性なフッ素
を前記接合材に導いて行うことを特徴とする請求項11
6ないし118のいずれかに記載の接合材の製造方法。 - 【請求項121】 一対の固体間に介装して両者を結合
する接合材の製造方法であって、フッ素系ガスに紫外線
を照射して活性なフッ素を生成し、この活性なフッ素を
前記接合材に接触させて接合材をフッ化することを特徴
とする接合材の製造方法。 - 【請求項122】 一対の固体間に介装して両者を結合
する接合材の製造方法であって、接合材を反応性のフッ
素系物質からなる蒸気に接触させてフッ化することを特
徴とする接合材の製造方法。 - 【請求項123】 前記接合材は、錫または錫系合金で
あることを特徴とする請求項114ないし122のいず
れかに記載の接合材の製造方法。
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---|---|---|---|---|
TW459225B (en) * | 1999-02-01 | 2001-10-11 | Origin Electric | Bonding system and method |
JP3598994B2 (ja) * | 2000-07-10 | 2004-12-08 | セイコーエプソン株式会社 | 電気光学装置の製造方法 |
CA2371641A1 (en) * | 2001-02-14 | 2002-08-14 | Ats Automation Tooling Systems Inc. | Folded fin heat sink assembly |
JP4252231B2 (ja) * | 2001-09-05 | 2009-04-08 | 日本碍子株式会社 | 半導体ウェハー支持部材接合体の製造方法および半導体ウェハー支持部材接合体 |
US6756560B2 (en) * | 2001-11-19 | 2004-06-29 | Geomat Insights, L.L.C. | Plasma enhanced circuit component attach method and device |
US6696661B2 (en) * | 2001-11-19 | 2004-02-24 | Geomat Insights, Llc | Plasma enhanced circuit packaging method and device |
US6805279B2 (en) * | 2002-06-27 | 2004-10-19 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Co., Ltd. | Fluxless bumping process using ions |
JP2004100012A (ja) * | 2002-09-12 | 2004-04-02 | Univ Nagoya | 化合物薄膜、及び化合物薄膜の作製方法 |
CN100430435C (zh) * | 2002-10-25 | 2008-11-05 | 南非核能股份有限公司 | 氧氟化 |
EP1565515A1 (en) * | 2002-10-25 | 2005-08-24 | South African Nuclear Energy Corporation Limited | Oxyfluorination |
US8240539B2 (en) * | 2004-05-28 | 2012-08-14 | Panasonic Corporation | Joining apparatus with UV cleaning |
US7476289B2 (en) * | 2006-06-29 | 2009-01-13 | Applied Materials, Inc. | Vacuum elastomer bonding apparatus and method |
JP5263923B2 (ja) * | 2007-11-29 | 2013-08-14 | 国立大学法人 新潟大学 | 拡散接合方法及びその装置 |
US8858745B2 (en) | 2008-11-12 | 2014-10-14 | Applied Materials, Inc. | Corrosion-resistant bonding agents for bonding ceramic components which are exposed to plasmas |
DE102010009931A1 (de) * | 2010-02-26 | 2011-09-01 | Fachhochschule Jena | Verfahren und Vorrichtung zur Herstellung einer stoffschlüssigen Verbindung unter Einwirkung einer Fliehkraft |
DE102010021126B4 (de) * | 2010-05-21 | 2023-09-07 | Bayerisches Zentrum für Angewandte Energieforschung e.V. | Verfahren und Vorrichtung zum Erzeugen einer gasdichten Ultraschall-Lötverbindung |
US8492242B2 (en) * | 2010-05-25 | 2013-07-23 | Micron Technology, Inc. | Dry flux bonding device and method |
US8443859B2 (en) * | 2010-09-18 | 2013-05-21 | A. Raybond Et Cie | Bonding tool for attaching prepared adhesive to bonding part |
US8378490B2 (en) | 2011-03-15 | 2013-02-19 | Taiwan Semiconductor Manufacturing Company, Ltd. | Semiconductor apparatus including a metal alloy between a first contact and a second contact |
TW201301412A (zh) * | 2011-06-20 | 2013-01-01 | Walsin Lihwa Corp | 晶片結合方法 |
US20130153645A1 (en) * | 2011-11-17 | 2013-06-20 | Princeton Lightwave, Inc. | Process for Hybrid Integration of Focal Plane Arrays |
CN104661742B (zh) * | 2012-09-28 | 2016-06-29 | 独立行政法人科学技术振兴机构 | 功能性设备以及功能性设备的制造方法 |
CN103525317B (zh) * | 2013-10-10 | 2014-10-15 | 青岛科技大学 | 将聚合物薄样品间接固定到超薄切片机样品夹上的方法 |
US9957192B2 (en) | 2016-03-29 | 2018-05-01 | Applied Materials, Inc. | Low temperature fluoride glasses and glazes |
US10096569B2 (en) | 2017-02-27 | 2018-10-09 | Advanced Semiconductor Engineering, Inc. | Semiconductor device and method for manufacturing the same |
US11217550B2 (en) * | 2018-07-24 | 2022-01-04 | Xilinx, Inc. | Chip package assembly with enhanced interconnects and method for fabricating the same |
DE102022125415A1 (de) * | 2022-09-30 | 2024-04-04 | Euromat Gmbh | Verfahren zum Fügen von Werkstücken, sowie Fügeprodukt |
Family Cites Families (9)
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---|---|---|---|---|
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US4921157A (en) | 1989-03-15 | 1990-05-01 | Microelectronics Center Of North Carolina | Fluxless soldering process |
US5427638A (en) * | 1992-06-04 | 1995-06-27 | Alliedsignal Inc. | Low temperature reaction bonding |
US5225257A (en) * | 1992-06-04 | 1993-07-06 | Exxon Chemical Patents Inc | Fluorine treatment of stretch/cling films |
US5317446A (en) * | 1992-09-29 | 1994-05-31 | Eastman Kodak Company | Electrooptic device for scanning using domain reversed regions |
DE69625799T2 (de) * | 1995-02-01 | 2003-10-23 | Schneider (Usa) Inc., Plymouth | Verfahren zur hydrophilisierung von hydrophoben polymeren |
US5609290A (en) | 1995-04-20 | 1997-03-11 | The University Of North Carolina At Charlotte | Fluxless soldering method |
US5615825A (en) | 1995-05-12 | 1997-04-01 | Mcnc | Fluorinated fluxless soldering |
JP3266041B2 (ja) | 1996-05-22 | 2002-03-18 | 株式会社島津製作所 | 部材接合法及びこの方法により製造した光学測定装置 |
-
1998
- 1998-06-09 JP JP16121098A patent/JP4029473B2/ja not_active Expired - Lifetime
- 1998-12-02 US US09/203,464 patent/US6221197B1/en not_active Expired - Lifetime
-
2001
- 2001-03-05 US US09/799,761 patent/US6620282B2/en not_active Expired - Lifetime
- 2001-03-05 US US09/799,931 patent/US6604672B2/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2015198073A (ja) * | 2014-04-03 | 2015-11-09 | トヨタ自動車株式会社 | 大気圧プラズマ処理装置およびその処理方法 |
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---|---|
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