JPH1121037A - エレベータの制御装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 かご位置を検出する光軸式位置検出スイッチ
の発光素子及び受光素子の有する特性を十分に把握し、
より合理的な保守対策を実現し得るとともに、より高信
頼性のエレベータの制御装置を提供する。 【解決手段】 エレベータかご位置を検出する光軸式位
置検出スイッチ５を備え、位置検出スイッチ５に自己診
断機能を持たせるとともに、所定の診断周期毎に診断時
期到来信号を発するタイマ回路７と、このタイマ回路７
からの診断時期到来信号に応答し位置検出スイッチ５に
対し診断指令を送出して位置検出スイッチ５の劣化度を
自己診断させる手段１とを備えたエレベータの制御装
置。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、エレベータの制御
装置に関するものである。

【０００２】

【従来の技術】エレベータの制御装置においては、マイ
クロコンピュータ（以下、「マイコン」という）技術の
導入により、制御性能面はもとより、安全面においても
様々な工夫がなされ、増々信頼性の高いシステムを築き
あげている。エレベータ制御のために、かご及び昇降路
には多くの位置検出スイッチが配置され、それらのオン
／オフ出力により、かご昇降制御部がかごの正確な位置
情報を得て、停止階への着床精度の向上を図る一方、昇
降路終端へのかごの接近を検知し、必要に応じて、強制
減速や緊急停止を行うなどの保護機能を迅速かつ正確に
実施している。

【０００３】従来技術によるこのようなエレベータの制
御装置の基本的機能を、図１０を参照して説明する。エ
レベータ制御装置の主機能はかごの昇降制御であり、こ
れをかご昇降制御部１が司る。かご昇降制御部１はマイ
コンを内蔵しており、それは制御プログラム２に基づい
て動作する。かご昇降制御部１は、制御プログラム２に
より制御方法を確認し、各種入力条件信号１６を入力し
た上で、昇降に関する運行制御信号３を出力し、エレベ
ータかごを上昇方向または下降方向に走行駆動する。各
種入力条件のうち、かごの正確な位置を確認するため
に、かご又は昇降路に位置検出板６を取付けるととも
に、それと協同する位置検出スイッチ５を昇降路または
かごに配設している。昇降路側には、種々のかご位置を
検出するために位置検出板またはかご位置検出スイッチ
が複数箇所に設けられる。ここで説明する位置検出スイ
ッチ５は非接触式であって光軸式と言われるものであ
り、上下方向に見てコの字形をしており、その一方の自
由端部に形成された発光部５ａに配設された発光素子
（例えば、発光ダイオード）から発射され、中央の窓部
を通して他方の自由端部に形成された受光部５ｂに達し
た光に感応するように自由端部５ｂ内に受光素子（例え
ば、ホトトランジスタ）を配設しておき、かご又は昇降
路に設けられた位置検出板６が光を遮ることにより受光
素子への入射光が遮断されて２値の出力電気信号、すな
わちＨ／Ｌまたは１／０、のレベルが変化することを利
用してかご位置を検出し、その検出信号をかご昇降制御
部１へ送出する。

【０００４】かご位置検出スイッチには、上述の光軸式
のものほかにも、昇降路側に機械的にオン／オフ動作す
るリミットスイッチを配置し、かご側に位置検出板相当
の駆動子を取り付けておく機械的（接触式）のものや、
上記の光の代わりに磁気を利用しする磁気センサタイプ
の非接触式のものも存在する。

【０００５】これらの位置検出スイッチのうち、昇降路
の最上端または最下端等に設けられ、運行異常等の非常
の場合以外は動作しないような動作頻度の少ないものに
は、一般に機械式の接触スイッチが用いられているが、
通常の運行状態で頻繁にオン／オフを繰り返すような性
質のスイッチにとしては非接触式のセンサが好ましく、
特に非常用や展望用などの一部の特殊仕様のものを除い
ては、安価で動作にヒステリシスの少ない光軸式位置検
出スイッチが広く用いられている。

