JPH11194663A

JPH11194663A - 画像形成装置

Info

Publication number: JPH11194663A
Application number: JP9368875A
Authority: JP
Inventors: Minoru Hayashizaki; 実林崎
Original assignee: Canon Inc
Current assignee: Canon Inc
Priority date: 1997-12-28
Filing date: 1997-12-28
Publication date: 1999-07-21

Abstract

(57)【要約】【課題】発光素子の電流量を変化する手段を付加する
か、或いは、発光素子をパルス点灯することにより、外
乱光の影響を受けることなく、高精度の測定が可能で、
又、雰囲気温度などの影響を受けることがなく、更に
は、発光素子の温度特性や経時変化により充分な光量が
得られない場合或いは発光素子や受光素子の個々のばら
つきがあっても、高精度の測定を可能とし、常に良好な
画像形成を行うことのできる画像像形成装置を提供す
る。【解決手段】発光素子１０１と受光素子２０１を備
え、測定対象が散乱や吸収等を持つ媒質である被測定物
に発光素子１０１から光を照射し、被測定物からの反射
光或いは透過光を受光素子２０１にて検知し、測定対象
である媒質の存在や媒質の量による反射率や透過率の変
化を検出する光学検出装置を有し、光学検出装置は、更
に、発光素子１０１から被測定物に入射する光線を断続
的に遮断する手段１１０、１５０を有する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、例えば電子写真プ
ロセスを利用した複写機、プリンタ、ファックスなどの
画像形成装置に関するものであり、特に、反射型、透過
型の光学センサーにより、紙、トナーの濃度や量など、
測定対象が散乱や吸収などを持つ媒質であり、媒質の存
在や量を検出する光学検出装置を備えた画像形成装置に
関するものである。

【０００２】

【従来の技術】従来、例えば電子写真プロセスを用いた
複写機においては、転写紙搬送通路における転写紙の有
無の検出、現像装置内のトナー量の検出、感光体ドラム
上の画像濃度の測定など様々な用途にて、フォトインタ
ラプタ等のような発光素子と受光素子を組み合わせたセ
ンサー、即ち、光学検出装置が広く用いられている。

【０００３】つまり、光学検出装置は、発光部と受光部
との組み合わせで構成されており、発光部からの光が測
定対象物により遮られるかどうかにより検出を行った
り、測定対象物の反射率や透過率による光量の変化によ
り測定対象物の量を検出したり、又、光量変化の時間幅
により測定対象物の量を検出したりしていた。

【０００４】光学検出装置の一例を図７に示す。光学検
出装置としての構成は非常に単純で、図７に示すよう
に、発光素子１０１を備えた発光部と、受光素子２０１
を備えた受光部とを備え、発光素子１０１から受光素子
２０１までの光路に被測定物Ｓが来るように配置し、発
光素子１０１から被測定物２０１に発射された光線の反
射光（或いは透過光）の変化を検出する構成とされてい
る。

【０００５】発光素子１０１に赤外発光ダイオード（Ｌ
ＥＤ）を、又、受光素子２０１にフォトトランジスタを
用いる場合の検出回路の一例を図８に示す。検出回路
は、受光部と発光部のそれぞれのドライブ回路１００及
び２００を有する。ここでは、発光素子１０１の例とし
てＬＥＤを、受光素子２０１の例としてフォトトランジ
スタを用いたが、波長、光量等必要なスペックを満たせ
ば他のものを用いても良い。

【０００６】図８の検出回路において、装置本体に設け
た制御手段（ＣＰＵ）５０からのＬＥＤＯＮ信号がＨｉ
になると、トランジスタＱ１がターンオンし、抵抗Ｒ１
により定められた電流Ｉ１がＬＥＤ１０１に流れ発光状
態となる。この光がフォトトランジスタ２０１に入射す
るとフォトトランジスタ２０１に光電流が現れ、フォト
トランジスタ２０１とダーリントン接続されたトランジ
スタＱ２が飽和するまでは光量に比例した電流Ｉ２が流
れる。この出力電流Ｉ２によりＰＴＳＮＳ信号端子に電
圧が現れる。この出力信号は制御手段（ＣＰＵ）５０の
Ａ／Ｄ入力ポートに入力される。

