JPH11230720A - 3次元情報計測方法及び装置 - Google Patents

3次元情報計測方法及び装置

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JPH11230720A
JPH11230720A JP3082598A JP3082598A JPH11230720A JP H11230720 A JPH11230720 A JP H11230720A JP 3082598 A JP3082598 A JP 3082598A JP 3082598 A JP3082598 A JP 3082598A JP H11230720 A JPH11230720 A JP H11230720A
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JP3082598A
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Toshio Norita
寿夫 糊田
Takashi Kondo
尊司 近藤
Hideo Fujii
英郎 藤井
Fumiya Yagi
史也 八木
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Minolta Co Ltd
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Minolta Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】 【課題】比較的簡単な構成で対象物の3次元情報を全周
又は多視点から高速に計測し入力すること。 【解決手段】回転体型ミラー11とその中心軸に受光軸
が一致するように配置された撮像装置12とを用い、回
転体型ミラー11の内側の空間に配置された対象物OB
の3次元情報を計測する3次元情報計測方法であって、
中心軸上から回転体型ミラー11に向けて参照光を投射
し、参照光の回転体型ミラーによる反射光であるミラー
反射参照光によって対象物OBを走査し、参照光の投射
角度θyに対応する物理量と、対象物OBを走査したミ
ラー反射参照光が回転体型ミラーを介して撮像装置で撮
像されたときに得られる投影像の位置に対応する物理量
とに基づいて、対象物OBの3次元情報を求める。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、物体又は人体など
の対象物の3次元情報をその全周又は多視点(多方向)
から計測し入力するための3次元情報計測方法及び装置
に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より、医療又はアパレルの分野など
において、対象物である人体又は物体などの全周の3次
元情報の計測が行われている。
【0003】従来の3次元情報計測方法として、次に示
す方法が提案されている。 投光系と受光系とを一体に構成した距離測定装置を
用い、対象物を固定し、距離測定装置の視線が対象物の
方を向いた状態で、距離測定装置を対象物を中心とする
円周上を移動(回転)させる。その結果、対象物の全周
の距離情報が得られるので、これを基に対象物の3次元
情報を求める(特開平5−223547号)。 距離測定装置を固定し、対象物の方を移動させるこ
とによって同様の方法で3次元情報を求める(特開平5
−322526号)。例えば、回転するステージの上に
対象物を載せる。距離測定装置の投光系から対象物に向
けて参照光を照射し、その反射光を複数のミラーを介し
て受光系であるテレビカメラに取り込む。対象物の距離
情報が全周にわたって得られるので、これを基に3次元
情報を求める。 また、距離測定装置及び対象物のいづれも回転させ
ない方法もある。この方法では、投光系と受光系とを一
対とした距離測定装置を対象物の周りの数カ所に設置
し、各距離測定装置によって対象物の距離情報をワンシ
ョットの操作で得て、その距離情報を基に対象物の3次
元情報を求める(特開平3−138508号)。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上述したの