【０００６】位置検出スイッチ５と位置検出板６とは対
をなしており、一方をかごの外枠部に、他方を昇降路ガ
イドレール腕部に配設する。かご位置検出スイッチは例
えば、かご着床時の着床精度を確保するためのみなら
ず、かご戸開乗降中における荷重変動によるレベルずれ
を補正するためにも用いられる。

【０００７】次に光軸式位置検出スイッチ５の動作原理
について図１１を用いて説明する。図１１の位置検出ス
イッチ５においては、発光部５ａに発光素子１１、例え
ば発光ダイオードが配設され、受光部５ｂに受光素子１
２、例えばホトトランジスタが配設されている。発光素
子１１と受光素子１２との間は、図示のごとく何も存在
しない空間４として形成され、昇降路内のかごの走行に
伴い空間４を図１０に示した位置検出板６が通過するこ
とにより、位置検出板６が光軸の遮断／透過の作用をし
て受光素子１２の出力電圧１３に変化を生じさせる。こ
の出力電圧１３は受光量に応じて変化する。この出力電
圧１３は比較演算器１５の比較入力端子に比較入力電圧
として入力され、比較演算器１５の基準入力端子には基
準電圧１４が入力される。

【０００８】比較演算器１５の比較結果は判定結果出力
１６として出力され、かご昇降制御部１に向けて送出さ
れる。比較演算器１５は、受光素子１２の出力電圧１３
が基準電圧１４で設定されるしきい値以上の値を有する
か否かに従って判定結果出力１６として“０”または
“１”の論理信号を出力する。この動作状態を、図１２
を参照して説明する。

【０００９】図１２に示すように、受光素子１２例えば
ホトトランジスタの出力電圧１３は受光量に応じて特性
線６１で示すように変化し、この特性線６１と交差する
ように比較演算器１５の基準電圧１４を設定したとすれ
ば、例えば出力電圧１３が基準電圧１４以上の値を有す
るとき、判定結果出力は“０”であり、出力電圧１３が
基準電圧１４を下回ると判定結果出力１６は“１”にな
る。そこで、判定結果出力１６が、０→１又は１→０と
反転する瞬間の信号変化を捉えることにより、位置検出
器の設置位置を検知することができる。

【００１０】ところで光軸式位置検出スイッチ５の実際
の使用に際しては、発光素子、例えば発光ダイオード１
１と、受光素子、例えばホトトランジスタ１２との間の
相対感度の設定が非常に重要になってくる。例えば、発
光ダイオード１１の発光量は飽和領域に達しない限り通
流順電流１１ａ（図１１）の値にほぼ比例するが、発光
強度が大きすぎると、受光側のホトトランジスタ１２の
発光量に対して僅かな比率（％）の光量で反応しきって
しまい、つまり直接の光軸の入射光以外の要因（例え
ば、スイッチ外囲器からの反射光、及び位置検出板６に
付着した雫による散乱光、または接近する２つの光軸式
位置検出スイッチ５間の相互干渉など）での誤動作が考
えられる。

【００１１】逆に発光素子の発光強度が弱すぎる場合
は、やはり散乱等による光の減衰や塵埃付着等に起因す
る検出不良の懸念がある。受光素子、例えばホトトラン
ジスタ１２の光検出感度設定に関しても同様の問題が生
ずる。

【００１２】このような問題に対する対策として、発光
素子および受光素子とも指向性の高いものを選定するの
はもちろんであるが、発光側および受光側を全体として
一つの系とみなし、適切な発光素子の順電流設定と受光
素子の感度設定を行うことが重要なことになる。具体的
には、発光素子、例えば発光ダイオード１１の発光量に
対して３０〜５０％の光量で動作反転するのが実用上好
ましく、上記したような条件を踏まえて、発光側順電流
１１ａ及び受光素子、例えばホトトランジスタ１２の感
度定数を定義している。

