JPH11233919A - 導通検査装置 - Google Patents

導通検査装置

Info

Publication number
JPH11233919A
JPH11233919A JP10049046A JP4904698A JPH11233919A JP H11233919 A JPH11233919 A JP H11233919A JP 10049046 A JP10049046 A JP 10049046A JP 4904698 A JP4904698 A JP 4904698A JP H11233919 A JPH11233919 A JP H11233919A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
sleeve
compression spring
lead wire
contact pin
contact
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP10049046A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3570206B2 (ja
Inventor
Yoshitaka Goto
喜敬 五藤
Akihiro Demura
彰浩 出村
Nobusane Oono
信実 大野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ibiden Co Ltd
Original Assignee
Ibiden Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Ibiden Co Ltd filed Critical Ibiden Co Ltd
Priority to JP04904698A priority Critical patent/JP3570206B2/ja
Publication of JPH11233919A publication Critical patent/JPH11233919A/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3570206B2 publication Critical patent/JP3570206B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Fee Related legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 配線回路の高密度化に伴う挿通穴とスリーブ
の細径化に対応できると共に,圧縮バネの交換を容易に
行うことができる導通検査装置を提供すること。 【解決手段】 プリント基板7の配線回路71に当接さ
せるコンタクトピン11と,リードワイヤー3と接続し
たスリーブ2と,両者間に介設して両者を外方に押圧す
る圧縮バネ12とを有する。ハウジングは,コンタクト
ピンを装着するガイド孔550を穿設したガイド板55
と,リードワイヤーを挿通する端子穴570を配設した
背面ボード57と,スリーブと圧縮バネとを収容する挿
通穴560を設けたメインボード56とを有している。
また,スリーブ2は引張りバネであると共に,リードワ
イヤー3に対して接着されており,一方圧縮バネ12
は,コンタクトピン11及びスリーブ2に対して当接状
態で電気的に接続されている。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【技術分野】本発明は,特に高密度配線回路の検査に対
して優れた効果を発揮する,導通検査装置に関する。
【0002】
【従来技術】プリント基板における配線回路を電気導通
の有無により検査する装置としては,例えば以下のもの
が知られている。即ち,図6,図7に示すごとく,プリ
ント基板7の配線回路71に対して,コンタクトピン1
1を当接することにより,電気導通の有無を検査するも
のである。上記検査装置9は,図6に示すごとく,コン
タクトピン11と,一端をリードワイヤー93と接続し
たスリーブとしてのパイプ92と,上記コンタクトピン
11とパイプ92との間に介設された圧縮バネ12と,
上記各部材を収納する積層状態のハウジング5とよりな
る。
【0003】上記ハウジング5は,図6に示すごとく,
ガイド板55と,背面ボード57と,両者間に配設され
た複数のメインボード56とよりなる。三者は,ノック
ピン89(図1参照)によって一体的に固定されてい
る。上記コンタクトピン11は,上記ガイド板55のガ
イド孔550内に進退可能に装着されている。また,上
記リードワイヤー93は,上記背面ボード57の端子穴
570内に挿通されている。また,上記圧縮バネ12と
パイプ92とは,上記2枚のメインボード56の挿通穴
560内に収容されている。
【0004】上記パイプ92は,図7に示すごとく,銅
製の筒状体であり,リードワイヤー93の先端部931
に対してかしめ固定によって接続されている。一方,上
記圧縮バネ12は,上記コンタクトピン11及び上記パ
イプ92に対して当接状態で電気的に接続されている。
【0005】上記コンタクトピン11は,被検査体とし
てのプリント基板7の配線回路71に対向する位置に設
けてある。上記リードワイヤー93の他端は,電気導通
を検出するための検出器18(図1参照)に電気的に接
続されている。
【0006】そして,配線回路の電気導通の検査にあた
