JPH11211453A - 構造体の形状測定装置及び形状測定方法及びコンピュータ読み取りが可能な記憶媒体 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 構造体の実際の形状に応じて効率的に形状測
定を行う構造体の形状測定装置及び形状測定方法及びコ
ンピュータ読み取りが可能な記憶媒体の提供。 【解決手段】 ３次元形状測定機がＡ点の測定を終えて
Ｂ点を測定し、その測定結果がＮＧであるとき(S222)、
制御用コンピュータは、Ａ点及びＢ点における測定結果
の誤差量、並びにそれらの誤差量の差に基づいて、追加
すべき測定ポイントの点数を仮決定し(S224)、その仮決
定した点数を、データベースを参照することによって正
式な追加点数に修正する(S226)。そして、当該追加点数
に対応する測定ポイントを設計形状データから求め、そ
の測定ポイントを測定する(S227)。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば、ワーク等
の構造体の形状を測定する形状測定装置及び形状測定方
法及びコンピュータ読み取りが可能な記憶媒体に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来より、例えば自動車等の製造現場で
は、様々な形状を有するワーク（構造体）が製造されて
おり、それらのワークを、設計上の形状及び寸法を満足
するように製造することは重要な課題である。

【０００３】近年においては、３次元形状を測定する、
所謂３次元測定機の発達により、プレス加工等によって
複雑に成形されたワークの３次元形状を、正確、且つ容
易に測定することができる。

【０００４】３次元測定機によってワークの形状測定を
行うときには、満足すべき設計上の形状に対して、所定
間隔の複数の測定ポイントを予め設定し、その設定した
複数の測定ポイントに基づいて当該３次元測定機の有す
る測定用プローブを動作させながら形状の測定を行うの
が一般的である。

【０００５】また、このように測定したワーク形状の測
定結果が所定の誤差範囲を外れるときには（ＮＧの場
合）、そのワークの使用を中止する場合と、または、所
定の誤差範囲から外れている部分を修正する場合とがあ
り、後者の場合には、所定の誤差範囲から外れている当
該部分を的確に修正する必要が有る。

【０００６】しかしながら、一般に、所定の誤差範囲か
ら外れている部分の測定結果だけでは、ＮＧの原因とな
った部分の周辺の不良状況を把握することが困難である
ため、どの部分をどれだけ手直しすればよいか等の的確
な指示、並びに修正作業が行えない場合が多い。そこ
で、従来は、３次元測定機によってＮＧのワークを前回
の形状測定のときより短いピッチでマニュアル的に測定
することにより、ＮＧの原因となった部分の周辺の不良
状況を把握する作業を行っている。

【０００７】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上述し
た従来の方法では、作業が作業が非効率的である。ま
た、１回目の形状測定から短いピッチで測定を行うので
は、測定に要する時間が長すぎて非現実的である。

【０００８】また、例えば、特開平７−１９０７４８号
では、測定ポイントにおける測定結果が公差範囲内にな
るように測定ポイントを自動設定する方法が提案されて
いる。しかしながら、実際のワーク形状を表わす測定結
果とは関係なく測定ポイントが決定されるため、それら
決定された測定ポイントが当該ワークを測定する上で最
も効率がよいとは限らない。

【０００９】そこで本発明は、構造体の実際の形状に応
じて効率的に形状測定を行う構造体の形状測定装置及び
形状測定方法及びコンピュータ読み取りが可能な記憶媒
体の提供を目的とする。

【００１０】

【課題を解決するための手段】上記の目的を達成するた
め、本発明に係る構造体の形状測定装置は、以下の構成
を特徴とする。

【００１１】即ち、３次元形状を有する構造体の形状を
測定する形状測定装置であって、前記構造体の形状を、
予め設定された複数の測定点にて測定する第１の測定手
段と、前記測定手段による測定結果と、前記複数の測定
点のうち、該測定結果に対応する測定点における前記構
造体の設計上の形状寸法との誤差を算出する誤差算出手
段と、前記複数の測定点のうち、前記誤差算出手段によ
って算出した誤差が所定値より大きい測定点の前後に、
その算出した誤差と前記構造体の設計上の形状寸法とに
基づいて新たな測定点を生成する生成手段と、前記生成
手段によって設定した新たな測定点に従って、前記構造
体の形状を測定する第２の測定手段と、を備えることを
特徴とする。これにより、構造体の実際の形状に応じて
効率的に形状測定を行う。

