JPH0989789A

JPH0989789A - 筒内面欠陥検出装置

Info

Publication number: JPH0989789A
Application number: JP7241810A
Authority: JP
Inventors: Kunito Endo; 邦人遠藤; Yoshio Yokoyama; 良雄横山; Toshio Kato; 敏夫加藤
Original assignee: Denso Corp
Current assignee: Denso Corp
Priority date: 1995-09-20
Filing date: 1995-09-20
Publication date: 1997-04-04

Abstract

(57)【要約】【課題】照射むらがある場合にも正確に欠陥を検出す
ることができる筒内面欠陥検出装置の提供。【解決手段】筒内面の画像１００（図３（Ａ））で
は、外周に近づくほど、内視鏡のライトガイドに近い部
分からの反射光が撮影される。このため、筒内面が滑ら
かであっても、図３（Ｂ）のＧに示すように、画像１０
０は外周に近づくほど明るくなる。そこで、画像１００
をＡ１〜Ａ４の四つの円環状の領域に分割し、各円環Ａ
１〜Ａ４毎にしきい値Ｓを決定し、更に、円環Ａ１〜Ａ
４のいずれかにおける画像１００の輝度がその円環Ａ１
〜Ａ４に応じたしきい値Ｓを上回ったとき（図３（Ｂ）
のＨ，Ｉ）その部分が欠陥であると判断する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、筒内面に形成され
た凹凸のある欠陥を検出する筒内面欠陥検出装置に関す
る。

【０００２】

【従来の技術】従来より、この種の装置として、筒内面
に光を照射する光照射手段と、該光照射手段から照射さ
れ、上記筒内面により反射された光を撮影する撮影手段
と、該撮影手段に撮影された上記筒内面における反射光
の強度変化に基づいて上記筒内面の欠陥を検出する欠陥
検出手段と、を備えたものが知られている。例えば、筒
内面に凸状の欠陥が存在する場合、光照射手段により筒
内面に斜めの光を照射すると、その欠陥の光照射手段に
近い側が光に照らされて明るくなり、その反対側が陰と
なって暗くなる。そこで、撮影手段に撮影された反射光
の強度が所定のしきい値を上回った場合、または下回っ
た場合に、その部分に欠陥があると判断している。

【０００３】ところが、光照射手段が筒内面に均一に光
を照射できない場合がある。例えば、筒内面が欠陥のな
い滑らかな状態であっても、光照射手段に近いところほ
ど明るく照らされてしまう。このため、一つのしきい値
に基づいて欠陥を検出する場合、この照射むらを欠陥と
して検出してしまうことがある。そこで、特開平３−８
２９４０号公報に記載のような欠陥の検出方法が提案さ
れている。すなわち、照射むらによる反射光の強度変化
を包含する二つのしきい値を設定し、反射光の強度が高
い方のしきい値を上回ったとき、または、反射光の強度
が低い方のしきい値を下回ったとき、その部分に欠陥が
あると判断するのである。

【０００４】

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、この方
法でも欠陥を充分正確に検出することはできない。この
状況を図９，図１０を用いて説明する。例えば、図９
（Ａ）に例示するように、筒内面１０１のＡ−Ｂ線上に
二つの凸状の欠陥１０３，２０３があるとする。Ａ−Ｂ
線と平行に、Ａの側から斜めに光を照射すると、そのＡ
−Ｂ線に沿った反射光強度（輝度）の変化は図９（Ｂ）
に例示するようになる。すなわち、欠陥１０３，２０３
のＡに近い側では輝度が高くなりピークＪ，Ｋが形成さ
れる。また、欠陥１０３，２０３のＢに近い側では輝度
が低くなりピークＬ，Ｍが形成される。更に、欠陥１０
３，２０３以外の滑らかな面では、ＡからＢに近づくに
つれて徐々に輝度は低くなる。

【０００５】欠陥１０３，２０３以外の面での輝度変化
を包含するように二つのしきい値Ｄ，Ｅを設定すると、
ピークＪは高い方のしきい値Ｄを上回って欠陥１０３が
検出されるが、欠陥２０３に起因するピークＫ，Ｍは、
共にしきい値Ｄ，Ｅの間に配設されるので、欠陥２０３
は検出されない。

