JPH1123451A - 減衰全内反射測定装置 - Google Patents
減衰全内反射測定装置Info
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- JPH1123451A JPH1123451A JP9164360A JP16436097A JPH1123451A JP H1123451 A JPH1123451 A JP H1123451A JP 9164360 A JP9164360 A JP 9164360A JP 16436097 A JP16436097 A JP 16436097A JP H1123451 A JPH1123451 A JP H1123451A
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/55—Specular reflectivity
- G01N21/552—Attenuated total reflection
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- Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】本発明は、固体粒子、ガス状粒子、その他泡に
よって測定が阻害されるのを防止した減衰全内反射測定
装置を提供することを目的とする。 【解決手段】近赤外吸光度測定装置において、減衰全内
反射プローブは２つの高純度石英層で被覆された安価な
低純度中心コアから構成される。狭波長帯の近赤外光を
軸方向に外層内に送り、外層の内外面間で全内反射をお
こさせる。外層を通って来た光を近赤外光検出器で測定
することにより、被測定液中の浮遊粒子や気泡の影響を
受けることなしに外層の外面に接触する液体の吸光度を
測定することができる。
よって測定が阻害されるのを防止した減衰全内反射測定
装置を提供することを目的とする。 【解決手段】近赤外吸光度測定装置において、減衰全内
反射プローブは２つの高純度石英層で被覆された安価な
低純度中心コアから構成される。狭波長帯の近赤外光を
軸方向に外層内に送り、外層の内外面間で全内反射をお
こさせる。外層を通って来た光を近赤外光検出器で測定
することにより、被測定液中の浮遊粒子や気泡の影響を
受けることなしに外層の外面に接触する液体の吸光度を
測定することができる。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、減衰全内反射測定
装置に関し、より詳しくは、固体粒子、ガス状粒子、そ
の他泡等によって測定が阻害されないようになっている
減衰全反射プローブを使用して、液体の吸光度を近赤外
光によって測定する測定装置に関する。
装置に関し、より詳しくは、固体粒子、ガス状粒子、そ
の他泡等によって測定が阻害されないようになっている
減衰全反射プローブを使用して、液体の吸光度を近赤外
光によって測定する測定装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】本発明の従来技術は特にはない。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】一般的に、液体の吸光
度を測定する場合、固体粒子、ガス状粒子、その他泡に
よって測定が阻害されるというといった問題点があっ
た。そこで、本発明は、減衰全反射（ＡＴＲ：Attenuat
ed Total Reflection）による測定の実行によって、測
定が粒子によって阻害されないようになる。本発明のプ
ローブは高純度石英またはシリカのような高純度近赤外
光の搬送材料で生成された円筒から構成される。分光計
から射出された狭波長帯の近赤外光は軸方向に光ファイ
バーを通って円筒に入り、円筒の内外壁間で多重全内反
射する。円筒を通る光は円筒の外面で全内反射をおこす
度に、円筒の外壁に接触する液体の光吸収によって、光
量を減少する。その結果、円筒を通る近赤外光は液体の
吸光度に相当する光量だけ減衰する。
度を測定する場合、固体粒子、ガス状粒子、その他泡に
よって測定が阻害されるというといった問題点があっ
た。そこで、本発明は、減衰全反射（ＡＴＲ：Attenuat
ed Total Reflection）による測定の実行によって、測
定が粒子によって阻害されないようになる。本発明のプ
ローブは高純度石英またはシリカのような高純度近赤外
光の搬送材料で生成された円筒から構成される。分光計
から射出された狭波長帯の近赤外光は軸方向に光ファイ
バーを通って円筒に入り、円筒の内外壁間で多重全内反