【００１２】好ましくは、前記生成手段は、前記複数の
測定点のうち、隣接するそれぞれの測定点における誤差
の大きさの違いに応じて、前記新たな測定点の数量を決
定することを特徴とし、例えば、前記生成手段は、前記
複数の測定点のうち、隣接するそれぞれの測定点におけ
る誤差の大きさの違いが大きい程、前記新たな測定点の
数量を多く決定するとよい。

【００１３】上記の目的を達成するため、本発明に係る
構造体の形状測定方法は、以下の構成を特徴とする。

【００１４】即ち、３次元形状を有する構造体の形状を
測定する形状測定方法であって、前記構造体の形状を、
複数の測定点にて測定する第１の測定工程と、前記測定
工程における測定結果と、前記複数の測定点のうち、該
測定結果に対応する測定点における前記構造体の設計上
の形状寸法との誤差を算出する誤差算出工程と、前記複
数の測定点のうち、前記誤差算出工程にて算出した誤差
が所定値より大きい測定点の前後に、その算出した誤差
と前記構造体の設計上の形状寸法とに基づいて新たな測
定点を生成する生成工程と、前記生成工程にて設定した
新たな測定点に従って、前記構造体の形状を測定する第
２の測定工程と、を有することを特徴とする。これによ
り、構造体の実際の形状に応じて効率的に形状測定を行
う。

【００１５】更に、上記の構造体の形状測定方法を実現
する装置としてコンピュータを動作させるコンピュータ
読み取りが可能な記憶媒体を特徴とする。

【００１６】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る構造体の形状
測定装置の一実施形態を、図面を参照して詳細に説明す
る。はじめに、本実施形態で使用する３次元形状測定シ
ステムの全体構成について、図１及び図２を参照して説
明する。

【００１７】図１は、本発明を適用可能な３次元形状評
価システムの全体構成図である。同図において、３は、
３次元形状を計測する３次元形状測定機である。２は、
３次元形状測定機３の計測動作を制御する制御コンピュ
ータである。１は、３次元形状測定機３の測定結果の評
価処理等を行う測定結果処理用コンピュータである。測
定結果処理用コンピュータ１と制御コンピュータ２と
は、一般的な通信ネットワークを介して接続されてお
り、双方向に通信が可能である。また、５は、構造体で
あるワーク４が裁置された基台である。

【００１８】３次元形状測定機３のアームに設けられた
測定プローブ３１は、制御コンピュータ２の制御によ
り、図１に示すＸＹＺ空間において移動可能な構造を有
する。

【００１９】本実施形態において、３次元形状測定機３
がワーク４の形状を測定する際に使用する測定ポイント
データ（図１に示すＸＹＺ空間内の座標データ）は、制
御コンピュータ２が、予め外部装置において作成された
ワークの設計形状データに基づいて自動的に算出するも
のとし、その算出された測定ポイントのデータは、３次
元形状測定機３にダウンロードされる。

【００２０】図２は、本発明を適用可能な制御用コンピ
ュータのブロック構成図である。

【００２１】図中、２２はＣＲＴ等のディスプレイ、２
３は入力手段であるキーボード、２４はブートプログラ
ム等を記憶しているＲＯＭ、２５は各種処理結果を一時
記憶するＲＡＭ、２６は３次元形状測定機３の測定動
作、並びに、後述する形状測定処理を行なうプログラム
等を記憶するハードディスクドライブ（ＨＤＤ）等の記
憶装置、２７は測定結果処理用コンピュータ１等の外部
の装置と通信ネットワークを介して通信するための通信
インタフェース、そして２８は処理結果等を印刷するプ
リンタである。これらの各構成は、内部バス２９を介し
て接続されており、ＣＰＵ２１は記憶装置２６に記憶し
たプログラムに従って図１に示す３次元形状測定機３の
測定動作を制御する。尚、本実施形態において、制御用
コンピュータ２は、ディスプレイ２２やキーボード２３
を図１に示すように筐体内に収納する構造を有するもの
とする。