【０００６】また、しきい値Ｄ，Ｅの間隔を狭く設定し
過ぎると、図１０に例示するように、欠陥のない滑らか
な面であっても光照射手段に近い側で輝度がしきい値Ｄ
を上回るなどの場合が生じる。この場合、欠陥がないに
も関わらず、欠陥があるかのような検出結果が得られ
る。

【０００７】そこで、本発明は、照射むらがある場合に
も正確に欠陥を検出することができる筒内面欠陥検出装
置を提供することを目的としてなされた。

【０００８】

【課題を解決するための手段および発明の効果】上記目
的を達するためになされた請求項１記載の発明は、図１
１に例示するように、筒内面に光を照射する光照射手
段、その反射光を撮影する撮影手段、および、その反射
光の強度変化に基づいて上記筒内面の欠陥を検出する欠
陥検出手段を備えた筒内面欠陥検出装置において、上記
欠陥検出手段が、上記筒内面を基本的な反射光強度の大
きさに基づいて複数の領域に分割する領域分割手段と、
上記各領域における反射光の強度変化に基づいて、上記
領域毎に異なる様式で上記欠陥を検出する領域別検出手
段と、を備えたことを特徴としている。

【０００９】このように構成された本発明では、領域分
割手段は、筒内面を基本的な反射光強度（例えば滑らか
な部分の反射光強度）の大きさに基づいて複数の領域に
分割する。このため、各領域内における照射むらは小さ
くなる。また、領域別検出手段は、各領域における反射
光の強度変化に基づいて、上記領域毎に異なる様式で上
記欠陥を検出する。すなわち、照射むらの小さい上記各
領域毎に、異なる様式で欠陥を検出するのである。従っ
て、本発明では、照射むらがある場合にも正確に欠陥を
検出することができる。

【００１０】請求項２記載の発明は、請求項１記載の構
成に加え、上記領域別検出手段が、上記各領域毎に異な
るしきい値を設定し、上記領域における反射光の強度
が、その領域に応じたしきい値を越えて変化したとき、
その部分に欠陥があると判断することを特徴としてい
る。

【００１１】このため、上記基本的な反射光強度が高い
領域ではしきい値を高く、基本的な反射光強度が低い領
域ではしきい値を低くすることができる。そして、ある
領域における反射光の強度がその領域に応じたしきい値
を越えて変化したとき、その部分に欠陥があると判断す
るのである。本発明では、このように、しきい値を変更
することにより欠陥の検出様式を変更し、反射光強度を
しきい値と比較することにより欠陥を検出している。従
って、請求項１記載の発明の効果に加えて、欠陥の検出
様式の変更や、欠陥の検出処理を簡略化することができ
るといった効果が生じる。

【００１２】請求項３記載の発明は、請求項１または２
記載の構成に加え、上記筒内面を、上記光照射手段から
の距離に応じて上記複数の領域に分割することを特徴と
している。一般に光照射手段から遠ざかるに従って基本
的な反射光強度は小さくなる。そこで、本発明では、光
照射手段からの距離に応じて上記複数の領域に分割して
いるのである。筒内面のどの領域が光照射手段に近く、
どの領域が遠いかはきわめて容易に掌握することができ
る。従って、本発明では、請求項１または２記載の発明
の効果に加えて、領域分割手段の構成をきわめて簡略化
することができるといった効果が生じる。

【００１３】請求項４記載の発明は、請求項１〜３のい
ずれかに記載の構成に加え、上記撮影手段が、上記筒内
面で正反射された光を撮影せず、上記筒内面で乱反射さ
れた光のみを撮影することを特徴としている。筒内面が
滑らかであれば、筒内面の変色の有無に関わらず、筒内
面は照射された光を正反射し、筒内面に欠陥があればそ
の部分で光を乱反射する。このため、撮影手段に撮影さ
れた画像は、欠陥のある部分で明るくなる。また、乱反
射の大きさは筒内面の変色などの影響を受けにくい。従
って、本発明では、請求項１〜３のいずれかに記載の発
明の効果に加えて、変色などの影響を受けることなく欠
陥をより正確に検出することができるといった効果が生
じる。

