JPH11204479A - 超音波洗浄装置 - Google Patents

超音波洗浄装置

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JPH11204479A
JPH11204479A JP1813398A JP1813398A JPH11204479A JP H11204479 A JPH11204479 A JP H11204479A JP 1813398 A JP1813398 A JP 1813398A JP 1813398 A JP1813398 A JP 1813398A JP H11204479 A JPH11204479 A JP H11204479A
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幸吉 広城
Yuji Tanaka
裕司 田中
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重徳 北原
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 振動伝播用液体の流量を増大させることなく
洗浄槽の下面に付着する気泡を除去して、洗浄効率の向
上を図れるようにすること。 【解決手段】 半導体ウエハWを浸漬する薬液Lを貯留
する洗浄槽1と、洗浄槽1の下部を浸漬する純水Pを貯
留する開口面が略矩形状の中間槽2と、中間槽2の底部
に配設される超音波発振手段3と、を具備する超音波洗
浄装置において、中間槽2の一辺側に、純水Pを洗浄槽
1の下部側に向かって供給する純水供給ノズル4を配設
し、中間槽2における純水供給ノズル4の配設側と対向
する辺側に、上端に適宜間隔をおいて切除される複数の
流出溝9を有する仕切板5を配設する。これにより、純
水供給ノズル4から洗浄槽1の内槽6の下面側に向かっ
て供給される純水Pが中間槽2の振動伝播領域2aに充
満された後、仕切板5の流出溝9から均一に排出して、
内槽6の下面に付着する気泡を除去する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は超音波洗浄装置に
関するもので、更に詳細には、例えば半導体ウエハやL
CD用ガラス基板等の被処理体を、超音波を利用して洗
浄する超音波洗浄装置に関するものである。
【0002】
【従来の技術】一般に、半導体製造装置の製造工程にお
いては、半導体ウエハやLCD用ガラス基板等を薬液や
リンス液等の洗浄液が貯留された洗浄槽に順次浸漬して
洗浄を行う洗浄処理方法が広く採用されている。
【0003】このような洗浄処理方法を実施する洗浄処
理装置の一例として、超音波洗浄装置が使用されてい
る。従来の超音波洗浄装置は、図10に示すように、被
処理体例えば半導体ウエハ(以下にウエハという)Wを
浸漬する洗浄液例えば薬液aを貯留する洗浄槽bと、こ
の洗浄槽bの下部を浸漬する振動伝播用液体例えば純水
cを貯留する中間槽dと、この中間槽dの底部に配設さ
れ、下面に超音波振動素子eを装着してなる例えばステ
ンレス製の振動伝達板fとからなる超音波発振手段gと
で主に構成されている。なお、上記洗浄槽bは、薬液a
を貯留し、実際にウエハWの洗浄処理が行われる内槽h
と、この内槽hの上端開口部を包囲し、内槽hからオー
バーフローした薬液aを受け止める外槽iとで構成され
ている。
【0004】上記のように構成される超音波洗浄装置に
よれば、薬液aを貯留した内槽h内に、ウエハWをウエ
ハガイドjで保持した状態で浸漬し、超音波発振手段g
の超音波振動素子eに適当な周波数の高周波電圧を印可
して励振することにより、超音波振動が発生し、その超
音波振動が純水cを伝播して内槽h内に伝わって、ウエ
ハWに付着したパーティクル等を除去することができ
る。
【0005】ところで、上記超音波振動素子eの励振に
より発生した気泡が洗浄槽bの下面に付着すると、超音
