JPH1116193A - 受光素子および光学ピックアップ装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】 【課題】 受光面に分割線領域を有せずに光検出感度を
高めた受光素子、および構成規模を大きくすることなく
低雑音化した光学ピックアップ装置を提供する。 【解決手段】 受発光素子１００は、光ディスクに照射
される光の発光手段と、その戻り光の受光手段とが同一
基板上に形成され、上記基板上には上記発光手段からの
光ビームを回折させて２つの副ビームを発生させる回折
格子と、光ディスクからの戻り光の光路を上記第１の受
光手段と上記第２の受光手段とに分離する分離手段とを
備える。受発光素子１００の受光手段は、フォーカス誤
差信号ＦＣＳのみを出力する。受光素子１０ａの受光部
１は、分割線領域を有しておらず、上記戻り光の主ビー
ムを受光して再生ＲＦ信号のみを出力する。受光部１の
両側に配置されて一対をなす受光部２と受光部３は、２
つの副ビームをそれぞれ受光してトラッキング誤差信号
ＴＲＫ（＝Ｅ−Ｆ）を出力する。

Description

【発明の詳細な説明】

【０００１】

【発明の属する技術分野】本発明は、光ディスクに照射
された光ビームの戻り光を受光して電気信号に変換する
受光素子、および光ディスクに光を照射し、その戻り光
を受光して再生信号とサーボ用の誤差信号とを出力する
光学ピックアップ装置に関する。

【０００２】

【従来の技術】光ディスクに記録された信号を再生する
光ディスク装置は、光ビームを集束して光ディスクの信
号面に照射し、その戻り光を受光して再生信号とサーボ
用の誤差信号を出力する光学ピックアップ装置を備えて
いる。

【０００３】光ディスク装置のスピンドルに装着されて
回転駆動される光ディスクには、センターホールの偏心
やチャッキング時に生じる偏心などによるトラック方向
の振れや、反りや厚みむらなどによる光軸方向の振れが
常に生じている。このため、光学ピックアップ装置は、
回転駆動に伴う光ディスクの振れに追随して、集光され
た光ビームの集光点が常に信号面のトラック上に照射さ
れるように制御を行っている。

【０００４】例えば、コンパクトディスク（ＣＤ）は、
トラックピッチが１．６μｍであり、これに対して光ビ
ームの集光点がトラックから±０．１μｍ程度の範囲に
なるように制御されている。また、信号面の光軸方向の
振れ幅が±０．５ｍｍまで許容されており、集光点が信
号面から±１μｍ程度の範囲になるように制御されてい
る。

【０００５】このような光ビームの照射位置の制御は、
制御信号に応じて光学ピックアップ装置の光学系をアク
チュエータにより微動させることなどにより行われる。
この制御信号は、光ディスクからの戻り光から取り出さ
れるトラッキング誤差信号やフォーカス誤差信号であ
り、これらをサーボ系に供給することにより上記の制御
が行われる。

【０００６】トラッキング誤差信号を得るための代表的
な方法として、３ビーム法がある。３ビーム法は、光デ
ィスクに照射される光ビームの往路中に回折格子を配置
して、主ビーム（０次光）と２つの副ビーム（±１次
光）からなる３本の光ビームを発生させ、２つの副ビー
ムをトラッキング誤差検出に用いる方法である。この方
法では、主ビームを検出する受光素子の両側に、２つの
副ビームを検出するための受光素子を配置しておき、光
ディスクのトラックに照射される主ビームの集光点のト
ラック位置からのずれ量（デトラック量）に応じて発生
する副ビームの戻り光の変化からトラッキング誤差信号
を得る。

【０００７】また、フォーカス誤差信号を得るための代
表的な方法として、非点収差（アスティグマ）法があ
る。非点収差法は、光ディスクに照射された光ビームの
復路中にシリンドリカルレンズなどの非点収差を発生さ
せる光学素子を配置しておき、光ビームの集光点が信号
面から光軸方向にずれると、そのずれ量（デフォーカス
量）に応じて、入射スポットの形が円形から楕円形に変
化することを利用してフォーカス誤差信号を得る方法で
ある。この方法では、受光面が４分割された受光素子を
用い、光ディスクに照射される光ビームが、信号面上に
集光されているときに、その形が円形でかつ最小になる
ようにしておく。そして、デフォーカス量に応じて上記
の４分割された受光素子の各受光面に入射する光量が平
衡しなくなることを検出してフォーカス誤差信号を得
る。

