JPH1116497A - 蛍光面検査装置 - Google Patents

蛍光面検査装置

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Publication number
JPH1116497A
JPH1116497A JP9166453A JP16645397A JPH1116497A JP H1116497 A JPH1116497 A JP H1116497A JP 9166453 A JP9166453 A JP 9166453A JP 16645397 A JP16645397 A JP 16645397A JP H1116497 A JPH1116497 A JP H1116497A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
fluorescent screen
camera
measuring camera
ray tube
screen
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP9166453A
Other languages
English (en)
Inventor
Sanehiro Ono
修弘 大野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Kansai Nippon Electric Co Ltd
Original Assignee
Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Kansai Nippon Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd, Kansai Nippon Electric Co Ltd filed Critical Renesas Semiconductor Manufacturing Co Ltd
Priority to JP9166453A priority Critical patent/JPH1116497A/ja
Priority to KR1019980022851A priority patent/KR19990007074A/ko
Publication of JPH1116497A publication Critical patent/JPH1116497A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J9/00Apparatus or processes specially adapted for the manufacture, installation, removal, maintenance of electric discharge tubes, discharge lamps, or parts thereof; Recovery of material from discharge tubes or lamps
    • H01J9/42Measurement or testing during manufacture
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01JELECTRIC DISCHARGE TUBES OR DISCHARGE LAMPS
    • H01J29/00Details of cathode-ray tubes or of electron-beam tubes of the types covered by group H01J31/00
    • H01J29/02Electrodes; Screens; Mounting, supporting, spacing or insulating thereof
    • H01J29/10Screens on or from which an image or pattern is formed, picked up, converted or stored
    • H01J29/18Luminescent screens