【００１３】

【発明が解決しようとする課題】前述した光軸式位置検
出スイッチ５は、長期にわたってエレベータ設置現場で
継続使用するため、時間変化に伴う特性変化すなわち特
性劣化の問題が無視できなくなる。特性劣化の原因とし
て、発光素子の光量減少、受光素子の感度低下、発受光
面への塵埃付着等が主要因であるが、他にも内部電気回
路の抵抗値等の変化、絶縁劣化等の要因も絡んでくる。
特に、発光素子の光量低下は顕著なものであり、標準特
性の発光ダイオードを想定した場合、常温で１０年間継
続使用したとき、初期特性に対して平均で約３０％もの
光量低下を生ずる。さらに、この値は、製造ロット、個
体差、周囲温度その他の条件で大きく変動するため、時
間経過に伴い光軸式位置検出スイッチの個々のばらつき
は想像以上に大きくなる。

【００１４】光軸式位置検出スイッチの特性劣化の現象
を図１２に矢印で示すように特性変化を生じ、波線で示
す特性線６２のようになる。図１２から明確なように、
受光素子１２の特性劣化は、出力信号の反転動作に要す
る光量が相対的に増大し、極端な場合、反転動作点が動
作領域外へ外れてしまうことさえある。動作領域外で
は、外的要因（塵埃発生、湿度上昇、水滴付着、周囲温
度変化等）に対して動作余裕がなくなるため、位置検出
不能になってしまう。

【００１５】現行のエレベータ・メンテナンスにおける
光軸式位置検出スイッチの取り扱いは定期的な交換を前
提としている。交換は故障に至る前に実施する必要があ
り、前述した素子の特性変化を考慮して交換周期を設定
している。しかし、この方式は、特性劣化の最も顕著な
場合を想定して設定する必要があり、結果的に無駄が多
い。前述したように、光軸式位置検出スイッチの特性変
化の度合いは、個々により大きくばらついているため、
実際に現地で回収した光軸式位置検出スイッチのうち、
その大半は、末だ十分に現場での継続使用に耐え得る性
能を有している実状にある。

【００１６】本発明は、上述の事情を考慮してなされた
もので、かごの昇降において性能面及び安全面から見て
重要な機能を担っている光軸式位置検出スイッチに関し
て、発光素子及び受光素子の有する特性を十分に把握
し、より合理的な保守対策を実現し得るとともに、より
高信頼性のエレベータの制御装置を提供することを目的
とするものである。

【００１７】

【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に請求項１に係る発明は、エレベータかごの昇降制御を
司るかご昇降制御部と、発光素子及び受光素子を含み、
エレベータかご及び昇降路の一方に配設された位置検出
スイッチと、エレベータかご及び昇降路の他方に配設さ
れ、エレベータかごの位置に応じて発光素子から受光素
子に向かう光を遮断しエレベータかごの位置を知らせる
位置検出板とを備え、昇降路には検出されるべきエレベ
ータかごの位置に応じて複数個の位置検出スイッチまた
は位置検出板が配設されているエレベータの制御装置に
おいて、位置検出スイッチに自己診断機能を持たせると
ともに、所定の診断周期毎に診断時期到来信号を発する
タイマ手段と、このタイマ手段からの診断時期到来信号
に応答し位置検出スイッチに対し診断指令を送出して位
置検出スイッチの劣化度を自己診断させる手段とを備え
たことを特徴とするものである。

【００１８】請求項２に係る発明は、請求項１に記載の
エレベータの制御装置において、位置検出スイッチは自
己診断の結果をかご昇降制御部に対して出力する手段を
有し、かご昇降制御部は自己診断の結果を入力し劣化寿
命に達した位置検出スイッチを報知する手段を有するこ
とを特徴とするものである。

【００１９】請求項３に係る発明は、請求項１に記載の
エレベータの制御装置において、発光素子は電流値に応
じて発光する電光変換素子であり、受光素子は受光量に
応じた電流を発生して電圧信号として出力する光電変換
素子であり、発光素子に基準電流値の電流を流したとき
の電流と低減された電流値の電流を流したときの受光素
子の出力電圧信号を比較し、両者の変化量が所定値以上
あるか否かにより位置検出スイッチの寿命を診断する寿
命判定装置と、この寿命判定装置により位置検出スイッ
チが寿命到来と判定されたとき、その旨を表示する寿命
表示器とを設けたことを特徴とするものである。