方法によると、距離測定装置を移動させるための機構が
複雑なものとなる。また、装置の動作を安定させ且つ安
全を確保する必要上、距離測定装置の移動速度を余り高
速にはできない。このため、計測に必要な時間が長くな
る。したがって、対象物が人間や動物のような生物であ
る場合には、計測中に対象物が動いてしまうことがある
ので、計測が極めて困難である。
【0005】また、上述したの方法においても、の
方法と同様にステージを回転駆動する機構が大型化し且
つ複雑なものとなり、且つ計測に必要な時間が長くなる
という問題がある。
【0006】上述のの方法においては、対象物の全周
の距離情報がワンショットの操作で得られるため、上述
の及びで生じた回転のための機構の複雑化の問題及
び計測に必要な時間が長いという問題は解決されるが、
距離測定装置を複数台必要とするためコストが高くつ
く。また、複数台の距離測定装置を用いることから、複
数の受光系によって得られる3次元情報を互いに結合さ
せるための画像の貼り合わせ処理を行う必要があり、処
理が複雑なものとなる。
【0007】本発明は、上述の問題に鑑みてなされたも
ので、比較的簡単な構成で対象物の3次元情報を全周又
は多視点から高速に計測し入力するための3次元情報計
測方法及び装置を提供することを目的とする。
【0008】
【課題を解決するための手段】請求項1の発明に係る方
法は、回転体型ミラーと当該回転体型ミラーの中心軸に
受光軸が一致するように配置された撮像装置とを用い、
前記回転体型ミラーの内側の空間に配置された対象物の
3次元情報を計測する3次元情報計測方法であって、前
記中心軸上から前記回転体型ミラーに向けて参照光を投
射し、当該参照光の前記回転体型ミラーによる反射光で
あるミラー反射参照光によって前記対象物を走査し、前
記参照光の投射角度に対応する物理量と、前記対象物を
走査した前記ミラー反射参照光が前記回転体型ミラーを
介して前記撮像装置で撮像されたときに得られる投影像
の位置に対応する物理量とに基づいて、前記対象物の3
次元情報を求める。
【0009】請求項2の発明に係る装置は、回転体型ミ
ラーと当該回転体型ミラーの中心軸に受光軸が一致する
ように配置された撮像装置とを用い、前記回転体型ミラ
ーの内側の空間に配置された対象物の3次元情報を計測
する3次元情報計測装置であって、前記中心軸上から前
記回転体型ミラーに向けて参照光を投射する参照光投射
手段と、前記参照光の前記回転体型ミラーによる反射光
であるミラー反射参照光が前記対象物の周方向の走査を
行うように前記参照光を偏向する主走査手段と、前記ミ
ラー反射参照光が前記対象物の前記中心軸に沿った方向
の走査を行うように前記参照光の投射角度を偏向する副
走査手段と、前記参照光の投射角度に対応する物理量
と、前記対象物を走査した前記ミラー反射参照光が前記
回転体型ミラーを介して前記撮像装置で撮像されたとき
に得られる投影像の位置に対応する物理量とに基づい
て、前記対象物の3次元情報を求める3次元情報算出手
段と、を有してなる。
【0010】投射角度に対応する物理量として、投射角
度それ自体、又は投射角度に関連した物理量、例えば、
副走査を開始してからの経過時間、投射角度を偏向する
ための機構の移動量などが用いられる。投影像の位置に
対応する物理量として、投影像の位置の基準位置からの
距離、投影像が投影された画素の座標値、又は投影像が
投影された画素のにらむ方向などが用いられる。
【0011】本明細書における「中心軸上」には、中心
軸上及びその周辺を含む。また、本明細書における「回
転体型ミラー」には、例えば細長い長方形の平面ミラー
を多数組み合わせて近似的に回転体型の形状としたもの
も含む。
【0012】
【発明の実施の形態】図1は本発明に係る3次元情報計
測装置1の構成を示す図である。図1において、3次元
情報計測装置1は、映像ミラー11、撮像装置12、及
び参照光投射装置13などから構成される。
【0013】映像ミラー11は、逆円錐台の内部を中空
とした形状を備え、且つその内周面を反射面11Sとし
た回転体型ミラー(又は回転面型ミラー)である。つま
り、映像ミラー11は、その中心軸である軸Jが鉛直方
向に沿うように、且つ円錐台形状の大きい方の端面が上
側になるように設置されている。映像ミラー11はこの
