JPH11162653A - 電界発光素子 - Google Patents

電界発光素子

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JPH11162653A
JPH11162653A JP9338298A JP33829897A JPH11162653A JP H11162653 A JPH11162653 A JP H11162653A JP 9338298 A JP9338298 A JP 9338298A JP 33829897 A JP33829897 A JP 33829897A JP H11162653 A JPH11162653 A JP H11162653A
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JP
Japan
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layer
organic
electron injection
adhesion
electroluminescent device
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Application number
JP9338298A
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English (en)
Inventor
Koichi Tanaka
幸一 田中
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Casio Computer Co Ltd
Original Assignee
Casio Computer Co Ltd
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Publication date
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    • HELECTRICITY
    • H10SEMICONDUCTOR DEVICES; ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • H10KORGANIC ELECTRIC SOLID-STATE DEVICES
    • H10K50/00Organic light-emitting devices
    • H10K50/80Constructional details
    • H10K50/805Electrodes
    • H10K50/82Cathodes
    • H10K50/826Multilayers, e.g. opaque multilayers

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  • Electroluminescent Light Sources (AREA)

Abstract

(57)【要約】 【課題】 ダークスポットの発生を抑制した電界発光素
子を提供する。 【解決手段】 有機電子輸送性発光層15の上にInで
なる密着層16が膜厚5nm以下の厚さで形成されてい
る。この密着層16の上にMgでなる電子注入層17、
主電極層18が積層されてカソード電極20が構成され
ている。このため、密着層16がごく薄い膜厚であるた
め、電子注入性を阻害することなく、カソード電極20
と有機EL層19との界面の組成の均一性を向上するこ
とができ、ダークスポットの発生を抑制することができ
る。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する技術分野】この発明は、電界発光素子に
関し、さらに詳しくは有機EL(エレクトロルミネッセ
ンス)材料を発光層に用いた電界発光素子に関する。
【0002】
【従来の技術】従来、電界発光素子としては、図2に示
すような有機EL素子1が知られている。この有機EL
素子1は、透明なガラス基板2の上に、順次、例えばI
TO(indium tin oxide)でなる透明なアノード電極
3、有機正孔輸送層4、発光層を兼ねる有機電子輸送層
5、カソード電極6が形成されてなる。カソード電極6
には、電子注入性の高い、低仕事関数を有する金属が用
いられている。しかし、有機EL素子では、ダークスポ
ットと呼ばれる黒点欠陥の発生とその成長が、信頼性の
確立を妨げているという現状がある。ダークスポットの
発生の原因の一つとしては、カソード金属電極と有機E
L層との密着性の問題が指摘されている。この問題の解
決策として、電子注入電極としてのカソード電極の主成
分たる低仕事関数の金属A(例えばマグネシウム;M
g)に、有機EL層との密着性の向上を実現する、より
高仕事関数を有する金属B(例えば銀;Agやインジウ
ム;In)を、混合したものが使用されることが多い。
この混合組成は、一般的に共蒸着により実現されてお
り、その組成比は、有機電子輸送層5への電子注入性の
維持を勘案して、低仕事関数の金属A/より高仕事関数
の金属B(重量比)が1より大きく(MgとAgなどの
混合の場合は20以上に)設定されている。
【0003】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、上記し
た解決策では、有機EL層と接合するカソード電極の界
面は不均一な組成となり、この組成の不均一に起因して
注入性、密着性のばらつきが発生しダークスポット発生
を低減させることは現実には困難であり、ダークスポッ
トの発生を判定基準として素子の信頼性を見た場合、こ
のような従来の有機EL素子ではまだ実用レベルからか
け離れているという問題点があった。
【0004】本発明が解決しようとする課題は、ダーク
スポットの発生を有効に抑制した電界発光素子を得るに
はどのような手段を講じればよいかという点にある。
【0005】
【課題を解決するための手段】請求項1記載の発明は、
有機EL層をカソード電極とアノード電極とで挟んだ電
界発光素子であって、前記カソード電極は、前記有機E
L層に接合する密着性の高い金属でなる密着層と、前記
密着層に積層された電子注入性の高い電子注入層とを備
えることを特徴とする。
【0006】請求項1記載の発明では、密着層が有機E
L層に密着するため、カソード電極と有機EL層との界
面の組成の均一性を高めることができ、ダークスポット
の発生を抑制する作用がある。また、電子注入層は、密
着層を介して有機EL層へ電子注入を行い、カソード電
極の電子注入性を確保することができる。
【0007】請求項2記載の発明は、請求項1記載の電
界発光素子であって、前記密着層は、インジウム(I
n)、銀(Ag)、アルミニウム(Al)などの前記有
機EL層及び前記電子注入層に対して密着性の高い金属
でなることを特徴とする。
【0008】請求項2記載の発明では、インジウム(I
n)、銀(Ag)、アルミニウム(Al)などの材料で
密着層を構成したため、密着層が有機EL層と電子注入
層と高い密着性を持つため、請求項1記載の発明の作用
に加えて、カソード電極の安定性を向上することができ
る。
【0009】請求項3記載の発明は、請求項1または請
求項2記載の電界発光素子であって、前記密着層は、膜
厚が50nm以下であることを特徴とする。
【0010】請求項3記載の発明では、電子注入層から
有機EL層へ電子を注入するに際し、密着層が極めて薄
い膜厚であるため、の電子の注入を阻害することないた
め、請求項1および請求項2に記載の作用に加えて、良
好なカソード電極を実現することが可能になる。
【0011】請求項4記載の発明は、請求項1〜請求項
3のいずれかに記載の電界発光素子であって、前記電子
注入層は、マグネシウム(Mg)、リチウム(Li)な
どの低仕事関数金属でなることを特徴とする。
【0012】請求項4記載の発明では、電子注入層を、
マグネシウム(Mg)、リチウム(Li)などの低仕事
関数金属で構成することにより、カソード電極の電子注
入性を高めることができる。
【0013】請求項5記載の発明は、請求項1〜請求項
4のいずれかに記載の電界発光素子であって、前記電子
注入層上に、前記密着層の材料と前記電子注入層の材料
とを共蒸着してなる主電極層を積層したことを特徴とす
る。
【0014】請求項5記載の発明では、主電極層を積層
することによりカソード電極の電気抵抗を低下させる作
用がある。
【0015】
【発明の実施の形態】以下、この発明に係る電界発光素
子の詳細を図面に示す実施形態に基づいて説明する。図
1は本発明に係る電界発光素子の実施形態を示す断面説
明図である。
【0016】同図に示すように、本実施形態の電界発光
素子11は、透明なガラスなどの絶縁性材料でなる透明
基板12の上に、順次、ITOでなる透明なアノード電
極13、有機正孔輸送層14、有機電子輸送性発光層1
5、密着層16、電子注入層17、主電極層18を形成
してなる。
【0017】本実施形態では、有機正孔輸送層14と有
機電子輸送性発光層15とで有機EL層19を構成して
いる。密着層16は、有機電子輸送性発光層15に対し
て密着性の高いInを、5nm以下の膜厚となるように
スパッタや真空蒸着により形成されてなる。また、電子
注入層17は、密着層16の上に低仕事関数の金属であ
るMgが、スパッタや真空蒸着により厚さ200nm程
度で形成されている。さらに、主電極層18は、Mgと
Inとが共蒸着されて厚さ500nm〜1000nm程
度で形成されている。これら密着層16、電子注入層1
7及び主電極層18でカソード電極20を構成してい
る。なお、密着層16は、その上に形成される電子注入
層17との密着性も良好である。
【0018】本実施形態では、密着層16の下面が、有
機EL層19(有機電子輸送性発光層15)とカソード
電極20の界面となるが、この密着層16は密着性が良
く、均一性も高い単一のInでなる層であるため、ダー
クスポットの発生を抑制することができる。また、電子
注入層17から有機電子輸送性発光層15へ電子注入が
行われるのを阻害するには、密着層16の膜厚は薄すぎ
るため(5nm以下)、結果としてカソード電極20か
ら有機EL層19への電子注入性を阻害することがなく
良好な電極界面を形成することができる。
【0019】以上、本実施形態について説明したが、本
発明はこれに限定されるものではなく、構成の要旨に付
随する各種の変更が可能である。例えば、上記した実施
形態では、主電極層18をMgとInとを共蒸着して形
成したが、Mgより安定な高仕事関数金属のみを用いて
形成してもよく、また、Mgより安定な高仕事関数金属
とInなどの密着性の高い金属とを共蒸着して形成して
もよい。
【0020】また、上記した実施形態では、密着層16
としてInを用いたが、この他、銀(Ag)、アルミニ
ウム(Al)などを適用することも可能である。さら
に、上記した実施形態では、電子注入層17としてMg
を用いたが、この他、リチウム(Li)を用いてもよ
い。
【0021】さらに、上記した実施形態では、有機EL
層19を、有機正孔輸送層14と有機電子輸送性発光層
15とを積層した2層構造としが、有機正孔輸送層に発
光層としての機能を兼ね備えた層の上に有機電子輸送層
を積層した2層構造のものや、有機正孔輸送層と有機電
子輸送層との間に有機発光層を介在させた3層構造のも
のなど各種の有機EL層を適用することが可能である。
【0022】
【発明の効果】以上の説明から明らかなように、この発
明によれば、ダークスポットの発生を抑制した電界発光
素子を実現することができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明に係る電界発光素子の実施形態を示す断
面説明図。
【図2】従来の電界発光素子を示す断面説明図。
【符号の説明】
11 電界発光素子 13 アノード電極 16 密着層 17 電子注入層 18 主電極層 19 有機EL層 20 カソード電極

