JPH1116932A - 可動キャビティ方式によるモールド成形金型 - Google Patents

可動キャビティ方式によるモールド成形金型

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JPH1116932A
JPH1116932A JP18069797A JP18069797A JPH1116932A JP H1116932 A JPH1116932 A JP H1116932A JP 18069797 A JP18069797 A JP 18069797A JP 18069797 A JP18069797 A JP 18069797A JP H1116932 A JPH1116932 A JP H1116932A
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 キャビティブロックに加える押圧位置の選
択、押圧力の大きさの調整等を容易にし、大きな押圧力
を得易くする。 【解決手段】 押圧力印加機構31として、チェイスブ
ロック22に設けた孔に押圧力を伝達するピラー32を
挿通し、ピラー32の一端をキャビティブロック24に
接触させ、ピラー32の他端に押圧力を与える押圧力源
36を金型ベース21に設ける。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は半導体パッケージ等
のモールド成形時に使用する可動キャビティ方式による
モールド成形金型に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、一般的な半導体パッケージはリー
ドフレームに半導体素子例えば半導体集積回路(IC)
チップを接合し、樹脂モールドして製作している。この
ようなモールド成形の対象となるリードフレームや基
板、テープ等の部材(以下「ワーク」という)は厚みに
ばらつきがある。それ故、モールド成形金型に同時にワ
ークを複数枚セットして押圧すると、各ワークの板厚に
よって押圧状態に当然差が生じる。そして、厚いワーク
に妨げられるため薄いワークではどうしてもキャビティ
ブロックとワークとの間に不必要な隙間が生じやすい。
それ故、樹脂バリが発生し易くなり、良好な成形状態を
確保できない。
【0003】そこで、ワークの板厚のばらつきに対処す
るため、本出願人は先に特願昭51−6905号として
図5、6に示すような可動キャビティ方式によるモール
ド成形金型1を提示した。このモールド成形金型1はリ
ードフレームにパッケージをモールド成形する金型であ
る。そして、金型ベースに上下のチェイスブロック2、
3を配設し、その上チェイスブロック2には下側中央部
に上センターブロック4を配置し、その左右に上キャビ
ティブロック5(5a、5b)を配置してそれぞれ備
え、下チェイスブロック3にも対応させて上側中央部に
下センターブロック6を配置し、その左右に下キャビテ
ィブロック7(7a、7b)を配置してそれぞれ備えて
いる。又、両上キャビティブロック5に対し、それ等に
押圧力を加えて可動させる押圧力印加機構8{8a(8
a1 、8a2 、8a3 )、8b}をそれぞれ設けてあ
る。
【0004】これ等の押圧力印加機構8はいずれも上チ
ェイスブロック2に、各上キャビティブロック5の所定
箇所に対応するように例えば3個ずつピン孔を設け、各
ピン孔の上キャビティブロック5に面する部分の径を大
きくしてばね室11にし、そのばね室11内に皿ばね1
2を6枚ずつ積層して内蔵し、それ等の上チェイスブロ
ック2と皿ばね12を貫通して上キャビティブロック5
に固着するようにピン13を設けたものである。それ
故、上チェイスブロック2内に間隔14(14a、14
b)をそれぞれ設けて各上キャビティブロック5を上下
可動に支持し、各皿ばね12の積層体によりそれ等の間
隔14をそれぞれ保持できる。
【0005】そして、モールド成形金型にセットするリ
ードフレーム15(15a、15b)の板厚に応じて、
例えばリードフレーム15aが厚く、リードフレーム1
5bが薄い場合、その厚いリードフレーム15aに対し
ては各皿ばね12の縮み量と上キャビティブロック5a
の移動量が多くなり、間隔14aが閉じるのに対し、薄
いリードフレーム15bに対してはその差厚分だけ各皿
ばね12の縮み量と上キャビティブロック5bの移動量
が少なくなって、間隔14bが開く。従って、各リード
フレーム15がその板厚に応じて上キャビティブロック