射する。円筒を通る光は円筒の外面で全内反射をおこす
度に、円筒の外壁に接触する液体の光吸収によって、光
量を減少する。その結果、円筒を通る近赤外光は液体の
吸光度に相当する光量だけ減衰する。
【０００４】
【課題を解決するための手段】請求項１記載の発明は、
上記課題を解決するため、コア部分を有する光搬送棒
と、該コア部分と係合する内面と外面を有する隣接高純
度外層と、近赤外光を軸方向に前記外層を通過させ、該
近赤外光に前記内面と前記外面で全内反射させる手段
と、外層を通過する近赤外光を検出する手段と、を有す
ることを特徴とするものである。
上記課題を解決するため、コア部分を有する光搬送棒
と、該コア部分と係合する内面と外面を有する隣接高純
度外層と、近赤外光を軸方向に前記外層を通過させ、該
近赤外光に前記内面と前記外面で全内反射させる手段
と、外層を通過する近赤外光を検出する手段と、を有す
ることを特徴とするものである。
【０００５】請求項２記載の発明は、上記課題を解決す
るため、請求項１記載の減衰全内反射測定装置におい
て、前記コア部分は、コアと、該コアから前記外層を隔
離する中間高純度層と、を有することを特徴とするもの
である。請求項３記載の発明は、上記課題を解決するた
め、請求項２記載の減衰全内反射測定装置において、前
記中間高純度層は、前記外層より薄くて、より小さい屈
折率を有することを特徴とするものである。
るため、請求項１記載の減衰全内反射測定装置におい
て、前記コア部分は、コアと、該コアから前記外層を隔
離する中間高純度層と、を有することを特徴とするもの
である。請求項３記載の発明は、上記課題を解決するた
め、請求項２記載の減衰全内反射測定装置において、前
記中間高純度層は、前記外層より薄くて、より小さい屈
折率を有することを特徴とするものである。
【０００６】請求項４記載の発明は、上記課題を解決す
るため、請求項３記載の減衰全内反射測定装置におい
て、前記コアは、前記中間高純度層および前記外層より
純度が低いことを特徴とするものである。請求項５記載
の発明は、上記課題を解決するため、請求項１記載の減
衰全内反射測定装置において、近赤外光を分光計から前
記外層へ送る光ファイバーと、近赤外光を前記外層から
前記近赤外光検出手段へ送る光ファイバーと、を有する
ことを特徴とするものである。
るため、請求項３記載の減衰全内反射測定装置におい
て、前記コアは、前記中間高純度層および前記外層より
純度が低いことを特徴とするものである。請求項５記載
の発明は、上記課題を解決するため、請求項１記載の減
衰全内反射測定装置において、近赤外光を分光計から前
記外層へ送る光ファイバーと、近赤外光を前記外層から
前記近赤外光検出手段へ送る光ファイバーと、を有する
ことを特徴とするものである。
【０００７】請求項６記載の発明は、上記課題を解決す
るため、請求項３記載の減衰全内反射測定装置におい
て、外層は略１００ミクロンの厚さであり、前記中間高
純度層は略２０ミクロンの厚さであることを特徴とする
ものである。請求項７記載の発明は、上記課題を解決す
るため、請求項２記載の減衰全内反射測定装置におい
て、前記コア、前記中間高純度層、前記外層が本質的に
石英から構成されることを特徴とするものである。
るため、請求項３記載の減衰全内反射測定装置におい
て、外層は略１００ミクロンの厚さであり、前記中間高
純度層は略２０ミクロンの厚さであることを特徴とする
ものである。請求項７記載の発明は、上記課題を解決す
るため、請求項２記載の減衰全内反射測定装置におい
て、前記コア、前記中間高純度層、前記外層が本質的に
石英から構成されることを特徴とするものである。
【０００８】本発明の好適な実施例では、円筒は高純度
の石英の第１および第２薄層で被覆された安価な石英コ
アから構成されている。第１層は約２０ミクロンの厚さ
を有し、その屈折率は厚さ約１００ミクロンの第２外層
より小さい。近赤外光は分光計から石英の外層に入れら
れる。石英の内層が石英のコアと石英の外層とを隔離し
ているので、コアの純度は円筒の内層と外層の間の境界
面で発生する全内反射には何の影響も与えない。このよ
うな構造によって、近赤外光の通る円筒は薄くすること
ができると共に、比較的短い長さの石英層で、多数の全
内反射を円筒の外面において行なうことができる。円筒
は僅か２０ｃｍの長さで全近赤外波長領域にわたる測定
が可能になる。
の石英の第１および第２薄層で被覆された安価な石英コ
アから構成されている。第１層は約２０ミクロンの厚さ
を有し、その屈折率は厚さ約１００ミクロンの第２外層
より小さい。近赤外光は分光計から石英の外層に入れら