【００２０】請求項４に係る発明は、請求項３に記載の
エレベータの制御装置において、寿命判定装置が自己診
断により位置検出スイッチの寿命を確認したとき、発光
素子に流す電流を通常時より増加して流し、発光素子の
出力光量を増大させる手段を備えたことを特徴とするも
のである。

【００２１】請求項５に係る発明は、請求項１ないし４
のいずれかに記載のエレベータの制御装置において、か
ご昇降制御部が位置検出スイッチに診断指令を出力する
際、エレベータかごを乗り場レベルから階間に移動させ
る手段を備えたことを特徴とするものである。

【００２２】

【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態をにつ
いて説明する。

【００２３】＜実施の形態１＞図１は請求項１に係る発
明によるエレベータの制御装置の動作ブロック図、図２
は図１におけるかご昇降制御部の動作手順を示すフロー
チャートである。

【００２４】図１において、かご昇降制御部１、制御プ
ログラム２、運行制御信号３、光軸式位置検出スイッチ
５、位置検出板６、及び各種入力条件信号１６は、図１
０の対応する符号のものと基本機能は同一であるが、位
置検出板６及び各種入力条件信号１６以外は後述のごと
くそれぞれ機能強化されている。図１の装置には、さら
に、かご昇降制御部１に接続される形でタイマ回路７が
付加され、さらに、かご昇降制御部１から光軸式位置検
出スイッチ５に対し、診断指令１７を出力している。位
置検出スイッチ５は自己診断機能を内蔵しており、かご
昇降制御部１から診断指令１７を受信すると、後述のご
とく自己診断機能を実行する。なお、かご昇降制御部１
に接続された報知装置８については後述する。

【００２５】タイマ回路７には、本発明に従って実行さ
れる自己診断の周期に関する情報が格納されている。位
置検出スイッチ５が継続使用すなわち経年変化により特
性が変化することは、すでに述べたが、寿命劣化の進度
は年オーダーであることから、タイマ７に設定する周期
は、１回／（１〜２週）の程度で十分である。

【００２６】図２に示すように、かご昇降制御部１がタ
イマ回路７から周期信号を受信する（ステップ３１）
と、かご昇降制御部１は前回の診断から一定期間が経過
しているか否かをチェックし（ステップ３２）、一定期
間が経過していたら、エレベータの利用状態をチェック
する（ステップ３３）。ここでエレベータの利用状態を
確認するのは、前述したように素子劣化の進行が年オー
ダーであり、診断にはさほど定時性ないし緊急性は要求
されないからである。従って診断時にエレベータが利用
中の場合は、利用完了→停止を待って診断作用に移行す
ればよい。エレベータが利用中だったら移動を中断して
呼び応答させ、その終了を待つ（ステップ３４）。利用
中でなかった場合およびエレベータ利用終了のときに初
めて位置検出スイッチ５に対し診断指令１７を出力する
（ステップ３７）。位置検出スイッチ５はその診断指令
１７を受信することにより内蔵した自己診断機能により
自己診断を実行する。以上のようにして、位置検出スイ
ッチ５は定期的な診断を行うことができる。

【００２７】請求項１に係る発明の実施の形態１によれ
ば、一定周期毎に光軸式位置検出スイッチの発光素子及
び受光素子の劣化度を自己診断させ、より合理的な保守
対策を実現し、エレベータの信頼性を向上させることが
できる。

【００２８】＜実施の形態２＞実施の形態２は、制御装
置の使い勝手を考慮し、図２に示すフローチャートに対
し、図３に示すステップ３９〜４１を追加したものであ
る。実施の形態１では、かご昇降制御部１は、定期的に
光軸式位置検出スイッチ５に対し自己診断を促すもの
の、その診断結果については入力する手段を持っていな
いため、寿命交換対象となった位置検出スイッチの有無
については、保守担当員が定期点検時に直接、位置検出
スイッチの設置箇所に赴き、位置検出器の外囲器に設け
られた寿命劣化表示器（後述）の出力等を確認する必要
がある。

