JPH11173978A - 紫外可視吸光度検出器 - Google Patents
紫外可視吸光度検出器Info
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- JPH11173978A JPH11173978A JP36226797A JP36226797A JPH11173978A JP H11173978 A JPH11173978 A JP H11173978A JP 36226797 A JP36226797 A JP 36226797A JP 36226797 A JP36226797 A JP 36226797A JP H11173978 A JPH11173978 A JP H11173978A
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- Japan
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- light
- slit
- flow cell
- sample cell
- cell
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- Pending
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Abstract
ンプ点灯後のベースライン安定時間を短縮する。 【解決手段】 D2ランプ35からの光を集光レンズ3
7により入射スリット39の例えば円形の開口部40に
集光する。開口部40を通過した光をグレーティング4
3により分光し、かつシリンドリカルミラー41及びグ
レーティング43により結像して、フローセル部45の
サンプルセル及びリファレンス用穴がその像の分散方向
とは垂直な方向の長さ内に収まるようにしているので、
発光点の空間分布が変動してもサンプルセルとリファレ
ンス用穴に同じ発光点の光を入射することができる。
Description
し、特にフローセル及びリファレンス用穴をもつフロー
セル部を備えた紫外可視吸光度検出器に関するものであ
る。このような検出器は、例えば高速液体クロマトグラ
フィー(以下HPLCという)などに利用されている。
成分を紫外可視吸光度により検出する紫外可視吸光度検
出器の光学系は次の2種類に大きく分けることができ
る。図1は、第1の従来例の紫外線可視吸光度検出器の
光学系を表す構成図である。光源としてD2ランプ1が
設けられており、D2ランプ1からの光の光路上にはミ
ラー3が設けられている。ミラー3の反射光は長方形の
開口部をもつスリット5に送られる。スリット5の開口
部を通過した光は帯状の光となってミラー7に送られ、
ミラー7の反射光はグレーティング9に導かれて分光さ
れる。分散光はミラー11を介してフローセル部13に
結像される。
ァレンス用穴がスペクトル分散方向に垂直方向に並べて
形成されており、フローセル部13に結像される分光さ
れたスリット像16は、サンプルセルとリファレンス用
穴をその像内に含む。フローセル13のサンプルセル及
びリファレンス用穴を通過した光は、それぞれのフォト
ダイオードなどの受光素子を備えたセンサー15により
検出される。その検出強度を吸光度変換することにより
目的成分を検出する。
る。光源としてD2ランプ17が備えられており、D2ラ
ンプ17の光路上にはD2ランプ7からの光を反射して
スリット21に導くミラー19が設けられている。入射
スリット21には円形の開口部が形成されており、入射
スリット21の開口部を通ったミラー19からの光はグ
レーティング23に導かれる。入射スリット21からの
光はグレーティング23により分光され、ハーフミラー
25に送られる。ハーフミラー25を透過した光はフロ
ーセルを備えたフローセル部27に結像される。また、
ハーフミラー25により反射された分散光はスリット3
1に結像される。スリット31からの光がリファレンス
となる。セル部27のフローセルを通過した光及びスリ
ット31からの光をそれぞれセンサー29及びセンサー
33により検出し、吸光度変換して目的成分を検出す
る。この従来例では、入射スリットとして、縦と横の寸
法比が同程度の開口部をもつものを使用し、セル部直前
のハーフミラーで分散光を分割する。その結果、セル部
とリファレンス部は別置の構成になる。
ンプル側とリファレンス側とでは異なる発光点からの光
が入射しているため、発光点の空間分布が変動した場
合、光のムラによりサンプル側とリファレンス側とで光
量が変動し、サンプル側の光とリファレンス側の光との
間の相殺性が低下する。その結果、ベースラインの安定
性が低下し、サンプル側の光とリファレンス側の光との
間の相殺性を向上させないとベースラインの安定性の向
上は望めない。図2の従来例では、発光点の空間分布に
おいて同じ発光点の光をセル側及びリファレンス側に送
ってベースラインの安定性を向上させるために、リファ
レンス側での利用率をサンプル側と同じように制限する
必要がある。その結果、検出器のS/N比の低化を招い
ている。
視吸光度検出器においては、その高感度化にともない、
ベースラインのさらなる安定性、及び光源ランプを点灯
してからのベースライン安定時間の早さが求められてい
る。そこで、本発明は、発光点の空間分布が変動した際
でもサンプル側の光とリファレンス側の光との間の相殺
性を向上させることにより、ベースラインの安定性を向
上させるとともに、光源ランプ点灯後のベースライン安
定時間を短縮することを目的とするものである。
外可視吸光度検出器は、サンプルセル及びリファレンス
用穴を備えたフローセル部と、フローセル部のサンプル