【０００７】この信号により被測定物が存在するかどう
か、その量はどれくらいかを判定する。この判定方法は
様々であるが、その一例を以下に示す。

【０００８】先ず、予めある電圧閾値を設定する。この
電圧は理論上は勿論、実験によっても最適な値である必
要があり、実際には環境の変化、素子寿命など様々な変
化要因を与えて最適値を決定する。このようにして実験
的に決めた閾値に対して測定値がどうであるかにより被
測定物の状態を判定する。つまり、測定された入力電圧
をＡ／Ｄコンバータでデジタル値に変換し、ＣＰＵでの
演算により閾値レベル以上かどうかの判定を行う。アナ
ログの比較回路により閾値判定を行い、結果をＣＰＵの
デジタル入力ポートに入力しても良い。この場合には、
遮光するものがあるか、無いか、の２値判断になるが、
時間的な変化により、量の変化を行うこともできる。

【０００９】実際には、１度だけのサンプリングデータ
で判定するのは危険であるため、１回以上のサンプリン
グを行い判定を行っている。アナログ回路による判定の
場合には積分回路を設けるなど、周波数ゲインを下げた
状態にして判定を行っている。

【００１０】例えば、現像容器、カートリッジなどにお
けるトナー残量検出の場合には、トナー攪拌により、時
間軸に対する検出電圧の変化が、図９のように現れる。
この変化の仕方はトナーの量により変わってくる。この
検出には、やはり実験によって得られる適当な閾値電圧
を設定し、閾値電圧以下となる時間を計測する形で行っ
ている。数十ｍｓの間隔でサンプリングを行い、閾値以
上となったときにカウンタをインクリメントする。ある
一定時間経過後にあるカウント数以上であれば、カート
リッジ内のトナー量が少なくなったと判断するようにな
っている。

【００１１】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、前記従
来例による方法では、外乱光が入らない測定系によって
は正確な測定ができるものの、光路の、特に受光素子２
０１の受光面に外乱光が入射した場合、それがそのまま
出力電圧に影響を及ぼし、測定誤差となってしまう場合
があった。又、雰囲気温度の上昇などにより受光素子２
０１の感度が上昇したり受光部のゲインが上昇した場合
に、受光素子に光が当たっていない状態の時に流れる暗
電流の影響が現れてしまうことがあった。

【００１２】更に、発光素子１０１の温度特性や経時変
化により充分な光量が得られない場合には測定が行えな
いこと、発光素子１０１や受光素子２０１の個々のばら
つきにより組み合わせ次第では測定が行えないものが出
てくる、等の問題があった。

【００１３】従って、本発明の目的は、以上の問題を解
決することであり、発光素子の電流量を変化する手段を
付加するか、或いは、発光素子をパルス点灯することに
より、外乱光の影響を受けることなく、高精度の測定が
可能で、又、雰囲気温度などの影響を受けることがな
く、更には、発光素子の温度特性や経時変化により充分
な光量が得られない場合或いは発光素子や受光素子の個
々のばらつきがあっても、高精度の測定を可能とし、常
に良好な画像形成を行うことのできる画像像形成装置を
提供することである。

【００１４】

【課題を解決するための手段】上記目的は本発明に係る
画像形成装置にて達成される。要約すれば、本発明は、
像担持体上にトナー像を形成し、トナー像を記録材に転
写して画像を得る画像形成装置において、発光素子と受
光素子を備え、測定対象が散乱や吸収等を持つ媒質であ
る被測定物に前記発光素子から光を照射し、被測定物か
らの反射光或いは透過光を受光素子にて検知し、測定対
象である媒質の存在や媒質の量による反射率や透過率の
変化を検出する光学検出装置を有しており、前記光学検
出装置は、更に、前記発光素子から被測定物に入射する
光線を断続的に遮断する手段を有することを特徴とする
画像形成装置である。

【００１５】本発明の一実施態様によると、前記光線遮
断手段は、発光素子からの入射光強度を周期的に変化さ
せる手段であり、発光素子に流す電流値を決定する電流
制御回路と、パルスの時間幅の制御を行う制御回路とを
有し、前記電流制御回路は定電流源のシンク電流値を決
定し、前記時間幅制御回路は、前記電流制御回路にて発
光素子の電流制御に用いた入力電圧でパルスの時間幅を
制御する。又、他の実施態様によると、前記光線遮断手
段は、発光素子に隣接して配置されたメカニカルチョッ
パである。

