JPH11175143A - 自動計測方法及び自動計測装置 - Google Patents
自動計測方法及び自動計測装置Info
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- JPH11175143A JPH11175143A JP36213697A JP36213697A JPH11175143A JP H11175143 A JPH11175143 A JP H11175143A JP 36213697 A JP36213697 A JP 36213697A JP 36213697 A JP36213697 A JP 36213697A JP H11175143 A JPH11175143 A JP H11175143A
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- measuring
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- Measurement Of Predetermined Time Intervals (AREA)
- Testing Of Short-Circuits, Discontinuities, Leakage, Or Incorrect Line Connections (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
- Testing And Monitoring For Control Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】
【課題】 制御装置のハングアップを防止することがで
き、計測終了を示す信号が不要で、且つ計測データが正
常値か否かを判定することができる自動計測方法を提供
する。 【解決手段】 計測を行う計測機器と上記計測機器を制
御する制御装置とを備え、上記制御装置の命令により上
記計測機器が計測を行い計測結果を上記制御装置に渡す
自動計測方法において、制御装置は計測を開始させるた
めの計測命令を計測機器に与えると共に、上記命令を与
えたときからの経過時間を計時し、上記経過時間が所定
時間に達すると、計測を終了させる方法にした。また、
上記方法において、複数回くり返して得た複数の計測デ
ータが同じ値のときに計測異常と判定する方法にした。
き、計測終了を示す信号が不要で、且つ計測データが正
常値か否かを判定することができる自動計測方法を提供
する。 【解決手段】 計測を行う計測機器と上記計測機器を制
御する制御装置とを備え、上記制御装置の命令により上
記計測機器が計測を行い計測結果を上記制御装置に渡す
自動計測方法において、制御装置は計測を開始させるた
めの計測命令を計測機器に与えると共に、上記命令を与
えたときからの経過時間を計時し、上記経過時間が所定
時間に達すると、計測を終了させる方法にした。また、
上記方法において、複数回くり返して得た複数の計測デ
ータが同じ値のときに計測異常と判定する方法にした。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、計測機器の自動計
測方法及び自動計測装置に関し、さらに詳しくは、ディ
ジタルオシロスコープなどの計測機器と、上記計測機器
を制御するパーソナルコンピュータなどの制御装置とを
備え、上記制御装置の命令により上記計測機器が計測を
行い、その計測結果を上記制御装置に渡す自動計測方法
及び自動計測装置に関する。
測方法及び自動計測装置に関し、さらに詳しくは、ディ
ジタルオシロスコープなどの計測機器と、上記計測機器
を制御するパーソナルコンピュータなどの制御装置とを
備え、上記制御装置の命令により上記計測機器が計測を
行い、その計測結果を上記制御装置に渡す自動計測方法
及び自動計測装置に関する。
【０００２】
【従来の技術】従来より、測定対象の信号を計測して、
その結果を保持することが可能なディジタルオシロスコ
ープなどの汎用計測機器と、それを制御するパーソナル
コンピュータなどの制御装置とを通信手段により接続
し、上記制御装置の命令により、上記計測機器が計測を
行い、その計測結果を上記制御装置に渡して、自動計測
する計測システムが知られている。このような計測シス
テムでは、制御装置は、計測機器に計測命令を与えた
後、計測機器から計測結果が通知されるのを待つ。尚、
計測システムではないが、特開平3-58154 号公報に示さ
れた入出力制御装置では、上位装置からの入出力命令を
入出力装置へ渡した後、上記入出力装置からの応答信号
を監視することによりタイムアウトを監視し、その結果
を上位装置へ通知するようにしている。また、特開平3-
268143号公報に示されたハングアップ検出方式において
も、タイムアウトを監視することによりハングアップ状
態になることを防止している。
その結果を保持することが可能なディジタルオシロスコ
ープなどの汎用計測機器と、それを制御するパーソナル
コンピュータなどの制御装置とを通信手段により接続
し、上記制御装置の命令により、上記計測機器が計測を
行い、その計測結果を上記制御装置に渡して、自動計測