【００１４】

【発明の実施の形態】次に、本発明の実施の形態を説明
する。図１は、本発明が適用された筒内面欠陥検出装置
１の構成を表す説明図である。なお、筒内面欠陥検出装
置１は、例えば、油圧回路でポンプ，シリンダなどを構
成する金属性の円筒３内部の欠陥を検出する装置であ
る。

【００１５】図１に示すように、筒内面欠陥検出装置１
は、円筒３に挿入可能な内視鏡５と、その基端（上端）
に設けられたＴＶカメラ７と、そのＴＶカメラ７の撮影
画像を処理する画像処理装置９と、内視鏡５に設けた後
述のライトガイド１１に光を供給する光源１３とを備え
ている。内視鏡５は、円筒３に挿入可能な中空円筒状の
スコープ本体１７と、そのスコープ本体１７の外周に沿
って光ファイバにより構成されたライトガイド１１と、
スコープ本体１７の中空部１７ａ下端に設けられた魚眼
レンズ２１とを備えている。

【００１６】また、中空部１７ａには、凸レンズ２３が
設けられている。更に、スコープ本体１７の下方には、
頂点２５ａを魚眼レンズ２１に向けた円錐状の反射防止
板２５が設けられ、この反射防止板２５は、長尺板状の
ステー２７によりスコープ本体１７の下方に支持されて
いる。なお、スコープ本体１７，ステー２７，および反
射防止板２５の表面には、艶消し黒の塗料が全面に塗布
されている。

【００１７】ここで、ライトガイド１１の先端は、魚眼
レンズ２１の集光範囲Ｅの背後に配設されている。この
ため、ライトガイド１１の先端から照射され円筒３の内
面３ａで正反射された光は魚眼レンズ２１には入射せ
ず、魚眼レンズ２１には内面３ａで乱反射された光のみ
が入射される。また、円筒３の底面３ｂで反射された光
は反射防止板２５により遮られ、魚眼レンズ２１に入射
しない。

【００１８】次に、画像処理装置９は、ＴＶカメラ７か
らの出力に基づき、魚眼レンズ２１から撮影された画像
をディスプレイ９ａに表示する周知の処理を行う。ま
た、画像処理装置９は、図２に示す処理回路を備えてお
り、円筒３の良否を判断する。すなわち、図２に示すよ
うに、ＴＶカメラ７の出力はＡ／Ｄ変換器３１によりデ
ジタルデータに変換され、画像メモリ３３に記憶され
る。画像メモリ３３には、ＴＶカメラ７で撮影した内面
３ａの画像の輝度を２値化する２値化補正回路３５が接
続され、この２値化補正回路３５によって内面３ａの画
像が、滑らかな正常部と欠陥とに分けられる。

【００１９】ここで、２値化補正回路３５における欠陥
の検出方法を図３に基づき概略的に説明する。円筒３の
ＴＶカメラ７で撮影される画像１００は、図３（Ａ）に
示すように略円形の輪郭を有する。なお、図１の構成で
は、画像１００内にステー２７が撮影されるが、ここで
は説明の便宜上ステー２７の像を省略してある。

【００２０】画像１００では、中央に反射防止板２５の
像Ａ２５が撮影される。また、内面３ａに欠陥があれ
ば、その部分で乱反射が大きくなり明るい像が撮影され
る。図３（Ａ）の例では、欠陥の像Ａ１０３，Ａ２０３
が撮影されている。更に、画像１００では、外周に近づ
くほど内面３ａのライトガイド１１に近い部分（すなわ
ち円筒３の上部）からの反射光が撮影される。このた
め、内面３ａが滑らかであっても、画像１００は外周に
近づくほど明るくなる。そこで、２値化補正回路３５で
は、内面３ａの像をＡ１〜Ａ４の四つの円環状の領域に
分割し、各円環Ａ１〜Ａ４毎にしきい値を決定し、更
に、円環Ａ１〜Ａ４のいずれかにおける画像１００の輝
度（反射光強度）がその円環Ａ１〜Ａ４に応じたしきい
値を上回ったとき、その部分が欠陥であると判断してい
る。なお、円環Ａ１〜Ａ４は、それぞれ１００００個づ
つの画素を含んでいる。