っては,プリント基板7の上下より,上記ハウジング5
を下降及び上昇させ(図1参照),上記コンタクトピン
11を配線回路71に当接させる。このとき,該配線回
路71に断線又はショートが生じていない場合には,正
常な電気導通が得られる。これにより,各配線回路71
の良否が判定できる。
【0007】また,上記コンタクトピン11の先端11
1を配線回路71に当接させた際には,コンタクトピン
11はガイド板55のガイド孔550に沿ってメインボ
ード56側へ後退し,コンタクトピン11の一部分が挿
通穴560に侵入する。これは,コンタクトピン11の
先端111が基板のパターンに余分な傷をつけないため
である。そして,検査後は,コンタクトピン11は,挿
通穴560内に設けた圧縮バネ12によって,再び元の
位置へ突出させられる。
【0008】
【解決しようとする課題】しかしながら,上記従来の導
通検査装置9においては,次の問題がある。即ち,近年
は,プリント基板7における配線回路71の高密度化が
進み,配線回路71のピッチがますます狭くなってい
る。例えば,このピッチは,従来は0.65mm程度で
あったが,高密度配線回路においては0.2〜0.3m
mと非常に狭くなってきている。
【0009】また,これに対応するため,配線回路71
に当接するコンタクトピン11のピッチP(図1参照)
も狭くしなければならない。そこで,コンタクトピン1
1,圧縮バネ12,及びパイプ92の直径の縮小化が必
要とされる。例えば,上記0.2mmのピッチに対応す
るためには,孔径0.2mmの孔に挿通できる直径にし
なくてはならない。この中,コンタクトピン11と圧縮
バネ12の縮小化は,比較的容易である。しかし,外径
0.2mmという細径の上記パイプ92の製作はできな
い。そのため,上記従来の導通検査装置9は,上記高密
度配線回路に対応することができない。
【0010】そこで,図8,図9に示すごとく,上記圧
縮バネ12を上記リードワイヤー93に対して直接に接
続することが考えられる。しかし,上記圧縮バネ12を
上記リードワイヤー93の先端部931に対して,例え
ば半田付け等で直接に接続した場合には,例えば経年劣
化した圧縮バネ12を交換するにあたって,該圧縮バネ
12と共に上記リードワイヤー93をも,ハウジング5
から引き抜かなくてはならない。そのため,上記圧縮バ
ネ12の交換が非常に困難である。なお,図9中の符号
941は半田接合部である。
【0011】本発明は,かかる従来の問題点に鑑みてな
されたもので,配線回路の高密度化に伴う挿通穴とスリ
ーブの細径化に対応できると共に,圧縮バネの交換を容
易に行うことができる導通検査装置を提供しようとする
ものである。
【0012】
【課題の解決手段】請求項1の発明は,プリント基板に
おける配線回路を電気導通の有無により検査する導通検
査装置において,上記配線回路に当接させるためのコン
タクトピンと,一端をリードワイヤーと接続したスリー
ブと,上記コンタクトピンとスリーブとの間に介設して
両者を外方に押圧するよう付勢された伸縮自在な導電性
の圧縮バネと,上記各部材を収納する積層状態のハウジ
ングとを有しており,上記ハウジングは,上記コンタク
トピンを進退可能に装着するガイド孔を穿設したガイド
板と,上記リードワイヤーを挿通する端子穴を配設した
背面ボードと,上記ガイド板と背面ボードとの間に配設
され上記スリーブと圧縮バネとを収容する挿通穴を設け
たメインボードとを有しており,かつ,上記スリーブは
引張りバネであると共に,リードワイヤーに対して接着
されており,一方上記圧縮バネは,上記コンタクトピン
及び上記スリーブに対して当接状態で電気的に接続され
ていることを特徴とする導通検査装置にある。
【0013】本発明において最も注目すべきことは,引
張りバネであるスリーブはリードワイヤーに対して接着
されており,圧縮バネは上記スリーブ及びコンタクトピ
ンに対して当接状態で接続されていることである。
【0014】上記スリーブとリードワイヤーとは,上記
リードワイヤーを上記ハウジングに装着しておくため
に,有機の接着剤又は無機の接着剤で接着された状態で
接続されている。両者の接続構造を以下に示す。上記ス
リーブは,例えばピアノ線等の導電性の電線を螺旋状に
巻いた引張りバネである。一方,上記リードワイヤー
は,例えば銅からなる導線をポリウレタン等の絶縁皮膜
により被覆したものであり,その先端部においては,上
記絶縁被膜が除去されている。上記リードワイヤーの先
端部においては,上記導線が上記スリーブの中空部分に
挿入された状態で,上記スリーブの後端部に対して接着
固定されている。また,両者間の電気導通は確保されて
いる。
【0015】一方,上記圧縮バネは,その付勢力によっ
て当接状態で上記スリーブの先端部に対して接続されて
いる。また,上記コンタクトピンの後端部に対しても同
様に接続されている。即ち,上記圧縮バネは,上記コン
タクトピン及び上記スリーブに対して接着固定されるこ
となく電気的に接続されている。
【0016】また,上記コンタクトピンの後端部の直径
は上記ガイド板のガイド孔の孔径より大きく,上記スリ
ーブの直径は上記背面ボードの端子穴の孔径より大き
い。
【0017】次に,本発明の作用につき説明する。本発
明の導通検査装置においては,上記スリーブはコイル構
造であり,容易にその外径を細くすることができるた
め,その製作が可能となる。そのため,上記導通検査装
置は,上記コンタクトピンのピッチの狭小化,及び配線