5に押圧されるので、不必要な隙間が生じることなく、
ひいては樹脂バリが生じることもない。なお、16は上
キャビティブロック5のキャビティであり、17は下キ
ャビティブロック7の対応するキャビティであって、パ
ッケージ成形箇所に該当する。
【0006】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上チェ
イスブロック2にそこに備え付けた各上キャビティブロ
ック5に対応させ、皿ばね12等のスプリングを収納す
るばね室11を設けて、各押圧力印加機構8をそれぞれ
形成すると、各キャビティブロック5、7には成形品突
出し用にエジェクターピン(図示なし)がそれぞれ設け
られているため、それ等のエジェクターピンによって皿
ばね12等のスプリングの大きさと位置が制限を受け
る。しかも、皿ばね12等のスプリングは小形にする
と、多数用いても必要とする押圧力を出し難い。
【0007】又、BGA型半導体パッケージ等では通常
多層構造のプラスチック基板を用いるが、リードフレー
ム等の金属板と異なり、そのようなプラスチック基板は
場所によって厚みにばらつきがある。それ故、1枚のキ
ャビティブロックの複数箇所に押圧力印加機構を設けて
も、押圧力が主に基板の厚みのある箇所に作用し、薄い
箇所にはあまり働かなくなる。そして、プラスチック基
板の薄い箇所近傍に形成するパッケージのパーティング
面に樹脂バリができ易い。そこで、押圧力を強めて樹脂
バリの発生を防止するようにするが、強すぎると基板が
破壊されてしまう。しかも、皿ばね積層体の押圧力を調
節するには皿ばねを全部取り外して皿ばね間にワッシャ
やスペーサを介在しなければならない。このため、押圧
力調節の負担が大きい。
【0008】本発明はこのような従来の問題点に着目し
てなされたものであり、キャビティブロックに加える押
圧位置の選択、押圧力の大きさの調整等が容易で、大き
な押圧力を得ることができる、樹脂バリの発生し難い可
動キャビティ方式によるモールド成形金型を提供するこ
とを目的とする。
【0009】
【課題を解決するための手段】上記目的を達成するため
に、本発明による可動キャビティ方式によるモールド成
形金型では金型ベースにキャビティブロックを備えたチ
ェイスブロックを設置し、そのキャビティブロックに押
圧力を加えて可動させる押圧力印加機構を設ける。そし
て、その押圧力印加機構として、チェイスブロックに設
けた孔に押圧力を伝達するピラーを挿通し、そのピラー
の先端をキャビティブロックに接触させ、そのピラーの
後端に押圧力を与える押圧力源を金型ベースに設ける。
【0010】又、1枚のワークに対応するキャビティブ
ロックを複数個に分割し、そのキャビティを有する各分
割ブロック毎にそこに押圧力を加えて可動させる押圧力
印加機構をそれぞれ設置するとよい。
【0011】
【発明の実施の形態】以下、添付の図1〜4を参照し
て、本発明の実施の形態を説明する。図1は本発明を適
用した可動キャビティ方式によるモールド成形金型の正
面側から見た要部の縦断面図である。このモールド成形
金型18はリードフレームにパッケージをモールド成形
して固着する金型であって、上下に配置した金型19、
20からなり、プレス装置に装着して使用する。そし
て、上金型19にはその金型ベース21の下側中央部に
チェイスブロック22を設置し、そのチェイスブロック
22の下側中央部にセンターブロック23を配置し、そ
の左右にキャビティブロック24(24a、24b)を
配置してそれぞれ備え付ける。なお、通常は1つのチェ
イスブロックに2個のキャビティブロックを備え付け
る。
【0012】又、下金型20の金型ベース25の上側中
央部にチェイスブロック26を設置し、そのチェイスブ
ロック26の上側中央部にセンターブロック27を配置
し、その左右にキャビティブロック28(28a、28
b)を配置してそれぞれ備え付ける。すると、上下のキ
ャビティブロック24a、28aが対となり、又上下の
キャビティブロック24b、28bが対となって、内部
にパッケージ成形用のキャビティ29(29a、29
b)をそれぞれ形成できる。なお、30はエジェクター
ピン(図示なし)を上方に向けて突設するエジェクター
プレートである。
【0013】又、上金型19には更に各上キャビティブ
ロック24に押圧力を加えて可動させる押圧力印加機構
31(31a、31b)をそれぞれ設置する。そして、
各キャビティブロッ24に対し、押圧力印加機構31を
1組以上例えば3組設置する。その際、上チェイスブロ