【０００８】図７は、トラッキング制御に３ビーム法
を、フォーカス制御に非点収差法をそれぞれ用いて、光
ディスクに記録されている信号を再生する従来の光学ピ
ックアップ装置の基本的な構成を示している。

【０００９】この光学ピックアップ装置２０１は、受光
素子７０と、受光素子７０から出力される電流（光電
流）を演算するための手段を備えて構成されている。

【００１０】受光素子７０は、入射する光量に応じて光
電流を出力するフォトダイオード（ＰＤ）であり、受光
面Ａ，受光面Ｂ，受光面Ｃ，受光面Ｄを有する受光部
と、受光部Ｅ，受光部Ｆからなる６つの受光面を有して
いる。

【００１１】４分割されて構成されている、受光面Ａ，
受光面Ｂ，受光面Ｃ，受光面Ｄを有する受光部は、主ビ
ーム（０次光）を受光するための受光部であり、光ディ
スクに記録されている信号に応じて再生信号（ＲＦ信
号）電流を出力する。

【００１２】具体的には、対角線上に配置された受光面
Ａから出力される信号Ａと受光面Ｃから出力される信号
Ｃとが加算手段７１で加算されて信号（Ａ＋Ｃ）が生成
される。同様に、受光面Ｂから出力される信号Ｂと受光
面Ｄから出力される信号Ｄとが加算手段７２で加算され
て信号（Ｂ＋Ｄ）が生成される。そして、信号（Ａ＋
Ｃ）と信号（Ｂ＋Ｄ）とが加算手段７３で生成されて、
上記の４つの受光面からの信号の総和（Ａ＋Ｂ＋Ｃ＋
Ｄ）がＲＦ信号として出力される。

【００１３】また、この４分割された、受光面Ａ，受光
面Ｂ，受光面Ｃ，受光面Ｄを有する受光部は、光ディス
クに照射される光ビームの集光点が信号面から光軸方向
にずれると、そのずれ量（デフォーカス量）に応じて、
入射スポットの形が非点収差のために円形から楕円形に
変化することを利用してフォーカス誤差信号を得るため
にも用いられる。

【００１４】具体的には、加算手段７１で生成される信
号（Ａ＋Ｃ）と、加算手段７２で生成される信号（Ｂ＋
Ｄ）との差である、信号（Ａ＋Ｃ）−（Ｂ＋Ｄ）が減算
手段７４で生成されてフォーカス誤差信号ＦＣＳとして
出力される。

【００１５】光ビームの集光点が信号面上にあるとき
（ジャストフォーカス）には、受光面上の光スポット径
が最小かつ形が円形であるので、上記の４つの各信号Ａ
〜信号Ｄの値は互いに等しくなり、フォーカス誤差信号
ＦＣＳの値は０になる。

【００１６】しかし、光ディスクの信号面と対物レンズ
との間の距離が、所定の距離よりも近すぎたり離れすぎ
たりしているときには、上記の光スポットの径が大きく
なると共に、例えば、Ａ−Ｃ方向あるいはＢ−Ｄ方向に
長い楕円形になる。この場合には、信号（Ａ＋Ｃ）−
（Ｂ＋Ｄ）の値が０にならず、上記の距離に応じた値の
フォーカス誤差信号ＦＣＳが出力される。そして、この
フォーカス誤差信号ＦＣＳは、サーボ系に供給されてそ
の値が０になるようにフォーカス制御が行われる。

【００１７】一方、上記の４分割された、受光面Ａ〜受
光面Ｄを有する受光部の両側に設けられる受光部Ｅと受
光部Ｆは、３ビーム法によるトラッキング制御のために
用いられる。この受光部Ｅと受光部Ｆには、上記の主ビ
ームに伴って発生される２つの副ビーム（±１次回折
光）のそれぞれ一方が入射する。

