JPH11232132A - 電子機器 - Google Patents

電子機器

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JPH11232132A
JPH11232132A JP10035094A JP3509498A JPH11232132A JP H11232132 A JPH11232132 A JP H11232132A JP 10035094 A JP10035094 A JP 10035094A JP 3509498 A JP3509498 A JP 3509498A JP H11232132 A JPH11232132 A JP H11232132A
Authority
JP
Japan
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signal
integrated circuit
supplied
analog integrated
output
Prior art date
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Pending
Application number
JP10035094A
Other languages
English (en)
Inventor
Jun Hiyoshi
潤 日吉
Hiroyuki Niimi
浩幸 新美
Kenta Tanaka
謙太 田中
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Sony Corp filed Critical Sony Corp
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  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 調整作業を容易にして製造コストの上昇を抑
制する。 【解決手段】 映像信号処理用のデジタル集積回路30
0で処理された信号が出力ピン302に取り出されると
共に、この集積回路300に内蔵された所定の信号発生
回路350からの信号が出力ピン302に取り出され
る。この出力ピン302からの信号が映像信号入出力用
のアナログ集積回路200の入力ピン6に供給され、こ
の入力ピン6からの信号が低域通過フィルタ7を通じて
クロマ信号の帯域を阻止する帯域阻止フィルタ8に供給
される。さらにこのクロマ信号の阻止された輝度信号が
出力ピン9から輝度信号が出力端子400に取り出され
る。そして調整時には信号発生回路350で例えば10
0%クロマ信号が形成され、この信号が出力ピン302
から集積回路200の入力ピン6に供給され、さらに出
力端子400に取り出される信号が波形モニタ装置60
0に供給される。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、例えばカメラ一体
型の映像記録再生装置に使用して好適な電子機器に関す
る。詳しくは電子機器内に検査用信号の発生手段を設け
て、機器の調整等を容易に行えるようにするものであ
る。
【0002】
【従来の技術】例えばカメラ一体型の映像記録再生装置
のような電子機器においては、近年、製品性能の向上や
安定化の目的で、内部の制御や信号処理等をデジタル処
理で行うことが進められている。しかしながらこのよう
なデジタル処理を進めても、例えば映像信号の入出力部
等には信号のアナログ処理を行うアナログ集積回路や外
付け部品等を設けることが不可避である。
【0003】ところでこのようなアナログ集積回路や外
付け部品等においては、製造プロセスのばらつき等によ
る特性の変化が避けられないものである。そこでこのよ
うな特性の変化を補正する等の目的で、装置製造時の調
整が行われる。すなわち図3には、例えばカメラ一体型
の映像記録再生装置における映像信号入出力用のアナロ
グ集積回路の一例の構成を示している。
【0004】この図3において、例えば映像信号の入力
端子100が映像記録再生装置の外筐(図示せず)に設
けられる。この入力端子100に供給される映像信号
が、映像信号入出力用のアナログ集積回路200の入力
ピン201に供給される。この集積回路200では、例
えば入力ピン201に供給された信号が増幅器202を
通じてクランプ回路203に供給され、例えばペデスタ
ルレベルでクランプされた信号が低域通過フィルタ20
4を通じて出力ピン205に取り出される。
【0005】この出力ピン205に取り出された信号
は、例えば後段の信号処理用のデジタル集積回路300
の入力ピン301に入力される。この入力ピン301に
入力された信号に対しては、この集積回路300やさら
に後段の回路(図示せず)等でそれぞれ所定の処理(記
録再生等)が行われる。そしてこの処理された信号が集
積回路300の出力ピン302に出力される。
【0006】この出力ピン302に取り出される信号が
集積回路200の入力ピン206に供給される。そして
この入力ピン206に供給された信号が、例えば映像信
号の内の輝度信号の場合には、この輝度信号が低域通過
フィルタ207と後述するセレクタ208を通じてクロ
マ信号の帯域を阻止する帯域阻止フィルタ209に供給