回路の高密度化に容易に対応することができる。
【0018】また,上記圧縮バネは,上記コンタクトピ
ン及び上記スリーブに対して接着固定されることなく接
続されている。そのため,例えば経年劣化した圧縮バネ
の交換にあたっては,ガイド板とコンタクトピンとを取
り外せば,上記スリーブを引き抜くことなく上記圧縮バ
ネを交換することができる。それ故,背面ボード,及び
メインボードから,上記スリーブに接続されたリードワ
イヤーを引き抜く必要がないため,上記圧縮バネの交換
を容易に行うことができる。
【0019】次に,請求項2の発明のように,上記スリ
ーブは,0.03mm以下の直径からなる電線を,外径
0.18mm以下,内径0.12mm以下の螺旋状に巻
いて構成されていることが好ましい。この場合には,上
記コンタクトピンのピッチの狭小化,及び配線回路の高
密度化に容易に対応することができる。
【0020】
【発明の実施の形態】実施形態例 本発明の実施形態例にかかる導通検査装置について,図
1〜図5を用いて説明する。本例の導通検査装置は,図
1〜図5に示すごとく,プリント基板7の配線回路71
に当接させるためのコンタクトピン11と,一端をリー
ドワイヤー3と接続したスリーブ2と,上記コンタクト
ピン11とスリーブ2との間に介設して両者を外方に押
圧するよう付勢された伸縮自在な導電性の圧縮バネ12
と,上記各部材を収納する積層状態のハウジング5とを
有している。
【0021】上記ハウジング5は,上記コンタクトピン
11を進退可能に装着するガイド孔550を穿設したガ
イド板55と,上記リードワイヤー3を挿通する端子穴
570を配設した背面ボード57と,上記ガイド板55
と背面ボード57との間に配設され上記スリーブ2と圧
縮バネ12とを収容する挿通穴560を設けたメインボ
ード56とを有している。
【0022】また,上記スリーブ2は,0.03mmの
直径からなる電線であるピアノ線を,外径0.18m
m,内径0.12mmの螺旋状に巻いて構成されている
引張りバネであると共に,上記リードワイヤー3に対し
て接着されている。一方上記圧縮バネ12は,上記コン
タクトピン11及び上記スリーブ2に対して当接状態で
電気的に接続されている。
【0023】以下,順を追って詳説する。本例の導通検
査装置1は,図1に示すごとく,ハウジング5に多数の
コンタクトピン11,圧縮バネ12,及びスリーブ2を
収容している。そして,コンタクトピン11はハウジン
グの表面側に,一方,スリーブ2はハウジングの背面側
に配設されており,圧縮バネ12が両者を電気的に接続
している。
【0024】上記コンタクトピン11は,図1〜図3に
示すごとく,ハウジング5の表面側を構成するガイド板
55のガイド孔550に,進退可能に装着されている。
そして,コンタクトピン11の先端111はガイド板5
5の外部に突出している。また,コンタクトピン11
は,その先端111が被検査体としてのプリント基板7
の配線回路71と1対1に対向するように配設されてい
る。また,上記コンタクトピン11の後端部119は,
図2,図3に示すごとく,上記ガイド孔550より広い
断面積を有するメインボード56の挿通穴560内に収
容されている。
【0025】一方,上記リードワイヤー3は,図1〜図
3に示すごとく,ハウジング5の背面側を構成する背面
ボード57の端子穴570に,挿通されている。該端子
穴570は,上記ガイド孔550と1対1に対応して同
数だけ形成されている。また,図3に示すごとく,上記
リードワイヤー3の先端部31には,上記スリーブ2が
接続されており,リードワイヤー3の他端には,図1に
示すごとく,検出器18に接続されている。検出器18
は,配線回路71の良否を判定する演算回路や表示部等
を有する。
【0026】上記スリーブ2とリードワイヤー3とは,
上記リードワイヤー3を上記ハウジング5に装着してお
くために,図5に示すごとく,無機の接着剤としての半
田付けにより接着された状態で接続されている。両者の
接続構造を以下に示す。上記リードワイヤー3の先端部
31においては,図5に示すごとく,導線32が上記ス
リーブ2の中空部分に挿入された状態で,上記スリーブ
2の後端部29に対して接着固定されている。また,両
者間の電気導通は確保されている。
【0027】また,上記スリーブ2とリードワイヤー3
との接続方法を図4に示す。まず,図4(A)に示すご
とく,導電性を有するピアノ線(SWPA)を螺旋状に
巻いた引張りバネである上記スリーブ2と,その先端部
31において銅からなる導線32を露出した上記リード
ワイヤー3とを用意する。上記リードワイヤー3の先端
部31は,半田槽に入れられてポリウレタンの絶縁皮膜
33を焼却除去された状態にあり,また,フラックスが
塗布されている。なお,上記スリーブ2は,その中空部
分に治具8の針81を挿入されて支持されている。
【0028】次いで,図4(B)に示すごとく,上記リ
ードワイヤー3の導線32の先端部分を上記スリーブ2
の中空部分に挿入する。そして,半田ボール4を上記ス
リーブ2の後端部29側の外周面に当接させて加熱す
る。そして,上記スリーブ2とリードワイヤー3とを半
田接合部41によって接続する。次いで,図4(C)に
示すごとく,上記治具8を上記リードワイヤー3の導線
32に半田付けされた上記スリーブ2から引き抜く。接
続された両者の断面図を図5に示す。
【0029】また,上記コンタクトピン11の後端部1
19,圧縮バネ12,及びスリーブ2は,図1〜図3に
示すごとく,ハウジング5の中間部を構成する2枚のメ