波が反射されるため、洗浄槽b内の薬液aへの振動の伝
播効率が低下し、洗浄能力が低下する虞れがある。そこ
で、従来では、中間槽d内にバブルイレイザーと称する
ノズルkを配設し、このノズルkから中間槽d内に供給
される純水cを中間槽dからオーバーフローさせること
により、洗浄槽bの下面に付着する気泡を除去してい
る。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、純水c
には粘性と大きな表面張力があるため、中間槽dのある
一箇所でオーバーフローすると、他の場所ではオーバー
フローしないという現象が生じ、流れのある場所と淀み
の場所が生じてしまい、洗浄槽bの下面に付着する気泡
を十分に除去することができない。
【0007】この問題を解決するためには、洗浄槽bの
下面を傾斜させたり、純水の供給流量を例えば4リット
ル/分のように増加させるなどの方法が考えられるが、
洗浄槽bの下面を傾斜させるにも限度があるため、洗浄
槽bの下面を傾斜させても気泡を除去するには至らな
い。また、純水の流量を増大させることにより、ある程
度の気泡の除去は可能であるが、気泡を完全に除去する
ことができないのが現状である。また、純水cの流量の
増加は排液の増加につながるので、好ましくない。
【0008】この発明は上記事情に鑑みなされたもの
で、振動伝播用液体の流量を多くすることなく洗浄槽の
下面への気泡の付着を除去して、洗浄効率の向上を図れ
るようにした超音波洗浄装置を提供することを目的とす
るものである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、この発明の超音波洗浄装置は以下のように構成され
る。
【0010】(1)請求項1記載の発明は、被処理体の
洗浄液を貯留する洗浄槽と、上記洗浄槽の下部を浸漬す
る振動伝播用液体を貯留する開口面が略矩形状の中間槽
と、上記中間槽の底部に配設される超音波発振手段と、
を具備する超音波洗浄装置において、上記中間槽の一辺
側に、上記振動伝播用液体を上記洗浄槽の下部側に向か
って供給する液供給手段を配設し、上記中間槽における
上記液供給手段の配設側と対向する辺側に、上部に適宜
間隔をおいて複数の流出部を有する仕切板を配設してな
る、ことを特徴とする。この場合、上記流出部の高さ
を、中間槽の側壁より低くすると共に、洗浄槽の下面よ
り高くする方が好ましい(請求項2)。この流出部は、
中間槽内に充満される振動伝播用液体を外部へ排出する
ものであれば、その形態は任意でよく、例えば仕切板に
穿設される透孔や、仕切板の上端に切除される流出溝に
て形成することができる(請求項3)。また、上記液供
給手段を、振動伝播用液体を洗浄槽の下部側に向かって
略均等に分散噴射するノズルにて形成する方が好ましい
(請求項7)。
【0011】上記のように構成することにより、液供給
手段から洗浄槽の下面に向かって供給される振動伝播用
液体が中間槽を満たした後、仕切板に設けられた流出部
から均一に排出するので、振動伝播用液体の流量を多く
することなく洗浄槽の下面に付着する気泡を除去するこ
とができる(請求項1)。また、流出部の高さを、中間
槽の側壁より低くすると共に、洗浄槽の下面より高くす
ることにより、仕切板の流出部分で更に積極的に振動伝
播用液体を排出することができる(請求項2,3)。更
に、液供給手段を、振動伝播用液体を洗浄槽の下部側に
向かって略均等に分散供給するノズルにて形成すること
により、洗浄槽の下面に付着する気泡を更に確実に除去
することができる(請求項7)。
【0012】(2)請求項4記載の発明は、被処理体の
洗浄液を貯留する洗浄槽と、上記洗浄槽の下部を浸漬す
る振動伝播用液体を貯留する開口面が略矩形状の中間槽
と、上記中間槽の底部に配設される超音波発振手段と、
を具備する超音波洗浄装置において、上記中間槽の一辺
側に、上記振動伝播用液体を上記洗浄槽の下部側に向か
って供給する液供給手段を配設し、上記中間槽における