【００２１】図２に戻って、２値化補正回路３５は、上
記円環Ａ１〜Ａ４を構成する各１００００個の座標を記
憶した座標テーブルメモリ３７を有している。この座標
テーブルメモリ３７は、周知のクロック発生器（ＣＬＫ
発生器）４１に基づき駆動されるカウンタ４３に接続さ
れ、カウンタ４３からの入力信号に基づき、上記画像メ
モリ３３に記憶されたデータの内、カウント値に対応す
る画素のデータを、画像メモリ３３から出力させる。ま
た、２値化補正回路３５は、画像メモリ３３が出力する
各画素の輝度を表すデータの伝達方向を切り換える切換
器４５を備えている。その一方の経路４７ａは、上記デ
ータを直接２値化回路４９の一方の端子に入力し、他方
の経路４７ｂは、上記データを輝度加算回路５１，平均
輝度算出回路５３，および領域別しきい値決定回路５５
を介して２値化回路４９の他方の端子に入力する。な
お、輝度加算回路５１は入力された各データの輝度を累
積加算する回路、平均輝度算出回路５３は輝度加算回路
５１にて累積加算された輝度を１画素当りに平均する回
路、領域別しきい値決定回路５５は、所定の正数のオフ
セット値を記憶するオフセット値記憶部５５ａと、平均
輝度算出回路５３にて算出された平均輝度にそのオフセ
ット値を加算する加算部５５ｂとを備えた回路、であ
る。

【００２２】次に、この２値化補正回路３５の動作を説
明する。先ず、カウンタ４３のカウント値が１〜１００
００であるとき、座標テーブルメモリ３７は画像メモリ
３３に円環Ａ１の各画素のデータを、一つカウントする
毎に順次出力させる。また、この間、切換器４５は経路
４７ｂ側に切り換えられる。すると、輝度加算回路５１
は円環Ａ１の輝度を累積加算する。カウント値が１００
００に達すると平均輝度算出回路５３が駆動され、円環
Ａ１における各画素の輝度の平均値が算出される。領域
別しきい値決定回路５５は、この平均値に上記オフセッ
ト値を加算し、その値を２値化回路４９にしきい値とし
て入力する。

【００２３】カウント値が１０００１〜２００００であ
るとき、座標テーブルメモリ３７は画像メモリ３３に円
環Ａ１の各画素のデータを再び順次出力させる。この
間、切換器４５は経路４７ａ側に切り換えられる。する
と、２値化回路４９は、各画素の輝度を前述のしきい値
と個々に比較する。そして、２値化回路４９は、輝度が
しきい値を越える画素を欠陥に対応するもの（例えば
「１」）とし、しきい値を越えない画素を滑らかな正常
部に対応するもの（例えば「０」）として画像メモリ３
３の所定記憶領域に格納する。

【００２４】他の円環Ａ２〜Ａ４に対しても、カウント
値（２０００１〜８００００）に基づいて上記と同様の
処理を施すことにより、画像１００を構成する全ての画
素（像Ａ２５を除く）を正常部と欠陥とに分けることが
できる。２値化補正回路３５で正常部と欠陥とに分けら
れた各画素のデータは、前述のように画像メモリ３３に
一旦格納された後、面積判定回路５９へ入力される。面
積判定回路５９は、欠陥と判断された画素の全ての画素
数に対する比率に基づき、その円筒３が不良品であるか
否かを判定する。そして、この判定結果は、画像処理装
置９による他の処理、または、他の装置へ出力される。

【００２５】このように構成された筒内面欠陥検出装置
１では、ライトガイド１１先端からの距離に応じて画像
１００を四つの円環Ａ１〜Ａ４に分割し、各円環Ａ１〜
Ａ４毎にしきい値を設定し、画素の輝度が対応する円環
（Ａ１〜Ａ４のいずれか）のしきい値を越えたときに欠
陥と判断している。このため、次のような効果が得られ
る。