インボード56,56の挿通穴560に,収容されてい
る。上記圧縮バネ12は,その付勢力によって当接状態
で上記スリーブ2の先端部21に対して接続されてい
る。また,上記コンタクトピン11の後端部119に対
しても同様に接続されている。即ち,上記圧縮バネ12
は,上記コンタクトピン11及び上記スリーブ2に対し
て接着固定されることなく電気的に接続されている。
【0030】なお,上記挿通穴560は,1枚当りの板
厚2.0mmのメインボード56に穿設された,孔径が
0.2mmの貫通孔である。また,上記ガイド孔550
及び端子穴570は,それぞれ板厚1.5mmのガイド
板55及び背面ボード57に穿設された,孔径0.15
mmの貫通孔である。また,上記コンタクトピン11の
後端部119の直径は上記ガイド孔550の孔径より大
きく,上記スリーブ2の直径は上記端子穴570の孔径
より大きい。
【0031】また,ガイド板55,メインボード56,
背面ボード57は,図1に示すごとく,ノックピン89
によって一体化されている。そして,ノックピン89を
取り除くことによって,上記三者は容易に分離すること
ができるよう形成されている。
【0032】次に,本例の作用につき説明する。プリン
ト基板7の上下両面に設けた配線回路71の良否を,本
例の導通検査装置1により検査するにあたっては,図1
に示すごとく,ガイド板55をプリント基板7に対面さ
せ,各配線回路71に対してハウジング5を上下方向よ
り接近させる。このとき,両者の当接前(図1上方)及
び当接直後(図1下方)の導通検査装置1においては,
コンタクトピン11はガイド板55よりも突出した状態
にある。
【0033】そして,コンタクトピン11の先端111
を配線回路71に押圧する。このとき,コンタクトピン
11は圧縮バネ12の付勢力に抗して圧縮バネ12を縮
退させながら,ガイド孔550内に向かって侵入する。
そして,コンタクトピン11の先端111は上記圧縮バ
ネ12の付勢力によって配線回路71を押圧し,両者間
の電気的導通を確実にする。
【0034】コンタクトピン11と圧縮バネ12,及び
圧縮バネ12とスリーブ2との間も,同様に圧縮バネ1
2の付勢力によって電気的導通が確保されている。そし
て,図1に示すごとく,スリーブ2に接続されたリード
ワイヤー3を介して,上記配線回路71,コンタクトピ
ン11,圧縮バネ12,スリーブ2,及び検出器18の
間を接続し,配線回路71の良否を判定する。
【0035】また,検査後は,ハウジング5をプリント
基板7から遠ざける。そして,コンタクトピン11は圧
縮バネ12の付勢力により,再びガイド板55より突出
し,元の状態(図1上方)に復元する。
【0036】本例の導通検査装置1においては,上記ス
リーブ2はコイル構造であり,容易にその外径を細くす
ることができるため,外径0.18mmという細径化さ
れた筒状体であるスリーブ2の製作が可能となる。その
ため,上記導通検査装置1は,上記コンタクトピン11
のピッチPの狭小化,及び配線回路71の高密度化に容
易に対応することができる。
【0037】また,上記圧縮バネ12は,上記コンタク
トピン11及び上記スリーブ2に対して接着固定される
ことなく接続されている。そのため,経年劣化した圧縮
バネ12の交換にあたっては,上記ノックピン89を上
記背面ボード57側に押し込み,ガイド板55,及びガ
イド孔550に装着されたコンタクトピン11を取り外
せば,上記スリーブ2を引き抜くことなく,上記ガイド
板55側のメインボード56の挿通穴560から,上記
圧縮バネ12を交換することができる。それ故,背面ボ
ード57の端子穴570,及びメインボード56の挿通
穴560から,上記スリーブ2に接続されたリードワイ
ヤー3を引き抜く必要がないため,上記圧縮バネ12の
交換を容易に行うことができる。
【0038】また,上記スリーブ2の外径が0.18m
mであるため,孔径0.2mmの挿通穴560にスムー
ズに収容することができる。
【0039】
【発明の効果】上述のごとく,本発明によれば,配線回
路の高密度化に伴う挿通穴とスリーブの細径化に対応で
きると共に,圧縮バネの交換を容易に行うことができる
導通検査装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】実施形態例にかかる,導通検査装置の全体説明
図。
【図2】実施形態例にかかる,導通検査装置の説明図。
【図3】実施形態例にかかる,導通検査装置の断面図。
【図4】実施形態例にかかる,スリーブとリードワイヤ
ーとの接続方法の説明図。
【図5】実施形態例にかかる,スリーブとリードワイヤ
ーとの接続構造の断面図。
【図6】従来例にかかる,パイプとリードワイヤーとの
接続構造の説明図。
【図7】従来例にかかる,パイプとリードワイヤーとの
接続構造の断面図。
【図8】従来例にかかる,圧縮バネとリードワイヤーと
の接続構造の説明図。
【図9】従来例にかかる,圧縮バネとリードワイヤーと
の接続構造の断面図。
【符号の説明】
1...導通検査装置, 11...コンタクトピン, 12...圧縮バネ, 2...スリーブ, 29...後端部, 3...リードワイヤー, 31...先端部, 32...導線, 33...絶縁皮膜, 5...ハウジング, 55...ガイド板, 550...ガイド孔, 56...メインボード, 560...挿通穴, 57...背面ボード, 570...端子穴, 7...プリント基板, 71...配線回路,