上記液供給手段の配設側と対向する側壁の上部に、適宜
間隔をおいて複数の流出部を形成してなる、ことを特徴
とする。この場合、上記流出部の高さを、流出部を有す
る側壁以外の側壁より低くすると共に、洗浄槽の下面よ
り高くする方が好ましい(請求項5)。この流出部は、
中間槽内に充満される振動伝播用液体を外部へ排出する
ものであれば、その形態は任意でよく、例えば側壁に穿
設される透孔や、側壁の上端に切除される流出溝にて形
成することができる(請求項6)。また、上記液供給手
段を、振動伝播用液体を洗浄槽の下部側に向かって略均
等に分散供給するノズルにて形成する方が好ましい(請
求項7)。
【0013】上記のように構成することにより、液供給
手段から洗浄槽の下面に向かって供給される振動伝播用
液体が中間槽を満たした後、液供給手段と対向する側の
側壁に設けられた流出部から均一に排出するので、洗浄
槽の下面に付着する気泡を除去することができる(請求
項4)。また、流出部の高さを、流出部を有する側壁以
外の側壁より低くすると共に、洗浄槽の下面より高くす
ることにより、側壁の流出部分で更に積極的に振動伝播
用液体を排出することができる(請求項5,6)。更
に、液供給手段を、振動伝播用液体を洗浄槽の下部側に
向かって略均等に分散供給するノズルにて形成すること
により、洗浄槽の下面に付着する気泡を更に確実に除去
することができる(請求項7)。
【0014】
【発明の実施の形態】以下に、この発明に係る超音波洗
浄装置の実施形態について添付図面に基づいて詳細に説
明する。ここでは、半導体ウエハ用の超音波洗浄装置に
適用した場合について説明する。
【0015】◎第一実施形態 図1はこの発明に係る超音波洗浄装置の第一実施形態を
示す概略断面図、図2は図1の側断面図である。
【0016】上記超音波洗浄装置は、被処理体例えば半
導体ウエハ(以下にウエハという)Wを浸漬する洗浄液
例えば薬液Lが貯留される洗浄槽1と、この洗浄槽1の
下部を浸漬する振動伝播用液体例えば純水Pを貯留する
開口面が略矩形状の中間槽2と、この中間槽2の底部に
配設される超音波発振手段3と、中間槽2内の一側側に
配設される液供給手段例えば純水供給ノズル4とで主に
構成されており、中間槽2における純水供給ノズル4と
対向する側には仕切板5が配設されている。
【0017】この場合、上記洗浄槽1は、例えば石英製
等にて形成され、貯留された薬液Lに複数例えば50枚
のウエハWが浸漬される内槽6と、内槽6の上端開口部
を包囲し、内槽6からオーバーフローした薬液Lを受け
止める外槽7とで構成されている。また、内槽6内に
は、ウエハガイド8が配設されており、このウエハガイ
ド8に複数例えば50枚のウエハWが保持された状態
で、ウエハWが薬液Lに浸漬されるように構成されてい
る。更に、内槽6の底部は、側面から見たときに緩やか
に傾斜するように形成されている(図2参照)。このよ
うに内槽6の底部を傾斜させた理由は、純水Pに溶け込
んでいた酸素等の気体が超音波振動により純水Pから分
離されることにより気泡が発生し、これにより内槽6の
底部に付着した気泡を速やかに除去するためである。な
お、外槽7の底部には排出口7aが設けられており、こ
の排出口7aにドレン弁7bを介設したドレン管7cが
接続されている。また、内槽6の底部にも、薬液Lを排
液するためのドレン管(図示せず)が接続されている。
なお、内槽6付近には図示しない薬液供給手段が配設さ
れ、内槽6内に薬液を随時供給できるように形成されて
いる。
【0018】上記中間槽2は例えばポリプロピレン樹脂
等にて形成され、内部に貯留された純水Pに洗浄槽1の
内槽6の下部が浸漬されるように配設されている。この
中間槽5内の一側部に配設される純水供給ノズル4は、
図2及び図3に示すように、パイプ状本体4aの斜め上
部側に多数の噴射孔4bを等間隔に穿設したノズルにて
形成されており、中間槽2の側壁を貫通する純水供給管
41を介して純水供給源40に接続されている。なお、
