JPH11185973A - 照明装置 - Google Patents

照明装置

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JPH11185973A
JPH11185973A JP9353032A JP35303297A JPH11185973A JP H11185973 A JPH11185973 A JP H11185973A JP 9353032 A JP9353032 A JP 9353032A JP 35303297 A JP35303297 A JP 35303297A JP H11185973 A JPH11185973 A JP H11185973A
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JP
Japan
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lighting
illuminance
deterioration
lamp
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JP9353032A
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Junichi Kato
潤一 加藤
Michiko Iwai
美稚子 岩井
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Panasonic Electric Works Co Ltd
Original Assignee
Matsushita Electric Works Ltd
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    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02BCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO BUILDINGS, e.g. HOUSING, HOUSE APPLIANCES OR RELATED END-USER APPLICATIONS
    • Y02B20/00Energy efficient lighting technologies, e.g. halogen lamps or gas discharge lamps
    • Y02B20/40Control techniques providing energy savings, e.g. smart controller or presence detection

Abstract

(57)【要約】 【課題】 消費電力を低減し、且つ、十分な照度補正が
可能な照明装置を提供する。 【解決手段】 ランプ1と、机上面の反射光を検知し反
射光量に比例した電圧を出力する照度センサ2と、照度
センサ2の検出値に応じて調光信号を変化させる制御部
3と、制御部3からの調光信号を受けてランプ1の光出
力を制御する調光安定器4とを備え、光出力が一定値に
達するごとに、定められた一定の幅で照度センサ2のス
レシュレベルの値を下げ、このスレシュレベルの値を基
にフィードバック制御を行う。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する利用分野】本発明は照明装置に関するも
のであり、更に詳しくは、設定照度を維持するように照
明負荷の光出力をフィードバック制御することで、昼光
連動および初期照度補正を行う照明装置に関する。
【0002】
【従来の技術】本発明に係る第1従来例として、特開昭
64−89287号公報に示したものがある。本従来例
は、経年変化による光束低下特性や照明器具の汚れによ
る特性を予め照明器具別に記憶させ、この特性に応じた
照度補正値に基づいて適切な照度を確保するものであ
る。
【0003】本発明に係る第2従来例として、特開平1
−143189号公報に示したものがある。本従来例
は、照明負荷の経時的光束減退の検知値と、予め記憶さ
れた照明器具の経時的汚れ補正値とを演算することによ
り、所定の光出力を得られる様にしたものである。
【0004】本発明に係る第3従来例のブロック構成図
を図1に示す。本構成は、照明負荷(以下、ランプと呼
ぶ。)1と、机上面の反射光を検知し反射光量に比例し
た電圧を出力する(つまり机上面照度を検出する)照度
センサ2と、照度センサ2の検出値に応じて調光信号を
変化させる制御部3と、制御部3からの調光信号を受け
てランプ1の光出力を制御する調光安定器4とから構成