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 プリント基板における配線回路を電気導
    通の有無により検査する導通検査装置において, 上記配線回路に当接させるためのコンタクトピンと,一
    端をリードワイヤーと接続したスリーブと,上記コンタ
    クトピンとスリーブとの間に介設して両者を外方に押圧
    するよう付勢された伸縮自在な導電性の圧縮バネと,上
    記各部材を収納する積層状態のハウジングとを有してお
    り, 上記ハウジングは,上記コンタクトピンを進退可能に装
    着するガイド孔を穿設したガイド板と,上記リードワイ
    ヤーを挿通する端子穴を配設した背面ボードと,上記ガ
    イド板と背面ボードとの間に配設され上記スリーブと圧
    縮バネとを収容する挿通穴を設けたメインボードとを有
    しており, かつ,上記スリーブは引張りバネであると共に,リード
    ワイヤーに対して接着されており,一方上記圧縮バネ
    は,上記コンタクトピン及び上記スリーブに対して当接
    状態で電気的に接続されていることを特徴とする導通検
    査装置。
  2. 【請求項2】 請求項1において,上記スリーブは,
    0.03mm以下の直径からなる電線を,外径0.18
    mm以下,内径0.12mm以下の螺旋状に巻いて構成
    されていることを特徴とする導通検査装置。
JP04904698A 1998-02-12 1998-02-12 導通検査装置 Expired - Fee Related JP3570206B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04904698A JP3570206B2 (ja) 1998-02-12 1998-02-12 導通検査装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP04904698A JP3570206B2 (ja) 1998-02-12 1998-02-12 導通検査装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPH11233919A true JPH11233919A (ja) 1999-08-27
JP3570206B2 JP3570206B2 (ja) 2004-09-29

