JPH11231026A - 基板通電検査装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 被検査基板の改版或いは被検査基板の機種変
更等に即応した通電検査を可能にする。 【解決手段】 被検査基板４のテストランドを分割して
得られるブロックごとに対応して配設したブロック対応
ピンボード１２に、プローブピン９をそれぞれ所定の配
列パターンに従って支持し、このブロック対応ピンボー
ド１２をピンボードベース１３に個別に着脱自在に保持
し、それぞれスタッド１６をスタッド係合孔１５に係合
させて固定する。柔軟性と拡張性を備えた安価な基板通
電検査装置１１を提供することができる。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、被検査基板の改版
或いは被検査基板の機種変更等に即応した通電検査を可
能にした基板通電検査装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】家電製品や産業機器等に使用されている
基板単体は、製品に組み込む前に機能検査や動作確認を
行う必要がある。こうした場合、一般的には、検査対象
となる被検査基板のフロー面の各テストポイントに検査
用プローブピンを押圧して、検査用プローブピンにより
通電して検査する方法が用いられる。こうした通電検査
には、従来、例えば図４に示す基板通電検査装置が用い
られてきた。

【０００３】同図に示した基板通電検査装置１は、側面
に治具昇降レバー２ａが付いた治具筐体２を有してお
り、この治具筐体２の上面にレバー操作により昇降駆動
される治具天板３が備わっている。被検査基板４は、治
具天板３の上面側に載置支持され、治具昇降レバー２ａ
側に揺動端を有する基板押さえ５により上から押さえ付
けることで固定される。基板押さえ５にロック機構６を
係止させて押さえ付け姿勢をロックし、この状態で治具
昇降レバー２ａを回動操作すると、治具天板３は左右一
対の案内ロッド７に沿って上下方向に昇降駆動される。
治具天板３の下面側には、所定間隔離間させてピンボー
ド８が対向配置されており、治具天板３が下降限界に達
したときに、ピンボード８上に植設された複数のプロー
ブピン９が被検査基板４の各テストポイントに当接す
る。これらのプローブピン９は、ピンボード８に対し所
定の配列パターンをもって植設してあり、被検査基板４
の種類或いは検査内容によって配列パターンは異なる。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】上記従来の基板通電検
査装置１は、被検査基板４の種類を変えたり被検査基板
４のプリントパターンを改版したときに、被検査基板４
の変更とともにテストポイントの位置も変える必要が生
ずるが、こうした場合、例えばピンボード８のみを交換
するか、或いは治具筐体２を含めた装置全体を交換する
ことで対応していた。しかしながら、ピンボード８のみ
を交換するにしても、新たな被検査基板４に対応するピ
ンボード８の製作には相応の日数が必要であり、まして
装置全体を交換する場合は、さらなる製作日程及び製作
費用がその都度新規に発生するといった課題があった。
さらにまた、ピンボード８の一部に不具合が発生した場
合でも、少なくともピンボード８全体の交換が必要であ
り、ピンボード８がボードと配線で構成されているため
に、機種変更時の交換性が悪く、交換に伴う作業負担も
或いはその後の保全作業も含めた負担は相当のものであ
るといった課題を抱えるものであった。

【０００５】本発明は、上記課題を解決したものであ
り、所定パターンに配列されるプローブピンを支持する
ピンボードのプローブピン支持パターンが随意自在に変
更できるようにすることを目的とするものである。

【０００６】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するた
め、本発明は、回路を実装した被検査基板を載置されて
支持する治具と、先端が前記被検査基板のテストランド
の所定位置に当接するプローブピンと、前記テストラン
ドを分割して得られるブロックごとに対応して配設さ
れ、前記プローブピンをそれぞれ所定の配列パターンに
従って支持するブロック対応ピンボードと、該ブロック
対応ピンボードを個別に着脱自在に保持するピンボード
ベースと、該ピンボードベースの所定位置に前記各ブロ
ック対応ピンボードを固定する固定具とを具備すること
を特徴とするものである。

【０００７】また、前記ピンボードベースが、予め設定
した所定の配列パターンをもって配列した複数の固定具
係合手段が配設してあることを特徴とするものである。

【０００８】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施形態を図１な
いし図３を参照して説明する。図１は、本発明の基板通
電検査装置の一実施形態を示す正面図、図２は、図１に
示したブロック対応ピンボードの配置例を示す平面図、
図３は、図１に示したブロック対応ピンボードの他の配
置例を示す平面図である。