される。そして、照度センサ3の検出出力が設定された
スレッショルド値になるように、ランプ5の光出力をフ
ィードバックする制御を行うことで机上面照度を略一定
にすることができる。
【0005】なお、照度センサ2へ入射される机上面か
らの反射光量と机上面照度とは略比例関係にあるとす
る。また、図12に、ランプ劣化、ランプ汚れ、照明器
具汚れ、照度センサ汚れなどの外因によって経時的に生
じる光束劣化特性を示す。図12(a)はランプ劣化の
場合、図12(b)はランプ汚れの場合、図12(c)
は照明器具汚れの場合、図12(d)は照度センサ汚れ
の場合を示している。更に、ここでは、光束劣化が初期
値から約30%減になる時点をランプ寿命(ここでは約
12000時間経過時点)としている。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかし、上記第1、第
2従来例では、経年変化と共に消費電力が増加してしま
う、という第1の問題点が生じてしまう。
【0007】また、上記第3従来例では以下に示す様な
第2の問題点が生じてしまう。上記第3従来例では、ラ
ンプ劣化、ランプ汚れ、照明器具汚れ、照度センサ汚れ
などの外因によって経時的に生じる光束劣化を補償する
ために、光束劣化とともにランプの光出力を上昇させ
る。しかし、上記外因による光束劣化が大きすぎると、
ランプの光出力を大きく上昇させる必要があり、その場
合、図13(a)の実線に示す様に、ランプが寿命に達
する前に光出力が100%に達してしまい、以降、光出
力が100%で制御されることになって消費電力が大き
くなってしまう。また、光出力が100%に達した以降
は光出力を上昇させることができないので、上記外因に
よる光束劣化によって、図13(b)の破線に示す様に
机上面照度が低下してしまう。
【0008】本発明は、上記全ての問題点に鑑みてなさ
れたものであり、その目的とするところは、消費電力を
低減し、且つ、十分な照度補正が可能な照明装置を提供
することである。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記問題点を解決するた
めに、請求項1記載の発明によれば、照明負荷と、机上
面照度を検出する照度センサと、照度センサの検出値及
び照度センサが有するスレッショルド値の比較出力に応
じて照明負荷の光出力のフィードバック制御を行う制御
部とを備え、照明負荷の光出力が一定値に達すると、ス
レッショルド値を低下することを特徴とする。
【0010】請求項2記載の発明によれば、外因による
照明負荷の光束減衰に応じた補正データによりスレッシ
ョルド値を補正することを特徴とする。
【0011】請求項3記載の発明によれば、外因は、照
明負荷の劣化、照明器具の汚れ、照明負荷の汚れ、照度
センサの汚れのうちの少なくともいずれかを含むものと
することを特徴とする。
【0012】請求項4記載の発明によれば、照明負荷の
劣化度合を検知するランプ劣化度合検知センサを設けた
ことを特徴とする。
【0013】請求項5記載の発明によれば、照明負荷の
劣化度合と汚れ度合とを検知するランプ劣化・汚れ検知
センサを設けたことを特徴とする。
【0014】請求項6記載の発明によれば、照明器具の
反射光を検知する器具反射光検知センサを設けたことを
特徴とする。
【0015】請求項7記載の発明によれば、補正デ−タ
に基づいて照明負荷の光出力の上限値を設定し、一定時
間は上限値を維持することを特徴とする。
【0016】
【実施の形態】(実施の形態1)本発明に係る第1の実
施の形態のブロック構成図は、図1に示した第3従来例
と同様であり、上記第3従来例とは動作が異なるだけで
あるので、同一構成には同一符号を付すことにより説明
を省略する。
【0017】本実施の形態では、図2(a)の実線に示
す様に、光出力が100%に達するごとに、定められた
一定の幅で、図2(b)の破線に示す様に、照度センサ
2のスレシュレベルの値を下げる。このスレシュレベル
の値を基にフィードバック制御を行う。このことを繰り
返すことで、図2(c)の斜線で示す部分が省エネ分に
なる。
【0018】この様に構成することで、照明器具の設置
場所によらずに、確実に消費電力を低減することがで
き、机上面照度を維持することができる。なお、ここで
は光出力が100%に達するごとに照度センサ2のスレ
シュレベルの値を下げるようにしたが、100%に限ら
ず任意の値で構わない。
【0019】(実施の形態2)本発明に係る第2の実施
の形態のブロック構成図を図3に示す。
【0020】図1に示した第3従来例と異なる点は、ラ
ンプの劣化、ランプの汚れ、照明器具の汚れ、照度セン
サ3の汚れなどの外因による光束減衰に応じた補正デー
タを記憶する記憶部5と、タイマ6とを設けたことであ
り、その他の第3従来例と同一構成には同一符号を付す
ことにより説明を省略する。
【0021】本実施の形態では、図4(b)の破線に示
す様に、所定時刻に達する毎に補正データを基に照度セ
ンサ2のスレシュレベル値を演算し、その演算結果を基
にフィードバック制御を行う。このことを繰り返すこと
で、図4(a)の実線に示す様な光出力を得ることがで
き、図4(c)の斜線で示す部分が省エネ分になる。
【0022】この様に構成することで、光束減衰に応じ
た補正データを基に、照明器具の設置場所によらずに確
実に消費電力を低減することができ、机上面照度を維持
することができる。なお、照度センサ2のスレシュレベ
ル値の演算の方法は以下の通りである。 X(tn)=A×αn×βn×γn×εn 但し、 X(tn):時刻tnでの照度センサ2のスレシュレベ
ル値 A :光出力100%時のセンサ出力 αn:時刻tnでのランプ劣化の割合の補正デ−タ βn:時刻tnでのランプ汚れの割合の補正デ−タ γn:時刻tnでの器具汚れの割合の補正デ−タ εn:時刻tnでのセンサ汚れの割合の補正デ−タ n=1、2、3・・・(正の整数) (実施の形態3)本発明に係る第3の実施の形態のブロ
ック構成図を図5に示す。
【0023】図3に示した第2の実施の形態と異なる点
は、ランプ1の劣化度合を検知するランプ劣化度合検知
センサ7を設けたことであり、その他の第2の実施の形
態と同一構成には同一符号を付すことにより説明を省略
する。ここでランプ劣化度合検知センサ7は、ランプ光
のみを検出できる位置に設置するのが望ましく、例え
ば、図6の要部断面図に示す様に、照明器具8の内側上
面に近いランプ1の表面に設置してもよい。
【0024】この様に構成することで、ランプ1の劣化
度合の検知値をも基に、照明器具の設置場所によらずに
確実に消費電力を低減することができ、机上面照度を維
持することができる。
【0025】(実施の形態4)本発明に係る第4の実施
の形態のブロック構成図を図7に示す。
【0026】図5に示した第3の実施の形態と異なる点
は、ランプ1の劣化度合や汚れ度合を検知するランプ劣
化・汚れ検知センサ9を設けたことであり、その他の第
3の実施の形態と同一構成には同一符号を付すことによ
り説明を省略する。ここでランプ劣化・汚れ検知センサ
9は、ランプ1の劣化と汚れとの双方を十分に検出でき
る位置に設置するのが望ましく、例えば、図8の要部断
面図に示す様に、照明器具8の内側側面に設置してもよ
い。
【0027】この様に構成することで、ランプ1の劣化
度合や汚れ度合の検知値をも基に、照明器具の設置場所
によらずに確実に消費電力を低減することができ、机上
面照度を維持することができる。
【0028】(実施の形態5)本発明に係る第5の実施
の形態のブロック構成図を図9に示す。
【0029】図7に示した第4の実施の形態と異なる点
は、照明器具8での反射光を検知する器具反射光検知セ
ンサ10を設けたことであり、その他の第4の実施の形
態と同一構成には同一符号を付すことにより説明を省略
する。ここで器具反射光検知センサ10は、照明器具8
での反射光を十分に検出できる位置に設置するのが望ま
しく、例えば、図10の要部断面図に示す様に、照明器
具8の内側上面且つ2つのランプ1の間に設置してもよ
い。また、器具反射光検知センサ10は、照明器具8で
の反射光を検知し、且つ、ランプ1の劣化度合や汚れ度
合、照明器具8の汚れ度合を検知するものでもよい。
【0030】この様に構成することで、照明器具8での
反射光の検知値をも基に、照明器具の設置場所によらず
に確実に消費電力を低減することができ、机上面照度を
維持することができる。
【0031】(実施の形態6)本発明に係る第6の実施
の形態の特性図を図11に示す。
【0032】本実施の形態は、上記第1乃至第5の実施
の形態において、補正デ−タαn、βn、γn、εn
(nは正の整数)に基づいて光出力の上限値を設定し、
一定時間は前記上限値を維持する様に構成したものであ
る。
【0033】この様に構成することで、照明器具の設置
場所によらずに、図11(c)の斜線部に示す様に確実
に消費電力を低減することができ、図11(b)の実線
に示す様に机上面照度を維持することができる。
【0034】
【発明の効果】請求項1記載の発明によれば、照明器具
の設置場所によらずに確実に消費電力を低減することが
でき、机上面照度を維持することができる。
【0035】請求項2、請求項3に記載の発明によれ
ば、外因による照明負荷の光束減衰に応じた補正データ
を基に、照明器具の設置場所によらずに確実に消費電力
を低減することができ、机上面照度を維持することがで
きる。
【0036】請求項4記載の発明によれば、請求項1乃
至3に記載の発明の効果に加えて、照明負荷の劣化度合
の検出値をも基に、照明器具の設置場所によらずに確実
に消費電力を低減することができ、机上面照度を維持す
ることができる。
【0037】請求項5記載の発明によれば、請求項1乃
至4に記載の発明の効果に加えて、照明負荷の劣化度合
と汚れ度合との検出値をも基に、照明器具の設置場所に
よらずに確実に消費電力を低減することができ、机上面
照度を維持することができる。
【0038】請求項6、請求項7に記載の発明によれ
ば、請求項1乃至5に記載の発明の効果に加えて、照明
器具の反射光との検出値をも基に、照明器具の設置場所
によらずに確実に消費電力を低減することができ、机上
面照度を維持することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る第1の実施の形態及び第3従来例
のブロック構成図を示す。
【図2】上記実施の形態に係る光出力及び照度センサの
スレッショルドレベルの特性図を示す。
【図3】本発明に係る第2の実施の形態のブロック構成
図を示す。
【図4】上記実施の形態に係る光出力及び照度センサの
スレッショルドレベルの特性図を示す。
【図5】本発明に係る第3の実施の形態のブロック構成
図を示す。
【図6】上記実施の形態に係る要部断面図を示す。
【図7】本発明に係る第4の実施の形態のブロック構成
図を示す。
【図8】上記実施の形態に係る要部断面図を示す。
【図9】本発明に係る第5の実施の形態のブロック構成
図を示す。
【図10】上記実施の形態に係る要部断面図を示す。
【図11】本発明に係る第6の実施の形態の光出力及び
机上面照度の特性図を示す。
【図12】外因による光束減衰特性図を示す。
【図13】上記第3従来例に係る光出力及び机上面照度
の特性図を示す。
【符号の説明】
1 照明負荷 2 照度センサ 3 制御部 7 ランプ劣化度合検知センサ 9 ランプ劣化・汚れ検知センサ 8 照明器具 10 器具反射光検知センサ

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 照明負荷と、机上面照度を検出する照度
    センサと、前記照度センサの検出値及び前記照度センサ
    が有するスレッショルド値の比較出力に応じて前記照明
    負荷の光出力のフィードバック制御を行う制御部とを備
    える照明装置において、 前記照明負荷の光出力が一定値に達すると、前記スレッ
    ショルド値を低下することを特徴とする照明装置。
  2. 【請求項2】 外因による前記照明負荷の光束減衰に応
    じた補正データにより前記スレッショルド値を補正する
    ことを特徴とする請求項1記載の照明装置。
  3. 【請求項3】 前記外因は、照明負荷の劣化、照明器具
    の汚れ、照明負荷の汚れ、前記照度センサの汚れのうち
    の少なくともいずれかを含むものとすることを特徴とす
    る請求項2記載の照明装置。
  4. 【請求項4】 前記照明負荷の劣化度合を検知するラン
    プ劣化度合検知センサを設けたことを特徴とする請求項
    1乃至3のいずれかに記載の照明装置。
  5. 【請求項5】 前記照明負荷の劣化度合と汚れ度合とを
    検知するランプ劣化・汚れ検知センサを設けたことを特
    徴とする請求項1乃至4のいずれかに記載の照明装置。
  6. 【請求項6】 前記照明器具の反射光を検知する器具反
    射光検知センサを設けたことを特徴とする請求項1乃至
    5のいずれかに記載の照明装置。
  7. 【請求項7】 前記補正デ−タに基づいて前記照明負荷
    の光出力の上限値を設定し、一定時間は前記上限値を維
    持することを特徴とする請求項1乃至請求項6のいずれ
    かに記載の照明装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006236711A (ja) * 2005-02-23 2006-09-07 Matsushita Electric Works Ltd 照明器具
WO2009154180A1 (ja) 2008-06-20 2009-12-23 パナソニック電工株式会社 照明点灯装置、照明器具、及び照明システム
JP2012150895A (ja) * 2011-01-17 2012-08-09 Hochiki Corp 照明灯具診断システム及び照明灯具
CN104780676A (zh) * 2015-04-03 2015-07-15 彭云 感应灯

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