され、クロマ信号の阻止された輝度信号が出力ピン21
0に取り出される。さらにこの出力ピン210からの輝
度信号が出力端子400に取り出される。
【0007】そしてこの装置において、例えばアナログ
集積回路200に設けられる帯域阻止フィルタ209の
検査を行う場合には、例えば信号発生装置500で10
0%クロマ信号のような複合映像信号を形成する。そし
てこの映像信号を上述の入力端子100に供給すると共
に、例えばクランプ回路203からの信号が帯域阻止フ
ィルタ209に供給されるように上述のセレクタ208
を切り換える。さらに出力端子400に取り出される信
号を波形モニタ装置600に供給する。
【0008】ここで帯域阻止フィルタ209で本来の機
能が充分に発揮されていれば、上述の信号発生装置50
0で形成された複合映像信号の内のクロマ信号の成分が
除去され、残りの輝度信号の成分のみが出力端子400
に取り出されて波形モニタ装置600で観測される。こ
れに対して特性の変化等によって帯域阻止フィルタ20
9の機能が不充分な場合には、除去されずに残ったクロ
マ信号の成分が出力端子400に取り出されて波形モニ
タ装置600で観測されることになる。
【0009】そこでこの波形モニタ装置600で出力端
子400からの信号を観測して、この内のクロマ信号成
分のレベルが所定の基準値以下になるように帯域阻止フ
ィルタ209の調整が行われる。すなわち上述の集積回
路200には帯域阻止フィルタ209等の特性を調整す
るための基準電流調整回路211が設けられる。そして
この調整回路211に、例えば制御用のマイクロコンピ
ュータ700からの制御信号が制御ピン212を通じて
供給されることによって調整が行われる。
【0010】なお、上述の帯域阻止フィルタ209の機
能の変化が、例えば集積回路200の製造プロセスのば
らつきによって生じている場合には、他の低域通過フィ
ルタ204、207にも全く同様の変化が生じていると
判断することができる。そこで上述の帯域阻止フィルタ
209の調整を行った結果に基づいて、これらの低域通
過フィルタ204、207の調整も同時に行うことがで
きる。図示の装置は、そのような調整を行う構成を示し
ているものである。
【0011】
【発明が解決しようとする課題】ところが上述の装置に
おいて、調整を行う際には、一々、信号発生装置500
と波形モニタ装置600を入力端子100及び出力端子
400に接続しなければならず、調整の作業に掛かる時
間が長くなって全体の製造コストが増大する。またこの
ような調整は、上述の映像信号入出力用のアナログ集積
回路200以外にも数多く存在するため、それらのそれ
ぞれに信号発生装置と波形モニタ装置を用意することも
製造コストの上昇を招くものである。
【0012】この出願はこのような点に鑑みて成された
ものであって、解決しようとする問題点は、従来の装置
では各調整点ごとに信号発生装置と波形モニタ装置を用
意してこれらを接続するための作業時間やコストが増大
し、全体の製造コストの上昇を招いていたというもので
ある。
【0013】
【課題を解決するための手段】このため本発明において
は、アナログ集積回路等への情報信号の供給路に所定の
検査用信号の発生手段を内蔵するようにしたものであっ
て、これによれば、信号発生手段を用意したり、これを
接続するなどの作業を削減することができ、調整作業を
容易にして全体の製造コストの上昇を抑制することがで
きる。
【0014】また、検査用信号の検査手段も内蔵するこ
とによって、調整用の装置等を全く不要にして調整作業
を自動化することができ、調整時間を短縮してコストの
上昇をさらに抑制することができると共に、出荷後の修
理サービス等での調整も容易に行うことができる。
【0015】
【発明の実施の形態】すなわち本発明は、少なくともア
ナログ集積回路及び/または外付け部品を有する電子機
器であって、アナログ集積回路及び/または外付け部品
への情報信号の供給路に所定の検査用信号の発生手段を
内蔵してなるものである。
【0016】
【実施例】以下、図面を参照して本発明を説明するに、
図1は本発明を適用した電子機器の要部の一例の構成を
示すブロック図である。
【0017】図1において、例えば映像信号の入力端子
100が映像記録再生装置の外筐(図示せず)に設けら
れる。この入力端子100に供給される映像信号が、映
像信号入出力用のアナログ集積回路200の入力ピン1
に供給される。この集積回路200では、例えば入力ピ
ン1に供給された信号が増幅器2を通じてクランプ回路
3に供給され、例えばペデスタルレベルでクランプされ
た信号が低域通過フィルタ4を通じて出力ピン5に取り
出される。
【0018】この出力ピン5に取り出された信号は、例
えば後段の信号処理用のデジタル集積回路300の入力
ピン301に入力される。この入力ピン301に入力さ
れた信号に対しては、この集積回路300やさらに後段
の回路(図示せず)等でそれぞれ所定の処理(記録再生
等)が行われ、処理された信号が集積回路300の出力
ピン302に出力される。それと共に、この出力ピン3
02には、例えば集積回路300に内蔵された所定の信
号発生回路350からの信号も出力される。
【0019】そしてこの出力ピン302に取り出される