【００２２】＜形状測定処理＞次に、制御用コンピュー
タ２及び３次元形状測定機３が行う形状測定処理につい
て説明する。

【００２３】図６は、本発明の一実施形態としての制御
用コンピュータによる形状測定処理の概要を示すフロー
チャートである。

【００２４】ステップＳ１：制御用コンピュータ２は、
予めワーク４について予め作成した測定ポイントデータ
を記憶装置２６から入手する。

【００２５】ステップＳ２：制御用コンピュータ２は、
ステップＳ１で入手した測定ポイントデータに基づいて
３次元形状測定機３の動作を制御することによって当該
測定ポイントにおける形状測定を行う。即ち、３次元形
状測定機３は、制御用コンピュータ２からダウンロード
される測定ポイントに関する座標データに基づいて測定
プローブ３１をワーク４の外形形状の表面に順次接触さ
せることにより、それらの接触点における位置（座標
値）を測定していく。そして、３次元形状測定機３によ
って測定されたデータ（測定結果）は、各測定ポイント
毎に制御用コンピュータ２にアップロードされ、記憶装
置２６等に格納される。このとき、制御用コンピュータ
２は、アップロードされた測定結果が所定の誤差範囲か
ら外れているときには、後述する測定ポイントの追加設
定処理を行う。

【００２６】尚、誤差は、設計形状データにおけるある
測定ポイントと、ワーク４の当該測定ポイントに相当す
る部分を実際に測定した結果との差を言うものとする
（以下同様）。

【００２７】ステップＳ３：制御用コンピュータ２は、
ステップＳ２で測定した各測定ポイントにおける測定値
を、測定結果処理用コンピュータ１にアップロードす
る。

【００２８】尚、本実施形態において、３次元形状測定
機３による個々の測定ポイントにおける形状測定自体は
一般的な方法を採用するものとし、説明は省略する。

【００２９】また、３次元形状測定機の形状測定方法
は、測定プローブを対象物に接触させる方法であって
も、非接触で測定する方式であってもよい。

【００３０】＜測定ポイントの追加設定処理＞次に、測
定ポイントの追加設定処理について説明する。本実施形
態では、ステップＳ１において測定結果処理用コンピュ
ータ１から制御用コンピュータ２にダウンロードされた
測定ポイントデータが、図３に示すようにＡ，Ｂ，Ｃ，
Ｄ，Ｅの各点である場合を例に説明する。

【００３１】図７は、本発明の一実施形態としての各測
定ポイントの測定処理を示すフローチャートであり、ダ
ウンロードされた測定ポイントデータがＡ点からＥ点の
場合のステップＳ２に相当する。

【００３２】同図に示すように、ステップＳ２１からス
テップＳ２５において、制御用コンピュータ２は、各点
における測定結果が所定の誤差範囲内（ＯＫの場合）で
あれば、図３に示すＡ→Ｂ→Ｃ→Ｄ→Ｅの順番に形状測
定を行い、ステップＳ３に進む。

【００３３】次に、図４を参照し、上記の各測定ポイン
トにおける測定処理の過程において、例えば、Ａ点の測
定を終えてＢ点を測定したとき、そのＢ点の測定値が所
定の誤差範囲を超えていた場合を説明する。

【００３４】この場合、制御用コンピュータ２は、ダウ
ンロードされた測定ポイントデータを以下のように書き
換える。

【００３５】即ち、測定ポイントデータは、 Ａ→Ｂ→ａｂ１→ａｂ２→ａｂ３→ｂｃ１→ｂｃ２→ｂ
ｃ３→Ｃ→Ｄ→Ｅ， と書き換えられる。このように、制御用コンピュータ２
において、Ａ点とＢ点との間で３点、そしてＢ点とＣ点
との間で３点の測定ポイントが追加されるため、ＮＧで
あったＢ点の周辺の形状を的確に測定することができ
る。ここで、ａｂ３の次にｂｃ１を測定するのは、既に
ＮＧであったＢ点の測定結果が記録装置２６に格納され
ているからである。