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 有機EL層をカソード電極とアノード電
    極とで挟んだ電界発光素子であって、 前記カソード電極は、前記有機EL層に接合する密着性
    の高い金属でなる密着層と、前記密着層に積層された電
    子注入性の高い電子注入層とを備えることを特徴とする
    電界発光素子。
  2. 【請求項2】 前記密着層は、インジウム(In)、銀
    (Ag)、アルミニウム(Al)などの前記有機EL層
    及び前記電子注入層に対して密着性の高い金属でなるこ
    とを特徴とする請求項1記載の電界発光素子。
  3. 【請求項3】 前記密着層は、膜厚が50nm以下であ
    ることを特徴とする請求項1または請求項2に記載の電
    界発光素子。
  4. 【請求項4】 前記電子注入層は、マグネシウム(M
    g)、リチウム(Li)などの低仕事関数金属でなるこ
    とを特徴とする請求項1〜請求項3のいずれかに記載の
    電界発光素子。
  5. 【請求項5】 前記電子注入層上に、前記密着層の材料
    と前記電子注入層の材料とを共蒸着してなる主電極層を
    積層したことを特徴とする請求項1〜請求項4のいずれ
    かに記載の電界発光素子。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2004111324A (ja) * 2002-09-20 2004-04-08 Fuji Photo Film Co Ltd 発光素子
US8648335B2 (en) 2010-08-23 2014-02-11 Samsung Display Co., Ltd. Organic light emitting diode display

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