【００１８】光ディスクに照射される光の主ビームが信
号面のトラック上に集光されている（オントララック）
ときには、その戻り光のうちの受光部Ｅに入射する副ビ
ームの光量と受光部Ｆ入射する副ビームの光量とが互い
に等しくなる。このため、受光部Ｅから出力される信号
Ｅと受光部Ｆから出力される信号Ｆとの差である、信号
（Ｅ−Ｆ）をトラッキング誤差信号ＴＲＫとして出力
し、その値を０にするようにサーボをかけることによ
り、主ビームがトラック上に照射されるように制御する
ことができる。

【００１９】図８は、上述した光学ピックアップ装置に
おいて、各受光部から出力される信号電流を増幅し、電
圧に変換して出力する電流電圧変換アンプを備えた構成
の例を示している。

【００２０】このように、各受光部から出力される信号
電流を電圧に変換することにより、各出力間の加算や減
算を行うための演算手段を簡略に構成することもでき
る。通常の光学ピックアップ装置では、受光素子が、分
割された受光面の数だけアンプを備えて構成されている
のが通常である。

【００２１】

【発明が解決しようとする課題】上述した従来の受光素
子は、光ディスクからの戻り光を受光して再生（ＲＦ）
信号とフォーカス誤差信号の両方を得るために、受光面
が４分割された受光部を有している。この４つの受光面
は、同一の基板上に形成されており、分割線とされた光
を検出しない領域で区切られて構成されている。このた
め、上記の受光素子の実効的な受光面積が減少してしま
い、分割線が設けられていない場合に比べて光検出感度
が低下してしまうという問題がある。

【００２２】また、上記の従来の受光素子を用いて光学
ピックアップ装置を構成する場合には、各受光面から出
力される信号を増幅したり電流電圧変換するためのアン
プが受光面の数だけ必要になるため、出力ピン数が多く
なるなど受光素子の構成が大きくなることに加えてアン
プからの雑音が増加するという問題もあった。

【００２３】本発明は、このような問題を解決するため
に行われたものであり、受光面に分割線領域を有せずに
光検出感度を高めた受光素子、および増幅器の数を最少
限にして構成規模と雑音を抑えた光学ピックアップ装置
を提供することを目的としている。

【００２４】

【課題を解決するための手段】上記の課題を解決するた
めに提案する本発明の受光素子は、集光されて光ディス
クに照射された光ビームの戻り光を受光して電気信号に
変換する受光素子であって、分割されていない受光面を
有し光ディスクのトラックに記録されている信号に応じ
て発生する戻り光を受光して再生信号のみを出力する第
１の受光部と、上記第１の受光部を挟んで対称に配置さ
れ上記光ディスクに照射される光ビームの集光点の上記
トラック位置からのずれ量に応じて発生する戻り光を受
光して、そのずれ量に応じた信号を各々出力する第２の
受光部および第３の受光部とを備えることを特徴とする
ものである。

【００２５】また、上記の課題を解決するために提案す
る本発明の光学ピックアップ装置は、光ビームを集光し
て光ディスクに照射し、信号面からの戻り光を受光して
再生信号とサーボ誤差信号とを出力する光学ピックアッ
プ装置であって、光ビームを発生する発光手段と、上記
光ビームを上記光ディスクのトラック位置に集光する集
光手段と、分割されていない受光面を有し上記光ディス
クのトラックに記録されている信号に応じて発生する戻
り光を受光して再生信号のみを出力する第１の受光部
と、上記第１の受光部を挟んで対称に配置され上記光デ
ィスクに照射される光ビームの集光点と上記トラック位
置とのずれ量に応じて発生する戻り光を受光して、その
ずれ量に応じた信号を各々出力する第２の受光部および
第３の受光部とを有する第１の受光手段とを備えること
を特徴とするものである。

【００２６】上記の本発明によれば、受光面に分割線領
域を有せずに光検出感度を高めた受光素子、および増幅
器の数を最少限にして構成規模と雑音を抑えた光学ピッ
クアップ装置を提供できる。

【００２７】

【発明の実施の形態】以下に、本発明の好ましい実施の
形態について図面を参照しながら説明する。

【００２８】図１は、本発明の受光素子の構成を示して
いる。

【００２９】この受光素子１０は、前述した３ビーム法
によりトラッキング誤差を検出してサーボ用の誤差信号
を得るように構成されており、主ビームを受光してＲＦ
信号のみを出力する第１の受光部である受光部１と、受
光部１の両側に対称に配置されて一対をなす第２の受光
部である受光部２および第３の受光部である受光部３と
を備えて構成されている。