【００３６】次に、図５を参照し、ワーク４の形状にお
いて、例えば、Ｂ点とＣ点とがそれぞれの所定の誤差範
囲を超えている場合を説明する。

【００３７】この場合、制御用コンピュータ２は、ま
ず、Ａ点の測定を終えてＢ点を測定したときに、Ｂ点の
測定結果がＮＧであるため上記の如く測定ポイントデー
タの書き換えを行い、そのデータに基づいてＣ点までの
測定を行う。

【００３８】そして、Ｃ点の測定結果が所定の誤差範囲
を超えていることを検出した制御用コンピュータ２は、
改めてＢ点とＤ点との間の測定ポイントを書き換える。
このとき、制御用コンピュータ２は、ＮＧであったＢ点
とＣ点との測定結果の誤差量（または誤差率）の差が所
定値より小さいときには、Ｂ点とＣ点との間に追加する
測定ポイントの数を少なく設定し、一方、所定値より大
きいときには、追加する測定ポイントの数を多く設定す
る（尚、追加設定する測定ポイントの数の決定方法につ
いては図８を参照して後述する）。図５の例では、Ｂ点
とＣ点との測定結果の誤差量（または誤差率）の差が所
定値より小さいとし、これにより、測定ポイントデータ
は、 Ａ→Ｂ→ａｂ１→ａｂ２→ａｂ３→Ｃ→ｂｃ２→ｃｄ１
→ｃｄ２→ｃｄ３→ｃｄ４→Ｄ→Ｅ， と書き換えられる。但し、図５の場合には、既にｂｃ２
及びＣ点の測定結果を記録装置２６に有するため、実際
の測定はｃｄ１以降の点について行われる。

【００３９】ここで、上記の測定ポイントの追加設定処
理を実現するソフトウエアについて図８を参照して説明
する。ここでは、３次元形状測定機３がＡ点の測定を終
えてＢ点を測定したときに、Ｂ点の測定結果がＮＧであ
るため、制御用コンピュータ２が測定ポイントデータの
書き換え（追加）を行う場合を例に説明する。

【００４０】図８は、本発明の一実施形態としての追加
設定処理を示すフローチャートである。同図において、 ステップＳ２２１：制御用コンピュータ２は、３次元形
状測定機３にＢ点の測定を指示する。即ち、制御用コン
ピュータ２は、次に測定すべき測定ポイントの座標デー
タとして、Ｂ点の座標データを３次元形状測定機３にダ
ウンロードすると共に、Ｂ点における形状の測定を指示
する。

【００４１】ステップＳ２２２：制御用コンピュータ２
は、ステップＳ２２１で測定したＢ点の測定結果が所定
の誤差範囲であるか否かを判断し、その測定結果が所定
の誤差範囲であるとき（ＯＫの場合）にはステップＳ２
３に進んでＣ点の測定を行う。

【００４２】ステップＳ２２３：ステップＳ２２２の判
断において、当該測定結果が所定の誤差範囲を超えてい
るとき（ＮＧの場合）、制御用コンピュータ２は、追加
測定の実施を決定し（ステップＳ２２３）、Ａ点及びＢ
点における測定結果の誤差量、並びにそれらの誤差量の
差に基づいて、追加すべき測定ポイントの点数を仮決定
する。

【００４３】追加すべき測定ポイント点数を仮に決定す
る方法の一例として、本実施形態では、図８に示すテー
ブルのように、Ｂ点における測定結果の誤差量の大き
さ、そしてＡ点及びＢ点における測定結果の誤差量を、
それぞれ大、中、小と分類し、その分類に応じて適当な
追加測定ポイントの点数を予め決定する。そして、この
テーブルを記憶装置２６等に格納しておき、そのテーブ
ルをステップＳ２２４の処理において参照することによ
って決定すればよい。

【００４４】ここで、上記の追加測定ポイントの仮決定
用のテーブルのデータは、各測定ポイントに対して予め
用意される必要が有る。測定結果処理用コンピュータ１
におけるテーブル上の追加測定ポイントの点数の設定方
法としては、設計形状データの形状測定の対象部分を参
照し、各測定ポイントにおける誤差量の大きさ、そして
隣接する測定ポイントにおける誤差量の差を、それぞれ
大、中、小と分類し、その分類における組み合わせに応
じて予め決定した点数（例えば、図８のテーブルに示す
ように、「誤差量」が中で「誤差量の差」が大のときは
４点を追加する等）を、一義的に自動設定すればよい。