【００２６】すなわち、図３（Ｂ）に示すように、前述
のようにして設定されたしきい値Ｓは、各円環Ａ１〜Ａ
４の正常部における輝度Ｇの変化に応じて４段階に変化
する。このため、欠陥に基づくピークＨ，Ｉが確実にし
きい値Ｓを上回り、良好に欠陥を検出することができ
る。従って、ライトガイド１１先端からの距離に基づく
照射むらが発生しても、正確に欠陥を検出することがで
きる。しかも、ライトガイド１１先端からの距離に応じ
て画像１００を円環Ａ１〜Ａ４に分割したり、各円環Ａ
１〜Ａ４での平均輝度に応じてしきい値を決定したり、
しきい値と各画素の輝度とを比較して欠陥か否かを判断
したりする処理は、前述のようにきわめて簡単である。
従って、装置の構成を簡略化することもできる。

【００２７】また、図３（Ｂ）に示すように、正常部に
おける輝度Ｇの勾配は外周へいくほど、すなわちライト
ガイド１１下端に近いほど急になっているが、円環Ａ１
〜Ａ４は外周へいくほど半径方向に細かく分割される。
このため、しきい値Ｓの折れ線が正常部における輝度Ｇ
の変化に一層即したものとなり、一層確実に欠陥を検出
することができる。すなわち、基本的な反射光強度の変
化勾配（微分係数）に基づいて、領域分割手段による分
割の細かさを規定することにより、欠陥の検出精度を一
層向上させることができる。

【００２８】更に、内視鏡５は内面３ａで乱反射された
光のみを検出しているので、内面３ａの変色などの影響
を受けることなく、良好に欠陥を検出することができ
る。また、反射防止板２５は円筒３の底面３ｂからの反
射光が魚眼レンズ２１に入射するのを防止するので、一
層良好に欠陥を検出することができる。更に、反射防止
板２５は円錐形に構成されているので、反射防止板２５
で反射された光（艶消し黒に塗装されているためほぼ皆
無であるが）が魚眼レンズ２１に入射することもなく、
きわめて良好に欠陥を検出することができる。

【００２９】なお、上記実施の形態において、光源１３
およびライトガイド１１が光照射手段に、魚眼レンズ２
１，凸レンズ２３，およびＴＶカメラ７が撮影手段に、
画像処理装置９が欠陥検出手段に、それぞれ相当し、特
に、座標テーブルメモリ３７が領域分割手段に、切換器
４５，２値化回路４９，輝度加算回路５１，平均輝度算
出回路５３，および領域別しきい値決定回路５５が領域
別検出手段に、それぞれ相当する。

【００３０】また、本発明は上記実施の形態になんら限
定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱しない範囲
で種々の形態で実施することができる。例えば、上記実
施の形態では、２値化回路４９による判断結果を画像メ
モリ３３に入力しているが、この判断結果を画像メモリ
３３とは別体に設けたメモリに入力して、そこから面積
判定回路５９へ入力してもよい。この場合、画像メモリ
３３は、Ａ／Ｄ変換器３１からのデータを専属で記憶す
ることができる。

【００３１】また、上記実施の形態では、画像メモリ３
３に格納されたＴＶカメラ７からのデータを、２値化補
正回路３５などのハードウェアによって処理している
が、ソフトウェアによって処理してもよい。図４は、画
像メモリ３３に格納されたデータに基づき内面３ａの欠
陥をソフトウェアによって検出する処理を表すフローチ
ャートである。以下、この処理について説明する。な
お、この処理は、例えば、画像処理装置９に内蔵された
図示しないＣＰＵによって実行することができる。

【００３２】処理を開始すると、先ず、ステップ１０１
で画像メモリ３３に格納された画像１００のデータを図
示しないＲＡＭに入力し、続くステップ１０３では、一
つの円環（例えば、一回目の処理時はＡ１）に属する各
画素の輝度データを読み込む。更に、続くステップ１０
５では上記各画素の平均輝度を算出し、ステップ１０７
ではその平均輝度を用いてその円環に対するしきい値を
決定する。例えば、平均輝度に前述のオフセット値を加
算してしきい値とする。続くステップ１０９では、その
しきい値と各画素の輝度とを比較することにより、各画
素のデータを２値化してステップ１１１へ移行する。