【００２９】かご昇降制御部１が位置検出スイッチ５か
ら自己診断結果を示す寿命信号１８を入力するようにす
ることにより、寿命が来て交換対象となった位置検出ス
イッチの有無を中央制御装置（図示せず）側で確認す
る。かご昇降制御部１は、さらに診断による交換対象の
発生を、報知装置８に出力することにより、保守員等に
容易に連絡できるようにしたものである。この作用を実
現するために、図３に示すように、寿命判定時間経過の
後（ステップ３８）に、かご昇降制御部１が位置検出ス
イッチ５から診断結果を示す寿命信号１８を受信し（ス
テップ３９）、寿命が到来している素子（発光素子およ
び受光素子）が存在するか否かをチェックし（ステップ
４０）、寿命素子があればそれを報知装置８に信号出力
して保守員に知らせる（ステップ４１）。

【００３０】報知装置８は、機械室内に一般的に設けら
れるブザーやランプの他に、監視盤への表示や電話回線
を用いたメンテナンス会社サービスセンタヘの通報な
ど、種々の具体例が考えられる。また、寿命信号１８
は、複数個の位置検出スイッチ５の出力のＯＲ論理をと
って信号線を共通化してもよいが、各信号を独立して入
力する方式とすれば、交換対象の設置箇所も直ちに特定
でき、より至便である。また、入力条件信号１６と寿命
信号１８との論理結合をとる方式も考えられる。

【００３１】請求項２に係る発明の実施の形態２によれ
ば、光軸式位置検出スィッチの寿命劣化の情報が、報知
装置によりエレベータ機械室内等で報知されるので、エ
レベータメンテナンス員は個々の位置検出スイッチを調
査することなく、交換対象素子の有無を容易に知ること
ができる。

【００３２】＜実施の形態３＞実施の形態３は、自己診
断を実施する位置検出スイッチ５における素子の寿命判
定と寿命表示器に関するものであり、その作用について
図４を参照して説明する。図中、符号１１〜１６は、す
でに述べた図１１におけるものと同一である。ここで
は、発光素子側順電流１１ａの値を寿命確認のためにＩ
faまたはＩfbに切り替えられるようにしたものである。
すなわち、図４の位置検出スイッチ５の通常時の作用は
図１１のものと同一である。

【００３３】図４の位置検出スイッチ５には、寿命判定
装置１９及び寿命表示器２０が設けられている。寿命判
定装置１９の作用について図５を参照しながら説明す
る。

【００３４】寿命判定装置１９は、かご昇降制御部１か
らの診断指令１７、および受光素子１２の出力電圧１３
を入力している。診断指令１７を受信したことを確認し
たら（ステップ５１）、順電流切替指令２１を出力し、
発光素子１１に流す電流を基準値Ｉfaから寿命確認用電
流値Ｉfbに切り替える（ステップ５２）。ここで、電流
値ＩfaとＩfbとの関係は図６に示すようなものである。
すなわち、ここでは仮に、２・Ｉfb＝Ｉfaと定義してお
く。発光素子１１の発光量がほぼ順電流に比例するもの
と考えれば、順電流切替指令２１の出力により発光素子
１１の順電流を２分の１にすることにより、その発光量
を通常時の半分にすることができる。従来の技術の項で
光軸式位置検出スイッチ５の反転動作点は発光素子１１
の発光量の３０〜５０％程度が最適である旨述べたが、
上記の作用により疑以的に継続使用により特性の変化し
た現在の発光素子１１の発光量×５０％の条件を作り出
すことができる。この条件のもとで受光素子１２の出力
電圧１３の値を、前述した寿命判定装置２０が取込む
（ステップ５３）。ここで出力電圧１３の変化量を見
て、それが一定値以上であれば継続使用可と判断し、順
電流１１ａをもとの値Ｉfaに戻し（ステップ５５）、一
定値に達していなければ寿命が来ており交換対象である
と判断し、寿命表示器２０に信号を送り、それを点灯さ
せる（ステップ５７）とともに、寿命信号１８をかご昇
降制御部１へ向けて出力する（ステップ５８）。

【００３５】寿命判定装置２０はその後、順電流切替指
令２１を取消し、発光素子１１に対する順電流を基準値
Ｉfaに戻し診断機能を完了する。その際、寿命交換対象
のものには素子外囲器に設置した寿命表示器２０に信号
を出力し、素子の劣化交換対象品が目視で確認できるよ
うにする。なお、以上の処理は、図３におけるステップ
３９以下で行われる。