【００１６】本発明の他の実施態様によると、発光素子
への供給電力を変化させる手段を有する。このとき、好
ましくは、前記発光素子の発光時及び非発光時の前記受
光素子の電圧データを少なくとも１回は比較する。

【００１７】

【発明の実施の形態】以下、本発明に係る画像形成装置
を図面に則して更に詳しく説明する。

【００１８】図１に、本発明に係る画像形成装置の一実
施例である電子写真複写機の概略構成を示す。本実施例
にて電子写真複写機は、装置本体１のほぼ中央に、像担
持体としての円筒状の電子写真感光体、即ち、感光体ド
ラム２を備えている。感光体ドラム２は、装置本体１に
よって矢印Ｒ１方向に回転自在に支持されており、感光
体ドラム２の周囲には、その回転方向に沿って順に、感
光体ドラム２上の電位を消去する除電器３、感光体ドラ
ム２表面を一様に帯電する一次帯電器（帯電手段）４、
感光体ドラム２表面を露光して静電潜像を形成する露光
装置（露光手段）５、露光後の感光体ドラム２上の電位
を測定する電位センサ６、感光体ドラム２上に形成され
た静電潜像にトナーを付着させてトナー像を形成する現
像装置（現像手段）７、転写材Ｐ上にトナー像を転写す
る転写帯電器（転写手段）８、記録材、例えば転写紙Ｐ
を感光体ドラム２から分離する分離帯電器（分離手段）
９、感光体ドラム２上の残留トナーを除去するクリーニ
ング装置１０が配置されている。

【００１９】トナー像の転写先となる転写紙Ｐは、給紙
デッキ１１から給紙される。感光体ドラム２の下方、つ
まり装置本体１内側の下部には、転写紙Ｐを収納する給
紙デッキ１１が配置されている。給紙デッキ１１内の転
写紙Ｐは、給紙ローラ１２によって給紙され、搬送ロー
ラ１３、レジストローラ１５を介して、感光体ドラム２
と転写帯電器８との間に供給される。転写紙Ｐは、ここ
で感光体ドラム２からトナー像を転写され、搬送ベルト
１６によって、定着器１７に搬送される。定着器１７に
よってトナー像が転写された転写紙Ｐは、最終的なコピ
ーとして、排紙ローラ１９によって排紙トレイ２０上に
排紙される。

【００２０】本実施例にて、露光装置５は、プラテンガ
ラス２１上に載置された原稿を原稿照明ランプ２２と反
射板２３とにより照明し、原稿画像からの反射光を、ミ
ラー２５ａ、２５ｂ、２５ｃでさらに反射させ、拡大縮
小レンズ２６を通過させた後、投影ミラー２７を介して
感光体ドラム２表面に導く。これにより、一様に帯電さ
れている感光体ドラム２表面を露光し、原稿画像に対応
した静電潜像を形成する。

【００２１】光学検出装置は、上記構成の複写機におい
て、転写紙搬送通路における転写紙Ｐの有無の検出、現
像装置７内のトナー量の検出、感光体ドラム２上の画像
濃度の測定など様々な用途にて使用することができる。
以下に、本発明の特徴をなす光学検出装置を実施例につ
いて説明する。

【００２２】実施例１図２に本発明の特徴をなす光学検出装置の一実施例を示
す。本実施例において、光学検出装置の全体構成は、先
に図７を参照して説明した従来の光学検出装置と同様の
構成を有している。

【００２３】つまり、図７にて、本実施例の光学検出装
置は、発光部を構成する発光素子１０１と、受光部を構
成する受光素子２０１とを有し、発光素子１０１から発
射される光線は、スリット１０２及びビームスプリッタ
１０４を通って被測定物Ｓに照射され、被測定物Ｓにて
反射された光線は受光素子２０１へと入射される。

【００２４】本実施例では、発光素子１０１から発射さ
れる光線は、その一部が、上述のビームスプリッタ１０
４により反射され、補正用受光素子１０３にも入射され
る。補正用受光素子の作用については後述する。

【００２５】図２に光学検出装置の一実施例に係る検出
回路を示す。本実施例によると、検出回路は、発光部回
路１００と受光部回路２００とを有し、発光部回路１０
０は、発光素子１０１に流す電流値ｉを決定する電流制
御回路１１０と、パルスの時間幅の制御を行う制御回路
１５０とを有する。受光部回路２００は、図８に示した
従来の受光部回路と何ら変わるところはない。