れる。石英の内層が石英のコアと石英の外層とを隔離し
ているので、コアの純度は円筒の内層と外層の間の境界
面で発生する全内反射には何の影響も与えない。このよ
うな構造によって、近赤外光の通る円筒は薄くすること
ができると共に、比較的短い長さの石英層で、多数の全
内反射を円筒の外面において行なうことができる。円筒
は僅か２０ｃｍの長さで全近赤外波長領域にわたる測定
が可能になる。
【０００９】
【発明の実施の形態】図１に示す発明の実施例におい
て、石英管１１は管壁に囲まれた空洞室１３を有する。
管１１の両端は縮小されて固体石英の同軸棒状端１５、
１６を形成する。その一端１５は光ファイバー１７によ
って分光計１９に接続され、他端１６は光ファイバー２
３によって検出器２５へ接続されている。
て、石英管１１は管壁に囲まれた空洞室１３を有する。
管１１の両端は縮小されて固体石英の同軸棒状端１５、
１６を形成する。その一端１５は光ファイバー１７によ
って分光計１９に接続され、他端１６は光ファイバー２
３によって検出器２５へ接続されている。
【００１０】近赤外分光計１９は狭波長帯の近赤外光を
光ファイバーケーブル１７を通じて石英棒状端１５へ送
り、円筒状の管壁を通じて他の棒状端１６へ送る。分光
計１９は回転回折格子型にすることによって、近赤外ス
ペクトル領域における狭波長帯の近赤外光の中心波長を
変えることができる。搬送光の振幅は近赤外スペクトル
領域にわたって、一定間隔で増分された波長毎に検出器
で検出される。
光ファイバーケーブル１７を通じて石英棒状端１５へ送
り、円筒状の管壁を通じて他の棒状端１６へ送る。分光
計１９は回転回折格子型にすることによって、近赤外ス
ペクトル領域における狭波長帯の近赤外光の中心波長を
変えることができる。搬送光の振幅は近赤外スペクトル
領域にわたって、一定間隔で増分された波長毎に検出器
で検出される。
【００１１】近赤外光は円筒状の管壁を通過する間に、
円筒壁の内外面で多重全内反射する。管１１の円筒状の
外壁は外筒２７で囲まれており、外筒２７は管１１の外
壁と対面する内室２９を有する。被測定液は内室２９に
供給され、管１１を通る狭波長帯の近赤外光は円筒壁の
外面で全内反射する度に、部分的に吸収される。光の吸
収量は管壁を通る波長に対する液体の吸光度によって決
められる。この吸収が行なわれた後、光は棒状端１６か
ら光ファイバー２３を通って近赤外光検出器２５へ送ら
れ、受光された近赤外光の振幅が検出される。
円筒壁の内外面で多重全内反射する。管１１の円筒状の
外壁は外筒２７で囲まれており、外筒２７は管１１の外
壁と対面する内室２９を有する。被測定液は内室２９に
供給され、管１１を通る狭波長帯の近赤外光は円筒壁の
外面で全内反射する度に、部分的に吸収される。光の吸
収量は管壁を通る波長に対する液体の吸光度によって決
められる。この吸収が行なわれた後、光は棒状端１６か
ら光ファイバー２３を通って近赤外光検出器２５へ送ら
れ、受光された近赤外光の振幅が検出される。
【００１２】測定は近赤外スペクトル領域に分布された
波長増分毎に行なわれるのが望ましい。吸光度は全内反
射で測定されるので、内室２９内の液体への非常に少な
い透過光量で吸光度は測定される。従って、内室２９内
の液体に浮遊する泡、粒子は吸光度の測定に何の影響も
与えない。図２に示す実施例は図１に示すものと類似で
あるが、図２の装置は特に流動する液体の測定に適して
いる点が異なる。図２に示すように、空洞石英管１１は
液体入口３３および出口３５を有するジャケット３１に
囲まれている。ここで、液体はジャケット３１と管１１
の間の空室に入り、流動している液体の吸光度は減衰全
反射効果によって測定することができる。
波長増分毎に行なわれるのが望ましい。吸光度は全内反
射で測定されるので、内室２９内の液体への非常に少な
い透過光量で吸光度は測定される。従って、内室２９内
の液体に浮遊する泡、粒子は吸光度の測定に何の影響も
与えない。図２に示す実施例は図１に示すものと類似で
あるが、図２の装置は特に流動する液体の測定に適して
いる点が異なる。図２に示すように、空洞石英管１１は
液体入口３３および出口３５を有するジャケット３１に
囲まれている。ここで、液体はジャケット３１と管１１
の間の空室に入り、流動している液体の吸光度は減衰全
反射効果によって測定することができる。
【００１３】図１および図２の実施例では、石英管の厚
さは外筒から管に加えられる外力に十分耐え得る厚さで
なくてはならない。管壁が厚ければ厚いほど、光が円筒
状管壁を通る間に発生する全内反射は少なくなる。長い
近赤外波長で全内反射量を十分必要な量にするために