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Manufacture Of Electron Tubes, Discharge Lamp Vessels, Lead-In Wires, And The Like (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
  • Formation Of Various Coating Films On Cathode Ray Tubes And Lamps (AREA)
  • Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 陰極線管の蛍光面品質の自動判定を実現する
ため、計測用カメラで蛍光面を撮像するが、蛍光体のド
ットの並びとカメラの画素の並びのピッチ同じ位になる
ことからモアレが発生する。このモアレは画像処理上ノ
イズとなり、誤判定の要因となる。 【解決手段】 陰極線管1の蛍光面1aと計測用カメラ
2との間にピント補正用レンズ7を付設することで、蛍
光面1aの中央部と周辺部でのモアレレベルの差を吸収
することにより、蛍光面1a全体で、均一なデフォーカ
スを得られるようにしてモアレを均一化し、画像処理に
よる検査精度を向上する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、陰極線管の蛍光面
検査装置に関し、特に蛍光面の蛍光体のドットの並びと
計測用カメラの画素の並びのピッチが同じ位であること
により発生するモアレ成分を軽減した装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、この種の蛍光面検査装置は、図3
に示すように、陰極線管1の蛍光面1aに対向配置され
たCCD等からなる計測用カメラ2と、計測用カメラ2
をその光軸に沿って移動できるカメラ移動機構3とで構
成されていた。そして、陰極線管1を駆動させるか、あ
るいは外部より蛍光面1a向けて紫外光を照射するかし
て蛍光面1aを光らせ、その光を計測用カメラ2で撮像
して画像処理することにより、蛍光面1の画質の検査を
行い自動判定していた。ところが、蛍光面1aの蛍光体
ドットの並びと計測用カメラ2の画素の並びのピッチが
同程度であるため、計測用カメラ2を蛍光面1a上でジ
ャストフォーカスにすると、輝度がある周期で変化した
モアレとなり、輝度信号の変動が大きくなって画像処理
が困難となる。その対策として、カメラ移動機構3を駆
動して計測用カメラをデフォーカスにしてモアレを軽減
する方法が採られていた。
【0003】ところが、図3に見るように、蛍光面1a
はある曲率を持って湾曲しており、計測用カメラ2のジ
ャストフォーカス範囲4は逆の曲率を持って湾曲してい
るので、蛍光面1aの中央部でデフォーカス領域5を得
たとしても、蛍光面1aの周辺部ではジャストフォーカ
ス領域6となってしまい、図4に示すように、計測用カ
メラ2が検出する輝度レベルは蛍光面1aの周辺部では
モアレの影響を大きく受け、輝度信号の蛍光面1aの中
央、周辺部で大きく変動し、これが画像処理時のノイズ
となり、検査精度を悪化させる結果となっていた。すな
わち、ただ単にデフォーカスで画質検査するだけでは、
本質的に蛍光面1aの中央部と周辺部のモアレレベルを
均一化することにはならず、蛍光面1a全体での平均的
なモアレレベルは多少下げることはできても、依然とし
て蛍光面1aの中央部と周辺部のモアレレベルの差は残
ったままであり、これがノイズとなり、画質評価の誤判
定につながる要因となっていた。なお、計測用カメラの
デフォーカス状態を再に深くして、蛍光面全体でデフォ
ーカス状態にしてモアレを軽減して検査することも考え
られるが、この場合、輝度信号自体が微弱化するため、
SN比が大きくなり、画像処理が困難となる。
【0004】
【課題を解決するための手段】本発明の陰極線管の蛍光
面検査装置は、陰極線管蛍光面に対向配置した計測用カ
メラと、陰極線管蛍光面と計測用カメラとの間に配設し
たピント補正用レンズと、計測用カメラをその光軸方法
に沿って移動できるカメラ移動機構とを具備したもので
ある。
【0005】また、ピント補正用カメラが曲面状の蛍光
面全体で計測用カメラのピントが合うよう調整された非
球面補正レンズである。
【0006】さらに、計測用カメラを蛍光面全面でジャ
ストフォーカス状態にした後、カメラ移動機構により計
測用カメラを移動・調整して陰極線管蛍光面の全体にて
計測用カメラをデフォーカス状態で検査する装置であ
る。
【0007】
【発明の実施の形態】陰極線管の蛍光面の中央に対し、
計測用カメラをジャストフォーカスになるようカメラ移
動機構を使って動かし、モアレレベルを下げるため、計
測用カメラをあらかじめ決められた距離分ずらす。そし
て、補正レンズを付設するこにより、蛍光面の中央部と
周辺部によるモアレのベレル差をなくし、蛍光面全体で
均一デフォーカスが得られ、モアレが均一化して画像処
理による検査精度の向上が図れる。
【0008】
【実施例】以下、本発明について図面を参照して説明す
る。図1は本発明の一実施例である蛍光面検査装置の概
念図である。図において、1は陰極線管、1aは蛍光
面、2はCCD等からなる計測用カメラ、3は計測用カ
メラ2をその光軸方向に動かすためのカメラ移動機構、
7は本発明の特徴構成要素であるピント補正用レンズで
ある。
【0009】次に、本発明の蛍光面検査装置による陰極
線管蛍光面の画質検査の具体例について述べる。まず、
あらかじめ曲面状の蛍光面1a全体で計測用カメラ2が
ジャストフォーカスするよう調整、選別された非球面状
のピント補正用レンズ7を蛍光面1aと計測用カメラ2
との間に付設する。そして、陰極線管1を駆動させる
か、あるいは蛍光面1aに紫外線を照射して蛍光面1a
を光らせ、計測用カメラ2が蛍光面1a全体でジャスト
フォーカスされた状態にし、次いでカメラ移動機構を駆
動して計測用カメラ2を蛍光面1a側に所定距離だけ移
動させ、図1に示すように、ジャストフォーカス範囲8
が蛍光面1aの内面より離れた位置にくるようにする。
そうすると、蛍光面1a全体がデフォーカス領域9とな
り、この状態で蛍光面1aの画質検査を行うと、図2に
示すように、モアレレベルは蛍光面1aの中央部から周
辺部にわたって均一となり、この輝度信号を画像処理す
れば、ノイズレベルは均一なので画像処理は良好に行わ
れる。すなわち、本発明は、ピント補正用レンズ7を付
設するだけで輝度信号の変動・バラツキが低減され、画
像処理の精度が高まり、蛍光面1aの検査・判別の精度
が向上する。
【0010】なお、ピント補正用レンズは上記説明のよ
うに、あらかじめ配置しておいても良いし、ピント補正
レンズのない状態で蛍光面の中央部でデフォーカス状態
を得た後、ピント補正用レンズを蛍光面と計測用カメラ
間に挿入してもよい。この場合は、特性の一番合ったピ
ント補正用レンズを選択するのに都合が良い。
【0011】
【発明の効果】以上説明したように、本発明は陰極線管
の蛍光面検査装置において、陰極線管の蛍光面と計測用
カメラとの間にピント補正用レンズを付設することによ
り、蛍光面の蛍光体のドットの並びと、計測用カメラの
画素の並びにより発生するモアレ成分のうち、蛍光面の
中央部と周辺部によるレベル差をなくし、蛍光面全体で
均一なデフォーカスを実現することにより、モアレを均
一化し、画像処理による検査精度を向上させることがで
きる。
【図面の簡単な説明】
【図1】 本発明の一実施例に係る蛍光面検査装置の概
念図
【図2】 ピント補正用レンズを付設した場合のモアレ
レベル図
【図3】 従来の蛍光面検査装置の概念図
【図4】 従来のモアレレベル図
【符号の説明】
1 陰極線管 1a 蛍光面 2 計測用カメラ 3 カメラ移動機構 7 ピント補正用レンズ