純水供給管41における純水供給源40側には開閉バル
ブ42が介設されている。このように純水供給ノズル4
を形成することにより、各噴射孔4bから分散噴射(供
給)される純水Pは洗浄槽1の内槽6の下面に向かって
噴射(供給)され、内槽6の下面に付着する気泡を積極
的に他方側に流すことができる。
【0019】また、中間槽2内に配設される仕切板5
は、純水供給ノズル4及び超音波発振手段3を有する洗
浄槽1の下部を浸漬する振動伝播領域2aと、純水供給
ノズル4と対向する側壁付近の領域2bとを区画するよ
うに配設されている。この仕切板5は、中間槽2の側壁
21より低く、洗浄槽1の内槽6の下面より高く形成さ
れており、その上端には、適宜間隔をおいて複数の流出
部例えば略V形状の流出溝9が切除されている。このよ
うに、中間槽2内の純水供給ノズル4と対向する側壁付
近に、流出溝9(例えばV溝)を有する仕切板5を配設
することにより、純水供給ノズル4から洗浄槽1の内槽
6の下面に向かって噴射(供給)された純水Pが、中間
槽2の振動伝播領域2aを満たした後、流出溝9から均
一に排出されて領域2bに流れる。したがって、純水P
の排出に伴って内槽6の下面に付着する気泡を除去する
ことができる。なお、領域2b側の側壁21にはドレン
弁22を介設したドレン管23が接続されており、領域
2bに貯留した純水Pを外部に排出し得るように構成さ
れている。
【0020】また、上記中間槽5の底部には略矩形状の
開口部5aが設けられており、この開口部5aに超音波
発振手段3が配設されている。この超音波発振手段3
は、開口部5aの周辺上面に接着剤等によって水密性が
保たれるように固着される振動伝達板30と、この振動
伝達板30の下面側に接着剤等によって固着される複数
(図面では二列に配列された8個の場合を示す)の超音
波振動素子31とで構成されている(図4参照)。この
場合、振動伝達板30は、例えばステンレス製の板部材
にて形成されており、超音波振動素子31は、例えば矩
形状のセラミックス製板材にて形成されている。また、
各超音波振動素子31は、発振源と電源ユニットを具備
する超音波発生器32に接続されており、超音波発生器
32の駆動によって超音波振動素子31に高周波電圧が
印加されて励振し、その振動が振動伝達板30に伝わっ
て超音波振動を発生するように構成されている。なお、
中間槽2の底部には、上記超音波発振手段3と重ならな
い位置に、排水のためのドレン管(図示せず)が接続さ
れている。
【0021】また、上記超音波発振手段3には、超音波
振動の異常を検出する検出手段50が設けられている。
この異常検出手段50は、図4及び図5に示すように、
各超音波振動素子31の表面(プラス極側)における側
辺部に接着剤等にて固着される出力検出センサ51と、
この出力検出センサ51からの検出信号を受けて予め記
憶された情報と比較演算処理して例えばアラーム等を発
する制御部例えば中央演算処理装置52(CPU)とで
構成されている。この場合、出力検出センサ51は、超
音波振動素子31と同様のセラミックス製のチップにて
形成されており、超音波振動素子31の振動を電気信号
に変換し得るように形成されている。なお、超音波振動
素子31の表面側(プラス極側)における出力検出セン
サ51の装着部の近傍には絶縁部53を介して裏面側と
同極(マイナス極)の電極部54が露呈している。なお
この場合、これら出力検出センサ51と電極部54は、
洗浄槽1の内槽6の下部領域から外側の位置に設けられ
ている。
【0022】上記のように超音波発振手段3を構成する
各超音波振動素子31の裏面側に出力検出センサ51を
装着することにより、使用中に超音波振動素子31の劣
化や剥離、あるいはケーブルの断線等による異常が発生
して振動状態が変化した場合、その異常を出力検出セン
サ51によって検知し、アラーム等によって知らせるこ
とができる。したがって、従来では、処理槽1あるいは