する計測システムが知られている。このような計測シス
テムでは、制御装置は、計測機器に計測命令を与えた
後、計測機器から計測結果が通知されるのを待つ。尚、
計測システムではないが、特開平3-58154 号公報に示さ
れた入出力制御装置では、上位装置からの入出力命令を
入出力装置へ渡した後、上記入出力装置からの応答信号
を監視することによりタイムアウトを監視し、その結果
を上位装置へ通知するようにしている。また、特開平3-
268143号公報に示されたハングアップ検出方式において
も、タイムアウトを監視することによりハングアップ状
態になることを防止している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記の
計測結果を待つ従来技術では、何らかの原因により計測
機器から計測結果が通知されない場合、制御装置がハン
グアップしてしまうという問題がある。また、特開平3-
58154 号公報、及び、特開平3-268143号公報等に示され
た従来技術を自動計測方法で用いようとする場合には、
計測機器側において、計測データを示す信号の他に計測
終了を示す信号を出す必要があり、また、上記従来技術
の方法では、そのような信号を加えても、計測機器から
渡された計測データが正常値か否かについて判定するこ
とができなかった。本発明の課題は、上記のような従来
技術の問題を解決し、制御装置のハングアップを防止す
ることができ、計測終了を示す信号が不要で、且つ、計
測結果が正常値か否かを判定することができる自動計測
方法を提供することにある。
計測結果を待つ従来技術では、何らかの原因により計測
機器から計測結果が通知されない場合、制御装置がハン
グアップしてしまうという問題がある。また、特開平3-
58154 号公報、及び、特開平3-268143号公報等に示され
た従来技術を自動計測方法で用いようとする場合には、
計測機器側において、計測データを示す信号の他に計測
終了を示す信号を出す必要があり、また、上記従来技術
の方法では、そのような信号を加えても、計測機器から
渡された計測データが正常値か否かについて判定するこ
とができなかった。本発明の課題は、上記のような従来
技術の問題を解決し、制御装置のハングアップを防止す
ることができ、計測終了を示す信号が不要で、且つ、計
測結果が正常値か否かを判定することができる自動計測
方法を提供することにある。
【０００４】
【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに、請求項１記載の発明では、計測を行う計測機器
と、上記計測機器を制御する制御装置とを備え、上記制
御装置の命令により上記計測機器が計測を行い、その計
測結果を上記制御装置に渡す自動計測方法において、上
記制御装置は、計測を開始させるための計測命令を計測
機器に与えると共に、上記命令を与えたときからの経過
時間を計時し、上記経過時間が所定時間に達すると、上
記計測を終了させる方法とした。また、請求項２記載の
発明では、請求項１記載の発明において、制御装置は計
測を終了させたときに計測機器から得た計測結果の内容
を判定することにより正常な計測が行われたか否かを判
定する方法とした。また、請求項３記載の発明では、請
求項２記載の発明において、計測結果が計測命令を出す
前と同じ値のとき、または複数回くり返して得た複数の
計測結果が同じ値のときに計測異常と判定する方法とし
た。また、請求項４記載の発明では、計測命令を出力す
ると共に経過時間を計時し、その計時した時間が所定時
間に達した後、上記計測命令による処理を終了させ、上
記計測命令による計測結果を受ける制御手段と、上記制
御手段からの計測命令により計測を行い、その計測結果
を上記制御手段に送る計測手段を備えた自動計測装置に
おいて、計測結果と検査規格とを比較する検査手段を備
えた。また、請求項５記載の発明では、計測命令を出力
すると共に経過時間を計時し、その計時した時間が所定
時間に達した後、上記計測命令による処理を終了させ、
上記計測命令による計測結果を受ける制御手段と、上記
制御手段からの計測命令により計測を行い、その計測結
果を上記制御手段に送る計測手段を備えた自動計測装置
において、計測結果と調整規格とを比較する比較手段
と、上記比較手段により計測結果が調整規格を満たして
いないと判定されたとき測定対象を自動的に調整する調
整手段とを備えた。
めに、請求項１記載の発明では、計測を行う計測機器
と、上記計測機器を制御する制御装置とを備え、上記制
御装置の命令により上記計測機器が計測を行い、その計
測結果を上記制御装置に渡す自動計測方法において、上
記制御装置は、計測を開始させるための計測命令を計測
機器に与えると共に、上記命令を与えたときからの経過
時間を計時し、上記経過時間が所定時間に達すると、上
記計測を終了させる方法とした。また、請求項２記載の
発明では、請求項１記載の発明において、制御装置は計
測を終了させたときに計測機器から得た計測結果の内容
を判定することにより正常な計測が行われたか否かを判
定する方法とした。また、請求項３記載の発明では、請
求項２記載の発明において、計測結果が計測命令を出す