は、管は非常に長く、例えば、２００ｃｍ迄に長くしな
ければならない。更に、管の両端を棒状に引抜くには難
しい製作技術を必要とする。
さは外筒から管に加えられる外力に十分耐え得る厚さで
なくてはならない。管壁が厚ければ厚いほど、光が円筒
状管壁を通る間に発生する全内反射は少なくなる。長い
近赤外波長で全内反射量を十分必要な量にするために
は、管は非常に長く、例えば、２００ｃｍ迄に長くしな
ければならない。更に、管の両端を棒状に引抜くには難
しい製作技術を必要とする。
【００１４】本発明の好適な実施例が図３〜図５に示さ
れているが、減衰全反射プローブは２つの外層４１、４
３でコートされた内部固体円筒３９を有する固体石英棒
３７から形成される。内部棒３９は比較的純度の低い安
価な石英材から生成され、その外面は高純度石英の厚さ
約２０ミクロンの薄い層４１と厚さ約１００ミクロンの
高純度石英の厚い第２外層４３で被覆されている。内層
４１の屈折率は外層４３の屈折率より小さくされている
ので、外層を通る光は内層４１と外層４３の境界面４６
で全内反射する。
れているが、減衰全反射プローブは２つの外層４１、４
３でコートされた内部固体円筒３９を有する固体石英棒
３７から形成される。内部棒３９は比較的純度の低い安
価な石英材から生成され、その外面は高純度石英の厚さ
約２０ミクロンの薄い層４１と厚さ約１００ミクロンの
高純度石英の厚い第２外層４３で被覆されている。内層
４１の屈折率は外層４３の屈折率より小さくされている
ので、外層を通る光は内層４１と外層４３の境界面４６
で全内反射する。
【００１５】分光計１９からの狭波長帯の近赤外光は光
ファイバー連結部４５を通って外層４３に入り、この外
層４３を通って軸方向に送られ光ファイバー連結部４７
を経由して近赤外光検出器２５に入る。光ファイバー連
結部４５、４７はアダプター４８、４９により外層４３
に光学的に接続されている。狭波長帯の近赤外光は外層
４３と内層４１、外層４３の境界面４６との間で多重全
内反射する。搬送光はコア３９の純度の低さには影響さ
れない。
ファイバー連結部４５を通って外層４３に入り、この外
層４３を通って軸方向に送られ光ファイバー連結部４７
を経由して近赤外光検出器２５に入る。光ファイバー連
結部４５、４７はアダプター４８、４９により外層４３
に光学的に接続されている。狭波長帯の近赤外光は外層
４３と内層４１、外層４３の境界面４６との間で多重全
内反射する。搬送光はコア３９の純度の低さには影響さ
れない。
【００１６】コア３９は境界面４６で行なわれる全内反
射に影響を与えないよう高純度の内層４１によって外層
４３から隔離されている。外層４３を通る光は外層４３
の外面と接触する外筒５０内の液体の吸光によって減衰
し、この減衰度を検出器で測定することによって液体の
吸光度が得られる。図５に示されるように、光ファイバ
ー連結部４５はプラスチックのクラッド５３で囲まれた
光ファイバー５１の外装部（sheath）を有する。光ファ
イバーは分光計からの光を受光端５５で受光すると共
に、出光端５９に向かって広がっている。出光端５９で
は光ファイバーは連結用アダプター４８の円筒リング状
の光ファイバー６１に接続されている。アダプター４８
では円筒リング状の光ファイバー６１は内部金属リング
６５と外部金属リング６７とで挟まれており、光ファイ
バー６１の出光端面は外部円筒状石英層４３の軸方向の
端面と接続されている。アダプター４８は外部円筒状ケ
ース６９を有し、プラスチックまたは金属のような適切
な材料から生成される。
射に影響を与えないよう高純度の内層４１によって外層
４３から隔離されている。外層４３を通る光は外層４３
の外面と接触する外筒５０内の液体の吸光によって減衰
し、この減衰度を検出器で測定することによって液体の
吸光度が得られる。図５に示されるように、光ファイバ
ー連結部４５はプラスチックのクラッド５３で囲まれた
光ファイバー５１の外装部（sheath）を有する。光ファ
イバーは分光計からの光を受光端５５で受光すると共
に、出光端５９に向かって広がっている。出光端５９で
は光ファイバーは連結用アダプター４８の円筒リング状
の光ファイバー６１に接続されている。アダプター４８
では円筒リング状の光ファイバー６１は内部金属リング
６５と外部金属リング６７とで挟まれており、光ファイ
バー６１の出光端面は外部円筒状石英層４３の軸方向の
端面と接続されている。アダプター４８は外部円筒状ケ
ース６９を有し、プラスチックまたは金属のような適切
な材料から生成される。
【００１７】ケース６９は石英棒３７の端部と重なって
いるが、石英棒３７の外層４３の外部円筒表面との間に