【００２６】更に説明すると、電流制御回路１１０は、
オペアンプ１１１、ＦＥＴ１１２、トランジスタ１１
３、抵抗１１４、１１５、１１６、を有し、電圧制御電
流源を構成する。オペアンプ１１１の＋入力端子は、Ｃ
ＰＵのＤ／Ａポートに接続され、−入力端子は、トラン
ジスタ１１３のエミッタ端子及び抵抗１１６の一端に接
続される。オペアンプ１１１の出力端は、ＦＥＴ１１２
ゲート端子に接続され、又、ＦＥＴ１１２のドレイン端
子はトランジスタ１１３のコレクタ端子に、ＦＥＴ１１
２のソース端子はトランジスタ１１３のベース端子に接
続される。

【００２７】トランジスタ１１３のコレクタ端子には発
光素子１０１のための電源Ｖｄｄが接続される。又、上
述のように、制御電圧としてＣＰＵのＤ／Ａポート出力
電圧が電圧制御電流源、即ち、オペアンプ１１１の＋入
力端に接続されており、従って、オペアンプ１１１の−
入力端子電圧はオペアンプ＋入力側に入力された電圧と
等しくなり、この電圧と抵抗１１６により定電流源のシ
ンク電流値ｉが決定される。

【００２８】これにより発光素子１０１の個体間のばら
つきや温度による発光効率の変化、測定後のゲイン変
化、素子の劣化に伴う経時変化を補正することができ
る。

【００２９】一方、時間幅制御回路１５０は、電圧制御
電流源１１０にて発光素子１０１の電流制御に用いた入
力電圧でパルスの時間幅を制御する。

【００３０】つまり、制御回路１５０は、コンパレータ
１５１、トランジスタ１５２、１５３、１５４、コンデ
ンサ１５５、抵抗１５６、１５７、１５８を備えてい
る。コンパレータ１５１の一方の入力端には、ＣＰＵの
Ｄ／Ａポート出力電圧が入力され、他端は抵抗１５８、
１５６を介してトランジスタ１５２のコレクタ端子に接
続されている。コンパレータ１５１の出力端は、トラン
ジスタ１５３のベース端子に接続されている。又、トラ
ンジスタ１５２のベース端子は、ＣＰＵのトリガ入力端
子に接続されており、ＣＰＵの時間幅信号が入力され
る。このトリガ入力端子よりの信号は、トランジスタ１
５４のベース端子にも入力される。トランジスタ１５４
のコレクタ端子は、トランジスタ１５３のエミッタ端子
と接続され、トランジスタのエミッタ端子は発光素子１
０１に接続されている。

【００３１】上記構成にて、コンデンサ１５５には、始
め５Ｖの電圧が現れている。ＣＰＵの時間幅信号がトリ
ガ入力端子よりトランジスタ１５２に入力されると、ト
ランジスタ１５２、１５３、１５４がＯＮし、定電流ｉ
が流れ始める。同時にコンデンサ１５５は放電を始め、
電圧が下がり始める。このコンデンサ１５５の電圧と入
力電圧をコンパレータ１５１により比較し、入力電圧よ
り小さくなったらトランジスタ１５３をＯＦＦする。こ
れにより回路に流れていたシンク電流ｉが流れなくな
る。このようにして、発光素子１０１は所定の時間幅に
て、パルス点灯される。

【００３２】発光素子１０１の最大出力強度は、発光素
子１０１に流す電流による素子の温度上昇と素子の耐熱
温度により決まる。即ち、電流が大き過ぎると素子の温
度が高くなり、発光素子１０１に不可逆的なダメージを
与えてしまうことになる。一般に、パルス発光にしてパ
ルス幅を短くすることにより最大許容電流は大きくな
り、それと共に出力強度が大きくできる。

【００３３】本実施例のように、にパルス幅を短くする
と共にその出力電流を大きくする構成とすることによっ
て、発光素子（ＬＥＤ）１０１で発生する熱量の平均値
（消費電力の時間平均値）は通常の連続発光の場合と変
わらない値を保ちながら、熱的ダメージを発光素子１０
１に与えることなく測定に必要な光量を増加させること
が出来る。