前と同じ値のとき、または複数回くり返して得た複数の
計測結果が同じ値のときに計測異常と判定する方法とし
た。また、請求項４記載の発明では、計測命令を出力す
ると共に経過時間を計時し、その計時した時間が所定時
間に達した後、上記計測命令による処理を終了させ、上
記計測命令による計測結果を受ける制御手段と、上記制
御手段からの計測命令により計測を行い、その計測結果
を上記制御手段に送る計測手段を備えた自動計測装置に
おいて、計測結果と検査規格とを比較する検査手段を備
えた。また、請求項５記載の発明では、計測命令を出力
すると共に経過時間を計時し、その計時した時間が所定
時間に達した後、上記計測命令による処理を終了させ、
上記計測命令による計測結果を受ける制御手段と、上記
制御手段からの計測命令により計測を行い、その計測結
果を上記制御手段に送る計測手段を備えた自動計測装置
において、計測結果と調整規格とを比較する比較手段
と、上記比較手段により計測結果が調整規格を満たして
いないと判定されたとき測定対象を自動的に調整する調
整手段とを備えた。
【０００５】上記のような手段にしたので、請求項１記
載の発明では、計測を開始させるための計測命令を計測
機器に与えたときからの経過時間が所定時間に達する
と、制御装置は計測を終了させる。請求項２記載の発明
では、請求項１記載の発明において、計測データの内容
を判定することにより正常な計測が行われたか否かが制
御装置により判定される。請求項３記載の発明では、請
求項２記載の発明において、計測データが計測命令を出
す前と同じ値のとき、または複数回くり返して得た複数
の計測データが同じ値のときに計測異常と判定される。
請求項４記載の発明では、上記自動計測方法によって得
た計測データと検査規格とを比較することにより検査対
象製品の良否が判定される。請求項５記載の発明では、
上記自動計測方法によって得た計測データが調整規格を
満たしていないと自動的に調整が行われる。
載の発明では、計測を開始させるための計測命令を計測
機器に与えたときからの経過時間が所定時間に達する
と、制御装置は計測を終了させる。請求項２記載の発明
では、請求項１記載の発明において、計測データの内容
を判定することにより正常な計測が行われたか否かが制
御装置により判定される。請求項３記載の発明では、請
求項２記載の発明において、計測データが計測命令を出
す前と同じ値のとき、または複数回くり返して得た複数
の計測データが同じ値のときに計測異常と判定される。
請求項４記載の発明では、上記自動計測方法によって得
た計測データと検査規格とを比較することにより検査対
象製品の良否が判定される。請求項５記載の発明では、
上記自動計測方法によって得た計測データが調整規格を
満たしていないと自動的に調整が行われる。
【０００６】
【発明の実施の形態】以下、図面により本発明の実施の
形態を詳細に説明する。図１は、本発明の第１の実施例
を示す自動計測装置および測定対象（被測定物）の全体
構成図である。図示したように、この実施例の自動計測
装置は、ディジタルオシロスコープなど汎用計測機器
（以下、計測機器と略す）１、上記計測機器１を制御す
るパーソナルコンピュータなど制御装置２、上記制御装
置２と計測機器１などとを通信可能に接続するＧＰＩＢ
など通信手段３、測定結果などが表示される表示装置
４、計測機器１を測定対象８に接続するための接続機構
部５、上記接続機構部５を制御する機構制御装置６、上
記接続機構部５を介して測定対象８に電源を供給する電
源装置７などを備えている。図２に、制御装置２の要部
の構成を示す。図示したように、制御装置２は、プログ
ラムを内蔵したＲＯＭおよび上記プログラムに従って動
作するＣＰＵなどから構成された制御部21、計測機器１
などとの通信を行う通信手段としてのＧＰＩＢインタフ
ェース部22、予め設定された所定の時間を計時するタイ
マ23、ＲＡＭ24、操作部25などを備える。
形態を詳細に説明する。図１は、本発明の第１の実施例
を示す自動計測装置および測定対象（被測定物）の全体
構成図である。図示したように、この実施例の自動計測
装置は、ディジタルオシロスコープなど汎用計測機器
（以下、計測機器と略す）１、上記計測機器１を制御す
るパーソナルコンピュータなど制御装置２、上記制御装
置２と計測機器１などとを通信可能に接続するＧＰＩＢ
など通信手段３、測定結果などが表示される表示装置
４、計測機器１を測定対象８に接続するための接続機構
部５、上記接続機構部５を制御する機構制御装置６、上
記接続機構部５を介して測定対象８に電源を供給する電
源装置７などを備えている。図２に、制御装置２の要部
の構成を示す。図示したように、制御装置２は、プログ
ラムを内蔵したＲＯＭおよび上記プログラムに従って動
作するＣＰＵなどから構成された制御部21、計測機器１
などとの通信を行う通信手段としてのＧＰＩＢインタフ
ェース部22、予め設定された所定の時間を計時するタイ
マ23、ＲＡＭ24、操作部25などを備える。
【０００７】図３に、第１の実施例の動作フローを示
す。以下、図１〜図３などにより、この実施例の動作を
説明する。まず、利用者が制御装置２内の操作部25を操
作することにより、制御装置２内の制御部21が、ＧＰＩ
Ｂインタフェース部22を介し、機構制御装置６に対して
計測機器１を測定対象（被測定物）に接続させるための
接続命令を与える（Ｓ１）。そうすると、機構制御装置
６は、図４に詳細を示した接続機構部５内のエアーシリ
ンダ5aを制御して、軸5cを下方へ押し下げさせる。な
お、軸5cは、図４に矢印で示したように上下方向に動
き、その下端にはプローブ保持体5bが連結されている。
また、プローブ保持体5bの下方の板には複数のプローブ
ピン 5b1が設けられており、上記プローブピン 5b1の上
端には計測機器１や電源装置７などに他端が接続された
ケーブル11が配線されている。上記のようにしてプロー
ブ保持体5bが下方（図４に太い矢印で示す方向）へ移動
すると、複数のプローブピン5b1 が、予めプローブ保持
体5bの下方に置かれた測定対象８の上面に露出したプリ
ント基板上の複数の導電性接続パッド8aに接触する。こ
うして、計測機器１と測定対象８との電気的接続、およ
び電源装置７と測定対象８との接続が実現する。なお、
プローブピン5b1 はその保持部にスプリングを有してお
り、接続パッド8aに接触すると、図４の実施例の場合で
は上方にへこむ構造になっている。続いて、制御部21
は、ＧＰＩＢインタフェース部22を介し、電源装置７に
対して電源装置７を起動させるためのPOW-ON命令を出し
（Ｓ２）、これにより、電源装置７が起動され、測定対
象８に対して電源を供給する状態になる。また、電源を
供給された測定対象８は動作を開始し、接続パッド8aか
ら信号を出力し始める。
す。以下、図１〜図３などにより、この実施例の動作を
説明する。まず、利用者が制御装置２内の操作部25を操
作することにより、制御装置２内の制御部21が、ＧＰＩ
Ｂインタフェース部22を介し、機構制御装置６に対して
計測機器１を測定対象（被測定物）に接続させるための
接続命令を与える（Ｓ１）。そうすると、機構制御装置
６は、図４に詳細を示した接続機構部５内のエアーシリ
ンダ5aを制御して、軸5cを下方へ押し下げさせる。な
お、軸5cは、図４に矢印で示したように上下方向に動
き、その下端にはプローブ保持体5bが連結されている。
また、プローブ保持体5bの下方の板には複数のプローブ
ピン 5b1が設けられており、上記プローブピン 5b1の上
端には計測機器１や電源装置７などに他端が接続された
ケーブル11が配線されている。上記のようにしてプロー
ブ保持体5bが下方（図４に太い矢印で示す方向）へ移動
すると、複数のプローブピン5b1 が、予めプローブ保持
体5bの下方に置かれた測定対象８の上面に露出したプリ
ント基板上の複数の導電性接続パッド8aに接触する。こ
うして、計測機器１と測定対象８との電気的接続、およ
び電源装置７と測定対象８との接続が実現する。なお、
プローブピン5b1 はその保持部にスプリングを有してお
り、接続パッド8aに接触すると、図４の実施例の場合で
は上方にへこむ構造になっている。続いて、制御部21
は、ＧＰＩＢインタフェース部22を介し、電源装置７に
対して電源装置７を起動させるためのPOW-ON命令を出し
（Ｓ２）、これにより、電源装置７が起動され、測定対
象８に対して電源を供給する状態になる。また、電源を
供給された測定対象８は動作を開始し、接続パッド8aか
ら信号を出力し始める。
【０００８】次に、制御部21は、ＧＰＩＢインタフェー
ス部22を介し、計測機器１に対して計測命令（信号捕捉
待ち命令、トリガ命令）を出すと共に（Ｓ３）、制御装
置２内のタイマ23をスタートさせる。このタイマ23は、
計測命令が出されたときからの所定の経過時間を計時す
る。なお、上記所定の経過時間は、計算や実験により把
握された計測に要する時間に従って、利用者により予め
操作部25から入力され、制御部21内の図示されていない
フラッシュメモリ等に記憶されている。そして、タイマ
23により所定の経過時間が計時されると（所定の時間が
経過すると）（Ｓ４）、制御部21は計測機器１に対して
計測停止命令（ストップ命令）を出す（Ｓ５）。そうす
ると、計測機器１は計測（測定対象８からの信号の捕
捉）を停止し、ＧＰＩＢインタフェース部を介して、計
測データを制御装置２へ送出する。こうして、制御装置
２内の制御部21は計測機器１からの計測データを取り込
み（Ｓ６）、それをＲＡＭ24内の所定領域に書き込む
（Ｓ７）。
ス部22を介し、計測機器１に対して計測命令（信号捕捉
待ち命令、トリガ命令）を出すと共に（Ｓ３）、制御装
置２内のタイマ23をスタートさせる。このタイマ23は、
計測命令が出されたときからの所定の経過時間を計時す
る。なお、上記所定の経過時間は、計算や実験により把
握された計測に要する時間に従って、利用者により予め
操作部25から入力され、制御部21内の図示されていない
フラッシュメモリ等に記憶されている。そして、タイマ
23により所定の経過時間が計時されると（所定の時間が
経過すると）（Ｓ４）、制御部21は計測機器１に対して
計測停止命令（ストップ命令）を出す（Ｓ５）。そうす
ると、計測機器１は計測（測定対象８からの信号の捕
捉）を停止し、ＧＰＩＢインタフェース部を介して、計
測データを制御装置２へ送出する。こうして、制御装置
２内の制御部21は計測機器１からの計測データを取り込
み（Ｓ６）、それをＲＡＭ24内の所定領域に書き込む
（Ｓ７）。
【０００９】以下、ステップＳ３〜Ｓ７の動作を複数回
（合計でＮ回）くり返し、続いて、制御部21はＮ個の計
測データより、計測結果が正常か異常かを判定する（Ｓ
８）。その結果、例えばＮ個の計測データが同じ値を示
していた場合、あるいは計測命令を出す前の計測データ
と同じ値（０を含む）を示していた場合、何らかの原因
（例えば、プローブピン5b1 の接触不良）により測定対
象８からの入力信号がなかったというような計測異常と
判断し（Ｓ８でNo）、測定を終了させる（Ｓ13）。そし
て、制御部21は上記のような計測結果を表示装置４に表
示させる。なお、Ｎ回の計測を行うのは、ばらつきを考
慮したためである。また、Ｎ回の計測結果が同じ値の時
に異常と判断するのは、信号入力があれば、必ずその値
がばらついているからである。表示された計測結果を見
て計測異常に気づいた利用者が、例えば、プローブピン
5b1 の接触不良などを直すことにより信号入力などの回
復が可能と判断すると（Ｓ14でYes ）、接触不良などを
直した後、利用者は操作部25を操作して再スタートを指
示する。そうすると、制御部21はそれを認知してステッ
プＳ３から実行をくり返す。
（合計でＮ回）くり返し、続いて、制御部21はＮ個の計
測データより、計測結果が正常か異常かを判定する（Ｓ
８）。その結果、例えばＮ個の計測データが同じ値を示
していた場合、あるいは計測命令を出す前の計測データ
と同じ値（０を含む）を示していた場合、何らかの原因
（例えば、プローブピン5b1 の接触不良）により測定対
象８からの入力信号がなかったというような計測異常と
判断し（Ｓ８でNo）、測定を終了させる（Ｓ13）。そし
て、制御部21は上記のような計測結果を表示装置４に表
示させる。なお、Ｎ回の計測を行うのは、ばらつきを考
慮したためである。また、Ｎ回の計測結果が同じ値の時
に異常と判断するのは、信号入力があれば、必ずその値
がばらついているからである。表示された計測結果を見
て計測異常に気づいた利用者が、例えば、プローブピン
5b1 の接触不良などを直すことにより信号入力などの回
復が可能と判断すると（Ｓ14でYes ）、接触不良などを
直した後、利用者は操作部25を操作して再スタートを指
示する。そうすると、制御部21はそれを認知してステッ
プＳ３から実行をくり返す。
【００１０】一方、ステップＳ８において、計測結果が
正常であると判断すると（Ｓ８でYes ）、制御部21は、
Ｎ個のデータの平均値を計算してそれを測定値とし（Ｓ
９）、計測処理を終了させる（Ｓ10）。そして、制御部
21は、電源装置７に対して電源装置７の電源供給を終了
させるためのPOW-OFF 命令を出して測定対象８への電源
供給を切断させ（Ｓ11）、さらに、機構制御装置６へ、
測定対象８を切り離すための切離し命令を出す（Ｓ1
2）。こうして、機構制御装置６に制御されて、図４に
示した軸5cが上方へ上がり、プローブ保持体5bが上方へ
と離れる。なお、ステップＳ14において信号入力が回復
不可能と判定された場合も（Ｓ14でNo）、上記POW-OFF
命令が出され（Ｓ11）、又、上記切離し命令が出される
（Ｓ12）。こうして、この実施例によれば、計測命令を
出してから所定の時間が経過すると、制御装置側から命
令を出して計測をやめさせるので、制御装置のハングア
ップを防止することができ、また、計測機器は、計測終
了を示す信号を出す必要がなく、且つ、計測データが正
常値か否かを判定することもできる。
正常であると判断すると（Ｓ８でYes ）、制御部21は、
Ｎ個のデータの平均値を計算してそれを測定値とし（Ｓ
９）、計測処理を終了させる（Ｓ10）。そして、制御部
21は、電源装置７に対して電源装置７の電源供給を終了
させるためのPOW-OFF 命令を出して測定対象８への電源
供給を切断させ（Ｓ11）、さらに、機構制御装置６へ、
測定対象８を切り離すための切離し命令を出す（Ｓ1
2）。こうして、機構制御装置６に制御されて、図４に
示した軸5cが上方へ上がり、プローブ保持体5bが上方へ
と離れる。なお、ステップＳ14において信号入力が回復
不可能と判定された場合も（Ｓ14でNo）、上記POW-OFF
命令が出され（Ｓ11）、又、上記切離し命令が出される
（Ｓ12）。こうして、この実施例によれば、計測命令を
出してから所定の時間が経過すると、制御装置側から命
令を出して計測をやめさせるので、制御装置のハングア
ップを防止することができ、また、計測機器は、計測終
了を示す信号を出す必要がなく、且つ、計測データが正
常値か否かを判定することもできる。
【００１１】図５は、本発明の第２の実施例を示す自動
検査装置の動作フロー図である。この実施例の自動検査
装置は、図１に示した自動計測装置と同じハードウェア
構成で製品検査などを行うことができる。以下、図５な
どに従って、この実施例の動作を説明する。なお、図５
に示した動作フローの実行に先立ち、利用者は、操作部
25から検査規格値を入力し、制御部21は、それを取得し
てＲＡＭ24などに保持しておく。その後、第１の実施例
と同様にして、制御部11は、測定対象（検査対象）８の
計測データ（ステップＳ９で求めた測定値）を求め（Ｓ
21）、それを検査規格値と比較して良否を判定する（Ｓ
22）。検査規格値とは、例えば、許容最小値と許容最大
値から成り、計測データが許容最小値以上であり、且
つ、許容最大値以下であれば、良品（Ｓ22でOK）と判定
し、そうでなければ（Ｓ22でNG）、不良品とする（Ｓ2
3）。例えば、制御装置２に備えてあるプリンタ（図示
していない）により、所定の検査シートに計測データお
よび良否を記載するのである。こうして、この実施例に
よれば、第１の実施例の効果が得られると共に、自動検
査が可能になる。
検査装置の動作フロー図である。この実施例の自動検査
装置は、図１に示した自動計測装置と同じハードウェア
構成で製品検査などを行うことができる。以下、図５な
どに従って、この実施例の動作を説明する。なお、図５
に示した動作フローの実行に先立ち、利用者は、操作部
25から検査規格値を入力し、制御部21は、それを取得し
てＲＡＭ24などに保持しておく。その後、第１の実施例
と同様にして、制御部11は、測定対象（検査対象）８の
計測データ（ステップＳ９で求めた測定値）を求め（Ｓ
21）、それを検査規格値と比較して良否を判定する（Ｓ
22）。検査規格値とは、例えば、許容最小値と許容最大
値から成り、計測データが許容最小値以上であり、且
つ、許容最大値以下であれば、良品（Ｓ22でOK）と判定
し、そうでなければ（Ｓ22でNG）、不良品とする（Ｓ2
3）。例えば、制御装置２に備えてあるプリンタ（図示
していない）により、所定の検査シートに計測データお
よび良否を記載するのである。こうして、この実施例に
よれば、第１の実施例の効果が得られると共に、自動検
査が可能になる。
【００１２】図６は、本発明の第３の実施例を示す自動
調整装置の動作フロー図である。この実施例の自動調整
装置は、図１に示した自動計測装置と同様なハードウェ
ア構成で製品検査などを行うことができる。但し、この
実施例では、例えば機構制御装置６などを介して、制御
装置２から測定対象（調整対象）８へデータを渡すこと
ができる。以下、図６などに従って、この実施例の動作
を説明する。なお、図６に示した動作フローの実行に先
立ち、利用者は操作部25から調整規格値を入力し、制御
部21は、それを取得してＲＡＭ24などに保持しておく。
その後、第１の実施例と同様にして、制御部11は測定対
象（調整対象）８の計測データ（ステップＳ９で求めた
測定値）を求め（Ｓ31）、それを調整規格値と比較して
良否を判定する（Ｓ32）。調整規格値とは、例えば、許
容最小値と許容最大値から成り、計測データが許容最小
値以上であり、且つ、許容最大値以下であれば、良好
（Ｓ32でOK）と判定し、そうでなければ（Ｓ32でNG）、
測定対象（調整対象）８に設定データを渡して再調整
（再設定）させる（Ｓ33）。
調整装置の動作フロー図である。この実施例の自動調整
装置は、図１に示した自動計測装置と同様なハードウェ
ア構成で製品検査などを行うことができる。但し、この
実施例では、例えば機構制御装置６などを介して、制御
装置２から測定対象（調整対象）８へデータを渡すこと
ができる。以下、図６などに従って、この実施例の動作
を説明する。なお、図６に示した動作フローの実行に先
立ち、利用者は操作部25から調整規格値を入力し、制御
部21は、それを取得してＲＡＭ24などに保持しておく。
その後、第１の実施例と同様にして、制御部11は測定対
象（調整対象）８の計測データ（ステップＳ９で求めた
測定値）を求め（Ｓ31）、それを調整規格値と比較して
良否を判定する（Ｓ32）。調整規格値とは、例えば、許
容最小値と許容最大値から成り、計測データが許容最小
値以上であり、且つ、許容最大値以下であれば、良好
（Ｓ32でOK）と判定し、そうでなければ（Ｓ32でNG）、
測定対象（調整対象）８に設定データを渡して再調整
（再設定）させる（Ｓ33）。
【００１３】以下、図７および図８により、再調整の一
例を説明する。なお、図７は、測定対象８から得た計測
データＴを示すタイミングチャート、図８は、測定対象
要部の回路図である。図８に示した回路により信号ａか
ら信号ｂを生成した時の、信号ａの立ち上がりから信号
ｂの立ち上がりまでの時間が、図７に示したＴなる時間
である。図８に示したように、信号ａはシフトレジスタ
31に入力され、シフトレジスタ31の出力端子s1〜s4から
は、信号a が遅らされて出力される。その遅れ時間は端
子s1が最も小さく、後段（右側）の出力端子ほど大き
く、従って、端子s4が最も大きくなる。また、デコーダ
32は、入力データＤの値が１ならば、出力d1のみがHigh
レベルで、同様に、Ｄの値２、３、４に対応して、それ
ぞれd2、d3、d4のみがHighレベルになる。したがって、
図示のような構成の回路では、入力データＤの値が大き
いほど信号ｄの信号ａに対する遅れは大きくなり、Ｔの
値が大きくなる。そのため、計測データＴが調整規格よ
り小さい側にはずれていた場合、制御装置２の制御部21
は、予め制御装置２に設定されている入力データＤより
も大きい入力データＤを測定対象８に与えてデコーダ32
に設定させ、計測データＴが調整規格より大きい側には
ずれていた場合は、小さい入力データＤを測定対象８に
与えてデコーダ32に設定させる。上記のようにして、こ
の実施例によれば、第１の実施例の効果に加え、自動調
整が可能になる。
例を説明する。なお、図７は、測定対象８から得た計測
データＴを示すタイミングチャート、図８は、測定対象
要部の回路図である。図８に示した回路により信号ａか
ら信号ｂを生成した時の、信号ａの立ち上がりから信号
ｂの立ち上がりまでの時間が、図７に示したＴなる時間
である。図８に示したように、信号ａはシフトレジスタ
31に入力され、シフトレジスタ31の出力端子s1〜s4から
は、信号a が遅らされて出力される。その遅れ時間は端
子s1が最も小さく、後段（右側）の出力端子ほど大き
く、従って、端子s4が最も大きくなる。また、デコーダ
32は、入力データＤの値が１ならば、出力d1のみがHigh
レベルで、同様に、Ｄの値２、３、４に対応して、それ
ぞれd2、d3、d4のみがHighレベルになる。したがって、
図示のような構成の回路では、入力データＤの値が大き
いほど信号ｄの信号ａに対する遅れは大きくなり、Ｔの
値が大きくなる。そのため、計測データＴが調整規格よ
り小さい側にはずれていた場合、制御装置２の制御部21
は、予め制御装置２に設定されている入力データＤより
も大きい入力データＤを測定対象８に与えてデコーダ32
に設定させ、計測データＴが調整規格より大きい側には
ずれていた場合は、小さい入力データＤを測定対象８に
与えてデコーダ32に設定させる。上記のようにして、こ
の実施例によれば、第１の実施例の効果に加え、自動調
整が可能になる。
【００１４】
【発明の効果】以上説明したように、本発明によれば、
請求項１記載の発明では、計測を開始させるための計測
命令を計測機器に与えたときからの経過時間が所定時間
に達すると、制御装置が計測を終了させるので、制御装
置はハングアップすることがない。また、請求項２記載
の発明では、請求項１記載の発明において、計測データ
の内容を判定することにより正常な計測が行われたか否
かが制御装置により判定されるので、計測機器は制御装
置が正常終了か否かを判定するための計測終了信号を出
さなくてよい。また、請求項３記載の発明では、請求項
２記載の発明において、計測データが計測命令を出す前
と同じ値のとき、または複数回くり返して得た複数の計
測データが同じ値のときに計測異常と判定されるので、
計測機器から異常な計測データが渡されても終了通知が
あったということで正常終了と判断してしまうことがな
くなる。また、請求項４記載の発明では、請求項１乃至
請求項３記載の発明によって得た計測データと検査規格
とを比較することにより検査対象製品の良否が判定され
るので、請求項１乃至請求項３記載の発明の効果が得ら
れると共に、自動検査が可能になる。また、請求項５記
載の発明では、請求項１乃至請求項３記載の発明によっ
て得た計測データが調整規格を満たしていないと自動的
に調整が行われるので、請求項１乃至請求項３記載の発
明の効果が得られると共に、自動調整が可能になる。
請求項１記載の発明では、計測を開始させるための計測
命令を計測機器に与えたときからの経過時間が所定時間
に達すると、制御装置が計測を終了させるので、制御装
置はハングアップすることがない。また、請求項２記載
の発明では、請求項１記載の発明において、計測データ
の内容を判定することにより正常な計測が行われたか否
かが制御装置により判定されるので、計測機器は制御装
置が正常終了か否かを判定するための計測終了信号を出
さなくてよい。また、請求項３記載の発明では、請求項
２記載の発明において、計測データが計測命令を出す前
と同じ値のとき、または複数回くり返して得た複数の計
測データが同じ値のときに計測異常と判定されるので、
計測機器から異常な計測データが渡されても終了通知が
あったということで正常終了と判断してしまうことがな
くなる。また、請求項４記載の発明では、請求項１乃至
請求項３記載の発明によって得た計測データと検査規格
とを比較することにより検査対象製品の良否が判定され
るので、請求項１乃至請求項３記載の発明の効果が得ら
れると共に、自動検査が可能になる。また、請求項５記
載の発明では、請求項１乃至請求項３記載の発明によっ
て得た計測データが調整規格を満たしていないと自動的
に調整が行われるので、請求項１乃至請求項３記載の発
明の効果が得られると共に、自動調整が可能になる。
【図１】本発明の第１の実施形態を示す自動計測装置な
どの全体構成図である。
どの全体構成図である。
【図２】本発明の第１の実施形態を示す制御装置要部の
構成ブロック図である。
構成ブロック図である。
【図３】本発明の第１の実施形態を示す自動計測装置の
動作フロー図である。
動作フロー図である。
【図４】本発明の第１の実施形態を示す自動計測装置要
部などの斜視図である。
部などの斜視図である。
【図５】本発明の第２の実施形態を示す自動検査装置の
動作フロー図である。
動作フロー図である。
【図６】本発明の第３の実施形態を示す自動調整装置の