【００３３】ステップ１１１では、円環の番号が所定値
Ｎ（ここでは３）より大きいか否かを判断する。円環Ｎ
ｏ．≦Ｎのとき（１１１：ＮＯ）は円環の番号を一つイ
ンクリメントして前述のステップ１０３へ移行し、その
円環に対してステップ１０３〜１０９の処理を実行す
る。そして、全ての円環Ａ１〜Ａ４に対してステップ１
０３〜ステップ１０９を実行すると、円環の番号（＝
４）がＮ（＝３）を上回って（１１１：ＹＥＳ）、ステ
ップ１１３へ移行する。ステップ１１３では、欠陥と判
断された画素の全ての画素数に対する比率に基づき、そ
の円筒３が不良品であるか否かを判定する。このよう
に、ソフトウェアによって欠陥を検出する場合も、前述
の実施の形態と同様の作用・効果が得られる。

【００３４】また、前述の実施の形態では、魚眼レンズ
２１を介して内面３ａからの光を撮影する内視鏡５を使
用しているが、内視鏡としては、コーンミラー（円錐
鏡）を介して光を撮影するものを使用してもよい。図５
は、コーンミラー６７を介して光を撮影する内視鏡６９
を用いた筒内面欠陥検出装置７１の構成を表す説明図で
ある。

【００３５】図５に示すように、内視鏡６９のスコープ
本体７３の基端（上端）には、前述の画像処理装置９に
接続されたＴＶカメラ７が固定され、スコープ本体７３
の外周に沿って設けたライトガイド７５は、光源１３が
発生した光を円筒３の内面３ａに照射する。スコープ本
体７３は中空円筒状に形成され、その中空部７３ａの下
方に、コーンミラー６７が頂点６７ａを中空部７３ａに
向けて配設されている。なお、コーンミラー６７は、ガ
ラスパイプ７７および台座７９を介して中空部７３ａの
下方に支承されている。

【００３６】また、中空部７３ａには一対のレンズ８１
が配設されている。ライトガイド７５の下端（光照射
部）近傍には、遮光板８３，８５が配設され、ライトガ
イド７５から照射された光が、円筒３の内面３ａのコー
ンミラー６７に投影される範囲のみに届くようにしてい
る。なお、ライトガイド７５から照射され上記範囲で正
反射された光は、コーンミラー６７に入射しないよう
に、各部材が位置決めされている。更に、台座７９の下
端は外周方向に突出し、底面３ｂから反射された光がコ
ーンミラー６７に入射するのを防止する反射防止板８７
を形成している。

【００３７】このように構成された内視鏡６９では、内
面３ａのコーンミラー６７に投影される範囲のみに光が
照射され、更に、この光が内面３ａで正反射された光は
コーンミラー６７に入射しないようにされている。この
ため、ＴＶカメラ７では上記範囲で乱反射された光のみ
を観察することができ、内面３ａに欠陥があればその部
分が明るくなる。従って、この筒内面欠陥検出装置７１
でも、前述の実施の形態と同様に円筒３の欠陥を検出す
ることができる。

【００３８】但し、コーンミラー６７を使用した場合、
ライトガイド７５に近いところほど画像２００（図６）
の中心近傍に撮影される。そこで、前述の実施の形態と
同様に正常部における輝度の変化が急なところほど領域
を細かく分割するためには、図６に例示する円環Ｂ１〜
Ｂ４のように、中心へいくほど半径方向に細かく分割す
る必要がある。このような処理も、座標テーブルメモリ
３７の設定、およびカウント値と切換器４５の作動状態
との対応関係を変更することにより容易に実施すること
ができる。

【００３９】また、本実施の形態でも、図３（Ａ）と同
様、例えば１００００画素づつに領域を分割してもよ
い。この場合、しきい値の折れ線と正常部における輝度
との開きが若干大きくなるところがあるものの、充分良
好に欠陥を検出することができる。更に、筒内面欠陥検
出装置１，７１において、画像１００または２００を、
１画素づつの幅を有する円環状の領域に細分してもよ
い。この場合、図７に例示するように、しきい値Ｓを正
常部における輝度Ｇの変化とほぼ平行に設定することが
できる。従って、上記オフセット値をきわめて小さくし
て、欠陥をきわめて良好に検出することができる。な
お、図７は筒内面欠陥検出装置１による例である。