信号が集積回路200の入力ピン6に供給される。この
入力ピン6に供給された信号が、例えば映像信号の内の
輝度信号の場合には、この輝度信号が低域通過フィルタ
7を通じてクロマ信号の帯域を阻止する帯域阻止フィル
タ8に供給され、このクロマ信号の阻止された輝度信号
が出力ピン9に取り出される。さらにこの出力ピン9か
らの輝度信号が出力端子400に取り出される。
【0020】この装置において、例えばアナログ集積回
路200に設けられる帯域阻止フィルタ8の検査を行う
場合には、例えば集積回路300に内蔵された信号発生
回路350で100%クロマ信号を形成する。そしてこ
の信号を出力ピン302から集積回路200の入力ピン
6に供給する。さらに出力端子400に取り出される信
号を波形モニタ装置600に供給する。
【0021】この場合に、帯域阻止フィルタ8で本来の
機能が充分に発揮されていれば、信号発生回路350で
形成されたクロマ信号の成分が除去されて残りの信号成
分のみが出力端子400に取り出されて波形モニタ装置
600で観測される。これに対して特性の変化等によっ
て帯域阻止フィルタ8の機能が不充分な場合には、除去
されずに残ったクロマ信号の成分が出力端子400に取
り出されて波形モニタ装置600で観測されることにな
る。
【0022】そこでこの波形モニタ装置600で出力端
子400からの信号を観測して、この内のクロマ信号成
分のレベルが所定の基準値以下になるように帯域阻止フ
ィルタ8の調整が行われる。すなわち上述の集積回路2
00には帯域阻止フィルタ8等の特性を調整するための
基準電流調整回路10が設けられる。そしてこの調整回
路10に、例えば制御用のマイクロコンピュータ700
からの制御信号が制御ピン11を通じて供給されること
によって調整が行われる。
【0023】なお、上述の帯域阻止フィルタ8の機能の
変化が、例えば集積回路200の製造プロセスのばらつ
きによって生じている場合には、他の低域通過フィルタ
4、7にも全く同様の変化が生じていると判断すること
ができる。そこで上述の帯域阻止フィルタ8の調整を行
った結果に基づいて、これらの低域通過フィルタ4、7
の調整も同時に行うことができる。図示の装置は、その
ような調整を行う構成を示しているものである。
【0024】従ってこの装置において、アナログ集積回
路等への情報信号の供給路に所定の検査用信号の発生手
段を内蔵することによって、信号発生手段を用意した
り、これを接続するなどの作業を削減することができ、
調整作業を容易にして全体の製造コストの上昇を抑制す
ることができる。
【0025】これによって、従来の装置では各調整点ご
とに信号発生装置と波形モニタ装置を用意してこれらを
接続するための作業時間やコストが増大し、全体の製造
コストの上昇を招いていたという問題点があったもの
を、本発明によればこれらの問題点を容易に解消するこ
とができるものである。
【0026】さらに図2においては、例えば映像信号入
出力用のアナログ集積回路200の入力ピン1と増幅器
2との間にセレクタ12を設けて、帯域阻止フィルタ8
からの信号が増幅器2に供給されるようにすると共に、
信号処理用のデジタル集積回路300の入力ピン301
に入力される信号を、例えばクロマ信号成分を抽出する
帯域通過フィルタ361を通じて信号振幅検出回路36
1に供給する。そしてこの検出信号をマイクロコンピュ
ータ700に供給する。
【0027】これによってこの装置においては、例えば
集積回路300の信号発生回路350で形成された10
0%クロマ信号が出力ピン302から集積回路200の
入力ピン6に供給される。またこの集積回路200で
は、入力ピン6に供給された信号が、低域通過フィルタ
7及び帯域阻止フィルタ8に供給され、さらにセレクタ
12から増幅器2、クランプ回路3、低域通過フィルタ
4を通じて出力ピン5に取り出される。
【0028】この出力ピン5に取り出された信号が集積
回路300の入力ピン301に供給される。さらにこの
入力ピン301に供給された信号が帯域通過フィルタ3
61を通じて信号振幅検出回路361に供給される。そ
してこの信号振幅検出回路361で検出された信号がマ
イクロコンピュータ700に供給され、制御信号が制御
ピン11を通じて基準電流調整回路10に供給されるこ
とによって、帯域阻止フィルタ8及び低域通過フィルタ
4、7の調整が行われる。
【0029】すなわちこの場合に、帯域阻止フィルタ8
で本来の機能が充分に発揮されていれば、信号発生回路
350で形成されたクロマ信号の成分が除去されて残り
の信号成分のみが信号振幅検出回路361で検出され
る。これに対して特性の変化等によって帯域阻止フィル
タ8の機能が不充分な場合には、除去されずに残ったク
ロマ信号の成分が信号振幅検出回路361で検出される
ことになる。
【0030】そこでこの信号振幅検出回路361で検出
されるクロマ信号成分のレベルが所定の基準値以下にな
るように帯域阻止フィルタ8及び低域通過フィルタ4、
7の調整が行われることによって、これらの回路の特性
の自動調整を行うことができる。なお図示の装置では、
帯域阻止フィルタ8及び低域通過フィルタ4、7や、増
幅器2、クランプ回路3の全ての回路を通過した信号が
検査の対象にされている。
【0031】従ってこの装置においては、検査用信号の