ような形状であるため、映像ミラー11の内側に配置さ
れる物体OBは、その全周の像が反射面11Sに写し出
される。
【0014】映像ミラー11の上方には、受光軸が軸J
に一致するように撮像装置12が設けられている。撮像
装置12は光学レンズ及び撮像素子71を備える。撮像
装置12として、例えばビデオカメラが用いられる。撮
像装置12には映像ミラー11で反射した光が全周にわ
たって入射するので、撮像装置12によって物体OBの
全周、つまり物体OBの全方位を対象とした撮影が可能
である。したがって、物体OBの軸Jのまわりの全ての
視点からの像は、物体OBの頂点付近を除き、撮像装置
12の撮像素子71により同時に撮像される1つの画像
の中に取り込まれることとなる。
【0015】撮像装置12の下方には、軸Jに沿って、
参照光投射装置13が設置されている。参照光投射装置
13は、撮像装置12による受光の邪魔にならないよう
に、その形状、大きさ、及び配置位置などが決定されて
いる。つまり、撮像装置12から見た視野の中で、映像
ミラー11の反射面11Sが存在せず、3次元情報の入
力に関与しない中央付近の円筒状の領域の中に収まるよ
うに、参照光投射装置13が配置されている。
【0016】さて、参照光投射装置13は、参照光ビー
ムを映像ミラー11に向けて投射する。参照光投射装置
13は、参照光ビームの投射方向を、図1の矢印Aで示
すように映像ミラー11の軸Jを中心に全周外方に向か
うように偏向することが可能に、且つ、図1に矢印Bで
示すように参照光ビームの投射角度θyを鉛直面内で偏
向することが可能に、構成されている。周方向の偏向
は、モータ又はモータとギヤなどを用いた駆動装置によ
り、参照光投射装置13の全部又は一部を回転移動させ
ることにより実現される。鉛直方向の偏向は、例えばガ
ルバノスキャナのような走査テバイスを使用することに
より容易に実現可能である。
【0017】参照光投射装置13から投射された参照光
ビームは、映像ミラー11によって反射される。反射さ
れた参照光ビームによって、物体OBを全周にわたって
走査し、且つ軸Jに沿った方向に走査する。反射された
参照光ビームは、本発明におけるミラー反射参照光に相
当する。本明細書において、軸Jを中心とする周方向の
走査が主走査であり、軸Jに沿った方向の走査が副走査
である。
【0018】3次元情報計測装置1では、上述した主走
査と副走査とを組み合わせることによって、物体OBの
全ての方位について走査が行われ、後述する3次元情報
算出部PRによって3次元情報の算出が行われる。
【0019】次に、物体OBの全周の像が映像ミラー1
1に写し出され、その像が撮像装置12によって撮像さ
れる原理について説明する。図2は撮像装置12によっ
て物体OBの全周の像が撮像される原理を説明するため
の図、図3は撮像装置12によって撮像された映像ミラ
ー11及び映像ミラー11に写し出された物体OBの画
像を示す図である。
【0020】図2に示されるように、原点をOとし、鉛
直方向にh軸をとり、映像ミラー11の半径方向にr軸
をとった座標系において、映像ミラー11の形状は、次
の(1)式で表される。
【0021】r=h・tanθm+R ……(1) ここで、Rは映像ミラー11の幾何学上の底部における
半径、θmは鉛直軸と映像ミラー11の母線つまり反射
面11Sとのなす角度である。
【0022】ここで、角度θm、映像ミラー11と撮像
装置12との間の距離、及び撮像装置12の画角など
は、映像ミラー11の内側に物体OBが置かれた場合に
物体OBの全周の画像を撮像装置12で捉えることがで
きるように、それぞれ設定されている。
【0023】例えば、物体OB上の点P1,点P2は、
それぞれ経路l,l’、経路m,m’を経て撮像装置1
2によって撮像される。このような考え方を物体OBの
全ての点に適用することによって、物体OBの全周の像
が撮像装置12によって撮像されることになる。
【0024】図3において、画像OBZは、物体OBが
反射面11Sにおいて写し出された像である。画像OB
Z上の点Piは、図1における物体OB上の点Pに対応
している。 〔3次元情報の算出方法の説明〕次に、3次元情報算出
部PRにおける3次元情報の算出処理について説明す