【００４０】また更に、上記各実施の形態では、画像１
００または２００を円環状の領域に分割しているが、魚
眼レンズ２１またはコーンミラー６７の周囲で、ライト
ガイド１１，７５を構成する光ファイバが均一に配設さ
れていない場合もある。この場合、円環Ａ１〜Ａ４（ま
たはＢ１〜Ｂ４）内における円周方向の輝度のばらつき
も大きくなる。そこで、図８に例示するように、その内
視鏡１，６９に応じた偏心した領域を設定してもよい。
このような領域の設定は、欠陥のない基準となる円筒３
を用いて画像１００または２００における輝度のばらつ
きを測定し、そのばらつきに応じてほぼ等輝度と見なせ
る領域を設定すればよい。

【００４１】更に、本発明は、円筒３に限らず、角形の
筒など種々の筒内面における欠陥検出に適用することが
できる。また、上記各実施の形態では、各領域毎の平均
輝度を個々に算出し、その輝度に所定のオフセット値を
加算して、各領域のしきい値としているが、しきい値の
設定方法はこの他種々考えられる。例えば、一つの領域
の平均輝度のみを算出し、加算するオフセット値を個々
に異ならせることにより各領域のしきい値を算出しても
よい。この場合、若干検出精度が低下するが、平均輝度
を一つの領域のみで算出すればよいので処理速度が向上
する。また更に、本発明は、各画素の輝度をしきい値と
比較して欠陥を検出する装置以外にも、種々の欠陥検出
装置に適用することができる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明が適用された筒内面欠陥検出装置の構成
を表す説明図である。

【図２】その筒内面欠陥検出装置の処理回路の構成を表
すブロック図である。

【図３】その筒内面欠陥検出装置による欠陥検出の原理
を表す説明図である。

【図４】その欠陥検出をソフトウェアで行う場合の処理
を表すフローチャートである。

【図５】本発明が適用された他の筒内面欠陥検出装置の
構成を表す説明図である。

【図６】その筒内面欠陥検出装置による領域分割の様式
を表す説明図である。

【図７】１画素幅の円環領域に分割した場合の欠陥検出
の原理を表す説明図である。

【図８】他の実施の形態における領域分割の様式を表す
説明図である。

【図９】従来の筒内面欠陥検出装置の欠陥検出原理およ
び課題を表す説明図である。

【図１０】従来の筒内面欠陥検出装置の課題を表す説明
図である。

【図１１】本発明の構成例示図である。

【符号の説明】

１，７１…筒内面欠陥検出装置１，６９…内視鏡
３…円筒５，６９…内視鏡７…ＴＶカメラ
９…画像処理装置１１，７５…ライトガイド１３…光源１
７，７３…スコープ本体２１…魚眼レンズ３５…２値化補正回路６
７…コーンミラーＡ１，Ａ２，Ａ３，Ａ４，Ｂ１，Ｂ２，Ｂ３，Ｂ４…円
環

Claims

【特許請求の範囲】

【請求項１】筒内面に光を照射する光照射手段と、該光照射手段から照射され、上記筒内面により反射され
た光を撮影する撮影手段と、該撮影手段に撮影された上記筒内面における反射光の強
度変化に基づいて上記筒内面の欠陥を検出する欠陥検出
手段と、を備えた筒内面欠陥検出装置において、上記欠陥検出手段が、上記筒内面を基本的な反射光強度の大きさに基づいて複
数の領域に分割する領域分割手段と、上記各領域における反射光の強度変化に基づいて、上記
領域毎に異なる様式で上記欠陥を検出する領域別検出手
段と、を備えたことを特徴とする筒内面欠陥検出装置。
【請求項２】上記領域別検出手段が、上記各領域毎に
異なるしきい値を設定し、上記領域における反射光の強
度が、その領域に応じたしきい値を越えて変化したと
き、その部分に欠陥があると判断することを特徴とする
請求項１記載の筒内面欠陥検出装置。
【請求項３】上記筒内面を、上記光照射手段からの距
離に応じて上記複数の領域に分割することを特徴とする
請求項１または２記載の筒内面欠陥検出装置。
【請求項４】上記撮影手段が、上記筒内面で正反射さ
れた光を撮影せず、上記筒内面で乱反射された光のみを
撮影することを特徴とする請求項１〜３のいずれかに記
載の筒内面欠陥検出装置。