【００３０】受光部１は、前述した従来の受光素子とは
異なり、ＲＦ信号のみを出力するようにされているた
め、分割線領域を有していない点が特徴である。このこ
とにより、受光部１の実効的な受光面積が大きくなり、
光検出感度が向上する。この受光部１から出力される信
号電流は、アンプ６で増幅および電流電圧変換されてＲ
Ｆ信号として出力される。

【００３１】受光部２と受光部３とは、上記の主ビーム
に伴って発生される２つの副ビーム（±１次回折光）の
それぞれ一方が入射し、受光部Ｅから出力される信号Ｅ
と受光部Ｆから出力される信号Ｆとの差である、信号
（Ｅ−Ｆ）をトラッキング誤差信号ＴＲＫとして出力す
る。そして、この値を０にするようにサーボをかけるこ
とにより、主ビームがトラック上に照射されるように制
御することができる。

【００３２】この受光部２から出力される信号は、アン
プ７で増幅および電流電圧変換されて信号Ｅとして出力
される。同様に、受光部３から出力される信号は、アン
プ８で電流電圧変換されて信号Ｆとして出力される。

【００３３】図２は、光ディスクからの戻り光を受光し
て、ＲＦ信号とトラッキング誤差信号ＴＲＫのみを出力
する本発明の受光素子の構成を示している。

【００３４】この受光素子２０の構成は、図１に示した
受光素子１０に、信号Ｅと信号Ｆとの差である、信号
（Ｅ−Ｆ）を生成するための演算手段であるアンプ９を
さらに備えたものである。このアンプ９で生成された信
号（Ｅ−Ｆ）が、トラッキング誤差信号ＴＲＫとして出
力される。

【００３５】次に、上述した受光素子を用いて構成し
た、本発明の光学ピックアップ装置について説明する。
なお、以下の説明において、前述した受光素子と共通す
る部分には、同一の指示符号を付す。

【００３６】図３は、本発明の光学ピックアップ装置の
基本的な構成を示している。

【００３７】この光学ピックアップ装置３０は、受光素
子１０ａと、受発光素子１００を備えており、ＲＦ信号
と、トラッキング誤差信号ＴＲＫおよびフォーカス誤差
信号ＦＣＳを出力する。

【００３８】受光素子１０ａは、前述した本発明に係る
受光素子であり、光ディスクからの戻り光の主ビームを
受光してＲＦ信号のみを出力する受光部１と、上記の主
ビームに伴って発生される２つの副ビームのそれぞれ一
方を受光して信号Ｅと信号Ｆとを出力する、一対をなす
受光部２と受光部３とを備えて構成されている。なお、
ここでは、信号Ｅと信号Ｆとの差である、信号（Ｅ−
Ｆ）を生成してトラッキング誤差ＴＲＫとして出力する
ための演算手段１５が、受光素子１０ａの外部に設けら
れているが、前述したように受光素子１０ａの内部に設
けられてもよい。

【００３９】受発光素子１００は、光ディスクに照射さ
れる光ビームを発生する発光素子と、光ディスクからの
戻り光を受光する受光素子とが、一体に形成された光学
素子である。この発光素子には半導体レーザ（ＬＤ）が
主に用いられ、上記の受光素子１００にはフォトダイオ
ード（ＰＤ）が主に用いられる。

【００４０】上記の受発光素子１００は、光ディスクか
らの戻り光の主ビームを受光してＲＦ信号を出力するこ
とができるものであるが、本発明の光学ピックアップ装
置においてはフォーカス誤差信号ＦＣＳを得るためだけ
に使用する。なお、この受発光素子１００については後
述する。

【００４１】図４は、図３に基本構成を示した本発明の
光学ピックアップ装置の一具体例を示している。

【００４２】受発光素子１００の基板１００ｃ上に形成
された半導体レーザ（ＬＤ）１００ａから出射したレー
ザ光は、同じ基板１００ｃ上に設けられたプリズム１０
０ｂのハーフミラーが形成された斜面で反射されて光デ
ィスク１１０に向かう。このレーザ光は、回折格子（グ
レーティング）１１で回折されて、主ビーム（０次光）
と２本の副ビーム（±１次回折光）とからなる３本のビ
ームにされ、ビームスプリッタ１２を通して対物レンズ
で集光され、光ディスク１１０に照射される。