【００３４】実施例２図３に光学検出装置の他の実施例に係る検出回路を示
す。本実施例によると、検出回路は、図８に示した従来
の検出回路と同様の構成とされる。

【００３５】つまり、図３において、受光部ドライブ回
路１００は、発光素子１０１、トランジスタ１２１、抵
抗１２２、１２３を有する。又、発光部ドライブ回路２
００は、受光素子２０１、増幅用トランジスタ２０２、
抵抗２０３、コンデンサ２０４を有する。

【００３６】トランジスタ１２１のベース端子に接続さ
れたＬＥＤＯＮ端子はＣＰＵの出力ポートに、ＰＴＳＮ
Ｓ端子はＣＰＵのＡ／Ｄ入力端子に接続されており、測
定時、ＣＰＵよりの信号を、Ｈｉ、Ｌｏにすることを繰
り返すことにより発光素子、即ち、ＬＥＤ１０１は発
光、非発光を繰り返し行う。ＬＥＤ発光時、非発光時共
に少なくとも１回はＡ／Ｄコンバータで受光素子の電圧
データを取り込み、比較を行うことで、ＬＥＤＯＮ時の
データから、ＬＥＤＯＦＦ時の外乱を除去する。

【００３７】図４は、本実施例の作動の一実施例を説明
するフローチャートである。つまり、ＬＥＤＯＮをＬｏ
とすることにより、ＬＥＤ１０１は発光する（ステップ
１）。所定時間、例えば数十ｍｓ待って（ステップ
２）、受光素子電圧を測定し（Ａ／Ｄサンプリング）、
そのデータをメモりｄ１に格納する（ステップ３）。次
いで、ＬＥＤＯＮをＨｉｇｈとすることにより、ＬＥＤ
１０１は非発光となる（ステップ４）。所定時間、例え
ば数十ｍｓ待って、受光素子電圧を測定し（Ａ／Ｄサン
プリング）、そのデータをメモりｄ２に格納する。次
に、上記データを比較し、例えばｄ０＝ｄ１／ｄ２を
得、制御量を決定する。

【００３８】本実施例では、ＣＰＵを用いて、Ａ／Ｄ変
換した後のデータに演算を施しているが、パルス発光回
路より同期信号を得て、（本実施例の方法ではＣＰＵか
らのＬＥＤＯＮ信号を得て）発光時と非発光時の出力電
圧を比較増幅することでアナログ的に演算を行っても良
い。

【００３９】以上の手法により、外乱光による外部から
のノイズ要因や暗電流によるセンサ自体の持つノイズを
除去し、測定ダイナミックレンジを大きくする。

【００４０】実施例３実施例１及び２では発光素子１０１をパルス点灯するこ
とで光有り、なしの２つの状態を実現したが発光回路の
パルス点灯によらず、光学系にメカニカルチョッパを配
置しても良い。

【００４１】図５及び図６に本発明の特徴をなす光学検
出装置の他の実施例を示す。本実施例において、光学検
出装置は、先に説明した従来の光学検出装置と同様の構
成を有しているが、補正用受光素子１０３が設けられる
点及び発光素子１０１から発射される光線がメカニカル
チョッパ１０５にてオン、オフされる点、において異な
る。

【００４２】つまり、本実施例にて光学検出装置は、発
光部を構成する発光素子１０１と、受光部を構成する受
光素子２０１とを有する。発光素子１０１から発射され
る光線は、スリット１０２及びビームスプリッタ１０３
を通って被測定物Ｓに照射され、被測定物Ｓにて反射さ
れた光線は受光素子２０１へと入射される。

【００４３】本実施例では、発光素子１０１から発射さ
れる光線は、その一部が前記ビームスプリッタ１０４に
より反射され、補正用受光素子１０３に入射される。

【００４４】図６に光学検出装置の回路図を示すが、こ
の回路図からも理解されるように、発光素子１０１には
電流制御回路から一定の電流が供給され、発光素子１０
１は所定の強度の光を発射するように構成されている。

【００４５】ところが、発光素子２０１は、温度などの
影響を受けその強度が変動し、受光素子２０１による測
定に誤差を生じることとなる。そこで、補正用受光素子
１０３を設け、この補正用受光素子１０３からの信号を
基準として測定用の受光素子２０１による測定信号を補
正することにより、発光素子１０１からの光の強度変動
に起因した測定誤差をなくすことができる。