る。まず、3次元情報の算出の原理について説明する。
【0025】図1において、参照光投射装置13から投
射角度θyで投射された参照光ビームは、経路yを経
て、映像ミラー11で反射された後、経路y’を経て物
体OBを照射する。その後、物体OBで反射され、経路
x,x’を経て撮像装置12に入射する。
【0026】ここで、図1における物体OB上の点Pの
像が、図3の画像OBZにおける中心O1から距離(像
高)riの点Piとして観測されているとする。3次元
情報計測装置1は軸Jについて対称であるので、簡単化
のために周方向の角度位置を固定し、軸Jを含むある鉛
直面内で説明する。このとき、点Pは、距離riを用い
た次の(2)式で示される直線L1上に存在する。
【0027】r=h・tan{atan(ri/H)+
2θm}+R [H・tan{atan(ri/H)+2
θm}+ri]/(H・tanθm+ri) 但し、ここでは撮像装置12のレンズ系の主点位置73
をh=0の位置とし、撮像素子71をh=Hの位置とし
ている。
【0028】一方、あるタイミシグにおいて、参照光ビ
ームが経路yからy’を経て点P上に到達しているとす
る。ここで、参照光ビームの投射起点の位置、つまり参
照光投射装置13の位置をh=hyの位置とする。参照
光ビームは、ある投射角度θyにおいて、経路yを経て
反射面11Sに到達し、反射後には次の(3)式で示さ
れる経路y’をたどる。つまり、点Pは経路y’を示す
直線L2上に存在する。
【0029】 r=h・tan(θy+2θm) +{tanθy(hy・tanθm+R) −tan(θy+2θm)(hy・tanθy−R)} /(tanθm+tanθy) ……(3) 以上から、点Pの位置は経路xと経路y’との交点つま
り直線L1と直線L2との交点として定まることにな
る。したがって、点Pの位置は、距離riと参照光ビー
ムの投射角度θyとから算出することが可能である。
【0030】撮像装置12には、映像を電気信号に変換
するためにCCDなどの撮像素子が使用されている。現
在において実用化されている撮像素子の多くは、直交座
標系に配列された多数の受光素子で構成されている。
【0031】このことから、点Pの位置は、撮像素子7
1上において点Piとして結像している画素が、投射角
度θyを変化させて刻々と走査されていく参照光ビーム
のうちのどの時点の投射に基づくものであるかを知るこ
とにより求めることができる。何となれば、参照光投射
装置13を、何らかの一定の手段で制御しておくこと
は、すなわち、走査開始からの経過時間を参照光ビーム
の投射角度θyに対応づけることを可能とするからであ
る。一方、距離riは、撮像素子71上における光軸に
相当する位置の画素の座標を明らかにしておくことにょ
って、点Piの画素の座標から求めることが可能であ
る。
【0032】上述したような処理、つまり距離riと投
射角度θyとに基づき直線L1及び直線L2を求めそれ
らの交点から点Pの位置を算出するという処理を、図1
の矢印A方向の1回転について繰り返すことによって、
ある水平断面に関する物体OBの輪郭形状を求めること
ができる。さらにこの処理を図1の軸Jに沿った矢印B
方向の副走査に対して繰り返せば、その輪郭形状を鉛直
方向に積み重ねていくこととなり、軸Jに沿った方向に
ついての物体OBの全周の3次元形状の情報を獲得する
ことができる。
【0033】いま、参照光ビームの像を撮像装置12で
撮像し、撮像素子71上のある画素の出力に注目してい
ると、その画素上に結象している物体OB上の点を参照
光ビームが通過する際に、その出力が極大値を示す。し
たがって、各画素について、その出力がピークを示すタ
イミングを記録する処理を行えばよいこととなる。
【0034】次に、撮像素子71上の各画素と、その各
画素が参照光ビームにより照射されるタイミングとを、
互いに関連づけつつ記録する処理を行い、出力のピーク
の情報を検出するための具体的な回路を説明する。
【0035】図4は3次元情報計測装置1の処理回路
(3次元情報算出部)の回路の例を示すブロック図、図
5は3次元情報計測装置1の処理回路の他の例を示すブ
ロック図、図6は撮像素子71上における投射光(参照
光ビーム)の太さ及び輝度の一例を示す図、図7は撮像