【００４５】ステップＳ２２５：制御用コンピュータ２
は、設計形状情報、工程・工法情報、品質情報等が予め
格納されているデータベースを参照することによって係
数を求める。ここで、上記のデータベースに格納する情
報と、そのデータベースを参照することによって入手す
る情報について説明する。ワーク４が有する形状におい
て、修正が難しい部位、或いは品質（３次元測定によっ
て測定した寸法の確度）が安定しない部位については、
追加測定を更に密に実施する必要がある。この状況は、
測定部位の曲率が大きい・小さい等の製品形状、加工工
程が容易・複雑等の理由に起因する。そこで、これらの
情報を、今までに製造してきた同様な形状を有する他の
ワークに関する実績に基づく経験値から予めデータベー
ス化し、そのデータベース化した情報と、各部位におけ
る追加測定の密度の必要性の度合いとの関係を、例えば
０．５から２．０の係数として格納しておけばよい。

【００４６】尚、当該データベースは、別システムとし
て構築し、その別システムから求めた係数を制御用コン
ピュータ２の記憶装置２６に格納したものであっても、
測定結果処理用コンピュータ１等の外部装置に格納した
ものであってもよい。

【００４７】ステップＳ２２２６：制御用コンピュータ
２は、ステップＳ２２５で求めた係数と、ステップＳ２
２４で仮決定した測定ポイントの追加点数とに基づい
て、即ち、当該係数と仮決定した測定ポイントの追加点
数との積を算出し、その算出した値を一般的な方法で整
数化することにより、追加する測定ポイントの点数を正
式に決定する。即ち、仮決定した測定ポイントの追加点
数を、実際に追加する点数に補正する。

【００４８】ステップＳ２２２７：制御用コンピュータ
２は、ステップＳ２２６で正式に決定した追加測定ポイ
ントの点数と、設計形状データとに基づいて、その点数
分の測定ポイントデータ（座標データ）を新たに算出す
る。そしてその算出された測定ポイントデータを使用す
ることにより、当該追加測定ポイントの形状を測定す
る。

【００４９】このように、上述した本実施形態によれ
ば、制御用コンピュータ２は、ある測定ポイントにおけ
る測定結果が、設計形状を基準とする所定の誤差範囲を
超えていたときにだけ、３次元形状測定機３による測定
ピッチを、その測定ポイントにおける誤差の大きさと、
その測定ポイントに隣接する測定点における誤差の大き
さとの違いに応じて追加し、その追加した測定ポイント
を測定することができる。これにより、最小限の測定ポ
イントでワーク４の実際の形状を的確、且つ迅速に測定
することができる。即ち、ワーク４の実際の形状に応じ
て効率的に形状測定を行うことができる。

【００５０】尚、上述した実施形態は、図８のフローチ
ャートに示した動作を実現するソフトウエアを、例え
ば、フロッピーディスク等の記憶媒体に格納し、その記
憶媒体の情報を、例えばパーソナルコンピュータに読み
込むことにより、そのコンピュータを本実施形態に係る
制御用コンピュータ２として動作させる場合にも適用で
きることは言うまでもない。

【００５１】

【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
構造体の実際の形状に応じて効率的に形状測定を行う構
造体の形状測定装置及び形状測定方法及びコンピュータ
読み取りが可能な記憶媒体の提供が実現する。

【００５２】

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を適用可能な３次元形状評価システムの
全体構成図である。

【図２】本発明を適用可能な制御用コンピュータのブロ
ック構成図である。

【図３】本発明の一実施形態としてのワークの測定ポイ
ントを示す図である（測定結果が全てＯＫの場合）。

【図４】本発明の一実施形態としてのワークの測定ポイ
ントを示す図である（測定結果がＢ点においてＮＧの場
合）。

【図５】本発明の一実施形態としてのワークの測定ポイ
ントを示す図である（測定結果がＢ点及びＣ点において
ＮＧの場合）。

【図６】本発明の一実施形態としての制御用コンピュー
タによる形状測定処理の概要を示すフローチャートであ
る。

【図７】本発明の一実施形態としての各測定ポイントの
測定処理を示すフローチャートである。

【図８】本発明の一実施形態としての追加設定処理を示
すフローチャートである。

【符号の説明】

１：測定結果処理用コンピュータ， ２：制御用コンピュータ， ３：３次元測定機， ４：ワーク， ５：基台， ２１：ＣＰＵ， ２２：ディスプレイ， ２３：キーボード， ２４：ＲＯＭ， ２５：ＲＡＭ， ２６：記憶装置， ２７：通信インタフェース， ２８：プリンタ， ２９：内部バス， ３１：プローブ，