【０００９】図１に示す基板通電検査装置１１は、プロ
ーブピン９を被検査基板４のフロー面所定位置のテスト
ポイントに当接させて通電検査を行う点は従来装置と同
じであるが、従来１枚であったピンボード８を複数のブ
ロック対応ピンボード１２に分割し、これらのブロック
対応ピンボード１２をピンボードベース１３の所定位置
に随意の配置パターンをもって取り付けられるよう構成
したものである。すなわち、治具天板３に支持される被
検査基板４のテストランドを複数のブロックに分割し、
各ブロックごとに対応してブロック対応ピンボード１２
を設けてある。各ブロック対応ピンボード１２には、複
数のプローブピン挿通孔１４が穿設してあり、またピン
ボードベース１３には、複数のスタッド係合孔１５が穿
設してある。

【００１０】プローブピン挿通孔１４は、複数のブロッ
クに分割したテストランドの各ブロックに含まれる検査
対象となる複数のテストポイントの位置に対応させて穿
設してある。従って、プローブピン挿通孔１４に挿通保
持させたプローブピン９は、ブロック対応ピンボード１
２をピンボードベース１３の所定位置に組み付けたとき
に、先端の配列パターンがテストポイントの散在パター
ンに対応する。一方また、スタッド係合孔１５は、被検
査基板４を離間対向させてピンボードベース１３へ仮想
転写した複数のブロックの各四隅に穿設してあり、各ブ
ロック対応ピンボード１２ごとに下面四隅に下方に向け
て植設した固定具としてのスタッド１６を係合させるこ
とで、各ブロック対応ピンボード１２を所定位置に保持
する。すなわち、スタッド係合孔１５が固定具係合手段
となる。

【００１１】図２に例示したピンボードベース１３は、
その上面をそれぞれ特定形状のブロックに分割し、各ブ
ロックに対応する形状の複数のブロック対応ピンボード
１２が隙間なく配設してある。最も形状の小さなブロッ
ク対応ピンボード１２は、四隅に植設にされたスタッド
１６が囲む中央部２箇所にプローブピン挿通孔１４が穿
設してあり、各プローブピン挿通孔１４に保持したプロ
ーブピン９が対応ブロック内において所定のテストポイ
ントに当接するようになっている。また、最も形状の大
きなブロック対応ピンボード１２も、四隅に植設にされ
たスタッド１６が囲む平面に９５個のプローブピン挿通
孔１４が穿設してあり、各プローブピン挿通孔１４に保
持したプローブピン９が対応ブロック内において所定の
テストポイントに当接するようになっている。

【００１２】被検査基板４の通電検査に際しては、ま
ず、被検査基板４のテストランドに散在するテストポイ
ントを複数のブロックに分け、各ブロックごとにブロッ
ク対応ピンボード１２を用意し、必要なブロック対応ピ
ンボード１２をそれぞれピンボード１３上の所定位置に
固定する。この固定は、スタッド係合孔１５にスタッド
１６を係合させることで行われ、固定完了とともに各ブ
ロック対応ピンボード１２が支持するプローブピン９が
先端を上に向け、槍襖のごとき状態で林立する。次に、
被検査基板４を治具天板３に固定し、治具筐体２側面に
取り付けられた治具昇降レバー２ａを手前側に回動操作
する。これにより、案内ロッド７に沿って治具天板３と
ともに被検査基板４が水平下降する。治具天板３が下降
限界位置まで下降すると、各ブロック対応ピンボード１
２が支持するプローブピン９の先端が、それぞれ対応す
るブロック内のテストポイントに当接し、通電検査を行
うことができる。

【００１３】通電検査を終えた後は、治具昇降レバー２
ａを天板下降時とは逆方向に回動操作する。これによ
り、被検査基板４は治具天板３とともに水平上昇し、被
検査基板４のフロー面はプローブピン９先端から離脱す
る。治具天板３が上昇し切った後、被検査基板４を取り
外し、次に検査する被検査基板４を治具天板３に取り付
け、同様の検査工程を繰り返し行う。