素子71のある1つの画素に注目して、投射光によって
1フレーム毎に照射されるときの光量の変化をプロット
した図、図8は画像データの時間重心演算を行う処理回
路10の構成を示すブロック図である。
【0036】なお、図4において、矢印記号のうち太い
矢印記号は主としてデータの流れを示し、細い矢印記号
は主として指令の流れを示す。図5においても同様であ
る。図4に示されるように、処理回路PR1は、2つの
メモリバンク81,82、比較器83、及びフレーム番
号発生器84から構成される。メモリバンク81及びメ
モリバンク82は、それぞれ撮像装置12によって得ら
れる画像と同じサイズの記憶容量を有したメモリであ
る。
【0037】撮像素子71から出力されるアナログの画
像データは、公知のアナログ処理回路を経てA/D変換
された後、デジタルの画像データとして処理回路PR1
に入力される。
【0038】一方のメモリバンク81には、各画素の画
像データのうち輝度値が書き込まれる。他方のメモリバ
ンク82には、撮像素子71の各画素について輝度がピ
ーク値を示す時点の画像のフレーム番号が書き込まれ
る。ここで、画像のフレーム番号は、3次元情報を入力
するための上述のプロセスが開始されてからの経過時間
に対応する。したがって、図1の矢印Bの方向のある投
射角度θyに対する矢印Aの方向の参照光ビームの走査
1回転分が1フレームに相当するようにしておけば、こ
れはすなわち走査していく参照光ビームの矢印Bの方向
の投射角度θyに対応することになる。つまり、画像の
フレーム番号は、物体OBを副走査方向に走査する際の
投射光の投射角度θyに対応することとなる。
【0039】処理回路PR1に入力される画像データの
輝度値S11は、比較器83によって、各画素の過去の
最大輝度値を記憶しているメモリバンク81の当該画素
の輝度値S12と比較される。もし、入力された輝度値
S11がメモリバンク81に記憶されている輝度値S1
2よりも大きければ、メモリバンク81のその画素に相
当する番地の輝度値を輝度値S11に書き換えた上、メ
モリバンク82の当該番地の内容をフレーム番号発生器
84から供給されるフレーム番号に書き換える。
【0040】この処理を、撮像素子71の画素配列のラ
イン数、及びその他の条件から定まる総フレーム数だけ
繰り返すと、メモリバンク81には、各画素の出力がピ
ーク値になったときの輝度値が記憶され、また、メモリ
バンク82にはそれに対応するフレーム番号が記憶され
ることになる。メモリバンク82に記憶されたフレーム
番号をもとに、各画素について、輝度がピーク値を示す
時点の投射光の投射角度θyが求められる。
【0041】なお、各フレームにおいて図1の矢印Aの
方向についての参照光ビームの投射角度については、各
画素の光軸に対する方位角をそのまま適用すればよい。
処理回路PR1によると、比較的簡単な回路構成によっ
て投射光(参照光ビーム)の投射角度θy(又はそれに
対応する物理量)を求めることができる。しかし、処理
回路PR1においては、投射角度θyの分解能を撮像素
子71の画素ピッチより高くすることはできない。
【0042】そこで、処理回路PR1の回路構成を発展
させ、投射角度θyを求めるに際し、より高い分解能を
達成することのできる処理回路PR2について、図5を
参照して説明する。
【0043】図5に示されるように、処理回路PR2
は、ディレイメモリ96a,96b,96c,96d、
メモリバンク91,92,93,94,95,98、比
較器97、及びフレーム番号発生器99から構成され
る。各メモリバンク91〜95,98は、それぞれ撮像
装置12によって得られる画像と同じサイズの記憶容量
を有したメモリである。ディレイメモリ96a〜dは、
入力される画像データをそれぞれ1フレームずつ遅延さ
せる。
【0044】ディレイメモリ96a〜dは、それぞれ直
列に接続されており、各ディレイメモリ96a〜dの出
力信号は、それぞれメモリバンク92〜95に取り込ま
れる。これにより、5フレーム分の連続した画像データ
を同時に参照することができる。
【0045】処理回路PR2に入力された画像データの
輝度値S21は、2フレーム分だけ遅延された時点で、
比較器97によって、その画素についての過去の最大出