【００３６】請求項３に係る発明の実施の形態３によれ
ば、エレベータメンテナンス員は、複数個ある光軸式位
置検出スイッチのうち交換対象の素子を、素子外囲器に
存在する寿命表示器の目視によって判断することができ
る。

【００３７】＜実施の形態４＞実施に形態４は、図７に
示すように、図５に示した実施の形態３において、寿命
表示器２０への信号出力（ステップ５７）の前に、順電
流１１ａの値を、Ｉfc（＞Ｉfb）に切り替えるステップ
（ステップ５６）を追加したものである。電流値Ｉfcは
基準電流値Ｉfaよりも大きな値であり（図６参照）、実
施の形態３の説明において、寿命判定装置１９が寿命判
定後、順電流１１ａを基準電流値Ｉfaに戻す旨の説明を
したが、交換対象品についても保守員が、交換を完了す
るまで継続使用を行うのに対し、その特性は実用上好ま
しくないものである訳である。そこで、素子の寿命劣化
・継続使用不可と判断した場合は、順電流切替指令２１
の出力により、発光素子１１の順電流１１ａを増強電流
値Ｉfcにして流すことにする。図６から明らかなよう
に、順電流１１ａ＝Ｉfcとすることによって、発光素子
１１の発光量を増大し、素子特性の改善に寄与する。こ
れにより保守員による寿命素子の交換までの暫定期間で
はあるが、位置検出スイッチ５の性能を復活させ、暫定
的に正常な素子として使用することが可能になる。

【００３８】請求項４に係る発明の実施の形態４によれ
ば、自己診断により特性劣化が判明した素子について
は、暫定的に特性を改善する機能が実現され、動作不良
の懸念を低減させることができる。

【００３９】＜実施の形態５＞実施の形態５を図８及び
図９に示す。実施の形態５は、図２に示した実施の形態
１、及び図３に示した実施の形態２において、位置検出
スイッチの診断時に、エレベータかごを階間に移動させ
る処理を追加したものである。ここまで述べてきた診断
方式では全て光軸式位置検出スイッチ５の自己診断時
に、発光素子１１と受光素子１２間の光軸が位置検出板
６によって遮断されていないことが前提となっている。
しかし、通常のエレベータ停止時、かごはフロアレベル
で停止しているが、それでは着床制御用の位置検出スイ
ッチ５の一部内に位置検出板６が介入してしまうおそれ
があり、必ずしも正確な診断が保証されない。その影響
を回避するために、診断に先だってかごを階間に強制的
に移動させるものである。すなわち、図２に示した実施
の形態１、または図３に示した実施の形態２において、
それぞれ図８及び図９に示すように、ステップ３３にお
いてエレベータ利用中でないことが確認された後、診断
指令出力（ステップ３７）の前に、エレベータかごを階
間へ移動させ（ステップ３５）、完全に移動したかどう
かをチェックする処理（ステップ３６）を追加し、それ
に対応し、寿命判定時間経過後（ステップ３８）、診断
終了の直前にエレベータかごを階間から乗り場レベルへ
移動させる（ステップ４２）。

【００４０】請求項５に係る発明の実施の形態５によれ
ば、かご昇降制御部による診断指令に対して、複数個の
光軸式位置検出スイッチは、位置検出板の影響を受けず
に、全数正確な自己診断を実施することができる。

【００４１】

【発明の効果】本発明によれば、かごの昇降に関して重
要な機能を担う光軸式位置検出スイッチに関し、発光素
子および受光素子の有する性能に応じた無駄のない適切
な保守が可能となる。また、素子の寿命がきて交換の必
要が生じた位置検出スイッチに関して、交換が完了する
までの間、暫定的に内部特性の改善を図ることにより、
エレベータの信頼性を高めることができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】請求項１に係る発明によるエレベータの制御装
置の実施の一形態を示すブロック図。