中間槽2内の液中に浸漬して音圧を測定する例えば石英
製のプローブによって検出していたため、使用中には検
出できなかった振動異常状態を確実に検知することがで
きる。なお、振動異常が検出された場合は、洗浄処理を
中断して、超音波発振手段3を交換すればよい。
【0023】次に、上記のように構成される超音波洗浄
装置の動作態様について説明する。まず、純水供給源4
0から中間槽2内に純水Pを供給することにより、少な
くとも内槽6の底部下面全体を浸漬できるように貯留し
ておく。次に、内槽6内にはウエハWを浸漬し、洗浄す
るための薬液Lを図示しない薬液供給手段により随時供
給し続け、上端開口縁付近まで予め貯留しておく。な
お、薬液Lには、例えばウエハW表面に付着した酸化膜
等を除去するためのフッ酸希釈液(DHF液)や、金属
不純物等を除去するためのHPM液(塩酸及び過酸化水
素の混合水溶液)等が用いられる。
【0024】次に、図示しないウエハ搬送手段によって
保持された複数例えば50枚のウエハWを、内槽6内に
配設されたウエハガイド8に受け渡して、ウエハWを薬
液Lに浸漬する。その後、超音波振動素子31に接続さ
れた超音波発生器32を駆動して超音波振動素子31に
高周波電源を印加して励振することにより、振動伝達板
30が超音波振動を発生する。この超音波振動が中間槽
2内の純水Pを伝播して内槽6に貯留された薬液Lまで
伝わり、この超音波振動によってウエハWに付着したパ
ーティクル等が除去されることにより、ウエハWが超音
波洗浄される。なお、この間にも図示しない上記薬液供
給手段によって、内槽6内に薬液Lを適量ずつ随時供給
し続ける。このように、薬液Lを随時供給することによ
り、ウエハWから除去されて液面に浮かんだパーティク
ル等を、オーバーフローする薬液Lと共に効果的に外槽
7へ流出させることができるので、内槽6内の薬液Lを
清浄な状態に保つことができる。また、外槽7内に流入
した使用済みの薬液Lは、ドレン弁7bを開状態にして
ドレン管7cから排液される。
【0025】上述のようにしてウエハWを洗浄処理して
いる間、純水供給ノズル4から純水Pが内槽6の下面に
向かって噴射(供給)されると共に、中間槽2の振動伝
播領域2a内に充満された純水Pが、仕切板5に設けら
れた各流出溝9から均一に排出されて中間槽2の別の領
域2bに流れるので、内槽6の下面に付着する気泡を除
去することができる。したがって、純水供給ノズル4か
ら噴射(供給)する純水の流量を必要以上に多くするこ
となく、例えば純水供給ノズル4から噴射(供給)され
る純水Pの流量を2リットル/分とすることで、内槽6
の下面に付着する気泡のほとんどを除去することができ
るので、超音波振動の伝播効率の向上が図れ、洗浄効率
の向上を図ることができる。また、この際、流出溝9の
高さを、中間槽2の側壁21より低くすると共に、洗浄
槽1の内槽6の下面より高くすることにより、仕切板5
の流出溝9部分で更に積極的に純水Pをオーバーフロー
することができる。更に、純水供給ノズル4を、純水P
が内槽6の下部側に向かって略均等に分散噴射(供給)
するノズルにて形成することにより、内槽6の下面に付
着する気泡を更に効率よく除去することができる。
【0026】◎第二実施形態 図6はこの発明に係る超音波洗浄装置の第二実施形態を
示す概略断面図、図7は第二実施形態における中間槽を
示す斜視図である。
【0027】第二実施形態は、上記第一実施形態におけ
る仕切板5に代えて、中間槽2における純水供給ノズル
4を配設した側と対向する側の側壁21Aの上端に適宜
間隔をおいて複数の流出部例えば略V形状の流出溝9を
設けた場合である。この場合、流出溝9を有する側壁2
1Aの高さ(具体的には流出溝9の高さ)は、中間槽2
の他の三辺の側壁21よりも低く形成されると共に、洗
浄槽1の内槽6の下面より高く形成されている(図7参
照)。なお、第二実施形態において、その他の部分は上
記第一実施形態と同じであるので、同一部分には同一符