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】陰極線管蛍光面に対向配置した計測用カメ
    ラと、陰極線管蛍光面と計測用カメラとの間に配設した
    ピント補正用レンズと、計測用カメラをその光軸方法に
    沿って移動できるカメラ移動機構とを具備したことを特
    徴とする蛍光面検査装置。
  2. 【請求項2】前記ピント補正レンズが曲面状の蛍光面全
    面で計測用カメラのフォーカスが合うよう調整された非
    球面補正レンズである請求項1記載の蛍光面検査装置。
  3. 【請求項3】前記計測用カメラを蛍光面全体でジャスト
    フォーカス状態にした後、カメラ移動機構により計測用
    カメラを移動調整して前記陰極線管蛍光面の全面にてデ
    フォーカス状態で検査される請求項1記載の蛍光面検査
    装置。
  4. 【請求項4】前記ピント補正用レンズを配設した状態で
    前記計測用カメラを蛍光面全体でジャストフォーカス状
    態にする請求項3記載の蛍光面検査装置。
  5. 【請求項5】前記計測用カメラを蛍光面全体でジャスト
    フォーカス状態にした後、前記ピント補正レンズを配設
    する請求項3記載の蛍光面検査装置。
JP9166453A 1997-06-24 1997-06-24 蛍光面検査装置 Pending JPH1116497A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP9166453A JPH1116497A (ja) 1997-06-24 1997-06-24 蛍光面検査装置
KR1019980022851A KR19990007074A (ko) 1997-06-24 1998-06-18 형광면 검사장치

Applications Claiming Priority (1)

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JP9166453A JPH1116497A (ja) 1997-06-24 1997-06-24 蛍光面検査装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPH1116497A true JPH1116497A (ja) 1999-01-22

Family

ID=15831692

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP9166453A Pending JPH1116497A (ja) 1997-06-24 1997-06-24 蛍光面検査装置

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JP (1) JPH1116497A (ja)
KR (1) KR19990007074A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111025701A (zh) * 2019-12-30 2020-04-17 凌云光技术集团有限责任公司 一种曲面液晶屏幕检测方法

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN111025701A (zh) * 2019-12-30 2020-04-17 凌云光技术集团有限责任公司 一种曲面液晶屏幕检测方法

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KR19990007074A (ko) 1999-01-25

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