【００４６】又、上述したように、発光素子１０１の最
大出力強度は、発光素子２０１に流す電流による素子の
温度上昇と素子の耐熱温度により決まる。即ち、電流が
大きすぎると素子の温度が高くなり、発光素子に不可逆
的なダメージを与えてしまうことになる。一般に、パル
ス発光にしてパルス幅を短くすることにより最大許容電
流は大きくなり、それと共に出力強度を大きくできるこ
と、は上述の通りである。

【００４７】そこで、本実施例によれば、発光素子１０
１に近接して、メカニカルチョッパ１０５を設け、発光
素子１０１から発射される光を分割し、パルス状とす
る。メカニカルチョッパは、モーターと、それに直結さ
れたフィン、モータードライブ回路よりなり、モーター
の回転により、フィンが光路を横切ることにより周期的
に光を通したり、遮ったりする。発光素子は一定の光量
で発光し続ける。チョッパの周期は、外乱光の影響を少
なくするため、出来るだけ短くすると共に、外乱の周波
数の挺倍にならないようにする。実際には、受光素子の
応答速度にもよるが、オン、オフのデューティ５０％、
オン時間は０．１〜５ｍｓ程度に選ばれることが多い。

【００４８】

【発明の効果】以上説明したように、本発明に係る画像
形成装置は、発光素子と受光素子を備え、測定対象が散
乱や吸収等を持つ媒質である被測定物に前記発光素子か
ら光を照射し、被測定物からの反射光或いは透過光を受
光素子にて検知し、測定対象である媒質の存在や媒質の
量による反射率や透過率の変化を検出する光学検出装置
を有し、光学検出装置は、更に、発光素子から被測定物
に入射する光線を断続的に遮断する手段を有する構成と
されるので、高精度の測定が可能で、又、雰囲気温度な
どの影響を受けることがなく、更には、発光素子の温度
特性や経時変化により充分な光量が得られない場合或い
は発光素子や受光素子の個々のばらつきがあっても、高
精度の測定を可能とし、常に良好な画像形成を行うこと
ができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明を具現化し得る画像形成装置の一実施例
である電子写真複写機の構成図である。

【図２】本発明の特徴部をなす光学検出装置の第１の実
施例に係る回路図である。

【図３】本発明の特徴部をなす光学検出装置の第２の実
施例に係る回路図である。

【図４】本発明の第２の実施例の動作説明のフロー図で
ある。

【図５】本発明の特徴部をなす光学検出装置の第３の実
施例に係る全体構成図である。

【図６】本発明の第３の実施例の回路図である。

【図７】従来の光学検出装置の全体構成図である。

【図８】従来の光学検出装置の回路図である。

【図９】従来の光学検出装置の検出波形図である。

【符号の説明】

２像担持体（感光体ドラ
ム）４帯電手段７現像手段８転写手段５０制御手段（ＣＰＵ）１０１受光素子１０３補正用受光素子１０４ビームスプリッタ１０５メカニカルチョッパ１１０電流制御回路１２０時間幅制御回路２０１受光素子

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】像担持体上にトナー像を形成し、トナー
像を記録材に転写して画像を得る画像形成装置におい
て、発光素子と受光素子を備え、測定対象が散乱や吸収等を
持つ媒質である被測定物に前記発光素子から光を照射
し、被測定物からの反射光或いは透過光を受光素子にて
検知し、測定対象である媒質の存在や媒質の量による反
射率や透過率の変化を検出する光学検出装置を有してお
り、前記光学検出装置は、更に、前記発光素子から被測定物
に入射する光線を断続的に遮断する手段を有することを
特徴とする画像形成装置。
【請求項２】前記光線遮断手段は、発光素子からの入
射光強度を周期的に変化させる手段であり、発光素子に
流す電流値を決定する電流制御回路と、パルスの時間幅
の制御を行う制御回路とを有し、前記電流制御回路は定
電流源のシンク電流値を決定し、前記時間幅制御回路
は、前記電流制御回路にて発光素子の電流制御に用いた
入力電圧でパルスの時間幅を制御することを特徴とする
請求項１の画像形成装置。
【請求項３】前記光線遮断手段は、発光素子に隣接し
て配置されたメカニカルチョッパであることを特徴とす
る請求項１の画像形成装置。
【請求項４】発光素子への供給電力を変化させる手段
を有することを特徴とする請求項１の画像形成装置。
【請求項５】前記発光素子の発光時及び非発光時にお
ける前記受光素子の電圧データを少なくとも１回は比較
することを特徴とする請求項４の画像形成装置。