力値を記憶しているメモリバンク93の当該画素につい
ての輝度値S22と比較される。もし、2フレーム分だ
け遅延された画像データの輝度値S21がメモリバンク
93の当該画素に対応する輝度値より大きければ、その
時点で、メモリバンク91〜95のそれぞれに入力され
ている輝度値に、それぞれのメモリバンク91〜95の
当該番地の輝度値が書き換えられる。さらに、メモリバ
ンク98の当該番地の内容が、フレーム番号発生器99
から供給される出力データのフレーム番号に書き換えら
れる。
【0046】このような処理を、参照光ビームによる走
査が完了するまで繰り返すと、メモリバンク91〜9
5,98には次の内容が記憶される。すなわち、メモリ
バンク93には各画素がピーク値を出力したときのその
輝度値が、メモリバンク92にはピーク値を示した1フ
レーム後の投射光によるその画素の輝度値が、メモリバ
ンク91にはピーク値を示した2フレーム後の投射光に
よるその画素の輝度値が、それぞれ記憶される。一方、
メモリバンク94にはピーク値を示した1フレーム前の
投射光によるその画素の輝度値が、メモリバンク95に
はピーク値を示した2フレーム前の投射光によるその画
素の輝度値が、それぞれ記憶される。また、メモリバン
ク98にはそれらに対応するフレーム番号が記憶され
る。
【0047】ここで、投射光が、例えば図6に示される
ように、その太さが撮像素子71上で結像した際に5画
素相当のサイズであり、その輝度分布がガウス分布のよ
うに中央に1つのピーク値を持つ単調な山形の形状であ
るものとする。このような場合に、ある1つの画素に注
目し、照射される光量の変化をフレーム毎にプロットす
れば図7に示すグラフが得られる。
【0048】つまり、ある画素の光量は、5フレーム分
において有意な値を示し、且つその値はフレーム毎に変
化する。しかも、ガウス分布のように山形に変化する。
したがって、一連の処理の終了後には、各メモリバンク
91〜95に記憶されるデータは、メモリバンク95、
メモリバンク94の順で光量の値が増し、メモリバンク
93で極大となり、メモリバンク92、メモリバンク9
1の順で光量が低下する。これら各メモリバンク91〜
95に記憶された5つのデータをもとに、それらの重心
を計算することによって、フレーム間隔すなわち画素ピ
ッチよりも細かな刻みで、投射光の中心点つまりはピー
ク値の位置を求めることができる。このような重心演算
を行うアルゴリズムに関しては、本出願人が開示した特
願平7−299921号に詳しく説明されている。
【0049】以上説明したように、処理回路PR2によ
ると、撮像素子71の画素ピッチよりも高い分解能で投
射光の投射角度θyを求めることができ、したがって高
精度に3次元情報を計測することができる。しかし、実
際には、投射側及び撮像装置12の光学系の特性などに
起因して、投射光の像に何らかのノイズが加わることが
多い。その結果、輝度分布に複数のピーク値が発生した
り、分布が平坦となってピーク値の位置がはっきりしな
くなったりし、理想形状から大きく外れることがある。
その場合には、上述の方法ではピーク値の位置の計算結
果がノイズに大きく左右されてしまう。
【0050】このようなノイズの影響は、輝度のピーク
値が得られたタイミングの前後に、2フレームずつにと
どまらず、もっと十分に長い期間をとって、その間の光
量に基づいて演算を行うことにより低減することができ
る。その方法について、図8を参照して説明する。
【0051】図8に示されるように、処理回路10は、
減算器121、定常光データメモリ122、第1演算装
置123、第2演算装置124、及び除算器125から
構成される。
【0052】撮像装置12から出力された画像データX
iは、減算器121によって投射光以外の不要な定常光
成分が除去された後、第1演算装置123及び第2演算
装置124に送られる。
【0053】第1演算装置123は、撮像素子71の各
画素について、画像データXiとその画像データXiが
出力されたタイミングすなわちフレーム番号iとの積X
i・iを求め、その全フレームにわたる総和Σ(Xi・
i)を算出する。第2演算装置124は、前述の画像デ
ータXiの全フレームにわたる総和ΣXiを算出する。