は、プラスチックコート７３で被覆された高純度の内部
石英層７１が挟み込まれ、更に、金属リング７５を挿入
して外層４３から隔離されている。石英層７１はケース
６９と石英棒３７の外層４３とを隔離するために使用さ
れ、アダプター４８の重なり部において、全内反射が外
層４３の外面でアダプター４８によって影響されないよ
うにしてある。
いるが、石英棒３７の外層４３の外部円筒表面との間に
は、プラスチックコート７３で被覆された高純度の内部
石英層７１が挟み込まれ、更に、金属リング７５を挿入
して外層４３から隔離されている。石英層７１はケース
６９と石英棒３７の外層４３とを隔離するために使用さ
れ、アダプター４８の重なり部において、全内反射が外
層４３の外面でアダプター４８によって影響されないよ
うにしてある。
【００１８】石英棒３７と検出器２５の間の光ファイバ
ー連結部４７と光ファイバーアダプター４９は光ファイ
バー連結部４５とアダプター４８とそれぞれ全く同じで
ある。吸光度が全内反射によって測定されるので、石英
棒３７に接する液体の吸光度は液体中の固体粒子やガス
状粒子に阻害されることなしで容易に測定することがで
きる。
ー連結部４７と光ファイバーアダプター４９は光ファイ
バー連結部４５とアダプター４８とそれぞれ全く同じで
ある。吸光度が全内反射によって測定されるので、石英
棒３７に接する液体の吸光度は液体中の固体粒子やガス
状粒子に阻害されることなしで容易に測定することがで
きる。
【００１９】外層４３が比較的薄く、例えば、約１００
ミクロンで生成できるので、外層４３を通る光は軸方向
で比較的に短い距離を通る間に、外層４３の外筒から多
くの全内反射を発生することができる。その結果、プロ
ーブの検出部の長手方向の長さは比較的短くてすみ、例
えば、僅か１０〜２０ｃｍで、近赤外光の領域において
吸光度を有効に測定することができる。
ミクロンで生成できるので、外層４３を通る光は軸方向
で比較的に短い距離を通る間に、外層４３の外筒から多
くの全内反射を発生することができる。その結果、プロ
ーブの検出部の長手方向の長さは比較的短くてすみ、例
えば、僅か１０〜２０ｃｍで、近赤外光の領域において
吸光度を有効に測定することができる。
【００２０】上記の測定器において、近赤外光は石英筒
に入る前に狭波長帯幅毎に分散される。また、広波長帯
の近赤外光を石英筒へ送ることができ、光は円筒を通過
後、分光計によって分散され、検出器または複数の検出
器で検出される。本発明の好適な上記実施例に対する各
種の変形態様はクレームで定められた発明の趣旨と範囲
から離脱することなしで実施することができる。
に入る前に狭波長帯幅毎に分散される。また、広波長帯
の近赤外光を石英筒へ送ることができ、光は円筒を通過
後、分光計によって分散され、検出器または複数の検出
器で検出される。本発明の好適な上記実施例に対する各
種の変形態様はクレームで定められた発明の趣旨と範囲
から離脱することなしで実施することができる。
【００２１】
【発明の効果】本発明によれば、減衰全反射プローブは
液体中に浮遊する固体粒子や泡による悪影響を受けるこ
となしに液体の吸光度を有効に測定することができる。
また、プローブは粒子、泡、その他を含まない液体の吸
光度の測定にも有効である。
液体中に浮遊する固体粒子や泡による悪影響を受けるこ
となしに液体の吸光度を有効に測定することができる。
また、プローブは粒子、泡、その他を含まない液体の吸
光度の測定にも有効である。
【図１】本発明のプローブの初期の段階の実施例を示す
概略縦断面図である。
概略縦断面図である。
【図２】流動する液体を測定するために設計された本発
明の初期の段階の実施例を示す。
明の初期の段階の実施例を示す。
【図３】本発明の好適な実施例の概略を示す。
【図４】好適な実施例のプローブのセンサー部の立体投
影図である。
影図である。
【図５】本発明のプローブの円筒状センサー部が光ファ
イバーに接続される部分の詳細を示す縦断面図である。
イバーに接続される部分の詳細を示す縦断面図である。
１１：石英管 １３：空洞室 １５：石英管受光端部 １６：石英管出光端部 １７：光ファイバー １９：近赤外分光計 ２３：光ファイバー ２５：近赤外光検出器 ２７：外筒 ２９：外筒内室 ３１：ジャケット ３３：液入口 ３５：液出口 ３７：石英棒 ３９：内部固体円筒 ４１：第１内層 ４３：第２外層 ４５：光ファイバー連結部 ４６：内層と外層との境界面 ４７：光ファイバー連結部 ４８：アダプター ４９：アダプター ５０：外筒 ５１：光ファイバーの外装部 ５３：プラスチックのクラッド ５５：光ファイバーの受光端 ５９：光ファイバーの出光端 ６１：アダプターの円筒リング ６５：アダプターの内部金属リング ６７：アダプターの外部金属リング ６９：アダプターのケース ７１：アダプターの内部石英層 ７３：アダプターのプラスチックコート ７５：アダプターの金属リング