Claims (7)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 ３次元形状を有する構造体の形状を測定
   する形状測定装置であって、 前記構造体の形状を、予め設定された複数の測定点にて
   測定する第１の測定手段と、 前記測定手段による測定結果と、前記複数の測定点のう
   ち、該測定結果に対応する測定点における前記構造体の
   設計上の形状寸法との誤差を算出する誤差算出手段と、 前記複数の測定点のうち、前記誤差算出手段によって算
   出した誤差が所定値より大きい測定点の前後に、その算
   出した誤差と前記構造体の設計上の形状寸法とに基づい
   て新たな測定点を生成する生成手段と、 前記生成手段によって設定した新たな測定点に従って、
   前記構造体の形状を測定する第２の測定手段と、を備え
   ることを特徴とする構造体の形状測定装置。
2. 【請求項２】 前記生成手段は、前記複数の測定点のう
   ち、隣接するそれぞれの測定点における誤差の大きさの
   違いに応じて、前記新たな測定点の数量を決定すること
   を特徴とする請求項１記載の構造体の形状測定装置。
3. 【請求項３】 前記生成手段は、前記複数の測定点のう
   ち、隣接するそれぞれの測定点における誤差の大きさの
   違いが大きい程、前記新たな測定点の数量を多く決定す
   ることを特徴とする請求項２記載の構造体の形状測定装
   置。
4. 【請求項４】 更に、前記構造体と同様な構造を有する
   他の構造体を測定したときの品質情報、前記構造体を製
   造する工程情報、並びに工法情報を格納したデータベー
   ス手段を備え、前記生成手段は、前記新たな測定点の数
   量を、前記データベース手段を参照することによって補
   正することを特徴とする請求項３記載の構造体の形状測
   定装置。
5. 【請求項５】 ３次元形状を有する構造体の形状を測定
   する形状測定方法であって、 前記構造体の形状を、複数の測定点にて測定する第１の
   測定工程と、 前記測定工程における測定結果と、前記複数の測定点の
   うち、該測定結果に対応する測定点における前記構造体
   の設計上の形状寸法との誤差を算出する誤差算出工程
   と、 前記複数の測定点のうち、前記誤差算出工程にて算出し
   た誤差が所定値より大きい測定点の前後に、その算出し
   た誤差と前記構造体の設計上の形状寸法とに基づいて新
   たな測定点を生成する生成工程と、 前記生成工程にて設定した新たな測定点に従って、前記
   構造体の形状を測定する第２の測定工程と、を有するこ
   とを特徴とする構造体の形状測定方法。
6. 【請求項６】 前記生成工程は、前記複数の測定点のう
   ち、隣接するそれぞれの測定点における誤差の大きさの
   違いに応じて、前記新たな測定点の数量を決定すること
   を特徴とする請求項５記載の構造体の形状測定方法。
7. 【請求項７】 ３次元形状を有する構造体の形状を測定
   する形状測定処理のプログラムを格納した記録媒体であ
   って、 その記録媒体により、コンピュータを、 ３次元形状測定機により、前記構造体の形状を、予め設
   定された複数の測定点にて測定する第１の測定手段と、 前記測定手段による測定結果と、前記複数の測定点のう
   ち、該測定結果に対応する測定点における前記構造体の
   設計上の形状寸法との誤差を算出する誤差算出手段と、 前記複数の測定点のうち、前記誤差算出手段によって算
   出した誤差が所定値より大きい測定点の前後に、その算
   出した誤差と前記構造体の設計上の形状寸法とに基づい
   て新たな測定点を生成する生成手段と、 前記生成手段によって設定した新たな測定点に従って、
   ３次元形状測定機により、前記構造体の形状を測定する
   第２の測定手段として動作させることを特徴とするコン
   ピュータ読み取りが可能な記憶媒体。