そして、除算器125において、画像データXiの時間
重心Σ(xi・i)/Σxiを算出する。なお、この演
算方法については、本出願人が開示した特願平8−30
8106号において詳しく説明されている。
【0054】上述の実施形態の3次元情報計測装置1に
よると、映像ミラー11の内側の空間に配置された物体
OBの全周の3次元情報を計測することができる。特
に、映像ミラー11によって物体OBの全周が一時に写
し出されるため、撮像装置12又は物体OB自体を移動
させる必要がなく、ワンショットで3次元情報の計測を
行うことができる。したがって、従来のような移動駆動
装置が不要であり、3次元情報を比較的簡単な構成で計
測し入力することができる。撮像装置12によって得ら
れる画像OBZには不連続性がないので、画像の貼り合
わせ処理などの複雑な処理を行う必要がない。また、ワ
ンショットの容易な操作又は動作のみで全周の3次元情
報の計測を行うことができるため、物体OBの3次元情
報を高速に計測し入力することができる。したがって、
対象物が人間や動物のような生物であっても、計測中に
対象物が動いてしまうことがなく、計測が極めて容易で
ある。
【0055】上述の実施形態において、参照光投射装置
13からはビーム状の参照光ビームを投射するが、参照
光投射装置13として放射状の参照光(円環状の参照
光)が投射されるものを用い、これを軸Jに沿った方向
に偏向させてもよい。この場合には参照光投射装置13
を軸Jの周りに回転駆動させる必要がないので、構成が
より簡単なものとなる。
【0056】上述の実施形態の3次元情報計測装置1で
は、逆円錐台の内部を中空とした形状の映像ミラー11
を用いたが、鉛直面による断面が、放物線、楕円、半円
など、種々の曲線を描くような映像ミラーを用いること
が可能である。映像ミラー11の内側に配置された物体
OBの全周の3次元情報の入力が可能であるが、映像ミ
ラー11を完全な環状とすることなく、例えば視野範囲
を180度又は270度などとした場合でも適用が可能
である。この場合でも、物体OBの3次元情報をその周
囲の多視点から高速に計測することができる。この場合
において、参照光ビーム又は参照光における主走査範囲
の不要な部分を省略することができる。また、回転体型
ミラーとして、例えば細長い長方形の平面ミラーを周方
向に多数配置し、近似的に回転体型の形状としてもよ
い。この場合には回転体型ミラーの製造が容易である。
【0057】上述の実施形態において、光学的な機構部
と3次元情報算出部PR又は処理回路PR1,2とは、
同一の筐体内に組み込んでもよいし、また互いに別の筐
体内に組み込んでもよい。3次元情報算出部PR又は処
理回路PR1,2の全体又は一部として、パーソナルコ
ンピュータなどを用いることも可能である。その他、3
次元情報計測装置1の全体又は各部の構造、形状、及び
配置位置、また、処理回路PR1,PR2の回路構成、
処理内容などは、本発明の主旨に沿って適宜変更するこ
とができる。
【0058】
【発明の効果】本発明によると、比較的簡単な構成で対
象物の3次元情報を全周又は多視点から高速に計測し入
力することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る3次元情報計測装置の構成を示す
図である。
【図2】撮像装置によって物体の全周の像が撮像される
原理を説明するための図である。
【図3】映像ミラーに写し出された物体の画像の例を示
す図である。
【図4】3次元情報計測装置の処理回路の例を示すブロ
ック図である。
【図5】3次元情報計測装置の処理回路の他の例を示す
ブロック図である。
【図6】撮像素子上における投射光の太さ及び輝度の一
例を示す図である。
【図7】撮像素子の1つの画素についての光量の変化を
示す図である。
【図8】画像データの時間重心演算を行う処理回路の構
成を示すブロック図である。
【符号の説明】
1 3次元情報計測装置 11 映像ミラー(回転体型ミラー) 12 撮像装置 13 参照光投射装置(参照光投射手段、副走査手段) J 軸(中心軸) OB 物体(対象物) OBZ 画像(投影像) θy 投射角度 ri 距離(位置) PR 3次元情報算出部(3次元情報算出手段) PR1,PR2 処理回路(3次元情報算出手段)
フロントページの続き (72)発明者 藤井 英郎 大阪府大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪国際ビル ミノルタ株式会社内 (72)発明者 八木 史也 大阪府大阪市中央区安土町二丁目3番13号 大阪国際ビル ミノルタ株式会社内

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】回転体型ミラーと当該回転体型ミラーの中
    心軸に受光軸が一致するように配置された撮像装置とを
    用い、前記回転体型ミラーの内側の空間に配置された対
    象物の3次元情報を計測する3次元情報計測方法であっ
    て、 前記中心軸上から前記回転体型ミラーに向けて参照光を
    投射し、当該参照光の前記回転体型ミラーによる反射光
    であるミラー反射参照光によって前記対象物を走査し、 前記参照光の投射角度に対応する物理量と、前記対象物
    を走査した前記ミラー反射参照光が前記回転体型ミラー
    を介して前記撮像装置で撮像されたときに得られる投影
    像の位置に対応する物理量とに基づいて、前記対象物の
    3次元情報を求める、 ことを特徴とする3次元情報計測方法。
  2. 【請求項2】回転体型ミラーと当該回転体型ミラーの中
    心軸に受光軸が一致するように配置された撮像装置とを
    用い、前記回転体型ミラーの内側の空間に配置された対
    象物の3次元情報を計測する3次元情報計測装置であっ
    て、 前記中心軸上から前記回転体型ミラーに向けて参照光を
    投射する参照光投射手段と、 前記参照光の前記回転体型ミラーによる反射光であるミ
    ラー反射参照光が前記対象物の周方向の走査を行うよう
    に前記参照光を偏向する主走査手段と、 前記ミラー反射参照光が前記対象物の前記中心軸に沿っ
    た方向の走査を行うように前記参照光の投射角度を偏向
    する副走査手段と、 前記参照光の投射角度に対応する物理量と、前記対象物
    を走査した前記ミラー反射参照光が前記回転体型ミラー
    を介して前記撮像装置で撮像されたときに得られる投影
    像の位置に対応する物理量とに基づいて、前記対象物の
    3次元情報を求める3次元情報算出手段と、 を有してなることを特徴とする3次元情報計測装置。
JP3082598A 1998-02-13 1998-02-13 3次元情報計測方法及び装置 Pending JPH11230720A (ja)

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US09/243,794 US6788807B1 (en) 1998-02-13 1999-02-03 Three dimensional information measurement method and apparatus

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
USRE43463E1 (en) 2003-10-14 2012-06-12 Japan Science And Technology Agency Three-dimensional measuring apparatus and three-dimensional measuring method
JP2013101591A (ja) * 2011-10-19 2013-05-23 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 3次元形状計測装置
JP2013130535A (ja) * 2011-12-22 2013-07-04 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 3次元形状計測システム
KR20220094484A (ko) * 2020-12-29 2022-07-06 (주) 인텍플러스 라인빔을 이용한 형상 프로파일 측정장치

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