フロントページの続き (71)出願人 597087712 12101 Ｔｅｃｈ Ｒｏａｄ Ｓｉｌｖｅ ｒ Ｓｐｒｉｎｇ，Ｍａｒｙｌａｎｄ 20904 Ｕ．Ｓ．Ａ. (72)発明者 ウルスラ エッシェンアウワー アメリカ合衆国 メリーランド州 21234 ボルティモア エイピーティ．202 バ ーンウエル コート １
Claims (7)
- 【請求項１】コア部分を有する光搬送棒と、 該コア部分と係合する内面と外面を有する隣接高純度外
層と、 近赤外光を軸方向に前記外層を通過させ、該近赤外光に
前記内面と前記外面で全内反射させる手段と、外層を通
過する近赤外光を検出する手段と、を有することを特徴
とする減衰全内反射測定装置。 - 【請求項２】請求項１記載の減衰全内反射測定装置にお
いて、 前記コア部分は、コアと、該コアから前記外層を隔離す
る中間高純度層と、を有することを特徴とする減衰全内
反射測定装置。 - 【請求項３】請求項２記載の減衰全内反射測定装置にお
いて、 前記中間高純度層は、前記外層より薄くて、より小さい
屈折率を有することを特徴とする減衰全内反射測定装
置。 - 【請求項４】請求項３記載の減衰全内反射測定装置にお
いて、 前記コアは、前記中間高純度層および前記外層より純度
が低いことを特徴とする減衰全内反射測定装置。 - 【請求項５】請求項１記載の減衰全内反射測定装置にお
いて、 近赤外光を分光計から前記外層へ送る光ファイバーと、 近赤外光を前記外層から前記近赤外光検出手段へ送る光
ファイバーと、を有することを特徴とする減衰全内反射
測定装置。 - 【請求項６】請求項３記載の減衰全内反射測定装置にお
いて、 外層は略１００ミクロンの厚さであり、前記中間高純度
層は略２０ミクロンの厚さであることを特徴とする減衰
全内反射測定装置。 - 【請求項７】請求項２記載の減衰全内反射測定装置にお
いて、 前記コア、前記中間高純度層、前記外層が本質的に石英
から構成されることを特徴とする減衰全内反射測定装
置。
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| JPH04186140A (ja) * | 1990-11-21 | 1992-07-02 | Hitachi Ltd | 光学セル |
| DE4038354C2 (de) * | 1990-12-01 | 1994-06-30 | Bruker Analytische Messtechnik | ATR-Meßsonde |
| US5097129A (en) * | 1990-12-06 | 1992-03-17 | International Business Machines Corporation | Surface contamination detection using infrared-transparent fibers or attenuated total reflection crystals |
| JPH05142142A (ja) * | 1991-11-18 | 1993-06-08 | Hitachi Ltd | 分光光度計 |
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| JP3157952B2 (ja) * | 1993-06-02 | 2001-04-23 | アヴェンティス・リサーチ・ウント・テクノロジーズ・ゲーエムベーハー・ウント・コー・カーゲー | 化学物質検出用光学センサー |
| US5416579A (en) * | 1993-07-23 | 1995-05-16 | Nova Chem Bv | Method for determining concentration in a solution using attenuated total reflectance spectrometry |
| US5436454A (en) * | 1993-10-15 | 1995-07-25 | Nicolet Instrument Corporation | Optical probe for remote attenuated total reflectance measurements |
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