ック22に各上キャビティブロック24の上面に臨む貫
通孔を3個ずつ分配してそれぞれ設け、それ等の各孔に
ピラー32(32a、32b)を挿通してそれぞれ立設
する。これ等のピラー32は押し下げ用の円柱状部材で
あり、先端が上キャビティブロック24の上面に乗って
接触する。なお、33はエジェクターピン(図示なし)
を下方に向けて突設するエジェクタープレートである。
【0014】又、このような各ピラー32の後端を受け
るため、上金型ベース21の中央部に各ピラー32に乗
る方形板状のピラー受け34(34a、34b)をそれ
ぞれ設置する。そして、各ピラー受け34に押圧力を伝
達するため、各ピラー受け34に乗る押圧力伝達部材3
5を1個以上例えば2個設置する。又、各押圧力伝達部
材35{35a(35a1 、35a2 )、35b(35
b1 ,35b2 )}に押圧力を加える押圧力源として、
上金型ベース21の上側中央部に圧縮コイルスプリング
36{36a(36a1 、36a2 )、36b(36b
1 、36b2 )}をそれぞれ設置する。
【0015】その際、各圧縮コイルスプリング36の上
端部をねじ37付きの円板状部材38で受け、下端部を
押圧力伝達部材35の円板状頭部39に当接する。する
と、ねじ37を回転させることにより円板状部材38が
上下動可能となり、スプリング力調整部材になる。な
お、押圧力伝達部材35の足部40は円柱状にする。
【0016】このようにして、上チェイスブロック22
に設けた6箇所の孔にピラー32を1本ずつ挿通し、そ
れ等の各ピラー32の先端を3本ずつ対応する各上キャ
ビティブロック24にそれぞれ接触させ、それ等の各ピ
ラー32の後端を受ける各ピラー受け34を6枚上金型
ベース21の中央部にそれぞれ設け、それ等の各ピラー
受け34に押圧力を伝達する押圧力伝達部材35を2個
ずつそれ等の一端をそれぞれ接触させ、それ等の各押圧
力伝達部材35に押圧力を与える圧縮コイルスプリング
36を6個上金型ベース21の上側中央部にそれぞれ設
けると、モールド成形金型18に6組の押圧力印加機構
31を配設できる。なお、各キャビティブロック24、
各ピラー受け34、各押圧力伝達部材35等はいずれも
当然上下方向に移動可能でなければならないため、それ
等の各近傍に少し移動用の間隔をそれぞれ形成してお
く。
【0017】又、このようにして各押圧力印加機構31
を構成すると、上チェイスブロック22には各ピラー3
2を挿通して立設するだけでよくなるため、その上チェ
イスブロック22を挿通して下方に向かって突設する各
エジェクターピンによって各ピラー32の位置が制限を
受け難い。それ故、各上キャビティブロック24に加え
る押圧位置の選択が可能となり、それ等の各上面に均等
に押圧力を分配して加え易くなる。又、各ピラー32は
径を細くした複数本のピラーと取り換えることもでき
る。
【0018】しかも、他の各ピラー受け34、押圧力伝
達部材35、押圧力源たる圧縮コイルスプリング36等
は上金型ベース21に設置するため、大きな圧縮コイル
スプリング36を採用し、或いは圧縮コイルスプリング
36の数を増すことができる。それ故、押圧力印加機構
31の自由度が大きくなり、各ピラー32に加える押圧
力の大きさを調節し易く、大きな押圧力を得易い。又、
押圧力源として油圧等のシリンダを用いてもよく、その
場合にはピストンロッドが押圧力伝達部材となる。
【0019】このようなモールド成形金型18にリード
フレーム41(41a、41b)をセットすると、圧縮
コイルスプリング36よりスプリング力が押圧力伝達部
材35、ピラー受け34、ピラー32を経て、各上キャ
ビティブロック24に押圧力として加わる。それ故、各
リードフレーム41が1枚毎の板厚にばらつきがあって
も、その板厚に応じて上キャビティブロック24に良好
に押圧されるため、不必要な隙間ができず樹脂バリが生
じない。従って、製品に対する樹脂バリ取り作業の労力
が不要となり、金型18に樹脂バリが付着することによ
る金型精度の低下と清掃の労力を軽減できる。
【0020】しかし、上記のモールド成形金型18では
1枚毎の板厚にばらつきのあるワークには対応できて
も、多層構造のプラスチック基板のような1枚の板でも
場所によって厚みにばらつきのあるワークには対応し難
い。そこで、BGA型半導体パッケージを製造する場合
には、図2に示すようにモールド成形金型42の1枚の
プラスチック基板43に対応する上キャビティブロック
44を各パッケージ成形用のキャビティ45毎に分割す