号を付して説明は省略する。
【0028】上記のように構成することにより、上述と
同様にウエハWの洗浄処理中に、純水供給ノズル4から
純水Pが内槽6の下面に向かって噴射(供給)されると
共に、中間槽2内に充満された純水Pが、側壁21Aに
設けられた各流出溝9から均一に排出されて外部に流れ
るので、内槽6の下面に付着する気泡を除去することが
できる。したがって、純水供給ノズル4から噴射(供
給)する純水の流量を必要以上に多くすることなく、内
槽6の下面に付着する気泡を確実に除去することがで
き、超音波振動の伝播効率の向上が図れ、洗浄効率の向
上を図ることができる。また、この際、流出溝9の高さ
を、流出溝9を有する側壁21A以外の側壁21より低
くすると共に、洗浄槽1の内槽6の下面より高くするこ
とにより、側壁21Aの流出溝9部分で更に積極的に純
水Pを排出することができる。更に、純水供給ノズル4
を、純水Pが内槽6の下部側に向かって略均等に分散噴
射(供給)するノズルにて形成することにより、内槽6
の下面に付着する気泡を更に確実に除去することができ
る。
【0029】◎その他の実施形態 なお、上記実施形態では、仕切板5又は中間槽2の側壁
21Aに設けられる流出部がV形状の流出溝9にて形成
される場合について説明したが、流出溝9の形状は必ず
しもV形状である必要はなく、例えば円弧状等任意の形
状にすることができる。
【0030】また、上記流出部は必ずしも仕切板5又は
側壁21Aの上端に切除される流出溝9である必要はな
く、例えば図8又は図9に示すように、仕切板5又は側
壁21Aの上部に適宜間隔をおいて穿設される複数の透
孔にて形成される流出孔9Aであってもよい。この場
合、流出孔9Aの高さを、中間槽2の側壁21より低く
すると共に、洗浄槽1の内槽6の下面より高くすること
により、流出孔9A部分で更に積極的に純水Pを排出す
ることができる。なお、図8及び図9において、その他
の部分は上記第一実施形態及び第二実施形態と同じであ
るので、同一部分には同一符号を付して、説明は省略す
る。
【0031】また、上記実施形態では、この発明を半導
体ウエハ用の超音波洗浄装置に適用する場合について説
明したが、必ずしも半導体ウエハに限定されるものでは
なく、例えばLCD用ガラス基板等を洗浄するための超
音波洗浄装置に適用してもよいし、それ以外の超音波洗
浄装置に適用してもよい。
【0032】
【発明の効果】(1)請求項1〜3記載の発明によれ
ば、液供給手段から洗浄槽の下面に向かって供給される
振動伝播用液体が中間槽を満たした後、仕切板に設けら
れた流出部から均一に排出するので、振動伝播用液体の
流量を多くすることなく洗浄槽の下面に付着する気泡を
除去することができる。したがって、超音波振動の伝播
効率の向上が図れると共に、洗浄効率の向上を図ること
ができる。また、流出部の高さを、中間槽の側壁より低
くすると共に、洗浄槽の下面より高くすることにより、
仕切板の流出部分で更に積極的に振動伝播用液体を排出
することができる(請求項2,3)。
【0033】(2)請求項4〜6記載の発明によれば、
液供給手段から洗浄槽の下面に向かって供給される振動
伝播用液体が中間槽を満たした後、液供給手段と対向す
る側の側壁に設けられた流出部から均一に排出するの
で、振動伝播用液体の流量を多くすることなく洗浄槽の
下面に付着する気泡を除去することができる。したがっ
て、超音波振動の伝播効率の向上が図れると共に、洗浄
効率の向上を図ることができる。また、流出部の高さ
を、流出部を有する側壁以外の側壁より低くすると共
に、洗浄槽の下面より高くすることにより、側壁の流出
部分で更に積極的に振動伝播用液体を排出することがで
きる(請求項5,6)。
【0034】(3)請求項7記載の発明によれば、液供
給手段を、振動伝播用液体を洗浄槽の下部側に向かって
略均等に分散供給するノズルにて形成するので、洗浄槽
の下面に付着する気泡を更に確実に除去することができ