【００４３】一方、光ディスク１１０からの戻り光は、
ビームスプリッタ１２で受発光素子１００に向かう光路
と、受光素子１０ａに向かう光路とに分離される。

【００４４】受発光素子１００の受光素子部では、ハー
フミラーを通してプリズム１００ｂに入射した戻り光に
応じて、受光部４１および受光部４２からフォーカス誤
差信号ＦＣＳのみが出力される。

【００４５】また、受光素子１０ａでは、光ディスク１
１０からの戻り光に応じてＲＦ信号とトラッキング誤差
信号ＴＲＫとが出力される。

【００４６】なお、図４では、受発光素子１００の受光
素子からの２つの信号であるＰＤ１およびＰＤ２が出力
されるようになっているが、これらの信号の差である
（ＰＤ１−ＰＤ２）が、図示していない演算手段により
生成されてフォーカス誤差信号ＦＣＳとされる。同様
に、受光素子１０ａからの２つの信号であるＥおよびＦ
が出力されるようになっているが、これらの信号の差で
ある（Ｅ−Ｆ）が、図示していない演算手段により生成
されてトラッキング信号ＴＲＫを得るようにされる。

【００４７】上記のハーフミラーを通してプリズム１０
０ｂに入射した戻り光は、高反射率のミラーが形成され
たプリズム１００ｂの上面で反射されて、基板１００ｃ
に形成されている受光部４１および受光部４２に入射す
る。なお、受光部４１は半導体レーザ１００ａの共役点
（焦点）の手前に配置され、受光部４２はその後に配置
されている。

【００４８】このような受発光素子１００は、光ディス
クに照射される光ビームを発生する発光素子である半導
体レーザ（ＬＤ）と、光ディスクからの戻り光を受光す
る受光素子であるフォトダイオード（ＰＤ）とが同一の
基板上に形成されて集積回路（ＩＣ）化された光学素子
として構成される。

【００４９】次に、上述した受発光素子１００につい
て、具体例を参照しながらさらに説明する。

【００５０】図５は、上記の受発光素子１００の受光素
子部分のみを示している。

【００５１】この受光素子部１０１は、いずれも３分割
された受光面を有する受光部４１と受光部４２とを備え
て構成されている。

【００５２】受光部４１の３つの受光面のうちの中央に
設けられている第１の受光面である受光面Ｂの両側に
は、一対をなす第２の受光面である受光面Ａと第３の受
光面である受光面Ｃとが対称に配置されている。同様
に、受光部４２の３つの受光面のうちの中央に設けられ
ている第１の受光面である受光面Ｂ’の両側には、一対
をなす第２の受光面である受光面Ａ’と第３の受光面で
ある受光面Ｃ’とが対称に配置されている。

【００５３】受光部４１の両端にある受光面Ａと受光面
Ｃは、受光部４２の中央の受光面Ｂ’と接続されてお
り、アンプ４５を介して第１の出力ＰＤ１を出力する。
同様に、受光部４２の両端にある受光面Ａ’と受光面
Ｃ’は、受光部４１の中央の受光面Ｂと接続されてお
り、アンプ４６を介して第２の出力ＰＤ２を出力する。

【００５４】この受光素子部１０１は、上記の受光部４
１からの信号と受光部４２からの信号を差動出力してフ
ォーカス制御を行うようにされている。

【００５５】光ディスクに照射される主ビームが信号面
のトラック上に集光されている（ジャストフォーカス）
ときには、上記の２つの受光部に入射する戻り光のスポ
ット径が互いに等しくなるようにされている。すなわ
ち、信号Ｂと信号（Ａ’＋Ｃ’）との和と、信号Ｂ’と
信号（Ａ＋Ｃ）との和が互いに等しくなるようにされて
いる。従って、ジャストフォーカス時には、第１の信号
である信号ＰＤ１と第２の信号である信号ＰＤ２とが互
いに等しくなる。