セル入射側セル窓及びリファレンス用穴入射口を含む領
域にスペクトル分散方向とは垂直な方向の分光されたス
リット像を結像する光学系と、サンプルセル及びリファ
レンス用穴を通過した光をそれぞれの受光素子で検出す
る受光器とを備えた紫外可視吸光度検出器において、光
学系が、光源と、縦と横の寸法比が同程度の開口部をも
つスリットと、スリットからの光を分光する分光器と、
分光器により分光された光によるスリット像を形成する
結像光学系と、を備えている。
が同程度の開口部に集光する。スリットの開口部を通過
した光を分光器により分光し、フローセル部のサンプル
セル入射側セル窓及びリファレンス用穴入射口が分光さ
れたスリット像内に収まるようにフローセル部に結像す
る。その結果、発光点の空間分布が変動してもサンプル
セルとリファレンス用穴に同じ発光点の光を入射するこ
とができる。
発明は以下の実施例に限定されるものではない。図3
は、一実施例を表す構成図である。光源としてD2ラン
プ35が備えられている。D2ランプ35の光路には集
光レンズ37が設けられている。集光レンズ37により
集光されたD2ランプ35からの光の光路上には円形の
開口部40をもつ入射スリット39が設けられており、
集光レンズ37からの光は開口部40に集光する。開口
部40を通過した光の光路上にはシリンドリカルミラー
41と、そのシリンドリカルミラー41の反射光を分光
するグレーティング43が設けられている。入射スリッ
ト39からの光は、シリンドリカルミラー41及びグレ
ーティング43によって、分散方向に垂直な方向の分光
されたスリット像として結像される。グレーティング4
3によって分光された分散光の光路上にはフローセル部
45が備えられている。フローセル部45には、分散方
向と垂直な方向で、分光されたスリット像内にサンプル
セルとリファレンス用穴が配置されている。フローセル
部45の光照射側とは反対側に、フローセル部45のサ
ンプルセル及びリファレンス用穴を通過した光をそれぞ
れの受光素子で検出する受光器47が設けられている。
り、(A)は正面図、(B)は(A)のX−X’線での
断面図、(C)は(A)のY−Y’線での断面図であ
る。フローセル部45にいわゆるz型のキャリア液流路
49が形成されている。キャリア液流路49の一部は、
フローセル部45に照射される分散光の光路に平行に形
成され、そこに光が導かれる光路長が例えば10mmで
内径が例えば1mmのサンプルセル穴51となってい
る。フローセル部45に照射される分散光は、集光レン
ズ52を介してサンプルセル入射側セル窓53から入
り、サンプルセル穴51を通って、集光レンズ54を介
してサンプルセル出射側セル窓55から出る。また、フ
ローセル部45には、サンプルセル穴51に平行に形成
されたリファレンス用穴57が形成されている。リファ
レンス用穴57の内径は、サンプルセル穴51に入射さ
れる光の変動との相殺性をよくするために、サンプルセ
ル穴51の内径と同じく例えば1mmに形成されてい
る。フローセル部45に照射される分散光は、リファレ
ンス用穴入射口59から入り、リファレンス用穴57を
通ってリファレンス用穴出射口61から出る。
スリット像63が、スペクトル分散方向とは垂直な方向
に結像される。サンプルセル穴45とリファレンス用穴
57はスペクトル分散方向とは垂直な方向に並べられて
おり、サンプルセル入射側セル窓53及びリファレンス
用穴入射口59を含む領域にスリット像63は結像され
ている。
に送り、入射スリット39の円形の開口部40に集光す
る。開口部40を通過した光をミラー41を介してグレ
ーティング43に送って分光する。そして、分散光をフ
ローセル部45に結像する。その分光された光をサンプ
ルセル穴51及びリファレンス用穴57を通過させる。
それぞれの穴を通過した光を受光器47により検出し、
吸光度変換することにより、サンプルに吸収された吸光
度を算出し、目的成分を検出する。
口部40をもつ入射スリット39を備え、開口部40を
通過した光をグレーティング43により分光し、かつシ
リンドリカルミラー41及びグレーティング43により
結像して、フローセル部45のサンプルセル入射側セル
窓53及びリファレンス用穴入射口59がその像の分散
方向とは垂直な方向の長さ内に収まるようにしているの
で、発光点の空間分布が変動してもサンプルセルとリフ
ァレンス用穴に同じ発光点の光を入射することができ
る。この実施例では円形の開口部をもつ入射スリットを
用いたが、正方形又は正多角形の開口部をもつものを用
いてもよい。
光学系が、光源と、縦と横の寸法比が同程度の開口部を
もつスリットと、スリットからの光を分光する分光器
と、分光器により分光された光によるスリット像を形成
する結像光学系と、を備え、光源からの光をスリットの
開口部に集光し、スリットの開口部を通過した光を分光
器により分光し、フローセル部のサンプルセル入射側セ
ル窓及びリファレンス用穴入射口が分光されたスリット
像内に収まるようにフローセル部に結像するので、発光
点の空間分布が変動してもサンプルセルとリファレンス
用穴に同じ発光点の光を入射することができる。その結
果、従来技術に比べて発光点の空間分布が変動したとき
の相殺性を向上させることができ、ベースラインの安定
性が向上して高感度分析に対応することができる。さら
に、光源ランプ点灯後のベースライン安定時間を短縮す
ることができ、素早く分析を開始でき、ウオームアップ
のためのランプの余分な点灯時間を省略することができ
る。
り、(A)は正面図、(B)は(A)のX−X’線での
断面図、(C)は(A)のY−Y’線での断面図であ
る。
Claims (1)
- 【請求項1】 サンプルセル及びリファレンス用穴を備
えたフローセル部と、前記フローセル部のサンプルセル
入射側セル窓及びリファレンス用穴入射口を含む領域に
スペクトル分散方向とは垂直な方向の分光されたスリッ
ト像を結像する光学系と、前記サンプルセル及び前記リ
ファレンス用穴を通過した光をそれぞれの受光素子で検
出する受光器とを備えた紫外可視吸光度検出器におい
て、 前記光学系が、光源と、 縦と横の寸法比が同程度の開口部をもつスリットと、 前記スリットからの光を分光する分光器と、 前記分光器により分光された光による前記スリット像を
形成する結像光学系と、を備えたことを特徴とする紫外
可視吸光度検出器。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36226797A JPH11173978A (ja) | 1997-12-10 | 1997-12-10 | 紫外可視吸光度検出器 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP36226797A JPH11173978A (ja) | 1997-12-10 | 1997-12-10 | 紫外可視吸光度検出器 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH11173978A true JPH11173978A (ja) | 1999-07-02 |
Family
ID=18476418
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP36226797A Pending JPH11173978A (ja) | 1997-12-10 | 1997-12-10 | 紫外可視吸光度検出器 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH11173978A (ja) |
Cited By (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010243324A (ja) * | 2009-04-06 | 2010-10-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 透過率測定装置 |
JP2012185186A (ja) * | 2012-07-02 | 2012-09-27 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 透過率測定装置 |
WO2018131279A1 (ja) * | 2017-01-16 | 2018-07-19 | 株式会社島津製作所 | 液体クロマトグラフ用検出器 |
-
1997
- 1997-12-10 JP JP36226797A patent/JPH11173978A/ja active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2010243324A (ja) * | 2009-04-06 | 2010-10-28 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 透過率測定装置 |
JP2012185186A (ja) * | 2012-07-02 | 2012-09-27 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 透過率測定装置 |
WO2018131279A1 (ja) * | 2017-01-16 | 2018-07-19 | 株式会社島津製作所 | 液体クロマトグラフ用検出器 |
JPWO2018131279A1 (ja) * | 2017-01-16 | 2019-06-27 | 株式会社島津製作所 | 液体クロマトグラフ用検出器 |
CN109952501A (zh) * | 2017-01-16 | 2019-06-28 | 株式会社岛津制作所 | 液相色谱仪用检测器 |
US11480553B2 (en) | 2017-01-16 | 2022-10-25 | Shimadzu Corporation | Liquid chromatography detector |
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A621 | Written request for application examination |
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A977 | Report on retrieval |
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A521 | Written amendment |
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A02 | Decision of refusal |
Effective date: 20060815 Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A02 |
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A911 | Transfer of reconsideration by examiner before appeal (zenchi) |
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