る。そして、キャビティ45を有する各分割ブロック4
6(46a…46d)毎に上記の押圧力印加機構31と
同様の押圧力印加機構47(47a…47d)を1組以
上それぞれ設置する。なお、48は上チェイスブロッ
ク、49はエジェクタープレート、50は上金型ベース
であり、51はピラー、52はピラー受け、53は押圧
力伝達部材、54は押圧力源たる圧縮コイルスプリング
である。因みに、上チェイスブロック内に皿ばねの積層
体を設置すると、上キャビティブロックが皿ばねのスペ
ースに規制されて分割しずらい。
【0021】このように上キャビティブロック44を分
割すると、プラスチック基板43をセットした時その基
板43の厚みにばらつきがあって、場所によって板厚が
異なっていても、各場所の板厚に応じてそこに配設され
ている分割ブロック46にそれぞれ良好に押圧される。
それ故、いずれのパッケージ成形箇所でもプラスチック
基板43と上キャビティブロック44の間に不必要な隙
間が生じることなく、樹脂バリが発生しない。なお、B
GA型半導体パッケージを成形する場合、下キャビティ
ブロックにはパッケージを成形するためのキャビティを
設けず上面を平らにする。
【0022】又、上記のモールド成形金型18では上セ
ンターブロック23は動かず、その両側にある上キャビ
ティブロック24だけが可動する。それ故、下センター
ブロック27にタブレット(モールド成形材料)をそれ
ぞれ入れるポット列を設け、各ポットに対抗配置して上
センターブロック23に設けたカルから両方向にランナ
ーを伸ばし、各側にある上キャビティブロック24の対
応するキャビティ29に接続すると、各ランナーが上セ
ンターブロック23と上キャビティブロック24との接
合面を横切るため、上キャビティブロック24の可動に
より上センターブロック23との接合面に樹脂漏れが発
生した。
【0023】そこで、上チェイスブロックに上センター
ブロックを備えず、上キャビティブロックのみを2個備
え付ける。その際、図3に示すようにカル列の順に従っ
て各カル55(55a、…55j)よりランナー56
(56a、…56j)を交互に反対方向にそれぞれ突設
し、一方の側のキャビティ列に含まれる各キャビティ5
7(57a、…57e)と、それ等の各キャビティ57
に連なるランナー56とカル55とを含めて、一方の上
キャビティブロック58を形成し、他方の側のキャビテ
ィ列に含まれる各キャビティ59(59a、…59e)
と、それ等の各キャビティ59に連なるランナー56と
カル55とを含めて、他方の上キャビティブロック60
を形成する。
【0024】そして、各カル55の近傍を方形状の突部
61(61a、…61j)に形成し、それ等の突部61
を交互に嵌め合わせると、両上キャビティブロック5
8、60を接合し、互いに上下方向に摺動可能にして上
チェイスブロックに備え付けることができる。なお、突
部61aに隣接する上キャビティブロック58の隅部
と、突部61jに隣接する上キャビティブロック60の
隅部とを同様な嵌め合わせ用の突部62、63にそれぞ
れ形成する。
【0025】このようにして、上センターブロックをな
くすと、各ランナー56が接合面を横切ることがなくな
るため、各上キャビティブロック58、60をそれぞれ
可動させても、当然各ランナー56からの樹脂漏れが発
生しなくなる。又、下チェイスブロックに対しても、各
上キャビティブロック58、60にそれぞれ対応する同
様の下キャビティブロックを備え付け、下センターブロ
ックをなくす。なお、板厚が場所によってばらつくプラ
スチック基板等のワークに対し、両上キャビティブロッ
ク58、60を用いる場合には各上キャビティブロック
58、60を二点鎖線の位置で分割して使用する。
【0026】なお、上記の実施の形態では押圧力印加機
構として、上チェイスブロックに設けた孔に押圧力を伝
達するピラーを挿通し、そのピラーの先端を上キャビテ
ィブロックに接触させ、そのピラーの後端を受けるピラ
ー受けを上金型ベースに設け、そのピラー受けに押圧力
を伝達する押圧力伝達部材の先端を接触させ、その押圧
力伝達部材に押圧力を与える押圧力源を上金型ベースに
設けたが、そのピラー受け、押圧力伝達部材を用いずに
押圧力印加機構を構成し、押圧力源から直接ピラーの後
端に押圧力を与えてもよい。
【0027】又、上記の実施の形態では分割ブロックを
形成する場合、分割ラインを隣接したキャビティを有す
る分割ブロックの境界線にしたが、図4に示すように各