Family

ID=12820151

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP04904698A Expired - Fee Related JP3570206B2 (ja) 1998-02-12 1998-02-12 導通検査装置

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JP3570206B2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7264390B2 (en) 2002-10-23 2007-09-04 Hannstar Display Corp. Polarized light source device and back light module for liquid crystal display

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US7264390B2 (en) 2002-10-23 2007-09-04 Hannstar Display Corp. Polarized light source device and back light module for liquid crystal display
US7325961B2 (en) 2002-10-23 2008-02-05 Hannstar Display Corp. Polarized light source device and back light module for liquid crystal display

Also Published As

Publication number Publication date
JP3570206B2 (ja) 2004-09-29

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TWI388094B (zh) 極細同軸線線束及其連接方法、配線板連接體、配線板模組及電子機器
JP2002175859A (ja) スパイラルコンタクタ、これを用いた半導体検査装置及び電子部品
JP2010276510A (ja) 検査用治具
KR100629977B1 (ko) 도전성 접촉자
TW200537566A (en) Socket grid array
JPH09180787A (ja) ケーブルを電気的コネクタに接続する方法および装置
JP3570206B2 (ja) 導通検査装置
TWI281035B (en) Test board for high-frequency system level test
JP2000065892A (ja) 導通検査用治具
JP2976619B2 (ja) 半導体素子検査装置およびその製法
JPH05302938A (ja) プリント配線板の検査治具
JP3397130B2 (ja) 導通検査装置
JP3125450B2 (ja) プリント配線板の検査治具
JP2009047636A (ja) プリント配線板の導通検査治具
JP4655392B2 (ja) 導通検査治具及びその製造方法
JP2003227846A (ja) 導通検査装置
CN108169618B (zh) 一种测试装置及测试方法
JP3018064B2 (ja) コンタクト装置とその製造方法
JP2002048817A (ja) プリント配線板の導通検査治具
JP2002207049A (ja) 四探針測定用コンタクトピンと、コンタクト機器と、被測定物側装置と、測定回路側装置
JP4660864B2 (ja) 導通検査装置
JP3134516B2 (ja) プリント配線板の検査治具
JP2002040050A (ja) プローブ装置及びプローブユニット
JPH06260799A (ja) 回路基板検査方法および回路基板
JP2002286779A (ja) 導通検査治具

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20040601

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20040614

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080702

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20080702

Year of fee payment: 4

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20090702

Year of fee payment: 5

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20100702

Year of fee payment: 6

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110702

Year of fee payment: 7

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120702

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120702

Year of fee payment: 8

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130702

Year of fee payment: 9

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees