JPH11211467A - 測距装置及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 - Google Patents
測距装置及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体Info
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- JPH11211467A JPH11211467A JP10016488A JP1648898A JPH11211467A JP H11211467 A JPH11211467 A JP H11211467A JP 10016488 A JP10016488 A JP 10016488A JP 1648898 A JP1648898 A JP 1648898A JP H11211467 A JPH11211467 A JP H11211467A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 センサアレイにおける各センサの両側に電荷
の蓄積部を設ける構成とする場合に、各側の蓄積部から
波形にぎざぎざのない像信号を得る。 【解決手段】 第１、第２のセンサアレイ１１、１２を
各センサＳ１〜Ｓ４をずらせて設け、各センサアレイの
片側に全てのセンサに対して蓄積部１３、１４を設け、
第３、第４のセンサアレイ１５、１６も同様にずらせて
設け、それぞれ蓄積部１７、１８を設ける。 【効果】 各センサアレイ１１、１２、１５、１６から
各蓄積部１３、１４、１７、１８を介して得られるａ、
ｂ、ｃ、ｄの像信号は滑らかな波形となる。
の蓄積部を設ける構成とする場合に、各側の蓄積部から
波形にぎざぎざのない像信号を得る。 【解決手段】 第１、第２のセンサアレイ１１、１２を
各センサＳ１〜Ｓ４をずらせて設け、各センサアレイの
片側に全てのセンサに対して蓄積部１３、１４を設け、
第３、第４のセンサアレイ１５、１６も同様にずらせて
設け、それぞれ蓄積部１７、１８を設ける。 【効果】 各センサアレイ１１、１２、１５、１６から
各蓄積部１３、１４、１７、１８を介して得られるａ、
ｂ、ｃ、ｄの像信号は滑らかな波形となる。
Description
【発明の詳細な説明】
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、カメラのＡＦ装置
等で用いられ、測定対象との距離を測定する測距装置お
よびこの測距装置で用いられるコンピュータ読み取り可
能な記憶媒体に関し、特にリング状電荷転送部を用いた
測距装置に関するものである。
等で用いられ、測定対象との距離を測定する測距装置お
よびこの測距装置で用いられるコンピュータ読み取り可
能な記憶媒体に関し、特にリング状電荷転送部を用いた
測距装置に関するものである。
【０００２】
【従来の技術】従来より、リング状に構成されたＣＣＤ
を用いて、被写体（測定対象）からの光を光電変換した
蓄積電荷を巡回させて積分し、積分された電圧値に基づ
いて被写体までの距離を測定する測距装置が、例えば特
開平５−２２８４３号公報で提案されている。また、こ
れを改良した図４に簡略的に示すような測距装置が、特
開平８−２３３５７１号公報で提案されている。
を用いて、被写体（測定対象）からの光を光電変換した
蓄積電荷を巡回させて積分し、積分された電圧値に基づ
いて被写体までの距離を測定する測距装置が、例えば特
開平５−２２８４３号公報で提案されている。また、こ
れを改良した図４に簡略的に示すような測距装置が、特
開平８−２３３５７１号公報で提案されている。
【０００３】図４において、投光部１は所定周期でオン
オフされて点滅する。投光部１からの光ｔは投光レンズ
２を介して不図示の被写体に照射される。被写体から
は、投光部１がオンの期間（点灯時）に投光された光の
反射光と外光による反射光とを加算した反射光と、投光
部１がオフの期間（消灯時）に外光のみによる反射光と
が交互に得られる。これらの反射光ｒは受光レンズ３を
介してセンサ装置４の光電変換素子から成るセンサＳ１
〜Ｓ４で構成されたセンサアレイ５に結像される。
オフされて点滅する。投光部１からの光ｔは投光レンズ
２を介して不図示の被写体に照射される。被写体から
は、投光部１がオンの期間（点灯時）に投光された光の
反射光と外光による反射光とを加算した反射光と、投光
部１がオフの期間（消灯時）に外光のみによる反射光と
が交互に得られる。これらの反射光ｒは受光レンズ３を
介してセンサ装置４の光電変換素子から成るセンサＳ１
〜Ｓ４で構成されたセンサアレイ５に結像される。
【０００４】投光部１の点灯時にセンサＳ１〜Ｓ４で変
換された電荷は、電子シャッタＩＣＧを介して抜き取り
部ＳＴ０１〜ＳＴ０４で抜き取られた後、各積分部Ｓ１
〜Ｓ４に対応して設けられた各蓄積部ＳＴ１に転送され
る。また、投光部１の消灯時にセンサＳ１〜Ｓ４で変換
された電荷は、同様にして電子シャッタＩＣＧ、積分部
ＳＴ０１〜ＳＴ０４を介して各蓄積分ＳＴ２に転送され
る。
換された電荷は、電子シャッタＩＣＧを介して抜き取り
部ＳＴ０１〜ＳＴ０４で抜き取られた後、各積分部Ｓ１
〜Ｓ４に対応して設けられた各蓄積部ＳＴ１に転送され
る。また、投光部１の消灯時にセンサＳ１〜Ｓ４で変換
された電荷は、同様にして電子シャッタＩＣＧ、積分部
ＳＴ０１〜ＳＴ０４を介して各蓄積分ＳＴ２に転送され
る。
【０００５】尚、初期化部ＣＣＬＲは、上記積分を行う
前に初期化を行い、初期化中は、抜き取り部ＳＴ０１〜
ＳＴ０４は動作せず、蓄積部ＳＴ１、ＳＴ２に電荷が移
動しないように成されている。また、電子シャッタＩＣ
Ｇは、信号が大きすぎる時に、信号の電荷量を制御する
ものである。これと共に、後述するリング転送部７の各
転送段Ｃ１〜Ｃ８に上記初期化中に発生する電荷を捨て
る機能も有している。
前に初期化を行い、初期化中は、抜き取り部ＳＴ０１〜
ＳＴ０４は動作せず、蓄積部ＳＴ１、ＳＴ２に電荷が移
動しないように成されている。また、電子シャッタＩＣ
Ｇは、信号が大きすぎる時に、信号の電荷量を制御する
ものである。これと共に、後述するリング転送部７の各
転送段Ｃ１〜Ｃ８に上記初期化中に発生する電荷を捨て
る機能も有している。
【０００６】各蓄積部ＳＴ１、ＳＴ２に点灯時と消灯時
の電荷が揃った時点で、シフトゲートＳＨを介して電荷
転送部６の転送段Ａ１〜Ａ８に転送され、さらに投光部
１のオンオフの周期に同期してＢ１〜Ｂ４の転送段を通
じて、リング転送部７のＣ１〜Ｃ８の転送段に転送され
る。ここで、上記投光と転送動作とは同期して行われる
ので、投光のオンとオフ毎に得られる電荷はセンサＳ１
〜Ｓ４の各々についてそれぞれＣ１〜Ｃ８で加算されて
積分されることになる。
の電荷が揃った時点で、シフトゲートＳＨを介して電荷
転送部６の転送段Ａ１〜Ａ８に転送され、さらに投光部
１のオンオフの周期に同期してＢ１〜Ｂ４の転送段を通
じて、リング転送部７のＣ１〜Ｃ８の転送段に転送され
る。ここで、上記投光と転送動作とは同期して行われる
ので、投光のオンとオフ毎に得られる電荷はセンサＳ１
〜Ｓ４の各々についてそれぞれＣ１〜Ｃ８で加算されて
積分されることになる。
【０００７】ＳＫ１〜ＳＫ３から成る電荷排斥部８は上
記点灯時と消灯時のペアの電荷量が大きい場合に不要と
なる一定の電荷量をスキム部ＳＣＬＲにより排斥するこ
とにより、リング転送部７のＣ１〜Ｃ８の飽和を防ぐ機
能を有している。このとき、各センサＳ１〜Ｓ４にそれ
ぞれ対応してＳＴ１とＳＴ２のペア毎に電荷が蓄積され
るので、ＳＴ１とＳＴ２との差を求めることにより、投
光による信号成分のみを得ることができる。
記点灯時と消灯時のペアの電荷量が大きい場合に不要と
なる一定の電荷量をスキム部ＳＣＬＲにより排斥するこ
とにより、リング転送部７のＣ１〜Ｃ８の飽和を防ぐ機
能を有している。このとき、各センサＳ１〜Ｓ４にそれ
ぞれ対応してＳＴ１とＳＴ２のペア毎に電荷が蓄積され
るので、ＳＴ１とＳＴ２との差を求めることにより、投
光による信号成分のみを得ることができる。
【０００８】上記構成によれば、投光部１の点滅を繰り
返し行うことにより、リング転送部７からアンプＦＧを
通じて得られる出力信号Ｓは、外光やノイズの影響の除
去された信号成分のみとなる。従って、同じ構成のセン
サ装置４を二つ用い、これを所定の間隔で配置すること
により、各出力信号Ｓに基づいて３角測量の原理を用い
て相関演算を行うことにより、被写体までの距離を精度
よく求めることができる。このような構成の測距装置
は、例えば特開平９−１０５６２３号公報に開示されて
いる。
返し行うことにより、リング転送部７からアンプＦＧを
通じて得られる出力信号Ｓは、外光やノイズの影響の除
去された信号成分のみとなる。従って、同じ構成のセン
サ装置４を二つ用い、これを所定の間隔で配置すること
により、各出力信号Ｓに基づいて３角測量の原理を用い
て相関演算を行うことにより、被写体までの距離を精度
よく求めることができる。このような構成の測距装置
は、例えば特開平９−１０５６２３号公報に開示されて
いる。
【０００９】また、図４でセンサアレイ５の片側（図の
上側）に蓄積部ＳＴ１、ＳＴ２を設けているが、センサ
装置４を二つ用いる場合に図５に示すように、蓄積部を
センサアレイ５の両側（上側と下側）に設けた構成も提
案されている。図５は二つのセンサ装置のセンサアレイ
部分を示すもので、二つの受光レンズ３Ａ、３Ｂに対し
て二つのセンサアレイ５Ａ、５Ｂが設けられている。セ
ンサアレイ５Ａを構成するセンサＳ１〜Ｓ８の一つ置き
に上と下に蓄積部２１Ａと２２Ａが設けられ、センサア
レイ５Ｂを構成するセンサＳ１〜Ｓ８の一つ置きに上と
下に蓄積部２１Ｂと２２Ｂが設けられている。尚、図で
は、電子シャッタ、抜き取り部等は省略されている。
上側）に蓄積部ＳＴ１、ＳＴ２を設けているが、センサ
装置４を二つ用いる場合に図５に示すように、蓄積部を
センサアレイ５の両側（上側と下側）に設けた構成も提
案されている。図５は二つのセンサ装置のセンサアレイ
部分を示すもので、二つの受光レンズ３Ａ、３Ｂに対し
て二つのセンサアレイ５Ａ、５Ｂが設けられている。セ
ンサアレイ５Ａを構成するセンサＳ１〜Ｓ８の一つ置き
に上と下に蓄積部２１Ａと２２Ａが設けられ、センサア
レイ５Ｂを構成するセンサＳ１〜Ｓ８の一つ置きに上と
下に蓄積部２１Ｂと２２Ｂが設けられている。尚、図で
は、電子シャッタ、抜き取り部等は省略されている。
【００１０】上記構成において、センサアレイ５Ａの蓄
積部２１Ａから得られる被写体の電子的な受光像として
の像はｅに示すものとなり、蓄積部２２Ａから得られる
像はｆで示されるものとなる。また、センサアレイ５Ｂ
の蓄積部２１Ｂから得られる像はｈに示すものとなり、
蓄積部２２Ｂから得られる像はｉに示すものとなる。そ
して、センサアレイ５Ａ側の出力としてｅとｆの像を合
成したｇの像が得られ、センサアレイ５Ｂ側の出力とし
てｈとｉの像を合成したｊの像が得られる。
積部２１Ａから得られる被写体の電子的な受光像として
の像はｅに示すものとなり、蓄積部２２Ａから得られる
像はｆで示されるものとなる。また、センサアレイ５Ｂ
の蓄積部２１Ｂから得られる像はｈに示すものとなり、
蓄積部２２Ｂから得られる像はｉに示すものとなる。そ
して、センサアレイ５Ａ側の出力としてｅとｆの像を合
成したｇの像が得られ、センサアレイ５Ｂ側の出力とし
てｈとｉの像を合成したｊの像が得られる。
【００１１】これらのｇとｊの像を用いて相関演算を行
うことにより、被写体までの距離を求めることができ
る。また、このように構成することにより、センサアレ
イ５Ａ、５ＢにおけるセンサＳ１〜Ｓ８の配列ピッチを
細かくして精度を上げることができる。
うことにより、被写体までの距離を求めることができ
る。また、このように構成することにより、センサアレ
イ５Ａ、５ＢにおけるセンサＳ１〜Ｓ８の配列ピッチを
細かくして精度を上げることができる。
【００１２】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、図５の
ｇ、ｊで示す各像は、電荷の転送効率やアンプゲインの
ばらつき等により、点線で示すように滑らかな波形とな
らずに実線で示すようにぎざぎざのある波形となってし
まうことがある。このような波形を用いて相関演算を行
うと、上記ぎざぎざの部分の影響により正しい測距値が
得られず、場合によっては測距不能になることがあっ
た。また、蓄積部をセンサＳ１〜Ｓ８の一つ置きに上下
に配列する構成にすると、上だけ下だけではｅ、ｆ、
ｈ、ｉのように像が間引かれて不連続となり、どうして
も並び替えて合成する処理を行わなければならないの
で、上記のぎざぎざが生じやすい。
ｇ、ｊで示す各像は、電荷の転送効率やアンプゲインの
ばらつき等により、点線で示すように滑らかな波形とな
らずに実線で示すようにぎざぎざのある波形となってし
まうことがある。このような波形を用いて相関演算を行
うと、上記ぎざぎざの部分の影響により正しい測距値が
得られず、場合によっては測距不能になることがあっ
た。また、蓄積部をセンサＳ１〜Ｓ８の一つ置きに上下
に配列する構成にすると、上だけ下だけではｅ、ｆ、
ｈ、ｉのように像が間引かれて不連続となり、どうして
も並び替えて合成する処理を行わなければならないの
で、上記のぎざぎざが生じやすい。
【００１３】例えば特開平９−２４３３５５号公報に
は、微小な信号を投光のオンオフに同期して積分した時
に正確に積分されない旨の記載があるが、特にこのよう
な場合、センサアレイを作る時に、上と下とでＩＣのマ
スクが上下方向にずれるとその影響が上と下とで逆方向
に出てくるので、上記ぎざぎざが大きくなることがあ
る。
は、微小な信号を投光のオンオフに同期して積分した時
に正確に積分されない旨の記載があるが、特にこのよう
な場合、センサアレイを作る時に、上と下とでＩＣのマ
スクが上下方向にずれるとその影響が上と下とで逆方向
に出てくるので、上記ぎざぎざが大きくなることがあ
る。
【００１４】本発明は上記の問題を解決し、上記ぎざぎ
ざの発生をなくすことを目的としている。
ざの発生をなくすことを目的としている。
【００１５】
【課題を解決するための手段】本発明による測距装置に
おいては、複数の光電変換素子を配列して成る第１のサ
ンサアレイと、複数の光電変換素子を配列して成り、上
記第１のセンサアレンイと上記配列方向に平行に配され
た第２のセンサアレイと、複数の光電変換素子を配列し
て成り、上記第１のセンサアレイに対して上記配列方向
に所定距離を隔てて配される第３のセンサアレイと、複
数の光電変換素子を配列して成り、上記第３のセンサア
レイと上記配列方向に平行に配された第４のセンサアレ
イとを設けている。
おいては、複数の光電変換素子を配列して成る第１のサ
ンサアレイと、複数の光電変換素子を配列して成り、上
記第１のセンサアレンイと上記配列方向に平行に配され
た第２のセンサアレイと、複数の光電変換素子を配列し
て成り、上記第１のセンサアレイに対して上記配列方向
に所定距離を隔てて配される第３のセンサアレイと、複
数の光電変換素子を配列して成り、上記第３のセンサア
レイと上記配列方向に平行に配された第４のセンサアレ
イとを設けている。
【００１６】本発明による記憶媒体においては、第１、
第２のセンサアレイが測距対象像を受光して得られる第
１、第２の像信号を複数回ビットシフトさせる手順と、
ビットシフト毎に上記第１、第２の像信号の第１の相関
値を求める手順と、上記第３、第４のセンサアレイが上
記測距対象像を受光して得られる第３、第４の像信号の
第２の相関値を求める手段と、上記第１の相関値と第２
の相関係とを加算して第３の相関値を求める第３の演算
手段と、上記第３の相関値のうち列とも相関の高い値が
得られたときのビットシフト量に基づいて、上記測距対
象までの距離を求める手順とを実行するためのプログラ
ムを記憶している。
第２のセンサアレイが測距対象像を受光して得られる第
１、第２の像信号を複数回ビットシフトさせる手順と、
ビットシフト毎に上記第１、第２の像信号の第１の相関
値を求める手順と、上記第３、第４のセンサアレイが上
記測距対象像を受光して得られる第３、第４の像信号の
第２の相関値を求める手段と、上記第１の相関値と第２
の相関係とを加算して第３の相関値を求める第３の演算
手段と、上記第３の相関値のうち列とも相関の高い値が
得られたときのビットシフト量に基づいて、上記測距対
象までの距離を求める手順とを実行するためのプログラ
ムを記憶している。
【００１７】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図面
と共に説明する。図１において、第１の受光レンズ３Ａ
に対してそれぞれセンサＳ１〜Ｓ４から成る第１のセン
サアレイ１１と第２のセンサアレイ１２とが、互いに平
行に隣接し、かつ各センサＳ１〜Ｓ４のピッチの１／２
だけずらされ千鳥配列されて設けられている。各センサ
アレイ１１、１２の各センサＳ１〜Ｓ４には、第１の蓄
積部１４、第２の蓄積部１５が設けられている。
と共に説明する。図１において、第１の受光レンズ３Ａ
に対してそれぞれセンサＳ１〜Ｓ４から成る第１のセン
サアレイ１１と第２のセンサアレイ１２とが、互いに平
行に隣接し、かつ各センサＳ１〜Ｓ４のピッチの１／２
だけずらされ千鳥配列されて設けられている。各センサ
アレイ１１、１２の各センサＳ１〜Ｓ４には、第１の蓄
積部１４、第２の蓄積部１５が設けられている。
【００１８】同様に第２の受光レンズ３Ｂに対してそれ
ぞれセンサＳ１〜Ｓ４から成る第３のセンサアレイ１５
と第４のセンサアレイ１６とが、互いに平行に隣接し、
かつ各センサＳ１〜Ｓ４のピッチの１／２だけずらされ
千鳥配列されて設けられている。各センサアレイ１１、
１２の各センサＳ１〜Ｓ４には、第３の蓄積部１７、第
４の蓄積部１８が設けられている。尚、これらの第１〜
第４のセンサアレイ１１、１２、１５、１６は、その受
光面を受光レンズ３Ａ、３Ｂに向けられて配されている
ものとする。
ぞれセンサＳ１〜Ｓ４から成る第３のセンサアレイ１５
と第４のセンサアレイ１６とが、互いに平行に隣接し、
かつ各センサＳ１〜Ｓ４のピッチの１／２だけずらされ
千鳥配列されて設けられている。各センサアレイ１１、
１２の各センサＳ１〜Ｓ４には、第３の蓄積部１７、第
４の蓄積部１８が設けられている。尚、これらの第１〜
第４のセンサアレイ１１、１２、１５、１６は、その受
光面を受光レンズ３Ａ、３Ｂに向けられて配されている
ものとする。
【００１９】次に動作について説明する。第１のセンサ
アレイ１１の電荷は第１の蓄積部１３に蓄積され、第２
のセンサアレイ１２の電荷は第２の蓄積部１４に蓄積さ
れる。第１の蓄積部１３から得られる像はａで示される
ものとなり、第２の蓄積部１４から得られる像はｂで示
されるものとなる。これらのａ、ｂの像はセンサＳ１〜
Ｓ４の全ての電荷から形成されるので連続しており、ま
た、上と下とで転送効率やアンプゲインのばらつきがあ
っても、ぎざぎざが生じることはない。
アレイ１１の電荷は第１の蓄積部１３に蓄積され、第２
のセンサアレイ１２の電荷は第２の蓄積部１４に蓄積さ
れる。第１の蓄積部１３から得られる像はａで示される
ものとなり、第２の蓄積部１４から得られる像はｂで示
されるものとなる。これらのａ、ｂの像はセンサＳ１〜
Ｓ４の全ての電荷から形成されるので連続しており、ま
た、上と下とで転送効率やアンプゲインのばらつきがあ
っても、ぎざぎざが生じることはない。
【００２０】第３、第４のセンサアレイ１５、１６につ
いても同様に、第３、第４の蓄積部１７、１８からそれ
ぞれぎざぎざのない連続したｃ、ｄで示す像が得られ
る。
いても同様に、第３、第４の蓄積部１７、１８からそれ
ぞれぎざぎざのない連続したｃ、ｄで示す像が得られ
る。
【００２１】図２は上記各像ａ、ｂ、ｃ、ｄの像信号に
基づいて距離を求める画像処理装置の構成を示すもの
で、上記各像信号はＡ／Ｄ変換器２０でディジタルの像
データに変換された後、マイコン２１に送られて処理さ
れることにより、距離Ｌが求められる。マイコン２１
は、本発明によるＲＯＭ等の記憶媒体２２に格納された
図３に示すフローチャートによるプログラムに沿って処
理を実行する。尚、記憶媒体２２としては、半導体メモ
リ、光ディスク、光磁気ディクス、磁気媒体等を用いて
よい。
基づいて距離を求める画像処理装置の構成を示すもの
で、上記各像信号はＡ／Ｄ変換器２０でディジタルの像
データに変換された後、マイコン２１に送られて処理さ
れることにより、距離Ｌが求められる。マイコン２１
は、本発明によるＲＯＭ等の記憶媒体２２に格納された
図３に示すフローチャートによるプログラムに沿って処
理を実行する。尚、記憶媒体２２としては、半導体メモ
リ、光ディスク、光磁気ディクス、磁気媒体等を用いて
よい。
【００２２】次に図２、図３を用いて動作を説明する。
ステップＳ１で各蓄積部１３、１４、１７、１８への電
荷の蓄積を開始する。ステップＳ２で電荷が所定量蓄積
されたか否かを調べ、所定量蓄積されたらステップＳ３
で蓄積を終了する。次にステップＳ４で、各蓄積部から
得られたａ、ｂ、ｃ、ｄの各像信号をＡ／Ｄ変換器２０
で像データに変換してマイコン２１に取り込む。そして
ステップＳ５で、ビットシフト量ｘの初期値をゼロとし
た後、ステップＳ６でａ、ｂの像データをｘビット（セ
ンサＳ１〜Ｓ４のｘ個分）シフトする。
ステップＳ１で各蓄積部１３、１４、１７、１８への電
荷の蓄積を開始する。ステップＳ２で電荷が所定量蓄積
されたか否かを調べ、所定量蓄積されたらステップＳ３
で蓄積を終了する。次にステップＳ４で、各蓄積部から
得られたａ、ｂ、ｃ、ｄの各像信号をＡ／Ｄ変換器２０
で像データに変換してマイコン２１に取り込む。そして
ステップＳ５で、ビットシフト量ｘの初期値をゼロとし
た後、ステップＳ６でａ、ｂの像データをｘビット（セ
ンサＳ１〜Ｓ４のｘ個分）シフトする。
【００２３】次にステップＳ７で上記ビットシフトした
ａ、ｂの像データに基づいて相関演算を行うことによ
り、第１の相関値を得る。また、ステップＳ８では、
ｂ、ｃの像データから第２の相関値を求める。そしてス
テップＳ９で、上記第１の相関値と第２の相関値との和
を求め、これを第３の相関値ｆ（ｎ）とする。
ａ、ｂの像データに基づいて相関演算を行うことによ
り、第１の相関値を得る。また、ステップＳ８では、
ｂ、ｃの像データから第２の相関値を求める。そしてス
テップＳ９で、上記第１の相関値と第２の相関値との和
を求め、これを第３の相関値ｆ（ｎ）とする。
【００２４】次にステップＳ１０でｘに１を加算した
後、ステップＳ１でｘ＞ｎとなったか否かを調べ、ｘ＞
ｎとなるまで、ステップＳ６〜Ｓ１０の処理を繰り返し
行う。ここで、ｎは測距したい距離範囲から決まるビッ
トシフト量である。ｘ＞ｎとなったらステップＳ１２
で、上記第３の相関値ｆ（ｎ）の中で最も相関が高いと
きのｘの値を求める。そしてステップＳ１３で上記求め
られたｘの値に基づいて距離Ｌを演算して求める。
後、ステップＳ１でｘ＞ｎとなったか否かを調べ、ｘ＞
ｎとなるまで、ステップＳ６〜Ｓ１０の処理を繰り返し
行う。ここで、ｎは測距したい距離範囲から決まるビッ
トシフト量である。ｘ＞ｎとなったらステップＳ１２
で、上記第３の相関値ｆ（ｎ）の中で最も相関が高いと
きのｘの値を求める。そしてステップＳ１３で上記求め
られたｘの値に基づいて距離Ｌを演算して求める。
【００２５】ステップＳ９で第１の相関値と第２の相関
値とを加算するのは、同一の距離、すなわち同一のビッ
トシフト量で最も相関が取れることになるので、各々独
立で最も相関が取れるところを探すよりも加算した方が
変化が大きくとれ探しやすくなるからである。このよう
にするとこにより単独で最も相関する場合に対して２倍
のＳ／Ｎが得られることが期待できる。
値とを加算するのは、同一の距離、すなわち同一のビッ
トシフト量で最も相関が取れることになるので、各々独
立で最も相関が取れるところを探すよりも加算した方が
変化が大きくとれ探しやすくなるからである。このよう
にするとこにより単独で最も相関する場合に対して２倍
のＳ／Ｎが得られることが期待できる。
【００２６】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
第１、第２のセンサアレイを平行に設けると共に、これ
と間隔を置いて第３、第４のセンサアレイを設けること
により、それぞれのセンサアレイの各片側から連続した
波形を有する像信号を得ることができるので、前述した
ぎざぎざの発生をなくして、精度の高い測距を行うこと
ができる。
第１、第２のセンサアレイを平行に設けると共に、これ
と間隔を置いて第３、第４のセンサアレイを設けること
により、それぞれのセンサアレイの各片側から連続した
波形を有する像信号を得ることができるので、前述した
ぎざぎざの発生をなくして、精度の高い測距を行うこと
ができる。
【００２７】また、第１〜第４のセンサアレイにおける
各光電変換素子に対してそれぞれ電荷の蓄積手段を設け
ることにより、ノイズ等の影響のないより高精度の測距
を行うことができる。さらに第１、第２のセンサアレイ
及び第３、第４のセンサアレイの各互いの光電変換素子
をずらせて千鳥配列したことにより、図４の従来の測距
装置と実質的に同じ構成にしながら、かつぎざぎざのな
い波形の像信号を得ることができる。
各光電変換素子に対してそれぞれ電荷の蓄積手段を設け
ることにより、ノイズ等の影響のないより高精度の測距
を行うことができる。さらに第１、第２のセンサアレイ
及び第３、第４のセンサアレイの各互いの光電変換素子
をずらせて千鳥配列したことにより、図４の従来の測距
装置と実質的に同じ構成にしながら、かつぎざぎざのな
い波形の像信号を得ることができる。
【００２８】また、第１、第２のセンサアレイから得ら
れる第１、第２の像信号をビットシフトしながら第１の
相関値を求めると共に、第３、第４のセンサアレイから
得られる第３、第４の像信号から第２の相関値を求め、
第１、第２の相関値を加算して得られる第３の相関値の
うち最も相関の高いときのビットシフト量から測定対象
までの距離を求めることにより、Ｓ／Ｎが向上し、精度
の高い距離を行うことができる。
れる第１、第２の像信号をビットシフトしながら第１の
相関値を求めると共に、第３、第４のセンサアレイから
得られる第３、第４の像信号から第２の相関値を求め、
第１、第２の相関値を加算して得られる第３の相関値の
うち最も相関の高いときのビットシフト量から測定対象
までの距離を求めることにより、Ｓ／Ｎが向上し、精度
の高い距離を行うことができる。
【図１】本発明の実施の形態を示す構成図である。
【図２】像信号の画像処理装置を示すブロック図であ
る。
る。
【図３】動作を示すフローチャートである。
【図４】従来の測距装置の構成図である。
【図５】従来の他の測距装置の要部を示す構成図であ
る。
る。
３Ａ 第１の受光レンズ ３Ｂ 第２の受光レンズ １１ 第１のセンサアレイ １２ 第２のセンサアレイ １５ 第３のセンサアレイ １６ 第４のセンサアレイ １３ 第１の蓄積部 １４ 第２の蓄積部 １７ 第３の蓄積部 １８ 第４の蓄積部 ２１ マイコン ２２ 記憶媒体
Claims (5)
- 【請求項１】 複数の光電変換素子を配列して成る第１
のサンサアレイと、 複数の光電変換素子を配列して成り、上記第１のセンサ
アレンイと上記配列方向に平行に配された第２のセンサ
アレイと、 複数の光電変換素子を配列して成り、上記第１のセンサ
アレイに対して上記配列方向に所定距離を隔てて配され
る第３のセンサアレイと、 複数の光電変換素子を配列して成り、上記第３のセンサ
アレイと上記配列方向に平行に配された第４のセンサア
レイとを設けたことを特徴とする測距装置。 - 【請求項２】 上記第１〜第４のセンサアレイにおける
各光電変換素子に対応してそれぞれ電荷を蓄積する蓄積
手段を設けたことを特徴とする請求項１記載の測距装
置。 - 【請求項３】 上記第１、第２のセンサアレイにおける
各複数の光電変換素子は互いに配列方向にずれて配列さ
れ、上記第３、第４のセンサアレイにおける各複数の光
電変換素子は互いに配列方向にずれて配列されているこ
とを特徴とする請求項１記載の測距装置。 - 【請求項４】 上記第１、第２のセンサアレイが測距対
象像を受光して得られる第１、第２の像信号を複数回ビ
ットシフトさせるシフト手段と、 上記ビットシフト毎に上記第１、第２の像信号の第１の
相関値を求める第１の演算手段と、 上記第３、第４のセンサアレイが上記測距対象像を受光
して得られる第３、第４の像信号の第２の相関値を求め
る第２の演算手段と、 上記第１の相関値と第２の相関係とを加算して第３の相
関値を求める第３の演算手段と、 上記第３の相関値のうち最も相関の高い値が得られたと
きのビットシフト量に基づいて上記測距対象までの距離
を求める第４の演算手段とを設けたことを特徴とする請
求項１記載の測距装置。 - 【請求項５】 第１、第２のセンサアレイが測距対象像
を受光して得られる第１、第２の像信号を複数回ビット
シフトさせる手順と、 ビットシフト毎に上記第１、第２の像信号の第１の相関
値を求める手順と、 上記第３、第４のセンサアレイが上記測距対象像を受光
して得られる第３、第４の像信号の第２の相関値を求め
る手段と、 上記第１の相関値と第２の相関係とを加算して第３の相
関値を求める第３の演算手段と、 上記第３の相関値のうち最も相関の高い値が得られたと
きのビットシフト量に基づいて、上記測距対象までの距
離を求める手順とを実行するためのプログラムを記憶し
たコンピュータ読み取り可能な記憶媒体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10016488A JPH11211467A (ja) | 1998-01-29 | 1998-01-29 | 測距装置及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP10016488A JPH11211467A (ja) | 1998-01-29 | 1998-01-29 | 測距装置及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11211467A true JPH11211467A (ja) | 1999-08-06 |
Family
ID=11917687
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP10016488A Pending JPH11211467A (ja) | 1998-01-29 | 1998-01-29 | 測距装置及びコンピュータ読み取り可能な記憶媒体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11211467A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005098501A1 (en) * | 2004-04-09 | 2005-10-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Solid-state image pickup device for auto-focus and auto-focus camera using the same |
| JP2012137674A (ja) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Canon Inc | 焦点検出装置及びそれを有する撮像装置 |
| JP2015026068A (ja) * | 2013-06-18 | 2015-02-05 | リコーイメージング株式会社 | 自動焦点検出装置及び焦点検出方法 |
-
1998
- 1998-01-29 JP JP10016488A patent/JPH11211467A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2005098501A1 (en) * | 2004-04-09 | 2005-10-20 | Canon Kabushiki Kaisha | Solid-state image pickup device for auto-focus and auto-focus camera using the same |
| US7515819B2 (en) | 2004-04-09 | 2009-04-07 | Canon Kabushiki Kaisha | Solid-state image pickup device for auto-focus and auto-focus camera using the same |
| JP2012137674A (ja) * | 2010-12-27 | 2012-07-19 | Canon Inc | 焦点検出装置及びそれを有する撮像装置 |
| JP2015026068A (ja) * | 2013-06-18 | 2015-02-05 | リコーイメージング株式会社 | 自動焦点検出装置及び焦点検出方法 |
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