キャビティ64の周囲に分割ライン65を設けてキャビ
ティ64を有する各分割ブロック66をそれぞれ形成し
てもよい。なお、67が上チェイスブロック、68が上
キャビティブロック、69が上センターブロック、70
がランナー、71がカルである。又、上記の実施の形態
では上金型の方に押圧力印加装置を設置したが、下金型
の方に同様の押圧力印加装置を設置してもよい。
【0028】
【発明の効果】以上説明した本発明によれば、請求項1
記載の発明ではチェイスブロックに押圧力印加装置のピ
ラーを挿通するだけでよく、そのチェイスブロックに挿
通するエジェクターピンによってピラーの位置が制限を
受け難い。それ故、キャビティブロックに加える押圧位
置の選択が可能となり、均等に押圧力を分配して加え易
い。又、ピラー数の変更も容易である。しかも、押圧力
印加機構を構成する押圧力源は金型ベースに設置するた
め、押圧力印加機構の自由度が大きくなる。それ故、押
圧力の大きさを調整し易く、大きな押圧力を得易くな
る。従って、ワークの板厚に1枚毎のばらつきがあって
も、ワークをその板厚に応じてキャビティブロックで良
好に押圧できるため、モールド成形時に不必要な隙間が
できず、樹脂バリが発生しない。
【0029】又、請求項2記載の発明では1枚のワーク
における各場所の板厚に応じてそこに配設されているキ
ャビティを有する分割ブロックでそれぞれ良好に押圧で
きる。それ故、1枚のワークの板厚にばらつきがあって
も、モールド成形時に不必要な隙間が生じることなく、
樹脂バリが発生しない。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明を適用した可動キャビティ方式によるモ
ールド成形金型の正面側から見た要部の縦断面図であ
る。
【図2】同可動キャビティ方式によるモールド成形金型
の変形例を示す側面側から見た上金型要部の縦断面図で
ある。
【図3】同可動キャビティ方式によるモールド成形金型
に備える上キャビティブロックの変形例を示す接合状態
にある両上キャビティブロックの底面図である。
【図4】同可動キャビティ方式によるモールド成形金型
に備える上キャビティブロックの他の変形例を示す一方
の上キャビティブロック付近の底面図である。
【図5】従来の可動キャビティ方式によるモールド成形
金型の正面側から見た要部の縦断面図である。
【図6】同可動キャビティ方式によるモールド成形金型
の側面側から見た要部の縦断面図である。
【符号の説明】
18、42…モールド成形金型 19、20…上、下金
型 21、50…上金型ベース 22、48、67…上
チェイスブロック 23、69…上センターブロック
24、44、58、60、68…上キャビティブロック
25…下金型ベース 26…下チェイスブロック 2
7…下センターブロック 28…下キャビティブロック
29、45、57、59、64…キャビティ 30…
下エジェクタープレート 31、47…押圧力印加機構
32、51…ピラー 33、49…上エジェクタープ
レート 34、52…ピラー受け 35、53…押圧力
伝達部材 36、54…圧縮コイルスプリング38…ス
プリング力調整部材 41…リードフレーム 43…プ
ラスチック基板 46、66…分割ブロック 55、7
1…カル 56、70…ランナー 61、62、63…
突部

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 金型ベースにキャビティブロックを備え
    たチェイスブロックを設置し、そのキャビティブロック
    に押圧力を加えて可動させる押圧力印加機構を設けてな
    る可動キャビティ方式によるモールド成形金型におい
    て、上記押圧力印加機構として、チェイスブロックに設
    けた孔に押圧力を伝達するピラーを挿通し、そのピラー
    の一端をキャビティブロックに接触させ、そのピラーの
    他端に押圧力を与える押圧力源を金型ベースに設けるこ
    とを特徴とする可動キャビティ方式によるモールド成形
    金型。
  2. 【請求項2】 1枚のワークに対応するキャビティブロ
    ックを複数個に分割し、そのキャビティを有する各分割
    ブロック毎にそこに押圧力を加えて可動させる押圧力印
    加機構をそれぞれ設置することを特徴とする請求項1記
    載の可動キャビティ方式によるモールド成形金型。
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