【図２】請求項１に係る発明の実施の一形態を示すフロ
ーチャート。

【図３】請求項２に係る発明の実施の一形態を示すフロ
ーチャート。

【図４】請求項３に係る発明の実施の一形態を示すブロ
ック図。

【図５】請求項４に係る発明の実施の一形態を示すブロ
ック図。

【図６】請求項４に関し光軸式位置検出スイッチにおけ
る発光素子の順電流と発光量との関係について示す線
図。

【図７】請求項４に係る発明の実施の一形態を示すフロ
ーチャート。

【図８】請求項５に係る発明の実施の一形態を示すフロ
ーチャート。

【図９】請求項５に係る発明の他の実施の形態を示すフ
ローチャート。

【図１０】従来の技術によるエレベータの制御装置のブ
ロック図。

【図１１】従来の技術による光軸式位置検出スイッチの
接続図。

【図１２】一般的な光軸式位置検出スイッチにおける受
光素子の受光量と出力電圧並びにその判定結果について
説明する線図。

【符号の説明】

１ かご昇降制御部 ２ 制御プログラム ３ 運行制御信号 ５ 光軸式位置検出スイッチ ６ 位置検出板 ７ タイマ回路 ８ 報知装置 １１ 発光素子 １１ａ 発光側基準順電流 １１ｂ 寿命確認用順電流 １１ｃ 増加順電流 １２ 受光素子 １５ 比較素子 １９ 寿命表示器 ２０ 寿命判定装置

Claims (5)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】エレベータかごの昇降制御を司るかご昇降
   制御部と、発光素子及び受光素子を含み、前記エレベー
   タかご及び昇降路の一方に配設された位置検出スイッチ
   と、前記エレベータかご及び昇降路の他方に配設され、
   前記エレベータかごの位置に応じて前記発光素子から前
   記受光素子に向かう光を遮断しエレベータかごの位置を
   知らせる位置検出板とを備え、前記昇降路には検出され
   るべきエレベータかごの位置に応じて複数個の位置検出
   スイッチまたは位置検出板が配設されているエレベータ
   の制御装置において、前記位置検出スイッチに自己診断
   機能を持たせるとともに、所定の診断周期毎に診断時期
   到来信号を発するタイマ手段と、このタイマ手段からの
   前記診断時期到来信号に応答し前記位置検出スイッチに
   対し診断指令を送出して前記位置検出スイッチの劣化度
   を自己診断させる手段とを備えたことを特徴とするエレ
   ベータの制御装置。
2. 【請求項２】請求項１に記載のエレベータの制御装置に
   おいて、前記位置検出スイッチは自己診断の結果を前記
   かご昇降制御部に対して出力する手段を有し、前記かご
   昇降制御部は前記自己診断の結果を入力し劣化寿命に達
   した位置検出スイッチを報知する手段を有することを特
   徴とするエレベータの制御装置。
3. 【請求項３】請求項１に記載のエレベータの制御装置に
   おいて、前記発光素子は電流値に応じて発光する電光変
   換素子であり、前記受光素子は受光量に応じた電流を発
   生して電圧信号として出力する光電変換素子であり、前
   記発光素子に基準電流値の電流を流したときの電流と低
   減された電流値の電流を流したときの前記受光素子の前
   記出力電圧信号を比較し、両者の変化量が所定値以上あ
   るか否かにより前記位置検出スイッチの寿命を診断する
   寿命判定装置と、この寿命判定装置により位置検出スイ
   ッチが寿命到来と判定されたとき、その旨を表示する寿
   命表示器とを設けたことを特徴とするエレベータの制御
   装置。
4. 【請求項４】請求項３に記載のエレベータの制御装置に
   おいて、前記寿命判定装置が自己診断により位置検出ス
   イッチの寿命を確認したとき、前記発光素子に流す電流
   を通常時より増加して流し、前記発光素子の出力光量を
   増大させる手段を備えたことを特徴とするエレベータの
   制御装置。
5. 【請求項５】請求項１ないし４のいずれかに記載のエレ
   ベータの制御装置において、前記かご昇降制御部が前記
   位置検出スイッチに診断指令を出力する際、エレベータ
   かごを乗り場レベルから階間に移動させる手段を備えた
   ことを特徴とするエレベータの制御装置。