る。したがって、上記(1)及び(2)に加えて超音波
振動の伝播効率の向上が図れると共に、洗浄効率の向上
を図ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】この発明に係る超音波洗浄装置の第一実施形態
を示す概略断面図である。
【図2】図1の側断面図である。
【図3】第一実施形態における中間槽を示す斜視図であ
る。
【図4】この発明における超音波発振手段を示す概略平
面図である。
【図5】上記超音波発振手段を構成する超音波振動素子
を示す概略平面図である。
【図6】この発明に係る超音波洗浄装置の第二実施形態
を示す概略断面図である。
【図7】第二実施形態における中間槽を示す斜視図であ
る。
【図8】第一実施形態における流出部の別の形態を示す
斜視図である。
【図9】第二実施形態における流出部の別の形態を示す
斜視図である。
【図10】従来の超音波洗浄装置の一例を示す概略断面
図である。
【符号の説明】
W 半導体ウエハ(被処理体) L 薬液 P 純水(振動伝播用液体) 1 洗浄槽 2 中間槽 3 超音波発振手段 4 純水供給ノズル(液供給手段) 4a パイプ状本体 4b 噴射孔 5 仕切板 6 内槽 9 流出溝(流出部) 9A 流出孔(流出部) 21A 側壁 30 振動伝達板 31 超音波振動素子 32 超音波発振器

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 被処理体の洗浄液を貯留する洗浄槽と、
    上記洗浄槽の下部を浸漬する振動伝播用液体を貯留する
    開口面が略矩形状の中間槽と、上記中間槽の底部に配設
    される超音波発振手段と、を具備する超音波洗浄装置に
    おいて、 上記中間槽の一辺側に、上記振動伝播用液体を上記洗浄
    槽の下部側に向かって供給する液供給手段を配設し、 上記中間槽における上記液供給手段の配設側と対向する
    辺側に、上部に適宜間隔をおいて複数の流出部を有する
    仕切板を配設してなる、ことを特徴とする超音波洗浄装
    置。
  2. 【請求項2】 請求項1記載の超音波洗浄装置におい
    て、 上記流出部の高さを、中間槽の側壁より低くすると共
    に、洗浄槽の下面より高くした、ことを特徴とする超音
    波洗浄装置。
  3. 【請求項3】 請求項1又は2記載の超音波洗浄装置に
    おいて、 上記流出部が、仕切板の上端に切除される流出溝であ
    る、ことを特徴とする超音波洗浄装置。
  4. 【請求項4】 被処理体の洗浄液を貯留する洗浄槽と、
    上記洗浄槽の下部を浸漬する振動伝播用液体を貯留する
    開口面が略矩形状の中間槽と、上記中間槽の底部に配設
    される超音波発振手段と、を具備する超音波洗浄装置に
    おいて、 上記中間槽の一辺側に、上記振動伝播用液体を上記洗浄
    槽の下部側に向かって供給する液供給手段を配設し、 上記中間槽における上記液供給手段の配設側と対向する
    側壁の上部に、適宜間隔をおいて複数の流出部を形成し
    てなる、ことを特徴とする超音波洗浄装置。
  5. 【請求項5】 請求項4記載の超音波洗浄装置におい
    て、 上記流出部の高さを、流出部を有する側壁以外の側壁よ
    り低くすると共に、洗浄槽の下面より高くした、ことを
    特徴とする超音波洗浄装置。
  6. 【請求項6】 請求項4又は5記載の超音波洗浄装置に
    おいて、 上記流出部が、側壁の上端に切除される流出溝である、
    ことを特徴とする超音波洗浄装置。
  7. 【請求項7】 請求項1又は4記載の超音波洗浄装置に
    おいて、 上記液供給手段を、振動伝播用液体を洗浄槽の下部側に
    向かって略均等に分散噴射するノズルにて形成してな
    る、ことを特徴とする超音波洗浄装置。
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