動作フロー図である。
動作フロー図である。
【図７】本発明の第３の実施形態を示す自動調整装置に
係わるタイミングチャートである。
係わるタイミングチャートである。
【図８】本発明の第３の実施形態を示す自動調整装置に
係わる回路図である。
係わる回路図である。
１ 汎用計測機器 ２ 制御装置 ５ 接続機構部 ６ 機構制御装置 ７ 電源装置 ８ 測定対象 21 制御部 22 ＧＰＩＢインタフェース部 23 タイマ 24 ＲＡＭ
Claims (5)
- 【請求項１】 計測を行う計測手段と、上記計測手段を
制御する制御手段とを備え、上記制御手段の命令により
上記計測手段が計測を行い、その計測結果を上記制御手
段に渡す自動計測方法において、上記制御手段は、計測
を開始させるための計測命令を計測手段に与えると共
に、上記命令を与えた時からの経過時間を計時し、上記
経過時間が所定時間に達すると、上記計測を終了させる
ことを特徴とする自動計測方法。 - 【請求項２】 請求項１の自動計測方法において、上記
制御手段は、計測を終了させた時に計測手段から得た計
測結果の内容を判定することにより、正常な計測が行わ
れたか否かを判定することを特徴とする自動計測方法。 - 【請求項３】 請求項２の自動計測方法において、上記
制御手段は、上記計測結果が上記計測命令を出す前と同
じ値の時、または複数回くり返して得た複数の計測結果
が同じ値の時に、計測異常と判定することを特徴とする
自動計測方法。 - 【請求項４】 計測命令を出力すると共に経過時間を計
時し、その計時した時間が所定時間に達した後、上記計
測命令による処理を終了させ、上記計測命令による計測
結果を受ける制御手段と、上記制御手段からの計測命令
により計測を行い、その計測結果を上記制御手段に送る
計測手段を備えた自動計測装置において、上記計測結果
と検査規格とを比較する検査手段を備えたことを特徴と
する自動計測装置。 - 【請求項５】 計測命令を出力すると共に経過時間を計
時し、その計時した時間が所定時間に達した後、上記計
測命令による処理を終了させ、上記計測命令による計測
結果を受ける制御手段と、上記制御手段からの計測命令
により計測を行い、その計測結果を上記制御手段に送る
計測手段を備えた自動計測装置において、上記計測結果
と調整規格とを比較する比較手段と、上記比較手段によ
り計測結果が調整規格を満たしていないと判定されたと
き測定対象を自動的に調整する調整手段とを備えたこと
を特徴とする自動計測装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP36213697A JPH11175143A (ja) | 1997-12-11 | 1997-12-11 | 自動計測方法及び自動計測装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP36213697A JPH11175143A (ja) | 1997-12-11 | 1997-12-11 | 自動計測方法及び自動計測装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH11175143A true JPH11175143A (ja) | 1999-07-02 |
Family
ID=18476028
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP36213697A Pending JPH11175143A (ja) | 1997-12-11 | 1997-12-11 | 自動計測方法及び自動計測装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH11175143A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005025631A (ja) * | 2003-07-04 | 2005-01-27 | Toshiba Corp | サーベイランス試験装置およびサーベイランス試験方法 |
| JP2006250548A (ja) * | 2005-03-08 | 2006-09-21 | Hioki Ee Corp | ショート検出装置 |
-
1997
- 1997-12-11 JP JP36213697A patent/JPH11175143A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005025631A (ja) * | 2003-07-04 | 2005-01-27 | Toshiba Corp | サーベイランス試験装置およびサーベイランス試験方法 |
| JP2006250548A (ja) * | 2005-03-08 | 2006-09-21 | Hioki Ee Corp | ショート検出装置 |
| JP4568623B2 (ja) * | 2005-03-08 | 2010-10-27 | 日置電機株式会社 | ショート検出装置 |
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