検査手段も内蔵することによって、調整用の装置等を全
く不要にして調整作業を自動化することができ、調整時
間を短縮してコストの上昇をさらに抑制することができ
ると共に、出荷後の修理サービス等での調整も容易に行
うことができる。
【0032】こうして上述の電子機器によれば、少なく
ともアナログ集積回路及び/または外付け部品を有する
電子機器であって、アナログ集積回路及び/または外付
け部品への情報信号の供給路に所定の検査用信号の発生
手段を内蔵することにより、調整作業を容易にして全体
の製造コストの上昇を抑制することができるものであ
る。
【0033】なお上述の説明では、映像信号入出力用の
アナログ集積回路200について説明したが、本発明
は、この他のアナログ集積回路や、抵抗器、コンデンサ
等の集積回路の外付け部品についても同様に調整を行う
際に適用できるものである。
【0034】また本発明は、上述の説明した実施の形態
に限定されるものではなく、本発明の精神を逸脱するこ
となく種々の変形が可能とされるものである。
【0035】
【発明の効果】従って請求項1の発明によれば、アナロ
グ集積回路等への情報信号の供給路に所定の検査用信号
の発生手段を内蔵することによって、信号発生手段を用
意したり、これを接続するなどの作業を削減することが
でき、調整作業を容易にして全体の製造コストの上昇を
抑制することができるものである。
【0036】これによって、従来の装置では各調整点ご
とに信号発生装置と波形モニタ装置を用意してこれらを
接続するための作業時間やコストが増大し、全体の製造
コストの上昇を招いていたという問題点があったもの
を、本発明によればこれらの問題点を容易に解消するこ
とができるものである。
【0037】さらに請求項3の発明によれば、検査用信
号の検査手段も内蔵することによって、調整用の装置等
を全く不要にして調整作業を自動化することができ、調
整時間を短縮してコストの上昇をさらに抑制することが
できると共に、出荷後の修理サービス等での調整も容易
に行うことができるものである。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の適用される電子機器の一例の構成図で
ある。
【図2】本発明の適用される電子機器の他の例の構成図
である。
【図3】従来の電子機器の構成図である。
【符号の説明】
1,6…入力ピン、2…増幅器、3…クランプ回路、
4,7…低域通過フィルタ、5,9…出力ピン、8…帯
域阻止フィルタ、10…基準電流調整回路、11…制御
ピン、12…セレクタ、100…入力端子、200…映
像信号入出力用アナログ集積回路、300…信号処理用
デジタル集積回路、301…入力ピン、302…出力ピ
ン、350…信号発生回路、360…帯域通過フィル
タ、361…信号振幅検出回路、400…出力端子、6
00…波形モニタ装置、700…制御用マイクロコンピ
ュータ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 少なくともアナログ集積回路及び/また
    は外付け部品を有する電子機器であって、 上記アナログ集積回路及び/または外付け部品への情報
    信号の供給路に所定の検査用信号の発生手段を内蔵する
    ことを特徴とする電子機器。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の電子機器において、 上記発生手段からの検査用信号を上記アナログ集積回路
    及び/または外付け部品に供給して検査を行うことを特
    徴とする電子機器。
  3. 【請求項3】 請求項2記載の電子機器において、 上記検査用信号の検査手段を内蔵することを特徴とする
    電子機器。
  4. 【請求項4】 請求項3記載の電子機器において、 上記検査手段からの信号を用いて上記アナログ集積回路
    及び/または外付け部品の調整を行う調整手段を内蔵す
    ることを特徴とする電子機器。
  5. 【請求項5】 請求項1記載の電子機器において、 上記アナログ集積回路及び/または外付け部品からの信
    号が入出力されて所望の処理の行われる信号処理回路の
    中に上記検査用信号の発生手段を設けることを特徴とす
    る電子機器。
  6. 【請求項6】 請求項5記載の電子機器において、 上記発生手段からの検査用信号を任意の一の上記アナロ
    グ集積回路及び/または外付け部品に出力すると共に、 上記一のアナログ集積回路及び/または外付け部品から
    の信号を任意の他の上記アナログ集積回路及び/または
    外付け部品に供給する手段を設け、 上記他のアナログ集積回路及び/または外付け部品から
    上記信号処理回路に入力された信号を検査する検査手段
    を上記信号処理回路の中に設けることを特徴とする電子
    機器。
  7. 【請求項7】 請求項6記載の電子機器において、 上記信号処理回路から取り出される上記検査手段からの
    信号を用いて上記アナログ集積回路及び/または外付け
    部品の調整を行う調整手段を内蔵することを特徴とする
    電子機器。
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