【００５６】図６は、上記の受部光素子からフォーカス
誤差信号ＦＣＳを出力するようにした構成例を示してい
る。

【００５７】この受光素子部１０２の構成は、図５に示
した受光素子部１０１に、信号ＰＤ１と信号ＰＤ２との
差である、信号（ＰＤ２−ＰＤ１）を生成するための演
算手段であるアンプ４９をさらに備えたものである。こ
のアンプ４９で生成された信号（ＰＤ２−ＰＤ１）が、
フォーカス誤差信号ＦＣＳとして出力される。

【００５８】この構成によれば、ジャストフォーカス時
には、フォーカス誤差信号ＦＣＳの値が０となる。

【００５９】一方、上記の構成において、光ディスクの
信号面と対物レンズとの間の距離が、所定の距離よりも
近すぎたり離れすぎたりしているときには、上記の２つ
の受光部に入射する戻り光のスポット径が互いに等しく
ならず、フォーカス誤差信号ＦＣＳの値０にならない。
このフォーカス誤差信号ＦＣＳの値は、上記の所定の距
離からのずれ、すなわち、光ディスクに照射される光ビ
ームの集光点の信号面からの光軸方向のずれ量に応じた
値になる。

【００６０】例えば、上記の距離が所定の距離よりも長
い場合には、すなわち対物レンズから光ディスクが離れ
すぎている場合には、信号ＰＤ１の値が正、信号ＰＤ２
の値が負となり、これらの差である信号（ＰＤ２−ＰＤ
１）の値が負になる。これは、光ディスクからの戻り光
の開き角度が、光ディスクに向かう光ビームの開き角度
よりも小さくなるため、プリズム１００ｂに入射した戻
り光が、プリズム１００ｂの上面で反射される前に焦点
を結ぶことになり、受光部４１上のスポット径が、受光
部４２上のスポット径よりも小さくなるからである。

【００６１】また、これとは逆に、上記の距離が所定の
距離よりも短い場合には、すなわち対物レンズから光デ
ィスクが近づきすぎている場合には、信号ＰＤ１の値が
負、信号ＰＤ２の値が正となり、これらの差である信号
（ＰＤ２−ＰＤ１）の値が正になる。これは、光ディス
クからの戻り光の開き角度が、光ディスクに向かう光ビ
ームの開き角度よりも大きくなるため、プリズム１００
ｂに入射した戻り光が、プリズム１００ｂの上面で反射
された後に焦点を結ぶことになり、受光部４１上のスポ
ット径が、受光部４２上のスポット径よりも大きくなる
からである。

【００６２】

【発明の効果】以上説明したように、本発明の受光素子
は、受光面に分割線領域を有していないため、光検出感
度を高めることができる。

【００６３】また、本発明の光学ピックアップ装置によ
れば、受光面に分割線領域を有しない受光部がディスク
からの戻り光を受光してＲＦ信号のみを出力し、その両
側に対称に配置された一対の受光部から３ビーム法によ
りトラッキング誤差信号のみを出力するようにした第１
の受光素子と、フォーカス誤差信号のみを出力する第２
の受光素子を用いて構成したため、ＲＦ信号を得るため
の受光素子の光検出感度を高めることができ、しかも増
幅器の数を最少限にして構成規模と雑音を抑えることが
できる。

【図面の簡単な説明】

【図１】本発明の受光素子の構成を示す図である。

【図２】ＲＦ信号トラッキング誤差信号のみを出力する
ようにされた本発明の受光素子の構成を示す図である。

【図３】本発明の光学ピックアップ装置の基本的な構成
を示す図である。

【図４】本発明の光学ピックアップ装置の一具体例を示
す図である。

【図５】上記の光学ピックアップ装置を構成する受発光
素子の受光素子部分のみを示す図である。

【図６】フォーカス誤差信号ＦＣＳのみを出力するよう
にした受発光素子について説明するための図である。

【図７】従来の光学ピックアップ装置の基本的な構成例
を示す図である。

【図８】電流電圧変換アンプを備えた従来の光学ピック
アップ装置の構成例を示す図である。

【符号の説明】

１ 第１の受光部、 ２ 第２の受光部、 ３ 第３の
受光部、 １０ａ 受光素子、 １５ 演算アンプ、
３０ 光学ピックアップ装置、 １００ 受発光素子

Claims (10)