【００１４】このように、上記基板通電検査装置１１
は、被検査基板４のテストランドを分割して得られるブ
ロックごとに対応して配設したブロック対応ピンボード
１２に、プローブピン９をそれぞれ所定の配列パターン
に従って支持し、このブロック対応ピンボード１２をピ
ンボードベース１３に個別に着脱自在に保持し、それぞ
れスタッド１６をスタッド係合孔１５に係合させて固定
する構成としたから、１枚の被検査基板４に対して１枚
のピンボード８を対応させるのではなく、複数のブロッ
クに分割したブロック対応ピンボード１２を寄せ集める
ことで１枚のピンボードを形成することができる。各ブ
ロック対応ピンボード１２は個別に随意かつ自在に交換
できるため、被検査基板４の改版或いは被検査基板４の
機種変更等に即応した必要最小限の修正対応が容易に可
能であり、また被検査基板４のテストランドに対しブロ
ックごとに用意されるブロック対応ピンボード１２は、
個々に取り外して補修或いは保全できるので維持管理が
容易であり、柔軟性と拡張性を備えた安価な基板通電検
査装置１１を提供することができる。

【００１５】また、ピンボードベース１３は、予め設定
した所定の配列パターンをもって配列した複数のスタッ
ド係合孔１５が穿設してあるため、スタッド１６に係合
して位置決めするスタッド係合孔１５の配列パターンを
変えることで、通電検査モジュールとも言えるブロック
対応ピンボード１２の取り付け位置を自在に調整し、必
要最小限のコスト負担をもって被検査基板４の改版或い
は被検査基板４の機種変更等に即応することができる。

【００１６】なお、図２に示した実施形態では、ブロッ
ク対応ピンボード１２をピンボードベース１３上に隙間
なく配設した場合を例にとったが、ブロック対応ピンボ
ード１２はあくまで被検査基板４のテストランドに対応
するものである。従って、図３に示したように、テスト
ランドを構成するテストポイントの散在パターンによっ
ては、一部のブロック対応ピンボード１２を取り外し、
必要な残りだけをピンボードベース１３上に配列するこ
ともできる。

【００１７】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
被検査基板のテストランドを分割して得られるブロック
ごとに対応して配設したブロック対応ピンボードに、プ
ローブピンをそれぞれ所定の配列パターンに従って支持
し、このブロック対応ピンボードをピンボードベースに
個別に着脱自在に保持し、それぞれ固定具により固定す
る構成としたから、１枚の被検査基板に対して１枚のピ
ンボードを対応させるのではなく、複数のブロックに分
割したブロック対応ピンボードを寄せ集めることで１枚
のピンボードを形成することができ、各ブロック対応ピ
ンボードは個別に随意かつ自在に交換できるため、被検
査基板の改版或いは被検査基板の機種変更等に即応した
必要最小限の修正対応が容易に可能であり、また被検査
基板のテストランドに対しブロックごとに用意されるブ
ロック対応ピンボードは、個々に取り外して補修或いは
保全できるので維持管理が容易であり、柔軟性と拡張性
を備えた安価な基板通電検査装置を提供できる等の優れ
た効果を奏する。

【００１８】また、ピンボードベースは、予め設定した
所定の配列パターンをもって配列した複数の固定具係合
手段が配設してあるため、固定具に係合して位置決めす
る固定具係合手段の配列パターンを変えることで、通電
検査モジュールとも言えるブロック対応ピンボードの取
り付け位置を自在に調整し、必要最小限のコスト負担を
もって被検査基板の改版或いは被検査基板の機種変更等
に即応することができる等の効果を奏する。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の基板通電検査装置の一実施形態を示す
正面図である。

【図２】図１に示したブロック対応ピンボードの配置例
を示す平面図である。

【図３】図１に示したブロック対応ピンボードの他の配
置例を示す平面図である。

【符号の説明】

３ 治具天板 ４ 被検査基板 ９ プローブピン １１ 基板通電検査装置 １２ ブロック対応ピンボード １３ ピンボードベース １４ プローブピン挿通孔 １５ スタッド係合孔 １６ スタッド

Claims (2)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 回路を実装した被検査基板を載置されて
   支持する治具と、先端が前記被検査基板のテストランド
   の所定位置に当接するプローブピンと、前記テストラン
   ドを分割して得られるブロックごとに対応して配設さ
   れ、前記プローブピンをそれぞれ所定の配列パターンに
   従って支持するブロック対応ピンボードと、該ブロック
   対応ピンボードを個別に着脱自在に保持するピンボード
   ベースと、該ピンボードベースの所定位置に前記各ブロ
   ック対応ピンボードを固定する固定具とを具備すること
   を特徴とする基板通電検査装置。
2. 【請求項２】 前記ピンボードベースは、予め設定した
   所定の配列パターンをもって配列した複数の固定具係合
   手段が配設してあることを特徴とする請求項１記載の基
   板通電検査装置。