【特許請求の範囲】
1. 【請求項１】 集光されて光ディスクに照射された光ビ
   ームの戻り光を受光して電気信号に変換する受光素子で
   あって、 分割されていない受光面を有し光ディスクのトラックに
   記録されている信号に応じて発生する戻り光を受光して
   再生信号のみを出力する第１の受光部と、 上記第１の受光部を挟んで対称に配置され上記光ディス
   クに照射される光ビームの集光点の上記トラック位置か
   らのずれ量に応じて発生する戻り光を受光して、そのず
   れ量に応じた信号を各々出力する第２の受光部および第
   ３の受光部とを備えることを特徴とする受光素子。
2. 【請求項２】 上記各受光部は、出力信号電流を電圧に
   変換するための電流電圧変換手段をそれぞれ備えること
   を特徴とする請求項１記載の受光素子。
3. 【請求項３】 上記第２の受光部からの出力と上記第３
   の受光部からの出力との差分を生成してトラッキング誤
   差信号を出力するための演算手段を備えることを特徴と
   する請求項１記載の受光素子。
4. 【請求項４】 光ビームを集光して光ディスクに照射
   し、信号面からの戻り光を受光して再生信号とサーボ誤
   差信号とを出力する光学ピックアップ装置であって、 光ビームを発生する発光手段と、 上記光ビームを上記光ディスクのトラック位置に集光す
   る集光手段と、 分割されていない受光面を有し上記光ディスクのトラッ
   クに記録されている信号に応じて発生する戻り光を受光
   して再生信号のみを出力する第１の受光部と、上記第１
   の受光部を挟んで対称に配置され上記光ディスクに照射
   される光ビームの集光点と上記トラック位置とのずれ量
   に応じて発生する戻り光を受光して、そのずれ量に応じ
   た信号を各々出力する第２の受光部および第３の受光部
   とを有する第１の受光手段とを備えることを特徴とする
   光学ピックアップ装置。
5. 【請求項５】 上記各受光部は、出力信号電流を電圧に
   変換するための電流電圧変換手段をそれぞれ備えること
   を特徴とする請求項４記載の光学ピックアップ装置。
6. 【請求項６】 上記第２の受光部からの出力と上記第３
   の受光部からの出力との差分を生成してトラッキング誤
   差信号を出力するための演算手段を備えることを特徴と
   する請求項４記載の光学ピックアップ装置。
7. 【請求項７】 上記光ディスクに照射される光ビームの
   戻り光を受光して、上記光ビームの集光点の信号面から
   の光軸方向のずれ量に応じたフォーカス誤差信号のみを
   出力する第２の受光手段をさらに備えることを特徴とす
   る請求項４記載の光学ピックアップ装置。
8. 【請求項８】 上記発光手段からの光ビームを回折させ
   て２つの副ビームを発生させる回折格子と、上記光ディ
   スクからの戻り光の光路を上記第１の受光手段と上記第
   ２の受光手段とに分離する分離手段とをさらに備え、上
   記第１の受光手段の第１の受光部が上記発生手段からの
   主ビームを受光し、上記第２の受光部と上記第３の受光
   部とが上記２つの副ビームの一方ずつを受光することを
   特徴とする請求項７記載の光学ピックアップ装置。
9. 【請求項９】 上記発光手段と上記第２の受光手段とが
   同一基板上に形成され、上記基板上に上記発光手段から
   の光ビームを回折させて２つの副ビームを発生させる回
   折格子と、上記光ディスクからの戻り光の光路を上記第
   １の受光手段と上記第２の受光手段とに分離する分離手
   段とをさらに備えることを特徴とする請求項５記載の光
   学ピックアップ装置。
10. 【請求項１０】 上記第１の受光手段の第１の受光部と
    上記第２の受光手段の第２の受光部および第３の受光部
    とが相互に接続されて上記光ディスクに照射される光ビ
    ームの集光点の信号面からの光軸方向のずれ量に応じた
    第１の信号を出力し、上記第２の受光手段の第１の受光
    部と上記第１の受光手段の第２の受光部および第３の受
    光部とが相互に接続されて上記光ディスクに照射される
    光ビームの集光点の信号面からの光軸方向のずれ量に応
    じた第２の信号を出力することを特徴とする請求項９記
    載の光学ピックアップ装置。